JP2002108271A - 画像表示装置および画像表示制御方法 - Google Patents

画像表示装置および画像表示制御方法

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JP2002108271A
JP2002108271A JP2000301885A JP2000301885A JP2002108271A JP 2002108271 A JP2002108271 A JP 2002108271A JP 2000301885 A JP2000301885 A JP 2000301885A JP 2000301885 A JP2000301885 A JP 2000301885A JP 2002108271 A JP2002108271 A JP 2002108271A
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emitter
auxiliary electrode
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JP2000301885A
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Yasunobu Kato
泰信 加藤
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Sony Corp
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  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 スペーサ近傍の電位分布を適正に制御し、ス
ペーサの可視化を回避することが可能な画像表示装置お
よび画像表示制御方法を提供する。 【解決手段】 映像信号に基づいて輝度レベルを検出
し、検出した輝度レベルに基づいた大きさの電圧を補助
電極32に対して印加する。輝度の変化に応じて補助電
極32に対して適正な電圧が印加されるため、スペーサ
31が帯電した状態において輝度が変化した場合におい
ても、スペーサ31近傍における電位分布が適正化さ
れ、エミッタ13から放出された電子eの軌道が修正さ
れる。スペーサ31の近傍における蛍光体膜23に対し
て十分な量の電子eが到達し、蛍光体膜23から正常な
発光量の光が放射されるため、スペーサ31の可視化を
回避することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、冷陰極などの電子
放出体(エミッタ)から放出された電子を電位分布の作
用により発光体へ導くことにより画像の表示を行う画像
表示装置および画像表示制御方法に係り、特に、2つの
基板間のスペーサに設けた補助電極により電位分布を制
御し、電子の軌道を修正する機能を有する画像表示装置
および画像表示制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ブラウン管(Cathode Ray Tube;
CRT)に替わる表示媒体として、液晶表示装置(Liqu
id Cristal Display;LCD)、有機エレクトロルミネ
セント(Electroluminescent;EL)表示装置、プラズ
マ表示装置(Plasma Display Panel;PDP)または電
界放出型表示装置(Field Emission Display;FED)
などの平面型表示装置の開発が盛んに行われている。中
でも、FEDは、LCD等よりも輝度、視野角、画像表
示に係る応答速度および消費電力等の点で優れ、かつ装
置の小型化(薄型化,軽量化)が可能なことから、その
開発には大きな期待が寄せられている。
【0003】FEDは、例えば、主に、電子の衝突によ
り発光する複数の発光体(蛍光体膜)が透明基板(例え
ばガラス)上にマトリックス状に配設されたフロントパ
ネルと、複数の発光体に対応して複数の電子放出体(エ
ミッタ)が透明基板(例えばガラス)上に配設されたバ
ックパネルとを備え、双方の基板が所定の距離を隔てて
対向するように構成されている。フロントパネルとバッ
クパネルとの間の領域、すなわち内部空間は真空状態に
なっており、この内部空間には、フロントパネルとバッ
クパネルとの間の距離を一定に維持するための複数の板
状のスペーサが配設されている。
【0004】FEDでは、画像を表示するために、電界
放出(フィールドエミッション;Field Emission)とい
う現象を利用している。この「電界放出」とは、ミクロ
ン単位で形成された例えば円錐状のエミッタ(冷陰極)
に対して高電圧が印加されると、その先端から電子が放
出される現象である。FEDでは、エミッタから放出さ
れた電子が発光体に対して衝突することにより発光体が
発光し、これにより画像の表示が行われる。このとき、
例えば、1の画像は、複数の画像ラインが順次表示され
ることにより構成される(線順次走査方式)。
【0005】ところで、エミッタから電子が放出される
と、一部の電子が発光体の近傍で反射したのちスペーサ
に対して衝突し、スペーサが帯電する場合がある。この
ような場合には、帯電現象に起因してスペーサ近傍にお
ける内部空間の電位分布が変化することにより電子の軌
道が曲げられ、発光体に到達する電子量が減少する。こ
れにより、スペーサ近傍の発光体における発光量が減少
し、発光量が減少した領域は画像中において黒い線状の
領域として視認されることとなる。この現象は、一般に
「スペーサの可視化」と呼ばれ、画像を表示する上での
大きな障害となる。このスペーサの可視化は、例えば、
スペーサに補助電極を配設することにより抑制される。
すなわち、FEDの動作時において補助電極に対して一
定の電圧(アノード側とカソード側との間の中間電圧)
を印加することにより、スペーサが帯電した場合におい
てもスペーサ近傍における内部空間の電位分布が適正化
され、電子の軌道が修正される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
FEDでは、以下のような理由により、スペーサの可視
化を回避するには不十分であった。すなわち、映像信号
に応じてエミッタから放出される電子量が変化(増減)
し、これに応じてスペーサの帯電量が変化(増減)する
場合には、当然、スペーサの帯電量に応じて内部空間に
おける電位分布も変化する。従来のFEDでは、補助電
極に対して常に一定な電圧が印加されるため、エミッタ
から放出される電子量が変化するような場合に対応する
ことができず、内部空間における電位分布が適正な状態
から外れてしまうと電子の軌道が再び曲げられてしま
う。このような問題は、特に、画像ラインごとに輝度が
大きく変化するような静止画像や画像ごとに輝度が大き
く変化するような動画像を表示する場合において顕著と
なる。
【0007】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、スペーサ近傍の電位分布を適正
に制御し、スペーサの可視化を回避することが可能な画
像表示装置および画像表示制御方法を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による画像表示装
置は、複数の発光体が配設された第1の基板と、入力し
た映像信号に基づいて複数の発光体に対して電子を放出
する複数の電子放出体が配設されると共に第1の基板に
対向配置された第2の基板とを備えたものにおいて、第
1の基板と第2の基板との間の間隙を保持するための支
持部材と、電子放出体と発光体との間に電子放出体から
放出された電子を発光体へ導くための電位分布を形成す
る電位分布形成手段と、映像信号の輝度レベルを1また
は2以上の画像ラインごとに検出する輝度レベル検出手
段と、支持部材の所定の位置に配設された1または2以
上の補助電極と、輝度レベル検出手段によって検出され
た輝度レベルに基づいた大きさの電圧を補助電極に対し
て印加し、支持部材の近傍における電位分布を制御する
電位分布制御手段とを備えるようにしたものである。
【0009】また、本発明による画像表示制御方法は、
複数の発光体が配設された第1の基板と、入力した映像
信号に基づいて複数の複光体に対して電子を放出する複
数の電子放出体が配設されると共に第1の基板に対向配
置された第2の基板とを備え、第1の基板と第2の基板
との間の間隙を支持部材によって保持してなる画像表示
装置の画像表示制御方法であって、支持部材の所定の位
置に1または2以上の補助電極を配設し、電子放出体と
発光体との間に電子放出体から放出された電子を発光体
へ導くための電位分布を形成すると共に、映像信号の輝
度レベルを1または2以上の画像ラインごとに検出し、
その輝度レベルに基づいた大きさの電圧を補助電極に対
して印加し、支持部材の近傍における電位分布を制御す
るようにしたものである。
【0010】本発明による画像表示装置または画像表示
制御方法では、映像信号の輝度レベルが1または2以上
の画像ラインごとに検出され、その輝度レベルに基づい
た大きさの電圧が補助電極に対して印加され、これによ
り支持部材の近傍における電位分布が適正化され、放出
された電子の軌道が修正される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。
【0012】[第1の実施の形態] <FEDの構造>まず、図1〜図3を参照して、本発明
の一実施の形態に係る画像表示装置としてのFEDの構
造について説明する。以下では、主に、例えば、「線順
次走査方式」による画像表示機構を備えたFEDについ
て説明する。なお、本実施の形態に係る「画像表示制御
方法」は、このFEDの作用によって具現化されるの
で、以下、併せて説明する。
【0013】このFEDは、バックパネル10と、この
バックパネル10に対して対向するように配設されたフ
ロントパネル20(表示パネル)とを備えている。バッ
クパネル10とフロントパネル20とは、側壁30およ
びスペーサ(支持部材)31を介して所定の距離を隔て
るように配設されている。バックパネル10、フロント
パネル20および側壁30により形成される内部空間4
0は真空雰囲気に保持されている。
【0014】バックパネル10は、例えば、ガラス材料
などよりなる透明基板11と、この透明基板11のフロ
ントパネル20との対向面に配設されたカソード電極1
2と、複数組のエミッタ13と、絶縁壁14とを含んで
構成されている。絶縁壁14のフロントパネル20に近
い側の一部は集束材15によって覆われている。ここ
で、透明基板11が本発明における「第2の基板」の一
具体例に対応する。
【0015】カソード電極12は、例えば、後述する反
射膜24(アノード電極)と共にエミッタ13に対して
電子eの放出を行うために必要とされる電圧を供給する
ものであり、ITO(Indium Tin Oxide;インジウム・
錫酸化物)などの透明材料よりなるものである。このカ
ソード電極12により、任意のエミッタ13に対して電
圧が印加されるようになっている。
【0016】エミッタ13は、入力した映像信号に応じ
て内部空間40に電子eを放出するものであり、例え
ば、炭素質材料、モリブデン(Mo)、タングステン
(W)またはクロム(Cr)などにより形成されてい
る。このエミッタ13は、例えば、いわゆるスピント
(Spindt)型と呼ばれる円錐状の構造を有するものであ
り、図中のX軸方向およびY軸方向にマトリックス状に
配設されている。本実施の形態では、複数個(例えば1
000個程度)のエミッタ13の集合により1の「画
素」が構成され、複数の「画素」の集合により1の画像
が構成される。エミッタ13から内部空間40に放出さ
れた電子eは、カソード電極12およびアノード電極
(反射膜24)に対して電圧が印加されることにより内
部空間40に生じた電界(電位分布)の作用により徐々
に加速され、後述する蛍光体膜23まで導かれる。この
とき、電子eの軌道は、内部空間40における電位分布
に依存する。電子eの軌道と内部空間40における電位
分布との相関については、後述する。
【0017】絶縁壁14は、カソード電極12と集束材
15との間を電気的に分離させるためのものであり、例
えばポリイミドなどにより形成されている。集束材15
は、エミッタ13から放出された電子eの放出範囲を絞
り込むためのものであり、例えばアルミニウムなどによ
り形成されている。この集束材15により、1のエミッ
タ13から放出された電子eが複数の蛍光体膜23に対
して作用(衝突)することが防止される。
【0018】一方、フロントパネル20は、例えば、ガ
ラス材料などよりなる透明基板21と、この透明基板2
1のバックパネル10との対向面に配設されたブラック
マトリックス22と、蛍光体膜23とを含んで構成され
ている。ブラックマトリックス22の複数の凹部には蛍
光体膜23が配設されている。ブラックマトリックス2
2および蛍光体膜23の表面は反射膜24によって覆わ
れている。ここで、透明基板21が本発明における「第
1の基板」の一具体例に対応する。
【0019】なお、バックパネル10とフロントパネル
20とは、例えば、集束材15〜ブラックマトリックス
22間の距離が所定の間隔(例えば1mm程度)となる
ように配設されている。
【0020】ブラックマトリックス22は、エミッタ1
3から放出された電子eのうち、反射膜24におけるバ
ックパネル10側の表面で反射した一部の電子eが複数
の蛍光体膜23に対して作用(衝突)することを抑制す
るための障壁として機能するものである。このブラック
マトリックス22は、例えば、酸化コバルト等の金属酸
化物により黒色に着色された鉛ガラスなどにより形成さ
れている。
【0021】蛍光体膜23は、エミッタ13に対応する
ように配設されており、エミッタ13から放出される電
子eが衝突することにより励起し、画素単位で発光する
ものである。FEDがカラー画像を表示するものである
場合には、レッド(R),グリーン(G),ブルー
(B)の各色に発光する複数の蛍光体を含むように蛍光
体膜23が構成され、FEDがモノクロ画像を表示する
ものである場合には、白色に発光する蛍光体により蛍光
体膜23全体が構成される。蛍光体膜23において生じ
た光はフロントパネル20の外面(表示面)に向かって
放射されるが、一部の光はFED本体の内部側(内部空
間40側)に向かって放射される。フロントパネル20
の外面(表示面)側に向かって放射された光は、透明基
板21を通過してFED本体の外部に放射され、画像と
して認識されることとなる。
【0022】反射膜24は、主に、蛍光体膜23におい
て生じた光のうち、FED本体の内部側(内部空間40
側)に向かって放射された光を蛍光体膜23の方向に反
射させるためのものであり、例えば、アルミニウム(A
l)などの導電材料により形成されている。本実施の形
態では、例えば、反射膜24はアノード電極としても機
能するようになっており、この反射膜24(アノード電
極)とカソード電極12)との間の電位差に基づいて内
部空間40に電位分布(電位勾配)が形成される。ここ
で、反射膜24(アノード電極)およびカソード電極1
2が本発明における「電位分布形成手段」の一具体例に
対応する。
【0023】スペーサ31は、例えば、板状あるいは棒
状の構造を有し、セラミックなどの絶縁材料よりなるも
のである。このスペーサ31は、例えば、エミッタ13
および蛍光体膜23の配設領域に渡って図中のY軸方向
に延在しており、内部空間40に所定の間隔ごとに複数
配設されている。このスペーサ31により、内部空間4
0が真空状態になった場合においてもバックパネル10
フロントパネル20との間の間隔が一定に保持されると
共に、両パネル間が電気的に分離される。
【0024】前述のように、FEDの駆動時において、
エミッタ13から放出された電子eの一部が反射膜24
のバックパネル10側の表面で反射すると、この電子e
がスペーサ31に対して衝突することによりスペーサ3
1が帯電する場合がある。このときのスペーサ31の帯
電状態(正の帯電状態または負の帯電状態)や帯電量等
は、スペーサ31に対して電子eが衝突する際の電子e
のエネルギー(速度)や反射角度またはスペーサ31の
材質やその表面状態等に依存する。スペーサ31が帯電
すると、この帯電の影響により内部空間40における電
位分布に変化が生じることとなる。
【0025】この電位分布の変化を補正し、エミッタ1
3から放出された電子eの軌道を修正するために、スペ
ーサ31の所定の位置(例えば、ほほ中央部)には補助
電極32が配設されている。この補助電極32には、後
述する補助電圧印加回路50(図2参照)により補助電
圧(正の直流電圧)Vが印加されるようになっている。
補助電極32の機能に関する詳細については、後述す
る。なお、図1では、1つのスペーサ31に対して1つ
の補助電極32が配設されている場合を示しているが、
必ずしもこれに限られるものではなく、例えば、1つの
スペーサ31に対して2つ以上の補助電極32が配設さ
れる場合もある。
【0026】図2は、図1に示したFEDのブロック構
成を表すものである。本実施の形態のFEDは、主に、
入力された映像信号S1に応じて補助電極32に対して
補助電圧Vを印加するための補助電圧印加回路50と、
線順次走査方式により画像Gを表示するためのスキャン
ドライバ61およびデータドライバ62とを備えてい
る。
【0027】補助電圧印加回路50は、輝度レベル検出
部51および電位分布制御部52を含んで構成されてい
る。輝度レベル検出部51は、図示しない撮像部を介し
て入力された映像信号S1の輝度レベルを検出するもの
であり、検出した輝度レベルに関する情報を輝度レベル
信号S2として電位分布制御部52に対して出力する。
輝度レベル検出部51により検出される輝度レベルが大
きいほどエミッタ13から放出される電子eの量が多く
(すなわち輝度が高く)、一方、輝度レベルが小さいほ
ど電子eの量が少ない(すなわち輝度が低い)こととな
る。このとき、輝度レベル検出部51は、例えば、輝度
レベルを順次加算して1の画像ラインGL当たりの輝度
レベルの総和を演算したのち、このときの輝度レベルの
総和に関する情報を輝度レベル信号S2として出力す
る。なお、必ずしも上記の場合に限らず、輝度レベル検
出部51は、1の画像ラインGL当たりの輝度レベルの
総和を演算したのち、その画素GS当たりの平均値、す
なわち、1の画像ラインGL当たりの輝度レベルの総和
をその画像ラインGLに含まれる画素GS数で除した情
報を輝度レベル信号S2として出力するようにしてもよ
い。
【0028】電位分布制御部52は、例えば、輝度レベ
ル検出部51から出力される輝度レベル信号S2に基づ
いて補助電極32に対して補助電圧Vを印加するもので
ある。このとき、電位分布制御部52は、例えば、輝度
レベル信号S2をLUT(ルックアップテーブル;Look
Up Table )と対応させることにより補助電圧Vの大き
さを決定する。このLUTは、例えば、輝度レベル信号
S2に対応する適正な補助電圧Vが予め登録されている
ものであり、電位分布制御部52に搭載されたROM
(Read Only Memory)などに格納されている。電位分布
制御部52は、例えば、スペーサ31の帯電時における
電子eの軌道に応じて、輝度レベルが大きい場合には補
助電圧Vを小さく(または大きく)し、一方、輝度レベ
ルが小さい場合には補助電圧Vを大きく(または小さ
く)する。なお、電位分布制御部52は、アノード電極
(反射膜24)から出力されるアノード電圧信号S3を
取り込み、アノード電極に対する印加電圧が変化した場
合には、それに応じて補助電圧Vも変更するようになっ
ている。
【0029】スキャンドライバ61は、画像Gを表示さ
せる過程において、画像ラインGLを順次指定するもの
である。データドライバ62は、スキャンドライバ61
により指定された画像ラインGL内の各画素GSにおい
て映像信号S1に基づいた画像を表示させるものであ
る。
【0030】ここで、図3を参照して、電位分布制御部
52の具体的な回路構成について説明する。電位分布制
御部52は、オペアンプA1および抵抗A2,A3等よ
り構成される入力バッファ回路52Aと、可変抵抗等よ
り構成されるレベル調整回路52Bと、オペアンプC1
およびコンデンサC2,C3等より構成される差動増幅
回路52Cと、FET(Field Effect Transistor )D
1、ツェナーダイオードD2,D3,D4,D5および
抵抗D6,D7,D8等より構成される出力レベル変換
回路52Dとを含んで構成されている。
【0031】電位分布制御部52では、主に、入力端子
N1から輝度レベル信号S2が入力されると、まず、入
力バッファ回路52Aにより入力インピーダンスが変換
され、この変換信号が差動増幅回路52Cに入力され
る。このとき、レベル調整回路52Bによりデフォルト
値が調整される。続いて、差動増幅回路52Cにより上
記の変換信号に基づいて輝度レベル信号S2と入力端子
N2から入力されたアノード電圧信号S3とのバランス
が調整され、この調整信号が出力レベル変換回路52D
に入力される。続いて、出力レベル変換回路52Dによ
り上記の調整信号のレベルがアノード電圧信号S3に対
応したレベルまで引き上げられることにより、このレベ
ル引き上げ後の調整信号が補助電圧Vとして出力端子U
から出力される。
【0032】<FEDの動作>次に、図1および図2を
参照して、FEDの画像表示に係る基本的動作について
説明する。
【0033】このFEDでは、例えば、カソード電極1
2〜アノード電極(反射膜24)間に映像信号S1に応
じた電圧が印加されることにより、エミッタ13の先端
から内部空間40に電界放出現象により電子eが放出さ
れる。この電子eは、カソード電極12およびアノード
電極(反射膜24)間の電位差により内部空間40に生
じた電界(電位分布)において徐々に加速され、蛍光体
膜23まで導かれる。そして、電子eが反射膜24を通
過して蛍光体膜23に対して衝突することにより蛍光体
膜23が励起して発光し、画像Gが表示される。このと
き、画像Gの表示は、入力された映像信号S1に応じて
スキャンドライバ61およびデータドライバ62が順次
稼働することにより線順次的に行われる。
【0034】<FEDの作用および効果>次に、図1〜
図7を参照して、FEDの作用および効果について説明
する。図7は、図1に示したFEDにおけるスペーサ3
1周辺の構造を拡大して表すものであり、図5および図
6は、図1に示したFEDに対する比較例としてのFE
Dの構造を表すものである。図5および図6に示したF
EDの構成要素(スペーサ131等)は、図1に示した
FEDにおける対応する構成要素(スペーサ31等)と
同様の機能を有するものである。図4は、図5および図
6に示した比較例としてのFEDから補助電極132を
除去したFEDの構造を表すものであり、スペーサ13
1の可視化現象を説明するためのものである。なお、図
4〜図7では、例えば、カソード電極12が接地され
(0V)、一方、アノード電極(反射膜124または反
射膜24)に対して6.0kVの電圧が印加された場合
を示している。
【0035】《補助電極の作用》以下では、まず、図4
および図5を参照して、補助電極132によるスペーサ
131の可視化の抑制作用について説明する。
【0036】補助電極132を搭載していないFEDに
おいて、スペーサ131が帯電していないような状態
(図4(A)参照)では、内部空間140における電位
分布は、各等電位線(0kV〜6.0kV)が等間隔で
並ぶような状態となる。このような場合には、エミッタ
113から放出された電子eは、各等電位線に対して垂
直な方向のうち、電位勾配とは逆方向に働く力を受けつ
つ、ほぼ直線状の軌道を呈しながら蛍光体膜123へ到
達する。これにより、蛍光体膜123が発光し、正常な
画像が表示される。
【0037】ところが、スペーサ131が帯電すると、
この帯電の影響により内部空間140における電位分布
が変化し、電子eの軌道が曲げられてしまう。すなわ
ち、スペーサ131が正に帯電した場合(図4(B)参
照)には、例えば、2.0kV〜5.0kVの等電位線
のうちのスペーサ131近傍部が蛍光体膜123から離
れる側にシフトすることにより、この電位領域において
電子eの軌道はスペーサ131に近づく側に曲げられ
る。このような場合には、蛍光体膜123まで十分な量
の電子eが到達しなくなり、スペーサ131近傍におけ
る蛍光体膜123による発光量が減少する。これによ
り、発光量が減少した領域が画像中において黒い線状の
領域として視認され、スペーサ131の可視化が生じ
る。一方、スペーサ131が負に帯電した場合(図4
(C)参照)には、例えば、2kV〜5kVの等電位線
のうちのスペーサ131近傍部が蛍光体膜123に近づ
く側にシフトすることにより、この電位領域において電
子eの軌道はスペーサ131から離れる側に曲げられ
る。このような場合においても、蛍光体膜123に到達
する電子eの量が減少するため、スペーサ131の可視
化が生じる。
【0038】これに対して、補助電極132を搭載した
FEDでは、例えば、補助電極132に対して3.0k
Vよりも小さい一定電圧(例えば2.7kV)が印加さ
れることにより、内部空間140における電位分布が適
正に調整される。すなわち、スペーサ131が正に帯電
した場合(図5(A)参照)には、図4(B)に示した
電位分布とは異なり、2kV〜5kVの等電位線のうち
のスペーサ131近傍部が蛍光体膜123に近づく側に
シフトする。一方、スペーサ131が負に帯電した場合
(図5(B)参照)には、図4(C)に示した電位分布
とは異なり、2kV〜5kVの等電位線のうちのスペー
サ131近傍部が蛍光体膜123から離れる側にシフト
する。これにより、スペーサ131が正または負に帯電
した状態においても、補助電極132の存在により電子
eの軌道が修正され、スペーサ131の可視化が抑制さ
れる。
【0039】《FEDの作用および効果》しかしなが
ら、図5に示したFED(比較例)では、補助電極13
2に対して常に一定な電圧が印加されるため、輝度(す
なわち、エミッタ113から放出される電子eの量)が
変化した場合には対応することができず、以下のような
理由により、スペーサ131の可視化に対する抑制作用
は十分なものではない。すなわち、例えば、図5(A)
に示したような状態(正の帯電状態)ののち、輝度が増
加した場合(図6(A)参照)には、反射膜124の表
面で反射する電子eの量が増加するため、当然、スペー
サ131の帯電量も大きくなる。このような場合には、
補助電極132に対して電圧(例えば2.7kV)が印
加されたとしても、スペーサ131の帯電状態の変化に
より内部空間140における電位分布が適正な状態から
外れてしまい、電子eの軌道はスペーサ131に近づく
側に曲げられてしまう。一方、輝度が減少した場合(図
6(B)参照)には、反射膜124の表面で反射する電
子eの量が減少し、スペーサ131の帯電量は小さくな
る。このような場合には、補助電極132の存在によ
り、内部空間140における電位分布が図4(C)に示
した状態とほぼ同様の状態となり、電子eの軌道はスペ
ーサ131から離れる側に曲げられてしまう。なお、上
記のような不具合は、スペーサ131が負に帯電した状
態において輝度が変化した場合においても同様に生じる
ものである。
【0040】これに対して、図7に示した本実施の形態
のFEDでは、補助電圧印加回路50により輝度の変化
に応じた補助電圧Vが補助電極32に対して印加される
ため、以下のような作用により、スペーサ31の可視化
を回避することができる。すなわち、例えば、図5
(A)に示したような状態(正の帯電状態)ののち、輝
度が増加するような場合(図7(A)参照)には、映像
信号S1に基づいて輝度の変化が輝度レベル検出部51
により検出され、増加した輝度(輝度レベル)に対応し
た補助電圧Vが電位分布制御部52により補助電極32
に対して印加される。このとき、電位分布制御部52
は、例えば、2.7kVよりも小さくなるように補助電
圧V(例えば2.4kV)を決定する。電位分布制御部
52により補助電極32に対して補助電圧V(例えば
2.4kV)が印加されることにより、内部空間40に
おける電位分布が適正化される。一方、輝度が減少した
場合(図7(B)参照)においても、減少した輝度(輝
度レベル)に対応した補助電圧Vが電位分布制御部52
により補助電極32に対して印加されることにより、同
様に、内部空間40における電位分布が適正化される。
このとき、電位分布制御部52は、例えば、2.7kV
よりも大きくなるように補助電圧V(例えば2.9k
V)を決定する。もちろん、上記の補助電圧印加回路5
0による電位分布の適正化は、スペーサ31が負に帯電
した状態においても同様に行われる。補助電圧Vは、輝
度レベル検出部51による輝度の変化検出タイミングご
とに電位分布制御部52により随時変更され、常に適正
な補助電圧Vが補助電極32に対して印加される。これ
により、蛍光体膜23に対して十分な量の電子eが到達
し、スペーサ31近傍の蛍光体膜23から正常な発光量
の光が放射される。上記の作用および効果は、特に、画
像ラインごとに輝度が大きく変化するような静止画像や
画像ごとに輝度が大きく変化するような動画像を表示す
る場合に発揮されることとなる。
【0041】なお、本実施の形態では、輝度レベル検出
部51が1の画像ラインGLごとに輝度レベルの総和等
の演算を行うようにしたが、必ずしもこれに限られるも
のではなく、例えば、2以上の画像ラインGL(例え
ば、1画面を構成する複数の画像ラインGL)ごとに演
算を行うようにしてもよい。
【0042】また、本実施の形態では、スペーサ31の
ほぼ中央部に補助電極32を配設するようにしたが、必
ずしもこれに限られるものではなく、補助電極32の配
設位置を自由に変更することが可能である。ただし、補
助電極32の配設位置を変更する場合には、例えば、ス
ペーサ31のうちのバックパネル10に近い側に補助電
極32を配設するようにするのが好ましい。スペーサ3
1のうちのバックパネル10に近い側に補助電極32を
配設することにより、以下のような理由により、電子e
の軌道を容易に制御することができる。すなわち、上記
したように、エミッタ13から放出された電子eは、蛍
光体膜23に近づくにつれて徐々に加速される。補助電
極32により電子eの軌道を制御する場合には、電子e
の速度が比較的遅い状態において制御する方が容易かつ
確実となる。
【0043】以上、実施の形態を挙げて本発明を説明し
たが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではな
く、種々変形可能である。例えば、上記各実施の形態で
は、エミッタ13として、円錐状のスピント型のものを
用いるようにしたが、必ずしもこれに限られるものでは
なく、例えば、上記のスピント型の他、中央部が陥没し
たいわゆるカップ型等の種々の形状のものを用いるよう
にしてもよい。
【0044】また、上記実施の形態では、線順次走査方
式による画像の表示様式を備えたFEDについて説明し
たが、必ずしもこれに限られるものではなく、本発明を
飛越走査方式(インターレース)による画像の表示様式
を備えたFEDに適用することも可能である。このよう
な場合には、例えば、輝度レベル検出部51による輝度
レベルの総和等の演算をフィールド画像ごと(すなわち
1回のフィールド走査ごと)に行うようにしてもよい
し、フレーム画像ごと(すなわち2回のフィールド走査
ごと)に行うようにしてもよい。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1ないし請
求項4のいずれか1項に記載の画像表示装置または請求
項5記載の画像表示制御方法によれば、映像信号の輝度
レベルを検出し、その輝度レベルに基づいた大きさの電
圧を補助電極に対して印加することにより、支持部材の
近傍における電位分布を制御するようにしたので、補助
電極に対して適正な補助電圧が印加される。これによ
り、支持部材が帯電した状態において輝度が変化した場
合においても、第1の基板〜第2の基板間の電位分布が
適正化され、電子の軌道が修正される。したがって、支
持部材の近傍における発光体において十分な発光量の光
が放射されることとなるため、画像中において発光量が
十分でない領域が黒い線状領域として可視化される現
象、すなわち、支持部材の可視化を回避することができ
る。
【0046】特に、請求項4記載の画像表示装置によれ
ば、補助電極が支持部材のうちの第2の基板に近い側に
配設されるようにしたので、電子が比較的遅い速度を有
する状態において、補助電極により電子の軌道が修正さ
れる。このため、電子の軌道の制御を容易かつ確実に行
うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る画像表示装置とし
てのFEDの構成を表す断面図である。
【図2】本発明の一実施の形態に係る画像表示装置とし
てのFEDの構成を表すブロック図である。
【図3】電位分布制御部の回路構成を表す回路図であ
る。
【図4】補助電極を搭載しないFEDにおける問題点を
説明するための図である。
【図5】比較例としてのFEDにおける補助電極の作用
を説明するための図である。
【図6】比較例としてのFEDにおける問題点を説明す
るための図である。
【図7】本発明の一実施の形態に係るFEDにおける補
助電極の作用を説明するための図である。
【符号の説明】
10…バックパネル、11,12,111,121…透
明基板、12…カソード電極、13,113…エミッ
タ、14,114…絶縁壁、15,115…集束材、2
0…フロントパネル、22,122…ブラックマトリッ
クス、23,123…蛍光体膜、24,124…反射
膜、30…側壁、31,131…スペーサ、32,13
2…補助電極、40,140…内部空間、50…補助電
圧印加回路、51…輝度レベル検出部、52…電位分布
制御部、52A…入力バッファ回路、52B…レベル調
整回路、52C…差動増幅回路、52D…出力レベル変
換回路、61…スキャンドライバ、62…データドライ
バ、e…電子、G…画像、GL…画像ライン、GS…画
素、S1…映像信号、S2…輝度レベル信号、S3…ア
ノード電圧信号、V…補助電圧。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の発光体が配設された第1の基板
    と、入力した映像信号に基づいて前記複数の発光体に対
    して電子を放出する複数の電子放出体が配設されると共
    に前記第1の基板に対向配置された第2の基板とを備え
    た画像表示装置であって、 前記第1の基板と前記第2の基板との間の間隙を保持す
    る支持部材と、 前記電子放出体と前記発光体との間に、前記電子放出体
    から放出された電子を前記発光体へ導くための電位分布
    を形成する電位分布形成手段と、 前記映像信号の輝度レベルを検出する輝度レベル検出手
    段と、 前記支持部材の所定の位置に配設された1または2以上
    の補助電極と、 前記輝度レベル検出手段によって検出された輝度レベル
    に基づいた大きさの電圧を前記補助電極に対して印加
    し、前記支持部材の近傍における電位分布を制御する電
    位分布制御手段とを備えたことを特徴とする画像表示装
    置。
  2. 【請求項2】 前記電位分布制御手段は、前記輝度レベ
    ル検出手段によって検出された輝度レベルが大きい場合
    には前記補助電極に対する印加電圧を小さくし、一方、
    輝度レベルが小さい場合には前記補助電極に対する印加
    電圧を大きくすることを特徴とする請求項1記載の画像
    表示装置。
  3. 【請求項3】 前記電位分布制御手段は、前記輝度レベ
    ル検出手段によって検出された輝度レベルが大きい場合
    には前記補助電極に対する印加電圧を大きくし、一方、
    輝度レベルが小さい場合には前記補助電極に対する印加
    電圧を小さくすることを特徴とする請求項1記載の画像
    表示装置。
  4. 【請求項4】 前記補助電極は、前記支持部材のうちの
    前記第2の基板に近い側に配設されていることを特徴と
    する請求項1記載の画像表示装置。
  5. 【請求項5】 複数の発光体が配設された第1の基板
    と、入力した映像信号に基づいて前記複数の発光体に対
    して電子を放出する複数の電子放出体が配設されると共
    に前記第1の基板に対向配置された第2の基板とを備
    え、前記第1の基板と前記第2の基板との間の間隙を支
    持部材によって保持してなる画像表示装置の画像表示制
    御方法であって、 前記支持部材の所定の位置に1または2以上の補助電極
    を配設し、 前記電子放出体と前記発光体との間に前記電子放出体か
    ら放出された電子を前記発光体へ導くための電位分布を
    形成すると共に、前記映像信号の輝度レベルを検出し、
    その輝度レベルに基づいた大きさの電圧を前記補助電極
    に対して印加し、前記支持部材の近傍における電位分布
    を制御することを特徴とする画像表示制御方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006106145A (ja) * 2004-09-30 2006-04-20 Toshiba Corp 表示装置

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