JP2002071460A - フーリエ変換赤外分光光度計 - Google Patents
フーリエ変換赤外分光光度計Info
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- JP2002071460A JP2002071460A JP2000254870A JP2000254870A JP2002071460A JP 2002071460 A JP2002071460 A JP 2002071460A JP 2000254870 A JP2000254870 A JP 2000254870A JP 2000254870 A JP2000254870 A JP 2000254870A JP 2002071460 A JP2002071460 A JP 2002071460A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 潮解性を有する光学材料を用いたフーリエ変
換赤外分光光度計において、装置の消費電力を低減し、
光源の寿命を延ばす。 【解決手段】 赤外光源用ヒータ３から発生する熱によ
り、赤外光透過窓５、６、７、ビームスプリッタ１０等
の潮解性を有する光学材料を含む干渉計１２内を低湿度
に保つ。非測定時で装置の電源がＯＦＦにされていると
きには、制御部１内の光源点灯回路および赤外光源用ヒ
ータ３のみに常時通電し、干渉計１２内の湿度コントロ
ールに関係しない部分には通電しない。さらに、赤外光
源用ヒータ３への供給電力量を制御することにより、消
費電力のさらなる低減と同時に、光源の寿命を延ばすこ
とができる。
換赤外分光光度計において、装置の消費電力を低減し、
光源の寿命を延ばす。 【解決手段】 赤外光源用ヒータ３から発生する熱によ
り、赤外光透過窓５、６、７、ビームスプリッタ１０等
の潮解性を有する光学材料を含む干渉計１２内を低湿度
に保つ。非測定時で装置の電源がＯＦＦにされていると
きには、制御部１内の光源点灯回路および赤外光源用ヒ
ータ３のみに常時通電し、干渉計１２内の湿度コントロ
ールに関係しない部分には通電しない。さらに、赤外光
源用ヒータ３への供給電力量を制御することにより、消
費電力のさらなる低減と同時に、光源の寿命を延ばすこ
とができる。
Description
【０００１】
【発明の属する分野】本発明は赤外光透過スペクトルを
測定することにより物質の定性および定量分析を行うフ
ーリエ変換赤外分光光度計（以下ＦＴＩＲという）に関
する。
測定することにより物質の定性および定量分析を行うフ
ーリエ変換赤外分光光度計（以下ＦＴＩＲという）に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図１に、ＦＴＩＲの概略構成図を示す。
ＦＴＩＲは赤外光源として機能する赤外光源用ヒータ
３、移動鏡８、固定鏡９、ビームスプリッタ１０および
検出器１１からなる干渉計１２と、この干渉計１２とと
もにマイケルソン型干渉計を構成するためのＨｅ−Ｎｅ
レーザ２と、干渉計１２の制御およびデータ処理部など
の電気系を制御する制御部１とから構成されている。干
渉計１２は干渉計カバー４で覆われ、密閉構造となって
いる。赤外光源用ヒータ３で発生し、移動鏡８および固
定鏡９で反射した光は、赤外光透過窓５を透過して試料
室（図示せず）に導かれ、試料と相互作用した後、赤外
光透過窓６を透過して再び干渉計１２内に導かれ、検出
器１１により検出され、試料の赤外光透過スペクトルを
測定する。
ＦＴＩＲは赤外光源として機能する赤外光源用ヒータ
３、移動鏡８、固定鏡９、ビームスプリッタ１０および
検出器１１からなる干渉計１２と、この干渉計１２とと
もにマイケルソン型干渉計を構成するためのＨｅ−Ｎｅ
レーザ２と、干渉計１２の制御およびデータ処理部など
の電気系を制御する制御部１とから構成されている。干
渉計１２は干渉計カバー４で覆われ、密閉構造となって
いる。赤外光源用ヒータ３で発生し、移動鏡８および固
定鏡９で反射した光は、赤外光透過窓５を透過して試料
室（図示せず）に導かれ、試料と相互作用した後、赤外
光透過窓６を透過して再び干渉計１２内に導かれ、検出
器１１により検出され、試料の赤外光透過スペクトルを
測定する。
【０００３】干渉計１２に用いられるビームスプリッタ
１０、赤外光透過窓５、６に用いられる光学材料として
は、測定に用いられる赤外領域の光を吸収しないことを
要求され、通常臭化カリウム（ＫＢｒ）あるいは塩化ナ
トリウム（ＮａＣｌ）が使用される。ＫＢｒは２９μ
ｍ、ＮａＣｌは２１μｍより短い赤外光に対して透明で
ある。これらの材料は潮解性（空気中の水分を吸収して
溶解する性質）を有しているため、これらの光学材料を
含む干渉計１２を密閉構造とし、内部の湿度を常にコン
トロールしなければならない。
１０、赤外光透過窓５、６に用いられる光学材料として
は、測定に用いられる赤外領域の光を吸収しないことを
要求され、通常臭化カリウム（ＫＢｒ）あるいは塩化ナ
トリウム（ＮａＣｌ）が使用される。ＫＢｒは２９μ
ｍ、ＮａＣｌは２１μｍより短い赤外光に対して透明で
ある。これらの材料は潮解性（空気中の水分を吸収して
溶解する性質）を有しているため、これらの光学材料を
含む干渉計１２を密閉構造とし、内部の湿度を常にコン
トロールしなければならない。
【０００４】干渉計１２内部の湿度をコントロールする
手段として、シリカゲル等の乾燥剤を干渉計１２内部に
設置し、干渉計１２内部の水蒸気を除去することが行わ
れている。しかしながら、一般の乾燥剤は水蒸気の量が
増加するとともに、吸湿能力が低下してくるので定期的
に交換する必要がある。乾燥剤の交換のためには、干渉
計１２内部に湿度の高い外気が侵入しないよう、湿度の
低い場所に移動して交換作業をしなければならず、操作
が煩雑で長時間を要する。
手段として、シリカゲル等の乾燥剤を干渉計１２内部に
設置し、干渉計１２内部の水蒸気を除去することが行わ
れている。しかしながら、一般の乾燥剤は水蒸気の量が
増加するとともに、吸湿能力が低下してくるので定期的
に交換する必要がある。乾燥剤の交換のためには、干渉
計１２内部に湿度の高い外気が侵入しないよう、湿度の
低い場所に移動して交換作業をしなければならず、操作
が煩雑で長時間を要する。
【０００５】上記のような操作の煩雑さを解消するた
め、干渉計１２内部の湿度をコントロールする手段とし
て、干渉計１２内部を加熱して温度を上昇させ、相対湿
度を低下させる方法がある。この方法では、装置全体を
常に通電しておき、赤外光源用ヒータの発熱により加熱
することで干渉計１２内の温度を上昇させ、相対湿度を
一定湿度以下に保っている。
め、干渉計１２内部の湿度をコントロールする手段とし
て、干渉計１２内部を加熱して温度を上昇させ、相対湿
度を低下させる方法がある。この方法では、装置全体を
常に通電しておき、赤外光源用ヒータの発熱により加熱
することで干渉計１２内の温度を上昇させ、相対湿度を
一定湿度以下に保っている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】干渉計内部の温度を上
昇させることにより相対湿度を低下させる方法によれ
ば、特に煩雑な操作なしに潮解性のある光学素子を保護
することができるが、装置全体を常時通電状態にしてお
くため、潮解を防ぐためには必要でない箇所、例えばＨ
ｅ−Ｎｅレーザや制御部全体にも通電しており、消費電
力が大きくなってしまう。また、潮解を防ぐためには相
対湿度は５０％以下であれば十分であるが、光源へは常
に測定時と同じ電力量が供給されているため、必要以上
に低湿度を保持しており、消費電力の無駄が生じる。さ
らに、常時光源へ測定時と同じ電力を供給した場合、光
源の寿命は点灯時間と比例して劣化していくので、寿命
を短くしてしまうという問題も生じる。
昇させることにより相対湿度を低下させる方法によれ
ば、特に煩雑な操作なしに潮解性のある光学素子を保護
することができるが、装置全体を常時通電状態にしてお
くため、潮解を防ぐためには必要でない箇所、例えばＨ
ｅ−Ｎｅレーザや制御部全体にも通電しており、消費電
力が大きくなってしまう。また、潮解を防ぐためには相
対湿度は５０％以下であれば十分であるが、光源へは常
に測定時と同じ電力量が供給されているため、必要以上
に低湿度を保持しており、消費電力の無駄が生じる。さ
らに、常時光源へ測定時と同じ電力を供給した場合、光
源の寿命は点灯時間と比例して劣化していくので、寿命
を短くしてしまうという問題も生じる。
【０００７】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、干渉計内の潮解性を有する光学素子を
保護するための煩雑な操作を必要とせず、消費電力を低
減でき、光源を長寿命化できるＦＴＩＲを提供すること
を目的とする。
れたものであり、干渉計内の潮解性を有する光学素子を
保護するための煩雑な操作を必要とせず、消費電力を低
減でき、光源を長寿命化できるＦＴＩＲを提供すること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明のＦＴＩＲは、装置の電源をＯＦＦにする場
合に、光源点灯回路および光源のみを通電状態とするこ
とにより、干渉計内を光学素子が潮解しない低湿度状態
に保ち、さらに光源への供給電力量の制御を可能とする
ことにより、干渉計内の湿度を光学素子が潮解に至らな
い必要とされる最低限の低湿度に保つことを可能とした
ものである。常時通電する箇所を光源点灯回路および光
源のみとすることにより装置の消費電力を低減すること
ができる。また、光源への供給電力量を制御することに
より、干渉計内の温度を上昇させて必要以上に相対湿度
を低下させることがなくなり、装置の消費電力を低減す
ることができるとともに、光源自身の寿命も引き延ばす
ことができる。
め、本発明のＦＴＩＲは、装置の電源をＯＦＦにする場
合に、光源点灯回路および光源のみを通電状態とするこ
とにより、干渉計内を光学素子が潮解しない低湿度状態
に保ち、さらに光源への供給電力量の制御を可能とする
ことにより、干渉計内の湿度を光学素子が潮解に至らな
い必要とされる最低限の低湿度に保つことを可能とした
ものである。常時通電する箇所を光源点灯回路および光
源のみとすることにより装置の消費電力を低減すること
ができる。また、光源への供給電力量を制御することに
より、干渉計内の温度を上昇させて必要以上に相対湿度
を低下させることがなくなり、装置の消費電力を低減す
ることができるとともに、光源自身の寿命も引き延ばす
ことができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
を参照しながら詳細に説明する。本発明のＦＴＩＲは赤
外光源用ヒータ３、赤外光透過窓５、６、７、移動鏡
８、固定鏡９、ビームスプリッタ１０および検出器１１
からなる干渉計１２と、干渉計カバー４と、Ｈｅ−Ｎｅ
レーザ２と、制御部１とから構成されている。
を参照しながら詳細に説明する。本発明のＦＴＩＲは赤
外光源用ヒータ３、赤外光透過窓５、６、７、移動鏡
８、固定鏡９、ビームスプリッタ１０および検出器１１
からなる干渉計１２と、干渉計カバー４と、Ｈｅ−Ｎｅ
レーザ２と、制御部１とから構成されている。
【００１０】試料測定時は、干渉計制御および光源点灯
回路、データ処理部を含む電気系を制御する制御部１が
作動し、赤外光源用ヒータ３が通電され加熱されること
により赤外光が発生する。発生した赤外光は移動鏡８、
固定鏡９およびビームスプリッタ１０で構成される干渉
計１２に導かれ、ビームスプリッタ１０でスプリットさ
れ、固定鏡９、および移動鏡８において反射したのち、
ビームスプリッタ１０で合成されることにより、干渉光
路差が掃引される。さらに同じ光路にＨｅ−Ｎｅレーザ
２からの光が赤外光透過窓７を通して加えられることに
よりマイケルソン型干渉計が構成される。得られた赤外
干渉光は、赤外光透過窓５を透過して試料室（図示せ
ず）に導かれ、試料と相互作用した後、赤外光透過窓６
を透過して再び干渉計１２内に導かれ、検出器１１によ
り検出され、試料の赤外光透過スペクトルを測定する。
赤外光透過窓５、６、７およびビーブスプリッタ１０は
赤外光を透過するよう臭化カリウムを用いている。干渉
計カバー４は干渉計１２内を密閉構造とし、赤外光源用
ヒータ３による熱により干渉計１２内の温度を上昇さ
せ、相対湿度を低下させることにより臭化カリウムが潮
解するのを防ぐことができる。
回路、データ処理部を含む電気系を制御する制御部１が
作動し、赤外光源用ヒータ３が通電され加熱されること
により赤外光が発生する。発生した赤外光は移動鏡８、
固定鏡９およびビームスプリッタ１０で構成される干渉
計１２に導かれ、ビームスプリッタ１０でスプリットさ
れ、固定鏡９、および移動鏡８において反射したのち、
ビームスプリッタ１０で合成されることにより、干渉光
路差が掃引される。さらに同じ光路にＨｅ−Ｎｅレーザ
２からの光が赤外光透過窓７を通して加えられることに
よりマイケルソン型干渉計が構成される。得られた赤外
干渉光は、赤外光透過窓５を透過して試料室（図示せ
ず）に導かれ、試料と相互作用した後、赤外光透過窓６
を透過して再び干渉計１２内に導かれ、検出器１１によ
り検出され、試料の赤外光透過スペクトルを測定する。
赤外光透過窓５、６、７およびビーブスプリッタ１０は
赤外光を透過するよう臭化カリウムを用いている。干渉
計カバー４は干渉計１２内を密閉構造とし、赤外光源用
ヒータ３による熱により干渉計１２内の温度を上昇さ
せ、相対湿度を低下させることにより臭化カリウムが潮
解するのを防ぐことができる。
【００１１】ＦＴＩＲ装置が非測定時で装置の電源がＯ
ＦＦにされているときは、制御部１内の光源点灯回路と
赤外光源用ヒータ３のみに通電される。これにより、干
渉計１２内の湿度は臭化カリウムが潮解しないよう低湿
度に保たれることができ、干渉計１２内の湿度コントロ
ールに関係のない部分には通電されず、装置全体の消費
電力を低減することができる。
ＦＦにされているときは、制御部１内の光源点灯回路と
赤外光源用ヒータ３のみに通電される。これにより、干
渉計１２内の湿度は臭化カリウムが潮解しないよう低湿
度に保たれることができ、干渉計１２内の湿度コントロ
ールに関係のない部分には通電されず、装置全体の消費
電力を低減することができる。
【００１２】さらに、干渉計１２内に湿度計を設置し、
湿度計測の結果により赤外光源用ヒータ３に供給する電
力量を制御し、干渉計１２内の湿度を臭化カリウムが潮
解しないとされている相対湿度５０％程度でコントロー
ルすることにより、干渉計１２内の相対湿度を必要以上
に下げることがなくなり、消費電力をさらに低減でき、
同時に赤外光源用ヒータ３の寿命を引き延ばすことがで
きる。
湿度計測の結果により赤外光源用ヒータ３に供給する電
力量を制御し、干渉計１２内の湿度を臭化カリウムが潮
解しないとされている相対湿度５０％程度でコントロー
ルすることにより、干渉計１２内の相対湿度を必要以上
に下げることがなくなり、消費電力をさらに低減でき、
同時に赤外光源用ヒータ３の寿命を引き延ばすことがで
きる。
【００１３】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、赤外光源としてヒーターを
用いているが、これに限定されるものではなく、測定に
必要な波長に応じて、タングステンランプ、高圧水銀放
電灯等を用いることができる。これらの場合にも、点灯
時には発熱を伴うので、干渉計１２内を低湿度に保つた
めの十分な熱を供給することが可能である。
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、赤外光源としてヒーターを
用いているが、これに限定されるものではなく、測定に
必要な波長に応じて、タングステンランプ、高圧水銀放
電灯等を用いることができる。これらの場合にも、点灯
時には発熱を伴うので、干渉計１２内を低湿度に保つた
めの十分な熱を供給することが可能である。
【００１４】
【発明の効果】本発明のフーリエ変換赤外分光光度計に
よれば、干渉計内を低湿度に保つため、装置の電源をＯ
ＦＦにする場合に、光源点灯回路および光源のみを通電
状態とするようにしたので、装置全体の消費電力を低減
することができる。さらに、光源への供給電力量の制御
を可能とすることにより、消費電力のさらなる低減と同
時に、光源の寿命を延ばすことができる。
よれば、干渉計内を低湿度に保つため、装置の電源をＯ
ＦＦにする場合に、光源点灯回路および光源のみを通電
状態とするようにしたので、装置全体の消費電力を低減
することができる。さらに、光源への供給電力量の制御
を可能とすることにより、消費電力のさらなる低減と同
時に、光源の寿命を延ばすことができる。
【図１】 ＦＴＩＲの概略構成図である。
３---赤外光源用ヒータ ４---干渉計カバー ５、６、７---赤外光透過窓 ８---移動鏡 ９---固定鏡 １０---ビームスプリッタ
Claims (1)
- 【請求項１】 潮解性を有する光学材料を光学素子とし
て用いるフーリエ変換赤外分光光度計において、装置未
使用時には光源およびその点灯回路のみを通電状態とす
ることにより光学素子雰囲気を前記光学材料が潮解しな
い低湿度状態に保つことを特徴とするフーリエ変換赤外
分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000254870A JP2002071460A (ja) | 2000-08-25 | 2000-08-25 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000254870A JP2002071460A (ja) | 2000-08-25 | 2000-08-25 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002071460A true JP2002071460A (ja) | 2002-03-08 |
Family
ID=18743746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000254870A Withdrawn JP2002071460A (ja) | 2000-08-25 | 2000-08-25 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002071460A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010237168A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Shimadzu Corp | 赤外分光光度計 |
| EP2233898A3 (en) * | 2009-03-26 | 2011-03-23 | Shimadzu Corporation | Infrared spectrophotometer and attachment therefor |
| JP2013038092A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-21 | Toshiba Corp | 半導体レーザ装置 |
| CN113390811A (zh) * | 2020-02-27 | 2021-09-14 | 株式会社岛津制作所 | 傅立叶变换红外分光光度计 |
| EP4230977A1 (en) * | 2022-02-22 | 2023-08-23 | JASCO Corporation | Infrared spectrometer |
-
2000
- 2000-08-25 JP JP2000254870A patent/JP2002071460A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2233898A3 (en) * | 2009-03-26 | 2011-03-23 | Shimadzu Corporation | Infrared spectrophotometer and attachment therefor |
| US8378303B2 (en) | 2009-03-26 | 2013-02-19 | Shimadzu Corporation | Infrared spectrophotometer and auxiliary device therefor |
| JP2010237168A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Shimadzu Corp | 赤外分光光度計 |
| JP2013038092A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-21 | Toshiba Corp | 半導体レーザ装置 |
| US9407065B2 (en) | 2011-08-03 | 2016-08-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor laser |
| CN113390811A (zh) * | 2020-02-27 | 2021-09-14 | 株式会社岛津制作所 | 傅立叶变换红外分光光度计 |
| EP4230977A1 (en) * | 2022-02-22 | 2023-08-23 | JASCO Corporation | Infrared spectrometer |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20040212 |