JP2002064119A - Icチップ規正装置 - Google Patents

Icチップ規正装置

Info

Publication number
JP2002064119A
JP2002064119A JP2000249756A JP2000249756A JP2002064119A JP 2002064119 A JP2002064119 A JP 2002064119A JP 2000249756 A JP2000249756 A JP 2000249756A JP 2000249756 A JP2000249756 A JP 2000249756A JP 2002064119 A JP2002064119 A JP 2002064119A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
setting
movable
claw
mounting surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000249756A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4316122B2 (ja
Inventor
Tetsuya Tokunaga
哲也 徳永
Takahiro Yonezawa
隆弘 米澤
Hiroyuki Kiyomura
浩之 清村
Tatsuo Sasaoka
達雄 笹岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000249756A priority Critical patent/JP4316122B2/ja
Publication of JP2002064119A publication Critical patent/JP2002064119A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4316122B2 publication Critical patent/JP4316122B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/1016Shape being a cuboid
    • H01L2924/10162Shape being a cuboid with a square active surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボンディング装置におけるボンディングステ
ージ交換作業の作業性を向上する。 【解決手段】 ICチップ規正装置は、ボンディング装
置のボンディングステージ22上で、ICチップ1の位
置及び姿勢を規正する。ICチップ規正装置は、ボンデ
ィングステージ22のICチップ載置面22a上を摺動
する可動規正爪36を備え、この可動規正爪36の端面
36c,36dでICチップ1の端面を押すことによ
り、ICチップ載置面22a上でのICチップ1の位置
及び姿勢を規正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バンプボンディン
グ装置及びワイヤボンディング装置を含むボンディング
装置において、ボンディングステージのICチップ載置
面上でICチップの位置及び姿勢を規正して位置決めす
るICチップ規正装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ベアチップタイプの半導体集積回路チッ
プ(ICチップ)の基板、部品等の回路形成体への実装
技術として、フリップチップ法とワイヤボンディング法
とが知られている。フリップチップ法は、バンプボンデ
ィング装置によりICチップの電極パッドに金製の凸状
電極(バンプ)を形成し、このバンプと回路形成体上に
形成された配線電極とをリード線を介さずに直接接合す
るものである。ワイヤボンディング法は、ワイヤボンデ
ィング装置によりICチップの電極パッドと回路形成体
の電極とを金、アルミニウム等のワイヤで接続するもの
である。
【0003】上記バンプボンディング装置やワイヤボン
ディング装置は、ボンディングステージのICチップ載
置面上でICチップの位置及び姿勢を規正して位置決め
し、その後、バンプボンディングやワイヤボンディング
を実行する。そのため、これらの装置は、ICチップ載
置面上でICチップの位置及び姿勢を規正するためのI
Cチップ規正装置を備えている。
【0004】図11及び図12は、バンプボンディング
装置が備えるこの種のICチップ規正装置の一例を示し
ている。ICチップ1に対するバンプボンディングが行
われるボンディングステージ2は、ヒータ3により加熱
されるようになっており、ICチップ載置面2aの所定
位置にICチップ1を固定するための吸着機構(図示せ
ず。)を備えている。
【0005】ICチップ規正装置4は、XYテーブル6
と、このXYテーブル6に取付けられた移動台7とを備
えている。また、移動台7には規正アーム8の基端側が
固定されており、この規正アーム8の水平方向に延びる
先端に可動規正爪9が固定されている。この可動規正爪
9は隙間11を隔ててICチップ載置面2aの上方に位
置している。すなわち、可動規正爪9はICチップ載置
面2aに対して非接触となっている。
【0006】上記XYテーブル6が移動すると、それに
伴って可動規正爪9が移動し、可動規正爪9の端面9a
がICチップ1を押す。その結果、ICチップ1は固定
規正ブロック12まで移動し、可動規正爪9と固定規正
ブロック12の間に挟持されて位置及び姿勢が規正され
る。
【0007】ICチップ1の厚みT1は、0.1mm〜
0.7mm、通常0.4mm程度である。また、可動規
正爪9の厚みT2は0.3mm程度である。さらに、上
記隙間11の寸法Gは0.03mm〜0.1mm程度で
ある。
【0008】上記のように位置及び姿勢が規正されたI
Cチップ1は、位置認識カメラ13により位置認識さ
れ、それに基づいて図示しないボンディングヘッドによ
りICチップ1の電極パッド1aに対してバンプボンデ
ィングが行われる。この位置認識カメラ13による位置
認識の精度を高めるには、ICチップ1を厚みT1が異
なる品種に変更した場合でも、ICチップ1の位置認識
カメラ13とICチップ1の上面との距離Lを、位置認
識カメラ13の焦点距離に保持する必要がある。
【0009】そのため、厚みT1が異なるICチップ1
に変更した場合には、ボンディングステージ2を異なる
厚みT3を有するものに交換する必要がある。すなわ
ち、ICチップ1の厚みT1が大きい場合には、厚みT
3が小さいボンディングステージ2を使用し、ICチッ
プ1の厚みT1が小さい場合には、厚みT3が大きいボ
ンディングステージ2を使用する必要がある。また、ボ
ンディングステージ2の交換に伴い、以下の2種類の作
業が必要となる。まず、第1に、可動規正爪9とICチ
ップ載置面2aの隙間11の寸法Gを上記所定値(0.
1〜0.03mm)に調整する隙間調整が必要である。
第2に、上記可動規正爪9とICチップ載置面2aとの
間の平行度を所定範囲に調整する平行度調整が必要であ
る。これらの隙間調整及び平行度調整には、上記移動台
7を垂直方向下向きに変位させるための調整ボルト(押
しボルト14)と、垂直方向上向きに変位させるための
調整ボルト(引きボルト15)を使用する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来のI
Cチップ規正装置では、厚みT1が0.1mm程度の比
較的薄型のICチップ1を使用する場合、以下の問題が
ある。まず、ICチップ1の厚みT1が0.1mm程度
であると、隙間11の寸法Gを0.03mm程度の非常
に小さい値に設定する必要がある。このように隙間11
が非常に狭いと、上記押しボルト14と引きボルト15
による隙間調整が困難となる。また、隙間11が非常に
狭い場合には、可動規正爪9とICチップ載置面2aと
の間に要求される平行度の精度が非常に高くなるため、
平行度調整も困難となる。さらに、ボンディング装置に
供給されるICチップは、その前工程でウェハをダイシ
ングすることにより製作されるが、このダイシングの際
に比較的高い頻度でICチップの端面にバリが発生す
る。そして、上記隙間11が非常に狭い場合にICチッ
プ1の端面にバリがあると、可動規正爪9がバリと干渉
し、ICチップ1を所望の位置及び姿勢に規正すること
が困難となる。
【0011】本発明は、上記従来のボンディング装置が
備えるICチップ規正装置における問題を解決するため
になされたものである。すなわち、本発明は、ICチッ
プの品種変更に伴い、厚みが異なるボンディングステー
ジに交換する場合の調整作業を容易にすることを課題と
している。また、本発明は、可動規正爪とICチップ端
面のバリとの干渉を確実に防止することを課題としてい
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に第1の発明は、ボンディング装置のボンディングステ
ージ上で、ICチップの位置及び姿勢を規正するICチ
ップ規正装置であって、上記ボンディングステージのI
Cチップ載置面上を摺動する可動規正爪を備え、この可
動規正爪の端面でICチップの端面を押すことにより、
上記ICチップ載置面上でのICチップの位置及び姿勢
を規正することを特徴とするICチップ規正装置を提供
するものである。
【0013】本発明に係るICチップ規正装置では、I
Cチップ載置面上を摺動する可動規正爪の端面がICチ
ップの端面を押すことにより、ICチップの位置及び姿
勢を規正するため、ICチップの品種を厚みが異なるも
のへ変更したことに伴い、厚みが異なるボンディングス
テージに交換した場合でも、可動規正爪とICチップ載
置面の間の隙間調整を行う必要がない。
【0014】具体的には、上記ICチップ規正装置は、
上記可動規正爪の上記ICチップ載置面に対して平行な
方向の移動を拘束する一方、上記可動規正爪がICチッ
プ載置面に対して垂直な方向に移動可能となるように可
動規正爪を連結した規正アームと、この規正アームを上
記ICチップ載置面に対して平行な方向に移動させる駆
動機構とを備えている。
【0015】さらに具体的には、上記可動規正爪と規正
アームのいずれか一方にピンを設け、他方にこのピンが
摺動可能に挿通されるガイド孔を設けている。この場
合、可動規正爪はそれ自体の自重によりICチップ載置
面に押圧される。
【0016】また、上記可動規正爪と規正アームのいず
れか一方に凸部を設け、他方にこの凸部が挿入される凹
部を設け、上記凸部の先端と上記凹部の底部に、同一極
が互いに対向するように、それぞれ永久磁石を取付けて
もよい。この場合、永久磁石間に作用する反発力により
可動規正爪がICチップ載置面上に押圧される。
【0017】さらに、上記可動規正爪と規正アームのい
ずれか一方に凸部を設け、他方にこの凸部が挿入される
凹部を設け、上記凸部の先端と上記凹部の底部との間に
弾性手段を縮装してもよい。この場合、弾性手段から作
用する弾性力により可動規正爪がICチップ載置面上に
押圧される。
【0018】さらにまた、上記規正アームに上記チップ
載置面に対して直交方向に延びるガイドレールを設け、
このガイドレール上を移動するスライド部材に球面軸受
の雌側要素を固定し、上記球面軸受の雄側要素に可動規
正爪を固定してもよい。
【0019】上記可動規正爪のICチップと当接する端
面の上記ICチップ載置面側に切欠を設けることが好ま
しい。この場合、ICチップの端面にバリが発生してい
ても、このバリは可動規正爪の切欠に入り込む。そのた
め、可動規正爪がバリと干渉することによるICチップ
の位置ずれ及び姿勢の傾きを防止することができる。上
記切欠のICチップ載置面に対して垂直な方向の寸法
(高さ)は、ICチップの厚みの40%程度であること
が好ましい。切欠の高さがこの程度あれば、バリが確実
に切欠内に入り込むため、可動規正爪とバリの干渉を確
実に防止することができる。
【0020】第2の発明は、上記ICチップ規正装置を
備えるボンディング装置を提供するものである。
【0021】
【発明の実施の形態】次に、図面に示す本発明の実施形
態について詳細に説明する。 (第1実施形態)図1から図3は、本発明の第1実施形
態に係るICチップ規正装置21を備えるバンプボンデ
ィング装置を示している。このバンプボンディング装置
は、バンプボンディングが実行されるボンディングステ
ージ22、バンプボンディング前のICチップ1が蓄積
されるICチップ供給装置23、バンプボンディング済
のICチップ1が蓄積されるICチップ搬出装置24、
及びICチップ1をICチップ供給装置23からボンデ
ィングステージ22を経てICチップ搬出装置24へ搬
送するための搬送装置25を備えている。
【0022】上記ボンディングステージ22は、ヒータ
27により加熱される。また、ボンディングステージ2
2は、その上面(ICチップ載置面22a)の所定位置
(ボンディング位置)に位置決めされたICチップ1を
固定するために、複数の吸込孔(図示せず)と、この吸
込孔によりICチップ1をICチップ載置面22a上に
吸着するための吸引装置(図示せず。)とを備えてい
る。
【0023】上記ボンディングステージ22と対向し
て、公知の構造のボンディングヘッド29が配設されて
いる。このボンディングヘッド29は、ワイヤ供給機構
31、ボンディング作業機構32及び位置認識カメラ3
3を備え、これらはXYテーブル34上に搭載されてい
る。
【0024】上記ワイヤ供給機構31は、金製のボンデ
ィングワイヤを巻回状態で蓄えたリール31aを備え、
ボンディング作業機構32に対して張力を付与しつつボ
ンディングワイヤを供給する。上記ボンディング作業機
構32は、クランパ32aと、その先端にキャピラリを
固定した超音波ホーン32bとを備えている。上記ワイ
ヤ供給機構31から供給されたボンディングワイヤは、
上記キャピラリに挿通される。
【0025】ICチップ1は、搬送装置25の吸着ノズ
ルにより吸着され、上記ICチップ供給装置23上に載
置されたICチップ供給トレー23aから、ボンディン
グステージ22のICチップ載置面22a上に載置され
る。次に、ICチップ1は、ICチップ規正装置21に
より位置及び姿勢が規正されてボンディング位置に位置
決めされ、上記吸引機構の吸引力により固定される。さ
らに、位置認識カメラ33によるICチップ1の位置認
識後に、ICチップ1の電極パッド1a(図3参照)に
対してバンプボンディングが行われる。まず、キャピラ
リ先端から突出するボンディングワイヤの先端が、図示
しない放電トーチとの間に発生するスパーク放電により
溶融し、ボールが形成される。次に、このボールがIC
チップ1の電極パッド1aに押圧される。さらに、図示
しない超音波発生源の発生する超音波振動が超音波ホー
ン32b及びキャピラリを経てボールに印加される。そ
の結果、ボールが電極パッド1aに接合され、バンプが
形成される。ICチップ1が備える複数の電極パッド1
aについて以上の動作が繰り返される。バンプボンディ
ング済みのICチップ1は、再び搬送装置25の吸着ノ
ズルにより吸着され、ICチップ搬出装置24のICチ
ップ回収トレー24aへ搬送される。
【0026】次に、図2及び図3を参照して、本実施形
態のICチップ規正装置21について説明する。このI
Cチップ規正装置21は、可動規正爪36と、固定規正
ブロック37とを備えている。このうち可動規正爪36
は、後述するように規正アーム41により駆動されてボ
ンディングステージ22のICチップ載置面22a上を
摺動する。一方、固定規正ブロック37はボンディング
ステージ22に対して固定されている。
【0027】図3に示すように、上記可動規正爪36は
その先端に一対の角部36a,36bを備えている。各
角部36a,36bは互いに直交する一対の端面36
c,36dにより構成されている。また、可動規正爪3
6の下面36eは平面であり、ボンディングステージ2
2のICチップ載置面22a上に載置されている。ま
た、可動規正爪36の上面36f側には、一対のピン3
8a,38bが突設されている。本実施形態では、これ
らのピン38a,38bの断面形状は半径が一定の円形
である。
【0028】上記可動規正爪36の角部36a,36b
を構成する端面36c,36dには、ICチップ載置面
22a側、すなわち下面36eとの接続部分に、バリと
の干渉を防止するための切欠39が設けられている。こ
の切欠39のICチップ載置面22aに対して垂直方向
の寸法(高さ)は、ICチップ1の厚みT1の40%程
度である。
【0029】規正アーム41は、基部41a、垂直方向
に延びる中間部41b、及び水平方向に延びる先端部4
1cを備えている。
【0030】規正アーム41の先端部41cには、断面
円形の一対のガイド孔41e,41fが厚み方向に貫通
するように設けられている。このガイド孔41e,41
fには、上記可動規正爪36のピン38a,38bがそ
れぞれ挿通されている。ガイド孔41e,41fの孔径
は、ピン38a,38bの外径よりも僅かに大きく設定
されている。そのため、ピン38a,38bは、ガイド
孔41e,41fにより水平方向の移動が拘束される
が、ガイド孔41e,41f内を垂直方向に摺動可能で
ある。すなわち、可動規正爪36は、ICチップ載置面
22aに対して平行な方向の移動は拘束されるが、IC
チップ載置面22aに対して垂直な方向に移動可能とな
るように規正アーム41に対して連結されている。ま
た、可動規正爪36は、それ自体の自重により下面36
eがICチップ載置面22aに対して押圧されている。
【0031】上記規正アーム41の基端部41aは、移
動台43に対してボルトにより固定されている。また、
移動台43は、XYテーブル42に対して取付けられて
いる。さらに、移動台43をXYテーブル42に対して
垂直方向(Z方向)下向きに変位させるための押しボル
ト44と、垂直方向上向きに変位させるための引きボル
ト45とが設けられている。
【0032】上記固定規正ブロック37は、可動規正爪
36と同様に、一対の端面37b,37cにより構成さ
れた角部37aを備えている。
【0033】次に、ICチップ規正装置21の動作を説
明する。まず、ICチップ供給装置23からボンディン
グステージ22のICチップ載置面22a上にICチッ
プ1が供給されると、XYテーブル42がX方向及びY
方向に移動し、それに伴って規正アーム41が移動す
る。上記のように可動規正爪36は規正アーム41に対
してICチップ載置面22aに対して平行な方向の移動
が拘束されるように連結されているため、規正アーム4
1がX方向及びY方向に移動すると、それに伴って可動
規正爪36がICチップ載置面22a上を下面36eが
接触した状態で移動する。この可動規正爪36の端面3
6c,36dによりICチップ1の端面が押され、IC
チップ1がICチップ載置面22a上を移動する。図3
において二点鎖線で示すように、ICチップ1は、固定
規正ブロック37の角部37aの端面37b,37c
と、可動規正爪36の角部36aの端面36c,36d
との間に挟持されることにより位置及び姿勢が規正さ
れ、ボンディング位置に位置決めされる。
【0034】上記ICチップ供給装置23に蓄積されて
いるICチップ1には、前工程のダイシングの際に端面
にバリが発生している場合がある。しかし、図4に拡大
して示すように、ICチップ1の端面のバリ1bは、上
記可動規正爪36の切欠39内に入り込む。そのため、
可動規正爪36がバリ1bと干渉することによるICチ
ップ1の位置ずれ及び姿勢の傾きを防止することがで
き、ICチップ1をボンディング位置に高精度で位置決
めすることができる。特に、本実施形態では、上記切欠
39の高さをICチップ1の厚みT1の40%程度に設
定しているため、バリ1bは確実に切欠39内に入り込
み、可動規正爪36との干渉が防止される。
【0035】ICチップ1を厚みT1が異なる品種に変
更した場合には、位置認識カメラ33とICチップ1の
距離Lを位置認識カメラ33の焦点距離に保持するため
に、厚みT3が異なるボンディングステージ22に交換
する必要がある。上記のように可動規正爪36は規正ア
ーム41に対してピン38a,38bをガイド孔41
e,41fに摺動可能に挿通することにより連結されて
いるので、ボンディングステージ22を厚みT3が異な
るものに交換すると、可動規正爪36は自重によりボン
ディングステージ22のICチップ載置面22aに押圧
される。従って、ボンディングステージ22の交換時
に、隙間調整を行う必要がなく、ボンディングステージ
22の交換作業が非常に容易になる。
【0036】可動規正爪36のICチップ載置面22a
に対する平行度調整は、押しボルト44及び引きボルト
45により行うことができる。
【0037】なお、上記可動規正爪36のピン38a,
38b及び規正アーム41のガイド孔41e,41fの
断面形状は円形に限定されない。すなわち、これらの断
面形状は、可動規正爪36のICチップ載置面22aに
対して平行な方向の移動を拘束する一方、可動規正爪3
6がICチップ載置面22aに対して垂直な方向に移動
可能となるように可動規正爪36を規正アーム41に連
結できればよい。具体的には、これらの断面形状として
は楕円形、多角形等がある。また、これらのピン及びガ
イド孔の数は、可動規正爪36がICチップ載置面22
aに対して平行な面内で回転するのを防止できればよ
い。具体的には、これらのピン及びガイド孔は2個以上
あればよい。さらに、ガイド孔は貫通孔である必要はな
く、ある程度の深さがあれば有底の孔であってもよい。
さらにまた、規正アーム41側に2個以上のピンを設
け、可動規正爪36にこれらのピンが挿通されるガイド
孔を設けてもよい。
【0038】(第2実施形態)図5及び図6は、本発明
の第2実施形態のICチップ規正装置21を示してい
る。この第2実施形態では、可動規正爪36の上面36
fには、断面正方形の凸部47が設けられている。ま
た、規正アーム41には、この凸部47が挿入される断
面正方形の凹部48が設けられている。凸部47及び凹
部48の断面の寸法は、凹部48が凸部47よりも僅か
に大きくなるように設定されている。そのため、凸部4
7は、水平方向の移動は凹部48の周壁により拘束され
るが、凹部48内を垂直方向に摺動可能である。すなわ
ち、可動規正爪36はICチップ載置面22aに対して
平行な方向の移動は拘束されるが、ICチップ載置面2
2aに対して垂直な方向に移動可能となるように、規正
アーム41に対して連結されている。
【0039】また、上記凸部47の先端と上記凹部48
の底部には、同一極が互いに対向するように、それぞれ
永久磁石49a,49bが取付けられている。可動規正
爪36は、これらの永久磁石49a,49b間に作用す
る反発力により、ICチップ載置面22aに押圧されて
いる。
【0040】さらに、上記可動規正爪36の角部36
a,36bを構成する端面36c,36dには、ICチ
ップ載置面22a側に、バリとの干渉を防止するために
高さがICチップ1の厚みT1の40%程度の切欠39
が設けられている。
【0041】第1実施形態と同様に、XYテーブル42
により規正アーム41がX方向及びY方向を移動する
と、それに伴って可動規正爪36はICチップ載置面2
2a上を下面36eが接触した状態で移動する。この可
動規正爪36の端面36c,36dによりICチップ1
の端面が押され、ICチップ1がICチップ載置面22
a上を移動する。最終的には、図6において二点鎖線で
示すように、ICチップ1は、固定規正ブロック37の
角部37aの端面37b,37cと、可動規正爪36の
角部36aの端面36c,36dとの間に挟持されるこ
とにより位置及び姿勢が規正され、ボンディング位置に
位置決めされる。
【0042】ICチップ1にバリ1b(図4参照)が発
生していても、このバリ1bは可動規正爪36の切欠3
9内に入り込む。よって、可動規正爪36とバリ1bが
干渉することによるICチップ1の位置ずれ及び姿勢の
傾きを防止することができる。
【0043】上記のように可動規正爪36は凸部47を
凹部48に摺動可能に挿入することにより規正アーム4
1に連結されているので、厚みT1が異なる品種のIC
チップ1に対応するためにボンディングステージ22を
厚みT3が異なるものに交換すると、可動規正爪36は
永久磁石49a,49b間に作用する反発力により、ボ
ンディングステージ22のICチップ載置面22aに押
圧される。従って、ボンディングステージ22の交換時
に、可動規正爪36とICチップ載置面22aの隙間調
整を行う必要がなく、ボンディングステージ22の交換
作業が非常に容易になるなお、可動規正爪36のICチ
ップ載置面22aに対する平行度調整は、押しボルト4
4及び引きボルト45により行うことができる。
【0044】可動規正爪36の凸部47及び規正アーム
41の凹部48の断面形状は正方形に限定されず、可動
規正爪36のICチップ載置面22aに対して平行な方
向の移動を拘束する一方、ICチップ載置面22aに対
して垂直な方向に移動可能であれば、楕円形等であって
もよい。なお、凸部47及び凹部の断面形状を円形とす
る場合には、可動規正爪36がICチップ載置面22a
に対して平行な面内で回転するのを防止するために、2
組以上の凸部及び凹部を設け、それらのうちの少なくも
と1組に永久磁石を取付ければよい。さらに、規正アー
ム41側に凸部を設け、可動規正爪36にこの凸部が挿
入される凹部を設けてもよい。第2実施形態のその他の
構成及び作用は第1実施形態と同様であるので、同一の
要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【0045】(第3実施形態)図7及び図8は、本発明
の第3実施形態のICチップ規正装置21を示してい
る。この第3実施形態のICチップ規正装置21では、
可動規正爪36の凸部47の先端と、規正アーム41の
凹部48の底部との間につる巻ばね51を収容してい
る。このつる巻ばねは自然長から圧縮された状態で配置
されている。そのため、このつる巻きばね51から可動
規正爪36に対して、下面36eをボンディングステー
ジ22のICチップ載置面22aに押圧する弾性力が作
用している。なお、ゴム部材等の他の弾性部材を、可動
規正爪36の凸部47と規正アーム41の凹部48との
間に縮装してもよい。第3実施形態のその他の構成及び
作用は第2実施形態と同様であるので、同一の要素には
同一の符号を付して説明を省略する。
【0046】(第4実施形態)図9及び図10は、本発
明の第4実施形態のICチップ規正装置21を示してい
る。本実施形態のICチップ規正装置21では、規正ア
ーム41の先端部41cに垂直方向、すなわちICチッ
プ載置面22aに対して直交方向に延びるガイドレール
41gが設けられており、このガイドレール41g上を
スライド部材52が移動するようになっている。また、
規正アーム41の基端部41aはXYテーブルに対して
直接固定されており、移動台43、押しボルト44及び
引きボルト45(図2参照)は設けられていない。可動
規正爪36は周知の機械要素である球面軸受54を介し
てこのスライド部材52に連結されている。すなわち、
この球面軸受54の雌側要素54aがスライド部材52
に固定され、雄側要素54bが可動規正爪36に固定さ
れている。雄側要素54bと対向する雌側要素54aの
内周面は多孔質で構成されており、エアチューブ55を
介して減圧装置56が接続されている。この減圧装置5
6により雌側要素54aの内部を減圧すると、雄側要素
54bが雌側要素54aに真空吸着され、両者は一体に
固定される。
【0047】第1実施形態から第3実施形態と同様に、
可動規正爪36の角部36a,36bを構成する端面3
6c,36dのICチップ載置面22a側には、バリと
の干渉を防止するために、高さがICチップ1の厚みT
1の40%程度である切欠39が設けられている。
【0048】ICチップ1の位置及び姿勢を位置決めす
る際には、上記減圧装置56により雄側要素54bと雌
側要素54aを一体に固定させる。この状態では、スラ
イド部材52がガイドレール41g上を移動することに
より、可動規正爪36はICチップ載置面22aに対し
て垂直な方向に移動可能である。また、可動規正爪36
は、スライド部材52、球面軸受54及び可動規正爪3
6自体の重量により、ICチップ載置面22aに押圧さ
れている。一方、スライド部材52はガイドレール41
g上のみを移動するので、可動規正爪36のICチップ
載置面22aに対して平行な方向の移動は拘束される。
よって、XYテーブル42により規正アーム41がX方
向及びY方向を移動すると、それに伴って可動規正爪3
6はICチップ載置面22a上を下面36eが接触した
状態で移動する。ICチップ1は、固定規正ブロック3
7の角部37aの端面37b,37cと、可動規正爪3
6の角部36aの端面36c,36dとの間に挟持され
ることにより位置及び姿勢が規正され、ボンディング位
置に位置決めされる。ICチップ1の端面のバリは切欠
39内に入り込むため、可動規正爪36にバリが干渉す
ることによる位置ずれ及び姿勢の傾きを防止することが
できる。
【0049】厚みT1が異なる品種のICチップ1に対
応するためにボンディングステージ22を交換する際に
は、球面軸受54の雌側要素54aと雄側要素54bを
一定に固定したままで行う。厚みT3が異なるボンディ
ングステージ22に交換しても、可動規正爪36は、ス
ライド部材52、球面軸受54及び可動規正爪36自体
の自重により、ICチップ載置面22aにより押圧さ
れ、可動規正爪36の下面36eはICチップ載置面2
2aに当接する。よって、本実施形態の場合もボンディ
ングステージ22の交換時の隙間調整を行う必要がな
い。
【0050】本実施形態では、球面軸受54によりボン
ディングステージ22の交換時の平行度調整を行うこと
ができる。まず、ボンディングステージ22を交換した
後、上記減圧装置56による減圧を停止し、雌側要素5
4aと雄側要素54bの固定状態を解除する。これによ
り、可動規正爪36は、雄側要素54b及び可動規正爪
36の自重により、ICチップ載置面22aに押圧さ
れ、可動規正爪36の下面36e全体がICチップ載置
面22aに当接した状態となる。その後、減圧装置56
により球面軸受54の雌側要素54a内を減圧し、雌側
要素54aと雄側要素54bを一体に固定する。
【0051】本実施形態では、上記のようにボンディン
グステージ22の交換時に隙間調整が不要であると共
に、平行度調整も減圧装置56による減圧の有無を切換
えるだけで行うことができるため、ボンディングステー
ジ22の交換作業の作業性が一層向上する。第4実施形
態のその他の構成及び作用は第1実施形態と同様である
ので、同一の要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。
【0052】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
でなく種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態
はバンプボンディング装置の場合を例に説明したが、本
発明はワイヤボンディング装置の場合にも適用すること
ができる。
【0053】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係るICチップ規正装置では、ICチップ載置面上を
摺動する可動規正爪の端面がICチップの端面を押すこ
とにより、ICチップ載置面上でのICチップの位置及
び姿勢を規正するため、ICチップの品種を厚みが異な
るものへの変更したことに伴い、厚みが異なるボンディ
ングステージに交換した場合でも、可動規正爪とICチ
ップ載置面の間の隙間調整を行う必要がない。よって、
本発明のICチップ規正装置により、ボンディングステ
ージの交換作業が容易になる。
【0054】また、可動規正爪のICチップと当接する
端面に切欠を設けた場合には、ICチップの端面のバリ
がこの切欠に入り込むため、可動規正爪とバリが干渉す
ることによるICチップの位置ずれ及び姿勢の傾きを防
止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態に係るICチップ規正
装置を備えるバンプボンディング装置を示す斜視図であ
る。
【図2】 本発明の第1実施形態に係るICチップ規正
装置を示す側面図である。
【図3】 本発明の第1実施形態に係るICチップ規正
装置を示す平面図である。
【図4】 図2の部分IIIの部分拡大図である。
【図5】 本発明の第2実施形態に係るICチップ規正
装置を示す側面図である。
【図6】 図5のVI−VI線の断面図である。
【図7】 本発明の第3実施形態に係るICチップ規正
装置を示す側面図である。
【図8】 図7のVIII−VIII線の断面図である。
【図9】 本発明の第4実施形態に係るICチップ規正
装置を示す側面図である。
【図10】 本発明の第4実施形態に係るICチップ規
正装置を示す平面図である。
【図11】 従来のICチップ規正装置を示す側面図で
ある。
【図12】 従来のICチップ規正装置を示す平面図で
ある。
【符号の説明】
1 ICチップ 1a 電極パッド 1b バリ 21 ICチップ規正装置 22 ボンディングステージ 22a ICチップ載置面 23 ICチップ供給装置 24 ICチップ搬出装置 25 搬送装置 27 ヒータ 29 ボンディングヘッド 33 位置認識カメラ 34 XYテーブル 36 可動規正爪 36a,36b 角部 36c,36d 端面 36e 下面 36f 上面 37 固定規正ブロック 37a 角部 37b,37c 端面 38a,38b ピン 39 切欠 41 規正アーム 41a 基部 41b 中間部 41c 先端部 41e,41f ガイド孔 41g ガイドレール 42 XYテーブル 43 移動台 44 押しボルト 45 引きボルト 47 凸部 48 凹部 49a,49b 永久磁石 51 つる巻ばね 52 スライド部材 54 球面軸受 54a 雌側要素 54b 雄側要素 55 エアチューブ 56 減圧装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清村 浩之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 笹岡 達雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F044 BB11 DD03 DD08

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ボンディング装置のボンディングステー
    ジ上で、ICチップの位置及び姿勢を規正するICチッ
    プ規正装置であって、 上記ボンディングステージのICチップ載置面上を摺動
    する可動規正爪を備え、この可動規正爪の端面でICチ
    ップの端面を押すことにより、上記ICチップ載置面上
    でのICチップの位置及び姿勢を規正することを特徴と
    するICチップ規正装置。
  2. 【請求項2】 上記可動規正爪の上記ICチップ載置面
    に対して平行な方向の移動を拘束する一方、上記可動規
    正爪がICチップ載置面に対して垂直な方向に移動可能
    となるように可動規正爪を連結した規正アームと、 この規正アームを上記ICチップ載置面に対して平行な
    方向に移動させる駆動機構とを備える請求項1に記載の
    ICチップ規正装置。
  3. 【請求項3】 上記可動規正爪と規正アームのいずれか
    一方にピンを設け、他方にこのピンが摺動可能に挿通さ
    れるガイド孔を設けたことを特徴とする請求項2に記載
    のICチップ規正装置。
  4. 【請求項4】 上記可動規正爪と規正アームのいずれか
    一方に凸部を設け、他方にこの凸部が挿入される凹部を
    設け、 上記凸部の先端と上記凹部の底部に、同一極が互いに対
    向するように、それぞれ永久磁石を取付けたことを特徴
    とする請求項2に記載のICチップ規正装置。
  5. 【請求項5】 上記可動規正爪と規正アームのいずれか
    一方に凸部を設け、他方にこの凸部が挿入される凹部を
    設け、 上記凸部の先端と上記凹部の底部との間に弾性手段を縮
    装したことを特徴とする請求項2に記載のICチップ規
    正装置。
  6. 【請求項6】上記規正アームに上記チップ載置面に対し
    て直交方向に延びるガイドレールを設け、このガイドレ
    ール上を移動するスライド部材に球面軸受の雌側要素を
    固定し、上記球面軸受の雄側要素に可動規正爪を固定し
    ていることを特徴とする請求項2に記載のICチップ規
    正装置。
  7. 【請求項7】 上記可動規正爪のICチップと当接する
    端面の上記ICチップ載置面側に切欠を設けていること
    を特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記
    載のICチップ規正装置。
  8. 【請求項8】 請求項1から請求項7のいずれか1項に
    記載のICチップ規正装置を備えるボンディング装置。
JP2000249756A 2000-08-21 2000-08-21 Icチップ規正装置 Expired - Fee Related JP4316122B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249756A JP4316122B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 Icチップ規正装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249756A JP4316122B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 Icチップ規正装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002064119A true JP2002064119A (ja) 2002-02-28
JP4316122B2 JP4316122B2 (ja) 2009-08-19

Family

ID=18739449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000249756A Expired - Fee Related JP4316122B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 Icチップ規正装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4316122B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109719451A (zh) * 2019-03-08 2019-05-07 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种规整装置
CN113858315A (zh) * 2021-09-15 2021-12-31 苏州瀚川智能科技股份有限公司 电枢组装专机
CN116137248A (zh) * 2023-04-14 2023-05-19 深圳新控半导体技术有限公司 一种自纠正半导体芯片排片机及其控制方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109719451A (zh) * 2019-03-08 2019-05-07 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种规整装置
CN109719451B (zh) * 2019-03-08 2023-09-19 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种规整装置
CN113858315A (zh) * 2021-09-15 2021-12-31 苏州瀚川智能科技股份有限公司 电枢组装专机
CN116137248A (zh) * 2023-04-14 2023-05-19 深圳新控半导体技术有限公司 一种自纠正半导体芯片排片机及其控制方法
CN116137248B (zh) * 2023-04-14 2023-09-12 深圳新控半导体技术有限公司 一种自纠正半导体芯片排片机及其控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4316122B2 (ja) 2009-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8142611B2 (en) Semiconductor-chip exfoliating device and semiconductor-device manufacturing method
TW201209967A (en) Electronic packaging apparatus and electronic packaging method
KR102330577B1 (ko) 전자 부품의 픽업 장치 및 실장 장치
US6354480B2 (en) Apparatus for positioning a thin plate
CN1983549B (zh) 用于布置器件进行处理的装置和方法
JP2004144499A (ja) 試験方法および試験装置
JP2008010869A (ja) 半導体チップフリップアセンブリー及びこれを利用した半導体チップボンディング装置
JP2002064119A (ja) Icチップ規正装置
US6457627B1 (en) Bonding capillary and semiconductor device
TW202040739A (zh) 搬送裝置
JPH104095A (ja) バンプボンディング装置及び方法
KR101165034B1 (ko) 픽업 헤드 및 이를 구비한 플립칩 본더
JP2010105021A (ja) 円柱形状はんだ片
JP4050741B2 (ja) バンプボンダー
JP3673051B2 (ja) バンプ形成方法及びバンプボンダー
JPH08203962A (ja) チップ位置決め装置、チップステージおよびインナリードボンディング装置ならびに方法
JP2000323522A (ja) 上下動装置
JP4166228B2 (ja) レベリング後のバンプの検査方法と装置
JP2004047927A (ja) 電子部品実装装置
TWI732284B (zh) 傳送發光二極體晶片之傳送裝置及傳送方法
US20210288004A1 (en) High precision bonding apparatus comprising heater
JP4164144B2 (ja) 微動ステージ装置における圧電素子の予圧力付与方法並びに微動ステージ装置
JPH11121506A (ja) バンプボンダー
JP4128321B2 (ja) バンプボンディング装置
JPH04350950A (ja) チップの位置決め装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070426

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070906

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081209

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090310

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090331

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090421

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090520

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120529

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees