JP2002059057A - Apparatus for applying treatment liquid - Google Patents

Apparatus for applying treatment liquid

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JP2002059057A
JP2002059057A JP2000248721A JP2000248721A JP2002059057A JP 2002059057 A JP2002059057 A JP 2002059057A JP 2000248721 A JP2000248721 A JP 2000248721A JP 2000248721 A JP2000248721 A JP 2000248721A JP 2002059057 A JP2002059057 A JP 2002059057A
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processing liquid
substrate
processed
liquid
discharge
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JP2000248721A
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Japanese (ja)
Inventor
Takayuki Masuishi
隆之 桝石
Mitsuhiro Onda
光弘 恩田
Fumiyuki Yoshida
史志 吉田
Takeshi Ikeda
武司 池田
Takashi Ishigami
敬志 石神
Hitoshi Tatara
均 多々良
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SPC Electronics Corp
Toppan Inc
Original Assignee
SPC Electronics Corp
Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for applying treatment liquid which applies the liquid uniformly and instantly on a substrate by preventing the generation of development nonuniformity by the scattering of the liquid widely from a desired application area and the breakage of the development place of the substrate by impact applied to the substrate during the application of the liquid. SOLUTION: The apparatus 10 has a treatment liquid storage part 30 for storing the liquid (d) supplied by a treatment liquid supply part 20 and a discharge part 40 which is formed in the approximately longitudinal direction of the apparatus in a size exceeding the whole substrate across the advance direction of the substrate and discharges the liquid (d) stored in the storage part 30. The apparatus 10 is arranged above a substrate conveying apparatus (not shown in Fig.) such as a belt conveyer onto which the substrates are supplied in turn and applies the liquid uniformly and instantly on the substrate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の透
明電極板等の電極パターンをフォトリソグラフ法でパタ
ーン形成する際のパターン現像工程、パターンエッチン
グ工程において、被処理基板に現像液又はエッチング液
などの処理液を塗布する処理液塗布装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a developing or etching solution for a substrate to be processed in a pattern developing step and a pattern etching step when a pattern of an electrode such as a transparent electrode plate of a liquid crystal display device is formed by photolithography. The present invention relates to a processing liquid application device that applies a processing liquid such as a liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】透明電極板の電極パターンをフォトリソ
グラフ法で製造する際には、透明ガラス基板全面に、I
TO膜など透明電極膜を施し、その上からフォトレジス
トを塗布して電極パターン露光した後、パターン露光し
た前記ガラス基板にスプレー方式にて現像液を塗布し
て、未硬化部分(若しくは光分解部分)を該現像液にて
溶解除去し、後に水洗、乾燥処理することによってガラ
ス基板にパターン状のITO膜による透明電極パターン
を形成している。
2. Description of the Related Art When an electrode pattern of a transparent electrode plate is manufactured by a photolithographic method, I
A transparent electrode film such as a TO film is applied, a photoresist is applied thereon, and the electrode pattern is exposed. Then, a developing solution is applied to the pattern-exposed glass substrate by a spray method to form an uncured portion (or a photo-decomposed portion). Is dissolved and removed with the developing solution, followed by washing and drying to form a transparent electrode pattern of a patterned ITO film on the glass substrate.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】図4に示すような従来
のスプレー方式の現像液塗布装置1は、搬送装置CD上
を一定速度で矢印Aに示す如く搬送されている被処理基
板2表面にシャワーノズル3より現像液dを噴出させて
塗布する。この際に、塗布した現像液dの一部が所望の
塗布位置以外の部分に飛び散り、飛び散った現像液d
は、被処理基板2の所望の塗布位置以外の部分に付着し
てしまう可能性を有している。このようにして処理液が
付着した部分が先に現像されて、結果として現像むらと
なり、得られた製品が不良品となってしまう可能性を有
している。
A conventional spray type developer application apparatus 1 as shown in FIG. 4 is applied to a surface of a substrate 2 to be processed which is transported at a constant speed on a transport apparatus CD as shown by an arrow A. The developer d is sprayed from the shower nozzle 3 to apply the solution. At this time, a part of the applied developer d scatters to a portion other than the desired application position, and the scattered developer d
Has a possibility of adhering to portions other than the desired application position on the substrate 2 to be processed. In this way, the portion to which the processing liquid is adhered is developed first, resulting in uneven development, and the obtained product may be defective.

【0004】また従来のスプレー方式の現像液塗布装置
1では、現像液dが、シャワーノズル3から噴出される
ため、現像液dが被処理基板2に衝突する衝撃は強い。
このため、現像液dは、被処理基板2の現像箇所を衝撃
により破壊してしまう可能性を有しており、上記処理に
より得られた製品が不良品となってしまう可能性を有し
ている。
In the conventional spray type developer application apparatus 1, since the developer d is ejected from the shower nozzle 3, the impact of the developer d colliding with the substrate 2 to be processed is strong.
For this reason, the developing solution d has a possibility of destroying a development site of the substrate 2 to be processed by impact, and a product obtained by the above-described processing may be defective. I have.

【0005】本発明は上記事情の下でなされ、本発明の
目的は、所望の塗布領域から処理液が広範囲に飛び散っ
て現像むらが生じることと、処理液の塗布時の被処理基
板への衝撃により被処理基板の現像箇所が破壊されるこ
とを防ぎ、被処理基板に均一に瞬時に処理液を塗布する
処理液塗布装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made under the above circumstances. It is an object of the present invention to provide a method in which a processing liquid scatters over a wide area from a desired coating area to cause uneven development, and an impact on a substrate to be processed when the processing liquid is coated. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a processing liquid applying apparatus for preventing a developing portion of a processing target substrate from being destroyed and applying a processing liquid uniformly and instantaneously to a processing target substrate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決し、目的
を達成するために、本発明の処理液塗布装置は、下記の
如く構成されている。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, a processing liquid coating apparatus of the present invention is configured as follows.

【0007】被処理基板上に処理液を塗布する処理液塗
布装置において、供給された処理液を貯蔵する処理液貯
蔵部と、該被処理基板の進行方向を横切る方向全体に渡
って設けられ、該処理液貯蔵部に蓄えられた該処理液を
該被処理基板上に吐出する吐出部と、を有しており、該
処理液貯蔵部の許容貯蔵量を超えて供給された該処理液
を該吐出部から吐出することで、該被処理基板上に該処
理液を塗布することを特徴としている。
In a processing liquid coating apparatus for coating a processing liquid on a substrate to be processed, a processing liquid storage unit for storing the supplied processing liquid, and a processing liquid storage unit provided over the entire direction crossing the traveling direction of the substrate to be processed are provided. A discharge unit that discharges the processing liquid stored in the processing liquid storage unit onto the substrate to be processed, and the processing liquid supplied in excess of the allowable storage amount of the processing liquid storage unit. The process liquid is applied onto the substrate to be processed by discharging from the discharge unit.

【0008】上記構成により、この処理液塗布装置は、
処理液を、吐出部から吐出させ、被処理基板に向けて重
力を利用して落下させるため、余分な力を処理液に付加
することなく重力方向に向けて塗布され、所望の塗布領
域から処理液が広範囲に飛び散って現像むらが生じるこ
とと、処理液の塗布時の被処理基板への衝撃により被処
理基板の現像箇所が破壊されることを防ぎ、そして、吐
出部が被処理基板の進行方向を横切る方向全体に渡って
設けられているため、被処理基板に均一に処理液を瞬時
に塗布する処理液塗布装置を提供する。
[0008] With the above configuration, this treatment liquid coating apparatus is
Since the processing liquid is discharged from the discharge unit and dropped toward the substrate to be processed by using gravity, the processing liquid is applied in the direction of gravity without applying extra force to the processing liquid, and the processing is performed from a desired coating area. This prevents the liquid from scattering over a wide area, resulting in uneven development, and the impact of the processing liquid on the substrate during the application of the processing liquid to prevent the development portion of the substrate from being destroyed. The present invention provides a processing liquid coating apparatus that uniformly and instantaneously applies a processing liquid to a substrate to be processed because the processing liquid is provided in the entire direction crossing the direction.

【0009】また、前記吐出部は、開口面積を調節可能
に設けられていることも可能である。上記構成により、
この処理液塗布装置は、被処理基板に塗布する処理液の
量を自由に選定し得る。
Further, the discharge section may be provided so that the opening area can be adjusted. With the above configuration,
This processing liquid application apparatus can freely select the amount of the processing liquid applied to the substrate to be processed.

【0010】また、前記吐出前貯蔵部には、前記処理液
貯蔵部と面した仕切り壁を有しており、前記仕切り壁に
は、前記仕切り壁の全体に渡って均一な量の処理液を前
記処理液貯蔵部から前記吐出部へと導く処理液均一導入
手段が、設けられていることも可能である。上記の構成
により、この処理液塗布装置は、吐出部全体に渡って均
一に処理液を供給され、被処理基板に対して処理液の安
定した塗布を可能にするまた、記吐出部は、前記吐出口
が前記吐出部全体に渡って均一な量の処理液を前記被処
理基板に向かって吐出させる処理液均一吐出手段が設け
られていることも可能である。上記構成により、前記吐
出部から、処理液が前記被処理基板側の開口の一部のみ
に集中して吐出することを防ぎ、処理液を前記被処理基
板へ均等に塗布することが可能である。
The pre-discharge storage section has a partition wall facing the processing liquid storage section, and the partition wall is provided with a uniform amount of the processing liquid over the entire partition wall. It is also possible to provide a processing liquid uniform introduction means for guiding the processing liquid from the processing liquid storage section to the discharge section. With the above configuration, the processing liquid application apparatus is supplied with the processing liquid uniformly over the entire discharge unit, and enables stable application of the processing liquid to the substrate to be processed. It is also possible to provide a processing liquid uniform discharge unit that discharges a uniform amount of the processing liquid toward the substrate to be processed over the entire discharge section. With the above configuration, it is possible to prevent the processing liquid from being intensively discharged to only a part of the opening on the processing target substrate side from the discharging unit, and to uniformly apply the processing liquid to the processing target substrate. .

【0011】また、前記吐出部は、前記吐出口から水平
面に対して所定の斜度を有するように前記被処理基板に
向かい延出して設けられ、処理液誘導斜面を有している
ことも可能である。
The discharge portion may be provided so as to extend from the discharge port toward the substrate to be processed so as to have a predetermined slope with respect to a horizontal plane, and may have a processing liquid guiding slope. It is.

【0012】上記構成により、処理液を前記被処理基板
へよりやさしく均等に塗布することが可能である。
With the above configuration, it is possible to more easily and uniformly apply the processing liquid to the substrate to be processed.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、添付の図面中の図1乃至3
を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
以下に、本発明の1つの実施の形態に従った処理液塗布
装置10について図1乃至図3を用いて説明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 to FIG.
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
Hereinafter, a processing liquid coating apparatus 10 according to one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0014】(構成)本実施の形態の処理液塗布装置1
0は、処理液dを処理液塗布装置10に供給する処理液
供給部20と、処理液供給部20により供給された処理
液dを貯蔵する処理液貯蔵部30と、被処理基板Sの進
行方向(図2中の矢印Bで示す)を直交する方向(幅方
向)において被処理基板Sの全体を越える寸法で処理液
塗布装置の略長手方向全体に渡って設けられ、処理液貯
蔵部30に蓄えられた処理液dを被処理基板S上に吐出
する吐出部40とを有している。処理液塗布装置10
は、被処理基板Sが順次送られてくる例えばベルトコン
ベヤーなどの被処理基板搬送装置(図示せず)の上方に
配置されており、被処理基板Sの被処理面から所定の間
隔(高さ)を有している。
(Structure) Processing liquid coating apparatus 1 of the present embodiment
0 is a processing liquid supply unit 20 for supplying the processing liquid d to the processing liquid coating apparatus 10, a processing liquid storage unit 30 for storing the processing liquid d supplied by the processing liquid supply unit 20, In a direction (width direction) orthogonal to the direction (indicated by the arrow B in FIG. 2), the processing liquid storage unit 30 is provided over a substantially entire longitudinal direction of the processing liquid coating apparatus with a dimension exceeding the entire processing target substrate S. And a discharge section 40 for discharging the processing liquid d stored in the substrate onto the substrate S to be processed. Treatment liquid coating device 10
Is disposed above a substrate transfer device (not shown) such as a belt conveyor to which the substrates S are sequentially sent, and is disposed at a predetermined distance (height) from the surface of the substrate S to be processed. )have.

【0015】処理液供給部20は、処理液塗布装置10
の上部に配置されており、一端には、処理液dが貯めら
れている処理液供給源(図示せず)につながっている供
給口21が設けられており、他端には、処理液供給源か
ら供給された処理液dを処理液貯蔵部30に提供する提
供口22が設けられている。処理液供給部20は、例え
ば弁のような公知の流量制御手段23を有しており、流
量制御手段23により、前記処理液供給源から処理液供
給部20に所望の量の処理液dが供給されるように制御
される。なお、本実施の形態において、処理液供給部2
0は、処理液塗布装置10の上部に配置されているが、
処理液貯蔵部30に所望の量の処理液を供給し得るなら
ば、処理液塗布装置10の側部又は下部に設けられてい
てもよく、配置において限定されることはなく、また、
供給口21、及び提供口22の配置及び個数においても
限定されることはない。
The processing liquid supply unit 20 includes a processing liquid coating device 10
A supply port 21 connected to a processing liquid supply source (not shown) storing a processing liquid d is provided at one end, and a processing liquid supply source is provided at the other end. A supply port 22 for providing the processing liquid d supplied from the source to the processing liquid storage unit 30 is provided. The processing liquid supply unit 20 includes a known flow rate control unit 23 such as a valve, and the flow control unit 23 supplies a desired amount of the processing liquid d from the processing liquid supply source to the processing liquid supply unit 20. Controlled to be supplied. In the present embodiment, the processing liquid supply unit 2
0 is disposed at the upper part of the processing liquid coating device 10,
As long as a desired amount of the processing liquid can be supplied to the processing liquid storage unit 30, the processing liquid may be provided on the side or the lower part of the processing liquid coating device 10, and the arrangement is not limited.
The arrangement and number of the supply ports 21 and the provision ports 22 are not limited.

【0016】処理液貯蔵部30は、処理液塗布装置10
の側壁11(図2において左側の側壁)、両端の壁1
3,及び底部12と、仕切り壁31とにより形成され、
所定の量の処理液dを貯蔵し得るように形成されてい
る。仕切り壁31の上部には、全体に渡って、例えば図
1中に示されているような三角形の連続的な等間隔の凹
凸が形成されており、この実施の形態において、この連
続的な凹凸は、仕切り壁31の長手方向全体に渡り、前
記処理液貯蔵部30から前記吐出部40へと均一な量の
処理液dを導くための処理液均一導入手段32を構成し
ている。この処理液均一導入手段32は、処理液dを等
間隔の凹部から吐出部40に流入されることにより、吐
出部40への供給むらを無くすことが可能である。
The processing liquid storage unit 30 includes the processing liquid coating device 10.
Side wall 11 (left side wall in FIG. 2), both end walls 1
3, formed by the bottom 12 and the partition wall 31,
It is formed so that a predetermined amount of the processing liquid d can be stored. In the upper part of the partition wall 31, for example, triangular continuous and regularly spaced irregularities as shown in FIG. 1 are formed, and in this embodiment, the continuous irregularities are formed. Constitutes a processing liquid uniform introduction means 32 for guiding a uniform amount of the processing liquid d from the processing liquid storage section 30 to the discharge section 40 over the entire longitudinal direction of the partition wall 31. The processing liquid uniform introduction means 32 can eliminate uneven supply of the processing liquid d to the discharge unit 40 by flowing the processing liquid d into the discharge unit 40 from recesses at regular intervals.

【0017】なお、処理液貯蔵部30は、所望の量の処
理液dを貯蔵し得るならば、処理液塗布装置10とは別
体で形成された処理液dが貯蔵可能な容器を、仕切り壁
31に取り付けて処理液貯蔵部を形成してもかまわず、
処理液貯蔵部30の形状において限定されることはな
い。
If the processing liquid storage unit 30 can store a desired amount of the processing liquid d, a processing liquid d formed separately from the processing liquid coating apparatus 10 and capable of storing the processing liquid d is partitioned. It may be attached to the wall 31 to form a processing liquid storage part,
The shape of the processing liquid storage unit 30 is not limited.

【0018】また、処理液均一導入手段32は、仕切り
壁31の上端において連続した凹凸形状に形成されてい
るが、仕切り壁31の所定の高さ位置において、所定の
間隔で設けられた複数の孔により形成されていることも
可能であり、仕切り壁31の長手方向の全体に渡り、吐
出部40へ供給むらがなく均一に処理液dを分配し得る
ならば、形状および配置において限定されることはな
い。
The processing liquid uniform introduction means 32 is formed in a continuous uneven shape at the upper end of the partition wall 31. At a predetermined height position of the partition wall 31, a plurality of processing liquid uniform introduction means are provided. The processing liquid d can be formed by a hole, and if the processing liquid d can be uniformly distributed without uneven supply to the discharge unit 40 over the entire length of the partition wall 31, the shape and arrangement are limited. Never.

【0019】吐出部40は、処理液dを被処理基板Sに
向けて吐出する吐出口41を処理液塗布装置10の底部
12側(下部)に沿い形成する吐出口形成部材50と、
吐出口41からの吐出される処理液dの吐出量を調整す
る為に吐出口形成部材50の位置を制御する位置制御手
段60とを有している。また、吐出部40は、前記吐出
口41から水平面に対して所定の斜度を有するように前
記被処理基板に向かい延出して設けられた処理液誘導斜
面42を有している。
The discharge unit 40 includes a discharge port forming member 50 for forming a discharge port 41 for discharging the processing liquid d toward the substrate S to be processed along the bottom 12 side (lower part) of the processing liquid coating apparatus 10.
And a position control means 60 for controlling the position of the discharge port forming member 50 in order to adjust the discharge amount of the processing liquid d discharged from the discharge port 41. Further, the discharge unit 40 has a processing liquid guiding slope 42 provided to extend from the discharge port 41 to the substrate to be processed so as to have a predetermined slope with respect to a horizontal plane.

【0020】吐出口形成部材50は、吐出口形成部材5
0の底端と、処理液塗布装置10の長手方向両端の壁1
3と、底部12とにより吐出口41を形成している。吐
出口41は、図1中に示されているように、処理液塗布
装置10の略長手方向全体に渡って延出しており、被処
理基板Sの幅全体に処理液dを塗布出来る。
The discharge port forming member 50 includes the discharge port forming member 5.
0 and the walls 1 at both ends in the longitudinal direction of the processing liquid application device 10.
The discharge port 41 is formed by 3 and the bottom 12. As shown in FIG. 1, the discharge port 41 extends over substantially the entire longitudinal direction of the processing liquid application device 10, and can apply the processing liquid d to the entire width of the substrate S to be processed.

【0021】また、吐出口形成部材50は、仕切り壁3
1とともに吐出前貯蔵部51を形成している。吐出前貯
蔵部51は、処理液均一導入手段32に隣接して(図2
において上部)に形成されている一時溜まり51aと、
この一時溜まり51aと吐出口41との間をつなぐスリ
ット51bと、を有している。一時溜まり51aの横断
面は、処理液均一導入手段32に隣接しているの入口の
開口面積に比べて、スリット51b側の出口の開口面積
が狭い漏斗状に形成されている。スリット51bは、垂
直に延びる仕切り壁31と、垂直に延びる吐出口形成部
材50との間の隙間により形成されており、処理液均一
導入手段32に隣接している入口の開口面積より狭い開
口面積が吐出口41まで続くように形成されている。こ
のため、吐出前貯蔵部51は、処理液均一導入手段32
を介して処理液貯蔵部30から仕切り壁31の長手方向
全体に渡り均一に供給された処理液dを一挙に吐出口4
1に供給しない。このため、吐出口41への処理液dの
供給量が被処理基板Sへの処理液dの塗布量においつか
ずに、被処理基板Sに対して間欠的な塗布が行われしま
うことを防止し得る。
The discharge port forming member 50 is connected to the partition wall 3.
1 together with the storage section 51 before discharge. The pre-ejection storage unit 51 is adjacent to the processing liquid uniform introduction means 32 (FIG. 2).
, A temporary pool 51a formed at the top).
There is a slit 51b connecting between the temporary pool 51a and the discharge port 41. The cross section of the temporary reservoir 51a is formed in a funnel shape in which the opening area of the exit on the slit 51b side is smaller than the opening area of the entrance adjacent to the processing liquid uniform introduction means 32. The slit 51b is formed by a gap between the vertically extending partition wall 31 and the vertically extending discharge port forming member 50, and has an opening area smaller than the opening area of the inlet adjacent to the processing liquid uniform introduction means 32. Are formed so as to continue to the discharge port 41. For this reason, the pre-ejection storage unit 51 is provided with
The processing liquid d uniformly supplied from the processing liquid storage unit 30 over the entire longitudinal direction of the partition wall 31 through the discharge port 4
Do not feed to 1. For this reason, the supply amount of the processing liquid d to the discharge port 41 does not depend on the application amount of the processing liquid d to the processing target substrate S, and the intermittent application to the processing target substrate S is performed. Can be prevented.

【0022】なお本実施の形態において一時溜まり51
aは、吐出前貯蔵部51の最上部に形成されているが、
処理液dを塗布前に一度蓄えるならば、高さ方向におい
て吐出口形成部材50の中部又は下部に形成されること
も可能であり、配置において限定されることはないし、
形状においても限定されることはない。なお、一時溜ま
り51aは、仕切り壁31に処理液均一導入手段32が
設けられている場合、この処理液均一導入手段32の配
置に対応して配置され、処理液均一導入手段32を通っ
て吐出前貯蔵部51へと供給された処理液dを一時的に
蓄え得るような位置に配置される必要がある。
In this embodiment, the temporary pool 51
a is formed at the uppermost part of the pre-ejection storage part 51,
If the processing liquid d is stored once before application, it can be formed in the middle or lower part of the discharge port forming member 50 in the height direction, and the arrangement is not limited,
The shape is not limited. When the processing liquid uniform introduction means 32 is provided on the partition wall 31, the temporary pool 51 a is disposed corresponding to the arrangement of the processing liquid uniform introduction means 32, and is discharged through the processing liquid uniform introduction means 32. It is necessary to arrange the processing liquid d supplied to the front storage unit 51 at a position where the processing liquid d can be temporarily stored.

【0023】処理液誘導斜面42は、被処理基板Sの進
行方向Bに沿い吐出口41より後方側(図2において右
側)に延出した処理液塗布装置10の底部12により形
成されており、吐出口41から流れてくる処理液dを被
処理基板Sへと誘導する。この処理液誘導斜面42は、
吐出口41に対応するように、吐出口41の略長手方向
全体に渡って設けられている。この処理液誘導斜面42
は、処理液均一導入手段32により吐出前貯蔵部51に
流入してきた処理液dを、吐出口41から被処理基板S
へと誘導することにより、吐出口41からの処理液dの
過度の速さの流出を減速させるとともに、吐出口41の
長手方向全体に渡って処理液dを均一に分配し、被処理
基板に対する衝撃が軽く、均一な処理液の塗布を可能に
する。
The processing liquid guiding slope 42 is formed by the bottom 12 of the processing liquid coating apparatus 10 extending rearward (to the right in FIG. 2) from the discharge port 41 along the traveling direction B of the substrate S to be processed. The processing liquid d flowing from the discharge port 41 is guided to the substrate S to be processed. This treatment liquid guiding slope 42 is
The discharge port 41 is provided over substantially the entire longitudinal direction of the discharge port 41 so as to correspond to the discharge port 41. This treatment liquid guiding slope 42
The processing liquid d flowing into the pre-discharge storage section 51 by the processing liquid uniform introduction means 32 is transferred from the discharge port 41 to the substrate S to be processed.
In addition to decelerating the processing liquid d from the discharge port 41 at an excessive speed, the processing liquid d is uniformly distributed over the entire longitudinal direction of the discharge port 41, and Light impact and enables uniform application of treatment liquid.

【0024】また、吐出部40は、図3に示すようにこ
の処理液誘導斜面42の長手方向全体に渡って、被処理
基板の進行方向Bに沿って延出した等間隔の連続的な凹
凸である処理液均一吐出手段43を設けることが可能で
ある。処理液均一吐出手段43は、吐出口41からの被
処理基板Sに対するより均一な処理液の塗布を可能にす
る。なお、この処理液均一吐出手段43は、吐出口41
から吐出される処理液を処理液誘導斜面42に均一に分
配するために、吐出口41に形成されていてもかまわな
い。また、水平面に対する処理液誘導斜面42の角度
は、この上で処理液dの流速を所望の流速に減速させら
れ得るならば、任意に選定することが出来、水平面に対
する処理液誘導斜面42の角度において限定されること
はない。なお、処理液塗布装置10は、処理液誘導斜面
42の先端から処理液dを被処理基板Sに流すことで塗
布するため、処理液誘導斜面42の先端と、被処理基板
Sの処理面との間の間隔とが、好ましくは1cmである
ように配置されているので、処理液誘導斜面42の先端
から被処理基板Sに落下される(塗布される)処理液d
の落下による衝撃力は極めて弱い。このため、被処理基
板S上へ落下した処理液dが落下により被処理基板S上
の所定の処理範囲を超えて跳ねて塗布むらが生じること
が防止されると共に、処理液dの落下により被処理基板
Sの現像箇所が破壊されるの防止し、所望の処理液の均
一な塗布が可能である。そして、このようであれば、処
理液誘導斜面42の先端と、被処理基板の処理面との間
の間隔において限定されることはない。
Further, as shown in FIG. 3, the discharge section 40 has continuous unevenness at regular intervals extending along the traveling direction B of the substrate to be processed over the entire longitudinal direction of the processing liquid guiding slope 42. It is possible to provide the processing liquid uniform discharge means 43. The processing liquid uniform discharge unit 43 enables more uniform application of the processing liquid to the substrate S to be processed from the discharge port 41. Note that the processing liquid uniform discharge means 43 is provided with a discharge port 41.
May be formed in the discharge port 41 in order to uniformly distribute the processing liquid discharged from the processing liquid guiding slope 42. The angle of the treatment liquid guiding slope 42 with respect to the horizontal plane can be arbitrarily selected as long as the flow rate of the processing liquid d can be reduced to a desired flow rate. Is not limited. The treatment liquid application device 10 applies the treatment liquid d to the substrate S by flowing the treatment liquid d from the tip of the treatment liquid guide slope 42. Is preferably set to 1 cm, so that the processing liquid d that is dropped (applied) onto the substrate S from the tip of the processing liquid guiding slope 42.
The impact force caused by falling is extremely weak. Therefore, it is possible to prevent the processing liquid d that has dropped onto the processing target substrate S from splashing over the predetermined processing range on the processing target substrate S due to the dropping, and to prevent application unevenness. It is possible to prevent the development portion of the processing substrate S from being destroyed, and to uniformly apply a desired processing liquid. In such a case, there is no limitation on the distance between the tip of the processing liquid guiding slope 42 and the processing surface of the substrate to be processed.

【0025】位置制御手段60は、吐出口形成部材50
の垂直方向の位置を制御する垂直方向制御手段61と、
被処理基板Sの進行方向Bにおける吐出口形成部材50
の水平方向の位置を制御する水平方向制御手段62とを
有している。
The position control means 60 includes a discharge port forming member 50.
Vertical control means 61 for controlling the vertical position of
Discharge port forming member 50 in traveling direction B of substrate S to be processed
And a horizontal direction control means 62 for controlling the horizontal position of.

【0026】各々の水平方向制御手段62は、対応する
溝52の上方で被処理基板Sの進行方向に延出し両端部
の間に送りねじを有している回動軸62aと、回動軸6
2aの両端部を処理液塗布装置10の上部の壁14に回
動可能に支持する回動軸支持部62bと、回動軸62a
の送りねじに螺合している水平方向移動部材62cとを
有している。
Each of the horizontal control means 62 includes a rotating shaft 62a extending in the traveling direction of the substrate S above the corresponding groove 52 and having a feed screw between both ends, and a rotating shaft 62a. 6
A rotating shaft support portion 62b that rotatably supports both ends of the processing liquid application device 10 on the upper wall 14 of the processing liquid application device 10;
And a horizontal moving member 62c that is screwed with the feed screw.

【0027】回動軸62aの一端部は、被処理基板Sの
進行方向Bにおいて処理液塗布装置10の外側へと延び
ており、回動握り62dを構成している。
One end of the rotating shaft 62a extends outside the processing liquid coating apparatus 10 in the traveling direction B of the substrate S to be processed, and constitutes a rotating grip 62d.

【0028】吐出口形成部材50は、長手方向の両端に
おいて垂直方向に延びる1対の溝52を有している。溝
52は、吐出口形成部材50の底面には開口しておら
ず、吐出口形成部材との上端及び長手方向の両端のみ開
口している。
The discharge port forming member 50 has a pair of grooves 52 extending vertically at both ends in the longitudinal direction. The groove 52 does not open on the bottom surface of the discharge port forming member 50, but opens only at the upper end and both ends in the longitudinal direction with the discharge port forming member.

【0029】位置制御手段60は、1対の溝52に対応
して1対設けられている。
The position control means 60 is provided in a pair corresponding to the pair of grooves 52.

【0030】垂直方向制御手段61は、水平方向制御手
段62の水平方向移動部材62cから垂れ下がり吐出口
形成部材50の溝52に挿入された柱61aと、処理液
塗布装置10の両端の壁13に螺号され、溝52中の柱
61a溝52の壁面に押圧して固定する固定ピン61b
とを有している。
The vertical direction control means 61 hangs down from the horizontal moving member 62 c of the horizontal direction control means 62 and is inserted into the groove 52 of the discharge port forming member 50 and the wall 13 at both ends of the processing liquid coating apparatus 10. A fixing pin 61b which is screwed and fixed by pressing against the wall surface of the groove 52 in the column 61a in the groove 52
And

【0031】固定ピン61bで柱61aを吐出口形成部
材50の溝52の端面に押圧することにより、吐出口形
成部材50を処理液塗布装置10の両端の壁13に対し
所望の垂直方向の位置に固定することが出来る。このこ
とにより、吐出口41の開口面積を任意に選定し得る。
By pressing the column 61a against the end face of the groove 52 of the discharge port forming member 50 with the fixing pin 61b, the discharge port forming member 50 is positioned at a desired vertical position with respect to the walls 13 at both ends of the processing liquid coating apparatus 10. Can be fixed to Thus, the opening area of the discharge port 41 can be arbitrarily selected.

【0032】この実施の形態において垂直方向制御手段
61は、固定ピン61b、溝52,及び柱61aにより
構成されているが、所望の垂直位置に固定し得るならば
他のいかなる公知の方法を用いてもかまわない。
In this embodiment, the vertical direction control means 61 is constituted by the fixing pins 61b, the grooves 52, and the columns 61a, but any other known method can be used as long as it can be fixed at a desired vertical position. It doesn't matter.

【0033】水平方向制御手段62は、回動軸62aを
回転させることにより、送りねじが水平方向移動部材6
2cを被処理基板Sの進行方向Bに沿い、水平方向に移
動させ得るように構成されている。水平方向移動部材6
2cには、柱61aを介して吐出口形成部材50が連結
されている。従って、水平方向移動部材62cを介して
吐出口形成部材50を上記水平方向に移動し得るこの構
成により、吐出前貯蔵部51の処理液dの貯蔵容量を任
意に選定することが出来る。このため、処理液塗布装置
10は、処理液dの塗布前に所望の量の処理液dを貯蔵
することが出来、吐出部40への処理液dの供給不足を
防ぎ、被処理基板Sに対して処理液の安定した塗布を可
能にする。
The horizontal direction control means 62 rotates the rotation shaft 62a so that the feed screw
2c is configured to be movable in the horizontal direction along the traveling direction B of the substrate S to be processed. Horizontal moving member 6
The discharge port forming member 50 is connected to 2c via a column 61a. Therefore, with this configuration in which the discharge port forming member 50 can be moved in the horizontal direction via the horizontal moving member 62c, the storage capacity of the processing liquid d in the storage unit 51 before discharge can be arbitrarily selected. For this reason, the processing liquid coating apparatus 10 can store a desired amount of the processing liquid d before coating the processing liquid d, prevent the supply of the processing liquid d to the ejection unit 40 from being insufficient, and apply the processing liquid d to the substrate S to be processed. On the other hand, it enables stable application of the processing liquid.

【0034】なお、水平方向制御手段62は、上記のよ
うに吐出口形成部材50を水平方向に移動し得るなら
ば、他の公知の構成を用いてもよい。
The horizontal direction control means 62 may use another known configuration as long as the discharge port forming member 50 can be moved in the horizontal direction as described above.

【0035】(動作)上記した如く構成されている本実
施の形態に従った処理液塗布装置10の動作について以
下で説明する。処理液塗布装置10は、前記被処理基板
搬送装置により被処理基板Sが搬送されて来る前に、処
理液供給部20を介して処理液貯蔵部30への処理液d
の充填が開始される。
(Operation) The operation of the processing liquid coating apparatus 10 according to the present embodiment having the above-described configuration will be described below. Before the substrate S to be processed is transported by the substrate transporting apparatus, the processing liquid coating apparatus 10 supplies the processing liquid d to the processing liquid storage unit 30 via the processing liquid supply unit 20.
Is started.

【0036】処理液供給部20による処理液貯蔵部30
への処理液dの供給量は、吐出口41からの処理液dの
吐出量と同じになるように調整される。この実施の形態
においては、毎分25乃至30リットルである。
Processing solution storage unit 30 by processing solution supply unit 20
The supply amount of the processing liquid d to the discharge port 41 is adjusted to be equal to the discharge amount of the processing liquid d from the discharge port 41. In this embodiment, it is 25 to 30 liters per minute.

【0037】処理液dが処理液貯蔵部30の仕切り壁3
1の処理液均一導入手段32から吐出前貯蔵部51に流
入し、吐出口41から吐出された後、前記被処理基板搬
送装置により、被処理基板Sが、図2中に矢印で示され
ているB方向に沿って所定の速度で搬送されてくる。こ
の実施の形態において被処理基板Sは、B方向において
1mの長さを有しており、前記所定の速度は、この実施
の形態において毎秒10cm乃至20cmである。
The processing liquid d is applied to the partition wall 3 of the processing liquid storage 30.
After flowing into the pre-discharge storage section 51 from the processing liquid uniform introduction means 32 of FIG. 1 and being discharged from the discharge port 41, the substrate to be processed S is indicated by an arrow in FIG. Is transported at a predetermined speed along the direction B. In this embodiment, the substrate S has a length of 1 m in the direction B, and the predetermined speed is 10 cm to 20 cm per second in this embodiment.

【0038】被処理基板Sの先端が、処理液誘導斜面4
2上から流れ落ちている処理液dのカーテンに到達する
と、被処理基板Sへの処理液dの塗布が開始される。
The front end of the substrate S to be processed is
When reaching the curtain of the processing liquid d flowing down from above, the application of the processing liquid d to the substrate S to be processed is started.

【0039】この処理液塗布装置10からの被処理基板
Sへの塗布は、前述した如く吐出口41が被処理基板S
の幅全体に一度に均一に塗布出来るように構成されてい
るため、被処理基板が、所定の速度で搬送されることに
より、被処理基板全体に渡って、処理液の均一な塗布が
行われ被処理基板に塗布むらを生じることを防止する。
As described above, the processing liquid is applied from the processing liquid coating apparatus 10 to the substrate S to be processed by the discharge port 41.
The substrate is transported at a predetermined speed, so that the processing liquid is uniformly applied over the entire substrate to be processed. This prevents application unevenness on the substrate to be processed.

【0040】また、上述の構成のように処理液塗布装置
10による一枚の被処理基板Sへの処理液dの塗布が完
了すると、前述の被処理基板搬送装置により次の被処理
基板が処理液塗布装置10の下部の所定の処理位置へと
搬送されて来て、処理液塗布装置10により上述のよう
に均一に処理液の塗布が行われていく。
When the application of the processing liquid d to one substrate S by the processing liquid coating apparatus 10 is completed as in the above-described configuration, the next substrate to be processed is processed by the substrate transfer apparatus described above. The liquid is conveyed to a predetermined processing position below the liquid coating device 10, and the processing liquid is uniformly applied by the processing liquid coating device 10 as described above.

【0041】処理液塗布装置10において、吐出口41
から吐出された後に被処理基板S上に付着しなかった処
理液dは、処理液塗布装置10の下方に配置された図示
されていない処理液回収パンに回収された後フィルター
を介して前述の処理液供給部20へと循環される。
In the processing liquid coating apparatus 10, the discharge port 41
The processing liquid d that has not adhered to the substrate S after being discharged from the processing liquid is recovered by a processing liquid recovery pan (not shown) disposed below the processing liquid coating apparatus 10 and then passed through a filter. It is circulated to the processing liquid supply unit 20.

【0042】これまで、ひとつの実施の形態について図
面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上述
した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を
逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。
Although one embodiment has been described in detail with reference to the drawings, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and is carried out without departing from the gist thereof. Including all implementations.

【0043】本発明の処理液塗布装置は、吐出前貯蔵部
を有しているが、供給むらなく吐出部に処理液を供給し
得るならば、吐出前貯蔵部、及び位置制御手段を省略
し、処理液貯蔵部から直接的に吐出口を介して被処理基
板に処理液を塗布することも可能である。
Although the processing liquid application apparatus of the present invention has a pre-discharge storage section, if the processing liquid can be supplied to the discharge section without uneven supply, the pre-discharge storage section and the position control means are omitted. Alternatively, the processing liquid can be applied to the substrate to be processed from the processing liquid storage unit directly through the discharge port.

【0044】また、本発明の処理液塗布装置は、被処理
板に均一に処理液を塗布することが可能であるならば、
処理液誘導斜面を省略することも可能である。
In addition, the processing liquid coating apparatus of the present invention can apply a processing liquid uniformly to a plate to be processed,
It is also possible to omit the treatment liquid guiding slope.

【0045】また、本発明の処理液塗布装置は、処理液
を被処理板の進行方向と反対方向に吐出することも可能
であり、その場合、吐出部を被処理板の進行方向と反対
方向に配置する。
Further, the processing liquid applying apparatus of the present invention can discharge the processing liquid in the direction opposite to the direction of travel of the plate to be processed. To place.

【0046】[0046]

【発明の効果】本発明は、所望の塗布領域から処理液が
広範囲に飛び散ることを防ぎ、被処理基板に均一に瞬時
に処理液を塗布する処理液塗布装置を提供する。
According to the present invention, there is provided a processing liquid coating apparatus for preventing a processing liquid from being scattered over a wide range from a desired coating area and uniformly and instantaneously applying a processing liquid to a substrate to be processed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1の(a)は、本発明の第1の実施の形態に
従った処理液塗布装置の概略的な正面図である。図1の
(b)は、図1の(a)の処理液塗布装置の切断線Y−
Yに沿った断面図である。
FIG. 1A is a schematic front view of a processing liquid application device according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1B shows a cutting line Y- of the processing liquid application device of FIG.
It is sectional drawing along Y.

【図2】図2は、図1の(a)の処理液塗布装置の切断
線X−Xに沿った断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of the processing liquid application device of FIG. 1A taken along a cutting line XX.

【図3】図3は、本発明の他の態様に従った処理液塗布
装置の概略的な正面図である。
FIG. 3 is a schematic front view of a processing liquid application apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図4】図4は、従来のスプレー方式の現像液塗布装置
を示す概略的な側面図である。
FIG. 4 is a schematic side view showing a conventional spray type developer application device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

d 処理液 10 処理液塗布装置 20 処理液供給部 30 処理液貯蔵部 31 仕切り壁 32 処理液均一導入手段 40 吐出部 41 吐出口 42 処理液誘導斜面 43 処理液均一吐出手段 50 吐出口形成部材 51 吐出前貯蔵部 60 位置制御手段 61 垂直方向制御手段 62 水平方向制御手段 d Treatment liquid 10 Treatment liquid application device 20 Treatment liquid supply unit 30 Treatment liquid storage unit 31 Partition wall 32 Treatment liquid uniform introduction means 40 Discharge unit 41 Discharge port 42 Treatment liquid guiding slope 43 Treatment liquid uniform discharge means 50 Discharge port forming member 51 Pre-discharge storage unit 60 Position control means 61 Vertical control means 62 Horizontal control means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 恩田 光弘 東京都台東区台東1丁目5番1号 凸版印 刷株式会社内 (72)発明者 吉田 史志 東京都台東区台東1丁目5番1号 凸版印 刷株式会社内 (72)発明者 池田 武司 東京都台東区台東1丁目5番1号 凸版印 刷株式会社内 (72)発明者 石神 敬志 静岡県島田市阿知ヶ谷25番地 島田理化工 業株式会社内 (72)発明者 多々良 均 静岡県島田市阿知ヶ谷25番地 島田理化工 業株式会社内 Fターム(参考) 2H096 AA27 AA30 GA26 HA20 4D075 AC15 DA06 DC21 4F041 AA05 AB01 CA04 CA07 5F046 JA02 JA03  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Mitsuhiro Onda 1-5-1, Taito, Taito-ku, Tokyo Inside Toppan Printing Co., Ltd. (72) Inventor Fumi Yoshida 1-1-5-1 Taito, Taito-ku, Tokyo Inside Toppan Printing Co., Ltd. (72) Inventor Takeshi Ikeda 1-5-1, Taito, Taito-ku, Tokyo Toppan Printing Co., Ltd. (72) Inventor Takashi Ishigami 25 Achigaya, Shimada-shi, Shizuoka Shimada Rika Kogyo (72) Inventor Hitoshi Tatara 25 Achigaya, Shimada-shi, Shizuoka Shimada Rika Kogyo Co., Ltd.F-term (reference)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理基板上に処理液を塗布する処理液
塗布装置において、 供給された処理液を貯蔵する処理液貯蔵部と、 該被処理基板の進行方向を横切る方向全体に渡って設け
られ、該処理液貯蔵部に蓄えられた該処理液を該被処理
基板上に吐出する吐出部と、を有しており、 該処理液貯蔵部の許容貯蔵量を超えて供給された該処理
液を該吐出部から吐出することで、該被処理基板上に該
処理液を塗布することを特徴とする処理液塗布装置。
1. A processing liquid coating apparatus for coating a processing liquid on a substrate to be processed, comprising: a processing liquid storage unit for storing a supplied processing liquid; and a processing liquid storage unit provided over an entire direction transverse to a traveling direction of the substrate to be processed. A discharge unit that discharges the processing liquid stored in the processing liquid storage unit onto the substrate to be processed, the processing liquid being supplied in excess of an allowable storage amount of the processing liquid storage unit. A processing liquid application apparatus, wherein the processing liquid is applied onto the substrate to be processed by discharging the liquid from the discharge unit.
【請求項2】 前記吐出部は、吐出口面積を調節可能に
設けられていることを特徴とする請求項1に記載の処理
液塗布装置。
2. The processing liquid application apparatus according to claim 1, wherein the discharge unit is provided so as to adjust a discharge port area.
【請求項3】 前記吐出前貯蔵部には、前記処理液貯蔵
部と面した仕切り壁を有しており、前記仕切り壁には、
前記仕切り壁の全体に渡って均一な量の処理液を前記処
理液貯蔵部から前記吐出部へと導く処理液均一導入手段
が、設けられていることを特徴とする請求項1又は請求
項2に記載の処理液塗布装置。
3. The pre-ejection storage section has a partition wall facing the treatment liquid storage section, and the partition wall has
3. A processing liquid uniform introduction means for guiding a uniform amount of processing liquid from the processing liquid storage section to the discharge section over the entire partition wall. 3. The treatment liquid application device according to claim 1.
【請求項4】 前記吐出部には、前記吐出口が前記吐出
部全体に渡って均一な量の処理液を前記被処理基板に向
かって吐出させる処理液均一吐出手段が設けられている
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載
の処理液塗布装置。
4. The method according to claim 1, wherein the discharge unit is provided with a processing liquid uniform discharge unit that discharges a uniform amount of the processing liquid toward the substrate to be processed over the entire discharge unit. The treatment liquid application device according to claim 1, wherein
【請求項5】 前記吐出部は、前記吐出口から水平面に
対して所定の斜度を有するように前記被処理基板に向か
い延出して設けられた処理液誘導斜面を有していること
を特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の処
理液塗布装置。
5. The processing unit according to claim 1, wherein the discharge unit has a processing liquid guiding slope provided extending from the discharge port toward the substrate to be processed so as to have a predetermined slope with respect to a horizontal plane. The treatment liquid application device according to claim 1, wherein
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102021905B1 (en) * 2019-02-01 2019-09-17 (주) 칼라리베로 Adhesive Applying Apparatus for Manufacturing Water-proof Zipper
CN116140152A (en) * 2023-01-31 2023-05-23 江苏邦宇薄膜技术有限公司 Normal pressure cavity reverse coating surface treatment device

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