JP2002055439A - ペリクルおよびその使用方法 - Google Patents

ペリクルおよびその使用方法

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JP2002055439A
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pellicle
light
film
adhesive
exposure
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Hiroshi Arishima
浩 有島
Shinya Kikukawa
信也 菊川
Hitoshi Mishiro
均 三代
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AGC Inc
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Asahi Glass Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • G03F1/64Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor

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Abstract

(57)【要約】 【課題】洗浄のために照射される紫外線によるペリクル
膜とペリクルフレームとを接着する接着剤の劣化を防止
する。 【解決手段】合成石英ガラスからなるペリクル膜2を、
接着剤4により枠状のペリクルフレーム5の開口部に接
着してなるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から
遮光するための遮光体3を備えることを特徴とするペリ
クル。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LSI、超LSI
などの半導体あるいは液晶表示を製造する場合などに用
いられ、とりわけ実質的に波長220nm以下の光を用
いる露光法に好適なペリクルおよびその使用方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、LSI、超LSI等の半導体ある
いは液晶表示デバイスの製造において、半導体ウエハあ
るいは液晶表示板に波長240nm以上の光を露光原版
(マスク又はレチクル)を通して照射することによって
パターニングが行われている。この場合、露光原版のパ
ターン形成面にゴミが付着していると、このゴミが露光
光を吸収、反射あるいは曲げたりするため、寸法精度、
品質、外観などが損なわれてしまう。このため、クリー
ンルーム内で露光作業は行われているが、露光原版を清
浄に保つことは難しい。
【0003】そこで、露光原版へのゴミの付着を防ぐた
めに、ペリクルを使用して露光作業を行うのが一般的で
ある。具体的には、図4は従来のペリクルを露光原版に
装着した状態を示す斜視図であり、図5は図4のAA断
面図であるが、ペリクル1は、露光光を透過させるペリ
クル膜2を接着剤4によりペリクルフレーム5の開口部
に接着して構成されており、露光作業に際してこのペリ
クル1は、ペリクルフレーム5を接着剤6により露光原
版7に装着される。このようなペリクル1を装着した露
光原版7は、ペリクル膜2またはペリクルフレーム5が
破損しない限り、透過率の低下やゴミの侵入がないた
め、半永久的に使用できるようになる。
【0004】一方で、LSIや超LSIなどの半導体の
製造に用いられる露光光は、微細化の要求に対して波長
は益々短くなってきており、今日ではF2レーザなど波
長220nm以下の露光光を使用する技術が考案されて
いる。これらの露光光に使用される露光原版は、露光時
にクリーンルーム内に存在する有機系ガスが付着して光
透過率が低下することがある。また、露光原版は、保管
・運搬時には、ポリアクリレ−ト、ポリスチレン、ポリ
プロピレン、ポリエチレン、ポリカーボネート、ABS
樹脂などの合成樹脂製のケースに収納される。しかしな
がら、このケースからは有機系のガスが発生しており、
収納された露光原版の表面に付着して光透過率を低下さ
せることもわかってきた。
【0005】そこで、露光前に露光原版の洗浄を行うの
が一般的であるが、本出願人はこの洗浄方法としてXe
2エキシマランプ、F2レーザなどの紫外線(以下、「洗
浄光」と呼ぶ)を照射して有機物を分解して除去する技
術を提案している(PCT/JP00/01869)。
従って、ペリクル膜にはこのような洗浄光に対して充分
な耐久性(耐光性)が要求されるが、同時にこのペリク
ル膜2とペリクルフレーム5とを接着している接着剤4
にも洗浄光が照射されるため、接着剤4にも同様の耐光
性が要求される。しかし、従来より接着剤4として、ポ
リブテン樹脂、アクリル樹脂またはエポキシ樹脂系接着
剤やシリコーン系粘着剤などが用いられているが、何れ
の接着材料も耐光性が充分とはいえず、洗浄光照射の回
数を経るのにしたがって接着力が低下し、ペリクル膜2
がペリクルフレーム4から剥離して隙間が生じて防塵機
能が発揮されなくなったり、劣化した接着剤が新たなゴ
ミとなって露光原版7のパターン形成面に付着するなど
の不具合を生じるようになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような状
況に鑑みてなされたものであり、洗浄光によるペリクル
膜とペリクルフレームとを接着する接着剤の劣化を防止
したペリクルを提供することを目的とする。また、本発
明はこのようなペリクルの使用方法を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、合成石英ガラスからなるペリクル膜
を、接着剤により枠状のペリクルフレームの開口部に接
着してなるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から
遮光するための遮光体を備えることを特徴とするペリク
ルを提供する。
【0008】特に上記ペリクルにおいて、遮光体が金属
または金属酸化物からなること、また遮光体は厚さ50
nm以上の膜または板からなることが好ましい。
【0009】また、上記の目的を達成するために、本発
明は、上記ペリクルを用い、ペリクルを露光原版の露光
に使用する前に、ペリクル膜表面に紫外光を照射するこ
とを特徴とするペリクルの使用方法を提供する。
【0010】特に上記使用方法において、紫外光の波長
が220nm以下であること、エキシマランプまたはF
2レーザからの照射光であることが好ましい。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明に関して図面を参照
して説明する。尚、図1は本発明のペリクルの一実施形
態を露光原版に装着した状態で示す斜視図であり、図2
は図1のAA断面図である。また、図3は本発明のペリ
クルの他の実施形態を図1のAA断面に沿って示した断
面図である。
【0012】図1及び図2に示すように、ペリクル1
は、ペリクル膜2を接着剤4によりペリクルフレーム5
の開口部に接着してその基本構造が形成される。ペリク
ル膜2としては、波長220nm以下の露光光に対応で
きるように、合成石英ガラスを薄板化したものである。
この合成石英ガラスとは、例えば珪素源と酸素源とを気
相で反応させてスートと呼ばれる酸化珪素からなる多孔
質を成長させ、焼結して得られる実質的に酸化珪素のみ
からなるガラスである。また、接着剤4は、従来と同様
に、ポリブテン樹脂、アクリル樹脂またはエポキシ樹脂
系接着剤やシリコーン系粘着剤などを用いることができ
る。
【0013】本発明のペリクル1は、上記の基本構造に
加えて、ペリクル膜2の膜上で、かつペリクル膜2とペ
リクルフレーム4との接着部分、即ち接着剤4が塗布さ
れた部分を覆うように遮光体3が形成されている。この
遮光体3としては、洗浄光を透過せず、かつ充分な耐光
性を有していれば、その材質や形態は特に制限されるも
のではないが、金属や金属酸化物を膜状または板状で用
いることができる。金属の種類は特に制限されるもので
はないが、耐光性や遮光性の理由からクロムやアルミニ
ウム、鉄、銅またはそれらの合金が好ましい。金属板と
する時は、アルミニウム、鉄、銅などの精密に加工ので
きる金属または金属合金などが使用でき、特にペリクル
フレーム4と熱膨張係数が同じアルミニウムを使用する
ことが望ましい。尚、本発明において、この金属板とし
て金属箔も含む。また、金属酸化物膜を使用する場合
は、耐光性や遮光性の理由からクロム酸化物(CrO
x)、シリカ(SiO2 )、アルミナ(Al2 3
どの膜が好ましい。また、膜厚は、膜の材質に依存する
が、波長220nm以下の紫外光に対して充分な遮光性
を有していればよく、50nm以上、好ましくは50n
m〜1000nm、特に好ましくは100〜1000n
mであれば良い。
【0014】遮光体3は、図2に示すように、ペリクル
膜2の上に設けることもできるし、図3に示すように、
ペリクル膜2とペリクルフレーム5との間で、接着剤4
を覆うように設けることもできる。
【0015】また、上記の金属膜及び金属酸化物膜を成
膜するには、既知の手段、例えばスパッタリング法、蒸
着法、CVD法、印刷法などを被膜材料の種類やペリク
ル膜2との密着性を考慮して適宜選択すればよい。一
方、金属板の場合は、ペリクル膜2の表面や、ペリクル
膜2とペリクルフレーム5との間に適当な接着剤を用い
て固定すれば良い。
【0016】上記のペリクル1は、何れも、従来と同様
にペリクルフレーム5の下面に塗布された接着剤6を介
して、露光源版7上に装着される。
【0017】また、上記ペリクル1は、露光原版の露光
に使用する前に、ペリクル膜表面に紫外光(洗浄光)を
照射して洗浄することが好ましいが、その際、遮光体3
が存在することにより接着剤4が劣化することがない。
【0018】
【実施例】以下、実施例及び比較例を挙げて本発明を更
に説明する。
【0019】ペリクル膜として厚さ0.3mmに研磨し
た合成石英ガラス板を用い、ペリクルフレームにポリブ
テン系接着剤を用いて接着し、更に合成石英ガラス板の
表面にペリクルフレームと同一幅で、スパッタリングに
よりCr膜を100nm厚に形成してペリクルA(実施
例1)を作製した。また、前記合成石英ガラスの裏面に
ペリクルフレームと同一幅で、スパッタリングによりC
r膜を100nm厚に形成し、このCr膜にポリブテン
系接着剤を塗布してペリクルフレームと接着してペリク
ルB(実施例2)を作製した。また、ペリクルAのCr
膜に代えて黒色処理を施したアルミニウム箔を張り付け
てペリクルC(実施例3)を作製した。また、比較のた
めに、前記合成石英ガラスをペリクルフレームにポリブ
テン系接着剤を用いて接着したペリクルD(比較例1)
を作製した。
【0020】そして、ペリクルA〜Dをそれぞれ、クリ
ーンルーム内で露光原版に張り付け、露光原版上にある
異物の数をPI−1000(米 QC optics社製)に
より測定した後、ペリクル側よりXe2エキシマランプ
(ウシオ電機製、UER−172)を60分照射した。
照射後、露光原版をケースに収納固定し、60cmの高
さより落下させた後、この露光原版を取り出し、再びP
I−1000を用いて露光原版の表面に付着している異
物を測定した。照射前の異物付着量と落下後の異物付着
量とを表1に表す。
【0021】
【表1】
【0022】表1から、本発明に従い遮光体を設けたペ
リクルは、接着剤の劣化に起因する異物の発生が少な
く、洗浄光に対する耐性が高いことがわかる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、遮光体
により、洗浄光によるペリクル膜とペリクルフレームと
を接着する接着剤の劣化を防ぎ、接着剤劣化物が異物と
なって露光原版に付着したり、ペリクル膜が剥離するこ
とを防いでペリクルの機能を長期にわたり良好に維持す
ることができる。このような接着剤の劣化防止効果は、
特に今後微細加工の主流となる波長220nm以下の露
光光を使用する技術において顕著な効果として現れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のペリクルの第1実施形態について、露
光原版に装着した状態を示す斜視図である。
【図2】図1のAA断面図である。
【図3】本発明のペリクルの第2実施形態について、図
1のAA断面に沿って示した断面図である。
【図4】従来のペリクルについて、露光原版に装着した
状態を示す斜視図である。
【図5】図4のAA断面図である。
【符号の説明】
1 ペリクル 2 ペリクル膜 3 遮光体 4 接着剤 5 ペリクルフレーム 6 接着剤 7 露光原版
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三代 均 茨城県ひたちなか市田彦1010−1 旭ファ インマテリアル株式会社内 Fターム(参考) 2H095 BA01 BA07 BC33 BC35

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】合成石英ガラスからなるペリクル膜を、接
    着剤により枠状のペリクルフレームの開口部に接着して
    なるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から遮光す
    るための遮光体を備えることを特徴とするペリクル。
  2. 【請求項2】遮光体は、金属または金属酸化物からなる
    ことを特徴とする請求項1に記載のペリクル。
  3. 【請求項3】遮光体はクロム、アルミニウム、鉄、銅、
    およびそれらの合金からなる群から選ばれた少なくとも
    1種の金属からなることを特徴とする請求項2記載のペ
    リクル。
  4. 【請求項4】遮光体はクロム酸化物、シリカおよびアル
    ミナからなる群から選ばれた少なくとも1種の金属酸化
    物からなることを特徴とする請求項2記載のペリクル。
  5. 【請求項5】遮光体は、ペリクル膜の表面に設けられて
    いることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載
    のペリクル。
  6. 【請求項6】遮光体は、ペリクルフレームとペリクル膜
    との間に設けられていることを特徴lang=EN-US>とする
    請求項1〜4の何れか1項に記載のペリクル。
  7. 【請求項7】遮光体は、厚さ50nm以上の膜または板
    からなることを特徴とする請求項1〜6の何れか1項に
    記載のペリクル。
  8. 【請求項8】ペリクルとして請求項1〜7の何れか1項
    に記載のペリクルを用い、ペリクルを露光原版の露光に
    使用する前に、ペリクル膜表面に紫外光を照射すること
    を特徴とするペリクルの使用方法。
  9. 【請求項9】紫外光の波長は220nm以下であること
    を特徴とする請求項8記載のペリクの使用方法。
  10. 【請求項10】紫外光は、エキシマランプまたはF2
    ーザからの照射光であることを特徴とする請求項8また
    は9に記載のペリクルの使用方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007003747A (ja) * 2005-06-23 2007-01-11 Hoya Corp ペリクル付きフォトマスク及びペリクル
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