JP2002050868A - Method of manufacturing multilayered printed wiring board - Google Patents

Method of manufacturing multilayered printed wiring board

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JP2002050868A
JP2002050868A JP2000194620A JP2000194620A JP2002050868A JP 2002050868 A JP2002050868 A JP 2002050868A JP 2000194620 A JP2000194620 A JP 2000194620A JP 2000194620 A JP2000194620 A JP 2000194620A JP 2002050868 A JP2002050868 A JP 2002050868A
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wiring board
printed wiring
layer
via hole
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JP2000194620A
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本鎮 袁
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture a multilayered printed wiring board in which an opening for via hole is completely filled up with a metal and the upper surfaces of the via hole and a conductor circuit are almost made flush with each other. SOLUTION: A method of manufacturing multilayered printed wiring board includes a step of forming a resin insulating layer having the opening for via hole by performing exposure, development, or laser beam machining, a step of forming a metallic layer composed at least of one kind selected from among a group composed of Cu, Ni, P, Pd, Co, and W on the surfaces of the resin insulating layer and opening for via hole, and a step of forming an electroplated film on the metallic layer by using an electroplating solution containing a copper sulfate, a sulfuric acid, chlorine ions, and an additive composed at least of a leveling agent and a brightening agent at mixing rations of 50-300 g/l, 30-200 g/l, 25-90 mg/l, and 1-1,000 mg/l, respectively. The method also includes a step of forming the conductor circuit by etching after an etching resist is formed on the electroplated layer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、特定組成の電解め
っき液を用いた多層プリント配線板の製造方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board using an electrolytic plating solution having a specific composition.

【0002】[0002]

【従来の技術】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼
ばれる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等に
より製造されており、コアと呼ばれる0.5〜1.5m
m程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、
銅等による導体回路と樹脂絶縁層とを交互に積層するこ
とにより作製される。この多層プリント配線板の樹脂絶
縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホールにより
行われている。
2. Description of the Related Art A multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board is manufactured by a semi-additive method or the like.
m on a resin substrate reinforced with glass cloth, etc.
It is manufactured by alternately laminating a conductor circuit made of copper or the like and a resin insulating layer. The connection between the conductor circuits via the resin insulating layer of the multilayer printed wiring board is performed by via holes.

【0003】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号公報等に開示さ
れた方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔
が貼り付けられた銅貼積層板に貫通孔を形成し、続いて
無電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形
成する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチ
ング処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面
に、無電解めっきやエッチング等により粗化面を形成す
る。そして、この粗化面を有する導体回路上に樹脂絶縁
層を形成した後、露光および現像処理等を行ってバイア
ホール用開口部を形成し、その後、UV硬化、本硬化を
経て樹脂絶縁層を形成する。
Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-130050. That is, first, a through-hole is formed in the copper-clad laminate on which the copper foil is stuck, and then a through-hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, a conductive circuit is formed by etching the surface of the substrate into a conductive pattern, and a roughened surface is formed on the surface of the conductive circuit by electroless plating, etching, or the like. Then, after forming a resin insulating layer on the conductor circuit having the roughened surface, exposure and development processing are performed to form an opening for a via hole, and then the resin insulating layer is subjected to UV curing and main curing. Form.

【0004】さらに、樹脂絶縁層に酸や酸化剤などによ
り粗化処理を施した後、薄い金属層を形成し、この金属
層上にめっきレジストを形成した後、電解めっきにより
厚付けを行い、めっきレジスト剥離後にエッチングを行
って、下層の導体回路とバイアホールにより接続された
導体回路を形成する。この工程を繰り返した後、最後に
導体回路を保護するためのソルダーレジスト層を形成
し、ICチップ等の電子部品やマザーボード等との接続
のために開口部を露出させた部分にめっき等を施した
後、半田ペーストを印刷して半田バンプを形成すること
により、ビルドアップ多層プリント配線板の製造を完了
する。
Further, after a resin insulating layer is subjected to a roughening treatment with an acid or an oxidizing agent, a thin metal layer is formed, a plating resist is formed on the metal layer, and a thickening is performed by electrolytic plating. After the plating resist is peeled off, etching is performed to form a conductor circuit connected to the underlying conductor circuit by a via hole. After repeating this step, finally, a solder resist layer for protecting the conductor circuit is formed, and plating or the like is applied to a portion where the opening is exposed for connection with an electronic component such as an IC chip or a motherboard. After that, the solder paste is printed to form solder bumps, thereby completing the manufacture of the build-up multilayer printed wiring board.

【0005】このようなビルドアップ多層プリント配線
板の製造において、無電解めっきと電解メッキとを行う
ことにより下層の導体回路とバイアホールにより接続さ
れた導体回路を形成する場合、バイアホール用開口部は
金属で完全に充填されておらず、図15に示すように、
バイアホール周辺部には凹部が形成されていた。なお、
図15は、従来の多層プリント配線板のバイアホールの
断面を示す断面図である。
In the manufacture of such a build-up multilayer printed wiring board, when a conductive circuit connected to a lower conductive circuit and a via hole is formed by performing electroless plating and electrolytic plating, a via hole opening is required. Is not completely filled with metal, and as shown in FIG.
A recess was formed around the via hole. In addition,
FIG. 15 is a sectional view showing a section of a via hole of a conventional multilayer printed wiring board.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来のビ
ルドアップ多層プリント配線板では、導体回路上面、特
にバイアホール周辺が平坦では無かったため、導体回路
上面に樹脂絶縁層を形成した場合、該樹脂絶縁層にうね
りが生じてしまい、樹脂絶縁層の剥離やクラックの原因
となったり、樹脂絶縁層の上層に形成する導体回路に断
線を引き起こす原因となることがあった。
As described above, in the conventional build-up multilayer printed wiring board, since the upper surface of the conductor circuit, especially the periphery of the via hole, is not flat, when a resin insulating layer is formed on the upper surface of the conductor circuit, In some cases, undulation occurs in the resin insulating layer, causing peeling or cracking of the resin insulating layer, or causing disconnection in a conductor circuit formed in an upper layer of the resin insulating layer.

【0007】また、プリント配線板の高速化、ファイン
化のため、配線距離を短縮するビルドアップ多層プリン
ト配線板の構造として、スタックビア構造(バイアホー
ルの直上にバイアホールを形成する構造、図1参照)が
要求されている。しかしながら、上述したように従来の
方法で製造されたビルドアップ多層プリント配線板は、
バイアホール用開口部が金属で完全に充填されていない
ため、スタックビア構造をとることが難しかった。
As a structure of a build-up multilayer printed wiring board for shortening the wiring distance in order to increase the speed and fineness of the printed wiring board, a stacked via structure (a structure in which a via hole is formed immediately above a via hole, FIG. 1) See). However, as described above, the build-up multilayer printed wiring board manufactured by the conventional method is
Since the via hole opening is not completely filled with metal, it has been difficult to form a stacked via structure.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
に鑑みて鋭意研究した結果、特定のレベリング剤と光沢
剤とからなる添加剤を特定の割合で含む電解めっき液を
用いることにより、バイアホール用開口部を完全に金属
で充填することができ、同一層におけるバイアホールの
上面と導体回路の上面とが略同一平面の多層プリント配
線板を製造することができることを見いだし、以下に示
す内容を要旨構成とする発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have conducted intensive studies in view of the above problems, and as a result, have found that an electrolytic plating solution containing a specific leveling agent and an additive consisting of a brightener in a specific ratio is used. It has been found that a via hole opening can be completely filled with metal, and a multilayer printed wiring board can be manufactured in which the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer are substantially flush with each other. The inventors have arrived at the invention having the contents shown in the summary.

【0009】即ち、本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、少なくとも下記の工程(a)〜(d)、即ち
(a)露光および現像処理、もしくは、レーザ処理を行
うことによりバイアホール用開口部を有する樹脂絶縁層
を形成する工程、(b)樹脂絶縁層およびバイアホール
用開口部の表面に、Cu、Ni、P、Pd、Coおよび
Wからなる群より選択される少なくとも1種からなる金
属層を形成する工程、(c)50〜300g/lの硫酸
銅、30〜200g/lの硫酸、25〜90mg/lの
塩素イオン、および、少なくともレベリング剤と光沢剤
とからなる1〜1000mg/lの添加剤を含有する電
解めっき液を用いて、上記金属層上に電解めっき膜を形
成する工程、(d)上記電解めっき膜上にエッチングレ
ジストを形成した後、エッチングを行うことにより導体
回路を形成する工程、を含むことを特徴とする。
That is, the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention comprises at least the following steps (a) to (d), ie, (a) exposure and development processing, or laser processing, whereby a via hole opening is formed. (B) forming at least one selected from the group consisting of Cu, Ni, P, Pd, Co and W on the surfaces of the resin insulating layer and the via hole opening; Forming a metal layer, (c) 50-300 g / l copper sulfate, 30-200 g / l sulfuric acid, 25-90 mg / l chloride ion, and 1-1000 mg comprising at least a leveling agent and a brightening agent (D) forming an electrolytic plating film on the metal layer using an electrolytic plating solution containing an / l additive, and (d) forming an etching resist on the electrolytic plating film. Forming a conductor circuit by etching, characterized in that it comprises a.

【0010】上記本発明の多層プリント配線板の製造方
法において、(b)の工程では、金属層は、スパッタリ
ング、めっき、もしくは、スパッタリングおよびめっき
を行うことにより形成することが望ましい。また、上記
樹脂絶縁層は、フッ素樹脂、ポリオレフィン系樹脂およ
びポリフェニレン系樹脂からなる群より選択される少な
くとも一種であること、または、熱可塑性樹脂と熱硬化
性樹脂とを含む樹脂複合体であることが望ましい。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, in the step (b), the metal layer is preferably formed by performing sputtering, plating, or sputtering and plating. Further, the resin insulating layer is at least one selected from the group consisting of a fluororesin, a polyolefin-based resin, and a polyphenylene-based resin, or is a resin composite containing a thermoplastic resin and a thermosetting resin. Is desirable.

【0011】また、上記(c)の工程では、電解めっき
液に含有される上記レベリング剤として、ポリエチレ
ン、その誘導体、ゼラチンおよびその誘導体からなる群
より選択される少なくとも1種を用いることが望まし
く、また、上記光沢剤として、酸化物硫黄、その関連化
合物、硫化水素、その関連化合物およびその他の硫黄化
合物からなる群から選択される少なくとも1種を用いる
ことが望ましい。
In the step (c), it is preferable to use at least one selected from the group consisting of polyethylene, derivatives thereof, gelatin and derivatives thereof as the leveling agent contained in the electrolytic plating solution. In addition, as the brightener, it is desirable to use at least one selected from the group consisting of oxide sulfur, its related compound, hydrogen sulfide, its related compound, and other sulfur compounds.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板の製
造方法は、少なくとも下記の工程(a)〜(d)、即ち
(a)露光および現像処理、もしくは、レーザ処理を行
うことによりバイアホール用開口部を有する樹脂絶縁層
を形成する工程、(b)樹脂絶縁層およびバイアホール
用開口部の表面に、Cu、Ni、P、Pd、Coおよび
Wからなる群より選択される少なくとも1種からなる金
属層を形成する工程、(c)50〜300g/lの硫酸
銅、30〜200g/lの硫酸、25〜90mg/lの
塩素イオン、および、少なくともレベリング剤と光沢剤
とからなる1〜1000mg/lの添加剤を含有する電
解めっき液を用いて、上記金属層上に電解めっき膜を形
成する工程、(d)上記電解めっき膜上にエッチングレ
ジストを形成した後、エッチングを行うことにより導体
回路を形成する工程、を含むことを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is characterized in that at least the following steps (a) to (d), ie, (a) exposure and development processing or laser processing are performed, Forming a resin insulating layer having an opening for use in a substrate, and (b) forming at least one selected from the group consisting of Cu, Ni, P, Pd, Co and W on the surfaces of the resin insulating layer and the opening for the via hole. Forming a metal layer consisting of (c) 50-300 g / l copper sulfate, 30-200 g / l sulfuric acid, 25-90 mg / l chloride ion, and at least a leveling agent and a brightener A step of forming an electrolytic plating film on the metal layer using an electrolytic plating solution containing -1000 mg / l of an additive; and (d) forming an etching resist on the electrolytic plating film. , Characterized in that it comprises a step, to form a conductor circuit by etching.

【0013】上記多層プリント配線板の製造方法におい
ては、(c)工程の電解めっき膜を形成する際、50〜
300g/lの硫酸銅、30〜200g/lの硫酸、2
5〜90mg/lの塩素イオン、および、少なくともレ
ベリング剤と光沢剤とからなる1〜1000mg/lの
添加剤を含有する電解めっき液を用いることに特徴があ
る。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board, when forming the electrolytic plating film in step (c),
300 g / l copper sulfate, 30-200 g / l sulfuric acid, 2
It is characterized by using an electrolytic plating solution containing 5 to 90 mg / l of chloride ions and 1 to 1000 mg / l of an additive composed of at least a leveling agent and a brightening agent.

【0014】このような組成の電解めっき液を用いて電
解めっきを行うことにより、バイアホール用開口部が金
属で完全に充填され、同一層におけるバイアホールの上
面と導体回路の上面とが略同一平面にあるバイアホール
(以下、このようなバイアホールをフィールドビアとも
いう)を有する多層プリント配線板を製造することがで
きるのである。即ち、このような組成の電解めっき液
は、フィールドビア用電解めっき液に最適である。
By performing electrolytic plating using an electrolytic plating solution having such a composition, the via hole opening is completely filled with metal, and the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer are substantially the same. This makes it possible to manufacture a multilayer printed wiring board having via holes in a plane (hereinafter, such via holes are also referred to as field vias). That is, the electrolytic plating solution having such a composition is most suitable for the field via electrolytic plating solution.

【0015】上記電解めっき液において、硫酸銅の濃度
が50g/l未満では、フィールドビアが形成できず、
300g/lを超えると、めっき膜厚のバラツキが大き
くなる。また、硫酸の濃度が30g/l未満では、液抵
抗が大きくなるため、めっき析出がされにくくなり、2
00g/lを超えると、硫酸銅が結晶になりやすい。ま
た、塩素イオンの濃度が25mg/l未満では、めっき
膜の光沢が低下し、90mg/lを超えるとアノードが
溶解しにくくなる。
In the above electrolytic plating solution, if the concentration of copper sulfate is less than 50 g / l, a field via cannot be formed,
If it exceeds 300 g / l, the variation in plating film thickness will be large. On the other hand, when the concentration of sulfuric acid is less than 30 g / l, the liquid resistance becomes large, so that the plating is difficult to deposit, and
If it exceeds 00 g / l, copper sulfate tends to be crystallized. If the chlorine ion concentration is less than 25 mg / l, the gloss of the plating film is reduced, and if it exceeds 90 mg / l, the anode is difficult to dissolve.

【0016】また、このような組成の電解めっき液を用
いることにより、バイアホールの開口径、樹脂絶縁層の
材質や厚さ、樹脂絶縁層の粗化面の有無等に関係なく、
フィールドビアを形成することができる。
Further, by using the electrolytic plating solution having such a composition, regardless of the opening diameter of the via hole, the material and thickness of the resin insulating layer, the presence or absence of the roughened surface of the resin insulating layer, etc.
Field vias can be formed.

【0017】また、上記電解めっき液が銅イオンを高濃
度で含有していることから、バイアホール用開口部に銅
イオンを充分に供給し、バイアホール用開口部をめっき
速度40〜100μm/時間でめっきすることができ、
電解めっき工程の高速化を図ることもできる。
Further, since the electrolytic plating solution contains copper ions at a high concentration, the copper ions are sufficiently supplied to the via hole openings, and the plating speed of the via hole openings is 40 to 100 μm / hour. Can be plated with
The speed of the electrolytic plating process can be increased.

【0018】さらに、上記電解めっき液は、硫酸を高濃
度で含有しているため、めっき時の液抵抗を下げること
ができる。そのため、めっき液の電流密度が高くなり、
バイアホール用開口部でのめっき膜の成育も妨げられ
ず、フィールドビア構造の形成に適している。
Further, since the electrolytic plating solution contains sulfuric acid at a high concentration, the liquid resistance during plating can be reduced. Therefore, the current density of the plating solution increases,
The growth of the plating film in the via hole opening is not hindered, and is suitable for forming a field via structure.

【0019】上記電解めっき液の望ましい組成は、10
0〜250g/lの硫酸銅、50〜150g/lの硫
酸、30〜70mg/lの塩素イオン、および、少なく
ともレベリング剤と光沢剤とからなる1〜600mg/
lの添加剤を含有する組成である。
The desirable composition of the above electrolytic plating solution is 10
0-250 g / l of copper sulfate, 50-150 g / l of sulfuric acid, 30-70 mg / l of chloride ion, and 1-600 mg / l of at least a leveling agent and a brightening agent
This is a composition containing 1 additive.

【0020】上記添加剤は、少なくともレベリング剤と
光沢剤とからなるものであればよく、その他の成分を含
有していてもよい。
The above additives only need to be composed of at least a leveling agent and a brightening agent, and may contain other components.

【0021】上記レベリング剤としては、例えば、ポリ
エチレン、その誘導体、ゼラチンおよびその誘導体から
なる群から選択される少なくとも1種を用いることが望
ましい。
As the leveling agent, for example, it is desirable to use at least one selected from the group consisting of polyethylene, derivatives thereof, gelatin and derivatives thereof.

【0022】上記ポリエチレン誘導体としては特に限定
されず、例えば、ポリエチレンイソフタレート、ポリエ
チレンイミン、ポリエチレンオキシド、ポリエチレング
リコール、ポリエチレングリコールエステル、ポリエチ
レングリコールエーテル、ポリエチレンスルフィド、ポ
リエーテル等を挙げることができる。これらのなかで
は、ポリエチレングリコールまたはゼラチンを用いるこ
とが望ましい。汎用性が高く、樹脂絶縁層や金属膜への
損傷がないからである。
The polyethylene derivative is not particularly restricted but includes, for example, polyethylene isophthalate, polyethylene imine, polyethylene oxide, polyethylene glycol, polyethylene glycol ester, polyethylene glycol ether, polyethylene sulfide, polyether and the like. Among these, it is desirable to use polyethylene glycol or gelatin. This is because the versatility is high and there is no damage to the resin insulating layer and the metal film.

【0023】また、上記光沢剤としては、例えば、酸化
物硫黄、その関連化合物、硫化水素、その関連化合物お
よびその他の硫黄化合物からなる群から選択される少な
くとも1種を用いることが望ましい。
As the brightener, it is desirable to use, for example, at least one selected from the group consisting of sulfur oxides, its related compounds, hydrogen sulfide, its related compounds and other sulfur compounds.

【0024】上記酸化物硫黄およびその関連化合物とし
ては特に限定されず、例えば、スルホン酸系化合物、ス
ルホン系化合物、亜硫酸系化合物およびその他の酸化物
硫黄化合物等が挙げられる。
The above-mentioned sulfur oxide and its related compounds are not particularly restricted but include, for example, sulfonic acid compounds, sulfone compounds, sulfite compounds and other oxide sulfur compounds.

【0025】上記スルホン酸系化合物としては特に限定
されず、例えば、スルホ安息香酸、スルホ安息香酸塩、
スルホアントラキノン、スルホメタン、スルホエタン、
スルホカルバミド、スルホ琥珀酸、スルホ琥珀酸エステ
ル、スルホ酢酸、スルホサリチル酸、スルホシアヌル
酸、スルホシアン、スルホシアン酸エステル、スルホニ
ン、スルホビン酸、スルホフタル酸、スルホン酸アミ
ド、スルホン酸イミド等、および、スルホカルボアニリ
ド等のスルホカルボニル系化合物等を挙げることができ
る。
The sulfonic acid compound is not particularly restricted but includes, for example, sulfobenzoic acid, sulfobenzoate,
Sulfoanthraquinone, sulfomethane, sulfoethane,
Sulfocarbamide, sulfosuccinic acid, sulfosuccinate, sulfoacetic acid, sulfosalicylic acid, sulfocyanuric acid, sulfocyanic acid, sulfocyanic acid ester, sulfonine, sulfovinic acid, sulfophthalic acid, sulfonamide, sulfonimide, etc., and sulfocarbanilide etc. And the like.

【0026】上記スルホン系化合物としては特に限定さ
れず、例えば、スルホナール、スルホニルジ酢酸、スル
ホニルジフェニルメタン、スルホキシル酸、スルホキシ
ル酸塩、スルホンアミド、スルホンイミド等、および、
スルホニルクロリド系化合物等を挙げることができる。
The sulfone compound is not particularly restricted but includes, for example, sulfonal, sulfonyldiacetate, sulfonyldiphenylmethane, sulfoxylic acid, sulfoxylate, sulfonamide, sulfonimide and the like;
Sulfonyl chloride compounds and the like can be mentioned.

【0027】上記亜硫酸系化合物としては特に限定され
ず、例えば、亜硫酸、亜硫酸アンモニウム、亜硫酸カリ
ウム、亜硫酸ジエチル、亜硫酸ジメチル、亜硫酸水素ナ
トリウムおよび亜硫酸エステル化合物等を挙げることが
できる。
The sulfite compound is not particularly limited, and examples thereof include sulfurous acid, ammonium sulfite, potassium sulfite, diethyl sulfite, dimethyl sulfite, sodium hydrogen sulfite, and sulfite compounds.

【0028】上記その他の酸化物硫黄化合物としては特
に限定されず、例えば、スルホキシド等を挙げることが
できる。
The above-mentioned other oxide sulfur compounds are not particularly restricted but include, for example, sulfoxide.

【0029】上記硫化水素、その関連化合物としては特
に限定されず、例えば、スルホニウム化合物、および、
スルホニウム塩等を挙げることができる。
The above-mentioned hydrogen sulfide and its related compounds are not particularly restricted but include, for example, sulfonium compounds and
Sulfonium salts and the like can be mentioned.

【0030】上記その他の硫黄化合物としては特に限定
されず、例えば、ビスジスルフィド等を挙げることがで
きる。
The above-mentioned other sulfur compounds are not particularly restricted but include, for example, bisdisulfide.

【0031】上記電解めっき液では、さらに、上記光沢
剤を含有することにより、多層プリント配線板を製造す
る際にバイアホール用開口部を金属で完全に充填するこ
とができ、上記レベリング剤を含有することにより、同
一層におけるバイアホールの上面と導体回路の上面とを
略同一平面に形成することができる。
The above-mentioned electrolytic plating solution further contains the above-mentioned brightener so that the via hole opening can be completely filled with metal when a multilayer printed wiring board is manufactured, and the above-mentioned leveling agent is contained. By doing so, the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer can be formed on substantially the same plane.

【0032】これは、上記光沢剤がバイアホール用開口
部の低電流部分を活性化することにより、バイアホール
用開口部へのめっき析出を加速させ、上記レベリング剤
が導体回路表面に吸着することにより、導体回路表面で
のめっきの析出を抑制するからである。
This is because the brightener activates a low current portion of the via hole opening, thereby accelerating plating deposition on the via hole opening, and adsorbing the leveling agent on the surface of the conductor circuit. This suppresses the deposition of plating on the surface of the conductor circuit.

【0033】上記レベリング剤の配合量は、1〜100
0mg/lが望ましく、上記光沢剤の配合量は、0.1
〜100mg/lが望ましい。また、両者の配合比率
は、2:1〜10:1が望ましい。
The amount of the leveling agent is from 1 to 100.
0 mg / l is desirable, and the blending amount of the brightener is 0.1
-100 mg / l is desirable. The mixing ratio of the two is preferably 2: 1 to 10: 1.

【0034】上記レベリング剤の配合量が少なすぎる
と、導体回路表面へのレベリング剤の吸着量が少なく、
導体回路へのめっき析出が速くなる。一方、レベリング
剤の配合量が多すぎると、バイアホール用開口部底部へ
のレベリング剤の吸着量が多く、バイアホール用開口部
へのめっき析出が遅くなる。
If the amount of the leveling agent is too small, the amount of the leveling agent adsorbed on the surface of the conductor circuit is small, and
Plating deposition on conductor circuits becomes faster. On the other hand, if the amount of the leveling agent is too large, the amount of the leveling agent adsorbed on the bottom of the via hole opening is large, and the deposition of plating on the via hole opening becomes slow.

【0035】また、上記光沢剤の配合量が少なすぎる
と、バイアホール用開口部の底部の活性化ができなくな
り、めっきによりバイアホール用開口部を金属で完全に
充填することができない。一方、多すぎると、導体回路
部分のめっきの析出が速くなり、導体回路上面とバイア
ホール上面に段差が生じてしまう。
On the other hand, if the amount of the brightener is too small, the bottom of the via hole opening cannot be activated, and the via hole opening cannot be completely filled with metal by plating. On the other hand, if the amount is too large, the deposition of the plating on the conductor circuit portion is accelerated, and a step occurs between the upper surface of the conductor circuit and the upper surface of the via hole.

【0036】このような構成の電解めっき液を用いる電
解めっき法としては特に限定されず、以下に示す電解め
っき法等を用いることができる。即ち、一般的な電解め
っき法である直流電解めっき法(DCめっき法)や、カ
ソード電流の供給および中断を交互に繰り返すことによ
り、電流を矩形波のパルス電流に制御する方法(PCめ
っき法)、カソード電流の供給とアノード電流の供給と
を交互に反転させて繰り返すことにより、周期的逆転波
を用いて電流を制御するパルス−リバース電気めっき法
(PRめっき法)、カソード電流として高密度電流パル
スと低密度電流パルスとを交互に印加する方法等を用い
ることができる。これらのなかでは、多層プリント配線
板を製造する際に、フィールドビアを形成するのに適し
ており、また、高価な電源装置や制御装置を必要としな
い点から直流電解めっき法が望ましい。
The electrolytic plating method using such an electrolytic plating solution is not particularly limited, and the following electrolytic plating method and the like can be used. That is, a DC electrolytic plating method (DC plating method), which is a general electrolytic plating method, or a method of controlling a current to a rectangular wave pulse current by alternately repeating supply and interruption of a cathode current (PC plating method). A pulse-reverse electroplating method (PR plating method) in which the supply of the cathode current and the supply of the anode current are alternately inverted and repeated to control the current using a periodic reversal wave; A method of alternately applying a pulse and a low-density current pulse can be used. Among them, the DC electrolytic plating method is preferable because it is suitable for forming a field via when manufacturing a multilayer printed wiring board, and does not require an expensive power supply device or control device.

【0037】以下に、上記電解めっき液を用いた本発明
の多層プリント配線板の製造方法について、工程順に説
明する。 (1) 本発明の多層プリント配線板の製造方法において
は、まず、絶縁性基板の表面に導体回路が形成された基
板を作製する。
Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention using the above electrolytic plating solution will be described in the order of steps. (1) In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared.

【0038】絶縁性基板としては、樹脂基板が望まし
く、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリイ
ミド基板、ビスマレイミドトリアジン樹脂基板、フッ素
樹脂基板、セラミック基板、銅貼積層板などが挙げられ
る。本発明の多層プリント配線板の製造方法では、この
絶縁性基板にドリル等で貫通孔を設け、該貫通孔の壁面
および銅箔表面に無電解めっきを施して表面導電膜およ
びスルーホールを形成する。無電解めっきとしては銅め
っきが好ましい。
As the insulating substrate, a resin substrate is desirable, and specific examples thereof include a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide triazine resin substrate, a fluororesin substrate, a ceramic substrate, and a copper-clad laminate. In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a through hole is formed in the insulating substrate by a drill or the like, and the surface conductive film and the through hole are formed by performing electroless plating on the wall surface of the through hole and the copper foil surface. . Copper plating is preferred as the electroless plating.

【0039】この無電解めっきの後、通常、スルーホー
ル内壁および無電解めっき膜表面の粗化面形成処理を行
う。粗化処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還
元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレ
ー処理、Cu−Ni−P針状合金めっきによる処理など
が挙げられる。
After the electroless plating, a roughened surface forming process is usually performed on the inner wall of the through hole and the surface of the electroless plated film. Examples of the roughening treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, and treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating.

【0040】(2) 次に、無電解めっきが施された基板上
に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッチ
ングを行うことにより導体回路を形成する。次に、この
導体回路が形成された基板表面に樹脂充填剤を塗布、乾
燥させて半硬化状態とした後、研摩を行い、樹脂充填材
の層を研削するとともに、導体回路の上部も研削し、基
板の両主面を平坦化する。この後、樹脂充填材の層を完
全硬化する。なお、樹脂充填材の層を形成する際、導体
回路非形成部分に開口が形成されたマスクを用い、エッ
チングにより凹部が形成された導体回路非形成部分のみ
を樹脂充填剤で充填し、その後、上記した研磨処理等を
行ってもよい。
(2) Next, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the substrate on which electroless plating has been performed, and etching is performed to form a conductive circuit. Next, a resin filler is applied to the surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, dried to a semi-cured state, then polished, the resin filler layer is ground, and the upper part of the conductive circuit is also ground. Then, both main surfaces of the substrate are flattened. Thereafter, the layer of the resin filler is completely cured. When forming the resin filler layer, using a mask having openings formed in the conductor circuit non-forming portions, only the conductor circuit non-forming portions in which the concave portions are formed by etching are filled with the resin filler, and then, The above-described polishing treatment or the like may be performed.

【0041】(3) 次に、導体回路上に、必要により、粗
化層または粗化面(以下、粗化層ともいう)を形成す
る。粗化処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還
元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレ
ー処理、Cu−Ni−P合金めっきによる処理などが挙
げられる。
(3) Next, a roughened layer or a roughened surface (hereinafter, also referred to as a roughened layer) is formed on the conductor circuit, if necessary. Examples of the roughening treatment method include a blackening (oxidation) -reduction treatment, a spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, and a treatment with Cu-Ni-P alloy plating.

【0042】(4) ついで、形成された粗化層表面に、必
要により、スズ、亜鉛、銅、ニッケル、コバルト、タリ
ウム、鉛等からなる被覆層を無電解めっき、蒸着などに
より形成する。上記被覆層を0.01〜2μmの範囲で
析出させることにより、樹脂絶縁層から露出した導体回
路を粗化液やエッチング液から保護し、内層パターンの
変色、溶解を確実に防止することができるからである。
(4) Then, if necessary, a coating layer made of tin, zinc, copper, nickel, cobalt, thallium, lead, or the like is formed on the surface of the formed roughened layer by electroless plating, vapor deposition, or the like. By depositing the coating layer in the range of 0.01 to 2 μm, the conductor circuit exposed from the resin insulating layer can be protected from a roughening solution or an etching solution, and discoloration and dissolution of the inner layer pattern can be reliably prevented. Because.

【0043】(5) この後、粗化層が形成された導体回路
上に、後工程を経て樹脂絶縁層となる未硬化の樹脂層を
形成する。上記樹脂絶縁層の材料としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の一部を感光化した樹
脂またはこれらの複合樹脂を使用することができる。上
記未硬化の樹脂層は、未硬化の樹脂を塗布して形成して
もよく、また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧着して形成
してもよい。さらに、未硬化の樹脂フィルムの片面に銅
箔などの金属層が形成された樹脂フィルムを貼付しても
よい。このような樹脂フィルムを使用する場合は、バイ
アホール形成部分の金属層をエッチングした後、レーザ
光を照射して開口部を設ける。金属層が形成された樹脂
フィルムとしては、樹脂付き銅箔などを使用することが
できる。
(5) Thereafter, an uncured resin layer to be a resin insulating layer is formed on the conductor circuit on which the roughened layer has been formed through a post-process. As the material of the resin insulating layer, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a resin obtained by sensitizing a part of the thermosetting resin, or a composite resin thereof can be used. The uncured resin layer may be formed by applying an uncured resin, or may be formed by thermocompression bonding an uncured resin film. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached. When such a resin film is used, an opening is provided by etching a metal layer in a via hole forming portion and then irradiating a laser beam. As the resin film having the metal layer formed thereon, a resin-coated copper foil or the like can be used.

【0044】これらの樹脂絶縁層の材料のなかでは、ポ
リオレフィン系樹脂、ポリフェニレン系樹脂(PPE、
PPO等)、フッ素系樹脂等が望ましい。低誘電率の樹
脂絶縁層を形成するのに適しているからである。上記ポ
リオレフィン系樹脂としては、例えば、上記ポリエチレ
ン、ポリプロピレン、ポリイソブチレン、ポリブタジエ
ン、ポリイソプレン、2−ノルボルネン、5−エチリデ
ン−2−ノルボルネン、これらの樹脂の共重合体等が挙
げられ、上記フッ素系樹脂としては、例えば、エチル/
テトラフルオロエチレン共重合樹脂(ETFE)、ポリ
クロロトリフルオロエチレン(PCTFE)等が挙げら
れる。
Among these resin insulating layer materials, polyolefin resins and polyphenylene resins (PPE,
PPO, etc.) and fluorine-based resins are desirable. This is because it is suitable for forming a resin insulating layer having a low dielectric constant. Examples of the polyolefin-based resin include the polyethylene, polypropylene, polyisobutylene, polybutadiene, polyisoprene, 2-norbornene, 5-ethylidene-2-norbornene, and copolymers of these resins. As, for example, ethyl /
Examples include tetrafluoroethylene copolymer resin (ETFE) and polychlorotrifluoroethylene (PCTFE).

【0045】また、上記樹脂絶縁層の材料としては、上
記熱可塑性樹脂と上記熱硬化性樹脂とを含む樹脂複合体
を使用することが望ましい。耐熱性、耐クラック性、絶
縁性、および、バイアホールの形状保持性等に優れるか
らである。従って、上記樹脂絶縁層を有する多層プリン
ト配線板は、電気接続性や信頼性に優れたものとなる。
As the material of the resin insulating layer, it is desirable to use a resin composite containing the thermoplastic resin and the thermosetting resin. This is because they are excellent in heat resistance, crack resistance, insulation properties, shape retention of via holes, and the like. Therefore, the multilayer printed wiring board having the above-mentioned resin insulating layer has excellent electrical connectivity and reliability.

【0046】上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリ
スルフォン(PSF)、ポリエーテルスルフォン(PE
S)、ポリフェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェ
ニレンサルファイド(PPES)、ポリフェニレンエー
テル(PPE)、ポリエーテルイミド(PI)、フェノ
キシ樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。これらのなかで
は、ポリスルフォン(PSF)、ポリエーテルスルフォ
ン(PES)、ポリエーテルイミド(PI)および/ま
たはフェノキシ樹脂が望ましい。耐熱性、絶縁性に優れ
るとともに、高い靱性値を有するため、耐クラック性、
形状保持性に優れる樹脂絶縁層を形成するのに特に適し
ているからである。
Examples of the thermoplastic resin include polysulfone (PSF) and polyethersulfone (PE).
S), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenylene ether (PPE), polyetherimide (PI), phenoxy resin, fluorine resin and the like. Of these, polysulfone (PSF), polyethersulfone (PES), polyetherimide (PI) and / or phenoxy resin are desirable. It has excellent heat resistance and insulation properties, and has a high toughness value.
This is because it is particularly suitable for forming a resin insulating layer having excellent shape retention.

【0047】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等が挙げら
れる。また、上記熱硬化性樹脂は、感光化した樹脂であ
ってもよく、具体的には、例えば、メタクリル酸やアク
リル酸等と熱硬化基とをアクリル化反応させたもの等が
挙げられる。特に、エポキシ樹脂をアクリレート化した
ものが望ましい。これらのなかでは、1分子中に、2個
以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂がより望まし
い。
Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a phenol resin, and a polyimide resin. The thermosetting resin may be a photosensitized resin, and specifically, for example, a resin obtained by subjecting a thermosetting group to methacrylic acid, acrylic acid, or the like to undergo an acrylation reaction. In particular, an acrylated epoxy resin is desirable. Among these, an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more desirable.

【0048】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れる
ものとなる。
Examples of the epoxy resin include cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, alkylphenol novolak type epoxy resin, biphenol F type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0049】上記樹脂複合体における熱可塑性樹脂と熱
硬化性樹脂との混合割合は、熱硬化性樹脂/熱可塑性樹
脂=95/5〜50/50が望ましい。耐熱性を損なう
ことなく、高い靱性値を確保することができるからであ
る。また、上記樹脂複合体は、感光性の付与された感光
性樹脂であってもよい。感光性樹脂を用いる場合、露光
・現像処理にてバイアホール用開口部を形成することが
できる。
The mixing ratio of the thermoplastic resin and the thermosetting resin in the above resin composite is desirably thermosetting resin / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance. Further, the resin composite may be a photosensitive resin provided with photosensitivity. When a photosensitive resin is used, the opening for the via hole can be formed by exposure and development processing.

【0050】上記樹脂複合体の具体例としては、例え
ば、酸または酸化剤に可溶性の粒子(以下、可溶性粒子
という)が酸または酸化剤に難溶性の樹脂(以下、難溶
性樹脂という)中に分散した粗化面形成用樹脂組成物等
が挙げられる。なお、上記「難溶性」および「可溶性」
という語は、同一の粗化液に同一時間浸漬した場合に、
相対的に溶解速度の早いものを便宜上「可溶性」とい
い、相対的に溶解速度の遅いものを便宜上「難溶性」と
呼ぶ。
As a specific example of the above resin composite, for example, particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter, referred to as soluble particles) are contained in a resin which is hardly soluble in an acid or oxidizing agent (hereinafter, referred to as a hardly soluble resin). Dispersed resin compositions for forming a roughened surface are exemplified. In addition, the above "poorly soluble" and "soluble"
The term, when immersed in the same roughening liquid for the same time,
Those with a relatively fast dissolution rate are called "soluble" for convenience, and those with a relatively slow dissolution rate are called "poorly soluble" for convenience.

【0051】上記可溶性粒子としては、例えば、酸また
は酸化剤に可溶性の樹脂粒子(以下、可溶性樹脂粒
子)、酸または酸化剤に可溶性の無機粒子(以下、可溶
性無機粒子)、酸または酸化剤に可溶性の金属粒子(以
下、可溶性金属粒子)等が挙げられる。これらの可溶性
粒子は、単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよ
い。
Examples of the soluble particles include resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble resin particles”), inorganic particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble inorganic particles”), and an acid or an oxidizing agent. Soluble metal particles (hereinafter referred to as “soluble metal particles”) and the like. These soluble particles may be used alone or in combination of two or more.

【0052】上記可溶性粒子の形状は特に限定されず、
球状、破砕状等が挙げられる。また、上記可溶性粒子の
形状は、一様な形状であることが望ましい。均一な粗さ
の凹凸を有する粗化面を形成することができるからであ
る。
The shape of the soluble particles is not particularly limited.
Spherical, crushed and the like. The shape of the soluble particles is desirably a uniform shape. This is because a roughened surface having unevenness with a uniform roughness can be formed.

【0053】上記可溶性粒子の平均粒径としては、0.
1〜10μmが望ましい。この粒径の範囲であれば、2
種類以上の異なる粒径ものを含有してもよい。すなわ
ち、平均粒径が0.1〜0.5μmの可溶性粒子と平均
粒径が1〜3μmの可溶性粒子とのを含有する等であ
る。これにより、より複雑な粗化面を形成することがで
き、導体回路との密着性にも優れる。なお、本明細書に
おいて、可溶性粒子の粒径とは、可溶性粒子の一番長い
部分の長さである。
The average particle size of the above-mentioned soluble particles is 0.1.
1 to 10 μm is desirable. Within this particle size range, 2
It may contain more than one kind of different particle size. That is, it contains soluble particles having an average particle size of 0.1 to 0.5 μm and soluble particles having an average particle size of 1 to 3 μm. Thereby, a more complicated roughened surface can be formed, and the adhesion to the conductor circuit is excellent. In addition, in this specification, the particle size of a soluble particle is the length of the longest part of a soluble particle.

【0054】上記可溶性樹脂粒子としては、酸あるいは
酸化剤からなる溶液に浸漬した場合に、上記難溶性樹脂
よりも溶解速度が速いものであれば特に限定されず、そ
の具体例としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール
樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリオレ
フィン樹脂、フッ素樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、
尿素樹脂、グアナミン樹脂)等からなるものが挙げら
れ、これらの樹脂の一種からなるものであってもよい
し、2種以上の樹脂の混合物からなるものであってもよ
い。
The soluble resin particles are not particularly limited as long as they have a higher dissolution rate than the hardly soluble resin when immersed in a solution containing an acid or an oxidizing agent. Epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, amino resin (melamine resin,
(Urea resin, guanamine resin) and the like, and may be one of these resins or a mixture of two or more resins.

【0055】これらの可溶性樹脂粒子としては、(a) 平
均粒径が10μm以下の可溶性樹脂粉末、(b) 平均粒径
が2μm以下の可溶性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
(c) 平均粒径が2〜10μmの可溶性樹脂粉末と平均粒
径が2μm以下の可溶性樹脂粉末との混合物、(d) 平均
粒径が2〜10μmの可溶性樹脂粉末の表面に平均粒径
が2μm以下の可溶性樹脂粉末または無機粉末のいずれ
か少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、(e) 平均
粒径が0.1〜0.8μmの可溶性樹脂粉末と平均粒径
が0.8μmを超え、2μm未満の可溶性樹脂粉末との
混合物、(f) 平均粒径が0.1〜1.0μmの可溶性樹
脂粉末を用いることが望ましい。これらは、より複雑な
アンカーを形成することができるからである。
The soluble resin particles include (a) a soluble resin powder having an average particle size of 10 μm or less, (b) an aggregated particle obtained by aggregating a soluble resin powder having an average particle size of 2 μm or less,
(c) a mixture of a soluble resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and a soluble resin powder having an average particle size of 2 μm or less, and (d) an average particle size of 2 to 10 μm on the surface of the soluble resin powder. Pseudo particles obtained by adhering at least one of a soluble resin powder or an inorganic powder of 2 μm or less, (e) a soluble resin powder having an average particle size of 0.1 to 0.8 μm and an average particle size of 0.8 μm; (F) It is desirable to use a soluble resin powder having an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm. This is because these can form a more complicated anchor.

【0056】また、上記可溶性樹脂粒子としては、ゴム
からなる樹脂粒子を用いることもできる。上記ゴムとし
ては、例えば、ポリブタジエンゴム、エポキシ変性、ウ
レタン変性、(メタ)アクリロニトリル変性等の各種変
性ポリブタジエンゴム、カルボキシル基を含有した(メ
タ)アクリロニトリル・ブタジエンゴム等が挙げられ
る。
As the soluble resin particles, resin particles made of rubber can be used. Examples of the rubber include polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group.

【0057】これらのゴムを使用することにより、可溶
性樹脂粒子が酸あるいは酸化剤に溶解しやすくなる。つ
まり、酸を用いて可溶性樹脂粒子を溶解する際には、強
酸以外の酸でも溶解することができ、酸化剤を用いて可
溶性樹脂粒子を溶解する際には、比較的酸化力の弱い過
マンガン酸でも溶解することができる。また、クロム酸
を用いた場合でも、低濃度で溶解することができる。そ
のため、酸や酸化剤が樹脂表面に残留することがなく、
後述するように、粗化面形成後、塩化パラジウム等の触
媒を付与する際に、触媒が付与されなかったり、触媒が
酸化されたりすることがない。
By using these rubbers, the soluble resin particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the soluble resin particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the soluble resin particles using an oxidizing agent, permanganese having a relatively weak oxidizing power is used. It can also dissolve in acids. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. Therefore, no acid or oxidizing agent remains on the resin surface,
As will be described later, when a catalyst such as palladium chloride is applied after the formation of the roughened surface, no catalyst is applied or the catalyst is not oxidized.

【0058】上記可溶性無機粒子としては、例えば、ア
ルミニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合
物、マグネシウム化合物およびケイ素化合物からなる群
より選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げら
れる。
Examples of the soluble inorganic particles include particles made of at least one selected from the group consisting of aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds and silicon compounds.

【0059】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、例えば、炭酸カリウム等が挙げられ、上記マグ
ネシウム化合物としては、例えば、マグネシア、ドロマ
イト、塩基性炭酸マグネシウム等が挙げられ、上記ケイ
素化合物としては、例えば、シリカ、ゼオライト等が挙
げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併
用してもよい。
Examples of the aluminum compound include alumina and aluminum hydroxide. Examples of the calcium compound include calcium carbonate and
Calcium hydroxide and the like, as the potassium compound, for example, potassium carbonate and the like, as the magnesium compound, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like, as the silicon compound, For example, silica, zeolite and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0060】上記可溶性金属粒子としては、例えば、
銅、ニッケル、鉄、亜鉛、鉛、金、銀、アルミニウム、
マグネシウム、カルシウムおよびケイ素からなる群より
選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げられ
る。また、これらの可溶性金属粒子は、絶縁性を確保す
るために、表層が樹脂等により被覆されていてもよい。
The soluble metal particles include, for example,
Copper, nickel, iron, zinc, lead, gold, silver, aluminum,
Examples include particles made of at least one selected from the group consisting of magnesium, calcium, and silicon. These soluble metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0061】上記可溶性粒子を、2種以上混合して用い
る場合、混合する2種の可溶性粒子の組み合わせとして
は、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望ましい。両
者とも導電性が低くいため上下の導体回路間の絶縁性を
確保することができるとともに、難溶性樹脂との間で熱
膨張の調整が図りやすく、樹脂絶縁層にクラックが発生
せず、樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生しない
からである。
When two or more of the above-mentioned soluble particles are used in combination, the combination of the two types of soluble particles to be mixed is preferably a combination of resin particles and inorganic particles. Both have low conductivity, so that insulation between the upper and lower conductor circuits can be ensured, and thermal expansion can be easily adjusted with the poorly soluble resin. This is because peeling does not occur between the layer and the conductor circuit.

【0062】上記難溶性樹脂としては、樹脂絶縁層に酸
または酸化剤を用いて粗化面を形成する際に、粗化面の
形状を保持できるものであればよく、上記熱可塑性樹脂
と上記熱硬化性樹脂との混合物を用いることができる。
The hardly soluble resin may be any resin that can retain the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed on the resin insulating layer using an acid or an oxidizing agent. A mixture with a thermosetting resin can be used.

【0063】上記樹脂複合体として、粗化面形成用樹脂
組成物を用いる場合、上記可溶性粒子は、上記難溶性樹
脂中にほぼ均一に分散されていることが望ましい。均一
な粗さの凹凸を有する粗化面を形成することができ、バ
イアホールを含む導体回路との密着性を確保することが
できるからである。また、粗化面を形成する表層部だけ
に可溶性粒子を含有するフィルムを用いてもよい。この
場合、フィルムの表層部以外は、酸または酸化剤にさら
されることがないため、樹脂絶縁層を介した導体回路間
の絶縁性が確実に保たれる。
When a resin composition for forming a roughened surface is used as the resin composite, it is desirable that the soluble particles are substantially uniformly dispersed in the hardly-soluble resin. This is because a roughened surface having unevenness with a uniform roughness can be formed, and adhesion to a conductor circuit including via holes can be ensured. Alternatively, a film containing soluble particles only in the surface layer forming the roughened surface may be used. In this case, since the portions other than the surface layer of the film are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the resin insulating layer is reliably maintained.

【0064】上記可溶性粒子の混合重量比は、難溶性樹
脂の固形分に対して5〜50重量%が望ましく、10〜
40重量%がさらに望ましい。可溶性粒子の混合重量比
が5重量%未満では、充分な粗さの粗化面を形成するこ
とができない場合があり、50重量%を超えると、酸ま
たは酸化剤を用いて可溶性粒子を溶解して粗化面を形成
する際に、樹脂絶縁層の深部まで溶解してしまい、樹脂
絶縁層を介した上下の導体回路間の絶縁性を確保するこ
とができず、短絡の原因となる場合がある。
The mixing weight ratio of the soluble particles is desirably 5 to 50% by weight based on the solid content of the hardly-soluble resin.
40% by weight is more desirable. If the mixing weight ratio of the soluble particles is less than 5% by weight, a roughened surface having a sufficient roughness may not be formed. If the mixing ratio exceeds 50% by weight, the soluble particles may be dissolved using an acid or an oxidizing agent. When forming a roughened surface, it may melt down to the depth of the resin insulation layer, making it impossible to ensure insulation between the upper and lower conductor circuits via the resin insulation layer, which may cause a short circuit. is there.

【0065】上記粗化面形成用樹脂組成物は、上記熱可
塑性樹脂および上記熱硬化性樹脂以外に、硬化剤、その
他の成分等を含有していることが望ましい。上記硬化剤
としては、例えば、イミダゾール系硬化剤、アミン系硬
化剤、グアニジン系硬化剤、これらの硬化剤のエポキシ
アダクトやこれらの硬化剤をマイクロカプセル化したも
の、トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスフォ
ニウム・テトラフェニルボレート等の有機ホスフィン系
化合物等が挙げられる。
The resin composition for forming a roughened surface preferably contains a curing agent, other components, and the like, in addition to the thermoplastic resin and the thermosetting resin. Examples of the curing agent include imidazole-based curing agents, amine-based curing agents, guanidine-based curing agents, epoxy adducts of these curing agents and those obtained by microencapsulating these curing agents, triphenylphosphine, and tetraphenylphosphonate. Organic phosphine-based compounds such as ammonium tetraphenylborate.

【0066】上記硬化剤の含有量は、粗化面形成用樹脂
組成物に対して、0.05〜10重量%であることが望
ましい。0.05重量%未満では、樹脂絶縁層を形成す
る際に、樹脂複合体が充分に硬化せず、酸や酸化剤を用
いて樹脂絶縁層表面に粗化面を形成し、酸等が樹脂フィ
ルムに侵入する度合いが大きくなり、樹脂絶縁層の絶縁
性が損なわれることがある。一方、10重量%を超える
と過剰な硬化剤成分が樹脂の組成を変成させることがあ
り、信頼性の低下を招いてしまうことがある。
The content of the curing agent is desirably 0.05 to 10% by weight based on the resin composition for forming a roughened surface. If the content is less than 0.05% by weight, when forming the resin insulating layer, the resin composite is not sufficiently cured, and a roughened surface is formed on the surface of the resin insulating layer by using an acid or an oxidizing agent, and the acid or the like is removed. The degree of penetration into the film increases, and the insulation of the resin insulating layer may be impaired. On the other hand, if it exceeds 10% by weight, an excessive curing agent component may modify the composition of the resin, which may cause a decrease in reliability.

【0067】上記その他の成分としては、例えば、粗化
面の形成に影響しない無機化合物や樹脂等のフィラーが
挙げられる。上記無機化合物としては、例えば、シリ
カ、アルミナ、ドロマイト等が挙げられ、上記樹脂とし
ては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアクリル樹脂、ポ
リアミドイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、メラニン樹
脂、オレフィン系樹脂等が挙げられる。これらのフィラ
ーを含有させることにより、熱膨張係数の整合や耐熱
性、耐薬品性の向上等を図り、多層プリント配線板の性
能をより向上させることができる。
Examples of the other components include fillers such as inorganic compounds and resins which do not affect the formation of the roughened surface. Examples of the inorganic compound include silica, alumina, and dolomite. Examples of the resin include a polyimide resin, a polyacryl resin, a polyamideimide resin, a polyphenylene resin, a melanin resin, and an olefin resin. By incorporating these fillers, the thermal expansion coefficient can be matched, heat resistance, chemical resistance can be improved, and the performance of the multilayer printed wiring board can be further improved.

【0068】また、上記粗化面形成用樹脂組成物は、溶
剤を含有していてもよい。上記溶剤としては、例えば、
アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等の
ケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテ
ートやトルエン、キシレン等の芳香族炭化水素等が挙げ
られる。これらは、単独で用いてもよいし、2種以上併
用してもよい。
Further, the resin composition for forming a roughened surface may contain a solvent. As the solvent, for example,
Examples include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, aromatic hydrocarbons such as cellosolve acetate, toluene and xylene. These may be used alone or in combination of two or more.

【0069】上述した樹脂複合体を用いて樹脂絶縁層を
形成することにより、この樹脂絶縁層に容易に粗化面を
形成することができ、また、この粗化面が形成された樹
脂絶縁層の上に、上記組成の電解めっき液を用いてめっ
き層を形成した際、このめっき層には余り大きな応力が
発生せず、該応力が緩和されているため、樹脂絶縁層に
クラックや剥離が発生することがない。特に、フィール
ドビア周縁部において好適な効果が得られる。
By forming a resin insulating layer using the above-described resin composite, a roughened surface can be easily formed on the resin insulating layer, and the resin insulating layer on which the roughened surface is formed can be formed. When a plating layer is formed using an electrolytic plating solution having the above composition, excessively large stress does not occur in this plating layer, and since the stress is reduced, cracks and peeling occur in the resin insulating layer. Does not occur. Particularly, a favorable effect can be obtained in the peripheral portion of the field via.

【0070】(6) 次に、露光および現像処理、もしく
は、レーザ処理を行うことによりバイアホール用開口部
を有する樹脂絶縁層を形成する。バイアホール用開口部
の形成は、樹脂複合体の樹脂マトリックスが熱硬化性樹
脂、ポリオレフィン系樹脂、シクロオレフィン系樹脂等
の場合は、レーザ光や酸素プラズマ等を用いて行い、感
光性樹脂である場合には、露光現像処理にて行うかまた
はレーザ処理により行う。上記露光現像処理は、未硬化
の感光性樹脂層を硬化する前に行う。また、上記レーザ
処理は、熱硬化や光硬化の前後を問わず行うことができ
る。また、露光現像処理は、バイアホール用開口部形成
のための円パターンが描画されたフォトマスク(ガラス
基板がよい)を、円パターン側を感光性の樹脂絶縁層の
上に密着させて載置した後、露光し、現像処理液に浸漬
するか、現像処理液をスプレーすることにより行う。充
分な凹凸形状の粗化面を有する導体回路上に形成された
未硬化の樹脂層を硬化させることにより、導体回路との
密着性に優れた樹脂絶縁層を形成することができる。
(6) Next, a resin insulating layer having a via hole opening is formed by performing exposure and development processing or laser processing. In the case where the resin matrix of the resin composite is a thermosetting resin, a polyolefin-based resin, a cycloolefin-based resin, or the like, the opening for the via hole is formed using a laser beam, oxygen plasma, or the like, and is a photosensitive resin. In this case, it is performed by exposure and development processing or laser processing. The exposure and development treatment is performed before the uncured photosensitive resin layer is cured. The laser treatment can be performed before or after thermal curing or light curing. In the exposure and development process, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming an opening for a via hole is drawn is placed with the circular pattern side in close contact with the photosensitive resin insulating layer. After that, exposure is performed, and immersion in a developing solution or spraying of the developing solution is performed. By curing an uncured resin layer formed on a conductor circuit having a roughened surface with a sufficient unevenness, a resin insulating layer having excellent adhesion to the conductor circuit can be formed.

【0071】上記レーザ光を用いて、バイアホール用開
口部を設ける場合、使用するレーザ光としては、例え
ば、炭酸ガス(CO2 )レーザ、紫外線レーザ、エキシ
マレーザ、YAGレーザ等が挙げられる。これらのなか
では、エキシマレーザや短パルスの炭酸ガスレーザが好
ましい。
When a via hole opening is provided by using the above laser light, examples of the laser light used include a carbon dioxide (CO 2 ) laser, an ultraviolet laser, an excimer laser, and a YAG laser. Of these, excimer lasers and short-pulse carbon dioxide lasers are preferred.

【0072】エキシマレーザは、後述するように、バイ
アホール用開口部を形成する部分に貫通光が形成された
マスク等を用いることにより、一度に多数のバイアホー
ル用開口部を形成することができ、また、短パルスの炭
酸ガスレーザは、開口部内の樹脂残りが少なく、開口部
周縁の樹脂に対するダメージが小さいからである。
As will be described later, the excimer laser can form a large number of via hole openings at once by using a mask or the like in which penetrating light is formed in a portion where the via hole opening is formed. In addition, the short-pulse carbon dioxide gas laser has a small amount of resin remaining in the opening, and causes little damage to the resin around the opening.

【0073】また、エキシマレーザのなかでも、ホログ
ラム方式のエキシマレーザを用いることが望ましい。ホ
ログラム方式とは、レーザ光をホログラム、集光レン
ズ、レーザマスク、転写レンズ等を介して目的物に照射
する方式であり、この方式を用いることにより、一度の
照射で多数の開口部を効率的に形成することができる。
It is desirable to use a hologram type excimer laser among the excimer lasers. The hologram method is a method of irradiating a target object with a laser beam through a hologram, a condensing lens, a laser mask, a transfer lens, and the like. By using this method, a large number of openings can be efficiently irradiated with a single irradiation. Can be formed.

【0074】また、炭酸ガスレーザを用いる場合、その
パルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口部を形成するためのレーザを照射する時
間は、10〜500μ秒であることが望ましい。
When a carbon dioxide laser is used, the pulse interval is desirably 10 -4 to 10 -8 seconds. The time for irradiating a laser beam for forming the opening is preferably 10 to 500 μsec.

【0075】エキシマレーザを用いる場合、バイアホー
ル用開孔を形成する部分に貫通孔が形成されたマスクの
貫通孔は、レーザ光のスポット形状を真円にするため
に、真円である必要があり、上記貫通孔の径は、0.1
〜2mm程度が望ましい。
When an excimer laser is used, the through hole of the mask in which the through hole is formed in the portion where the opening for the via hole is formed needs to be a perfect circle in order to make the spot shape of the laser beam a perfect circle. The diameter of the through hole is 0.1
About 2 mm is desirable.

【0076】レーザ光にて開口部を形成した場合、特に
炭酸ガスレーザを用いた場合には、デスミア処理を行う
ことが望ましい。上記デスミア処理は、クロム酸、過マ
ンガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使用して行うこ
とができる。また、酸素プラズマ、CF4 と酸素の混合
プラズマやコロナ放電等で処理してもよい。また、低圧
水銀ランプを用いて紫外線を照射することにより、表面
改質することもできる。
When the opening is formed by a laser beam, particularly when a carbon dioxide gas laser is used, desmearing is preferably performed. The desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. Alternatively, the treatment may be performed using oxygen plasma, a mixed plasma of CF 4 and oxygen, corona discharge, or the like. The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp.

【0077】(7) 次に、必要に応じてバイアホール用開
口部を設けた樹脂絶縁層の表面を粗化する。上記粗化
は、例えば、樹脂絶縁層の材料として粗化面形成用樹脂
組成物を用いた場合、樹脂絶縁層の表面に存在する可溶
性樹脂粒子を酸または酸化剤で溶解除去することにより
行う。
(7) Next, if necessary, the surface of the resin insulating layer provided with the via hole opening is roughened. For example, when a resin composition for forming a roughened surface is used as a material for the resin insulating layer, the roughening is performed by dissolving and removing soluble resin particles present on the surface of the resin insulating layer with an acid or an oxidizing agent.

【0078】酸処理等により形成する粗化面の高さは、
Rmax=0.01〜20μmが望ましい。導体回路と
の密着性を確保するためである。特にセミアディティブ
法では、0.1〜5μmが望ましい。密着性を確保しつ
つ、金属層を除去することができるからである。
The height of the roughened surface formed by acid treatment or the like is as follows:
Rmax = 0.01 to 20 μm is desirable. This is for ensuring adhesion to the conductor circuit. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to 5 μm is desirable. This is because the metal layer can be removed while ensuring adhesion.

【0079】上記酸処理を行う際には、リン酸、塩酸、
硫酸、または、蟻酸や酢酸などの有機酸を用いることが
でき、特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化形成処理
した場合に、バイアホールから露出する金属導体層を腐
食させにくいからである。上記酸化処理は、クロム酸、
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用いるこ
とが望ましい。
When performing the above acid treatment, phosphoric acid, hydrochloric acid,
Sulfuric acid or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because, when the roughening process is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. The oxidation treatment is performed using chromic acid,
It is desirable to use permanganate (such as potassium permanganate).

【0080】(8) 次に、樹脂絶縁層およびバイアホール
用開口部の表面にCu、Ni、P、Pd、CoおよびW
からなる群より選択される少なく一種からなる薄付けの
金属層を形成する。この金属層の厚さは、0.1〜5μ
mが望ましく、0.5〜2μmがより望ましい。上記金
属層は、スパッタリング、めっき、もしくは、スパッタ
リングおよびめっきを行うことにより形成することが望
ましい。
(8) Next, Cu, Ni, P, Pd, Co and W are formed on the surfaces of the resin insulating layer and the opening for the via hole.
Forming a thin metal layer of at least one kind selected from the group consisting of The thickness of this metal layer is 0.1-5 μm.
m is desirable, and 0.5 to 2 μm is more desirable. The metal layer is preferably formed by performing sputtering, plating, or sputtering and plating.

【0081】(9) ついで、上記組成の電解めっき液を用
いて、(8) で形成した金属層上に電解めっき膜を形成す
る。これは、上記電解めっき液に上記金属層を形成した
基板を浸漬することにより行う。また、上記電解めっき
液に含有されるレベリング剤としては、ポリエチレン、
その誘導体、ゼラチンおよびその誘導体からなる群より
選択される少なくとも1種を用いることが望ましく、ま
た、上記電解めっき液に含有される光沢剤としては、酸
化物硫黄、その関連化合物、硫化水素、その関連化合物
およびその他の硫黄化合物からなる群から選択される少
なくとも1種を用いることが望ましい。電解めっきとし
ては、電解銅めっきが望ましく、その厚さは、バイアホ
ール以外の導体回路部分では、3〜25μmが望まし
い。厚さが3μm未満では、同一層におけるバイアホー
ルの上面と導体回路上面とが略同一平面にならなかった
り、エッチング時に導体回路の断線が発生することがあ
り、25μmを超えるとエッチングにより、電解めっき
層や金属層が完全に除去されない場合がある。より望ま
しくは、5〜15μmである。また、形成されたバイア
ホールの底面から上面までの距離が、上記導体回路部分
の厚さの2〜7倍であることが望ましい。上記電解めっ
きの方法としては特に限定されないが、上述したよう
に、直流電解めっき法を用いることが望ましい。
(9) Next, an electrolytic plating film is formed on the metal layer formed in (8) using the electrolytic plating solution having the above composition. This is performed by immersing the substrate on which the metal layer is formed in the electrolytic plating solution. Further, as the leveling agent contained in the electrolytic plating solution, polyethylene,
It is desirable to use at least one selected from the group consisting of derivatives thereof, gelatin and derivatives thereof, and as the brightener contained in the electrolytic plating solution, sulfur oxide, its related compounds, hydrogen sulfide, It is desirable to use at least one selected from the group consisting of related compounds and other sulfur compounds. As the electrolytic plating, electrolytic copper plating is desirable, and its thickness is desirably 3 to 25 μm in the conductor circuit portion other than the via hole. If the thickness is less than 3 μm, the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer may not be substantially flush with each other, or the conductor circuit may be disconnected at the time of etching. Layers and metal layers may not be completely removed. More preferably, it is 5 to 15 μm. It is desirable that the distance from the bottom surface to the top surface of the formed via hole is 2 to 7 times the thickness of the conductor circuit portion. The electrolytic plating method is not particularly limited, but as described above, it is desirable to use the direct current electrolytic plating method.

【0082】(10)さらに、この電解めっき膜上にエッチ
ングレジストを形成した後、エッチングを行うことによ
り導体回路を形成する。上記エッチングレジストとして
は、市販の感光性ドライフィルムや液状レジストを使用
することができる。そして、感光性ドライフィルムを貼
り付けたり、液状レジストを塗布した後、紫外線露光処
理を行い、アルカリ水溶液で現像処理する。
(10) After forming an etching resist on the electrolytic plating film, etching is performed to form a conductor circuit. As the etching resist, a commercially available photosensitive dry film or liquid resist can be used. Then, after applying a photosensitive dry film or applying a liquid resist, an ultraviolet exposure process is performed, and a developing process is performed with an alkaline aqueous solution.

【0083】(11)ついで、非導体回路形成部の金属層お
よび電解めっき層をエッチングすることにより除去した
後、エッチングレジストを強アルカリ水溶液で剥離する
ことにより、上層導体回路およびバイアホールを独立パ
ターンとする。上記エッチングは、硫酸/過酸化水素水
溶液、塩化第二鉄、塩化第二銅、過硫酸アンモニウムな
どの過硫酸塩の水溶液等をエッチング液として用いた化
学エッチング、イオンビームエッチング等による物理エ
ッチング等が使用される。なお、非導体回路部分に露出
したパラジウム触媒核は、クロム酸、硫酸、過酸化水素
等により溶解除去する。
(11) Then, after removing the metal layer and the electrolytic plating layer of the non-conductor circuit forming portion by etching, the etching resist is peeled off with a strong alkaline aqueous solution, so that the upper layer conductor circuit and the via hole are separated by an independent pattern. And The etching is performed by chemical etching using an aqueous solution of persulfate such as sulfuric acid / hydrogen peroxide aqueous solution, ferric chloride, cupric chloride, and ammonium persulfate as an etching solution, physical etching by ion beam etching, or the like. Is done. The palladium catalyst nuclei exposed on the non-conductor circuit portion are dissolved and removed with chromic acid, sulfuric acid, hydrogen peroxide or the like.

【0084】(12)必要により、(3) 〜(11)の工程を繰り
返し、最上層の導体回路に上記(3) の工程と同様の条件
で無電解めっきやエッチング等を施し、最上層の導体回
路上に粗化層または粗化面を形成する。
(12) If necessary, the steps (3) to (11) are repeated, and the uppermost conductive circuit is subjected to electroless plating, etching or the like under the same conditions as in the above step (3). A roughened layer or a roughened surface is formed on the conductor circuit.

【0085】次に、最上層の導体回路を含む基板面にソ
ルダーレジスト層を形成する。上記ソルダーレジスト層
としては、例えば、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリ
オレフィン樹脂、フッ素樹脂、熱可塑性エラストマー、
ソルダーレジスト樹脂組成物等からなるものが挙げられ
る。上記ソルダーレジスト層は、未硬化の樹脂(樹脂組
成物)をロールコータ法等により塗布し、上述した開口
処理、硬化処理等を行うことにより形成する。
Next, a solder resist layer is formed on the substrate surface including the uppermost conductive circuit. As the solder resist layer, for example, polyphenylene ether resin, polyolefin resin, fluororesin, thermoplastic elastomer,
Examples include those made of a solder resist resin composition and the like. The solder resist layer is formed by applying an uncured resin (resin composition) by a roll coater method or the like, and performing the above-described opening treatment, curing treatment, and the like.

【0086】上記ソルダーレジスト樹脂組成物として
は、例えば、ノボラック型エポキシ樹脂の(メタ)アク
リレート、イミダゾール硬化剤、2官能性(メタ)アク
リル酸エステルモノマー、分子量500〜5000程度
の(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビスフェノー
ル型エステル樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多価アクリ
ル系モノマー等の感光性モノマー、グリコールエーテル
系溶剤等を含むペースト状の流動体等が挙げられ、その
粘度は25℃で1〜10Pa・sに調整されていること
が望ましい。
Examples of the solder resist resin composition include (meth) acrylate of novolak type epoxy resin, imidazole curing agent, difunctional (meth) acrylate monomer, and (meth) acrylic acid having a molecular weight of about 500 to 5,000. Examples include ester polymers, thermosetting resins composed of bisphenol-type ester resins, etc., photosensitive monomers such as polyvalent acrylic monomers, paste-like fluids containing glycol ether solvents and the like, and the viscosity thereof is 25 ° C. Is preferably adjusted to 1 to 10 Pa · s.

【0087】上記ノボラック型エポキシ樹脂の(メタ)
アクリレートとしては、例えば、フェノールノボラック
やクレゾールノボラックのグリシジルエーテルをアクリ
ル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキシ樹脂等が挙
げられる。また、上記2官能性(メタ)アクリル酸エス
テルモノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジ
オール類やアクリル酸やメタクリル酸のエステル等が挙
げられる。
(Meth) of the above novolak type epoxy resin
Examples of the acrylate include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid, or the like. The bifunctional (meth) acrylate monomer is not particularly limited, and examples thereof include various diols and esters of acrylic acid and methacrylic acid.

【0088】そしてこの後、上記ソルダーレジスト層の
開口部分に半田バンプを形成することによりプリント配
線板の製造を終了する。なお、製品認識文字などを形成
するための文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質の
ために、酸素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時行
ってもよい。
Thereafter, solder bumps are formed in the openings of the solder resist layer to complete the manufacture of the printed wiring board. In addition, a plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing process for forming a product recognition character or the like or for modifying a solder resist layer.

【0089】上記構成の多層プリント配線板は、別の製
造方法(セミアディティブ法)によっても製造すること
ができる。この別の多層プリント配線板の製造方法は、
少なくとも下記の工程(a)〜(e)、即ち、(a)露
光および現像処理、もしくは、レーザ処理を行うことに
よりバイアホール用開口部を有する樹脂絶縁層を形成す
る工程、(b)樹脂絶縁層およびバイアホール用開口部
の表面に、Cu、Ni、P、Pd、CoおよびWからな
る群より選択される少なくとも1種からなる金属層を形
成する工程、(c)上記金属層上にめっきレジストを形
成する工程、(d)上記多層プリント配線板の製造方法
で使用した電解めっき液を用いて、上記めっきレジスト
非形成部に電解めっき膜を形成する工程、(e)上記め
っきレジストを剥離した後、上記めっきレジストの下に
存在する金属層をエッチングすることにより導体回路を
形成する工程、を含む。
The multilayer printed wiring board having the above structure can be manufactured by another manufacturing method (semi-additive method). The method of manufacturing this other multilayer printed wiring board is as follows.
At least the following steps (a) to (e): (a) a step of forming a resin insulating layer having an opening for a via hole by performing exposure and development processing or laser processing; and (b) resin insulation. Forming a metal layer made of at least one selected from the group consisting of Cu, Ni, P, Pd, Co, and W on the surface of the layer and the opening for via hole; (c) plating on the metal layer A step of forming a resist, (d) a step of forming an electrolytic plating film on the plating resist non-formed portion using the electrolytic plating solution used in the method of manufacturing a multilayer printed wiring board, and (e) peeling of the plating resist. Forming a conductive circuit by etching the metal layer under the plating resist.

【0090】この多層プリント配線板の他の製造方法
は、上記(c)、(d)および(e)の工程が、上述し
た本発明の多層プリント配線板の製造方法と異なるのみ
であり、上記上記(c)、(d)および(e)以外の工
程は、上述した本発明の製造方法と同様の方法を用いて
行うことができる。従って、ここでは、(c)、(d)
および(e)の工程について、主に説明することにす
る。
The other method of manufacturing the multilayer printed wiring board is the same as that of the above-described method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention except that the steps (c), (d) and (e) are different. Steps other than the above (c), (d), and (e) can be performed using the same method as the above-described manufacturing method of the present invention. Therefore, here, (c), (d)
The steps (e) and (e) will be mainly described.

【0091】(1) まず、上記本発明の製造方法の(1) 〜
(8) の工程と同様にして、上記絶縁層およびバイアホー
ル用開口部に薄付けの金属層を形成する。 (2) 次に、上記金属層上にめっきレジストを形成する。
上記めっきレジストとしては、市販の感光性ドライフィ
ルムや液状レジストを使用することができる。
(1) First, (1) to (5) of the production method of the present invention described above.
In the same manner as in the step (8), a thin metal layer is formed on the insulating layer and the via hole opening. (2) Next, a plating resist is formed on the metal layer.
As the plating resist, a commercially available photosensitive dry film or liquid resist can be used.

【0092】また、上記めっきレジストは、感光性ドラ
イフィルムを貼り付けたり、液状レジストを塗布した
後、紫外線露光処理を行い、アルカリ水溶液で現像処理
することにより形成することができる。
The plating resist can be formed by attaching a photosensitive dry film or applying a liquid resist, and then performing an ultraviolet exposure treatment and developing with an aqueous alkali solution.

【0093】(3) ついで、上記多層プリント配線板の製
造方法で使用した電解めっき液を用いて、(2) で形成し
ためっきレジスト非形成部に電解めっき膜を形成する。
これは、上記電解めっき液に上記金属層およびめっきレ
ジストを形成した基板を浸漬することにより行う。ま
た、上記電解めっき液に含有されるレベリング剤として
は、ポリエチレン、その誘導体、ゼラチンおよびその誘
導体からなる群より選択される少なくとも1種を用いる
ことが望ましく、また、上記電解めっき液に含有される
光沢剤としては、酸化物硫黄、その関連化合物、硫化水
素、その関連化合物およびその他の硫黄化合物からなる
群から選択される少なくとも1種を用いることが望まし
い。電解めっきとしては、電解銅めっきが望ましく、そ
の厚さは、バイアホール以外の導体回路部分では、3〜
25μmが望ましい。厚さが3μm未満では、同一層に
おけるバイアホールの上面と導体回路上面とが略同一平
面にならないことがあり、25μmを超える厚さの導体
回路を形成しようとすると、めっきレジストの厚さが厚
くなり、めっきレジスト非形成部に電解めっき液が入り
こみにくくなることがある。より望ましくは、5〜15
μmである。また、形成されたバイアホールの底面から
上面までの距離が、上記導体回路部分の厚さの2〜7倍
であることが望ましい。上記電解めっきの方法としては
特に限定されないが、上述したように、直流電解めっき
法を用いることが望ましい。
(3) Next, an electrolytic plating film is formed on the plating resist non-formed portion formed in (2) using the electrolytic plating solution used in the above-mentioned method for manufacturing a multilayer printed wiring board.
This is performed by immersing the substrate on which the metal layer and the plating resist are formed in the electrolytic plating solution. As the leveling agent contained in the electrolytic plating solution, it is desirable to use at least one selected from the group consisting of polyethylene, derivatives thereof, gelatin and derivatives thereof, and the leveling agent is contained in the electrolytic plating solution. As the brightener, it is preferable to use at least one selected from the group consisting of sulfur oxides, its related compounds, hydrogen sulfide, its related compounds, and other sulfur compounds. As the electrolytic plating, electrolytic copper plating is desirable, and the thickness thereof is 3 to 3 in the conductor circuit portion other than the via hole.
25 μm is desirable. If the thickness is less than 3 μm, the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer may not be substantially flush with each other. If a conductor circuit having a thickness exceeding 25 μm is to be formed, the thickness of the plating resist is increased. This may make it difficult for the electrolytic plating solution to enter into the plating resist non-formed portion. More preferably, 5 to 15
μm. It is desirable that the distance from the bottom surface to the top surface of the formed via hole is 2 to 7 times the thickness of the conductor circuit portion. The electrolytic plating method is not particularly limited, but as described above, it is desirable to use the direct current electrolytic plating method.

【0094】(4) ついで、上記めっきレジストを強アル
カリ水溶液等で剥離した後、その下に存在する金属層を
エッチングすることにより、上層導体回路およびバイア
ホールを独立パターンとする。上記エッチングは、硫酸
/過酸化水素水溶液、塩化第二鉄、塩化第二銅、過硫酸
アンモニウムなどの過硫酸塩の水溶液等をエッチング液
として用いた化学エッチング、イオンビームエッチング
等による物理エッチング等が使用される。なお、非導体
回路部分に露出したパラジウム触媒核は、クロム酸、硫
酸、過酸化水素等により溶解除去する。
(4) Next, after the plating resist is stripped with a strong alkaline aqueous solution or the like, the underlying metal layer is etched to form the upper conductor circuit and the via hole as independent patterns. The etching is performed by chemical etching using an aqueous solution of persulfate such as sulfuric acid / hydrogen peroxide aqueous solution, ferric chloride, cupric chloride, and ammonium persulfate as an etching solution, physical etching by ion beam etching, or the like. Is done. The palladium catalyst nuclei exposed on the non-conductor circuit portion are dissolved and removed with chromic acid, sulfuric acid, hydrogen peroxide or the like.

【0095】(5) さらに、必要により、上記本発明の製
造方法と同様、導体回路表面に粗化層を形成する工程か
ら、導体回路を形成する工程(上記(4) の工程)までを
繰り返し、その後、最上層の導体回路上に粗化層または
粗化面を形成する。次に、上記本発明の製造方法と同様
にして、ソルダーレジスト層を形成し、このソルダーレ
ジスト層の開口部分に半田バンプを形成することにより
プリント配線板の製造を終了する。
(5) If necessary, similar to the manufacturing method of the present invention, the steps from the step of forming the roughened layer on the surface of the conductor circuit to the step of forming the conductor circuit (the step (4)) are repeated. Thereafter, a roughened layer or a roughened surface is formed on the uppermost conductive circuit. Next, a solder resist layer is formed in the same manner as in the manufacturing method of the present invention, and solder bumps are formed in the openings of the solder resist layer, thereby completing the manufacture of the printed wiring board.

【0096】図1は、上記方法により製造された多層プ
リント配線板の一断面を示す断面図であるが、このよう
な多層プリント配線板の製造方法によれば、図1に示す
ようにバイアホール用開口部が金属で完全に充填され、
同一層におけるバイアホール7の上面と導体回路4、5
の上面とが略同一平面にあるプリント配線板を製造する
ことができ、さらには、スタックビア構造を有するプリ
ント配線板を製造することができる。なお、上記スタッ
クビア構造とは、バイアホール7の直上に、上層のバイ
アホール7が設けられた構造のことである。
FIG. 1 is a sectional view showing one section of a multilayer printed wiring board manufactured by the above method. According to such a method of manufacturing a multilayer printed wiring board, as shown in FIG. Opening is completely filled with metal,
The upper surface of the via hole 7 and the conductor circuits 4 and 5 in the same layer
Can be manufactured, and a printed wiring board having a stacked via structure can be manufactured. The stacked via structure is a structure in which an upper via hole 7 is provided immediately above the via hole 7.

【0097】また、上記方法により、バイアホールに、
金属が充填され、同一層における上記バイアホールの上
面と上記導体回路の上面とが略同一平面にあり、かつ、
上記バイアホールの底面から上面までの距離が上記導体
回路の厚さの2〜7倍となる多層プリント配線板を製造
することができる。
Further, according to the above method,
Filled with metal, the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer are substantially in the same plane, and
A multilayer printed wiring board in which the distance from the bottom surface to the top surface of the via hole is 2 to 7 times the thickness of the conductor circuit can be manufactured.

【0098】このような多層プリント配線板では、バイ
アホール用開口部に金属が完全に充填され、同一層にお
ける上記バイアホールの上面と上記導体回路の上面とが
略同一平面にあるため、バイアホールを含む導体回路と
樹脂絶縁層との間で剥離やクラックが発生したり、該導
体回路の上層の導体回路が断線したりすることがない。
また、上記多層プリント配線板は、プリント配線板の高
速化およびファイン化を達成するために配線距離を短縮
したスタックビア構造をとることもできる。
In such a multilayer printed wiring board, the via hole opening is completely filled with metal, and the upper surface of the via hole and the upper surface of the conductor circuit in the same layer are substantially flush with each other. No peeling or cracking occurs between the conductor circuit including the conductive circuit and the resin insulating layer, and the conductor circuit in the upper layer of the conductor circuit does not break.
In addition, the multilayer printed wiring board may have a stacked via structure in which the wiring distance is shortened in order to achieve higher speed and finer printed wiring boards.

【0099】上記多層プリント配線板においては、バイ
アホールの底面から上面までの距離が、導体回路の厚さ
の2〜7倍であることが望ましい。バイアホールの底面
から上面までの距離が、導体回路の厚さの7倍を超える
ものは、バイアホール用開口部を金属で完全に充填しに
くいため、同一層におけるバイアホールの上面と導体回
路の上面とが略同一平面にならないことがあり、スタッ
クビア構造を形成しにくい。一方、バイアホール用開口
部の深さが浅いほどフィールドビア構造を形成し易い
が、バイアホールの底面から上面までの距離が、導体回
路の厚さの2倍未満のものは、バイアホールの上面が導
体回路の上面より高くなったり、エッチングを行った場
合に、導体回路で断線が発生することがある。
In the multilayer printed wiring board, the distance from the bottom surface to the top surface of the via hole is preferably 2 to 7 times the thickness of the conductor circuit. If the distance from the bottom surface to the top surface of the via hole exceeds 7 times the thickness of the conductor circuit, it is difficult to completely fill the opening for the via hole with metal. The upper surface may not be substantially flush with the upper surface, making it difficult to form a stacked via structure. On the other hand, the shallower the depth of the via hole is, the easier the field via structure is formed. However, if the distance from the bottom surface to the top surface of the via hole is less than twice the thickness of the conductor circuit, May be higher than the upper surface of the conductor circuit or if etching is performed, disconnection may occur in the conductor circuit.

【0100】上記多層プリント配線板の樹脂絶縁層は、
1GHzにおける誘電率が3.0以下であることが望ま
しい。誘電率が3.0以下の樹脂絶縁層を用いることに
より、1GHz以上の高周波帯域で使用した際にも電子
信号に関する遅延やエラーを防止することができる。上
記樹脂絶縁層に用いる樹脂としては、本発明の多層プリ
ント配線板の製造方法で用いる樹脂と同様の樹脂が挙げ
られる。
The resin insulation layer of the multilayer printed wiring board is
It is desirable that the dielectric constant at 1 GHz be 3.0 or less. By using a resin insulating layer having a dielectric constant of 3.0 or less, it is possible to prevent delays and errors relating to electronic signals even when used in a high frequency band of 1 GHz or more. Examples of the resin used for the resin insulating layer include the same resins as those used in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【0101】[0101]

【実施例】以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説
明する。 (実施例1) A.樹脂複合体の調製(上層用接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)3.1
5重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5
重量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重
量部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物
を調製した。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples. Example 1 A. Preparation of Resin Composite (Adhesive for Upper Layer) (i) A 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 35 parts by weight of resin solution, photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 3.1
5 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) 0.5
Parts by weight and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0102】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマー
ポール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部およ
び平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器
にとり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添
加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製
した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle diameter of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle diameter of 0.5 μm were placed in another container, After stirring and mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0103】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
・スペシャリティ・ケミカルズ社製、イルガキュアー
I−907)2重量部、光増感剤(日本化薬社製、DE
TX−S)0.2重量部およびNMP1.5重量部をさ
らに別の容器にとり、攪拌混合することにより混合組成
物を調製した。そして、(i) 、(ii)および(iii) で調製
した混合組成物を混合することにより樹脂複合体を得
た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals) and a photopolymerization initiator (Irgacure, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
I-907) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DE
TX-S) 0.2 part by weight and 1.5 parts by weight of NMP were further placed in another container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, a resin composite was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0104】B.樹脂複合体の調製(下層用接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of resin composite (adhesive for lower layer) (i) A 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 35 parts by weight of a resin solution, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Toagosei Co., Aronix M315), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 3.6 parts of N-methylpyrrolidone (NMP). A part by weight was placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0105】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、
ポリマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.4
9重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにN
MP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別
の混合組成物を調製した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight and epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries,
14.4 having an average particle size of 0.5 μm
9 parts by weight were placed in another container and mixed with stirring.
30 parts by weight of MP was added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0106】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
・スペシャリティ・ケミカルズ社製、イルガキュアー
I−907)2重量部、光増感剤(日本化薬社製、DE
TX−S)0.2重量部およびNMP1.5重量部をさ
らに別の容器にとり、攪拌混合することにより混合組成
物を調製した。そして、(i) 、(ii)および(iii) で調製
した混合組成物を混合することにより樹脂複合体を得
た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), a photopolymerization initiator (Irgacure, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
I-907) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DE
TX-S) 0.2 part by weight and 1.5 parts by weight of NMP were further placed in another container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, a resin composite was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0107】C.樹脂充填材の調製 (i) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドマテックス社製、CRS 11
01−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノ
プコ社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にと
り、攪拌混合することにより、その粘度が23±1℃で
40〜50Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬
化剤として、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E
4MZ−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of resin filler (i) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U),
SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less (manufactured by Admatechs, CRS 11)
01-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco) are placed in a container and mixed by stirring to obtain a resin filler having a viscosity of 23 ± 1 ° C. and 40 to 50 Pa · s. Prepared. As a curing agent, an imidazole curing agent (2E, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
4MZ-CN) 6.5 parts by weight.

【0108】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に1
8μmの銅箔8がラミネートされている銅貼積層板を出
発材料とした(図2(a)参照)。まず、この銅貼積層
板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導
体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1 mm thick glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin
A copper-clad laminate on which an 8 μm copper foil 8 was laminated was used as a starting material (see FIG. 2A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0109】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図2(b)参照)。
(2) Through hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), NaBH
4 A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reducing bath, and roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 2 (b)). .

【0110】(3) 上記Cに記載した樹脂充填材を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内にスルホー
ル9内、および、基板1の片面の導体回路非成形部と導
体回路4の外縁部とに樹脂充填材10の層を形成した。
すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール内に樹
脂充填材を押しこんだ後、100℃、20分の条件で乾
燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分が開
口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて、凹
部となっている導体回路非形成部に樹脂充填材10の層
を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図2
(c)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in the above C, within 24 hours after the preparation by the following method, the inside of the through hole 9 and the conductor circuit non-molded portion on one side of the substrate 1 and the conductor circuit 4 A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge.
That is, first, the resin filler was pressed into the through holes using a squeegee, and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductive circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 10 is formed in the concave conductive circuit non-forming portion using a squeegee, It was dried at 100 ° C. for 20 minutes (FIG. 2).
(C)).

【0111】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、導体回路外縁部に形成さ
れた樹脂充填材10の層や導体回路非形成部に形成され
た樹脂充填材10の層の上部を研磨し、ついで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行った。このような一連の研磨を基板の他方の面につい
ても同様に行った。なお、必要に応じて、研摩の前後に
エッチングを行い、スルーホール9のランド9aおよび
下層導体回路4に形成された粗化面4aを平坦化しても
よい。この後、100℃で1時間、150℃で1時間の
加熱処理を行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
(4) One side of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to fill the resin formed on the outer edge of the conductor circuit. The upper portion of the layer of the material 10 and the layer of the resin filler 10 formed on the portion where the conductive circuit was not formed were polished, and then buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. If necessary, the lands 9a of the through holes 9 and the roughened surface 4a formed in the lower conductor circuit 4 may be planarized by etching before and after polishing. Thereafter, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to completely cure the resin filler layer.

【0112】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図2(d)参照)。すなわち、この工程により、樹脂
充填剤の表面と内層銅パターンとの表面が同一平面とな
る。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was firmly adhered through the roughened surface to obtain an insulating substrate (see FIG. 2D). That is, by this step, the surface of the resin filler and the surface of the inner layer copper pattern are flush with each other.

【0113】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけた後、搬送ロールで送ることで下
層導体回路4の表面とスルーホール9のランド表面と内
壁とをエッチングすることにより、下層導体回路4の全
表面に厚さ3μmの粗化面4a、9aを形成した(図3
(a)参照)。エッチング液として、イミダゾール銅
(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カ
リウム5重量部からなるエッチング液(メック社製、メ
ックエッチボンド)を使用した。
(5) The substrate is rinsed with water, acid degreased, and then soft-etched. Then, an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, and then sent by a transport roll to form a through hole with the surface of the lower conductive circuit 4. By etching the land surface and the inner wall of the hole 9, roughened surfaces 4 a and 9 a having a thickness of 3 μm were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 (FIG. 3).
(A)). Imidazole copper as etchant
(II) An etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec) consisting of 10 parts by weight of a complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0114】(6) 基板の両面に、上記Bにおいて記載し
た下層用の樹脂複合体(粘度:1.5Pa・s)を調製
後24時間以内にロールコータを用いて塗布し、水平状
態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プ
リベーク)を行った。次いで、上記Aにおいて記載した
上層用の樹脂複合体(粘度:7Pa・s)を調製後24
時間以内にロールコータを用いて塗布し、同様に水平状
態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プ
リベーク)を行い、厚さ35μmの樹脂複合体の層2
a、2bを形成した(図3(b)参照)。
(6) The resin composite for the lower layer (viscosity: 1.5 Pa · s) described in B above was applied to both surfaces of the substrate by using a roll coater within 24 hours after preparation, and was applied in a horizontal state. After leaving it for 60 minutes, drying (prebaking) was performed at 60 ° C. for 30 minutes. Then, after preparing the upper layer resin composite (viscosity: 7 Pa · s) described in A above,
The coating was performed using a roll coater within a period of time, and similarly left standing for 20 minutes in a horizontal state, followed by drying (prebaking) at 60 ° C. for 30 minutes to obtain a resin composite layer 2 having a thickness of 35 μm.
a and 2b were formed (see FIG. 3B).

【0115】(7) 上記(6) で樹脂複合体の層を形成した
基板の両面に、直径85μmの黒円が印刷されたフォト
マスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯により500
mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶液でスプレ
ー現像した。この後、さらに、この基板を超高圧水銀灯
により3000mJ/cm2 強度で露光し、100℃で
1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の加熱処
理を施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に
優れた直径85μmのバイアホール用開口部6を有する
厚さ35μmの樹脂絶縁層2を形成した(図3(c)参
照)。なお、バイアホールとなる開口部には、下層導体
回路4の粗化面を露出させた。
(7) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the resin composite layer has been formed in the above (6), and 500 μm is applied by an ultra-high pressure mercury lamp.
After exposure at an intensity of mJ / cm 2 , it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate is further exposed to an ultrahigh pressure mercury lamp at 3000 mJ / cm 2 intensity, and subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours, and corresponds to a photomask film. A resin insulating layer 2 having a thickness of 35 μm and a via hole opening 6 having a diameter of 85 μm and excellent in dimensional accuracy was formed (see FIG. 3C). The roughened surface of the lower conductor circuit 4 was exposed at the opening serving as the via hole.

【0116】(8) バイアホール用開口部6を形成した基
板を、クロム酸水溶液(7500g/l)に19分間浸
漬し、樹脂絶縁層の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を
溶解除去してその表面を粗化し、粗化面を得た。その
後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いを
した(図3(d)参照)。さらに、粗面化処理した該基
板の表面に、パラジウム触媒(アトテック社製)を付与
することにより、絶縁材層の表面およびバイアホール用
開口部の内壁面に触媒核を付着させた。
(8) The substrate on which the via hole opening 6 was formed was immersed in a chromic acid aqueous solution (7500 g / l) for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the resin insulating layer. Was roughened to obtain a roughened surface. Then, it was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 3D). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the insulating material layer and the inner wall surface of the via hole opening.

【0117】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜1.
2μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図4(a)
参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 CuSO4 ・5H2 O 10g/l HCHO 8g/l NaOH 8g/l ロッシェル塩 45g/l 添加剤 30ml/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温度で25分
(9) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and the thickness of the substrate was reduced to 0.6 to 1.
An electroless copper plating film 12 of 2 μm was formed (FIG. 4A)
reference). [Electroless plating solution] CuSO 4 · 5H 2 O 10g / l HCHO 8g / l NaOH 8g / l Rochelle salt 45 g / l additive 30 ml / l [Electroless plating condition] 25 minutes at a liquid temperature of 35 ° C.

【0118】(10)ついで、無電解銅めっき膜上の全面に
以下の条件で電解めっきを施し、厚さ7.5μmの電解
めっき膜13を形成した(図4(b)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 CuSO4 ・5H2 O 210g/l 硫酸 150g/l Cl- 40mg/l ポリエチレングリコール 300mg/l ビスジスルフィド 100mg/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1.0A/dm2 時間 35 分 温度 25 ℃
(10) Next, electrolytic plating was performed on the entire surface of the electroless copper plating film under the following conditions to form an electrolytic plating film 13 having a thickness of 7.5 μm (see FIG. 4B). [Electrolytic plating solution] CuSO 4 · 5H 2 O 210g / l sulfuric acid 150g / l Cl - 40mg / l polyethylene glycol 300 mg / l bis disulphide 100 mg / l [electrolytic plating conditions] current density 1.0A / dm 2 hours 35 minutes Temperature 25 ° C

【0119】(11)市販の感光性ドライフィルムを電解銅
めっき膜13に貼り付け、マスクを載置して、100m
J/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液で
現像処理することにより、厚さ15μmのエッチングレ
ジスト3を設けた(図4(c)参照)。
(11) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electrolytic copper plating film 13, a mask is placed thereon, and the
Exposure was performed at J / cm 2 , and development was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide an etching resist 3 having a thickness of 15 μm (see FIG. 4C).

【0120】(12)さらに、硫酸−過酸化水素水溶液を用
いたスプレーエッチングにより導体回路以外の部分をエ
ッチングした。続いて、50℃の40g/lNaOH水
溶液中でレジストフィルムを剥離除去した。その後、基
板に150℃で1時間熱処理を施し、金属層と電解銅め
っき膜とからなる厚さ15μmの導体回路とフィールド
ビアとを形成した(図4(d)参照)。
(12) Further, portions other than the conductor circuits were etched by spray etching using a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution. Subsequently, the resist film was peeled and removed in a 40 g / l NaOH aqueous solution at 50 ° C. Thereafter, the substrate was subjected to a heat treatment at 150 ° C. for 1 hour to form a 15 μm-thick conductor circuit including the metal layer and the electrolytic copper plating film and a field via (see FIG. 4D).

【0121】(13)導体回路を形成した基板に対し、上記
(5) と同様の処理を行い、フィールドビアを含む導体回
路の表面に粗化面を形成した(図5(a)参照)。 (14)続いて、上記 (6)〜(13)の工程を、繰り返すことに
より、さらに上層の導体回路を形成し、8層の多層プリ
ント配線板を得た。なお、図中では、構造を理解しやす
いように6層のものを示している(図5(b)〜図6
(c)参照)。
(13) With respect to the substrate on which the conductor circuit is formed,
By performing the same process as in (5), a roughened surface was formed on the surface of the conductor circuit including the field via (see FIG. 5A). (14) Subsequently, the above steps (6) to (13) were repeated to form an upper-layer conductive circuit, thereby obtaining an eight-layer multilayer printed wiring board. In the figures, six layers are shown for easy understanding of the structure (FIGS. 5B to 6).
(C)).

【0122】(15)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.
6重量部、感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じく
多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DPE
6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、
商品名:S−65)0.71重量部を容器にとり、攪拌
混合することにより混合組成物を調製し、この混合組成
物に対して光重合開始剤としてのベンゾフェノン(関東
化学社製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケ
トン(関東化学社製)0.2重量部を加えて、粘度を2
5℃で2.0Pa・sに調製したソルダーレジスト樹脂
組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計
器社製、DVL−B型)で60min-1(60rpm)
の場合はローターNo.4、6min-1(6rpm)の
場合はローターNo.3によった。
(15) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) so as to have a concentration of 60% by weight was used. 46.67 parts by weight of an oligomer for imparting properties (molecular weight: 4000), 15 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) dissolved in methyl ethyl ketone, and 15 parts by weight of an imidazole curing agent ( (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN)
6 parts by weight, 3 parts by weight of polyvalent acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and polyvalent acrylic monomer (trade name: DPE, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
6A) 1.5 parts by weight, dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco Co., Ltd.)
1. Trade name: S-65) 0.71 part by weight is placed in a container, and a mixed composition is prepared by stirring and mixing. 0 parts by weight and 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer were added to adjust the viscosity
A solder resist resin composition adjusted to 2.0 Pa · s at 5 ° C. was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) for 60 min -1 (60 rpm).
In the case of the rotor No. In the case of 4, 6 min -1 (6 rpm), the rotor No. According to 3.

【0123】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記(1
5)に記載したソルダーレジスト樹脂組成物を調製した
後、これを20μmの厚さで塗布し、70℃で20分
間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行った後、ソ
ルダーレジスト開口部のパターンが描画された厚さ5m
mのフォトマスクをソルダーレジスト層に密着させて1
000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG溶液で
現像処理し、200μmの直径の開口を形成した。そし
て、さらに、80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱
処理を行ってソルダーレジスト層を硬化させ、開口径2
00μmの半田パッド部分(バイアホールとそのランド
部分とを含む)が開口した、その厚さが20μmのソル
ダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)14を形成した。
(16) Next, the above (1) is placed on both sides of the multilayer wiring board.
After preparing the solder resist resin composition described in 5), this was applied in a thickness of 20 μm, and dried at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes. 5m thickness on which pattern is drawn
m photomask in close contact with the solder resist layer
The resultant was exposed to ultraviolet light of 000 mJ / cm 2 and developed with a DMTG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, 12
Heat treatment is performed at 0 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours, respectively, to cure the solder resist layer.
A solder resist layer (organic resin insulating layer) 14 having a thickness of 20 μm was formed in which a 00 μm solder pad portion (including a via hole and its land portion) was opened.

【0124】(17)次に、ソルダーレジスト層(有機樹脂
絶縁層)14を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3
×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8
×10 -1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×
10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケ
ルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmの
ニッケルめっき層15を形成した。さらに、その基板を
シアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩
化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン
酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン
酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電
解めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッ
ケルめっき層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層
16を形成した。
(17) Next, a solder resist layer (organic resin
The substrate on which the insulating layer (14) is formed is coated with nickel chloride (2.3).
× 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8
× 10 -1mol / l), sodium citrate (1.6 ×
10-1mol / l) and pH = 4.5
Immersion in a plating solution for 20 minutes, and a 5 μm thick
A nickel plating layer 15 was formed. In addition, the board
Potassium gold cyanide (7.6 × 10-3mol / l), salt
Ammonium iodide (1.9 × 10-1mol / l), quenched
Sodium acid (1.2 × 10-1mol / l), phosphorus hypophosphite
Sodium acid (1.7 × 10-1mol / l)
Immerse in a plating solution at 80 ° C for 7.5 minutes,
0.03 μm thick gold plating layer on the Kell plating layer 15
No. 16 was formed.

【0125】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口に半田ペーストを印刷して、200℃でリフローする
ことにより半田バンプ17を形成し、半田バンプ17を
有する多層配線プリント基板を製造した(図7(a)参
照)。
(18) Thereafter, a solder paste is printed on the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form the solder bumps 17, thereby manufacturing a multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 ( FIG. 7A).

【0126】(実施例2) A.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅貼積層
板を出発材料とした(図8(a)参照)。まず、この銅
貼積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
Example 2 A. Manufacturing method of printed wiring board (1) Glass epoxy resin or BT with a thickness of 0.8 mm
A copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin was used as a starting material (see FIG. 8A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0127】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、下記のエッチ
ング液を基板の両面にスプレイで吹き付けて、下層導体
回路4とスルーホール9のランド表面および内壁をエッ
チングすることにより、スルーホール9を含む下層導体
回路4の全表面に粗化面4a、9aを形成した(図8
(b)参照)。エッチング液としては、イミダゾール銅
(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カ
リウム5重量部およびイオン交換水78重量部を混合し
たものを使用した。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which is formed is washed with water and dried, the following etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying to etch the lower layer conductor circuit 4 and the land surface and inner wall of the through hole 9, thereby including the through hole 9. Roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4.
(B)). As the etching solution, a mixture of 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride, and 78 parts by weight of ion-exchanged water was used.

【0128】(3) 次に、ポリオレフィン系樹脂を主成分
とする樹脂充填剤を、基板の両面に印刷機を用いて塗布
することにより下層導体回路4間およびスルーホール9
内に充填し、加熱乾燥をおこなった(図8(c)参
照)。すなわち、この工程により、樹脂充填剤10が下
層導体回路4間およびスルーホール9内に充填される。
(3) Next, a resin filler containing a polyolefin resin as a main component is applied to both surfaces of the substrate by using a printing machine to form a space between the lower conductor circuits 4 and through holes 9.
And heat-dried (see FIG. 8 (c)). That is, by this step, the resin filler 10 is filled between the lower conductor circuits 4 and in the through holes 9.

【0129】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、導体回路外縁部に形成さ
れた樹脂充填材10の層や導体回路非形成部に形成され
た樹脂充填材10の層の上部を研磨し、ついで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行った。このような一連の研磨を基板の他方の面につい
ても同様に行った。なお、必要に応じて、研摩の前後に
エッチングを行い、スルーホール9のランド9aおよび
下層導体回路4に形成された粗化面4aを平坦化しても
よい。この後、100℃で1時間、150℃で1時間の
加熱処理を行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
(4) One side of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to fill the resin formed on the outer edge of the conductor circuit. The upper portion of the layer of the material 10 and the layer of the resin filler 10 formed on the portion where the conductive circuit was not formed were polished, and then buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. If necessary, the lands 9a of the through holes 9 and the roughened surface 4a formed in the lower conductor circuit 4 may be planarized by etching before and after polishing. Thereafter, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to completely cure the resin filler layer.

【0130】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図8(d)参照)。
In this way, the surface layer of the resin filler 10 and the surface of the lower conductor circuit 4 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
And an insulating substrate tightly adhered through the roughened surface (see FIG. 8D).

【0131】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけた後、搬送ロールで送ることで下
層導体回路4の表面とスルーホール9のランド表面とを
エッチングすることにより、下層導体回路4の全表面に
厚さ3μmの粗化面4a、9aを形成した。エッチング
液としては、上記(2) の工程で用いたものと同様のもの
を用いた。
(5) The substrate is washed with water, acid-degreased, soft-etched, and then sprayed with an etchant on both sides of the substrate by spraying, and then sent by a transport roll to form a through hole with the surface of the lower conductive circuit 4. By etching the land surface of the hole 9, roughened surfaces 4 a and 9 a having a thickness of 3 μm were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4. The same etchant as that used in the above step (2) was used.

【0132】(6) 基板の両面に、厚さ50μmの熱硬化
型ポリオレフィン系樹脂シートを温度を50〜150℃
まで昇温しながら圧力0.5MPa(5kgf/cm
2 )で真空ラミネートし、ポリオレフィン系樹脂からな
る樹脂絶縁層を設けた。なお、真空圧着時の真空度は、
1330Pa(10mmHg)とした(図9(a)参
照)。
(6) A thermosetting polyolefin resin sheet having a thickness of 50 μm is placed on both sides of the substrate at a temperature of 50 to 150 ° C.
0.5MPa (5kgf / cm
Vacuum lamination was performed in 2 ) to provide a resin insulating layer made of a polyolefin resin. The degree of vacuum during vacuum compression
The pressure was set to 1330 Pa (10 mmHg) (see FIG. 9A).

【0133】(7) 樹脂絶縁層を設けた基板の両面に、炭
酸(CO2 )ガスレーザを用いて、ビーム径5mm、ト
ップハットモード、パルス幅50μ秒、マスクの穴径
0.5mm、3ショットの条件で直径80μmのバイア
ホール用開口部6を設けた。(図9(b)参照)。この
後、酸素プラズマを用いてデスミア処理を行った。
(7) Using a carbon dioxide (CO 2 ) gas laser, a beam diameter of 5 mm, a top hat mode, a pulse width of 50 μsec, a mask hole diameter of 0.5 mm, and three shots were formed on both sides of the substrate provided with the resin insulating layer. A via hole opening 6 having a diameter of 80 μm was provided under the following conditions. (See FIG. 9B). Thereafter, a desmear treatment was performed using oxygen plasma.

【0134】(8) バイアホール用開口部6を形成した基
板にプラズマ処理を施し、樹脂絶縁層の表層を粗化した
(図9(c)参照)。この際、不活性ガスとしてアルゴ
ンガスを使用し、電力200W、ガス圧0.6Pa、温
度70℃の条件で、日本真空技術株式会社製のSV−4
540を用い、2分間プラズマ処理を実施した。
(8) The substrate on which the via hole opening 6 was formed was subjected to plasma treatment to roughen the surface of the resin insulating layer (see FIG. 9C). At this time, SV-4 manufactured by Nippon Vacuum Engineering Co., Ltd. was used under the conditions of argon gas as an inert gas, electric power of 200 W, gas pressure of 0.6 Pa, and temperature of 70 ° C.
Using 540, plasma treatment was performed for 2 minutes.

【0135】(9) 次に、樹脂絶縁層の表層を粗化した基
板に、日本真空技術株式会社製のSV−4540を用
い、NiとCuとの合金をターゲットにしたスパッタリ
ングを、気圧0.6Pa、温度80℃、電力200W、
時間5分間の条件で行い、Ni−Cu合金層12を樹脂
絶縁層2の表面に形成した(図9(d)参照)。このと
き、形成されたNi−Cu合金層の厚さは0.2μmで
あった。さらに、基板をコンデショニングし、アルカリ
触媒中で触媒付与を5分間行った。
(9) Next, on a substrate whose surface layer of the resin insulating layer was roughened, sputtering was performed using SV-4540 manufactured by Japan Vacuum Engineering Co., Ltd. with a target of an alloy of Ni and Cu at a pressure of 0. 6Pa, temperature 80 ° C, power 200W,
This was performed under the condition of a time of 5 minutes to form the Ni—Cu alloy layer 12 on the surface of the resin insulating layer 2 (see FIG. 9D). At this time, the thickness of the formed Ni—Cu alloy layer was 0.2 μm. Further, the substrate was conditioned, and the catalyst was applied in an alkaline catalyst for 5 minutes.

【0136】(10)ついで、Ni−Cu合金層12上の全
面に以下の条件で電解めっきを施し、厚さ5μmの電解
めっき膜13を形成した(図10(a)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 CuSO4 ・5H2 O 140g/l 硫酸 120g/l Cl- 50mg/l ゼラチン 300mg/l スルホン酸アミド 100mg/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 0.8A/dm2 時間 30 分 温度 25 ℃
(10) Next, electrolytic plating was performed on the entire surface of the Ni—Cu alloy layer 12 under the following conditions to form an electrolytic plating film 13 having a thickness of 5 μm (see FIG. 10A). [Electrolytic plating solution] CuSO 4 · 5H 2 O 140g / l sulfuric acid 120g / l Cl - 50mg / l gelatin 300 mg / l acid amide 100 mg / l [electrolytic plating conditions] current density 0.8 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature 25 ° C

【0137】(11)市販の感光性ドライフィルムを電解銅
めっき膜13に貼り付け、マスクを載置して、100m
J/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液で
現像処理することにより、厚さ20μmのエッチングレ
ジスト3を設けた(図10(b)参照)。
(11) A commercially available photosensitive dry film was stuck on the electrolytic copper plating film 13, a mask was placed thereon, and a 100 m
Exposure was performed at J / cm 2 , and development processing was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide an etching resist 3 having a thickness of 20 μm (see FIG. 10B).

【0138】(12)さらに、硫酸−過酸化水素水溶液を用
いたスプレーエッチングにより導体回路以外の部分をエ
ッチングした。続いて、50℃の40g/lNaOH水
溶液中でレジストフィルムを剥離除去した。その後、基
板に150℃で1時間熱処理を施し、金属層と電解銅め
っき膜とからなる厚さ15μmの導体回路5とフィール
ドビア7とを形成した。形成された導体回路の上面とフ
ィールドビアの上面との樹脂基板1からの高さの差は1
μm以下と、略同一平面にあり、また、バイアホールの
上面に凹部は形成されていなかった(図10(c)参
照)。
(12) Further, portions other than the conductor circuits were etched by spray etching using a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution. Subsequently, the resist film was peeled and removed in a 40 g / l NaOH aqueous solution at 50 ° C. Thereafter, the substrate was heat-treated at 150 ° C. for 1 hour to form a 15 μm-thick conductor circuit 5 composed of a metal layer and an electrolytic copper plating film and a field via 7. The height difference between the upper surface of the formed conductor circuit and the upper surface of the field via from the resin substrate 1 is 1
μm or less, they were on substantially the same plane, and no recess was formed on the upper surface of the via hole (see FIG. 10C).

【0139】(13)続いて、上記 (7)〜(13)の工程を、繰
り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成し、8
層の多層プリント配線板を得た。なお、図中では、構造
を理解しやすいように6層のものを示している(図11
(a)〜図13(a)参照)。なお、表層の導体回路に
も上記(2) の工程で用いたエッチング液と同様のものを
用いてエッチングを行い、粗化面を形成した。
(13) Subsequently, the above steps (7) to (13) are repeated to form a further upper layer conductive circuit, and
A multilayer printed wiring board having three layers was obtained. It should be noted that FIG. 11 shows a structure with six layers so that the structure can be easily understood.
(A) to FIG. 13 (a)). The surface conductor circuit was also etched using the same etchant used in the above step (2) to form a roughened surface.

【0140】(14)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.
6重量部、感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じく
多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DPE
6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、
商品名:S−65)0.71重量部を容器にとり、攪拌
混合することにより混合組成物を調製し、この混合組成
物に対して光重合開始剤としてのベンゾフェノン(関東
化学社製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケ
トン(関東化学社製)0.2重量部を加えて、粘度を2
5℃で2.0Pa・sに調製したソルダーレジスト樹脂
組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計
器社製、DVL−B型)で60min-1(60rpm)
の場合はローターNo.4、6min-1(6rpm)の
場合はローターNo.3によった。
(14) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight was used. 46.67 parts by weight of an oligomer for imparting properties (molecular weight: 4000), 15 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) dissolved in methyl ethyl ketone, and 15 parts by weight of an imidazole curing agent ( (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN)
6 parts by weight, 3 parts by weight of polyvalent acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and polyvalent acrylic monomer (trade name: DPE, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
6A) 1.5 parts by weight, dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco Co., Ltd.)
1. Trade name: S-65) 0.71 part by weight is placed in a container, and a mixed composition is prepared by stirring and mixing. 0 parts by weight and 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer were added to adjust the viscosity
A solder resist resin composition adjusted to 2.0 Pa · s at 5 ° C. was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) for 60 min -1 (60 rpm).
In the case of the rotor No. In the case of 4, 6 min -1 (6 rpm), the rotor No. According to 3.

【0141】(15)次に、多層配線基板の両面に、上記(1
5)に記載したソルダーレジスト樹脂組成物を調製した
後、これを20μmの厚さで塗布し、70℃で20分
間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行った後、ソ
ルダーレジスト開口部のパターンが描画された厚さ5m
mのフォトマスクをソルダーレジスト層に密着させて1
000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG溶液で
現像処理し、200μmの直径の開口を形成した。
(15) Next, the above (1) is placed on both sides of the multilayer wiring board.
After preparing the solder resist resin composition described in 5), this was applied in a thickness of 20 μm, and dried at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes. 5m thickness on which pattern is drawn
m photomask in close contact with the solder resist layer
The resultant was exposed to ultraviolet light of 000 mJ / cm 2 and developed with a DMTG solution to form an opening having a diameter of 200 μm.

【0142】そして、さらに、80℃で1時間、100
℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条
件でそれぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬
化させ、開口径200μmの半田パッド部分(バイアホ
ールとそのランド部分とを含む)が開口した、その厚さ
が20μmのソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)1
4を形成した。
Further, at 80 ° C. for 1 hour, 100
The solder resist layer is cured by performing a heat treatment under the conditions of 1 hour at 120 ° C., 1 hour at 120 ° C., and 3 hours at 150 ° C., and a solder pad portion having an opening diameter of 200 μm (including a via hole and its land portion). , A solder resist layer (organic resin insulation layer) 1 having a thickness of 20 μm
4 was formed.

【0143】(16)次に、ソルダーレジスト層(有機樹脂
絶縁層)14を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3
×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8
×10 -1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×
10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケ
ルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmの
ニッケルめっき層15を形成した。さらに、その基板を
シアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩
化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン
酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン
酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電
解めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッ
ケルめっき層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層
16を形成した。
(16) Next, a solder resist layer (organic resin
The substrate on which the insulating layer (14) is formed is coated with nickel chloride (2.3).
× 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8
× 10 -1mol / l), sodium citrate (1.6 ×
10-1mol / l) and pH = 4.5
Immersion in a plating solution for 20 minutes, and a 5 μm thick
A nickel plating layer 15 was formed. In addition, the board
Potassium gold cyanide (7.6 × 10-3mol / l), salt
Ammonium iodide (1.9 × 10-1mol / l), quenched
Sodium acid (1.2 × 10-1mol / l), phosphorus hypophosphite
Sodium acid (1.7 × 10-1mol / l)
Immerse in a plating solution at 80 ° C for 7.5 minutes,
0.03 μm thick gold plating layer on the Kell plating layer 15
No. 16 was formed.

【0144】(17)この後、ソルダーレジスト層14の開
口に半田ペーストを印刷して、200℃でリフローする
ことにより半田バンプ17を形成し、半田バンプ17を
有する多層配線プリント基板を製造した(図13(b)
参照)。
(17) Thereafter, a solder paste is printed on the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form the solder bumps 17, thereby manufacturing a multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 ( FIG. 13 (b)
reference).

【0145】(実施例3) A.樹脂複合体からなるフィルムの作製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量46
9、油化シェルエポキシ社製 エピコート1001)3
0重量部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポ
キシ当量215、大日本インキ化学工業社製 エピクロ
ンN−673)40重量部、トリアジン構造含有フェノ
ールノボラック樹脂(フェノール性水酸基当量120、
大日本インキ化学工業社製 フェノライトKA−705
2)30重量部をエチルジグリコールアセテート20重
量部、ソルベントナフサ20重量部に攪拌しながら加熱
溶解させ、そこへ末端エポキシ化ポリブタジエンゴム
(ナガセ化成工業社製 デナレックスR−45EPT)
15重量部と2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシ
メチル)イミダゾール粉砕品1.5重量部、微粉砕シリ
カ2重量部、シリコン系消泡剤0.5重量部を添加し樹
脂複合体の溶液を得た。得られた樹脂複合体の溶液を厚
さ38μmのPETフィルム上に乾燥後の厚さが50μ
mとなるようにロールコーターを用いて塗布した後、8
0〜120℃で10分間乾燥させることにより、樹脂複
合体のフィルムを作製した。
Example 3 A. Preparation of film composed of resin composite Bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 46
9. Yuka Shell Epoxy Epicoat 1001) 3
0 parts by weight, 40 parts by weight of a cresol novolac type epoxy resin (epoxy equivalent: 215, Epicron N-673 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.), a triazine structure-containing phenol novolak resin (phenolic hydroxyl group equivalent: 120,
FENOLITE KA-705 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.
2) 30 parts by weight were dissolved by heating in 20 parts by weight of ethyl diglycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha while stirring, and epoxidized polybutadiene rubber (Denalex R-45EPT manufactured by Nagase Kasei Kogyo Co., Ltd.) was added thereto.
15 parts by weight, 1.5 parts by weight of a pulverized product of 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole, 2 parts by weight of finely divided silica, and 0.5 part by weight of a silicon-based antifoaming agent were added to the resin composite. A solution was obtained. The solution of the obtained resin composite was dried on a PET film having a thickness of 38 μm to a thickness of 50 μm.
m using a roll coater, and then 8
By drying at 0 to 120 ° C. for 10 minutes, a resin composite film was produced.

【0146】B.プリント配線板の製造方法 (1) 実施例2の(1) 〜(4) の工程と同様にして、スルー
ホール9および導体回路非形成部に樹脂充填剤10の層
が形成された基板を作製し、その後、実施例2の(5) の
工程と同様にして下層導体回路4の表面とスルーホール
9のランド表面と内壁とをエッチングすることにより、
下層導体回路4の表面全体に厚さ3μmの粗化面4a、
9aを形成した(図8(a)〜図9(a)参照)。
B. Method for Manufacturing Printed Wiring Board (1) In the same manner as in the steps (1) to (4) of Example 2, a substrate having a layer of the resin filler 10 formed in the through holes 9 and the portions where the conductor circuit is not formed is prepared. Then, by etching the surface of the lower conductor circuit 4, the land surface of the through hole 9, and the inner wall in the same manner as in the step (5) of the second embodiment,
A roughened surface 4a having a thickness of 3 μm on the entire surface of the lower conductor circuit 4;
9a was formed (see FIGS. 8A to 9A).

【0147】(2) 上記基板の両面に、上記Aにおいて記
載した樹脂複合体フィルムを、以下の方法により真空ラ
ミネータ装置を用いて張り付けることにより樹脂複合体
フィルム層を形成し、その後、熱硬化させて樹脂絶縁層
2とした(図9(a)参照)。即ち、上記樹脂複合体フ
ィルムの張り付けは、真空度75Pa、圧力0.4MP
a、温度80℃、圧着時間60秒の条件で行い、上記熱
硬化は、100℃で30分、150℃で1時間の条件で
行った。
(2) The resin composite film described in A above was attached to both sides of the substrate by using a vacuum laminator according to the following method to form a resin composite film layer, and then thermosetting. Thus, a resin insulating layer 2 was formed (see FIG. 9A). That is, the resin composite film was attached at a degree of vacuum of 75 Pa and a pressure of 0.4 MP.
a, the temperature was 80 ° C., and the pressing time was 60 seconds. The thermosetting was performed at 100 ° C. for 30 minutes and at 150 ° C. for 1 hour.

【0148】(3) 次に、樹脂絶縁層2上に、貫通孔が形
成されたマスクを介して、波長10.4μmのCO2
スレーザにて、ビーム径4.0mm、トップハットモー
ド、パルス幅8.0μ秒、マスクの貫通孔の径1.0m
m、2ショットの条件で樹脂絶縁層2に、直径60μm
のバイアホール用開口部6を形成した(図9(b)参
照)。この後、酸素プラズマを用いてデスミア処理を行
った。なお、バイアホール用開口部6には、下層導体回
路4の粗化面を露出させた。
(3) Next, using a CO 2 gas laser having a wavelength of 10.4 μm, a beam diameter of 4.0 mm, a top hat mode, and a pulse width were formed on the resin insulating layer 2 through a mask in which a through hole was formed. 8.0 μsec, diameter of mask through hole 1.0 m
m, a diameter of 60 μm was applied to the resin insulation layer 2 under the condition of 2 shots.
The via hole opening 6 was formed (see FIG. 9B). Thereafter, a desmear treatment was performed using oxygen plasma. The roughened surface of the lower conductor circuit 4 was exposed in the via hole opening 6.

【0149】(4) バイアホール用開口部6を形成した基
板を、クロム酸水溶液(7500g/l)に19分間浸
漬し、樹脂絶縁層の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を
溶解除去してその表面を粗化し、粗化面を得た。その
後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いを
した(図9(c)参照)。さらに、粗面化処理した該基
板の表面に、パラジウム触媒(アトテック社製)を付与
することにより、絶縁材層の表面およびバイアホール用
開口部6の内壁面に触媒核を付着させた。
(4) The substrate having the via hole opening 6 formed thereon was immersed in a chromic acid aqueous solution (7500 g / l) for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the resin insulating layer. Was roughened to obtain a roughened surface. Then, it was immersed in a neutralization solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 9C). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the insulating material layer and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0150】(5) この後、実施例2と同様に(9) 〜(17)
の工程を行い(図9(d)〜図13(b)参照))、表
層に半田バンプを有する多層プリント配線板を製造し
た。
(5) Thereafter, as in Example 2, (9) to (17)
(See FIGS. 9D to 13B) to manufacture a multilayer printed wiring board having solder bumps on the surface layer.

【0151】(実施例4)樹脂複合体からなるフィルム
として、エポキシ樹脂(熱硬化性樹脂)とフェノキシ樹
脂(熱可塑性樹脂)の樹脂複合体によって形成されたも
のを用いた以外は、実施例3とほぼ同様にして多層プリ
ント配線板を製造した。
Example 4 Example 3 was repeated except that a resin composite film formed of a resin composite of an epoxy resin (thermosetting resin) and a phenoxy resin (thermoplastic resin) was used. A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as described above.

【0152】(実施例5)電解めっき液の添加剤とし
て、ゼラチン400mg/l、ビスジスルフィド150
ml/lを用いた以外は、実施例1とほぼ同様にして多
層プリント配線板を製造した。
(Example 5) As an additive of an electrolytic plating solution, gelatin 400 mg / l, bisdisulfide 150
A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 1 except that ml / l was used.

【0153】(実施例6)電解めっき液の添加剤とし
て、ゼラチン400mg/l、ビスジスルフィド150
ml/lを用いた以外は、実施例2とほぼ同様にして多
層プリント配線板を製造した。
(Example 6) Gelatin 400 mg / l, bis-disulfide 150
A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 2 except that ml / l was used.

【0154】(実施例7)電解めっき液の添加剤とし
て、ゼラチン400mg/l、ビスジスルフィド150
ml/lを用いた以外は、実施例3とほぼ同様にして多
層プリント配線板を製造した。
(Example 7) As additives for the electrolytic plating solution, gelatin 400 mg / l, bisdisulfide 150
A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 3 except that ml / l was used.

【0155】(実施例8)電解めっき液の添加剤とし
て、ポリエチレングリコール400mg/l、スルホン
酸アミド150ml/lを用いた以外は、実施例1とほ
ぼ同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 8 A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 1, except that 400 mg / l of polyethylene glycol and 150 ml / l of sulfonamide were used as additives for the electrolytic plating solution.

【0156】(実施例9)電解めっき液の添加剤とし
て、ポリエチレングリコール400mg/l、スルホン
酸アミド150ml/lを用いた以外は、実施例2とほ
ぼ同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 9 A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 2, except that 400 mg / l of polyethylene glycol and 150 ml / l of sulfonamide were used as additives for the electrolytic plating solution.

【0157】(実施例10)電解めっき液の添加剤とし
て、ポリエチレングリコール400mg/l、スルホン
酸アミド150ml/lを用いた以外は、実施例3とほ
ぼ同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 10 A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 3, except that 400 mg / l of polyethylene glycol and 150 ml / l of sulfonamide were used as additives for the electrolytic plating solution.

【0158】(実施例11)電解めっき液の添加剤とし
て、ゼラチン400mg/l、ビスジスルフィド150
ml/lを用いた以外は、実施例4とほぼ同様にして多
層プリント配線板を製造した。
(Example 11) As additives for the electroplating solution, gelatin 400 mg / l, bisdisulfide 150
A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 4 except that ml / l was used.

【0159】(実施例12)電解めっき液の添加剤とし
て、ポリエチレングリコール400mg/l、スルホン
酸アミド150ml/lを用いた以外は、実施例4とほ
ぼ同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 12 A multilayer printed wiring board was manufactured in substantially the same manner as in Example 4, except that 400 mg / l of polyethylene glycol and 150 ml / l of sulfonic amide were used as additives for the electrolytic plating solution.

【0160】(比較例1)A.樹脂複合体の調製(上層
用接着剤)、樹脂複合体の調製(下層用接着剤)、およ
び、樹脂充填材の調製は実施例1と同様に行った。
(Comparative Example 1) Preparation of the resin composite (upper layer adhesive), preparation of the resin composite (lower layer adhesive), and preparation of the resin filler were performed in the same manner as in Example 1.

【0161】B.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板を用い
た以外は、実施例1の(1) 〜(6) と同様にして厚さ35
μmの樹脂複合体の層を形成した(図2(a)〜図3
(b)参照)。
B. Manufacturing method of printed wiring board (1) 0.6 mm thick glass epoxy resin or BT
Except that a substrate made of (bismaleimide triazine) resin was used, a thickness of 35% was obtained in the same manner as (1) to (6) of Example 1.
A layer of a resin composite having a thickness of μm was formed (FIGS.
(B)).

【0162】(2) 次に、樹脂複合体の層を形成した基板
の両面に、直径90μmの黒円が印刷されたフォトマス
クフィルムを密着させた以外は、実施例1の(7) と同様
にして、直径90μmのバイアホール用開口部を有する
厚さ35μmの樹脂絶縁層を形成した(図3(c)参
照)。なお、バイアホールとなる開口部には、下層導体
回路の粗化面を露出させた。
(2) Next, the same as (7) of Example 1 except that a photomask film on which a black circle having a diameter of 90 μm was printed was adhered to both surfaces of the substrate on which the resin composite layer was formed. Thus, a 35-μm-thick resin insulating layer having a 90 μm-diameter via hole opening was formed (see FIG. 3C). The roughened surface of the lower conductor circuit was exposed in the opening serving as the via hole.

【0163】(3) さらに、バイアホール用開口部を形成
した基板をコンデイショニングし、アルカリ触媒中で触
媒付与を5分間行った後、基板を活性化し、以下の組成
の無電解銅めっき水溶液中に基板を浸漬して、粗面全体
に厚さ1.1μmの無電解銅めっき膜を形成した。 〔無電解めっき水溶液〕 CuSO4 ・5H2 O 10g/l HCHO 8g/l NaOH 8g/l ロッシェル塩 45g/l 添加剤 30ml/l 〔無電解めっき条件〕 34℃の液温度で25分
(3) Further, after conditioning the substrate on which the opening for the via hole was formed and applying the catalyst in an alkali catalyst for 5 minutes, the substrate was activated to obtain an aqueous electroless copper plating solution having the following composition. The substrate was immersed therein to form an electroless copper plating film having a thickness of 1.1 μm on the entire rough surface. [Aqueous solution of electroless plating] CuSO 4 .5H 2 O 10 g / l HCHO 8 g / l NaOH 8 g / l Rochelle salt 45 g / l Additive 30 ml / l [Electroless plating condition] 25 minutes at a liquid temperature of 34 ° C.

【0164】(4) ついで、無電解銅めっき膜上の全面に
以下の条件で電解めっきを施し、厚さ11μmの電解め
っき膜13を形成した。 〔電解めっき水溶液〕 CuSO4 ・5H2 O 80g/l 硫酸 180g/l Cl- 40mg/l 添加剤 0.5ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1.0A/dm2 時間 50 分 温度 27 ℃
(4) Next, electrolytic plating was performed on the entire surface of the electroless copper plating film under the following conditions to form an electrolytic plating film 13 having a thickness of 11 μm. [Electrolytic plating solution] CuSO 4 · 5H 2 O 80g / l sulfuric acid 180g / l Cl - 40mg / l additive 0.5 ml / l [electrolytic plating conditions] current density 1.0A / dm 2 hours and 50 minutes temperature 27 ° C.

【0165】(5) 市販の感光性ドライフィルムを電解銅
めっき膜に貼り付け、マスクを載置して、100mJ/
cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液で現像
処理することにより、厚さ20μm、L/S=20/1
0μmのめっきレジストを設けた。
(5) A commercially available photosensitive dry film was stuck on the electrolytic copper plating film, a mask was placed, and 100 mJ /
exposed with cm 2, by developing with 0.8% aqueous sodium carbonate, thickness 20μm, L / S = 20/ 1
A plating resist of 0 μm was provided.

【0166】(6) さらに、硫酸−過酸化水素水溶液を用
いたスプレーエッチングにより導体回路以外の部分をエ
ッチングした。続いて、50℃の40g/lNaOH水
溶液中でレジストフィルムをを剥離除去した。その後、
基板に150℃で1時間熱処理を施し、金属層と電解銅
めっき膜とからなる導体回路とフィールドビアとを形成
した。
(6) Further, portions other than the conductor circuit were etched by spray etching using a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution. Subsequently, the resist film was peeled off and removed in a 40 g / l NaOH aqueous solution at 50 ° C. afterwards,
The substrate was heat-treated at 150 ° C. for 1 hour to form a conductor circuit including the metal layer and the electrolytic copper plating film and a field via.

【0167】(7) 導体回路を形成した基板に対し、上記
(5) と同様の処理を行い、フィールドビアを含む導体回
路の表面に厚さ2μmの粗化面をを形成した。 (8) 続いて、上記 (1)の樹脂複合体の層を形成する工程
〔実施例1の(1) 〜(7)の工程〕を、繰り返すことによ
り、さらに上層の導体回路を形成し、8層の多層プリン
ト配線板を得た。
(7) With respect to the substrate on which the conductor circuit is formed,
By performing the same treatment as in (5), a roughened surface having a thickness of 2 μm was formed on the surface of the conductor circuit including the field via. (8) Subsequently, the step of forming the resin composite layer of the above (1) [the steps (1) to (7) of Example 1) is repeated to form a further upper layer conductive circuit, An eight-layer multilayer printed wiring board was obtained.

【0168】(9) 次に、実施例1の(15)と同様にしてソ
ルダーレジスト樹脂組成物を得た。さらに、実施例1の
(16)〜(18)と同様にして、半田バンプを有する多層配線
プリント基板を製造した。
(9) Next, a solder resist resin composition was obtained in the same manner as in (15) of Example 1. Further, in Example 1,
In the same manner as in (16) to (18), a multilayer wiring printed board having solder bumps was manufactured.

【0169】実施例および比較例で得られた半田バンプ
を有する多層配線プリント基板をカッターで切断し、そ
の断面を顕微鏡で観察したところ、実施例に係る多層プ
リント配線板は、導体回路の上面とフィールドビアの上
面との樹脂基板からの高さの差は、1μm以下と略同一
平面にあり、また、バイアホールの上面に凹部は形成さ
れていなかった。一方、比較例に係る多層プリント配線
板は、バイアホール用開口部が金属で完全に充填されて
おらず、バイアホール上面に凹部が形成されていた。
The multilayer printed wiring board having the solder bumps obtained in the examples and comparative examples was cut with a cutter, and the cross section thereof was observed under a microscope. The height difference between the upper surface of the field via and the resin substrate was substantially the same as 1 μm or less, and no recess was formed on the upper surface of the via hole. On the other hand, in the multilayer printed wiring board according to the comparative example, the opening for the via hole was not completely filled with metal, and a recess was formed on the upper surface of the via hole.

【0170】また、実施例に係る多層配線プリント基板
は、スタックビア構造を有しており、導通試験等の結
果、このスタックビア構造部分でも導通はとれていた。
一方、比較例に係る多層プリント配線板では、導通試験
等の結果、スタックビア構造の部分では導通がとれてい
なかった。
Further, the multilayer wiring printed circuit board according to the example had a stacked via structure, and as a result of a conduction test and the like, conduction was also obtained in the stacked via structure.
On the other hand, in the multilayer printed wiring board according to the comparative example, as a result of the conduction test and the like, conduction was not obtained in the portion of the stacked via structure.

【0171】[0171]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明の多層
プリント配線板の製造方法によれば、バイアホール用開
口部に金属が完全に充填され、同一層におけるバイアホ
ールの上面と導体回路の上面とが略同一平面にある多層
プリント配線板を製造することができ、スタックビア構
造を有する多層プリント配線板を製造することができ
る。
As described above, according to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, the metal is completely filled in the via hole opening, and the upper surface of the via hole and the conductor circuit in the same layer are formed. A multilayer printed wiring board having an upper surface substantially on the same plane can be manufactured, and a multilayer printed wiring board having a stacked via structure can be manufactured.

【0172】このようにして得られる多層プリント配線
板は、上記構成となっているため、バイアホールを含む
導体回路と樹脂絶縁層との間で剥離やクラックが発生し
たり、該導体回路の上層の導体回路が断線したりするこ
とがなく、接続信頼性を向上させることができる。ま
た、上記多層プリント配線板は、プリント配線板の高速
化およびファイン化を達成するために配線距離を短縮し
たスタックビア構造をとることもできる。
Since the multilayer printed wiring board thus obtained has the above-described structure, peeling or cracking may occur between the conductive circuit including the via hole and the resin insulating layer, or the upper layer of the conductive circuit may be removed. The connection reliability can be improved without disconnection of the conductor circuit. In addition, the multilayer printed wiring board may have a stacked via structure in which the wiring distance is shortened in order to achieve higher speed and finer printed wiring boards.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の多層プリント配線板の製造方法で製造
した多層プリント配線板の一断面を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a cross section of a multilayer printed wiring board manufactured by a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の製造工程の一部を示す断面図である。
5 (a) to 5 (c) are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図6】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図7】(a)は、本発明の多層プリント配線板の製造
方法の製造工程の一部を示す断面図である。
FIG. 7A is a cross-sectional view showing a part of the manufacturing process of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図8】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8D are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図9】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9D are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図10】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配
線板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
FIGS. 10A to 10C are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図11】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配
線板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
11A to 11C are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図12】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配
線板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
FIGS. 12A to 12C are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図13】(a)〜(b)は、本発明の多層プリント配
線板の製造方法の別の一例を示す断面図である。
FIGS. 13A and 13B are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図14】本発明の多層プリント配線板の製造方法で製
造した多層プリント配線板のバイアホールの断面を示す
顕微鏡写真である。
FIG. 14 is a micrograph showing a cross section of a via hole of a multilayer printed wiring board manufactured by the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention.

【図15】従来の多層プリント配線板の製造方法で製造
した多層プリント配線板のバイアホールの断面を示す顕
微鏡写真である。
FIG. 15 is a micrograph showing a cross section of a via hole of a multilayer printed wiring board manufactured by a conventional method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2a、2b 樹脂複合体 2 樹脂絶縁層 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 6 バイアホール用開口部 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 11 粗化層 12 Ni−Cu合金層 13 電解めっき層 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 ハンダバンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2a, 2b Resin composite 2 Resin insulating layer 4 Lower conductor circuit 4a Roughened surface 5 Upper layer conductor circuit 6 Via hole opening 7 Via hole 8 Copper foil 9 Through hole 9a Roughened surface 10 Resin filler 11 Roughening Layer 12 Ni-Cu alloy layer 13 Electroplating layer 14 Solder resist layer 15 Nickel plating film 16 Gold plating film 17 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C25D 3/38 101 C25D 3/38 101 7/00 7/00 J H05K 3/18 H05K 3/18 G Fターム(参考) 4K023 AA19 BA06 CA01 CA03 CA08 CB14 CB15 CB17 CB32 CB40 4K024 AA09 AB01 AB15 AB17 BA09 BA14 BB11 FA07 FA08 GA01 GA02 4K044 AA16 AB02 BA06 BA08 BB02 BB03 BC05 BC09 CA13 CA15 CA18 5E343 AA07 AA15 AA17 BB24 BB67 CC67 CC73 CC78 DD33 DD43 DD76 EE02 EE33 ER16 ER18 GG08 5E346 CC04 CC08 CC09 CC14 CC32 CC55 DD03 DD12 DD25 FF03 FF05 FF07 FF15 FF22 GG22 HH07 HH25 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) C25D 3/38 101 C25D 3/38 101 7/00 7/00 J H05K 3/18 H05K 3/18 G F Terms (Reference) 4K023 AA19 BA06 CA01 CA03 CA08 CB14 CB15 CB17 CB32 CB40 4K024 AA09 AB01 AB15 AB17 BA09 BA14 BB11 FA07 FA08 GA01 GA02 4K044 AA16 AB02 BA06 BA08 BB02 BB03 BC05 BC09 CA13 CA15 CA18 5A343 AA7 DD33 DD76 EE02 EE33 ER16 ER18 GG08 5E346 CC04 CC08 CC09 CC14 CC32 CC55 DD03 DD12 DD25 FF03 FF05 FF07 FF15 FF22 GG22 HH07 HH25

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも下記の工程(a)〜(d)、
即ち(a)露光および現像処理、もしくは、レーザ処理
を行うことによりバイアホール用開口部を有する樹脂絶
縁層を形成する工程、(b)樹脂絶縁層およびバイアホ
ール用開口部の表面に、Cu、Ni、P、Pd、Coお
よびWからなる群より選択される少なくとも1種からな
る金属層を形成する工程、(c)50〜300g/lの
硫酸銅、30〜200g/lの硫酸、25〜90mg/
lの塩素イオン、および、少なくともレベリング剤と光
沢剤とからなる1〜1000mg/lの添加剤を含有す
る電解めっき液を用いて、前記金属層上に電解めっき膜
を形成する工程、(d)前記電解めっき膜上にエッチン
グレジストを形成した後、エッチングを行うことにより
導体回路を形成する工程、を含むことを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。
1. At least the following steps (a) to (d):
That is, (a) a step of forming a resin insulating layer having a via hole opening by performing exposure and development processing or laser processing; and (b) Cu, Cu on the surface of the resin insulating layer and the via hole opening. Forming at least one metal layer selected from the group consisting of Ni, P, Pd, Co and W; (c) 50-300 g / l copper sulfate, 30-200 g / l sulfuric acid, 25-25 g / l 90mg /
forming an electrolytic plating film on the metal layer using an electrolytic plating solution containing 1 to 1000 mg / l of an additive consisting of 1 chlorine ion and at least a leveling agent and a brightener, (d) Forming an etching resist on the electrolytic plating film and then performing etching to form a conductive circuit.
【請求項2】 前記(b)の工程において、金属層は、
スパッタリング、めっき、もしくは、スパッタリングお
よびめっきを行うことにより形成する請求項1に記載の
多層プリント配線板の製造方法。
2. In the step (b), the metal layer comprises:
The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the method is formed by performing sputtering, plating, or sputtering and plating.
【請求項3】 前記樹脂絶縁層は、フッ素樹脂、ポリオ
レフィン系樹脂およびポリフェニレン系樹脂からなる群
より選択される少なくとも一種からなる請求項1または
2に記載の多層プリント配線板の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the resin insulating layer is made of at least one selected from the group consisting of a fluororesin, a polyolefin resin, and a polyphenylene resin.
【請求項4】 前記樹脂絶縁層は、熱可塑性樹脂と熱硬
化性樹脂とを含む樹脂複合体からなる請求項1または2
に記載の多層プリント配線板の製造方法。
4. The resin insulating layer is made of a resin composite containing a thermoplastic resin and a thermosetting resin.
3. The method for producing a multilayer printed wiring board according to item 1.
【請求項5】 前記(c)の工程において、電解めっき
液に含有されるレベリング剤として、ポリエチレン、そ
の誘導体、ゼラチンおよびその誘導体からなる群より選
択される少なくとも1種を用いる請求項1〜4のいずれ
か1に記載の多層プリント配線板の製造方法。
5. In the step (c), at least one selected from the group consisting of polyethylene, derivatives thereof, gelatin and derivatives thereof is used as a leveling agent contained in the electrolytic plating solution. The method for producing a multilayer printed wiring board according to any one of the above.
【請求項6】 前記(c)の工程において、電解めっき
液に含有される光沢剤として、酸化物硫黄、その関連化
合物、硫化水素、その関連化合物およびその他の硫黄化
合物からなる群より選択される少なくとも1種を用いる
請求項1〜5のいずれか1に記載の多層プリント配線板
の製造方法。
6. The brightener contained in the electrolytic plating solution in the step (c) is selected from the group consisting of sulfur oxides, related compounds, hydrogen sulfide, related compounds, and other sulfur compounds. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein at least one kind is used.
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