JP2002042479A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP2002042479A
JP2002042479A JP2000222486A JP2000222486A JP2002042479A JP 2002042479 A JP2002042479 A JP 2002042479A JP 2000222486 A JP2000222486 A JP 2000222486A JP 2000222486 A JP2000222486 A JP 2000222486A JP 2002042479 A JP2002042479 A JP 2002042479A
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Akira Mizohata
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Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 外部からの電源供給が遮断されたときにメモ
リ部及び該メモリ部の動作制御を行うコントロール部、
又はコントロール部に内蔵されたメモリに対して電源の
供給を行うバックアップ機能を、コストが増大すること
なく簡単な構成で備えることができる半導体記憶装置を
得る。 【解決手段】 外部からの電源電圧VCCが低下又は遮
断された場合、内蔵する電池4からメモリ部2及びメモ
リ部2の動作制御を行うコントロール部3へ電源供給す
ると共に、ダイオード5によって電源電圧VCCが低下
した際のメモリ部2及びコントロール部3への電源電圧
の低下を防止するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ノートパソコン、
PDA、ディジタルカメラ等の携帯型情報端末に記録媒
体として使用するメモリカード等の半導体記憶装置に関
し、特に外部からの電源供給低下及び遮断時におけるデ
ータ書き込みの失敗を防止する半導体記憶装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の半導体記憶装置の構成例
を示したブロック図であり、図5では、メモリカードを
例にして示している。図5において、メモリカード10
0は、情報処理機器等で構成されたホストシステム装置
110からのコマンド、データ、制御信号等がコントロ
ール部101に入力され、コントロール部101は、ホ
ストシステム装置110からの指令にしたがってフラッ
シュメモリ等で構成されたメモリ部102の動作制御を
行う。メモリ部102にデータを書き込む際、ホストシ
ステム装置110からの書き込みデータがコントロール
部101に入力され、該入力されたデータはコントロー
ル部101内に設けられたバッファメモリ103に一時
的に格納された後、メモリ部102に書き込まれる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、メモリ部10
2へのデータ書き込みが終了していない状態で、メモリ
カード100への電源供給が遮断されると、メモリ部1
02へのデータ書き込みが正常に行うことができないと
いう問題があった。そこで、特開平8−263229号
公報では、電源供給が遮断されるとメモリチップに対し
てのみバックアップ電源を用いて電源の供給を行うよう
にした半導体記憶装置が開示されている。しかし、メモ
リチップの動作制御を行うデータ制御回路に対してはバ
ックアップ電源の供給を行わないことから、データ制御
回路のライトバッファにデータが格納されている状態、
及び該ライトバッファからメモリチップにデータが転送
されている状態で電源供給が遮断されると、データの書
き込みを失敗することになる。
【0004】また、特開平6−283998号公報で
は、EEPROMの電源端子にコンデンサを接続するこ
とによって、電源遮断時にEEPROMへの書き込み動
作が終了するまでの時間だけバックアップするようにし
た計数装置が開示されている。しかし、電源Vccの電
圧が低下するとコンデンサの充電電圧も低下するため、
バックアップ電源としての電圧が外部電源の電圧に影響
されるという問題が考えられる。
【0005】一方、特開平9−204366号公報で
は、制御回路及びフラッシュメモリに対して電源遮断時
に内蔵電池を使用して電源を供給し、ライト/イレーズ
動作を保証するバックアップ装置が開示されているが、
供給電源切替回路、供給電源監視回路、比較器及び内蔵
電池を必要とし、コストの増大が懸念される。
【0006】本発明は、上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、外部からの電源供給が遮断さ
れたときにメモリ部及び該メモリ部の動作制御を行うコ
ントロール部、又はコントロール部に内蔵されたメモリ
に対して電源の供給を行うバックアップ機能を、コスト
が増大することなく簡単な構成で備えることができる半
導体記憶装置を得ることを目的とする。
【0007】なお、特開平9−288646号公報で
は、電源電圧低下時にデータをコピーするための作業領
域を設けたデータ記録装置が開示されているが、本発明
では、通常使用しているバッファメモリに対して電源電
圧低下時にバックアップを行うようにしていることか
ら、特開平9−288646号公報とは異なるものであ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体記
憶装置は、外部から電源が供給され、情報処理機器等で
構成されたホストシステム装置からのデータの格納、及
び格納したデータのホストシステム装置への読み出しを
行う半導体記憶装置において、ホストシステム装置から
のデータを格納するメモリ部と、ホストシステム装置か
らの指令にしたがって該メモリ部の動作制御を行うコン
トロール部と、外部からの電源供給低下及び遮断時にメ
モリ部及び該コントロール部に対する電源供給を行う電
源部と、外部からの電源供給低下及び遮断時に該電源部
からの電源が外部へ供給されることを防止する外部供給
遮断部とを備えるものである。
【0009】また、この発明に係る半導体記憶装置は、
具体的には、上記外部供給遮断部が、外部から供給され
た電源をメモリ部及びコントロール部に出力するダイオ
ードで構成されるものである。
【0010】この発明に係る半導体記憶装置は、外部か
ら電源が供給され、情報処理機器等で構成されたホスト
システム装置からのデータの格納、及び格納したデータ
のホストシステム装置への読み出しを行う半導体記憶装
置において、ホストシステム装置からのデータを格納す
るメモリ部と、ホストシステム装置からの各種データを
一時的に格納する内蔵メモリを有し、ホストシステム装
置からの指令にしたがってメモリ部の動作制御を行うコ
ントロール部と、外部からの電源供給低下及び遮断時
に、該コントロール部の内蔵メモリに対する電源供給を
行う電源部とを備えるものである。
【0011】また、この発明に係る半導体記憶装置は、
具体的には、上記電源部が、電池で構成されるものであ
る。
【0012】また、この発明に係る半導体記憶装置は、
上記電源部が、2次電池で構成されるようにしてもよ
い。
【0013】また、この発明に係る半導体記憶装置は、
上記電源部が、大容量のキャパシタで構成されるように
してもよい。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、図面に示す実施の形態に基
づいて、本発明を詳細に説明する。 実施の形態1.図1は、本発明の実施の形態1における
半導体記憶装置の構成例を示した図であり、図1では、
情報処理機器等に接続されて使用されるメモリカードを
例にして示している。
【0015】図1において、メモリカード1は、フラッ
シュメモリ等で構成されたメモリ部2と、情報処理機器
等で構成されたホストシステム装置10からのコマン
ド、データ、制御信号等に応じてメモリ部2の動作制御
を行って、メモリ部2に対するデータの書き込み及び読
み出しを行うコントロール部3とを備えている。更に、
メモリカード1は、メモリ部2及びコントロール部3に
対して電源の供給を行う電池4と、外部からの電源電圧
VCCの低下に伴う電池4の電圧低下を防止するダイオ
ード5とを備えている。
【0016】また、コントロール部3には、ホストシス
テム装置10からのデータ、又はメモリ部2から読み出
されたデータが一時的に格納されるバッファメモリ6を
備えている。ダイオード5のアノードにはホストシステ
ム装置10から電源電圧VCCが印加されており、ダイ
オード5のカソードと接地GNDとの間に、メモリ部
2、コントロール部3及び電池4がそれぞれ並列に接続
されている。なお、上記のように、電源電圧VCCが、
ホストシステム装置10から供給されるようにしてもよ
いし、ホストシステム装置10以外から供給されるよう
にしてもよい。
【0017】このような構成において、図2は、図1で
示したメモリカード1に対するデータ書き込みのシーケ
ンスを示した図であり、図2を参照しながらデータ書き
込み時のメモリカード1の動作例について説明する。メ
モリ部2にデータを書き込む場合、メモリ部2の書き込
みアドレスを含む書き込みコマンドがホストシステム装
置10からコントロール部3に入力される。コントロー
ル部3は、メモリ部2のアドレスデータをバッファメモ
リ6に保持してデータ書き込みの準備が完了すると、ホ
ストシステム装置10へ所定のレディ(ready)信
号を出力する。
【0018】ホストシステム装置10は、上記レディ信
号を受けると、コントロール部3にデータ転送を行い、
コントロール部3は、転送されたデータを一旦バッファ
メモリ6に書き込む。ホストシステム装置10からのデ
ータ転送が終了すると、コントロール部3は、書き込み
完了を示す信号をホストシステム装置10に出力すると
共に、メモリ部2に書き込みを開始するためにコントロ
ール部3は、まずメモリ部2に格納されているデータの
消去を行わせる。メモリ部2は、データ消去が完了する
とコントロール部3にデータ消去が完了したことを示す
信号を出力する。
【0019】コントロール部3は、メモリ部2からデー
タ消去が完了したことを示す信号が入力されると、バッ
ファメモリ6に格納している書き込みデータをメモリ部
2に転送する。メモリ部2は、データの書き込みが完了
すると、コントロール部3に所定のデータ書き込み完了
信号を出力する。このように、ホストシステム装置10
が、コントロール部3から書き込み完了信号が入力され
た時点では、実際にはメモリ部2にデータの書き込みが
実施されていないことが分かる。このため、該時点から
メモリ部2に書き込みデータの書き込みが完了するまで
の間に、メモリカード1への電源供給が遮断されると、
メモリ部2へのデータ書き込みが行われることなくホス
トシステム装置10からの書き込みデータが失われるこ
とになる。
【0020】このようなことを防止するために、メモリ
カード1への電源供給が遮断されると、メモリ部2及び
コントロール部3は、電池4から電源供給を受けること
から、外部からの電源供給が遮断された場合において
も、メモリ部2へのデータ書き込み動作を行うことがで
き、ホストシステム装置10からの書き込みデータが失
われることなくメモリ部2に正常に書き込まれる。ま
た、電源電圧VCCが低下した場合、ダイオード5によ
ってメモリ部2及びコントロール部3に印加される電源
電圧の低下を防止することができる。
【0021】なお、電池4に2次電池を使用してもよ
く、このようにすることによって、データ書き込み時に
頻繁に電源電圧VCCが低下して発生する電池4の消耗
によって発生する、電源電圧VCC遮断時におけるメモ
リ部2へのデータ書き込みの失敗を防止することができ
る。また、電池4の代わりに大容量のキャパシタを使用
しても、2次電池を使用した場合と同様の効果を得るこ
とができる。
【0022】このように、本実施の形態1における半導
体記憶装置は、外部からの電源電圧VCCが低下又は遮
断された場合、内蔵する電池4からメモリ部2及びメモ
リ部2の動作制御を行うコントロール部3へ電源供給す
ると共に、ダイオード5によって電源電圧VCCが低下
した際のメモリ部2及びコントロール部3への電源電圧
の低下を防止するようにした。このことから、簡単で安
価な構成で、外部からの電源電圧の低下及び遮断時にお
いて、ホストシステム装置からの書き込みデータが失わ
れることなく正常にメモリ部へのデータ書き込みを行う
ことができる。
【0023】実施の形態2.上記実施の形態1では、電
源電圧VCCの低下及び遮断時に、メモリ部2及びコン
トロール部3に対して電池4とダイオード5とを用いて
電源供給を行うようにしたが、コントロール部3のバッ
ファメモリ6に対してのみ電池等で電源供給を行うよう
にしてもよく、このようにしたものを本発明の実施の形
態2とする。図3は、本発明の実施の形態2における半
導体記憶装置の構成例を示した図であり、図3において
も、情報処理機器等に接続されて使用されるメモリカー
ドを例にして示している。なお、図3では、図1と同じ
ものは同じ符号で示しており、ここではその説明を省略
すると共に図1との相違点のみ説明する。
【0024】図3における図1との相違点は、図1の電
池4の代わりに電池20をバッファメモリ6と接地GN
Dとの間に接続すると共にダイオード5をなくしたこと
にあり、これに伴って、図1のメモリカード1をメモリ
カード1aにした。このような構成において、実施の形
態1で説明したように、ホストシステム装置10から転
送されてきたデータは、バッファメモリ6に格納され
る。メモリ部2にデータの書き込みが完了していない場
合は、バッファメモリ6にデータが書き込まれた状態で
あり、このとき電源電圧VCCが遮断されるとバッファ
メモリ6には電池20によって電源電圧が印加され、バ
ッファメモリ6に格納されているデータを失うことはな
い。
【0025】また、バッファメモリ6には、メモリ部2
におけるデータ書き込み場所の情報も格納されている。
このことから、電源電圧VCCが遮断されてメモリ部2
へのデータ書き込みが失敗に終わった場合においても、
再度電源電圧VCCが印加される状態になったときに、
バッファメモリ6に格納されているデータ書き込み場所
の情報及び書き込み用データを用いてメモリ部2にデー
タ書き込みを正常に行うことができる。
【0026】なお、電池20の代わりに2次電池25を
使用してもよく、このようにした場合、図4で示すよう
に、2次電池25にダイオード26を介して電源電圧V
CCが印加されるようにする。このようにすることによ
り、電池20の消耗から電源電圧VCC遮断時にバッフ
ァメモリ6のデータが失われることを防止することがで
きる。また、電池20の代わりに大容量のキャパシタを
使用しても、2次電池を使用した場合と同様の効果を得
ることができる。
【0027】このように、本実施の形態2における半導
体記憶装置は、外部からの電源電圧VCCが低下又は遮
断された場合、内蔵する電池20からバッファメモリ6
に電源供給するようにした。このことから、簡単で安価
な構成で、外部からの電源電圧の低下及び遮断時におい
て、ホストシステム装置からの書き込みデータが失われ
ることなく正常にメモリ部へのデータ書き込みを行うこ
とができる。
【0028】なお、上記実施の形態1及び実施の形態2
では、メモリカードを例にして説明したが、本発明は、
これに限定するものではなく外部から電源供給を受けて
いる半導体記憶装置に適用するものである。
【0029】
【発明の効果】請求項1に係る半導体記憶装置は、外部
からの電源供給が低下又は遮断された場合、電源部から
メモリ部及びメモリ部の動作制御を行うコントロール部
へ電源供給すると共に、外部供給遮断部によって外部か
らの電源電圧低下時にメモリ部及びコントロール部への
電源電圧の低下を防止するようにした。このことから、
簡単で安価な構成で、外部からの電源電圧の低下及び遮
断時において、ホストシステム装置からの書き込みデー
タが失われることなく正常にメモリ部へのデータ書き込
みを行うことができる。
【0030】請求項2に係る半導体記憶装置は、請求項
1において、上記外部供給遮断部を、外部から供給され
た電源をメモリ部及びコントロール部に出力するダイオ
ードで構成するようにした。このことから、簡単で安価
な構成で、外部からの電源電圧の低下及び遮断時におい
て、電源部から供給される電源の電圧低下を防止するこ
とができる。
【0031】請求項3に係る半導体記憶装置は、外部か
らの電源供給が低下又は遮断された場合、電源部からコ
ントロール部の内蔵メモリに電源供給するようにした。
このことから、簡単で安価な構成で、外部からの電源電
圧の低下及び遮断時において、ホストシステム装置から
の書き込みデータが失われることなく正常にメモリ部へ
のデータ書き込みを行うことができる。
【0032】請求項4に係る半導体記憶装置は、請求項
1から請求項3のいずれかにおいて、具体的には、上記
電源部を電池で構成するようにした。このことから、簡
単で安価な構成で、外部からの電源電圧の低下及び遮断
時に確実に電源供給を行うことができる。
【0033】請求項5に係る半導体記憶装置は、請求項
1から請求項3のいずれかにおいて、具体的には、上記
電源部を2次電池で構成するようにした。このことか
ら、電源部を簡単な構成で実現することができ、外部か
らの電源電圧の低下及び遮断時に、より確実に電源供給
を行うことができる。
【0034】請求項6に係る半導体記憶装置は、請求項
1から請求項3のいずれかにおいて、具体的には、上記
電源部を大容量のキャパシタで構成するようにした。こ
のことから、電源部を簡単で安価に構成することがで
き、外部からの電源電圧の低下及び遮断時に、より確実
に電源供給を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1における半導体記憶装
置の構成例を示した図である。
【図2】 図1のメモリカード1に対するデータ書き込
みのシーケンスを示した図である。
【図3】 本発明の実施の形態2における半導体記憶装
置の構成例を示した図である。
【図4】 本発明の実施の形態2における半導体記憶装
置の他の構成例を示した図である。
【図5】 従来の半導体記憶装置の構成例を示した図で
ある。
【符号の説明】
1,1a メモリカード、 2 メモリ部、 3 コン
トロール部、 4,20 電池、 5 ダイオード、
6 バッファメモリ、 10 ホストシステム装置、
25 2次電池。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部から電源が供給され、情報処理機器
    等で構成されたホストシステム装置からのデータの格
    納、及び格納したデータのホストシステム装置への読み
    出しを行う半導体記憶装置において、 上記ホストシステム装置からのデータを格納するメモリ
    部と、 上記ホストシステム装置からの指令にしたがって該メモ
    リ部の動作制御を行うコントロール部と、 外部からの電源供給低下及び遮断時に、上記メモリ部及
    び該コントロール部に対する電源供給を行う電源部と、 外部からの電源供給低下及び遮断時に、該電源部からの
    電源が外部へ供給されることを防止する外部供給遮断部
    と、を備えることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 上記外部供給遮断部は、外部から供給さ
    れた電源を上記メモリ部及びコントロール部に出力する
    ダイオードで構成されることを特徴とする請求項1に記
    載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 外部から電源が供給され、情報処理機器
    等で構成されたホストシステム装置からのデータの格
    納、及び格納したデータのホストシステム装置への読み
    出しを行う半導体記憶装置において、 上記ホストシステム装置からのデータを格納するメモリ
    部と、 上記ホストシステム装置からの各種データを一時的に格
    納する内蔵メモリを有し、ホストシステム装置からの指
    令にしたがってメモリ部の動作制御を行うコントロール
    部と、 外部からの電源供給低下及び遮断時に、該コントロール
    部の内蔵メモリに対する電源供給を行う電源部と、を備
    えることを特徴とする半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 上記電源部は、電池で構成されることを
    特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の半
    導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 上記電源部は、2次電池で構成されるこ
    とを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載
    の半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】 上記電源部は、大容量キャパシタで構成
    されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれ
    かに記載の半導体記憶装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8806271B2 (en) 2008-12-09 2014-08-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Auxiliary power supply and user device including the same
US9905284B2 (en) 2016-03-09 2018-02-27 Toshiba Memory Corporation Data reading procedure based on voltage values of power supplied to memory cells

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8806271B2 (en) 2008-12-09 2014-08-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Auxiliary power supply and user device including the same
US9626259B2 (en) 2008-12-09 2017-04-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Auxiliary power supply and user device including the same
US9905284B2 (en) 2016-03-09 2018-02-27 Toshiba Memory Corporation Data reading procedure based on voltage values of power supplied to memory cells

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