JP2002026066A - 電気、電子のチップ部品構造 - Google Patents

電気、電子のチップ部品構造

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JP2002026066A
JP2002026066A JP2000200508A JP2000200508A JP2002026066A JP 2002026066 A JP2002026066 A JP 2002026066A JP 2000200508 A JP2000200508 A JP 2000200508A JP 2000200508 A JP2000200508 A JP 2000200508A JP 2002026066 A JP2002026066 A JP 2002026066A
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JP
Japan
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electrode
chip component
electric
electronic chip
circuit board
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JP2000200508A
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Hiroshi Yamada
浩士 山田
Yuichi Nagase
裕一 長瀬
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Mitsuba Corp
Original Assignee
Mitsuba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電気、電子チップ部品を回路基板に半田付け
するに当たり、堅固な半田付けができるように構成す
る。 【解決手段】 電極2の外周部に、間隙Sを存した状態
でリング状のダミー電極3を設け、電極2と回路基板4
のランド5とのあいだを、半田6がダミー電極3にまで
至るように半田付けをする構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気、電子のチッ
プ部品の電極と回路基板のランドとをバンプ半田方式に
より電気的に接続するためのチップ部品構造の技術分野
に属するものである。
【0002】
【従来技術】一般に、この種の電気、電子のチップ部品
のなかには、図5に示すように、チップ部品1に設けた
円弧状の電極(Cu電極、バンプ)8を、回路基板4に
設けられる部品搭載用のランド5に半田6を用いて接続
されるものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記従来の
ものにおいて、図5(A)に示すように、半田6が電極
8の根本部にまでよく行きわたるものとなることが好ま
しいが、なかには、図5(B)に示すように、根本部に
まで行き渡らない状態(不ヌレ状態)で半田付けされる
ものがある。そしてこのような不ヌレ状態のものはどう
しても強度的に劣り、例えば温度差のあるところで使用
された様な場合に、回路基板4とチップ部品1とのあい
だにある膨張率の相違により不ヌレ部位に剪断方向の応
力となって集中して、クラックCが発生する要因となる
ことが考えられ、ここに本発明の解決すべき課題があ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の如き実
情に鑑みこれらの課題を解決することを目的として創作
されたものであって、電気、電子のチップ部品に膨出形
成される電極と、回路基板に露出形成されるランドとを
半田付けして接続するにあたり、チップ部品には、前記
電極の外周を囲繞する状態でダミー電極が形成されてい
るものである。そして本発明は、このようにすることに
よって、回路基板とチップ部品とのあいだにクラックが
発生するようなことが回避され、堅固な半田付けができ
る。
【0005】
【発明の実施の形態】次ぎに、本発明の実施の形態につ
いて、図1〜図3の図面に基づいて説明する。図中、1
は電気、電子のチップ部品であって、該チップ部品1の
底面には円形状の電極(バンプ)2が膨出状に複数形成
され、該各電極2の外周に、間隙Sを存してリング状の
ダミーの電極3が囲繞形成されている。つまり、該ダミ
ー電極3は、チップ部品1に内装されるものとは電気的
な接続がなされていないものである。
【0006】一方、4は回路基板であって、該回路基板
4には、前記電極(以降、ダミー電極と区別するため
「本電極」と称する)2を半田付けするためのランド5
が露出形成されている。そして、このランド5に本電極
2を半田付けする場合に、半田6が前記ダミー電極3に
至るよう幅広く接合するようにして、半田6が本電極2
の根本部を覆うようになっている。
【0007】叙述の如く構成された本発明の実施の形態
において、本電極2をランド5に半田付けする場合に、
半田6は本電極2の外側に設けたダミー電極3にまで至
るように接合され、本電極2の根元部を半田6が覆うよ
うに接合されている。この結果、仮令、ダミー電極3部
位において不ヌレ状態になっても、本電極2が不ヌレ状
態になってしまうようなことはなく、この結果、強度的
に優れた半田付け状態にできて、クラックが生じてしま
うようなことを防止できる。
【0008】因みに、本発明を実施するにあたり、ダミ
ー電極としては本電極の外周にあって、本電極が不ヌレ
状態になることを防止するもので有ればよく、この結
果、前記実施の形態のもののように連続したリング形状
のものである必要はなく、図4に示す他の実施の形態の
ダミー電極7のように適宜切欠き7aを設けたものでも
よく、この様にすることで、ダミー電極7と本電極2と
のあいだに空気が溜まってボイドができてしまうことを
防止できるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】チップ部品の回路基板への取付け状態を説明す
る斜視図である。
【図2】要部の正面断面図である。
【図3】チップ部品の底面図である。
【図4】第二の実施の形態におけるチップ部品の底面図
である。
【図5】図5(A)、(B)はそれぞれ従来例における
要部の正面図である。
【符号の説明】
1 チップ部品 2 本電極 3 ダミー電極 4 回路基板 5 ランド 6 半田

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気、電子のチップ部品に膨出形成され
    る電極と、回路基板に露出形成されるランドとを半田付
    けして接続するにあたり、チップ部品には、前記電極の
    外周を囲繞する状態でダミー電極が形成されていること
    を特徴とする電気、電子のチップ部品構造。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150060101A (ko) * 2013-11-25 2015-06-03 에스케이하이닉스 주식회사 볼 랜드를 포함하는 기판 및 반도체 패키지와, 그 제조방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150060101A (ko) * 2013-11-25 2015-06-03 에스케이하이닉스 주식회사 볼 랜드를 포함하는 기판 및 반도체 패키지와, 그 제조방법
KR102134019B1 (ko) * 2013-11-25 2020-07-14 에스케이하이닉스 주식회사 볼 랜드를 포함하는 기판 및 반도체 패키지와, 그 제조방법

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