JP2002022483A - Navigation system test evaluating device - Google Patents
Navigation system test evaluating deviceInfo
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- JP2002022483A JP2002022483A JP2000205536A JP2000205536A JP2002022483A JP 2002022483 A JP2002022483 A JP 2002022483A JP 2000205536 A JP2000205536 A JP 2000205536A JP 2000205536 A JP2000205536 A JP 2000205536A JP 2002022483 A JP2002022483 A JP 2002022483A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ナビゲーションシ
ステムの試験評価を行うナビゲーションシステムの試験
評価装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a navigation system test evaluation apparatus for performing a navigation system test evaluation.
【0002】[0002]
【従来の技術】ナビゲーションシステムは、ナビゲーシ
ョンECU、ディスプレイなどを備えて、走行案内を行
うための各種情報を運転者に提供するものである。この
ナビゲーションシステムは、車両に搭載される製品であ
るため、その使用環境は厳しく、市場に投入する前に試
作品でその使用環境に耐え得ることを十分に確認する必
要がある。2. Description of the Related Art A navigation system includes a navigation ECU, a display, and the like, and provides a driver with various information for performing travel guidance. Since this navigation system is a product mounted on a vehicle, its use environment is severe, and it is necessary to sufficiently confirm that a prototype can withstand the use environment before being put on the market.
【0003】ナビゲーションシステムを信頼性評価する
場合、ある負荷条件の設備(恒温槽、振動試験機等)に
試験品を取り付けて電源を投入し、その後、長時間放置
して、定期的に異常があるか否かを目視チェックするよ
うにしている。In order to evaluate the reliability of a navigation system, a test article is mounted on equipment under a certain load condition (a constant temperature bath, a vibration tester, etc.), and the power is turned on. A visual check is made to see if there is.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の試験評
価装置では、異常が発生したことがわかっても、その異
常の原因解析を行うには、試験品を分解して調査する必
要があり、その原因解析を容易に行うことができなかっ
た。In the above-described conventional test evaluation apparatus, even if it is found that an abnormality has occurred, it is necessary to disassemble and investigate the test product in order to analyze the cause of the abnormality. The cause analysis could not be easily performed.
【0005】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、ナビゲーションシステムにおける試験品の異常原因
の解析を容易に行えるようにすることを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to facilitate analysis of the cause of abnormality of a test article in a navigation system.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明では、ナビゲーションシステ
ムの試験品(5)に負荷を与える試験機(3、4)と、
前記負荷が与えられていないナビゲーションシステムの
非試験品(6)と前記試験品(5)のそれぞれの表示画
面を撮影する撮影手段(21、22)と、前記撮影手段
(21、22)によって撮影された前記試験品(5)の
表示画面の画像と前記非試験品(6)の表示画面の画像
を比較して前記試験品(5)の異常を判定する異常判定
手段(106)と、前記異常が判定されたとき、前記試
験品(5)の表示画面の画像とそのときの前記試験機
(3、4)の負荷条件を記憶する記憶手段(23)とを
備えたことを特徴としている。To achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a tester (3, 4) for applying a load to a test article (5) of a navigation system;
Photographing means (21, 22) for photographing the respective display screens of the non-test article (6) and the test article (5) of the navigation system to which the load is not applied, and photographing by the photographing means (21, 22). An abnormality determining means (106) for comparing an image of the display screen of the test article (5) with an image of a display screen of the non-test article (6) to determine an abnormality of the test article (5); A storage means (23) for storing an image of the display screen of the test article (5) when an abnormality is determined and a load condition of the testing machine (3, 4) at that time. .
【0007】このような試験評価装置を用いて試験評価
を行うことにより、異常発生時の試験品(5)の表示画
面の画像および試験機(3、4)の負荷条件を記憶装置
(23)に記憶させることができ、その記憶データによ
って異常原因の解析を容易に行うことができる。[0007] By performing a test evaluation using such a test evaluation device, an image of the display screen of the test product (5) and a load condition of the test machine (3, 4) at the time of occurrence of an abnormality are stored in the storage device (23). And the cause of the abnormality can be easily analyzed based on the stored data.
【0008】なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すも
のである。[0008] The reference numerals in parentheses of the above means indicate the correspondence with specific means described in the embodiments described later.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】図1に、本発明の一実施形態に係
るナビゲーションシステムの試験評価装置の全体構成を
示す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows an overall configuration of a test evaluation apparatus for a navigation system according to an embodiment of the present invention.
【0010】この試験評価装置は、集中管理コンピュー
タ1と、ナビゲーションシステムテストベンチ2と、温
度湿度サイクル試験機3と、振動試験機4とを備える。This test evaluation device includes a centralized control computer 1, a navigation system test bench 2, a temperature / humidity cycle tester 3, and a vibration tester 4.
【0011】集中管理コンピュータ1は、温度湿度サイ
クル試験機3、振動試験機4を所望の負荷条件にするよ
うに制御する。集中管理コンピュータ1から温度湿度サ
イクル試験機3、振動試験機4に至る信号(図中の実線
で示す)は、作動制御を行う信号であり、温度湿度サイ
クル試験機3、振動試験機4から集中管理コンピュータ
1に至る信号(図中の破線で示す)は、温度湿度サイク
ル試験機3、振動試験機4の動作状態を示す状態データ
である。The central control computer 1 controls the temperature / humidity cycle test machine 3 and the vibration test machine 4 so as to set desired load conditions. A signal (indicated by a solid line in the figure) from the central control computer 1 to the temperature / humidity cycle tester 3 and the vibration tester 4 is a signal for performing operation control, and is centralized from the temperature / humidity cycle tester 3 and the vibration tester 4. A signal (indicated by a broken line in the figure) reaching the management computer 1 is state data indicating the operation state of the temperature / humidity cycle tester 3 and the vibration tester 4.
【0012】温度湿度サイクル試験機3は、集中管理コ
ンピュータ1から送られてくる信号に従い、時間によっ
て内部の温度、湿度、風速を設定する。振動試験機4
は、集中管理コンピュータ1から送られてくる信号に従
い、時間によって振動波形の種類、振動の大きさ、振動
方向を設定する。The temperature / humidity cycle tester 3 sets the internal temperature, humidity and wind speed according to time in accordance with a signal sent from the central control computer 1. Vibration testing machine 4
Sets the type of vibration waveform, the magnitude of vibration, and the direction of vibration according to time in accordance with a signal sent from the central management computer 1.
【0013】温度湿度サイクル試験機3と振動試験機4
は一体的に構成されており、振動試験機4の振動台4a
に、ナビゲーションシステムの試験品5が取り付けられ
る。また、試験評価を行うときには、温度湿度サイクル
試験機3と振動試験機4の外部にナビゲーションシステ
ムの非試験品6が設置される。試験品5と、非試験品6
は同一構成のもので、ナビゲーションECU、ディスプ
レイなどから構成されている。Temperature / humidity cycle tester 3 and vibration tester 4
Are integrally configured, and the shaking table 4a of the vibration testing machine 4
Then, the test article 5 of the navigation system is attached. When performing test evaluation, a non-test product 6 of a navigation system is installed outside the temperature / humidity cycle tester 3 and the vibration tester 4. Test product 5 and non-test product 6
Have the same configuration, and include a navigation ECU, a display, and the like.
【0014】ナビゲーションシステムテストベンチ2
は、試験品5と非試験品6を動作させるための電気信号
(電源信号)を与えるとともに、試験品5の表示画面
(ディスプレイの画面)を撮影するためのCCDカメラ
22と非試験品6の表示画面を撮影するためのCCDカ
メラ21とを備える。このナビゲーションシステムテス
トベンチ2は、試験評価を行うときに試験品5と非試験
品6を動作させ、CCDカメラ21、22で試験品5、
非試験品6の表示画面を撮影し、撮影した両画像を比較
して異常判定を行い、異常発生時にそのときの試験品5
の表示画面の画像およびそのときの試験負荷条件(温
度、湿度、風速、振動等)を記憶装置23に記憶させ
る。Navigation system test bench 2
Supplies an electric signal (power signal) for operating the test article 5 and the non-test article 6, and a CCD camera 22 for photographing the display screen (display screen) of the test article 5 and the non-test article 6. A CCD camera 21 for photographing the display screen. The navigation system test bench 2 operates the test sample 5 and the non-test sample 6 when performing test evaluation, and the CCD camera 21
The display screen of the non-test specimen 6 is photographed, and the photographed images are compared to determine an abnormality.
And the test load conditions (temperature, humidity, wind speed, vibration, etc.) at that time are stored in the storage device 23.
【0015】次に、試験評価を行う場合の作動について
説明する。図2に、ナビゲーションシステムテストベン
チ2が行う処理を示す。Next, the operation for performing a test evaluation will be described. FIG. 2 shows the processing performed by the navigation system test bench 2.
【0016】まず、作業者によって設定された、検査時
間、判定項目、しきい値レベルを取り込む(ステップ1
01、102、103)。判定項目は、画像の明るさ、
色合い、乱れ等であり、しきい値レベルはそれらの判定
項目に対して異常と判定するためのレベルである。First, an inspection time, a judgment item, and a threshold level set by an operator are taken in (step 1).
01, 102, 103). The judgment items are image brightness,
The threshold level is a level for judging that those judgment items are abnormal.
【0017】試験品5は、振動試験機4の振動台4aに
取り付けられ、集中管理コンピュータ1の制御の下、温
度湿度サイクル試験機3、振動試験機4によって所定の
負荷が与えられる。The test article 5 is mounted on the shaking table 4a of the vibration testing machine 4, and given a predetermined load by the temperature and humidity cycle testing machine 3 and the vibration testing machine 4 under the control of the central control computer 1.
【0018】そして、試験品5と非試験品6に電源信号
を与えて、試験品5と非試験品6を動作させる(ステッ
プ104)。試験品5と非試験品6の動作時には、それ
ぞれのディスプレイに地図が表示されるように設定され
ている。Then, a power signal is supplied to the test article 5 and the non-test article 6, and the test article 5 and the non-test article 6 are operated (step 104). When the test sample 5 and the non-test sample 6 are operated, a map is set to be displayed on each display.
【0019】次に、CCDカメラ21とCCDカメラ2
2からの信号により試験品5と非試験品6の表示画面の
画像を取り込み(ステップ105)、試験品5と非試験
品6の表示画面の画像を比較して、設定された判定項目
につき異常があるか否かを判定する(ステップ10
6)。例えば、画像の明るさ、色合い、乱れ等の判定項
目について、試験品5と非試験品6の画像の間に、設定
されたしきい値レベル以上の差があるか否かで異常を判
定する。Next, the CCD camera 21 and the CCD camera 2
The images of the display screens of the test article 5 and the non-test article 6 are fetched by the signal from Step 2 (Step 105), and the images of the display screens of the test article 5 and the non-test article 6 are compared. (Step 10)
6). For example, abnormality is determined based on whether or not there is a difference equal to or more than a set threshold level between the images of the test sample 5 and the non-test sample 6 regarding the determination items such as the brightness, hue, and disturbance of the image. .
【0020】異常がある場合には、異常発生の前後10
分間の試験品5の画像および試験負荷条件(温度、湿
度、風速、振動等)を記憶装置23に記憶させる。この
場合、試験品5の表示画面の画像をバッファ等の一時記
憶手段に一定期間だけ記憶させておくことにより、異常
発生の10分間からの試験品5の表示画面の画像を記憶
装置23に記憶させることができる。また、試験負荷条
件は、温度湿度サイクル試験機3、振動試験機4からの
状態データによって得ることができる。If there is an abnormality, 10
The image of the test sample 5 and the test load conditions (temperature, humidity, wind speed, vibration, etc.) for a minute are stored in the storage device 23. In this case, the image of the display screen of the test sample 5 is stored in the temporary storage means such as a buffer for a certain period of time, so that the image of the display screen of the test sample 5 from 10 minutes after the occurrence of the abnormality is stored in the storage device 23. Can be done. The test load condition can be obtained from the state data from the temperature / humidity cycle tester 3 and the vibration tester 4.
【0021】以後、検査時間が経過するまで、上記した
ステップ105〜108の処理を繰り返す。検査時間が
経過すると、試験品5と非試験品6への電源信号を停止
するなどの検査終了処理を行う(ステップ109)。Thereafter, the processing of steps 105 to 108 is repeated until the inspection time has elapsed. After the elapse of the inspection time, inspection end processing such as stopping the power supply signal to the test article 5 and the non-test article 6 is performed (step 109).
【0022】このような試験評価を行うことにより、異
常発生時の試験品5の表示画面の画像および試験負荷条
件を記憶装置23に記憶させることができ、その記憶デ
ータによって異常原因の解析を容易に行うことができ
る。By performing such a test evaluation, the image of the display screen of the test article 5 and the test load conditions at the time of occurrence of an abnormality can be stored in the storage device 23, and the stored data facilitates analysis of the cause of the abnormality. Can be done.
【図1】本発明の一実施形態に係るナビゲーションシス
テムの試験評価装置の全体構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an entire configuration of a test evaluation device of a navigation system according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1中のナビゲーションシステムテストベンチ
2の処理を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart showing processing of a navigation system test bench 2 in FIG.
1…集中管理コンピュータ、2…ナビゲーションシステ
ムテストベンチ、3…温度湿度サイクル試験機、4…振
動試験機、5…試験品、6…非試験品、21、22…C
CDカメラ、23…記憶装置。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Central control computer, 2 ... Navigation system test bench, 3 ... Temperature / humidity cycle tester, 4 ... Vibration tester, 5 ... Test product, 6 ... Non-test product, 21, 22 ... C
CD camera, 23 storage device.
Claims (1)
に負荷を与える試験機(3、4)と、 前記負荷が与えられていないナビゲーションシステムの
非試験品(6)と前記試験品(5)のそれぞれの表示画
面を撮影する撮影手段(21、22)と、 前記撮影手段(21、22)によって撮影された前記試
験品(5)の表示画面の画像と前記非試験品(6)の表
示画面の画像を比較して前記試験品(5)の異常を判定
する異常判定手段(106)と、 前記異常が判定されたとき、前記試験品(5)の表示画
面の画像とそのときの前記試験機(3、4)の負荷条件
を記憶する記憶手段(23)とを備えたことを特徴とす
るナビゲーションシステムの試験評価装置。1. A test product of a navigation system (5)
(3), (4), a photographing means (21, 22) for photographing the display screen of each of the non-test product (6) and the test product (5) of the navigation system to which the load is not applied. ) And comparing the image of the display screen of the test article (5) photographed by the photographing means (21, 22) with the image of the display screen of the non-test article (6), Abnormality determining means (106) for determining an abnormality; and storage for storing an image of a display screen of the test article (5) and a load condition of the testing machine (3, 4) at that time when the abnormality is determined. A test evaluation device for a navigation system, comprising: means (23).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000205536A JP2002022483A (en) | 2000-07-06 | 2000-07-06 | Navigation system test evaluating device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000205536A JP2002022483A (en) | 2000-07-06 | 2000-07-06 | Navigation system test evaluating device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002022483A true JP2002022483A (en) | 2002-01-23 |
Family
ID=18702604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000205536A Pending JP2002022483A (en) | 2000-07-06 | 2000-07-06 | Navigation system test evaluating device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002022483A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103148869A (en) * | 2013-02-07 | 2013-06-12 | 哈尔滨工业大学 | High overload and linear vibration composite test device |
CN104019830A (en) * | 2014-06-17 | 2014-09-03 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | Standard combined acceleration output device |
KR20160042489A (en) * | 2014-10-10 | 2016-04-20 | (주) 투에이치 | Test jig for navigation device |
-
2000
- 2000-07-06 JP JP2000205536A patent/JP2002022483A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103148869A (en) * | 2013-02-07 | 2013-06-12 | 哈尔滨工业大学 | High overload and linear vibration composite test device |
CN104019830A (en) * | 2014-06-17 | 2014-09-03 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | Standard combined acceleration output device |
KR20160042489A (en) * | 2014-10-10 | 2016-04-20 | (주) 투에이치 | Test jig for navigation device |
KR101669569B1 (en) * | 2014-10-10 | 2016-10-27 | (주) 투에이치 | Test jig for navigation device |
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