JPH0755602Y2 - Control unit inspection device - Google Patents
Control unit inspection deviceInfo
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- JPH0755602Y2 JPH0755602Y2 JP1987026479U JP2647987U JPH0755602Y2 JP H0755602 Y2 JPH0755602 Y2 JP H0755602Y2 JP 1987026479 U JP1987026479 U JP 1987026479U JP 2647987 U JP2647987 U JP 2647987U JP H0755602 Y2 JPH0755602 Y2 JP H0755602Y2
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- JP
- Japan
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- control unit
- output signal
- abnormality
- inspection
- function
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Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、たとえば、自動車等に搭載される複数機能を
備えた制御ユニット(たとえば、マイクロコンピュー
タ)の機能を、単品で検査する制御ユニットの検査装置
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a control unit for inspecting the function of a control unit (for example, a microcomputer) equipped with a plurality of functions mounted on, for example, an automobile as a single item. Regarding inspection equipment.
〈従来の技術〉 このような制御ユニットの検査装置としては、第5図に
示すようなものが知られている(実開昭61−4210号公報
参照)。<Prior Art> As an inspection device for such a control unit, one as shown in FIG. 5 is known (see Japanese Utility Model Laid-Open No. 61-4210).
すなわち、検査装置1には、検査対象の制御ユニット10
の入出力端子と電気接続されるワークソケット2が設け
られ、該ワークソケット2の入力端子には、シュミレー
ション信号発生手段としての可変パルスジェネレータ3,
可変電圧電源4及び負荷抵抗5とが接続される一方、出
力端子には、測定手段としてのカウンタ6及びデジタル
ボルトメータ7が接続されている。That is, the inspection device 1 includes the control unit 10 to be inspected.
Is provided with a work socket 2 electrically connected to the input / output terminals of the variable socket 3 and the input terminal of the work socket 2.
The variable voltage power source 4 and the load resistor 5 are connected, while the output terminal is connected to a counter 6 and a digital voltmeter 7 as measuring means.
そして、コントロールユニット8により、検査対象制御
ユニット10の入力端子に各種シュミレーション信号の組
み合わせパターンを制御ユニット10の検査される各制御
機能に対応して順次変化させて入力し、同様にコントロ
ールユニット8により、制御ユニット10の所定の出力端
子から出力される出力信号を所定の基準値と順次比較し
て、制御ユニット10の各種の機能が正常に機能している
かを検査するようにしている。Then, the control unit 8 sequentially inputs the combination pattern of various simulation signals to the input terminal of the inspection target control unit 10 in accordance with each control function of the control unit 10 to be inspected. An output signal output from a predetermined output terminal of the control unit 10 is sequentially compared with a predetermined reference value to check whether various functions of the control unit 10 are functioning normally.
〈考案が解決しようとする問題点〉 ところで、このような従来の制御ユニットの検査装置に
おいて、制御ユニット10に機能異常が検出されるのは、
本来制御ユニット10自体に欠陥がある場合のみならず、
入力端子に入力されるシュミレーション信号に異常(た
とえば、機器故障のために信号未入力や設定交差からの
逸脱)があって制御ユニット10は正規の機能を果たして
いるにもかかわらず、出力信号に異常が生じ機能異常と
判定される場合がある。<Problems to be Solved by the Invention> By the way, in such a conventional control unit inspection device, a functional abnormality is detected in the control unit 10.
Not only when the control unit 10 itself is originally defective,
Abnormality in the output signal, even though the control unit 10 is performing its proper function due to an abnormality in the simulation signal input to the input terminal (for example, no signal input or deviation from the setting crossover due to equipment failure). May occur and may be determined to be a functional abnormality.
実際の検査工程で、複数の制御ユニット10で同一項目の
機能異常が繰り返して判定される場合には、かかるシュ
ミレーション信号異常の可能性が大きい。When a plurality of control units 10 repeatedly determine a functional abnormality of the same item in an actual inspection process, there is a high possibility of such a simulation signal abnormality.
そこで、従来では、同一項目の機能異常が連続して検出
されたときに、検査工程を一時中断して、検査機1の可
変パルスジェネレータ3,可変電圧電源4及び負荷抵抗5
に異常がないかこれらを順々に検査していたので、シュ
ミレーション信号の異常原因を究明するのに多大な工数
がかかっていた。Therefore, conventionally, when the functional abnormality of the same item is continuously detected, the inspection process is temporarily suspended, and the variable pulse generator 3, the variable voltage power source 4, and the load resistor 5 of the inspection machine 1 are suspended.
Since these were inspected one after another for any abnormalities, it took a great deal of time to investigate the cause of the abnormality in the simulation signal.
本考案はこのような従来の技術の問題点に着目してなさ
れたもので、シュミレーション信号の異常をより迅速に
発見でき、原因究明のための工数を大幅に削減できる制
御ユニットの検査装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the conventional technology, and provides an inspection device for a control unit that can detect abnormalities in simulation signals more quickly and can significantly reduce the number of steps for investigating the cause. The purpose is to do.
〈問題点を解決するための手段〉 このため、第1図に示すように、機能検査対象としての
制御ユニットの複数の入力端子に接続され、前記出力信
号検査用のシュミレーション信号を発生する複数のシュ
ミレーション信号発生手段Aと、制御ユニットの複数の
出力端子に接続される複数の測定手段Bと、前記シュミ
レーション信号を組み合わせた組み合わせパターンを各
機能に対応した入力信号として制御ユニットに入力し所
定出力端子からの出力信号と各機能に対応した出力信号
の基準値とを順次比較して出力信号の異常を判定し各機
能の良否を順次判定する機能検査手段Cと、を備えた制
御ユニットの検査装置において、前記出力信号に異常を
生じた場合に異常が生じている確率の高いシュミレーシ
ョン信号を、前記機能検査手段によって判別される各機
能毎に異常要因情報として記憶する記憶手段Dと、機能
検査手段により出力信号に異常が検出されたときに表示
手段Eに前記記憶手段に記憶された異常要因情報を表示
させる表示制御手段Fと、を備えて構成した。<Means for Solving Problems> Therefore, as shown in FIG. 1, a plurality of input terminals of a control unit as a function inspection target are connected to generate a plurality of output signal inspection simulation signals. A simulation signal generating means A, a plurality of measuring means B connected to a plurality of output terminals of the control unit, and a combination pattern in which the simulation signals are combined are input to the control unit as input signals corresponding to the respective functions, and predetermined output terminals are input. Of the control unit, which sequentially compares the output signal from the control unit with the reference value of the output signal corresponding to each function, determines the abnormality of the output signal, and sequentially determines the quality of each function. In the above, in the case where an abnormality occurs in the output signal, a simulation signal having a high probability that an abnormality has occurred is detected by the function inspection means. Storage means D for storing abnormality factor information for each function to be discriminated and display for displaying abnormality factor information stored in the storage means on display means E when an abnormality is detected in the output signal by the function inspection means. And a control means F.
〈作用〉 上記のような構成を採用したので、シュミレーション信
号の組み合わせパターンの入力に応じて制御ユニットか
ら出力される出力信号に異常が検出されたときに、該出
力信号に異常を生じさせる確率の高いシュミレーション
信号が異常要因情報として表示される。入力端子に入力
されるシュミレーション信号に異常があった場合、作業
者が、表示された異常要因情報に基づいてシュミレーシ
ョン信号発生手段を検査すれば、故障原因の究明が迅速
に行える。<Operation> Since the above configuration is adopted, when an abnormality is detected in the output signal output from the control unit in response to the input of the combination pattern of the simulation signals, the probability of causing the abnormality in the output signal A high simulation signal is displayed as abnormal factor information. When there is an abnormality in the simulation signal input to the input terminal, the operator can quickly investigate the cause of the failure by inspecting the simulation signal generating means based on the displayed abnormality factor information.
〈実施例〉 第2図に、本考案に係る一実施例をのハードウェア構成
を示す。なお、従来例と同様な要素には同一の符号を付
して説明を省略する。<Embodiment> FIG. 2 shows a hardware configuration of an embodiment according to the present invention. The same elements as those in the conventional example are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
検査装置20のコントロールユニット21には、表示手段と
してのディスプレイ22と、記憶手段としての記憶装置23
と、が接続されている。The control unit 21 of the inspection device 20 includes a display 22 as display means and a storage device 23 as storage means.
And are connected.
ここで、記憶装置23には、第3図に示すようなデータフ
ァイルが磁気ディスク上に記憶されている。このデータ
ファイルは、検査対象としての制御ユニット10の種類毎
に設定されている。Here, in the storage device 23, a data file as shown in FIG. 3 is stored on the magnetic disk. This data file is set for each type of control unit 10 as an inspection target.
このデータファイルは、制御ユニット10の各機能に対応
して複数に分割された検査ステップF毎に、制御ユニッ
ト10の入力端子(A,B,C,…)に入力されるシュミレーシ
ョン信号の種類(10v,4ms,L,H,…)がシュミレーション
信号パターンとして記憶された部分と、出力信号の測定
端子(a,b,…)及び基準値が記憶された部分と、その出
力信号に異常が生じた場合に異常が生じている確率の高
いシュミレーション信号の入力端子(A,B,…)が異常要
因情報として確率の高い順に最高5個まで記憶された部
分と、から構成されている。この異常要因情報として
は、たとえば、検査ステップが1では、シュミレーショ
ン信号が断線等で入力端子Dに入力されなかったときに
は、入力端子Dには、Hレベルの代わりにLレベルが入
力され出力信号に異常が生ずるので、異常要因情報とし
て登録されるが、入力端子Cに未入力であってもLレベ
ルのままで出力信号に異常を生じないから登録はされて
いない。一方、検査ステップが4では、この入力端子C
は出力信号に異常を生じさせるから異常要因情報として
登録されている。This data file includes the types (S, B, C, ...) Of the simulation signals input to the input terminals (A, B, C, ...) Of the control unit 10 for each inspection step F divided into a plurality of parts corresponding to each function of the control unit 10. 10v, 4ms, L, H, ...) is stored as a simulation signal pattern, the output signal measurement terminals (a, b, ...) and the reference value are stored, and the output signal is abnormal. The input terminals (A, B, ...) Of the simulation signal having a high probability of occurrence of abnormality are stored as the abnormality factor information in a descending order of probability. As the abnormality factor information, for example, in the inspection step 1, when the simulation signal is not input to the input terminal D due to a disconnection or the like, the input terminal D is input at the L level instead of the H level and is output as the output signal. Since an abnormality occurs, it is registered as abnormality factor information, but even if it is not input to the input terminal C, it is not registered because it remains at the L level and no abnormality occurs in the output signal. On the other hand, when the inspection step is 4, this input terminal C
Causes an abnormality in the output signal and is registered as abnormality factor information.
なお、出力信号に異常が生じた時にその原因究明の参考
情報を提供するものであれば、異常要因情報の決定の方
法は任意に採用することができる。It should be noted that any method for determining the abnormality factor information can be adopted as long as it provides reference information for investigating the cause of the abnormality in the output signal.
なお、前記データファイル中の異常要因情報を他のデー
タと分離して別個のデータファイルとして記憶しても良
い。The abnormality factor information in the data file may be separated from other data and stored as a separate data file.
前記コントロールユニット21は、マイクロコンピュータ
を含んで構成され、該マイクロコンピュータには、従来
と同様な機能検査手段と、表示制御手段と、がソフトウ
ェア的に備えられている。The control unit 21 is configured to include a microcomputer, and the microcomputer is provided with a function inspection means and a display control means, which are the same as conventional ones, by software.
ソフトウェアの内容を第4図に従って説明する。The contents of the software will be described with reference to FIG.
ステップ1(以下、図ではS1のように記載する。)で
は、作業者がこれから検査する制御ユニットの種類をキ
ーボードから入力する。In step 1 (hereinafter referred to as S1 in the figure), the operator inputs from the keyboard the type of control unit to be inspected.
ステップ2では、検査対象の制御ユニット用のデータフ
ァイルをコントロールユニット21内のメモリに読み込
む。In step 2, the data file for the control unit to be inspected is read into the memory in the control unit 21.
ステップ3では、検査ステップFを1とする。In step 3, inspection step F is set to 1.
ステップ4では、データファイル中の検査ステップFの
シュミレーション信号パターンに基づいてシュミレーシ
ョン信号を制御ユニット10の各入力端子(A,B,…)に出
力する。In step 4, the simulation signal is output to each input terminal (A, B, ...) Of the control unit 10 based on the simulation signal pattern of the inspection step F in the data file.
ステップ5では、制御ユニット10の所定出力端子(a,b,
…)からの出力信号を検出する。In step 5, predetermined output terminals (a, b,
The output signal from (...) is detected.
ステップ6では、出力信号と基準値とを比較して、出力
信号が正常か否かを判定する。正常であるときはステッ
プ7に進み、異常であるときは、ステップ9に進む。In step 6, the output signal is compared with the reference value to determine whether or not the output signal is normal. If it is normal, the process proceeds to step 7, and if it is abnormal, the process proceeds to step 9.
ステップ7では、データファイル総検査ステップMと現
在の検査ステップFとを比較する。F<Mのときは、ま
だ残検査ステップがあるので、ステップ8で、検査ステ
ップFに1を加算して、ステップ4に進む。In step 7, the data file total inspection step M and the current inspection step F are compared. When F <M, there is still a remaining inspection step, so in step 8, 1 is added to the inspection step F and the process proceeds to step 4.
ここで、ステップ2からステップ8までは、機能検査手
段として構成される。Here, steps 2 to 8 are configured as a function inspection means.
ステップ9では、データファイル中の検査ステップFに
異常要因情報が登録されているかを判定し、登録があれ
ば、ステップ10に進む。In step 9, it is determined whether the abnormality factor information is registered in the inspection step F in the data file, and if there is registration, the process proceeds to step 10.
ステップ10では、登録異常要因情報をディスプレイ21に
表示する。複数の制御ユニット10で同一項目の機能異常
が繰り返して判定される場合には、シュミレーション信
号異常の可能性が大きく、この場合、表示された異常要
因情報に基づいてシュミレーション信号発生手段の検査
が、作業者により行われる。ステップ10は、表示制御手
段を構成する。In step 10, the registration abnormality factor information is displayed on the display 21. When the functional abnormality of the same item is repeatedly determined by a plurality of control units 10, there is a high possibility of a simulation signal abnormality, and in this case, the inspection of the simulation signal generating means based on the displayed abnormality factor information, It is done by the operator. Step 10 constitutes display control means.
以上のように構成したので、制御ユニット10の検査中に
制御ユニット10の機能異常が検出されると、異常が生じ
ている確率の高いシュミレーション信号が異常要因情報
として表示されるので、作業者は先ずこの表示に基づい
て当該表示入力端子に接続された機器を検査して故障原
因を発見することが可能となる。したがって、従来のよ
うに全ての機器を検査するのに比べて最小限の工数で処
置をすることができ大幅な工数削減を行うことができ
る。With the above configuration, when a functional abnormality of the control unit 10 is detected during the inspection of the control unit 10, a simulation signal with a high probability of occurrence of abnormality is displayed as abnormality factor information, so that the operator First, based on this display, the device connected to the display input terminal can be inspected to find the cause of the failure. Therefore, compared with the conventional inspection of all devices, the treatment can be performed with the minimum man-hours, and the man-hours can be significantly reduced.
なお、実施例では、表示手段としてディスプレイ21を用
いたが、プリンタのような印字装置であってもよい。Although the display 21 is used as the display unit in the embodiment, a printing device such as a printer may be used.
また、実施例では、シュミレーション信号ファイルの各
検査ステップで異常が検出されると、登録された異常要
因情報が表示されるようにしたが、複数の検査ステップ
が終了した後に、各検査ステップの検査結果を総合判断
(たとえば、各検査ステップの登録異常要因情報の和集
合をとる等)して、最も可能性の高い異常要因情報を表
示するようにしてもよい。この場合には、さらに迅速な
原因究明が可能となる。Further, in the embodiment, when an abnormality is detected at each inspection step of the simulation signal file, the registered abnormality factor information is displayed, but after the completion of a plurality of inspection steps, the inspection of each inspection step is performed. The result may be comprehensively judged (for example, the union of the registered abnormal factor information of each inspection step may be taken), and the abnormal factor information with the highest possibility may be displayed. In this case, the cause can be investigated more quickly.
さらに、実施例では、一度でも出力信号に異常が生ずる
と、異常要因情報の表示を行うようにしたが、同一項目
に関する出力信号異常が所定回数連続して検出されたと
きに、警報を発した後に異常要因情報を表示するように
構成してもよい。Further, in the embodiment, when the output signal is abnormal even once, the abnormality factor information is displayed. However, when the output signal abnormality related to the same item is continuously detected a predetermined number of times, an alarm is issued. It may be configured to display the abnormality factor information later.
〈考案の効果〉 以上説明してきたように、本考案によれば、出力信号に
異常が検出されたときに、該出力信号に異常を生じさせ
ている確率の高いシュミレーション信号を異常要因情報
として表示するようにしたので、作業者は当該表示基づ
いて迅速に故障原因を究明できる。<Effect of Device> As described above, according to the present invention, when an abnormality is detected in the output signal, a simulation signal having a high probability of causing an abnormality in the output signal is displayed as abnormality factor information. By doing so, the operator can quickly find the cause of the failure based on the display.
第1図は本考案の構成を示すブロック図、第2図は本考
案に係る一実施例のハードウェア構成図、第3図は同上
のデータファイル構成を示す表、第4図は同上の制御フ
ローチャート、第5図は従来の制御ユニットの検査装置
の全体構成図である。 2…ワークソケット、3…可変パルスジェネレータ、4
…可変電圧電源、5…負荷抵抗、6…カウンタ、7…デ
ジタルボルトメータ、10…制御ユニット、20…検査装
置、21…コントロールユニット、22…ディスプレイ、23
…記憶装置FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of the present invention, FIG. 2 is a hardware configuration diagram of an embodiment according to the present invention, FIG. 3 is a table showing a data file configuration of the same, and FIG. 4 is a control of the same. A flow chart, FIG. 5 is an overall configuration diagram of a conventional inspection device for a control unit. 2 ... Work socket, 3 ... Variable pulse generator, 4
... Variable voltage power supply, 5 ... Load resistance, 6 ... Counter, 7 ... Digital voltmeter, 10 ... Control unit, 20 ... Inspection device, 21 ... Control unit, 22 ... Display, 23
…Storage device
Claims (1)
する機能を複数備えた制御ユニットの各機能を検査する
制御ユニットの検査装置であって、機能検査対象として
の制御ユニットの複数の入力端子に接続され、前記出力
信号検査用のシュミレーション信号を発生する複数のシ
ュミレーション信号発生手段と、前記制御ユニットの複
数の出力端子に接続される複数の測定手段と、前記シュ
ミレーション信号を組み合わせた組み合わせパターンを
各機能に対応した入力信号として前記制御ユニットに入
力し所定出力端子からの出力信号と各機能に対応した出
力信号の基準値とを順次比較して出力信号の異常を判定
し各機能の良否を順次判定する機能検査手段と、を備え
た制御ユニットの検査装置において、前記出力信号に異
常を生じた場合に異常が生じている確率の高いシュミレ
ーション信号を、前記機能検査手段によって判別される
各機能毎に異常要因情報として記憶する記憶手段と、前
記機能検査手段により出力信号に異常が検出されたとき
に表示手段に前記記憶手段に記憶された異常要因情報を
表示させる表示制御手段と、を備えたことを特徴とする
制御ユニットの検査装置。1. A control unit inspection device for inspecting each function of a control unit having a plurality of functions for issuing a predetermined output signal in response to a predetermined input signal, wherein a plurality of input terminals of the control unit as a function inspection target. And a plurality of simulation signal generating means for generating a simulation signal for the output signal inspection, a plurality of measuring means connected to a plurality of output terminals of the control unit, and a combination pattern combining the simulation signals. It is input to the control unit as an input signal corresponding to each function, and the output signal from the predetermined output terminal and the reference value of the output signal corresponding to each function are sequentially compared to judge whether the output signal is abnormal or not. In the inspection device of the control unit, which comprises a function inspection means for sequentially judging, when an abnormality occurs in the output signal, Storage means for storing a simulation signal having a high probability of occurrence of abnormalities as abnormality factor information for each function discriminated by the function inspection means, and displayed when an abnormality is detected in the output signal by the function inspection means. A control unit for displaying abnormality factor information stored in the storage unit on the control unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987026479U JPH0755602Y2 (en) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | Control unit inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987026479U JPH0755602Y2 (en) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | Control unit inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63135401U JPS63135401U (en) | 1988-09-06 |
JPH0755602Y2 true JPH0755602Y2 (en) | 1995-12-20 |
Family
ID=30827605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987026479U Expired - Lifetime JPH0755602Y2 (en) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | Control unit inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0755602Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6417282B2 (en) * | 2015-06-11 | 2018-11-07 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Vehicle control unit evaluation system |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55178705U (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-22 | ||
JPS5920008A (en) * | 1982-07-23 | 1984-02-01 | Hitachi Ltd | System for clearing up cause of abnormality |
-
1987
- 1987-02-26 JP JP1987026479U patent/JPH0755602Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63135401U (en) | 1988-09-06 |
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