JP2001526448A - 四重極イオンガイド中でイオンを選択的に衝突誘発解離する方法および装置 - Google Patents
四重極イオンガイド中でイオンを選択的に衝突誘発解離する方法および装置Info
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Abstract
Description
オンガイド中の衝突誘発解離(CID)に関する。
を最小にしながらイオンを輸送するその能力のために、質量分析法および核物理
学に広く応用されている。そのようなイオンの輸送中に、初期イオン位置および
速度が変化するが、そのイオンビームにより占められる全位相空間容積は一定の
ままである(Dawson, Quadrupole mass spectrometer and its applicationを参
照のこと)。しかしながら、バッファガスがイオンガイド中に導入された場合、
イオン分子が衝突するために消散過程が生じ、これにより、初期速度が減衰され
た後に、四重極上にイオンビームを集束させることができる。
るイオンガイドして、あるいは衝突誘発解離(CID)実験用の衝突セルとして
用いられてきた。簡単な界面として、衝突減衰はイオン源から放出されるイオン
の空間および速度分布を減少させ、それによって、ビームの品質が改良される。
CID実験に関しては、比較的大きい速度を有する1次イオンが多重極に進入し
、バッファガス分子と衝突し、それにより、衝突誘発解離が発生する。この多重
極は、1次イオンおよび衝突誘発解離により生じるフラグメントイオン両方を軸
の近くに保持し、それらをさらなる分析のために出口に移送するのに役立つ。多
重極分析計の内側の衝突は、ここでも、イオンビームの空間および速度分布を減
少させるように機能する。
n)(上記に引用したDawsonの文献を参照のこと)により決定される;イオンは、
それらのm/zおよび四重極パラメータにより決定され、イオン位置および速度
とは独立した適切な基本周波数で四重極軸の周りで振動する。イオンに作用する
任意の周期的力の周波数がイオンの基本周波数と一致する場合、共鳴励起が生じ
る。同様の共鳴励起が、四重極イオントラップまたはイオンサイクロトロン共鳴
質量分析計に広く応用されている(R.E.March, R.J.Hughes, Quadrupole storag
e mass spectrometry, 1989, John Wiley & Sons)。
ステムが開示されている。これは、ガス衝突セルとして作動されるRFオンリー
四重極により隔てられた2つの精密四重極質量分析計を用いた従来の三重四重極
質量分析計装置を改良することを意図したものであった。第1の質量分析計は、
特定のイオンの質量対電荷数(m/z)を選択し、その選択されたイオンをRF
オンリー四重極または衝突セル中に送るために用いられる。このRFオンリー四
重極または衝突セル中において、親イオンの内のいくつかまたは全てが、数ミリ
トルまでの圧力で通常アルゴンまたは窒素であるバックグラウンドガスとの衝突
によりフラグメンテーションされる。次いで、これらのフラグメントイオンは、
いずれのフラグメンテーションされていない親イオンとともに、質量分解モード
で作動された第2の精密四重極に移送される。通常、この第2の分析計の質量分
解モードは、所定の質量範囲に亘り走査する、またはピークホッピング、すなわ
ち、特定のイオンのm/z比を次々と選択するように急速に調節されることによ
り、選択されたイオンフラグメントを移送するように設定されている。この分析
計を通って移送されたイオンは、イオン検出器により検出される。この従来の装
置に関する問題は、2つの質量分解四重極が高真空領域(10-5トル未満)で作動
することが要求されるが、中間にある衝突セルは数ミリトルまでの圧力で作動す
ることである。この初期の発明は、装置を単純にし、その装置の入力で、別々の
RFオンリー分析計および分解分析計が必要とされることを除くことを意図して
いた。その代わりに、RFモードで作動して高域通過フィルタとして機能する1
つの四重極が提供される。さらに、この四重極には、「濾波された雑音電界」と
して識別でき、関心のあるイオンの質量に対応する周波数範囲にノッチを含むA
C電界が提供される。このノッチを除去して、所望のイオンを選択し、分離する
ことができる。
oration)に譲渡された)において、他の古い提案が見られる。これは、イオンを
分析するイオントラップ型質量分析計に関する。この分析計は、拡大したイオン
占有容積を促進するような形状の電極を有する。四重極電界が、所定の範囲の質
量対電荷数内でイオンを捕獲するように設けられている。次いで、この四重極電
界は、特定の質量を有する捕獲されたイオンが不安定になり、捕獲チャンバの中
心軸に対して直交する方向でこのチャンバから出るように変えられる。この分析
計を出るイオンが検出されて、それらの質量対電荷数を示す信号が提供される。
この特許に教示されているある方法は、所定の範囲の質量対電荷数内のイオンを
チャンバ中に導入し、続いて、前記電界を変更して、さらなる操作のためにちょ
うどいくらかのイオンを選択することである。次いで、この四重極電界は、残り
のイオンの生成イオンを捕獲できるように調節され、次いで、その残りのイオン
は、解離されるかまたは中性ガスと反応させられて、それらの生成イオンを形成
する。その後、四重極電界は、検出のために、その質量対電荷数が前記所定の範
囲内にあるイオンを除去するように再度変更され、次いで、それらのイオンが検
出される。
極等、およびイオンを異なる四重極部分に通して連続して移動させる能力が必要
である。フィニガンの特許に教示された技法は複雑であり、これには多数の工程
が必要である。また、これはイオントラップに関係し、フロー四重極には関係し
ない。1つの装置において、選択された質量対電荷数のイオンに衝突誘発解離(
CID)またはフラグメンテーションを容易に施し、それゆえそれらフラグメン
トをその後の分析のためにさらに移送できるようにする技法を提供することが望
ましい。ある装置から別の装置にイオンを移動させると必然的にある程度損失が
生じるので、1つの装置中でこの技法を提供することが望ましい。同様に、フィ
ニガンの特許の技法は、パルスイオン源に作動するものでるが、例えば、エレク
トロスプレイイオン源からの連続イオンフローにそれらの技法を使用する試みは
効率的に合わない。この分野において、分析計は小さな試料を分析するのにしば
しば用いられ、任意の信頼できる読取値または測定値を得るべき場合には、高効
率がしばしば必要とされる。
変化を施して、それによって、前記バッファガスにより増進された衝突誘発解離
となる増大した運動エネルギーを選択されたイオンが得る選択されたm/z比を
有するイオンの共鳴励起を生じ、 (6) フラグメンテーション後の前記イオンのスペクトルを分析する、 各工程を含む方法が提供される。
励起ロッドセットに印可されるまたはその目的のために提供された余分な電極ま
たはロッドへの印可いずれにより、四重極中の追加の電界の印可;四重極により
施された高周波電界の増幅変調;および共鳴励起が高周波電界の周波数とは異な
る周波数にある四重極の半径の周期変動。
グメントイオンの内の1つの共鳴励起を生じるように選択された、四重極により
施された2つ以上の励起を含めることができる。
る全てのエネルギーが衝突において消散する励起閾値がある。そのため、閾値は
励起されたイオンの衝突特性を反映し、したがって、イオン断面および移動度を
測定することができる。
発解離により物質を分析する装置であって、 親イオン流を生成するイオン源、 前記親イオン流を受け入れ、バッファガスが供給される四重極イオンガイドで
あって、該親イオンと該バッファガスとの間で衝突誘発解離を行うための四重極
イオンガイド、 前記四重極イオンガイドを通してイオンを導くために、該四重極イオンガイド
内で高周波電界信号を生成する手段であって、該四重極イオンガイドに接続され
た生成手段、 前記親イオンの共鳴励起を生じさせ、それによって、前記親イオンと前記バッ
ファガスとの間の増進された衝突誘発解離を生じ、フラグメントイオンを生成す
るために前記四重極イオンガイドに接続された励起信号を発生する手段、および 親イオンおよびフラグメントイオンを受け入れ、イオンスペクトルを分析する
ための、前記四重極イオンガイドに接続された質量分析器、 を備えた装置が提供される。
たは八重極装置のような様々な多重極器具に適用できることも予測できる。これ
らの装置において、イオンの永年周波数はその位置に依存し、そのために、質量
分解能および選択性はそれほど高くならない。しかしながら、ある用途にとって
は、他の多重極装置において得られる選択性で十分かもしれず、それゆえ、本発
明の方法および装置の両者は、様々な多重極装置を用いて実施することができる
。
で、例として、添付した図面を参照する。
はエレクトロスプレイイオン源12を含む。熱い乾燥窒素16により荷電された液滴
を気化させるために、ガスカーテンステージ14が用いられる。加熱された毛管18
がガス・イオン混合物を、大気圧と高真空との間のインターフェースの第1段階
である真空チャンバ22中に導入する。
ゆえ、チャンバ22の圧力は通常約2.4トルである。集束電極20が、バッファガス からイオンを分離し、これらのイオンをスキマー28に向けて方向付けるのを補助
する。スキマー28は第2のチャンバ26から界面の第1のチャンバ22を隔てる。次
のポンプのために接続部30が設けられており、この段階での圧力は約0.1トルで ある。チャンバ26内に四重極イオンガイド32が既知の様式で設けられている。
第2段階から隔てられている。グリッド電極37が、飛行時間(TOF)型分析器
の入口開口部40にイオンを集束させる。
レイから構成されている。TOFの底部で電極を横切って電位差が印可されてい
ない蓄積期間中に、既知の様式で、イオンが最初に蓄積−排出領域を満たす。次
いで、イオンを加速カラム中に排出または駆動するために、底部板に電圧がパル
スとして印可される。蓄積−排出の繰返しの過程により、劇的に損失を生じずに
連続イオンビームを分析することができる。44で示したように、加速後のイオン
は、メインTOFチャンバ46中に進入する。
対方向に向ける電界を生じ、いわゆる「時間集束効果」のためにTOFスペクト
ルの品質を改良する。イオンは、検出器52で採集され、加速カラム42の底部から
この平面までの飛行時間が測定されて、イオンの質量対荷電数の示度が得られる
。
のあるイオンの衝突誘発解離を生じるように作動される。この点に関して、利用
できる多くの多重極設計の中でも、四重極イオンガイドが独特な特徴を有する。
完全な四重極電界において安定な軌道を有するイオンは、それらのm/z比およ
び四重極に加えられるRF電界のパラメータにより決定される、いわゆる基本ま
たは永年周波数により、四重極の中心軸の周りで振動する。各々のイオンの基本
周波数は、イオンの初期座標および速度とは独立している。
の電界が四重極イオンガイド32に加えられれば、この電界により、特定のm/z
比のイオンを共鳴励起できることを発見した。そのような電界は:
変化により、同様の共鳴励起を提供できる。さらに、いくつかの異なるプリセッ
ト周波数での励起により、異なるm/z比を有する多数の異なるイオンを励起す
ることができる。
ような共鳴励起が知られており、ロッドに衝突させることによりある同位体を四
重極から除去し、それによって、イオンビームを好ましい同位体が豊富であるよ
うにするために、その同位体のm/zを選択的に励起させることにより、この共
鳴励起を同位体分離に使用することが提案されている(Dawson, Quadrupole mas
s spectrometry and its application)。3D(三次元)四重極イオントラップ
における衝突誘発解離およびイオン検出に同様の共鳴励起法が用いられている。
、イオンが励起され、次いで、適切な期間後にフラグメンテーションされる。本
発明において、イオンは、四重極を通過したときに、捕獲されずにフラグメンテ
ーションされる。これらのイオンはこの四重極内に限られた時間しか滞在しない
ので、それらイオンには、四重極の端部に到達する前に、ロッドに当たらずに、
励起され、フラグメンテーションされる十分な時間がないと以前には考えられて
いた。同様に、イオントラップは、約1ミリトル以下のヘリウムの圧力で作動さ
れており、これは、より高い圧力が放射状のイオンの動きを弱めるように機能す
るので、イオンが選択的に励起され、100ミリトルのような圧力でフラグメンテ ーションされ得るか否かに関しては示していない。さらに、「分解能」(実際に
は、図4のaに示したような約100ダルトン幅の窓)、高圧、および高圧でのフ ラグメンテーションの効率は、全く従来技術からは導くことができなかった。
び作業様式にある。イオントラップは貯蔵型の質量分析計である;イオンが最初
に蓄積され、次いで処理され、その後検出される。イオントラップ内の3D四重
極電界は、3次元全てで作用し、イオンをトラップの中央に向かって集束させる
。四重極イオンガイドまたは2D四重極は通常フロー装置である。この装置は、
入口から出口までイオンを一定に流動させる。2D電界は、四重極の軸に対して
直交した2次元で作用し、四重極の軸に向けてイオンを集束させる。
発明者は、主要な四重極の端部で原子に印可されるより高いDC電位により両端
で閉じている貯蔵様式でその電界を使用することを提案している。これとは対照
的に、本発明においては、励起方法がフローモードで用いられる。また、フィニ
ガンの特許では、検出すべきイオンの放射排出の使用が提案されている。その特
許は、四重極の一方のロッド内のスリットを通しての共鳴励起および排出を示唆
しており、これは、3Dイオントラップにおいて実施されている検出方法に類似
している。このことは、排出されたイオンのビームが広い空間および速度分布を
有することを意味している。したがって、このビームを別の分析装置、例えば、
TOFまたはICR質量分析計中に導入し、後者の装置の可能な最良の分解能を
得るようにそのビームを取り扱うことは難しいであろう。我々の場合には、排出
は軸方向であり、これは、別の装置、例えば、図1に示したTOF質量分析器中
に容易に導入できる高品質のビームを与える。
こりやすくなる。得られたフラグメンテーションされたイオンは通常、共鳴励起
が施されないほど親イオンとは異なるm/z比を有する。実際には、これらのフ
ラグメントイオンは、冷め、四重極32の軸に集束されるようになる。
、すなわち、イオンをそれらのm/z比に基づいて選択することにより、フラグ
メンテーションに関してイオンを選択することができる。これは、別の衝突セル
中でフラグメンテーションするために上流の四重極質量フィルタ内でイオンを選
択することといくぶん類似している。ここでは、選択および衝突の2段階が、余
分な信号生成または変調装置に加えて任意の他の装置を追加せずに、1つの四重
極内で行われる。この装置自体は、選択および中間段階で損失がないので、より
高い選択性を提供できるはずである。
しくは、以下に個別に記載される、3つの好ましいモードの励起がある:四重極
電界に印可されたそれ自体の周波数での励起信号;励起周波数での主要RF四重
極電界の増幅変調;および励起信号での四重極に関する主要RF信号の位相また
周波数変調。この追加の励起信号は、既知の装置を用いて容易に与えることがで
きる。このことが図1に示されており、ここでは、60が、四重極イオンガイド32
にRFおよびDC励起を提供する従来の装置を示しており、62が、本発明により
必要とされる追加の励起信号を提供する追加の回路または装置を示している。
の方程式により示される:
、以下の方程式により示される:
。ペプチドである物質Pを用いて、図1の装置においてイオンを生成した。第1
の試験において、以下の方程式により示されるように、RF電位は1.93Hzの周
波数で690ボルトであった:
オンおよび単独に荷電されたイオンの両方が観察された。m/z=674m/zで 二重に荷電されたイオンの著しいピークが70に示されるように観察された。この
ことが、600-800m/zの範囲のスペクトルを拡大スケールで示す挿入された図 3のbにより詳しく示されている。
り行った。この電界に、9ボルトの電位および231kHzの周波数を有する追加 の成分を加えた。この全信号は、以下の方程式により示される:
ァガスとのエネルギー衝突が生じ、イオンのフラグメンテーションが行われるよ
うに励起されることが分かった。このバッファガスは窒素であった。その結果と
して、挿入された図4のbに最もよく示されたように、約600m/zからちょう ど700m/zより上までのスペクトルに窪みがあり、フラグメントの強いピーク が観察された。これに対応して、フラグメンテーションされたイオンが、そのス
ペクトルの他の部分でより大きい濃度を与える。
互に記録されたスペクトルのときに、最良の結果が得られることが分かった。こ
の手段により、イオン強度のゆるやかな変動は、得られる減算されたスペクトル
に影響を与えない。
aのスペクトルが減算された図4のaのスペクトルを示している。図6には、こ
のスペクトルにおいて同定される様々なフラグメントを示す標準的な記号が付け
られている。
いる。ここでも、基本RF信号について、同一の電圧および周波数を用いた。こ
の信号増幅は、以下の方程式により示される、ここでも231kHzの周波数での 最大17%までの正弦波変動が施されている。
布があるが、図4のaにおいて得られたものと非常に似ているのが分かる。スペ
クトルの窪みが78で、フラグメントが79で示されている。調査される物質および
他の特徴に依存して、適切な励起方法を選択して、最適な結果を得ることができ
る。
しくなることが分かった。この閾値は、励起周波数の周期に亘り平均された励起
消散力のバランスにより決定される。その結果、イオンの移動度および衝突断面
が与えられれば、消散力を測定することができる。
Sと比較してより高い選択性を提供することが予測される。標準的なMS−MS
技法または実験において、親イオンを選択する質量フィルタを通るイオンの移送
は、10%ほどと低くて差し支えなく、そのために、潜在的に利用できるイオンビ
ームのわずかな分画のみがなんとかフラグメントイオンを生じることができる。
これとは対照的に、本発明の技法によれば、全ての親イオンがフラグメンテーシ
ョンに利用できる。これらの種類の分析技法がしばしば、非常に少量の試料しか
利用できない状況で用いられることが理解されよう。例えば、ある科学的または
生物学研究において、非常に少量の試料しか利用できない。これらの種類の質量
計は、薬物、爆発物等に関する犯罪捜査にもしばしば用いられ、ここでも、微量
すなわち少量の試料しか利用できない。ゆえに、高感度の装置を有することが非
常に望まれている。
計の代わりに、四重極、または飛行時間型装置いずれか1つの質量分析器しか必
要としないことが利点である。後者は図1に示されている。
2の実施の形態を示す図2を参照する。この装置80は、イオン源82、および第1
の質量分析器または四重極84を有する。この装置には、既知の様式で、入口スキ
マー板85および四重極ロッドセット86が設けられている。この装置は、従来の四
重極質量フィルタにおけるように低い圧力で作動される。圧力は、10-4トルから
高真空まで変動しても差し支えない。圧力は、作動パラメータ、おもに寸法に依
存し、所望の関心のあるm/zを有するイオンを選択するように純粋に作動する
。次いで、これらのイオンは、ロッドセット87を有する、概して番号88により示
される第2の四重極中に進入する。次いで、第1の実施の形態の四重極セットま
たはガイド32のように、この装置は、例えば、10-4トルから1トルまでの高圧で
作動され、ここでも、圧力は作動パラメータ、主に寸法に依存する。前記方程式
の内の1つによる信号が加えられ、所望のイオンの励起、フラグメンテーション
等が行われる。次いで、フラグメンテーションされたイオンは、四重極または飛
行時間型質量分析計のようないずれの適切な分析装置であって差し支えない最後
の質量分析計90まで通過させられる。
ンを効果的に第1の質量分析器84中でフィルタにより除いても差し支えない。次
いで、望ましいイオンのみを第2の四重極88内で励起させる。本発明の技法の選
択性は完全ではなく、この第2の技法は、信号を妨害するまたは信号を劣化させ
る可能性のあるイオンを確実に予め除去できることが理解されよう。
をMS−MS−MSまたはMSn装置にさえ拡張するために、本発明を適用でき
ることも理解されよう。MS−MS−MSに関して、このことは、通常の様式で
Q1中で親イオンを選択し(第1のMS選択);数十eVのエネルギーでバッフ
ァガスQ2中にイオンを加速させ、導入し;上述した本発明を用いて、Q3中の
フラグメントの内の1つを選択的に励起させ;Q2(またはTOFであっても差
し支えない最後のMS中)において得られたスペクトルを分析することを意味す
る。上述した減算法を用いて、元の親のフラグメントから「フラグメントのフラ
グメント」を分離しても差し支えない。いずれにせよ、これは、フラグメントの
フラグメントスペクトルを提供するので、MS−MS−MSと称することができ
る。MS−MS−MS−MSは、この発想をさらに実施し、一方がフラグメント
のフラグメントに対して調整され、他方が「フラグメントのフラグメントのフラ
グメント」に対して調整される等の2つの例を提供する。減算法(すなわち、励
起オン/オフ法)を用いて、上述したように、デコンボリューションまたは分析
を行われる。実際に、本発明により、従来の装置では2つ以上のMS段階を必要
とした多数の工程を1つの段階で行うことができる。これによって、多段階の問
題および段階の間の試料の損失が避けられる。
たがって、上述した方程式が基本励起周波数に加えられる1つの追加の周波数を
示唆しているが、励起のためにいくつかの追加の周波数を用いても差し支えない
。これにより、多数の異なるイオンを同時に励起することができる。これら追加
の周波数を、追加の親イオンを励起するために、または加えられる第1の周波数
により生じる励起により発生することが知られているフラグメントイオンを励起
させるためのいずれかに用いても差し支えない。言い換えれば、第1の周波数を
、所望のイオンの励起を行うために選択することもできる。これにより、あるフ
ラグメント、例えば、図4のaにおけるフラグメント72、73または74が発生する
ことが分かっているので、例えば、フラグメント74のために選択された第2の追
加の周波数を同時に加えても差し支えない。次いで、これにより第2のフラグメ
ントが得られる。この倍加効果を所望なだけ多く施し、それによって、実際に、
1つの衝突四重極中で(MS)nを行えることが理解されよう。ここでも、これ
により、ある四重極から別の四重極へのイオンの移送により必ず、イオンが損失
されたり、信号が損失されたりするので、高効率が導かれる。
ールのグラフ
Claims (10)
- 【請求項1】 物質を分析する方法であって、 (1) 該分析をイオン化して、イオン流を生成し、 (2) 該イオン流を四重極イオンガイドに供給し、 (3) 該イオンガイドにバッファガスを提供し、 (4) 前記四重極イオンガイドにより高周波電界を印加して、所望のイオンを 前記イオンガイドを通して安定な軌道に維持し、 (5) 工程(4)において印加した高周波電界に加えて、前記イオンガイドに周期
的変化を加えて、選択されたm/z比を有するイオンの共鳴励起を生じ、それに
よって、選択されたイオンが増大した運動エネルギーを得て、前記バッファガス
との増進した衝突誘発解離を生じ、 (6) フラグメンテーション後に前記イオンのスペクトルを分析する、 各工程を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項2】 前記四重極内の追加の電界の印可;前記四重極により印加さ
れた高周波電界の増幅変調;前記四重極により印加された高周波電界の周波数変
調;および前記四重極の半径における周期的変動の内の1つによる共鳴励起を前
記選択されたイオンに施す工程を含み、該共鳴励起が、前記高周波電界の周波数
と異なる周波数であることを特徴とする請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 前記共鳴励起を前記関心のあるイオンの基本周波数にあるよ
うに選択する工程を含むことを特徴とする請求項2記載の方法。 - 【請求項4】 追加の励起電界が、追加に選択された親イオンおよびフラグ
メントイオンの内の1つの共鳴励起を生じるように選択された、少なくとも1つ
の追加の励起電界を前記四重極内に印可する工程を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項5】 前記四重極イオンガイドにより生成された電界および追加の
電極により生成された電界の内の1つにより追加の励起を施す工程を含むことを
特徴とする請求項4記載の方法。 - 【請求項6】 選択されたイオンの共鳴励起および選択的衝突誘発解離によ
り物質を分析する装置であって、 親イオン流を発生させるイオン源; 該親イオン流を受け入れる四重極イオンガイドであって、バッファガスが供給
され、前記親イオンと前記バッファガスとの間で衝突誘発解離を生じる四重極イ
オンガイド; 前記四重極イオンガイドを通してイオンを導くための、該四重極イオンガイド
内に高周波信号を生成する手段であって、該四重極イオンガイドに接続された手
段; 前記親イオンの共鳴励起を生じ、それによって、該親イオンと前記バッファガ
スとの間で増進された衝突誘発解離を生じ、フラグメントイオンを生成するため
に、前記四重極イオンガイドに接続された、励起信号を生成する手段; 親イオンおよびフラグメントイオンを受け入れ、そのイオンスペクトルを分析
する、前記四重極イオンガイドに接続された質量分析器; を備えることを特徴とする装置。 - 【請求項7】 前記励起信号を生成する手段が、前記高周波信号に加えるた
めの追加の信号を生成する手段;前記高周波信号の増幅変調を提供する手段;お
よび前記高周波信号の周波数変調を提供する手段の内の1つを備えることを特徴
とする請求項6記載の装置。 - 【請求項8】 前記質量分析器が飛行時間型質量分析器を含むことを特徴と
する請求項6記載の装置。 - 【請求項9】 前記イオン源がエレクトロスプレイイオン化源を含むことを
特徴とする請求項6記載の装置。 - 【請求項10】 前記四重極イオンガイドまで伝達させるために、関心のあ
る親イオンを選択する、前記イオン源と該四重極イオンガイドとの間に提供され
た追加の四重極分析器を含むことを特徴とする請求項6記載の装置。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003507874A (ja) * | 1999-08-26 | 2003-02-25 | ユニバーシティ オブ ニュー ハンプシャー | 多段型の質量分析計 |
JP2003526873A (ja) * | 1998-10-16 | 2003-09-09 | フィニガン コーポレイション | 四極イオントラップにおけるイオンフラグメンテーション法 |
JP2004527768A (ja) * | 2001-05-25 | 2004-09-09 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 荷電の異なるイオンの分離を促進する質量分析法 |
JP2005524196A (ja) * | 2002-04-24 | 2005-08-11 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 軸方向電場及びガスのカウンターフローを備えるイオンガイドを利用してイオンの移動度分離を実施するための装置及び方法 |
JP2005534140A (ja) * | 2002-05-13 | 2005-11-10 | サーモ・エレクトロン・コーポレーション | 改良された質量分析計およびその質量フィルタ |
JP2008521189A (ja) * | 2004-11-18 | 2008-06-19 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2020074262A (ja) * | 2018-07-17 | 2020-05-14 | 株式会社島津製作所 | 四重極質量分析装置および質量分析方法 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9820210D0 (en) * | 1998-09-16 | 1998-11-11 | Vg Elemental Limited | Means for removing unwanted ions from an ion transport system and mass spectrometer |
US7157700B2 (en) * | 2001-06-30 | 2007-01-02 | Sionex Corporation | System for collection of data and identification of unknown ion species in an electric field |
US6806463B2 (en) * | 1999-07-21 | 2004-10-19 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
WO2001069217A2 (en) * | 2000-03-14 | 2001-09-20 | National Research Council Canada | Faims apparatus and method with ion diverting device |
US7119328B2 (en) * | 2001-06-30 | 2006-10-10 | Sionex Corporation | System for DMS peak resolution |
US6946653B2 (en) | 2001-11-27 | 2005-09-20 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Methods and apparatus for improved laser desorption ionization tandem mass spectrometry |
US7122794B1 (en) | 2002-02-21 | 2006-10-17 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion mobility control |
US6982417B2 (en) * | 2003-10-09 | 2006-01-03 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Method and apparatus for detecting low-mass ions |
CA2551991A1 (en) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Sionex Corporation | Methods and apparatus for enhanced sample identification based on combined analytical techniques |
WO2005081944A2 (en) | 2004-02-23 | 2005-09-09 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Ion source with controlled superposition of electrostatic and gas flow fields |
US8003934B2 (en) | 2004-02-23 | 2011-08-23 | Andreas Hieke | Methods and apparatus for ion sources, ion control and ion measurement for macromolecules |
GB0420408D0 (en) | 2004-09-14 | 2004-10-20 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0427632D0 (en) * | 2004-12-17 | 2005-01-19 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB2441943A (en) | 2005-07-26 | 2008-03-19 | Sionex Corp | Ultra compact ion mobility based analyzer system and method |
EP2245650A4 (en) * | 2008-01-30 | 2015-11-18 | Dh Technologies Dev Pte Ltd | ION FRAGMENTATION IN MASS SPECTROMETRY |
US8772711B1 (en) | 2013-08-27 | 2014-07-08 | Battelle Memorial Institute | Apparatus and method of dissociating ions in a multipole ion guide |
CN108376637B (zh) * | 2018-04-19 | 2023-05-26 | 南京信息工程大学 | 实现对自由飞行区解离碎片分辨的离子速度成像仪 |
JP2023550431A (ja) * | 2020-11-19 | 2023-12-01 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析の堅牢性を強化するためにバンドパスフィルタリング衝突セルを使用して高強度イオンビームのms/msを実施する方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4234791A (en) | 1978-11-13 | 1980-11-18 | Research Corporation | Tandem quadrupole mass spectrometer for selected ion fragmentation studies and low energy collision induced dissociator therefor |
US5089703A (en) | 1991-05-16 | 1992-02-18 | Finnigan Corporation | Method and apparatus for mass analysis in a multipole mass spectrometer |
US5179278A (en) * | 1991-08-23 | 1993-01-12 | Mds Health Group Limited | Multipole inlet system for ion traps |
US5448061A (en) * | 1992-05-29 | 1995-09-05 | Varian Associates, Inc. | Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling |
DE4316737C1 (de) * | 1993-05-19 | 1994-09-01 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zur digitalen Erzeugung einer zusätzlichen Wechselspannung für die resonante Anregung von Ionen in Ionenfallen |
US6011259A (en) * | 1995-08-10 | 2000-01-04 | Analytica Of Branford, Inc. | Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis |
DK0748249T3 (da) * | 1994-02-28 | 2009-11-09 | Analytica Of Branford Inc | Multipolionguide for massespektrometri |
US5420425A (en) * | 1994-05-27 | 1995-05-30 | Finnigan Corporation | Ion trap mass spectrometer system and method |
DE19520319A1 (de) | 1995-06-02 | 1996-12-12 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die Einführung von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen |
US5576540A (en) * | 1995-08-11 | 1996-11-19 | Mds Health Group Limited | Mass spectrometer with radial ejection |
US5672870A (en) | 1995-12-18 | 1997-09-30 | Hewlett Packard Company | Mass selective notch filter with quadrupole excision fields |
-
1998
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003526873A (ja) * | 1998-10-16 | 2003-09-09 | フィニガン コーポレイション | 四極イオントラップにおけるイオンフラグメンテーション法 |
JP2003507874A (ja) * | 1999-08-26 | 2003-02-25 | ユニバーシティ オブ ニュー ハンプシャー | 多段型の質量分析計 |
JP2004527768A (ja) * | 2001-05-25 | 2004-09-09 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 荷電の異なるイオンの分離を促進する質量分析法 |
JP2005524196A (ja) * | 2002-04-24 | 2005-08-11 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 軸方向電場及びガスのカウンターフローを備えるイオンガイドを利用してイオンの移動度分離を実施するための装置及び方法 |
JP2005534140A (ja) * | 2002-05-13 | 2005-11-10 | サーモ・エレクトロン・コーポレーション | 改良された質量分析計およびその質量フィルタ |
JP2008521189A (ja) * | 2004-11-18 | 2008-06-19 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2020074262A (ja) * | 2018-07-17 | 2020-05-14 | 株式会社島津製作所 | 四重極質量分析装置および質量分析方法 |
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