JP2001514385A - 耐候性試験装置における放射線強度の時間的特性経過の検出のための方法および装置 - Google Patents
耐候性試験装置における放射線強度の時間的特性経過の検出のための方法および装置Info
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Abstract
Description
線および全放射線生成のための固定的放射線装置を中心に円形の移動経路を移動
し、放射線装置の目下の放射線強度を検出する少なくとも1つのセンサが設けら
れており、該センサは少なくとも1つのサンプルと共に、サンプルに対し放射線
装置に関して、例えば移動経路の周方向にずらされて実質的に移動経路を移動し
、前記センサによって、目下の放射線強度に相応する電気的な測定信号が所定の
時間間隔で導出される、少なくとも1つの被検サンプルの箇所における放射線強
度の時間的特性経過の検出のための方法に関している。また本発明はさらにこの
方法を実施するための装置に関している。
いる。このサンプルは、密閉されたサンプルチャンバ内で円形の移動経路上に分
配され固定的な放射線装置を中心にして移動する。その際耐候性試験装置内には
レインロッド“Regenstaebe”やその他の固定の装置部材などが、所要の環境条 件の考慮のために設けられることがある。そのため放射線装置からサンプルまで
のビーム経路ならびにこのサンプルと共に移動するセンサまでのビーム経路がこ
れらの装置技術上の障害物によって繰返し中断されたり妨害されたりする。公知
の装置では放射線強度の時間的特性経過は次のようにして検出されている。すな
わち実質的に個別の放射線強度の瞬時ピックアップを比較的長い時間間隔で行な
ったり移動経路の個々の周方向位置において行うようにして検出されている。そ
のため前述したような装置技術上の理由から避けることのできないビーム中断が
放射線強度の検出の際の測定エラーにどのように影響するのかを予測することが
できない。特にこのビーム中断は放射線装置周辺のセンサの不利な回転位置にお
いて繰り返し発生し得るので、サンプルへの放射線に関する著しい測定エラーが
発生する。
ような従来装置の欠点を回避し、サンプルの箇所における放射線強度の時間的特
性経過の信頼性の高い検出を可能にすることである。この場合、装置技術上の個
々の固定的なビーム障害物が実質的にもはや測定結果を誤らせるような影響を与
えることはない。さらにこの方法は電池駆動型ないしバッテリー駆動型装置など
のような節電タイプもしくは省エネタイプの回路構成要素を用いた実現に対して
も適したものである。
の設定可能なタイムパターンに相応して当該比較的短いパターン間隔毎に少なく
とも一度、設定可能な時間的長さの所定の積分間隔に亘ってアナログ的に積分し
、そのようにアナログ的に積分された前記比較的短いパターン間隔毎の測定値を
デジタル化し、前記第1のタイムパターンの複数の順次連続するパターン間隔の
デジタル化された測定値を、比較的長いパターン間隔を有する第2の設定可能な
タイムパターンに相応して、当該比較的長いパターン間隔毎に算術的に加算して
平均化し、そのように算術的に加算し平均化して得られた測定値を、時間的に対
応付け可能にかつ呼出し可能にデジタル的に記憶するようにして解決される。
の影響が実質的に排除される。なぜなら短い時間間隔で繰り返されるアナログ的
積分過程のもとで時間的に継続する積分間隔とそれに続く複数の個々の測定結果
の加算並びに平均化によって、ビームに不都合な目下の状況が結果から取り除か
れるかないしは実質的に現われなくなるからである。当該方法は、比較的短い積
分間隔とそれに続くデジタル化及びデジタル継続処理並びに記憶のみのために、
比較的簡単で安価な実現、例えば市販の安価な構成素子を備えた電池駆動式並び
にバッテリー駆動式の装置や移動式装置に対して適している。その他にも商用電
源網のもとでの生じ得る電源周波数変動や障害の測定結果への影響も十分に抑圧
される。
い期間に亘って呼出し可能に記憶される。これにより放射強度の時間的特性経過
が比較的長い期間に亘ってもさほどメモリコストをかけずに検出を行うことが可
能となる。
隔のシフトのために当該方法のさらなる安全性が高められる。なぜなら同じよう
に作用し加算される既存の障害量がさらに低減されるからである。このことは一
方ではビーム障害物の影響に有効でありさらに商用電源の影響にも有効である。
て有利なことを証明する。このことは請求項8〜10の実施例にも相応に当ては
まる。
あり、放射線強度に相応して処理できる。
のようにして解決される。すなわち、センサの出力側に、クロック制御されたア
ナログ積分器が接続されており、該アナログ積分器は、測定信号を、比較的短い
パターン間隔を有する第1の設定可能なタイムパターンに相応して当該比較的短
いパターン間隔毎に少なくとも一度、設定可能な時間的長さの所定の積分間隔に
亘ってアナログ的に積分し、前記積分器の出力側に、アナログ/デジタル変換器 が接続されており、該アナログ/デジタル変換器は、前記積分器のアナログ的に 積分された測定値をそれぞれ個々の積分間隔の終端にてデジタル化し、前記アナ
ログ/デジタル変換器の出力側に、平均値形成する加算器が接続されており、該 加算器は、前記第1のタイムパターンの複数の順次連続するパターン間隔のデジ
タル化された測定値を、比較的長いパターン間隔を有する第2の設定可能なタイ
ムパターンに相応して、当該比較的長いパターン間隔毎に算術的に加算して平均
化し、前記加算器の出力側に、順次連続して算術的に加算され平均化された測定
サンプルの時間的な対応付けと呼出しが可能な記憶のための記憶装置が接続され
るようにして解決される。
実現を市販の構成要素を用いて可能にさせる。
合化が図られる。このクロック発生器は、それに影響する個々の装置構成要素の
適時動作を常に考慮するものである。その際請求項14によれば、マイクロプロ
セッサが特に有利であることが証明される。これもまた市販の安価で省エネ動作
するものである。この場合マイクロプロセッサは装置の作動経過全体を制御する
ことも可能である。
経過に相応する情報の一時的にないしは段階的に更新可能な記憶が可能となる。
向けてランダム制御でシフトされ得る。
合図1は、本発明による方法に従って動作する装置を備えた耐候性試験装置の概
略的な平面図であり、 図2は、本発明による方法を実施するための装置の詳細な回路部分の概略的なブ
ロック回路図であり、 図3は、本発明のさらなる実例を説明するためのダイヤグラムである。
全放射線生成のための一体形もしくは分割形に構成された固定の放射線装置10
が設けられている。この放射線装置10は、固定的で、放射線を妨害する、装置
技術的な障害物、例えば吸収板12,レインロッド“Regenstaeben”14、その
他の機械的装置部材などによって取り囲まれている。円形の移動経路16は例え
ば同心的に位置付けられた放射線装置10を中心に走っている。被検サンプル1
8(図中にはこれらのうちの3つが示されている)は作動モードにおいて放射線
装置10を中心に移動経路16上を案内され、放射線装置10の放射線によって
照射される。
の放射線に反応する少なくとも1つのセンサ20によって検出される。このセン
サも移動経路16上をサンプル18と共に移動し、図示の例ではサンプル18に
対して周方向にずらされて配置されている。但しこのセンサは、周方向にずらす
代わりにサンプル18に対して高さ方向にずらして配置させてもよい。
線装置からの放射線経路に交差する固定の機械的装置部材は、不可避な測定エラ
ーを生じさせる。このようなエラーは特に、センサ20が比較的長い時間間隔で
放射線強度の極短いピックアップしか行わない場合には著しい欠点となり得る。
このような不都合は、センサ20が放射線の妨害される領域内でしか動作を繰り
返さない場合にもあり得る。またネットワークの妨害が繰り返されても不都合に
作用し得る。このような欠点を回避するために、本発明による方法を実施するた
めの装置が図2に示されているように構成される。
16上を移動する受信ダイオード22の出力側が増幅器24を介して、クロック
制御された積分器26に接続されている。この積分器26自体は、アナログ/デ ジタル変換器28に接続されている。この変換器28の出力側は、平均値を形成
する加算器30に接続され、該加算器30は記憶装置32に接続されている。こ
の記憶内容はビジュアル装置34に表示可能である。マイクロプロセッサ36は
、当該装置の個々の構成要素を制御し、また当該実施例のように乱数発生器38
と結合させてもよい。
較的短いパターン間隔aの(これは例えば図3によれば1秒または0.5秒の長 さを有している)、第1の設定可能なタイムパターンを生成する。またこのマイ
クロプロセッサ36は、さらに短い積分間隔cを生成する(これは図3の実施例
では例えば0.3秒の長さを有する)。図3によれば、例えばパターン間隔a毎 に2つの同じ長さの積分間隔cが生成され、これらは重畳することなく相対抗す
る時間間隔でパターン間隔aにおいて分割される。図3の実施例によれば、これ
らはパターン間隔aにおいて0.5秒の際および1.0秒の際に終端している。
ナログでの積分を行う。各積分間隔cの終端に存在する積分器26の測定値は、
アナログ/デジタル変換器28によってデジタル化される。このデジタル化され た一連の値は、図3の上から二段目のダイヤグラムに概略的に示されている。
これは図3の実施例によれば例えば60秒の長さを有している)を有する第2の
設定可能なタイムパターンを生成する。各パターン間隔bの期間中に時間的にそ
れに属する複数の順次連続するパターン間隔aのデジタル化された測定値が、加
算器30によって算術的に加算され平均化される。このパターン間隔bの期間中
にデジタル化された値の算術的加算は、図3においては上から三段目のダイヤグ
ラムに階段状のグラフで示されている。
2に時間的に正しく対応付けされて記憶され、それに伴ってビジュアル装置34
上に適時に表示させてもよい。記憶装置32内には、そのつどの加算器30から
の最終的に生じた限定数の測定値が記憶される。これに対して例えば記憶装置3
2は複数の測定値によって実行されるシフトレジスタとして構成される。
されてシフトされてもよい。
り例えばタイムパターンのパターン間隔a,b並びにパターン間隔a内の積分間
隔cの数及び位置、それぞれ記憶装置32内に同時に記憶される測定値の数は、
そのつどの要求に応じて適合化可能なものである。さらに装置技術上の詳細な構
造についても多種多様な変更が可能である。
面図である。
回路図である。
Claims (16)
- 【請求項1】 少なくとも1つの被検サンプルの箇所における放射線強度の
時間的特性経過の検出のための方法であって、 前記サンプルは、耐候性試験装置の密閉されたサンプルチャンバ内で紫外線お
よび全放射線生成のための固定的放射線装置を中心に円形の移動経路を移動する
ものであり、放射線装置の目下の放射線強度を検出する少なくとも1つのセンサ
が設けられており、該センサは少なくとも1つのサンプルと共に、サンプルに対
し放射線装置に関して、例えば移動経路の周方向にずらされて実質的に移動経路
を移動し、前記センサによって、目下の放射線強度に相応する電気的な測定信号
が所定の時間間隔で導出される形式のものにおいて、 測定信号を、比較的短いパターン間隔を有する第1の設定可能なタイムパター
ンに相応して当該比較的短いパターン間隔毎に少なくとも一度、設定可能な時間
的長さの所定の積分間隔に亘ってアナログ的に積分し、 そのようにアナログ的に積分された前記比較的短いパターン間隔毎の測定値を
デジタル化し、 前記第1のタイムパターンの複数の順次連続するパターン間隔のデジタル化さ
れた測定値を、比較的長いパターン間隔を有する第2の設定可能なタイムパター
ンに相応して、当該比較的長いパターン間隔毎に算術的に加算して平均化し、 そのように算術的に加算し平均化して得られた測定値を、時間的に対応付け可
能にかつ呼出し可能にデジタル的に記憶することを特徴とする方法。 - 【請求項2】 前記算術的に加算し平均化した測定値を、設定可能な比較的
長い期間に亘って呼出し可能に記憶する、請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 前記第1のタイムパターンの順次連続するパターン間隔内の
積分間隔を時間的にシフトさせる、請求項1又は2記載の方法。 - 【請求項4】 前記第1のタイムパターンの順次連続するパターン間隔内の
積分間隔を、時間的に不規則に、例えばランダム制御してシフトさせる、請求項
3記載の方法。 - 【請求項5】 前記第1のタイムパターンは、約500msの一定のパター
ン間隔を有し、該パターン間隔毎に約200〜500msの長さの積分間隔を使
用し、前記第2のタイムパターンは、約60sの一定のパターン間隔を有してい
る、請求項1〜4いずれか1項記載の方法。 - 【請求項6】 前記第1のタイムパターンの積分間隔は、それぞれ一定のパ
ターン間隔の終端にて終了している、請求項1〜5いずれか1項記載の方法。 - 【請求項7】 前記第1のタイムパターンの積分間隔は、それぞれ一定のパ
ターン間隔の始端にて開始されている、請求項1〜5いずれか1項記載の方法。 - 【請求項8】 前記第1のタイムパターンのパターン間隔毎に少なくとも2
つの時間的に交差しない積分間隔が用いられる、請求項1〜7いずれか1項記載
の方法。 - 【請求項9】 前記少なくとも2つの積分間隔は同じ長さである、請求項8
記載の方法。 - 【請求項10】 前記少なくとも2つの積分間隔は異なる長さであり、それ
らの合計の長さは、第1のタイムパターンの全てのパターン間隔において同じ大
きさである、請求項8記載の方法。 - 【請求項11】 放射線強度に対して付加的にさらなる測定量、例えば空気
湿度および/または空気温度が、放射線に依存する測定信号に相応して検出され 継続処理される、請求項1〜10いずれか1項記載の方法。 - 【請求項12】 請求項1〜7に記載の方法を実施するための装置であって
、中央の放射線装置の目下の放射線強度を検出するための少なくとも1つのセン
サを有しており、該センサは少なくとも1つの測定サンプルと共に、サンプルに
対し放射線装置に関して、例えば移動経路の周方向にずらされて円形の移動経路
を移動し、前記センサによって、目下の放射線強度に相応する電気的な測定信号
が導出される形式のものにおいて、 センサ(20,22)の出力側に、クロック制御されたアナログ積分器(26 )が接続されており、該アナログ積分器(26)は、測定信号を、比較的短いパ
ターン間隔(a)を有する第1の設定可能なタイムパターンに相応して当該比較
的短いパターン間隔毎に少なくとも一度、設定可能な時間的長さの所定の積分間
隔(c)に亘ってアナログ的に積分し、 前記積分器(26)の出力側に、アナログ/デジタル変換器(28)が接続さ れており、該アナログ/デジタル変換器(28)は、前記積分器のアナログ的に 積分された測定値をそれぞれ個々の積分間隔(c)の終端にてデジタル化し、 前記アナログ/デジタル変換器(28)の出力側に、平均値形成する加算器( 30)が接続されており、該加算器(30)は、前記第1のタイムパターンの複
数の順次連続するパターン間隔(a)のデジタル化された測定値を、比較的長い
パターン間隔(b)を有する第2の設定可能なタイムパターンに相応して、当該
比較的長いパターン間隔毎に算術的に加算して平均化し、 前記加算器(30)の出力側に、順次連続して算術的に加算され平均化された
測定サンプルの時間的な対応付けと呼出しが可能な記憶のための記憶装置(32
)が接続されていることを特徴とする装置。 - 【請求項13】 前記積分器(26)と、アナログ/デジタル変換器(28 )と、加算器(30)は、少なくとも1つの設定可能なクロック発生器(36)
に接続されている、請求項12記載の装置。 - 【請求項14】 第1のタイムパターン並びに第2のタイムパターンおよび
積分間隔を生成し、当該装置の個々の部分を制御するマイクロプロセッサ(36
)が設けられている、請求項11又は12記載の装置。 - 【請求項15】 前記記憶装置(32)は、シフトレジスタとして構成され
ている、請求項12〜14いずれか1項記載の装置。 - 【請求項16】 積分間隔のランダム制御されたシフトのために、前記クロ
ック発生器ないしマイクロプロセッサ(36)に接続される乱数発生器(38)
が設けられている、請求項12〜15いずれか1項記載の装置。
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