JP2001506918A - Ｉｃ素子を選別するための方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本発明は、予め定義可能な基準のクラスに従って工業プロセスの終末過程でＩＣ素子を選別するための方法に関する。前記方法に従って、多様なツメ（２２，２４）により支持プレート（１０）のハウジング（１２）から、ＩＣ素子（１８）が同時に除去される。支持プレート（１０）のハウジングから素子を除去するために、予め定義可能なアクセス領域（２８）が各ツメ（２２，２４）に割り当てられており、すべてのツメ（２３，２４）のアクセス領域は重なり合わない。各ツメ（２２，２４）が、ある特定の基準のクラスに属するＩＣ素子（１８）を、それの各アクセス領域（２８）の内側に位置する指示場所上のハウジング（１２）から除去するに従って、前記支持プレート（１０）は徐々にツメ（２２，２４）を通り過ぎて移動する。

Description

【発明の詳細な説明】 ＩＣ素子を選別するための方法 本発明は、終末段階での製造中に、予め定義可能な基準のクラスに対応して選 別され、特にその試験結果に対応する異なるクラスに選別されるＩＣ素子の選別 方法に関する。 ＩＣ素子の生産においては、素子は、終末段階で種々の試験を受ける。それ以 降、ＩＣ素子はその試験結果に対応して異なるクラスに選別される。選別プロセ スは、ＩＣ素子が終末段階で輸送されるトレイの個々の受入れ部分にアクセスす る複数のグリップ手段の助けを借りて実行される。各グリップ手段は、拾い上げ 、その試験結果に対応して分類して、配置するために、各ＩＣ素子にアクセスす ることができる。このプロセスは、比較的に時間を要する。 更に、素子が連続して試験され、その試験結果に対応して、複数の倉庫の内の １つに連続して供給される試験及び選別装置が、ＤＥ ３５ ３９ ９６８ Ａ １及びＤＥ ３６ ３８ ４３０ Ａ１から知られている。 本発明の目的は、きわめて効果的であり、かつそれによりトレイのＩＣ素子の すべてが最短時間内に異なるクラスに選別される、終末段階でＩＣ素子を選別す るための選別方法を提供することである。 前記目的を解決するために、本発明に従って、予め定義可能なクラスに対応し て終末段階でのＩＣ素子の選別のための方法が提供され、その方法では、ＩＣ素 子は、複数のグリップ手段によりトレイの受入れ部分から同時に除去され、各グ リップ手段は、トレイの受入れ部分からＩＣ素子の除去のための予め定義可能な アクセス領域を備え、すべてのグリップ手段のアクセス領域には相互に重なりが なく、トレイが、グリップ手段を越えて段階を経て移動され、各グ リップ手段が、基準の１つのクラスに属するＩＣ素子だけを、各グリップ手段の アクセス領域に属するトレイの受入れ部分から除去する。 本発明に従った方法においては、ＩＣ素子が選別されるべきクラスの数にその 数が少なくとも等しい複数のグリップ手段が利用される。各グリップ手段は、ト レイの受入れ部分からＩＣ素子を除去するために自身が移動できる、自身に割り 当てられた特定のアクセス領域を有する。アクセス領域のすべては、互いに重な りあっていない。トレイの各受入れ部分が、すべてのグリップ手段のアクセス領 域を通って移動されるように、トレイは、グリップ手段を通り過ぎて移動される 。トレイの段階を経た前進の間に、グリップ手段に割り当てられたアクセス領域 に目下配置されているトレイのそれらの受入れ部分から、各グリップ手段は、そ れぞれの予め定義された基準に基づき、例えば試験結果に基づき、ある特定のク ラスに割り当てられるそれらのＩＣ素子だけを除去するだろう。 このようにして、本発明の方法においては、グリップ手段を通り過ぎるトレイ の連続する段階を経た輸送が実行され、グリップ手段はＩＣ素子に並列的にアク セスする。このようにして、選別機構及び選別方法の有効性はそれぞれ、いわば 過去に知られていたバッチに似た処理の代わりに選別方法が連続して実行される という趣意で決定的に高められる。 これらのＩＣ素子のすべてがまったく同じクラスに属しているために、グリッ プ手段が、そのアクセス領域内に目下位置している平均より多い数のＩＣ素子に アクセスしなければならない場合、クラス毎に複数のグリップ手段を提供するこ とが有利である。トレイのステップ単位の輸送のために、クラスあたりのこの複 数のグリップ手段は、連続して使えるようにする。最初に使用されるグリップ手 段は最大数のＩＣ素子を除去するだろう。従って、必要とされる時間期間は、残 りの状態での滞在時間に、つまりトレイのステップ単位の輸送の循環速度に適応 される。第１グリップ手段に割り当てられるクラスのＩＣ素子のすべてがこの時 間期間内に除去されてしまわない場合には、このクラスに割り当てられた第２グ リップ手段により次のＩＣ素子が除去されるだろう。また、このグリップ手段は 、最大数のＩＣ素子を除去するだろう。両方のグリップ手段が合わせてそれらの アクセス領域内にそれぞれ配列されるＩＣ素子のすべてを除去できないケースが 想像できる限り、このクラスのＩＣ素子の残りが追加グリップ手段のアクセス領 域内に入るとすぐに、これらを受入れ部分から除去することができる、追加グリ ップ手段が具備される。 通常、終末過程の生産領域内でＩＣ素子を輸送するためには、規則正しく、特 に、行列形式例えば相互に直交する列と行とで再び配列される複数の深められた 受入れ部分を備えるトレイが利用される。このようなトレイ内では、トレイの受 入れ部分の列（または代わりに行）を有する１つのアクセス領域を、各グリップ 手段に割り当てることが適切である。この場合、グリップ手段のすべては、トレ イの移動方向に互いに連続して隣合って配列されている。トレイ自体の前進移動 は、受入れ部分の列（または代わりに行）の延長部に直角で適切に実行される。 本発明の実施の形態は、図を参照して以下に更に詳細に説明されるだろう。 図１は、行列形式で配列されるＩＣ素子用の複数の受入れ部分を有するトレイ の平面図である。 図２から図４は、図１によるトレイのステップ単位の前進移動中の、及び、Ｉ Ｃ素子が試験結果に基づいて割り当てられるクラスに 対応した異なるグリップ手段による個々のＩＣ素子の除去中の、連続段階の図式 による表記である。 図１は、ＩＣ素子の製造の終末段階で使用される、ＩＣ素子を輸送するための プラスチック製のトレイの平面図を示す。トレイ１０は、規則正しく配置された 、深められた複数の受入れ部分１２を有する。これらの深められた受入れ部分１ ２は、トレイ１０上で相互に直交する列１４及び行１６で配列される。深められ た受入れ部分１２は、種々の種類の複数の試験を受けてきたＩＣ素子１８を収容 する。個々の試験結果は、トレイ１０内のＩＣ素子１８の受入れ位置に割り当て られる一方、メモリ内に記憶される。試験の結果に基づき、ＩＣ素子１８は、そ れぞれ異なるクラス及びグループに割り当てることができる。また、このクラス またはグループの割当ては、特にトレイ１０内のその受入れ位置に関して、各Ｉ Ｃ素子１８毎にメモリに記憶される。試験に続いて、例えば、図１の表記で右か ら第１列１４及び図１の表記で上から第５行１６に配列されるＩＣ素子１８はク ラス３に割り当てられなければならないことがメモリに記憶される。 トレイ１０のＩＣ素子１８を選別するために、ＩＣ素子１８は、トレイ１０の 輸送方向２０で直列に配列された複数の吸込みグリップ手段２２を通り過ぎて矢 印２０の方向に、図２に従って移動される。各吸込みグリップ手段２２は、二点 矢印２６により示されるトレイ１０の輸送方向に直交して実行されるトレイ１０ 上での前後動を行うように配置された吸込みヘッド２４を有する。言い替えると 各吸込みヘッド２４は、トレイ１０の深められた受入れ部分１２の列１４の延長 部内に配列されるアクセス領域２８内で移動する。吸込みグリップ手段２２のア クセス領域２８は、トレイ１０の輸送方向２０で、それぞれ互いに横方向に、及 び互いの後ろで配列される。 輸送方向２０でのトレイ１０の移動は、ステップ単位で実施され、トレイ１０ は、毎回１列１４の幅分だけ規則正しく移動し、それから所定の時間期間だけ休 止される。このようにして、トレイ１０は、吸込みグリップ手段２２のすべてを 通り過ぎて連続的に移動される。 図２は、輸送方向２０での受入れ部分１２の先行する列１４が第１吸込みヘッ ド２４のアクセス領域２８内に位置するように、トレイ１０が前進させられた状 態を示す。図２から図４のＩＣ素子１８及び吸込みヘッド２４の丸で囲まれたア ラビア数字は、合計で８つのクラスの内のどれにＩＣ素子１８が属しているのか 、または、吸込みヘッド２４がトレイ１０からどのクラスのＩＣ素子１８を除去 するのかを示す。図２では、ステップ単位の前進輸送の後であってトレイ１０の 停止期間中に、クラス１に割り当てられた吸込みヘッド２４が、（図２の表記で 上から数えられる）行２及び５のクラス１によって指定される２つのＩＣ素子１ ８を除去するために、第１列１４のＩＣ素子１８にアクセスする。吸込みヘッド ２４は、これらの２つのＩＣ素子１８を連続して除去し、それらを吸込みグリッ プ手段２２に割り当てられる移送サイト３０に配置し、仕分けされたＩＣ素子１ ８は、そこから更に輸送されるか、または、倉庫に入れられる。 クラス１に割り当てられた２つのＩＣ素子１８が、第１列１４から除去され、 トレイ１０の停止時間が経過した後、トレイ１０は、輸送方向２０に１列１４の 幅分だけ前進させられた後、再び停止される。それ以降、状況は、再び図３に応 じたものとなる。ここでは、輸送方向２０で見てトレイ１０の受入れ部分１２の 先行する２列１４が、クラス１及び２のＩＣ素子１８を選別するために設けられ た最初の２つの吸込みグリップ手段２２のアクセス領域２８内に位置する。図３ に示される状況においては、クラス１及び２用の２つの 吸込みヘッド２４は、輸送方向の深められた受入れ部分１２の第２列及び第１列 にアクセスする。このプロセスでは、クラス２に割り当てられた吸込みヘッド２ ４は、第１列の最上行と最後から２つ目の行とにあるＩＣ素子１８を除去し、一 方、クラス１に割り当てられた吸込みヘッド２４は、第２列から、上から数えて 第３行、第５行及び第８行に配列されるそれらのＩＣ素子１８を除去する。停止 期間の経過後、トレイ１０は再び１列の幅分だけ移動され、その結果、今度はト レイ１０の最初の３列１４がクラス１，２及び３に割り当てられた吸込みグリッ プ手段２２のアクセス領域２８内に配列される。図３に従った状況に続いて進ん だ状況が図４に示されている。図４に従った状況での除去処理は、これらのＩＣ 素子１８が各吸込みヘッド２２に割り当てられるクラスに属する限り、最初の３ 列１４の深められた受入れ部分１２に位置するＩＣ素子１８にアクセスする３つ の吸込みヘッド２４によって並列で実行される。従って、例えば、クラス３のＩ Ｃ素子を選別するために割り当てられた吸込みヘッド２４は、トレイ１０の第１ 列１４の上から３行目にあるＩＣ素子にアクセスする。クラス２のＩＣ素子１８ を選別するために割り当てられた吸込みヘッド２４は、輸送方向でのトレイ１０ の第２列の最上行及び最後から２行目にあるＩＣ素子にアクセスし、一方、クラ ス１に割り当てられた吸込みヘッド２４は、輸送方向での深められた受入れ部分 ２２の第３列１４から、最上行の深められた受入れ部分１２に配列される第３の ＩＣ素子１８を除去する。掴まれる各ＩＣ素子１８の上で、その移動方向２６に 吸込みヘッド２４を位置決めするための吸込みヘッド移動の制御は、ＩＣ素子１ ８の分類に関してメモリに記憶されるデータに従う。８つのクラスに割り当てら れる吸込みグリップ手段２２をトレイ１０がいったん完全に通り過ぎて移動され ると、トレイ１０のＩＣ素子１８のすべて は、そのクラスに対応して選別される間に、除去され、倉庫または類似した保管 手段の中に保管される。 ここに説明され、図に示される実施の形態においては、選別されるクラス毎に 、それぞれ１つの吸込みグリップ手段２２が設けられている。吸込みグリップ手 段２２のアクセス領域２８内に同時に位置する深められた受入れ部分１２の数の クラスの数に対する比が大幅に１より大きくない限り、クラスあたり１つの吸込 みグリップ手段２２で十分である。しかしながら、ＩＣ素子１８の考え得るクラ スの数が、吸込みグリップ手段２２のアクセス領域２８内に同時に位置する深め られた受入れ部分１２の数より大幅に少ない場合には、吸込みグリップ手段２２ の各アクセス領域２８には選別される複数のＩＣ素子１８が含まれていると仮定 されなければならない。アクセス領域２８あたりで複数のＩＣ素子１８を連続し て除去するには、所定の最小時間期間が必要になる。それにも関わらず、相対的 に小さい循環率で、つまりトレイ１０の短い停止期間で動作できるようにするた めには、列１４の同一に分類されたＩＣ素子１８の除去を、２つまたは３つ以上 のクロックサイクルにわたって分配することが勧められる。従って、例えば、ト レイ１０の輸送方向２０で互いに隣合う２つの吸込みヘッド２４が、同じクラス のＩＣ素子１８の除去のために設けられても良い。列あたりのこのクラスのＩＣ 素子１８の数が知られているため、列１４の同一に分類されたＩＣ素子１８のど のくらいの数、及び、どの素子をこのクラスに割り当てられる２つまたは３つ以 上の吸込みヘッド２４によって除去するのかを前もって定義することができる。 このようにして、選別プロセスは、最適に低い時間要件で実行することができる 。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．予め定義可能な基準のクラスに対応して、終末段階でＩＣ素子を選別する ための方法において、複数のグリップ手段（２２，２４）によってトレイ（１０ ）の複数の受入れ部分（１２）から複数のＩＣ素子（１８）が同時に除去され、 各グリップ手段（２２，２４）は、トレイ（１０）の受入れ部分（１２）からＩ Ｃ素子（１８）を除去するための予め定義可能なアクセス領域（２８）を有し、 すべてのグリップ手段（２２，２４）のアクセス領域（２３８）が互いに重なり 合っておらず、トレイ（１０）が、段階的にグリップ手段（２２，２４）を通り 過ぎて移動され、各グリップ手段（２２，２４）が、各グリップ手段のアクセス 領域（２８）に属するトレイが（１０）の受入れ部分（１２）から、基準の１つ のクラスに属するＩＣ素子（１８）だけを除去することを特徴とする方法。 ２．異なるグリップ手段（２２，２４）は、各グリップ手段のアクセス領域（ ２８）に属するトレイ（１０）の受入れ部分（１２）から同じ基準のクラスのＩ Ｃ素子（１８）を除去することを特徴とする請求項１記載の方法。 ３．同じ基準のクラスのＩＣ素子（１８）の選別のために設けられている各グ リップ手段（２２，２４）が、各グリップ手段のアクセス領域（２８）に属する トレイ（１０）の受入れ部分（１２）から、多くとも予め定義可能な最大の数の このクラスのＩＣ素子（１８）を除去することを特徴とする請求項２記載の方法 。 ４．トレイ（１０）の受入れ部分（１２）が規則正しく配列されており、グリ ップ手段（２２，２４）のアクセス領域（２８）の大きさが互いに等しいことを 特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の方法。 ５．トレイ（１０）の受入れ部分（１２）が、互いに直交する列（１４）及び 行（１６）で配置されており、グリップ手段（２２，２４）のアクセス領域（２ ８）が、トレイ（１０）の受入れ部分（１２）の列（１４）または代わりに行（ １６）を有しており、受入れ部分（１２）の列（１４）または代わりに行（１６ ）の延長部に直交してトレイ（１０）が移動され、グリップ手段（２２，２４） がトレイ（１０）の移動方向（２０）に互いに隣合って配列されていることを特 徴とする請求項１〜４の何れかに記載の方法。