JP2001504992A - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置

Info

Publication number
JP2001504992A
JP2001504992A JP52314998A JP52314998A JP2001504992A JP 2001504992 A JP2001504992 A JP 2001504992A JP 52314998 A JP52314998 A JP 52314998A JP 52314998 A JP52314998 A JP 52314998A JP 2001504992 A JP2001504992 A JP 2001504992A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bias
resistor
transistor
reverse
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
JP52314998A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001504992A5 (ja
Inventor
フェラン,ジョン
ストュート,グラハム・ヘンリー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Atmel Research
Original Assignee
Atmel Research
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Atmel Research filed Critical Atmel Research
Publication of JP2001504992A publication Critical patent/JP2001504992A/ja
Publication of JP2001504992A5 publication Critical patent/JP2001504992A5/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/57Protection from inspection, reverse engineering or tampering
    • H01L23/576Protection from inspection, reverse engineering or tampering using active circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Abstract

(57)【要約】 光検出装置はバイアス電流を逆バイアス・トランジスタに与えるように構成される。逆バイアス・トランジスタは高インピーダンス抵抗を介して供給電圧に結合されたドレイン端子を有する。入射光はドレイン電極での電圧降下によって検出される。

Description

【発明の詳細な説明】 光検出装置 発明の分野 本発明は、光検出装置に関するものであり、特に光検出装置に限定されるもの ではないが、タンパー(tamper)検出の応用に用いられる装置に関する。 発明の背景 銀行用のスマートカードのような半導体集積回路(IC)は、もしそれが不誠 実な人間の手に渡った場合、セキュリティを破られや易い。ICは、リバースエ ンジニアリングを行うことにより、それに含まれる機能やデータを明らかにして 特定することが可能である。このようなICは、封止材が取り除かれ、上部保護 層を除去されることが知られている。 米国特許4,952,796は、逆バイアスされたトランジスタ結合に流れ込む電流を 生成する電流発生器からなる回路を与える。光に応じて、前記結合における逆電 流は増加し、結合での電圧は低下する。 この回路の問題点は、入射光が図1のトランジスタ11,2に逆電流を発生さ せ、その結果出力で検出される電圧降下 を生じさせることである。さらに、上記回路のバイアスと電流生成機構は、製造 プロセスの変動により影響を受け易いことである。 また、特にスマートカードでは、電流の流出は最小に保持されなければならず 、逆電流はその装置の電流消費を不利に行う。最後に、上記回路は貴重な半導体 領域を用い、これはスペースが非常に重要であるスマートカードに不利に働く。 本発明は、上述した問題点を軽減する光検出装置を提供する。 発明の概要 本願発明に従えば、バイアス電流を供給するために設けられたバイアス・トラ ンジスタ、バイアス電流により逆バイアスされた制御電極と導電性電極とを有す る逆バイアス・トランジスタ、および供給電圧と逆バイアス・トランジスタの逆 バイアスされた制御電極との間に結合された抵抗からなる光検出装置が提供され 、逆バイアス・トランジスタの逆バイアス制御電極における電圧低下によって入 射光が検出される。 この手段により、寄生逆電流(parastic reverse currcnts)を生じさせず、か つ製造プロセスの変動による影響を軽減する光検出装置が提供される。 図面の簡単な説明 本発明の典型的な実施例が、単一の図面に表わされ、本願発明に従う光検出装 置の好適な実施例が示される。 好適な実施例の詳細な説明 単一の図面に、ICに実装された光検出装置10が示される。 装置10は、電圧Vddを供給するために結合されたゲート端子、接地端子Vssに 結合されたソース端子、および第1高インピーダンス抵抗3を介して供給電圧V ddに結合されたドレイン端子を有する第1トランジスタ1から成る。第1トラン ジスタ1は、以下さらに説明されるようにバイアス電流を提供するために配置さ れる。 装置10の第2トランジスタ2は、第1トランジスタ1のドレイン端子に結合さ れたゲート端子、接地端子Vssに結合されたソース端子、および第2高インピー ダンス抵抗4を介して供給電圧Vddに結合され、さらに出力端子6に結合された ドレイン端子5を有する。高インピーダンス抵抗4はアンドープド(undopcd)ポ リシリコン抵抗である。 動作において、第2トランジスタ2のゲート端子は、第1トランジスタ1のド レイン端子からバイアス電流を受け取ることにより逆バイアスされる。 第2トランジスタのドレイン端子5が入射光に晒される と、わずかの逆電流がドレイン5と接地端子Vssとの間に生成する。この電流の 流れは、ドレイン5の電圧を下げ、この電圧降下は出力端子6に結合された回路 (図示せず)によって検出される。 第2高インピーダンス抵抗はアンドープド・ポリシリコン抵抗であるので、極 めて微小な電流を検出することができ、装置10を入射光に対し非常に敏感な装置 にする。 寄生逆電流は生成されず、装置10の製造プロセス中にはただ1つの抵抗プロセ スが第1および第2高インピーダンス抵抗を形成するために要求され、このこと は装置10の特性に大きな影響を与える変動を導入しないことを意味する。 上記実施例に代わる実施例も可能であることが理解されるであろう。例えば 、バイアス法を上記の精密な構成から変更することも可能である。さらに、第1 および第2抵抗をアンドープド・ポリシリコン以外の材料で製造してもよい。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ストュート,グラハム・ヘンリー 英国ジー46、6ピー・ピー、スコットラン ド、グラスゴウ、ギフノック、キャリー ク・クレッセント44

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.バイアス電流を提供するために配置されたバイアス回路; 前記バイアス回路によって逆バイアスするように配置された制御電極および導 電性電極を有する逆バイアス・トランジスタ;および 供給電圧と前記逆バイアス・トランジスタの前記導電性電極との間に結合され た抵抗; から構成され、 前記逆バイアス・トランジスタの前記導電性電極における電圧降下より入射光 を検出することを特徴をする光検出装置。 2.前記抵抗は高インピーダンス抵抗であることを特徴とする請求項1記載の光 検出装置。 3.前記抵抗はアンドープド・ポリシリコン抵抗であることを特徴とする請求項 1記載の光検出装置。 4.前記バイアス回路バイアス抵抗を介して前記供給電圧に結合された導電性電 極を有するバイアス・トランジスタから成ることを特徴とする請求項1,2,又 は3記載の光検出装置。 5.前記バイアス抵抗は高インピーダンス抵抗であることを特徴とする請求項4 記載の光検出装置。 6.前記バイアス抵抗はアンドープド・ポリシリコン抵抗で あることを特徴とする請求項5記載の光検出装置。 7.これまでに実質的に表わされ、単一の図面により参照される光検出装置。
JP52314998A 1996-11-21 1997-11-03 光検出装置 Ceased JP2001504992A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9624198A GB2319602B (en) 1996-11-21 1996-11-21 Light detection device
GB9624198.9 1996-11-21
PCT/EP1997/006168 WO1998022905A1 (en) 1996-11-21 1997-11-03 Light detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001504992A true JP2001504992A (ja) 2001-04-10
JP2001504992A5 JP2001504992A5 (ja) 2005-06-16

Family

ID=10803264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52314998A Ceased JP2001504992A (ja) 1996-11-21 1997-11-03 光検出装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6232591B1 (ja)
EP (1) EP0939933B1 (ja)
JP (1) JP2001504992A (ja)
CN (1) CN1146999C (ja)
DE (1) DE69720029T2 (ja)
GB (1) GB2319602B (ja)
HK (1) HK1024323A1 (ja)
WO (1) WO1998022905A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091708A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Sony Corp アクティブマトリクス型液晶表示装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100308216B1 (ko) * 1999-03-15 2001-09-26 윤종용 밀봉된 전자기기의 비인가된 개봉을 검출하는 장치
TW502286B (en) 1999-12-09 2002-09-11 Koninkl Philips Electronics Nv Semiconductor device comprising a security coating and smartcard provided with such a device
DE10101995A1 (de) * 2001-01-18 2002-07-25 Philips Corp Intellectual Pty Schaltungsanordnung und Verfahren zum Schützen mindestens einer Chipanordnung vor Manipulation und/oder vor Mißbrauch
DE10164419A1 (de) * 2001-12-29 2003-07-17 Philips Intellectual Property Verfahren und Anordnung zum Schutz von digitalen Schaltungsteilen
CN100347858C (zh) * 2002-10-31 2007-11-07 上海华虹集成电路有限责任公司 光检测电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56150871A (en) * 1980-04-24 1981-11-21 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS6184054A (ja) * 1984-09-27 1986-04-28 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 集積mos回路
JPS6290967A (ja) * 1985-10-17 1987-04-25 Nissan Motor Co Ltd 受光用半導体集積回路
FR2619959B1 (fr) * 1987-08-31 1991-06-14 Thomson Semiconducteurs Circuit de detection de lumiere
JPH03101364A (ja) * 1989-09-13 1991-04-26 Ricoh Co Ltd 光電変換素子
US5172211A (en) * 1990-01-12 1992-12-15 Paradigm Technology, Inc. High resistance polysilicon load resistor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091708A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Sony Corp アクティブマトリクス型液晶表示装置
JP4613562B2 (ja) * 2004-09-27 2011-01-19 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0939933B1 (en) 2003-03-19
GB2319602B (en) 2000-10-04
CN1146999C (zh) 2004-04-21
GB9624198D0 (en) 1997-01-08
DE69720029D1 (de) 2003-04-24
HK1024323A1 (en) 2000-10-05
US6232591B1 (en) 2001-05-15
GB2319602A (en) 1998-05-27
EP0939933A1 (en) 1999-09-08
DE69720029T2 (de) 2003-11-27
WO1998022905A1 (en) 1998-05-28
CN1242093A (zh) 2000-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8564364B2 (en) Countermeasure method and device for protecting against a fault injection attack by detection of a well voltage crossing a threshold
US6844595B2 (en) Electrostatic discharge protection circuit with high triggering voltage
US7102951B2 (en) OTP antifuse cell and cell array
US6920026B2 (en) ESD protection circuit with whole-chip ESD protection
US5053992A (en) Prevention of inspection of secret data stored in encapsulated integrated circuit chip
CN101728820B (zh) 用于触发双重scr esd保护的电源箝位电路和方法
EP1059602B1 (en) Surface shape recognition apparatus
EP0260125A2 (en) Electrostatic discharge protection circuit
US4092733A (en) Electrically alterable interconnection
TW201926837A (zh) 靜電放電保護電路以及包含該電路的積體電路
US20110193616A1 (en) Semiconductor integrated circuit and data processing system
US20130320491A1 (en) Semiconductor Device Having Features to Prevent Reverse Engineering
US20210242143A1 (en) Semiconductor Device Having Features to Prevent Reverse Engineering
US5218235A (en) Power stealing circuit
JP2001504992A (ja) 光検出装置
US7521955B2 (en) Method and system for device characterization with array and decoder
US20060087788A1 (en) Dual-supply electronic circuit with means for protection against breakdowns, and corresponding protection means
TW399366B (en) Protection circuit
EP0218710A1 (en) COMPLEMENTARY MOS CIRCUIT.
JP2007310640A (ja) 半導体集積回路およびそれを用いたicカード
US6215170B1 (en) Structure for single conductor acting as ground and capacitor plate electrode using reduced area
TW538504B (en) Current amplification of logarithmic mode CMOS image sensor
EP0126184A3 (en) Input protection circuit and bias method for scaled cmos devices
JP3006627B2 (ja) 過電圧保護回路
Matsumoto et al. Studying LSI Tamper Resistance with Respect to Techniques Developed for Failure Analysis

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041007

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060704

A313 Final decision of rejection without a dissenting response from the applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A313

Effective date: 20061127

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070116