JP2001352029A - Lead frame for semiconductor ic, and cutting method for tie bar - Google Patents
Lead frame for semiconductor ic, and cutting method for tie barInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ICを製造
する際に使用するリードフレーム、特には樹脂モールド
後のパッケージの外方に延出されたアウターリードの相
互間を連結するタイバーの構造、およびそのタイバーを
切断するための方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame used for manufacturing a semiconductor IC, and more particularly, to a structure of a tie bar for connecting outer leads extending outside a package after resin molding. And a method for cutting the tie bar.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、半導体ICは、樹脂モールド工
程、メッキ工程、リード加工工程などを経て製造され
る。図7は上記の樹脂モールド工程において、リードフ
レーム上に搭載されたICチップを樹脂モールドした状
態を示す平面図である。2. Description of the Related Art Generally, a semiconductor IC is manufactured through a resin molding step, a plating step, a lead processing step, and the like. FIG. 7 is a plan view showing a state in which the IC chip mounted on the lead frame is resin-molded in the resin molding step.
【0003】同図において、1はICチップを樹脂モー
ドしてなるパッケージ、2はリードフレームである。こ
のリードフレーム2は、その両側部において長手方向に
沿って設けられたフレーム枠3、各フレーム枠3の間に
あってパッケージ1から外方に延出された多数本のアウ
ターリード4、および各アウターリード4の相互間を連
結するタイバー5を備えており、これら3,4,5は共
に一体形成されている。In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a package in which an IC chip is formed in a resin mode, and 2 denotes a lead frame. The lead frame 2 includes frame frames 3 provided along the longitudinal direction on both sides thereof, a number of outer leads 4 extending between the frame frames 3 and extending outward from the package 1, and each outer lead. 4 is provided with a tie bar 5 for connecting the components 4, 4 and 5 together.
【0004】ところで、図7に示したように、リードフ
レーム2にはタイバー5が形成されているが、このタイ
バー5は、パッケージ1内に位置するインナリードが樹
脂モールドするまでに不意に変形するのを防止するとと
もに、樹脂モールド時に樹脂が乱りに流出するのを防止
するという役目を果たしている。As shown in FIG. 7, a tie bar 5 is formed on the lead frame 2, and the tie bar 5 is unexpectedly deformed until the inner leads located in the package 1 are molded with resin. And prevents the resin from flowing out of order during the resin molding.
【0005】ICチップを樹脂モードしてパッケージ1
とした後は、各アウターリード4を互いに電気的に分離
する必要があり、そのため、たとえば、その後のリード
加工工程において、タイバー5が切断される。そして、
タイバー5の切断後は、リードフレーム2の不要部分の
切断やアウターリード4の曲げ加工等が行われる。[0005] In the resin mode of the IC chip, the package 1
After that, it is necessary to electrically separate the outer leads 4 from each other, and therefore, for example, the tie bar 5 is cut in a subsequent lead processing step. And
After the cutting of the tie bar 5, cutting of an unnecessary portion of the lead frame 2 and bending of the outer lead 4 are performed.
【0006】図8は、タイバー5を切断する直前の状態
を示しており、図中、1はパッケージ、4はアウターリ
ード、5はタイバーである。また、8は樹脂モールドの
際にパッケージ1のアウターリード4の周辺にはみ出し
たダムばりである。このダムばり8は、ICチップのモ
ールド樹脂と同じ材料(たとえばエポキシ樹脂とガラス
フィラー)からなる。FIG. 8 shows a state immediately before cutting the tie bar 5, in which 1 is a package, 4 is an outer lead, and 5 is a tie bar. Reference numeral 8 denotes a dam that protrudes around the outer lead 4 of the package 1 during resin molding. The dam burrs 8 are made of the same material as the mold resin of the IC chip (for example, epoxy resin and glass filler).
【0007】図9ないし図11は、タイバー切断治具1
0を用いてタイバー5を切断するときの状態を示してい
る。このタイバー切断治具10は、パンチ11とダイ1
2とを備える。パンチ11は、パッケージ1に近接した
ダムばり8の位置からタイバー5の外方に至るまでの所
定長さを有し、かつ、パンチ11の幅方向の寸法W2
は、アウターリード4のピッチのばらつきや位置ずれ等
に起因してパンチ11がアウターリード4に食い込んだ
りするのを防止するために、互いに隣接するアウターリ
ード4の対向間隔よりも僅かに狭くなるように設定され
ている。一例としてアウターリード4の側端からパンチ
11までの距離Δ2は約50μmに設定される。FIGS. 9 to 11 show a tie bar cutting jig 1.
The state when cutting the tie bar 5 using 0 is shown. The tie bar cutting jig 10 includes a punch 11 and a die 1.
2 is provided. The punch 11 has a predetermined length from the position of the dam beam 8 close to the package 1 to the outside of the tie bar 5, and has a width W2 of the punch 11 in the width direction.
In order to prevent the punch 11 from digging into the outer lead 4 due to a variation in the pitch or displacement of the outer lead 4, the distance between the outer leads 4 is slightly narrower than the facing distance between the adjacent outer leads 4. Is set to As an example, the distance Δ2 from the side end of the outer lead 4 to the punch 11 is set to about 50 μm.
【0008】一方、ダイ12は、このパンチ11が嵌入
されるパンチ嵌入部13を有しており、このパンチ嵌入
部13のパンチ11との間隙C2は、タイバー5の切断
部分にだれや反りが生じるのを防止するために、極めて
小さな値に設定されている。たとえば、間隙C2は、
0.013mmに設定される。そして、パンチ11が下
降してダイ12のパンチ嵌入部13に嵌入することで、
タイバー5とダムばり8とが同時に切断、除去される。On the other hand, the die 12 has a punch fitting portion 13 into which the punch 11 is fitted, and a gap C2 between the punch fitting portion 13 and the punch 11 has a droop or warp at a cut portion of the tie bar 5. It is set to a very small value to prevent this from happening. For example, the gap C2 is
It is set to 0.013 mm. Then, the punch 11 descends and fits into the punch fitting portion 13 of the die 12,
The tie bar 5 and the dam bur 8 are cut and removed at the same time.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】上記のようなタイバー
切断治具10を用いてタイバー5を切断する場合に、そ
のパンチ11の幅寸法W2をアウターリード4の対向間
隔よりも僅かに狭く設定する必要があることから、タイ
バー5の切断後には、図12に示すように、アウターリ
ード4とタイバー5との角の部分からパッケージ1の隣
接部分にわたってダムばり8の残部8a,8bが存在す
ることになる。以降、特にアウターリード4とタイバー
5との角の部分に残るダムばり8aのことを角ばりと称
する。When the tie bar 5 is cut using the tie bar cutting jig 10 as described above, the width dimension W2 of the punch 11 is set slightly smaller than the interval between the outer leads 4 facing each other. Because of the necessity, after the tie bar 5 is cut, the remaining portions 8a and 8b of the dam beam 8 exist from the corner between the outer lead 4 and the tie bar 5 to the adjacent portion of the package 1 as shown in FIG. become. Hereinafter, especially the dam beam 8a remaining at the corner between the outer lead 4 and the tie bar 5 is referred to as a corner beam.
【0010】このように、タイバー5を切断する場合、
切断後に角ばり8aが残り、その状態のままで半導体I
Cが後続のアウターリード4の曲げ加工工程に移される
と、次のような不都合を生じる。As described above, when cutting the tie bar 5,
After the cutting, the corners 8a remain.
If C is transferred to the subsequent outer lead 4 bending process, the following inconvenience occurs.
【0011】すなわち、アウターリード4の曲げ加工で
は、角ばり8aの残っている箇所に近接した部分が曲げ
られるので、この曲げに伴って角ばり8aは上部が引っ
張り方向に、下部が圧縮方向にそれぞれ変形を受け、そ
の結果、角ばり8aがアウターリード4から剥がれ落
ち、この剥がれ落ちた角ばり8aがパッケージ、アウタ
ーリード、加工工具、装置等に飛散して、種々の問題を
引き起こす要因となる。たとえば、各種のテストを行う
場合に、飛散した角ばり8aがアウターリード4に付着
してICソケットのコンタクトピン(図示省略)との間
に介在したときには、アウターリード4とピンコンタク
トとの接触不良が生じて、正常なテスト結果が得られな
くなる。That is, in the bending process of the outer lead 4, a portion adjacent to the remaining portion of the corner 8a is bent, and accordingly, the upper portion of the corner 8a is in the tension direction and the lower portion is in the compression direction. Each of them undergoes deformation, and as a result, the corners 8a are peeled off from the outer leads 4, and the peeled-off corners 8a are scattered on a package, an outer lead, a processing tool, a device, or the like, which causes various problems. . For example, when performing various tests, if the scattered corner 8a adheres to the outer lead 4 and is interposed between the outer lead 4 and a contact pin (not shown) of the IC socket, poor contact between the outer lead 4 and the pin contact is caused. And a normal test result cannot be obtained.
【0012】また、従来では、タイバー切断治具10の
パンチ11とダイ12とによってタイバー5およびダム
ばり8を同時に切り落としているが、ダムばり8には硬
質のガラスフィラーが含まれているため、パンチ11と
ダイ12の摩耗が激しく、工具寿命が短いといった不具
合がある。Further, conventionally, the tie bar 5 and the dam beam 8 are cut off simultaneously by the punch 11 and the die 12 of the tie bar cutting jig 10. However, since the dam beam 8 contains a hard glass filler, There is a problem that the punch 11 and the die 12 are severely worn and the tool life is short.
【0013】さらに、タイバー切断治具10のパンチ1
1とダイ12との間の間隙C2は、極めて小さな値に設
定する必要があることから、高い寸法精度のものが要求
され、それだけ保守などが難しくコストアップとなって
いる。Furthermore, the punch 1 of the tie bar cutting jig 10
Since the gap C2 between the die 1 and the die 12 needs to be set to an extremely small value, it is required to have a high dimensional accuracy, and maintenance is difficult and the cost is increased accordingly.
【0014】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、タイバーの切断時に同時に角ば
りを残すことなく有効に除去できるようにするととも
に、タイバー切断治具の工具寿命が長く、しかも、高い
寸法精度を保たなくても正確にタイバーを切断すること
ができる半導体ICのリードフレームおよびそのリード
フレームのタイバー切断方法を提供することを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and enables the tie bar to be effectively removed without leaving a corner at the same time when the tie bar is cut. It is an object of the present invention to provide a semiconductor IC lead frame capable of cutting a tie bar accurately without maintaining high dimensional accuracy, and a tie bar cutting method for the lead frame.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】請求項1の発明の半導体
ICのリードフレームは、ICチップが樹脂モールドさ
れてなるパッケージの外方に延出されたアウターリード
の相互間を連結するタイバーを備え、このタイバーのア
ウターリードとの境界部には、アウターリードの長手方
向に沿ってタイバーを横切って延びる引き千切用溝を形
成するとともに、この引き千切用溝の途中にはこの引き
千切用溝を前後に仕切る途切れ部を設けたことを特徴と
している。According to a first aspect of the present invention, there is provided a lead frame for a semiconductor IC having a tie bar for connecting outer leads extending outside a package formed by resin molding an IC chip. At the boundary between the tie bar and the outer lead, a shredding groove extending across the tie bar along the longitudinal direction of the outer lead is formed, and the shredding groove is provided in the middle of the shredding groove. It is characterized by providing a cut-off part to be divided before and after.
【0016】請求項2の発明のタイバー切断方法では、
請求項1記載のリードフレームについて、タイバーの両
端の前記引き千切用溝によって仕切られる長さよりも細
幅のパンチと、互いに隣接するアウターリードの間隔に
略一致した幅寸法を有するパンチ嵌入部が形成されたダ
イとを用い、パンチをタイバーに押し当ててダイのパン
チ嵌入部に嵌入する際にタイバーを前記引き千切用溝を
境に引き千切ってアウターリードから切り離すことを特
徴としている。In the tie bar cutting method according to the second aspect of the present invention,
2. The lead frame according to claim 1, wherein a punch having a width narrower than a length defined by the shredding grooves at both ends of a tie bar and a punch fitting portion having a width dimension substantially corresponding to a distance between adjacent outer leads are formed. When the punch is pressed against the tie bar and fitted into the punch fitting portion of the die by using the set die, the tie bar is cut apart from the outer lead by cutting the tie bar at the boundary of the cutting groove.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、本発明の
実施の形態1に係る半導体ICのリードフレームの要部
を示す平面図、図2は図1のA−A線に沿う断面図であ
り、図7ないし図11に示した従来技術と対応する部分
には同一の符号を付す。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a plan view showing a main part of a lead frame of a semiconductor IC according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. The same reference numerals are given to the portions corresponding to the related art.
【0018】この実施の形態のリードフレームは、IC
チップが樹脂モールドされてなるパッケージ1の外方に
延出された多数のアウターリード4の相互間を連結する
タイバー5の各両端のアウターリード4との境界部に、
アウターリード4の長手方向に沿ってタイバー5を横切
って延びる引き千切用溝15が形成されるとともに、こ
の引き千切用溝15の途中にはこの引き千切用溝15を
前後に仕切る途切れ部16が設けられている。つまり、
引き千切用溝15は、タイバー5を横切って連続的に形
成されておらず、その途中に設けた途切れ部16によっ
て途切れた状態になっている。The lead frame of this embodiment is an IC
At the boundaries between the outer leads 4 at both ends of the tie bar 5 for connecting the plurality of outer leads 4 extending outwardly of the package 1 in which the chip is resin-molded,
A shredding groove 15 extending across the tie bar 5 along the longitudinal direction of the outer lead 4 is formed. In the middle of the shredding groove 15, there is a break 16 that partitions the shredding groove 15 back and forth. Is provided. That is,
The shredding groove 15 is not formed continuously across the tie bar 5, but is interrupted by an interruption portion 16 provided on the way.
【0019】上記の引き千切用溝15は、この実施の形
態では、図2に示すような断面V字形に形成されている
が、図3(a)に示すように断面U字形に形成したもの
であってもよく、また、図3(b)に示すようにタイバ
ー5の表裏の各面にそれぞれ引き千切用溝15を形成し
てもよい。また、途切れ部16は、アウターリード4お
よびタイバー5の表面と面一の平坦な部分であって、タ
イバー5の一部を切り残すことにより形成されている。
なお、このような引き千切用溝15と途切れ部16と
は、エッチング等の手法によって容易に形成することが
できる。In this embodiment, the above-mentioned groove 15 is formed in a V-shaped cross section as shown in FIG. 2, but is formed in a U-shaped cross section as shown in FIG. 3 (a). Alternatively, as shown in FIG. 3B, each of the front and back surfaces of the tie bar 5 may be provided with a slit 15 for cutting. The break 16 is a flat portion flush with the surfaces of the outer lead 4 and the tie bar 5 and is formed by cutting off a part of the tie bar 5.
In addition, such a groove 15 and a break 16 can be easily formed by a technique such as etching.
【0020】このように、引き千切用溝15の途中に途
切れ部16を設けることにより、図1から分かるよう
に、樹脂モールド時に流出したダムばり8の一部は、パ
ッケージ1の近接側に位置する引き千切用溝15内に流
入しても、途切れ部16によってせき止められてそれよ
りも外方には流出せず、タイバー5の本来の樹脂もれ防
止機能が確保されている。As described above, by providing the break 16 in the middle of the shredding groove 15, as shown in FIG. Even when the tie bar 5 flows into the slitting groove 15, the tie bar 5 is blocked by the break portion 16 and does not flow out further than that, and the original resin leakage preventing function of the tie bar 5 is secured.
【0021】図4および図5は、タイバー切断治具10
を用いてタイバー5を切断するときの状態を示してい
る。タイバー切断治具10は、パンチ11とダイ12と
を備える。パンチ11は、パッケージ1に近接したダム
ばり8の位置からタイバー5の外方に至るまでの所定長
さを有し、また、パンチ11の幅方向の寸法W1は、図
5に示すようにタイバー5の両端の引き千切用溝15に
よって仕切られる長さよりも細幅となるように、つま
り、タイバー5を挟む左右の引き千切用溝15の間に配
置されるように設定されている。したがって、アウター
リード4の側端からパンチ11までの距離Δ1は図10
に示した距離Δ2よりも大きくなっており(Δ1>Δ
2)、このためアウターリード4のピッチのばらつきや
位置ずれ等に起因してパンチ11がアウターリード4に
食い込んだりするなどの切断不良が発生するのを有効に
防止することができる。FIGS. 4 and 5 show a tie bar cutting jig 10.
5 shows a state when the tie bar 5 is cut using. The tie bar cutting jig 10 includes a punch 11 and a die 12. The punch 11 has a predetermined length from the position of the dam beam 8 close to the package 1 to the outside of the tie bar 5, and the dimension W1 in the width direction of the punch 11 is, as shown in FIG. The tie bar 5 is set so as to be narrower in width than the length divided by the slits 15 at both ends of the tie bar 5, that is, between the left and right slits 15 sandwiching the tie bar 5. Therefore, the distance Δ1 from the side end of the outer lead 4 to the punch 11 is as shown in FIG.
Is larger than the distance Δ2 (Δ1> Δ
2) Therefore, it is possible to effectively prevent the occurrence of a cutting failure such as the punch 11 biting into the outer lead 4 due to a variation in the pitch of the outer lead 4 or a displacement.
【0022】一方、ダイ12は、このパンチ11が嵌入
されるパンチ嵌入部13を有しており、このパンチ嵌入
部13は、互いに隣接するアウターリード4の間隔に略
一致した幅寸法に設定されている。したがって、このパ
ンチ嵌入部13のパンチ11との間隙C1は、図11に
示した間隙C2よりも大きくなっており(C1>C
2)、タイバー切断治具10を厳密な寸法精度でもって
形成する必要はない。On the other hand, the die 12 has a punch fitting portion 13 into which the punch 11 is fitted. The punch fitting portion 13 is set to have a width dimension substantially matching the interval between the outer leads 4 adjacent to each other. ing. Therefore, the gap C1 between the punch fitting portion 13 and the punch 11 is larger than the gap C2 shown in FIG. 11 (C1> C).
2) It is not necessary to form the tie bar cutting jig 10 with strict dimensional accuracy.
【0023】タイバー5およびダムばり8を除くには、
まず、パンチ11を下降させると、パンチ11がタイバ
ー5に当接した後は、パンチ11でタイバー5が下方に
押圧されるので、タイバー5の引き千切用溝15の底部
に応力集中が生じ、この引き千切用溝15を境にタイバ
ー5が引き千切られてアウターリード4から切り離され
る。To remove the tie bar 5 and the dam beam 8,
First, when the punch 11 is lowered, after the punch 11 comes into contact with the tie bar 5, the tie bar 5 is pressed downward by the punch 11, so that stress concentration occurs at the bottom of the slit 15 of the tie bar 5, The tie bar 5 is cut off at the boundary of the cutting groove 15 and separated from the outer lead 4.
【0024】このようにしてタイバー5が引き千切られ
る際に、アウターリード4とタイバー5との角の部分に
位置するダムばり8はへし折られるので、従来のような
角ばり8aは生じない。また、その影響で、パンチ11
とダイ12とでダムばり8を切断する以前に、パンチ1
1の押圧によってダムばり8がへし折られて除去され
る。When the tie bar 5 is torn apart in this manner, the dam burrs 8 located at the corners between the outer lead 4 and the tie bar 5 are bent, so that the conventional burrs 8a do not occur. . Also, under the influence, punch 11
Before cutting the dam 8 with the die 12
The pressing of 1 causes the burrs 8 to be bent and removed.
【0025】このように、この実施の形態では、従来の
ような角ばり8aが生じないため、次のアウターリード
曲げ工程でばりの飛散が防止されてテスト時の接触不良
等が大幅に改善される。しかも、パンチ11とダイ12
とによって直接にダムばり8を切断することはないの
で、パンチ11とダイ12の工具寿命を長く保つことが
できる。As described above, in this embodiment, since the corner 8a unlike the conventional case does not occur, the scatter of the burrs is prevented in the next outer lead bending step, and the contact failure at the time of the test is greatly improved. You. Moreover, the punch 11 and the die 12
Therefore, the tool life of the punch 11 and the die 12 can be maintained long.
【0026】なお、タイバー5の切断後は、図6に示す
ように、パッケージ1の隣接部分に僅かにダムばりの残
部8bが存在することがある。しかし、この残部8b
は、次のアウターリード曲げ工程でのばりの飛散原因に
は殆ど影響しないので問題はない。After the cutting of the tie bar 5, there may be a slight remaining portion 8b of the dam bur in the adjacent portion of the package 1 as shown in FIG. However, the rest 8b
Has almost no effect on the scatter of burrs in the next outer lead bending step, so there is no problem.
【0027】[0027]
【発明の効果】請求項1の発明に係る半導体ICのリー
ドフレームおよび請求項2の発明に係るリードフレーム
のタイバー切断方法は、タイバーのアウターリードとの
境界部に設けた引き千切用溝によってタイバーが引き千
切られて切断されるため、タイバーの切り残しを少なく
して切断を確実に行うことができるだけでなく、角ばり
を残すことなくダムばりを有効に除去することができ
る。このため、後工程のアウターリード曲げ時に角ばり
の飛散がなくなり、テスト時の接触不良が大幅に改善さ
れ、テスト歩留まりが向上する。The method for cutting a tie bar of a semiconductor IC according to the first aspect of the present invention and the lead frame according to the second aspect of the present invention are characterized in that the tie bar is formed by a shredded groove provided at the boundary between the tie bar and the outer lead. Since the tie bar is cut off and cut, not only can the tie bar be left uncut, the cutting can be reliably performed, but also the dam burrs can be effectively removed without leaving the corners. For this reason, scattering of the corners is prevented when the outer lead is bent in the subsequent process, and the contact failure at the time of the test is largely improved, and the test yield is improved.
【0028】しかも、タイバー切断治具としてパンチを
使用する場合、アウターリードからパンチまでの距離を
大きくとることができるため、アウターリードのピッチ
のばらつきや位置ずれ等に起因してパンチがアウターリ
ードに食い込んだりするなどの切断不良が生じるのを有
効に防止することができる。Moreover, when a punch is used as a tie-bar cutting jig, the distance from the outer lead to the punch can be increased, so that the punch may not move to the outer lead due to a variation in the pitch of the outer lead or a displacement. It is possible to effectively prevent the occurrence of cutting defects such as biting.
【0029】また、ダムばりは、主にパンチのみによっ
てへし折られ、パンチとダイの両者で切断することはな
いので、工具寿命を長く保つことができ、ランニングコ
ストを削減することができる。また、ダイとパンチとの
間隙を大きくとることができ、タイバー切断治具を厳密
な寸法精度でもって形成する必要がないので、タイバー
切断治具の保守が容易になる。Further, since the dam burrs are mainly bent by only the punches and are not cut by both the punches and the dies, the tool life can be maintained long and the running cost can be reduced. Further, the gap between the die and the punch can be made large, and it is not necessary to form the tie bar cutting jig with strict dimensional accuracy, so that the maintenance of the tie bar cutting jig becomes easy.
【0030】特に、請求項1の半導体ICのリードフレ
ームでは、タイバーのアウターリードとの境界部に設け
た引き千切用溝は、タイバーを横切って連続的に形成さ
れておらず、その途中に設けた途切れ部によって前後に
途切れた形状となっているため、樹脂モールド時に流出
したダムばりの一部は、パッケージの近接側に位置する
引き千切用溝内に流入しても、途切れ部によってせき止
められてそれよりも外方には流出せず、タイバーの本来
の樹脂もれ防止機能を確保することができる。In particular, in the semiconductor IC lead frame according to the first aspect, the shredding groove provided at the boundary between the tie bar and the outer lead is not formed continuously across the tie bar, but is provided in the middle thereof. Due to the shape of the dam that breaks back and forth due to the break, the part of the dam beam that flowed out during resin molding is blocked by the break even if it flows into the shredding groove located near the package. Therefore, the tie bar does not flow outward, and the original resin leakage preventing function of the tie bar can be secured.
【図1】 本発明の実施の形態に係る半導体ICの樹脂
モールド後のリードフレームの要部を示す平面図(a)と
その鎖線部分の拡大図(b)である。FIG. 1A is a plan view showing a main part of a lead frame after resin molding of a semiconductor IC according to an embodiment of the present invention, and FIG.
【図2】 図1のA−A線に沿う拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along the line AA of FIG.
【図3】 本発明の半導体ICの樹脂モールド後のリー
ドフレームに形成された引き千切用溝の形状の変形例を
示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a modification of the shape of the shredding groove formed in the lead frame after resin molding of the semiconductor IC of the present invention.
【図4】 図1に示したリードフレームのタイバーをタ
イバー切断治具を用いて切断するときの状態を示す平面
図である。FIG. 4 is a plan view showing a state where the tie bar of the lead frame shown in FIG. 1 is cut using a tie bar cutting jig.
【図5】 本発明の実施の形態における半導体ICのリ
ードフレームとタイバー切断治具との位置関係を示す縦
断面図である。FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a positional relationship between a lead frame of a semiconductor IC and a tie bar cutting jig according to the embodiment of the present invention.
【図6】 本発明の半導体ICのリードフレームからタ
イバーとダムばりとをタイバー切断治具を用いて切り離
した後の状態を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a state after the tie bar and the dam beam are separated from the lead frame of the semiconductor IC of the present invention by using a tie bar cutting jig.
【図7】 従来のリードフレーム上に搭載されたICチ
ップを樹脂モールドした状態を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing a state in which a conventional IC chip mounted on a lead frame is resin-molded.
【図8】 従来のリードフレームにおいてタイバーを切
断する直前の状態を示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing a state immediately before cutting a tie bar in a conventional lead frame.
【図9】 従来のリードフレームのタイバーをタイバー
切断治具を用いて切断するときの状態を示す縦断面図で
ある。FIG. 9 is a longitudinal sectional view showing a state where a tie bar of a conventional lead frame is cut using a tie bar cutting jig.
【図10】 従来のリードフレームのタイバーをタイバ
ー切断治具を用いて切断するときの状態を示す平面図で
ある。FIG. 10 is a plan view showing a state in which a tie bar of a conventional lead frame is cut using a tie bar cutting jig.
【図11】 図9のB−B線に沿う断面図である。FIG. 11 is a sectional view taken along the line BB of FIG. 9;
【図12】 図9ないし図11に示したタイバー切断治
具を用いてタイバーとダムばりとを同時に切断した後の
状態を示す平面図である。FIG. 12 is a plan view showing a state after a tie bar and a dam beam are simultaneously cut using the tie bar cutting jig shown in FIGS. 9 to 11;
1 パッケージ、2 リードフレーム、4 アウターリ
ード、5 タイバー、8 ダムばり、8a 角ばり、1
0 タイバー切断治具、11 パンチ、12ダイ、13
パンチ嵌入部、15 引き千切用溝、16 途切れ
部。1 package, 2 lead frame, 4 outer leads, 5 tie bars, 8 dam beam, 8a square beam, 1
0 Tie bar cutting jig, 11 punch, 12 dies, 13
Punch insertion part, 15 groove for shredding, 16 break part.
Claims (2)
ッケージの外方に延出されたアウターリードの相互間を
連結するタイバーを備えたリードフレームにおいて、前
記タイバーのアウターリードとの境界部には、アウター
リードの長手方向に沿ってタイバーを横切って延びる引
き千切用溝を形成するとともに、この引き千切用溝の途
中にはこの引き千切用溝を前後に仕切る途切れ部を設け
たことを特徴する半導体ICのリードフレーム。1. A lead frame provided with a tie bar for connecting outer leads extending outside a package in which an IC chip is resin-molded, wherein the tie bar has a boundary portion with the outer lead, A semiconductor characterized in that a groove for cutting is formed extending across the tie bar along the longitudinal direction of the outer lead, and a cut-off portion for dividing the groove for cutting back and forth is provided in the middle of the groove for cutting. IC lead frame.
ーを切り離すための方法であって、タイバーの両端の前
記引き千切用溝によって仕切られる長さよりも細幅のパ
ンチと、互いに隣接するアウターリードの間隔に略一致
した幅寸法を有するパンチ嵌入部が形成されたダイとを
用い、パンチをタイバーに押し当ててダイのパンチ嵌入
部に嵌入する際にタイバーを前記引き千切用溝を境に引
き千切ってアウターリードから切り離すことを特徴とす
るタイバー切断方法。2. A method for separating a tie bar of a lead frame according to claim 1, wherein the punch has a narrower width than a length defined by the slits at both ends of the tie bar, and the outer leads of the outer leads adjacent to each other. Using a die having a punch fitting portion having a width dimension substantially corresponding to the interval, when the punch is pressed against the tie bar and fitted into the punch fitting portion of the die, the tie bar is pulled along the cutting groove. A tie bar cutting method characterized by cutting and separating from an outer lead.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000173348A JP2001352029A (en) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | Lead frame for semiconductor ic, and cutting method for tie bar |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000173348A JP2001352029A (en) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | Lead frame for semiconductor ic, and cutting method for tie bar |
Publications (1)
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JP2001352029A true JP2001352029A (en) | 2001-12-21 |
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JP2000173348A Pending JP2001352029A (en) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | Lead frame for semiconductor ic, and cutting method for tie bar |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2001352029A (en) |
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2000
- 2000-06-09 JP JP2000173348A patent/JP2001352029A/en active Pending
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