JP2001313360A - Jig for cutting tie bar of semiconductor ic, and method for cutting the tie bar - Google Patents

Jig for cutting tie bar of semiconductor ic, and method for cutting the tie bar

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JP2001313360A
JP2001313360A JP2000129238A JP2000129238A JP2001313360A JP 2001313360 A JP2001313360 A JP 2001313360A JP 2000129238 A JP2000129238 A JP 2000129238A JP 2000129238 A JP2000129238 A JP 2000129238A JP 2001313360 A JP2001313360 A JP 2001313360A
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JP
Japan
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tie bar
bar cutting
cutting
punch
package
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Application number
JP2000129238A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaharu Mizuta
正治 水田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Punching Or Piercing (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To remove dam burrs effectively without leaving angular burrs, while prolonging the lifetime of a tool, at the time of cutting a tie bar provided on the outside of the package of a semiconductor IC. SOLUTION: The jig for cutting a tie bar comprises a punch 7 and a die 8, where a part 7a for cutting the tie bar is formed on the bottom part of the punch 7 and a burr-pressing part 7b is formed by projecting a part closer to a package 1 than the tie bar cutting part 7a downward. The die 8 has a part 8a being fitted with the tie bar cutting part 7a, and that part 8a is set back from the bur pressing part 7b in the direction receding from the package 1 side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ICのパッ
ケージの外方に設けられたタイバーを切断するためのタ
イバーカット治具、およびこの治具を用いたタイバーカ
ット方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tie bar cutting jig for cutting a tie bar provided outside a semiconductor IC package, and a tie bar cutting method using the jig.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体ICの組み立て工程に
は、モールド工程やリード加工工程などが含まれるが、
上記のリード加工工程においては、樹脂モールド後のリ
ードフレームの不要部分の切断やリードの曲げ加工等が
行われる。特に、リードフレームには、予めインナリー
ドの変形防止とモード樹脂の封止時の流出防止を図るた
めにリード間を結合するタイバーが設けられているが、
このタイバーはICチップを樹脂モールドした後は不要
なものであって、各リードが個別に分離されることから
も、このタイバーは最終的には切断(タイバーカット)
して切り離す必要がある。
2. Description of the Related Art Generally, a semiconductor IC assembling process includes a molding process and a lead processing process.
In the above-described lead processing step, cutting of unnecessary portions of the lead frame after resin molding, bending of leads, and the like are performed. In particular, the lead frame is provided with a tie bar for connecting the leads in advance in order to prevent deformation of the inner lead and leakage of the mode resin during sealing.
The tie bar is unnecessary after the IC chip is resin-molded, and since each lead is individually separated, the tie bar is finally cut (tie bar cut).
Need to be separated.

【0003】図7は、タイバーカット直前の半導体IC
の状態を示しており、図中、1は樹脂モードされたパッ
ケージ、2はリード、3はタイバー、4はパッケージ1
のリード2周辺にはみ出したダムばりである。このダム
ばりは、ICチップのモールド樹脂と同じ材料(たとえ
ばエポキシ樹脂とガラスフィラー)からなる。
FIG. 7 shows a semiconductor IC immediately before a tie bar cut.
In the figure, 1 is a package in resin mode, 2 is a lead, 3 is a tie bar, and 4 is a package 1.
It is a dam that protrudes around the area around Reed 2. This dam burr is made of the same material as the mold resin of the IC chip (for example, epoxy resin and glass filler).

【0004】図8および図9は、タイバーカット治具1
0を用いてタイバーカットを行う時の状態を示してい
る。従来のタイバーカット治具10は、略直方体状のパ
ンチ11とこのパンチ11が嵌入される隙間が形成され
たダイ12とを備え、両者11,12は共にリード2の
長手方向に沿って同じ寸法のもので、ダムばり4のパッ
ケージ1に近接した位置からタイバー3の外方に至るま
での所定長さを有し、パンチ11の幅寸法は、リード2
の対向間隔よりも僅かに狭くなるように設定されてい
る。その理由は、互いに隣接するリード2の対向間隔に
はリード2ごとに若干のばらつきがあるので、タイバー
カット時にパンチ11によるリード2のかじり現象や変
形を起こさないようにするためである。一例としてリー
ド2からパンチ11までの距離Δは約50μmである。
そして、パンチ11が下降してダイ12の隙間に嵌入す
ることで、タイバー3とダムばり4とが同時に切断、除
去される。
FIGS. 8 and 9 show a tie bar cutting jig 1.
The state at the time of performing a tie bar cut using 0 is shown. The conventional tie bar cutting jig 10 includes a substantially rectangular parallelepiped punch 11 and a die 12 having a gap into which the punch 11 is fitted. Both of the punches 11 and 12 have the same size along the longitudinal direction of the lead 2. And has a predetermined length from the position of the dam beam 4 close to the package 1 to the outside of the tie bar 3, and the width of the punch 11 is
Are set so as to be slightly narrower than the opposing interval of. The reason for this is to prevent the seizure or deformation of the lead 2 by the punch 11 during tie-bar cutting, because the opposing distance between the adjacent leads 2 slightly varies from one lead to another. As an example, the distance Δ from the lead 2 to the punch 11 is about 50 μm.
Then, the tie bar 3 and the dam burrs 4 are cut and removed at the same time as the punch 11 descends and fits into the gap between the dies 12.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、タイバ
ーカット治具10においては、リード2のかじりや変形
を防止するために、パンチ11の幅寸法がリード2の対
向間隔よりも僅かに狭く設定する必要があることから、
タイバーカット後には、図10に示すようなダムばり4
の残部4a,4bが存在することになる。特にリード2
に沿ってタイバー3があった部分まで延びる左右の角状
の残部4aのことを、以降、角ばりと称する。
As described above, in the tie bar cutting jig 10, the width of the punch 11 is slightly smaller than the interval between the leads 2 in order to prevent the leads 2 from galling and deformation. Because it needs to be set,
After the tie bar cut, a dam beam 4 as shown in FIG.
The remaining parts 4a and 4b exist. Especially Lead 2
The left and right horn-shaped remaining portions 4a extending to the portion where the tie bar 3 was along along the line are hereinafter referred to as corners.

【0006】このように、従来のタイバーカット治具1
0を用いた場合、切断後に角ばり4aが残り、その状態
のままで半導体ICが後続のリード2の曲げ加工工程に
移されると、次のような不都合を生じる。すなわち、リ
ード2は、角ばり4aの残っている箇所に近接した部分
が曲げられるので、この曲げに伴って角ばり4aは上部
が引っ張り方向に、下部が圧縮方向にそれぞれ変形を受
け、その結果、角ばり4aがリード2から剥がれ落ち、
この剥がれ落ちたばりがパッケージ、リード、加工工
具、装置等に飛散して、種々の問題を引き起こす要因と
なる。たとえば、各種のテストを行う場合に、飛散した
ばりがリード2に付着してICソケットのコンタクトピ
ン(図示省略)との間に介在したときには、リード2と
コンタクトピンとの接触不良が生じて、正常なテスト結
果が得られなくなる。
As described above, the conventional tie bar cutting jig 1
When 0 is used, the corner 4a remains after cutting, and if the semiconductor IC is transferred to the subsequent bending process of the lead 2 in that state, the following inconvenience occurs. That is, since the lead 2 is bent at a portion close to the remaining portion of the corner 4a, the corner 4a is deformed in the pulling direction at the upper portion and in the compression direction at the lower portion. , The corner 4a is peeled off from the lead 2,
The peeled-off scatters on packages, leads, processing tools, devices, and the like, and causes various problems. For example, when performing various tests, when the scattered burrs adhere to the leads 2 and intervene between the contact pins (not shown) of the IC socket, poor contact between the leads 2 and the contact pins occurs, and Test results cannot be obtained.

【0007】さらに、従来のタイバーカット治具10
は、パンチ11とダイ12とによってタイバー3および
ダムばり4を同時に切り落としているが、ダムばり4に
は硬質のガラスフィラーが含まれているため、パンチ1
1とダイ12の摩耗が激しく、工具寿命が短いといった
不具合もあった。
Further, the conventional tie bar cutting jig 10
Cuts the tie bar 3 and the dam beam 4 at the same time by the punch 11 and the die 12. However, since the dam beam 4 contains a hard glass filler,
1 and the die 12 were severely worn and the tool life was short.

【0008】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、タイバーカット時において、タ
イバーの切断とともに角ばりを残すことなく有効に除去
できるようにするとともに、工具寿命の長いタイバーカ
ット治具およびこの治具を用いたタイバーカット方法を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and when cutting a tie bar, it is possible to effectively remove the tie bar without leaving an angle with the cutting of the tie bar, and to shorten the tool life. An object of the present invention is to provide a long tie bar cutting jig and a tie bar cutting method using the jig.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、半導
体ICのパッケージの外方に設けられたタイバーを切断
するためのタイバーカット治具において、パンチとダイ
とを備え、前記パンチの底部には、タイバー切断用のタ
イバー切断部を形成するとともに、このタイバー切断部
よりもパッケージ寄りの部分を下方に向けて突出してば
り押圧部を形成する一方、前記ダイは、前記タイバー切
断部が嵌入されるパンチ嵌入部を有し、このパンチ嵌入
部を前記ばり押圧部よりもパッケージ側から離間する方
向に後退させて配置している。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a tie bar cutting jig for cutting a tie bar provided outside a semiconductor IC package, comprising a punch and a die, wherein a bottom portion of the punch is provided. A tie bar cutting portion for tie bar cutting, and a portion closer to the package than the tie bar cutting portion protrudes downward to form a burr pressing portion, while the die is fitted with the tie bar cutting portion. The punch fitting portion is disposed so as to retreat in a direction away from the package side than the flash pressing portion.

【0010】請求項2の発明は、請求項1記載の構成に
おいて、前記ばり押圧部は、パンチの底面の先端の中央
部に単一の突起を形成してなる。
According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, the burr pressing portion is formed by forming a single projection at the center of the tip of the bottom surface of the punch.

【0011】請求項3の発明は、請求項1記載の構成に
おいて、前記ばり押圧部は、パンチの底面の先端に二つ
の突起を幅方向に並列して形成してなる。
According to a third aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, the burr pressing portion is formed by forming two projections at the tip of the bottom surface of the punch in parallel in the width direction.

【0012】請求項4の発明は、半導体ICのパッケー
ジの外方に設けられたタイバーを切断するためのタイバ
ーカット治具において、パンチとダイとを備え、前記パ
ンチの底部には、タイバー切断用のタイバー切断部を形
成するとともに、このタイバー切断部をパッケージ寄り
になるに従い下方に向けて傾斜してその先端部にばり押
圧部を形成する一方、前記ダイは、前記タイバー切断部
が嵌入されるパンチ嵌入部を有し、このパンチ嵌入部を
前記ばり押圧部よりもパッケージ側から離間する方向に
後退させて配置している。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a tie bar cutting jig for cutting a tie bar provided outside a package of a semiconductor IC, comprising a punch and a die. The tie bar cutting portion is formed, and the tie bar cutting portion is inclined downward toward the package and forms a flash pressing portion at the tip thereof, while the die is fitted with the tie bar cutting portion. A punch fitting portion is provided, and the punch fitting portion is disposed so as to retreat in a direction away from the package side with respect to the flash pressing portion.

【0013】請求項5の発明は、請求項1ないし請求項
4に記載のタイバーカット治具を用いて、パンチの前記
ばり押圧部でパッケージとタイバーとの間にあるダムば
りを打ち砕いた後、前記タイバー切断部とダイとでタイ
バーを切断するようにしている。
According to a fifth aspect of the present invention, after using the tie bar cutting jig according to any one of the first to fourth aspects, the burr pressing portion of the punch crushes the dam beam between the package and the tie bar. The tie bar is cut by the tie bar cutting portion and the die.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、タイバー
カット治具の一部を示す斜視図、図2はタイバーカット
治具とリードフレームとの位置関係を示す縦断面図、図
3はタイバーカット治具のパンチ、ダイおよびリードフ
レームの位置関係を示す平面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 1 is a perspective view showing a part of a tie bar cutting jig, FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a positional relationship between a tie bar cutting jig and a lead frame, and FIG. 3 is a punch, a die and a lead frame of the tie bar cutting jig. It is a top view which shows the positional relationship of.

【0015】この実施の形態のタイバーカット治具6
は、半導体ICのパッケージ1の外方に設けられたタイ
バー3を切断するためのパンチ7とダイ8とを備え、パ
ンチ7は、全体が略直方体状のもので、ダムばり4のパ
ッケージ1に近接した位置からタイバー3の外方に至る
までの所定長さを有し、かつ、タイバーカット時にリー
ド2のかじり現象や変形を起こさないようにするため、
パンチ7の幅寸法は、従来と同様、リード2の対向間隔
よりも僅かに狭くなるように設定されている。
The tie bar cutting jig 6 of this embodiment
Is provided with a punch 7 and a die 8 for cutting the tie bar 3 provided outside the semiconductor IC package 1. The punch 7 has a substantially rectangular parallelepiped shape as a whole. In order to have a predetermined length from the close position to the outside of the tie bar 3 and to prevent the lead 2 from galling or deformation when cutting the tie bar,
The width dimension of the punch 7 is set to be slightly smaller than the interval between the leads 2 facing each other, as in the related art.

【0016】このパンチ7の底部には、タイバー切断用
のタイバー切断部7aが形成されるとともに、このタイ
バー切断部7aよりもパッケージ1寄りの部分を下方に
向けて突出してばり押圧部7bが形成されている。この
ばり押圧部7bは、この実施の形態では、パンチ7の底
面の先端の中央部に半円柱形の単一の突起を形成して構
成されている。この場合の突起7bの形状は、半円柱形
に限らず、円錐形、直方体形など、要するにダムばり4
を押圧できる突起形状であればどのような形状であって
もよい。
At the bottom of the punch 7, a tie bar cutting portion 7a for cutting a tie bar is formed, and a portion closer to the package 1 than the tie bar cutting portion 7a is projected downward to form a flash pressing portion 7b. Have been. In this embodiment, the flash pressing portion 7b is formed by forming a single semi-cylindrical projection at the center of the tip of the bottom surface of the punch 7. In this case, the shape of the protrusion 7b is not limited to a semi-cylindrical shape, but may be a conical shape, a rectangular parallelepiped shape, or the like.
Any shape may be used as long as the shape can be pressed.

【0017】一方、ダイ8は、パンチ7のタイバー切断
部7aが嵌入されるパンチ嵌入部8aが形成されてお
り、このパンチ嵌入部8aは、パンチ7のばり押圧部7
bによるダムばり4の打ち砕き時の支障にならないよう
に、ばり押圧部7bを避けた位置、つまり、ばり押圧部
7bのパッケージ1側の端部から所定距離Lだけパッケ
ージ1側から離間する方向に後退させて配置されてい
る。したがって、パンチ7のタイバー切断部7aがダイ
8のパンチ嵌入部8aに入り込んだ場合でも、ばり押圧
部7bの下方にはパンチ嵌入部8aが位置しないように
なっている。
On the other hand, the die 8 is formed with a punch fitting portion 8a into which the tie bar cutting portion 7a of the punch 7 is fitted, and the punch fitting portion 8a is
b so as not to hinder the crushing of the dam beam 4 by the b, in a position avoiding the burr pressing portion 7b, that is, in a direction away from the package 1 side by a predetermined distance L from the package 1 side end of the burr pressing portion 7b It is arranged to retreat. Therefore, even when the tie bar cutting portion 7a of the punch 7 enters the punch fitting portion 8a of the die 8, the punch fitting portion 8a is not located below the flash pressing portion 7b.

【0018】この構成のタイバーカット治具6を用い
て、タイバー3およびダムばり4を除くには、まず、パ
ンチ7を下降させると、最初にパンチ7のばり押圧部7
bがダムばり4に当接する。このとき、ばり押圧部7b
の下方にはダイ8は存在しないので、ダムばり4は、パ
ッケージ1との接合部を支点として曲げモーメントが加
わってタイバー3側の部分が全て打ち砕かれる。このた
め、従来のような角ばり4aは生じない。よって、次の
リード曲げ工程でばりの飛散が防止されてテスト時の接
触不良等が大幅に改善される。しかも、パンチ7とダイ
8とによって直接にダムばり4を切断することはないの
で、パンチ7とダイ8の工具寿命を長く保つことができ
る。そして、さらにパンチ7を降下させると、タイバー
3がタイバー切断部7aとダイ8のパンチ嵌入部8aと
の間で挟まれて切断される。
In order to remove the tie bar 3 and the dam burrs 4 by using the tie bar cutting jig 6 having this configuration, first, the punch 7 is lowered, and first, the burrs pressing portion 7 of the punch 7 is moved.
b contacts the dam beam 4. At this time, the burrs 7b
Since the die 8 does not exist under the tie bar 3, a bending moment is applied to the dam beam 4 with the joint with the package 1 as a fulcrum, and the entire portion on the tie bar 3 side is crushed. For this reason, the corner 4a unlike the related art does not occur. Therefore, scattering of burrs is prevented in the next lead bending step, and contact failure during testing is greatly improved. Further, since the dam burrs 4 are not directly cut by the punches 7 and the dies 8, the tool life of the punches 7 and the dies 8 can be kept long. When the punch 7 is further lowered, the tie bar 3 is cut between the tie bar cutting portion 7 a and the punch fitting portion 8 a of the die 8.

【0019】このように、タイバーカット後は、図4に
示すように、従来のような角ばりは残らないが、パッケ
ージ1との隣接部分に僅かにダムばりの残部4bが存在
することがある。しかし、この残部4bは、次のリード
曲げ工程でのばりの飛散原因には殆ど影響しないので問
題はない。
As shown in FIG. 4, after the tie bar is cut, the conventional burrs do not remain, but the remaining portions 4b of the burrs may be slightly present adjacent to the package 1, as shown in FIG. . However, there is no problem because the remaining portion 4b has almost no influence on the cause of burrs in the next lead bending step.

【0020】実施の形態2.上記のタイバーカット治具
6においては、パンチ7の底面の先端の中央部に形成し
た単一の突起7bによってばり押圧部を構成したが、本
発明はこれに限らず、たとえば、図5に示すように、パ
ンチ7の底面の先端に二つの突起7c,7dを幅方向に
並列して形成してばり押圧部を構成することも可能であ
る。この構成の場合も図1ないし図4に示した実施の形
態1の場合と同様に、角ばりを残すことなくダムばり4
を除き、かつ、タイバー3を切断することができる。
Embodiment 2 In the tie bar cutting jig 6 described above, the burr pressing portion is formed by the single projection 7b formed at the center of the tip of the bottom surface of the punch 7, but the present invention is not limited to this, and for example, shown in FIG. As described above, it is also possible to form the projections 7c and 7d at the tip of the bottom surface of the punch 7 in parallel in the width direction to constitute the flash pressing portion. In the case of this configuration, as in the case of the first embodiment shown in FIGS.
And the tie bar 3 can be cut.

【0021】実施の形態3.また、本発明のタイバーカ
ット治具において、ばり押圧部としては、図1および図
5に示したような突起7b,7c,7dの形状に限定さ
れるものではなく、たとえば、図6に示すように、パン
チ7の底部にタイバー切断用のタイバー切断部7aを形
成するとともに、このタイバー切断部7aをパッケージ
1寄りになるに従い下方に向けて傾斜してその先端部に
ばり押圧部7bを形成することもできる。その場合も、
ダイ8は、ばり押圧部7bを避けた位置、つまりばり押
圧部7bのパッケージ1側の端部から所定距離Lだけリ
ード外方に向けて後退した位置に配置されていて、ばり
押圧部7bでダムばり4を除けるようにする。
Embodiment 3 Further, in the tie bar cutting jig of the present invention, the burr pressing portion is not limited to the shapes of the projections 7b, 7c, 7d as shown in FIGS. 1 and 5, and for example, as shown in FIG. Then, a tie bar cutting portion 7a for cutting a tie bar is formed at the bottom of the punch 7, and the tie bar cutting portion 7a is inclined downward toward the package 1 to form a flash pressing portion 7b at the tip end thereof. You can also. Even in that case,
The die 8 is disposed at a position avoiding the flash pressing portion 7b, that is, at a position retracted outward from the lead by a predetermined distance L from the end of the flash pressing portion 7b on the package 1 side. Make it possible to remove Dam 4

【0022】なお、ダムばり4はリードフレームの断面
に強く付着しているので、ダムばり4を剥離し易くする
上では、タイバーカットを行う前に予め電解ばり取りの
工程を入れるのが好ましい。この電解ばり取りによって
ダムばり4とリードフレームとの界面が電気力によって
剥離され、後続のタイバーカット工程でのばり取りを一
層容易に行うことができる。
Since the dam beam 4 strongly adheres to the cross section of the lead frame, it is preferable to perform an electrolytic deburring step before tie-bar cutting in order to facilitate the peeling of the dam beam 4. By this electrolytic deburring, the interface between the dam burrs 4 and the lead frame is peeled off by an electric force, so that the deburring in the subsequent tie bar cutting step can be performed more easily.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、次の効
果が得られる。請求項1,4のタイバーカット治具およ
び請求項5のタイバーカット方法では、タイバーカット
時において、タイバーの切断を確実に行うことができる
だけでなく、角ばりを残すことなくダムばりを有効に除
去することができる。このため、後工程のリード曲げ時
に角ばりの飛散がなくなり、テスト時の接触不良が大幅
に改善され、テスト歩留まりが向上する。しかも、ダム
ばりは、ばり押圧部で打ち砕いてパンチとダイとで切断
することはないので、工具寿命を長く保つことができ、
タイバーカット治具のランニングコストを削減すること
ができる。特に、請求項2,3のように突起によりばり
押圧部を形成すれば、簡単な構成でもってダムばりを効
率良く除くことができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. According to the tie bar cutting jig of the first and fourth aspects and the tie bar cutting method of the fifth aspect, at the time of the tie bar cutting, not only can the tie bar be reliably cut, but also the dam burrs can be effectively removed without leaving corners. can do. For this reason, the scattering of the corners is eliminated when the lead is bent in the subsequent process, and the contact failure at the time of the test is largely improved, and the test yield is improved. Moreover, since the dam beam is not crushed at the press portion and cut by the punch and the die, the tool life can be kept long,
The running cost of the tie bar cutting jig can be reduced. In particular, if the burrs are formed by projections as in claims 2 and 3, dam burrs can be efficiently removed with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1におけるタイバーカッ
ト治具の一部を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a part of a tie bar cutting jig according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態1におけるタイバーカッ
ト治具とリードフレームの位置関係を示す縦断面図であ
る。
FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a positional relationship between a tie bar cutting jig and a lead frame according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施の形態1におけるタイバーカッ
ト治具とリードフレームの位置関係を示す平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view showing a positional relationship between a tie bar cutting jig and a lead frame according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 本発明のタイバーカット治具を用いてタイバ
ーとダムばりとを同時にカットした後の状態を示す平面
図である。
FIG. 4 is a plan view showing a state after a tie bar and a dam beam are simultaneously cut using the tie bar cutting jig of the present invention.

【図5】 本発明の他の実施の形態2におけるタイバー
カット治具の一部を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing a part of a tie bar cutting jig according to another embodiment 2 of the present invention.

【図6】 本発明の実施の形態3におけるタイバーカッ
ト治具を示す縦断面図である。
FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a tie bar cutting jig according to Embodiment 3 of the present invention.

【図7】 タイバーカット直前の半導体ICの状態を示
す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a state of the semiconductor IC immediately before tie bar cutting.

【図8】 従来のタイバーカット治具を用いてタイバー
カットを行う時の状態を示す縦断面図である。
FIG. 8 is a longitudinal sectional view showing a state where tie bar cutting is performed using a conventional tie bar cutting jig.

【図9】 従来のタイバーカット治具を用いてタイバー
カットを行う時の状態を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a state where tie bar cutting is performed using a conventional tie bar cutting jig.

【図10】 従来のタイバーカット治具を用いてタイバ
ーとダムばりとを同時にカットした後の状態を示す平面
図である。
FIG. 10 is a plan view showing a state after a tie bar and a dam beam are simultaneously cut using a conventional tie bar cutting jig.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 パッケージ、2 リード、3 タイバー、4 ダム
ばり、4a 角ばり、6 タイバーカット治具、7 パ
ンチ、7a タイバー切断部、7b,7c,7d ばり
押圧部、8 ダイ、8a パンチ嵌入部。
1 Package, 2 leads, 3 tie bars, 4 dam beams, 4a angle beam, 6 tie bar cutting jigs, 7 punches, 7a tie bar cutting portions, 7b, 7c, 7d flash pressing portions, 8 dies, 8a punch insertion portions.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ICのパッケージの外方に設けら
れたタイバーを切断するためのタイバーカット治具にお
いて、パンチとダイとを備え、前記パンチの底部には、
タイバー切断用のタイバー切断部を形成するとともに、
このタイバー切断部よりもパッケージ寄りの部分を下方
に向けて突出してばり押圧部を形成する一方、前記ダイ
は、前記タイバー切断部が嵌入されるパンチ嵌入部を有
し、このパンチ嵌入部を前記ばり押圧部よりもパッケー
ジ側から離間する方向に後退させて配置したことを特徴
とする半導体ICのタイバーカット治具。
1. A tie bar cutting jig for cutting a tie bar provided outside a package of a semiconductor IC, comprising: a punch and a die;
While forming a tie bar cutting part for tie bar cutting,
A portion closer to the package than the tie bar cutting portion is projected downward to form a burr pressing portion, while the die has a punch fitting portion into which the tie bar cutting portion is fitted. A tie bar cutting jig for a semiconductor IC, wherein the jig is disposed so as to be retracted in a direction away from a package side than a flash pressing portion.
【請求項2】 前記ばり押圧部は、パンチの底面の先端
の中央部に単一の突起を形成してなることを特徴とする
請求項1に記載のタイバーカット治具。
2. The tie bar cutting jig according to claim 1, wherein the burr pressing portion has a single projection formed at the center of the tip of the bottom surface of the punch.
【請求項3】 前記ばり押圧部は、パンチの底面の先端
に二つの突起を幅方向に並列して形成してなることを特
徴とする請求項1に記載のタイバーカット治具。
3. The tie bar cutting jig according to claim 1, wherein the burr pressing portion is formed by forming two protrusions at the tip of the bottom surface of the punch in parallel in the width direction.
【請求項4】 半導体ICのパッケージの外方に設けら
れたタイバーを切断するためのタイバーカット治具にお
いて、パンチとダイとを備え、前記パンチの底部には、
タイバー切断用のタイバー切断部を形成するとともに、
このタイバー切断部をパッケージ寄りになるに従い下方
に向けて傾斜してその先端部にばり押圧部を形成する一
方、前記ダイは、前記タイバー切断部が嵌入されるパン
チ嵌入部を有し、このパンチ嵌入部を前記ばり押圧部よ
りもパッケージ側から離間する方向に後退させて配置し
たことを特徴とする半導体ICのタイバーカット治具。
4. A tie bar cutting jig for cutting a tie bar provided outside a package of a semiconductor IC, comprising: a punch and a die;
While forming a tie bar cutting part for tie bar cutting,
The tie bar cutting portion is inclined downward toward the package to form a flash pressing portion at the tip thereof, and the die has a punch fitting portion into which the tie bar cutting portion is fitted. A tie bar cutting jig for a semiconductor IC, wherein the fitting portion is disposed so as to recede in a direction away from the package side with respect to the flash pressing portion.
【請求項5】 請求項1ないし請求項4に記載のタイバ
ーカット治具を用いて、パンチの前記ばり押圧部でパッ
ケージとタイバーとの間にあるダムばりを打ち砕いた
後、前記タイバー切断部とダイとでタイバーを切断する
ことを特徴とするタイバーカット方法。
5. The tie bar cutting jig according to claim 1, wherein a bur bar between the package and the tie bar is crushed by the burr pressing portion of the punch, and then the tie bar cutting portion is crushed. A tie bar cutting method characterized by cutting a tie bar with a die.
JP2000129238A 2000-04-28 2000-04-28 Jig for cutting tie bar of semiconductor ic, and method for cutting the tie bar Pending JP2001313360A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008041949A (en) * 2006-08-07 2008-02-21 Nec Electronics Corp Semiconductor device, and its manufacturing method and device

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