JP2001332855A - Method for manufacturing multi-layered wiring board - Google Patents

Method for manufacturing multi-layered wiring board

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JP2001332855A
JP2001332855A JP2000151280A JP2000151280A JP2001332855A JP 2001332855 A JP2001332855 A JP 2001332855A JP 2000151280 A JP2000151280 A JP 2000151280A JP 2000151280 A JP2000151280 A JP 2000151280A JP 2001332855 A JP2001332855 A JP 2001332855A
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JP
Japan
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layer
conductor pattern
hole
forming
circuit board
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Application number
JP2000151280A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Shimayama
裕一 島山
Eiitsu Shinada
詠逸 品田
Shigeharu Ariga
茂晴 有家
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a multi-layered wiring board which is superior in the formation precision of a conductor pattern and superior in control over the insulating layer thickness of a built-up layer without decreasing connection reliability. SOLUTION: This method has a stage for stacking and integrating resin layers on the top and reverse surfaces of plural conductor pattern layers, a stage for forming through holes penetrating the conductor pattern layers, a stage for forming a circuit board by depositing a conductor on the internal wall of the through hole, a stage for forming a stack plate which has nonwoven fabric prepreg laminated integrally on at least one of the top and reverse surfaces of the circuit board, the through holes charged with nonwoven fabric prepreg, and a build-up layer formed on at least one surface of the circuit board, a stage for forming a hole where an internal-layer circuit is exposed selectively in the built-up layer, a stage for depositing a conductor on the internal wall of the hole, and a stage for forming a conductor pattern connected to the internal layer circuit on the built-up layer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は多層配線基板の製造
方法に関わり、特に、貫通孔とビルドアップ層の形成に
不織布プリプレグを用いる多層配線基板の製造方法に関
する。
The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a multilayer wiring board using a nonwoven fabric prepreg for forming a through hole and a build-up layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型化、高性能化に伴
い、多層配線基板における表面実装部品(以下、「SM
D」という)の実装密度が急上昇し、実装端子の導体パ
ターンには、微細化、高精度化等の要求が高まってきて
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, with the miniaturization and high performance of electronic devices, surface mount components (hereinafter, referred to as "SM") on multilayer wiring boards have been developed.
D "), the mounting density of the conductive patterns of the mounting terminals has been increasing.

【0003】多層配線基板の製造方法において、接続端
子や回路などの導体パターンを形成する方法として、銅
箔の表面に必要な形状にエッチングレジストを形成し、
不要な箇所の銅箔を化学エッチング液を噴射してエッチ
ング除去するという、いわゆるサブトラクト法がある。
このサブトラクト法を用いると、導体パターンの下面積
は上面積よりも広くなってしまう。つまり、導体パター
ンの断面形状が台形状となり、導体パターンの厚さが厚
いほど上下の面積差が大きくなってしまう。したがっ
て、高密度なSMDの実装を行うために導体パターンの
精度が要求される場合には、導体パターンの厚さを限り
なく薄くすることが行われている。
In a method of manufacturing a multilayer wiring board, as a method of forming a conductor pattern such as a connection terminal or a circuit, an etching resist is formed in a required shape on a surface of a copper foil.
There is a so-called subtract method in which an unnecessary portion of the copper foil is removed by etching by spraying a chemical etching solution.
When this subtraction method is used, the lower area of the conductor pattern is larger than the upper area. In other words, the cross-sectional shape of the conductor pattern becomes trapezoidal, and the greater the thickness of the conductor pattern, the greater the difference between the upper and lower areas. Therefore, when the precision of the conductor pattern is required to mount a high-density SMD, the thickness of the conductor pattern is reduced as much as possible.

【0004】また、導体パターンを形成するその他の方
法としてアディティブ法がある。アディティブ法は、絶
縁基板上の導体パターンが形成されない箇所にめっきレ
ジスト像を形成し、その間際に無電界めっき銅を析出さ
せて、導体パターンを形成する方法である。サブトラク
ト法と異なり、アディティブ法によれば、上面積と下面
積がほぼ等しくなるような方形状の断面形状を有する導
体パターンを形成することができる。このアディティブ
法において、導体パターンの精度が要求される場合、め
っきレジスト像の形成精度がその厚さに反比例するた
め、めっきレジスト像の厚さを薄くする必要があり、そ
れに伴って、形成される導体パターンの厚さも制限され
てしまう。
Another method for forming a conductor pattern is an additive method. The additive method is a method of forming a conductive pattern by forming a plating resist image at a place where a conductive pattern is not formed on an insulating substrate, and depositing electrolessly plated copper just before that. Unlike the subtractive method, according to the additive method, it is possible to form a conductor pattern having a rectangular cross-sectional shape such that the upper area and the lower area are substantially equal. In this additive method, when the accuracy of the conductor pattern is required, since the accuracy of forming the plating resist image is inversely proportional to its thickness, it is necessary to reduce the thickness of the plating resist image, and accordingly, it is formed. The thickness of the conductor pattern is also limited.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、スーパーコ
ンピュータ、半導体装置の検査等の分野に使用される多
層配線基板には、例えば、層数が20層以上、板厚が5
mm以上の高密度・高多層のものが使用されることがあ
る。このような高密度で高多層な多層配線基板におい
て、接続端子の接続信頼性を確保するために、配線層間
を貫通する貫通孔の内壁に堆積される内層銅厚をできる
だけ厚くすることが必要であり、上記のサブトラクト法
やアディティブ法などの従来の方法では、内層銅厚であ
る導体パターンの厚さを厚くした上で、高精度化するこ
とが困難である。
Incidentally, a multilayer wiring board used in the fields of supercomputers, semiconductor device inspection, and the like has, for example, 20 or more layers and a plate thickness of 5 or more.
High-density and high-layer materials of mm or more are sometimes used. In such a high-density, high-layered multilayer wiring board, it is necessary to increase the thickness of the inner layer copper deposited on the inner wall of the through hole penetrating between the wiring layers as much as possible in order to ensure the connection reliability of the connection terminals. In addition, in the conventional methods such as the subtraction method and the additive method, it is difficult to increase the thickness of the conductor pattern, which is the thickness of the inner copper layer, and to increase the precision.

【0006】また、一般に多層配線基板では配線路の特
性インピーダンスを一定にするために、層間絶縁膜の厚
さを均一に制御する必要が有る。しかし、板厚が5mm
以上の高密度・高多層の多層配線基板に対して、銅箔付
き接着フィルムなどを用いて貫通孔の孔埋め及びビルド
アップ層の形成を一括プレスで行ってしまうと、ビルド
アップ層の絶縁膜厚を均一に制御することが困難であ
る。
Generally, in a multilayer wiring board, it is necessary to uniformly control the thickness of an interlayer insulating film in order to make the characteristic impedance of a wiring path constant. However, the plate thickness is 5mm
If the above-mentioned high-density, high-layer multilayer wiring board is filled with through-holes and formed with a build-up layer by using an adhesive film with copper foil, etc. by batch pressing, the insulating film of the build-up layer It is difficult to control the thickness uniformly.

【0007】また、ガラス織布プリプレグなどを用いて
貫通孔の孔埋めとビルドアップ層の形成を一括プレスで
行った場合、ビルドアップ層の絶縁膜厚を均一に制御す
ることは可能であるが、表面回路と内層回路を電気的に
接続する孔の形成をレーザで行うことが困難となる。
When the filling of the through-holes and the formation of the build-up layer are performed by a batch press using a glass woven fabric prepreg or the like, it is possible to control the insulating film thickness of the build-up layer uniformly. In addition, it is difficult to form a hole for electrically connecting the surface circuit and the inner layer circuit with a laser.

【0008】本発明はこのような従来技術の問題点を解
決するために成されたものであり、その目的は、接続信
頼性を低下させることなく、導体パターンの形成精度に
優れ、またビルドアップ層の絶縁層厚の制御に優れた多
層配線基板の製造方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and it is an object of the present invention to improve the precision of forming a conductive pattern without lowering the connection reliability and to improve the build-up. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer wiring board excellent in controlling the thickness of an insulating layer.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の特徴は、(1)1つまたは2つ以上の導体
パターン層の表裏面に樹脂層をそれぞれ重ねて加圧・加
熱して積層一体化する第1工程と、(2)積層一体化さ
れた樹脂層の上に内層回路を形成する第2工程と、
(3)導体パターン層及び樹脂層を貫通する貫通孔を形
成する第3工程と、(4)貫通孔の内壁に導体を堆積し
て、導体パターン層と内層回路が相互に電気的に接続さ
れた回路基板を形成する第4工程と、(5)回路基板の
表面及び裏面のうち少なくとも片面に不織布プリプレグ
を重ねて加圧・加熱して積層一体化して、貫通孔に不織
布プリプレグが充填され、回路基板の少なくとも片面に
ビルドアップ層が形成された積層板を形成する第5工程
と、(6)内層回路が表出する孔を選択的にビルドアッ
プ層に形成する第6工程と、(7)孔の内壁に導体を堆
積する第7工程と、(8)ビルドアップ層の上に内層回
路に接続された導体パターンを形成する第8工程とを有
する多層配線基板の製造方法であることである。ここ
で、「導体パターン層」は、平板状の絶縁基板と、この
絶縁基板上に配置された所定の導体パターンとからな
る。
In order to achieve the above object, the features of the present invention are as follows. (1) A resin layer is superimposed on the front and back surfaces of one or more conductor pattern layers, and the resin layers are pressurized and heated. (2) a second step of forming an inner layer circuit on the laminated and integrated resin layer;
(3) a third step of forming a through hole penetrating through the conductor pattern layer and the resin layer; and (4) a conductor is deposited on the inner wall of the through hole, and the conductor pattern layer and the inner layer circuit are electrically connected to each other. A fourth step of forming the circuit board, and (5) the nonwoven fabric prepreg is stacked on at least one of the front and back surfaces of the circuit board, and is pressurized and heated to be laminated and integrated, and the through holes are filled with the nonwoven fabric prepreg; (5) a fifth step of forming a laminate having a build-up layer formed on at least one surface of the circuit board, (6) a sixth step of selectively forming holes in which the inner-layer circuits are exposed in the build-up layer, and (7) A) a seventh step of depositing a conductor on the inner wall of the hole and (8) an eighth step of forming a conductor pattern connected to the inner layer circuit on the build-up layer. is there. Here, the “conductor pattern layer” includes a flat insulating substrate and a predetermined conductive pattern disposed on the insulating substrate.

【0010】本発明の特徴によれば、不織布プリプレグ
を用いて貫通孔に充填し、ビルドアップ層を形成するこ
とにより、ビルドアップ層の層厚を均一に形成すること
ができる。したがって、多層配線基板の導体パターンの
特性インピーダンスを一定に保つことができる。同時
に、孔の内壁に堆積された導体の厚さを、貫通孔の内壁
に堆積された導体の厚さより薄くできるので、貫通孔の
内壁に堆積された導体の接続信頼性を低下させることな
く、ビルドアップ層の上に形成精度の高い導体パターン
を形成することができる。
According to the feature of the present invention, the thickness of the build-up layer can be made uniform by filling the through holes with the non-woven prepreg and forming the build-up layer. Therefore, the characteristic impedance of the conductor pattern of the multilayer wiring board can be kept constant. At the same time, the thickness of the conductor deposited on the inner wall of the through hole can be made smaller than the thickness of the conductor deposited on the inner wall of the through hole, so that the connection reliability of the conductor deposited on the inner wall of the through hole is not reduced. A conductor pattern with high formation accuracy can be formed on the build-up layer.

【0011】本発明の特徴において、不織布プリプレグ
は、ガラス不織布プリプレグであることが望ましい。あ
るいは、不織布プリプレグは、有機繊維不織布プリプレ
グであってもよい。また、導体パターン層の層数は任意
である。さらに、不織布プリプレグは、貫通孔の孔埋め
とビルドアップ層の形成に必要な枚数だけ必要な個所に
重ねて加圧、加熱することが望ましい。つまり、貫通孔
の孔埋めとビルドアップ層の形成に1枚の不織布プリプ
レグでは不十分であれば、2枚以上を重ねることが望ま
しく、回路基板の表裏面の片面だけでは不十分であれ
ば、両面に不織布プリプレグを重ねることが望ましい。
[0011] In the features of the present invention, the nonwoven fabric prepreg is desirably a glass nonwoven prepreg. Alternatively, the nonwoven prepreg may be an organic fiber nonwoven prepreg. The number of conductor pattern layers is arbitrary. Furthermore, it is desirable that the nonwoven fabric prepreg be pressed and heated by overlapping the necessary number of places for filling the through holes and forming the build-up layer. In other words, if one nonwoven fabric prepreg is insufficient for filling the through holes and forming the build-up layer, it is desirable to stack two or more sheets. If only one of the front and back surfaces of the circuit board is insufficient, It is desirable to overlap the nonwoven fabric prepreg on both sides.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】(実施例1)以下図面を参照して
本発明の実施の形態を説明する。図1は、実施例1に係
わる多層配線基板の構成を示す断面図である。図1に示
すように、実施例1に係わる多層配線基板12は、複数
の導体パターン層1と、導体パターン層1の表裏面にそ
れぞれ配置された複数の樹脂層2と、積層一体化された
複数の導体パターン層1及び樹脂層2を貫通する貫通孔
4と、積層一体化された複数の導体パターン層1及び樹
脂層2の表面及び裏面に形成された内層回路10と、貫
通孔4の内壁に堆積され、異なる導体パターン層1及び
内層回路10の間を電気的に接続する導体と、内層回路
10の上に積層されたビルドアップ層16と、ビルドア
ップ層16の上に形成された導体パターン11とを有す
る。導体パターン層1は、平板状の絶縁基板と、この絶
縁基板の表裏面に配置された導体パターンとからなる。
貫通孔4の内部は、ビルドアップ層16と同一材料であ
る不織布プリプレグが充填されている。導体パターン1
1と内層回路10とは、ビルドアップ層16中に形成さ
れた孔9の内壁に堆積された導体を介して接続されてい
る。
(Embodiment 1) Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating the configuration of the multilayer wiring board according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, the multilayer wiring board 12 according to the first embodiment is formed by laminating and integrating a plurality of conductor pattern layers 1 and a plurality of resin layers 2 respectively disposed on the front and back surfaces of the conductor pattern layer 1. A through hole 4 penetrating through the plurality of conductor pattern layers 1 and the resin layer 2; an inner layer circuit 10 formed on the front and back surfaces of the plurality of conductor pattern layers 1 and the resin layer 2 which are laminated and integrated; A conductor that is deposited on the inner wall and electrically connects between the different conductor pattern layers 1 and the inner layer circuit 10, a build-up layer 16 stacked on the inner layer circuit 10, and formed on the build-up layer 16 And a conductor pattern 11. The conductive pattern layer 1 includes a flat insulating substrate and conductive patterns arranged on the front and back surfaces of the insulating substrate.
The inside of the through hole 4 is filled with a nonwoven fabric prepreg, which is the same material as the buildup layer 16. Conductor pattern 1
1 and the inner layer circuit 10 are connected via a conductor deposited on the inner wall of the hole 9 formed in the build-up layer 16.

【0013】次に、図1に示した多層配線基板12の製
造方法を図2(a)乃至(e)を参照して説明する。図
2(a)乃至(e)は、本発明の実施例1に係わる多層
配線基板12の製造方法における主要な工程を示す工程
断面図である。なお図2(a)乃至(e)の切断面は、
図1の切断面に対応している。
Next, a method of manufacturing the multilayer wiring board 12 shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 2A to 2E are process cross-sectional views illustrating main processes in the method for manufacturing the multilayer wiring board 12 according to the first embodiment of the present invention. The cut surfaces in FIGS. 2A to 2E are:
It corresponds to the cut surface in FIG.

【0014】(イ)まず、平板状の絶縁板の表裏面に銅
箔が堆積されたガラス布ポリイミド樹脂銅張り積層板M
CL−I−67(日立化成工業株式会社製、商品名)を
複数個用意する。これらのガラス布ポリイミド樹脂銅張
り積層板の表面に、エッチングレジストフィルムHP−
250(日立化成工業株式会社製、商品名)をラミネー
トする。フォトマスクを介してエッチングレジストフィ
ルムに紫外線を照射し、現像して、所定の導体パターン
(内層回路パターン)と同一形状のエッチングレジスト
を形成する。このエッチングレジストをマスクとして銅
箔を選択的にエッチング除去して、図2(a)に示すよ
うに、絶縁板の表裏面に所定の導体パターンが配置され
た複数の導体パターン層1を形成する。なお、図2
(a)乃至(e)に示すように実施例1では、導体パタ
ーン層1の数が3つである場合について説明を続ける
が、これに限られるわけではなくこれより少ない層数あ
るいは多い層数であってもかまわない。その後、エッチ
ングレジストを剥離除去する。3つの導体パターン層1
の表裏面に4つの樹脂層2をそれぞれ重ね、さらに最外
層の樹脂層2の外側に銅箔3を重ねて、圧力2.94M
pa、温度175℃、90分の条件で積層一体化する。
積層一体化された3つの導体パターン層1と4つの樹脂
層2と銅箔3とを回路基板5という。なお、樹脂層2
は、ガラス布ポリイミド樹脂プリプレグGIA−67
(日立化成工業株式会社製、商品名)を使用する。ま
た、図2(a)は、積層一体化する前の回路基板5の各
層(1、2、3)の配置関係を示す図である。
(A) First, a glass cloth polyimide resin copper-clad laminate M in which copper foil is deposited on the front and back surfaces of a flat insulating plate.
A plurality of CL-I-67 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) is prepared. On the surface of these glass cloth polyimide resin copper-clad laminates, an etching resist film HP-
250 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name). The etching resist film is irradiated with ultraviolet rays through a photomask and developed to form an etching resist having the same shape as a predetermined conductor pattern (inner circuit pattern). Using the etching resist as a mask, the copper foil is selectively etched away to form a plurality of conductor pattern layers 1 on which predetermined conductor patterns are arranged on the front and back surfaces of the insulating plate, as shown in FIG. . Note that FIG.
In the first embodiment as shown in (a) to (e), the case where the number of the conductor pattern layers 1 is three will be continued, but the present invention is not limited to this, and the number of layers is smaller or larger than this. It may be. After that, the etching resist is peeled off. Three conductor pattern layers 1
, Four resin layers 2 are respectively superposed on the front and back surfaces, and a copper foil 3 is further superimposed on the outer side of the outermost resin layer 2 at a pressure of 2.94M.
The layers are integrated under the conditions of pa, a temperature of 175 ° C. and 90 minutes.
The three conductor pattern layers 1, the four resin layers 2, and the copper foil 3 that are laminated and integrated are referred to as a circuit board 5. In addition, the resin layer 2
Is a glass cloth polyimide resin prepreg GIA-67
(Trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.). FIG. 2A is a diagram showing an arrangement relationship of each layer (1, 2, 3) of the circuit board 5 before lamination and integration.

【0015】(ロ)次に、図2(b)に示すように、数
値制御孔あけ機を用いて所定の位置に回路基板5の表裏
面を貫通する貫通孔4を形成する。無電界めっきを30
μm、電気銅めっきを20μm行って、貫通孔4の内壁
と回路基板5の表裏面に必要な導体(銅箔)を堆積す
る。銅箔3の上にエッチングレジストフィルムHP−2
50をラミネートし、フォトマスクを介して紫外線を照
射し、現像して、内層回路10と同一形状のエッチング
レジストを形成する。このエッチングレジストをマスク
として銅箔3を選択的にエッチング除去して内層回路1
0を形成する。その後、エッチングレジストを剥離除去
する。貫通孔4の内壁に堆積された銅箔により、内層回
路10及び複数の内層回路パターン(導体パターン層
1)との間が接続される。以上の工程を経て、図2
(b)に示すように、積層された複数の導体パターン層
1を貫通する貫通孔4を有する板厚が約5mmの回路基
板5を形成することができる。
(B) Next, as shown in FIG. 2 (b), through holes 4 penetrating the front and back surfaces of the circuit board 5 are formed at predetermined positions using a numerically controlled drilling machine. 30 electroless plating
The required conductor (copper foil) is deposited on the inner wall of the through-hole 4 and the front and back surfaces of the circuit board 5 by performing electro-copper plating of 20 μm. Etching resist film HP-2 on copper foil 3
50 is laminated, irradiated with ultraviolet rays through a photomask, and developed to form an etching resist having the same shape as the inner layer circuit 10. Using this etching resist as a mask, the copper foil 3 is selectively removed by etching to form the inner layer circuit 1.
0 is formed. After that, the etching resist is peeled off. The copper foil deposited on the inner wall of the through hole 4 connects the inner layer circuit 10 and the plurality of inner layer circuit patterns (conductor pattern layers 1). Through the above steps, FIG.
As shown in (b), a circuit board 5 having a through-hole 4 penetrating the plurality of stacked conductor pattern layers 1 and having a thickness of about 5 mm can be formed.

【0016】(ハ)次に、図2(c)に示すように、回
路基板5の表裏面に、不織布プリプレグ6、その外側に
膜厚12μmの銅箔7を重ね、加圧・加熱して積層一体
化する。図2(d)に示すように、不織布プリプレグ6
の一部が貫通孔4に充填され、他の不織布プリプレグ6
は、内層回路10と銅箔7間のスペーサーとなって残
り、回路基板5の表裏面に堆積されたビルドアップ層1
6が形成される。積層一体化された回路基板5と不織布
プリプレグ6と銅箔7とを積層板8という。以上の工程
を経て、回路基板5の表面及び裏面に不織布プリプレグ
6及び銅箔7を重ねて加圧・加熱して積層一体化して、
貫通孔4の孔埋めとビルドアップ層16の形成を一括プ
レスで行うことができる。なお、不織布プリプレグ6
は、ガラス不織布プリプレグの一種であるガラス不織布
エポキシプリプレグGEA−679P(日立化成工業株
式会社製、商品名)を使用する。また、図2(c)は、
積層一体化する前の積層板8の各層(5、6、7)の配
置関係を示す図である。
(C) Next, as shown in FIG. 2 (c), a nonwoven fabric prepreg 6 is laminated on the front and back surfaces of the circuit board 5, and a copper foil 7 having a thickness of 12 μm is laminated on the outside of the prepreg. Laminate and integrate. As shown in FIG. 2D, the nonwoven fabric prepreg 6
Of the nonwoven fabric prepreg 6
Are build-up layers 1 remaining as spacers between the inner layer circuit 10 and the copper foil 7 and deposited on the front and back surfaces of the circuit board 5.
6 are formed. The circuit board 5, the nonwoven fabric prepreg 6, and the copper foil 7 which are laminated and integrated are referred to as a laminate 8. Through the above steps, the nonwoven fabric prepreg 6 and the copper foil 7 are superimposed on the front and back surfaces of the circuit board 5 and pressurized and heated to laminate and integrate,
Filling of the through holes 4 and formation of the build-up layer 16 can be performed by a batch press. In addition, the nonwoven fabric prepreg 6
Uses glass nonwoven epoxy prepreg GEA-679P (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), which is a kind of glass nonwoven prepreg. FIG. 2 (c)
It is a figure which shows the arrangement | positioning relationship of each layer (5, 6, 7) of the laminated board 8 before lamination and integration.

【0017】(ニ)次に、積層板8の表面及び裏面にエ
ッチングレジストフィルムHP−250をラミネートす
る。フォトリソグラフィー法を用いてフォトマスクを介
して紫外線を照射し、現像して、図2(e)に示す孔9
を形成したい領域に窓を有するエッチングレジストを形
成する。このエッチングレジストをマスクとして銅箔7
を選択的にエッチング除去する。炭酸ガスレーザ孔あけ
機であるLCO−1B21(日立ビアメカニクス株式会
社製、商品名)を用いて、孔9の位置に、周波数500
Hz、パルス幅12μs、ビーム径φ0.2mm、ショ
ット回数8回の条件でレーザ光を照射し、孔9の位置の
硬化したエポキシ樹脂及びガラス不織布基材であるビル
ドアップ層16を選択的に取り除き、図2(e)に示す
ように内層回路10が露出した孔9を形成する。その
後、エッチングレジストを剥離除去する。
(D) Next, an etching resist film HP-250 is laminated on the front and back surfaces of the laminate 8. Using a photolithography method, ultraviolet rays are irradiated through a photomask and developed, and the holes 9 shown in FIG.
An etching resist having a window in a region where it is desired to form is formed. Using this etching resist as a mask, copper foil 7
Is selectively removed by etching. Using LCO-1B21 (trade name, manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd.) which is a carbon dioxide laser drilling machine, a frequency of 500
Hz, pulse width of 12 μs, beam diameter φ of 0.2 mm, and irradiation with a laser beam under the conditions of eight shots, to selectively remove the hardened epoxy resin at the position of the hole 9 and the build-up layer 16 which is a glass nonwoven fabric base material. Then, as shown in FIG. 2 (e), a hole 9 where the inner layer circuit 10 is exposed is formed. After that, the etching resist is peeled off.

【0018】(ホ)次に、以下の組成の無電解銅めっき
液を用いて以下の条件で無電解銅めっきを行い、積層板
8の表裏面及び孔9の内壁に厚さ12μmの導体(銅
箔)を堆積する。
(E) Next, an electroless copper plating solution having the following composition is used to perform electroless copper plating under the following conditions, and a 12 μm-thick conductor ( (Copper foil).

【0019】<無電解銅めっき液の組成及び使用条件> ・CuSO・5HO …………10g/リットル ・EDTA・4Na …………40g/リットル ・37%CHO …………3mg/リットル ・pH:12.4 ・液温:70℃ (へ)次に、積層板8の表裏面にエッチングレジストフ
ィルムHP−250をラミネートし、フォトリソグラフ
ィー法を用いて、導体パターン11と同一形状を有する
エッチングレジストを形成する。このエッチングレジス
トをマスクとして銅箔を選択的にエッチング除去して導
体パターン11を形成する。導体パターン11は、孔9
の内壁に堆積された銅箔を介して内層回路10に接続さ
れている。その後、エッチングレジストを剥離除去す
る。最後に、数値制御ルーターで外形加工を行い、図1
に示した多層配線基板12を製造することができる。
<Composition of electroless copper plating solution and conditions of use> CuSO 4 .5H 2 O 10 g / liter EDTA 4Na 40 g / liter 37% CH 2 O 3 mg / liter ・ pH: 12.4 ・ Liquid temperature: 70 ° C. (F) Next, an etching resist film HP-250 is laminated on the front and back surfaces of the laminated plate 8, and the same as the conductive pattern 11 by photolithography. An etching resist having a shape is formed. Using this etching resist as a mask, the copper foil is selectively etched away to form a conductor pattern 11. The conductor pattern 11 has holes 9
Is connected to the inner layer circuit 10 via a copper foil deposited on the inner wall of the internal circuit. After that, the etching resist is peeled off. Finally, the outer shape is processed by the numerical control router,
Can be manufactured.

【0020】実施例1に係わる多層配線基板12によれ
ば、貫通孔4を有する回路基板5に不織布プリプレグ6
を重ねて加圧・加熱して積層一体化することにより、不
織布プリプレグ6の一部は貫通孔4に充填され、残りの
不織布プリプレグ6は回路基板5の表裏面に堆積された
ビルドアップ層16を形成する。ビルドアップ層16の
層厚を均一に形成することができ、またレーザによる層
間接続用の孔9の形成も可能となる。内層回路10と導
体パターン11(最外層銅箔)間のスペーサとして役割
を果たすビルドアップ層16を均一に形成することがで
きるため、多層配線基板12の配線路の特性インピーダ
ンスを一定に保つことができる。
According to the multilayer wiring board 12 according to the first embodiment, the nonwoven fabric prepreg 6 is attached to the circuit board 5 having the through holes 4.
Are laminated and integrated by pressurizing and heating, a part of the nonwoven fabric prepreg 6 is filled in the through hole 4, and the remaining nonwoven fabric prepreg 6 is built up layer 16 deposited on the front and back surfaces of the circuit board 5. To form The thickness of the build-up layer 16 can be made uniform, and the holes 9 for interlayer connection can be formed by laser. Since the build-up layer 16 serving as a spacer between the inner layer circuit 10 and the conductor pattern 11 (outermost layer copper foil) can be formed uniformly, the characteristic impedance of the wiring path of the multilayer wiring board 12 can be kept constant. it can.

【0021】また、多層配線基板12は、最外層の導体
パターン11とそれに隣接する内層回路10とを接続す
る孔9と、内層の導体パターン間を接続する貫通孔4と
の2種類の孔を有する。孔9の内壁に堆積された導体の
厚さ(12μm)が、内層の導体パターン間を接続する
貫通孔4の内壁に堆積された導体の厚さ(50μm)よ
り薄く形成するので、貫通孔4の内壁に堆積された導体
の接続信頼性を低下させることなく、導体パターン11
の形成精度を高めることができる。
The multilayer wiring board 12 has two kinds of holes, a hole 9 for connecting the outermost conductor pattern 11 and the inner layer circuit 10 adjacent thereto and a through hole 4 for connecting between the inner layer conductor patterns. Have. The thickness (12 μm) of the conductor deposited on the inner wall of the hole 9 is formed smaller than the thickness (50 μm) of the conductor deposited on the inner wall of the through hole 4 connecting the conductor patterns of the inner layer. Of the conductor pattern 11 without lowering the connection reliability of the conductor deposited on the inner wall of the conductor pattern 11.
Can be formed more accurately.

【0022】なお、実施例1に係る多層配線基板12に
おける導体パターン層1の層数、絶縁材の種類などは、
本発明を限定する事項ではなく、任意の層数、種類を有
する多層配線基板であってもよい。また、図2(c)に
示した回路基板5と不織布プリプレグ6と銅箔7を重ね
て加圧・加熱して積層一体化する際、不織布プリプレグ
1枚では層間接続用の貫通孔4への樹脂充填が十分にで
きない場合、樹脂充填に必要な枚数だけ複数の不織布プ
リプレグ6を重ねて加圧、加熱すればよい。逆に、回路
基板5の表裏面にそれぞれ不織布プリプレグ6を重ねず
とも十分に貫通孔4への樹脂充填が可能である場合、回
路基板5の片面にのみ不織布プリプレグ6を配置しても
よい。この場合、ビルドアップ層16は、多層配線基板
12の片面にのみ形成される。さらに、不織布プリプレ
グ6として、ガラス不織布エポキシプリプレグGEA−
679A等のガラス不織布プリプレグを使用したが、有
機繊維不織布プリプレグを代わりに使用してもよい。
The number of conductor pattern layers 1 and the type of insulating material in the multilayer wiring board 12 according to the first embodiment are as follows.
The present invention is not limited to the present invention, and may be a multilayer wiring board having an arbitrary number and types of layers. When the circuit board 5, the nonwoven fabric prepreg 6, and the copper foil 7 shown in FIG. 2 (c) are laminated and integrated by pressurizing and heating, a single nonwoven fabric prepreg can be inserted into the through hole 4 for interlayer connection. When resin filling cannot be performed sufficiently, a plurality of nonwoven fabric prepregs 6 may be stacked and pressurized and heated by the number required for resin filling. Conversely, when the resin can be sufficiently filled in the through-holes 4 without overlapping the nonwoven fabric prepreg 6 on the front and back surfaces of the circuit board 5, the nonwoven fabric prepreg 6 may be arranged on only one surface of the circuit board 5. In this case, the build-up layer 16 is formed only on one side of the multilayer wiring board 12. Further, as the nonwoven fabric prepreg 6, a glass nonwoven epoxy prepreg GEA-
Although a glass nonwoven fabric prepreg such as 679A was used, an organic fiber nonwoven fabric prepreg may be used instead.

【0023】(比較例1)発明者らは、図1に示した実
施例1にかかわる多層配線基板と、以下に示す2つの比
較例(比較例1、比較例2)に係る多層配線基板等につ
いて、接続信頼性の試験を行い、実施例1にかかわる多
層配線基板の接続信頼性の優位性を検証した。まず、2
つの比較例に係る多層配線基板等の製造方法について説
明する。なお、比較例の説明において実施例1にかかわ
る多層配線基板の製造方法と同一な部分についてはその
旨をしるし、説明を省略した。図3(a)乃至(f)
は、比較例1に係わる多層配線基板の製造方法における
主要な工程を示す工程断面図である。図3(a)乃至
(f)において図1の同一な部分には同一な符号を付し
ている。
(Comparative Example 1) The inventors have studied a multilayer wiring board according to Example 1 shown in FIG. 1 and a multilayer wiring board according to the following two comparative examples (Comparative Example 1 and Comparative Example 2). , A connection reliability test was performed to verify the superiority of the connection reliability of the multilayer wiring board according to the first embodiment. First, 2
A method for manufacturing a multilayer wiring board and the like according to two comparative examples will be described. In the description of the comparative example, the same portions as those in the method for manufacturing the multilayer wiring board according to the first embodiment are described, and the description is omitted. 3 (a) to 3 (f)
FIG. 9 is a process cross-sectional view showing main processes in the method for manufacturing the multilayer wiring board according to Comparative Example 1. 3A to 3F, the same parts in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0024】(イ)まず、3つのガラス布ポリイミド樹
脂銅張り積層板MCL−I−67を用いて、図3(a)
に示すように、絶縁板の表裏面に所定の導体パターンが
配置された3つの導体パターン層1を形成する。そし
て、3つの導体パターン層1の表裏面に4つの樹脂層2
をそれぞれ重ね、さらに最外層の樹脂層2の外側に銅箔
3を重ねて、圧力2.94Mpa、温度175℃、90
分の条件で積層一体化して回路基板5を形成する。な
お、樹脂層2は、ガラス布ポリイミド樹脂プリプレグG
IA−67を使用する。また、図3(a)は、積層一体
化する前の回路基板5の各層(1、2、3)の配置関係
を示す図である。
(A) First, using three glass cloth polyimide resin copper-clad laminates MCL-I-67, FIG.
As shown in (3), three conductor pattern layers 1 on which predetermined conductor patterns are arranged are formed on the front and back surfaces of the insulating plate. Then, four resin layers 2 are formed on the front and back surfaces of the three conductor pattern layers 1.
And further, a copper foil 3 is layered on the outer side of the outermost resin layer 2, the pressure is 2.94 Mpa, the temperature is 175 ° C., 90
The circuit board 5 is formed by laminating and integrating under the conditions of minutes. The resin layer 2 is made of glass cloth polyimide resin prepreg G
Use IA-67. FIG. 3A is a diagram showing an arrangement relationship of each layer (1, 2, 3) of the circuit board 5 before lamination and integration.

【0025】(ロ)次に、図3(b)に示すように、回
路基板5の表裏面を貫通する貫通孔4を形成する。そし
て、無電界めっきを30μm、電気銅めっきを20μm
行って、貫通孔4の内壁と回路基板5の表裏面に銅箔を
堆積する。銅箔3の上にエッチングレジストフィルムH
P−250を用いて、内層回路10と同一形状のエッチ
ングレジストを形成する。このエッチングレジストを用
いて内層回路10を形成する。以上の工程(イ)及び
(ロ)は実施例1と同じ工程であり、図3(b)に示す
板厚が約5mmの回路基板5は図2(b)に示した回路
基板5と同じものである。
(B) Next, as shown in FIG. 3B, a through hole 4 penetrating the front and back surfaces of the circuit board 5 is formed. Then, electroless plating is 30 μm and electrolytic copper plating is 20 μm.
Then, copper foil is deposited on the inner wall of the through hole 4 and the front and back surfaces of the circuit board 5. Etching resist film H on copper foil 3
Using P-250, an etching resist having the same shape as the inner layer circuit 10 is formed. The inner layer circuit 10 is formed using this etching resist. The above steps (a) and (b) are the same as those in the first embodiment. The circuit board 5 having a thickness of about 5 mm shown in FIG. 3B is the same as the circuit board 5 shown in FIG. Things.

【0026】(ハ)次に、実施例1における不織布プリ
プレグ6、銅箔7の代わりに、図3(c)に示すよう
に、回路基板5の表裏面に、銅箔付き接着フィルムMC
F−6000E(日立化成工業株式会社製、商品名)1
3を重ね、加圧・加熱して積層一体化する。図3(d)
に示すように、接着フィルム13の一部が貫通孔4に充
填され、残りの接着フィルム13は回路基板5の表裏面
に堆積されたビルドアップ層16を形成する。積層一体
化された回路基板5と接着フィルム13とを積層板14
という。なお、図3(c)は、積層一体化する前の積層
板14の各層(5、13)の配置関係を示す図である。
(C) Next, in place of the nonwoven fabric prepreg 6 and the copper foil 7 in Example 1, as shown in FIG.
F-6000E (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) 1
3 are stacked, pressurized and heated, and laminated and integrated. FIG. 3 (d)
As shown in (1), a part of the adhesive film 13 is filled in the through hole 4, and the remaining adhesive film 13 forms a build-up layer 16 deposited on the front and back surfaces of the circuit board 5. The laminated circuit board 5 and the adhesive film 13 are laminated on a laminate 14.
That. FIG. 3C is a diagram showing the arrangement relationship of each layer (5, 13) of the laminated plate 14 before lamination and integration.

【0027】(ニ)次に、実施例1と同様な方法によ
り、図3(e)に示す内層回路10が露出した孔9を形
成する。そして、実施例1と同一条件で、積層板14の
表裏面及び孔9の内壁に厚さ12μmの銅箔を堆積す
る。
(D) Next, by the same method as in the first embodiment, a hole 9 exposing the inner layer circuit 10 shown in FIG. 3E is formed. Then, a copper foil having a thickness of 12 μm is deposited on the front and back surfaces of the laminate 14 and the inner wall of the hole 9 under the same conditions as in the first embodiment.

【0028】(ホ)次に、実施例1と同様な方法によ
り、接着フィルム13の銅箔を選択的にエッチング除去
して導体パターン11を形成する。最後に、数値制御ル
ーターで外形加工を行い、図3(f)に示すような多層
配線基板15を製造することができる。
(E) Next, in the same manner as in Example 1, the copper foil of the adhesive film 13 is selectively removed by etching to form the conductor pattern 11. Finally, the outer shape is processed by the numerical control router, and the multilayer wiring board 15 as shown in FIG. 3F can be manufactured.

【0029】(比較例2)比較例2にかかわる多層配線
基板は、実施例1の図2(b)に示した回路基板5であ
る。つまり、いかに示す方法により製造された回路基板
5である。
(Comparative Example 2) A multilayer wiring board according to Comparative Example 2 is the circuit board 5 shown in FIG. That is, the circuit board 5 manufactured by the method described below.

【0030】まず、3つのガラス布ポリイミド樹脂銅張
り積層板MCL−I−67を用いて、図4(a)に示す
ように、絶縁板の表裏面に所定の導体パターンが配置さ
れた3つの導体パターン層1を形成する。そして、この
3つの導体パターン層1の表裏面に4つの樹脂層2をそ
れぞれ重ね、さらに最外層の樹脂層2の外側に銅箔3を
重ねて、積層一体化して回路基板5を形成する。なお、
樹脂層2は、ガラス布ポリイミド樹脂プリプレグGIA
−67を使用する。また、図4(a)は、積層一体化す
る前の回路基板5の各層(1、2、3)の配置関係を示
す図である。
First, using three glass cloth polyimide resin copper-clad laminates MCL-I-67, as shown in FIG. The conductor pattern layer 1 is formed. Then, the four resin layers 2 are respectively superposed on the front and back surfaces of the three conductor pattern layers 1, and the copper foil 3 is further superimposed on the outside of the outermost resin layer 2, and are laminated and integrated to form the circuit board 5. In addition,
The resin layer 2 is made of glass cloth polyimide resin prepreg GIA.
Use -67. FIG. 4A is a diagram showing an arrangement relationship of each layer (1, 2, 3) of the circuit board 5 before lamination and integration.

【0031】次に、図4(b)に示すように、回路基板
5の表裏面を貫通する貫通孔4を形成する。無電界めっ
きを30μm、電気銅めっきを20μm行って、貫通孔
4の内壁と回路基板5の表裏面に銅箔を堆積する。銅箔
3の上にエッチングレジストフィルムHP−250を用
いて、内層回路10と同一形状のエッチングレジストを
形成する。このエッチングレジストを用いて内層回路1
0を形成する。以上の工程を経て、図4(b)に示す板
厚が約5mmの回路基板5を形成することができる。
Next, as shown in FIG. 4B, a through hole 4 penetrating the front and back surfaces of the circuit board 5 is formed. Electroless plating is performed by 30 μm and electrolytic copper plating is performed by 20 μm, and copper foil is deposited on the inner wall of the through hole 4 and the front and back surfaces of the circuit board 5. An etching resist having the same shape as that of the inner layer circuit 10 is formed on the copper foil 3 using an etching resist film HP-250. Inner layer circuit 1 using this etching resist
0 is formed. Through the above steps, a circuit board 5 having a thickness of about 5 mm as shown in FIG. 4B can be formed.

【0032】(試験結果)次に、実施例1、比較例1及
び2に係る多層配線基板等について、発明者が行った接
続信頼性の試験結果について説明する。表1に実施例
1、比較例1及び2に係る多層配線基板等の仕様と接続
信頼性の試験結果を示す。
(Test Results) Next, the results of a connection reliability test performed by the inventor on the multilayer wiring boards and the like according to Example 1 and Comparative Examples 1 and 2 will be described. Table 1 shows the specifications of the multilayer wiring board and the like according to Example 1 and Comparative Examples 1 and 2, and test results of connection reliability.

【0033】[0033]

【表1】 表1に示すように、実施例1、比較例1及び2に係る多
層配線基板等の板厚は、すべて5mmである。多層配線
基板等の表裏面に表出している導体パターン(表面回
路)は、実施例1については、銅箔7から形成された導
体パターン11であり、比較例1については、接着フィ
ルム13の銅箔から形成された導体パターン11であ
る。これらの導体パターン11の導体厚はともに24μ
mである。一方、比較例2の表面回路は、銅箔3から形
成された内部回路10である。内部回路10の導体厚は
68μmである。また、導体パターン11のライン/ス
ペースは60μm/60μmであり、内部回路10のラ
イン/スペースは120μm/130μmである。貫通
孔4の孔径はすべて0.4mmであり、貫通孔4の孔数
はすべて1000個である。また、実施例1及び比較例
1において、導体パターン11と内部回路10間を接続
する孔(非貫通孔)9の孔径はともに0.15mm、孔
数はともに50個である。
[Table 1] As shown in Table 1, the thicknesses of the multilayer wiring boards and the like according to Example 1 and Comparative Examples 1 and 2 are all 5 mm. The conductor pattern (front surface circuit) exposed on the front and back surfaces of the multilayer wiring board and the like is the conductor pattern 11 formed from the copper foil 7 in Example 1, and the copper pattern of the adhesive film 13 in Comparative Example 1. This is the conductor pattern 11 formed from a foil. The conductor thickness of each of these conductor patterns 11 is 24 μm.
m. On the other hand, the surface circuit of Comparative Example 2 is the internal circuit 10 formed from the copper foil 3. The conductor thickness of the internal circuit 10 is 68 μm. The line / space of the conductor pattern 11 is 60 μm / 60 μm, and the line / space of the internal circuit 10 is 120 μm / 130 μm. The diameters of the through holes 4 are all 0.4 mm, and the number of the through holes 4 is all 1,000. In Example 1 and Comparative Example 1, the holes (non-through holes) 9 connecting the conductor pattern 11 and the internal circuit 10 each had a diameter of 0.15 mm, and the number of holes was 50 each.

【0034】接続信頼性の試験方法、試験条件はMIL
−STD−202Method107Bに従った。つま
り、−65℃で30分/25℃で5分/125℃で30
分/25℃/5分の熱サイクルを繰り返し、評価は初期
の接続抵抗値から10%上昇するまでのサイクル数で行
うこととした。接続信頼性を示すサイクル数は、比較例
2に係る回路基板5が150サイクルであるのに対し、
実施例1及び比較例1では150サイクル以上の良好な
結果が得られた。また、ビルドアップ層16の膜厚は、
比較例1が30〜110μmであるのに対し、実施例1
が90〜110μmであった。比較例1に比べ実施例1
のほうが、均一なビルドアップ層16が形成されること
が検証された。つまり、実施例1に係る多層配線基板の
製造方法では、ライン/スペース=60μm/60μm
の微細配線形成と接続信頼性が良好で、かつ絶縁層の厚
みバラツキが少ない多層配線基板が形成できることが検
証された。
The connection reliability test method and test conditions are MIL
-According to STD-202 Method 107B. That is, 30 minutes at −65 ° C./5 minutes at 25 ° C./30 minutes at 125 ° C.
The heat cycle was repeated for 5 minutes / 25 ° C./5 minutes, and the evaluation was performed by the number of cycles until 10% increase from the initial connection resistance value. The number of cycles indicating the connection reliability is 150 cycles for the circuit board 5 according to Comparative Example 2, while
In Example 1 and Comparative Example 1, good results of 150 cycles or more were obtained. The thickness of the build-up layer 16 is
Comparative Example 1 has a thickness of 30 to 110 μm, whereas Example 1
Was 90 to 110 μm. Example 1 compared to Comparative Example 1
It was verified that a more uniform buildup layer 16 was formed. That is, in the method for manufacturing the multilayer wiring board according to the first embodiment, the line / space = 60 μm / 60 μm
It has been verified that a multi-layer wiring board having good fine wiring formation and connection reliability, and having a small variation in the thickness of the insulating layer can be formed.

【0035】以上説明したように、本発明によって微細
配線形成と接続信頼性が良好で且つ絶縁層の厚みバラツ
キが少ない多層配線基板を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a multilayer wiring board which has good fine wiring formation and connection reliability, and has a small thickness variation of the insulating layer.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、接
続信頼性を低下させることなく、導体パターンの形成精
度に優れ、またビルドアップ層の絶縁層厚の制御に優れ
た多層配線基板の製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, there is provided a multilayer wiring board having excellent conductor pattern formation accuracy and excellent control of the build-up layer insulating layer thickness without reducing connection reliability. A manufacturing method can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に係る多層配線基板の構成を
示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a multilayer wiring board according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】図2(a)乃至(e)は、本発明の実施例1に
係る多層配線基板の製造方法における主要な工程を示す
工程断面図である。
FIGS. 2A to 2E are process cross-sectional views illustrating main processes in a method for manufacturing a multilayer wiring board according to Embodiment 1 of the present invention.

【図3】図3(a)乃至(f)は、比較例1に係る多層
配線基板の製造方法における主要な工程を示す工程断面
図である。
FIGS. 3A to 3F are process cross-sectional views illustrating main processes in a method for manufacturing a multilayer wiring board according to Comparative Example 1. FIGS.

【図4】図4(a)及び(b)は、比較例2に係る回路
基板の製造方法における主要な工程を示す工程断面図で
ある。
FIGS. 4A and 4B are process cross-sectional views illustrating main processes in a method for manufacturing a circuit board according to Comparative Example 2. FIGS.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 導体パターン層 2 樹脂層 3、7 銅箔 4 貫通孔 5 回路基板 6 不織布プリプレグ 8、14 積層板 9 孔 10 内層回路 11 導体パターン 12、15 多層配線基板 13 接着フィルム REFERENCE SIGNS LIST 1 conductor pattern layer 2 resin layer 3, 7 copper foil 4 through hole 5 circuit board 6 non-woven fabric prepreg 8, 14 laminate 9 hole 10 inner layer circuit 11 conductor pattern 12, 15 multilayer wiring board 13 adhesive film

フロントページの続き (72)発明者 有家 茂晴 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 Fターム(参考) 5E346 AA42 CC04 CC10 CC32 DD23 DD44 DD48 EE09 EE13 EE38 GG09 GG15 GG18 GG28 HH03Continued on the front page (72) Inventor Shigeharu Ariya 1500 Oji Ogawa, Shimodate-shi, Ibaraki F-term in Hitachi Chemical Industry Research Laboratory (reference) 5E346 AA42 CC04 CC10 CC32 DD23 DD44 DD48 EE09 EE13 EE38 GG09 GG15 GG18 GG28 HH03

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 1つまたは2つ以上の導体パターン層の
表裏面に樹脂層をそれぞれ重ねて加圧・加熱して積層一
体化する第1工程と、 積層一体化された前記樹脂層の上に内層回路を形成する
第2工程と、 前記導体パターン層及び前記樹脂層を貫通する貫通孔を
形成する第3工程と、 前記貫通孔の内壁に導体を堆積して、前記導体パターン
層と前記内層回路が相互に電気的に接続された回路基板
を形成する第4工程と、 前記回路基板の表面及び裏面のうち少なくとも片面に不
織布プリプレグを重ねて加圧・加熱して積層一体化し
て、前記貫通孔に当該不織布プリプレグが充填され、当
該回路基板の少なくとも当該片面にビルドアップ層が形
成された積層板を形成する第5工程と、 前記内層回路が表出する孔を選択的に前記ビルドアップ
層に形成する第6工程と、 前記孔の内壁に導体を堆積する第7工程と、 前記ビルドアップ層の上に前記内層回路に接続された導
体パターンを形成する第8工程とを有することを特徴と
する多層配線基板の製造方法。
A first step of laminating resin layers on the front and back surfaces of one or more conductor pattern layers, and pressing and heating to laminate and integrate the resin layers; and A second step of forming an inner layer circuit, a third step of forming a through-hole penetrating the conductor pattern layer and the resin layer, and depositing a conductor on an inner wall of the through-hole. A fourth step of forming a circuit board in which the inner layer circuits are electrically connected to each other, and a nonwoven prepreg is laminated on at least one of the front and back surfaces of the circuit board, and the laminate is integrated by pressing and heating, A fifth step of forming a laminated board in which the through-hole is filled with the nonwoven fabric prepreg and a build-up layer is formed on at least one surface of the circuit board, and selectively building up the hole in which the inner-layer circuit is exposed; Shape into layers A sixth step of depositing a conductor on the inner wall of the hole, and an eighth step of forming a conductor pattern connected to the inner layer circuit on the build-up layer. A method for manufacturing a multilayer wiring board.
【請求項2】 前記不織布プリプレグが、ガラス不織布
プリプレグであることを特徴とする請求項1記載の多層
配線基板の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the non-woven fabric prepreg is a glass non-woven fabric prepreg.
【請求項3】 前記不織布プリプレグが、有機繊維不織
布プリプレグであることを特徴とする請求項1記載の多
層配線基板の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the non-woven fabric prepreg is an organic fiber non-woven fabric prepreg.
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KR100649683B1 (en) 2005-08-17 2006-11-27 삼성전기주식회사 Printed circuit board and method for manufacturing the same
JP2010512644A (en) * 2006-12-11 2010-04-22 インテル・コーポレーション Microelectronic substrate with embedded component and spacer layer and method of forming the same

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