JP2001330352A - 加熱体を有する装置の冷却装置と冷却方法 - Google Patents
加熱体を有する装置の冷却装置と冷却方法Info
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- JP2001330352A JP2001330352A JP2000154572A JP2000154572A JP2001330352A JP 2001330352 A JP2001330352 A JP 2001330352A JP 2000154572 A JP2000154572 A JP 2000154572A JP 2000154572 A JP2000154572 A JP 2000154572A JP 2001330352 A JP2001330352 A JP 2001330352A
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- heating
- water
- pallet
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 加熱装置をメンテナンスなどの目
的で冷却する場合、内部の塵などを飛散させず、冷却完
了までの時間を短くする。 【解決手段】 加熱室と前記加熱室に設置された
熱源を備える加熱部と、パレットを前記加熱部内に搬入
する駆動装置を有する加熱装置において、前記パレット
内部に形成された通路に水を供給する水供給手段と、前
記通路から水を排出させる水排出手段と、前記加熱室の
温度を検出する温度検出手段と、この検出された温度に
基いて前記駆動装置及び前記水供給手段を制御する制御
手段を有し、前記パレットを前記熱源に密着させて冷却
する。
的で冷却する場合、内部の塵などを飛散させず、冷却完
了までの時間を短くする。 【解決手段】 加熱室と前記加熱室に設置された
熱源を備える加熱部と、パレットを前記加熱部内に搬入
する駆動装置を有する加熱装置において、前記パレット
内部に形成された通路に水を供給する水供給手段と、前
記通路から水を排出させる水排出手段と、前記加熱室の
温度を検出する温度検出手段と、この検出された温度に
基いて前記駆動装置及び前記水供給手段を制御する制御
手段を有し、前記パレットを前記熱源に密着させて冷却
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は被加熱体を熱空間
内の金属製のパレット上に設置し、前記パレットを熱源
(ヒータ等)により加熱することで被加熱体の温度を上
げる構成の装置の冷却装置及びその冷却方法に関するも
のである。
内の金属製のパレット上に設置し、前記パレットを熱源
(ヒータ等)により加熱することで被加熱体の温度を上
げる構成の装置の冷却装置及びその冷却方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】加熱装置の例として、図6に半導体素子
製造などに使用するCVD装置を示す。装置は加熱本体
101と加熱本体101内に被加熱体を搬入する駆動装
置102で構成されている。また、加熱本体101の内
部は、成膜室103とロードロック室104とに区分け
されている。105は、ロードロック室104と外部を
つなぐ扉弁である。106は、ロードロック室104内
で扉弁105を隔てて駆動装置102と並ぶように配置
された駆動装置である。107は、ロードロック室10
4内の上部空間に配置された複数のランプヒータであ
る。108は、ロードロック室104の上部壁面に形成
された蓋体であり、この蓋体108を開けることでロー
ドロック室104内が外部空間に露出する。109は、
ロードロック室104内部にガスを供給する配管であ
る。110は、一端がロードロック室104に接続され
たバルブである。111は、バルブ110の他端に接続
され、ロードロック室104内の気体を外部に排出する
真空排気ポンプである。112は、成膜室103とロー
ドロック室104の間に設けられた仕切弁である。11
3は、成膜室103内で仕切弁112を隔てて駆動装置
106と並ぶように配置された駆動装置である。114
は、駆動装置113を上下方向に移動させるリフト装置
である。115は、駆動装置113の下部に設けられた
ヒータである。116は、成膜室103内部にガスを供
給する配管である。117は、一端が成膜室103内に
接続されたバルブである。118は、バルブ117の他
端に接続され、成膜室103内の気体を外部に排出する
真空排気ポンプである。119は、成膜室103の上部
壁面に形成された蓋体であり、この蓋体119を開ける
ことで成膜室103内が外部空間に露出する。一方、1
20は、加熱体101によりCVD反応により膜が形成
される被成膜物質である。121は、被成膜物質120
を並べて処理するためのパレットである。122は、成
膜室103の壁面に設けられた耐熱ガラスで作られた内
部観察用の窓である。123は、窓122を通して駆動
装置113により搬入されたパレット121の位置を測
定し位置決めを行うための光学センサである。
製造などに使用するCVD装置を示す。装置は加熱本体
101と加熱本体101内に被加熱体を搬入する駆動装
置102で構成されている。また、加熱本体101の内
部は、成膜室103とロードロック室104とに区分け
されている。105は、ロードロック室104と外部を
つなぐ扉弁である。106は、ロードロック室104内
で扉弁105を隔てて駆動装置102と並ぶように配置
された駆動装置である。107は、ロードロック室10
4内の上部空間に配置された複数のランプヒータであ
る。108は、ロードロック室104の上部壁面に形成
された蓋体であり、この蓋体108を開けることでロー
ドロック室104内が外部空間に露出する。109は、
ロードロック室104内部にガスを供給する配管であ
る。110は、一端がロードロック室104に接続され
たバルブである。111は、バルブ110の他端に接続
され、ロードロック室104内の気体を外部に排出する
真空排気ポンプである。112は、成膜室103とロー
ドロック室104の間に設けられた仕切弁である。11
3は、成膜室103内で仕切弁112を隔てて駆動装置
106と並ぶように配置された駆動装置である。114
は、駆動装置113を上下方向に移動させるリフト装置
である。115は、駆動装置113の下部に設けられた
ヒータである。116は、成膜室103内部にガスを供
給する配管である。117は、一端が成膜室103内に
接続されたバルブである。118は、バルブ117の他
端に接続され、成膜室103内の気体を外部に排出する
真空排気ポンプである。119は、成膜室103の上部
壁面に形成された蓋体であり、この蓋体119を開ける
ことで成膜室103内が外部空間に露出する。一方、1
20は、加熱体101によりCVD反応により膜が形成
される被成膜物質である。121は、被成膜物質120
を並べて処理するためのパレットである。122は、成
膜室103の壁面に設けられた耐熱ガラスで作られた内
部観察用の窓である。123は、窓122を通して駆動
装置113により搬入されたパレット121の位置を測
定し位置決めを行うための光学センサである。
【0003】次に、この構成のCVD装置の動作につい
て記す。成膜処理待機状態の場合、成膜室103は、真
空排気ポンプ118で真空状態に保持され、ヒータ11
5で加熱されている。また、ロードロック室104も真
空排気ポンプ111により真空状態に保持されている。
て記す。成膜処理待機状態の場合、成膜室103は、真
空排気ポンプ118で真空状態に保持され、ヒータ11
5で加熱されている。また、ロードロック室104も真
空排気ポンプ111により真空状態に保持されている。
【0004】被成膜物質120を並べたパレット121
が駆動装置102に供給されると、ロードロック室10
4のバルブ110を閉じ、真空排気を停止させ、配管1
09より窒素ガスを供給する。
が駆動装置102に供給されると、ロードロック室10
4のバルブ110を閉じ、真空排気を停止させ、配管1
09より窒素ガスを供給する。
【0005】窒素ガス供給により、ロードロック室10
4内が大気圧に復帰後、窒素ガスを止め、扉弁105を
開き、駆動装置102と106を作動させパレット12
1をロードロック室104へ搬入する。駆動装置106
上へパレット121を移動後、扉弁105を閉じ、バル
ブ110を開き真空排気を行い真空状態とする。その
後、ランプヒータ107を作動させ、被成膜物質120
が成膜温度に達するまで昇温する。
4内が大気圧に復帰後、窒素ガスを止め、扉弁105を
開き、駆動装置102と106を作動させパレット12
1をロードロック室104へ搬入する。駆動装置106
上へパレット121を移動後、扉弁105を閉じ、バル
ブ110を開き真空排気を行い真空状態とする。その
後、ランプヒータ107を作動させ、被成膜物質120
が成膜温度に達するまで昇温する。
【0006】昇温完了後、仕切弁112を開き、駆動装
置106と113を作動させパレット121を成膜室1
03へ搬入する。光学センサ123によりパレット12
1の位置決めを行い成膜室103の仕切弁112を閉
じ、リフト装置114で駆動装置113を降下させ、パ
レット121をヒータ115上に設置し、成膜温度を保
持する。その後、配管116を開きCVD材料ガスを成
膜室へ供給すると、熱CVD反応が起こり、被成膜物質
120に膜が形成される。CVD材料ガスを供給停止
し、成膜終了後、リフト装置114で駆動装置113を
上昇させ、仕切弁112を開き、駆動装置113と10
6を作動させパレット121を成膜室103からロード
ロック室104へ搬出する。駆動装置106上へパレッ
ト121を移動後、仕切弁112を閉める。
置106と113を作動させパレット121を成膜室1
03へ搬入する。光学センサ123によりパレット12
1の位置決めを行い成膜室103の仕切弁112を閉
じ、リフト装置114で駆動装置113を降下させ、パ
レット121をヒータ115上に設置し、成膜温度を保
持する。その後、配管116を開きCVD材料ガスを成
膜室へ供給すると、熱CVD反応が起こり、被成膜物質
120に膜が形成される。CVD材料ガスを供給停止
し、成膜終了後、リフト装置114で駆動装置113を
上昇させ、仕切弁112を開き、駆動装置113と10
6を作動させパレット121を成膜室103からロード
ロック室104へ搬出する。駆動装置106上へパレッ
ト121を移動後、仕切弁112を閉める。
【0007】ロードロック室104のバルブ110を閉
じ、真空排気を停止させ、配管109より窒素ガスを供
給する。窒素ガス供給により、ロードロック室104内
が大気圧に復帰後、扉弁105を開き、窒素ガスの供給
を止める。その後、駆動装置106、102を作動させ
パレット121をロードロック室104から搬出し、扉
弁105を閉、パレット121上の被成膜物質120を
取り出し完了する。この後、ロードロック室104のバ
ルブ110を開き、真空排気ポンプ111で真空排気を
行う。
じ、真空排気を停止させ、配管109より窒素ガスを供
給する。窒素ガス供給により、ロードロック室104内
が大気圧に復帰後、扉弁105を開き、窒素ガスの供給
を止める。その後、駆動装置106、102を作動させ
パレット121をロードロック室104から搬出し、扉
弁105を閉、パレット121上の被成膜物質120を
取り出し完了する。この後、ロードロック室104のバ
ルブ110を開き、真空排気ポンプ111で真空排気を
行う。
【0008】このようなCVD装置に使用されるCVD
材料ガスは、生成する膜の種類によって異なるが、酸化
シリコン膜の場合にはモノシラン(SiH4)と亜酸化
窒素(N2O)、窒化シリコン膜の場合にはモノシラン
(SiH4)とアンモニア(NH2)を用いるのが一般的
である。
材料ガスは、生成する膜の種類によって異なるが、酸化
シリコン膜の場合にはモノシラン(SiH4)と亜酸化
窒素(N2O)、窒化シリコン膜の場合にはモノシラン
(SiH4)とアンモニア(NH2)を用いるのが一般的
である。
【0009】また、熱CVD反応の他に、成膜室に設け
た電極板に高電圧を印加して、材料ガスをプラズマ化さ
せプラズマ反応により成膜を行う方法もある。この方法
はプラズマCVDと呼ばれる。
た電極板に高電圧を印加して、材料ガスをプラズマ化さ
せプラズマ反応により成膜を行う方法もある。この方法
はプラズマCVDと呼ばれる。
【0010】一般に成膜に必要とされる温度は膜の種
類、反応手法等により500〜900℃程度の範囲で異
なるが、被成膜物質を成膜が可能となる温度にするため
に、ヒータは成膜温度以上に設定する。
類、反応手法等により500〜900℃程度の範囲で異
なるが、被成膜物質を成膜が可能となる温度にするため
に、ヒータは成膜温度以上に設定する。
【0011】このような加熱処理を行った場合、CVD
反応副生成物やパーティクルが発生し、このCVD反応
副生成物は成膜室103の室壁に付着しやすく、他の種
類の膜を生成する場合に、悪影響を及ぼす。また、パー
ティクルは駆動装置113やリフト装置114などの機
械動作部の構成部品(ベアリングやシリンダ等)へ付着
し故障を引き起こす原因となる。さらに、成膜室103
内は常時成膜に必要な高温状態に設定されているため、
駆動装置113やリフト装置114などの機械動作を行
う部位の構成部品(ベアリングやシリンダ等)は熱劣化
を起こす。そのため、成膜室内のパーティクルの清掃や
構成部品の交換といったメンテナンス作業を定期的に行
う必要がある。
反応副生成物やパーティクルが発生し、このCVD反応
副生成物は成膜室103の室壁に付着しやすく、他の種
類の膜を生成する場合に、悪影響を及ぼす。また、パー
ティクルは駆動装置113やリフト装置114などの機
械動作部の構成部品(ベアリングやシリンダ等)へ付着
し故障を引き起こす原因となる。さらに、成膜室103
内は常時成膜に必要な高温状態に設定されているため、
駆動装置113やリフト装置114などの機械動作を行
う部位の構成部品(ベアリングやシリンダ等)は熱劣化
を起こす。そのため、成膜室内のパーティクルの清掃や
構成部品の交換といったメンテナンス作業を定期的に行
う必要がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】この場合ヒータが高温
状態のまま蓋を開け作業を行うと、耐熱保護具を使用す
ることになり、作業効率が低下する。また、高温状態で
蓋を開放すると、高温状態の構成部品が大気に触れ、大
気中の酸素や水分により劣化してしまう。
状態のまま蓋を開け作業を行うと、耐熱保護具を使用す
ることになり、作業効率が低下する。また、高温状態で
蓋を開放すると、高温状態の構成部品が大気に触れ、大
気中の酸素や水分により劣化してしまう。
【0013】従って通常はヒータを停止後、成膜室内を
真空状態に保持し、ヒータが200℃程度まで自然冷却
された後、蓋を開け、さらに加熱室内の温度を低下させ
る。この時、ファンなどの空冷装置による強制冷却を行
うとCVD反応副生成物やパーティクルが飛散し、かえ
って、メンテナンス作業が煩雑になる。よって蓋を開け
たまま、大気中で室温まで自然冷却するのを待ち、その
後メンテナンスを行うという手順を踏んでいる。
真空状態に保持し、ヒータが200℃程度まで自然冷却
された後、蓋を開け、さらに加熱室内の温度を低下させ
る。この時、ファンなどの空冷装置による強制冷却を行
うとCVD反応副生成物やパーティクルが飛散し、かえ
って、メンテナンス作業が煩雑になる。よって蓋を開け
たまま、大気中で室温まで自然冷却するのを待ち、その
後メンテナンスを行うという手順を踏んでいる。
【0014】しかし、このようにヒータ停止後に室温ま
での温度低下をすべて自然冷却で行う方法では、温度低
下に長時間要するため作業効率が悪くなるという問題が
ある。例えばヒータの一辺が1mあるCVD装置で、ヒ
ータの温度設定が600℃とした場合、200℃まで温
度低下するのに4時間以上必要であり、さらに蓋を開け
た後室温まで低下するのに6時間以上必要であるので、
温度の降下に要する時間だけでも約11時間以上必要と
し、実際にヒータ停止後メンテナンス作業を始めるまで
に12時間以上かかってしまうことになる。
での温度低下をすべて自然冷却で行う方法では、温度低
下に長時間要するため作業効率が悪くなるという問題が
ある。例えばヒータの一辺が1mあるCVD装置で、ヒ
ータの温度設定が600℃とした場合、200℃まで温
度低下するのに4時間以上必要であり、さらに蓋を開け
た後室温まで低下するのに6時間以上必要であるので、
温度の降下に要する時間だけでも約11時間以上必要と
し、実際にヒータ停止後メンテナンス作業を始めるまで
に12時間以上かかってしまうことになる。
【0015】この発明は上述の問題を解決するためにな
されたものであり、ヒータ停止後に装置内の温度を室温
までにする時間を短縮し、稼働率を向上させることがで
きる装置及び方法を提供することを目的としている。
されたものであり、ヒータ停止後に装置内の温度を室温
までにする時間を短縮し、稼働率を向上させることがで
きる装置及び方法を提供することを目的としている。
【0016】
【課題を解決するための手段】この発明における加熱装
置は、パレット内部に形成された通路に水を供給する水
供給手段と、この通路から水を排出させる水排出手段
と、加熱室の温度を検出する温度検出手段と、この検出
された温度に基いて駆動装置及び水供給手段を制御する
制御手段を有するものである。
置は、パレット内部に形成された通路に水を供給する水
供給手段と、この通路から水を排出させる水排出手段
と、加熱室の温度を検出する温度検出手段と、この検出
された温度に基いて駆動装置及び水供給手段を制御する
制御手段を有するものである。
【0017】また、パレットの水供給手段は加熱部外部
に形成された第1の屈曲自在の配管を有し、水排出手段
は前記加熱部外部に形成された第2の屈曲自在の配管を
有するものである。
に形成された第1の屈曲自在の配管を有し、水排出手段
は前記加熱部外部に形成された第2の屈曲自在の配管を
有するものである。
【0018】またさらに、この発明にかかる加熱装置の
冷却方法は、内部に冷却水通過用水路を有するパレット
を駆動装置に配置するステップと、加熱室の温度が予め
定められた第1の温度以下となったことを検出した場合
には駆動装置を動作させてパレットを加熱室内に搬入
し、熱源上に設置するステップと、パレットに水の供給
を開始するステップと、加熱室内の温度が予め定められ
た第2の温度以下となったことを検出した場合には水の
供給を停止するステップと、パレットを熱源上から撤去
し、駆動装置を動作させてパレットを加熱室外に搬出す
るステップとを有するものである。
冷却方法は、内部に冷却水通過用水路を有するパレット
を駆動装置に配置するステップと、加熱室の温度が予め
定められた第1の温度以下となったことを検出した場合
には駆動装置を動作させてパレットを加熱室内に搬入
し、熱源上に設置するステップと、パレットに水の供給
を開始するステップと、加熱室内の温度が予め定められ
た第2の温度以下となったことを検出した場合には水の
供給を停止するステップと、パレットを熱源上から撤去
し、駆動装置を動作させてパレットを加熱室外に搬出す
るステップとを有するものである。
【0019】さらにまた、この発明にかかる加熱装置の
冷却方法は、内部に冷却水通過用水路を有するパレット
を駆動装置に配置するステップと、加熱室の温度が予め
定められた第1の温度以下となったことを検出した場合
にはパレットに水の供給を開始するステップと、駆動装
置を動作させてパレットを加熱室内に搬入し、熱源上に
設置するステップと、加熱室内の温度が予め定められた
第2の温度以下となったことを検出した場合には水の供
給を停止するステップと、パレットを熱源上から撤去
し、駆動装置を動作させてパレットを加熱室外に搬出す
るステップとを有するものである。
冷却方法は、内部に冷却水通過用水路を有するパレット
を駆動装置に配置するステップと、加熱室の温度が予め
定められた第1の温度以下となったことを検出した場合
にはパレットに水の供給を開始するステップと、駆動装
置を動作させてパレットを加熱室内に搬入し、熱源上に
設置するステップと、加熱室内の温度が予め定められた
第2の温度以下となったことを検出した場合には水の供
給を停止するステップと、パレットを熱源上から撤去
し、駆動装置を動作させてパレットを加熱室外に搬出す
るステップとを有するものである。
【0020】この発明における加熱装置は、加熱装置内
に設置された金属板と、金属板内に形成された通路に水
を供給する水供給手段と、通路から水を排出させる水排
出手段と、金属板を移動させて熱源に接触させることが
できる駆動装置と、加熱室の温度を検出する温度検出手
段と、この検出された温度に基いて駆動装置及び水供給
手段を制御する制御手段とを有するものである。
に設置された金属板と、金属板内に形成された通路に水
を供給する水供給手段と、通路から水を排出させる水排
出手段と、金属板を移動させて熱源に接触させることが
できる駆動装置と、加熱室の温度を検出する温度検出手
段と、この検出された温度に基いて駆動装置及び水供給
手段を制御する制御手段とを有するものである。
【0021】また、この発明にかかる加熱装置の冷却方
法は、加熱室の温度が予め定められた第1の温度以下と
なったことを検出するステップと、駆動装置を動作させ
て水供給手段と水排出手段とを接続された金属板を熱源
上に設置するステップと、金属板に水の供給を開始する
ステップと、加熱室内の温度が予め定められた第2の温
度以下となったことを検出した場合には水の供給を停止
するステップと、金属板を熱源上から撤去するステップ
とを有するものである。
法は、加熱室の温度が予め定められた第1の温度以下と
なったことを検出するステップと、駆動装置を動作させ
て水供給手段と水排出手段とを接続された金属板を熱源
上に設置するステップと、金属板に水の供給を開始する
ステップと、加熱室内の温度が予め定められた第2の温
度以下となったことを検出した場合には水の供給を停止
するステップと、金属板を熱源上から撤去するステップ
とを有するものである。
【0022】さらに、この発明にかかる加熱装置の冷却
方法は、加熱室の温度が予め定められた第1の温度以下
となったことを検出するステップと、金属板に水の供給
を開始するステップと、駆動装置を動作させて水供給手
段と水排出手段とを接続された金属板を熱源上に設置す
るステップと、加熱室内の温度が予め定められた第2の
温度以下となったことを検出した場合には水の供給を停
止するステップと、金属板を熱源上から撤去するステッ
プとを有するものである。
方法は、加熱室の温度が予め定められた第1の温度以下
となったことを検出するステップと、金属板に水の供給
を開始するステップと、駆動装置を動作させて水供給手
段と水排出手段とを接続された金属板を熱源上に設置す
るステップと、加熱室内の温度が予め定められた第2の
温度以下となったことを検出した場合には水の供給を停
止するステップと、金属板を熱源上から撤去するステッ
プとを有するものである。
【0023】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1におけるCVD装置を示す構成図であり主
に半導体素子製造に使用されるものである。図1中の装
置は加熱本体1と加熱本体1内に被加熱体を搬入する駆
動装置2で構成されている。また、加熱本体1の内部
は、成膜室3とロードロック室4とに区分けされてい
る。5は、ロードロック室4と外部をつなぐ扉弁であ
る。6は、ロードロック室4内で扉弁5を隔てて駆動装
置2と並ぶように配置された駆動装置である。7は、ロ
ードロック室4内の上部空間に配置された複数のランプ
ヒータである。8は、ロードロック室4の上部壁面に形
成された蓋体であり、この蓋体8を開けることでロード
ロック室4内が外部空間に露出する。9は、ロードロッ
ク室4内部にガスを供給する配管であり、加熱体外に設
置されたガス供給源(図示せず)に接続されている。1
0は、一端がロードロック室4に接続されたバルブであ
る。11は、バルブ10の他端に接続され、ロードロッ
ク室4内の気体を外部に排出する真空排気ポンプであ
る。12は、成膜室3とロードロック室4の間に設けら
れた仕切弁である。13は、成膜室3内で仕切弁12を
隔てて駆動装置6と並ぶように配置された駆動装置であ
る。14は、駆動装置13を上下方向に移動させるリフ
ト装置である。15は、駆動装置13の下部に設けられ
たヒータである。16は、成膜室3内部にガスを供給す
る配管であり、加熱体外に設置されたガス供給源(図示
せず)に接続されている。17は、一端が成膜室3内に
接続されたバルブである。18は、バルブ17の他端に
接続され、成膜室3内の気体を外部に排出する真空排気
ポンプである。19は、成膜室3の上部壁面に形成され
た蓋体であり、この蓋体19を開けることで成膜室3内
が外部空間に露出する。20は、成膜室3の壁面に設け
られた耐熱ガラスで作られた内部観察用の窓である。2
1は、窓20を通して駆動装置13により搬入された冷
却用パレット22の位置を測定し位置決めを行うための
光学センサである。冷却用パレット22は、内部に水を
通過させるための通水路23を有している。24は、配
管26と冷却用パレット22の通水路を接続するための
冷却水導入用ポートである。25は、配管27と冷却用
パレット22の通水路を接続するための冷却水排水用ポ
ートである。なお、配管26は、冷却用パレット内に冷
却水を供給するためのものであり、加熱体本体外に設置
された水供給源(図示せず)に接続されている。配管2
7は、冷却用パレット内の冷却水を排水するための配管
であり、加熱体本体外に設置された排出源(図示せず)
に接続されている。28は、光学センサ21の位置決め
信号と温度センサ29の検出データとリフト装置14の
昇降動作における完了信号の受信と、駆動装置2、6、
13、リフト機構14及び水供給源の冷却水バルブの開
閉を制御する制御装置である。温度センサ29は加熱室
内の温度を検出し制御装置に温度データを送信するもの
である。
実施の形態1におけるCVD装置を示す構成図であり主
に半導体素子製造に使用されるものである。図1中の装
置は加熱本体1と加熱本体1内に被加熱体を搬入する駆
動装置2で構成されている。また、加熱本体1の内部
は、成膜室3とロードロック室4とに区分けされてい
る。5は、ロードロック室4と外部をつなぐ扉弁であ
る。6は、ロードロック室4内で扉弁5を隔てて駆動装
置2と並ぶように配置された駆動装置である。7は、ロ
ードロック室4内の上部空間に配置された複数のランプ
ヒータである。8は、ロードロック室4の上部壁面に形
成された蓋体であり、この蓋体8を開けることでロード
ロック室4内が外部空間に露出する。9は、ロードロッ
ク室4内部にガスを供給する配管であり、加熱体外に設
置されたガス供給源(図示せず)に接続されている。1
0は、一端がロードロック室4に接続されたバルブであ
る。11は、バルブ10の他端に接続され、ロードロッ
ク室4内の気体を外部に排出する真空排気ポンプであ
る。12は、成膜室3とロードロック室4の間に設けら
れた仕切弁である。13は、成膜室3内で仕切弁12を
隔てて駆動装置6と並ぶように配置された駆動装置であ
る。14は、駆動装置13を上下方向に移動させるリフ
ト装置である。15は、駆動装置13の下部に設けられ
たヒータである。16は、成膜室3内部にガスを供給す
る配管であり、加熱体外に設置されたガス供給源(図示
せず)に接続されている。17は、一端が成膜室3内に
接続されたバルブである。18は、バルブ17の他端に
接続され、成膜室3内の気体を外部に排出する真空排気
ポンプである。19は、成膜室3の上部壁面に形成され
た蓋体であり、この蓋体19を開けることで成膜室3内
が外部空間に露出する。20は、成膜室3の壁面に設け
られた耐熱ガラスで作られた内部観察用の窓である。2
1は、窓20を通して駆動装置13により搬入された冷
却用パレット22の位置を測定し位置決めを行うための
光学センサである。冷却用パレット22は、内部に水を
通過させるための通水路23を有している。24は、配
管26と冷却用パレット22の通水路を接続するための
冷却水導入用ポートである。25は、配管27と冷却用
パレット22の通水路を接続するための冷却水排水用ポ
ートである。なお、配管26は、冷却用パレット内に冷
却水を供給するためのものであり、加熱体本体外に設置
された水供給源(図示せず)に接続されている。配管2
7は、冷却用パレット内の冷却水を排水するための配管
であり、加熱体本体外に設置された排出源(図示せず)
に接続されている。28は、光学センサ21の位置決め
信号と温度センサ29の検出データとリフト装置14の
昇降動作における完了信号の受信と、駆動装置2、6、
13、リフト機構14及び水供給源の冷却水バルブの開
閉を制御する制御装置である。温度センサ29は加熱室
内の温度を検出し制御装置に温度データを送信するもの
である。
【0024】次にこの図1に記載した装置における冷却
用パレット22を使用して成膜室3の温度を下げる動作
について、図1の構成図と図2(a)のフローチャート
に基いて説明する。まず、冷却水導入用ポート24及び
冷却水排水用ポート25が加熱本体1とは逆向きになる
ように冷却用パレット22を駆動装置2上に設置し、こ
のポートに配管26と配管27をそれぞれ接続し、制御
装置28の冷却開始ボタン(図示せず)を押す(ステッ
プ(以下、S)1)。開始ボタンを検知した制御装置2
8は、成膜室内の温度センサ29で定期的に計測する温
度データと予め設定した温度A(本実施の形態では20
0℃)を判定し(S2)、温度データが設定値A以下と
判定した場合には、駆動装置2、6、13に駆動指令を
与え、冷却用パレット22を成膜室3内に搬入する(S
3)。制御装置28は、成膜室3の観察用窓22を通し
て駆動装置13上の物体の位置を検知する光学センサ2
1により、駆動装置13上の冷却用パレット22の位置
決めを行う(S4)。続いて制御装置28からリフト装
置14に降下指令が送られ、降下が開始し(S5)、リ
フト装置14が降下完了したことを伝える信号を受け取
る(S6)。続いて制御装置28は冷却水バルブ(図示
せず)を開く指令を与え、バルブが開き(S7)、冷却
を開始する。制御装置28は、成膜室3内の温度センサ
29で定期的に計測する温度データと予め設定した温度
B(本実施の形態では室温)を判定し(S8)、温度デ
ータが設定値B以下と判定した場合には冷却水バルブを
閉じる指令を与えバルブを閉じる(S9)。制御装置2
8は、リフト装置14に上昇指令を送り、上昇を開始し
(S10)、リフト装置14から上昇完了信号を受け取
り(S11)、駆動装置13、6、2に駆動指令を与
え、加熱本体1から冷却パレット22を搬出する(S1
2)。
用パレット22を使用して成膜室3の温度を下げる動作
について、図1の構成図と図2(a)のフローチャート
に基いて説明する。まず、冷却水導入用ポート24及び
冷却水排水用ポート25が加熱本体1とは逆向きになる
ように冷却用パレット22を駆動装置2上に設置し、こ
のポートに配管26と配管27をそれぞれ接続し、制御
装置28の冷却開始ボタン(図示せず)を押す(ステッ
プ(以下、S)1)。開始ボタンを検知した制御装置2
8は、成膜室内の温度センサ29で定期的に計測する温
度データと予め設定した温度A(本実施の形態では20
0℃)を判定し(S2)、温度データが設定値A以下と
判定した場合には、駆動装置2、6、13に駆動指令を
与え、冷却用パレット22を成膜室3内に搬入する(S
3)。制御装置28は、成膜室3の観察用窓22を通し
て駆動装置13上の物体の位置を検知する光学センサ2
1により、駆動装置13上の冷却用パレット22の位置
決めを行う(S4)。続いて制御装置28からリフト装
置14に降下指令が送られ、降下が開始し(S5)、リ
フト装置14が降下完了したことを伝える信号を受け取
る(S6)。続いて制御装置28は冷却水バルブ(図示
せず)を開く指令を与え、バルブが開き(S7)、冷却
を開始する。制御装置28は、成膜室3内の温度センサ
29で定期的に計測する温度データと予め設定した温度
B(本実施の形態では室温)を判定し(S8)、温度デ
ータが設定値B以下と判定した場合には冷却水バルブを
閉じる指令を与えバルブを閉じる(S9)。制御装置2
8は、リフト装置14に上昇指令を送り、上昇を開始し
(S10)、リフト装置14から上昇完了信号を受け取
り(S11)、駆動装置13、6、2に駆動指令を与
え、加熱本体1から冷却パレット22を搬出する(S1
2)。
【0025】このように冷却用パレットでヒータを水冷
することで自然冷却に比べ冷却時間の短縮が可能であ
り、ファンと違って風が発生しないためCVD反応副生
成物やパーティクルが飛散することもない、よって装置
全体の運転効率を高めることが可能である。
することで自然冷却に比べ冷却時間の短縮が可能であ
り、ファンと違って風が発生しないためCVD反応副生
成物やパーティクルが飛散することもない、よって装置
全体の運転効率を高めることが可能である。
【0026】なお、特に高温の加熱体や熱容量が小さい
冷却パレットでは、加熱体の余熱で冷却パレットが短時
間で高温になることがあり、加熱体上にパレットを設置
した後に冷却水の供給を始めると、供給開始直後は冷却
能力が有効に作用しない場合がある。このような場合に
は冷却水の供給をもっと早めてもよい。この時の動作
を、図1の構成図と、図2(b)のフローチャートに基
き説明する。まず、S21、S22は図2(a)のS
1、S2と同様である。続いてS22で温度データが設
定値A以下と判定した場合には、制御装置28は冷却水
バルブ(図示せず)を開く指令を与え、バルブが開き
(S23)、冷却を開始する。そして駆動装置2、6、
13に駆動指令を与え、冷却用パレット22を成膜室3
内に搬入する(S24)。制御装置28は、成膜室3の
観察用窓22を通して駆動装置13上の物体の位置を検
知する光学センサ21により、駆動装置13上の冷却用
パレット22の位置決めを行う(S25)。続いて制御
装置28は、リフト装置14に降下指令を送り、降下が
開始し(S26)、リフト装置14から降下完了信号を
受け取る(S27)。S28の測定温度データと設定温
度Bとの判定以降は図2(a)のS8〜S12と同様で
ある。
冷却パレットでは、加熱体の余熱で冷却パレットが短時
間で高温になることがあり、加熱体上にパレットを設置
した後に冷却水の供給を始めると、供給開始直後は冷却
能力が有効に作用しない場合がある。このような場合に
は冷却水の供給をもっと早めてもよい。この時の動作
を、図1の構成図と、図2(b)のフローチャートに基
き説明する。まず、S21、S22は図2(a)のS
1、S2と同様である。続いてS22で温度データが設
定値A以下と判定した場合には、制御装置28は冷却水
バルブ(図示せず)を開く指令を与え、バルブが開き
(S23)、冷却を開始する。そして駆動装置2、6、
13に駆動指令を与え、冷却用パレット22を成膜室3
内に搬入する(S24)。制御装置28は、成膜室3の
観察用窓22を通して駆動装置13上の物体の位置を検
知する光学センサ21により、駆動装置13上の冷却用
パレット22の位置決めを行う(S25)。続いて制御
装置28は、リフト装置14に降下指令を送り、降下が
開始し(S26)、リフト装置14から降下完了信号を
受け取る(S27)。S28の測定温度データと設定温
度Bとの判定以降は図2(a)のS8〜S12と同様で
ある。
【0027】このように、搬入前に冷却水のバルブが開
くため、冷却パレットが予冷された状態で加熱体上に設
置されることになり、設置直後から加熱体の冷却に効果
を発揮する。
くため、冷却パレットが予冷された状態で加熱体上に設
置されることになり、設置直後から加熱体の冷却に効果
を発揮する。
【0028】なお、冷却用パレットの材質として、熱伝
導の面では金、銀、ベリリウム、アルミニウムなどが常
温から800℃までの範囲で200W/m・K以上であ
り有効である。また、実用上のコスト、加工性を考慮す
ると銅やアルミニウムで作成したパレットに穴開け加工
等を行い漏水処理を施して通水路を設ける方法や、パレ
ット内に銅配管を通す作業を行い作成する方法でもよ
い。さらにまた、銅やアルミニウムなどに比べ熱伝導率
が低い鉄やステンレスで作成しても、従来技術に比べて
冷却時間は短縮される。このように材料原価、価格、耐
久性などのコスト面と合わせて材質を色々と決定してよ
い。
導の面では金、銀、ベリリウム、アルミニウムなどが常
温から800℃までの範囲で200W/m・K以上であ
り有効である。また、実用上のコスト、加工性を考慮す
ると銅やアルミニウムで作成したパレットに穴開け加工
等を行い漏水処理を施して通水路を設ける方法や、パレ
ット内に銅配管を通す作業を行い作成する方法でもよ
い。さらにまた、銅やアルミニウムなどに比べ熱伝導率
が低い鉄やステンレスで作成しても、従来技術に比べて
冷却時間は短縮される。このように材料原価、価格、耐
久性などのコスト面と合わせて材質を色々と決定してよ
い。
【0029】また、冷却水の通水路は本実施の形態の図
1や図3(a)に示すようなパレット内部に設ける以外
にも、(b)のようにパレット上に設けても同等の効果
が得られる。図3(b)中の30がパレット上に設けた
通水路である。
1や図3(a)に示すようなパレット内部に設ける以外
にも、(b)のようにパレット上に設けても同等の効果
が得られる。図3(b)中の30がパレット上に設けた
通水路である。
【0030】実施の形態1のパレットは一辺1m、通水
路23の全長を4m、内径を10mmとしている。この
時の通水路23の全容積は 5(mm)×5(mm)×3.14(円周率)×400
0(mm)=314000(mm3) となる。この通水路に毎分2リットルの冷却水を流すと 2000000(mm3/min)/314000(m
m3)≒6 となり、一分間に約6回通水路内の冷却水が置換される
ことになる。この設定の場合、実験によると、ヒータが
200℃に低下後室温まで冷却するのに2時間以下とな
る。
路23の全長を4m、内径を10mmとしている。この
時の通水路23の全容積は 5(mm)×5(mm)×3.14(円周率)×400
0(mm)=314000(mm3) となる。この通水路に毎分2リットルの冷却水を流すと 2000000(mm3/min)/314000(m
m3)≒6 となり、一分間に約6回通水路内の冷却水が置換される
ことになる。この設定の場合、実験によると、ヒータが
200℃に低下後室温まで冷却するのに2時間以下とな
る。
【0031】また、本実施の形態1で蓋を開ける目安と
する温度を200℃としているが、成膜室3内の各部品
が酸化などで劣化する温度以下ならば問題無く、200
℃に限定するものではない。
する温度を200℃としているが、成膜室3内の各部品
が酸化などで劣化する温度以下ならば問題無く、200
℃に限定するものではない。
【0032】さらに、図1で示した配管26、27は装
置外部で冷却パレット22に接続され、高温の成膜室内
部まで搬入され、リフト装置により垂直方向へ移動す
る。このような使用環境から、周囲方向に対して自由度
を持ちかつ耐熱性を有する配管が必要となる。そのた
め、金属製の蛇腹配管や耐熱ゴムを使用したホースなど
が適している。
置外部で冷却パレット22に接続され、高温の成膜室内
部まで搬入され、リフト装置により垂直方向へ移動す
る。このような使用環境から、周囲方向に対して自由度
を持ちかつ耐熱性を有する配管が必要となる。そのた
め、金属製の蛇腹配管や耐熱ゴムを使用したホースなど
が適している。
【0033】さらにまた、本実施例で示した冷却手段を
冷却水からエチレングリコールなどの不凍液に置き換え
て使用しても同等の機能が達成できる。
冷却水からエチレングリコールなどの不凍液に置き換え
て使用しても同等の機能が達成できる。
【0034】また、冷却のために配管で供給される液体
をチラー等の冷却装置により室温以下の低温に制御する
ことで冷却能力が向上する。
をチラー等の冷却装置により室温以下の低温に制御する
ことで冷却能力が向上する。
【0035】ここではCVD装置を例として説明してい
るが、その手法上、アニール装置や拡散炉といった、ヒ
ータ等の加熱体を有し金属プレート上に被加熱体を設置
し加熱を行う設備について、加熱体停止後の冷却時間を
短縮するために本発明を適用すれば同等の効果が得られ
る。
るが、その手法上、アニール装置や拡散炉といった、ヒ
ータ等の加熱体を有し金属プレート上に被加熱体を設置
し加熱を行う設備について、加熱体停止後の冷却時間を
短縮するために本発明を適用すれば同等の効果が得られ
る。
【0036】実施の形態2.図4はこの発明の実施の形
態2における装置の構成を示す図であり、予め冷却構造
を有する金属板を成膜室に内蔵させることで、大気に開
放する必要をなくし、冷却開始温度を早めることができ
るようにしたものである。なお、図4では図1と同じ構
成及び相当する構成には同一の符号を付す。図4中、3
1は、成膜室3の天井部に取り付けられた第1の昇降装
置、32は、成膜室3の天井部に取り付けられた第2の
昇降装置である。また、33は、内部に通水路34を有
する金属板である。第1の昇降装置31内には、冷却水
を供給するための配管26が内蔵されており、第2の昇
降装置32内には、冷却水を排水するための配管27が
内蔵されている。これらの配管26、27は金属板33
内の通水路34に接続されている。
態2における装置の構成を示す図であり、予め冷却構造
を有する金属板を成膜室に内蔵させることで、大気に開
放する必要をなくし、冷却開始温度を早めることができ
るようにしたものである。なお、図4では図1と同じ構
成及び相当する構成には同一の符号を付す。図4中、3
1は、成膜室3の天井部に取り付けられた第1の昇降装
置、32は、成膜室3の天井部に取り付けられた第2の
昇降装置である。また、33は、内部に通水路34を有
する金属板である。第1の昇降装置31内には、冷却水
を供給するための配管26が内蔵されており、第2の昇
降装置32内には、冷却水を排水するための配管27が
内蔵されている。これらの配管26、27は金属板33
内の通水路34に接続されている。
【0037】次にこの装置における成膜室の温度を下げ
る動作を図4の構成図と図5(a)のフローチャートに
基き説明する。本実施の形態では加熱処理の温度を60
0℃としている。まず、成膜室3内にパレットがないこ
とを確認して、制御装置28の冷却開始ボタン(図示せ
ず)を押す(S41)。開始ボタンを検知した制御装置
28は、成膜室内の温度センサ29で定期的に計測する
温度データと予め設定した温度A(本実施の形態では6
00℃)を判定し(S42)、温度データが設定値A以
下と判定した場合には、昇降装置31、32に降下指令
を与え、金属板33をヒータに向け降下させる(S4
3)。続いて制御装置28は昇降装置31、32から降
下完了信号を受け取る(S44)。続いて制御装置28
は冷却水バルブ(図示せず)を開く指令を与え、バルブ
が開き(S45)、冷却を開始する。制御装置28は、
成膜室3内の温度センサ29で定期的に計測する温度デ
ータと予め設定した温度B(本実施の形態では室温)を
判定し(S46)、温度データが設定値B以下と判定し
た場合には冷却水バルブを閉じる指令を与えバルブが閉
じる(S47)。続いて制御装置28は昇降装置31、
32に上昇指令を送り、上昇が開始しされ(S48)、
昇降装置31、32から上昇完了信号を受け取る(S4
9)。
る動作を図4の構成図と図5(a)のフローチャートに
基き説明する。本実施の形態では加熱処理の温度を60
0℃としている。まず、成膜室3内にパレットがないこ
とを確認して、制御装置28の冷却開始ボタン(図示せ
ず)を押す(S41)。開始ボタンを検知した制御装置
28は、成膜室内の温度センサ29で定期的に計測する
温度データと予め設定した温度A(本実施の形態では6
00℃)を判定し(S42)、温度データが設定値A以
下と判定した場合には、昇降装置31、32に降下指令
を与え、金属板33をヒータに向け降下させる(S4
3)。続いて制御装置28は昇降装置31、32から降
下完了信号を受け取る(S44)。続いて制御装置28
は冷却水バルブ(図示せず)を開く指令を与え、バルブ
が開き(S45)、冷却を開始する。制御装置28は、
成膜室3内の温度センサ29で定期的に計測する温度デ
ータと予め設定した温度B(本実施の形態では室温)を
判定し(S46)、温度データが設定値B以下と判定し
た場合には冷却水バルブを閉じる指令を与えバルブが閉
じる(S47)。続いて制御装置28は昇降装置31、
32に上昇指令を送り、上昇が開始しされ(S48)、
昇降装置31、32から上昇完了信号を受け取る(S4
9)。
【0038】ここでは温度センサ29で検知し制御装置
28から昇降機に対して降下開始を命ずる温度Aを、成
膜処理温度と同じ600℃としているため、S42の温
度判定のステップが短縮され、加熱処理温度からの冷却
となる。あるいは、始めからS42を設けずにS41を
実行後、すぐにS43を実行する構成に変えても構わな
い。ただし、ヒータや冷却用の金属板の材質によって
は、高温状態から急冷することで傷む可能性がある。こ
のような場合は温度Aの設定値をヒータや金属板の材質
の特性に従い、低くする必要がある。また、実施の形態
1では冷却パレットを成膜室3内に搬入する際に仕切弁
12を開けるため、窒素雰囲気に置換していたが、本実
施の形態では同様に窒素雰囲気として冷却することも、
真空状態のまま冷却することも可能である。さらにいえ
ば、冷却を開始してから窒素ガスを供給することも可能
である。
28から昇降機に対して降下開始を命ずる温度Aを、成
膜処理温度と同じ600℃としているため、S42の温
度判定のステップが短縮され、加熱処理温度からの冷却
となる。あるいは、始めからS42を設けずにS41を
実行後、すぐにS43を実行する構成に変えても構わな
い。ただし、ヒータや冷却用の金属板の材質によって
は、高温状態から急冷することで傷む可能性がある。こ
のような場合は温度Aの設定値をヒータや金属板の材質
の特性に従い、低くする必要がある。また、実施の形態
1では冷却パレットを成膜室3内に搬入する際に仕切弁
12を開けるため、窒素雰囲気に置換していたが、本実
施の形態では同様に窒素雰囲気として冷却することも、
真空状態のまま冷却することも可能である。さらにいえ
ば、冷却を開始してから窒素ガスを供給することも可能
である。
【0039】また、実施の形態1でも示したように特に
高温の加熱体では、加熱体の余熱で金属板が短時間で高
温になる。そのため、加熱体上に金属板を設置した後に
冷却水の供給を始めると、供給開始直後は冷却能力が有
効に作用しない場合がある。このような場合には冷却水
の供給をもっと早めてもよい。この時の動作を、図4の
構成図と、図5(b)のフローチャートに基き説明す
る。まず、S61、S62は図5(a)のS41、S4
2と同様である。続いてS62で温度データが設定値A
以下と判定した場合には、制御装置28は冷却水バルブ
を開く指令を与え、バルブが開き(S63)、冷却を開
始する。そして制御装置28は昇降装置31、32に降
下指令を送り、降下開始させ(S64)、昇降装置3
1、32から降下完了信号を受け取る(S65)。S6
6の測定温度データと設定温度Bとの判定以降は図5
(a)のS46〜S49と同様である。
高温の加熱体では、加熱体の余熱で金属板が短時間で高
温になる。そのため、加熱体上に金属板を設置した後に
冷却水の供給を始めると、供給開始直後は冷却能力が有
効に作用しない場合がある。このような場合には冷却水
の供給をもっと早めてもよい。この時の動作を、図4の
構成図と、図5(b)のフローチャートに基き説明す
る。まず、S61、S62は図5(a)のS41、S4
2と同様である。続いてS62で温度データが設定値A
以下と判定した場合には、制御装置28は冷却水バルブ
を開く指令を与え、バルブが開き(S63)、冷却を開
始する。そして制御装置28は昇降装置31、32に降
下指令を送り、降下開始させ(S64)、昇降装置3
1、32から降下完了信号を受け取る(S65)。S6
6の測定温度データと設定温度Bとの判定以降は図5
(a)のS46〜S49と同様である。
【0040】このように、搬入前に冷却水のバルブが開
くため、金属板が予冷された状態で加熱体上に設置され
ることになり、設置直後から加熱体の冷却に効果を発揮
する。
くため、金属板が予冷された状態で加熱体上に設置され
ることになり、設置直後から加熱体の冷却に効果を発揮
する。
【0041】また、図4で示した配管26、27は常時
成膜室内に存在するため、高度な耐熱性能が求められる
が、配管に必要な自由度は前後(垂直)方向のみであ
る。そのため蛇腹配管以外にも、前後方向への機能を有
した金属製の配管であれば構わない。
成膜室内に存在するため、高度な耐熱性能が求められる
が、配管に必要な自由度は前後(垂直)方向のみであ
る。そのため蛇腹配管以外にも、前後方向への機能を有
した金属製の配管であれば構わない。
【0042】
【発明の効果】この発明の装置によれば、温度検出手段
を有し、ヒータ等の加熱体により加熱することで被加熱
体の温度を上げる構成の装置において、前記装置の冷却
時に冷却装置を設けたパレットを装置内に設置し加熱体
を冷却することで、冷却効果が向上し冷却時間の短縮が
なされる。
を有し、ヒータ等の加熱体により加熱することで被加熱
体の温度を上げる構成の装置において、前記装置の冷却
時に冷却装置を設けたパレットを装置内に設置し加熱体
を冷却することで、冷却効果が向上し冷却時間の短縮が
なされる。
【0043】また、前記パレットが、加熱装置内部へ被
加熱体を搬入、搬出する際に用いられる配管が自在に屈
曲可能であるため、自動搬入搬出が可能となり作業の自
動化がなされる。
加熱体を搬入、搬出する際に用いられる配管が自在に屈
曲可能であるため、自動搬入搬出が可能となり作業の自
動化がなされる。
【0044】さらに、前記温度を検出する手段により、
それぞれの設定温度A、Bになった時点で自動的に前記
冷却装置が加熱体上に搬入され冷却の開始、停止及び冷
却装置の搬出を行うことで、冷却時間の短縮、作業の自
動化がなされる。
それぞれの設定温度A、Bになった時点で自動的に前記
冷却装置が加熱体上に搬入され冷却の開始、停止及び冷
却装置の搬出を行うことで、冷却時間の短縮、作業の自
動化がなされる。
【0045】またさらに、前記冷却手段で設定温度Aと
なった時点で予冷を開始することで、加熱体設置直後か
ら冷却機能が働くため、冷却時間の短縮がなされる。
なった時点で予冷を開始することで、加熱体設置直後か
ら冷却機能が働くため、冷却時間の短縮がなされる。
【0046】この発明の装置によれば、温度検出手段を
有し、ヒータ等の加熱体により加熱することで被加熱体
の温度を上げる構成の装置において、予め前記装置内に
冷却装置を設けた金属板を設置しているため、大気に開
放する必要がなく、冷却効果が向上し冷却時間の短縮が
なされる。
有し、ヒータ等の加熱体により加熱することで被加熱体
の温度を上げる構成の装置において、予め前記装置内に
冷却装置を設けた金属板を設置しているため、大気に開
放する必要がなく、冷却効果が向上し冷却時間の短縮が
なされる。
【0047】また、前記温度を検出する手段により、そ
れぞれの設定温度A、Bになった時点で自動的に前記冷
却装置の加熱体上への設置、冷却の開始、停止及び加熱
体からの移動を行うことで、冷却時間の短縮、作業の自
動化がなされる。
れぞれの設定温度A、Bになった時点で自動的に前記冷
却装置の加熱体上への設置、冷却の開始、停止及び加熱
体からの移動を行うことで、冷却時間の短縮、作業の自
動化がなされる。
【0048】さらに、前記冷却手段で設定温度Aとなっ
た時点で予冷を開始することで、加熱体設置直後から冷
却機能が働くため、冷却時間の短縮がなされる。
た時点で予冷を開始することで、加熱体設置直後から冷
却機能が働くため、冷却時間の短縮がなされる。
【図1】 この発明の実施の形態1を示す冷却装置を有
する装置の断面図である。
する装置の断面図である。
【図2】 この発明の実施の形態1での冷却手段の流れ
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図3】 この発明の実施の形態1での冷却用パレット
の外観及び通水路を示す図である。
の外観及び通水路を示す図である。
【図4】 この発明の実施の形態2を示す冷却装置を有
する装置の断面図である。
する装置の断面図である。
【図5】 この発明の実施の形態2での冷却手段の流れ
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図6】 従来の加熱体を有する装置の断面図である。
1 加熱本体、 2 駆動装置、 3 成膜室、 4
ロードロック室、 5扉弁、 6 駆動装置、 7 ラ
ンプヒータ、 8 蓋体、 9 配管、 10 バル
ブ、 11 真空排気ポンプ、 12 仕切弁、 13
駆動装置、14 リフト装置、 15 ヒータ、 1
6 配管、 17 バルブ、 18真空排気ポンプ、
19 蓋体、 20 窓、 21 光学センサ、 22
冷却用パレット、 23 通水路、 24 冷却水導
入用ポート、 25 冷却水排水用ポート、 26 配
管、 27 配管、 28 制御装置、 29 温度セ
ンサ、 30 通水路、 31 第1の昇降装置、 3
2 第2の昇降装置、33 金属板、 34 通水路、
ロードロック室、 5扉弁、 6 駆動装置、 7 ラ
ンプヒータ、 8 蓋体、 9 配管、 10 バル
ブ、 11 真空排気ポンプ、 12 仕切弁、 13
駆動装置、14 リフト装置、 15 ヒータ、 1
6 配管、 17 バルブ、 18真空排気ポンプ、
19 蓋体、 20 窓、 21 光学センサ、 22
冷却用パレット、 23 通水路、 24 冷却水導
入用ポート、 25 冷却水排水用ポート、 26 配
管、 27 配管、 28 制御装置、 29 温度セ
ンサ、 30 通水路、 31 第1の昇降装置、 3
2 第2の昇降装置、33 金属板、 34 通水路、
Claims (7)
- 【請求項1】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源を
備える加熱部と、パレットを前記加熱部内に搬入する駆
動装置を有する加熱装置において、前記パレット内部に
形成された通路に水を供給する水供給手段と、前記通路
から水を排出させる水排出手段と、前記加熱室の温度を
検出する温度検出手段と、この検出された温度に基いて
前記駆動装置及び前記水供給手段を制御する制御手段を
有することを特徴とする加熱装置。 - 【請求項2】 水供給手段は加熱部外部に形成された第
1の屈曲自在の配管を有し、水排出手段は前記加熱部外
部に形成された第2の屈曲自在の配管を有することを特
徴とする請求項1記載の加熱装置。 - 【請求項3】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源を
備える加熱部と、パレットを前記加熱部内に搬入する駆
動装置を有する加熱装置において、内部に冷却水通過用
水路を有するパレットを前記駆動装置に配置するステッ
プと、前記加熱室の温度が予め定められた第1の温度以
下となったことを検出した場合には前記駆動装置を動作
させて前記パレットを前記加熱室内に搬入し、前記熱源
上に設置するステップと、前記パレットに水の供給を開
始するステップと、前記加熱室内の温度が予め定められ
た第2の温度以下となったことを検出した場合には前記
水の供給を停止するステップと、前記パレットを前記熱
源上から撤去し、前記駆動装置を動作させて前記パレッ
トを前記加熱室外に搬出するステップとを有することを
特徴とする加熱装置の冷却方法。 - 【請求項4】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源を
備える加熱部と、パレットを前記加熱部内に搬入する駆
動装置を有する加熱装置において、内部に冷却水通過用
水路を有するパレットを前記駆動装置に配置するステッ
プと、前記加熱室の温度が予め定められた第1の温度以
下となったことを検出した場合には前記パレットに水の
供給を開始するステップと、前記駆動装置を動作させて
前記パレットを前記加熱室内に搬入し、前記熱源上に設
置するステップと、前記加熱室内の温度が予め定められ
た第2の温度以下となったことを検出した場合には前記
水の供給を停止するステップと、前記パレットを前記熱
源上から撤去し、前記駆動装置を動作させて前記パレッ
トを前記加熱室外に搬出するステップとを有することを
特徴とする加熱装置の冷却方法。 - 【請求項5】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源か
らなる加熱装置において、前記加熱装置内に設置された
金属板と、前記金属板内に形成された通路に水を供給す
る水供給手段と、前記通路から水を排出させる水排出手
段と、前記金属板を移動させて前記熱源に接触させるこ
とができる駆動装置と、前記加熱室の温度を検出する温
度検出手段と、この検出された温度に基いて前記駆動装
置及び前記水供給手段を制御する制御手段とを有するこ
とを特徴とする加熱装置。 - 【請求項6】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源か
らなる加熱装置において、前記加熱室の温度が予め定め
られた第1の温度以下となったことを検出するステップ
と、前記駆動装置を動作させて水供給手段と水排出手段
とを接続された金属板を前記熱源上に設置するステップ
と、前記金属板に水の供給を開始するステップと、前記
加熱室内の温度が予め定められた第2の温度以下となっ
たことを検出した場合には前記水の供給を停止するステ
ップと、前記金属板を前記熱源上から撤去するステップ
とを有することを特徴とする加熱装置の冷却方法。 - 【請求項7】 加熱室と前記加熱室に設置された熱源か
らなる加熱装置において、前記加熱室の温度が予め定め
られた第1の温度以下となったことを検出するステップ
と、前記金属板に水の供給を開始するステップと、前記
駆動装置を動作させて水供給手段と水排出手段とを接続
された金属板を前記熱源上に設置するステップと、前記
加熱室内の温度が予め定められた第2の温度以下となっ
たことを検出した場合には前記水の供給を停止するステ
ップと、前記金属板を前記熱源上から撤去するステップ
とを有することを特徴とする加熱装置の冷却方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000154572A JP2001330352A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 加熱体を有する装置の冷却装置と冷却方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000154572A JP2001330352A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 加熱体を有する装置の冷却装置と冷却方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001330352A true JP2001330352A (ja) | 2001-11-30 |
Family
ID=18659646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000154572A Pending JP2001330352A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 加熱体を有する装置の冷却装置と冷却方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001330352A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009280835A (ja) * | 2008-05-19 | 2009-12-03 | Shimadzu Corp | 真空装置の動作方法 |
CN103898448A (zh) * | 2012-12-27 | 2014-07-02 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 用于调节托盘温度的腔室及半导体加工设备 |
-
2000
- 2000-05-25 JP JP2000154572A patent/JP2001330352A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009280835A (ja) * | 2008-05-19 | 2009-12-03 | Shimadzu Corp | 真空装置の動作方法 |
CN103898448A (zh) * | 2012-12-27 | 2014-07-02 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 用于调节托盘温度的腔室及半导体加工设备 |
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