JP2001322312A - 複数の光走査ユニットを備える描画装置 - Google Patents

複数の光走査ユニットを備える描画装置

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JP2001322312A
JP2001322312A JP2000145762A JP2000145762A JP2001322312A JP 2001322312 A JP2001322312 A JP 2001322312A JP 2000145762 A JP2000145762 A JP 2000145762A JP 2000145762 A JP2000145762 A JP 2000145762A JP 2001322312 A JP2001322312 A JP 2001322312A
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unit
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Yoshinori Kobayashi
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 描画対象となる描画パターンに応じて最適な
描画手順を選択し効率的な描画を行うことのできる描画
装置及び描画方法を提供する。 【解決手段】 本発明の描画装置は、第1の光走査ユニ
ットと、主走査方向において移動可能な第2の光走査ユ
ニットを備える。描画装置の有効描画エリアほぼ全体を
占めるような大サイズの描画パターンを描画する場合に
は、第2の光走査ユニットを主走査方方向において移動
させることで、第2の光走査ユニットのみを用いて有効
描画エリア全体に対する描画を行い、小サイズの描画パ
ターンについては、同一の描画パターンを第1及び第2
の光走査ユニットを用いて夫々同時に描画する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームの照
射により、プリント基板、フラット・パネル・ディスプ
レイ等へパターンを描画する描画装置に関する。
【0002】
【従来の技術】描画装置は、光走査ユニットが感光材に
対して照射するビームを主走査方向に偏向させるととも
に、感光材を載置する描画テーブルを主走査方向と直交
する副走査方向に移動させることで感光材全体に渡って
の描画を実行する。近年、フラット表示パネルの画面サ
イズの大型化についての要求等を背景として、広い有効
描画エリアを持つ描画装置が提供され始めている。
【0003】描画装置において、広い有効描画エリアを
得るためには、光走査ユニットの主走査方向におけるビ
ームの有効走査幅を広げることが必要である。このよう
にビームの有効走査幅を広げるには、ポリゴンミラー、
fθレンズ、コンデンサレンズ等の走査光学系の部品を
大型化する必要がある。しかし、これらの光学部品の大
型化については、精度の維持、コスト等の面で一定の限
界が生じる。そこで、従来の描画装置は、感光材を載置
する描画テーブルを、光走査ユニットがビームを偏向す
る方向である主走査方向において移動可能とする構造を
採用することにより、さらに主走査方向の有効描画エリ
アの拡大化を図っている。
【0004】このような描画装置では、描画テーブルを
主走査方向において所定位置で固定させてビームの照射
を開始すると共にビームの主走査に同期させて副走査方
向に描画テーブルを移動させることで、有効描画エリア
の一部に対する描画を行い、その後、ビームの照射を停
止して描画テーブルを主走査方向に移動させ、有効描画
エリアの残りの部分に対する描画を行うという手順によ
って、有効描画エリア全体に対する描画を実行する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このように
広い有効描画エリアを持つ描画装置において描画対象と
なる描画パターンには、大画面のディスプレイパネルの
パターンのように有効描画エリアのかなりの部分を占め
る大サイズの描画パターンだけでなく、小さなディスプ
レイパネルのパターンのような小サイズの描画パターン
も存在する。小サイズの描画パターンについては、有効
描画エリア内に複数の同一の描画パターンを含めさせ、
有効描画エリアに対する1回の描画動作で同時に複数を
描画する(所謂多面取りを行う)ことが可能である。
【0006】従来の描画装置では、光走査ユニットが一
つであったため、描画対象となる描画パターンの内容に
よらず、常に上述の手順によって描画を行っていた。本
発明は、このような事情に鑑みてなされた。すなわち、
描画対象となる描画パターンに応じて最適な描画手順を
選択し効率的な描画を行うことのできる描画装置及び描
画方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】その為本発明の請求項1
に記載の描画装置は、描画データに基づいて変調された
レーザビームを描画面上において主走査方向に偏向させ
る光走査ユニットを複数備える描画装置であって、少な
くとも何れか一つの光走査ユニットと描画テーブルとの
位置を主走査方向において相対的に移動させる移動手段
を備えて構成される。1つの光走査ユニットと描画テー
ブルの主走査方向の位置を移動させることができるの
で、描画装置の有効描画エリアほぼ全体を占めるような
大サイズの描画パターンを描画する場合には、1つの光
走査ユニットのみを用いて有効描画エリア全体に対する
描画を行うことが可能である。また、小サイズの描画パ
ターンについては、複数の光走査ユニットで同時に描画
することで、同時に複数の描画パターンの描画を行うこ
とが可能である。
【0008】請求項2に記載の描画装置は、光走査ユニ
ットを主走査方向において移動させる。
【0009】また、請求項3に描画装置は、感光材を載
置する描画テーブルを主走査方向において移動させる。
【0010】請求項4に記載の描画装置は、描画対象と
なる描画パターンの主走査方向のサイズと、前記複数の
光走査ユニットの主走査方向における夫々の有効走査幅
とを比較し、その比較結果により最適な描画方法を決定
する描画方法決定手段をさらに備える。描画方法決定手
段により、描画対象となる描画データの主走査方向のサ
イズに応じて、複数の光走査ユニットを用いて同時に同
一の描画データを複数描画を行うか、或いは、1つの光
走査ユニットのみを用いて有効描画エリア全体に対する
描画を行うかを決定することができる。
【0011】描画方法決定手段は、描画対象となる描画
パターンの主走査方向のサイズが、複数の光走査ユニッ
トの夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか1つより
も大きい場合に、何れか1つの光走査ユニットのみを用
いて該描画パターンの描画を行う用に決定してもよい。
この場合、描画パターンが1つの光走査ユニットによっ
て描画されるので、ビーム強度、ビーム形状等のビーム
特性が同一のビームによって、描画パターン全体が描画
されることになり、描画パターン全体に亘るビームの均
一性が維持される(請求項5)。
【0012】また、描画方法決定手段は、描画対象とな
る描画パターンの主走査方向のサイズが、複数の光走査
ユニットの夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか2
つに対して、それ以下である場合に、2つ以上の光走査
ユニットを用いて同時に2つ以上の該描画パターンの描
画を行うように決定してもよい。この場合、同一のパタ
ーンが、同時に複数描画されるので、短時間に多くの描
画物が得られ、描画装置における描画効率が向上する
(請求項6)。
【0013】また、請求項7に記載の描画方法は、描画
データに基づいて変調されたレーザビームを描画面上に
おいて主走査方向に偏向させる光走査ユニットを複数備
える描画装置であって、少なくとも何れか一つの光走査
ユニットと描画テーブルとの位置を主走査方向において
相対的に移動させる移動手段を備える描画装置におい
て、描画対象となる描画パターンの主走査方向のサイズ
と前記複数の光走査ユニットの主走査方向における夫々
の有効走査幅とを比較するステップと、前記サイズが前
記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか1つよりも
大きい場合には、何れか一つの光走査ユニットのみを用
いて前記描画パターンの描画を行うステップと、前記サ
イズが前記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか2
つ以下である場合には、2以上の光走査ユニットを用い
同時に2以上の前記描画パターンの描画を行うステップ
とを有することを特徴とする。以上の手順により、描画
対象となる描画パターンのサイズに応じ、大サイズの描
画パターンについては1つの光走査ユニットのみにより
描画を行い、小サイズの描画パターンについては複数の
光走査ユニットを用いて同時に複数の描画パターンを描
画することが可能となる。
【0014】また、請求項8に記載の描画方法は、描画
データに基づいて変調されたレーザビームを描画面上に
おいて主走査方向に偏向させる第1の光走査ユニット
と、描画データに基づいて変調されたレーザビームを描
画面上において主走査方向に偏向させる光走査ユニット
であって前記第1の光走査ユニットと主走査方向におけ
る有効走査幅が同一である第2の光走査ユニットと、前
記第2の光走査ユニットと描画テーブルの位置を主走査
方向において相対的に移動させる移動手段とを備える描
画装置において、描画対象となる描画パターンの主走査
方向のサイズと前記有効走査幅を比較するステップと、
前記サイズが前記有効走査幅より大きい場合には、第2
の光走査ユニットのみを用いて前記描画パターンの描画
を行うステップと、前記サイズが前記有効走査幅以下で
ある場合には、第1と第2の2つの光走査ユニットを用
い同時に2つ前記描画パターンの描画を行うステップと
を有することを特徴とする。以上の手順により、描画対
象となる描画パターンのサイズに応じ、大サイズの描画
パターンについては第2の光走査ユニットのみにより描
画を行い、小サイズの描画パターンについては第1と第
2の2つの光走査ユニットを用いて同時に2つの描画パ
ターンを描画することが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施形態
としての描画装置100の概略的な構成を示す斜視図で
ある。描画装置100には、ポリゴンミラー12、fθ
レンズ14、ターニングミラー16及び大コンデンサレ
ンズ18によって構成される第1の光走査ユニット44
と、ポリゴンミラー30、fθレンズ32、ターニング
ミラー34及び大コンデンサレンズ36によって構成さ
れる第2の光走査ユニット46が設けられている。
【0016】光源2から射出されるレーザビームは、ビ
ームベンダ3,4を介してビームスプリッタ6に導かれ
る。ビームスプリッタ6で反射された一方のビームは、
電子シャッタ8に導かれる。電子シャッタ8は、例え
ば、AO(Acousto−Optic)変調器であ
り、描画データに応じてビームをON/OFF変調す
る。さらに、電子シャッタ8で変調されたビームは、ポ
リゴンミラー12の1つの分割平面に導かれる。ポリゴ
ンミラー12は一定速度で回転運動しており、この回転
運動に伴って、ポリゴンミラー12で反射されたビーム
は描画面上において主走査方向に偏向される。
【0017】ポリゴンミラー12で反射されるとともに
偏向されるビームは、fθレンズ14を通過し、ターニ
ングミラー16によって描画面方向に向きを変えられた
後、基台41に開けられた開口を通過し大コンデンサレ
ンズ18を介して描画面上に集光され、描画面上におい
て有効走査幅44aの範囲を走査する。また、感光材が
載置される描画テーブル42は、基台43に備え付けら
れたレール20a,20bに沿って、図示しない駆動機
構により、副走査方向(図のX軸方向)に移動できるよ
うに構成されている。すなわち、第1の光走査ユニット
44は、有効描画エリアのうち主走査方向の幅が有効走
査幅44aである描画領域Aを描画する。
【0018】一方、ビームスプリッタ6を透過したビー
ムはビームベンダ21で反射されて電子シャッタ22に
導かれ、描画データに基づいてON/OFF変調された
後、ポリゴンミラー30の1つの分割面に導かれる。ポ
リゴンミラー30は一定速度で回転運動しており、この
回転運動に伴い、ポリゴンミラー30で反射されたビー
ムは描画面上において主走査方向に偏向される。
【0019】ポリゴンミラー30で反射されるとともに
偏向されるビームは、fθレンズ32を通過後、ターニ
ングミラー34によって描画面方向に光路を向けられ、
テーブル40及び基台41に設けられた開口部を通過
後、大コンデンサレンズ36を介して描画面上に集光さ
れ、描画面上において有効走査幅46aで示す範囲を走
査する。すなわち、第2の光走査ユニット46は、有効
描画領域のうち主走査方向の幅が有効走査幅46aであ
る描画領域Bを描画する。
【0020】なお、第2の光走査ユニット46を構成す
るポリゴンミラー30、fθレンズ32、ターニングミ
ラー34及び大コンデンサレンズ36等の光学部品は、
テーブル40上に設けられている。また、テーブル40
は、図示しない駆動機構により、基台41に備え付けら
れたレール45a,45b上で、主走査方向(図のY軸
方向)に褶動自在に設けられている。図1は、テーブル
40が、Y軸の正方向の限界まで移動された状態であ
る。なお、描画装置100において、第1の光走査ユニ
ット44による有効走査幅44aと第2の光走査ユニッ
ト46による有効走査幅46aは等しく、描画テーブル
42上の描画面の中心線lで2つに分割された描画領
域Aと描画領域Bの夫々の面積は等しい。
【0021】なお、2つの描画領域A,Bの境目部分
(中心線lの部分)において、描画データを重複して
描画する重複描画領域を設けることで、2つの描画領域
のつなぎ目におけるパターンの不均一を目立たなくする
ことが可能である。
【0022】テーブル40を主走査方向(Y軸方向)に
おいて任意の位置に移動させ、描画を行うことで、第2
の光走査ユニット46による描画領域Bを主走査方向に
おいて任意の位置に移動させて描画を行うことが可能で
ある。テーブル40をY軸の負の方向に限界まで移動さ
せた場合、第2の光走査ユニット46による描画領域B
は第1の光走査ユニット44による描画領域Aと一致す
る状態となる。
【0023】図2は、描画装置100の制御系を概略的
に示すブロック図である。図2において、図1で示した
部品と同一部品については同一の符号を用いており、図
1を参照して説明した部品と同一のものについては説明
を省略する。
【0024】描画装置100は、I/F(インタフェー
ス)52を介してネットワークケーブル51に接続され
ており、描画対象となる描画データは、図示しない入力
手段によって直接或いはネットワークケーブル51に接
続されたワークステーションからI/F52を介して、
メモリ53に入力される。図2において、第1の走査ユ
ニットの描画クロック発生部56は、第1の光走査ユニ
ットで描画する描画データを制御するための画素単位の
クロック信号を発生する。すなわち、描画データ制御部
54は、第1の走査ユニットの描画クロック発生部56
からのクロック信号に基づいて、電子シャッタ8を変調
制御する。第2の走査ユニットの描画クロック発生部5
6’は、第2の光走査ユニットで描画する描画データを
制御するための画素単位のクロック信号を発生する。す
なわち、描画データ制御部54は、第2の走査ユニット
の描画クロック発生部56’からのクロック信号に基づ
いて、電子シャッタ22を変調制御する。CPU50
は、メモリ53に入力された描画データが例えば図3
(a)に示す描画データ65である場合には、描画デー
タ65の主走査方向のサイズ65aを確認し、それが有
効走査幅44a以下のサイズである場合には、描画に先
立って、X方向駆動部58を制御して、描画テーブル4
2の原点Sが第1の光走査ユニット44によるビーム
の走査開始点P と一致する位置まで描画テーブル4
2を副走査方向において移動させ、また、Y方向駆動部
60を制御して第2の光走査ユニット46をY軸正方向
の限界位置にまで移動させる。
【0025】続いて、描画データ制御部54は、メモリ
53に保持されている描画データ65を読み出し、読み
出されたデータに基づいて電子シャッタ8及び電子シャ
ッタ22を同時に制御してビームのON/OFF変調を
行う。すなわち、描画データ制御部54は、同一の描画
データを用いて電子シャッタ8及び電子シャッタ22を
夫々制御しビームのON/OFF変調を行う。さらに、
CPU50は、第1及び第2の光走査ユニットのビーム
の主走査に同期して、描画テーブル42をX軸の負の方
向に移動させる。以上の動作により、メモリ53に保持
される描画データ65が、図3(a)に示すように描画
領域A及び描画領域Bに同時に2つ描画される。
【0026】図3(b)には、図3(a)に示した描画
データ65よりも大きなサイズの描画データ67が示さ
れている。描画データ67は、主走査方向のサイズ67
aが第2の光走査ユニット46の有効走査幅46aを超
えるサイズであり、描画装置100の有効描画エリアの
ほぼ全体を占めるものである。メモリ53に描画データ
67が入力され、描画開始指示が行われた場合、CPU
50は、メモリ53に入力された描画データ67の主走
査方向のサイズ67aを確認し、それが有効走査幅46
aを超えるサイズである場合には、描画に先立って、Y
方向駆動部60を制御してテーブル40をY軸の負の方
向に限界位置まで移動させ、その後X方向駆動部58を
制御して、描画テーブル42の原点Sが第2の光走査
ユニット46のビームの走査の開始点P21に一致する
ように、描画テーブル42を副走査方向において移動さ
せる。
【0027】続いて、描画制御部54は、メモリ53か
ら、図3(b)に示す描画データ67の左半分の描画デ
ータ67cを画素単位のクロックに同期して読み出すと
ともに、読み出された画素単位のデータに基づいて電子
シャッタ22を制御してビームをON/OFF変調す
る。このときCPU50は、第2の光走査ユニット46
によるビームの主走査に同期して描画テーブル42をX
軸の負の方向に移動させる。この動作によって、図3
(b)に示す左半分の描画データ67cについての描画
が完了し、第2の光走査ユニット46によるビームの照
射が停止される。
【0028】次に、CPU50は、テーブル40をY軸
の正の方向に限界位置まで移動させ、描画テーブル42
の点S(描画テーブルの辺42aと中心線lが交わ
る点)が第2の光走査ユニット46のビームの主走査の
開始点P21と一致するように描画テーブル42を副走
査方向において移動させる。描画テーブル42及びテー
ブル40の移動が完了すると第2の光走査ユニット46
によるビーム照射が再び開始される。続いて、描画デー
タ制御部54は、メモリ53から、図3(b)の右半分
の描画データ67dを画素単位の描画クロックに同期し
て読み出すとともに、読み出された画素単位のデータに
基づいて電子シャッタ22を制御して、ビームをON/
OFF変調する。
【0029】このときCPU50は、第2の光走査ユニ
ット46によるビームの主走査に同期して描画テーブル
42をX軸の負の方向に移動させる。以上の動作によっ
て、図3(b)に示す右半分の描画データについての描
画が実行され、描画パターン67全ての描画が完了す
る。描画データ67について以上のように描画を行うこ
とで、図3(b)に示す左半分の描画データ67cと右
半分の描画データ67dが第2の光走査ユニット46の
ビームのよって夫々描画されることとなる。すなわち、
描画データ67c及び67dを描画するために用いられ
るビームの強度、ビーム形状が同じであるので、描画さ
れた描画パターン67のつなぎ目部分(中心線l
分)においてパターンの均一性が失われて、つなぎ目部
分が目立つこととなる現象が回避される。
【0030】図4は、以上で説明を行った描画装置10
0の描画動作をフローチャートとして表したものであ
る。外部のワークステーションから或いは図示しない入
力手段によりメモリ53内部に描画対象となる描画デー
タが入力され、さらに、外部のワークステーション或い
はユーザインタフェース57から描画開始指示が与えら
れると、描画装置100は図4に示す動作を開始する。
図4に示す動作が開始されると、始めに、CPU50に
よって、メモリ53内部に保持されている描画データの
主走査方向のサイズと第2の光走査ユニットの有効走査
幅46aとの比較が行われる(S301)。
【0031】描画データの主走査方向のサイズが有効走
査幅46a以下である場合には(S302:YES)、
CPU50は、描画データ制御部54がメモリ53から
読み出される描画データに基づいて電子シャッタ8及び
電子シャッタ22を同時に制御するように指示を与え
る。また、CPU50は、描画開始に先立って、描画テ
ーブル42及びテーブル40の位置を所定の開始位置に
移動させ、描画実行中は第1及び第2の光走査ユニット
によるビームの主走査に同期して描画テーブル42を副
走査方向において移動させる(S303)。以上のS3
03の描画動作により、描画データが第1と第2の光走
査ユニットにより夫々同時に描画される。
【0032】一方、S302において、描画データの主
走査方向のサイズが有効走査幅46aより大きいと判断
された場合には(S302:NO)、CPU50は、描
画データ制御部54が、メモリ53から読み出された描
画データに基づいて電子シャッタ22のみを制御するよ
うに指示を与える。また、CPU50は、描画開始に先
立って、描画テーブル42及びテーブル40の位置を所
定の開始位置に移動させ、描画実行中は、第2の光走査
ユニット46によるビームの主走査に同期して、描画テ
ーブル42を副走査方向において移動させる(S30
4)。さらに、S304では、第2の光走査ユニット4
6をY軸の正の方向の限界位置まで移動させた後同様に
描画が行われる。以上のS304の描画動作により、描
画データが第2の光走査ユニット46のみにより描画さ
れる。
【0033】図5は、本発明の第2の実施形態としての
描画装置200の概略構成を示す斜視図である。図5で
は、図1で示した描画装置100と同一の部品について
は同一の符号を用いている。描画装置200では、第2
の光走査ユニット46´が基台41上に固定して設けら
れており、光走査ユニット46´は移動することができ
ない構造となっている。また、描画テーブル42がテー
ブル48上に設けられ、テーブル48は、基台43上に
備え付けられたレール47a,47b上で主走査方向に
褶動自在となっている。なお、描画装置200の制御系
の構成は図2で示した描画装置100の制御系と同様で
あり、描画装置200の場合、Y方向駆動部60はテー
ブル40を主走査方向に移動させるのではなく、テーブ
ル48(すなわち、描画テーブル42)を主走査方向に
移動させる。
【0034】描画装置200において図3(a)で示し
た描画データ65を描画する場合、始めに、描画テーブ
ル42の原点Sと第1の光走査ユニット44´のビー
ムの走査の開始点Q11が一致するように描画テーブル
42及びテーブル48が移動され、描画データ65が第
1の光走査ユニット44´及び第2の光走査ユニット4
6´によって夫々同時に描画される。
【0035】描画装置200において図3(b)に示す
描画データ67を描画する場合、始めに、描画テーブル
42の原点Sと第2の光走査ユニット46´のビーム
の走査の開始点Q21が一致するように描画テーブル4
2及びテーブル48が移動され、第2の光走査ユニット
44´によって図3(b)の左半分の描画データ67c
の描画が行われる。図3(b)の左半分の描画データ6
7cの描画が終了すると、描画テーブル42の原点S
から主走査方向に延びる直線と描画テーブル42の中心
線lが交わる点であるSと、第2の光走査ユニット
46´のビームの開始点Q21が一致するように、描画
テーブル42及びテーブル48が移動され、第2の光走
査ユニット46´によって図3(b)に示す右半分のデ
ータ67dが描画される。以上の動作により、描画デー
タ67の描画が完了する。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように本発明の描画装置
は、複数の光走査ユニットを同時に動作させて1つの描
画データを複数描画するか、或いは1つの光走査ユニッ
トにより1つの描画データを描画するかを、描画対象と
なる描画データのサイズに応じて決定することができ
る。すなわち、描画データの主走査方向のサイズが複数
設けられた光走査ユニットの夫々の走査幅以下である場
合には、描画データが複数の光走査ユニットによって夫
々同時に描画されるので、単位時間に多くの描画を行う
ことが可能である。また、描画データの主走査方向のサ
イズが光走査ユニットのビームの走査幅より大きい場合
には、1つの光走査ユニットによって描画が行われ、1
つの描画データを複数の描画領域に分割し夫々の描画領
域を複数の光走査ユニットにより描画する場合よりも高
い精度で描画を行うことが可能である。
【0037】描画データの主走査方向のサイズと光走査
ユニットのビームの走査幅との比較が描画装置内部のC
PUによって行われるので、本発明の描画装置は、描画
対象となる描画データを描画するために最適な描画方法
を自ら決定して描画を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態である描画装置の概略
構成を示す斜視図である。
【図2】本発明の第1の実施形態である描画装置の制御
系のブロック図である。
【図3】本発明の描画装置によって描画される描画デー
タの例を示す図である。
【図4】本発明による描画装置の描画動作を表すフロー
チャートである。
【図5】本発明の第2の実施形態である描画装置の概略
構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
2 光源 8 電子シャッタ 12 ポリゴンミラー 14 fθレンズ 16 ターニングミラー 18 大コンデンサレンズ 42 描画テーブル 44 第1の光走査ユニット 46 第2の光走査ユニット 100 描画装置 50 CPU 51 ネットワークケーブル 52 I/F 53 メモリ 54 描画データ制御部 56 第1の走査ユニットの描画クロック発生部 56’ 第2の走査ユニットの描画クロック発生部 58 X方向駆動部 60 Y方向駆動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 BA48 BA49 BA50 BA68 BA70 BB37 BB40 CB43 CB48 CB62 CB71 2H045 AA01 BA02 BA22 BA34 5C072 AA03 BA03 DA02 DA03 DA04 DA21 HA02 HA06 HA13 HB06 NA04

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 描画データに基づいて変調されたレーザ
    ビームを描画面上において主走査方向に偏向させる光走
    査ユニットを複数備える描画装置であって、 少なくとも何れか一つの光走査ユニットと描画テーブル
    との位置を主走査方向において相対的に移動させる移動
    手段を備えること、を特徴とする描画装置。
  2. 【請求項2】 前記移動手段は、少なくとも何れか一つ
    の光走査ユニットを主走査方向において移動させるこ
    と、を特徴とする請求項1に記載の描画装置。
  3. 【請求項3】 前記移動手段は、描画テーブルを主走査
    方向において移動させること、を特徴とする請求項1に
    記載の描画装置。
  4. 【請求項4】 描画対象となる描画パターンの主走査方
    向のサイズと、前記複数の光走査ユニットの主走査方向
    における夫々の有効走査幅とを比較し、その比較結果に
    より最適な描画方法を決定する描画方法決定手段をさら
    に備えること、を特徴とする請求項1から請求項3のい
    ずれかに記載の描画装置。
  5. 【請求項5】 前記描画方法決定手段は、前記サイズが
    前記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか1つより
    も大きい場合には、何れか1つの光走査ユニットのみを
    用いて前記描画パターンの描画を行わせること、を特徴
    とする請求項4に記載の描画装置。
  6. 【請求項6】 前記描画方法決定手段は、前記サイズが
    前記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何れか2つに対
    して、それ以下である場合には、2つ以上の光走査ユニ
    ットを用いて同時に2つ以上の前記描画パターン描画を
    行わせること、を特徴とする請求項4に記載の描画装
    置。
  7. 【請求項7】 描画データに基づいて変調されたレーザ
    ビームを描画面上において主走査方向に偏向させる光走
    査ユニットを複数備える描画装置であって、少なくとも
    何れか一つの光走査ユニットと描画テーブルとの位置を
    主走査方向において相対的に移動させる移動手段を備え
    る描画装置において、 描画対象となる描画パターンの主走査方向のサイズと前
    記複数の光走査ユニットの主走査方向における夫々の有
    効走査幅とを比較するステップと、 前記サイズが前記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何
    れか1つよりも大きい場合には、何れか一つの光走査ユ
    ニットのみを用いて前記描画パターンの描画を行うステ
    ップと、 前記サイズが前記夫々の有効走査幅のうち少なくとも何
    れか2つ以下である場合には、2以上の光走査ユニット
    を用い同時に2以上の前記描画パターンの描画を行うス
    テップとを有すること、を特徴とする描画装置における
    描画方法。
  8. 【請求項8】 描画データに基づいて変調されたレーザ
    ビームを描画面上において主走査方向に偏向させる第1
    の光走査ユニットと、 描画データに基づいて変調されたレーザビームを描画面
    上において主走査方向に偏向させる光走査ユニットであ
    って前記第1の光走査ユニットと主走査方向における有
    効走査幅が同一である第2の光走査ユニットと、 前記第2の光走査ユニットと描画テーブルの位置を主走
    査方向において相対的に移動させる移動手段とを備える
    描画装置において、 描画対象となる描画パターンの主走査方向のサイズと前
    記有効走査幅を比較するステップと、 前記サイズが前記有効走査幅より大きい場合には、第2
    の光走査ユニットのみを用いて前記描画パターンの描画
    を行うステップと、 前記サイズが前記有効走査幅以下である場合には、第1
    と第2の2つの光走査ユニットを用い同時に2つ前記描
    画パターンの描画を行うステップとを有すること、を特
    徴とする描画装置における描画方法。
JP2000145762A 2000-05-17 2000-05-17 複数の光走査ユニットを備える描画装置 Withdrawn JP2001322312A (ja)

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