JP2001318038A - セラミック圧電素子駆動型材料試験機 - Google Patents
セラミック圧電素子駆動型材料試験機Info
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- JP2001318038A JP2001318038A JP2000136790A JP2000136790A JP2001318038A JP 2001318038 A JP2001318038 A JP 2001318038A JP 2000136790 A JP2000136790 A JP 2000136790A JP 2000136790 A JP2000136790 A JP 2000136790A JP 2001318038 A JP2001318038 A JP 2001318038A
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Abstract
う際に、その材料に高周波振動を発生させるための試験
機のにおける駆動棒の振動駆動源としてセラミック圧電
素子を使用するセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 【解決手段】 試験片の保持具、保持された試験片に振
動圧力を加えて歪を発生させるための駆動棒、試験片に
高周波振動を付与するための駆動棒に設けられたセラミ
ック圧電素子アクチュエータから構成されるセラミック
圧電素子駆動型材料試験機。
Description
子によって駆動される材料試験機に関するものである。
即ち、本発明の材料試験機は、試験片に高周波振動圧力
を付与して疲労試験を行う際に、その試験片に振動変位
を付与するための駆動棒の駆動源としてセラミック圧電
素子型アクチュエータを使用するものである。
うためには、試験片に超音波振動を付与する超音波型疲
労試験機、試験片を振動源と共振させることにより振動
を与える共振型疲労試験機、又は試験片に油圧により振
動を与える油圧制御型疲労試験機が使用されていた。
可能な超音波型疲労試験機は、数kHzまでの高周波振
動を付与することが可能であるが、その際に試験片が加
熱されるため、温度制御が困難である。又、共振型、油
圧制御型の疲労試験機では、試験片に付与される高周波
は数百Hzが限界であった。
電素子型材料試験機は、10kHzまでの高周波疲労試
験が可能となるとともに、その試験機は小型化及び微小
試験片の疲労試験が可能となる可能となるものである。
構成されたものである。即ち、セラミックス圧電素子は
力を受けるとそれ自身が歪んで電圧を発生する。この電
圧−歪み応答は10kHz程度まで作動する。そこで、
本発明においては、逆にセラミックス圧電素子に振動電
圧を与え、その素子をある方向に歪み変形させ、その変
形変位を駆動棒に付与して駆動棒を振動させ、その振動
変位を試験片に与えることにより、試験片の材料試験を
行うものである。
保持された試験片に振動変位を与えるための駆動棒、及
び駆動棒を振動駆動させるためのセラミック圧電素子型
アクチュエータから構成されるものである。
作を図1及び図2に基づいて説明すると、1は試験片の
保持具、2は駆動棒、3はセラミック圧電素子型アクチ
ュエータ、4は試験片、5は丸棒、6は駆動棒の支点、
7はアクチュエータと駆動棒との接点、そして8はアク
チュエータ設置台である。この設置台8は、試験片の取
付を行うことができるように矢印の方向に前後に摺動可
能に設けられている。
の一端は保持具1に固定され、その他端は駆動棒2の切
込み部に挿入される。駆動棒の切込み部内面と試験片外
表面間には試験片への力を一点で加えるために丸棒5が
挿入されている。駆動棒はその支点6を中心にして左右
に駆動可能なものである。
図3に示されるように、駆動棒の右端に設けられた2つ
のセラミックス圧電素子型アクチュエータ3、3に振動
電圧Vを付与して素子に歪み変形を起こさせる。その結
果、図4に示されるように、この圧電素子の歪み変形
(変位)により、駆動棒が支点6を中心に左右に振動駆
動させられる。かかる駆動棒の駆動により、図5に示さ
れるように、試験片が時間の経過とともに振動変位す
る。
験機を試験片の曲げ疲労試験機として使用した。即ち、
図2に示されるように、セラミックス圧電素子型材料試
験機の駆動棒の長さを支点を挟んで1:3のものを使用
し、これにアクチュエータに電圧を付与することによ
り、試験片に加わる力が600N(ニュートン)、その
変位の回数が毎秒1000回(1Hz)になるように調
整した。
の支点を挟んでの長さの比が1:3であるので、駆動棒
に加えられた600Nの力により試験片には200Nの
力が加えられた。又、試験片の変形量は、アクチュエー
タの変位量が40μmであったので、試験片には120
μmの変位を生じさせ、図5に示されるような振動が試
験片に発生した。
動される材料試験機は、10kHzまでの高周波疲労試
験が可能となり、又駆動棒を小型にすることができて、
その高速応答における慣性力を低く抑えることが可能と
なるので、本発明の材料試験機を小型化することがで
き、更に微小試験片の機械的試験も可能となるという、
本発明に特有な顕著な効果を生ずる。
る状態を示す図である。
図である。
変位変化を示す図である。
ある。
Claims (4)
- 【請求項1】 試験片の保持具、保持された試験片に振
動変位を与えるための駆動棒、及び駆動棒を振動駆動さ
せるためのセラミック圧電素子型アクチュエータから構
成される セラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 【請求項2】 試験片の一端が保持具に固定され、その
他端が駆動棒の切込み部に挿入され、試験片の他端に駆
動棒により振動変位が付与される構造の請求項1記載の
試験機。 - 【請求項3】 試験片の他端の外表面と駆動棒の切込み
部の内表面の間に丸棒が挿入されて力点を1点にする請
求項1又は請求項2記載の試験機。 - 【請求項4】 駆動棒が支点を中心に左右に振動駆動さ
れ、その支点間の駆動棒の長さを変えることにより、試
験片に加わる力及び変位量が調整される請求項1乃至請
求項3のいずれかに記載の試験機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000136790A JP2001318038A (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | セラミック圧電素子駆動型材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000136790A JP2001318038A (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | セラミック圧電素子駆動型材料試験機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001318038A true JP2001318038A (ja) | 2001-11-16 |
Family
ID=18644677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000136790A Pending JP2001318038A (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | セラミック圧電素子駆動型材料試験機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001318038A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006105735A (ja) * | 2004-10-04 | 2006-04-20 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 疲労試験装置 |
JP2007057429A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Univ Nagoya | 曲げ疲労試験機及び曲げ疲労試験方法 |
KR101723442B1 (ko) * | 2015-12-23 | 2017-04-05 | 주식회사 포스코 | 소재의 피로 수명 시험 장치 |
-
2000
- 2000-05-10 JP JP2000136790A patent/JP2001318038A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006105735A (ja) * | 2004-10-04 | 2006-04-20 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 疲労試験装置 |
JP2007057429A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Univ Nagoya | 曲げ疲労試験機及び曲げ疲労試験方法 |
KR101723442B1 (ko) * | 2015-12-23 | 2017-04-05 | 주식회사 포스코 | 소재의 피로 수명 시험 장치 |
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Legal Events
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A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20060223 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070509 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090417 |
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A02 | Decision of refusal |
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