JP2001297461A - 光ピックアップ、チルト検出装置とその方法、および、光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクのチルトを検出可能なチルト検出
方法を提供する。 【解決手段】 本発明に係るチルト検出方法は、レーザ
光を回折させて０次回折光および±１次回折光を生成す
る工程Ｓ１１１と、トラック案内溝が形成された光ディ
スクに対して前記０次回折光および±１次回折光を照射
する工程Ｓ１１２と、光ディスクで反射した±１次回折
光のプッシュプル信号を生成する工程Ｓ１１３，Ｓ１１
４と、±１次回折光のプッシュプル信号の和に基づいて
光ディスクの傾きを検出する工程Ｓ１１５とを有する。
光ディスクに照射される±１次回折光の各々は、光ディ
スクにチルトが生じている場合における、光ディスクで
発生する波面収差による位相分布と等価または実質的に
等価な位相分布を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回折格子を通過し
たレーザ光を光ディスクに照射する光ピックアップと、
光ディスクの傾き（チルト）を検出するチルト検出装置
およびチルト検出方法および光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置において、光ディスクに
チルトが有る場合、光ディスクの記録信号および／また
は再生信号の信号品質を低下させることがある。この光
ディスクのチルトを修正する場合、光ディスクのチルト
を検出して当該チルトに応じた信号を生成する必要があ
る。

【０００３】特開平９−１２８７８５号公報には、光ピ
ックアップの発明が開示されている。この公報には、レ
ーザ光源と、対物レンズと、収差補正用の液晶パネルと
を有する光ピックアップにおいて、液晶パネルの屈折率
を光ディスクの厚さまたはチルト角に応じて変化させる
ことが開示されている。また、チルトセンサでチルト角
を検出し、このチルト角に基づいて液晶パネル制御回路
が液晶パネルを駆動して屈折率を変化させることが開示
されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記特開平９−１２８
７８５号公報の光ピックアップでは、チルトセンサを設
ける位置に制約があると共に、光ディスクにおけるレー
ザ光の照射箇所とチルトセンサがチルトを検出する検出
箇所とが異なるので、前記光ディスクのチルトを正確に
検出することが困難である。

【０００５】本発明の目的は、光ディスクのチルトを検
出可能なチルト検出装置およびチルト検出方法を提供す
ることにある。また本発明の他の目的は、前記チルト検
出装置で使用可能な光ピックアップとを提供することに
ある。また本発明の目的は、光ディスクのチルトを検出
し補正することが可能で、これにより高い品質で信号の
記録および再生が可能な光ディスク装置を提供すること
にある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明に係わる第１の光
ピックアップは、レーザ光を出力するレーザと、前記レ
ーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光および当
該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じている
場合における当該光ディスクの波面収差と実質的に等価
な位相分布を有する±１次回折光を生成する回折格子
と、前記０次回折光および±１次回折光を集光し、トラ
ック案内溝が形成された光ディスクに対して照射する対
物レンズと、前記光ディスクで反射した前記±１次回折
光に応じた信号を受光し、当該各光に応じた信号を生成
する光検出器とを有する。

【０００７】好適には、前記対物レンズは、前記０次回
折光を集光して、前記光ディスクのトラックに対して照
射し、前記±１次回折光を集光して、各々、光スポット
の中心の前記０次回折光の光スポットの中心からのディ
スク半径方向の距離が、前記トラックのピッチの（ｎ／
２＋１／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もしくは略
同一となる前記光ディスクの位置に対して照射する。

【０００８】また好適には、前記±１次回折光の一方が
有する前記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が正
の一定角度である場合に発生する位相分布であり、前記
±１次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記光デ
ィスクのチルト角が負の前記一定角度である場合に発生
する位相分布である。

【０００９】さらに好適には、前記対物レンズを前記光
ディスクの偏心に応じてディスク半径方向に移動させる
アクチュエータと、前記対物レンズのディスク半径方向
の移動量または変動量を検出する位置センサとをさらに
有する。

【００１０】また、本発明に係わる第２の光ピックアッ
プは、レーザ光を出力するレーザと、前記レーザからの
レーザ光を回折させて、０次回折光である主レーザ光お
よび当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じ
ている場合における当該光ディスクの波面収差と実質的
に等価な位相分布を有する±１次回折光である第１およ
び第２の副レーザ光とを生成する第１の回折格子と、前
記主レーザ光を回折させて０次回折光である主レーザ回
折光と±１次回折光である第３および第４の副レーザ回
折光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ光を各
々回折させて０次回折光である第１および第２の副レー
ザ回折光を生成する第２の回折格子と、前記主レーザ回
折光および第１〜第４の副レーザ回折光を集光し、トラ
ック案内溝が形成された光ディスクに対して照射する対
物レンズと、前記光ディスクで反射した前記主レーザ回
折光および第１〜第４の副レーザ回折光に応じた信号を
受光し、当該各光に応じた信号を生成する光検出器とを
有する。

【００１１】好適には、前記対物レンズは、前記主レー
ザ回折光を集光して前記光ディスクのトラックに対して
照射し、前記第１および第２の副レーザ回折光を集光し
て、各々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光の光
スポットの中心からのディスク半径方向の距離が、前記
トラックのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上
の整数）と同一もしくは略同一となる前記光ディスクの
位置に対して照射する。

【００１２】また好適には、前記主レーザ回折光の光ス
ポットの中心部から前記第３および第４の副レーザ回折
光の光スポットの中心部までのディスク半径方向の距離
は、前記トラックのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０
以上の整数）と同一もしくは略同一である。

【００１３】さらに好適には、前記第１および第２の副
レーザ回折光の一方が有する前記位相分布は、前記光デ
ィスクのチルト角が正の一定角度である場合に発生する
位相分布であり、前記第１および第２の副レーザ回折光
の他方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチル
ト角が負の前記一定角度である場合に発生する位相分布
である。

【００１４】特定的には、前記波面収差は、前記光ディ
スクの透明基板で生じるコマ収差である。

【００１５】また、本発明に係わる第１のチルト検出装
置は、レーザ光を出力するレーザと、前記レーザからの
レーザ光を回折させて、０次回折光および当該レーザ光
照射対象の光ディスクにチルトが生じている場合におけ
る当該光ディスクの波面収差と実質的に等価な位相分布
を有する±１次回折光を生成する回折格子と、前記０次
回折光および±１次回折光を集光し、トラック案内溝が
形成された光ディスクに対して照射する対物レンズと、
前記光ディスクで反射した前記±１次回折光に応じた信
号を受光し、当該各光に応じた信号を生成する光検出器
と、前記生成された信号に基づいて、前記受光した前記
±１次回折光各々のプッシュプル信号を生成する信号生
成回路と、前記±１次回折光のプッシュプル信号の和に
基づいて前記光ディスクの傾きを検出するチルト検出回
路とを有する。

【００１６】好適には、前記対物レンズは、前記０次回
折光を集光して、前記光ディスクのトラックに対して照
射し、前記±１次回折光を集光して、各々、光スポット
の中心の前記０次回折光の光スポットの中心からのディ
スク半径方向の距離が、前記トラックのピッチの（ｎ／
２＋１／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もしくは略
同一となる前記光ディスクの位置に対して照射する。

【００１７】好適には、前記±１次回折光の一方が有す
る前記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が正の一
定角度である場合に発生する位相分布であり、前記±１
次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記光ディス
クのチルト角が負の前記一定角度である場合に発生する
位相分布である。

【００１８】また好適には、前記光検出器は、前記光デ
ィスクで反射した前記±１次回折光の各々を受光する受
光部であって、前記受光する回折光における前記光ディ
スクのディスク半径方向に対応する方向に分割された複
数の受光領域を有する受光部を有し、前記信号生成回路
は、前記各受光部の各受光領域の出力信号に基づいて、
前記±１次回折光の各プッシュプル信号を各々生成す
る。

【００１９】さらに好適には、前記対物レンズを前記光
ディスクの偏心に応じてディスク半径方向に移動させる
アクチュエータと、前記対物レンズのディスク半径方向
の移動量または変動量を検出する位置センサとをさらに
有し、前記チルト検出回路は、前記位置センサが検出し
た前記移動量または変動量に基づいて前記光ディスクの
偏心に応じた偏心信号を生成し、前記±１次回折光のプ
ッシュプル信号の和と前記偏心信号との差に基づき、前
記光ディスクの傾きを検出する。

【００２０】また、本発明に係わる第２のチルト検出装
置は、レーザ光を出力するレーザと、前記レーザからの
レーザ光を回折させて、０次回折光である主レーザ光お
よび当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じ
ている場合における当該光ディスクの波面収差と実質的
に等価な位相分布を有する±１次回折光である第１およ
び第２の副レーザ光とを生成する第１の回折格子と、前
記主レーザ光を回折させて０次回折光である主レーザ回
折光と±１次回折光である第３および第４の副レーザ回
折光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ光を各
々回折させて０次回折光である第１および第２の副レー
ザ回折光を生成する第２の回折格子と、前記主レーザ回
折光および第１〜第４の副レーザ回折光を集光し、トラ
ック案内溝が形成された光ディスクに対して照射する対
物レンズと、前記光ディスクで反射した前記主レーザ回
折光および第１〜第４の副レーザ回折光に応じた信号を
受光し、当該各光に応じた信号を生成する光検出器と、
前記生成された信号に基づいて、前記受光した前記主レ
ーザ回折光および第１〜第４の副レーザ回折光各々のプ
ッシュプル信号を生成する信号生成回路と、前記主レー
ザ回折光ならびに第３および第４の副レーザ回折光のプ
ッシュプル信号に基づいて前記光ディスクの偏心に応じ
た偏心信号を生成し、前記第１および第２の副レーザ回
折光のプッシュプル信号の和と前記偏心信号との差に基
づいて前記光ディスクの傾きを検出するチルト検出回路
とを有する。

【００２１】好適には、前記対物レンズは、前記主レー
ザ回折光を集光して前記光ディスクのトラックに対して
照射し、前記第１および第２の副レーザ回折光を集光し
て、各々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光の光
スポットの中心からのディスク半径方向の距離が、前記
トラックのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上
の整数）と同一もしくは略同一となる前記光ディスクの
位置に対して照射する。

【００２２】また好適には、前記主レーザ回折光の光ス
ポットの中心部から前記第３および第４の副レーザ回折
光の光スポットの中心部までのディスク半径方向の距離
は、前記トラックのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０
以上の整数）と同一もしくは略同一である。

【００２３】さらに好適には、前記第１および第２の副
レーザ回折光の一方が有する前記位相分布は、前記光デ
ィスクのチルト角が正の一定角度である場合に発生する
位相分布であり、前記第１および第２の副レーザ回折光
の他方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチル
ト角が負の前記一定角度である場合に発生する位相分布
である。

【００２４】また好適には、前記光検出器は、前記光デ
ィスクで反射した前記主レーザ回折光および第１〜第４
の副レーザ回折光の各々を受光する受光部であって、前
記受光する回折光における前記光ディスクのディスク半
径方向に対応する方向に分割された複数の受光領域を有
する受光部を有し、前記信号生成回路は、前記各受光部
の各受光領域の出力信号に基づいて、前記主レーザ回折
光および第１〜第４の副レーザ回折光のプッシュプル信
号を各々生成する。

【００２５】また、本発明に係わる第１のチルト検出方
法は、レーザ光を回折させて０次回折光および当該レー
ザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じている場合に
おける当該光ディスクの波面収差と実質的に等価な位相
分布を有する±１次回折光を生成する工程と、前記生成
した前記０次回折光および±１次回折光を、トラック案
内溝が形成された光ディスクに対して照射する工程と、
前記光ディスクで反射した前記±１次回折光のプッシュ
プル信号を生成する工程と、前記±１次回折光のプッシ
ュプル信号の和に基づいて前記光ディスクの傾きを検出
する工程とを有する。

【００２６】好適には、前記照射する工程では、前記０
次回折光を集光して、前記光ディスクのトラックに対し
て照射し、前記±１次回折光を集光して、各々、光スポ
ットの中心の前記０次回折光の光スポットの中心からの
ディスク半径方向の距離が、前記トラックのピッチの
（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もし
くは略同一となる前記光ディスクの位置に対して照射す
る。

【００２７】また好適には、前記±１次回折光の一方が
有する前記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が正
の一定角度である場合に発生する位相分布であり、前記
±１次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記光デ
ィスクのチルト角が負の前記一定角度である場合に発生
する位相分布である。

【００２８】さらに好適には、前記光ディスクの偏心に
応じた偏心信号を生成する工程をさらに有し、前記検出
する工程では、前記±１次回折光のプッシュプル信号の
和と前記偏心信号との差に基づいて前記光ディスクの傾
きを検出する。

【００２９】また本発明に係わる第２のチルト検出方法
は、レーザ光を回折させて、０次回折光である主レーザ
光および当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが
生じている場合における当該光ディスクの波面収差と実
質的に等価な位相分布を有する±１次回折光である第１
および第２の副レーザ光とを生成する工程と、前記主レ
ーザ光を回折させ、０次回折光からなる主レーザ回折光
と±１次回折光からなる第３および第４の副レーザ回折
光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ光を回折
させて０次回折光からなる第１および第２の副レーザ回
折光を生成する工程と、前記主レーザ回折光および第１
〜第４の副レーザ回折光を、トラック案内溝が形成され
た光ディスクに対して照射する工程と、前記光ディスク
で反射した前記主レーザ回折光および第１〜第４の副レ
ーザ回折光のプッシュプル信号を生成する工程と、前記
主レーザ回折光ならびに第３および第４の副レーザ回折
光のプッシュプル信号に基づいて前記光ディスクの偏心
に応じた偏心信号を生成し、前記第１および第２の副レ
ーザ回折光のプッシュプル信号の和と前記偏心信号との
差に基づいて前記光ディスクの傾きを検出する工程とを
有する。

【００３０】好適には、前記照射する工程では、前記主
レーザ回折光を集光して前記光ディスクのトラックに対
して照射し、前記第１および第２の副レーザ回折光を集
光して、各々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光
の光スポットの中心からのディスク半径方向の距離が、
前記トラックのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０
以上の整数）と同一もしくは略同一となる前記光ディス
クの位置に対して照射する。

【００３１】また好適には、前記主レーザ回折光の光ス
ポットの中心部から前記第３および第４の副レーザ回折
光の光スポットの中心部までのディスク半径方向の距離
は、前記トラックのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０
以上の整数）と同一もしくは略同一である。

【００３２】さらに好適には、前記第１および第２の副
レーザ回折光の一方が有する前記位相分布は、前記光デ
ィスクのチルト角が正の一定角度である場合に発生する
位相分布であり、前記第１および第２の副レーザ回折光
の他方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチル
ト角が負の前記一定角度である場合に発生する位相分布
である。

【００３３】また、本発明に係わる光ディスク装置は、
レーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光および
当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じてい
る場合における当該光ディスクの波面収差と実質的に等
価な位相分布を有する±１次回折光を生成し、前記０次
回折光および±１次回折光を光ディスクに照射し、当該
照射した光の前記光ディスクからの反射光を受光し、当
該各光に応じた信号を生成する光ピックアップと、前記
生成された信号に基づいて、少なくとも前記受光した前
記±１次回折光各々のプッシュプル信号を生成する信号
生成回路と、前記±１次回折光のプッシュプル信号の和
に基づいて前記光ディスクの傾きを検出するチルト検出
回路と、前記検出されたチルトに基づいて、前記光ディ
スクのチルトを補正するチルト補正機構とを有する。

【００３４】上記した本発明に係る第１のチルト検出装
置では、回折格子で生成される±１次回折光は、光ディ
スクにチルトが生じている場合における、光ディスクで
発生する波面収差による位相分布と等価または実質的に
等価な位相分布を有する。前記位相分布により、±１次
回折光の一方のプッシュプル信号は所定のチルト角
（θ）で最大値となり、±１次回折光の他方のプッシュ
プル信号は所定のチルト角（−θ）で最小値となる。±
１次回折光のプッシュプル信号を加え合わせた和信号を
求めることで、光ディスクのチルト角が０度の場合に和
信号の値を０にすることができると共に、正負のチルト
角に応じた対称な和信号を得ることができ、和信号によ
りチルト角を検出可能である。

【００３５】上記した本発明に係る第２のチルト検出装
置では、第１および第２の回折格子で生成される第１お
よび第２の副レーザ回折光は、光ディスクにチルトが生
じている場合における、光ディスクで発生する波面収差
による位相分布と等価または実質的に等価な位相分布を
有する。前記位相分布により、±１次回折光の一方のプ
ッシュプル信号は所定のチルト角（θ）で最大値とな
り、±１次回折光の他方のプッシュプル信号は所定のチ
ルト角（−θ）で最小値となる。±１次回折光のプッシ
ュプル信号を加え合わせた和信号を求めることで、光デ
ィスクのチルト角が０度の場合に和信号の値を０にする
ことができると共に、正負のチルト角に応じた対称な和
信号を得ることができ、和信号によりチルト角を検出可
能である。さらに、前記プッシュプル信号の和から光デ
ィスクの偏心成分を除去することで、主レーザ回折光の
照射箇所でのチルトを検出可能であり、光ディスクのチ
ルト角が０度付近である場合にもチルト角を検出可能で
あり、光ディスクのチルトの検出精度を向上可能であ
る。

【００３６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して説明する。

【００３７】光ディスク装置は、一般的に光ピックアッ
プを有し、光ピックアップ内の半導体レーザから出力さ
れたレーザ光を集光して光ディスクに対して照射する。
図１は、光ディスクに形成された光スポットの光強度と
位置との関係を例示する説明図である。図１（Ａ）は、
光ディスクにチルトが無い場合における光強度と位置と
の関係を例示する説明図である。図１（Ｂ）は、光ディ
スクにチルトが有る場合における光強度と位置との関係
を例示する説明図である。

【００３８】光ディスクに傾き（チルト）がある場合、
光スポットの中心の強度が低下し、傾いた方向にサイド
ローブが発生する。また、ビームスポットの中心強度の
低下により、反射光量に対応する再生信号の振幅が減少
して信号品質が低下する。これは、傾いた光ディスクの
透明基板（ディスク基板）にレーザ光が入射すると、透
明基板を通過して記録面に至るまでにレーザ光に空間的
な位相分布、例えば波面収差による位相分布が生じ、記
録面上に形成される光スポットの集光性能が低下するた
めである。

【００３９】そこで、光強度が等しい２つのレーザ光に
対し、一方のレーザ光にチルト角θ度に相当する位相分
布を予め与え、他方のレーザ光にチルト角（−θ）度に
相当する位相分布を予め与えると、それぞれのレーザ光
から得られる再生プッシュプル信号は、図２中の特性曲
線Ａ，Ｂのようになる。そこで、再生プッシュプル信号
の和を求めて和信号を生成することで、和信号の特性曲
線は（Ａ＋Ｂ）となり、正負のチルト（またはチルト
角）に応じたチルト誤差信号を得ることができる。

【００４０】ところで、本実施の形態では、光ディスク
のチルトを検出するため、ディスク半径方向のディスク
基板の傾きによって生じる位相分布と等価または実質的
に等価な位相分布を、回折格子を用いて光ディスクへの
入射前にレーザ光に与える。

【００４１】従来の光ピックアップにおいて、レーザ光
が回折格子を通過して生成された０次回折光および±１
次回折光は、進行方向に対して均一または実質的に均一
な位相分布を有している。０次回折光および±１次回折
光は、対物レンズを経て光ディスク上に１つの主光スポ
ットと２つの副光スポットとを同時に形成する。

【００４２】一方、回折格子を所定のパターンにするこ
とで、０次回折光は均一な位相とし、±１次回折光には
それぞれ正負に傾いたディスク基板を通過した場合に生
じる空間的な位相分布を与えることができる。その結
果、対物レンズを介して、光ディスクにチルトが無い場
合の１つの主光スポットと、正負のチルトが有る場合と
等価または実質的に等価な２つの副光スポットとを、光
ディスクに同時に形成することが可能である。

【００４３】ここで、計算機ホログラム技術を応用し、
スクリーンに対して垂直に入射する均一な位相分布のレ
ーザ光と、この均一な位相分布のレーザ光に対して所定
の角度および方位をもってスクリーンに入射するレーザ
光であって正または負に傾いたディスク基板を通過した
ときに生じる空間的な位相分布を有するレーザ光とが、
前記スクリーン上に形成する干渉縞を、電子計算機によ
り求める。なお、２つのレーザ光のなす角度および方位
は、光ピックアップに回折格子を搭載して使用する場合
における、回折格子通過後の０次回折光と±１次回折光
とがなす角度および方位に一致させる。

【００４４】先ず、傾いたディスク基板を通過したレー
ザ光の位相分布を数式化する。当該数式には、波面収差
の多項式展開による記述を使用する。波面収差の多項式
展開によれば、傾いた透明基板により発生する波面収差
は、コマ収差が支配的である。このコマ収差Ｗｃを、ｘ
をディスク半径方向の位置とし、対物レンズの瞳面上で
の瞳半径で規格化された直交座標（ｘ，ｙ）で表すと、
次式（１）のようになる。

【００４５】

【数１】 Ｗｃ（ｘ，ｙ）＝２πＷ₁₁ｘ＋２πＷ₃₁ｘ（ｘ² ＋ｙ² ）＋２πＷ₅₁ｘ（ｘ² ＋ ｙ² ）² …（１）

【００４６】上式（１）において、Ｗ₁₁は、光ディスク
上に形成される光スポットの位置を決める波面係数であ
り、光スポットの形状には影響を与えないので、任意の
値を選ぶことが可能である。また、Ｗ₃₁，Ｗ₅₁は、レー
ザ光波長λで規格化されたコマ収差係数Ｗ₃₁（λ），Ｗ
₅₁（λ）であり、それぞれ次式（２），（３）で表され
る。

【００４７】

【数２】 Ｗ₃₁（λ）＝｛（ｎ² −１）ｎ² ｔＮＡ³ sin θcos θ｝／｛２λ（ｎ² −sin² θ）^5/2 ｝ …（２）

【００４８】

【数３】 Ｗ₅₁（λ）＝｛（ｎ² −１）ｎ² ｔＮＡ⁵ （ｎ⁴ ＋３ｎ² cos²θ−５ｎ² sin²θ ＋４sin²θ−sin⁴θ）sin θcos θ｝／｛８λ（ｎ² −sin²θ）^9/2 ｝…（３）

【００４９】上式（２），（３）において、ＮＡは対物
レンズの開口数であり、λはレーザ光源からのレーザ波
長であり、ｎはディスク基板の屈折率であり、ｔはディ
スク基板の厚さであり、θはディスク基板の傾きを示す
チルト角である。ディスク基板の材料は、例えばポリカ
ーボネートとし、その屈折率は約１．５である。

【００５０】均一な位相分布のレーザ光に対し、方位β
および角度αだけ傾いて入射するレーザ光の位相分布Ｗ
ｄは、ディスク半径方向の位置をｘとし、対物レンズの
瞳面上の瞳半径ｒで規格化された直交座標（ｘ，ｙ）で
表すと、次式（４）のようになる。なお、方位βは、半
径方向（またはｘ方向）の場合に０度とし、トラック方
向の場合に９０度とする。

【００５１】

【数４】 Ｗｄ（ｘ，ｙ）＝｛２πｒ（ｘcos β＋ｙsin β）sin α｝／λ …（４）

【００５２】以上から、θが所定の値であるときの位相
分布｛Ｗｃ（ｘ，ｙ）＋Ｗｄ（ｘ，ｙ）｝を有するレー
ザ光と、スクリーンに垂直に入射する均一位相のレーザ
光とにより発生する干渉縞を計算する。

【００５３】図３は、θ＝１．０度、α＝０．２度、β
＝９０度で計算された干渉縞を例示する説明図である。
なお、ＮＡ＝０．６、λ＝６５０ｎｍ、ｔ＝０．６ｍ
ｍ、ｎ＝１．５、ｒ＝２ｍｍ、Ｗ₁₁＝−２Ｗ₃₁／３−Ｗ
₅₁／２としている。また、図中のリングは、対物レンズ
の瞳に対応する。

【００５４】この干渉縞を明暗の２値情報（明暗比１：
１）としてフォトマスクを作成し、作成されたフォトマ
スクを用いてガラス基板上に格子を作成するプロセスを
経て、所望の回折格子を得ることができる。図４は、図
３の干渉縞に基づいて作成された回折格子を例示する構
成図である。図４（Ａ）は回折格子９の上面図であり、
図４（Ｂ）は回折格子９を線Ｃで切断した場合の概略的
な断面図である。

【００５５】回折格子９は、うねるような溝９Ｂがガラ
ス基板９Ａ上に形成されている。溝９Ｂの深さは、０次
回折光と±１次回折光との光量比により決定される。以
上のようにして作成された回折格子９を通過したレーザ
光は、対物レンズを経て光ディスク上に３つの光スポッ
トを形成する。０次回折光は、光ディスクにチルトが無
い場合に相当し、±１次回折光の一方は、ディスク半径
方向に正のチルト角θが有る場合と等価または実質的に
等価な光スポットを形成し、±１次回折光の他方はディ
スク半径方向に負のチルト角（−θ）が有る場合と等価
または実質的に等価な光スポットを形成する。

【００５６】図５は、回折格子９を有する光ピックアッ
プを示す概略的な構成図である。この光ピックアップ５
０は、半導体レーザ４と、コリメータレンズ５と、回折
格子９と、ビームスプリッタ３と、対物レンズ２と、集
光レンズ６と、円筒レンズ７と、光検出器８と、レンズ
ホルダ２Ｈと、フォーカシング・アクチュエータ２Ｆ
と、トラッキング・アクチュエータ２Ｔと、中点センサ
１２とを有する。

【００５７】対物レンズ２は、レンズホルダ２Ｈに保持
されている。フォーカシング・アクチュエータ２Ｆは、
駆動信号Ｓfeに基づき、レンズホルダ２Ｈを光ディスク
８０の記録面とは垂直なフォーカス方向に移動させ、そ
の結果、対物レンズ２をフォーカス方向に移動させ、フ
ォーカスサーボが実現される。トラッキング・アクチュ
エータ２Ｔは、駆動信号Ｓteに基づき、レンズホルダ２
Ｈを光ディスク８０の半径方向に移動させ、その結果、
対物レンズ２を光ディスク８０の半径方向に移動させ、
トラッキングサーボが実現される。なお、トラッキング
・アクチュエータ２Ｔは、光ディスク８０（の回転）に
偏心がある場合にも、同様にして駆動信号Ｓteに基づ
き、偏心に応じて対物レンズ２をディスク半径方向に移
動させる。

【００５８】半導体レーザ４は、駆動信号ＳＬに基づい
て直線偏光のレーザ光を出力してコリメータレンズ５に
供給する。コリメータレンズ５は、半導体レーザ４から
のレーザ光を平行光にして回折格子９に供給する。回折
格子９は、コリメータレンズ５からのレーザ光を、０次
回折光からなる主レーザ光と、±１次回折光からなる第
１および第２の副レーザ光とに分離し、これらのレーザ
光（主レーザ光ならびに第１および第２の副レーザ光）
をビームスプリッタ３に供給する。

【００５９】ビームスプリッタ３は、回折格子９からの
レーザ光を通過させて対物レンズ２に供給する。対物レ
ンズ２は、ビームスプリッタ３からのレーザ光を集光
し、ランドおよび／またはグルーブを有する光ディスク
８０のトラックに供給する。光ディスク８０は、トラッ
ク案内溝が形成されており、例えばコンパクトディスク
（ＣＤ）、ディジタルビデオディスク（ＤＶＤ）、相変
化式の光ディスク（ＰＤ）等により構成する。

【００６０】また、対物レンズ２は、光ディスク８０で
反射したレーザ光をビームスプリッタ３に戻す。ビーム
スプリッタ３は、対物レンズ２からのレーザ光が入射さ
れ、入射されたレーザ光を反射して出射し、集光レンズ
６に供給する。集光レンズ６は、ビームスプリッタ３か
らのレーザ光を集光して円筒レンズ（シリンドリカルレ
ンズ）７に供給する。円筒レンズ７は、集光レンズ６か
らのレーザ光を通過させて光検出器８に供給する。光検
出器８は、円筒レンズ７からのレーザ光を受光部で受光
して出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜
ＳＦを生成する。

【００６１】中点センサ１２は、位置センサであり、レ
ンズホルダ２Ｈのディスク半径方向の移動量または変動
量を検出することで、対物レンズ２のディスク半径方向
の移動量または変動量を検出し、検出した前記移動量ま
たは変動量を示す検出信号ＳＲを生成する。

【００６２】図６は、図５中の光検出器８の受光部を示
す概略的な構成図である。光検出器８は、主受光部８Ｓ
０と、第１および第２の副受光部８Ｓ１，８Ｓ２とを有
する。光検出器８には、後述するように、母線の方向が
主受光部８Ｓ０の分割線８Ｓｘ０または分割線８Ｓｙ０
の方向に対して約４５度もしくは約１３５度の角度をな
す円筒レンズ７を通過したレーザ光が入射される。した
がって、入射されるレーザ光の各ビームは、その母線を
中心として線対称なビームとなる。ただし、主レーザ光
ならびに第１および第２の副レーザ光の各ビームの位置
関係は変わらない。そのため、光検出器８の受光部８Ｓ
０〜８Ｓ２の各々は、各ビームの位置関係において光デ
ィスク８０のトラック方向に対応する方向に分割されて
おり、ディスク半径方向のプッシュプル信号または当該
プッシュプル信号に対応する信号が検出可能なように分
割されている。主受光部８Ｓ０は、直交する２つの分割
線８Ｓｘ０，８Ｓｙ０により４等分割または略４等分割
されており、４個の分割領域８Ａｕ，８Ａｄ，８Ｂｕ，
８Ｂｄを有する。図６の主受光部８Ｓ０には、円筒レン
ズ７からの主レーザ光（の反射光）により主光スポット
ＭＳが形成されている。

【００６３】分割領域８Ａｕは、当該領域８Ａｕに供給
される主レーザ光の光量（反射光量）に応じた出力信号
ＳＡｕを生成する。分割領域８Ａｄは、当該領域８Ａｄ
に供給される主レーザ光の光量に応じた出力信号ＳＡｄ
を生成する。分割領域８Ｂｕは、当該領域８Ｂｕに供給
される主レーザ光の光量に応じた出力信号ＳＢｕを生成
する。分割領域８Ｂｄは、当該領域８Ｂｄに供給される
主レーザ光の光量に応じた出力信号ＳＢｄを生成する。

【００６４】円筒レンズ７の母線の方向は、主受光部８
Ｓ０の分割線８Ｓｘ０または分割線８Ｓｙ０の方向に対
して約４５度もしくは約１３５度の角度をなす。本実施
の形態においては分割線８Ｓｙ０の方向に対して１３５
度をなすものとする。光ディスク８０で反射した主レー
ザ光が供給される主受光部８Ｓ０の分割線８Ｓｙ０は、
主レーザ光ビームの形状上においては光ディスク８０の
トラック方向と平行または略平行になっており、主受光
部８Ｓ０を２等分割または略２等分割している。分割線
８Ｓｘ０，８Ｓｙ０の交点は、円筒レンズ７を通過した
主レーザ光の中心部または略中心部に位置する。

【００６５】主受光部８Ｓ０に形成される光スポットＭ
Ｓの形状は、光ディスク８０と対物レンズ２との距離に
応じて対角方向に変化するので、分割領域８Ａｕ，８Ａ
ｄ，８Ｂｕ，８Ｂｄが生成する出力信号ＳＡｕ，ＳＡ
ｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄに基づき、非点収差法により光ディ
スク８０での焦点ズレを検出可能である。なお、受光部
８Ｓ０〜８Ｓ２の中心が並ぶ方向と分割線８Ｓｙ０とが
なす角度が、前記方位βに一致または略一致している。

【００６６】第１の副受光部８Ｓ１は、分割線８Ｓｙ１
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｃ，８Ｄを有する。図６の第１の副受光部８Ｓ
１には、円筒レンズ７からの第１の副レーザ光（の反射
光）により副光スポットＳＳ１が形成されている。分割
領域８Ｃは、当該領域８Ｃに供給される副レーザ光の光
量（反射光量）に応じた出力信号ＳＣを生成する。分割
領域８Ｄは、当該領域８Ｄに供給される副レーザ光の光
量に応じた出力信号ＳＤを生成する。第１の副受光部８
Ｓ１の中心部は、円筒レンズ７を通過した第１の副レー
ザ光の中心部または略中心部に位置する。

【００６７】第２の副受光部８Ｓ２は、分割線８Ｓｙ２
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｅ，８Ｆを有する。図６の第２の副受光部８Ｓ
２には、円筒レンズ７からの第２の副レーザ光（の反射
光）により副光スポットＳＳ２が形成されている。分割
領域８Ｅは、当該領域８Ｅに供給されるレーザ光の光量
（反射光量）に応じた出力信号ＳＥを生成する。分割領
域８Ｆは、当該領域８Ｆに供給されるレーザ光の光量に
応じた出力信号ＳＦを生成する。第２の副受光部８Ｓ２
の中心部は、円筒レンズ７を通過した第２の副レーザ光
の中心部または略中心部に位置する。分割線８Ｓｙ０〜
８Ｓｙ２は、互いに平行または略平行になっている。

【００６８】図７は、光ディスクの記録面における光ス
ポットの配置を示す説明図である。光ディスク８０の記
録面には、ランドＬＡおよびグルーブＧＲが形成されて
おり、グルーブＧＲはトラック案内溝を構成している。
光ディスク８０の記録面には、光量が大きい主レーザ光
による主光スポットＭＢと、光量が小さい第１および第
２の副レーザ光による第１および第２の副光スポットＬ
１，Ｌ２とが形成される。第１の副光スポットＬ１は、
メインローブに相当するスポットＬ１０と、サイドロー
ブに相当するスポットＬ１１とを有する。第２の副光ス
ポットＬ２は、メインローブに相当するスポットＬ２０
と、サイドローブに相当するスポットＬ２１とを有す
る。

【００６９】主レーザ光は、主光スポットＭＢで反射し
て光検出器８の主受光部８Ｓ０に供給される。第１の副
レーザ光は、第１の副光スポットＬ１で反射して光検出
器８の第１の副受光部８Ｓ１に供給される。スポットＬ
１で反射した副レーザ光の中心部は、第１の副受光部８
Ｓ１の中心部または略中心部に位置するようになってい
る。第２の副レーザ光は、第２の副光スポットＬ２で反
射して光検出器８の第２の副受光部８Ｓ２に供給され
る。スポットＬ２で反射した副レーザ光の中心部は、第
２の副受光部８Ｓ２の中心部または略中心部に位置する
ようになっている。光検出器８の受光部８Ｓ０〜８Ｓ２
は、分割線８Ｓｙ０〜８Ｓｙ２により、ディスク半径方
向のプッシュプル信号を検出可能な構成となっている。

【００７０】光ディスク８０の記録面における２つの副
光スポットＬ１，Ｌ２の位置は、好適には、主光スポッ
トＭＢがトラック上にある場合に（例えば、主光スポッ
トＭＢの中心部がトラックの中央部に位置する場合
に）、各プッシュプル信号（ＳＣ−ＳＤ，ＳＥ−ＳＦ）
のうち一方が最大のときに他方が最小となる配置とす
る。

【００７１】光ディスク８０の主光スポットＭＢから２
つの副光スポットＬ１，Ｌ２までの距離は等しく、前述
の角度αにより決まる。また、所望の位置に２つの副光
スポットＬ１，Ｌ２がある場合に、２つの副光スポット
Ｌ１，Ｌ２にディスク半径方向のディスク基板のチルト
により生じる位相分布と等価または実質的に等価な位相
分布が与えられるように、方位βが設定されている。す
なわち、主光スポットＭＢの中心部から２つの副光スポ
ットＬ１，Ｌ２の中心部までのディスク半径方向の距離
Ｄ１２は、グルーブＧＲのピッチ（またはトラックピッ
チ）Ｔｐと０以上の整数ｎとを用いて、次式（５）で表
される。

【００７２】

【数５】Ｄ１２＝（ｎ／２＋１／４）Ｔｐ …（５）

【００７３】特に、ランドＬＡおよびグルーブＧＲの幅
が１：１であるランドグルーブ構造の場合は、ランドＬ
ＡとグルーブＧＲとの境界または略境界に副光スポット
Ｌ１，Ｌ２の中心部を配置する。

【００７４】光ディスク８０のチルトを示すチルト誤差
信号ＴＳは、図６の第１および第２の副受光部８Ｓ１，
８Ｓ２の出力信号から得られるプッシュプル信号ＰＰ
１，ＰＰ２の和（ＰＰ１＋ＰＰ２）から得ることができ
る。第１の副レーザ光のプッシュプル信号ＰＰ１＝ＳＣ
−ＳＤであり、第２の副レーザ光のプッシュプル信号Ｐ
Ｐ２＝ＳＥ−ＳＦであり、チルト誤差信号ＴＳは次式
（６）で表される。

【００７５】

【数６】 ＴＳ＝（ＳＣ−ＳＤ）＋（ＳＥ−ＳＦ） ＝ＰＰ１＋ＰＰ２ …（６）

【００７６】なお、主受光部８Ｓ０の出力信号から得ら
れる主レーザ光のプッシュプル信号ＰＰ０は、ＰＰ０＝
ＳＡｕ＋ＳＡｄ−ＳＢｕ−ＳＢｄであり、トラッキング
誤差信号ＴＥとして使用可能である。

【００７７】図８は、チルト誤差信号ＴＳとチルト角と
の関係を示す説明図であり、トラッキング誤差（デトラ
ック）が無い場合の説明図である。ここでは、各パラメ
ータの値を、θ＝０．７５度、ＮＡ＝０．６、λ＝４０
５ｎｍ、ｔ＝０．６ｍｍ、Ｔｐ＝０．７μｍとしてい
る。図８に示すように、チルト誤差信号ＴＳは、ディス
ク半径方向のチルト角が０度である場合に信号値が０に
なっており、良好な線形性を有する。また、チルト角の
正負に応じて符号が反転しており、好ましい特性が得ら
れている。

【００７８】図９は、チルト誤差信号ＴＳとチルト角と
の関係を示す説明図であり、トラッキング誤差（デトラ
ック）が有る場合と無い場合の説明図である。黒の丸印
は、デトラック量が０である場合を示している。黒の三
角印は、デトラック量が１０％である場合を示してお
り、副光スポットの大きさの１０％程度のトラッキング
誤差が生じた場合を示している。黒の四角印は、デトラ
ック量が−１０％である場合を示しており、副光スポッ
トの大きさの−１０％程度のトラッキング誤差が生じた
場合を示している。図９に示すように、チルト誤差信号
ＴＳは、±１０％のデトラックが生じた場合に、ディス
ク半径方向のチルト角は０．０５度程度の変化が生じ、
デトラックに対する変化が小さく、好ましい特性が得ら
れている。

【００７９】図１０は、図５に示す光ピックアップ５０
を有する光ディスク装置の実施の形態を示す概略的なブ
ロック構成図である。この光ディスク装置９０は、モー
タ３０と、モータ駆動回路３５と、チルト補正部３６
と、補償回路４０と、増幅回路４２と、光ピックアップ
５０と、増幅回路（ヘッドアンプ）５２と、レーザ駆動
回路５５と、生成回路６０と、情報検出回路６５と、チ
ルト検出回路６６と、制御回路７０とを有する。この光
ディスク装置９０は、光ディスク８０に記録されている
記録情報を再生する。

【００８０】また、光ディスク装置９０は、チルト検出
装置９５を有する。このチルト検出装置９５は、補償回
路４０と、増幅回路４２と、光ピックアップ５０と、増
幅回路５２と、レーザ駆動回路５５と、生成回路６０
と、情報検出回路６５と、チルト検出回路６６と、制御
回路７０とを有する。

【００８１】制御回路７０は、光ディスク装置９０の全
体の制御を司るコントローラであり、例えばマイクロコ
ンピュータ（マイコン）により構成する。この制御回路
７０は、モータ３０、モータ駆動回路３５、レーザ駆動
回路５５、光ピックアップ５０、補償回路４０、生成回
路６０、情報検出回路６５、チルト検出回路６６等を制
御する。

【００８２】光ピックアップ５０は、再生時において光
ディスク８０の再生箇所にレーザ光ＬＢを照射する。レ
ーザ駆動回路５５は、制御回路７０の制御下で駆動信号
ＳＬを生成してこの駆動信号ＳＬにより光ピックアップ
５０内の半導体レーザ４を駆動し、半導体レーザ４から
レーザ光ＬＢを出力させる。

【００８３】モータ３０は、例えば、スピンドルモータ
により構成され、光ディスク８０を所定の回転速度で回
転させる。このモータ３０は、一例として線速度が一定
になるように光ディスク８０を回転させる。

【００８４】モータ駆動回路３５は、モータ３０に駆動
電力を供給してモータ３０を駆動する。このモータ駆動
回路３５は、ＰＷＭ（Pulse Width Modulation）制御に
よりモータ３０の回転制御を行ってもよく、ＰＬＬ（Ph
ase Locked Loop ）制御により回転制御を行ってもよ
い。

【００８５】増幅回路５２は、光ピックアップ５０が有
する光検出器８の各受光部の出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，
ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜ＳＦを増幅して生成回路６０に
供給する。

【００８６】生成回路６０は、増幅回路５２からの増幅
された前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，
ＳＣ〜ＳＦに基づき、主レーザ光の反射光量に応じた再
生信号ＲＦ０と、第１および第２の副レーザ光のプッシ
ュプル信号ＰＰ１，ＰＰ２と、フォーカス誤差信号ＦＥ
と、トラッキング誤差信号ＴＥとを生成する。

【００８７】この生成回路６０は、例えば、増幅回路５
２からの前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ
の和に基づき、再生信号ＲＦ０（＝ＳＡｕ＋ＳＡｄ＋Ｓ
Ｂｕ＋ＳＢｄ）を生成する。また、増幅回路５２からの
前記出力信号ＳＣ，ＳＤの差に基づき、プッシュプル信
号ＰＰ１（＝ＳＣ−ＳＤ）を生成する。また、増幅回路
５２からの前記出力信号ＳＥ，ＳＦの差に基づき、プッ
シュプル信号ＰＰ２（＝ＳＥ−ＳＦ）を生成する。

【００８８】また、生成回路６０は、例えば、増幅回路
５２からの前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢ
ｄの対角線差に基づき、非点収差法によりフォーカス誤
差信号ＦＥ（＝ＳＡｕ＋ＳＢｄ−ＳＡｄ−ＳＢｕ）を生
成する。なお、生成回路６０は、主レーザ光のプッシュ
プル信号ＰＰ０（＝ＳＡｕ＋ＳＡｄ−ＳＢｄ−ＳＢｕ）
を生成し、当該プッシュプル信号ＰＰ０をトラッキング
誤差信号ＴＥとする。

【００８９】補償回路４０は、フォーカス誤差信号ＦＥ
およびトラッキング誤差信号ＴＥを補償（位相補償およ
び／または周波数補償）した補償信号を生成し、この補
償信号を増幅回路４２に供給する。

【００９０】増幅回路４２は、フォーカス誤差信号ＦＥ
の補償信号を増幅した駆動信号Ｓfeを、光ピックアップ
５０内のフォーカシング・アクチュエータ２Ｆに供給す
る。また、増幅回路４２は、トラッキング誤差信号ＴＥ
の補償信号を増幅した駆動信号Ｓteを、光ピックアップ
５０内のトラッキング・アクチュエータ２Ｔに供給す
る。

【００９１】チルト検出回路６６は、プッシュプル信号
ＰＰ１，ＰＰ２の和に基づいてチルトまたはチルト角を
検出する。具体的には、プッシュプル信号ＰＰ１，ＰＰ
２の和に基づいてチルト角に対応するチルト誤差信号Ｔ
Ｓ（＝ＰＰ１＋ＰＰ２）を生成し、このチルト誤差信号
ＴＳを制御回路７０に供給する。

【００９２】情報検出回路６５は、生成回路６０から再
生信号ＲＦ０が供給され、再生信号ＲＦ０の復調等を行
って光ディスク８０の記録情報を再生し、再生した記録
情報を出力信号Ｓｏとして出力する。また、情報検出回
路６５は、再生信号ＲＦ０から光ディスク８０のアドレ
スを検出し、当該アドレスに基づいて記録情報の再生を
行う。

【００９３】制御回路７０は、プッシュプル信号ＰＰ
１，ＰＰ２に基づいてクロストラック信号ＣＴ（＝ＰＰ
１−ＰＰ２）を生成し、信号ＣＴに基づいて主レーザ光
の光スポットの位置がトラック上にあるか否かを検出す
る。また、このクロストラック信号ＣＴは、シーク時等
のトラックを光スポットが横切る時などに参照される。

【００９４】チルト補正部３６は、光ディスク８０のチ
ルトを補正する。たとえば、制御回路７０は、チルト誤
差信号ＴＳに基づいて閉ループ制御によりチルト補正機
構を制御する。チルト補正部３６が、制御回路７０の制
御の下でチルトを補正することにより、チルト誤差信号
ＴＳは０になる。

【００９５】図１１は、光ディスク装置９０内のチルト
検出装置９５において、光ディスク８０のディスク半径
方向のチルトを検出する検出方法を示す概略的なフロー
チャートである。

【００９６】先ず、ステップＳ１１１では、光ピックア
ップ５０内の回折格子９は、半導体レーザ４からのレー
ザ光を回折させ、０次回折光からなる主レーザ光と、±
１次回折光からなる第１および第２の副レーザ光とを生
成する。第１および第２の副レーザ光は、光ディスク８
０にチルトが生じている場合における、光ディスク８０
で発生する波面収差による位相分布と等価または実質的
に等価な位相分布を有する。これらのレーザ光（主レー
ザ光ならびに第１および第２副レーザ光）は、ビームス
プリッタ３を介して対物レンズ２に供給される。

【００９７】ステップＳ１１２では、対物レンズ２は、
回折格子９からのレーザ光（主レーザ光ならびに第１お
よび第２の副レーザ光）を集光して光ディスク８０に供
給し、光ディスク８０にレーザ光を照射する。対物レン
ズ２は、主レーザ光を集光して光ディスク８０のトラッ
クに対して照射する。対物レンズ２によって集光された
前記レーザ光は、光ディスク８０で反射して対物レンズ
２を再度通過し、ビームスプリッタ３、集光レンズ６、
円筒レンズ７を経て光検出器８に供給される。

【００９８】ステップＳ１１３では、光検出器８は、光
ディスク８０で反射した主レーザ光ならびに第１および
第２の副レーザ光を受光部８Ｓ０〜８Ｓ２で受光して出
力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜ＳＦを
生成する。これらの出力信号は、増幅回路（ヘッドアン
プ）５２を介して生成回路６０に供給される。

【００９９】ステップＳ１１４では、生成回路６０は、
出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜ＳＦ
に基づき、主レーザ光の反射光量に応じた再生信号ＲＦ
０と、第１および第２の副レーザ光のプッシュプル信号
ＰＰ１，ＰＰ２とを生成する。なお、再生信号ＲＦ０は
情報検出回路６５に供給されて記録情報が抽出される。

【０１００】ステップＳ１１５では、チルト検出回路６
６は、第１および第２の副レーザ光のプッシュプル信号
ＰＰ１，ＰＰ２の和に基づいて光ディスク８０のチルト
またはチルト角を検出する。具体的には、プッシュプル
信号ＰＰ１，ＰＰ２の和に基づき、光ディスク８０のチ
ルト角に対応するチルト誤差信号ＴＳ（＝ＰＰ１＋ＰＰ
２）を生成する。

【０１０１】以上のようにして光ディスクのチルトを検
出する手法は、光ディスクの偏心が小さい場合に有効で
ある。光ディスクの偏心が大きい場合、偏心に応じて対
物レンズ２がディスク半径方向に移動して受光部上の光
スポットが移動し、偏心に応じたオフセットがチルト誤
差信号ＴＳに生じる。このため、チルト誤差信号ＴＳか
ら、偏心によるオフセットを除去することが望ましい。

【０１０２】チルト誤差信号ＴＳから、偏心によるオフ
セットを除去するには、光ピックアップ５０に対してさ
らに回折格子を追加する。そして、追加した回折格子に
より生成した回折光を用いて所定の演算を行う。

【０１０３】図１２は、図５の光ピックアップ５０に対
して回折格子１１を追加した光ピックアップ５１を示す
概略的な構成図である。なお、図１２の光ピックアップ
５１において、図５の光ピックアップ５０と同一構成部
分には同一符号を付しており、同一構成部分の説明を適
宜省略する。

【０１０４】この光ピックアップ５１は、半導体レーザ
４と、コリメータレンズ５と、回折格子９と、回折格子
１１と、ビームスプリッタ３と、対物レンズ２と、集光
レンズ６と、円筒レンズ７と、光検出器１８と、レンズ
ホルダ２Ｈと、フォーカシング・アクチュエータ２Ｆ
と、トラッキング・アクチュエータ２Ｔとを有する。

【０１０５】半導体レーザ４は、駆動信号ＳＬに基づい
て直線偏光のレーザ光を出力してコリメータレンズ５に
供給する。コリメータレンズ５は、半導体レーザ４から
のレーザ光を平行光にして回折格子９に供給する。

【０１０６】回折格子９は、コリメータレンズ５からの
レーザ光を、０次回折光からなる主レーザ光と、±１次
回折光からなる第１および第２の副レーザ光とに分離
し、これらのレーザ光（主レーザ光ならびに第１および
第２の副レーザ光）を回折格子１１に供給する。

【０１０７】回折格子１１は、例えば、直線状の平行な
溝が表面に平行に形成されたガラス基板からなり、回折
格子９からの各レーザ光を回折させる。そして、各レー
ザ光の０次回折光および±１次回折光を生成してビーム
スプリッタ３に供給する。具体的には、回折格子１１
は、回折格子９からの主レーザ光の０次回折光からなる
主レーザ回折光と、主レーザ光の±１次回折光からなる
第３および第４の副レーザ回折光とを生成する。

【０１０８】また、回折格子１１は、回折格子９からの
第１の副レーザ光の０次回折光からなる第１の副レーザ
回折光と、第１の副レーザ光の±１次回折光とを生成す
る。また、回折格子１１は、回折格子９からの第２の副
レーザ光の０次回折光からなる第２の副レーザ回折光
と、第２の副レーザ光の±１次回折光とを生成する。な
お、第１および第２の副レーザ光の±１次回折光は、主
レーザ回折光ならびに第３および第４の副レーザ回折光
に比べて、光強度が無視できる程度に小さい。

【０１０９】ビームスプリッタ３は、回折格子９，１１
からのレーザ光を通過させて対物レンズ２に供給する。
対物レンズ２は、ビームスプリッタ３からのレーザ光を
集光し、ランドおよび／またはグルーブを有する光ディ
スク８０に供給する。

【０１１０】また、対物レンズ２は、光ディスク８０で
反射したレーザ光をビームスプリッタ３に戻す。ビーム
スプリッタ３は、対物レンズ２からのレーザ光が入射さ
れ、入射されたレーザ光を反射して出射し、集光レンズ
６に供給する。集光レンズ６は、ビームスプリッタ３か
らのレーザ光を集光して円筒レンズ（シリンドリカルレ
ンズ）７に供給する。円筒レンズ７は、集光レンズ６か
らのレーザ光を通過させて光検出器１８に供給する。光
検出器１８は、円筒レンズ７からのレーザ光（主レーザ
回折光および第１〜第４の副レーザ回折光）を受光部で
受光して出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，Ｓ
Ｃ〜ＳＪを生成する。

【０１１１】図１３は、図１２中の光検出器１８の受光
部を示す概略的な構成図である。光検出器１８は、主受
光部８Ｓ０と、第１〜第４の副受光部８Ｓ１〜８Ｓ４と
を有する。光検出器１８には、後述するように、母線の
方向が主受光部８Ｓ０の分割線８Ｓｘ０または分割線８
Ｓｙ０の方向に対して約４５度もしくは約１３５度の角
度をなす円筒レンズ７を通過したレーザ光が入射され
る。したがって、入射されるレーザ光の各ビームは、そ
の母線を中心として線対称なビームとなる。ただし、主
レーザ光ならびに第１および第２の副レーザ光の各ビー
ムの位置関係は変わらない。そのため、光検出器１８の
受光部８Ｓ０〜８Ｓ４の各々は、各ビームの位置関係に
おいて光ディスク８０のトラック方向に対応する方向に
分割されており、ディスク半径方向のプッシュプル信号
または当該プッシュプル信号に対応する信号が検出可能
なように分割されている。主受光部８Ｓ０は、直交する
２つの分割線８Ｓｘ０，８Ｓｙ０により４等分割または
略４等分割されており、４個の分割領域８Ａｕ，８Ａ
ｄ，８Ｂｕ，８Ｂｄを有する。図１３の主受光部８Ｓ０
には、円筒レンズ７からの主レーザ回折光（の反射光）
により主光スポットＭＳが形成されている。

【０１１２】分割領域８Ａｕは、当該領域８Ａｕに供給
される主レーザ回折光の光量（反射光量）に応じた出力
信号ＳＡｕを生成する。分割領域８Ａｄは、当該領域８
Ａｄに供給される主レーザ回折光の光量に応じた出力信
号ＳＡｄを生成する。分割領域８Ｂｕは、当該領域８Ｂ
ｕに供給される主レーザ回折光の光量に応じた出力信号
ＳＢｕを生成する。分割領域８Ｂｄは、当該領域８Ｂｄ
に供給される主レーザ回折光の光量に応じた出力信号Ｓ
Ｂｄを生成する。

【０１１３】円筒レンズ７の母線の方向は、主受光部８
Ｓ０の分割線８Ｓｘ０または分割線８Ｓｙ０の方向に対
して約４５度もしくは約１３５度の角度をなす。本実施
の形態においては分割線８Ｓｙ０の方向に対して４５度
をなすものとする。光ディスク８０で反射した主レーザ
光が供給される主受光部８Ｓ０の分割線８Ｓｙ０は、主
レーザ光ビームの形状上においては光ディスク８０のト
ラック方向と平行または略平行になっており、主受光部
８Ｓ０を２等分割または略２等分割している。分割線８
Ｓｘ０，８Ｓｙ０の交点は、円筒レンズ７を通過した主
レーザ回折光の中心部または略中心部に位置する。

【０１１４】主受光部８Ｓ０に形成される光スポットＭ
Ｓの形状は、光ディスク８０と対物レンズ２との距離に
応じて対角方向に変化するので、分割領域８Ａｕ，８Ａ
ｄ，８Ｂｕ，８Ｂｄが生成する出力信号ＳＡｕ，ＳＡ
ｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄに基づき、非点収差法により光ディ
スク８０での焦点ズレを検出可能である。なお、受光部
８Ｓ０〜８Ｓ２が並ぶ方向と分割線８Ｓｙ０とがなす角
度が、前記方位βに一致または略一致している。

【０１１５】第１の副受光部８Ｓ１は、分割線８Ｓｙ１
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｃ，８Ｄを有する。図１３の第１の副受光部８
Ｓ１には、円筒レンズ７からの第１の副レーザ回折光に
より副光スポットＳＳ１が形成されている。分割領域８
Ｃは、当該領域８Ｃに供給される副レーザ回折光の光量
（反射光量）に応じた出力信号ＳＣを生成する。分割領
域８Ｄは、当該領域８Ｄに供給される副レーザ回折光の
光量に応じた出力信号ＳＤを生成する。第１の副受光部
８Ｓ１の中心部は、円筒レンズ７を通過した第１の副レ
ーザ回折光の中心部または略中心部に位置する。

【０１１６】第２の副受光部８Ｓ２は、分割線８Ｓｙ２
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｅ，８Ｆを有する。図１３の第２の副受光部８
Ｓ２には、円筒レンズ７からの第２の副レーザ回折光に
より副光スポットＳＳ２が形成されている。分割領域８
Ｅは、当該領域８Ｅに供給される副レーザ回折光の光量
（反射光量）に応じた出力信号ＳＥを生成する。分割領
域８Ｆは、当該領域８Ｆに供給される副レーザ回折光の
光量に応じた出力信号ＳＦを生成する。第２の副受光部
８Ｓ２の中心部は、円筒レンズ７を通過した第２の副レ
ーザ回折光の中心部または略中心部に位置する。分割線
８Ｓｙ０〜８Ｓｙ４は、互いに平行または略平行になっ
ている。

【０１１７】第３の副受光部８Ｓ３は、分割線８Ｓｙ３
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｇ，８Ｈを有する。図１３の第３の副受光部８
Ｓ３には、円筒レンズ７からの第３の副レーザ回折光に
より副光スポットＳＳ３が形成されている。分割領域８
Ｇは、当該領域８Ｇに供給される副レーザ回折光の光量
（反射光量）に応じた出力信号ＳＧを生成する。分割領
域８Ｈは、当該領域８Ｈに供給される副レーザ回折光の
光量に応じた出力信号ＳＨを生成する。第３の副受光部
８Ｓ３の中心部は、円筒レンズ７を通過した第３の副レ
ーザ回折光の中心部または略中心部に位置する。

【０１１８】第４の副受光部８Ｓ４は、分割線８Ｓｙ４
により２等分割または略２等分割されており、２個の分
割領域８Ｉ，８Ｊを有する。図１３の第４の副受光部８
Ｓ４には、円筒レンズ７からの第４の副レーザ回折光に
より副光スポットＳＳ４が形成されている。分割領域８
Ｉは、当該領域８Ｉに供給される副レーザ回折光の光量
（反射光量）に応じた出力信号ＳＩを生成する。分割領
域８Ｊは、当該領域８Ｊに供給される副レーザ回折光の
光量に応じた出力信号ＳＪを生成する。第４の副受光部
８Ｓ４の中心部は、円筒レンズ７を通過した第４の副レ
ーザ回折光の中心部または略中心部に位置する。

【０１１９】図１６は、光ディスクの記録面における光
スポットの配置を示す説明図である。光ディスク８０の
記録面には、ランドＬＡおよびグルーブＧＲが形成され
ており、グルーブＧＲはトラック案内溝を構成してい
る。光ディスク８０の記録面には、光量が大きい主レー
ザ回折光による主光スポットＭＢと、光量が小さい第１
〜第４の副レーザ回折光による第１〜第４の副光スポッ
トＬ１〜Ｌ４とが形成される。第１の副光スポットＬ１
は、メインローブに相当するスポットＬ１０と、サイド
ローブに相当するスポットＬ１１とを有する。第２の副
光スポットＬ２は、メインローブに相当するスポットＬ
２０と、サイドローブに相当するスポットＬ２１とを有
する。

【０１２０】主レーザ回折光は、主光スポットＭＢで反
射して光検出器１８の主受光部８Ｓ０に供給される。第
１の副レーザ回折光は、第１の副光スポットＬ１で反射
して光検出器１８の第１の副受光部８Ｓ１に供給され
る。スポットＬ１で反射した副レーザ回折光の中心部
は、第１の副受光部８Ｓ１の中心部または略中心部に位
置するようになっている。第２の副レーザ回折光は、第
２の副光スポットＬ２で反射して光検出器１８の第２の
副受光部８Ｓ２に供給される。スポットＬ２で反射した
副レーザ回折光の中心部は、第２の副受光部８Ｓ２の中
心部または略中心部に位置するようになっている。

【０１２１】第３の副レーザ回折光は、第３の副光スポ
ットＬ３で反射して光検出器１８の第３の副受光部８Ｓ
３に供給される。スポットＬ３で反射した副レーザ回折
光の中心部は、第３の副受光部８Ｓ３の中心部または略
中心部に位置するようになっている。第４の副レーザ回
折光は、第４の副光スポットＬ４で反射して光検出器１
８の第４の副受光部８Ｓ４に供給される。スポットＬ４
で反射した副レーザ回折光の中心部は、第４の副受光部
８Ｓ４の中心部または略中心部に位置するようになって
いる。前記光検出器１８の受光部８Ｓ０〜８Ｓ４は、分
割線８Ｓｙ０〜８Ｓｙ４により、ディスク半径方向のプ
ッシュプル信号を検出可能な構成となっている。

【０１２２】光ディスク８０の主光スポットＭＢから２
つの副光スポットＬ１，Ｌ２までの距離は等しく、前述
の角度αにより決まる。また、所望の位置に２つの副光
スポットＬ１，Ｌ２がある場合に、２つの副光スポット
Ｌ１，Ｌ２にディスク半径方向のディスク基板のチルト
により生じる位相分布と等価または実質的に等価な位相
分布が与えられるように、方位βが設定されている。す
なわち、主光スポットＭＢの中心部から２つの副光スポ
ットＬ１，Ｌ２の中心部までのディスク半径方向の距離
Ｄ１２は、グルーブＧＲのピッチＴｐと０以上の整数ｎ
とを用いて、上式（５）で表される。

【０１２３】また、主光スポットＭＢの中心部から２つ
の副光スポットＬ３，Ｌ４の中心部までのディスク半径
方向の距離Ｄ３４は、グルーブＧＲのピッチＴｐと０以
上の整数ｍとを用いて、次式（７）で表される。

【０１２４】

【数７】Ｄ３４＝（ｍ＋１／２）Ｔｐ …（７）

【０１２５】特に、ランドＬＡおよびグルーブＧＲの幅
が１：１であるランドグルーブ構造の場合は、グルーブ
ＧＲの中央部または略中央部に副光スポットＬ３，Ｌ４
の中心部を配置する。

【０１２６】光ディスク８０の偏心に応じた偏心信号Ｒ
Ｏは、主レーザ回折光のプッシュプル信号ＰＰ０と、第
３および第４の副レーザ回折光のプッシュプル信号ＰＰ
３，ＰＰ４とに基づき、次式（８）の演算から求まる。

【０１２７】

【数８】 ＲＯ＝ＳＡｕ＋ＳＡｄ−ＳＢｕ−ＳＢｄ＋ｋ（ＳＧ−ＳＨ＋ＳＩ−ＳＪ） ＝ＰＰ０＋ｋ（ＰＰ３＋ＰＰ４） …（８）

【０１２８】上式（８）において、主受光部８Ｓ０の主
スポットＭＳと副受光部８Ｓ３，８Ｓ４の副スポットＳ
Ｓ３，ＳＳ４との光強度の違いを補正係数ｋにより補正
することで、プッシュプル成分ＰＰ０とプッシュプル成
分ＰＰ３，ＰＰ４とが逆極性なので、偏心信号ＲＯを検
出することができる。この補正係数ｋは、次式（９）で
表される。

【０１２９】

【数９】 ｋ＝（ＳＡｕ＋ＳＡｄ＋ＳＢｕ＋ＳＢｄ）／（ＳＧ＋ＳＨ＋ＳＩ＋ＳＪ） ＝ＲＦ０／（ＲＦ３＋ＲＦ４） …（９）

【０１３０】そこで、前記チルト誤差信号ＴＳから、偏
心信号ＲＯに適当な係数ｋ０を乗じた信号（ｋ０×Ｒ
Ｏ）を減算することで、偏心によるオフセットを除去し
たチルト誤差信号ＴＳ０を得ることができる。このチル
ト誤差信号ＴＳ０は、次式（１０）で表される。

【０１３１】

【数１０】 ＴＳ０＝ＴＳ−ｋ０×ＲＯ ＝ＰＰ１＋ＰＰ２−ｋ０×｛ＰＰ０＋ｋ（ＰＰ３＋ＰＰ４）｝…（１０）

【０１３２】また、主光スポットＭＳと副光スポットＳ
Ｓ１，ＳＳ２との光強度を補正する補正係数ｋ０は、次
式（１１）で表される。

【０１３３】

【数１１】 ｋ０＝（ＳＣ＋ＳＤ＋ＳＥ＋ＳＦ）／｛２（ＳＡｕ＋ＳＡｄ＋ＳＢｕ＋ＳＢｄ） ｝ ＝（ＲＦ１＋ＲＦ２）／（２×ＲＦ０） …（１１）

【０１３４】図１５は、チルト誤差信号ＴＳ０とチルト
角との関係を示す説明図であり、偏心が有る場合と無い
場合の説明図であり、図８および図９の説明図と対応し
ている。黒の丸印は、偏心量が０である場合を示してい
る。黒の四角印は、偏心量が２０％である場合を示して
おり、対物レンズ２の大きさの２０％程度の偏心が生じ
た場合を示している。図１５に示すように、チルト誤差
信号ＴＳ０は、偏心が生じた場合にも好ましい特性が得
られる。

【０１３５】図１６は、図１２に示す光ピックアップ５
１を有する光ディスク装置の実施の形態を示す概略的な
ブロック構成図である。なお、図１６の光ディスク装置
９１では、図１０の光ディスク装置９０と同一構成部分
には同一符号を付しており、同一構成部分の説明を適宜
省略する。

【０１３６】この光ディスク装置９１は、モータ３０
と、モータ駆動回路３５と、チルト補正部３６と、補償
回路４０と、舗装増幅回路４２と、光ピックアップ５１
と、増幅回路（ヘッドアンプ）５３と、レーザ駆動回路
５５と、生成回路６１と、情報検出回路６５と、チルト
検出回路６７と、制御回路７１とを有する。この光ディ
スク装置９１は、光ディスク８０に記録されている記録
情報を再生する。

【０１３７】また、光ディスク装置９１は、チルト検出
装置９６を有する。このチルト検出装置９６は、補償回
路４０と、増幅回路４２と、光ピックアップ５１と、増
幅回路５３と、レーザ駆動回路５５と、生成回路６１
と、情報検出回路６５と、チルト検出回路６７と、制御
回路７１とを有する。

【０１３８】制御回路７１は、光ディスク装置９１の全
体の制御を司るコントローラであり、例えばマイクロコ
ンピュータ（マイコン）により構成する。この制御回路
７１は、モータ３０、モータ駆動回路３５、レーザ駆動
回路５５、光ピックアップ５１、補償回路４０、生成回
路６１、情報検出回路６５、チルト検出回路６７等を制
御する。

【０１３９】光ピックアップ５１は、再生時において光
ディスク８０の再生箇所にレーザ光ＬＢを照射する。レ
ーザ駆動回路５５は、制御回路７１の制御下で駆動信号
ＳＬを生成してこの駆動信号ＳＬにより光ピックアップ
５１内の半導体レーザ４を駆動し、半導体レーザ４から
レーザ光ＬＢを出力させる。

【０１４０】増幅回路５３は、光ピックアップ５１が有
する光検出器１８の各受光部の出力信号ＳＡｕ，ＳＡ
ｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜ＳＪを増幅して生成回路６
１に供給する。

【０１４１】生成回路６１は、増幅回路５３からの増幅
された前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，
ＳＣ〜ＳＪに基づき、主レーザ回折光の反射光量に応じ
た再生信号ＲＦ０と、第１〜第４の副レーザ回折光の反
射光量に応じた再生信号ＲＦ１〜ＲＦ４を生成する。ま
た、生成回路６１は、主レーザ回折光のプッシュプル信
号ＰＰ０と、第１〜第４の副レーザ回折光のプッシュプ
ル信号ＰＰ１〜ＰＰ４を生成する。また、生成回路６１
は、フォーカス誤差信号ＦＥとトラッキング誤差信号Ｔ
Ｅとを生成する。

【０１４２】生成回路６１は、例えば、増幅回路５３か
らの前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄの和
に基づき、再生信号ＲＦ０（＝ＳＡｕ＋ＳＡｄ＋ＳＢｕ
＋ＳＢｄ）を生成する。また、前記出力信号ＳＣ，ＳＤ
の和に基づき、再生信号ＲＦ１（＝ＳＣ＋ＳＤ）を生成
する。また、前記出力信号ＳＥ，ＳＦの和に基づき、再
生信号ＲＦ２（＝ＳＥ＋ＳＦ）を生成する。また、前記
出力信号ＳＧ，ＳＨの和に基づき、再生信号ＲＦ３（＝
ＳＧ＋ＳＨ）を生成する。また、前記出力信号ＳＩ，Ｓ
Ｊの和に基づき、再生信号ＲＦ４（＝ＳＩ＋ＳＪ）を生
成する。

【０１４３】生成回路６１は、例えば、増幅回路５３か
らの前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄと出力信号ＳＢｕ，Ｓ
Ｂｄとの差に基づき、プッシュプル信号ＰＰ０（＝ＳＡ
ｕ＋ＳＡｄ−ＳＢｕ−ＳＢｄ）を生成する。また、前記
出力信号ＳＣ，ＳＤの差に基づき、プッシュプル信号Ｐ
Ｐ１（＝ＳＣ−ＳＤ）を生成する。また、前記出力信号
ＳＥ，ＳＦの差に基づき、プッシュプル信号ＰＰ２（＝
ＳＥ−ＳＦ）を生成する。また、前記出力信号ＳＧ，Ｓ
Ｈの差に基づき、プッシュプル信号ＰＰ３（＝ＳＧ−Ｓ
Ｈ）を生成する。また、前記出力信号ＳＩ，ＳＪの差に
基づき、プッシュプル信号ＰＰ４（＝ＳＩ−ＳＪ）を生
成する。

【０１４４】また、生成回路６１は、例えば、増幅回路
５３からの前記出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢ
ｄの対角線差に基づき、非点収差法によりフォーカス誤
差信号ＦＥ（＝ＳＡｕ＋ＳＢｄ−ＳＡｄ−ＳＢｕ）を生
成する。なお、生成回路６１は、プッシュプル信号ＰＰ
０をトラッキング誤差信号ＴＥとする。

【０１４５】チルト検出回路６７は、プッシュプル信号
ＰＰ１，ＰＰ２の和と偏心成分とに基づいてチルトまた
はチルト角を検出する。具体的には、プッシュプル信号
ＰＰ１，ＰＰ２の和と偏心信号ＲＯとの差に基づいてチ
ルト角に対応するチルト誤差信号ＴＳ０を上式（８）〜
（１１）の演算から生成し、生成したチルト誤差信号Ｔ
Ｓ０を制御回路７１に供給する。

【０１４６】情報検出回路６５は、生成回路６１から再
生信号ＲＦ０が供給され、再生信号ＲＦ０の復調等を行
って光ディスク８０の記録情報を再生し、再生した記録
情報を出力信号Ｓｏとして出力する。また、情報検出回
路６５は、再生信号ＲＦ０から光ディスク８０のアドレ
スを検出し、当該アドレスに基づいて記録情報の再生を
行う。

【０１４７】制御回路７１は、プッシュプル信号ＰＰ
１，ＰＰ２に基づいてクロストラック信号ＣＴ（＝ＰＰ
１−ＰＰ２）を生成し、信号ＣＴに基づいて主レーザ回
折光の光スポットの位置がトラック上にあるか否かを検
出する。また、このクロストラック信号ＣＴは、シーク
時等のトラックを光スポットが横切る時などに参照され
る。

【０１４８】チルト補正部３６は、光ディスク８０のチ
ルトを補正する。たとえば、制御回路７１は、チルト誤
差信号ＴＳに基づいて閉ループ制御によりチルト補正機
構を制御する。チルト補正部３６が、制御回路７１の制
御の下でチルトを補正することにより、チルト誤差信号
ＴＳは０になる。

【０１４９】図１７は、光ディスク装置９１内のチルト
検出装置９６において、光ディスク８０のディスク半径
方向のチルトを検出する検出方法を示す概略的なフロー
チャートである。

【０１５０】先ず、ステップＳ１２１では、光ピックア
ップ５１内の回折格子９は、半導体レーザ４からのレー
ザ光を回折させ、０次回折光からなる主レーザ光と、±
１次回折光からなる第１および第２の副レーザ光とを生
成する。第１および第２の副レーザ光は、光ディスク８
０にチルトが生じている場合における、光ディスク８０
で発生する波面収差による位相分布と等価または実質的
に等価な位相分布を有する。これらのレーザ光（主レー
ザ光ならびに第１および第２副レーザ光）は、回折格子
１１に供給される。

【０１５１】ステップＳ１２２では、回折格子１１は、
回折格子９からの主レーザ光を回折させて０次回折光か
らなる主レーザ回折光と、±１次回折光からなる第３お
よび第４の副レーザ回折光とを生成する。また、回折格
子１１は、回折格子９からの第１の副レーザ光を回折さ
せて０次回折光からなる第１の副レーザ回折光を生成す
ると共に、回折格子９からの第２の副レーザ光を回折さ
せて０次回折光からなる第２の副レーザ回折光を生成す
る。これらのレーザ光（主レーザ回折光および第１〜第
４の副レーザ回折光）は、ビームスプリッタ３を介して
対物レンズ２に供給される。なお、第１および第２の副
レーザ回折光は、光ディスク８０にチルトが生じている
場合における、光ディスク８０で発生する波面収差によ
る位相分布と等価または実質的に等価な位相分布を有す
る。

【０１５２】ステップＳ１２３では、対物レンズ２は、
回折格子９，１１からのレーザ光（主レーザ回折光およ
び第１〜第４の副レーザ回折光）を集光して光ディスク
８０に供給し、前記レーザ光を光ディスク８０に照射す
る。対物レンズ２は、主レーザ回折光を集光して光ディ
スク８０のトラックに対して照射する。対物レンズ２に
よって集光された前記レーザ光は、光ディスク８０で反
射して対物レンズ２を再度通過し、ビームスプリッタ
３、集光レンズ６、円筒レンズ７を経て光検出器１８に
供給される。

【０１５３】ステップＳ１２４では、光検出器１８は、
光ディスク８０で反射した主レーザ回折光および第１〜
第４の副レーザ回折光を受光部８Ｓ０〜８Ｓ４で受光し
て出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜Ｓ
Ｊを生成する。これらの出力信号は、増幅回路（ヘッド
アンプ）５３を介して生成回路６１に供給される。

【０１５４】ステップＳ１２５では、生成回路６１は、
出力信号ＳＡｕ，ＳＡｄ，ＳＢｕ，ＳＢｄ，ＳＣ〜ＳＪ
に基づき、主レーザ回折光、第１〜第４の副レーザ回折
光の反射光量に応じた再生信号ＲＦ０，ＲＦ１〜ＲＦ４
を生成する。また、生成回路６１は、主レーザ回折光、
第１〜第４の副レーザ回折光のプッシュプル信号ＰＰ
０，ＰＰ１〜ＰＰ４を生成する。

【０１５５】ステップＳ１２６では、チルト検出回路６
７は、第１および第２の副レーザ回折光のプッシュプル
信号ＰＰ１，ＰＰ２の和と偏心信号ＲＯとに基づいて光
ディスク８０のチルトまたはチルト角を検出する。具体
的には、プッシュプル信号ＰＰ１，ＰＰ２の和と偏心信
号ＲＯとの差に基づき、光ディスク８０のチルト角に対
応するチルト誤差信号ＴＳ０（＝ＰＰ１＋ＰＰ２−ｋ０
×ＲＯ）を生成する。

【０１５６】以上のような光ピックアップ５１であれ
ば、光ディスクの返信が大きい場合であっても、適切に
光ディスクのチルトを検出することができる。

【０１５７】なお、上記実施の形態は本発明の例示であ
り、本発明は上記実施の形態に限定されない。たとえ
ば、光ピックアップ５１において、回折格子９と回折格
子１１とを互いに入れ換えた配置としてもよい。

【０１５８】また、図１０のチルト検出装置９５におい
て、チルト検出回路６６は、光ピックアップ５０内の中
点センサ１２からの検出信号ＳＲに基づき、光ディスク
８０の偏心に応じた偏心信号ＲＱを検出し、プッシュプ
ル信号ＰＰ１，ＰＰ２の和と当該偏心信号ＲＱとの差に
基づいてチルト誤差信号ＴＳ’を生成する構成とし、こ
のチルト誤差信号ＴＳ’を制御回路７０に供給してもよ
い。例えば、検出信号ＳＲから光ディスク８０の回転周
期に応じた周波数成分を抽出し、抽出した周波数成分に
基づいて偏心信号ＲＱを生成する。この場合、図１１の
フローチャートは、前記偏心信号ＲＱを生成する工程を
有し、ステップＳ１１５では、チルト検出回路６６は、
プッシュプル信号ＰＰ１，ＰＰ２の和と前記偏心信号Ｒ
Ｑとの差に基づいてチルトまたはチルト角の検出を行
う。

【０１５９】

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、回折光を用いて光ディスクのチルトを検出可能なチ
ルト検出装置およびチルト検出方法と、前記チルト検出
装置で使用可能な光ピックアップ、および光ディスク装
置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】光ディスクに形成された光スポットの光強度と
位置との関係を例示する説明図である。

【図２】ディスク半径方向のチルト角と、±１次回折光
のプッシュプル信号と、±１次回折光のプッシュプル信
号の和との関係を示す特性図である。

【図３】計算機ホログラム技術を用いて計算された干渉
縞を例示する説明図である。

【図４】図３の干渉縞に基づいて作成された回折格子を
例示する構成図である。

【図５】図４の回折格子９を有する光ピックアップを示
す概略的な構成図である。

【図６】図５中の光検出器８の受光部を示す概略的な構
成図である。

【図７】光ディスクの記録面における光スポットの配置
を示す説明図である。

【図８】チルト誤差信号ＴＳとチルト角との関係を示す
説明図であり、トラッキング誤差（デトラック）が無い
場合の説明図である。

【図９】チルト誤差信号ＴＳとチルト角との関係を示す
説明図であり、トラッキング誤差（デトラック）が有る
場合と無い場合とを示す説明図である。

【図１０】図５に示す光ピックアップ５０を有する光デ
ィスク装置の実施の形態を示す概略的なブロック構成図
である。

【図１１】図１０の光ディスク装置９０内のチルト検出
装置９５において、光ディスク８０のディスク半径方向
のチルトを検出するチルト検出方法を示す概略的なフロ
ーチャートである。

【図１２】図５の光ピックアップ５０に対して回折格子
１１を追加した光ピックアップ５１を示す概略的な構成
図である。

【図１３】図１２中の光検出器１８の受光部を示す概略
的な構成図である。

【図１４】光ディスクの記録面における光スポットの配
置を示す説明図である。

【図１５】チルト誤差信号ＴＳ０とチルト角との関係を
示す説明図であり、偏心が有る場合と無い場合とを示す
説明図である。

【図１６】図１２の光ピックアップ５１を有する光ディ
スク装置の実施の形態を示す概略的なブロック構成図で
ある。

【図１７】図１６の光ディスク装置９１内のチルト検出
装置９６において、光ディスク８０のディスク半径方向
のチルトを検出するチルト検出方法を示す概略的なフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

２…対物レンズ、２Ｆ…フォーカシング・アクチュエー
タ、２Ｈ…レンズホルダ、２Ｔ…トラッキング・アクチ
ュエータ、３…ビームスプリッタ、４…半導体レーザ
（レーザ）、５…コリメータレンズ、６…集光レンズ、
７…円筒レンズ、８，１８…光検出器、８Ｓ０…主受光
部、８Ｓ１〜８Ｓ４…第１〜第４の副受光部、８Ｓｘ
０，８Ｓｙ０〜８Ｓｙ４…分割線、９…回折格子（第１
の回折格子）、１１…回折格子（第２の回折格子）、１
２…中点センサ（位置センサ）、３０…モータ、３５…
モータ駆動回路、３６…チルト補正部、４０…補償回
路、４２…増幅回路、５０，５１…光ピックアップ、５
２，５３…増幅回路（ヘッドアンプ）、５５…レーザ駆
動回路、６０，６１…生成回路、６５…情報検出回路、
６６，６７…チルト検出回路（検出回路）、７０，７１
…制御回路、８０…光ディスク、９０，９１…光ディス
ク装置、９５，９６…チルト検出装置、ＦＥ…フォーカ
ス誤差信号、ＧＲ…グルーブ、Ｌ１〜Ｌ４，ＬＡ…ラン
ド、ＳＳ１〜ＳＳ４…副光スポット、ＬＢ…レーザ光、
ＭＢ，ＭＳ…主光スポット、ＰＰ０〜ＰＰ４…プッシュ
プル信号、ＲＦ０〜ＲＦ４…再生信号、ＴＥ…トラッキ
ング誤差信号、Ｔｐ…ピッチ、ＴＳ，ＴＳ０…チルト誤
差信号、β…方位。

Claims (28)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】レーザ光を出力するレーザと、 前記レーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光お
   よび当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じ
   ている場合における当該光ディスクの波面収差と実質的
   に等価な位相分布を有する±１次回折光を生成する回折
   格子と、 前記０次回折光および±１次回折光を集光し、トラック
   案内溝が形成された光ディスクに対して照射する対物レ
   ンズと、 前記光ディスクで反射した前記±１次回折光に応じた信
   号を受光し、当該各光に応じた信号を生成する光検出器
   とを有する光ピックアップ。
2. 【請求項２】前記対物レンズは、 前記０次回折光を集光して、前記光ディスクのトラック
   に対して照射し、 前記±１次回折光を集光して、各々、光スポットの中心
   の前記０次回折光の光スポットの中心からのディスク半
   径方向の距離が、前記トラックのピッチの（ｎ／２＋１
   ／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もしくは略同一と
   なる前記光ディスクの位置に対して照射する請求項１記
   載の光ピックアップ。
3. 【請求項３】前記±１次回折光の一方が有する前記位相
   分布は、前記光ディスクのチルト角が正の一定角度であ
   る場合に発生する位相分布であり、 前記±１次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記
   光ディスクのチルト角が負の前記一定角度である場合に
   発生する位相分布である請求項１記載の光ピックアッ
   プ。
4. 【請求項４】前記対物レンズを前記光ディスクの偏心に
   応じてディスク半径方向に移動させるアクチュエータ
   と、 前記対物レンズのディスク半径方向の移動量または変動
   量を検出する位置センサとをさらに有する請求項１記載
   の光ピックアップ。
5. 【請求項５】レーザ光を出力するレーザと、 前記レーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光で
   ある主レーザ光および当該レーザ光照射対象の光ディス
   クにチルトが生じている場合における当該光ディスクの
   波面収差と実質的に等価な位相分布を有する±１次回折
   光である第１および第２の副レーザ光とを生成する第１
   の回折格子と、 前記主レーザ光を回折させて０次回折光である主レーザ
   回折光と±１次回折光である第３および第４の副レーザ
   回折光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ光を
   各々回折させて０次回折光である第１および第２の副レ
   ーザ回折光を生成する第２の回折格子と、 前記主レーザ回折光および第１〜第４の副レーザ回折光
   を集光し、トラック案内溝が形成された光ディスクに対
   して照射する対物レンズと、 前記光ディスクで反射した前記主レーザ回折光および第
   １〜第４の副レーザ回折光に応じた信号を受光し、当該
   各光に応じた信号を生成する光検出器とを有する光ピッ
   クアップ。
6. 【請求項６】前記対物レンズは、 前記主レーザ回折光を集光して前記光ディスクのトラッ
   クに対して照射し、 前記第１および第２の副レーザ回折光を集光して、各
   々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光の光スポッ
   トの中心からのディスク半径方向の距離が、前記トラッ
   クのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上の整
   数）と同一もしくは略同一となる前記光ディスクの位置
   に対して照射する請求項５記載の光ピックアップ。
7. 【請求項７】前記主レーザ回折光の光スポットの中心部
   から前記第３および第４の副レーザ回折光の光スポット
   の中心部までのディスク半径方向の距離は、前記トラッ
   クのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０以上の整数）と
   同一もしくは略同一である請求項６記載の光ピックアッ
   プ。
8. 【請求項８】前記第１および第２の副レーザ回折光の一
   方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチルト角
   が正の一定角度である場合に発生する位相分布であり、 前記第１および第２の副レーザ回折光の他方が有する前
   記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が負の前記一
   定角度である場合に発生する位相分布である請求項５記
   載の光ピックアップ。
9. 【請求項９】前記波面収差は、前記光ディスクの透明基
   板で生じるコマ収差である請求項５記載の光ピックアッ
   プ。
10. 【請求項１０】レーザ光を出力するレーザと、 前記レーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光お
    よび当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じ
    ている場合における当該光ディスクの波面収差と実質的
    に等価な位相分布を有する±１次回折光を生成する回折
    格子と、 前記０次回折光および±１次回折光を集光し、トラック
    案内溝が形成された光ディスクに対して照射する対物レ
    ンズと、 前記光ディスクで反射した前記±１次回折光に応じた信
    号を受光し、当該各光に応じた信号を生成する光検出器
    と前記生成された信号に基づいて、前記受光した前記±
    １次回折光各々のプッシュプル信号を生成する信号生成
    回路と、 前記±１次回折光のプッシュプル信号の和に基づいて前
    記光ディスクの傾きを検出するチルト検出回路とを有す
    るチルト検出装置。
11. 【請求項１１】前記対物レンズは、 前記０次回折光を集光して、前記光ディスクのトラック
    に対して照射し、 前記±１次回折光を集光して、各々、光スポットの中心
    の前記０次回折光の光スポットの中心からのディスク半
    径方向の距離が、前記トラックのピッチの（ｎ／２＋１
    ／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もしくは略同一と
    なる前記光ディスクの位置に対して照射する請求項１０
    記載のチルト検出装置。
12. 【請求項１２】前記±１次回折光の一方が有する前記位
    相分布は、前記光ディスクのチルト角が正の一定角度で
    ある場合に発生する位相分布であり、 前記±１次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記
    光ディスクのチルト角が負の前記一定角度である場合に
    発生する位相分布である請求項１０記載のチルト検出装
    置。
13. 【請求項１３】前記光検出器は、前記光ディスクで反射
    した前記±１次回折光の各々を受光する受光部であっ
    て、前記受光する回折光における前記光ディスクのディ
    スク半径方向に対応する方向に分割された複数の受光領
    域を有する受光部を有し、 前記信号生成回路は、前記各受光部の各受光領域の出力
    信号に基づいて、前記±１次回折光の各プッシュプル信
    号を各々生成する請求項１０記載のチルト検出装置。
14. 【請求項１４】前記対物レンズを前記光ディスクの偏心
    に応じてディスク半径方向に移動させるアクチュエータ
    と、 前記対物レンズのディスク半径方向の移動量または変動
    量を検出する位置センサとをさらに有し、 前記チルト検出回路は、前記位置センサが検出した前記
    移動量または変動量に基づいて前記光ディスクの偏心に
    応じた偏心信号を生成し、前記±１次回折光のプッシュ
    プル信号の和と前記偏心信号との差に基づき、前記光デ
    ィスクの傾きを検出する請求項１０記載のチルト検出装
    置。
15. 【請求項１５】レーザ光を出力するレーザと、 前記レーザからのレーザ光を回折させて、０次回折光で
    ある主レーザ光および当該レーザ光照射対象の光ディス
    クにチルトが生じている場合における当該光ディスクの
    波面収差と実質的に等価な位相分布を有する±１次回折
    光である第１および第２の副レーザ光とを生成する第１
    の回折格子と、 前記主レーザ光を回折させて０次回折光である主レーザ
    回折光と±１次回折光である第３および第４の副レーザ
    回折光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ光を
    各々回折させて０次回折光である第１および第２の副レ
    ーザ回折光を生成する第２の回折格子と、 前記主レーザ回折光および第１〜第４の副レーザ回折光
    を集光し、トラック案内溝が形成された光ディスクに対
    して照射する対物レンズと、 前記光ディスクで反射した前記主レーザ回折光および第
    １〜第４の副レーザ回折光に応じた信号を受光し、当該
    各光に応じた信号を生成する光検出器と前記生成された
    信号に基づいて、前記受光した前記主レーザ回折光およ
    び第１〜第４の副レーザ回折光各々のプッシュプル信号
    を生成する信号生成回路と、 前記主レーザ回折光ならびに第３および第４の副レーザ
    回折光のプッシュプル信号に基づいて前記光ディスクの
    偏心に応じた偏心信号を生成し、前記第１および第２の
    副レーザ回折光のプッシュプル信号の和と前記偏心信号
    との差に基づいて前記光ディスクの傾きを検出するチル
    ト検出回路とを有するチルト検出装置。
16. 【請求項１６】前記対物レンズは、 前記主レーザ回折光を集光して前記光ディスクのトラッ
    クに対して照射し、 前記第１および第２の副レーザ回折光を集光して、各
    々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光の光スポッ
    トの中心からのディスク半径方向の距離が、前記トラッ
    クのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上の整
    数）と同一もしくは略同一となる前記光ディスクの位置
    に対して照射する請求項１５記載のチルト検出装置。
17. 【請求項１７】前記主レーザ回折光の光スポットの中心
    部から前記第３および第４の副レーザ回折光の光スポッ
    トの中心部までのディスク半径方向の距離は、前記トラ
    ックのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０以上の整数）
    と同一もしくは略同一である請求項１６記載のチルト検
    出装置。
18. 【請求項１８】前記第１および第２の副レーザ回折光の
    一方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチルト
    角が正の一定角度である場合に発生する位相分布であ
    り、 前記第１および第２の副レーザ回折光の他方が有する前
    記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が負の前記一
    定角度である場合に発生する位相分布である請求項１５
    記載のチルト検出装置。
19. 【請求項１９】前記光検出器は、前記光ディスクで反射
    した前記主レーザ回折光および第１〜第４の副レーザ回
    折光の各々を受光する受光部であって、前記受光する回
    折光における前記光ディスクのディスク半径方向に対応
    する方向に分割された複数の受光領域を有する受光部を
    有し、 前記信号生成回路は、前記各受光部の各受光領域の出力
    信号に基づいて、前記主レーザ回折光および第１〜第４
    の副レーザ回折光のプッシュプル信号を各々生成する請
    求項１５記載のチルト検出装置。
20. 【請求項２０】レーザ光を回折させて０次回折光および
    当該レーザ光照射対象の光ディスクにチルトが生じてい
    る場合における当該光ディスクの波面収差と実質的に等
    価な位相分布を有する±１次回折光を生成する工程と、 前記生成した前記０次回折光および±１次回折光を、ト
    ラック案内溝が形成された光ディスクに対して照射する
    工程と、 前記光ディスクで反射した前記±１次回折光のプッシュ
    プル信号を生成する工程と、 前記±１次回折光のプッシュプル信号の和に基づいて前
    記光ディスクの傾きを検出する工程とを有するチルト検
    出方法。
21. 【請求項２１】前記照射する工程では、 前記０次回折光を集光して、前記光ディスクのトラック
    に対して照射し、 前記±１次回折光を集光して、各々、光スポットの中心
    の前記０次回折光の光スポットの中心からのディスク半
    径方向の距離が、前記トラックのピッチの（ｎ／２＋１
    ／４）倍（ｎは０以上の整数）と同一もしくは略同一と
    なる前記光ディスクの位置に対して照射する請求項２０
    記載のチルト検出方法。
22. 【請求項２２】前記±１次回折光の一方が有する前記位
    相分布は、前記光ディスクのチルト角が正の一定角度で
    ある場合に発生する位相分布であり、 前記±１次回折光の他方が有する前記位相分布は、前記
    光ディスクのチルト角が負の前記一定角度である場合に
    発生する位相分布である請求項２０記載のチルト検出方
    法。
23. 【請求項２３】前記光ディスクの偏心に応じた偏心信号
    を生成する工程をさらに有し、 前記検出する工程では、前記±１次回折光のプッシュプ
    ル信号の和と前記偏心信号との差に基づいて前記光ディ
    スクの傾きを検出する請求項２０記載のチルト検出方
    法。
24. 【請求項２４】レーザ光を回折させて、０次回折光であ
    る主レーザ光および当該レーザ光照射対象の光ディスク
    にチルトが生じている場合における当該光ディスクの波
    面収差と実質的に等価な位相分布を有する±１次回折光
    である第１および第２の副レーザ光とを生成する工程
    と、 前記主レーザ光を回折させ、０次回折光からなる主レー
    ザ回折光と±１次回折光からなる第３および第４の副レ
    ーザ回折光とを生成し、前記第１および第２の副レーザ
    光を回折させて０次回折光からなる第１および第２の副
    レーザ回折光を生成する工程と、 前記主レーザ回折光および第１〜第４の副レーザ回折光
    を、トラック案内溝が形成された光ディスクに対して照
    射する工程と、 前記光ディスクで反射した前記主レーザ回折光および第
    １〜第４の副レーザ回折光のプッシュプル信号を生成す
    る工程と、 前記主レーザ回折光ならびに第３および第４の副レーザ
    回折光のプッシュプル信号に基づいて前記光ディスクの
    偏心に応じた偏心信号を生成し、前記第１および第２の
    副レーザ回折光のプッシュプル信号の和と前記偏心信号
    との差に基づいて前記光ディスクの傾きを検出する工程
    とを有するチルト検出方法。
25. 【請求項２５】前記照射する工程では、前記主レーザ回
    折光を集光して前記光ディスクのトラックに対して照射
    し、 前記第１および第２の副レーザ回折光を集光して、各
    々、光スポットの中心の前記主レーザ回折光の光スポッ
    トの中心からのディスク半径方向の距離が、前記トラッ
    クのピッチの（ｎ／２＋１／４）倍（ｎは０以上の整
    数）と同一もしくは略同一となる前記光ディスクの位置
    に対して照射する請求項２４記載のチルト検出方法。
26. 【請求項２６】前記主レーザ回折光の光スポットの中心
    部から前記第３および第４の副レーザ回折光の光スポッ
    トの中心部までのディスク半径方向の距離は、前記トラ
    ックのピッチの（ｍ＋１／２）倍（ｍは０以上の整数）
    と同一もしくは略同一である請求項２５記載のチルト検
    出方法。
27. 【請求項２７】前記第１および第２の副レーザ回折光の
    一方が有する前記位相分布は、前記光ディスクのチルト
    角が正の一定角度である場合に発生する位相分布であ
    り、 前記第１および第２の副レーザ回折光の他方が有する前
    記位相分布は、前記光ディスクのチルト角が負の前記一
    定角度である場合に発生する位相分布である請求項２４
    記載のチルト検出方法。
28. 【請求項２８】レーザからのレーザ光を回折させて、０
    次回折光および当該レーザ光照射対象の光ディスクにチ
    ルトが生じている場合における当該光ディスクの波面収
    差と実質的に等価な位相分布を有する±１次回折光を生
    成し、前記０次回折光および±１次回折光を光ディスク
    に照射し、当該照射した光の前記光ディスクからの反射
    光を受光し、当該各光に応じた信号を生成する光ピック
    アップと、 前記生成された信号に基づいて、少なくとも前記受光し
    た前記±１次回折光各々のプッシュプル信号を生成する
    信号生成回路と、 前記±１次回折光のプッシュプル信号の和に基づいて前
    記光ディスクの傾きを検出するチルト検出回路と、 前記検出されたチルトに基づいて、前記光ディスクのチ
    ルトを補正するチルト補正機構とを有する光ディスク装
    置。