JP2001286124A - ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路 - Google Patents

ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路

Info

Publication number
JP2001286124A
JP2001286124A JP2000095167A JP2000095167A JP2001286124A JP 2001286124 A JP2001286124 A JP 2001286124A JP 2000095167 A JP2000095167 A JP 2000095167A JP 2000095167 A JP2000095167 A JP 2000095167A JP 2001286124 A JP2001286124 A JP 2001286124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
voltage
predetermined
signal
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000095167A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Watanabe
幸夫 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2000095167A priority Critical patent/JP2001286124A/ja
Publication of JP2001286124A publication Critical patent/JP2001286124A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 IG半導体素子を駆動するゲート駆動回路に
おいて、ノイズの影響を受けにくく、しかもオン時のス
イッチング損失増大を防止する。 【解決手段】 IG半導体素子10のゲートにオフゲー
ト信号を与える変調器17AをこのIG半導体素子10
のスイッチング速度よりも高速の高周波のオン、オフ信
号で駆動してそのデューティを制御するによってゲート
駆動電圧を平均値に制御する。これにより、通常オフ時
などで、ゲート抵抗を大きめで使用する場合には、デュ
ーティを小さくしてスイッチングを遅くしサージ電圧の
発生を防ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁ゲート型半導
体素子を使用した電力変換装置のゲート駆動方法及びゲ
ート駆動制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】電力用半導体素子は、そのゲート駆動方
法として電流駆動型と電圧駆動型に分けられる。電流駆
動型には、従来からサイリスタやゲートターンオフサイ
リスタ(GTO)、トランジスタがある。これらの大電
力用素子はいずれもゲート電流として1A〜数A、GT
Oでは数十〜数百Aの電流が必要である。一方、MOS
型ゲート構造を有する絶縁ゲート型半導体素子、例え
ば、MOS−FET、IGBT(Insulated
Gate Bipolar Transistor)、
IEGT(Injection Enhanced G
ate Transistor)は電圧駆動型であり、
ゲート容量のキャパシタンスを充電・放電する電流がオ
ン、オフ切り替え時に瞬間的に流れるが、定常時はゲー
ト電流が流れない。したがって、ゲートパワーは非常に
小さくできる。またMOS構造特有の高速動作が可能で
ある。これらのことから、近年では、この種の電圧駆動
型の半導体素子の開発が進められ、高圧大電流(例えば
4.5kV−1000A級)の絶縁ゲート型半導体素子
が開発されている。
【0003】通常、IGBT,IEGTなどのゲート駆
動回路では、直流電圧をトランジスタやMOS−FET
のスイッチング素子によりゲート抵抗を介してゲート、
エミッタ間に正負の電圧を供給することで、IGBT,
IEGTのオン、オフの制御を行っている。
【0004】図13は絶縁ゲート型半導体素子を駆動す
る従来のゲート駆動回路を簡単化して示している。絶縁
ゲート型半導体素子(IG半導体素子)10のゲートG
は、ゲート抵抗11を介してオン、オフ制御信号がスイ
ッチングトランジスタ(Tr)12,13より供給され
る。図14は絶縁ゲート型半導体素子を使用してインバ
ータ回路を構成したときの1相分の回路を示し、10
U,10XはIG半導体素子であり、11U,11Xは
ゲート抵抗、16U,16Xはゲート駆動回路である。
そして図15は各ゲート駆動回路16U,16Xの駆動
信号を示している。
【0005】各ゲート駆動回路16U,16Xでは、各
入力のオン指令により、正電圧をゲート抵抗11U,1
1Xを介して各IG半導体素子10U,10Xの各ゲー
トに供給して、素子をオン状態にする。td1は、IG
半導体素子10U,10Xが同時にオンにならないよう
に設けたすきま時間である。また、各ゲート駆動回路の
入力にオフ指令が入った場合には、ゲート抵抗11U,
11Xを介して負電圧をIG半導体素子10U,10X
の各ゲートに供給して各素子をオフにする。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の絶縁
ゲート型半導体素子のゲート駆動回路にあっては、次の
ような問題点があった。図16に示すように、IG半導
体素子10は大容量になればなるほどに、C,G,Eの
各端子間のキャパシタンスCcg,Cge,Cceが増
大する。その結果、図14のインバータ回路において、
IG半導体素子10Uがオフからオンにスイッチする
と、図17に示すように素子端子間のキャパシタンスを
介してIG半導体素子10Xのゲート電圧Vguに誤パ
ルスが入り、最悪の場合にはこの誤パルスにより、IG
半導体素子10Xが再びオンして、上下アームの素子が
同時にオンするという短絡モードが発生して素子を破壊
するという問題があった。
【0007】このような問題に対して、上記の例では、
IG半導体素子10Xのゲート抵抗値を小さくして、I
G半導体素子10Uがオンする時のノイズ電流をゲート
駆動回路にバイパスする方法がある。この方法では、大
容量の素子になればなるほど、バイパス効果を得るため
にゲート抵抗値を0Ωに近づける必要がある。
【0008】通常の大容量絶縁ゲート型半導体素子(I
G半導体素子)ではオフでのゲート抵抗は数Ω〜数十Ω
の低抗値を使用しているが、ゲート抵抗値を小さくする
と半導体素子のスイッチング速度が速くなり、スイッチ
ング時電圧変化と電流変化が大きくなって電流遮断時の
サージ電圧が高くなる欠点がある。
【0009】このため、IG半導体素子10Uがオンす
るときにはIG半導体素子10Xのゲート抵抗値を小さ
くし、IG半導体素子10X自身がオフする時はゲート
抵抗値を大きくするなど、タイミングに応じてゲート抵
抗の抵抗値を変更する必要が発生し、ゲート駆動回路の
構成が複雑になるという問題点がある。
【0010】一方、IG半導体素子の大容量化に伴う各
端子間のキャパシタンスCcg,Cge,Cceが増大
する結果,IG半導体素子のスイッチングオン時にも次
のような問題が発生する。
【0011】図13において、IG半導体素子10のG
−E間容量Cgeの増大により、ゲート抵抗11の抵抗
値R11とCgeにより、IG半導体素子10のゲート
電圧は指数関数的に立ち上がるが、抵抗値R11と容量
Cgeとの積(=R11×Cge)である時定数が大き
くなると、ゲート電圧が所定の値になる時間が長くな
る。ゲート電圧が低い状態では、IG半導体素子10の
C−E間電圧Vceも高くなって損失が増加する。ここ
で、ゲート抵抗11の抵抗値R11を小さくすれば損失
増加は防止できるが、オフ時動作と同様に抵抗値R11
が小さいと、IG半導体素子10のオンのスイッチング
が速くなり、ノイズ発生量が増加する問題がある。
【0012】このため、オフからオンに変化する時点で
はゲート抵抗を大きくし、一度オンした後はゲート抵抗
を小さくして、ゲート電圧の立ち上がり時間を速くする
など、タイミングに応じてゲート抵抗の抵抗値を変更す
る必要が発生し、ゲート駆動回路の構成が複雑になると
いう問題点がある。
【0013】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたもので、ノイズの影響を受けにくく、しかもオ
ン時のスイッチング損失増大を防止するゲート駆動技術
を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明のゲート
駆動方法は、絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定の
第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通させ、
当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定時間
だけ不導通にするゲート駆動回路において、前記ゲート
に印加する電圧を前記所定の第1電圧から第2電圧に切
り替えるタイミングにおいて一定時間の間、高周波の繰
り返しパルスを当該ゲートに印加するものである。
【0015】請求項1の発明のゲート駆動方法では、オ
フゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁ゲート型半
導体素子のスイッチング速度よりも高速の高周波のオ
ン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御すること
で、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。これにより、
通常オフ時などで、ゲート抵抗を大きめで使用する場合
には、デューティを小さくしてスイッチングを遅くしサ
ージ電圧の発生を防ぐなど、簡単な回路により所望のタ
イミングでゲート抵抗を変更したのと同じ作用効果を得
ることができる。
【0016】請求項2の発明のゲート駆動方法は、絶縁
ゲート型半導体素子を少なくとも1組使用して、各組の
絶縁ゲート型半導体素子を交互にオン、オフさせると共
に、両者の各絶縁ゲート型半導体素子が同時にオンしな
いように休止時間td1を設けて交流出力を得るように
したインバータ回路で、各絶縁ゲート型半導体素子のゲ
ートには所定の第1の電圧のオン信号を印加して所定時
間だけオンさせ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を
印加して所定時間だけオフにさせるゲート駆動回路にお
いて、前記ゲートに印加する前記所定の第2電圧を時間
△T1だけ高周波の繰り返しパルスを印加するように
し、時間△T1を前記休止時間td1よりも短くするも
のである。
【0017】請求項2の発明のゲート駆動方法では、オ
フゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁ゲート型半
導体素子のスイッチング速度よりも高速の高周波のオ
ン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御すること
で、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。ここで、高周
波のオン、オフ信号で駆動する時間をインバータ回路の
相補アームの絶縁ゲート型半導体素子がオンする以前に
は停止して、オフゲート信号を与えるゲート駆動回路を
連続的にオンして、ノイズ電流をバイパスしやすくす
る。
【0018】請求項3の発明のゲート駆動方法は、絶縁
ゲート型半導体素子のゲートに所定の第1電圧のオン信
号を印加して所定時間だけ導通させ、当該ゲートに所定
の第2電圧の信号を印加して所定時間だけ不導通にする
ゲート駆動回路において、前記ゲートに印加する電圧を
前記所定の第2電圧から第1電圧に切り替えるタイミン
グにおいて一定時間の間、高周波の繰り返しパルスを当
該ゲートに印加するものである。
【0019】請求項3の発明のゲート駆動方法では、オ
ンゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁ゲート型半
導体素子のスイッチング速度よりも高速の高周波のオ
ン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御すること
で、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。これにより、
通常のスイッチングオン時などで、ゲート抵抗を大きめ
で使用する場合にはデューティを小さくし、1つの絶縁
ゲート型半導体素子のスイッチングオンが後の状態の時
には、オンゲート信号を与えるゲート駆動回路を連続的
にオンしてそのスイッチング速度を遅らせることで、他
方の絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧に与えるノイ
ズの影響を低減できる。
【0020】請求項4の発明のゲート駆動方法は、絶縁
ゲート型半導体素子のゲートに所定の第1電圧のオン信
号を印加して所定時間だけ導通させ、当該ゲートに所定
の第2電圧の信号を印加して所定時間だけ不導通にする
ゲート駆動回路において、前記ゲートに印加する電圧を
前記所定の第2電圧から第1電圧に切り替えるタイミン
グにおいて一定時間△T2の間、高周波の繰り返しパル
スを当該ゲートに印加するようにし、前記絶縁ゲート型
半導体素子のゲート電圧がスレッシュホールド電圧を超
過する時間に対して、当該時間△T2を等しい時間か又
は短い時間に設定するものである。
【0021】請求項4の発明のゲート駆動方法におい
て、オンゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁ゲー
ト型半導体素子のスイッチング速度よりも高速の高周波
のオン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御する
ことで、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。これによ
り、通常のスイッチングオン時などで、ゲート抵抗を大
きめで使用する場合には、デューティを小さくすると共
に、絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧がそのスレッ
シュホールド電圧を超えた時点でオンゲート信号を与え
るゲート駆動回路を連続的にオンして、絶縁ゲート型半
導体素子のコレクタ−エミッタ間の電圧降下を小さくし
て使用できる。
【0022】請求項5の発明のゲート駆動方法は、絶縁
ゲート型半導体素子のゲートに所定の第1電圧のオン信
号を印加して所定時間だけ導通させ、当該ゲートに所定
の第2電圧の信号を印加して所定時間だけ不導通にする
ゲート駆動回路において、前記ゲートに印加する電圧を
前記所定の第2電圧から第1電圧に切り替えるタイミン
グにおいて一定時間の間、高周波の繰り返しパルスを当
該ゲートに印加し、前記ゲートに印加する電圧を前記所
定の第1電圧から第2電圧に切り替えるタイミングにお
いても一定時間の間、高周波の繰り返しパルスを当該ゲ
ートに印加するものである。
【0023】請求項5の発明のゲート駆動方法では、オ
ン、オフゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁ゲー
ト型半導体素子のスイッチング速度よりも高速の高周波
のオン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御する
ことで、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。これによ
り、絶縁ゲート型半導体素子のスイッチングオン時の損
失を低減すると共に、インバータ動作における相補アー
ムのスイッチングオン時に誘導するゲート電圧ノイズを
低減できる。
【0024】請求項6の発明のゲート駆動方法は、絶縁
ゲート型半導体素子のゲートに所定の第1電圧のオン信
号を印加して所定時間だけ導通させ、当該ゲートに所定
の第2電圧の信号を印加して所定時間だけ不導通にする
ゲート駆動回路において、前記絶縁ゲート型半導体素子
のゲート−エミッタ間にコンデンサを接続し、前記ゲー
トに印加する電圧を前記所定の第2電圧から第1電圧に
切り替えるタイミングにおいて一定時間の間、高周波の
繰り返しパルスを当該ゲートに印加し、前記ゲートに印
加する電圧を前記所定の第1電圧から第2電圧に切り替
えるタイミングにおいても一定時間の間、高周波の繰り
返しパルスを当該ゲートに印加するものである。
【0025】請求項6の発明のゲート駆動方法では、絶
縁ゲート型半導体素子のゲート−エミッタ間にコンデン
サを挿入し、またこの絶縁ゲート型半導体素子のゲート
にオン、オフゲート信号を与えるゲート駆動回路を絶縁
ゲート型半導体素子のスイッチング速度よりも高速の高
周波のオン、オフ信号で駆動してそのデューティを制御
することで、ゲート駆動電圧を平均値に制御する。これ
により、絶縁ゲート型半導体素子に対してより安定した
ゲート電圧を印加してノイズ電流をバイパスしやすくで
きる。
【0026】請求項7の発明のゲート駆動制御回路は、
絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定の第1電圧のオ
ン信号を印加して所定時間だけ導通させ、当該ゲートに
所定の第2電圧の信号を印加して所定時間だけ不導通に
するゲート駆動回路と、前記ゲートのオン、オフ指令を
生成し、かつオン指令からオフ指令及びオフ指令からオ
ン指令に切り替わるタイミングの少なくとも一方におい
て一定時間の間高周波の繰り返しパルスを付加したオ
ン、オフ指令を生成する制御回路とを備えたものであ
る。
【0027】請求項7の発明のゲート駆動制御回路で
は、ゲート駆動回路に対する入力指令信号として、絶縁
ゲート型半導体素子のオン、オフ時にはそのスイッチン
グ速度よりも高速の高周波のオン、オフ信号を重畳し、
オン、オフの定常時においてはオン又はオフの連続信号
を供給し、これによってゲート駆動回路がゲート抵抗を
介して絶縁ゲート型半導体素子のゲートをオン、オフ駆
動する。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて詳説する。図1は本発明の第1の実施の形態の
ゲート駆動回路の回路図であり、図2はこのゲート駆動
回路の動作を説明するタイミングチャートである。図1
のゲート駆動回路で、図13に示した従来のゲート駆動
回路と同じ機能要素については同一の符号で示してあ
る。
【0029】この第1の実施の形態のゲート駆動回路に
おいて、変調器17Aは、絶縁ゲート型半導体素子(I
G半導体素子)10に対するオン、オフ指令信号15を
受けてトランジスタ(Tr)12,13を駆動するため
の回路であり、入力されるオン、オフ指令信号がオンか
らオフに切り替わった時点で、図2に示すように高周波
でオン、オフを繰り返す機能を有している。トランジス
タ12,13はこれらの信号を増幅するアンプで、低抵
抗のゲート抵抗11Lを介してIG半導体素子10にゲ
ート電圧を供給する。
【0030】ここで、トランジスタ12,13の出力は
変調器17Aの出力信号のようにオンからオフに指令信
号が切り替わった時点で一定時間ΔT1の間高周波でオ
ン、オフを繰り返すが、IG半導体素子10のG−E間
にはキャパシタCgeがあるため、図2に示すようにI
G半導体素子10のゲート電圧は積分した波形となる。
【0031】このようにして、第1の実施の形態のゲー
ト駆動回路では、スイッチ回路などによりゲート抵抗値
を変更することなく、IG半導体素子10のゲート電圧
の変化を制御できるので、回路構成を複雑化することな
く電流オフ時のサージ電圧を防止できる。
【0032】次に、本発明の第2の実施の形態のインバ
ータ回路を、図3及び図4に基づいて説明する。図3に
示すインバータ回路において、図14に示した従来例の
インバータ回路と同じ要素については同一の符号を付し
て示してある。
【0033】ゲート抵抗11LU,11LXは図1にお
ける低抵抗のゲート11Lと同じ機能を持つ。ゲート駆
動回路18U,18Xそれぞれは、これらのゲート抵抗
11LU,11LXを介してIG半導体素子10U,1
0Xのゲートそれぞれをオン、オフ制御するものであ
り、それぞれが図1に示した回路図における変調器17
A、抵抗、トランジスタ12,13そして電源19P,
19Nの要素を内包するものである。そしてこのゲート
駆動回路18U,18Xには、制御回路22から光ファ
イバ等の信号伝送路23U,23Xを通じてオン、オフ
指令信号22U,22Xが入力される。
【0034】ゲート駆動回路18U,18Xの動作は、
図4のタイミングチャートに示すとおりである。図4
は、IG半導体素子10Xがオフし、所定のすきま時間
td1の経過後に、IG半導体素子10Uがオンする時
点での各部動作を示している。本実施の形態では、ゲー
ト駆動回路18U,18Xそれぞれは、ゲート信号がオ
ンからオフに切り替わった時点で、IG半導体素子10
U,10Xが同時にオンしないように設けたすきま時間
td1よりも短い時間△T1だけゲート動作信号が高周
波動作し、その後に高周波動作を停止して連続的にオフ
ゲート信号を与える。
【0035】このようにすると、IG半導体素子10U
がオンする時点では、相手側のIG半導体素子10Xの
ゲートから低抵抗のゲート抵抗11LXを介してゲート
駆動回路18Xにノイズ電流をバイパスできるので、I
G半導体素子10Xのゲート電圧のノイズレベルが低下
し、IG半導体素子10Xが誤オンすることがなくな
る。また、IG半導体素子10U側についても同様であ
る。
【0036】次に、本発明の第3の実施の形態のゲート
駆動回路について、図5及び図6に基づいて説明する。
図5において、図1と同じ符号は同じ素子を示してい
る。
【0037】図5において、変調器17BはIG半導体
素子10のオン、オフ指令信号15を受けてトランジス
タ12,13を駆動する回路であり、変調器17Bの入
力の指令信号15がオフからオンに切り替わった時点
で、図6に示すように高周波でオン、オフを繰り返す機
能を有する。
【0038】トランジスタ12,13は変調器17Bの
信号を増幅するアンプで、低抵抗のゲート抵抗11Lを
介してIG半導体素子10のゲート電圧を供給する。こ
こでトランジスタ12,13の出力は、変調器17Bに
対する指令信号15がオフからオンに切り替わった時点
で一定時間の間、高周波でオン、オフを繰り返すが、I
G半導体素子10のG−E間にはキャパシタCgeがあ
るので、図6に示すように、IG半導体素子10のゲー
ト電圧は積分波形となる。
【0039】このようにして、第3の実施の形態のゲー
ト駆動回路では、スイッチ回路などによりゲート抵抗値
を変更することなく、IG半導体素子のゲート電圧の変
化を制御できるので、ゲート回路を複雑化することなく
スイッチング速度を変更できる。
【0040】この結果、図3に示す第2の実施の形態の
インバータ回路に適用することで、例えばIG半導体素
子10Uがオフからオンする時にオンのスイッチング速
度を遅くでき、相手側アームのIG半導体素子10Xの
G−E間電圧に及ぼすノイズの影響を低減できる。
【0041】次に、本発明の第4の実施の形態のゲート
駆動方法を図7に基づいて説明する。なお、第4の実施
の形態のゲート駆動方法は、図5に示した第3の実施の
形態のゲート駆動回路におけるIG半導体素子10のゲ
ート駆動に適用するものである。したがって、以下、図
5のゲート駆動回路を参照しながら、図7に基づいて本
実施の形態のゲート駆動方法を説明する。
【0042】変調器17Bの出力信号が高周波動作する
時間ΔT2を、IG半導体素子10のゲート電圧のスレ
ッシュホールド電圧Vthを超過する時点Tvthより
も短くなるように設定し、あるいは制御する。このよう
にすると、IG半導体素子10のコレクタ−エミッタ間
の電圧降下Vceがより速く低下して、スイッチングオ
ン時の損失を低減できる。
【0043】次に、本発明の第5の実施の形態のゲート
駆動回路を図8及び図9に基づいて説明する。図8にお
いて、図1と同じ符号は同じ素子を示している。
【0044】変調器17はIG半導体素子10のオン、
オフ指令信号を受けてトランジスタ12,13を駆動す
る回路であり、この変調器17の入力の指令信号がオフ
からオン及びオンからオフに切り替えた時点で、図9に
示すように高周波でオン、オフを繰り返す機能を有す
る。トランジスタ12,13は変調器17の信号を増幅
するアンプで、低抵抗のゲート抵抗11Lを介してIG
半導体素子10のゲート電圧を供給する。
【0045】ここで、トランジスタ12,13の出力
は、変調器17に対する指令信号15がオフからオンに
切り替わった時点で一定時間ΔT2の間、またオンから
オフに切り替わった時点で一定時間ΔT1の間、高周波
でオン、オフを繰り返すが、IG半導体素子10のG−
E間にはキャパシタCgeがあるので、図9に示すよう
にIG半導体素子10のゲート電圧は積分波形となる。
【0046】このようにして、第5の実施の形態のゲー
ト駆動回路では、スイッチ回路などによりゲート抵抗値
を変更することなく、IG半導体素子のゲート電圧の変
化を制御できるので、ゲート回路を複雑化することなく
電流オフ時のサージ電圧を防止できる。また、本実施の
形態のゲート駆動回路を、図3に示すインバータ回路に
適用することで、例えば、IG半導体素子10Uがオフ
からオンする時にオンのスイッチング速度を遅くでき、
相手側アームのIG半導体素子10XのG−E間電圧に
及ぼすノイズの影響を低減できる。
【0047】次に、本発明の第6の実施の形態のゲート
駆動回路を、図10に基づいて説明する。図10におい
て、図8と同じ符号は同じ素子を示している。図10の
ゲート駆動回路において、20はコンデンサであり、I
G半導体素子10のG−E間につながるように接続して
ある。IG半導体素子10のG−E間のキャパシタンス
総容量は、コンデンサ20のキャパシタンスと素子内部
のキャパシタンスCgeの和になるが、その分ゲート抵
抗11Lにさらに低抵抗値のものを使用する。
【0048】このようにすると、例えば、図3のインバ
ータ回路に適用した場合、IG半導体素子10XのG−
E間インピーダンスをさらに低下できるので、相手側の
IG半導体素子10Uがオンした時に受けるIG半導体
素子10Xのゲート電圧のノイズの影響をさらに緩和で
きる。
【0049】次に、本発明の第7の実施の形態のインバ
ータ回路を図11に基づいて説明する。図11におい
て、図3と同じ符号は同じ素子を示している。図11に
示すインバータ回路おいて、21U,21Xはゲート駆
動回路、24はIG半導体素子10U,10Xの制御信
号を生成する制御回路、24U,24Xはゲート駆動回
路21U,21Xへの指令信号を出力する出力端子であ
る。
【0050】この第7の実施の形態の特徴は、図8のゲ
ート駆動回路における変調器17のような変調機能を制
御回路24に持たせた点にある。これにより、図12に
示すように出力端子24U,24Xの出力信号としてあ
らかじめ高周波信号を重畳した信号を出力することで、
高圧部に設置するゲート駆動回路21U,21Xが複雑
化、大型化するのを防止できる。
【0051】
【発明の効果】以上のように請求項1の発明のゲート駆
動方法によれば、スイッチ回路などによりゲート抵抗値
を変更することなく、絶縁ゲート型半導体素子のゲート
電圧の変化を制御できるので、ゲート駆動回路を複雑化
することなく電流オフ時のサージ電圧を防止できる。
【0052】請求項2の発明のゲート駆動方法によれ
ば、相補アームの絶縁ゲート型半導体素子がオンする時
点では、ゲートから低抵抗のゲート抵抗を介してゲート
駆動回路にノイズ電流をバイパスできるので、ゲート電
圧のノイズレベルが低下して絶縁ゲート型半導体素子の
誤オンを防止することができる。
【0053】請求項3の発明のゲート駆動方法によれ
ば、スイッチ回路などによりゲート抵抗値を変更するこ
となく、絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧の変化を
制御できるので、ゲート駆動回路を複雑化することなく
スイッチング速度を変更でき、これをインバータ回路に
適用したとき、一方の絶縁ゲート型半導体素子がオフか
らオンする時にオンのスイッチング速度を遅くでき、相
手側アームの絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧に及
ぼすノイズの影響を低減できる。
【0054】請求項4の発明のゲート駆動方法によれ
ば、絶縁ゲート型半導体素子のコレクタ−エミッタ間の
電圧降下Vceがより速く低下して、スイッチングオン
時の損失を低減できる。
【0055】請求項5の発明のゲート駆動方法によれ
ば、ゲート駆動回路を複雑化することなく電流オフ時の
サージ電圧を防止できるとともに、これを適用したイン
バータ回路で一方の絶縁ゲート型半導体素子がオフから
オンする時にオンのスイッチング速度を遅くでき、相手
側アームの絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧に及ぼ
すノイズの影響を低減できる。
【0056】請求項6の発明のゲート駆動方法によれ
ば、絶縁ゲート型半導体素子のG−E間インピーダンス
をさらに低下できるので、これを適用したインバータ回
路などで一方の絶縁ゲート型半導体素子がオンした時に
受ける相手側アームの絶縁ゲート型半導体素子のゲート
電圧によるノイズの影響はさらに緩和できる。
【0057】請求項7の発明のゲート駆動制御回路によ
れば、請求項1〜6の発明の効果に加えて、あらかじめ
高周波信号を重畳した信号をゲート駆動回路に与え、こ
れによって絶縁ゲート型半導体素子のゲートをオン、オ
フ駆動することで、高圧部に設置するゲート駆動回路が
複雑化、大型化するのを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の回路フロック図。
【図2】上記の第1の実施の形態の動作シーケンス図。
【図3】本発明の第2の実施の形態の回路ブロック図。
【図4】上記の第2の実施の形態の動作シーケンス図。
【図5】本発明の第3の実施の形態の回路ブロック図。
【図6】上記の第3の実施の形態の動作シーケンス図。
【図7】本発明の第4の実施の形態の動作シーケンス
図。
【図8】本発明の第5の実施の形態の回路ブロック
図,。
【図9】上記の第5の実施の形態の動作シーケンス図。
【図10】本発明の第6の実施の形態の回路ブロック
図。
【図11】本発明の第7の実施の形態の回路ブロック
図。
【図12】上記の第7の実施の形態の動作シーケンス
図。
【図13】従来例のゲート駆動回路のブロック図。
【図14】従来例の簡略化したインバータ回路のブロッ
ク図。
【図15】従来の一般的なインバータ回路のゲート指令
信号のシーケンス図。
【図16】絶縁ゲート型半導体素子の内部キャパシタン
スを示す説明図。
【図17】従来例による誤動作の原理を示すゲート電圧
波形図。
【符号の説明】
10,10U,10X 絶縁ゲート型半導体素子(IG
半導体素子) 11,11L,11LU,11LX ゲート抵抗 12,13 トランジスタ 14 抵抗 15 オン、オフ指令信号 16U,16X ゲート駆動回路 17,17A,17B 変調器 18U,18X ゲート駆動回路 19A,19B 電源 20 コンデンサ 21U,21X ゲート駆動回路 22 制御回路 22U,22X 制御信号出力 23U,23X 信号伝送路 24U,24X 出力端子

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路において、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第1電圧から第
    2電圧に切り替えるタイミングにおいて一定時間の間、
    高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加することを
    特徴とするゲート駆動方法。
  2. 【請求項2】 絶縁ゲート型半導体素子を少なくとも1
    組使用して、各組の絶縁ゲート型半導体素子を交互にオ
    ン、オフさせると共に、両者の各絶縁ゲート型半導体素
    子が同時にオンしないように休止時間(ここでは、「t
    d1」とする)を設けて交流出力を得るようにしたイン
    バータ回路で、各絶縁ゲート型半導体素子のゲートには
    所定の第1の電圧のオン信号を印加して所定時間だけオ
    ンさせ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して
    所定時間だけオフにさせるゲート駆動回路において、 前記ゲートに印加する前記所定の第2電圧を時間(ここ
    では、「△T1」とする)だけ高周波の繰り返しパルス
    を印加するようにし、時間△T1を前記休止時間td1
    よりも短くしたことを特徴とするゲート駆動方法。
  3. 【請求項3】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路において、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第2電圧から第
    1電圧に切り替えるタイミングにおいて一定時間の間、
    高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加することを
    特徴とするゲート駆動方法。
  4. 【請求項4】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路において、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第2電圧から第
    1電圧に切り替えるタイミングにおいて一定時間(ここ
    では、「△T2」とする)の間、高周波の繰り返しパル
    スを当該ゲートに印加するようにし、前記絶縁ゲート型
    半導体素子のゲート電圧がスレッシュホールド電圧を超
    過する時間に対して、当該時間△T2を等しい時間か又
    は短い時間に設定することを特徴とするゲート駆動方
    法。
  5. 【請求項5】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路において、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第2電圧から第
    1電圧に切り替えるタイミングにおいて一定時間の間、
    高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加し、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第1電圧から第
    2電圧に切り替えるタイミングにおいても一定時間の
    間、高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加するこ
    とを特徴とするゲート駆動方法。
  6. 【請求項6】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路において、 前記絶縁ゲート型半導体素子のゲート−エミッタ間にコ
    ンデンサを接続し、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第2電圧から第
    1電圧に切り替えるタイミングにおいて一定時間の間、
    高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加し、 前記ゲートに印加する電圧を前記所定の第1電圧から第
    2電圧に切り替えるタイミングにおいても一定時間の
    間、高周波の繰り返しパルスを当該ゲートに印加するこ
    とを特徴とするゲート駆動方法。
  7. 【請求項7】 絶縁ゲート型半導体素子のゲートに所定
    の第1電圧のオン信号を印加して所定時間だけ導通さ
    せ、当該ゲートに所定の第2電圧の信号を印加して所定
    時間だけ不導通にするゲート駆動回路と、 前記ゲートのオン、オフ指令を生成し、かつオン指令か
    らオフ指令及びオフ指令からオン指令に切り替わるタイ
    ミングの少なくとも一方において一定時間の間、高周波
    の繰り返しパルスを付加したオン、オフ指令を生成する
    制御回路とを備えて成るゲート駆動制御回路。
JP2000095167A 2000-03-30 2000-03-30 ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路 Pending JP2001286124A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000095167A JP2001286124A (ja) 2000-03-30 2000-03-30 ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000095167A JP2001286124A (ja) 2000-03-30 2000-03-30 ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001286124A true JP2001286124A (ja) 2001-10-12

Family

ID=18610103

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000095167A Pending JP2001286124A (ja) 2000-03-30 2000-03-30 ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001286124A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012049615A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体遮断回路
JP2014075694A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Renesas Electronics Corp ゲートドライバ、及びスイッチング方法
JP2014147237A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Hitachi Power Semiconductor Device Ltd 半導体装置のゲート駆動回路およびそれを用いた電力変換装置
WO2016207126A1 (en) * 2015-06-25 2016-12-29 Vacon Oy Control of semiconductor switch
JP2017121068A (ja) * 2017-02-10 2017-07-06 ルネサスエレクトロニクス株式会社 ゲートドライバ、及びスイッチング方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012049615A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体遮断回路
JP2014075694A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Renesas Electronics Corp ゲートドライバ、及びスイッチング方法
JP2014147237A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Hitachi Power Semiconductor Device Ltd 半導体装置のゲート駆動回路およびそれを用いた電力変換装置
WO2016207126A1 (en) * 2015-06-25 2016-12-29 Vacon Oy Control of semiconductor switch
CN107735949A (zh) * 2015-06-25 2018-02-23 伟肯有限公司 对半导体开关的控制
US10432189B2 (en) 2015-06-25 2019-10-01 Vacon Oy Control of semiconductor switch
CN107735949B (zh) * 2015-06-25 2021-04-23 伟肯有限公司 对半导体开关的控制
JP2017121068A (ja) * 2017-02-10 2017-07-06 ルネサスエレクトロニクス株式会社 ゲートドライバ、及びスイッチング方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6242968B1 (en) Semiconductor power converting apparatus
JP3614519B2 (ja) 絶縁ゲート型半導体装置の駆動方法及び装置
JP3666843B2 (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート回路
US9154125B2 (en) Method of controlling an IGBT and a gate driver
JP4432215B2 (ja) 半導体スイッチング素子のゲート駆動回路
JP3447949B2 (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート駆動回路、電力変換装置
JP2000232347A (ja) ゲート回路及びゲート回路制御方法
JPH0965644A (ja) 絶縁ゲートトランジスタ駆動回路
JPH1032976A (ja) 自己消弧形半導体素子の駆動回路
JPH0947015A (ja) 自己消弧形半導体素子の駆動回路
JP4161737B2 (ja) 半導体装置の駆動方法および装置
JP3927173B2 (ja) Dv/dtブーストによるノイズ耐力改善のための回路
JP2760590B2 (ja) 電圧駆動形素子の駆動回路
US8258823B2 (en) Method of and driver circuit for operating a semiconductor power switch
JP2006340579A (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート回路
JP3532377B2 (ja) 電圧駆動形スイッチ素子のゲート駆動回路
JP3568848B2 (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート回路
JP2001286124A (ja) ゲート駆動方法及びゲート駆動制御回路
EP0898811B1 (en) Insulated gate bipolar transistor control
US6813169B2 (en) Inverter device capable of reducing through current
JPS61169020A (ja) Ttl型ゲート用可変スピードアツプ回路
JP2004088892A (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート回路
US6542012B2 (en) Circuit for driving gate of IGBT inverter
JP2002094363A (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート駆動回路、絶縁ゲート型半導体素子およびそれらを用いた電力変換装置
JP2015029378A (ja) 半導体素子モジュール及びゲート駆動回路