JP2001282883A - Logic verification method and device - Google Patents

Logic verification method and device

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JP2001282883A
JP2001282883A JP2000093706A JP2000093706A JP2001282883A JP 2001282883 A JP2001282883 A JP 2001282883A JP 2000093706 A JP2000093706 A JP 2000093706A JP 2000093706 A JP2000093706 A JP 2000093706A JP 2001282883 A JP2001282883 A JP 2001282883A
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Japan
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signal
circuit
logic
output
input
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JP2000093706A
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Japanese (ja)
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Masayuki Sugaya
政行 菅谷
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JFE Steel Corp
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Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform an operation simulation of a logic circuit including gate circuits and flip-flop circuits so as to easily clarify the cause of malfunction, regarding a logic verification method and a device thereof which verify the authenticity of the logic of the logic circuit. SOLUTION: Prior to executing operation simulation, a tag that distinguishes between a clock signal and a data signal is added to each input signal for objective logic circuit of the operation simulation. While the operation simulation is performed, in the case an output of a gate circuit in the logic circuit varies in response to the change of inputted clock signal, a tag of clock signal is added to the signal of the output, in the case the output varies in response to the change of inputted data signal, a tag of data signal is added to the signal of the output and these output signals are permitted to propagate, and in case a signal having a tag of data signal is inputted to a clock input terminal of the flip-flop circuit in the logic circuit, a message is outputted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ゲート回路とフリ
ップフロップ回路とを含む論理回路の動作シミュレーシ
ョンを行なって、該論理回路の論理の正誤を検証する論
理検証方法および装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic verification method and apparatus for performing a simulation of a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit and verifying the correctness of the logic of the logic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】LSI等の論理回路の論理設計におい
て、設計対象の論理回路をハードウェアとして実際に作
成する前に、その論理回路の論理の正誤を検証する技術
として、論理回路の動作が定義されたモデルを作成し、
このモデルに、クロック信号とデータ信号とを同じ扱い
にしたテストパターンを与えてシミュレーションを行
い、シミュレーション結果を検証する技術が知られてい
る。
2. Description of the Related Art In the logic design of a logic circuit such as an LSI, the operation of the logic circuit is defined as a technique for verifying the correctness of the logic of the logic circuit before actually creating the logic circuit to be designed as hardware. Model created,
A technique is known in which a simulation is performed by giving a test pattern in which a clock signal and a data signal are treated the same to this model, and the simulation result is verified.

【0003】ところで、一般的に、ゲート回路とフリッ
プフロップ回路とを含む論理回路の設計では、クロック
信号に同期して論理回路が動作するように設計される。
この際、クロック信号は、フリップフロップ回路に到達
する時間をそろえるように設計されるのが一般的であ
る。
In general, a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit is designed so that the logic circuit operates in synchronization with a clock signal.
At this time, the clock signal is generally designed so that the clock signal arrives at the flip-flop circuit at the same time.

【0004】図6は、論理回路内におけるフリップフロ
ップ回路への各信号の到達時間について説明するための
図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the arrival time of each signal to a flip-flop circuit in a logic circuit.

【0005】図6に示された回路60には、クロックツ
リーが形成され、複数のフリップフロップ回路61,6
2,63,64それぞれのクロック入力ピンに、クロッ
ク信号CK1が同時に到達するように設計されている。
In the circuit 60 shown in FIG. 6, a clock tree is formed, and a plurality of flip-flop circuits 61 and 6 are formed.
The clock signal CK1 is designed to simultaneously reach the clock input pins 2, 63, and 64, respectively.

【0006】一方、データ信号は、信号の伝搬経路が複
雑であったり、信号の伝搬する段数が異なったり、各回
路の遅延が異なることなどにより、各回路のデータ入力
ピンへの到達時間の制御が困難である。図6においては
点線表示で省略したが、各データ信号D1,D2,D
3,D4は、複雑な信号伝搬経路を通った後に各フリッ
プフロップ回路61,62,63,64のデータ入力ピ
ンに入力される。このため、論理回路の設計において、
データ信号を用いた制御により異なる周期のクロック信
号どうしを切り替えたり、消費電力低減のため、データ
信号を用いてクロック信号を停止させたりする設計を行
うと、データ信号の到達時間のバラツキにより、ハザー
ドが発生し、論理回路が誤動作する場合がある。
On the other hand, the control of the arrival time of the data signal to the data input pin of each circuit is caused by the fact that the signal propagation path is complicated, the number of signal propagation stages is different, and the delay of each circuit is different. Is difficult. In FIG. 6, each data signal D1, D2, D
3 and D4 are input to the data input pins of the flip-flop circuits 61, 62, 63 and 64 after passing through a complicated signal propagation path. For this reason, in designing a logic circuit,
If a design is used in which clock signals of different cycles are switched by control using a data signal, or the clock signal is stopped using a data signal to reduce power consumption, hazards due to variations in the arrival time of the data signal may cause a hazard. May occur and the logic circuit may malfunction.

【0007】また、設計者が意図しない配線ミスによる
非同期の回路が論理回路中に存在すると、データ信号が
フリップフロップ回路のクロック入力ピンに伝搬して誤
動作を引き起こしてしまう。
If an asynchronous circuit due to a wiring error unintended by the designer exists in the logic circuit, a data signal propagates to the clock input pin of the flip-flop circuit, causing a malfunction.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の論理検
証技術では、クロック信号とデータ信号とを同じ扱いに
したテストパターンをモデルに与えてシミュレーション
を行うため、前述のような誤動作が生じた場合には、そ
の原因を調査するのが困難である。
However, in the conventional logic verification technique, a simulation is performed by giving a test pattern in which a clock signal and a data signal are treated the same to a model. It is difficult to investigate the cause.

【0009】本発明は、上記事情に鑑み、論理回路の論
理の正誤を検証するにあたり、誤動作が生じた場合に、
容易にその原因が解明できる論理検証方法、及びその装
置を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and in verifying the correctness of logic of a logic circuit, when a malfunction occurs,
It is an object of the present invention to provide a logic verification method and its device that can easily determine the cause.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の論理検証方法は、ゲート回路とフリップフロップ回
路とを含む論理回路の動作シミュレーションを行なっ
て、該論理回路の論理の正誤を検証する論理検証方法に
おいて、動作シミュレーションの実行に先立って動作シ
ミュレーションの対象となる論理回路の各入力信号に、
該各入力信号がクロック信号であるかデータ信号である
かを区別するタグを付しておき、動作シミュレーション
実行中において、上記論理回路中のゲート回路の出力が
該ゲート回路へ入力されたクロック信号の変化に応じて
変化した場合に該ゲート回路の出力信号にクロック信号
である旨を表すタグを付して該出力信号を伝搬させると
ともに、該ゲート回路の出力が該ゲート回路へ入力され
たデータ信号の変化に応じて変化した場合には、該ゲー
ト回路の出力信号にデータ信号である旨を表すタグを付
して該出力信号を伝搬させ、上記論理回路中のフリップ
フロップのクロック入力端子にデータ信号である旨を表
すタグが付された信号が入力された場合にメッセージを
出力することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a logic verification method of the present invention simulates the operation of a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit and verifies the correctness of the logic of the logic circuit. In the logic verification method, prior to execution of the operation simulation, each input signal of the logic circuit to be subjected to the operation simulation is
A tag for distinguishing whether each of the input signals is a clock signal or a data signal is attached, and during execution of the operation simulation, the output of the gate circuit in the logic circuit is the clock signal input to the gate circuit. When the output signal of the gate circuit is changed in accordance with the change of the data, the output signal of the gate circuit is tagged with a tag indicating that the output signal is a clock signal, and the output signal is propagated. When the signal changes in response to a change in the signal, the output signal of the gate circuit is tagged with a tag indicating that it is a data signal, the output signal is propagated, and the output signal is applied to the clock input terminal of a flip-flop in the logic circuit. A message is output when a signal with a tag indicating that it is a data signal is input.

【0011】本発明に係る論理検証方法は、論理回路の
動作を検証するための論理シミュレーションにおいて、
クロック信号の伝搬とデータ信号の伝搬とを区別して扱
い、フリップフロップ回路がデータ信号の変化により動
作した場合には、メッセージを出力するため、容易に誤
動作の原因が解明できる。
According to the logic verification method of the present invention, a logic simulation for verifying an operation of a logic circuit is provided.
When the flip-flop circuit operates due to a change in the data signal, a message is output, so that the cause of the malfunction can be easily clarified.

【0012】また、上記目的を達成する本発明の論理検
証装置は、ゲート回路とフリップフロップ回路とを含む
論理回路の動作シミュレーションを行なって、該論理回
路の論理の正誤を検証する論理検証装置において、動作
シミュレーションの対象となる論理回路の各入力信号
に、該各入力信号がクロック信号であるかデータ信号で
あるかを区別するタグを付す信号定義部と、上記論理回
路のゲート回路の出力が該ゲート回路へ入力されたクロ
ック信号の変化に応じて変化した場合に該ゲート回路の
出力信号にクロック信号である旨を表すタグを付して該
出力信号を伝搬させるとともに、該ゲート回路の出力が
該ゲート回路へ入力されたデータ信号の変化に応じて変
化した場合には、該ゲート回路の出力信号にデータ信号
である旨を表すタグを付して該出力信号を伝搬させるシ
ミュレート部と、上記論理回路中のフリップフロップの
クロック入力端子にデータ信号である旨を表すタグが付
された信号が入力された場合にメッセージを出力するメ
ッセージ出力部とを有することを特徴とする。
According to another aspect of the present invention, there is provided a logic verification apparatus for simulating the operation of a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit to verify whether the logic of the logic circuit is correct. A signal definition unit that attaches a tag to each input signal of a logic circuit to be simulated for operation to determine whether each input signal is a clock signal or a data signal, and an output of a gate circuit of the logic circuit. When a change occurs in response to a change in the clock signal input to the gate circuit, the output signal of the gate circuit is tagged with a tag indicating that the signal is a clock signal, and the output signal is propagated. Is changed in response to a change in the data signal input to the gate circuit, a tag indicating that the output signal is a data signal is output from the gate circuit. A simulating unit for transmitting the output signal by attaching a signal indicating that the signal is a data signal to a clock input terminal of a flip-flop in the logic circuit. And an output unit.

【0013】本発明に係る論理検証装置は、クロック信
号の伝搬とデータ信号の伝搬とを区別して扱うための信
号定義部とシミュレート部とを有するとともに、フリッ
プフロップ回路がデータ信号の変化により動作した場合
にはメッセージを出力するメッセージ出力部も有するた
め、容易に誤動作の原因を解明することができる。
A logic verifying apparatus according to the present invention has a signal defining section and a simulating section for separately handling the propagation of a clock signal and the propagation of a data signal, and the flip-flop circuit operates according to a change in the data signal. In this case, a message output unit for outputting a message is also provided, so that the cause of the malfunction can be easily clarified.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。
Embodiments of the present invention will be described below.

【0015】最初に図1を用いて、本発明の論理検証方
法の一実施形態を説明する。
First, an embodiment of the logic verification method according to the present invention will be described with reference to FIG.

【0016】図1は、本発明の論理検証方法における一
実施形態で実行されるルーチンを示すフローチャートで
ある。
FIG. 1 is a flowchart showing a routine executed in one embodiment of the logic verification method of the present invention.

【0017】本実施形態の論理検証方法には、信号の状
態の変化(‘H’レベルから‘L’レベル、又は‘L’
レベルから‘H’レベルへの変化)をイベントとして、
そのイベントを伝搬させることによってモデルを駆動さ
せるイベントドリブン方式が採用されている。
In the logic verification method of the present embodiment, a change in signal state (from "H" level to "L" level or "L" level)
Change from level to 'H' level) as an event,
An event-driven system in which a model is driven by transmitting the event is employed.

【0018】まず論理検証を実行するに先立って、テス
トパターンデータと、クロック定義データと、回路図デ
ータと、遅延情報とが予め用意される。
First, before executing the logic verification, test pattern data, clock definition data, circuit diagram data, and delay information are prepared in advance.

【0019】回路図データは、論理検証を行う回路のデ
ータで、この回路図データに基づいてシミュレーション
モデルが作成される。テストパターンデータは、作成さ
れたシミュレーションモデルに与えられる、クロック信
号とデータ信号とが混在するデータである。また、クロ
ック定義データは、テストパターンデータ中のクロック
信号を定義するデータである。
The circuit diagram data is data of a circuit for performing logic verification, and a simulation model is created based on the circuit diagram data. The test pattern data is data in which a clock signal and a data signal are mixed and given to the created simulation model. The clock definition data is data defining a clock signal in the test pattern data.

【0020】ステップS101において、テストパター
ンデータに基づき、クロック信号とデータ信号とが混在
するテストパターンが生成される。テストパターンが生
成されると、‘H’レベルから‘L’レベル、又は
‘L’レベルから‘H’レベルへの変化をイベントとす
る入力イベントが発生する。したがって、この入力イベ
ントが、本発明にいう入力信号に相当する。
In step S101, a test pattern in which a clock signal and a data signal are mixed is generated based on the test pattern data. When the test pattern is generated, an input event occurs in which a change from the “H” level to the “L” level or the change from the “L” level to the “H” level is an event. Therefore, this input event corresponds to the input signal according to the present invention.

【0021】次に、ステップS102において、クロッ
ク定義データに基づいて、テストパターン中の各信号を
クロック信号とデータ信号とにそれぞれ定義する。すな
わち、本実施形態では、入力イベントのうち、クロック
信号に関するものにフラグを立てる。
Next, in step S102, each signal in the test pattern is defined as a clock signal and a data signal based on the clock definition data. That is, in this embodiment, a flag is set for an input event related to a clock signal.

【0022】ステップS103では、回路図データに基
づいて作成されたシミュレーションモデルに、遅延情報
と、ステップS101で発生し、ステップS102でク
ロック信号に関するものにはフラグが立てられた入力イ
ベントとが与えられ、シミュレーションが実行される。
In step S103, the simulation model created based on the circuit diagram data is provided with delay information and an input event generated in step S101 and flagged for the clock signal in step S102. , A simulation is performed.

【0023】このシミュレーションモデルにつき、図2
を用いて説明する。
FIG. 2 shows the simulation model.
This will be described with reference to FIG.

【0024】図2は、本発明の論理検証方法の一実施形
態におけるシミュレーションモデルの一例を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a simulation model in one embodiment of the logic verification method of the present invention.

【0025】図2に示されたシミュレーションモデル2
0は、複数の入力ピン201,202,…,208と、
出力ピン241と、1段目の回路211,212,21
3,214と、2段目の回路221,222と、3段目
の回路231とを有する。各回路211,212,21
3,214,221,222,231は、ゲート回路や
フリップフロップ回路である。以下、この図2も参照し
て説明する。
Simulation model 2 shown in FIG.
0 indicates a plurality of input pins 201, 202,.
Output pin 241 and first-stage circuits 211, 212, 21
3, 214, second-stage circuits 221 and 222, and a third-stage circuit 231. Each circuit 211, 212, 21
3, 214, 221, 222 and 231 are gate circuits and flip-flop circuits. Hereinafter, description will be made with reference to FIG.

【0026】最初のシミュレーションは、各入力ピン2
01,202,…,208に、それぞれ対応する入力イ
ベントが入力され、1段目の回路211,212,21
3,214それぞれにおける動作をシミュレーションす
る。入力イベントが入力されることによって、出力が、
‘H’レベルから‘L’レベル、又は‘L’レベルから
‘H’レベルへと変化すると、この変化をイベントとす
る出力イベントが発生する。したがって、この出力イベ
ントが、本発明にいう出力信号に相当する。この1段目
の回路211,212,213,214によって発生し
た出力イベントは、以下に説明するステップS104以
降で検証される。
The first simulation is for each input pin 2
, 208, the corresponding input events are input, and the first-stage circuits 211, 212, 21
The operation in each of 3,214 is simulated. When an input event is input, the output is
When the level changes from the “H” level to the “L” level or from the “L” level to the “H” level, an output event having this change as an event occurs. Therefore, this output event corresponds to the output signal according to the present invention. The output events generated by the first-stage circuits 211, 212, 213, and 214 are verified in step S104 and subsequent steps described below.

【0027】ステップS104では、1段目の回路21
1,212,213,214によって発生した出力イベ
ントが、フリップフロップ回路(図1中ではFFと省
略。以下同じ。)のクロック入力ピンに入力された入力
イベントによるものか否かを判定する。
In step S104, the first-stage circuit 21
It is determined whether or not the output event generated by 1, 212, 213, 214 is due to an input event input to a clock input pin of a flip-flop circuit (abbreviated as FF in FIG. 1; the same applies hereinafter).

【0028】1段目の回路211,212,213,2
14によって発生した出力イベントが、フリップフロッ
プ回路のクロック入力ピンに入力された入力イベントに
よるものという判定が、ステップS104においてなさ
れると、次に、そのフリップフロップ回路のクロック入
力ピンに入力された入力イベントにフラグが立っている
か否かを判定する(ステップS105)。
First-stage circuits 211, 212, 213, 2
When it is determined in step S104 that the output event generated by the input event 14 is caused by the input event input to the clock input pin of the flip-flop circuit, the input event input to the clock input pin of the flip-flop circuit is determined. It is determined whether a flag is set for the event (step S105).

【0029】フリップフロップ回路のクロック入力ピン
に入力された入力イベントにフラグは立っていないとい
う判定が、ステップS105においてなされると、その
判定時刻とフリップフロップ回路の名前(インスタンス
名)とを含むメッセージが出力される(ステップS10
6)。ステップ105におけるこの判定結果は、フリッ
プフロップ回路のクロック入力ピンに入力されたデータ
信号に関する入力イベントによりイベントが出力された
ことを意味するものである。その後、このような判定が
なされた出力イベントは、2段目の回路221,222
の入力ピンに入力され、以後、シミュレーションモデル
20における出力ピン241に到達するまで、シミュレ
ーションと検証とが順次行われる。
When it is determined in step S105 that the flag is not set for the input event input to the clock input pin of the flip-flop circuit, a message including the determination time and the name (instance name) of the flip-flop circuit Is output (step S10).
6). This determination result in step 105 means that an event has been output due to an input event relating to the data signal input to the clock input pin of the flip-flop circuit. Thereafter, the output event for which such determination has been made is sent to the circuits 221 and 222 of the second stage.
, And thereafter, simulation and verification are sequentially performed until the output pin 241 of the simulation model 20 is reached.

【0030】一方、上述のステップS104において、
出力されたイベントが、フリップフロップ回路のクロッ
ク入力ピンに入力された入力イベントによるものではな
いという判定がなされると、ステップS107におい
て、入力イベントにフラグが立っているか否かを判定す
る。
On the other hand, in the above step S104,
When it is determined that the output event is not due to the input event input to the clock input pin of the flip-flop circuit, in step S107, it is determined whether the input event is flagged.

【0031】入力イベントにフラグが立っていないとい
う判定がステップS107においてなされると、2段目
の回路221,222の入力ピンに1段目の回路21
1,212,213,214によって発生した出力イベ
ントが入力され、以後、シミュレーションモデル20に
おける出力ピン241に到達するまで、シミュレーショ
ンと検証とが順次行われる。ステップS107における
この判定結果は、フリップフロップ回路のデータ入力ピ
ンあるいはゲート回路の入力ピンに入力されたデータ信
号に関する入力イベントによりイベントが出力されたこ
とを意味するものである。
If it is determined in step S107 that the input event is not flagged, the first-stage circuit 21 is connected to the input pins of the second-stage circuits 221 and 222.
Simulations and verifications are sequentially performed until an output event generated by 1, 212, 213, 214 is input and thereafter reaches an output pin 241 in the simulation model 20. This determination result in step S107 means that an event has been output due to an input event relating to the data signal input to the data input pin of the flip-flop circuit or the input pin of the gate circuit.

【0032】反対に、入力イベントにフラグは立ってい
るというステップS107における判定、又はフリップ
フロップ回路のクロック入力ピンに入力された入力イベ
ントにフラグは立っているという上述のステップS10
5における判定がなされると、2段目の回路221,2
22以降の論理検証においてもクロック信号に関するも
のという識別が可能になるよう、1段目の回路211,
212,213,214によって発生した出力イベント
にフラグをたてる(ステップS108)。この後、ステ
ップS108においてフラグが立てられた出力イベント
は、2段目の回路221,222の入力ピンに入力さ
れ、以後、シミュレーションモデル20における出力ピ
ン241に到達するまで、シミュレーションと検証とが
順次行われる。
On the other hand, in step S107, it is determined that the flag is set in the input event, or in step S10, the flag is set in the input event input to the clock input pin of the flip-flop circuit.
5, the circuits 221 and 221 in the second stage
The first-stage circuit 211, 22
A flag is set for the output event generated by 212, 213, 214 (step S108). Thereafter, the output event for which the flag has been set in step S108 is input to the input pins of the circuits 221 and 222 in the second stage, and thereafter simulation and verification are sequentially performed until the output event reaches the output pin 241 in the simulation model 20. Done.

【0033】ここで、本実施形態における、エラー検出
の具体例を以下に説明する。
Here, a specific example of error detection in this embodiment will be described below.

【0034】まず、図3を用いて一つの具体例を説明す
る。
First, one specific example will be described with reference to FIG.

【0035】図3(a)はシミュレーションモデルの一
部である第1の論理回路を表した回路図であって、図3
(b)は、その第1の論理回路のタイミングチャートで
ある。
FIG. 3A is a circuit diagram showing a first logic circuit which is a part of the simulation model.
(B) is a timing chart of the first logic circuit.

【0036】図3(a)に示す第1の論理回路30は、
アンドゲート31と、フリップフロップ回路32とを有
する。アンドゲート31は、データ信号D5とクロック
信号CK2とが入力されるものである。また、フリップ
フロップ回路32は、そのアンドゲート31からの出力
信号CK3が、クロック入力ピンに入力されるものであ
る。この第1の論理回路30は、図3(b)に示すよう
に、アンドゲート31に‘L’レベルのデータ信号D5
が入力されている間は、アンドゲート31からの出力信
号CK3も‘L’レベルを維持するため、フリップフロ
ップ回路32のスイッチング動作が行われず、その結
果、消費電力を低減することができる回路である。ここ
で、データ信号D5は、図3(a)においては点線表示
で省略したが、複雑な信号伝搬経路を通った後にアンド
ゲート31に入力される。このため、データ信号D5の
アンドゲート31への到達時間の制御は困難である。図
3(b)に示すごとく、所定の周期のクロック信号CK
2の立ち上がりエッジに対して、‘H’レベルのデータ
信号D5の到達が早すぎると、データ信号D5の立ち上
がりエッジと、クロック信号CK2の立ち下がりエッジ
とによって、出力信号CK3にはハザードH1が発生し
てしまう。また逆に、データ信号D5の、アンドゲート
31への到達時間が遅延しても、クロック信号CK2の
立ち上がりエッジと、データ信号D5の立ち下がりエッ
ジとによって、出力信号CK3にはハザードH2が発生
してしまう。
The first logic circuit 30 shown in FIG.
An AND gate 31 and a flip-flop circuit 32 are provided. The AND gate 31 receives the data signal D5 and the clock signal CK2. In the flip-flop circuit 32, the output signal CK3 from the AND gate 31 is input to a clock input pin. As shown in FIG. 3B, the first logic circuit 30 supplies the "L" level data signal D5 to the AND gate 31.
Is input, the output signal CK3 from the AND gate 31 also maintains the “L” level, so that the switching operation of the flip-flop circuit 32 is not performed, and as a result, the power consumption can be reduced. is there. Here, the data signal D5 is input to the AND gate 31 after passing through a complicated signal propagation path, which is omitted in dotted lines in FIG. 3A. For this reason, it is difficult to control the time required for the data signal D5 to reach the AND gate 31. As shown in FIG. 3B, the clock signal CK having a predetermined cycle
If the "H" level data signal D5 arrives too early with respect to the rising edge of No. 2, a hazard H1 occurs in the output signal CK3 due to the rising edge of the data signal D5 and the falling edge of the clock signal CK2. Resulting in. Conversely, even if the arrival time of the data signal D5 at the AND gate 31 is delayed, a hazard H2 is generated in the output signal CK3 by the rising edge of the clock signal CK2 and the falling edge of the data signal D5. Would.

【0037】本実施形態の論理検証方法によって、ハザ
ードが発生した第1の論理回路30におけるエラー検出
を、図1も参照して説明する。図3(b)に示されたタ
イミングチャートのデータ信号D5の入力イベント
(‘L’レベル→‘H’レベル)によって、アンドゲー
ト31からの出力にはハザードH1によるイベント
(‘L’ レベル→‘H’レベル)が発生する。しか
し、この、ハザードH1によるイベント(‘L’ レベ
ル→‘H’レベル)には、フラグはたてられない(ステ
ップS107)。次段のシミュレーションにおいて、こ
の、アンドゲート31の出力において発生した、フラグ
が立てられていない、ハザードH1によるイベント
(‘L’ レベル→‘H’レベル)が、フリップフロッ
プ回路32のクロック入力ピンに入力されると、フリッ
プフロップ回路32からの出力においてイベントが発生
する。しかしながら、このフリップフロップ回路32の
クロック入力ピンに入力されたイベント(‘L’ レベ
ル→‘H’レベル)にはフラグが立てられていないた
め、その判定を行った時刻とフリップフロップ回路の名
前(インスタンス名)を含むメッセージが出力され(ス
テップS106)、データ信号でフリップフロップ回路
32が動作していることがわかる。また、ハザードH2
によるイベント(‘H’ レベル→‘L’レベル)が、
フリップフロップ回路32のクロック入力ピンに入力さ
れた場合も、上記と同様にその判定を行った時刻とフリ
ップフロップ回路の名前を含むメッセージが出力され
(ステップS106)、データ信号でフリップフロップ
回路32が動作していることがわかる。このように、本
実施形態の論理検証方法によれば、制御困難なデータ信
号によりタイミングエラーが起きていることが容易に判
断できる。
The error detection in the first logic circuit 30 where a hazard has occurred by the logic verification method of the present embodiment will be described with reference to FIG. Due to the input event (“L” level → “H” level) of the data signal D5 in the timing chart shown in FIG. 3B, the event from the hazard H1 (“L” level → “”) is output from the AND gate 31. H ′ level) occurs. However, no flag is set for the event (“L” level → “H” level) due to the hazard H1 (step S107). In the simulation at the next stage, an event (“L” level → “H” level) generated at the output of the AND gate 31 due to the hazard H1 in which the flag is not set is output to the clock input pin of the flip-flop circuit 32. When input, an event occurs at the output from flip-flop circuit 32. However, since the event (“L” level → “H” level) input to the clock input pin of the flip-flop circuit 32 is not flagged, the time at which the determination was made and the name of the flip-flop circuit ( A message including the instance name is output (step S106), indicating that the flip-flop circuit 32 is operating with the data signal. In addition, hazard H2
Event ('H' level → 'L' level)
When the signal is input to the clock input pin of the flip-flop circuit 32, a message including the time at which the determination is performed and the name of the flip-flop circuit is output in the same manner as described above (step S106). You can see that it is working. As described above, according to the logic verification method of the present embodiment, it can be easily determined that a timing error has occurred due to a data signal that is difficult to control.

【0038】続いて、他の具体例を図4を用いて説明す
る。
Next, another specific example will be described with reference to FIG.

【0039】図4(a)はシミュレーションモデルの一
部である第2の論理回路を表した回路図であって、図4
(b)は、その第2の論理回路のタイミングチャートで
ある。
FIG. 4A is a circuit diagram showing a second logic circuit which is a part of the simulation model.
(B) is a timing chart of the second logic circuit.

【0040】図4(a)に示す第2の論理回路40は、
マルチプレクサ41と、フリップフロップ回路42とを
有する。マルチプレクサ41は、クロック信号CK4が
データ入力ピン411に、クロック信号CK5がデータ
入力ピン412に、データ信号D6がセレクト入力ピン
にそれぞれ入力されるものである。クロック信号CK4
と、クロック信号CK5とは互いに異なる、所定の周期
のクロック信号であって、クロック信号CK4の立ち上
がりエッジと、クロック信号CK5の立ち下がりエッジ
とは同期している。また、フリップフロップ回路42
は、そのマルチプレクサ41からの出力信号CK6がク
ロック入力ピンに入力されるものである。この第2の論
理回路40は、図4(b)に示すように、マルチプレク
サ41のセレクト入力ピンに‘L’レベルのデータ信号
D6が入力されている間は、マルチプレクサ41からの
出力信号CK6として、クロック信号CK4がそのまま
出力され、マルチプレクサ41のセレクト入力ピンに
‘H’レベルのデータ信号D6が入力されている間は、
マルチプレクサ41からの出力信号CK6として、クロ
ック信号CK5がそのまま出力される、クロック信号を
切り替えるための論理回路である。ここで、データ信号
D6は、図4(a)においては点線表示で省略したが、
複雑な信号伝搬経路を通った後にマルチプレクサ41の
セレクト入力ピンに入力されるため、データ信号D6の
マルチプレクサ41への到達時間の制御は困難である。
図4(b)に示すごとく、互いに同期した、クロック信
号CK4の立ち上がりエッジと、クロック信号CK5の
立ち下がりエッジとに対して、‘H’レベルのデータ信
号D6の到達が遅延すると、遅延した分だけ、マルチプ
レクサ41からの出力信号CK6にはハザードH3,H
4が発生してしまう。
The second logic circuit 40 shown in FIG.
It has a multiplexer 41 and a flip-flop circuit 42. In the multiplexer 41, the clock signal CK4 is input to the data input pin 411, the clock signal CK5 is input to the data input pin 412, and the data signal D6 is input to the select input pin. Clock signal CK4
And the clock signal CK5 are different from each other and have predetermined cycles, and the rising edge of the clock signal CK4 and the falling edge of the clock signal CK5 are synchronized. The flip-flop circuit 42
Is an output signal CK6 from the multiplexer 41 is input to a clock input pin. As shown in FIG. 4B, the second logic circuit 40 outputs the signal CK6 from the multiplexer 41 while the “L” level data signal D6 is being input to the select input pin of the multiplexer 41. , While the clock signal CK4 is output as it is and the data signal D6 of “H” level is input to the select input pin of the multiplexer 41,
This is a logic circuit for switching clock signals, in which the clock signal CK5 is output as it is as the output signal CK6 from the multiplexer 41. Here, the data signal D6 is omitted from the dotted line in FIG.
Since the signal is input to the select input pin of the multiplexer 41 after passing through a complicated signal propagation path, it is difficult to control the arrival time of the data signal D6 to the multiplexer 41.
As shown in FIG. 4B, if the arrival of the data signal D6 at the “H” level is delayed with respect to the rising edge of the clock signal CK4 and the falling edge of the clock signal CK5, the delay is delayed. However, the output signals CK6 from the multiplexer 41 have hazards H3 and H
4 occurs.

【0041】本実施形態の論理検証方法によって、この
ハザードが発生した第2の論理回路40におけるエラー
検出を、図1も参照して説明する。図4(b)に示され
たタイミングチャートのデータ信号D6の入力イベント
(‘L’ レベル→‘H’レベル)によって、マルチプ
レクサ41からの出力にはハザードH3によるイベント
(‘H’ レベル→‘L’レベル)が発生する。しか
し、この、ハザードによるイベント(‘H’ レベル→
‘L’レベル)には、フラグはたてられない(ステップ
S107)。次段のシミュレーションにおいて、この、
マルチプレクサ41からの出力において発生した、フラ
グが立てられていない、ハザードによるイベント
(‘H’ レベル→‘L’レベル)が、フリップフロッ
プ回路42のクロック入力ピンに入力されると、フリッ
プフロップ回路42からの出力においてイベントが発生
する。しかしながら、このフリップフロップ回路42の
クロック入力ピンに入力されたイベント(‘H’ レベ
ル→‘L’レベル)にはフラグが立てられていないた
め、その判定を行った時刻とフリップフロップ回路の名
前を含むメッセージが出力され(ステップS106)、
データ信号でフリップフロップ回路42が動作している
ことがわかる。また、ハザードH4によるイベント
(‘L’ レベル→‘H’レベル))が、フリップフロ
ップ回路42のクロック入力ピンに入力された場合も、
上記と同様にその判定を行った時刻とフリップフロップ
回路の名前を含むメッセージが出力され(ステップS1
06)、データ信号でフリップフロップ回路42が動作
していることがわかる。このように、本実施形態の論理
検証方法によれば、制御困難なデータ信号によりタイミ
ングエラーが起きていることが容易に判断できる。
The detection of an error in the second logic circuit 40 where this hazard has occurred by the logic verification method of this embodiment will be described with reference to FIG. Due to the input event (“L” level → “H” level) of the data signal D6 in the timing chart shown in FIG. 4B, the event from the hazard H3 (“H” level → “L”) is output from the multiplexer 41. 'Level) occurs. However, this event by hazard ('H' level →
No flag is set for the “L” level (step S107). In the next simulation,
When an event (“H” level → “L” level) generated at the output from the multiplexer 41 and for which a flag is not set and which is caused by a hazard is input to the clock input pin of the flip-flop circuit 42, the flip-flop circuit 42 An event occurs at the output from. However, since the event (“H” level → “L” level) input to the clock input pin of the flip-flop circuit 42 is not flagged, the time at which the determination was made and the name of the flip-flop circuit are given. Is output (step S106).
It can be seen that the flip-flop circuit 42 operates with the data signal. Also, when an event due to the hazard H4 (“L” level → “H” level) is input to the clock input pin of the flip-flop circuit 42,
As described above, a message including the time at which the determination was made and the name of the flip-flop circuit is output (step S1).
06) It can be seen that the flip-flop circuit 42 operates with the data signal. As described above, according to the logic verification method of the present embodiment, it can be easily determined that a timing error has occurred due to a data signal that is difficult to control.

【0042】次に、本発明の論理検証装置における一実
施形態について、図5を用いて説明する。
Next, an embodiment of the logic verification apparatus of the present invention will be described with reference to FIG.

【0043】図5は、本発明の論理検証装置における一
実施形態のハード構成概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram of a hardware configuration of an embodiment of the logic verification device of the present invention.

【0044】図5に示された論理検証装置50は、上述
した本発明の論理検証方法における一実施形態を実行す
る装置であって、CPUやメモリ等からなる演算部51
0と、モニタ等の出力部520とを有する。
The logic verifying device 50 shown in FIG. 5 is a device for executing one embodiment of the above-described logic verifying method of the present invention, and includes an arithmetic unit 51 including a CPU, a memory, and the like.
0 and an output unit 520 such as a monitor.

【0045】また、図1を用いて説明したステップS1
01からステップS108までは、全て、演算部510
で行われる。すなわち、演算部510は、本発明にいう
信号定義部と、シミュレート部との双方に相当する。ま
た、図1を用いて説明したステップS106におけるメ
ッセージの出力は、演算部510によって出力部520
に出力命令が発報され、出力部520に判定時刻とフリ
ップフロップ回路の名前(インスタンス名)とを含むメ
ッセージが出力される。したがって、出力部520は、
本発明にいうメッセージ出力部に相当する。
Step S1 described with reference to FIG.
01 to step S108,
Done in That is, operation unit 510 corresponds to both the signal definition unit and the simulation unit according to the present invention. The output of the message in step S106 described with reference to FIG.
Is output, and a message including the determination time and the name (instance name) of the flip-flop circuit is output to the output unit 520. Therefore, the output unit 520 outputs
It corresponds to the message output unit according to the present invention.

【0046】以上のごとく、本発明による論理検証方法
や論理検証装置では、表示されたメーッセージによっ
て、データ信号でフリップフロップ回路が動作している
ことがわかり、また、そのメッセージに含まれる判定時
刻とフリップフロップ回路の名前(インスタンス名)と
によって、データ信号で動作しているフリップフロップ
回路を特定することができる。さらに、クロック信号と
データ信号が、それぞれ定義されているため、タイミン
グエラーが発生している場合に、その原因がクロック信
号によるものなのか、データ信号によるものなのかを知
ることができる。また、タイミングエラーを生じずに、
データ信号でフリップフロップ回路が偶然動作している
場合にも、このデータ信号で動作しているフリップフロ
ップ回路を特定することができるため、従来の論理検証
技術ではわからなかった、データ信号の遅延のバラツキ
によってタイミングの問題が発生する危険、すなわち潜
在的なタイミングの問題を知ることができる。またさら
に、メッセージが連続して表示されると、設計者が意図
しない配線ミスによる非同期の回路が論理回路中に存在
し、データ信号がフリップフロップ回路のクロック入力
ピンに伝搬して誤動作を起こしていることを容易に予想
することができる。したがって、本発明による論理検証
方法や論理検証装置を用いれば、論理回路の設計の品質
向上と設計TAT(Turn Around Tim
e)の短縮を実現することができる。
As described above, in the logic verification method and the logic verification apparatus according to the present invention, the displayed message indicates that the flip-flop circuit is operating with the data signal. By the name (instance name) of the flip-flop circuit, the flip-flop circuit operating with the data signal can be specified. Further, since the clock signal and the data signal are defined respectively, when a timing error occurs, it is possible to know whether the cause is the clock signal or the data signal. Also, without timing errors,
Even when a flip-flop circuit is accidentally operating with a data signal, the flip-flop circuit operating with this data signal can be specified. The danger that a timing problem occurs due to the variation, that is, a potential timing problem can be known. Furthermore, if the message is displayed continuously, there is an asynchronous circuit in the logic circuit due to a wiring mistake not intended by the designer, and the data signal propagates to the clock input pin of the flip-flop circuit, causing a malfunction. Can be easily predicted. Therefore, by using the logic verification method and the logic verification device according to the present invention, it is possible to improve the design quality of the logic circuit and to improve the design TAT (Turn Around Tim Time).
e) can be shortened.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれば
論理回路の論理の正誤を検証するにあたり、誤動作が生
じた場合に、容易にその原因が解明できる論理検証方
法、及びその装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, when verifying the correctness or incorrectness of the logic of a logic circuit, if a malfunction occurs, a logic verification method and a device for easily elucidating the cause thereof are provided. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の論理検証方法における一実施形態で実
行されるルーチンを示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing a routine executed in an embodiment of the logic verification method of the present invention.

【図2】本発明の論理検証方法の一実施形態におけるシ
ミュレーションモデルの一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a simulation model in one embodiment of the logic verification method of the present invention.

【図3】シミュレーションモデルの一部である第1の論
理回路を表した回路図(a)、およびその第1の論理回
路のタイミングチャート(b)である。
3A is a circuit diagram illustrating a first logic circuit which is a part of a simulation model, and FIG. 3B is a timing chart of the first logic circuit.

【図4】シミュレーションモデルの一部である第2の論
理回路を表した回路図(a)、およびその第2の論理回
路のタイミングチャート(b)である。
4A is a circuit diagram illustrating a second logic circuit which is a part of a simulation model, and FIG. 4B is a timing chart of the second logic circuit.

【図5】本発明の論理検証装置における一実施形態のハ
ード構成概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram of a hardware configuration of an embodiment in a logic verification device of the present invention.

【図6】論理回路内におけるフリップフロップ回路への
各信号の到達時間について説明するための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the arrival time of each signal to a flip-flop circuit in a logic circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 シミュレーションモデル 201,202,203,204,205,206,2
07,208入力ピン 241 出力ピン 211,212,213,214 1段目の回路 221,222 2段目の回路 231 3段目の回路 50 論理検証装置 510 演算部 520 出力部
20 Simulation models 201, 202, 203, 204, 205, 206, 2
07, 208 input pin 241 output pin 211, 212, 213, 214 first-stage circuit 221, 222 second-stage circuit 231 third-stage circuit 50 logic verification device 510 operation unit 520 output unit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ゲート回路とフリップフロップ回路とを
含む論理回路の動作シミュレーションを行なって、該論
理回路の論理の正誤を検証する論理検証方法において、 動作シミュレーションの実行に先立って動作シミュレー
ションの対象となる論理回路の各入力信号に、該各入力
信号がクロック信号であるかデータ信号であるかを区別
するタグを付しておき、 動作シミュレーション実行中において、前記論理回路中
のゲート回路の出力が該ゲート回路へ入力されたクロッ
ク信号の変化に応じて変化した場合に該ゲート回路の出
力信号にクロック信号である旨を表すタグを付して該出
力信号を伝搬させるとともに、該ゲート回路の出力が該
ゲート回路へ入力されたデータ信号の変化に応じて変化
した場合には、該ゲート回路の出力信号にデータ信号で
ある旨を表すタグを付して該出力信号を伝搬させ、 前記論理回路中のフリップフロップのクロック入力端子
にデータ信号である旨を表すタグが付された信号が入力
された場合にメッセージを出力することを特徴とする論
理検証方法。
1. A logic verification method for simulating the operation of a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit and verifying the correctness of the logic of the logic circuit. Each input signal of the logic circuit has a tag for distinguishing whether the input signal is a clock signal or a data signal, and an output of a gate circuit in the logic circuit is output during an operation simulation. When a change occurs in response to a change in the clock signal input to the gate circuit, the output signal of the gate circuit is tagged with a tag indicating that the signal is a clock signal, and the output signal is propagated. Changes in response to a change in the data signal input to the gate circuit, the output signal of the gate circuit A signal indicating that the signal is a data signal is input to a clock input terminal of a flip-flop in the logic circuit. A logic verification method characterized by outputting
【請求項2】 ゲート回路とフリップフロップ回路とを
含む論理回路の動作シミュレーションを行なって、該論
理回路の論理の正誤を検証する論理検証装置において、 動作シミュレーションの対象となる論理回路の各入力信
号に、該各入力信号がクロック信号であるかデータ信号
であるかを区別するタグを付す信号定義部と、 前記論理回路のゲート回路の出力が該ゲート回路へ入力
されたクロック信号の変化に応じて変化した場合に該ゲ
ート回路の出力信号にクロック信号である旨を表すタグ
を付して該出力信号を伝搬させるとともに、該ゲート回
路の出力が該ゲート回路へ入力されたデータ信号の変化
に応じて変化した場合には、該ゲート回路の出力信号に
データ信号である旨を表すタグを付して該出力信号を伝
搬させるシミュレート部と、 前記論理回路中のフリップフロップのクロック入力端子
にデータ信号である旨を表すタグが付された信号が入力
された場合にメッセージを出力するメッセージ出力部と
を有することを特徴とする論理検証装置。
2. A logic verification device for simulating the operation of a logic circuit including a gate circuit and a flip-flop circuit and verifying the correctness of the logic of the logic circuit, wherein each input signal of the logic circuit to be simulated is A signal definition unit for tagging whether each of the input signals is a clock signal or a data signal; and an output of a gate circuit of the logic circuit according to a change in the clock signal input to the gate circuit. When the output signal of the gate circuit changes, the output signal of the gate circuit is tagged with a tag indicating that it is a clock signal, and the output signal is propagated. A simulating unit for attaching a tag indicating that the output signal is a data signal to the output signal of the gate circuit and propagating the output signal, Logic verification apparatus characterized by comprising a message output section for outputting a message if the signal tagged representing data representing the data signal to the clock input terminal of the flip-flop in the logic circuit is inputted.
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