JP2003076739A - Apparatus, method and program for logical verification - Google Patents

Apparatus, method and program for logical verification

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JP2003076739A
JP2003076739A JP2001267584A JP2001267584A JP2003076739A JP 2003076739 A JP2003076739 A JP 2003076739A JP 2001267584 A JP2001267584 A JP 2001267584A JP 2001267584 A JP2001267584 A JP 2001267584A JP 2003076739 A JP2003076739 A JP 2003076739A
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JP
Japan
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voltage value
logic
value information
verification
model
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JP2001267584A
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Japanese (ja)
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Yukiharu Mikawa
行治 三川
Hiroyuki Hamano
博之 浜野
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Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem wherein it is impossible to perform a precise logical verification of connecting parts with abnormal voltages in a logical circuit. SOLUTION: An apparatus for logical verification comprises a logical model simulating logical operations of logical elements composing a logical circuit, a file of voltage value information storing voltage value information defining pressure-resistant characteristics of electric elements composing the logical elements, a processing model, which is installed into the logical model, for voltage value information reading out voltage value information set in itself from the file of the voltage value information to compare with the voltage value information when the voltage value information is input and determining whether it is possible or not for voltage values input from outside to be accepted by the electric elements corresponding to itself based on the result of the comparison and a performing means of logical verification performing the logical verification of the logical circuit using the logical model based on the test pattern and the connecting information of the logical elements described in a net list of the logical circuit and also verifying the connecting parts with abnormal voltages according to a result of determination acquired by transmission of each voltage value information among each processing model.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はLSIなどの半導
体集積回路の論理検証において複数の電圧値情報を扱う
論理検証装置及びその方法並びにこれをコンピュータ装
置に実行させるプログラムに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic verification apparatus and method for handling a plurality of voltage value information in logic verification of a semiconductor integrated circuit such as an LSI, and a program for causing a computer apparatus to execute the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】LSIなどの半導体集積回路の設計で
は、先ず、LSIで実現したい機能を機能仕様書として
まとめる工程がある。具体的には、LSIを外部から見
た場合の動作を規定する外部仕様書を作成し、この外部
仕様書が要求する機能を実現するためのLSI内部のハ
ードウェアを規定する内部仕様書を作成する。この内部
仕様書に基づいて、機能設計、論理設計、回路設計、レ
イアウト設計が逐次行われる。
2. Description of the Related Art In designing a semiconductor integrated circuit such as an LSI, there is a step of first assembling a function specification to be realized by the LSI. Specifically, it creates an external specification that specifies the behavior of the LSI when viewed from the outside, and creates an internal specification that specifies the internal hardware of the LSI to realize the functions required by this external specification. To do. Based on the internal specifications, functional design, logic design, circuit design, and layout design are sequentially performed.

【0003】これらの工程を簡単に説明すると、機能設
計工程では、内部仕様書に基づいてLSI内部の演算
器、レジスタ、バスなどのハードウェアの動作内容と相
互の接続関係が決定される。つまり、この機能設計工程
においてLSIの概略的な構成が決定される。次に、論
理設計工程では、機能設計工程で決定されたLSIの概
略的な構成に基づいて、さらに具体的なゲートレベルで
の論理回路設計が行われる。この論理設計には、一般的
にCADシステムが用いられる。例えば、CADシステ
ムを構成するワークステーションやパーソナルコンピュ
ータを用いて、機能記述言語などによる論理記述からゲ
ート回路を自動生成(論理合成)したり、論理回路を図
面として入力して専用のエディタによって表示画面上で
ゲート回路の配置・接続の編集が行われる。
To briefly explain these steps, in the function design step, the operation contents of the hardware such as the arithmetic unit, the register, and the bus inside the LSI and the mutual connection relationship are determined based on the internal specifications. That is, the schematic configuration of the LSI is determined in this functional design process. Next, in the logic design process, more specific logic circuit design at the gate level is performed based on the schematic configuration of the LSI determined in the function design process. A CAD system is generally used for this logic design. For example, using a workstation or a personal computer that constitutes a CAD system, a gate circuit is automatically generated (logic synthesis) from a logic description in a functional description language, or the logic circuit is input as a drawing and displayed by a dedicated editor. The layout and connection of the gate circuit is edited above.

【0004】設計対象の回路にはディジタル回路による
機能ブロックだけでなく、各種のアナログ回路による機
能ブロックが含まれている。回路設計工程では、アナロ
グ回路ブロックにおけるトランジスタ回路の設計が行わ
れる。最後に、レイアウト設計工程では、上流の工程で
決定された回路図を物理的形状と寸法を有する回路素子
の配置配線であるレイアウトパターンに変換する。この
レイアウトパターンデータは、LSI製造時の露光工程
におけるマスクパターンデータとして使用される。
The circuit to be designed includes not only digital circuit functional blocks but also various analog circuit functional blocks. In the circuit design process, the transistor circuit in the analog circuit block is designed. Finally, in the layout design process, the circuit diagram determined in the upstream process is converted into a layout pattern which is a layout and wiring of circuit elements having physical shapes and dimensions. This layout pattern data is used as mask pattern data in the exposure process during LSI manufacturing.

【0005】上述した各工程では、それぞれ設計エラー
をなくすために設計検証が行われている。また、設計検
証では、一般的に各工程に対応したシミュレーション技
術が用いられている。この設計検証におけるシミュレー
ションとは、ある現象に対して、その現象過程を記述す
べきモデルを用意しておき、いくつかの基本入力パラメ
ータに対する結果を検証するものである。例えば、設計
回路におけるディジタル動作(論理的な動作機能)を模
擬するものを論理シミュレーションと呼んでおり、主に
アナログ動作を模擬するものを回路シミュレーションと
呼んでいる。
In each of the above-mentioned steps, design verification is carried out in order to eliminate design errors. In design verification, a simulation technique corresponding to each process is generally used. The simulation in this design verification is to prepare a model for describing a phenomenon process for a certain phenomenon and verify the result for some basic input parameters. For example, what simulates a digital operation (logical operation function) in a design circuit is called a logic simulation, and what mainly simulates an analog operation is called a circuit simulation.

【0006】即ち、論理設計工程で求めた論理回路が意
図した通りに動作するか否かの論理検証には、論理的な
動作機能を模擬する論理シミュレータが用いられる。論
理シミュレータは、論理回路と等価の意味を持つネット
リスト(ゲート回路の特性を表現する論理モデルの種類
やその接続情報がまとめられている)に入力信号列(テ
ストパターン)を与えて、論理回路内の論理モデルの動
作を解析すると共に、回路内の各点における信号を時系
列に取り出すことができる。
That is, a logic simulator simulating a logical operation function is used for the logic verification of whether or not the logic circuit obtained in the logic design process operates as intended. The logic simulator gives an input signal sequence (test pattern) to a netlist (which summarizes the types of logic models that express the characteristics of gate circuits and their connection information) having the same meaning as logic circuits, It is possible to analyze the operation of the logic model in the circuit and extract the signals at each point in the circuit in time series.

【0007】一方、回路設計工程で求めたアナログ動作
ブロックに対しては、回路シミュレータが用いられる。
回路シミュレータは、各種の半導体デバイスの特性を表
現する半導体素子の理論モデルを用意し、トランジスタ
レベルの回路特性を解析する。例えば、入力されたネッ
トリストから節点解析法によりノードの電圧を未知数と
してキルヒホッフの法則により方程式をたてて解析す
る。
On the other hand, a circuit simulator is used for the analog operation block obtained in the circuit design process.
The circuit simulator prepares a theoretical model of a semiconductor element expressing the characteristics of various semiconductor devices and analyzes the circuit characteristics at the transistor level. For example, from the input netlist, the node voltage is used as an unknown and the equation is formed and analyzed by Kirchhoff's law.

【0008】図14は上述した設計回路に対して論理シ
ミュレーションを行う従来の論理検証装置の構成を示す
図である。図において、100は従来の論理検証装置で
あって、具体的には論理シミュレーション用のデータを
格納する記憶装置とこれらを用いて論理検証を実行する
プログラムを搭載したコンピュータ装置で構成される。
101は論理設計工程において論理回路図データから論
理回路接続情報を抽出して生成されるネットリストで、
論理モデル(例えば、ANDモデルなどの論理ゲートモ
デル)とそれら論理モデルの接続情報(論理回路接続情
報)が記述されたファイルである。101aは論理ゲー
トを表現した論理モデルをまとめた論理シミュレーショ
ン用モデル群であって、ネットリスト101の論理回路
接続情報によって各論理モデルから構成される論理回路
を表現する。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a conventional logic verification device for performing a logic simulation on the above-mentioned designed circuit. In the figure, reference numeral 100 denotes a conventional logic verification device, which is specifically configured by a storage device for storing data for logic simulation and a computer device equipped with a program for executing logic verification using these.
101 is a netlist generated by extracting logic circuit connection information from logic circuit diagram data in the logic design process,
It is a file in which a logic model (for example, a logic gate model such as an AND model) and connection information (logic circuit connection information) of the logic models are described. A logic simulation model group 101a is a group of logic models that represent logic gates, and the logic circuit connection information of the netlist 101 represents a logic circuit configured from each logic model.

【0009】101bは論理モデルを構成するモデルで
ある基本モデルをまとめた論理シミュレーション用基本
モデル群で、ネットリスト101の論理回路接続情報に
よって各基本モデルから構成される論理モデルを表現す
る。基本モデルとは、例えばpchトランジスタ対応モ
デルなどのゲート回路を構成する半導体素子の論理的な
動作を表現するモデルである。102は論理検証の際に
入力されるテストベンチであって、テストパターンと出
力期待値とが記述されたファイルである。103は上述
したデータを入力して論理検証を実行する論理検証実行
手段で、テストパターンに対する論理モデルの処理結果
と出力期待値とを比較して予期した動作に合致するか否
かを検証する。104は論理検証実行手段103の検証
結果を出力する出力部であって、出力におけるデータ形
式変換などの出力制御機構も含むものとする。105は
論理検証実行手段103の検証結果をまとめた検証結果
ファイルで、論理検証装置100を構成するコンピュー
タ装置の記憶装置に格納されるデータである。
Reference numeral 101b is a basic model group for logic simulation in which basic models which are models forming a logical model are grouped, and the logical circuit connection information of the netlist 101 expresses a logical model composed of the respective basic models. The basic model is a model that represents a logical operation of a semiconductor element that constitutes a gate circuit, such as a model corresponding to a pch transistor. A test bench 102 is input at the time of logic verification, and is a file in which a test pattern and an expected output value are described. Reference numeral 103 is a logic verification executing means for executing the logic verification by inputting the above-mentioned data, and compares the processing result of the logic model with respect to the test pattern and the expected output value to verify whether or not the expected behavior is met. An output unit 104 outputs the verification result of the logic verification executing unit 103, and includes an output control mechanism such as data format conversion at the output. Reference numeral 105 denotes a verification result file in which the verification results of the logic verification executing means 103 are collected, and is data stored in the storage device of the computer device constituting the logic verification device 100.

【0010】次に動作について説明する。図15は図1
4中の論理検証装置による論理検証動作を示すフロー図
であり、この図に沿って従来の論理検証について説明す
る。先ず、論理検証装置100は、ネットリスト101
を読み込み、論理回路図と同じ意味を持つデータとして
内部のメモリ上に展開する(ステップST100)。次
に、テストベンチ102を読み込んで、論理検証実行手
段103によってテストパターン情報と該パターンによ
る信号を入力・処理した論理モデルによる処理結果の期
待値(出力期待値)を読み出す。続いて、論理検証実行
手段103は、テストパターン(入力信号列)をネット
リスト101に逐次与え、論理モデルに従って処理した
処理結果を後続する論理モデルに順次伝搬させる(ステ
ップST101)。
Next, the operation will be described. FIG. 15 shows FIG.
4 is a flowchart showing the logic verification operation by the logic verification device in FIG. 4, and the conventional logic verification will be described with reference to this figure. First, the logic verification device 100 uses the netlist 101
Is read and developed as data having the same meaning as the logic circuit diagram on the internal memory (step ST100). Next, the test bench 102 is read, and the logic verification execution means 103 reads out the test pattern information and the expected value (output expected value) of the processing result by the logic model in which the signal of the pattern is input and processed. Subsequently, the logic verification executing means 103 sequentially applies the test pattern (input signal sequence) to the netlist 101, and sequentially propagates the processing result processed according to the logical model to the subsequent logical model (step ST101).

【0011】このとき、論理検証実行手段103は、出
力期待値と論理モデルに従って処理した処理結果とを比
較して、メモリ上に展開したネットリスト101が期待
通り動作しているか否かを動的に検証する(ステップS
T102)。この論理検証動作は、全てのテストパター
ンを入力し終えるまで繰り返される(ステップST10
3)。最後に、全てのテストパターンが入力し終わる
と、論理検証実行手段103は、検証結果をまとめて出
力部104に送出する。出力部104では、入力した検
証結果データを適当な形式変換して検証結果ファイル1
05として出力する(ステップST104)。
At this time, the logic verification executing means 103 compares the output expected value with the processing result processed according to the logical model to dynamically determine whether the netlist 101 expanded on the memory is operating as expected. To verify (step S
T102). This logic verification operation is repeated until all test patterns have been input (step ST10).
3). Finally, when all the test patterns have been input, the logic verification execution means 103 collectively outputs the verification results to the output unit 104. The output unit 104 converts the input verification result data into an appropriate format and verifies the verification result file 1
It is output as 05 (step ST104).

【0012】ここで、上述したような論理シミュレーシ
ョンには、回路シミュレーションのような明確な「電圧
値」という概念はなく、「信号強度」という概念を取り
入れている。つまり、従来の論理シミュレーションで
は、取り扱う信号値として定常値1,0の他に不知状態
や信号強度変化の要因となる高インピーダンス状態やそ
の遷移などを示すディジタル値が設定されている。
Here, the logic simulation as described above does not have a clear concept of "voltage value" as in circuit simulation, but incorporates the concept of "signal strength". That is, in the conventional logic simulation, in addition to the steady values 1 and 0 as the signal values to be handled, digital values indicating the unknown state and the high impedance state that causes the signal strength change and the transition thereof are set.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】従来の論理検証装置は
以上のように構成されているので、設計回路内の異電圧
接続部に対する正確な論理検証を行うことができないと
いう課題があった。
Since the conventional logic verification device is configured as described above, there is a problem that it is not possible to perform accurate logic verification for different voltage connection parts in the design circuit.

【0014】上記課題を具体的に説明すると、上述した
ように、従来の論理シミュレーションでは、「信号強
度」という概念を取り入れていることから、単に「強
い、弱い」という関係で電圧に相当する情報が取り扱わ
れる。このため、設計回路が複数の電圧値(例えば、
3.3V系と5.0V系)を有するデザインである場
合、その論理検証において電圧値を無視せざるを得な
い。従って、異電圧接続部の正確な論理検証は行えず、
実機の評価によって初めて不具合が判明するという事態
が発生していた。例えば、5.0V系素子を使用すべき
ところに3.3V系素子が使用されていても、従来の論
理検証では電圧値が無視されるために該不具合を抽出す
ることができない場合がある。このような場合、実機に
おいて評価した時点で3.3V系素子の耐圧を越えるた
めに3.3V系素子が破壊されてしまう。
The above problems will be described in detail. As described above, since the conventional logic simulation incorporates the concept of “signal strength”, the information corresponding to voltage is simply “strong or weak”. Will be treated. For this reason, the design circuit has multiple voltage values (for example,
In the case of a design having 3.3V system and 5.0V system), the voltage value must be ignored in the logic verification. Therefore, the accurate logic verification of the different voltage connection cannot be performed,
There was a situation in which the defect was discovered only by evaluating the actual machine. For example, even if a 3.3V element is used where a 5.0V element should be used, the defect may not be extracted because the voltage value is ignored in the conventional logic verification. In such a case, the breakdown voltage of the 3.3V element is exceeded because the withstand voltage of the 3.3V element is exceeded at the time of evaluation in an actual machine.

【0015】図16は従来の論理検証装置の問題点を説
明する図である。図に示すように、ネットリスト100
に記述される論理モデルの接続情報では、複数の電圧系
(図示の例では、3.3V系と5.0V系)を行き来し
ている信号線について何ら電圧値情報(図示の例では、
3.3V系回路から5.0V系回路への入力信号、5.
0V系回路から3.3V系回路への入力信号のそれぞれ
を特定する情報)が付加されていない(付加できな
い)。また、テストベンチ102においてもネットリス
ト101と同様に電圧値情報は表現されていない。この
ため、論理検証装置100では、入力情報自身に電圧値
情報が付加されていないので、「電圧値」を考慮した論
理検証を行うことができない。この結果、論理検証装置
100は、異電圧系に対する正確な論理検証が行われて
いない検証結果ファイル105を提供することとなる。
FIG. 16 is a diagram for explaining the problems of the conventional logic verification device. As shown, the netlist 100
In the connection information of the logic model described in, the voltage value information (in the illustrated example, for the illustrated example, for the signal line that travels between a plurality of voltage systems (3.3V system and 5.0V system in the illustrated example)
4. Input signal from 3.3V system circuit to 5.0V system circuit,
Information for identifying each input signal from the 0V system circuit to the 3.3V system circuit is not added (cannot be added). Further, the voltage value information is not expressed in the test bench 102 as in the netlist 101. Therefore, in the logic verification device 100, since the voltage value information is not added to the input information itself, the logic verification in consideration of the “voltage value” cannot be performed. As a result, the logic verification device 100 provides the verification result file 105 in which accurate logic verification has not been performed on the different voltage system.

【0016】一方、電圧値を正確に扱える回路シミュレ
ーションでは、節点解析などの複雑な計算を行う必要が
あったり、大規模回路では信号変化が一部分に限定され
るために、処理時間、処理可能規模の観点から網羅的な
検証ができないという問題がある。
On the other hand, in the circuit simulation capable of accurately handling the voltage value, it is necessary to perform complicated calculation such as node analysis, and the signal change is limited to a part in a large-scale circuit. There is a problem that comprehensive verification cannot be performed from the viewpoint of.

【0017】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、電圧値情報を付加、認識、判断す
る機能を有した素子をデザインを構成する各論理シミュ
レーション用モデルの入力/出力/入出力部に組み込
み、それら論理シミュレーション用モデルを使用した論
理検証を行うことで、電圧値を考慮した論理検証を可能
とした論理検証装置及びその方法並びにこれをコンピュ
ータ装置に実行させるプログラムを得ることを目的とす
る。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and the input / output of each logic simulation model constituting a design of an element having a function of adding, recognizing and judging voltage value information. / A logic verification device that enables logic verification in consideration of voltage values by incorporating it in an input / output unit and performing logic verification using those models for logic simulation, a method thereof, and a program for causing a computer device to execute the method. The purpose is to

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】この発明に係る論理検証
装置は、論理検証対象の論理回路を構成する論理素子の
論理動作を模擬する論理モデルと、論理素子を構成する
電気的素子の耐圧特性を規定する電圧値情報を格納する
電圧値情報ファイルと、論理モデルに組み込まれ、外部
から電圧値情報を入力すると、自己に設定すべき電圧値
情報を電圧値情報ファイルから読み出して、外部からの
電圧値情報及び自己に設定された電圧値情報のそれぞれ
が特定する電圧値を認識して比較を行い、該比較結果に
基づいて外部からの入力電圧値が自己に対応する電気的
素子に受け入れ可能か否かを判定する電圧値情報処理モ
デルと、論理検証対象の論理回路に与えるテストパター
ン、期待値、及び論理回路のネットリストに記述された
論理素子の接続情報に基づいて、論理モデルを用いた論
理回路の論理検証を実行すると共に、各電圧値情報処理
モデル間で各々の電圧値情報を伝搬させて得られる判定
結果から論理回路内の異電圧接続部間の検証を行う論理
検証実行手段とを備えるものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A logic verification device according to the present invention comprises a logic model for simulating a logic operation of a logic element forming a logic circuit to be logic-verified, and a withstand voltage characteristic of an electric element forming the logic element. The voltage value information file that stores the voltage value information that defines the voltage value information and the voltage value information that is incorporated in the logic model and is input from the outside, reads the voltage value information that should be set for itself from the voltage value information file, and Recognizing the voltage values specified by the voltage value information and the voltage value information set for itself, the comparison is performed, and the input voltage value from the outside can be accepted by the electric element corresponding to itself based on the comparison result. The voltage value information processing model for determining whether or not, the test pattern to be given to the logic circuit of the logic verification target, the expected value, and the connection information of the logic element described in the netlist of the logic circuit. Based on the above, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed, and from the determination result obtained by propagating each voltage value information between each voltage value information processing model, between different voltage connection parts in the logic circuit. And a logic verification executing means for verifying the above.

【0019】この発明に係る論理検証装置は、論理モデ
ル及び電圧値情報処理モデルをそれぞれ入力して、電圧
値情報処理モデルを論理モデルに組み込む電圧値情報処
理モデル付加手段を備えるものである。
The logic verification apparatus according to the present invention comprises voltage value information processing model adding means for inputting the logic model and the voltage value information processing model and incorporating the voltage value information processing model into the logic model.

【0020】この発明に係る論理検証装置は、電圧値情
報を予め設定した論理回路図データから電圧値情報、論
理素子及びその接続情報を抽出して、電圧値情報ファイ
ル及び論理回路のネットリストを生成する電圧値情報フ
ァイル・ネットリスト生成手段を備えるものである。
The logic verification apparatus according to the present invention extracts voltage value information, logic elements and their connection information from logic circuit diagram data in which voltage value information is preset, and creates a voltage value information file and a netlist of logic circuits. It is provided with a voltage value information file / netlist generating means for generating.

【0021】この発明に係る論理検証装置は、電圧値情
報を予め設定したレイアウトパターンデータから電圧値
情報を抽出して、電圧値情報ファイルを生成する電圧値
情報ファイル生成手段と、レイアウトパターンデータと
構成が1対1に対応する論理回路図データから論理素子
及びその接続情報を抽出して、論理回路のネットリスト
を生成するネットリスト生成手段とを備えるものであ
る。
The logic verification apparatus according to the present invention extracts voltage value information from layout pattern data in which voltage value information is preset and generates voltage value information file, voltage value information file generating means, and layout pattern data. A netlist generating unit that extracts a logic element and its connection information from the logic circuit diagram data having a one-to-one configuration and generates a netlist of the logic circuit is provided.

【0022】この発明に係る論理検証装置は、電圧値情
報ファイルが、電圧値情報の他に、任意に設定される異
常電圧値情報を格納し、異常電圧値情報を論理検証対象
の論理回路内で伝搬させる異常電圧情報伝搬モデルを備
えるものである。
In the logic verification device according to the present invention, the voltage value information file stores abnormal voltage value information arbitrarily set in addition to the voltage value information, and the abnormal voltage value information is stored in the logic circuit to be logically verified. It is equipped with an abnormal voltage information propagation model propagated by.

【0023】この発明に係る論理検証装置は、電圧値情
報を予め設定したレイアウトパターンデータから抽出し
た情報を使用する、上述した論理検証装置による検証結
果データと、レイアウトパターンデータと構成が1対1
に対応する論理回路図データから抽出した情報を使用す
る、上述した論理検証装置による検証結果データをそれ
ぞれ比較して一致検証を行う一致検証手段を備えるもの
である。
The logic verifying device according to the present invention uses the information extracted from the layout pattern data in which the voltage value information is set in advance, and the verification result data by the above-described logic verifying device and the layout pattern data have a one-to-one structure.
Is provided with a coincidence verification unit that compares the verification result data by the above-described logic verification device using the information extracted from the logic circuit diagram data corresponding to the above.

【0024】この発明に係る論理検証装置は、検証結果
データに含まれる特定の情報を抽出して、論理回路図及
び/又はレイアウトパターン上に表示させる特定情報表
示手段を備えるものである。
The logic verification device according to the present invention comprises a specific information display means for extracting specific information contained in the verification result data and displaying it on the logic circuit diagram and / or layout pattern.

【0025】この発明に係る論理検証方法は、論理検証
対象の論理回路内の論理素子を構成する電気的素子の耐
圧特性を規定する電圧値情報を電圧値情報ファイルとし
て設定し、論理素子の論理動作を模擬する論理モデル
に、外部から電圧値情報を入力すると、自己に設定すべ
き電圧値情報を電圧値情報ファイルから読み出して、外
部からの電圧値情報及び自己に設定された電圧値情報の
それぞれが特定する電圧値を認識して比較を行い、該比
較結果に基づいて外部からの入力電圧値が自己に対応す
る電気的素子に受け入れ可能か否かを判定する電圧値情
報処理モデルを組み込む電圧値情報処理機能付加ステッ
プと、論理検証対象の論理回路に与えるテストパター
ン、期待値、及び論理回路のネットリストに記述された
論理素子の接続情報に基づいて、論理モデルを用いた論
理回路の論理検証を実行すると共に、各電圧値情報処理
モデル間で各々の電圧値情報を伝搬させて得られる判定
結果から論理回路内の異電圧接続部間の検証を行う論理
検証ステップとを備えるものである。
In the logic verification method according to the present invention, the voltage value information defining the withstand voltage characteristics of the electric elements forming the logic element in the logic circuit to be logic-verified is set as a voltage value information file, and the logic of the logic element is set. When voltage value information is input from the outside to the logic model that simulates the operation, the voltage value information that should be set for itself is read from the voltage value information file, and the voltage value information from the outside and the voltage value information set for itself are read. A voltage value information processing model that incorporates a voltage value information processing model that recognizes each specified voltage value and performs comparison, and determines whether or not an input voltage value from the outside can be accepted by an electric element corresponding to itself based on the comparison result The voltage value information processing function addition step, the test pattern to be given to the logic circuit of the logic verification target, the expected value, and the connection information of the logic element described in the logic circuit netlist. Based on the determination result obtained by propagating each voltage value information between each voltage value information processing model, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed. And a logic verification step for performing verification.

【0026】この発明に係る論理検証方法は、電圧値情
報を予め設定した論理回路図データから電圧値情報、論
理素子及びその接続情報を抽出して、電圧値情報ファイ
ル及び論理回路のネットリストを生成する電圧値情報フ
ァイル・ネットリスト生成ステップを備えるものであ
る。
In the logic verification method according to the present invention, the voltage value information, the logic element and the connection information thereof are extracted from the logic circuit diagram data in which the voltage value information is preset, and the voltage value information file and the net list of the logic circuit are extracted. It is provided with a voltage value information file / netlist generating step to be generated.

【0027】この発明に係る論理検証方法は、電圧値情
報を予め設定したレイアウトパターンデータから電圧値
情報を抽出して、電圧値情報ファイルを生成する電圧値
情報ファイル生成ステップと、レイアウトパターンデー
タと構成が1対1に対応する論理回路図データから論理
素子及びその接続情報を抽出して、論理回路のネットリ
ストを生成するネットリスト生成ステップとを備えるも
のである。
According to the logic verification method of the present invention, the voltage value information is extracted from the layout pattern data in which the voltage value information is set in advance, and the voltage value information file generating step of generating the voltage value information file, and the layout pattern data are generated. And a netlist generation step of generating a netlist of the logic circuit by extracting logic elements and their connection information from the logic circuit diagram data having a one-to-one correspondence.

【0028】この発明に係る論理検証方法は、電圧値情
報を予め設定したレイアウトパターンデータから抽出し
た情報を使用する論理検証方法による検証結果データ
と、レイアウトパターンデータと構成が1対1に対応す
る論理回路図データから抽出した情報を使用する論理検
証方法による検証結果データをそれぞれ比較して一致検
証を行う一致検証ステップを備えるものである。
In the logic verification method according to the present invention, the verification result data by the logic verification method using the information extracted from the layout pattern data in which the voltage value information is preset and the layout pattern data have a one-to-one correspondence. It is provided with a match verification step of performing verification by comparing verification result data by a logic verification method using information extracted from the logic circuit diagram data.

【0029】この発明に係る論理検証プログラムは、論
理検証対象の論理回路を構成する論理素子の論理動作を
模擬する論理モデル、論理素子を構成する電気的素子の
耐圧特性を規定する電圧値情報を格納する電圧値情報フ
ァイル、論理モデルに組み込まれ、外部から電圧値情報
を入力すると、自己に設定すべき電圧値情報を電圧値情
報ファイルから読み出して、外部からの電圧値情報及び
自己に設定された電圧値情報のそれぞれが特定する電圧
値を認識して比較を行い、該比較結果に基づいて外部か
らの入力電圧値が自己に対応する電気的素子に受け入れ
可能か否かを判定する電圧値情報処理モデル、論理検証
対象の論理回路に与えるテストパターン、期待値、及び
論理回路のネットリストに記述された論理素子の接続情
報に基づいて、論理モデルを用いた論理回路の論理検証
を実行すると共に、各電圧値情報処理モデル間で各々の
電圧値情報を伝搬させて得られる判定結果から論理回路
内の異電圧接続部間の検証を行う論理検証実行手段とし
てコンピュータを機能させるものである。
A logic verification program according to the present invention includes a logic model for simulating a logic operation of a logic element forming a logic circuit to be logic-verified, and voltage value information defining a withstand voltage characteristic of an electric element forming the logic element. The voltage value information file to be stored is incorporated into the logic model, and when the voltage value information is input from the outside, the voltage value information that should be set to itself is read from the voltage value information file and set to the external voltage value information and to the self. The voltage value for recognizing the voltage value specified by each of the voltage value information is compared, and based on the comparison result, it is determined whether or not the input voltage value from the outside can be accepted by the corresponding electric element. Based on the information processing model, the test pattern to be given to the logic circuit of the logic verification target, the expected value, and the connection information of the logic element described in the net list of the logic circuit, A logic that performs logic verification of the logic circuit using the model and verifies between different voltage connection parts in the logic circuit from the judgment result obtained by propagating each voltage value information between each voltage value information processing model. The computer is caused to function as a verification execution means.

【0030】この発明に係る論理検証プログラムは、論
理モデル及び電圧値情報処理モデルをそれぞれ入力し
て、電圧値情報処理モデルを論理モデルに組み込む電圧
値情報処理モデル付加手段としてコンピュータを機能さ
せるものである。
The logic verification program according to the present invention inputs a logic model and a voltage value information processing model, and causes the computer to function as a voltage value information processing model adding means for incorporating the voltage value information processing model into the logic model. is there.

【0031】この発明に係る論理検証プログラムは、電
圧値情報を予め設定した論理回路図データから電圧値情
報、論理素子及びその接続情報を抽出して、電圧値情報
ファイル及び論理回路のネットリストを生成する電圧値
情報ファイル・ネットリスト生成手段としてコンピュー
タを機能させるものである。
A logic verification program according to the present invention extracts voltage value information, logic elements and their connection information from logic circuit diagram data in which voltage value information is preset, and creates a voltage value information file and a logic circuit netlist. The computer is caused to function as a voltage value information file / netlist generating means to be generated.

【0032】この発明に係る論理検証プログラムは、電
圧値情報を予め設定したレイアウトパターンデータから
電圧値情報を抽出して、電圧値情報ファイルを生成する
電圧値情報ファイル生成手段、レイアウトパターンデー
タと構成が1対1に対応する論理回路図データから論理
素子及びその接続情報を抽出して、論理回路のネットリ
ストを生成するネットリスト生成手段としてコンピュー
タを機能させるものである。
The logic verification program according to the present invention comprises voltage value information file generating means for extracting voltage value information from layout pattern data in which voltage value information is preset and generating a voltage value information file, layout pattern data and configuration. Is to make a computer function as a netlist generating means for generating a netlist of a logic circuit by extracting logic elements and their connection information from the logic circuit diagram data corresponding to one to one.

【0033】この発明に係る論理検証プログラムは、電
圧値情報を予め設定したレイアウトパターンデータから
抽出した情報を使用する、上述した論理検証プログラム
による検証結果データと、レイアウトパターンデータと
構成が1対1に対応する論理回路図データから抽出した
情報を使用する、上述した論理検証プログラムによる検
証結果データをそれぞれ比較して一致検証を行う一致検
証手段としてコンピュータを機能させるものである。
The logic verification program according to the present invention uses the information obtained by extracting the voltage value information from the preset layout pattern data, and the verification result data by the above-mentioned logic verification program and the layout pattern data have a one-to-one structure. That is, the computer is made to function as a match verification unit that compares the verification result data by the above-described logic verification program using the information extracted from the logic circuit diagram data corresponding to the above, and performs the match verification.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による論
理検証装置の構成を示す図である。図において、1は実
施の形態1による論理検証装置であって、電圧値情報を
扱った論理検証を行う。2は従来の論理シミュレーショ
ン用のネットリストで、電圧値情報が付与されていない
論理モデルと論理回路接続情報が記述されたファイルで
ある。2aは論理ゲートを表現した論理モデルをまとめ
た論理シミュレーション用モデル群であって、ネットリ
スト2の論理回路接続情報によって各論理モデルから構
成される論理回路を表現する。2bは論理モデルを構成
するモデルである基本モデルをまとめた論理シミュレー
ション用基本モデル群で、ネットリスト2の論理回路接
続情報によって各基本モデルから構成される論理モデル
を表現する。基本モデルとは、例えばpchトランジス
タ対応モデルなどのゲート回路を構成する半導体素子の
論理的な動作を表現するモデルである。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1. 1 is a diagram showing the configuration of a logic verification device according to a first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 is a logic verification device according to the first embodiment, which performs logic verification dealing with voltage value information. Reference numeral 2 denotes a conventional netlist for logic simulation, which is a file in which a logic model to which voltage value information is not added and logic circuit connection information are described. Reference numeral 2a is a logic simulation model group in which logic models expressing logic gates are combined, and the logic circuit connection information of the netlist 2 expresses a logic circuit composed of each logic model. Reference numeral 2b is a basic model group for logic simulation, which is a group of basic models which are models constituting the logical model, and expresses a logical model composed of each basic model by the logic circuit connection information of the netlist 2. The basic model is a model that represents a logical operation of a semiconductor element that constitutes a gate circuit, such as a model corresponding to a pch transistor.

【0035】3は本発明の特徴である電圧値情報処理モ
デルであって、入力された電圧値の認識と自らに設定さ
れた電圧値とを比較して「耐圧を越えたために破壊され
た」などを判断し、この物理現象を「不定値を出力す
る」などの論理情報に置き換えて他の基本モデルに伝搬
させるか、設計者に報告する情報を生成する。この電圧
値情報処理モデル3は、具体的には論理検証装置1が理
解可能な機能記述言語によって記述されたプログラム
で、論理検証装置1の1つの機能として動作する。4は
論理検証の際に入力されるテストベンチであって、テス
トパターンと出力期待値とが記述されたファイルであ
る。また、このテストベンチのテストパターンには、従
来の信号値情報に加えて電圧値情報が組み込まれてい
る。この電圧値情報は、電圧値情報処理モデル3が本来
の電圧値を復元できるように簡易な情報に符号化された
ものでよい。例えば、3.3Vの電圧値に相当するデー
タとして、「A」というキーワードを伝搬させるなどで
ある。
Reference numeral 3 is a voltage value information processing model which is a feature of the present invention, and it is "destroyed due to exceeding the withstand voltage" by comparing the recognition of the input voltage value with the voltage value set by itself. Etc., the physical phenomenon is replaced with logical information such as “output an indefinite value” and propagated to another basic model, or information to be reported to the designer is generated. The voltage value information processing model 3 is specifically a program written in a function description language that the logic verification device 1 can understand, and operates as one function of the logic verification device 1. Reference numeral 4 is a test bench input at the time of logic verification, and is a file in which a test pattern and an expected output value are described. The test pattern of this test bench incorporates voltage value information in addition to the conventional signal value information. This voltage value information may be encoded as simple information so that the voltage value information processing model 3 can restore the original voltage value. For example, the keyword “A” is propagated as data corresponding to a voltage value of 3.3V.

【0036】5は論理検証を実行する論理検証実行手段
で、テストパターンに対する論理モデルの処理結果と出
力期待値とを比較して得た論理モデルの動作検証結果と
論理モデルを構成する基本モデルに付加した電圧値情報
処理モデル3を伝搬させた電圧値情報とを検証結果とし
て出力する。6は論理検証実行手段5からの検証結果デ
ータを出力する出力部であって、表示手段7や検証結果
ファイル8として出力する際におけるデータ形式変換な
どを行う出力制御機構も含むものとする。7は表示手段
で、論理検証装置1を構成するコンピュータ装置のCR
TやLCDなどで実現される。8は論理検証実行手段5
からの電圧値情報を含む検証結果をまとめた検証結果フ
ァイル(検証結果データ)で、論理検証装置1を構成す
るコンピュータ装置の記憶装置に格納されるデータであ
る。
Reference numeral 5 is a logic verification executing means for executing logic verification, which is used as a basic model constituting the operation verification result of the logic model obtained by comparing the processing result of the logic model with respect to the test pattern and the expected output value. The voltage value information transmitted by the added voltage value information processing model 3 is output as a verification result. An output unit 6 outputs the verification result data from the logic verification executing unit 5, and includes an output control mechanism that performs data format conversion when outputting the verification result data as the display unit 7 and the verification result file 8. Reference numeral 7 denotes a display means, which is a CR of a computer device that constitutes the logic verification device 1.
It is realized by T and LCD. 8 is a logic verification executing means 5
It is a verification result file (verification result data) in which verification results including voltage value information from are collected, and is data stored in the storage device of the computer device configuring the logic verification device 1.

【0037】9は電圧値情報処理モデル付加手段であっ
て、論理シミュレーション用基本モデル群2bに電圧値
情報処理モデル3を組み込んでなる論理シミュレーショ
ン用基本モデル群11bを生成する。10は任意の基本
モデル又は論理モデルに関する電圧値情報を記述した電
圧値情報ファイルで、論理検証の際に電圧値情報処理モ
デル3に読み込まれて電圧値情報の基本データとなる。
11は論理検証装置1内のメモリに展開された論理シミ
ュレーション用のネットリストであって、論理回路接続
情報に基づいて論理シミュレーション用モデル群11a
によって検証対象の論理回路と等価なデータを構成す
る。11aは論理シミュレーション用モデル群で、電圧
値情報処理モデル3を組み込んだ基本モデルからなる論
理モデルをまとめたものである。11bは論理シミュレ
ーション用基本モデル群であって、電圧値情報処理モデ
ル3を組み込んだ基本モデルをまとめたものである。
Numeral 9 is a voltage value information processing model adding means for generating a logic simulation basic model group 11b in which the voltage value information processing model 3 is incorporated in the logic simulation basic model group 2b. Reference numeral 10 is a voltage value information file describing voltage value information relating to an arbitrary basic model or logic model, which is read by the voltage value information processing model 3 at the time of logic verification and becomes basic data of voltage value information.
Reference numeral 11 denotes a logic simulation netlist expanded in the memory of the logic verification device 1, and the logic simulation model group 11a is based on the logic circuit connection information.
Constitutes data equivalent to the logic circuit to be verified. Reference numeral 11a denotes a logic simulation model group, which is a collection of logic models including a basic model incorporating the voltage value information processing model 3. Reference numeral 11b is a basic model group for logic simulation, which is a group of basic models incorporating the voltage value information processing model 3.

【0038】図2は図1中の電圧値情報処理モデルの構
成を示すブロック図である。図において、3aは電圧値
情報処理モデル3の1つの構成要素である電圧値情報認
識部で、論理検証実行手段5から受け取った電圧値情報
12aを実際の電圧値に復元する。3bは電圧値情報判
断部であって、電圧値情報認識部3aが復元した電圧値
と電圧値情報ファイル10からの規定電圧値情報13と
を比較してその大小関係を判断する。3cは電圧値情報
判断部3bによる処理結果を受ける報告部で、電圧値情
報判断部3bによる処理結果に基づいて電圧値情報付加
部3dを制御する。3dは電圧値情報付加部であって、
報告部3cの制御によって次段の基本モデルに対応する
電圧値情報処理モデル3(以下、次段素子と称する)に
出力すべき電圧値情報12bを生成し出力する。12
a,12bは電圧値情報で、論理検証中に電圧値情報処
理モデル3間を伝搬する。13は基準電圧値や許容電圧
値情報からなる規定電圧値情報であって、電圧値情報処
理モデル3が電圧値情報ファイル10から適宜読み出し
て内部の電圧値情報判断部3bに供給するデータであ
る。これら電圧値情報処理モデル3の構成部は、具体的
には論理検証装置1で理解可能な言語で作成されたプロ
グラムである。なお、図1と同一構成要素には同一符号
を付して重複する説明を省略する。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the voltage value information processing model in FIG. In the figure, 3a is a voltage value information recognition unit which is one component of the voltage value information processing model 3, and restores the voltage value information 12a received from the logic verification executing means 5 to the actual voltage value. Reference numeral 3b is a voltage value information determination unit that compares the voltage value restored by the voltage value information recognition unit 3a with the specified voltage value information 13 from the voltage value information file 10 to determine the magnitude relationship. A reporting unit 3c receives the processing result by the voltage value information judging unit 3b, and controls the voltage value information adding unit 3d based on the processing result by the voltage value information judging unit 3b. 3d is a voltage value information addition unit,
Under the control of the reporting unit 3c, the voltage value information 12b to be output to the voltage value information processing model 3 (hereinafter referred to as the next-stage element) corresponding to the next-stage basic model is generated and output. 12
a and 12b are voltage value information, which propagates between the voltage value information processing models 3 during the logic verification. Reference numeral 13 is defined voltage value information including a reference voltage value and allowable voltage value information, which is data which the voltage value information processing model 3 appropriately reads from the voltage value information file 10 and supplies to the internal voltage value information determination unit 3b. . The components of the voltage value information processing model 3 are specifically programs created in a language understandable by the logic verification device 1. In addition, the same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0039】図3は図1中の電圧値情報ファイルの一例
を示す図である。図に示すように、電圧値情報ファイル
10は、//を先頭に記載されるコメント行があり、T
OP.CHIP.TIMERB.G01_ID1やSD
RAMなどの電圧値情報処理モデル3の付加対象を特定
するためのインスタンスID又はモジュール名を記述す
る記述フィールド、基準電圧値情報の記述フィールド、
許容電圧値情報の記述フィールド(基準電圧値情報に対
して、絶対値や相対値で許容電圧値を指定する)から構
成されている。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the voltage value information file in FIG. As shown in the figure, the voltage value information file 10 has a comment line beginning with //
OP. CHIP. TIMERB. G01_ID1 and SD
A description field for describing an instance ID or a module name for specifying an addition target of the voltage value information processing model 3 such as a RAM, a description field for reference voltage value information,
It is composed of a description field of the allowable voltage value information (for the reference voltage value information, the allowable voltage value is designated by an absolute value or a relative value).

【0040】次に動作について説明する。図4は実施の
形態1による論理検証装置の動作を示すフロー図であ
り、この図に沿って実施の形態1による論理検証につい
て説明する。先ず、論理検証装置1は、従来の論理シミ
ュレーション用のネットリスト2、このネットリスト2
内の論理回路接続情報によって接続関係が規定される論
理シミュレーション用モデル群2a及びこれを構成する
論理シミュレーション用基本モデル群2b、電圧値情報
処理モデル3、論理シミュレーション用のテストベンチ
4、電圧値情報ファイル10を読み込む(ステップST
1)。
Next, the operation will be described. FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the first embodiment, and the logic verification according to the first embodiment will be described with reference to this flow chart. First, the logic verification device 1 uses the netlist 2 for the conventional logic simulation, the netlist 2
The logic simulation model group 2a whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information in the above, the logic simulation basic model group 2b that constitutes the logic simulation model group 2b, the voltage value information processing model 3, the logic simulation test bench 4, and the voltage value information Read file 10 (step ST
1).

【0041】論理検証装置1では、ネットリスト2、こ
のネットリスト2内の論理回路接続情報によって接続関
係が規定される論理シミュレーション用モデル群2aを
内部のメモリに展開して、論理回路図と等価なデータと
なるネットリスト11及びこのネットリスト11内の論
理回路接続情報によって接続関係が規定される論理シミ
ュレーション用モデル群11aを生成する。このとき、
論理検証装置1内の電圧値情報処理モデル付加手段9
は、図3に示すような電圧値情報ファイル10に記述さ
れている電圧値情報処理モデル3の付加対象を特定する
ためのインスタンスID又はモジュール名を読み出し
て、これに沿って論理シミュレーション用基本モデル群
2b内の基本モデルに電圧値情報処理モデル3を組み込
む(ステップST2)。具体的には、基本モデルの入
力、出力、入出力ポートにそれぞれ電圧値情報処理モデ
ル3を組み込んでゆく。これらステップST1及びステ
ップST2が電圧値情報処理モデル付加ステップに相当
する。
In the logic verification device 1, the netlist 2 and the logic simulation model group 2a whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information in the netlist 2 are expanded in the internal memory and equivalent to the logic circuit diagram. Of the net simulation 11 and the logic simulation model group 11a whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information in the net list 11. At this time,
Voltage value information processing model adding means 9 in the logic verification device 1
Reads out the instance ID or module name for specifying the addition target of the voltage value information processing model 3 described in the voltage value information file 10 as shown in FIG. 3, and follows the basic model for logic simulation. The voltage value information processing model 3 is incorporated into the basic model in the group 2b (step ST2). Specifically, the voltage value information processing model 3 is incorporated into each of the input, output, and input / output ports of the basic model. These steps ST1 and ST2 correspond to the voltage value information processing model addition step.

【0042】次に、論理検証実行手段5がテストベンチ
4からテストパターン(論理検証用に特定の値が設定さ
れた入力信号列)及びこのテストパターンを処理した論
理モデルに対する出力期待値を読み出し、テストパター
ンをネットリスト11に逐次供給する。これによって論
理検証動作が開始される。ネットリスト11では、論理
シミュレーション用モデル群11a内の論理モデルにテ
ストパターンが供給され、これに従って処理された結果
が論理回路接続情報によって接続関係が規定される次段
素子に次々と伝搬していく。このとき、論理モデルを構
成する基本モデルに組み込まれた電圧値情報処理モデル
3は、テストパターンから電圧値情報12aを読み出
し、電圧値に関する処理を行う(ステップST3)。
Next, the logic verification executing means 5 reads from the test bench 4 a test pattern (an input signal sequence in which a specific value is set for logic verification) and an expected output value for the logic model that processed this test pattern, The test patterns are sequentially supplied to the netlist 11. This starts the logic verification operation. In the netlist 11, the test patterns are supplied to the logic models in the logic simulation model group 11a, and the results processed according to the test patterns are successively propagated to the next-stage element whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information. . At this time, the voltage value information processing model 3 incorporated in the basic model forming the logic model reads the voltage value information 12a from the test pattern and performs a process related to the voltage value (step ST3).

【0043】電圧値情報処理モデル3における具体的な
処理の流れを説明する。先ず、読み込まれた電圧値情報
12aは、電圧値情報認識部3aに入力される。電圧値
情報認識部3aでは、電圧値情報12aを解読して本来
の電圧値を復元し、電圧値情報判断部3bに出力する。
例えば、「A」というキーワードが記述された電圧値情
報を受けると、これに相当する3.3Vの電圧値に復元
する。また、入力した電圧値情報が前段素子からの電圧
値情報12bである場合は、何Vの電圧値が定義された
基本モデルからの処理要求なのかが電圧値情報認識部3
aによって認識される。
A specific processing flow in the voltage value information processing model 3 will be described. First, the read voltage value information 12a is input to the voltage value information recognition unit 3a. The voltage value information recognition unit 3a decodes the voltage value information 12a to restore the original voltage value, and outputs it to the voltage value information determination unit 3b.
For example, when the voltage value information in which the keyword “A” is described is received, the voltage value of 3.3 V corresponding to this is restored. When the input voltage value information is the voltage value information 12b from the preceding element, the voltage value information recognizing unit 3 determines how many voltage values the processing request from the basic model defines.
recognized by a.

【0044】電圧値情報判断部3bでは、先ず、電圧値
情報ファイル10から自己に規定された規定電圧値情報
を読み出し、これに設定された基準電圧値情報と許容電
圧値情報とから自己の許容電圧値を求める。例えば、自
己に設定された基準電圧情報が「3.3」で、許容電圧
値情報が「+1.0」である場合、許容電圧値を4.3
V(=3.3+1.0)とする。このあと、電圧値情報
判断部3bは、復元された電圧値と上記許容電圧値とを
算術比較して許容電圧値との大小関係を判定し、次段素
子に電圧値情報を伝搬させるべきか否かを判断する。ま
た、電圧値情報の伝搬方向としては、入力→出力、入出
力→出力というような限定は行わず、出力→入力という
ようないわゆる逆流もあり得るものとする。
In the voltage value information judging section 3b, first, the specified voltage value information specified by itself is read out from the voltage value information file 10, and based on the reference voltage value information and the allowable voltage value information set in this, the information of its own approval is given. Calculate the voltage value. For example, when the reference voltage information set for itself is “3.3” and the allowable voltage value information is “+1.0”, the allowable voltage value is 4.3.
V (= 3.3 + 1.0). After that, the voltage value information determination unit 3b should compare the restored voltage value and the allowable voltage value by arithmetic comparison to determine the magnitude relationship between the allowable voltage value and propagate the voltage value information to the next-stage element. Determine whether or not. The propagation direction of the voltage value information is not limited to input → output, input / output → output, and so-called backflow of output → input is possible.

【0045】電圧値情報判断部3bによる処理結果は、
報告部3cに入力される。報告部3cでは、電圧値情報
判断部3bによる処理結果に基づいて電圧値情報付加部
3dを制御する。具体的には、電圧値情報判断部3bに
よって許容電圧値以下と判定された場合、論理値と電圧
値情報12bとを次段素子に伝搬するように電圧値情報
付加部3dを制御する。これによって、電圧値情報付加
部3dは、自己が組み込まれた基本モデルによるテスト
パターンの処理結果に関する論理値と、自己の電圧値情
報の処理結果である電圧値情報12bとを次段素子に出
力する。ここで、電圧値情報12bとは、自己が何Vの
電圧値を出力しているのかを定義する情報に相当する。
The processing result by the voltage value information judging section 3b is
It is input to the reporting unit 3c. The reporting unit 3c controls the voltage value information adding unit 3d based on the processing result of the voltage value information determining unit 3b. Specifically, when the voltage value information determination unit 3b determines that the voltage value is less than or equal to the allowable voltage value, the voltage value information addition unit 3d is controlled to propagate the logical value and the voltage value information 12b to the next-stage element. As a result, the voltage value information adding unit 3d outputs the logical value related to the processing result of the test pattern by the basic model in which it is incorporated and the voltage value information 12b which is the processing result of its own voltage value information to the next-stage element. To do. Here, the voltage value information 12b corresponds to information defining what voltage value of V the self is outputting.

【0046】一方、許容電圧値より大きい場合は、先
ず、次段素子が破壊されたことを示す警告メッセージ情
報を生成して論理検証実行手段5に出力する。論理検証
実行手段5では、該警告メッセージ情報を出力部6に送
出する。出力部6は、表示手段7に表示可能な形式や検
証結果ファイル8に対応する形式に警告メッセージ情報
を変換して出力する。これによって、設計者は、電圧値
設定に不備があったことを論理検証によって知ることが
できる。警告メッセージとして、例えば「警告!! 時
刻AAAにおいて次段素子BBBは異常電圧値CCC
(V)によって破壊されました。次段素子BBBの許容
電圧値はDDD(V)です。警告番号EEE−警告カウ
ントFFF(警告数の累積値)」を出力する。
On the other hand, if it is larger than the allowable voltage value, first, warning message information indicating that the next-stage element is destroyed is generated and output to the logic verification executing means 5. The logic verification executing means 5 sends the warning message information to the output unit 6. The output unit 6 converts the warning message information into a format displayable on the display unit 7 or a format corresponding to the verification result file 8 and outputs the warning message information. This allows the designer to know by logic verification that the voltage value setting was inadequate. As the warning message, for example, “Warning! At time AAA, the next-stage element BBB has an abnormal voltage value CCC
Destroyed by (V). The allowable voltage value of the next-stage element BBB is DDD (V). Warning number EEE-warning count FFF (cumulative number of warnings) "is output.

【0047】このとき同時に、報告部3cは、該素子か
らの入力電圧値の受け入れが不可であることを示す情報
を生成するように電圧値情報付加部3dを制御する。こ
れによって、電圧値情報付加部3dは、該素子からの入
力電圧値の受け入れが不可であることを示す情報を生成
して次段素子に伝搬させる。この受け入れ不可を示す情
報としては、例えば電圧値情報12a,12bがキーワ
ード「A」を示す情報であるならば、これと重複しない
「ZZZ」などのキーワードを割り当てたものを使用す
る。
At the same time, the reporting unit 3c controls the voltage value information adding unit 3d so as to generate information indicating that the input voltage value from the device cannot be accepted. As a result, the voltage value information adding unit 3d generates information indicating that the input voltage value from the element cannot be accepted and propagates it to the next-stage element. For example, if the voltage value information 12a, 12b is information indicating the keyword "A", the information indicating the unacceptability is assigned with a keyword such as "ZZZ" that does not overlap with this information.

【0048】また、論理検証実行手段5には、電圧値情
報処理モデル3による処理結果である電圧値情報と共
に、ネットリスト11に供給したテストパターン対する
論理モデルの処理結果が逐次入力されている。これによ
って、論理検証実行手段5は、入力した処理結果と出力
期待値とを比較して、メモリ上に展開したネットリスト
11が期待通り動作しているか否かを動的に検証する。
ここまでの動作がステップST4に相当する。
Further, the logic verification processing means 5 is sequentially input with the voltage value information which is the processing result by the voltage value information processing model 3 and the processing result of the logical model for the test pattern supplied to the netlist 11. As a result, the logic verification executing means 5 compares the input processing result with the expected output value and dynamically verifies whether the netlist 11 expanded on the memory is operating as expected.
The operation so far corresponds to step ST4.

【0049】この論理検証動作は、論理検証実行手段5
がネットリスト11に全てのテストパターンを入力し終
えるまで繰り返される(ステップST5)。最後に、全
てのテストパターンが入力し終わると、論理検証実行手
段5は、電圧値情報を含む検証結果をまとめて出力部6
に送出する。出力部6では、入力した検証結果データを
適当な形式変換して検証結果ファイル8や表示手段7に
出力する(ステップST6)。上述したステップST3
からステップST6までの処理が論理検証ステップに相
当する。
This logic verification operation is performed by the logic verification execution means 5.
Is repeated until all the test patterns have been input to the netlist 11 (step ST5). Finally, when all the test patterns have been input, the logic verification executing means 5 collectively outputs the verification results including the voltage value information to the output unit 6.
Send to. The output unit 6 converts the input verification result data into an appropriate format and outputs it to the verification result file 8 and the display means 7 (step ST6). Step ST3 described above
The processing from to ST6 corresponds to the logic verification step.

【0050】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、論理シミュレーション技術に「電圧値を扱う」とい
う回路シミュレーション技術を取り入れる、つまり、論
理モデルを構成する基本モデルに電圧値情報処理モデル
3を組み込んで電圧値に関する情報を扱えるようにした
ので、従来の論理シミュレーション用のネットリスト2
を使用しながら異電圧接続部の正確な論理検証を行うこ
とができる。
As described above, according to the first embodiment, the circuit simulation technique of "handling a voltage value" is incorporated in the logic simulation technique, that is, the voltage value information processing model 3 is added to the basic model forming the logic model. Since it is possible to handle the information about the voltage value by incorporating, the netlist 2 for the conventional logic simulation is used.
It is possible to perform accurate logic verification of different voltage connection parts while using.

【0051】実施の形態2.図5はこの発明の実施の形
態2による論理検証装置の構成を示す図である。図にお
いて、1Aは実施の形態2による論理検証装置であっ
て、電圧値情報が設定された論理回路図データ14を用
いて電圧値情報を扱った論理検証を行う。8aは論理検
証装置1Aによる検証結果をまとめた検証結果ファイル
(検証結果データ)で、テストパターンに対する論理モ
デルに従った処理結果に加えて、論理回路図データ14
を用いた電圧値情報の処理結果を含んで構成される。1
0aは電圧値情報ファイルであって、論理回路図データ
14から抽出した電圧値情報を用いて電圧値情報/ネッ
トリスト生成手段15によって生成される。14は電圧
値情報を予め設定した論理回路図データで、このデータ
から論理回路の接続情報などを抽出することでネットリ
ストが生成される。ここでは、従来の論理回路図データ
に対して、CADシステムを用いて表示画面上で設計者
が各素子を1つ1つ特定してその電圧値を設定する、若
しくは、素子のシンボル名を各々判別して電圧値を自動
設定するプログラムを搭載するなどして、電圧値情報を
予め設定した論理回路図データ14を生成する。
Embodiment 2. FIG. 5 is a diagram showing the configuration of the logic verification device according to the second embodiment of the present invention. In the figure, 1A is a logic verification device according to the second embodiment, which performs logic verification using voltage value information using logic circuit diagram data 14 in which voltage value information is set. Reference numeral 8a denotes a verification result file (verification result data) in which the verification results by the logic verification device 1A are summarized. In addition to the processing result according to the logic model for the test pattern, the logic circuit diagram data 14
It is configured to include the processing result of the voltage value information using. 1
A voltage value information file 0a is generated by the voltage value information / netlist generating means 15 using the voltage value information extracted from the logic circuit diagram data 14. Reference numeral 14 is logic circuit diagram data in which voltage value information is preset, and a netlist is generated by extracting connection information of the logic circuit from this data. Here, with respect to the conventional logic circuit diagram data, the designer specifies each element on the display screen using the CAD system and sets the voltage value, or the symbol name of each element is set. The logic circuit diagram data 14 in which the voltage value information is preset is generated by, for example, installing a program that determines and automatically sets the voltage value.

【0052】15は電圧値情報/ネットリスト生成手段
(電圧値情報ファイル・ネットリスト生成手段)であっ
て、論理回路図データ14から抽出した情報を用いて電
圧値情報ファイル10a及びネットリスト16を生成す
る。16はネットリストで、電圧値情報/ネットリスト
生成手段15が論理回路図データ14から抽出した論理
モデルを特定する情報及び論理回路接続情報を用いて生
成される。16aは論理シミュレーション用モデル群で
あって、ネットリスト16に記述された論理回路接続情
報によって論理検証対象の論理回路図と等価になるよう
に接続関係が規定される論理モデルから構成される。1
6bは論理シミュレーション用モデル群16a内の論理
モデルを構成する基本モデルをまとめてなる論理シミュ
レーション用基本モデル群で、基本モデルの入力、出
力、入出力ポートに予め電圧値情報処理モデル3が組み
込まれている。なお、図1と同一構成要素には同一符号
を付して重複する説明を省略する。
Reference numeral 15 is a voltage value information / netlist generating means (voltage value information file / netlist generating means), which uses the information extracted from the logic circuit diagram data 14 to generate the voltage value information file 10a and the netlist 16. To generate. Reference numeral 16 is a net list, which is generated using the voltage value information / net list generation means 15 using the information for specifying the logic model extracted from the logic circuit diagram data 14 and the logic circuit connection information. A logical simulation model group 16a is constituted by a logical model in which the connection relation is defined by the logic circuit connection information described in the netlist 16 so as to be equivalent to the logic circuit diagram of the logic verification target. 1
6b is a basic model group for logic simulation, which is a group of basic models constituting the logical model in the logical simulation model group 16a. The voltage value information processing model 3 is previously incorporated in the input, output, and input / output ports of the basic model. ing. In addition, the same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0053】次に動作について説明する。図6は実施の
形態2による論理検証装置の動作を示すフロー図であ
り、この図に沿って実施の形態2による論理検証につい
て説明する。先ず、論理検証装置1Aは、論理シミュレ
ーション用のテストベンチ4、論理回路図データ14、
論理シミュレーション用モデル群16a及びこれを構成
する論理シミュレーション用基本モデル群16bを読み
込む(ステップST1a)。
Next, the operation will be described. FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the second embodiment, and the logic verification according to the second embodiment will be described with reference to this flow chart. First, the logic verification device 1A includes a test bench 4 for logic simulation, logic circuit diagram data 14,
The logic simulation model group 16a and the logic simulation basic model group 16b constituting the logic simulation model group 16a are read (step ST1a).

【0054】次に、論理検証装置1A内の電圧値情報/
ネットリスト生成手段15は、論理回路図データ14か
ら電圧値情報を抽出して、図5に示すような形式の電圧
値情報ファイル10aを生成する。また、これと同時
に、電圧値情報/ネットリスト生成手段15は、論理回
路図データ14から論理モデルを特定する情報及び論理
回路接続情報を抽出して、ネットリスト16を生成す
る。これによって、ネットリスト16に記述された論理
回路接続情報によって接続関係が規定される論理モデル
から構成される論理シミュレーション用モデル群16a
やこれを構成する論理シミュレーション用基本モデル群
16b(電圧値情報処理モデル3が予め組み込まれてい
る)によって、論理検証装置1A内のメモリ上に論理検
証対象の論理回路図と等価になるデータが展開される
(ステップST2a)。これらステップST1aからス
テップST2aまでの処理が電圧値情報ファイル・ネッ
トリスト生成ステップに相当する。
Next, the voltage value information in the logic verification device 1A /
The net list generating means 15 extracts the voltage value information from the logic circuit diagram data 14 and generates the voltage value information file 10a in the format as shown in FIG. At the same time, the voltage value information / netlist generating means 15 extracts the information for specifying the logic model and the logic circuit connection information from the logic circuit diagram data 14 to generate the netlist 16. As a result, the logic simulation model group 16a composed of the logic models whose connection relationships are defined by the logic circuit connection information described in the netlist 16
By the logic simulation basic model group 16b (the voltage value information processing model 3 is incorporated in advance) constituting the same, data equivalent to the logic circuit diagram of the logic verification target is stored in the memory in the logic verification device 1A. It is developed (step ST2a). The processes from step ST1a to step ST2a correspond to the voltage value information file / netlist generating step.

【0055】このあとのテストベンチ4からテストパタ
ーンを読み込んで開始される論理検証動作(ステップS
T3からステップST6までの処理)は、上記実施の形
態1と同様であるので重複する説明を省略する。この論
理検証動作で得られる検証結果ファイル8aは、論理回
路図データ14からの電圧値情報による処理結果を含ん
でいる。
After that, the logic verification operation started by reading the test pattern from the test bench 4 (step S
The processing from T3 to step ST6) is the same as that of the above-described first embodiment, and thus the duplicated description will be omitted. The verification result file 8a obtained by this logic verification operation includes the processing result based on the voltage value information from the logic circuit diagram data 14.

【0056】上述のように、論理シミュレーション用基
本モデル群16b内の基本モデルの入力、出力、入出力
ポートに電圧値情報処理モデル3を予め組み込んでおく
ことで、電圧値情報処理モデル付加手段9を省略するこ
とができる。また、この実施の形態2による論理検証装
置1Aに電圧値情報処理モデル付加手段9を設けて、電
圧値情報処理モデル3を予め組み込んだ論理シミュレー
ション用基本モデル群16bを使用しない構成にしても
よい。この場合、どの基本モデルに電圧値情報処理モデ
ル3を組み込むかは、論理回路図データ14からの情報
で生成された電圧値情報ファイル10aに基づいて決定
される。これらの処理は、論理検証装置1Aによって自
動的に行われる。
As described above, by incorporating the voltage value information processing model 3 in the input, output and input / output ports of the basic model in the logical simulation basic model group 16b in advance, the voltage value information processing model adding means 9 Can be omitted. Further, the logic value verification information processing model addition means 9 may be provided in the logic verification device 1A according to the second embodiment so that the logic simulation basic model group 16b in which the voltage value information processing model 3 is incorporated is not used. . In this case, which basic model the voltage value information processing model 3 is incorporated into is determined based on the voltage value information file 10a generated from the information from the logic circuit diagram data 14. These processes are automatically performed by the logic verification device 1A.

【0057】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、論理回路図データ14に予め設定された電圧値情報
を抽出する機能を設けたので、電圧値情報の論理回路図
データ14からのフォワードアノテーションが可能とな
り、異電圧接続部の正確な論理検証を行うことができ
る。
As described above, according to the second embodiment, the logic circuit diagram data 14 is provided with the function of extracting preset voltage value information. Therefore, the voltage value information from the logic circuit diagram data 14 is extracted from the logic circuit diagram data 14. Forward annotation is possible, and accurate logic verification of different voltage connection parts can be performed.

【0058】実施の形態3.図7はこの発明の実施の形
態3による論理検証装置の構成を示す図である。図にお
いて、1Bは実施の形態3による論理検証装置であっ
て、電圧値情報が設定されたレイアウトパターンデータ
17を用いて電圧値情報を扱った論理検証を行う。8b
は実施の形態3による論理検証装置1Bによる検証結果
ファイル(検証結果データ)で、テストパターンに対す
る論理モデルに従った処理結果に加えて、レイアウトパ
ターンデータ17を用いた電圧値情報の処理結果を含ん
で構成される。10bは電圧値情報ファイルであって、
レイアウトパターンデータ17から抽出した電圧値情報
を用いて電圧値情報ファイル生成手段19によって生成
される。17は電圧値情報が設定されたレイアウトパタ
ーンデータで、レイアウト設計工程において論理設計や
回路設計などの上流の工程で決定された回路図に対して
物理的形状と寸法を有する回路素子を配置配線して得ら
れる。ここでは、従来のレイアウトパターンデータに対
して、CADシステムを用いて表示画面上で設計者が各
素子を1つ1つ特定してその電圧値を設定する、若しく
は、レイアウトパターンを判別して電圧値を自動設定す
るプログラムを搭載するなどして、電圧値情報を予め設
定したレイアウトパターンデータ17を生成する。
Third Embodiment FIG. 7 is a diagram showing the configuration of the logic verification device according to the third embodiment of the present invention. In the figure, 1B is a logic verification device according to the third embodiment, which performs a logic verification using voltage value information by using layout pattern data 17 in which voltage value information is set. 8b
Is a verification result file (verification result data) by the logic verification device 1B according to the third embodiment, and includes the processing result of the voltage value information using the layout pattern data 17 in addition to the processing result according to the logic model for the test pattern. Composed of. 10b is a voltage value information file,
The voltage value information is generated by the voltage value information file generating means 19 using the voltage value information extracted from the layout pattern data 17. Reference numeral 17 is layout pattern data in which voltage value information is set, and circuit elements having a physical shape and dimensions are placed and wired in the circuit diagram determined in an upstream process such as logic design or circuit design in the layout design process. Obtained. Here, with respect to the conventional layout pattern data, the designer specifies each element one by one on the display screen using the CAD system and sets the voltage value, or the layout pattern is determined and the voltage is determined. The layout pattern data 17 in which the voltage value information is preset is generated by installing a program for automatically setting the value.

【0059】18はレイアウトパターンデータ17と1
対1に対応する論理回路接続情報を有する論理回路図デ
ータであって、このデータから論理回路の接続情報など
を抽出することでネットリスト21が生成される。19
は電圧値情報ファイル生成手段で、レイアウトパターン
データ17から抽出した情報を用いて電圧値情報ファイ
ル10bを生成する。20はネットリスト生成手段であ
って、論理回路図データ18から抽出した情報を用いて
ネットリスト21を生成する。21は論理シミュレーシ
ョン用のネットリストで、ネットリスト生成手段20が
論理回路図データ18から抽出した論理モデルを特定す
る情報及び論理回路接続情報を用いて生成される。21
aは論理シミュレーション用モデル群であって、ネット
リスト21に記述された論理回路接続情報によって論理
検証対象の論理回路図と等価になるように接続関係が規
定される論理モデルから構成される。21bは論理シミ
ュレーション用モデル群21a内の論理モデルを構成す
る基本モデルをまとめてなる論理シミュレーション用基
本モデル群で、基本モデルの入力、出力、入出力ポート
に予め電圧値情報処理モデル3が組み込まれている。な
お、図1及び図5と同一構成要素には同一符号を付して
重複する説明を省略する。
18 is layout pattern data 17 and 1
It is the logic circuit diagram data having the logic circuit connection information corresponding to the pair 1, and the netlist 21 is generated by extracting the connection information of the logic circuit from this data. 19
Is a voltage value information file generating means for generating the voltage value information file 10b using the information extracted from the layout pattern data 17. Reference numeral 20 is a netlist generating means, which generates a netlist 21 using the information extracted from the logic circuit diagram data 18. Reference numeral 21 is a netlist for logic simulation, which is generated using the information for specifying the logic model extracted from the logic circuit diagram data 18 by the netlist generating means 20 and the logic circuit connection information. 21
Reference numeral a is a model group for logic simulation, and is composed of a logic model in which the connection relationship is defined by the logic circuit connection information described in the netlist 21 so as to be equivalent to the logic circuit diagram of the logic verification target. Reference numeral 21b is a basic model group for logic simulation, which is a group of basic models constituting the logical model in the logical simulation model group 21a. The voltage value information processing model 3 is previously incorporated in the input, output and input / output ports of the basic model. ing. The same components as those in FIGS. 1 and 5 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0060】次に動作について説明する。図8は実施の
形態3による論理検証装置の動作を示すフロー図であ
り、この図に沿って実施の形態3による論理検証につい
て説明する。先ず、論理検証装置1Bは、論理シミュレ
ーション用のテストベンチ4、レイアウトパターンデー
タ17、論理回路図データ18、論理シミュレーション
用モデル群21a及びこれを構成する論理シミュレーシ
ョン用基本モデル群21bを読み込む(ステップST1
b)。
Next, the operation will be described. FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the third embodiment, and the logic verification according to the third embodiment will be described with reference to this flow chart. First, the logic verification device 1B reads the test bench 4 for logic simulation, the layout pattern data 17, the logic circuit diagram data 18, the logic simulation model group 21a and the logic simulation basic model group 21b constituting the logic simulation model group 21b (step ST1).
b).

【0061】次に、論理検証装置1B内の電圧値情報フ
ァイル生成手段19は、レイアウトパターンデータ17
から電圧値情報を抽出して、図7に示すような形式の電
圧値情報ファイル10bを生成する。また、これと同時
に、ネットリスト生成手段20は、論理回路図データ1
8から論理モデルを特定する情報及び論理回路接続情報
を抽出して、ネットリスト21を生成する。これによっ
て、ネットリスト21に記述された論理回路接続情報に
よって接続関係が規定される論理モデルから構成される
論理シミュレーション用モデル群21aやこれを構成す
る論理シミュレーション用基本モデル群21b(電圧値
情報処理モデル3が予め組み込まれている)によって、
論理検証装置1B内のメモリ上に論理検証対象の論理回
路図と等価になるデータが展開される(ステップST2
b)。これらステップST1bからステップST2bま
での処理が電圧値情報ファイル生成ステップ及びネット
リスト生成ステップに相当する。
Next, the voltage value information file generating means 19 in the logic verification device 1B causes the layout pattern data 17 to be generated.
The voltage value information is extracted from the file to generate the voltage value information file 10b in the format as shown in FIG. At the same time, the netlist generating means 20 determines that the logic circuit diagram data 1
The information for specifying the logical model and the logical circuit connection information are extracted from 8 to generate the netlist 21. As a result, a logical simulation model group 21a including a logical model whose connection relationship is defined by the logical circuit connection information described in the netlist 21 and a logical simulation basic model group 21b (voltage value information processing) forming the logical simulation model group 21a. Model 3 is pre-installed)
Data equivalent to the logic circuit diagram of the logic verification target is developed on the memory in the logic verification device 1B (step ST2).
b). The processes from step ST1b to step ST2b correspond to the voltage value information file generating step and the netlist generating step.

【0062】このあとのテストベンチ4からテストパタ
ーンを読み込んで開始される論理検証動作(ステップS
T3からステップST6までの処理)は、上記実施の形
態1と同様であるので重複する説明を省略する。この論
理検証動作で得られる検証結果ファイル8bは、レイア
ウトパターンデータ17からの電圧値情報による処理結
果を含んでいる。
After that, the logic verification operation started by reading the test pattern from the test bench 4 (step S
The processing from T3 to step ST6) is the same as that of the above-described first embodiment, and thus the duplicated description will be omitted. The verification result file 8b obtained by this logic verification operation includes the processing result by the voltage value information from the layout pattern data 17.

【0063】上述のように、論理シミュレーション用基
本モデル群21b内の基本モデルの入力、出力、入出力
ポートに電圧値情報処理モデル3を予め組み込んでおく
ことで、電圧値情報処理モデル付加手段9を省略するこ
とができる。また、この実施の形態3による論理検証装
置1Bに電圧値情報処理モデル付加手段9を設けて、電
圧値情報処理モデル3を予め組み込んだ論理シミュレー
ション用基本モデル群21bを使用しない構成にしても
よい。この場合、どの基本モデルに電圧値情報処理モデ
ル3を組み込むかは、レイアウトパターンデータ17か
らの情報で生成された電圧値情報ファイル10bに基づ
いて決定される。これらの処理は、論理検証装置1Bに
よって自動的に行われる。
As described above, by incorporating the voltage value information processing model 3 in the input, output, and input / output ports of the basic model in the logical simulation basic model group 21b in advance, the voltage value information processing model adding means 9 is added. Can be omitted. In addition, the logic value verification information processing model addition means 9 may be provided in the logic verification device 1B according to the third embodiment so that the logic simulation basic model group 21b in which the voltage value information processing model 3 is incorporated is not used. . In this case, which basic model the voltage value information processing model 3 is incorporated into is determined based on the voltage value information file 10b generated from the information from the layout pattern data 17. These processes are automatically performed by the logic verification device 1B.

【0064】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、レイアウトパターンデータ17に予め設定された電
圧値情報を抽出する機能を設けたので、電圧値情報のレ
イアウトパターンデータ17からのバックアノテーショ
ンが可能となり、異電圧接続部の正確な論理検証を行う
ことができる。
As described above, according to the third embodiment, since the layout pattern data 17 has the function of extracting preset voltage value information, the back annotation from the layout pattern data 17 of the voltage value information is performed. It is possible to perform accurate logic verification of different voltage connection parts.

【0065】実施の形態4.図9はこの発明の実施の形
態4による論理検証装置の構成を示す図である。図にお
いて、1Cは実施の形態4による論理検証装置であっ
て、異常電圧発生時の影響範囲を論理シミュレーション
によって検証する。この異常電圧値とは、設計工程を終
えて最終的に製品化された半導体チップの外部で発生す
る静電気などを想定した高電圧値のこと指している。3
Aは論理シミュレーション用基本モデル群22b内の所
定の基本モデルやそれらの接続経路間に組み込まれる電
圧値情報処理モデル(異常電圧情報伝搬モデル)で、電
圧値情報ファイル10cから読み出した想定異常電圧値
を次段素子に出力する電圧値情報付加部のみから構成さ
れる。この電圧値情報処理モデル3Aは、具体的には論
理検証装置1Cが理解可能な機能記述言語によって記述
されたプログラムで、論理検証装置1Cの1つの機能と
して動作する。8cは実施の形態4による論理検証装置
の検証結果ファイル(検証結果データ)であって、上記
想定異常電圧値による論理回路の影響範囲を含む情報を
含んで構成される。
Fourth Embodiment FIG. 9 is a diagram showing the configuration of the logic verification device according to the fourth embodiment of the present invention. In the figure, 1C is a logic verification device according to the fourth embodiment, which verifies the range of influence when an abnormal voltage occurs by a logic simulation. The abnormal voltage value refers to a high voltage value assuming static electricity or the like generated outside the semiconductor chip finally manufactured after finishing the design process. Three
A is a predetermined basic model in the logical simulation basic model group 22b and a voltage value information processing model (abnormal voltage information propagation model) incorporated between the connection paths thereof, which is an assumed abnormal voltage value read from the voltage value information file 10c. Of the voltage value information adding section for outputting to the next-stage element. This voltage value information processing model 3A is specifically a program written in a function description language that can be understood by the logic verification device 1C, and operates as one function of the logic verification device 1C. Reference numeral 8c is a verification result file (verification result data) of the logic verification device according to the fourth embodiment, which is configured to include information including the influence range of the logic circuit due to the assumed abnormal voltage value.

【0066】10cは任意の基本モデル又は論理モデル
に関する電圧値情報を記述した電圧値情報ファイルで、
上記電圧値情報の他に、論理検証の際に電圧値情報処理
モデル3Aに読み込まれる想定異常電圧値を含んでい
る。22は論理検証装置1C内のメモリに展開された論
理シミュレーション用のネットリストであって、論理回
路接続情報に基づいて論理シミュレーション用モデル群
22aによって検証対象の論理回路と等価なデータを構
成する。22aは論理シミュレーション用モデル群で、
電圧値情報処理モデル3Aを組み込んだ基本モデルから
なる論理モデルをまとめたものである。22bは論理シ
ミュレーション用基本モデル群であって、電圧値情報処
理モデル3Aを組み込んだ基本モデルをまとめたもので
ある。なお、図1と同一構成要素には同一符号を付して
重複する説明を省略する。
Reference numeral 10c is a voltage value information file which describes voltage value information relating to an arbitrary basic model or logic model.
In addition to the above voltage value information, an assumed abnormal voltage value read into the voltage value information processing model 3A at the time of logic verification is included. Reference numeral 22 denotes a logic simulation netlist expanded in the memory of the logic verification device 1C, and the logic simulation model group 22a constitutes data equivalent to the logic circuit to be verified based on the logic circuit connection information. 22a is a model group for logic simulation,
It is a compilation of logical models consisting of basic models incorporating the voltage value information processing model 3A. Reference numeral 22b is a basic model group for logic simulation, which is a group of basic models incorporating the voltage value information processing model 3A. In addition, the same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0067】図10は図9中の電圧値情報ファイルの一
例を示す図である。図3と同様に、電圧値情報ファイル
10cは、コメント行、電圧値情報処理モデル3,3A
の付加対象を特定するためのインスタンスID又はモジ
ュール名を記述する記述フィールド、基準電圧値情報の
記述フィールド、許容電圧値情報の記述フィールドの他
に、設計者が自由に異常電圧値を設定する想定異常電圧
値記述フィールドを有している(図示の例では、TO
P.CHIP.TIMERB.G01_ID1.ND5
3なるノードに対応する異常電圧値として「30」が記
述されている)。
FIG. 10 is a diagram showing an example of the voltage value information file in FIG. Similar to FIG. 3, the voltage value information file 10c includes comment lines, voltage value information processing models 3 and 3A.
In addition to the description field that describes the instance ID or module name for specifying the target to be added, the description field of the reference voltage value information, the description field of the allowable voltage value information, and the assumption that the designer freely sets the abnormal voltage value. It has an abnormal voltage value description field (in the example shown, TO
P. CHIP. TIMERB. G01_ID1. ND5
"30" is described as the abnormal voltage value corresponding to the node 3).

【0068】次に動作について説明する。先ず、論理検
証装置1Cは、従来の論理シミュレーション用のネット
リスト2、このネットリスト2内の論理回路接続情報に
よって接続関係が規定される論理シミュレーション用モ
デル群2a及びこれを構成する論理シミュレーション用
基本モデル群2b、電圧値情報処理モデル3,3A、論
理シミュレーション用のテストベンチ4、電圧値情報フ
ァイル10cを読み込む。
Next, the operation will be described. First, the logic verification device 1C includes a conventional logic simulation netlist 2, a logic simulation model group 2a in which a connection relation is defined by logic circuit connection information in the netlist 2, and a logic simulation basic component constituting the logic simulation model group 2a. The model group 2b, the voltage value information processing models 3 and 3A, the test bench 4 for logic simulation, and the voltage value information file 10c are read.

【0069】論理検証装置1Cでは、ネットリスト2、
このネットリスト2内の論理回路接続情報によって接続
関係が規定される論理シミュレーション用モデル群2a
を内部のメモリに展開して、論理回路図と等価なデータ
となるネットリスト22及びこのネットリスト22内の
論理回路接続情報によって接続関係が規定される論理シ
ミュレーション用モデル群22aを生成する。このと
き、論理検証装置1C内の電圧値情報処理モデル付加手
段9は、図10に示すような電圧値情報ファイル10c
に記述されている電圧値情報処理モデル3の付加対象を
特定するためのインスタンスID又はモジュール名を読
み出して、これに沿って論理シミュレーション用基本モ
デル群2b内の基本モデルに電圧値情報処理モデル3を
組み込む。さらに、電圧値情報処理モデル付加手段9
は、電圧値情報ファイル10cに記述されている電圧値
情報処理モデル3Aの付加対象を特定するためのインス
タンスID又はモジュール名を読み出して、これに沿っ
て論理シミュレーション用基本モデル群2b内の基本モ
デルやそれらを接続する経路に電圧値情報処理モデル3
Aを組み込む。
In the logic verification device 1C, the netlist 2,
Logic simulation model group 2a whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information in this netlist 2
Is expanded in an internal memory to generate a netlist 22 that is data equivalent to a logic circuit diagram and a logic simulation model group 22a whose connection relationship is defined by logic circuit connection information in this netlist 22. At this time, the voltage value information processing model addition means 9 in the logic verification device 1C causes the voltage value information file 10c as shown in FIG.
The instance ID or the module name for specifying the addition target of the voltage value information processing model 3 described in 1. is read, and the voltage value information processing model 3 is added to the basic model in the logic simulation basic model group 2b in accordance with this. Incorporate. Further, the voltage value information processing model adding means 9
Reads out an instance ID or a module name for specifying an addition target of the voltage value information processing model 3A described in the voltage value information file 10c, and follows the basic model in the basic model group 2b for logic simulation. And voltage value information processing model 3 in the path connecting them
Incorporate A.

【0070】次に、論理検証実行手段5がテストベンチ
4からテストパターン(論理検証用に特定の値が設定さ
れた入力信号列)及びこのテストパターンを処理した論
理モデルに対する出力期待値を読み出し、テストパター
ンをネットリスト22に逐次供給する。これによって論
理検証動作が開始される。ネットリスト22では、論理
シミュレーション用モデル群22a内の論理モデルにテ
ストパターンが供給され、これに従って処理された結果
が論理回路接続情報によって接続関係が規定される次段
素子に次々と伝搬していく。このとき、論理モデルを構
成する基本モデルやそれらを接続する経路に組み込まれ
た電圧値情報処理モデル3Aは、電圧値情報ファイル1
0cから自己に設定すべき異常電圧値を読み出し、次段
素子に伝搬させる。次段素子が電圧値情報処理モデル3
Aである場合は、その異常電圧値がそのまま伝搬され
る。一方、次段素子が電圧値情報処理モデル3である場
合、電圧値情報処理モデル3Aからの異常電圧値を読み
出し、電圧値に関する処理を行う。
Next, the logic verification execution means 5 reads from the test bench 4 the test pattern (the input signal sequence in which a specific value is set for logic verification) and the expected output value for the logic model that processed this test pattern, The test patterns are sequentially supplied to the netlist 22. This starts the logic verification operation. In the netlist 22, the test patterns are supplied to the logic models in the logic simulation model group 22a, and the results processed according to the test patterns are sequentially propagated to the next-stage element whose connection relationship is defined by the logic circuit connection information. . At this time, the voltage value information processing model 3A incorporated in the basic models forming the logical model and the path connecting them is the voltage value information file 1
The abnormal voltage value to be set to itself is read from 0c and propagated to the next stage element. Next-stage element is voltage value information processing model 3
If it is A, the abnormal voltage value is propagated as it is. On the other hand, when the next-stage element is the voltage value information processing model 3, the abnormal voltage value from the voltage value information processing model 3A is read out and the process related to the voltage value is performed.

【0071】具体的に説明すると、電圧値情報処理モデ
ル3に読み込まれた異常電圧値は、電圧値情報認識部3
aに入力される。電圧値情報認識部3aでは、異常電圧
値を解読して本来の電圧値を復元し、電圧値情報判断部
3bに出力する。電圧値情報判断部3bでは、電圧値情
報ファイル10cから自己に設定すべき規定電圧値情報
を読み出し、これに設定された基準電圧値情報と許容電
圧値情報とから自己の許容電圧値を求める。このあと、
電圧値情報判断部3bは、復元された異常電圧値と上記
許容電圧値とを算術比較して許容電圧値との大小関係を
判定し、次段素子に電圧値情報を伝搬させるべきか否か
を判断する。このとき、異常電圧値は許容電圧値より大
きくなるので、電圧値情報付加部3dは、次段素子が耐
圧を越えたために物理的に破壊されたことを示す警告メ
ッセージ情報を生成して論理検証実行手段5に出力す
る。論理検証実行手段5では、該警告メッセージ情報を
出力部6に送出する。出力部6は、表示手段7に表示可
能な形式や検証結果ファイル8cに対応する形式に警告
メッセージ情報を変換して出力する。これによって、設
計者は、異常電圧値の発生によって次段素子が破壊され
たことを論理検証によって知ることができる。
More specifically, the abnormal voltage value read into the voltage value information processing model 3 is the voltage value information recognition unit 3
Input to a. The voltage value information recognition unit 3a decodes the abnormal voltage value to restore the original voltage value, and outputs it to the voltage value information determination unit 3b. The voltage value information determination unit 3b reads out the specified voltage value information to be set for itself from the voltage value information file 10c, and obtains its own allowable voltage value from the reference voltage value information and the allowable voltage value information set therein. after this,
The voltage value information determination unit 3b determines the magnitude relationship between the restored abnormal voltage value and the allowable voltage value by performing arithmetic comparison, and determines whether or not the voltage value information should be propagated to the next-stage element. To judge. At this time, since the abnormal voltage value becomes larger than the allowable voltage value, the voltage value information adding unit 3d generates warning message information indicating that the next-stage element has been physically destroyed due to exceeding the withstand voltage and logical verification is performed. Output to the execution means 5. The logic verification executing means 5 sends the warning message information to the output unit 6. The output unit 6 converts the warning message information into a format that can be displayed on the display unit 7 or a format corresponding to the verification result file 8c and outputs the warning message information. This allows the designer to know by logic verification that the next-stage element has been destroyed due to the occurrence of the abnormal voltage value.

【0072】このとき同時に、報告部3cは、他の素子
からの入力電圧値の受け入れが不可であることを示す情
報を生成するように電圧値情報付加部3dを制御する。
これによって、電圧値情報付加部3dは、他の素子から
の入力電圧値の受け入れが不可であることを示す情報を
生成して次段素子に伝搬させる。
At this time, at the same time, the reporting section 3c controls the voltage value information adding section 3d so as to generate information indicating that the input voltage value from another element cannot be accepted.
As a result, the voltage value information adding unit 3d generates information indicating that the input voltage value cannot be received from another element and propagates it to the next-stage element.

【0073】また、論理検証実行手段5には、電圧値情
報処理モデル3による処理結果である電圧値情報と共
に、ネットリスト22に供給したテストパターン対する
論理モデルの処理結果が逐次入力されている。これによ
って、論理検証実行手段5は、入力した処理結果と出力
期待値とを比較して、メモリ上に展開したネットリスト
22が期待通り動作しているか否かを動的に検証する。
この動作は上記実施の形態1と同様である。
Further, to the logic verification executing means 5, the voltage value information which is the processing result by the voltage value information processing model 3 and the processing result of the logical model for the test pattern supplied to the netlist 22 are sequentially input. As a result, the logic verification executing means 5 compares the input processing result with the expected output value and dynamically verifies whether the netlist 22 expanded on the memory operates as expected.
This operation is similar to that of the first embodiment.

【0074】この論理検証動作は、論理検証実行手段5
がネットリスト22に全てのテストパターンを入力し終
えるまで繰り返される。最後に、全てのテストパターン
が入力し終わると、論理検証実行手段5は、電圧値情報
を含む検証結果をまとめて出力部6に送出する。出力部
6では、入力した検証結果データを適当な形式変換して
検証結果ファイル8cや表示手段7に出力する。
This logic verification operation is performed by the logic verification execution means 5.
Is repeated until all the test patterns have been input to the netlist 22. Finally, when all the test patterns have been input, the logic verification execution means 5 collectively outputs the verification results including the voltage value information to the output unit 6. The output unit 6 converts the input verification result data into an appropriate format and outputs it to the verification result file 8c and the display means 7.

【0075】以上のように、この実施の形態4によれ
ば、回路内でのみ発生する電圧値以外に関する電圧値情
報、例えば設計工程を終えて最終的に製品化された半導
体チップの外部で発生する静電気などをの異常電圧を想
定した電圧値情報を伝搬する電圧値情報処理モデル3A
を設けたので、異常電圧発生時の影響度シミュレーショ
ン(回路内で異常電圧の発生により影響を受ける素子
(耐圧を越えたために物理的に破壊された素子)の範囲
をシミュレーションする)を行うことができる。
As described above, according to the fourth embodiment, voltage value information other than the voltage value generated only in the circuit, for example, generated outside the semiconductor chip finally commercialized after finishing the design process. Voltage information processing model 3A that propagates voltage value information assuming abnormal voltage due to static electricity
Since it is provided, it is possible to perform an impact degree simulation when an abnormal voltage occurs (simulate the range of elements that are affected by the abnormal voltage occurrence in the circuit (elements that are physically destroyed due to exceeding the breakdown voltage)). it can.

【0076】なお、上記実施の形態4では、電圧値情報
処理モデル3Aを上記実施の形態1の構成に適用したも
のを示したが、上記実施の形態2、3に適用しても同様
の効果を奏する。
Although the voltage value information processing model 3A is applied to the configuration of the first embodiment in the fourth embodiment, the same effect can be obtained by applying it to the second and third embodiments. Play.

【0077】実施の形態5.図11はこの発明の実施の
形態5による論理検証装置の構成を示す図である。図に
おいて、1Dは実施の形態5による論理検証装置であっ
て、論理回路図データから抽出した電圧値情報を用いた
論理検証結果とレイアウトパターンデータから抽出した
電圧値情報を用いた論理検証結果との一致検証を行う。
8dは実施の形態5による論理検証装置の検証結果ファ
イル(検証結果データ)で、上記一致検証結果を含んで
構成される。23は電圧値情報再構成手段(一致検証手
段)であって、検証結果ファイルを解読して特定の情報
を発生時刻順に抽出して比較対象の情報を構成する。2
4は装置間情報比較手段(一致検証手段)で、論理回路
図データから電圧値情報を抽出して論理検証を行う論理
検証装置1,1Aとレイアウトパターンデータから電圧
値情報を抽出して論理検証を行う論理検証装置1Bとの
検証結果ファイルに基づいて電圧値情報再構成手段23
がそれぞれ構成した比較対象情報を比較して一致検証を
行う。なお、図1、図5及び図7と同一構成要素には同
一符号を付して重複する説明を省略する。
Embodiment 5. 11 is a diagram showing the configuration of a logic verification device according to a fifth embodiment of the present invention. In the figure, 1D is a logic verification device according to the fifth embodiment, which shows a logic verification result using voltage value information extracted from logic circuit diagram data and a logic verification result using voltage value information extracted from layout pattern data. Match verification of.
Reference numeral 8d is a verification result file (verification result data) of the logic verification device according to the fifth embodiment, which is configured to include the above-mentioned matching verification result. Reference numeral 23 is a voltage value information reconstructing means (coincidence verifying means), which decodes the verification result file and extracts specific information in the order of occurrence time to constitute information to be compared. Two
Reference numeral 4 is an inter-device information comparing means (coincidence verifying means), which extracts the voltage value information from the logic circuit diagram data and performs the logic verification, and the voltage verification information from the layout pattern data and the logic verification. Voltage value information reconstructing means 23 based on the verification result file with the logic verification device 1B.
Performs comparison verification by comparing the comparison target information respectively configured. The same components as those in FIGS. 1, 5 and 7 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0078】次に動作について説明する。図12は実施
の形態5による論理検証装置の動作を示すフロー図であ
り、この図に沿って実施の形態5による論理検証につい
て説明する。先ず、論理検証装置1Dは、論理回路図デ
ータから電圧値情報を抽出して論理検証を行う論理検証
装置1又は論理検証装置1Aの検証結果ファイル8又は
検証結果ファイル8a、レイアウトパターンデータから
電圧値情報を抽出して論理検証を行う論理検証装置1B
の検証結果ファイル8bを読み込む(ステップST1
c)。
Next, the operation will be described. FIG. 12 is a flow chart showing the operation of the logic verification device according to the fifth embodiment, and the logic verification according to the fifth embodiment will be described with reference to this flow chart. First, the logic verification device 1D extracts the voltage value information from the logic circuit diagram data and performs the logic verification, the verification result file 8 or the verification result file 8a of the logic verification device 1 or the logic verification device 1A, and the voltage value from the layout pattern data. Logic verification device 1B for extracting information and performing logic verification
Reading the verification result file 8b (step ST1
c).

【0079】次に、論理検証装置1D内の電圧値情報再
構成手段23は、検証結果ファイル8又は検証結果ファ
イル8a、及び、検証結果ファイル8bの内容をそれぞ
れ解読して、特定の情報を抽出し、次段素子毎にその情
報発生時刻順に情報を並べた一致検証用の比較情報を構
成する(ステップST2c)。具体的に説明すると、特
定の情報として電圧値情報に関する警告メッセージ、例
えば「警告!! 時刻AAAにおいて次段素子BBBは
異常電圧値CCC(V)によって破壊されました。次段
素子BBBの許容電圧値はDDD(V)です。警告番号
EEE−警告カウントFFF(警告数の累積値)」を抽
出する。
Next, the voltage value information reconstructing means 23 in the logic verification device 1D decodes the contents of the verification result file 8 or the verification result file 8a and the verification result file 8b, respectively, and extracts specific information. Then, the comparison information for matching verification is formed by arranging the information in the order of the information generation time for each subsequent element (step ST2c). More specifically, as a specific information, a warning message regarding voltage value information, for example, "Warning !! The next-stage element BBB was destroyed by the abnormal voltage value CCC (V) at time AAA. The allowable voltage of the next-stage element BBB. The value is DDD (V). Warning number EEE-warning count FFF (cumulative number of warnings) "is extracted.

【0080】このあと、電圧値情報再構成手段23は、
上記電圧値情報に関する警告メッセージを、次段素子毎
に異常電圧発生時刻順に並べて、「次段素子BBB(許
容電圧値DDD(V))で発生した素子破壊時刻は、A
AA0(異常電圧はCCC0(V))、AAA1(異常
電圧はCCC1(V))、AAA2(異常電圧はCCC
2(V))、・・・、AAAn(異常電圧はCCCn
(V))である」という比較対象情報を構成する。
After that, the voltage value information reconstructing means 23
The warning messages regarding the voltage value information are arranged in the order of the abnormal voltage generation time for each next-stage element, and the element breakdown time generated in the next-stage element BBB (allowable voltage value DDD (V)) is A
AA0 (abnormal voltage is CCC0 (V)), AAA1 (abnormal voltage is CCC1 (V)), AAA2 (abnormal voltage is CCC)
2 (V), ..., AAAAn (abnormal voltage is CCCn
(V)) ”.

【0081】電圧値情報再構成手段23によって各検証
結果ファイルから構成された比較対象情報は、装置間情
報比較手段24にそれぞれ出力される。装置間情報比較
手段24では、これら情報を比較(上記例では、電圧値
情報に関する警告メッセージ同士を比較して、次段素子
毎の相違箇所(許容電圧値、異常電圧値発生時刻、異常
電圧値)の有無を求める(ステップST3c)。これら
ステップST1cからステップST3cまでの処理が一
致検証ステップに相当する。
The comparison target information composed of each verification result file by the voltage value information reconstructing means 23 is output to the inter-device information comparing means 24, respectively. The device-to-device information comparison means 24 compares these information (in the above example, the warning messages regarding the voltage value information are compared with each other, and the different points (allowable voltage value, abnormal voltage value occurrence time, abnormal voltage value) for each next-stage element are compared. ) Is determined (step ST3c) The processing from step ST1c to step ST3c corresponds to the match verification step.

【0082】装置間情報比較手段24による一致検証結
果は、出力部6に送出される。これによって、出力部6
は、上記一致検証結果を適当な形式変換して検証結果フ
ァイル8dや表示手段7に出力する(ステップST4
c)。
The match verification result by the inter-device information comparing means 24 is sent to the output unit 6. As a result, the output unit 6
Converts the match verification result into an appropriate format and outputs it to the verification result file 8d or the display means 7 (step ST4).
c).

【0083】以上のように、この実施の形態5によれ
ば、論理回路図データから抽出した電圧値情報を用いた
論理検証結果とレイアウトパターンデータから抽出した
電圧値情報を用いた論理検証結果との一致検証を行う構
成を設けたので、論理検証の結果から論理回路図データ
とレイアウトパターンデータとの動的な一致検証を行う
ことができる。
As described above, according to the fifth embodiment, the logic verification result using the voltage value information extracted from the logic circuit diagram data and the logic verification result using the voltage value information extracted from the layout pattern data are obtained. Since the configuration for performing the coincidence verification is provided, it is possible to perform the dynamic coincidence verification between the logic circuit diagram data and the layout pattern data from the result of the logic verification.

【0084】実施の形態6.図13はこの発明の実施の
形態6による論理検証装置の構成を示す図であり、
(a)は論理回路図上に検証結果を表示する構成を示
し、(b)はレイアウトパターン上に検証結果を表示す
る構成を示している。図において、1E,1Fは実施の
形態6による論理検証装置であって、上記実施の形態で
示した論理検証装置の論理検証結果を論理回路図、レイ
アウトパターンにそれぞれ反映して表示する機能を有す
る。25は関連論理回路図データ抽出手段(特定情報表
示手段)で、検証結果ファイル中の特定の情報に関連す
る論理回路図データを抽出する。26は関連論理回路図
データであって、関連論理回路図データ抽出手段25に
よって抽出された検証結果ファイル中の特定の情報に関
連する論理回路図データである。この関連論理回路図デ
ータ26は、論理回路図データ14から特定の情報に関
連するデータのみを抜き出したもの、若しくは、該情報
と関連するデータを関連しないデータと区別するデータ
(例えば、特定の情報に関連する論理回路図だけをハイ
ライト表示させるために必要なデータ)に相当する。
Sixth Embodiment FIG. 13 is a diagram showing the configuration of a logic verification device according to a sixth embodiment of the present invention.
(A) shows the structure which displays a verification result on a logic circuit diagram, (b) has shown the structure which displays a verification result on a layout pattern. In the figure, 1E and 1F are logic verification devices according to the sixth embodiment, and have a function of displaying the logic verification results of the logic verification device shown in the above-described embodiments by reflecting them on a logic circuit diagram and a layout pattern, respectively. . Reference numeral 25 is a related logic circuit diagram data extraction means (specific information display means) for extracting logic circuit diagram data related to specific information in the verification result file. Reference numeral 26 is related logic circuit diagram data, which is logic circuit diagram data related to specific information in the verification result file extracted by the related logic circuit diagram data extraction means 25. The related logic circuit diagram data 26 is obtained by extracting only the data relating to the specific information from the logic circuit diagram data 14, or the data for distinguishing the data related to the information from the data not related (for example, the specific information). (Data necessary for highlighting only the logic circuit diagram related to)).

【0085】27a,27bは表示制御部(特定情報表
示手段)で、関連論理回路図データ抽出手段25や関連
レイアウトパターンデータ抽出手段28が抽出した情報
を表示手段7で表示可能な形式に変換する。28は関連
レイアウトパターンデータ抽出手段(特定情報表示手
段)であって、検証結果ファイル中の特定の情報に関連
するレイアウトパターンデータを抽出する。29は関連
レイアウトパターンデータで、関連レイアウトパターン
データ抽出手段28によって抽出された検証結果ファイ
ル中の特定の情報に関連するレイアウトパターンデータ
である。この関連レイアウトパターンデータ29は、レ
イアウトパターンデータ17から特定の情報に関連する
データのみを抜き出したもの、若しくは、該情報と関連
するデータを関連しないデータと区別するデータ(例え
ば、特定の情報に関連するレイアウトパターンだけをハ
イライト表示させるために必要なデータ)に相当する。
なお、図1、図5、図7、図9及び図11と同一構成要
素には同一符号を付して重複する説明を省略する。
Reference numerals 27a and 27b denote display control units (specific information display means) for converting the information extracted by the related logic circuit diagram data extraction means 25 and the related layout pattern data extraction means 28 into a format displayable by the display means 7. . Reference numeral 28 is a related layout pattern data extraction means (specific information display means) for extracting layout pattern data related to specific information in the verification result file. Reference numeral 29 is related layout pattern data, which is layout pattern data related to specific information in the verification result file extracted by the related layout pattern data extraction means 28. The related layout pattern data 29 is obtained by extracting only the data related to the specific information from the layout pattern data 17, or the data for distinguishing the data related to the information from the unrelated data (for example, related to the specific information). Data required to highlight only the layout pattern to be displayed).
In addition, the same components as those in FIGS. 1, 5, 7, 9, and 11 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0086】次に動作について説明する。論理検証装置
1E(若しくは論理検証装置1F)は、上記実施の形態
1から5による論理検証装置1,1A,1B,1C,1
Dの検証結果ファイル8,8a,8b,8c,8dのう
ちのいずれか1つ(以下、単に検証結果ファイルと称す
る)を論理回路図データ14(若しくはレイアウトパタ
ーンデータ17)と共に読み込む。
Next, the operation will be described. The logic verification device 1E (or the logic verification device 1F) is the logic verification device 1, 1A, 1B, 1C, 1 according to the first to fifth embodiments.
Any one of the D verification result files 8, 8a, 8b, 8c, and 8d (hereinafter, simply referred to as a verification result file) is read together with the logic circuit diagram data 14 (or the layout pattern data 17).

【0087】論理検証装置1E内の関連論理回路図デー
タ抽出手段25(若しくは論理検証装置1F内の関連レ
イアウトパターンデータ抽出手段28)は、検証結果フ
ァイルに記述された特定の情報を抽出し、これに関連す
る論理回路図データである関連論理回路図データ26
(若しくは、これに関連するレイアウトパターンデータ
である関連レイアウトパターンデータ29)を論理回路
図データ14(若しくはレイアウトパターンデータ1
7)から抽出する。具体的には、関連論理回路図データ
抽出手段25(若しくは論理検証装置1F内の関連レイ
アウトパターンデータ抽出手段28)が、特定の情報と
して、例えば検証結果ファイルに記述された電圧値情報
に関する警告メッセージを抽出し、該警告メッセージで
特定される次段素子BBBに関連する論理回路図データ
(若しくはレイアウトパターンデータ)を論理回路図デ
ータ14(若しくはレイアウトパターンデータ17)か
ら抽出する。
The related logic circuit diagram data extraction means 25 in the logic verification device 1E (or the related layout pattern data extraction means 28 in the logic verification device 1F) extracts the specific information described in the verification result file. Related logic circuit diagram data 26 which is logic circuit diagram data related to
(Or, the related layout pattern data 29, which is the layout pattern data related to this) is converted into the logic circuit diagram data 14 (or the layout pattern data 1).
Extract from 7). Specifically, the related logic circuit diagram data extraction means 25 (or the related layout pattern data extraction means 28 in the logic verification device 1F) issues a warning message regarding the voltage value information described in the verification result file as the specific information, for example. And the logic circuit diagram data (or layout pattern data) related to the next-stage element BBB specified by the warning message is extracted from the logic circuit diagram data 14 (or layout pattern data 17).

【0088】このとき、関連論理回路図データ抽出手段
25(若しくは論理検証装置1F内の関連レイアウトパ
ターンデータ抽出手段28)は、関連論理回路図データ
26(若しくは、関連レイアウトパターンデータ29)
として、次段素子BBBに関連する論理回路図データ
(若しくは、次段素子BBBに関連するレイアウトパタ
ーンデータ)を、これに関連しない論理回路図データ
(若しくは、レイアウトパターンデータ)と区別するた
めのデータも論理回路図データ14(若しくはレイアウ
トパターンデータ17)から抽出する。上述した両デー
タを区別するためのデータとしては、例えば次段素子B
BBの前後10段程度の範囲に関連する論理回路図デー
タ(若しくは、レイアウトパターンデータ)とする。ま
た、この区別するためのデータの範囲は、設計者が論理
検証装置1E,1Fに適宜設定できるようにしてもよ
い。
At this time, the related logic circuit diagram data extraction means 25 (or the related layout pattern data extraction means 28 in the logic verification device 1F) is connected to the related logic circuit diagram data 26 (or the related layout pattern data 29).
As data for distinguishing logic circuit diagram data (or layout pattern data related to the next-stage element BBB) from logic circuit diagram data (or layout pattern data) not related to the next-stage element BBB Is also extracted from the logic circuit diagram data 14 (or layout pattern data 17). As the data for distinguishing the above two data, for example, the next-stage element B
The logic circuit diagram data (or layout pattern data) is associated with the range of about 10 stages before and after BB. In addition, the range of the data for this distinction may be set appropriately by the designer in the logic verification devices 1E and 1F.

【0089】このあと、表示制御部27a(若しくは表
示制御部27b)は、論理回路図データ14、関連論理
回路図データ26として、次段素子BBBに関連する論
理回路図データ及びこれに関連しない論理回路図データ
と区別するためのデータ(若しくは、レイアウトパター
ンデータ17、関連レイアウトパターンデータ29とし
て、次段素子BBBに関連するレイアウトパターンデー
タ及びこれに関連しないレイアウトパターンデータと区
別するためのデータ)を、関連論理回路図データ抽出手
段25(若しくは、関連レイアウトパターンデータ抽出
手段28)から読み込んで、表示手段7で表示可能な形
式のデータに変換する。これによって、上記データは、
表示手段7に表示され、設計者が適宜目視することがで
きる。
Thereafter, the display control unit 27a (or the display control unit 27b), as the logic circuit diagram data 14 and the related logic circuit diagram data 26, the logic circuit diagram data relating to the next-stage element BBB and the logic not relating thereto. Data for distinguishing from the circuit diagram data (or, as the layout pattern data 17 and the related layout pattern data 29, data for distinguishing between layout pattern data related to the next-stage element BBB and layout pattern data not related thereto) The data is read from the related logic circuit diagram data extraction means 25 (or the related layout pattern data extraction means 28) and converted into data in a format displayable by the display means 7. This gives the above data
It is displayed on the display means 7 and can be viewed by the designer as appropriate.

【0090】以上のように、この実施の形態6によれ
ば、論理検証装置1,1A,1B,1C,1Dの検証結
果ファイル8,8a,8b,8c,8dに記述された特
定の情報に関連する部分を、論理回路図データ14(若
しくはレイアウトパターンデータ17)に反映して表示
するので、電圧値情報に関する特定の現象(例えば、特
定の情報として電圧値情報に関する警告メッセージに関
するデータを抽出する場合、異常電圧値による現象(許
容電圧値以上の電圧値が加わったために、素子が破壊さ
れたなどの現象)を、表示手段7を介して目視すること
ができることから、その解析を容易に行うことができ
る。
As described above, according to the sixth embodiment, the specific information described in the verification result files 8, 8a, 8b, 8c, 8d of the logic verification devices 1, 1A, 1B, 1C, 1D is used. Since the related portion is displayed by being reflected in the logic circuit diagram data 14 (or the layout pattern data 17), a specific phenomenon regarding the voltage value information (for example, data regarding a warning message regarding the voltage value information is extracted as the specific information). In this case, a phenomenon due to an abnormal voltage value (a phenomenon in which an element is destroyed due to the application of a voltage value equal to or higher than the allowable voltage value) can be visually observed through the display means 7, and therefore the analysis is easily performed. be able to.

【0091】[0091]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、論理
検証対象の論理回路を構成する論理素子の論理動作を模
擬する論理モデルと、論理素子を構成する電気的素子の
耐圧特性を規定する電圧値情報を格納する電圧値情報フ
ァイルと、論理モデルに組み込まれ、外部から電圧値情
報を入力すると、自己に設定すべき電圧値情報を電圧値
情報ファイルから読み出して、外部からの電圧値情報及
び自己に設定された電圧値情報のそれぞれが特定する電
圧値を認識して比較を行い、該比較結果に基づいて外部
からの入力電圧値が自己に対応する電気的素子に受け入
れ可能か否かを判定する電圧値情報処理モデルとを備
え、論理検証対象の論理回路に与えるテストパターン、
期待値、及び論理回路のネットリストに記述された論理
素子の接続情報に基づいて、論理モデルを用いた論理回
路の論理検証を実行すると共に、各電圧値情報処理モデ
ル間で各々の電圧値情報を伝搬させて得られる判定結果
から論理回路内の異電圧接続部間の検証を行うので、回
路シミュレーションを施すことなく、論理回路の論理検
証を行いながら、回路内の異電圧接続部を正確に検証す
ることができるという効果がある。これにより、大規模
デザインの異電圧接続部を高速に、且つ、設計のより上
流工程(論理設計、論理検証)で検証することができる
という効果がある。
As described above, according to the present invention, the logic model simulating the logic operation of the logic element forming the logic circuit to be subjected to logic verification and the withstand voltage characteristic of the electric element forming the logic element are defined. The voltage value information file that stores the voltage value information and the voltage value information that is embedded in the logic model and is input from the outside, reads the voltage value information that should be set for itself from the voltage value information file and Whether the voltage value specified by each of the information and the voltage value information set to the self is recognized and compared, and whether the input voltage value from the outside can be accepted by the electric element corresponding to the self based on the comparison result A voltage value information processing model for determining whether
Based on the expected value and the connection information of the logic element described in the netlist of the logic circuit, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed, and the voltage value information between each voltage value information processing model Since the verification between different voltage connection parts in the logic circuit is performed based on the determination result obtained by propagating, the accurate verification of the different voltage connection parts in the circuit can be performed while performing the logic verification of the logic circuit without performing the circuit simulation. The effect is that it can be verified. As a result, it is possible to verify the different voltage connection portion of the large-scale design at high speed and in the upstream process (logic design, logic verification) of the design.

【0092】この発明によれば、論理モデル及び電圧値
情報処理モデルをそれぞれ入力して、電圧値情報処理モ
デルを論理モデルに組み込む電圧値情報処理モデル付加
手段を備えるので、従来の論理シミュレーション用のネ
ットリストを使用しながら異電圧接続部の正確な検証を
行うことができるという効果がある。
According to the present invention, the logic model and the voltage value information processing model are respectively inputted, and the voltage value information processing model adding means for incorporating the voltage value information processing model into the logic model is provided. There is an effect that it is possible to accurately verify the different voltage connection portion while using the netlist.

【0093】この発明によれば、電圧値情報を予め設定
した論理回路図データから電圧値情報、論理素子及びそ
の接続情報を抽出して、電圧値情報ファイル及び論理回
路のネットリストを生成する電圧値情報ファイル・ネッ
トリスト生成手段を備えるので、電圧値情報の論理回路
図データからのフォワードアノテーションが可能とな
り、異電圧接続部の正確な検証を行うことができるとい
う効果がある。
According to the present invention, the voltage value information, the logic element and the connection information thereof are extracted from the logic circuit diagram data in which the voltage value information is preset, and the voltage value information file and the voltage for generating the net list of the logic circuit are generated. Since the value information file / netlist generating means is provided, it is possible to perform forward annotation of the voltage value information from the logic circuit diagram data, and it is possible to accurately verify the different voltage connection portion.

【0094】この発明によれば、電圧値情報を予め設定
したレイアウトパターンデータから電圧値情報を抽出し
て、電圧値情報ファイルを生成する電圧値情報ファイル
生成手段と、レイアウトパターンデータと構成が1対1
に対応する論理回路図データから論理素子及びその接続
情報を抽出して、論理回路のネットリストを生成するネ
ットリスト生成手段とを備えるので、電圧値情報のレイ
アウトパターンデータからのバックアノテーションが可
能となり、異電圧接続部の正確な検証を行うことができ
るという効果がある。
According to the present invention, the voltage value information file generating means for generating the voltage value information file by extracting the voltage value information from the layout pattern data in which the voltage value information is preset, and the layout pattern data and the configuration are 1 1 to
Since it is provided with a netlist generating unit that extracts a logic element and its connection information from the logic circuit diagram data corresponding to, and generates a netlist of the logic circuit, it is possible to perform back annotation from the layout pattern data of the voltage value information. Therefore, there is an effect that it is possible to accurately verify the different voltage connection portion.

【0095】この発明によれば、電圧値情報ファイル
は、電圧値情報の他に、任意に設定される異常電圧値情
報を格納し、異常電圧値情報を論理検証対象の論理回路
内で伝搬させる異常電圧情報伝搬モデルを備えるので、
異常電圧発生時の影響度シミュレーション(回路内で異
常電圧の発生により影響を受ける素子(耐圧を越えたた
めに物理的に破壊された素子)の範囲をシミュレーショ
ンする)を行うことができるという効果がある。
According to the present invention, the voltage value information file stores abnormal voltage value information arbitrarily set in addition to the voltage value information, and propagates the abnormal voltage value information in the logic circuit to be logically verified. Since it has an abnormal voltage information propagation model,
There is an effect that it is possible to perform a degree of influence simulation when an abnormal voltage occurs (simulate the range of elements (elements that are physically destroyed due to exceeding the breakdown voltage) that are affected by the occurrence of abnormal voltage in the circuit). .

【0096】この発明によれば、電圧値情報を予め設定
したレイアウトパターンデータから抽出した情報を使用
する論理検証による検証結果データと、レイアウトパタ
ーンデータと構成が1対1に対応する、電圧値情報を予
め設定した論理回路図データから抽出した情報を使用す
る論理検証による検証結果データをそれぞれ比較して一
致検証を行う一致検証手段を備えるので、論理検証の結
果から論理回路図データとレイアウトパターンデータと
の動的な一致検証を行うことができるという効果があ
る。
According to the present invention, the verification result data by the logic verification using the information extracted from the preset layout pattern data for the voltage value information and the voltage value information in which the layout pattern data have a one-to-one correspondence with the configuration. Since a match verification means for comparing the verification result data by the logic verification using the information extracted from the preset logic circuit diagram data with each other to perform the match verification is provided, the logic circuit diagram data and the layout pattern data are obtained from the result of the logic verification. There is an effect that a dynamic match verification with can be performed.

【0097】この発明によれば、検証結果データに含ま
れる特定の情報を抽出して、論理回路図及び/又はレイ
アウトパターン上に表示させる特定情報表示手段を備え
るので、電圧値情報に関する特定の現象を目視すること
ができることから、その解析を容易に行うことができる
という効果がある。
According to the present invention, the specific information included in the verification result data is extracted and provided with the specific information display means for displaying it on the logic circuit diagram and / or the layout pattern. Since it can be visually observed, there is an effect that the analysis can be easily performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1による論理検証装置
の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1中の電圧値情報処理モデルの構成を示す
ブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a voltage value information processing model in FIG.

【図3】 図1中の電圧値情報ファイルの一例を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a voltage value information file in FIG.

【図4】 実施の形態1による論理検証装置の動作を示
すフロー図である。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the first embodiment.

【図5】 この発明の実施の形態2による論理検証装置
の構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】 実施の形態2による論理検証装置の動作を示
すフロー図である。
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the second embodiment.

【図7】 この発明の実施の形態3による論理検証装置
の構成を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a third embodiment of the present invention.

【図8】 実施の形態3による論理検証装置の動作を示
すフロー図である。
FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the third embodiment.

【図9】 この発明の実施の形態4による論理検証装置
の構成を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】 図9中の電圧値情報ファイルの一例を示す
図である。
10 is a diagram showing an example of a voltage value information file in FIG.

【図11】 この発明の実施の形態5による論理検証装
置の構成を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】 実施の形態5による論理検証装置の動作を
示すフロー図である。
FIG. 12 is a flowchart showing the operation of the logic verification device according to the fifth embodiment.

【図13】 この発明の実施の形態6による論理検証装
置の構成を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a configuration of a logic verification device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図14】 従来の論理検証装置の構成を示す図であ
る。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a conventional logic verification device.

【図15】 図14中の論理検証装置による論理検証動
作を示すフロー図である。
15 is a flowchart showing a logic verification operation by the logic verification device in FIG.

【図16】 従来の論理検証装置の問題点を説明する図
である。
FIG. 16 is a diagram illustrating a problem of a conventional logic verification device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1A,1B,1C,1D,1E,1F 論理検証装
置、2 ネットリスト、2a 論理シミュレーション用
モデル群、2b 論理シミュレーション用基本モデル
群、3,3A 電圧値情報処理モデル、3a 電圧値情
報認識部、3b電圧値情報判断部、3c 報告部、3d
電圧値情報付加部、4 テストベンチ、5 論理検証
実行手段、6 出力部、7 表示手段、8,8a,8
b,8c,8d 検証結果ファイル(検証結果デー
タ)、9 電圧値情報処理モデル付加手段、10,10
a,10b,10c 電圧値情報ファイル、11,1
6,21,22 ネットリスト、11a,16a,21
a,22a 論理シミュレーション用モデル群、11
b,16b,21b,22b 論理シミュレーション用
基本モデル群、12a,12b 電圧値情報、13 規
定電圧値情報、14 論理回路図データ、15 電圧値
情報/ネットリスト生成手段(電圧値情報ファイル・ネ
ットリスト生成手段)、17 レイアウトパターンデー
タ、18 論理回路図データ、19 電圧値情報ファイ
ル生成手段、20 ネットリスト生成手段、23電圧値
情報再構成手段(一致検証手段)、24 装置間情報比
較手段(一致検証手段)、25 関連論理回路図データ
抽出手段(特定情報表示手段)、26関連論理回路図デ
ータ、27a,27b 表示制御部(特定情報表示手
段)、28 関連レイアウトパターンデータ抽出手段
(特定情報表示手段)、29 関連レイアウトパターン
データ。
1, 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F Logic verification device, 2 Netlist, 2a Logic simulation model group, 2b Logic simulation basic model group, 3,3A Voltage value information processing model, 3a Voltage value information recognition Section, 3b voltage value information judging section, 3c reporting section, 3d
Voltage value information addition section, 4 test bench, 5 logic verification execution means, 6 output section, 7 display means, 8, 8a, 8
b, 8c, 8d verification result file (verification result data), 9 voltage value information processing model adding means, 10, 10
a, 10b, 10c voltage value information file, 11, 1
6,21,22 Netlist, 11a, 16a, 21
a, 22a logical simulation model group, 11
b, 16b, 21b, 22b basic model group for logic simulation, 12a, 12b voltage value information, 13 specified voltage value information, 14 logic circuit diagram data, 15 voltage value information / netlist generating means (voltage value information file / netlist Generating means), 17 layout pattern data, 18 logic circuit diagram data, 19 voltage value information file generating means, 20 net list generating means, 23 voltage value information reconstructing means (match verification means), 24 inter-device information comparing means (match) Verification means), 25 related logic circuit diagram data extraction means (specific information display means), 26 related logic circuit diagram data, 27a, 27b display control section (specific information display means), 28 related layout pattern data extraction means (specific information display) Means), 29 related layout pattern data.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三川 行治 兵庫県伊丹市中央3丁目1番17号 三菱電 機システムエル・エス・アイ・デザイン株 式会社内 (72)発明者 浜野 博之 兵庫県伊丹市中央3丁目1番17号 三菱電 機システムエル・エス・アイ・デザイン株 式会社内 Fターム(参考) 2G132 AA01 AB01 AC11 AD06 AE23 AL00 AL11 5B046 AA08 BA02 GA01 JA05 5F064 HH06 HH09    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Yuuji Mikawa             3-1-1 Chuo 3-chome, Itami City, Hyogo Prefecture             Machine System LSI Design Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Hiroyuki Hamano             3-1-1 Chuo 3-chome, Itami City, Hyogo Prefecture             Machine System LSI Design Co., Ltd.             Inside the company F-term (reference) 2G132 AA01 AB01 AC11 AD06 AE23                       AL00 AL11                 5B046 AA08 BA02 GA01 JA05                 5F064 HH06 HH09

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 論理検証対象の論理回路を構成する論理
素子の論理動作を模擬する論理モデルと、 上記論理素子を構成する電気的素子の耐圧特性を規定す
る電圧値情報を格納する電圧値情報ファイルと、 上記論理モデルに組み込まれ、外部から電圧値情報を入
力すると、自己に設定すべき電圧値情報を上記電圧値情
報ファイルから読み出して、外部からの電圧値情報及び
自己に設定された電圧値情報のそれぞれが特定する電圧
値を認識して比較を行い、該比較結果に基づいて外部か
らの入力電圧値が自己に対応する電気的素子に受け入れ
可能か否かを判定する電圧値情報処理モデルと、 上記論理検証対象の論理回路に与えるテストパターン、
期待値、及び上記論理回路のネットリストに記述された
論理素子の接続情報に基づいて、上記論理モデルを用い
た上記論理回路の論理検証を実行すると共に、上記各電
圧値情報処理モデル間で各々の電圧値情報を伝搬させて
得られる判定結果から上記論理回路内の異電圧接続部間
の検証を行う論理検証実行手段とを備えた論理検証装
置。
1. A logic model for simulating a logic operation of a logic element that constitutes a logic circuit to be subjected to logic verification, and voltage value information that stores voltage value information that defines withstand voltage characteristics of an electrical element that constitutes the logic element. When the voltage value information input from the file and the above-mentioned logic model is input from the outside, the voltage value information to be set for itself is read from the voltage value information file, and the voltage value information from the outside and the voltage set for itself are read. Voltage value information processing that recognizes the voltage value specified by each value information and performs comparison, and determines based on the comparison result whether the input voltage value from the outside can be accepted by the corresponding electric element A model and a test pattern given to the logic circuit to be logic-verified,
Based on the expected value and the connection information of the logic element described in the netlist of the logic circuit, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed, and each of the voltage value information processing models Logic verification executing means for verifying between different voltage connection parts in the logic circuit from a determination result obtained by propagating the voltage value information of the logic verification device.
【請求項2】 論理モデル及び電圧値情報処理モデルを
それぞれ入力して、上記電圧値情報処理モデルを上記論
理モデルに組み込む電圧値情報処理モデル付加手段を備
えたことを特徴とする請求項1記載の論理検証装置。
2. A voltage value information processing model adding means for inputting a logic value model and a voltage value information processing model, respectively, and incorporating the voltage value information processing model into the logic model. Logic verification device.
【請求項3】 電圧値情報を予め設定した論理回路図デ
ータから電圧値情報、論理素子及びその接続情報を抽出
して、電圧値情報ファイル及び論理回路のネットリスト
を生成する電圧値情報ファイル・ネットリスト生成手段
を備えたことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の
論理検証装置。
3. A voltage value information file for extracting voltage value information, logic elements and their connection information from logic circuit diagram data in which voltage value information is preset, and generating a voltage value information file and a logic circuit netlist. The logic verification apparatus according to claim 1 or 2, further comprising a netlist generation unit.
【請求項4】 電圧値情報を予め設定したレイアウトパ
ターンデータから電圧値情報を抽出して、電圧値情報フ
ァイルを生成する電圧値情報ファイル生成手段と、 上記レイアウトパターンデータと構成が1対1に対応す
る論理回路図データから論理素子及びその接続情報を抽
出して、論理回路のネットリストを生成するネットリス
ト生成手段とを備えたことを特徴とする請求項1又は請
求項2記載の論理検証装置。
4. A voltage value information file generating means for extracting voltage value information from layout pattern data in which voltage value information is preset and generating a voltage value information file, and the layout pattern data and the configuration have a one-to-one correspondence. The logic verification according to claim 1 or 2, further comprising: a netlist generating unit that extracts a logic element and its connection information from corresponding logic circuit diagram data to generate a netlist of the logic circuit. apparatus.
【請求項5】 電圧値情報ファイルは、電圧値情報の他
に、任意に設定される異常電圧値情報を格納し、 上記異常電圧値情報を論理検証対象の論理回路内で伝搬
させる異常電圧情報伝搬モデルを備えたことを特徴とす
る請求項1から請求項4のうちのいずれか1項記載の論
理検証装置。
5. The voltage value information file stores abnormal voltage value information arbitrarily set in addition to the voltage value information, and causes the abnormal voltage value information to propagate in the logic circuit of the logic verification target. The logic verification device according to claim 1, further comprising a propagation model.
【請求項6】 電圧値情報を予め設定したレイアウトパ
ターンデータから抽出した情報を使用する請求項4記載
の論理検証装置による検証結果データと、上記レイアウ
トパターンデータと構成が1対1に対応する論理回路図
データから抽出した情報を使用する請求項3記載の論理
検証装置による検証結果データをそれぞれ比較して一致
検証を行う一致検証手段を備えた論理検証装置。
6. The verification result data by the logic verifying device according to claim 4, wherein the voltage value information is extracted from preset layout pattern data, and the layout pattern data has a one-to-one correspondence with the logic. A logic verification device comprising a match verification means for comparing the verification result data by the logic verification device according to claim 3, which uses information extracted from the circuit diagram data.
【請求項7】 検証結果データに含まれる特定の情報を
抽出して、論理回路図及び/又はレイアウトパターン上
に表示させる特定情報表示手段を備えたことを特徴とす
る請求項1から請求項6のうちのいずれか1項記載の論
理検証装置。
7. The specific information display means for extracting the specific information contained in the verification result data and displaying it on the logic circuit diagram and / or the layout pattern. The logic verification device according to any one of 1.
【請求項8】 論理検証対象の論理回路内の論理素子を
構成する電気的素子の耐圧特性を規定する電圧値情報を
電圧値情報ファイルとして設定し、 上記論理素子の論理動作を模擬する論理モデルに、外部
から電圧値情報を入力すると、自己に設定すべき電圧値
情報を上記電圧値情報ファイルから読み出して、外部か
らの電圧値情報及び自己に設定された電圧値情報のそれ
ぞれが特定する電圧値を認識して比較を行い、該比較結
果に基づいて外部からの入力電圧値が自己に対応する電
気的素子に受け入れ可能か否かを判定する電圧値情報処
理モデルを組み込む電圧値情報処理機能付加ステップ
と、 上記論理検証対象の論理回路に与えるテストパターン、
期待値、及び上記論理回路のネットリストに記述された
論理素子の接続情報に基づいて、上記論理モデルを用い
た上記論理回路の論理検証を実行すると共に、上記各電
圧値情報処理モデル間で各々の電圧値情報を伝搬させて
得られる判定結果から上記論理回路内の異電圧接続部間
の検証を行う論理検証ステップとを備えた論理検証方
法。
8. A logic model for simulating the logical operation of the logic element by setting voltage value information defining a withstand voltage characteristic of an electrical element forming a logic element in a logic circuit to be logic-verified as a voltage value information file. When the voltage value information is input from the outside, the voltage value information to be set to the self is read from the voltage value information file, and the voltage specified by each of the external voltage value information and the self-set voltage value information is specified. A voltage value information processing function incorporating a voltage value information processing model for recognizing a value, performing a comparison, and determining whether or not an external input voltage value can be accepted by an electric element corresponding to the self based on the comparison result An additional step, a test pattern given to the logic circuit to be logic-verified,
Based on the expected value and the connection information of the logic element described in the netlist of the logic circuit, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed, and each of the voltage value information processing models Logic verification step for verifying between different voltage connection parts in the logic circuit based on the determination result obtained by propagating the voltage value information of 1.
【請求項9】 電圧値情報を予め設定した論理回路図デ
ータから電圧値情報、論理素子及びその接続情報を抽出
して、電圧値情報ファイル及び論理回路のネットリスト
を生成する電圧値情報ファイル・ネットリスト生成ステ
ップを備えたことを特徴とする請求項8記載の論理検証
方法。
9. A voltage value information file for generating voltage value information files and logic circuit netlists by extracting voltage value information, logic elements and their connection information from logic circuit diagram data in which voltage value information is preset. 9. The logic verification method according to claim 8, further comprising a netlist generation step.
【請求項10】 電圧値情報を予め設定したレイアウト
パターンデータから電圧値情報を抽出して、電圧値情報
ファイルを生成する電圧値情報ファイル生成ステップ
と、 上記レイアウトパターンデータと構成が1対1に対応す
る論理回路図データから論理素子及びその接続情報を抽
出して、論理回路のネットリストを生成するネットリス
ト生成ステップとを備えたことを特徴とする請求項8記
載の論理検証方法。
10. A voltage value information file generating step of generating voltage value information file by extracting voltage value information from layout pattern data in which voltage value information is preset, and the layout pattern data and the configuration have a one-to-one correspondence. 9. The logic verification method according to claim 8, further comprising a netlist generating step of generating a netlist of the logic circuit by extracting the logic element and its connection information from the corresponding logic circuit diagram data.
【請求項11】 電圧値情報を予め設定したレイアウト
パターンデータから抽出した情報を使用する請求項9記
載の論理検証方法による検証結果データと、上記レイア
ウトパターンデータと構成が1対1に対応する論理回路
図データから抽出した情報を使用する請求項10記載の
論理検証方法による検証結果データをそれぞれ比較して
一致検証を行う一致検証ステップを備えた論理検証方
法。
11. The verification result data according to the logic verification method according to claim 9, wherein the voltage value information is extracted from preset layout pattern data, and the layout pattern data has a one-to-one correspondence with the configuration. A logic verification method comprising a match verification step of performing verification by comparing verification result data according to the logic verification method according to claim 10, which uses information extracted from circuit diagram data.
【請求項12】 論理検証対象の論理回路を構成する論
理素子の論理動作を模擬する論理モデル、 上記論理素子を構成する電気的素子の耐圧特性を規定す
る電圧値情報を格納する電圧値情報ファイル、 上記論理モデルに組み込まれ、外部から電圧値情報を入
力すると、自己に設定すべき電圧値情報を上記電圧値情
報ファイルから読み出して、外部からの電圧値情報及び
自己に設定された電圧値情報のそれぞれが特定する電圧
値を認識して比較を行い、該比較結果に基づいて外部か
らの入力電圧値が自己に対応する電気的素子に受け入れ
可能か否かを判定する電圧値情報処理モデル、 上記論理検証対象の論理回路に与えるテストパターン、
期待値、及び上記論理回路のネットリストに記述された
論理素子の接続情報に基づいて、上記論理モデルを用い
た上記論理回路の論理検証を実行すると共に、上記各電
圧値情報処理モデル間で各々の電圧値情報を伝搬させて
得られる判定結果から上記論理回路内の異電圧接続部間
の検証を行う論理検証実行手段としてコンピュータを機
能させるための論理検証プログラム。
12. A logic model for simulating the logical operation of a logic element forming a logic circuit to be subjected to logic verification, and a voltage value information file storing voltage value information defining withstand voltage characteristics of electric elements forming the logic element. , Built in the logic model, when voltage value information is input from the outside, the voltage value information to be set for itself is read from the voltage value information file, and the voltage value information from the outside and the voltage value information set for itself are read. Each of the voltage value information processing model for recognizing the voltage value specified by each of the comparison, to determine whether or not the input voltage value from the outside can be accepted by the electric element corresponding to itself based on the comparison result, A test pattern to be given to the logic circuit of the above logic verification
Based on the expected value and the connection information of the logic element described in the netlist of the logic circuit, the logic verification of the logic circuit using the logic model is performed, and each of the voltage value information processing models A logic verification program for causing a computer to function as a logic verification executing means for verifying between different voltage connection parts in the logic circuit based on the determination result obtained by propagating the voltage value information.
【請求項13】 論理モデル及び電圧値情報処理モデル
をそれぞれ入力して、上記電圧値情報処理モデルを上記
論理モデルに組み込む電圧値情報処理モデル付加手段と
してコンピュータを機能させる請求項12記載の論理検
証プログラム。
13. The logic verification according to claim 12, wherein a logic model and a voltage value information processing model are respectively input to cause the computer to function as voltage value information processing model adding means for incorporating the voltage value information processing model into the logic model. program.
【請求項14】 電圧値情報を予め設定した論理回路図
データから電圧値情報、論理素子及びその接続情報を抽
出して、電圧値情報ファイル及び論理回路のネットリス
トを生成する電圧値情報ファイル・ネットリスト生成手
段としてコンピュータを機能させる請求項12又は請求
項13記載の論理検証プログラム。
14. A voltage value information file for generating voltage value information files and logic circuit netlists by extracting voltage value information, logic elements and their connection information from logic circuit diagram data with preset voltage value information. The logic verification program according to claim 12 or 13, which causes a computer to function as a netlist generating unit.
【請求項15】 電圧値情報を予め設定したレイアウト
パターンデータから電圧値情報を抽出して、電圧値情報
ファイルを生成する電圧値情報ファイル生成手段、 上記レイアウトパターンデータと構成が1対1に対応す
る論理回路図データから論理素子及びその接続情報を抽
出して、論理回路のネットリストを生成するネットリス
ト生成手段としてコンピュータを機能させる請求項12
又は請求項13記載の論理検証プログラム。
15. A voltage value information file generating means for generating voltage value information file by extracting voltage value information from layout pattern data in which voltage value information is preset, and the layout pattern data and the configuration have a one-to-one correspondence. 13. The computer is caused to function as a netlist generating unit that extracts a logic element and its connection information from the logic circuit diagram data to generate a netlist of the logic circuit.
Alternatively, the logic verification program according to claim 13.
【請求項16】 電圧値情報を予め設定したレイアウト
パターンデータから抽出した情報を使用する請求項15
記載の論理検証プログラムによる検証結果データと、上
記レイアウトパターンデータと構成が1対1に対応する
論理回路図データから抽出した情報を使用する請求項1
4記載の論理検証プログラムによる検証結果データをそ
れぞれ比較して一致検証を行う一致検証手段としてコン
ピュータを機能させるための論理検証プログラム。
16. The information extracted from layout pattern data in which voltage value information is set in advance is used.
2. The information extracted from the verification result data by the described logic verification program and the logic circuit diagram data in which the layout pattern data has a one-to-one correspondence with the layout pattern data.
A logic verification program for causing a computer to function as a match verification means for comparing the verification result data by the logic verification program described in 4, and performing a match verification.
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