JP2001267372A - 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ - Google Patents

光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ

Info

Publication number
JP2001267372A
JP2001267372A JP2000078450A JP2000078450A JP2001267372A JP 2001267372 A JP2001267372 A JP 2001267372A JP 2000078450 A JP2000078450 A JP 2000078450A JP 2000078450 A JP2000078450 A JP 2000078450A JP 2001267372 A JP2001267372 A JP 2001267372A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
light
conversion device
electrode pattern
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000078450A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiko Oishi
美智子 大石
Masao Segawa
雅雄 瀬川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2000078450A priority Critical patent/JP2001267372A/ja
Publication of JP2001267372A publication Critical patent/JP2001267372A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/27Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造コストが安価で、簡便な製造工程が可能
な光電変換装置の実装構造およびその製造方法と、それ
を用いたカメラを提供すること。 【解決手段】 光電変換装置に用いる配線基板1は、少
なくとも光電変換受光素子5の受光面8に対面した領域
の部材を透光性にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、カメラの
イメージセンサに用いるCCD(ChargeCoup
led Device)素子等を用いた光電変換装置お
よびその製造方法と、それを用いたカメラに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、カメラ等に用いられている光電変
換素子(CCD素子等)を小型パッケージ内に収納した
光電変換装置等の電子部品は様々な分野に用いられてお
り、軽薄短小化が進んでいる。電子部品の小型化の進展
に伴い、光電変換装置の実装技術もより高密度化が求め
られている。このような光電変換装置の実装方法につい
ては、例えば、本件出願人が先に出願した特願平6−1
1134号に記載されている。以下、当該出願の図面を
用いて説明する。
【0003】図10は光電変換装置の断面構造を示して
いる。すなわち、光電変換装置は、光学ガラス板31上
に接合された配線基板32に光の通過するロ字状の領域
が開口部33として形成されている。この配線基板32
は、図11に示すように絶縁基材34の上の開口部33
の周辺に電極パターン35が形成されている。この電極
パターン35の所定位置には接続用のバンプ36a、3
6b、36c…を介して光電変換素子37が異方性導電
膜38により固定されている。光電変換素子37は、図1
2に示すように、受光面39の外側に電極パッド40
a、40b、40c…が形成されており、この電極パッ
ド40a、40b、40c…にバンプ36a、36b、
36c…が形成されている。配線基板32の開口部33
に対向するように光電変換素子37が取付けられ、この
開口部33を覆うように光学ガラス板31に対向する側
にセンサが設けられ受光面39を形成している。これら
の構成により、対象物(不図示)からの光は光学ガラス
板31を透過し、配線基板32の開口部33を通過して、
光電変換素子37のセンサの受光面39に入光する。こ
れらの光電変換装置の製造工程は、大別すると、ガラス
接着工程およびフリップチップ接続工程によって行なわ
れている。それらを、以下に図13(a)から(f)を
参照して説明する。まず、ガラス接着工程を行なう。つ
まり、図示しない実装装置のテーブル上に配線基板32
を、絶縁基材34が上側で電極パターン35を下側にし
た状態で固定する(a)。次に、絶縁基材34の開口部3
3の周囲の表面に、例えば、紫外線硬化樹脂または熱硬
化性樹脂等からなる接着剤41を、ディスペンサを用い
たディスぺンス法またはスクリーン印刷法等により塗布
した後、接着剤41の上に光学ガラス板31を載置して
(b)、光学ガラス板31を配線基板32に接着固定す
る(c)。続いて、フリップチップ接続工程に入る。ま
ず、配線基板32の電極パターン35上に、ぺースト状
の樹脂をディスペンサ42によるディスぺンス法又はス
クリーン印刷法等によりパターン塗布するか、シート状
の成形品を貼り合わせることにより異方性導電膜38を
形成する(d)。次に、予め接続用のバンプ36a、3
6b、36c…がワイヤボンディング法等により、電極
パッド40a、40b、40c…上に形成されている光
電変換素子37の接続用のバンプ36a、36b、36
c…(電極パッド40a、40b、40c…)を、配線
基板の電極パターン35に対向させて位置合せを行なう
(e)。位置合せが終了後に、光電変換素子37を配線
基板32に熱圧着して接合し、光電変換装置を形成する
(f)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の製造方
法は、電極間の接合にワイヤボンディング法を用いた光
電変換装置のパッケージに比べて、軽薄短小化が実現で
きるが、その反面、製造コストの面でのメリットが少な
く、ワイヤボンディング法等を用いた従来法より、製造
コストや部材コストを低減できる代替法の開発が望まれ
ていた。
【0005】本発明は、これらに事情にもとづいてなさ
れもので、製造コストが安価で、簡便な製造工程が可能
な光電変換装置の実装構造およびその製造方法と、それ
を用いたカメラを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明による手
段によれば、表面に所定の電極パターンが形成れた配線
基板と、この電極パターン上にバンプを介して接合材に
より電極が接合され、かつ、受光面が前記配線基板に対
面した光電変換素子を具備した光電変換装置において、
前記配線基板の少なくとも前記受光面に対面した領域が
透光性であることを特徴とする光電変換装置である。ま
た請求項2の発明による手段によれば、前記配線基板の
絶縁材料がPETからなることを特徴とする光電変換装
置である。また請求項3の発明による手段によれば、前記
バンプを介して電極を接合している接合材は、異方性導
電膜であることを特徴とする光電変換装置である。また
請求項4の発明による手段によれば、前記バンプを介し
て電極を接合している接合材は、少なくとも硬化後に透
光性を有する樹脂を用いていることを特徴とする光電変
換装置である。また請求項5の発明による手段によれば、
前記透光性を有する樹脂に含まれる導電粒子は、透光性
であることを特徴とする光電変換装置である。また請求
項6の発明による手段によれば、透光部を有する配線基
板の電極パターン上に、光電変換素子を受光面を前記配
線基板の前記透光部に対面させ、かつ、前記電極パター
ンと前記光電素子の電極上に形成されたバンプとを位置
合せし、この位置合の後に前記バンプを介して前記配線
基板と前記光電変換素子の相互の電極を接続手段によっ
て接続することを特徴とする光電変換装置の製造方法で
ある。また請求項7の発明による手段によれば、前記接続
手段は、異方性導電膜または紫外線硬化型樹脂により接
続することを特徴とする光電変換装置の製造方法であ
る。また請求項8の発明による手段によれば、上記に記載
した光電変換装置を、オートフォーカス機構の受光部に
用いたことを特徴とするカメラである。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は本発明の光電変換装置の側
面断面図である。配線基板1は、透光性の絶縁基板2の表
面に電極パターン3が形成されている。この電極パター
ン3上の所定個所にバンプ(突起電極)4a、4b、4
c…を介して光電変換素子5が異方性導電膜7により接
合されている。なお、バンプ4a、4b、4c…は光電
変換素子5に設けられた電極パッド6a、6b、6c…
に形成されている。また、光電変換素子5の配線基板1
に面した側には受光面8が形成されている。配線基板1
は、総厚が数十〜数百μm程度の絶縁基板2(ポリエチ
レンテレフタレート(PET)のフィルム等)の表層
(片面または両面)に、例えば、表面に金メッキ処理を
施した銅リード(厚さ:十〜数十μm程度、幅:百〜数
百μm程度)からなる電極パターン3が形成されたもの
である。なお、Al、Ag、ITO他の配線電極も形成
可能である。また、配線基板1は、光電変換素子5の受
光面8への入光部として光を透過する透光領域が形成さ
れている。この透光領域の光の透過率は光学ガラスと同
程度である。なお、配線基板1のこの透光領域以外は、
必ずしも透光性でなくてもよい。
【0008】光電変換素子5の大きさは数mm角程度、
厚さは数百μm〜数mm程度で、その受光面8の外側に
は、百〜数百μm角程度大きさの電極パッド6a、6
b、6c…が形成されている。電極パッド6a、6b、
6c…には、高さ数十μmの接続用のバンプ4a、4
b、4c…が形成されている。
【0009】異方性導電膜7は、例えば、エポキシ樹脂
等の熱硬化性樹脂あるいはポリイミド等の熱可塑性樹脂
に、直径が数μmの導電粒子を数〜数十%の割合で混合
して分散させて形成したものである。これは、光電変換
素子5と配線基板1の電極パッド6a、6b、6c…同
士を接続用バンプ4a、4b、4c…を介して電気的・
機械的に接続する機能と、封止の機能とを兼ね備えてい
る。
【0010】次に、本発明による光電変換装置の製造方
法について説明する。図2は実装装置による製造工程の
基本動作を模式的に示した説明図である。すなわち、実
装装置(不図示)の搬送路9を配線基板1がディスペン
サ10の位置まで搬送されてきて停止する。配線基板1
は電極パターン3が上側(ディスペンサ10側)で絶縁
基板2が下側である。この位置で、ディスペンサ10が予
めプログラムされた通りXYZ軸方向に作動して、電極
パターン3上に異方性導電膜7を塗布する。この電極パ
ターン3上への異方性導電膜7の塗布が終了すると、配
線基板1は、搬送路9に沿って搬送手段(不図示)によ
って次の、加圧加熱ポジションまで移送されて停止する。
加圧加熱ポジションには加圧加熱ヘッド11に光電変換
素子5が保持されている。光電変換素子5は受光面8が
搬送路9に対面し、電極パッド6a、6b、6c…上に
は接続用のバンプ4a、4b、4c…が形成されてい
る。加圧加熱ヘッド11が所定量下降すると、バンプ4
a、4b、4c…は配線基板1の電極パターン3に接し
て変形状態で接触する。加圧加熱ヘッド11により、百
数十度にて数秒〜数分程度の加熱が行なわれるので、バ
ンプ4a、4b、4c…を介して、光電変換素子5と配
線基板1の電極6a、6b、6c…,3同志は、電気的
ならびに機械的に接続されて光電変換装置が形成され
る。
【0011】なお、異方性導電膜の代わりに、導電粒子
を含有しない絶縁性樹脂を用いて、接続用のバンフ°と
電極パターンとを直接接触させて固着するようにしても
よい。
【0012】次に、以下に本発明の応用例について説明
する。 (応用例1)図3(a)から(c)に示した工程説明図
と、図4に示したフロー図を用いて説明する。この場合
は、異方性導電膜の樹脂に紫外線硬化樹脂を用いる。ま
ず、図3(a)に示したように、ディスペンサ10を用
いて透光性の絶縁基板2を用いた配線基板1の電極パタ
ーン3の上に、紫外線硬化樹脂を用いた異方性導電膜7
を層状に塗布する(S1)。続いて、図3(b)に示し
たように、接続用のバンプ4a、4b、4c…が電極パ
ッド6a、6b、6c上に形成されている光電変換素子
5を配線基板1の電極パターン3に位置合わせする(S
2)。次に、図3(c)に示したように、加圧ツールで
位置合せした配線基板1の電極パターンと光電素子の電
極パッド6a、6b、6c…同士を位置合せして加圧
し、紫外線光源により紫外線を照射する(S3)。これに
より、接続用のバンプ4a、4b、4c…を介して、光
電変換素子5と配線基板1の電極6a、6b、6c…,
3同志を電気的及び機械的に接続する(S4)。
【0013】この場合の配線基板1は、総厚が数十〜数
百μm程度の絶縁基材(PET等)の表層(片面または
両面)に、例えば、表面に金メッキ処理を施した銅リー
ド(厚さ:十〜数十μm程度、幅:百〜数百μm程度)
からなる電極パターン3が形成されたものである。な
お、Al,Ag,ITO他の配線電極パターン3も形成
可能である。また、配線基板1は、光電変換素子5の受
光面8への入光部として光が透過する領域以外は、必ず
しも透光性でなくてもよい。
【0014】光電変換素子5の大きさは数mm角程度、
厚さは数百μm〜数mm程度で、その受光面8の外側に
は、百〜数百μm角程度大きさの電極パッド6a、6
b、6c…が形成されている。電極パッド6a、6b、
6c…には、予め、ワイヤボンディング法により、高さ
数十μmの接続用のバンプ4a、4b、4c…が形成さ
れている。
【0015】異方性導電膜7は、紫外硬化型樹脂に、直
径が数μmの導電粒子を数〜数十%の割合で混合して分
散させたものである。これは、光電変換素子5と配線基
板1の電極6a、6b、6c…,3同士を接続用のバン
プ4a、4b、4c…を介して電気的・機械的に接続す
る機能と、封止の機能とを兼ね備えている。また、異方
性導電膜7は、ディスぺンス法による以外に、スクリー
ン印刷法等により形成することも可能である。 (応用例2)図5(a)から(c)に示した工程説明図
と、図6に示したフロー図を用いて説明する。まず、図
5(a)に示したように、ディスペンサ10を用いて透
光性の絶縁基板2を用いた配線基板1に、透光性樹脂か
らなる異方性導電膜7aを塗布する(S11)。続い
て、図5(b)に示したように、接続用のバンプ4a、4
b、4c…が電極パッド6a、6b、6c…上に形成さ
れている光電変換素子5を、配線基板1の電極パターン
3に位置合わせして固定する(S12)。次に、図5
(c)に示したように、熱圧着により光電変換素子5と
配線基板1とフリップチップ接続する(S13)(S1
4)。なお、このとき、図5(c)のように、光電変換
素子5と配線基板1との隙間に異方性導電膜7aの透光
性樹脂が充填されている状態にする。
【0016】異方性導電膜7aは、紫外硬化型樹脂に、
直径が数μmの導電粒子を数〜数十%の割合で混合して
分散させたものである。なお、異方性導電膜に含まれる
導電粒子は、プラスチック等の透光性の粒子にITO等
の透光性膜を形成した等の、透光性を有する所望する透
過波長以下の大きさであることが望ましい。この場合の
配線基板1は、総厚が数十〜数百μm程度の絶縁基板2
(PET等)の表層(片面または両面)に、例えば、表
面に金メッキ処理を施した銅リード(厚さ:十〜数十μ
m程度、幅:百〜数百μm程度)からなる電極パターン
3が形成されたものである。なお、Al,Ag,ITO
他の配線の電極パターン3も形成可能である。また、配
線基板1は、光電変換素子5の受光面8への入光部とし
て光が透過する領域以外は、必ずしも透光性でなくても
よい。
【0017】光電変換素子5の大きさは数mm角程度、
厚さは数百μm〜数mm程度で、その受光面8の外側に
は、百〜数百μm角程度大きさの電極パッド6a、6
b、6c…が形成されている。電極パッド6a、6b、
6c…には、予め、ワイヤボンディング法により、高さ
数十μmの接続用のバンプ4a、4b、4c…が形成さ
れている。 (応用例3)図7(a)から(c)に示した工程説明図
と、図8に示したフロー図を用いて説明する。まず、図
7(a)に示したように、ディスペンサ10を用いて透
光性の絶縁基板2を用いた配線基板1に透光性で紫外線
硬化型樹脂からなる異方性導電膜7bを塗布する(S1
6)。続いて、図7(b)に示したように、接続用のバン
プ4a、4b、4c…が電極パッド6a、6b、6c…
上に形成されている光電変換素子5を、配線基板1の電
極パターン3に位置合わせする(S17)。次に、図7
(c)に示したように、加圧ツールで位置合せした配線
基板1の電極パターン3と光電素子の電極パッド6a、
6b、6c…同士を加圧し、紫外光源12a、12b、
12cにより紫外線を照射する(S18)。これによ
り、接続用のバンプ4a、4b、4c…を介して、光電
変換素子5と配線基板1の電極6a、6b、6c,3同
志を電気的及び機械的に接続する(S19)。なお、こ
のとき、図7(c)のように、光電変換素子5と配線基
板1との隙間に異方性導電膜7bの透光性樹脂が充填さ
れている状態にする。
【0018】異方性導電膜7bは、紫外硬化型樹脂に、
直径が数μmの導電粒子を数〜数十%の割合で混合して
分散させたものである。
【0019】この場合の配線基板1は、総厚が数十〜数
百μm程度の絶縁基板2(PET等)の表層(片面また
は両面)に、例えば、表面に金メッキ処理を施した銅リ
ード(厚さ:十〜数十μm程度、幅:百〜数百μm程
度)からなる電極パターン3が形成されたものである。
なお、Al,Ag,ITO他の配線の電極パターン3も
形成可能である。また、配線基板1は、光電変換素子5
の受光面8への入光部として光が透過する領域以外は、
必ずしも透光性でなくてもよい。また、赤外線カット用
蒸着膜を形成した透光性基板を用いてもよい。
【0020】光電変換素子5の大きさは数mm角程度、
厚さは数百μm〜数mm程度で、その受光面8の外側に
は、百〜数百μm角程度大きさの電極パッド6a、6
b、6c…が形成されている。電極パッド6a、6b、
6c…には、予め、ワイヤボンディング法により、高さ
数十μmの接続用のバンプ4a、4b、4c…が形成さ
れている。
【0021】なお、応用例2および応用例3の場合、異
方性導電膜の導電粒子として、プラスチックボールに透
光性の導電粒子をコーティングしたり、また、数〜数十
%のITO(Indium Tin Oxide)を配
合して透光性を得ることもできる。
【0022】次に本発明による光電変換装置を搭載した
CCDカメラのオートフォーカス機構(AF)の一例の
原理について、図9(a)に示した光路の原理図と、図
9(b)に示したその際の光電変換素子での受光像の説
明図により説明する。
【0023】コンパクトカメラのオートフォーカス方式
では、カメラから被写体に向けて赤外光や超音波を出し、
その反射をセンサで受けて距離を検知(測距)する方式
が用いられている。図9(a)に示したように、アクテ
ィブAFタイプのフルオートコンパクトカメラでは、シ
ャッタボタン(不図示)を押すと、近赤外線発光ダイオ
ード(IRED)21が赤外光を投光レンズ22を介し
て、各距離に存在する被写体(A1〜A4)に向けて照
射し、その反射光を受光レンズ23を介してCCD受光
素子で形成された光電変換受光装置24で受光して距離
を検知する。距離の測定は三角測量のように照射と反射
(被写体が近いと広くD2、遠いと狭いD1)によって
距離を測る。光電変換素子24での受光像は、図9
(b)に示したように、距離に応じて画像の位置が異な
るので(A1〜A4)、それを検出してその距離にピン
トが合うようにモータにより撮像レンズ(不図示)を移
動させてピントを自動調節する。なお、通常、アクティブ
AFタイプのコンパクトカメラでは、赤外ビームを数本
照射し、それぞれのポイントの距離に差が有ると最も近
い距離にピントをセットしているカメラが多い。(近い
距離にピントを合わせておくほうがトータルとしてのピ
ンぼけになりにくい)本発明による光電変換装置に用い
たCCD素子は、樹脂が光電変換装置のイメージエリア
に滲み出して画像不良となるのも防ぐことができるた
め、良好な画像が得られる。上述のように本発明によれ
ば、従来のガラス板を貼り合わせた配線基板に替わり、
透光性基板を用いることにより、配線基板と光電変換素
子との接続工程のみで、光電変換装置を製造することが
できる。また、ディスペンサ法またはスクリーン印刷法
等による精密塗布工程を省略することができるため、接
着剤がイメージエリアにはみ出して画像不良が生じた
り、封止不良が生じたりすることがなく、高精度で、安
価な光電変換装置が実現できる。
【0024】また、本発明の光電変換装置を例えば、オ
ートフォーカス機構に搭載したカメラは、極めて高精度
の光学的特性が得られる。
【0025】
【発明の効果】本発明のによれば、光電変換素子を透光
性の基板により形成した配線基板を用いることにより、
簡便な製造工程で生産性および歩留まりを向上できる。
【0026】また、本発明の光電変換装置を用いたカメ
ラは精密な光学的特性が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光電変換装置の側面断面図。
【図2】本発明の製造工程の基本動作を模式説明図。
【図3】(a)から(c)は、本発明の第1の応用例の
工程説明図。
【図4】本発明の第1の応用例のフロー図。
【図5】(a)から(c)は、本発明の第2の応用例の
工程説明図。
【図6】本発明の第2の応用例のフロー図。
【図7】(a)から(c)は、本発明の第3の応用例の
工程説明図。
【図8】本発明の第3の応用例のフロー図。
【図9】CCDカメラのオートフォーカス機構の一例の
原理について、(a)は、本発明の光電変換受光素子を
カメラのオートフォーカス機構用いた光路の原理図、
(b)は、その際の光電変換素子での受光像の説明図。
【図10】光電変換装置の断面構造図。
【図11】絶縁基材の平面図
【図12】光電変換素子の平面図。
【図13】(a)から(f)は、光電変換装置の製造工
程の説明図。
【符号の説明】
1…配線基板、2…絶縁基材、3…電極パターン、4
a、4b、4c…バンプ、5…光電変換素子、6a、6
b、6c…電極パッド、7a、7b、7c…異方性導電
膜、8…受光面、9…、10…ディスペンサ、11…加
熱加圧ヘッド、12a、12b…紫外線光源、24…光
電変換装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 31/02 G02B 7/11 B 5F044 H04N 5/225 G03B 3/00 A 5F061 5/232 H01L 27/14 D 5F088 5/335 31/02 B Fターム(参考) 2H011 AA01 BA14 BB02 2H051 BB20 BB22 CA09 CA12 4M118 AA10 AB01 AB03 BA10 GA02 HA09 HA24 HA26 HA27 HA31 HA32 5C022 AB24 AC42 AC51 AC70 AC78 5C024 CY47 EX23 EX24 EX25 GY01 5F044 KK06 LL09 RR17 RR19 5F061 AA01 BA03 CA04 CA12 FA01 5F088 BA01 BA18 BB03 EA04 FA06 FA09 FA20 GA02 JA03 JA06

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に所定の電極パターンが形成れた配
    線基板と、この電極パターン上にバンプを介して接合材
    により電極が接合され、かつ、受光面が前記配線基板に
    対面した光電変換素子を具備した光電変換装置におい
    て、前記配線基板の少なくとも前記受光面に対面した領
    域が透光性であることを特徴とする光電変換装置。
  2. 【請求項2】 前記配線基板の絶縁材料がPETからな
    ることを特徴とする請求項1記載の光電変換装置。
  3. 【請求項3】 前記バンプを介して電極を接合している
    接合材は、異方性導電膜であることを特徴とする請求項
    1記載の光電変換装置。
  4. 【請求項4】 前記バンプを介して電極を接合している
    接合材は、少なくとも硬化後に透光性を有する樹脂を用
    いていることを特徴とする請求項3記載の光電変換装
    置。
  5. 【請求項5】 前記透光性を有する樹脂に含まれる導電
    粒子は、透光性であることを特徴とする請求項4記載の
    光電変換装置。
  6. 【請求項6】 透光部を有する配線基板の電極パターン
    上に、光電変換素子を受光面を前記配線基板の前記透光
    部に対面させ、かつ、前記電極パターンと前記光電素子
    の電極上に形成されたバンプとを位置合せし、この位置
    合の後に前記バンプを介して前記配線基板と前記光電変
    換素子の相互の電極を接続手段によって接続することを
    特徴とする光電変換装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記接続手段は、異方性導電膜または紫
    外線硬化型樹脂により接続することを特徴とする請求項
    6記載の光電変換装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至請求項5に記載した光電変
    換装置を、オートフォーカス機構の受光部に用いたこと
    を特徴とするカメラ。
JP2000078450A 2000-03-21 2000-03-21 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ Pending JP2001267372A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000078450A JP2001267372A (ja) 2000-03-21 2000-03-21 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000078450A JP2001267372A (ja) 2000-03-21 2000-03-21 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001267372A true JP2001267372A (ja) 2001-09-28

Family

ID=18595862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000078450A Pending JP2001267372A (ja) 2000-03-21 2000-03-21 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001267372A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004055671A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 受光モジュールとその製造方法
JP2005202382A (ja) * 2003-12-18 2005-07-28 Sumitomo Bakelite Co Ltd 光プリント回路基板、面実装型半導体パッケージ、及びマザーボード
JP2007158293A (ja) * 2005-11-09 2007-06-21 Aoi Electronics Co Ltd 電子部品およびその製造方法、樹脂封止用印刷機
JP2007288755A (ja) * 2006-04-14 2007-11-01 Optopac Co Ltd カメラモジュール
WO2009129198A1 (en) * 2008-04-15 2009-10-22 Analog Devices, Inc. Wafer level csp sensor
JP2010135513A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Sumitomo Electric Ind Ltd 実装体
JP2011003756A (ja) * 2009-06-19 2011-01-06 Sony Corp 半導体装置、半導体装置の製造方法および電子機器
JP2011086670A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Renesas Electronics Corp 固体撮像装置の製造方法
JP2018050031A (ja) * 2016-07-28 2018-03-29 フラウンホーファー−ゲゼルシャフト・ツール・フェルデルング・デル・アンゲヴァンテン・フォルシュング・アインゲトラーゲネル・フェライン パターニングされた層状複合材
JP2019002916A (ja) * 2017-05-26 2019-01-10 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法
US11385258B2 (en) 2017-05-26 2022-07-12 Tektronix, Inc. Encapsulated component attachment technique using a UV-cure conductive adhesive

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004055671A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 受光モジュールとその製造方法
JP2005202382A (ja) * 2003-12-18 2005-07-28 Sumitomo Bakelite Co Ltd 光プリント回路基板、面実装型半導体パッケージ、及びマザーボード
JP2007158293A (ja) * 2005-11-09 2007-06-21 Aoi Electronics Co Ltd 電子部品およびその製造方法、樹脂封止用印刷機
JP2007288755A (ja) * 2006-04-14 2007-11-01 Optopac Co Ltd カメラモジュール
US7880244B2 (en) 2008-04-15 2011-02-01 Analog Devices, Inc. Wafer level CSP sensor
WO2009129198A1 (en) * 2008-04-15 2009-10-22 Analog Devices, Inc. Wafer level csp sensor
JP2010135513A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Sumitomo Electric Ind Ltd 実装体
JP2011003756A (ja) * 2009-06-19 2011-01-06 Sony Corp 半導体装置、半導体装置の製造方法および電子機器
JP2011086670A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Renesas Electronics Corp 固体撮像装置の製造方法
JP2018050031A (ja) * 2016-07-28 2018-03-29 フラウンホーファー−ゲゼルシャフト・ツール・フェルデルング・デル・アンゲヴァンテン・フォルシュング・アインゲトラーゲネル・フェライン パターニングされた層状複合材
JP2019002916A (ja) * 2017-05-26 2019-01-10 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法
US11385258B2 (en) 2017-05-26 2022-07-12 Tektronix, Inc. Encapsulated component attachment technique using a UV-cure conductive adhesive
JP7420467B2 (ja) 2017-05-26 2024-01-23 テクトロニクス・インコーポレイテッド 試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11005001B2 (en) Opto-electronic modules and methods of manufacturing the same and appliances and devices comprising the same
US10096644B2 (en) Optical devices, in particular computational cameras, and methods for manufacturing the same
TWI584452B (zh) 可回焊之光電模組
TWI273300B (en) Module for optical device, and manufacturing method therefor
EP0561964B1 (en) Optoelectronic device component package and method of making the same
TW554544B (en) Semiconductor device and its manufacture method
US6784409B2 (en) Electronic device with encapsulant of photo-set resin and production process of same
US7427145B2 (en) Backlight unit having light emitting diodes and method for manufacturing the same
JP2001267372A (ja) 光電変換装置及びその製造方法と、それを用いたカメラ
JP2004242166A (ja) 光モジュール及びその製造方法並びに電子機器
TW201415677A (zh) 發射可變強度分布的光線的光電模組
JP2002009265A (ja) 固体撮像装置
JP3410907B2 (ja) 光電変換素子の実装装置およびその製造方法
JP2006080597A (ja) 撮像モジュール及び撮像モジュールの製造方法
CN111371975A (zh) 摄像模块封装结构
JP2004096638A (ja) 撮像装置およびその製造方法
JP2004289423A (ja) 光モジュール及びその製造方法並びに電子機器
CN211606607U (zh) 摄像模块封装结构
JP2005347837A (ja) 撮像装置及び電子機器
JP2006078517A (ja) 撮像モジュール及び撮像モジュールの製造方法
JP2000183368A (ja) 光電変換装置およびその製造方法