JP2001264235A - 微粒子カウンタ、微粒子カウント方法および微粒子カウントプログラムを記録した媒体 - Google Patents

微粒子カウンタ、微粒子カウント方法および微粒子カウントプログラムを記録した媒体

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JP2001264235A
JP2001264235A JP2000077685A JP2000077685A JP2001264235A JP 2001264235 A JP2001264235 A JP 2001264235A JP 2000077685 A JP2000077685 A JP 2000077685A JP 2000077685 A JP2000077685 A JP 2000077685A JP 2001264235 A JP2001264235 A JP 2001264235A
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particle counter
scattered light
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JP2000077685A
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English (en)
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Tadao Okazaki
忠雄 岡▲崎▼
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OHM Electric Co Ltd
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OHM Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ろ過による集塵、拡大観察とを別々に行なわ
なければならず、また、微粒子のサイズの分布を得ると
いうようなことも作業的に困難であった。 【解決手段】 略台形としたプリズム11の入射面11
bから同プリズム11における観察面11aにて全反射
する照明光を発光器13a,13bにて照射すると、同
観察面11aには近接場が形成されて微粒子が到来する
と近接場散乱光で照明されることになり、同観察面11
aに対面する光学系15を介して光センサ16a,16
bが光量変化を検知すると、同光量変化に基づいて微粒
子の個体数をカウントできるし、両光センサ16a,1
6bの出力比が微粒子の大きさに相当するので度数分布
を求めることもできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、微粒子カウンタ、
微粒子カウント方法および微粒子カウントプログラムを
記録した媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体製造現場では、クリーンル
ーム化された環境で製造が行われており、浮遊微粒子の
管理が重大な問題となっている。従来は、クリーンルー
ムの空気をろ過して浮遊中の微粒子を補足し、拡大して
微粒子の数を計測することが行われていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の微粒子
カウンタにおいては、ろ過による集塵、拡大観察とを別
々に行なわなければならず、作業が繁雑であった。ま
た、微粒子のサイズの分布を得るというようなことも作
業的に困難であった。本発明は、上記課題にかんがみて
なされたもので、微粒子のカウントなどを容易に行える
ようにすることが可能な微粒子カウンタ、微粒子カウン
ト方法および微粒子カウントプログラムを記録した媒体
の提供を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1にかかる発明は、平板状の観察面を有する
光透過媒体に所定の角度で照明光を入射して上記観察面
で全反射させる近接場照明手段と、上記観察面における
近接場散乱光を集光可能な光学系と、同光学系を介して
上記近接場散乱光を受光し、同近接場散乱光の光量変化
に基づいて上記観察面における微粒子の個体数をカウン
トする光カウント手段とを具備する構成としてある。
【0005】上記のように構成した請求項1にかかる発
明においては、近接場照明手段を有している。すなわ
ち、平板状の観察面を有する光透過媒体を備え、この光
透過媒体に所定の角度で照明光を入射して、上記観察面
で全反射させている。このようにすると、光透過媒体を
透過する照明光が上記観察面で全反射する結果、同観察
面に近接場が形成される。そして、この観察面上に微粒
子などが付着すると同面からの距離に対応する近接場散
乱光が発光される。
【0006】一方、上記観察面に対応して光学系が配置
されているので、上記観察面にて近接場散乱光が発光さ
れれば当該光学系にて集光可能であり、光カウント手段
は集光された近接場散乱光を受光して微粒子の個体数を
カウントする。より具体的には、微粒子が観察面に付着
した時点で近接場散乱光が発光されるので光量変化を生
じ、光カウント手段はこの光量変化を検知するので、微
粒子のカウントが可能となる。近接場照明手段は光透過
媒体を備えており、その一面が観察面となっている。観
察面には近接場が形成される必要があるため、同観察面
にて全反射する照明光を照射している。全反射させる条
件は光透過媒体の材料や形状によって適宜異なる。その
一例として、請求項2にかかる発明は、請求項1に記載
の微粒子カウンタにおいて、上記請求項1に記載の微粒
子カウンタにおいて、上記近接場照明手段は、台形のプ
リズムを有し、平行面の一面を上記観察面とした構成と
してある。
【0007】上記のように構成した請求項2にかかる発
明においては、台形のプリズムが備えられ、このプリズ
ムには少なくとも一対の平行面があり、その一面が観察
面となっている。従って、この観察面に対面する二方向
からは観察が容易となる。一方、台形となっているので
傾斜面を有しており、当該傾斜面に対して所定の角度で
照明光を入光させることにより、上記観察面にて全反射
せしめることができる。
【0008】一方、光学系は観察面にて発光される近接
場散乱光を観察できるように配置され、具体的な配置は
適宜変更可能である。その一例として、請求項3にかか
る発明は、上記請求項2に記載の微粒子カウンタにおい
て、上記光学系は、上記台形のプリズムを透過して上記
観察面に対面するように配置した構成としてある。近接
場では観察面に対面する側が照明される。上記のように
構成した請求項3にかかる発明においては、光学系がプ
リズムを透過して観察面に対面するので、被照明面に対
面する。従って、効率よく近接場散乱光を集光できる。
【0009】また、プリズム自体が台形であるため、観
察面と反対の側に光学系を配置した状態でも光学系は直
に観察面に対面することになる。微粒子が観察面に載置
されれば近接場散乱光が発光するし、微粒子自体は質量
を有しているので空間中に浮遊したとしても自ずから落
下する。従って、観察面が上方に対面していれば微粒子
は自然に落下してくる。しかしながら、自然に任せて落
下してくるのを待機するのみならず、積極的に捕捉する
ことも可能である。その一例として、請求項4にかかる
発明は、上記請求項1〜請求項3のいずれかに記載の微
粒子カウンタにおいて、上記近接場照明手段は、電場を
形成して上記観察面に微粒子を付着させる電場吸着手段
を有する構成としてある。
【0010】上記のように構成した請求項4にかかる発
明においては、電場を形成して微粒子を移動させる。例
えば、請求項5にかかる発明は、上記請求項4に記載の
微粒子カウンタにおいて、上記電場吸着手段は、上記観
察面を挟んで対峙する一対の電極を有する構成としてあ
る。上記のように構成した請求項5にかかる発明におい
ては、観察面を挟んで電極が対峙しているので、両電極
間に電圧を印加させれば一方向に電界強度が変化する電
場が形成される。従って、帯電している微粒子は電界強
度の傾斜に伴って一方向へ移動されることになる。この
ようにすれば浮遊中の微粒子は電極に向かって移動しや
すくなる。
【0011】電極は、場合によっては光学経路の障害に
なりかねない。このため、請求項6にかかる発明は、上
記請求項5に記載の微粒子カウンタにおいて、上記電極
の一方は、透明電極で構成されて、上記プリズムにおけ
る上記観察面と反対の側に配置される構成としてある。
上記のように構成した請求項6にかかる発明において
は、電場を形成するための電極の一方が透明電極である
ので、光学経路を妨げない。特に、透明電極はプリズム
における観察面と反対の側に配置されているので、観察
面の全体にわたって概ね一定の強さの電場を形成でき
る。
【0012】電場で微粒子を吸着するためには同微粒子
が帯電していると効率的であり、請求項7にかかる発明
は、上記請求項1〜請求項6のいずれかに記載の微粒子
カウンタにおいて、上記電場吸着手段は、微粒子を帯電
させるイオン化手段を有する構成としてある。上記のよ
うに構成した請求項7にかかる発明においては、イオン
化手段によって微粒子を帯電させるため、形成された電
場内で一様に電極に向かって引きつけられ、微粒子の捕
捉効率が向上する。
【0013】光カウント手段は集光された近接場散乱光
の光量変化に基づいて微粒子をカウントする。微粒子が
付着する毎にその前の段階と発光状態が変化するのであ
るから、これを利用して計測しても良い。その一例とし
て、請求項8にかかる発明は、上記請求項1〜請求項7
のいずれかに記載の微粒子カウンタにおいて、上記光カ
ウント手段は、上記近接場散乱光の光量変化をトリガと
して微粒子をカウントする構成としてある。
【0014】上記のように構成した請求項8にかかる発
明においては、観察面での光量変化を見ており、光量変
化があればカウントするので自動化が容易となる。観察
面での発光スポットを検出してどこに微粒子が付着した
かを判断するのではなく、単純に光量の変化だけを見る
構成は、極めてシンプルである。むろん、具体的な計測
手法は適宜変更可能であり、計測開始前の観察場面での
発光状態と計測終了時の観察場面での発光状態とを比較
したり、所定間隔毎に近接場の発光状態を比較し、発光
状態の変化をが可能となる。
【0015】近接場での発光光量は波長に対応して変化
するため、複数の波長を利用して観測することも有効で
ある。その一例として、請求項9にかかる発明は、上記
請求項1〜請求項8のいずれかに記載の微粒子カウンタ
において、上記近接場照明手段は、それぞれ単一の波長
の照明光を照射する複数の単一波長照明手段を有し、上
記光カウント手段は、それぞれの単一波長の近接場散乱
光に分離して上記微粒子のカウントを実行する構成とし
てある。
【0016】上記のように構成した請求項9にかかる発
明においては、複数の単一波長照明手段がそれぞれ異な
る単一の波長の照明光を照射するので、微粒子を照明す
る近接場散乱光も特性が異なる。このため、上記光カウ
ント手段は、それぞれの単一波長の近接場散乱光に分離
し、上記微粒子のカウントを実行する。複数の単一波長
の照明光を利用する具体例として、請求項10にかかる
発明は、上記請求項9に記載の微粒子カウンタにおい
て、上記光カウント手段は、分離した単一波長の近接場
散乱光の光量比に基づいて微粒子のサイズ分布を検知す
る構成としてある。
【0017】近接場での発光光量は観察面からの距離に
応じて指数関数的に減衰する。従って、微粒子の大きさ
は観察面からの距離に対応して減衰する。このため近接
場散乱光の減衰度合いを利用して微粒子の高さおよび大
きさを検知することが理論的には可能なように思える。
しかしながら、その場合は発光光量を正確にキャリブレ
ーションしなければならず、実際には困難である。発光
光量の不均一は同じ環境であれば異なる波長に対して同
様の影響度合いを与える。また、発光光量は波長に対応
して変化する。このため、上記のように構成した請求項
10にかかる発明においては、分離した単一波長の近接
場散乱光の光量比を求める。このようにすると、環境に
よって発光光量にばらつきがあったとしても光量比を求
める段階でほぼ不均一要素が解消される。むろん、その
前提として発光光量の波長依存度合いが非線形であるこ
とが必要であるが、近接場散乱光はその条件に適合する
ので可能となる。
【0018】このようにして得られた光量比は微粒子の
大きさに対応するとともに正規化されているので、光量
変化が生じる毎にトリガをかけて同光量比の度数分布を
求めていくと、微粒子のサイズの分布が求められる。さ
らに、請求項11にかかる発明は、略台形のプリズム
と、同プリズムにおける傾斜面から入光して同プリズム
における平行面の一方の観察面にて全反射する照明光を
照射する発光器と、上記観察面と反対の側の平行面に配
置した透明電極と、上記観察面の側に所定距離を隔てて
配置した非透明電極と、上記透明電極と上記非透明電極
との間に電圧を印加して電場を形成する印加電源と、上
記透明電極の側から上記観察面の近接場散乱光を集光す
る光学系と、同光学系を介して受光した同近接場散乱光
の光量変化に基づいて上記観察面における微粒子の個体
数をカウントする光カウント手段とを具備する構成とし
てある。
【0019】上記のように構成した請求項11にかかる
発明においては、略台形のプリズムを挟んで電場が形成
され、微粒子を効率よく観察面上に捕捉し、同プリズム
の観察面上に形成される近接場にて同微粒子を照明する
ことができるので、同プリズムを挟んで観察面に対面す
る光学系で近接場散乱光を集光しつつ光カウント手段で
同微粒子をカウントすることができる。このように、近
接場散乱光を利用して微粒子の個体数をカウントする手
法は必ずしも実体のある装置に限られる必要はなく、そ
の方法としても機能することは容易に理解できる。この
ため、請求項12にかかる発明は、平板状の観察面を有
する光透過媒体に所定の角度で照明光を入射して上記観
察面で全反射させる近接場照明を行なうとともに、上記
観察面における近接場散乱光を集光して受光し、同近接
場散乱光の変化量に基づいて上記観察面における微粒子
の個体数をカウントする構成としてある。
【0020】すなわち、必ずしも実体のある装置に限ら
ず、その方法としても有効であることに相違はない。と
ころで、このような微粒子カウンタは単独で存在する場
合もあるし、ある機器に組み込まれた状態で利用される
こともあるなど、発明の思想としてはこれに限らず、各
種の態様を含むものである。従って、ソフトウェアであ
ったりハードウェアであったりするなど、適宜、変更可
能である。発明の思想の具現化例として微粒子カウンタ
のソフトウェアとなる場合には、かかるソフトウェアを
記録した記録媒体上においても当然に存在し、利用され
るといわざるをえない。
【0021】その一例として、請求項13にかかる発明
は、 さらに、請求項13にかかる発明は、平板状の観
察面を有する光透過媒体に所定の角度で照明光を入射し
て上記観察面で全反射させる近接場照明を行なうととも
に、上記観察面における近接場散乱光を集光して受光
し、同近接場散乱光の変化量に基づいてコンピュータに
て上記観察面における微粒子の個体数をカウントする微
粒子カウントプログラムを記録した媒体であって、それ
ぞれ単一の波長の複数の照明光を上記観察面に照射する
とともに、上記観察面からの近接場散乱光を単一波長光
に分離し、同分離した近接場散乱光の強度分布に基づい
て微粒子のサイズ分布を検知する機能をコンピュータに
実行させる構成としてある。
【0022】むろん、その記録媒体は、磁気記録媒体で
あってもよいし光磁気記録媒体であってもよいし、今後
開発されるいかなる記録媒体においても全く同様に考え
ることができる。また、一次複製品、二次複製品などの
複製段階については全く問う余地無く同等である。その
他、供給方法として通信回線を利用して行なう場合でも
本発明が利用されていることにはかわりない。さらに、
一部がソフトウェアであって、一部がハードウェアで実
現されている場合においても発明の思想において全く異
なるものではなく、一部を記録媒体上に記憶しておいて
必要に応じて適宜読み込まれるような形態のものとして
あってもよい。
【0023】本発明をソフトウェアで実現する場合、ハ
ードウェアやオペレーティングシステムを利用する構成
とすることも可能であるし、これらと切り離して実現す
ることもできる。例えば、補間処理するために画像デー
タを入力する処理といっても、その実現方法はオペレー
ティングシステムにおける所定の関数を呼び出して処理
することも可能であれば、このような関数を呼び出すこ
となくハードウェアから入力することも可能である。そ
して、実際にはオペレーティングシステムの介在のもと
で実現するとしても、プログラムが媒体に記録されて流
通される過程においては、このプログラムだけで本発明
を実施できるものと理解することができる。
【0024】また、本発明をソフトウェアで実施する場
合、発明がプログラムを記録した媒体として実現される
のみならず、本発明がプログラム自体として実現される
のは当然であり、プログラム自体も本発明に含まれる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、簡易な構
成で、かつ自動化を容易にすることが可能な微粒子カウ
ンタを提供することができる。また、請求項2にかかる
発明によれば、台形のプリズムを使用するので、近接場
散乱光の観察自体は平行な面を利用することができる
し、傾斜面を利用すれば近接場を形成するための全反射
も容易に実現でき、全体として構成をシンプルにするこ
とができる。
【0026】さらに、請求項3にかかる発明によれば、
微粒子の被照明面に対面するので微粒子自体で陰を形成
することが無くなり、観測上も都合がよい。さらに、請
求項4にかかる発明によれば、積極的に微粒子を捕捉し
やすくなり、短時間での計測が可能となる。さらに、請
求項5にかかる発明によれば、微粒子を観察面に直接移
動させる電場を形成でき、捕捉の効率が向上する。さら
に、請求項6にかかる発明によれば、透明電極を利用す
るので集光を妨げることなく観察面で一様の電場を形成
して捕捉効率を向上させることができる。
【0027】さらに、請求項7にかかる発明によれば、
微粒子を積極的に帯電させて観察面に捕捉しやすくな
る。さらに、請求項8にかかる発明によれば、光量変化
をトリガにしてカウントするため、計測の自動化が容易
になる。さらに、請求項9にかかる発明によれば、波長
に依存する特性を利用して観測の幅を広げることができ
る。さらに、請求項10にかかる発明によれば、面倒な
キャリブレーションを必要とすることなく微粒子のサイ
ズ分布を求めることができる。
【0028】さらに、請求項11にかかる発明によれ
ば、同様の効果を奏する微粒子カウント方法を提供で
き、請求項12にかかる発明によれば、微粒子カウント
プログラムを記録した媒体を提供できる。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、図面にもとづいて本発明の
実施形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態にか
かる微粒子カウンタを模式図により示している。同図に
おいて、プリズム11は断面略台形に形成され、上面の
方が下面よりも大きくなっている。また、平面的には概
ね矩形形状となっている。ここでプリズム11の上面を
観察面11aと呼び、図面上左側の傾斜面を入射面11
bと呼び、右側の傾斜面を出射面11cと呼ぶ。入射面
にはプリズム12を介してそれぞれ波長の異なる単一波
長(λ1,λ2)を照射する発光器13a,13bが対
面している。プリズム12は各発光器13a,13bか
らの照明光の光軸を合わせてプリズム11の入射面11
bに入射せしめる。
【0030】この光軸は観察面11aと交差するが、プ
リズム11の側から観察面11aを透過するものではな
く、全反射する。従って、プリズム11における観察面
11aの外側には近接場が形成される。また、全反射後
の光軸は出射面11cを介してプリズム11外に出射さ
れる。ここで、プリズム11内での散乱光の発生を抑止
するため、この光軸と入射面11b及び出射面11cと
は直交するように配向してある。
【0031】以上のプリズム11,12と発光器13
a,13bにより、近接場照明手段を構成する。本実施
形態においては、二つの発光器13a,13bを使用し
ているが、後述するように微粒子のサイズ分布を得るた
めであり、必ずしも複数の発光器を必要とするわけでは
ない。また、同様の意味で単一波長の発光器13a,1
3bを使用しているが、単一波長である必要もない。ま
た、光軸を合わせるためにプリズム12を使用している
が、ハーフミラーを利用する事も可能である。さらに光
軸を合わせるために各種の光学系を備えて発光器13
a,13bの配置を変更することも可能である。
【0032】プリズム11における観察面11aと反対
側の面には透明電極14aを備えており、プリズム11
の上方には窓を開けた枠状の電極14bを配置してあ
る。窓は概ね観察面11aにおける観察上有効な部位に
対応して形成されており、上方から微粒子が観察面上に
落下するのを妨げないようにしてある。電極14a,1
4bには電源14cにて電圧を印加してあり、さらに両
電極間には微粒子を積極的にイオン化させるためのイオ
ン針14dが配置されている。イオン針14dはイオン
化回路14eから所定電圧を印加されており、これによ
り微粒子がイオン化されると透明電極14bの側へと引
きつけられて観察面11a上に密着しやすくなる。近接
場で微粒子を照明するためには観察面11aにできるだ
け近接する必要があるためである。
【0033】これらの透明電極14a、電極14b、電
源14c、イオン針14d、イオン化回路14eによっ
て電場吸着手段を構成している。電場吸着手段は上記近
接場照明手段での効率を向上させるために役立つが、必
須のものではない。また、電場を形成する手法は適宜変
更可能であり、例えば電極14bに針状の尖端部位を形
成し、電極14bと透明電極14aとの間に高圧直流回
路を配置することにより、電極14bで微粒子をイオン
化させつつ透明電極14aに向けて吸引させるような構
成としても良い。
【0034】プリズム11の下方には光学系15が備え
られ、レンズ15a、ハーフミラー15b、フィルタ1
5c1,15c2を介して波長λ1,λ2ごとに光セン
サ16a,16bに結像させている。光学系15につい
ては概略的に示しているが、プリズム11下方の設置ス
ペースなどに応じて適宜プリズムやミラーを配して光軸
方向を変更可能である。また、ハーフミラー15bとフ
ィルタフィルタ15c1,15c2は発光器13a,1
3bにて波長λ1,λ2を分離して結像させるために使
用されるものであり、必要に応じて適宜使用する。ただ
し、光センサ16a,16bによって適宜光学系15は
設計されればよく、光センサ16a,16b内に実質的
な光学系を備えるようなものであっても良い。
【0035】光センサ16a,16bはCCDセンサで
構成され、微粒子をカウントするカウンタ本体17に接
続されている。カウンタ本体17には操作パネル18と
表示器19が備えられている。カウンタ本体17の内部
には、図2に示すように、演算を司るCPU17a、フ
ァームウェアなどを記憶するROM17b、演算のワー
クエリアなどとして利用されるRAM17c、外部機器
と接続するインターフェイス17dなどが備えられてお
り、上記CPU17aは図3に示すフローチャートに従
って微粒子カウント処理を実行可能となっている。むろ
ん、このフローを実現するプログラムがROM17bに
書き込まれており、この意味で同ROM17bは微粒子
カウントプログラムを記録した媒体を構成する。
【0036】本実施形態においては、以上の光センサ1
6a,16b、カウンタ本体17、操作パネル18、表
示器19によって光カウント手段を構成しているが、近
接場散乱光を受光しつつ同近接場散乱光の光量変化に基
づいて微粒子の個体数をカウントするためには各種の変
更も可能である。例えば、微粒子のサイズ分布を検知す
るためにはCCDなどで観察面を画像として撮像する必
要があるが、微粒子の到来だけを検知するのであれば単
純に光量だけを検知するセンサを利用すればよい。ま
た、操作パネル18や表示器19もLCD上にタッチパ
ネルを配するなどして一体化したり操作性を向上させた
りすることもできる。また、ソフトウェア的な処理だけ
でなく、ハードウェア的な処理で実現することもでき、
後述する。
【0037】次に、上記構成からなる本実施形態の動作
を説明する。ハード的にはプリズム11の観察面11a
に付着している微粒子を取り除き、電極14bを上方に
向けて設置する。透明電極14aと電極14bの間に電
圧を印加しつつ、イオン化回路14eにてイオン針へ所
定の高圧電源を印加する。一方、発光器13a,13b
を発光させて所定の単一波長光を発生させ、プリズム1
2を介してプリズム11の観察面11aへと入光させ
る。このとき、プリズム11への入射時には入射面11
bと直角に、出射時には出射面11cと直角になるた
め、屈折光がプリズム11内で発生して観察面11aか
ら出射してしまうことはない。この結果、観察面11a
では近接場が形成され、純粋に近接場散乱光を観察でき
るようになる。なお、この前提として電極14bの上方
に照明がないことが必要となり、そのような状況下で観
測を行う。ただし、観察面11aに対して微粒子を付着
せしめるのは電極14bに窓を形成しなくても可能であ
り、窓を形成しないようにして光学系15の側から観察
面11aに対面したときに暗視野状態を確保できるよう
にしても良い。
【0038】この状態でCPUは図3に示すフローチャ
ートに従って微粒子カウント処理を実行する。ステップ
100では初期化を実行し、例えばカウンタ変数や度数
分布の変数をクリアする。計測は一定時間の間、以下の
ステップ102〜ステップ114の処理をループ処理で
繰り返して行われる。最新の撮影画像を入力する前にス
テップ102とステップ104にて旧画像を保存し、ス
テップ106では波長λ1の光センサ16aから撮像画
像を入力し、ステップ108では波長λ2の光センサ1
6bから撮像画像を入力する。従って、波長λ1と波長
λ2についてそれぞれ最新の画像と1ループ前の画像と
がワークエリア上に保存される。ステップ110では計
測時間の経過を判断し、ステップ112でそれぞれの波
長毎に新画像と旧画像とで変化が生じていないか判断す
る。
【0039】旧画像と新画像との撮影の間に観察面11
a上に微粒子が到来すると、観察面11a上にて近接場
散乱光が発光するので両画像に変化が見られる。従っ
て、変化が生じていればステップ114にて変化部位を
特定し、ステップ116にて微粒子のカウント数を一つ
増やす。なお、このときに変化部位が複数あれば複数の
カウントアップを行うようにしても良い。微粒子のカウ
ントだけであれば以上の処理でよいが、本実施形態にお
いてはサイズ分布も検知するため、以下の処理を行う。
【0040】処理の内容について説明する前に図4
(a)について説明する。同図は波長ごとに近接場散乱
光の強度を示しており、横軸に強度を示し、縦軸に観察
面11aからの距離を示している。高さと強度との関係
では観察面11aにて最も強度が強く、離れるに従って
指数関数的に弱くなる。また、波長が変化しても観察面
11aでは同じ強度であり、波長が変化すると減衰の度
合いが変化する。この光量の絶対強度は各種の環境要因
に変化する。従って、高さに対応して光量が一律の値と
なるようにキャリブレーションするのはコスト的に極め
て困難である。
【0041】本発明においては、複数の単一波長の照明
光を利用し、キャリブレーションを要することなく高さ
を求められるようにしている。すなわち、それぞれの照
明光に基づく光量比を演算し、この光量比に基づいて高
さを得る。このようにすると概略的にはそれぞれの絶対
光量が変化する場合であっても相対比はそれほど大きく
変化するわけではないし、減衰係数が異なる両者の相対
比は高さとの対応関係でも一律になるからである。むろ
ん、正確な演算を利用してリニアな関係を得るようにす
ることも可能である。図4(b)はこの相対比の変化度
合いを示しており、高さに対して一律でほぼリニアな関
係を得られる。
【0042】ステップ114にて特定された変化部位で
のそれぞれの光量をP(λ1)、P(λ2)とすると、
ステップ118ではその相対比(P(λ2)/P(λ
1))を演算する。この相対比は微粒子の高さおよび大
きさに相当するため、ステップ120では同相対比の度
数分布を求める。すなわち、相対比(P(λ2)/P
(λ1))がとりうるある一定の範囲で変化幅を小刻み
に区分し、各変化幅内で該当するものの度数を一つ繰り
上げる。これは微粒子が到来するごとに行われるので、
ステップ110にて一定時間が経過して終了したと判断
されるときには全微粒子についてのサイズの度数分布が
求められることになる。
【0043】そして、この後ステップ22ではカウント
した全微粒子の数と共に、サイズの度数分布を表示器1
9上に表示する。図5はその表示例を示しており、横軸
をサイズとして縦軸を個数としたヒストグラムを表示し
つつ、右上の余白部分に全微粒子の個数と計測時間を表
示している。むろん、この表示は一例に過ぎず、LED
表示で個数を表示しつつ、時分割でサイズの区分毎に個
数表示するというようなことも可能である。
【0044】一方、上述したカウンタ本体17はコンピ
ュータを利用したソフトウェア処理で微粒子カウント処
理を実現しているが、ハードウェア的に実現することも
可能である。図6はハードウェア的に実現する場合のブ
ロック図を示している。波長λ1については光センサ2
1aで受光され、その出力を積分回路22a,23aに
て積分する。ここで一方の積分回路23aについては遅
延回路24aを介在させてあり、積分回路22a,23
aの出力には時間差が生じているので、積分回路22a
の出力から積分回路23aの出力を減ずる減算回路25
aの出力は、結局のところ光センサ21aにおける各時
間ごとの変化量となる。
【0045】より具体的には新たに微粒子が到来したと
きに光センサ21aでの受光光量は増加するが、この増
加幅が減算回路25aの出力として表れる。一方、受光
光量が変化したときには微分回路26でトリガが出力さ
れ、このトリガでカウンタ27が一つだけカウントアッ
プする。むろん、このカウンタ27の出力が微粒子の到
来数となる。一方、波長λ2についてもほぼ同様の回路
構成で光センサ21bと積分回路22b,23bと遅延
回路24bと減算回路25bとが備えられている。従っ
て、減算回路25aの出力と減算回路25bの出力とを
除算回路28に入力しておいて、微分回路26のトリガ
で同除算回路28に除算させることにより、上述した相
対比が求められる。そして、この相対比を度数分布回路
29に入力して度数分布を求めることができる。
【0046】この例では度数分布まで求める回路構成と
しているが、全微粒子数を求めるだけであれば光センサ
21aと積分回路22aと微分回路26とカウンタ27
だけでも実現できる。むろん、このような回路構成も一
例に過ぎず、適宜変形可能なことはいうまでもない。こ
のように、略台形としたプリズム11の入射面11bか
ら同プリズム11における観察面11aにて全反射する
照明光を発光器13a,13bにて照射すると、同観察
面11aには近接場が形成されて微粒子が到来すると近
接場散乱光で照明されることになり、同観察面11aに
対面する光学系15を介して光センサ16a,16bが
光量変化を検知すると、同光量変化に基づいて微粒子の
個体数をカウントできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態にかかる微粒子カウンタの
概略図である。
【図2】カウンタ本体の概略ブロック図である。
【図3】カウンタ本体の微粒子カウント処理のフローチ
ャートである。
【図4】近接場散乱光の光量変化を示すグラフである。
【図5】計測結果の表示例を示す図である。
【図6】ハードウェア回路による実現例を示すブロック
図である。
【符号の説明】
11…プリズム 11a…観察面 11b…入射面 11c…出射面 12…プリズム 13a,13b…発光器 14a…透明電極 14b…電極 14c…電源 14d…イオン針 14e…イオン化回路 15…光学系 15a…レンズ 15b…ハーフミラー 15c1,15c2…フィルタ 16a,16b…光センサ 17…カウンタ本体 17a…CPU 17b…ROM 17c…RAM 17d…インターフェイス 18…操作パネル 19…表示器 21a,21b…光センサ 22a,22b…積分回路 23a,23b…積分回路 24a,24b…遅延回路 25a,25b…減算回路 26…微分回路 27…トリガでカウンタ 28…除算回路 29…度数分布回路
【手続補正書】
【提出日】平成12年3月27日(2000.3.2
7)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】上記のように構成した請求項8にかかる発
明においては、観察面での光量変化を見ており、光量変
化があればカウントするので自動化が容易となる。観察
面での発光スポットを検出してどこに微粒子が付着した
かを判断するのではなく、単純に光量の変化だけを見る
構成は、極めてシンプルである。むろん、具体的な計測
手法は適宜変更可能であり、計測開始前の観察場面での
発光状態と計測終了時の観察場面での発光状態とを比較
したり、所定間隔毎に近接場の発光状態を比較し、発光
状態の変化を検出することが可能となる。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平板状の観察面を有する光透過媒体に所
    定の角度で照明光を入射して上記観察面で全反射させる
    近接場照明手段と、 上記観察面における近接場散乱光を集光可能な光学系
    と、 同光学系を介して上記近接場散乱光を受光し、同近接場
    散乱光の光量変化に基づいて上記観察面における微粒子
    の個体数をカウントする光カウント手段とを具備するこ
    とを特徴とする微粒子カウンタ。
  2. 【請求項2】 上記請求項1に記載の微粒子カウンタに
    おいて、上記近接場照明手段は、台形のプリズムを有
    し、平行面の一面を上記観察面としたことを特徴とする
    微粒子カウンタ。
  3. 【請求項3】 上記請求項2に記載の微粒子カウンタに
    おいて、上記光学系は、上記台形のプリズムを透過して
    上記観察面に対面するように配置したことを特徴とする
    微粒子カウンタ。
  4. 【請求項4】 上記請求項1〜請求項3のいずれかに記
    載の微粒子カウンタにおいて、上記近接場照明手段は、
    電場を形成して上記観察面に微粒子を付着させる電場吸
    着手段を有することを特徴とする微粒子カウンタ。
  5. 【請求項5】 上記請求項4に記載の微粒子カウンタに
    おいて、上記電場吸着手段は、上記観察面を挟んで対峙
    する一対の電極を有することを特徴とする微粒子カウン
    タ。
  6. 【請求項6】 上記請求項5に記載の微粒子カウンタに
    おいて、上記電極の一方は、透明電極で構成されて、上
    記プリズムにおける上記観察面と反対の側に配置される
    ことを特徴とする微粒子カウンタ。
  7. 【請求項7】 上記請求項1〜請求項6のいずれかに記
    載の微粒子カウンタにおいて、上記電場吸着手段は、微
    粒子を帯電させるイオン化手段を有することを特徴とす
    る微粒子カウンタ。
  8. 【請求項8】 上記請求項1〜請求項7のいずれかに記
    載の微粒子カウンタにおいて、上記光カウント手段は、
    上記近接場散乱光の光量変化をトリガとして微粒子をカ
    ウントすることを特徴とする微粒子カウンタ。
  9. 【請求項9】 上記請求項1〜請求項8のいずれかに記
    載の微粒子カウンタにおいて、上記近接場照明手段は、
    それぞれ単一の波長の照明光を照射する複数の単一波長
    照明手段を有し、上記光カウント手段は、それぞれの単
    一波長の近接場散乱光に分離して上記微粒子のカウント
    を実行することを特徴とする微粒子カウンタ。
  10. 【請求項10】 上記請求項9に記載の微粒子カウンタ
    において、上記光カウント手段は、分離した単一波長の
    近接場散乱光の光量比に基づいて微粒子のサイズ分布を
    検知することを特徴とする微粒子カウンタ。
  11. 【請求項11】 略台形のプリズムと、同プリズムにお
    ける傾斜面から入光して同プリズムにおける平行面の一
    方の観察面にて全反射する照明光を照射する発光器と、
    上記観察面と反対の側の平行面に配置した透明電極と、
    上記観察面の側に所定距離を隔てて配置した非透明電極
    と、上記透明電極と上記非透明電極との間に電圧を印加
    して電場を形成する印加電源と、上記透明電極の側から
    上記観察面の近接場散乱光を集光する光学系と、同光学
    系を介して受光した同近接場散乱光の光量変化に基づい
    て上記観察面における微粒子の個体数をカウントする光
    カウント手段とを具備することを特徴とする微粒子カウ
    ンタ。
  12. 【請求項12】 平板状の観察面を有する光透過媒体に
    所定の角度で照明光を入射して上記観察面で全反射させ
    る近接場照明を行なうとともに、上記観察面における近
    接場散乱光を集光して受光し、同近接場散乱光の変化量
    に基づいて上記観察面における微粒子の個体数をカウン
    トすることを特徴とする微粒子カウント方法。
  13. 【請求項13】 平板状の観察面を有する光透過媒体に
    所定の角度で照明光を入射して上記観察面で全反射させ
    る近接場照明を行なうとともに、上記観察面における近
    接場散乱光を集光して受光し、同近接場散乱光の変化量
    に基づいてコンピュータにて上記観察面における微粒子
    の個体数をカウントする微粒子カウントプログラムを記
    録した媒体であって、それぞれ単一の波長の複数の照明
    光を上記観察面に照射するとともに、上記観察面からの
    近接場散乱光を単一波長光に分離し、同分離した近接場
    散乱光の強度分布に基づいて微粒子のサイズ分布を検知
    する機能をコンピュータに実行させることを特徴とする
    微粒子カウントプログラムを記録した媒体。
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