JP2001264062A - 外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置 - Google Patents

外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置

Info

Publication number
JP2001264062A
JP2001264062A JP2000306207A JP2000306207A JP2001264062A JP 2001264062 A JP2001264062 A JP 2001264062A JP 2000306207 A JP2000306207 A JP 2000306207A JP 2000306207 A JP2000306207 A JP 2000306207A JP 2001264062 A JP2001264062 A JP 2001264062A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
target
calibration
reference frame
calibration system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000306207A
Other languages
English (en)
Inventor
Dale R Greer
アール グリーア デール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Perceptron Inc
Original Assignee
Perceptron Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Perceptron Inc filed Critical Perceptron Inc
Publication of JP2001264062A publication Critical patent/JP2001264062A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Automobile Manufacture Line, Endless Track Vehicle, Trailer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】効率的で、容易に遂行できかつ高価なマスター
部品に頼る必要のないセンサ較正システムを提供するこ
とにある。 【解決手段】製造現場のゲージングステーション(20
0)に関連する外部基準フレームに対してセンサ(24
0)を較正する較正システムを提供する。ターゲット較
正デバイス(600)が都合の良い位置に配置され、外
部基準フレームに対するターゲット較正デバイスの基準
フレームの検出および較正を行う。少なくとも3つの非
共面反射面を備えた基準ターゲット(400、401、
403)が、センサ(240)から出る構造光により照
射される。これにより、較正システムは、センサ(24
0)に対する基準ターゲット(400、401、40
3)の空間位置および方向を決定できる。本発明の較正
システムは更に、ターゲット較正デバイス(600)お
よび特徴センサ(240)から測定データを座標化する
座標変換システム(250)を有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、広くは非接触ゲー
ジングシステムに関し、より詳しくは、非接触ゲージン
グシステムの較正(キャリブレーション)を行う装置シ
ステムおよび方法に関する。
【0002】
【従来の技術】高品質に対する要望は、自動車等の大量
生産製品の製造業者が、組立てラインによる製造が最初
に考えられたときには聞かれなかった自動化された製造
技術を採用するように強いてきた。今日では、従来可能
であったよりも非常に高度の品質および精度で、製品を
組み立て、溶接し、仕上げ、測定しかつ試験するのにロ
ボットが使用されている。コンピュータ支援製造(CA
M)技術は、設計者がコンピュータワークステーション
で新製品をグラフィック的に概念化しかつ設計すること
を可能にし、かつ自動化された製造方法は、設計が仕様
に従って中実にかつ正確に行われることを確実にする。
マシンビジョンは今日の製造環境の重要な部分である。
マシンビジョンシステムは、ロボットシステムおよびコ
ンピュータ支援設計(CAD)システムに使用され、最
低実用コストで高品質が達成されることを確実にしてい
る。
【0003】高品質に製造される部品を得るには、高精
度で厳格に較正されたマシンビジョンセンサを必要とす
る。センサは、製品の対象特徴を識別できる適当な解像
度をもたなければならないだけでなく、対象特徴がワー
クの他の特徴に関連するように既知の基準フレームに正
確に較正されなくてはならない。正確な較正が行われな
いと、最も高感度で高解像度のセンサでも高品質の結果
を得ることはできない。
【0004】一般的な製造環境では、光センサのような
複数の異なる非接触センサが、ワーク、製造ステーショ
ン、ゲージングステーションまたは試験ステーション内
の所定位置に配置される。ワークは、ステーション内の
所定の固定位置に置かれて、ワークの種々の所定の特徴
がセンサにより試験される。好ましくは、全てのセンサ
は、ワークまたはワークステーションでの共通基準フレ
ームのような何らかの固定の共通基準フレームに対して
入念に較正される。
【0005】センサを適正に位置決めされかつ較正され
た状態に維持することに幾つかの挑戦がなされてきた。
一般的な製造環境では、センサおよび該センサに関連す
る取付け構造が何かに当たったり振動することによって
センサの整合がずれることがある。また、センサはとき
どき交換する必要があり、ほぼ確実に方向変更および再
較正を必要とする。非常に簡単なことであるが、センサ
の位置決め、整合および較正は、一般的な製造プラント
での入念な注意を必要とする。
【0006】センサの適正な位置決め、整合および較正
には、多大な時間的および労力的条件を必要とする。所
与の部品または組立体については、全製造組立てライン
を停止させかつワークステーションを空にする必要があ
り、このため、センサが位置決めされ、整合されかつ再
較正される。或る場合には、これは、必然的に部品また
は組立体の高精度で非常に高価なフルスケールモデルを
ワークステーションに配置することを必要とする。この
独立して測定される部品は、ときどきマスター部品と呼
ばれている。マスター部品は、ワークステーションの外
部座標系と入念に整合した状態に置かれ、次に、各セン
サがその割当てられた特徴(例えば孔または縁部)に照
準が合わされる。ひとたび位置決めされたならば、セン
サが当該位置にロックされかつ較正され、かつマスター
部品が除去される。これにより初めて、組立てラインが
オンライン状態に戻される。
【0007】マスター部品を使用すること以外に、ター
ゲットをセンサに取り付け、かつセンサにより作られる
構造光(structured light)の平面を用いてターゲット
を照射することにより、ゲージングセンサを較正するこ
とができる。セオドライトのような1対の光学照準装置
が、作業領域内の見通しのきく異なる位置に配置され
る。セオドライトは、照射されたターゲットに三角測量
を行って、ターゲットの位置の独立した読取りを行う。
セオドライトは、外部基準フレームに対して入念に定め
られた位置に置かれる。構造光をターゲットに投影する
ゲージングセンサを使用して、セオドライトは、照射さ
れたターゲットに手作業により照準が定められかつ読取
りがなされる。セオドライトおよびゲージングセンサの
それぞれの読みは、調和されかつ変換され、外部基準フ
レームに対してセンサを較正する。これは試行錯誤的方
法である。しばしば当てはまることであるが、センサの
方向変更をすべき場合には、各センサ位置の調節をした
後に、セオドライトが手作業でターゲット上に再び照準
が定められる。この較正技術についてのこれ以上の情報
は、Dewar等の米国特許第4,841,460号を参照されたい。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記両較正技術は首尾
良く機能するけれども、より効率的で、容易に遂行でき
かつ高価なマスター部品に頼る必要のない較正技術に大
きな関心が寄せられている。このため、本発明は、数時
間ではなく数分で使用できかつ正確に製造されたマスタ
ー部品を必要としない較正システムを提供する。本発明
の主な長所の1つは、長時間ラインを停止させる必要な
くして、センサの較正をチェックしまたはラインシフト
間の再整合ができることである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の較正システム
は、製造または組立てゾーンまたはゲージングステーシ
ョンの外部基準フレームに対して固定関係に配置される
基準表示を使用する。ターゲット較正デバイスは、基準
表示がターゲット較正デバイスの視界内にあるように、
都合の良い位置(一般にはゲージングステーションの上
方)に配置される。ターゲット較正デバイスは、ゲージ
ングステーション内での可搬基準ターゲットの空間位置
および方向を決定すべく作動する。一例として、ターゲ
ット較正デバイスには写真測量システム、セオドライト
システムまたはレーザ追跡システムを設けることができ
るが、これらに限定されるものではない。
【0010】較正システムは更に、ターゲット較正デバ
イスの観察フィールド内および特徴センサ(feature se
nsor)の検出ゾーン内に配置される可搬基準ターゲット
を使用している。本発明の好ましい可搬基準ターゲット
は、特徴センサから出る構造光(structured light)に
より照射される少なくとも3つの非共面反射構造(例え
ば、直線縁部)を形成する3次元フレーム構造である。
本発明の一部として、特徴センサは構造光三角測量セン
サを有しているが、これに限定されるものではない。非
共面反射構造は、特徴センサに、可搬基準ターゲットの
位置および方向を測定する空間データを供給するが、本
発明は、ターゲットが可視ドットパターンまたは感光撮
像配列デバイス(例えばCCD)を支持できるようにす
ることにより、測定データの精度を改善する。この態様
で、可搬基準ターゲットは、その空間位置および方向を
測定するための明確な空間データを与える。
【0011】較正システムは更に、ターゲット較正デバ
イスおよび特徴センサからの測定データを座標化する座
標変換システムを有している。より詳しくは、較正シス
テムは、ターゲット較正デバイスおよび特徴センサから
データを収集できる。変換システムは、ターゲット較正
デバイスの基準フレームと外部基準フレームとの間に第
1関係を確立する。変換システムはまた、ターゲット較
正デバイスの基準フレームと特徴センサの基準フレーム
との間に第2関係を確立する。最後に変換システムは、
特徴センサの基準フレームと外部基準フレームとの間に
第3関係を決定し、これにより特徴センサが外部基準フ
レームに対して較正される。
【0012】本発明のシステムおよび技術は、特徴セン
サの較正を簡単化できる。ターゲット較正デバイスは、
基準表示を介して、外部基準フレームに対し最初に較正
される。次に、可搬基準ターゲットが、ターゲット較正
デバイスおよび特徴センサの視界内に配置される。可搬
基準ターゲットは、ターゲット較正デバイスの基準フレ
ームに対して較正される。次に、特徴センサからの構造
光を可搬基準ターゲット上に投影することにより、特徴
センサが較正される。構造光はターゲットと交差して、
ターゲットの縁部に反射光パターンを形成し、該反射光
パターンは、次に特徴センサにより読み取られる。座標
変換システムは、同時に、構造光がドットパターンまた
はターゲットに関連する感光撮像配列デバイスに当たる
場所に関する測定データを受ける。次に、座標変換シス
テムは、適当な座標変換を行って、特徴センサのデータ
を外部基準フレームに戻してマッピングする。全較正シ
ーケンスが、非常に迅速に遂行される。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明、その目的および長所をよ
り完全に理解できるようにするため、添付図面を参照し
て本発明の実施形態を以下に説明する。
【0014】図1には、自動車の他の部品を組み付ける
前に、或るキーポイントのゲージングを必要とする一般
的な自動車のボディが示されている。図1のワーク10
0上のこのような種々の対象点が、点110−1〜11
0−nとして示されている。車両ボディの左側100L
および右側100Rは、便宜上「展開」図で示されてい
る。点の一般的な使用または点が選択される態様は、例
えば、ワーク100に対して行なわれる以後の組立て方
法により定められる。例えば、車両の前方のフードキャ
ビティ上には、未だフードが組み付けられていないと仮
定する。この場合には、点110−6、110―7、1
10−8および110−9等のフードキャビティの周囲
の測定は、車両ボディへのフードリッドの以後の組付け
が、組み付けるべき部品間の許容嵌合いで遂行できるか
否かを決定すべく行われる。
【0015】本件出願人の所有に係るDewar等の米国特
許第4,645,348号に開示された光学的構成のような多く
のセンサ構成が知られているが、これらのセンサ構成
は、任意の所望の外部基準フレームに関し、大形のワー
クについて全ての所望対象点でのセンサ読みを較正する
ことは時間を要する作業であった。本発明は、高速較正
に対する要望に対処するものである。
【0016】図1に示したような自動車部品用の一般的
なゲージングステーションは、図2に示す形態にするこ
とができる。ゲージングステーション200で測定すべ
きワークは搬送パレット220上に載置され、該搬送パ
レット220は、このガイドチャンネル231を通るパ
レットガイド230を介して組立てラインに沿って移動
される。ゲージングステーション200では、センサ取
付けフレーム210(図2にはその1/2のみが示され
ている)が、測定すべきワーク100を包囲しておりか
つ一連の光学ゲージングセンサすなわち非接触特徴セン
サ240−1〜240−n(各センサは、例えば米国特
許第4,645,348号の開示に従って設計されている)のた
めの複数の取付け位置を提供している。センサ240
は、通信ケーブル(明瞭化のため、図2には特に示さな
い)によりマシンビジョンコンピュータ250に接続さ
れており、該マシンビジョンコンピュータ250はCR
Tすなわち陰極線管ディスプレイ251を有している。
一般的なマシンビジョンコンピュータにおけるようにプ
リンタ260を設けることは任意である。本発明の装置
および方法は、例えば測定すべきワーク100に関連す
る所定の外部座標系すなわち基準フレームに対して、ま
たはゲージングステーション自体に関連する外部基準フ
レームに対して各非接触センサ240の較正を行うのに
使用される。
【0017】図3には、本発明の較正システムと組み合
わされるゲージングステーション200が示されてい
る。図面の簡明化のため、特徴センサ240は1つだけ
が示されている。本発明の一部を構成するものとして、
特徴センサ240は構造光三角測量センサ(structured
light triangulation sensor)を含むが、これに限定
されるものではない。特徴センサ240は参照番号27
0で示す箇所でゲージングステーションフレームに対し
て調節可能に固定され、従って、特徴センサ240の位
置を調節し、次に、ひとたび特徴センサ240が、ワー
クの対象特徴が位置する空間(x、y、z)内の点に適
正に照準が定められかつ正しい姿勢(ピッチ、ヨーおよ
びロール)に適正に配向されたならば、特徴センサ24
0を所定位置に緊締しかつロックすることができる。非
接触特徴センサ240は、検出ゾーンと、関連するセン
サ基準フレームおよび座標系とを有している。
【0018】本発明の較正システムはまた、可搬基準タ
ーゲット400を有している。可搬基準ターゲット40
0は、較正作業のためにターゲット400を特徴センサ
240の前方に配置することを可能にする任意の適当な
固定具上に取り付けることができる。この例では、可搬
基準ターゲット400は、片持ちアーム404を備えた
簡単な三脚スタンド402に取り付けられた状態が示さ
れている。本発明の範囲内で他の支持構造を考えること
ができる。可搬基準ターゲット400は、特徴センサ2
40から出る構造光により照射される少なくとも3つの
非共面反射部材406を形成する3次元フレーム構造と
して構成される。非共面反射部材406は、特徴センサ
240に、可搬基準ターゲット400の位置および方向
を測定するための空間データを供給するが、測定データ
の精度は、可搬基準ターゲット400が感光撮像配列デ
バイスすなわち受動ドットを支持できるようにすること
により改善される。
【0019】図4に示すように、可搬基準ターゲット4
00の1つの形式は、平らなベース408に連結された
少なくとも3つの直立角部材406からなる。各部材4
06の外側角縁部は、特徴センサ240からの構造光平
面のための反射面として機能する。感光電荷結合デバイ
ス(CCD)または他の感光撮像配列デバイスが、各部
材406の外側角縁部405に沿って整合されている。
この態様では、CCDは、非接触センサ240からの構
造光が可搬基準ターゲット400の各角部材406に衝
突する位置に関する位置データを供給する。CCDは、
1×N(リニア)デバイス(ここで、Nは適当な解像度
(例えば4096ピクセル)を得るように選択される)
を考えることができる。このような論議から、当業者な
らば、少なくとも3つの非共面反射面を形成する他の幾
何学的形状を可搬基準ターゲットとして使用することを
容易に考えることができよう。
【0020】再び図3に戻って説明すると、較正システ
ムは更に、ゲージングステーション200内でワークが
占拠する空間の上方のような都合の良い便利な位置に配
置されるターゲット較正デバイス600を有している。
或いは、ターゲット較正デバイス600は、ゲージング
ステーションから吊り下げることにより固定位置に一時
的に配置するか、可動スタンドに取り付けることにより
製造設備の全体に亘ってあちこちに移動できるように配
置することができる。
【0021】本発明の一態様によれば、写真測量システ
ム600をターゲット較正デバイスとして使用すること
ができる。写真測量システムは、写真測量ターゲットと
して光のドットすなわち点を使用する良く知られた原理
で作動する。一般に、3次元座標フレーム内で写真測量
ターゲットを測定するのに、1対として較正される少な
くとも2つのカメラ604、605が使用される。写真
測量システム600は、可搬基準ターゲット400に取
り付けられる既知の座標を用いて、少なくとも3つの非
共線点からなるXYZ座標を測定でき、かくして、特徴
センサ240と写真測量システム600との間に全6自
由度リンクを創出する。商業的に入手可能な幾つかの写
真測量システムは、センサのリアルタイム位置フィード
バックを行うのに充分な速度の応答時間が得られること
に留意すべきである。写真測量カメラの一例として、Qu
alisys AB of Savedalen社(スウェーデン)の製造に係
るProReflex Motion Capture SystemまたはMetronor AS
A of Nesbru社(ノルウェー)の製造に係るMetronor Sy
stemがある。
【0022】2つの写真測量カメラ604、605は、
ゲージングステーション200においてワークにより占
拠される空間の上方および/または該空間に隣接する都
合の良い便利な位置に配置される。複数の非共線写真測
量ターゲット(特に図示されてはいない)も可搬基準タ
ーゲット400のベースに組み込まれる。本発明の好ま
しい実施形態では、発光ダイオード(LED)が写真測
量ターゲットとして機能する。簡単なスイッチ形LED
デバイスは実施が容易で、従って本発明に好ましいもの
であるが、他の形式の能動または受動写真測量ターゲッ
ト(例えばドット、孔または再帰反射器)を本発明に使
用することもできる。また、可搬基準ターゲットの直立
部材上で整合する一連のドット(後述)は、写真測量タ
ーゲットとしても機能する。可搬基準ターゲット400
が写真測量カメラ604、605の視界内にある限り、
写真測量カメラは可搬基準ターゲット400の位置を正
確に決定する。より詳しくは、3つ以上の非共線写真測
量ターゲットの測定により、可搬基準ターゲットターゲ
ット400の6自由度の位置および方向が得られるであ
ろう。
【0023】本発明の原理を図示するため、特徴センサ
240は静止ゲージングステーション200と関連する
基準の外部フレームに対して較正すべきであると仮定す
る。この点に関し、外部基準フレームRが図3に図式
的に示されている。複数の非共線基準表示280a、2
80b、280cが、ゲージングステーション200の
構造に組み込まれる。
【0024】図6に示すように、可搬基準ターゲット4
01の好ましい第2実施形態は、各感光撮像配列デバイ
スの代わりに一連のドット414を使用している。可搬
基準ターゲット403は、一般に、少なくとも3つの非
共面反射面を形成する3次元フレーム構造である。より
詳しくは、このフレーム構造は、平らなベース412に
連結された少なくとも3つの直立部材410からなる。
一連の可視ドット414は、各直立部材410の表面に
沿って垂直方向に整合している。可視ドット414は、
能動手段(例えば、発光ダイオード)または受動手段
(ドット、孔または再帰反射器)で形成できる。
【0025】図6には、可搬基準ターゲット403の好
ましい第3実施形態が示されている。この実施形態で
も、可搬基準ターゲット本体403は、各感光撮像配列
デバイスの代わりに一連の可視ドット414を使用して
いる。可搬基準ターゲット403も、少なくとも3つの
非共面反射面を形成する3次元フレーム構造である。こ
の場合には、フレーム構造は、中実T形本体411に形
成された少なくとも3つの直立面410を有している。
一連の可視ドット414は、各直立面410に沿って垂
直方向に整合されている。可視ドット414は、白地に
黒の受動ドットが好ましい。しかしながら、可視ドット
414は、孔または再帰反射器を含む他の形式の受動形
状にすることもできる。ターゲット較正デバイスがレー
ザ追跡器である限り、再帰反射器802はT形本体の頂
面に取り付けることができる。しかしながら、再帰反射
器802は可搬基準ターゲット401の他の位置に取り
付けることもできる。
【0026】作動に際し、可搬基準ターゲット401、
403は、非接触特徴センサ240から出る構造光によ
り照射される。受動可視ドットまたは孔の場合には、補
助光を用いてレーザラインの上下の可視ドット414ま
たは孔を照射することができる。特徴センサ240を作
動させる較正システムは、可搬基準ターゲット401、
403の可視ドット414の空間位置に基いて特徴セン
サ240を較正できる。センサから出る構造光は、直立
部材410上の2つのドット414の間の領域に当た
る。1つの形式の非接触特徴センサ240は構造光平面
内の測定のみを遂行するように設計されており、従って
この場合には補正が必要となる。ドット414がセンサ
240の測定平面内になくても、ドットは図7に示す平
面内に現れる。この場合には、3次元空間内に簡単な幾
何学的投影が行われて可視ドット414の物理的位置を
決定し、従って、特徴センサ240に対する可搬基準タ
ーゲット401、403の位置を決定する。
【0027】図8を参照して、本発明の較正技術を説明
する。先ず、ターゲット較正デバイス600が外部基準
フレームに対して較正され、これにより、外部基準フレ
ーム内のターゲット較正デバイスの正確な位置を知るこ
とができる。次に、この位置がメモリに記憶される。こ
の段階で、ターゲット較正デバイスに接続される座標変
換システムを使用できる。座標変換システムは、図2の
マシンビジョンコンピュータ250の一部を形成するプ
ロセッサが好ましい。段階701では、可搬基準ターゲ
ット400がターゲット較正デバイスの較正フィールド
内に置かれる。次に、ターゲット較正デバイス600
が、可搬基準ターゲット401とターゲット較正デバイ
ス600の基準フレームとの間の関係を確立する。
【0028】次に段階702において、特徴センサ24
0は、構造光を可搬基準ターゲット400上に投影しか
つ該可搬基準ターゲット400からの反射光データを収
集する。前述のように、直立面の位置が確認され、該直
立面の位置は、非接触特徴センサ240の基準フレーム
内に可搬基準ターゲット400の空間位置を描くのに使
用される。可搬基準ターゲット400の方向を決定する
ため、本発明の較正システムは、非接触特徴センサ24
0およびターゲット較正デバイス600からデータを同
時に収集する。基準ターゲットの第1実施形態の場合に
は、較正システムは基準ターゲットの撮像配列デバイス
からデータを収集する。段階703では、測定データが
組み合わされて、外部基準フレームに対して非接触セン
サ240を位置決めしかつ較正する。ひとたびこのデー
タが収集されたならば、特徴センサ240は、固定され
た基準フレームRに対して部分的に較正される。外部
基準フレームおよび座標系に対して非接触特徴センサ2
40の完全な位置および方向を決定するには、センサの
視界内の好ましくは4つの異なる位置でこの測定を反復
させる必要がある。非接触特徴センサ240の完全な位
置および方向を決定する上記段階は、座標変換システム
を実行するプロセッサにより遂行できる。
【0029】上記例では、第1にターゲット較正デバイ
ス600が較正され、第2に可搬基準ターゲット401
の位置が較正され、かつ第3に非接触特徴センサ240
が較正された。これらの作業は、異なる順序で遂行して
も同じ最終結果を達成できると考えられる。
【0030】本発明の較正システムには、写真測量シス
テムに加えて他の較正デバイスを組み合わせて使用する
こともできる。別の実施形態では、サーボ駆動形レーザ
追跡器が、ターゲット較正デバイスとして機能する。図
9に示すように、サーボ駆動形レーザ追跡器800は、
ワークが占拠する空間より上方の位置のように、ゲージ
ングステーションでの都合の良い便利な位置に配置でき
る。或いは、レーザ追跡器は、これをゲージングステー
ションから吊り下げるか、可動スタンドに取り付けるこ
とにより、ゲージングステーション内の位置に一時的に
配置できる。
【0031】サーボ駆動形レーザ追跡器800は、出て
いくレーザビームを放射しかつ入ってくるレーザビーム
を検出する。レーザ追跡器800は、再帰反射器802
により反射されたときに、レーザ追跡器800を、入っ
てくるビームの方向に指向させる閉ループコントローラ
を備えたサーボ駆動機構を有している。レーザ追跡器が
再帰反射器の45〜60°の視界内にある限り、レーザ
追跡器800は再帰反射器802の位置に正確に従動す
なわち再帰反射器の位置を追跡する。本発明では、再帰
反射器は、基準ターゲット403の頂面に取り付けるの
が好ましい。かくして、再帰反射器がゲージングステー
ション内で動き回るときでも、レーザ追跡システムは、
いつでも再帰反射器の中心を正確に追跡できる。
【0032】作動に際し、サーボシステムおよびレーザ
追跡器の閉ループコントローラは、再帰反射器の中心を
通る視線を表す信号を出力し、また適当な干渉計を使用
して再帰反射器の中心とレーザ追跡器との間の距離を正
確に確認できる。しかしながら、レーザ追跡器は、外部
基準フレームに対して部分的にリンクするに過ぎない。
レーザ追跡器は、再帰反射器のX、Y、Z位置を発生す
る。6自由度(X、Y、Z並びにロール、ピッチ、ヨ
ー)の全てを得るため、基準ターゲットは、データ獲得
の間に3つ以上の位置に移動される。好ましくは、4つ
以上の非共線位置にある点が使用される。ひとたびこれ
が行われると、データは、6自由度位置および基準ター
ゲットの方向に関する三角測量を行うのに使用できる。
【0033】他の好ましい実施形態では、セオドライト
システム900はターゲット較正デバイスとして機能す
る。セオドライトシステム900は、トランシットの原
理と同様にして水平方向および垂直方向の角度を測定す
る、商業的に入手可能な測量機器システムである。セオ
ドライトの基本的な数学的作動原理は三角測量に基いて
おり、このため、セオドライトは、選択されたターゲッ
トに対する水平方向および垂直方向の両角度を測定でき
る。本発明に使用できるセオドライトシステムの一例と
して、Axyzソフトウェアを実行するPCによりサポート
される、Leica社から市販されているT105 Theodoliteヘ
ッドがある。
【0034】図10に示すように、少なくとも2つのセ
オドライトデバイス902、904は、ゲージングステ
ーション200においてワークが占拠する空間内の都合
の良い便利な位置に配置される。特に図示しないが、非
共線上の観察可能な複数のセオドライトターゲットは、
可搬基準ターゲット401のベースに組み込まれる。観
察可能なこれらのセオドライトターゲットとして、けが
きマーク、貼着ドット、機械的に形成された孔または他
の良く知られた形式の観察可能なセオドライトターゲッ
トがある。この場合も、基準ターゲット401がセオド
ライトデバイス902、904の視界内にある限り、基
準ターゲット401の位置の正確な決定がセオドライト
システム900により与えられる。可搬基準ターゲット
401の6自由度の位置および方向を決定するには、2
つのセオドライトデバイス902、904の使用によ
り、観察可能な少なくとも3つ以上の非共線セオドライ
トターゲット測定を行わなくてはならない。さもなく
ば、本発明の較正システムは、これらの他の実施形態に
よるターゲット較正デバイスについて前述した実施形態
に従って作動する。
【0035】上記ターゲット較正デバイスは本発明の好
ましい形態であるが、これは本発明のより広い態様の制
限を意図するものではない。一方、ターゲット較正デバ
イスとして商業的に入手可能な可搬測定アームを使用す
ることもできる。この場合には、基準ターゲットはアー
ムのエンドエフェクタに連結される。アームは6自由度
の測定工具であるので、較正システムは、測定アームに
より位置決めされるときにセンサの実際の位置を推測で
きる。測定アームの一例として、Romer of carlsbad社
(カリフォルニア州)の製造に係るものがある。
【0036】以上、本発明の好ましい実施形態について
説明したが、本発明は特許請求の範囲に記載の本発明の
精神から逸脱することなく変更できることを理解すべき
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】自動車のボディの平面図と側面図とを同時に示
す図面であり、ゲージングステーションで複数の非接触
特徴センサの視界内に置かれる一般的な対象点を示すも
のである。
【図2】本発明の原理に従って較正される複数の非接触
特徴センサを備えた自動車組立てラインでの一般的なゲ
ージングステーションを示す斜視図である。
【図3】本発明の教示に従う較正システムを示す側面図
である。
【図4】撮像配列CCDデバイスを用いた本発明の一実
施形態による可搬基準ターゲット本体を示す斜視図であ
る。
【図5】本発明による可搬基準ターゲット本体の第2実
施形態を示す斜視図である。
【図6】本発明による可搬基準ターゲット本体の第3実
施形態を示す斜視図である。
【図7】本発明による特徴センサにより基準ターゲット
上の可視ドットの位置を決定する方法を示す模式図であ
る。
【図8】本発明の較正方法を示すフローチャートであ
る。
【図9】ターゲット較正装置としてのレーザ追跡システ
ムを用いた本発明の好ましい一実施形態を示す斜視図で
ある。
【図10】ターゲット較正装置としてのセオドライトシ
ステムを用いた本発明の他の好ましい実施形態を示す斜
視図である。
【符号の説明】
100 ワーク 200 ゲージングステーション 210 センサ取付けフレーム 240 非接触特徴センサ 250 マシンビジョンコンピュータ 400、401 可搬基準ターゲット 406 非共面反射部材 414 可視ドット 600 ターゲット較正デバイス(写真測量システム) 800 サーボ駆動形レーザ追跡器 900 セオドライトシステム

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】センサ基準フレームに関連する検出ゾーン
    を備えた形式の非接触センサを、外部基準フレームに対
    して較正するセンサ較正システムにおいて、 較正デバイス基準フレームに関連する観察較正フィール
    ドを備えたターゲット較正デバイスと、 前記ターゲット較正デバイスの観察フィールド内および
    前記特徴センサの検出ゾーン内に配置される基準ターゲ
    ットとを有し、該基準ターゲットが少なくとも3つの非
    共面反射面を備えていることを特徴とするセンサ較正シ
    ステム。
  2. 【請求項2】基準ターゲットの各反射面が、撮像配列を
    支持できることを特徴とする請求項1記載のセンサ較正
    システム。
  3. 【請求項3】特徴センサは構造光を出す能動光センサで
    あり、較正撮像配列は、特徴センサからの構造光を検出
    して特徴センサに対する基準ターゲットの位置を決定す
    べく作動することを特徴とする請求項2記載のセンサ較
    正システム。
  4. 【請求項4】各反射面部材は、基準面に沿って整合され
    た一連の可視ドットを有していることを特徴とする請求
    項1記載のセンサ較正システム。
  5. 【請求項5】特徴センサは、該特徴センサが、各反射面
    上の少なくとも1つの可視ドットの位置を決定し、これ
    により特徴センサに対する基準ターゲットの位置を決定
    すべく作動するように構造光を出しかつ反射光を検出す
    る能動光センサであることを特徴とする請求項4記載の
    センサ較正システム。
  6. 【請求項6】前記外部基準フレームに対して固定関係を
    なして配置された基準表示を有し、ターゲット較正デバ
    イスは、基準表示が較正フィールド内にある都合の良い
    位置に配置でき、 前記基準表示からデータを収集しかつ較正デバイス基準
    フレームと外部基準フレームとの間に第1関係を確立す
    るターゲット較正デバイスに連結できる座標変換システ
    ムを更に有し、 該座標変換システムは更に、基準ターゲットからデータ
    を収集しかつ較正デバイス基準フレームと特徴センサ基
    準フレームとの間に第2関係を確立するために前記ター
    ゲットキャリブレーションデバイスおよび特徴センサに
    接続でき、 前記座標変換システムは、外部基準フレームと特徴セン
    サ基準フレームとの間に第3関係を決定し、これにより
    特徴センサが外部基準フレームに対して較正されること
    を特徴とする請求項1記載のセンサ較正システム。
  7. 【請求項7】前記ターゲット較正デバイスは更に、レー
    ザ追跡器として形成されることを特徴とする請求項6記
    載のセンサ較正システム。
  8. 【請求項8】前記基準ターゲットは更に、該基準ターゲ
    ットに取り付けられた再帰反射器を有していることを特
    徴とする請求項7記載のセンサ較正システム。
  9. 【請求項9】前記レーザ追跡器は、少なくともつの非共
    線位置において前記再帰反射器の中心位置を追跡し、こ
    れにより較正デバイス基準フレームと特徴センサ基準フ
    レームとの間に前記第2関係を確立することを特徴とす
    る請求項8記載のセンサ較正システム。
  10. 【請求項10】前記ターゲット較正デバイスは更に、前
    記基準表示が較正フィールド内にあるように2つ以上の
    都合の良い位置に位置決めできる少なくとも2つの写真
    測量カメラとして形成されることを特徴とする請求項6
    記載のセンサ較正システム。
  11. 【請求項11】前記ターゲットは更に複数の写真測量タ
    ーゲットを有していることを特徴とする請求項10記載
    のセンサ較正システム。
  12. 【請求項12】前記写真測量カメラは、少なくとも2つ
    の非共線位置において前記基準ターゲットの位置を測定
    し、これにより較正デバイス基準フレームと特徴センサ
    基準フレームとの間に前記第2関係を確立することを特
    徴とする請求項11記載のセンサ較正システム。
  13. 【請求項13】前記ターゲット較正デバイスは更に、前
    記基準表示が較正フィールド内にあるように2つ以上の
    都合の良い位置に位置決めできる少なくとも2つのセオ
    ドライトデバイスとして形成されることを特徴とする請
    求項6記載のセンサ較正システム。
  14. 【請求項14】前記基準ターゲットは更に複数のセオド
    ライトターゲットを有していることを特徴とする請求項
    13記載のセンサ較正システム。
  15. 【請求項15】前記セオドライトデバイスは、少なくと
    も3つの位置で基準ターゲットの位置を測定し、これに
    より較正デバイス基準フレームと特徴センサ基準フレー
    ムとの間に前記第2関係を確立することを特徴とする請
    求項14記載のセンサ較正システム。
  16. 【請求項16】ワークを測定するゲージングステーショ
    ンを更に有し、前記特徴センサはゲージングステーショ
    ンに固定的に連結されて、ワーク上の位置を決定するこ
    とを特徴とする請求項1記載のセンサ較正システム。
  17. 【請求項17】前記ワークは自動車であることを特徴と
    する請求項14記載のセンサ較正システム。
  18. 【請求項18】前記較正システムは自動車製造システム
    内で作動することを特徴とする請求項1記載のセンサ較
    正システム。
JP2000306207A 1999-10-05 2000-10-05 外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置 Pending JP2001264062A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15776999P 1999-10-05 1999-10-05
US18579600P 2000-02-29 2000-02-29
US60/157769 2000-02-29
US60/185796 2000-02-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001264062A true JP2001264062A (ja) 2001-09-26

Family

ID=26854475

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000306207A Pending JP2001264062A (ja) 1999-10-05 2000-10-05 外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1091186A3 (ja)
JP (1) JP2001264062A (ja)
CA (1) CA2322367A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004170412A (ja) * 2002-11-15 2004-06-17 Leica Geosystems Ag 測定系の較正のための方法と装置
JP2005509877A (ja) * 2001-11-23 2005-04-14 マプヴィジョン オーユー エルテーデー コンピュータ視覚システムの較正方法及びそのシステム
KR101405212B1 (ko) 2012-12-21 2014-06-27 현대자동차 주식회사 레이더 센서 켈리브레이션 타겟 장치
JP2014238716A (ja) * 2013-06-07 2014-12-18 能美防災株式会社 構造物劣化診断システム
CN114322767A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 北京交通大学 基于多线拟合的空间多点定位方法、装置、设备及介质

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030038933A1 (en) * 2001-04-19 2003-02-27 Dimensional Photonics Inc. Calibration apparatus, system and method
BE1014137A6 (nl) * 2001-04-24 2003-05-06 Krypton Electronic Eng Nv Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting.
GB0113116D0 (en) * 2001-05-31 2001-07-18 Bae Systems Plc Photogrammetry targets
US7084386B2 (en) * 2003-05-02 2006-08-01 International Business Machines Corporation System and method for light source calibration
WO2005017450A1 (en) * 2003-08-11 2005-02-24 Multi-Dimension Technology, Llc Calibration block and calibration system for 3d scanner
DE102006026265B4 (de) * 2006-06-02 2016-03-10 Benteler Automobiltechnik Gmbh Vorrichtung zur optischen Vermessung und/oder Überprüfung von Schweißbaugruppen
DE102010039246A1 (de) * 2010-08-12 2012-02-16 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Kalibrieren eines Messsystems und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens
US8520219B2 (en) * 2011-12-19 2013-08-27 Perceptron, Inc. Non-contact sensor having improved laser spot
CN103115612B (zh) * 2013-01-25 2015-11-25 爱佩仪中测(成都)精密仪器有限公司 结合激光跟踪技术的数字摄影测量系统及复合式被测目标
FR3009749A1 (fr) * 2013-08-14 2015-02-20 Telmat Ind Procede et installation pour l'acquisition automatique de surfaces tridimensionnelles
EP3040677A1 (en) * 2015-01-05 2016-07-06 BAE Systems PLC Calibration verification tool
EP3243038B8 (en) 2015-01-05 2018-12-19 BAE Systems PLC System and method for assessing a calibration of a multi-axis ultrasonic scanner
CN104697500B (zh) * 2015-02-05 2017-02-22 北京林业大学 一种基于影像法确定运动目标状态参数的方法
WO2017070928A1 (en) 2015-10-30 2017-05-04 Carestream Health, Inc. Target with features for 3-d scanner calibration
CN106370142B (zh) * 2016-11-15 2023-12-15 江苏方天电力技术有限公司 一种大量程位移传感器校准装置和校准方法
WO2019121396A1 (en) 2017-12-20 2019-06-27 Robert Bosch Gmbh Portable apparatus for vehicle sensor calibration
CN111801546B (zh) 2018-02-26 2022-04-19 罗伯特·博世有限公司 车辆传感器校准对准和方法
JP6821712B2 (ja) * 2018-06-25 2021-01-27 ベイジン ディディ インフィニティ テクノロジー アンド ディベロップメント カンパニー リミティッド 自然光景中での統合センサの較正
CN111854589A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 核工业理化工程研究院 一种接触式位移传感器阵列的快速校准装置及校准方法
JP7284118B2 (ja) * 2020-03-11 2023-05-30 本田技研工業株式会社 ターゲット設置装置
CN112549018B (zh) * 2020-11-03 2021-11-30 武汉数字化设计与制造创新中心有限公司 一种机器人线激光快速手眼标定方法
CN114166126A (zh) * 2021-12-08 2022-03-11 中航西安飞机工业集团股份有限公司 一种激光扫描设备的校准装置及校准方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4645348A (en) * 1983-09-01 1987-02-24 Perceptron, Inc. Sensor-illumination system for use in three-dimensional measurement of objects and assemblies of objects
US5446548A (en) * 1993-10-08 1995-08-29 Siemens Medical Systems, Inc. Patient positioning and monitoring system
AUPM789494A0 (en) * 1994-09-06 1994-09-29 Montech Pty Ltd Calibration frame
US5748505A (en) * 1996-02-06 1998-05-05 Perceptron, Inc. Method and apparatus for calibrating a noncontact gauging sensor with respect to an external coordinate system
US6069700A (en) * 1997-07-31 2000-05-30 The Boeing Company Portable laser digitizing system for large parts

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005509877A (ja) * 2001-11-23 2005-04-14 マプヴィジョン オーユー エルテーデー コンピュータ視覚システムの較正方法及びそのシステム
JP2004170412A (ja) * 2002-11-15 2004-06-17 Leica Geosystems Ag 測定系の較正のための方法と装置
JP4553573B2 (ja) * 2002-11-15 2010-09-29 ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト 測定系の較正のための方法と装置
KR101405212B1 (ko) 2012-12-21 2014-06-27 현대자동차 주식회사 레이더 센서 켈리브레이션 타겟 장치
JP2014238716A (ja) * 2013-06-07 2014-12-18 能美防災株式会社 構造物劣化診断システム
CN114322767A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 北京交通大学 基于多线拟合的空间多点定位方法、装置、设备及介质

Also Published As

Publication number Publication date
EP1091186A2 (en) 2001-04-11
EP1091186A3 (en) 2001-12-12
CA2322367A1 (en) 2001-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6460004B2 (en) Method and apparatus for calibrating a non-contact gauging sensor with respect to an external coordinate system
JP2001264062A (ja) 外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置
CA2382394C (en) Method and apparatus for calibrating a non-contact gauging sensor with respect to an external coordinate system
US6134507A (en) Method and apparatus for calibrating a non-contact gauging sensor with respect to an external coordinate system
JP4071440B2 (ja) 可動ゲージングシステム
US11408728B2 (en) Registration of three-dimensional coordinates measured on interior and exterior portions of an object
US5748505A (en) Method and apparatus for calibrating a noncontact gauging sensor with respect to an external coordinate system
US8346392B2 (en) Method and system for the high-precision positioning of at least one object in a final location in space
US7324217B2 (en) Device and method for measuring components
US7952728B2 (en) Robot-controlled optical measurement array, and method and auxiliary mechanism for calibrating said measurement array
US8724120B2 (en) Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US7145647B2 (en) Measurement of spatial coordinates
US20020023478A1 (en) Measurement of car bodies and other large objects
JP7475163B2 (ja) 測定装置
KR19980051309A (ko) 산업용 로봇의 수평 기준위치 결정 장치 및 그 방법
US11828596B2 (en) Optical template projection using positional reference
Brown et al. Portable metrology
GB2600548A (en) Apparatus and method for capturing a spatial position of a body
EP3745223A1 (en) Method for self-verification of mechatronic systems