JP2001255280A - Board inspection device and board inspection method - Google Patents

Board inspection device and board inspection method

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JP2001255280A
JP2001255280A JP2000063244A JP2000063244A JP2001255280A JP 2001255280 A JP2001255280 A JP 2001255280A JP 2000063244 A JP2000063244 A JP 2000063244A JP 2000063244 A JP2000063244 A JP 2000063244A JP 2001255280 A JP2001255280 A JP 2001255280A
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JP
Japan
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inspection
visual inspection
board
inspected
component
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Application number
JP2000063244A
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Japanese (ja)
Inventor
Shuji Yoshida
修二 芳田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a board inspection device and a board inspection method capable of enhancing load reduction of an inspector and shortening of work man-hours by omitting a specific work on a part loading spot to be inspected visually, and executing inexpensively appearance visual inspection of a printed circuit board where high density mounting is executed. SOLUTION: This inspection device is equipped with plural simple visual inspection means 2, 3 equipped with magnifying lenses having different imaging powers, according to the size of loaded parts on the board 4 to be inspected, and a general control means for selecting and controlling the optimum visual inspection means for imaging the size of the loaded parts on the board to be inspected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、微小な部品が実
装されているプリント基板(被検査基板)を、カメラお
よび拡大レンズにより撮像して、目視検査を行う基板検
査装置および基板検査方法に関し、特にハードウェアお
よびソフトウェアの構成を簡略化して、検査員の負荷軽
減および作業工数の短縮とともに、コストダウンを実現
した基板検査装置および基板検査方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board inspection apparatus and a board inspection method for visually inspecting a printed circuit board (substrate to be inspected) on which minute components are mounted using a camera and a magnifying lens. In particular, the present invention relates to a board inspection apparatus and a board inspection method that simplify the configuration of hardware and software, reduce the load on inspectors, reduce the number of man-hours, and reduce costs.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子部品を搭載したプリント基板
は、各種電子機器に多く使用されているが、搭載される
部品点数が年々増加しているうえ、部品のチップ化によ
り高密度実装化が進んでいる。
2. Description of the Related Art In recent years, printed circuit boards on which electronic components are mounted have been widely used in various electronic devices. However, the number of mounted components has been increasing year by year, and high-density mounting has been achieved by chipping the components. I'm advancing.

【0003】従来より、この種のプリント基板の部品搭
載状況を検査するためには、一般に検査員の目視検査に
よる外観検査方式が提供されており、拡大鏡を用いて、
定められた検査箇所を定められた手順で目視することに
より、プリント基板の良否判定が行われている。
Conventionally, in order to inspect the mounting status of components of this type of printed circuit board, a visual inspection system based on visual inspection of an inspector has been generally provided.
The quality of the printed circuit board is determined by visually observing a predetermined inspection location in a predetermined procedure.

【0004】しかしながら、上述したように検査対象と
なるプリント基板が高密度実装化されてくると、非常に
多くの部品が密集しているエリアや、形状のよく似た部
品が集中しているエリアに不良個所が存在した場合に
は、目視検査を行う検査員に対して相当の注意力と集中
力が要求されるので、精神的負担が増大するとともに、
作業工数も膨大になってしまう。
However, as described above, when a printed circuit board to be inspected is mounted at a high density, an area where a large number of components are densely packed or an area where components having similar shapes are concentrated. In the case where there is a defective part, considerable attention and concentration are required for the inspector performing the visual inspection, so that the mental burden increases,
Work man-hours also become enormous.

【0005】また、検査結果を記録して残す場合にも、
発見した不良個所の回路記号などを複雑な図面から読み
とる必要があり、上記と同様に検査員の精神的負担が増
大することになる。
[0005] Also, when the inspection results are recorded and left,
It is necessary to read the circuit symbols and the like of the found defective parts from the complicated drawings, and the mental burden on the inspector increases similarly to the above.

【0006】このような問題を解消するため、最近で
は、画像認識処理技術を応用し、検査対象物の撮影画像
を用いて不良個所を自動的に特定する外観検査装置が提
案されている。
In order to solve such a problem, there has recently been proposed an appearance inspection apparatus which applies an image recognition processing technique and automatically specifies a defective portion by using a photographed image of an inspection object.

【0007】図8は、たとえば特開平8−193958
号公報に記載された自動外観検査方式による従来の基板
検査装置を示すブロック図である。図8において、4は
検査対象となるプリント基板(以下、単に「プリント基
板4」という)、11はプリント基板4を搭載および固
定してXY方向に移動させるXYステージである。
FIG. 8 shows, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-193958.
FIG. 1 is a block diagram showing a conventional board inspection apparatus based on an automatic appearance inspection system described in Japanese Patent Application Publication No. JP-A-2006-115139. In FIG. 8, reference numeral 4 denotes a printed board to be inspected (hereinafter, simply referred to as "printed board 4"), and reference numeral 11 denotes an XY stage on which the printed board 4 is mounted and fixed and moved in the XY directions.

【0008】12はプリント基板4を撮像するための撮
像手段となるカメラであり、ズームレンズ13を装着し
ており、異なる複数の撮像倍率が選択可能となってい
る。14はマイクロコンピュータを含む制御手段であ
り、カメラ12からの画像信号を取り込み、XYステー
ジ11およびズームレンズ13を駆動制御する。
Reference numeral 12 denotes a camera serving as an image pickup means for picking up an image of the printed circuit board 4. The camera 12 is provided with a zoom lens 13, and a plurality of different image pickup magnifications can be selected. Reference numeral 14 denotes a control unit including a microcomputer, which captures an image signal from the camera 12 and drives and controls the XY stage 11 and the zoom lens 13.

【0009】なお、ここでは図示しないが、マイクロコ
ンピュータ14は、プリント基板4を検査する際の搭載
部品の識別番号や、検査情報(座標、面積および形状な
どの特徴パラメータで構成される基準データ)などを記
憶する記憶手段と、プリント基板4の撮像位置や撮像倍
率などを制御する位置決め制御手段と、撮像された画像
信号をA/D変換して各電子部品(搭載部品)の特徴パ
ラメータを抽出する画像認識処理手段と、検査手順や検
査箇所および撮像倍率などの処理手順を入力するキーボ
ードなどの入力手段と、プリンタやCRTディスプレイ
などの出力手段とを備えている。
Although not shown here, the microcomputer 14 includes an identification number of a mounted component when inspecting the printed circuit board 4 and inspection information (reference data composed of characteristic parameters such as coordinates, area and shape). And a positioning control unit for controlling an imaging position and an imaging magnification of the printed circuit board 4, and A / D conversion of a captured image signal to extract characteristic parameters of each electronic component (mounted component). Image recognition processing means, input means such as a keyboard for inputting inspection procedures, inspection locations, and processing procedures such as imaging magnification, and output means such as a printer and a CRT display.

【0010】次に、図8に示した従来の基板検査装置の
動作について説明する。まず、制御手段14は、検査箇
所の位置算出を行い、この算出結果によってXYステー
ジ11を制御する。
Next, the operation of the conventional substrate inspection apparatus shown in FIG. 8 will be described. First, the control unit 14 calculates the position of the inspection point, and controls the XY stage 11 based on the calculation result.

【0011】これにより、プリント基板4上の指定検査
箇所は、カメラ12の視野の中央付近に位置するように
移動させられ、また、プリント基板4上の指定箇所に搭
載されている部品のサイズに合わせて、ズームレンズ1
3の撮像倍率が制御され、指定検査箇所の撮像範囲が設
定される。
As a result, the designated inspection location on the printed circuit board 4 is moved so as to be located near the center of the field of view of the camera 12 and the size of the component mounted on the designated location on the printed circuit board 4 is reduced. Together with the zoom lens 1
The imaging magnification of 3 is controlled, and the imaging range of the designated inspection location is set.

【0012】続いて、カメラ12によって撮像された指
定検査箇所の画像信号は、制御手段14内の画像認識処
理手段により、A/D変換された後、指定検査箇所にお
ける部品の特徴パラメータの抽出に用いられる。
Subsequently, the image signal of the designated inspection location imaged by the camera 12 is A / D-converted by the image recognition processing means in the control means 14 and then extracted for extracting the characteristic parameters of the component at the designated inspection location. Used.

【0013】抽出された特徴パラメータは、制御手段1
4内の記憶手段にあらかじめ記憶された基準データと比
較され、この比較結果は、検査結果として制御手段14
内の出力手段を介して出力される。
The extracted feature parameters are stored in the control unit 1
4 is compared with reference data stored in advance in the storage means in the storage means 4.
The output is provided via an output means in the device.

【0014】このように、プリント基板4上のすべての
部品について特徴パラメータが抽出され、あらかじめ制
御手段14内の記憶手段に記憶されている基準データと
比較照合されることにより、部品の実装状態における外
観検査の自動化を実現している。
As described above, the characteristic parameters of all the components on the printed circuit board 4 are extracted and compared with the reference data stored in advance in the storage unit in the control unit 14 to thereby check the mounting state of the components. Automated visual inspection is realized.

【0015】しかしながら、図8の画像認識処理技術を
応用した従来装置においては、ハードウェアおよびソフ
トウェアの構成が複雑となり、製作コストが膨大にな
る。また、外観検査を行うための基準データを得るため
に、モデル基板による基準データの収集作業が不可欠で
あることから、あらかじめ理想的なモデル基板を製作す
る必要がある。
However, in the conventional apparatus to which the image recognition processing technique shown in FIG. 8 is applied, the hardware and software configurations are complicated and the production cost is enormous. In addition, in order to obtain reference data for performing an appearance inspection, it is necessary to collect reference data using a model substrate. Therefore, it is necessary to manufacture an ideal model substrate in advance.

【0016】また、このモデル基板の製作精度により良
否判定の基準が決定するので、微妙な外観状態の場合、
基準データの設定条件により判定結果が異なり、上記の
自動検査装置のみでは良否判定が即断できない場合も多
く発生することになる。
Further, since the criterion for the quality judgment is determined based on the manufacturing accuracy of the model board, when the appearance is delicate,
The judgment result differs depending on the setting condition of the reference data, and the pass / fail judgment cannot be immediately determined by the above-described automatic inspection apparatus alone in many cases.

【0017】また、プリント基板4の検査基準を厳しく
設定すると、不良品が多発して歩留まりが悪くなってし
まうので、上記基準で不良と判定された基板は、再度、
熟練した検査員により、拡大鏡を用いて外観目視検査を
実施する必要がある。したがって、結局のところ、効率
的な基板検査を実現することはできない。
Further, if the inspection standard of the printed circuit board 4 is set strictly, the number of defective products is increased and the yield is deteriorated.
It is necessary for a skilled inspector to perform a visual inspection using a magnifying glass. Therefore, after all, efficient board inspection cannot be realized.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】従来の基板検査装置お
よび基板検査方法は以上のように、検査員の負担を軽減
するために特開平8−193958号公報に参照される
自動検査技術を用いても、構成が複雑となって製作コス
トが増大するうえ、判定基準がモデル基板の良否に依存
して判定結果の信頼性が確保できないことから、結局、
熟練検査員による再度の目視検査を省くことができない
ので、経済性および効率性を十分に改善することができ
なという問題点があった。
As described above, the conventional board inspection apparatus and board inspection method use the automatic inspection technique referred to in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-193958 to reduce the burden on the inspector. However, since the configuration becomes complicated and the manufacturing cost increases, and the criterion depends on the quality of the model board, the reliability of the determination result cannot be ensured.
Since the visual inspection by a skilled inspector cannot be omitted again, there is a problem that the economy and efficiency cannot be sufficiently improved.

【0019】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、被検査基板上の搭載部品のサイ
ズに合わせて、異なる撮像倍率の拡大レンズを有する目
視検査手段を用いて検査員が目視検査を行うとともに、
検査対象部品の特定のみを統括制御手段を介して自動的
に行うことにより、ハードウェアおよびソフトウェアの
構成を簡略化して、検査員の負荷軽減および作業工数の
短縮とともに、コストダウンを実現した基板検査装置お
よび基板検査方法を得ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and inspects using a visual inspection means having a magnifying lens having a different imaging magnification according to the size of a component mounted on a substrate to be inspected. A member performs a visual inspection,
By automatically specifying only the parts to be inspected through the integrated control means, the hardware and software configurations are simplified, reducing the load on inspectors and shortening the number of man-hours, as well as reducing costs. It is an object to obtain an apparatus and a board inspection method.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
る基板検査装置は、部品が実装された被検査基板を搭載
するXYステージと、被検査基板の搭載部品のサイズに
応じた撮影手段を有し、被検査基板の検査を行うため
の、搭載部品のサイズに応じた複数台の目視検査手段
と、複数の目視検査手段のうち、被検査基板の搭載部品
のサイズに最適な目視検査手段を選択制御して、複数の
目視検査手段とともに分散処理するための統括制御手段
とを備え、複数の目視検査手段の各撮影手段は、被検査
基板の搭載部品のサイズに合わせて、任意の部品搭載位
置を撮影するための互いに異なる撮像倍率の拡大レンズ
を有し、複数の目視検査手段は、撮影手段からの画像デ
ータを取り込むとともに、統括制御手段と関連してXY
ステージを制御する目視検査処理部と、検査員により操
作される入力部と、少なくとも画像データを表示するデ
ィスプレイとを有し、統括制御手段および目視検査処理
部は、撮影手段により撮影された目視検査対象画像と、
目視検査対象画像に関する検査情報とに基づいて、被検
査基板の検査を実行するとともに、検査結果データの入
力、記録および処理を行うものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a board inspection apparatus comprising: an XY stage on which a board to be inspected having components mounted thereon is mounted; A plurality of visual inspection means corresponding to the size of the mounted component for inspecting the substrate to be inspected, and a visual inspection optimum for the size of the mounted component of the inspected substrate among the plurality of visual inspection means A general control means for performing distributed processing together with a plurality of visual inspection means by selectively controlling the means, and each photographing means of the plurality of visual inspection means is provided with an arbitrary It has magnifying lenses of different imaging magnifications for photographing the component mounting position, and the plurality of visual inspection means fetches image data from the photographing means and XY in association with the overall control means.
A visual inspection processing unit for controlling the stage, an input unit operated by an inspector, and a display for displaying at least image data, wherein the overall control unit and the visual inspection processing unit perform a visual inspection photographed by the imaging unit; Target image,
Based on the inspection information on the visual inspection target image, the inspection of the inspection target substrate is performed, and the input, recording, and processing of the inspection result data are performed.

【0021】また、この発明の請求項2に係る基板検査
装置は、請求項1において、目視検査処理部は、被検査
基板の前回の検査結果情報から不良判定部品位置の履歴
データおよび撮像画像データを抽出し、ディスプレイ
は、抽出された不良判定部品位置の履歴データおよび撮
像画像データを、被検査基板の同一部品位置の現在の撮
像画像とともに同一画面上に表示するものである。
According to a second aspect of the present invention, in the board inspection apparatus according to the first aspect, the visual inspection processing unit is configured to determine the history data of the defective determination component position and the captured image data from the previous inspection result information of the inspection target board. The display is to display the history data and the picked-up image data of the extracted defective determination component position on the same screen together with the current picked-up image of the same component position on the inspected board.

【0022】また、この発明の請求項3に係る基板検査
方法は、請求項1または請求項2の基板検査装置を用い
た基板検査方法であって、統括制御手段から複数の目視
検査手段の少なくとも一方に対して検査情報の選択およ
びダウンロードを行う第1の工程と、複数の目視検査手
段の少なくとも一方を用いて目視検査を行う第2の工程
と、目視検査手段から統括制御手段に対して検査結果情
報のアップロードを行う第3の工程とを含むものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a board inspection method using the board inspection apparatus according to the first or second aspect, wherein at least one of the plurality of visual inspection means is controlled by the general control means. A first step of selecting and downloading inspection information for one of them, a second step of performing a visual inspection using at least one of a plurality of visual inspection means, and an inspection from the visual inspection means to the overall control means. And a third step of uploading the result information.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の
実施の形態1を図について説明する。図1はこの発明の
実施の形態1による基板検査装置を概略的に示すブロッ
ク図であり、図2はこの発明の実施の形態1による目視
検査手段を示すブロック構成図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram schematically showing a substrate inspection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a block configuration diagram showing visual inspection means according to Embodiment 1 of the present invention.

【0024】また、図3はこの発明の実施の形態1の統
括制御手段による目視検査手段への検査情報の選択およ
びダウンロード処理動作(第1の工程)を説明するため
のフローチャート、図4は目視検査手段において目視検
査処理動作(第2の工程)を説明するためのフローチャ
ート、図5はこの発明の実施の形態1の統括制御手段に
よる目視検査手段からの検査結果情報のアップロード処
理動作(第3の工程)を説明するためのフローチャート
である。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation (first step) of selecting and downloading inspection information to the visual inspection means by the general control means according to the first embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 5 is a flowchart for explaining the visual inspection processing operation (second step) in the inspection means, and FIG. 5 shows the upload processing operation (third processing) of the inspection result information from the visual inspection means by the general control means according to the first embodiment of the present invention. 3) is a flowchart for explaining step (2).

【0025】図1において、4は前述と同様のプリント
基板であり、サイズの異なる部品が搭載されている。1
はマイクロコンピュータを含む統括制御手段であり、複
数台の目視検査手段2、3を選択制御する。
In FIG. 1, reference numeral 4 denotes a printed circuit board similar to that described above, on which components having different sizes are mounted. 1
Is a general control unit including a microcomputer, and selectively controls a plurality of visual inspection units 2 and 3.

【0026】複数台の目視検査手段2、3は、撮像倍率
のみが互いに異なっており、大きい撮像倍率AのA倍目
視検査手段2と、小さい撮像倍率BのB倍目視検査手段
3とからなる。
The plurality of visual inspection units 2 and 3 differ from each other only in the imaging magnification, and are composed of an A-times visual inspection unit 2 with a large imaging magnification A and a B-times visual inspection unit 3 with a small imaging magnification B. .

【0027】各目視検査手段2、3の詳細構成について
は、図2とともに後述する。なお、図1においては、説
明を簡略化するために、2つの目視検査手段2、3のみ
が示されているが、任意数の目視検査手段が並設され得
る。
The detailed structure of each of the visual inspection means 2 and 3 will be described later with reference to FIG. In FIG. 1, only two visual inspection means 2 and 3 are shown for simplification of description, but an arbitrary number of visual inspection means may be provided side by side.

【0028】4aは必要に応じてプリント基板4に並設
される別のプリント基板である。プリント基板4、4a
は、検査情報に基づき各々の部品につき選択されたA倍
目視検査手段2またはB倍目視検査手段3により、実装
状態などの外観が目視検査される。
Reference numeral 4a denotes another printed circuit board which is juxtaposed with the printed circuit board 4 as required. Printed circuit board 4, 4a
Is visually inspected for the appearance such as the mounting state by the A-fold visual inspection means 2 or the B-fold visual inspection means 3 selected for each component based on the inspection information.

【0029】図2において、5はプリント基板4を搭載
固定してXY方向に移動させるXYステージであり、前
述のXYステージ11に対応している。6はXYステー
ジ5の上方からプリント基板4を撮像するためのカメラ
であり、たとえば撮像倍率Aの拡大レンズ7が装着され
ている。
In FIG. 2, reference numeral 5 denotes an XY stage on which the printed circuit board 4 is mounted and moved in the XY directions while corresponding to the XY stage 11 described above. Reference numeral 6 denotes a camera for capturing an image of the printed circuit board 4 from above the XY stage 5, and for example, a magnifying lens 7 having an imaging magnification A is mounted.

【0030】8は統括制御手段1と関連したマイクロコ
ンピュータを含む目視検査処理部であり、統括制御手段
1から送られる検査情報に基づいて、XYステージ5の
位置決め制御を行う。9、10は目視検査処理部8に接
続されたディスプレイおよび入力部である。
Reference numeral 8 denotes a visual inspection processing unit including a microcomputer associated with the overall control means 1, which controls the positioning of the XY stage 5 based on the inspection information sent from the overall control means 1. 9 and 10 are a display and an input unit connected to the visual inspection processing unit 8.

【0031】ディスプレイ9は、カメラ6で撮像したプ
リント基板4の画像信号を、検査情報とともに合成表示
することにより、目視検査対象物を特定する機能を有す
る。入力部10は、キーボードおよびマウスなどで構成
され、人手による目視検査工程の実行制御、不良判定時
の検査結果の入力などを行うために用いられる。
The display 9 has a function of specifying a visual inspection target by synthesizing and displaying an image signal of the printed circuit board 4 captured by the camera 6 together with inspection information. The input unit 10 includes a keyboard, a mouse, and the like, and is used for performing execution control of a visual inspection process manually, inputting an inspection result at the time of defect determination, and the like.

【0032】なお、図2においては、代表的にA倍目視
検査手段2のみを示したが、B倍目視検査手段3につい
ても、同様の構成を有する。
In FIG. 2, only the A-fold visual inspection means 2 is representatively shown, but the B-fold visual inspection means 3 has the same configuration.

【0033】次に、図3〜図5のフローチャートを参照
しながら、図1および図2に示したこの発明の実施の形
態1による基板検査装置の動作について説明する。
Next, the operation of the substrate inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention shown in FIGS. 1 and 2 will be described with reference to the flowcharts of FIGS.

【0034】この発明による基板検査工程は、プリント
基板4を目視検査する際の基板検査情報の選択およびダ
ウンロード工程(図3に示す第1の工程)と、A倍目視
検査手段2およびB倍目視検査手段3によるプリント基
板4の目視検査工程(図4に示す第2の工程)と、プリ
ント基板4の目視検査終了時における検査結果情報のア
ップロード工程(図5に示す第3の工程)とからなる。
The board inspection step according to the present invention includes the step of selecting and downloading board inspection information when visually inspecting the printed circuit board 4 (the first step shown in FIG. 3), the A-times visual inspection means 2 and the B-times visual inspection. From the visual inspection process of the printed circuit board 4 by the inspection means 3 (the second process shown in FIG. 4) and the uploading process of the inspection result information at the end of the visual inspection of the printed circuit board 4 (the third process shown in FIG. 5). Become.

【0035】以下、図3とともに、統括制御手段1によ
るA倍目視検査手段2およびB倍目視検査手段3への基
板検査情報の選択およびダウンロード工程(第1の工
程)について説明する。
Hereinafter, a step (first step) of selecting and downloading the board inspection information to the A-fold visual inspection means 2 and the B-fold visual inspection means 3 by the overall control means 1 will be described with reference to FIG.

【0036】まず、図3内のステップS1aにおいて、
あらかじめ用意されているプリント基板4の基板検査情
報ファイルを読み込む。この基板検査情報ファイルに
は、プリント基板4に搭載されている各電子部品毎の識
別番号、名称、型名、座標、設定倍率などが保存されて
いる。
First, in step S1a in FIG.
The board inspection information file of the printed circuit board 4 prepared in advance is read. The board inspection information file stores identification numbers, names, model names, coordinates, set magnifications, and the like for each electronic component mounted on the printed circuit board 4.

【0037】続いて、ステップS1b〜S1fにおい
て、基板検査情報ファイルから、設定倍率情報をチェッ
クし、プリント基板4上の電子部品で設定倍率がA倍で
あるものについては、電子部品の基板検査情報を、A倍
目視検査手段2に用いられるメモリAに選択保存し、A
倍でない電子部品についてはB倍目視検査手段3に用い
られるメモリBに選択保存する。
Subsequently, in steps S1b to S1f, the set magnification information is checked from the board inspection information file. If the electronic component on the printed circuit board 4 has the set magnification of A, the board inspection information of the electronic component is checked. Is selected and stored in the memory A used for the A-times visual inspection means 2,
Electronic components that are not doubled are selectively stored in the memory B used for the B-fold visual inspection means 3.

【0038】すなわち、設定倍率がA倍であるか否かを
判定し(ステップS1b)、設定倍率=A倍(すなわ
ち、YES)と判定されれば、メモリAに部品検査情報
を書き込み(ステップS1c)、設定倍率がA倍でない
(すなわち、NO)と判定されれば、メモリBに部品検
査情報を書き込む(ステップS1d)。
That is, it is determined whether or not the set magnification is A times (step S1b). If it is determined that the set magnification is A times (ie, YES), the component inspection information is written into the memory A (step S1c). If it is determined that the set magnification is not A (ie, NO), the component inspection information is written to the memory B (step S1d).

【0039】続いて、選択保存が完了したか否かを判定
し(ステップS1e)、完了した(すなわち、YES)
と判定されれば、次のステップS1gに進み、未完了
(すなわち、NO)と判定されれば、次の検査情報を読
み込み(ステップS1f)、ステップS1bに戻る。
Subsequently, it is determined whether or not the selective storage is completed (step S1e), and the selection and storage are completed (ie, YES).
If determined to be, the process proceeds to the next step S1g, and if it is determined to be incomplete (that is, NO), the next inspection information is read (step S1f) and the process returns to step S1b.

【0040】こうして、プリント基板4の全情報につい
ての選択保存処理を完了するまで、上記ステップS1b
〜S1fを繰り返して選択を完了した後、ステップS1
gにおいて、メモリAに選択保存されている基板検査情
報をA倍目視検査手段2にダウンロードする。
In this manner, the above-described step S1b is performed until the selective storage processing for all information on the printed circuit board 4 is completed.
After completing the selection by repeating steps S1f to S1f, step S1
In step g, the board inspection information selected and stored in the memory A is downloaded to the A-fold visual inspection means 2.

【0041】また、続くステップS1hにおいては、メ
モリBに選択保存されている基板検査情報をB倍目視検
査手段3にダウンロードし、図3の処理を終了する。
In the subsequent step S1h, the board inspection information selectively stored in the memory B is downloaded to the B-fold visual inspection means 3, and the processing in FIG. 3 is terminated.

【0042】以上の処理動作により、A倍目視検査手段
2には、大きい撮像倍率Aによる基板目視検査用の基板
検査情報が設定され、B倍目視検査手段3には、小さい
撮像倍率による基板目視検査用の基板検査情報が設定さ
れる。
By the above processing operation, the board inspection information for the board visual inspection with the large imaging magnification A is set in the A-magnification visual inspection means 2, and the board visual information with the small imaging magnification is set in the B-magnification visual inspection means 3. Inspection board inspection information is set.

【0043】したがって、次の目視検査処理部8を中心
とする目視検査工程(第2の工程)において、A倍目視
検査手段2上では、プリント基板4上のチップ部品など
のように微細な電子部品の搭載状況が検査対象となり、
B倍目視検査手段3上では、プリント基板4上の比較的
大きな電子部品の搭載状況が検査対象となる。
Therefore, in the next visual inspection step (second step) centered on the visual inspection processing section 8, on the A-times visual inspection means 2, fine electronic devices such as chip parts on the printed circuit board 4, etc. The mounting status of parts is subject to inspection,
On the B-fold visual inspection means 3, the mounting status of a relatively large electronic component on the printed circuit board 4 is to be inspected.

【0044】A倍目視検査手段2およびB倍目視検査手
段3による目視検査(第2の工程)は、以下のように実
行される。図4において、判定ステップS2b、S2f
およびS2iは、検査員の操作による処理動作である。
The visual inspection (the second step) by the A-times visual inspection means 2 and the B-times visual inspection means 3 is executed as follows. In FIG. 4, determination steps S2b, S2f
And S2i are processing operations performed by the inspector.

【0045】まず、図4内のステップS2aにおいて、
プリント基板4の基板検査情報が統括制御手段1から目
視検査処理部8にダウンロードされると、ステップS2
bの検査開始待ち状態に進む。
First, in step S2a in FIG.
When the board inspection information of the printed circuit board 4 is downloaded from the integrated control means 1 to the visual inspection processing unit 8, step S2
The process proceeds to the inspection start waiting state of b.

【0046】ステップS2bにおいて、キーボードまた
はマウスなどの入力部10の指示により、検査開始(す
なわち、YES)と判定されると、ステップS2cに進
み、基板目視検査を開始することができる。
If it is determined in step S2b that the inspection is to be started (ie, YES) based on an instruction from the input unit 10 such as a keyboard or a mouse, the process proceeds to step S2c, where a visual inspection of the board can be started.

【0047】目視検査処理部8は、ステップS2cにお
いて、プリント基板4の基板検査情報から検査対象の部
品情報を読み込み、ステップS2dにおいて、部品情報
から検査対象部品の座標データにより、XYステージ5
を移動させる。
In step S2c, the visual inspection processing section 8 reads the component information to be inspected from the board inspection information of the printed circuit board 4, and in step S2d, the XY stage 5 uses the coordinate data of the component to be inspected from the component information.
To move.

【0048】これにより、XYステージ5上に搭載固定
されたプリント基板4は、基板上の部品の中心がカメラ
6の撮像範囲の中心位置となるように制御されて停止す
る。
As a result, the printed board 4 mounted and fixed on the XY stage 5 is controlled and stopped so that the center of the components on the board becomes the center position of the image pickup range of the camera 6.

【0049】続いて、目視検査処理部8は、ステップS
2eにおいて、検査対象部品の部品情報とともに、カメ
ラ6で撮像したプリント基板4の画像信号をディスプレ
イ9上に合成表示する。
Subsequently, the visual inspection processing section 8 determines in step S
In step 2e, the image signal of the printed circuit board 4 captured by the camera 6 is synthesized and displayed on the display 9 together with the component information of the inspection target component.

【0050】このとき、画像表示エリアの中心に拡大表
示されている部位が検査対象であり、同一画面上には検
査対象位置の識別番号、部品名称、型名、座標などが表
示される。
At this time, the part displayed enlarged at the center of the image display area is the inspection target, and the identification number, the component name, the model name, the coordinates, etc. of the inspection target position are displayed on the same screen.

【0051】したがって、検査位置を探す必要がなく、
搭載部品の見誤りもなくなるので、続くステップS2f
における人手による目視検査を簡単に行うことができ
る。
Therefore, there is no need to search for the inspection position.
Since there is no erroneous view of the mounted components, the following step S2f
The visual inspection by hand can be easily performed.

【0052】もし、プリント基板4上の搭載部品状況が
良好であって、ステップS2fにおいて目視検査結果が
OK(すなわち、YES)と判定されれば、後述するス
テップS2iに進み、不良(すなわち、NO)と判定さ
れれば、次のステップS2gに進み、不良情報の表示お
よび入力が行われる。
If the state of the mounted components on the printed circuit board 4 is good and the result of the visual inspection is determined to be OK (ie, YES) in step S2f, the process proceeds to step S2i described later, and the failure (ie, NO) ), The process proceeds to the next step S2g, and display and input of defect information are performed.

【0053】なお、目視検査の結果、ステップS2fに
おいて不良判定する場合、ステップS2gに示すよう
に、不良内容の項目が画面表示されるので、検査員は、
画面表示された不良項目から、マウスまたはキーボード
などの入力部10により選択操作するのみでよい。
When a defect is determined in step S2f as a result of the visual inspection, the item of the defect content is displayed on the screen as shown in step S2g.
It is only necessary to select and operate the defective item displayed on the screen with the input unit 10 such as a mouse or a keyboard.

【0054】また、続くステップS2hにおいて、不良
と判定した撮像画像および不良情報を記憶することがで
きるので、検査結果のデータベース化が可能となる。
In the subsequent step S2h, the picked-up image determined to be defective and defect information can be stored, so that a database of inspection results can be created.

【0055】このように、部品情報による部品搭載位置
の検査が完了すると、次に、検査員は、ステップS2i
において、次の検査位置へ進むか否かを、入力部10の
入力指示により決定する。
When the inspection of the component mounting position based on the component information is completed, the inspector next proceeds to step S2i.
In, whether to proceed to the next inspection position is determined by an input instruction of the input unit 10.

【0056】すなわち、次の部品検査位置へ移動するか
否かを判定し、移動指示(すなわち、YES)と判定さ
れるまで待機状態となる。入力部10による移動指示が
入力された時点で、次のステップS2jに進み、終了
(検査完了)か否かが判定する。
That is, it is determined whether or not to move to the next component inspection position, and the apparatus is in a standby state until it is determined that a movement instruction has been issued (ie, YES). When the movement instruction is input by the input unit 10, the process proceeds to the next step S2j, and it is determined whether the process is completed (inspection completed).

【0057】このとき、基板検査情報ファイルをチェッ
クし、未完の場合は検査対象の部品情報を更新し、ステ
ップS2jにおいて、すべての検査完了が判定されるま
で、ステップS2c〜S2iの動作を繰り返し実行す
る。
At this time, the board inspection information file is checked. If the inspection is not completed, the component information to be inspected is updated, and the operations of steps S2c to S2i are repeatedly executed until all the inspections are determined to be completed in step S2j. I do.

【0058】また、ステップS2jにおいて、すべての
検査の完了が判定されたときには、ステップS2kに進
み、プリント基板4の検査結果情報を統括制御手段1に
アップロードして、図4の処理動作を終了する。
If it is determined in step S2j that all the inspections have been completed, the process proceeds to step S2k, where the inspection result information of the printed circuit board 4 is uploaded to the overall control means 1, and the processing operation of FIG. 4 ends. .

【0059】なお、図4とともに説明した第2工程は、
複数台の目視検査手段すなわちA倍目視検査手段2およ
びB倍目視検査手段3により、統括制御手段1を介して
分散処理されるようになっており、両者においてプリン
ト基板4の目視検査を完了することにより、第2工程の
完了となる。
The second step described with reference to FIG.
A plurality of visual inspection means, that is, A-times visual inspection means 2 and B-times visual inspection means 3, perform distributed processing via the overall control means 1, and complete the visual inspection of the printed circuit board 4 in both. Thereby, the second step is completed.

【0060】このように、統括制御手段1と各目視検査
手段2、3とで分散処理を行うことにより、プリント基
板4において、1枚あたりの目視検査に携わる連続時間
が短縮される。したがって、検査員の精神的負担が軽減
することができ、検査員の注意力および集中力が途切れ
ることなく検査を続けることができる。
As described above, by performing the distributed processing by the overall control means 1 and the visual inspection means 2 and 3, the continuous time involved in visual inspection per printed circuit board 4 is reduced. Therefore, the mental burden on the inspector can be reduced, and the inspection can be continued without interruption of the inspector's attention and concentration.

【0061】また、複数の検査員がいれば、図1で示す
ように、プリント基板4および別のプリント基板4aに
対して、同時並行による検査作業が可能になる。この場
合、XYステージ5および各目視検査手段2、3は、各
検査員毎に、並設されることは言うまでもない。
Further, if there are a plurality of inspectors, as shown in FIG. 1, the inspection work can be performed on the printed circuit board 4 and another printed circuit board 4a simultaneously and in parallel. In this case, it goes without saying that the XY stage 5 and the visual inspection means 2 and 3 are provided side by side for each inspector.

【0062】以下、統括制御手段1は、A倍目視検査手
段2およびB倍目視検査手段3からの検査結果情報のア
ップロードを実行する。次に、図5を参照しながら、プ
リント基板4の目視検査終了時における検査結果情報の
アップロード工程(第3の工程)について説明する。
Hereinafter, the overall control means 1 uploads the inspection result information from the A-times visual inspection means 2 and the B-times visual inspection means 3. Next, a step of uploading inspection result information at the end of the visual inspection of the printed circuit board 4 (third step) will be described with reference to FIG.

【0063】まず、図5内のステップS3aにおいて、
A倍目視検査手段2による検査完了の有無をチェック
し、検査完了(すなわち、YES)と判定されれば、ス
テップS3bにおいて、A倍目視検査手段2からの検査
結果情報をアップロードする。
First, in step S3a in FIG.
It is checked whether or not the inspection has been completed by the A-times visual inspection means 2. If it is determined that the inspection has been completed (ie, YES), the inspection result information from the A-times visual inspection means 2 is uploaded in step S3b.

【0064】また、ステップS3aにおいて、検査完了
でない(すなわち、NO)と判定されれば、ステップS
3bを実行せずに、ステップS3cに進む。
If it is determined in step S3a that the inspection has not been completed (that is, NO), the process proceeds to step S3a.
The process proceeds to step S3c without executing 3b.

【0065】続いて、ステップS3cにおいて、B倍目
視検査手段3による検査完了の有無をチェック、検査完
了(すなわち、YES)と判定されれば、ステップS3
dにおいて、B倍目視検査手段3からの検査結果情報を
アップロードする。
Subsequently, in step S3c, it is checked whether or not the inspection has been completed by the B-fold visual inspection means 3, and if it is determined that the inspection has been completed (ie, YES), the process proceeds to step S3c.
At d, the inspection result information from the B-fold visual inspection means 3 is uploaded.

【0066】また、ステップS3cにおいて、検査完了
でない(すなわち、NO)と判定されれば、ステップS
3dを実行せずに、ステップS3eに進む。
If it is determined in step S3c that the inspection is not completed (that is, NO), the process proceeds to step S3c.
The process proceeds to step S3e without executing 3d.

【0067】続いて、ステップS3eにおいて、A倍目
視検査手段2およびB倍目視検査手段3の双方におい
て、検査結果情報のアップロードが完了したかどうかを
チェックし、すべて完了(すなわち、YES)と判定さ
れれば、ステップS3fにおいてプリント基板4の検査
結果情報ファイルを作成して、図5の処理動作を終了す
る。
Subsequently, in step S3e, both the A-times visual inspection means 2 and the B-times visual inspection means 3 check whether or not the upload of the inspection result information has been completed, and determine that all of them have been completed (ie, YES). If so, an inspection result information file for the printed circuit board 4 is created in step S3f, and the processing operation in FIG. 5 ends.

【0068】また、ステップS3eにおいて、未完(す
なわち、NO)と判定されれば、ステップS3aにジャ
ンプし、検査完了の有無を再度チェックする。
If it is determined in Step S3e that the inspection is not completed (that is, NO), the process jumps to Step S3a and checks again whether the inspection is completed.

【0069】このように、プリント基板4(被検査基
板)の搭載部品のサイズに合わせて、異なる撮像倍率の
拡大レンズ7を具備した複数台のシンプルな目視検査手
段2、3と、目視検査手段2、3のうちからプリント基
板4の搭載部品の撮像に最適な目視検査手段を選択制御
する統括制御手段1とを用いて、検査処理を分散処理方
式で実行する。
As described above, a plurality of simple visual inspection means 2 and 3 provided with magnifying lenses 7 having different imaging magnifications according to the size of components mounted on the printed circuit board 4 (substrate to be inspected), The inspection processing is executed in a distributed processing manner by using the general control means 1 for selecting and controlling the visual inspection means most suitable for imaging of the mounted component of the printed circuit board 4 from among 2, 3.

【0070】したがって、複数台のシンプルな目視検査
手段と統括制御手段による分散処理により、プリント基
板4上において、目視検査する部品搭載箇所を検査員が
特定する必要がなく、ハードウェアおよびソフトウェア
の構成を簡略化して、検査員の負荷軽減および作業工数
の短縮とともに、コストダウンを実現することができ
る。
Therefore, the distributed processing by the plurality of simple visual inspection means and the integrated control means eliminates the need for the inspector to specify the component mounting location on the printed circuit board 4 to be visually inspected. Can be simplified, the load on the inspector can be reduced, the number of man-hours can be reduced, and the cost can be reduced.

【0071】実施の形態2.なお、上記実施の形態1で
は、ディスプレイ9の画像表示領域について具体的に言
及しなかったが、被検査基板の前回の検査結果情報から
不良判定部品位置の履歴データおよび撮像画像データを
抽出して、同一被検査基板の同一部品位置の現在撮像画
像とともに同一画面上に表示し、第2の工程に用いても
よい。
Embodiment 2 In the first embodiment, the image display area of the display 9 is not specifically described, but the history data and the captured image data of the defective determination component position are extracted from the previous inspection result information of the inspection target board. Alternatively, the information may be displayed on the same screen together with the current captured image of the same component position on the same board to be inspected and used in the second step.

【0072】図6は前回の検査結果情報に含まれる被検
査基板の部品位置と現在の撮像画像とを同一画面上に表
示したこの発明の実施の形態2による基板検査装置のデ
ィスプレイの画像表示領域を概略的に示す説明図であ
る。
FIG. 6 shows an image display area of the display of the board inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention, in which the component position of the board to be inspected and the current picked-up image included in the previous inspection result information are displayed on the same screen. It is explanatory drawing which shows schematically.

【0073】図6において、9aはA倍目視検査手段2
およびB倍目視検査手段3に具備されているディスプレ
イ画面であり、ディスプレイ画面9aの左半分を現在の
検査情報表示領域9bとし、右半分を前回の検査結果情
報表示領域9eとしている。
In FIG. 6, reference numeral 9a denotes A-times visual inspection means 2.
And a display screen provided in the B-fold visual inspection means 3. The left half of the display screen 9a is a current inspection information display area 9b, and the right half is a previous inspection result information display area 9e.

【0074】また、ディスプレイ画面9aにおいて、現
在の検査情報表示領域9bは、プリント基板4の部品情
報9cと、現在の撮像画像9dとを表示し、前回の検査
結果情報表示領域9eは、前回の目視検査における不良
履歴データ9fと、撮像画像9gとを表示するようにな
っている。
In the display screen 9a, the current inspection information display area 9b displays the component information 9c of the printed circuit board 4 and the current captured image 9d, and the previous inspection result information display area 9e displays the previous inspection result information area 9e. The defect history data 9f in the visual inspection and the captured image 9g are displayed.

【0075】次に、図1、図2および図6とともに、図
7のフローチャートを参照しながら、この発明の実施の
形態2による動作について説明する。図7は、第2の工
程において、前回の検査結果情報および現在の検査情報
をディスプレイ画面9a上に表示するためのフローチャ
ートである。
Next, the operation according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG. 7 together with FIG. 1, FIG. 2 and FIG. FIG. 7 is a flowchart for displaying the previous inspection result information and the current inspection information on the display screen 9a in the second step.

【0076】この場合、ディスプレイ9、A倍目視検査
手段2およびB倍目視検査手段3を用いて、プリント基
板4の検査結果情報から不良判定データを抽出し、不良
判定データに含まれる不良履歴データおよび画像データ
とともに、前回不良判定した部品位置にXYステージ5
を移動させることにより、現在の撮像画像をあわせて同
一のディスプレイ画面9a上に表示する。
In this case, the display 9, the A-fold visual inspection means 2 and the B-fold visual inspection means 3 extract the defect judgment data from the inspection result information of the printed circuit board 4, and obtain the defect history data included in the defect judgment data. XY stage 5 at the part position where the defect was determined last time
Is moved to display the current captured image together on the same display screen 9a.

【0077】また、図7の処理プログラムは、目視検査
処理部8内の機能として組み込まれているものとする。
It is assumed that the processing program of FIG. 7 is incorporated as a function in the visual inspection processing unit 8.

【0078】まず、図7内のステップS4aにおいて、
統括制御手段1から、すでに検査を終えているプリント
基板4の検査結果情報ファイルを参照して、検査結果情
報をダウンロードする。
First, in step S4a in FIG.
The inspection result information is downloaded from the integrated control means 1 with reference to the inspection result information file of the printed circuit board 4 which has already been inspected.

【0079】この検査結果情報には、プリント基板4の
検査結果が検査対象部品毎に記録されており、続くステ
ップS4bにおいて、検査結果情報内の不良判定データ
の有無をチェックする。
In the inspection result information, the inspection result of the printed circuit board 4 is recorded for each component to be inspected, and in subsequent step S4b, the presence or absence of defect determination data in the inspection result information is checked.

【0080】ステップS4bにおいて、全データが良品
(すなわち、NO)と判定されれば、何も実行せずに図
7の処理動作を終了するが、不良判定データが有る(す
なわち、YES)と判定されれば、次のステップS4c
に進む。
If it is determined in step S4b that all data are non-defective (that is, NO), the processing operation of FIG. 7 is terminated without performing any processing, but it is determined that there is defective determination data (that is, YES). If so, the next step S4c
Proceed to.

【0081】ステップS4cにおいては、不良判定によ
る部品単位で履歴情報をサーチし、ディスプレイ画面9
a上の前回の検査結果情報表示領域9eに画像データを
表示する。このときの表示内容として、不良判定内容
は、不良履歴データ9fの表示領域に表示され、不良画
像データは、前回の撮像画像9gの表示領域に表示され
る。
In step S4c, the history information is searched for each component based on the defect determination, and the display screen 9 is searched.
The image data is displayed in the previous inspection result information display area 9e on a. As the display contents at this time, the failure determination content is displayed in the display area of the failure history data 9f, and the failure image data is displayed in the display area of the previous captured image 9g.

【0082】続いて、ステップS4dにおいて、不良判
定データから抽出したプリント基板4上の部品の座標デ
ータに基づいてXYステージ5を移動させる。これによ
り、XYステージ5上に搭載固定されたプリント基板4
は、抽出された部品の中心がカメラ6の撮像範囲の中心
位置となるよう制御されて停止する。
Subsequently, in step S4d, the XY stage 5 is moved based on the coordinate data of the components on the printed circuit board 4 extracted from the defect determination data. Thereby, the printed circuit board 4 mounted and fixed on the XY stage 5
Is controlled so that the center of the extracted component is located at the center position of the imaging range of the camera 6 and stops.

【0083】続いて、ステップS4eにおいて、カメラ
6で撮像した画像信号を該部品情報とともに、現在の検
査情報表示領域9bに画面表示する。このときの表示内
容として、部品情報は、部品情報9cの表示領域に表示
され、カメラ6で撮像した画像信号は、現在の撮像画像
9dの表示領域に表示される。
Subsequently, in step S4e, an image signal captured by the camera 6 is displayed on the screen in the current inspection information display area 9b together with the component information. As display contents at this time, the component information is displayed in the display area of the component information 9c, and the image signal captured by the camera 6 is displayed in the display area of the current captured image 9d.

【0084】この表示状態において、ディスプレイ画面
9aには、前回の目視検査における不良判定時の検査結
果情報と、現在の検査情報とが同一画面上に同時に表示
されている。
In this display state, on the display screen 9a, the inspection result information at the time of the defect determination in the previous visual inspection and the current inspection information are simultaneously displayed on the same screen.

【0085】したがって、プリント基板4の不良個所を
改修した場合の確認作業などにおいて、その改修状態の
良否の照合などが容易になる。また、図7には示されて
いないが、再度の検査結果情報を統括制御手段1にアッ
プロードすることにより、履歴データとして蓄積するこ
とができる。
Therefore, in the confirmation work when the defective portion of the printed circuit board 4 is repaired, it is easy to check the quality of the repaired state. Although not shown in FIG. 7, by uploading the inspection result information to the general control means 1 again, the inspection result information can be accumulated as history data.

【0086】以後、ステップS4fにおいて、入力部1
0の指示により、次のデータをサーチし、データサーチ
(すなわち、YES)が確認されたときに、ステップS
4gに進む。
Thereafter, in step S4f, the input unit 1
0, the next data is searched. When the data search (that is, YES) is confirmed, step S
Proceed to 4g.

【0087】ステップS4gにおいては、終了の確認判
定を実行しており、終了していない(すなわち、NO)
と判定されれば、ステップS4bに戻り、終了(すなわ
ち、YES)が確認されたときに、図7の処理動作を終
了する。
In step S4g, a confirmation of termination is executed, and the termination is not completed (ie, NO).
If the determination is made, the process returns to step S4b, and when the end (that is, YES) is confirmed, the processing operation of FIG. 7 ends.

【0088】このように、ディスプレイ画面9aに履歴
データなどを同時表示することにより、検査員の検査処
理をさらに容易にすることができる。
As described above, by simultaneously displaying the history data and the like on the display screen 9a, the inspection process of the inspector can be further facilitated.

【0089】なお、上記実施の形態1および2では、撮
像倍率の異なる目視検査手段を2台用いた場合について
説明したが、たとえば、3台以上に分散して用いてもよ
く、使用台数が限定されることはない。
In the first and second embodiments, a case has been described in which two visual inspection means having different imaging magnifications are used. However, for example, three or more visual inspection means may be used in a dispersed manner, and the number of used devices is limited. It will not be done.

【0090】[0090]

【発明の効果】以上のようにこの発明の請求項1によれ
ば、部品が実装された被検査基板を搭載するXYステー
ジと、被検査基板の搭載部品のサイズに応じた撮影手段
を有し、被検査基板の検査を行うための、搭載部品のサ
イズに応じた複数台の目視検査手段と、複数の目視検査
手段のうち、被検査基板の搭載部品のサイズに最適な目
視検査手段を選択制御して、複数の目視検査手段ととも
に分散処理するための統括制御手段とを備え、複数の目
視検査手段の各撮影手段は、被検査基板の搭載部品のサ
イズに合わせて、任意の部品搭載位置を撮影するための
互いに異なる撮像倍率の拡大レンズを有し、複数の目視
検査手段は、撮影手段からの画像データを取り込むとと
もに、統括制御手段と関連してXYステージを制御する
目視検査処理部と、検査員により操作される入力部と、
少なくとも画像データを表示するディスプレイとを有
し、統括制御手段および目視検査処理部は、撮影手段に
より撮影された目視検査対象画像と、目視検査対象画像
に関する検査情報とに基づいて、被検査基板の検査を実
行するとともに、検査結果データの入力、記録および処
理を行い、被検査基板上の搭載部品のサイズに合わせ
て、異なる撮像倍率の拡大レンズを有する目視検査手段
により検査員が目視検査を行うとともに、検査対象部品
の特定のみを自動的に行うようにしたので、ハードウェ
アおよびソフトウェアの構成を簡略化して、検査員の負
荷軽減および作業工数の短縮とともに、コストダウンを
実現した基板検査装置が得られる効果がある。
As described above, according to the first aspect of the present invention, there is provided an XY stage for mounting a substrate to be inspected on which components are mounted, and an image pickup means corresponding to the size of the component mounted on the substrate to be inspected. A plurality of visual inspection means according to the size of the mounted components for inspecting the inspected board, and a visual inspection means optimal for the size of the mounted components of the inspected substrate selected from the plurality of visual inspection means A plurality of visual inspection means, and an integrated control means for performing distributed processing, wherein each photographing means of the plurality of visual inspection means has an arbitrary component mounting position in accordance with the size of the component to be inspected. A plurality of visual inspection means for capturing the image data from the imaging means, and a visual inspection processing unit for controlling the XY stage in association with the overall control means. An input unit that is operated by the inspector,
A display for displaying at least image data, the general control unit and the visual inspection processing unit, based on the visual inspection target image captured by the imaging unit and the inspection information on the visual inspection target image, In addition to performing the inspection, inputting, recording, and processing the inspection result data, the inspector performs a visual inspection by a visual inspection unit having a magnifying lens having a different imaging magnification according to the size of the mounted component on the substrate to be inspected. At the same time, since only the parts to be inspected are automatically specified, the hardware and software configurations have been simplified to reduce the load on inspectors, reduce the number of man-hours, and reduce costs. There is an effect that can be obtained.

【0091】また、この発明の請求項2によれば、請求
項1において、目視検査処理部は、被検査基板の前回の
検査結果情報から不良判定部品位置の履歴データおよび
撮像画像データを抽出し、ディスプレイは、抽出された
不良判定部品位置の履歴データおよび撮像画像データ
を、被検査基板の同一部品位置の現在の撮像画像ととも
に同一画面上に表示するようにしたので、ハードウェア
およびソフトウェアの構成を簡略化して、検査員の負荷
軽減および作業工数の短縮とともに、コストダウンを実
現した基板検査装置が得られる効果がある。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the visual inspection processing unit extracts the history data and the captured image data of the defective part position from the previous inspection result information of the inspection target board. Since the display displays the history data and the captured image data of the extracted defect determination component position on the same screen together with the current captured image of the same component position on the inspected board, the hardware and software configuration Is simplified, the load on the inspector is reduced, the number of man-hours is reduced, and the cost of the substrate inspection apparatus is reduced.

【0092】また、この発明の請求項3によれば、請求
項1または請求項2の基板検査装置を用い、統括制御手
段から複数の目視検査手段の少なくとも一方に対して検
査情報の選択およびダウンロードを行う第1の工程と、
複数の目視検査手段の少なくとも一方を用いて目視検査
を行う第2の工程と、目視検査手段から統括制御手段に
対して検査結果情報のアップロードを行う第3の工程と
を含むので、ハードウェアおよびソフトウェアの構成を
簡略化して、検査員の負荷軽減および作業工数の短縮と
ともに、コストダウンを実現した基板検査方法が得られ
る効果がある。
According to a third aspect of the present invention, selection and download of inspection information from the central control means to at least one of the plurality of visual inspection means using the board inspection apparatus of the first or second aspect. A first step of performing
The method includes a second step of performing a visual inspection using at least one of the plurality of visual inspection means, and a third step of uploading inspection result information from the visual inspection means to the overall control means. This has the effect of simplifying the software configuration, reducing the load on the inspector, shortening the number of work steps, and achieving a board inspection method that achieves cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1による基板検査装置
を概略的に示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a substrate inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態1による基板検査装置
の目視検査手段を示すブロック構成図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a visual inspection unit of the substrate inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態1による基板検査方法
の第1の工程(統括制御手段による目視検査手段への検
査情報の選択およびダウンロード動作)を説明するため
のフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining a first step (an operation of selecting and downloading inspection information to a visual inspection unit by an integrated control unit) of the substrate inspection method according to the first embodiment of the present invention;

【図4】 この発明の実施の形態1による基板検査方法
の第2の工程(目視検査手段による目視検査動作)を説
明するためのフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a second step (a visual inspection operation by a visual inspection unit) of the substrate inspection method according to the first embodiment of the present invention;

【図5】 この発明の実施の形態1による基板検査方法
の第1の工程(統括制御手段による目視検査手段からの
検査結果情報のアップロード動作)を説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating a first step (upload operation of inspection result information from a visual inspection unit by an integrated control unit) of the substrate inspection method according to the first embodiment of the present invention;

【図6】 この発明の実施の形態2による基板検査装置
のディスプレイの画像表示領域を概略的に示す説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory diagram schematically showing an image display area of a display of a substrate inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態2による基板検査方法
の第2の工程での前回の検査結果情報と現在の検査情報
とをディスプレイ上に表示する動作を説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart illustrating an operation of displaying previous inspection result information and current inspection information on a display in a second step of the substrate inspection method according to the second embodiment of the present invention.

【図8】 従来の基板検査装置を概略的に示すブロック
図である。
FIG. 8 is a block diagram schematically showing a conventional substrate inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 統括制御手段、2 A倍目視検査手段、3 B倍目
視検査手段、4、4aプリント基板(被検査基板)、5
XYステージ、6 カメラ、7 拡大レンズ、8 目
視検査処理部、9 ディスプレイ、9a ディスプレイ
画面、9b現在の検査情報表示領域、9c 部品情報、
9d 現在の撮像画像、9e 前回の検査結果情報表示
領域、9f 不良履歴データ、9g 前回の撮像画像、
10入力部。
1 overall control means, 2A visual inspection means, 3B visual inspection means, 4, 4a printed circuit board (substrate to be inspected), 5
XY stage, 6 cameras, 7 magnifying lens, 8 visual inspection processing unit, 9 display, 9a display screen, 9b current inspection information display area, 9c parts information,
9d Current captured image, 9e Previous inspection result information display area, 9f Failure history data, 9g Previous captured image,
10 input units.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 部品が実装された被検査基板を搭載する
XYステージと、 前記被検査基板の搭載部品のサイズに応じた撮影手段を
有し、前記被検査基板の検査を行うための、前記搭載部
品のサイズに応じた複数台の目視検査手段と、 前記複数の目視検査手段のうち、前記被検査基板の搭載
部品のサイズに最適な目視検査手段を選択制御して、前
記複数の目視検査手段とともに分散処理するための統括
制御手段とを備え、 前記複数の目視検査手段の各撮影手段は、前記被検査基
板の搭載部品のサイズに合わせて、任意の部品搭載位置
を撮影するための互いに異なる撮像倍率の拡大レンズを
有し、 前記複数の目視検査手段は、 前記撮影手段からの画像データを取り込むとともに、前
記統括制御手段と関連して前記XYステージを制御する
目視検査処理部と、 検査員により操作される入力部と、 少なくとも前記画像データを表示するディスプレイとを
有し、 前記統括制御手段および前記目視検査処理部は、前記撮
影手段により撮影された目視検査対象画像と、前記目視
検査対象画像に関する検査情報とに基づいて、前記被検
査基板の検査を実行するとともに、検査結果データの入
力、記録および処理を行うことを特徴とする基板検査装
置。
1. An XY stage for mounting a substrate to be inspected on which components are mounted, and an imaging unit corresponding to a size of a component mounted on the substrate to be inspected, wherein the imaging unit performs inspection of the substrate to be inspected. A plurality of visual inspection means corresponding to the size of the mounted component; and a plurality of visual inspection means selected and controlled from among the plurality of visual inspection means, the optimal visual inspection means for the size of the mounted component of the board to be inspected. Control means for performing distributed processing together with the means, and each photographing means of the plurality of visual inspection means is adapted to photograph an arbitrary component mounting position in accordance with the size of the mounted component of the board to be inspected. A plurality of visual inspection means for capturing image data from the photographing means and controlling the XY stage in association with the general control means; A processing unit, an input unit operated by an inspector, and a display for displaying at least the image data, wherein the general control unit and the visual inspection processing unit are images to be visually inspected photographed by the photographing unit. And inspecting the inspected substrate based on the inspection information relating to the visual inspection target image and inputting, recording, and processing inspection result data.
【請求項2】 前記目視検査処理部は、前記被検査基板
の前回の検査結果情報から不良判定部品位置の履歴デー
タおよび撮像画像データを抽出し、 前記ディスプレイは、抽出された前記不良判定部品位置
の履歴データおよび撮像画像データを、前記被検査基板
の同一部品位置の現在の撮像画像とともに同一画面上に
表示することを特徴とする請求項1に記載の基板検査装
置。
2. The visual inspection processing unit extracts history data and captured image data of a defect determination component position from previous inspection result information of the inspection target board, and the display displays the extracted defect determination component position. The board inspection apparatus according to claim 1, wherein the history data and the captured image data are displayed on the same screen together with the current captured image at the same component position on the board to be inspected.
【請求項3】 前記統括制御手段から前記複数の目視検
査手段の少なくとも一方に対して前記検査情報の選択お
よびダウンロードを行う第1の工程と、 前記複数の目視検査手段の少なくとも一方を用いて目視
検査を行う第2の工程と、 前記目視検査手段から前記統括制御手段に対して検査結
果情報のアップロードを行う第3の工程とを含むことを
特徴とする請求項1または請求項2に記載の基板検査装
置を用いた基板検査方法。
3. A first step of selecting and downloading the inspection information from the general control unit to at least one of the plurality of visual inspection units, and performing visual inspection using at least one of the plurality of visual inspection units. 3. The method according to claim 1, further comprising: a second step of performing an inspection; and a third step of uploading inspection result information from the visual inspection unit to the general control unit. 4. A board inspection method using a board inspection apparatus.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005164497A (en) * 2003-12-04 2005-06-23 Sony Corp Component mounting substrate inspection device equipped with mean value acquisition function of reference value
JP2006078381A (en) * 2004-09-10 2006-03-23 Keyence Corp Display method of display of image processing apparatus

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