JP2001255131A - 放射線厚み測定装置 - Google Patents
放射線厚み測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 圧延ライン振動の影響を最小にして、安定し
て精度よく被測定物の厚みを測定することを目的とす
る。 【解決手段】 フレーム３における上フレーム部と下フ
レーム部の何れか一方に圧延ラインを流れる被測定物４
に放射線ビームを照射する放射線発生部１を配置し、何
れか他方には前記被測定物を透過した放射線量を検出す
る放射線検出部２を配置し、フレーム３が圧延ラインの
振動と共振して振動するのを防止する制振装置５を有す
る。制振装置５は、上フレーム部又は下フレーム部を水
平移動して前記フレームの固有振動数を可変する質点６
と、この質点を移動させる移動機構７とを有する。
て精度よく被測定物の厚みを測定することを目的とす
る。 【解決手段】 フレーム３における上フレーム部と下フ
レーム部の何れか一方に圧延ラインを流れる被測定物４
に放射線ビームを照射する放射線発生部１を配置し、何
れか他方には前記被測定物を透過した放射線量を検出す
る放射線検出部２を配置し、フレーム３が圧延ラインの
振動と共振して振動するのを防止する制振装置５を有す
る。制振装置５は、上フレーム部又は下フレーム部を水
平移動して前記フレームの固有振動数を可変する質点６
と、この質点を移動させる移動機構７とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、鉄鋼、非
鉄等の圧延ラインにおいて、圧延中の被測定物の厚みを
放射線を利用して非接触で測定する放射線厚み測定装置
に関する。
鉄等の圧延ラインにおいて、圧延中の被測定物の厚みを
放射線を利用して非接触で測定する放射線厚み測定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の放射線厚み測定装置としては、例
えば、図６の（ａ），（ｂ）に示すよようなものがあ
る。検出部台車であるＣ型フレーム１０１が圧延ライン
１０２で加工される被測定物１０３を挟むように設置さ
れている。Ｃ型フレーム１０１における下フレームに被
測定物１０３に放射線ビームを照射する放射線発生部１
０４が設置され、上フレームには被測定物１０３を透過
した放射線量を検出する放射線検出部１０５が設置され
ている。この放射線検出部１０５で検出された透過放射
線量を基に被測定物１０３の厚さを測定し、その測定結
果を圧延機にフィードバックして製品の品質向上や圧延
歩留まりの向上を図るようにしている。
えば、図６の（ａ），（ｂ）に示すよようなものがあ
る。検出部台車であるＣ型フレーム１０１が圧延ライン
１０２で加工される被測定物１０３を挟むように設置さ
れている。Ｃ型フレーム１０１における下フレームに被
測定物１０３に放射線ビームを照射する放射線発生部１
０４が設置され、上フレームには被測定物１０３を透過
した放射線量を検出する放射線検出部１０５が設置され
ている。この放射線検出部１０５で検出された透過放射
線量を基に被測定物１０３の厚さを測定し、その測定結
果を圧延機にフィードバックして製品の品質向上や圧延
歩留まりの向上を図るようにしている。
【０００３】このような放射線厚み測定装置において、
測定精度を高める一要因にＣ型フレーム１０１が圧延ラ
イン振動の影響を受けないようにすることがある。この
ため、Ｃ型フレーム１０１の構造を圧延ライン１０２の
振動数と共振しないようにしている。しかし、圧延ライ
ン１０２によっては、ライン速度によって大きく振動数
が変化するものがあり、このように振動数が変化して
も、その影響を最小にするためには、変化する圧延ライ
ン振動数に対して共振しないようにＣ型フレーム１０１
の構造を最適化する必要があった。
測定精度を高める一要因にＣ型フレーム１０１が圧延ラ
イン振動の影響を受けないようにすることがある。この
ため、Ｃ型フレーム１０１の構造を圧延ライン１０２の
振動数と共振しないようにしている。しかし、圧延ライ
ン１０２によっては、ライン速度によって大きく振動数
が変化するものがあり、このように振動数が変化して
も、その影響を最小にするためには、変化する圧延ライ
ン振動数に対して共振しないようにＣ型フレーム１０１
の構造を最適化する必要があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、圧延ラ
イン振動数が変化しても、その影響が最小になるように
Ｃ型フレーム構造を最適化することは極めて困難であ
り、また多大な時間を必要とするという問題があった。
イン振動数が変化しても、その影響が最小になるように
Ｃ型フレーム構造を最適化することは極めて困難であ
り、また多大な時間を必要とするという問題があった。
【０００５】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
圧延ライン振動の影響を最小にして、安定して精度よく
被測定物の厚みを測定することができる放射線厚み測定
装置を提供することを目的とする。
圧延ライン振動の影響を最小にして、安定して精度よく
被測定物の厚みを測定することができる放射線厚み測定
装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の発明は、フレームにおける上フレー
ム部と下フレーム部の何れか一方に圧延ラインを流れる
被測定物に放射線ビームを照射する放射線発生部を配置
し、何れか他方には前記被測定物を透過した放射線量を
検出する放射線検出部を配置し、この放射線検出部で検
出した放射線量を基に前記被測定物の厚さを測定する放
射線厚み測定装置において、前記フレームが前記圧延ラ
インの振動と共振して振動するのを防止する制振装置を
有することを要旨とする。この構成により、厚み測定の
際、制振装置によりフレームの固有振動数を変更して圧
延ライン振動との共振点を外すことで、圧延ライン振動
の影響を最小にすることが可能となる。
に、請求項１記載の発明は、フレームにおける上フレー
ム部と下フレーム部の何れか一方に圧延ラインを流れる
被測定物に放射線ビームを照射する放射線発生部を配置
し、何れか他方には前記被測定物を透過した放射線量を
検出する放射線検出部を配置し、この放射線検出部で検
出した放射線量を基に前記被測定物の厚さを測定する放
射線厚み測定装置において、前記フレームが前記圧延ラ
インの振動と共振して振動するのを防止する制振装置を
有することを要旨とする。この構成により、厚み測定の
際、制振装置によりフレームの固有振動数を変更して圧
延ライン振動との共振点を外すことで、圧延ライン振動
の影響を最小にすることが可能となる。
【０００７】請求項２記載の発明は、上記請求項１記載
の放射線厚み測定装置において、前記制振装置は、前記
上フレーム部又は下フレーム部を水平移動して前記フレ
ームの固有振動数を可変する質点と、この質点を移動さ
せる移動機構とを有することを要旨とする。この構成に
より、制振装置は、移動機構により上フレーム部又は下
フレーム部上で質点を水平移動させつつ位置調整をする
ことで、容易にフレームの固有振動数が可変されて圧延
ライン振動との共振点を外すことが可能である。
の放射線厚み測定装置において、前記制振装置は、前記
上フレーム部又は下フレーム部を水平移動して前記フレ
ームの固有振動数を可変する質点と、この質点を移動さ
せる移動機構とを有することを要旨とする。この構成に
より、制振装置は、移動機構により上フレーム部又は下
フレーム部上で質点を水平移動させつつ位置調整をする
ことで、容易にフレームの固有振動数が可変されて圧延
ライン振動との共振点を外すことが可能である。
【０００８】請求項３記載の発明は、上記請求項２記載
の放射線厚み測定装置において、前記移動機構を駆動す
る駆動部を有し、前記移動機構は当該駆動部を介して遠
隔操作で駆動することを要旨とする。この構成により、
厚み測定の際、移動機構は、遠隔操作で駆動されてフレ
ームの固有振動数が可変され、圧延ライン振動との共振
点を容易に外すことが可能となる。
の放射線厚み測定装置において、前記移動機構を駆動す
る駆動部を有し、前記移動機構は当該駆動部を介して遠
隔操作で駆動することを要旨とする。この構成により、
厚み測定の際、移動機構は、遠隔操作で駆動されてフレ
ームの固有振動数が可変され、圧延ライン振動との共振
点を容易に外すことが可能となる。
【０００９】請求項４記載の発明は、上記請求項１記載
の放射線厚み測定装置において、前記圧延ラインの振動
を検出する振動センサと、この振動センサの検知情報を
基に前記制振装置を遠隔操作で自動制御する制御手段と
を有することを要旨とする。この構成により、厚み測定
の際、フレームの固有振動数を圧延ライン振動との共振
点から迅速、確実に外すことが可能となる。
の放射線厚み測定装置において、前記圧延ラインの振動
を検出する振動センサと、この振動センサの検知情報を
基に前記制振装置を遠隔操作で自動制御する制御手段と
を有することを要旨とする。この構成により、厚み測定
の際、フレームの固有振動数を圧延ライン振動との共振
点から迅速、確実に外すことが可能となる。
【００１０】請求項５記載の発明は、上記請求項１乃至
４の何れかに記載の放射線厚み測定装置において、前記
フレームの振動を検出する振動センサと、この振動セン
サの検知情報を基に前記被測定物の厚さ測定値を補正す
る補正手段とを有することを要旨とする。この構成によ
り、厚み測定の際、制振装置により圧延ライン振動の影
響が最小にされるとともに、補正手段によりフレームの
振動の大きさに応じて厚さ測定値が補正される。
４の何れかに記載の放射線厚み測定装置において、前記
フレームの振動を検出する振動センサと、この振動セン
サの検知情報を基に前記被測定物の厚さ測定値を補正す
る補正手段とを有することを要旨とする。この構成によ
り、厚み測定の際、制振装置により圧延ライン振動の影
響が最小にされるとともに、補正手段によりフレームの
振動の大きさに応じて厚さ測定値が補正される。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００１２】図１は本発明の第１の実施の形態を示す図
である。まず、放射線厚み測定装置の構成を説明する。
Ｃ型フレーム３における下フレームに、圧延ラインを流
れる被測定物４に放射線ビームを照射する放射線発生部
１が設置され、上フレームには、被測定物４を透過した
放射線量を検出する放射線検出部２が設置されている。
この放射線検出部２で検出された透過放射線量を基に被
測定物４の厚さが測定される。このような放射線厚み測
定装置において、制振装置５がＣ型フレーム３の上面又
はフレーム内部に設置されている。制振装置５には、フ
レーム部を水平移動してＣ型フレーム３の固有振動数を
可変する質点６と、この質点６を移動させる移動機構７
と、移動機構７を駆動する駆動部８と、この駆動部８内
に設置されて質点６の位置情報を得るためのエンコーダ
９とが備えられている。移動機構７はベルト駆動方式、
ボールネジ駆動方式等の水平移動を実現する機構で構成
されている。遠隔操作をしない場合には駆動部８は不要
であり、手動にて直接、移動機構７を駆動して質点６の
位置調整をすることができる。
である。まず、放射線厚み測定装置の構成を説明する。
Ｃ型フレーム３における下フレームに、圧延ラインを流
れる被測定物４に放射線ビームを照射する放射線発生部
１が設置され、上フレームには、被測定物４を透過した
放射線量を検出する放射線検出部２が設置されている。
この放射線検出部２で検出された透過放射線量を基に被
測定物４の厚さが測定される。このような放射線厚み測
定装置において、制振装置５がＣ型フレーム３の上面又
はフレーム内部に設置されている。制振装置５には、フ
レーム部を水平移動してＣ型フレーム３の固有振動数を
可変する質点６と、この質点６を移動させる移動機構７
と、移動機構７を駆動する駆動部８と、この駆動部８内
に設置されて質点６の位置情報を得るためのエンコーダ
９とが備えられている。移動機構７はベルト駆動方式、
ボールネジ駆動方式等の水平移動を実現する機構で構成
されている。遠隔操作をしない場合には駆動部８は不要
であり、手動にて直接、移動機構７を駆動して質点６の
位置調整をすることができる。
【００１３】次に上述のように構成された本実施の形態
の作用を説明する。被測定物４の厚み測定の際、移動機
構７により質点６の位置を水平移動させてＣ型フレーム
３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動との共振点を
外すことで、圧延ライン振動の影響が最小になり、安定
した高精度の厚み測定をすることが可能となる。
の作用を説明する。被測定物４の厚み測定の際、移動機
構７により質点６の位置を水平移動させてＣ型フレーム
３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動との共振点を
外すことで、圧延ライン振動の影響が最小になり、安定
した高精度の厚み測定をすることが可能となる。
【００１４】図２には、本発明の第２の実施の形態を示
す。本実施の形態は、移動機構７を手動で駆動するよう
になっている。制御手段としての制御部１２には放射線
厚み測定に必要な信号線や動力線が接続されている。被
測定物４の厚み測定の際、移動機構７を手動で駆動する
ことにより質点６の位置を水平移動させてＣ型フレーム
３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動との共振点を
外すことで、圧延ライン振動の影響が最小になり、高精
度の厚み測定をすることが可能となる。
す。本実施の形態は、移動機構７を手動で駆動するよう
になっている。制御手段としての制御部１２には放射線
厚み測定に必要な信号線や動力線が接続されている。被
測定物４の厚み測定の際、移動機構７を手動で駆動する
ことにより質点６の位置を水平移動させてＣ型フレーム
３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動との共振点を
外すことで、圧延ライン振動の影響が最小になり、高精
度の厚み測定をすることが可能となる。
【００１５】図３には、本発明の第３の実施の形態を示
す。本実施の形態は、移動機構７を駆動部８を介して遠
隔操作で駆動するようになっている。制御部１２には、
放射線厚み測定に必要な信号線や動力線が接続されてい
る。厚み測定に必要な信号線には、エンコーダ９からの
質点６の位置を示す信号の信号線も含んでいる。被測定
物４の厚み測定の際、Ｃ型フレーム３が圧延ライン振動
と共振しないように、制御部１２からの制御信号により
移動機構７が駆動部８を介して遠隔操作され、質点６が
水平移動して位置調整される。このとき、質点６の位置
は制御部１２に入力されるエンコーダ９からの信号で認
識されている。この結果、Ｃ型フレーム３の固有振動数
が可変されて、圧延ライン振動の影響を受けない高精度
の厚み測定をすることが可能となる。
す。本実施の形態は、移動機構７を駆動部８を介して遠
隔操作で駆動するようになっている。制御部１２には、
放射線厚み測定に必要な信号線や動力線が接続されてい
る。厚み測定に必要な信号線には、エンコーダ９からの
質点６の位置を示す信号の信号線も含んでいる。被測定
物４の厚み測定の際、Ｃ型フレーム３が圧延ライン振動
と共振しないように、制御部１２からの制御信号により
移動機構７が駆動部８を介して遠隔操作され、質点６が
水平移動して位置調整される。このとき、質点６の位置
は制御部１２に入力されるエンコーダ９からの信号で認
識されている。この結果、Ｃ型フレーム３の固有振動数
が可変されて、圧延ライン振動の影響を受けない高精度
の厚み測定をすることが可能となる。
【００１６】図４には、本発明の第４の実施の形態を示
す。本実施の形態は、圧延ライン振動の検知情報を基に
制振装置５を遠隔操作で自動制御するようになってい
る。圧延ライン１１に、その振動を検出する振動センサ
１０ａが設置されている。制御部１２には、この振動セ
ンサ１０ａの検知信号の信号線及びエンコーダ９からの
質点６の位置を示す信号の信号線等の厚み測定に必要な
信号線や動力線が接続されている。被測定物４の厚み測
定の際、圧延ライン振動の検知情報を基にＣ型フレーム
３がその圧延ライン振動と共振しないように、制御部１
２からの制御信号により移動機構７が駆動部８を介して
遠隔で自動制御され、質点６が水平移動して位置調整さ
れる。このとき、質点６の位置は制御部１２に入力され
るエンコーダ９からの信号で認識されている。このよう
に、質点６の位置を圧延ライン振動に同期させて遠隔で
自動制御することによりＣ型フレーム３の固有振動数を
可変し、圧延ライン振動が変化しても、その影響を受け
ない高精度の厚み測定をすることが可能となる。
す。本実施の形態は、圧延ライン振動の検知情報を基に
制振装置５を遠隔操作で自動制御するようになってい
る。圧延ライン１１に、その振動を検出する振動センサ
１０ａが設置されている。制御部１２には、この振動セ
ンサ１０ａの検知信号の信号線及びエンコーダ９からの
質点６の位置を示す信号の信号線等の厚み測定に必要な
信号線や動力線が接続されている。被測定物４の厚み測
定の際、圧延ライン振動の検知情報を基にＣ型フレーム
３がその圧延ライン振動と共振しないように、制御部１
２からの制御信号により移動機構７が駆動部８を介して
遠隔で自動制御され、質点６が水平移動して位置調整さ
れる。このとき、質点６の位置は制御部１２に入力され
るエンコーダ９からの信号で認識されている。このよう
に、質点６の位置を圧延ライン振動に同期させて遠隔で
自動制御することによりＣ型フレーム３の固有振動数を
可変し、圧延ライン振動が変化しても、その影響を受け
ない高精度の厚み測定をすることが可能となる。
【００１７】図５には、本発明の第５の実施の形態を示
す。本実施の形態は、圧延ライン振動の検知情報を基に
制振装置５を遠隔操作で自動制御するとともにＣ型フレ
ーム振動の検知情報を基に被測定物の厚み測定値を補正
するようになっている。圧延ライン１１に、その振動を
検出する振動センサ１０ａが設置され、Ｃ型フレーム３
に、その振動を検出する振動センサ１０ｂが設置されて
いる。制御部１２には、この各振動センサ１０ａ，１０
ｂの検知信号の信号線及びエンコーダ９からの質点６の
位置を示す信号の信号線等の厚み測定に必要な信号線や
動力線が接続されている。また、制御部１２には、被測
定物４の厚み測定値を補正する補正手段が内蔵されてい
る。被測定物４の厚み測定の際、圧延ライン振動の検知
情報を基にＣ型フレーム３がその圧延ライン振動と共振
しないように、制御部１２からの制御信号により移動機
構７が駆動部８を介して遠隔で自動制御され、質点６が
水平移動して位置調整される。このとき、質点６の位置
は制御部１２に入力されるエンコーダ９からの信号で認
識されている。このように、質点６の位置を圧延ライン
振動に同期させて遠隔で自動制御することによりＣ型フ
レーム３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動が変化
しても、その影響を受けないようにして厚み測定が行わ
れる。そして、さらに、このようにして測定された厚み
測定値が、補正手段により振動センサ１０ｂで検出され
たフレーム振動の検知情報を基に補正される。このよう
に、Ｃ型フレーム３に設置された振動センサ１０ｂの検
知情報と、厚み測定値の振動による影響を照合して相殺
することにより、上述した各実施の形態に比べて、さら
に安定した高精度の厚み測定をすることが可能となる。
す。本実施の形態は、圧延ライン振動の検知情報を基に
制振装置５を遠隔操作で自動制御するとともにＣ型フレ
ーム振動の検知情報を基に被測定物の厚み測定値を補正
するようになっている。圧延ライン１１に、その振動を
検出する振動センサ１０ａが設置され、Ｃ型フレーム３
に、その振動を検出する振動センサ１０ｂが設置されて
いる。制御部１２には、この各振動センサ１０ａ，１０
ｂの検知信号の信号線及びエンコーダ９からの質点６の
位置を示す信号の信号線等の厚み測定に必要な信号線や
動力線が接続されている。また、制御部１２には、被測
定物４の厚み測定値を補正する補正手段が内蔵されてい
る。被測定物４の厚み測定の際、圧延ライン振動の検知
情報を基にＣ型フレーム３がその圧延ライン振動と共振
しないように、制御部１２からの制御信号により移動機
構７が駆動部８を介して遠隔で自動制御され、質点６が
水平移動して位置調整される。このとき、質点６の位置
は制御部１２に入力されるエンコーダ９からの信号で認
識されている。このように、質点６の位置を圧延ライン
振動に同期させて遠隔で自動制御することによりＣ型フ
レーム３の固有振動数を可変し、圧延ライン振動が変化
しても、その影響を受けないようにして厚み測定が行わ
れる。そして、さらに、このようにして測定された厚み
測定値が、補正手段により振動センサ１０ｂで検出され
たフレーム振動の検知情報を基に補正される。このよう
に、Ｃ型フレーム３に設置された振動センサ１０ｂの検
知情報と、厚み測定値の振動による影響を照合して相殺
することにより、上述した各実施の形態に比べて、さら
に安定した高精度の厚み測定をすることが可能となる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、フレームが圧延ラインの振動と共振して振
動するのを防止する制振装置を具備させたため、厚み測
定の際、圧延ライン振動の影響が最小になって、安定し
て精度よく被測定物の厚みを測定することができる。
明によれば、フレームが圧延ラインの振動と共振して振
動するのを防止する制振装置を具備させたため、厚み測
定の際、圧延ライン振動の影響が最小になって、安定し
て精度よく被測定物の厚みを測定することができる。
【００１９】請求項２記載の発明によれば、前記制振装
置は、前記上フレーム部又は下フレーム部を水平移動し
て前記フレームの固有振動数を可変する質点と、この質
点を移動させる移動機構とを具備させたため、厚み測定
の際、容易にフレームの固有振動数を可変することがで
きて、圧延ライン振動の影響を最小にすることができ
る。
置は、前記上フレーム部又は下フレーム部を水平移動し
て前記フレームの固有振動数を可変する質点と、この質
点を移動させる移動機構とを具備させたため、厚み測定
の際、容易にフレームの固有振動数を可変することがで
きて、圧延ライン振動の影響を最小にすることができ
る。
【００２０】請求項３記載の発明によれば、前記移動機
構を駆動する駆動部を有し、前記移動機構は当該駆動部
を介して遠隔操作で駆動するようにしたため、厚み測定
の際、移動機構を遠隔操作で駆動することでフレームの
固有振動数が可変され、操作容易性をもって圧延ライン
振動の影響を最小にすることができて、安定して精度よ
く被測定物の厚みを測定することができる。
構を駆動する駆動部を有し、前記移動機構は当該駆動部
を介して遠隔操作で駆動するようにしたため、厚み測定
の際、移動機構を遠隔操作で駆動することでフレームの
固有振動数が可変され、操作容易性をもって圧延ライン
振動の影響を最小にすることができて、安定して精度よ
く被測定物の厚みを測定することができる。
【００２１】請求項４記載の発明によれば、前記圧延ラ
インの振動を検出する振動センサと、この振動センサの
検知情報を基に前記制振装置を遠隔操作で自動制御する
制御手段とを具備させたため、厚み測定の際、フレーム
の固有振動数を圧延ライン振動との共振点から迅速、確
実に外すことができ、圧延ライン振動の影響が最小にな
って、安定した高精度で被測定物の厚みを測定すること
ができる。
インの振動を検出する振動センサと、この振動センサの
検知情報を基に前記制振装置を遠隔操作で自動制御する
制御手段とを具備させたため、厚み測定の際、フレーム
の固有振動数を圧延ライン振動との共振点から迅速、確
実に外すことができ、圧延ライン振動の影響が最小にな
って、安定した高精度で被測定物の厚みを測定すること
ができる。
【００２２】請求項５記載の発明によれば、前記フレー
ムの振動を検出する振動センサと、この振動センサの検
知情報を基に前記被測定物の厚さ測定値を補正する補正
手段とを具備させたため、厚み測定の際、制振装置によ
り圧延ライン振動の影響が最小になるとともに補正手段
によりフレームの振動の大きさに応じて厚さ測定値が補
正されて、安定した高精度で被測定物の厚みを測定する
ことができる。
ムの振動を検出する振動センサと、この振動センサの検
知情報を基に前記被測定物の厚さ測定値を補正する補正
手段とを具備させたため、厚み測定の際、制振装置によ
り圧延ライン振動の影響が最小になるとともに補正手段
によりフレームの振動の大きさに応じて厚さ測定値が補
正されて、安定した高精度で被測定物の厚みを測定する
ことができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態である放射線厚み測
定装置の検出部の構成図である。
定装置の検出部の構成図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態の構成図である。
【図３】本発明の第３の実施の形態の構成図である。
【図４】本発明の第４の実施の形態の構成図である。
【図５】本発明の第５の実施の形態の構成図である。
【図６】従来の放射線厚み測定装置の検出部の構成図で
ある。
ある。
１ 放射線発生部 ２ 放射線検出部 ３ Ｃ型フレーム ４ 被測定物 ５ 制振装置 ６ 質点 ７ 移動機構 ８ 駆動部 １０ａ，１０ｂ 振動センサ １１ 圧延ライン １２ 補正手段を内蔵する制御部（制御手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高木 次人 東京都府中市晴見町２丁目24番地の１ 東 芝エフエーシステムエンジニアリング株式 会社内 (72)発明者 佐野 岸雄 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 Ｆターム(参考） 2F067 AA27 BB12 CC05 EE13 HH09 JJ08 KK06 NN03 PP03 UU00
Claims (5)
- 【請求項１】 フレームにおける上フレーム部と下フレ
ーム部の何れか一方に圧延ラインを流れる被測定物に放
射線ビームを照射する放射線発生部を配置し、何れか他
方には前記被測定物を透過した放射線量を検出する放射
線検出部を配置し、この放射線検出部で検出した放射線
量を基に前記被測定物の厚さを測定する放射線厚み測定
装置において、前記フレームが前記圧延ラインの振動と
共振して振動するのを防止する制振装置を有することを
特徴とする放射線厚み測定装置。 - 【請求項２】 前記制振装置は、前記上フレーム部又は
下フレーム部を水平移動して前記フレームの固有振動数
を可変する質点と、この質点を移動させる移動機構とを
有することを特徴とする請求項１記載の放射線厚み測定
装置。 - 【請求項３】 前記移動機構を駆動する駆動部を有し、
前記移動機構は当該駆動部を介して遠隔操作で駆動する
ことを特徴とする請求項２記載の放射線厚み測定装置。 - 【請求項４】 前記圧延ラインの振動を検出する振動セ
ンサと、この振動センサの検知情報を基に前記制振装置
を遠隔操作で自動制御する制御手段とを有することを特
徴とする請求項１記載の放射線厚み測定装置。 - 【請求項５】 前記フレームの振動を検出する振動セン
サと、この振動センサの検知情報を基に前記被測定物の
厚さ測定値を補正する補正手段とを有することを特徴と
する請求項１乃至４の何れかに記載の放射線厚み測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064035A JP2001255131A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 放射線厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064035A JP2001255131A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 放射線厚み測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001255131A true JP2001255131A (ja) | 2001-09-21 |
Family
ID=18583803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000064035A Pending JP2001255131A (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | 放射線厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001255131A (ja) |
-
2000
- 2000-03-08 JP JP2000064035A patent/JP2001255131A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050811 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071120 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080408 |