JP2001249138A - 分析装置およびこの分析装置のための駆動機構 - Google Patents

分析装置およびこの分析装置のための駆動機構

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JP2001249138A
JP2001249138A JP2001010502A JP2001010502A JP2001249138A JP 2001249138 A JP2001249138 A JP 2001249138A JP 2001010502 A JP2001010502 A JP 2001010502A JP 2001010502 A JP2001010502 A JP 2001010502A JP 2001249138 A JP2001249138 A JP 2001249138A
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Karl Lang
ラング カール
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    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N31/00Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods
    • G01N31/16Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods using titration
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】試料容器の外部に洗浄液が漏れないような洗浄
をする。 【解決手段】分析装置1は、少なくとも二個の機器を保
持する機器ホルダー5を備え、垂直ガイドに沿って移動
可能である。少なくとも一個の洗浄装置14が機器の洗
浄のために用いられ、洗浄装置14に設けた一個か二個
のジェットオリフィスには、洗浄液が供給配管によって
供給され、機器に洗浄液が吹き付けられる。洗浄装置1
4は、機器を取り巻く一個か二個のリングから成り、機
器ホルダー5とは別体で、機器ホルダー5に対して相対
移動可能である。一個か二個のジェットオリフィスは、
一個か二個のリング内の機器に向けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の技術分野】本発明は、化学滴定を行うために通
常用いられる分析装置に関する。
【0002】
【発明の背景】公知の分析装置は、機器ホルダーの垂直
方向の移動範囲を制限するようになった垂直方向ガイド
を有する。このような装置は、機器ホルダー上に置かれ
た少なくとも二個の機器を洗浄する一個または複数の洗
浄装置を備えている。この洗浄装置は、供給配管からの
洗浄液を受け取る少なくとも一個のジェットオリフィス
を備えており、洗浄しようとしている機器に洗浄液を吹
き付ける。この種の分析装置は滴定用として知られてい
るが、本発明は滴定装置だけでなく、分析の終了後に洗
浄を要する少なくとも一個の機器または装置を備えた分
析装置に一般的に用いることができる。洗浄を要する機
器または装置は、特に、添加物を注入したり液体試料を
吸引したりするための長いチューブのような細長い形状
の装置を備えている。この場合、「長い形状の装置」に
は、それ自体が長い形状を呈するのではなく、長いキャ
リアを有する装置が含まれる。
【0003】上記のこの種の分析装置は、さまざまに異
なる設計のものが市販されている。そのような装置の一
例としては、ジェットを回転させるもの、たとえば中央
に配置したセグナー(Segner)タービンから洗浄
液のジェットを外側に向かって噴射することによりター
ビン自体を回転させるようにしたものがある。この種の
洗浄装置を用いると、装置内のいくつかの機器や装置の
いろいろな区域に対し、かなり強い噴射を行うことがで
きる。しかし、洗浄液が機器から漏れて機器周辺が汚染
されないようにするのは困難である。したがって、洗浄
工程は常に、液体試料を収容している測定用容器の内部
で行われる。それゆえ、液体試料に一部が浸かっている
測定用電極のような機器は、部分的にしか洗浄できな
い。
【0004】また、従来技術において、機器ホルダー自
体に上記の種類の長い形状の機器を収容する複数の孔を
設け、それぞれの孔に洗浄用ジェットオリフィスを設け
る構成の装置が知られている。しかし、この構成では、
機器の異なる表面区域に対する噴射を行うことができな
い。さらに、洗浄液は常に機器の全周のうち一部にしか
届かず、そこから洗浄液が流れ落ちてしまう。したがっ
て、長い形状の機器を機器ホルダーの収容孔から引き出
したとき、機器の全長がスプレーにさらされるが、カバ
ーされるのは全周の一部分にすぎない。
【0005】後者の場合、明らかに、それぞれの各収容
孔に洗浄液を供給する必要がある。供給配管が孔と孔の
間のスペースを占めるので、収容孔の数が減り、したが
って単位面積内に収容できる機器の数も減ってしまう。
【0006】
【発明の目的】したがって、本発明の目的は、上記の種
類の分析装置をさらに改良し、試料容器の外部に洗浄液
が漏れずに効果的な洗浄を可能にすることにある。
【0007】
【発明の要約】本発明によれば、上記の目的は、機器ホ
ルダーと別体で、ホルダーに対して相対移動可能な、少
なくとも一個の洗浄リングの形状を有する洗浄装置を備
えた分析装置を提供することで達成できる。洗浄装置
は、機器ホルダーで保持された機器を取り囲み、洗浄リ
ング内に置かれた機器に向けた少なくとも一個の洗浄用
ジェットオリフィスを備えている。
【0008】機器ホルダーとリング状洗浄装置は二個に
分かれた別々のものであるため、セグナータービンを用
いた公知の装置に比べ、徹底した洗浄が可能である。本
発明において、洗浄装置自体を360°全周にわたって
連続したリング形とすることが好ましいが、必須ではな
い。いかなる場合でも、機器を取り巻く洗浄リング内部
に向けられた少なくとも一個のジェットオリフィス、す
なわち径方向内側に向けられたジェットオリフィスを設
けるという構成により、外側への洗浄液の噴射が避けら
れ、望ましくない汚染を引き起こすおそれがなくなる。
さらに、従来の装置に比べ、より強力な、時間がかから
ない洗浄作業が、試料容器の外部において可能である。
【0009】すでに述べたように、本発明では、機器ホ
ルダーとリング形洗浄装置を二個の別々の部分にする必
要がある。また、本発明の範囲には、機器ホルダーとリ
ング形洗浄装置が別々のガイド部材を備え、互いに対す
る相対移動範囲を所定の範囲に制限することも含まれ
る。しかし、洗浄装置は、機器ホルダーと一個の垂直ガ
イドを共有することが好ましい。なぜなら、こうすれば
スペースを節約でき、構成を単純にできるからである。
【0010】また、洗浄装置は、機器ホルダーと同一平
面上か、わずかにその上方に配置し、洗浄用ジェットオ
リフィスを下向きに傾けてもよい。ただし、好ましい実
施例においては、洗浄装置は、機器ホルダーの下方に配
置される。
【0011】セグナータービンを備えた公知の装置と同
様、機器ホルダーに収容した少なくとも一個の機器の周
囲を回転する単一の洗浄用ジェットオリフィスに、たと
えば、洗浄用ジェットの接線方向の分力により回転させ
る内側に向けたセグナータービンを設けてもよい。しか
し、洗浄用ジェットオリフィスが固定式か移動自在かに
関わらず、洗浄リングの円周面に少なくとも二個の洗浄
用ジェットオリフィスを設ければ、より効果的な洗浄が
可能である。これらのオリフィスは円周面のほぼ対向位
置に配置するか、オリフィスが三つ以上の場合、等間隔
で配置すればよい。以下に述べるように、洗浄用ジェッ
トオリフィスは、洗浄しようとする一個または複数の機
器を取り巻く二個の洗浄リングに配分して設け、ジェッ
トの一部が機器の円周の一部分たとえば半分を、残りの
ジェットが残りの半分をそれぞれカバーするようにでき
る。
【0012】表面のすべての部分で均一な洗浄効果を得
るために、ジェットオリフィスを設置する間隔は、少な
くとも10°以上180°未満、好ましくは15〜20
°とする。したがって、最適化された装置では、相当多
くのオリフィスを180°よりずっと小さい角度の間隔
で設ける必要がある。
【0013】一個の洗浄用ジェットを機器ホルダーの収
容孔に配置するという公知の構成における主な問題は、
洗浄液の噴射ジェットが広い区域に及ばないことができ
ないため、機器の円周の一点だけに噴射が集中し、そこ
から洗浄液が機器の軸方向に流れ落ちることにある。こ
の問題は、本発明において、洗浄リングの少なくとも一
個の洗浄用ジェットを、機器ホルダーに収容された機器
が形成する断面上の外接円よりも径方向に離して配置す
ることにより解決される。したがって、一個または複数
の洗浄用ジェットは、一定の距離から機器をカバーする
ことになる。このことによって洗浄用ジェットがより広
い目標区域をカバーして洗浄効果を高めるだけでなく、
洗浄液に接触させるべきでない区域に洗浄液を噴射した
り汚染したりする危険を冒さずに、より強力なジェット
をより高圧で噴射することができる。関係がない区域に
洗浄液を吹き付けるという問題を避けるためのさらに別
の手段として、本発明では、洗浄リングの一個または複
数の洗浄用ジェットを内向きに設けるだけでなく、所定
の下向きの角度に向けることを要する。
【0014】洗浄用ジェットオリフィスは、矛盾する要
件を満足する必要がある。すなわち、一方では、機器の
表面へ洗浄液を細かく分散させて吹き付けるためには、
オリフィスはできるだけ狭くしなければならない。しか
し他方では、オリフィスの開口を狭くすればするほど、
カルシウムの堆積や汚染でオリフィスが詰まりやすくな
るおそれがあるというわけである。本発明によれば、オ
リフィスの最小直径は0.3mm、好ましくは0.5m
mであり、0.5〜0.8mmでこの問題の最良の解決
が得られた。
【0015】ジェットオリフィスを機器ホルダーの収容
孔に設ける従来技術における上記の課題に立ち返れば、
主な問題は、オリフィスへの供給配管がかなりのスペー
スをとるので、機器ホルダーに設けることができる収納
孔の数が減ることであった。しかし、本発明による構成
では、非常に多くの収納孔を設けることができる。洗浄
リングは、供給装置に接続され洗浄リングの外周に沿っ
て延びる少なくとも一個の洗浄液分配チャンネルを有し
ているのが好ましい。分配チャンネルは、好ましくはリ
ング状チャンネルとして形成され、特に完全に閉じた3
60°の円周に沿って延びるのが好ましい。
【0016】この種の分配チャンネルは、チャンネルの
断面積がその全長にわたって一定しているように形成す
ると製造が容易になる。しかし、断面積を変化させるこ
とにより、個々のオリフィスに対し、それぞれに異なる
所望の圧力をかけることができる。特に、分配チャンネ
ルの開口が一定でなくても、チャンネル終端部にあるオ
リフィスに、チャンネル始端部すなわち流入側接合部の
近傍にあるオリフィスと同レベルの圧力をかけることが
可能である。また、オリフィスに十分な圧力をかけるこ
とが可能なので、本発明において、分配チャンネルの開
口の平均断面積は、一個または複数のジェットオリフィ
スのより大きい(好ましくは少なくとも5:1で、最適
なのは10:1〜50:1)ことが好ましい。
【0017】洗浄液タンクからの洗浄液の供給は、適当
な方法で実行できる。たとえば、洗浄リングは供給ホー
スを取り付けることが可能な径方向に突出した突起また
は短い接続パイプを有していてもよい。しかし、このよ
うにすると、機器に横向きの引っ張り力がかかることが
ある。また、この種の装置に通常用いられる前述の長い
形状の機器は、上方にある管からの液の供給を受けるの
が一般的であり、このことによってホースが絡み合うこ
とを防いでいる。したがって、本発明において、洗浄液
供給装置は、少なくともその一部を、機器ホルダーの垂
直方向への動きとほぼ平行に配置するのが好ましい。
【0018】本発明の範囲において、個々の機器のため
の複数のホルダーを同一の垂直ガイド機構に配置し、そ
れぞれのホルダーに洗浄リングを配することもできる。
しかし、好ましい構成においては、機器ホルダーに少な
くとも二個の機器を収容する場所があり、それらの機器
をまとめて取り囲む一個の洗浄リングを配する。分析装
置による作業を自動化するため、駆動用モータによって
機器ホルダーを垂直ガイドに沿って移動可能にするのが
好ましい。機器ホルダーと洗浄リングの移動が別々に制
御される場合、洗浄リングは専用の駆動源を有するよう
にしてもよく、これは原則的には好ましい。しかし、構
成を単純化するためには、同じ駆動源によって洗浄リン
グを垂直方向に動かすほうがよい。
【0019】たとえば、モータは、対向する両方向に対
して有効なフリーホイールクラッチと組み合わせて、ど
ちらの方向にも回転できるモータを用い、これによっ
て、モータが一方の方向へ回転するときは機器ホルダー
を駆動し、逆の方向へ回転するときは洗浄リングを回転
するようにしてもよい。しかし、この構成では、二つの
部分が交互に動くため時間がかかる。この問題を解決す
るため、本発明によるさらに発展した構成では、機器ホ
ルダーと洗浄リングは少なくとも一個の部材によって互
いに対する相対運動が制限されることにより、機器ホル
ダーと洗浄リングが互いに対し相対的に運動するという
好ましい構成を特に単純な方法で達成している。
【0020】言うまでもなく、本発明による分析装置で
は、試料を所定の位置に置き、少なくとも一個の長い形
状の機器を試料に浸漬するまで下げ、測定を行い、機器
を洗浄し、試料容器を取り外すといった複数の工程を一
定の時間的シーケンスに従って行う必要がある。この種
の決まった工程を手作業で行うことは、効率が悪いだけ
でなく、装置のオペレータにとって大きなストレスにな
るため、自動化を図るのが好ましい。したがって、本発
明は、プログラムされた制御装置で制御される少なくと
も一個のモータを備えた駆動機構も含んでいる。
【0021】実際には、本発明による駆動機構は、少な
くとも以下の工程を含む記憶済みプログラムによって制
御される。 (a) 機器ホルダーと洗浄リングを所定の高さまで下
げる。 (b) 測定を行う。 (c) 機器ホルダーで保持された少なくとも一個の機
器を洗浄リングに対して垂直方向に動かしながら、同時
に洗浄リングから洗浄液を噴射する。
【0022】コンピュータあるいはプロセッサは、工程
(b)による測定結果の監視および評価を行い、工程
(b)の完了時に信号を発生させ、工程(c)が開始す
るように、プログラムしてもよい。
【0023】以下に、本発明の詳細を、図面に示した実
施例に関連させて説明する。
【0024】
【好ましい実施例の説明】図1において、分析装置1
は、案内コラム2である垂直ガイドを有し、垂直ガイド
は試料支持面3の隣に位置している。分析装置は案内コ
ラム2の底部に任意の設計による脚4を有しており、こ
の脚4は装置を安定して支持するものであり、機器およ
び/または試料を載せる面を有していてもよい。案内コ
ラム2は、案内コラムと平行に延びるポスト8で保持さ
れている。ポスト8と案内コラム2は、垂直なギャップ
9で隔てられている。
【0025】機器ホルダー5は、垂直な案内コラム2に
沿った上下運動が可能である。機器ホルダー5は、開口
部6とブラケット部7を有する。ブラケット部7は半円
形に沿って垂直な案内コラム2を抱持する。ブラケット
部7は、垂直な案内コラムの両側面に接しているブラケ
ットアームを備えている。ブラケットアームの後方側の
端部同士は、平らな横に延びるブレース10で接続され
ている。横に延びるブレース10は、ブラケット7のフ
ォーク状アームの端部に、たとえばねじで取り付けられ
ている。
【0026】図1に破線で示したように、横に延びるブ
レース10は、少なくとも一個の内側にねじ山を切った
ブロックに接続されている。ブロック11のねじ山は、
スピンドル12に係合し、案内コラム2の内部の軸受
(図示せず)に回転自在に取り付けられ、たとえば案内
コラム2の高さの半分にわたって延びている。スピンド
ル12は、図1に図式的に示したモータ13で駆動さ
れ、減速ギヤ(図示せず)を間に入れてもよい。モータ
13の選択については、それ自体に制限はない。たとえ
ば直流モータの使用も可能であるが、ステッパモータが
好ましい。機器ホルダー5とリング形洗浄装置14のホ
ルダー(次のパラグラフを参照)を上下運動させるため
に用いる駆動機構としては、言うまでもなく、多くの異
なる手段をとることが可能であり、たとえば、垂直ベル
ト/チェーンドライブ、リニアモータ、特にリニアステ
ッピングモータ、ラチェットフィード、その他の手段が
ある。
【0027】機器ホルダー5の下方では、これと別体の
洗浄リング14が機器ホルダー5と同様に、案内コラム
2に沿って垂直方向に移動自在である。洗浄リングは、
図3と図4に示した好ましい実施例に関連させて、後に
説明する。図1の実施例において、洗浄リング14は、
機器ホルダー5のブラケットアーム7と同様なブラケッ
トアーム7’を備えている。後に説明するように、洗浄
リングが機器ホルダー5から独立して上下運動できる構
成とするのが好ましい。したがって、部品5と部品14
が同一の垂直な案内コラム2に案内される構成は必須で
はない。洗浄リングは、案内コラム2と平行な別体の垂
直な案内部材を備えていてもよい。しかし、こうした場
合、部品5と部品14が互いに同期をとって動くように
するという問題が発生し、少なくとも、より大きなスペ
ースを要し、装置の部品の一部がオペレータに見えなく
なる可能性がある。
【0028】洗浄リング14は、機器ホルダー5と同様
の駆動機構、すなわちモータ13’で駆動されるスピン
ドル12’を備えている。しかし、後に説明するよう
に、単一のモータ13を用いて洗浄リング14a(図
2)を上下運動させることもできる。
【0029】図2、図3、図4に示すように、機器ホル
ダー5の開口部6は、中央にノブ形ハンドル23を有す
るカップ状のホルダーリング15を収容するように構成
されている。このホルダーリング15は、たとえば図示
したようなたとえば8本のチューブ17のようなさまざ
まな長い形状の機器を保持するための収容孔16を有す
る。長い形状の機器は、ピペットや測定用電極でもよ
い。ホルダーリング15は、機器ホルダー5の開口部6
を取り巻くリム部分に固定されたファスナーねじ15’
によって、凹部5’内の所定の位置に保持される。図3
に示したように、カップ状ホルダーリング15は、機器
ホルダー5の下側の面より下方に突出している。測定用
電極17からの測定信号は、個々の電極のケーブル17
a(図3)からの信号を収集、送信する少なくとも一本
のケーブル18によってコンピュータ19(図1)に送
られる。測定用電極またはチューブ17を所定の位置に
保持するためにはホルダーリング15を用いることが実
用的であるとはいえ、他の保持装置を用いてもよいとい
うことは、容易に理解される。
【0030】上記のコンピュータ19は、場合によって
は分析装置のマイクロプロセッサμと協働することがあ
り、後に説明するメモリ格納デバイスmにプログラムさ
れた測定工程の時間的シーケンスを制御する。工程は、
たとえば試料と洗浄リング14と機器ホルダー5の各位
置を知るための位置センサなどを用い、多くのさまざま
な方法で制御できるが、クロック信号発生器20を用い
て時間依存制御を行うのが好ましい。マイクロプロセッ
サμの出力信号は、モータ13の制御部21と、スピン
ドル12’を駆動するモータ13’の制御部21’に送
られる。また、スピンドル12、12’を上記の両方の
運動を制御する単一のスピンドルに合体し、一方に右回
りのねじを、他方に左回りのねじを用い、一方の部分で
は一方向に働き他方の部分では反対方向に働くフリーホ
イールクラッチを用いた構成としてもよい。さらに、選
択的に係合可能なカウンターねじ(たとえば、スピンド
ルねじと選択的に係合あるいは離反可能な板ばね)と協
働する単一のスピンドルを用いることも可能である。
【0031】図3は、機器ホルダー5とリング形洗浄装
置14が、滴定しようとしている液体を収容した試料容
器22で測定を行う作業位置にある状態を示す。ただ
し、本発明の主な用途は滴定機器であるが、この用途に
限定されるものではない。他の用途としては、プロー
ブ、センサ、電極などを用いた固体の含水率の測定に用
いることが可能である。また、たとえばヴィッカース硬
度テスターなどの硬度テスターの針に用いることも可能
である。
【0032】本発明の好ましい実施例による洗浄リング
14aの構成は、図3と図4で特に明確に示されてい
る。図1の洗浄装置あるいは洗浄リングとは異なり、図
2と図3の洗浄リング14aは、ブラケットアーム7’
を備えていない。したがって、洗浄リング14aは、ブ
ラケットアームがないリング形部分だけから成り、後に
説明するように、洗浄リング14aが機器ホルダー5に
対して移動可能であるように機器ホルダーに接続されて
いる。洗浄リング14aは、基本的に、洗浄用ジェット
リング25の下側に固定された供給チャンネルリング2
4から成る。供給チャンネルリング24は、リング2
4、25の円周面に等間隔で設けられたねじ孔26にね
じで固定されている。供給チャンネルリング24と洗浄
用ジェットリング25の間に、Oリングシール27、2
8が配置されている。
【0033】供給チャンネルリング24は、垂直な上下
運動の方向とほぼ平行に延びる洗浄液供給チャンネル2
9に接続されている。供給チャンネル29の上端部30
は、洗浄液供給ホース(図示せず)を接続できるように
大径になっている。供給チャンネル29は、ブラケット
アーム7が機器ホルダー5の主部に接する区域(図2)
において、機器ホルダー5の貫通孔31を通っている。
機器ホルダー5が垂直方向に動くとき、洗浄リング14
aの動きが供給チャンネル29の幅広の頭部30で制限
されるように、貫通孔31の直径を小さくすることも考
えられる。しかし、このようにするのは得策ではない。
なぜなら、分解する場合、供給チャンネル29を供給チ
ャンネルリング24から引き抜くことを要すが、シーリ
ングスリーブ32が示すように、供給チャンネル29は
シールしたままにしておくのが好ましいからである。し
たがって、貫通孔31の直径を頭部30が容易に通過で
きるように十分大きくし、洗浄リング14aの動きを制
限する機能は別の部材にさせるという構成とすることが
好ましい。図3にそのための移動制限手段33を示した
が、その一部は隠れている。図4のほうが手段33をよ
り明確に示している。
【0034】図4が示すように、少なくとも一つの移動
制限部材33は本発明に必要である。しかし、リングの
周囲に等角度で複数の移動ボルトを配置するほうが好ま
しい。ロッド状の移動ボルト33の下端部に円錐形スト
ッパ34とねじ山を設け、洗浄用ジェットリング25に
しっかりねじ込むようにしてもよい。機器ホルダー5
は、ストッパ34と相補的に働く円錐形の孔35を有
し、測定を行うために機器ホルダー5の位置を下げたと
き、ストッパ34が孔35に嵌まるようにする。移動ボ
ルト33の上端部には、保持用頭部36がある。保持用
頭部36をボルト33の軸と一体に形成するか、調整可
能な位置で軸部分37にねじ込むようにしてもよい。し
たがって、軸部分37の長さによって機器ホルダー5と
洗浄リング14aが互いに対して動く範囲が決まり、こ
の範囲は、軸部分37の下端において、孔35に係合す
る円錐形のセンタリングストッパ34で制限される。こ
の範囲のもう一方の端では、開口部5’に嵌まったカッ
プ状ホルダーリング15の頂部に保持用頭部36が嵌ま
るとき、機器ホルダー5がさらに上昇すれば洗浄リング
14aも移動する。それゆえ、洗浄リング14a専用の
駆動部が不要になる。洗浄リング14aの開口部を機器
ホルダー5の開口部6に対してセンタリングするため
に、他の方法を用いることもできるのは、言うまでもな
い。特に、センタリング用の突起と孔を用いてもよい
が、スペース上の制約を考えると、センタリングを行う
ためには移動ボルト33を用いるのが好ましい。上記の
構成によれば、部品5と部品14の両方を上下運動させ
るには一個のモータ13で十分であるため、電気部品1
3’と21’、ブラケットアーム7’、スピンドル1
2’は不要になる。このことにより、分析装置の構造を
単純化できる。装置の構造は、各機器や各機器グループ
にそれぞれ別々に洗浄リングを用いることもできるが、
長い形状の機器を共通の洗浄リング14または14aに
収容することにより構造を単純化できる。
【0035】図3が示すように、供給チャンネルリング
24にボルトで固定された洗浄用ジェットリング25
は、開口部38を有する。この開口部38は、実際に
は、カップ状ホルダーリング15と同軸であるため、好
ましい実施例において、すべての機器が同じ開口部を通
過することになる。ただし、ホルダーリング15の場合
と同様に、機器ごとに別の開口部を設けることも可能で
ある。しかし、このようにすると、装置の操作がより困
難になり、大きなスペースが必要になる。また、二個か
それ以上の洗浄リングを使用し、一方の洗浄リングが共
通の大きな開口部を有し、他方のリングが複数の個別の
開口部を有するようにしてもよい。
【0036】図4が示すように、開口部38の上方で、
洗浄リング14aは上向きに広がってコーン形部分39
を形成し、さらに急角度の漏斗形部分40を形成する。
漏斗形部分40の下方には、洗浄用ジェットオリフィス
41のリングがある。ジェットオリフィス41は、図3
が示すように孔38を横切る測定用電極またはチューブ
17から、図4が示すように他の測定用プローブ17か
ら、それぞれ一定の距離離れており、洗浄用ジェットオ
リフィス41から噴射されるジェットストリームがその
距離をわたって流れ、中央でまとめられた機器17、1
7’のより大きな表面区域に噴射を行う。したがって、
好ましい実施例において、洗浄リング14aの各洗浄用
ジェットオリフィス41は、機器を取り巻く開口部38
の直径dより大きい直径Dを有する円の中にある。大き
な直径Dの中には、開口部38の直径dより多くの洗浄
用ジェットオリフィス41を収容できる。洗浄用ジェッ
トオリフィス41は少なくとも10°以上180°未満
の範囲(好ましくは15〜20°)の間隔で配置するの
が好ましい。洗浄効果が表面全体に確実に及ぶようにす
るためには、少なくとも二個のジェットオリフィス41
を円周面のほぼ対向する位置に配置するのが好ましい。
【0037】図4がさらに示すように、洗浄リング14
aの各洗浄用ジェットオリフィス41は径方向内側に向
けるだけでなく、(上下運動の軸でもある)垂直軸Vに
対し所定の下向きの角αを成すように設ける。角αは、
好ましくは約15〜40°、特に好ましくは20〜30
°である。噴射ジェットを下向きに設けることには、い
くつかの利点がある。その一個は、機器17、17’へ
の距離が大きくなるので、噴射ジェットがより広い範囲
をカバーできるということである。また、洗浄リングの
内部が円錐形であるため、ジェットオリフィス41のリ
ングを洗浄用ジェットリング内でさらに上方に配置でき
るので、直径Dがより大きくなる。それゆえ、ジェット
オリフィス41のリングは十分に高い位置にあるため、
ジェットストリームは機器17、17’に、機器17、
17’が洗浄を必要としないほど高い位置にあたること
になる。図4の一点鎖線Aが示すジェットの方向におい
て、洗浄液ジェットは機器17、17’の表面に、収容
孔16からわずかに下方の位置であたるので、試料と実
際に接触する機器の部品表面全体が洗浄される。さら
に、洗浄ジェットをわずかに下向きに設けることによ
り、機器の表面に付着した異物をより効果的に分解、洗
浄することが可能になる。
【0038】図3と図4の断面図が示すように、洗浄用
ジェットオリフィス41は、分配チャンネル42から内
側の漏斗形表面40につながっている。図3が示すよう
に、分配チャンネル42は、少なくとも一個の(好まし
くは一個だけの)方向チャンネル43 によって供給チ
ャンネル29に接続している。分配チャンネル42は、
洗浄用ジェットのリング25の全円周360°に沿って
延びている。すなわち、分配チャンネル42は、好まし
くはリング形チャンネルである。分配チャンネル42を
分割し、方向チャンネル43との接合点から始まる18
0°未満の範囲にわたって延びる二個の分岐管にするこ
とも可能であるが、このような構成は、製造上の理由か
ら好ましいとは言えない。「発明の要約」の項ですでに
説明したように、オリフィスから続けて噴射される洗浄
液の量が原因となって、オリフィスの圧力が方向チャン
ネル43との接合点から対角線方向に延びるオリフィス
にかけて多かれ少なかれ連続して低下する場合、分配チ
ャンネル42の断面積を全長にわたって変化させること
が可能である。ただし、このような圧力の低下は実際に
はあまり影響がないため、分配チャンネル42の断面積
を全長にわたって一定に設計することが好ましい。オリ
フィス41のどれかにより高い圧力をかけたり、分配チ
ャンネル42の断面積を変化させたりすることも可能で
はあるが、実際の使用を考えた場合、このような構成は
好ましくない。
【0039】同様に、本発明の範囲において、ジェット
オリフィス41の少なくとも二個のリングを互いに上下
を成すように配置し、それによってオリフィスを部分的
にずらして配列し、オリフィスの各リング用の別々のチ
ャンネル42を設けるようにしてもよい。
【0040】多くのオリフィス41に対する供給を行う
ため、チャンネル42の断面積が洗浄用ジェットオリフ
ィス41の断面積より大きくなければならないことは明
らかである。たとえば、垂直軸Vの周囲を回転するジェ
ットオリフィスが一個しかなくても、分配チャンネル4
2の平均断面積が、オリフィスの断面積より大きい必要
があることは、すでに知られている。しかし、この場
合、供給チャンネルリング24に対して回転する洗浄用
ジェットリング25には単純なOリング27、28より
コスト高のシール手段を用いる必要があり、回転運動さ
せる駆動源が必要なためさらにコストが高くつく。分配
チャンネル42とジェットオリフィス41の断面積の比
率は、好ましくは少なくとも5:1であるが、さらに好
ましくは10:1〜50:1である。上記の理由によ
り、洗浄用ジェットオリフィス41の直径は少なくとも
0.3mm、好ましくは0.5mm、さらに好ましくは
0.5〜0.8mmとする。
【0041】すでに述べたように、図1に示したプログ
ラムのメモリmは、記憶済みプログラムを含んでおり、
その詳細は図5のプログラム段階(a)〜(c)とし
て、以下に説明する。図5が示すプログラム段階のシー
ケンスは、分析装置が図2〜図4の実施例に合わせ駆動
用モータ13を一個だけ備えているという前提に基づい
ている。原則として、洗浄工程は多くの異なる方法で実
行可能であり、たとえば図1の場合、機器ホルダーを試
料の位置まで下降させ、続いて持ち上げるという方法が
とられる。あるいは、洗浄リング14aを上方に移動さ
せ、機器17、17’が上下に移動するに従い複数の点
から噴射を行うという方法も可能である。しかし、以下
の方法をとるのが好ましい。
【0042】図5aが示す初期状態において、ホルダー
リング15に嵌まった状態で測定用電極あるいはチュー
ブ17を保持した機器ホルダー5は、洗浄リング14a
の上方に位置し、洗浄リング14aは移動ボルト33に
保持されて機器ホルダー5から一定の距離離れた位置に
ある。まず、機器ホルダー5と洗浄リング14aは、試
料容器22の高さで決まる位置まで、一緒に下降する。
この状態は、図5bが示している。しかし、機器ホルダ
ー5の所定の目標位置は、洗浄リング14aが容器22
のリムに最初に載った位置より、いくらか下方にある。
このことは、測定用電極17が容器22内の液体試料に
浸かるまで、機器ホルダー5が下降し続けるということ
を意味する。最後の状態は、図5cが示している。移動
ボルト33は、図4が示すように、円錐形開口部35よ
り上方にある孔を通って押し上げられる。垂直の供給チ
ャンネル29は、これと同様に、機器ホルダー5を貫く
開口部31を通って上方へ移動する。
【0043】この段階において、測定が行われる。測定
の開始は、コンピュータ19(図1)から信号ケーブル
18(図1と図2)を介して制御するのが実用的であ
る。測定信号がコンピュータに記憶、評価されると、コ
ンピュータが「測定終了」信号を発生する。「測定終
了」信号は、出力線44を通って分析装置のマイクロプ
ロセッサμへ伝送され、機器ホルダー5と洗浄リング1
4aの動きを監視、制御する一方、コンピュータ本体1
9は測定の監視、実行、評価に専念する。言うまでもな
く、プロセッサ19およびμは単一の複合ユニットの一
部としてもよく、マイクロプロセッサμはコンピュータ
19の一部としてもよい。
【0044】通常、測定は、コンピュータ19のキーを
押すか、画面上のアイコンをクリックすることで始ま
る。測定が完了すると、部品5および14aは図5と反
対方向、すなわち(c)から(a)の順に移動する。移
動ボルト33を単純な構成にすることにより、最初の移
動の段階では機器ホルダー5だけが持ち上げられ、洗浄
リング14aは容器22のリムに嵌まったままである。
ジェットオリフィス41のリングの上方に比較的背の高
い漏斗形表面40を有する洗浄用ジェットリング25を
配する構成は、ジェットオリフィス41が角度αで下方
に向けられていなくても洗浄液が外部へ噴射されること
を防止できるため、好ましいと言える。
【0045】機器17、17’が洗浄リング14aに対
して上方に移動する間、メモリ記憶デバイスmに記憶さ
れたプログラムの指令に基づいて制御されたマイクロプ
ロセッサμは同時に、洗浄液タンク(図示せず)から、
供給チャンネル29に接続されたホース(同様に図示せ
ず)を介して、洗浄液を放出、流入させる。それゆえ、
機器17、17’が位置(c)から位置(b)まで上向
きに移動する間に、機器17、17’は上端から下端ま
で噴射により洗浄され、使用済みの洗浄液は容器22の
中に滴り落ちる。続いて、洗浄リング14aの持ち上げ
と容器22の取り外しを手作業で行うこともできる。し
かし、機器ホルダー5と洗浄リング14aを一緒に位置
(b)から所定の開始位置(a)まで持ち上げるほうが
実用的である。なぜなら、スペースが空けば、試料容器
22の取扱いがさらに簡単になるからである。
【0046】上記の説明から明らかなように、本発明に
よる駆動機構のプログラムされたシーケンスは、従来技
術によるセグナータービンを操作するのに使用できる
が、プログラムと駆動機構は本発明による分析装置にお
いて最も有利に用いることができるように設計されてい
る。
【0047】場合によっては、機器を洗浄するためによ
り徹底した、修正された構成を用いるのが好ましい。こ
の目的は、図6が示すように、少なくとも二個の洗浄リ
ング14’、14”を備えた構成によって達成できる。
図3の実施例においてと同様に、供給チャンネル29は
機器ホルダー5の開口部31を通っている。また、供給
チャンネル29は、外側の供給リング24aの狭い貫通
孔31’も通っており、そこで供給チャンネル29は貫
通孔31’に対して、たとえば二個のOリング45、4
6でシールされている。供給チャンネル29の下端はさ
らに別の洗浄リング14”の供給チャンネルリング24
cの中へ延びている。
【0048】洗浄リング14’、14”は、互いに対し
て少しの範囲sだけ移動可能である。この範囲sは一個
または複数の案内ねじ47の長さであらかじめ決まって
おり、案内ねじ47は内側の供給リング24bのねじ孔
48にねじ込むことができ、それによって、必要であれ
ば、洗浄リング14’、14”の間で位置の調整が可能
である。図6が示すように、外側の供給リング24a
は、内側の供給リング24bの外部にねじで固定され
る。シール45、46は、供給チャンネル29とリング
24a、24bの接触面を同時にシールするように構成
されているが、別々にシールすることも可能である。
【0049】図3の実施例と同様、外側の供給リング2
4aは軸方向に延びるチャンバ49を有しており、そこ
から放射状チャンネル43’が分配チャンネル42を介
してジェットオリフィス41’まで延びている。チャン
バ49は、供給チャンネル29の径方向出口開口部50
につながり、洗浄リング14’、14”の間の調整範囲
s内では、出口開口部50は常にチャンバ49の中に納
まる大きさになっている。また、供給チャンネル29と
下側の洗浄リング14”は、図3の実施例と同様に接続
されている。したがって、洗浄リング14’、14”
は、ともに同一の供給チャンネル29から洗浄液が供給
されている。図6が示すように、図示された実施例にお
ける下側の洗浄リング14”のジェットオリフィス4
1”は、上方に傾斜しており、オリフィス41’、4
1”からのジェットによる洗浄液の噴射は、洗浄リング
14’、14”が互いに接近しているとき、ほぼ同一の
目標区域に向けられている。下側の洗浄リング14”の
ジェットオリフィス41”が邪魔されずに、上側の洗浄
リング14’は下向きのテーパ付き円錐形51に形成さ
れている。
【0050】このような洗浄リング14’、14”の組
み合わせにより、さまざまな構成が考えられる。たとえ
ば、各洗浄リングがそれぞれ供給チャンネル29を有
し、たとえばこれら二個の洗浄リングから異なる洗浄液
が出てくるような構成が可能である。さらに、オリフィ
ス41’をオリフィス42”と少しずらして配置しても
よい。こうすれば、複数のオリフィスを機器により近い
区域に配置できる。もちろん、オリフィス41’、の洗
浄用ジェットを、一個の点に向けて吹き付ける必要はな
い。また、ジェット噴射口の列を両方とも下方に向ける
ことも可能である。さらに、場合によっては、オリフィ
ス41’が円の一部、特に半円だけをカバーし、円の残
りの部分をオリフィス42”がカバーするように配置し
てもよい。また、明らかに、各洗浄リングが、分配チャ
ンネル42による供給を受けるオリフィス41の単一の
リングではなく、複数列のオリフィスを備えるように
し、たとえば、上側のオリフィスの列は上方に向けて噴
射し、下側のオリフィスの列は下方に向けて噴射するよ
うに構成することも可能である。
【0051】また、図6は、ねじ47を移動制限手段と
して機能させることにより、洗浄リング14’、14”
が別々の駆動機構を用いなくてもすむようにすることを
示している。しかし、必要があれば、特に二個の洗浄リ
ングを互いに対し特別な制御方法で移動させる必要があ
る場合には、別々の駆動機構を使用することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による分析装置の第一の実施例を、長い
形状の機器を所定の場所に置かない状態で示す斜視図
【図2】本発明による分析装置に長い形状の機器を所定
の場所に置いた状態で、図1の矢印II-IIに沿った上面
【図3】図2の矢印III-IIIに沿った断面図
【図4】図2の矢印IV-IVに沿って見た断面図
【図5】本発明による分析装置のプログラムされた連続
した基本工程(a)、(b)、(c)それぞれにおける
状態の、図2の矢印V-Vに沿った断面図
【図6】図3と同様の断面図において、洗浄装置がリン
グを一個ではなく二個備えた実施例を示す図
【符号の説明】
1 分析装置 2 案内コラム 5 機器ホルダー 7、7’ ブラケット部 8 ポスト 10 ブレース 11 ブロック 12、12’ スピンドル 13、13’ モータ 14、14a、14’、14” 洗浄リング 15 ホルダーリング 15’ ファスナーねじ 16 収容孔 17、17’ 洗浄しようとする機器 17a、18 ケーブル 19 コンピュータ 20 クロック信号発生器 21’ モータ制御部 22 試料容器 24、24a、24b、24c 供給チャンネルリン
グ 25 洗浄用ジェットリング 26 ねじ孔 27、28、45、46 Oリングシール 29 供給チャンネル 31、31’ 貫通孔 32 シーリングスリーブ 33 移動ボルト 34 円錐形ストッパ 35 円錐形の孔 36 移動ボルト頭部 41、41’、42” ジェットオリフィス 42 分配チャンネル 43 方向チャンネル 44 出力線 47 案内ねじ 48 ねじ孔 49 チャンバ μ マイクロプロセッサ m メモリ格納デバイス
フロントページの続き (71)出願人 591079948 CH−8606 Greifensee Sc hweiz

Claims (34)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 垂直ガイドと、上記垂直ガイドに沿って
    動くように制限され少なくとも二個の機器を保持するよ
    うに設計された機器ホルダーと、上記機器を洗浄するた
    めの少なくとも一個の洗浄装置から成り、上記洗浄装置
    が少なくとも一個のジェットオリフィスと洗浄液の供給
    配管を有し、上記少なくとも一個のジェットオリフィス
    が機器に洗浄液を吹き付けるように設計された分析装置
    において、上記洗浄装置が機器を取り巻く少なくとも一
    個の洗浄リングを有し、上記洗浄装置が機器ホルダーと
    別体で機器ホルダーに対して相対移動可能で、上記少な
    くとも一個のジェットオリフィスが上記少なくとも一個
    の洗浄リングの径方向内方に向けて設けられている分析
    装置。
  2. 【請求項2】 上記洗浄装置が上記機器を360°にわ
    たって取り巻く完全に閉じた洗浄リングを有する請求項
    1に記載の分析装置。
  3. 【請求項3】 上記洗浄装置が上記垂直ガイドに沿って
    案内された動きをするように制限を受けている請求項1
    に記載の分析装置。
  4. 【請求項4】 上記洗浄装置を上記機器ホルダーの下方
    に縦方向に配置した請求項1に記載の分析装置。
  5. 【請求項5】 少なくとも一個の洗浄リングの内周面に
    少なくとも二個のジェットオリフィスを設けた請求項1
    に記載の分析装置。
  6. 【請求項6】 上記ジェットオリフィスをほぼ等角度の
    間隔で設けた請求項5に記載の分析装置。
  7. 【請求項7】 上記ジェットオリフィスをほぼ対角線上
    の対向位置に設けた請求項5に記載の分析装置。
  8. 【請求項8】 上記ジェットオリフィスを少なくとも1
    0°以上180°未満の間隔で設けた請求項5に記載の
    分析装置。
  9. 【請求項9】 上記ジェットオリフィスを15°〜20
    °の間隔で設けた請求項8に記載の分析装置。
  10. 【請求項10】 上記洗浄装置が、上記洗浄リングの開
    口幅より大きい直径の円周面に少なくとも一個のジェッ
    トオリフィスを設けた少なくとも一個の洗浄リングを有
    する請求項1に記載の分析装置。
  11. 【請求項11】 上記洗浄装置が、すべての機器のため
    の共通の開口部を有する少なくとも一個の洗浄リングを
    有する請求項1に記載の分析装置。
  12. 【請求項12】 上記少なくとも一個のジェットオリフ
    ィスの直径が少なくとも0.3mmである請求項1に記
    載の分析装置。
  13. 【請求項13】 上記少なくとも一個のジェットオリフ
    ィスの直径が少なくとも0.5mmである請求項12に
    記載の分析装置。
  14. 【請求項14】 上記少なくとも一個のジェットオリフ
    ィスの直径が0.5〜0.8mmである請求項13に記
    載の分析装置。
  15. 【請求項15】 上記洗浄装置が、所定の下向きの角度
    に向けた少なくとも一個のジェットオリフィスを備えた
    少なくとも一個の洗浄リングを有する請求項1に記載の
    分析装置。
  16. 【請求項16】 上記所定の下向きの角度がほぼ15°
    〜40°である請求項15に記載の分析装置。
  17. 【請求項17】 上記所定の下向きの角度がほぼ20°
    〜30°である請求項16に記載の分析装置。
  18. 【請求項18】 上記少なくとも一個の洗浄リングが、
    上記洗浄リングの外周に沿って延びる洗浄液分配チャン
    ネルを有する請求項1に記載の分析装置。
  19. 【請求項19】 上記少なくとも一個のジェットオリフ
    ィスがオリフィス断面を有し、上記分配チャンネルが上
    記オリフィス断面より大きいチャンネル断面を有する請
    求項18に記載の分析装置。
  20. 【請求項20】 上記チャンネル断面が上記オリフィス
    断面の少なくとも5倍大きい請求項19に記載の分析装
    置。
  21. 【請求項21】 上記チャンネル断面が上記オリフィス
    断面の10〜50倍大きい請求項20に記載の分析装
    置。
  22. 【請求項22】 上記洗浄装置が、互いに上下をなすよ
    うに配置された少なくとも二列のジェットオリフィスを
    有する請求項1に記載の分析装置。
  23. 【請求項23】 上記二列のジェットオリフィスが異な
    る洗浄リングに設けられた請求項22に記載の分析装
    置。
  24. 【請求項24】 上記洗浄装置が、互いに対して移動可
    能な洗浄リングを有する請求項23に記載の分析装置。
  25. 【請求項25】 上記供給配管が、上記垂直ガイドと少
    なくとも部分的に平行に延びる供給チャンネルを有する
    請求項1に記載の分析装置。
  26. 【請求項26】 さらに上記機器ホルダーと上記洗浄装
    置の間に配置されたセンタリング装置を有する請求項1
    に記載の分析装置。
  27. 【請求項27】 さらに上記機器ホルダーを上記垂直ガ
    イドに沿って移動させる駆動源を有する請求項1に記載
    の分析装置。
  28. 【請求項28】 上記駆動源が上記垂直ガイドに沿って
    上記洗浄装置も移動させる請求項27に記載の分析装
    置。
  29. 【請求項29】 さらに上記機器ホルダーと上記洗浄リ
    ングが互いに対して相対移動する範囲を制限できる少な
    くとも一個の移動制限手段を有する請求項27に記載の
    分析装置。
  30. 【請求項30】 少なくとも一個のモータと、上記少な
    くとも一個のモータを制御するプログラムされた制御装
    置を有する請求項1に記載の分析装置用の駆動機構。
  31. 【請求項31】 上記制御機構が、少なくとも(a)上
    記機器ホルダーと上記洗浄装置を所定の高さまで下降さ
    せる工程と、(b)測定を行う工程と、(c)少なくと
    も二個の機器を収容した機器ホルダーを上記洗浄装置に
    対して垂直方向に移動させると同時に、上記洗浄装置が
    上記機器に対して上記洗浄液を吹き付ける工程を行うよ
    うに設計されたプログラムを保持しているメモリ格納デ
    バイスを有する請求項30に記載の駆動機構。
  32. 【請求項32】 さらに上記測定を監視し、上記測定が
    完了した時点で上記工程(c)を開始する信号を送る信
    号―評価ユニットを有する請求項31に記載の駆動機
    構。
  33. 【請求項33】 上記工程(a)において、上記洗浄装
    置の下降運動が第一の所定の高さで終了し、上記機器ホ
    ルダーの下降運動が第二の所定の高さに達するまで継続
    する請求項31に記載の駆動機構。
  34. 【請求項34】 上記駆動機構が、上記工程(c)の完
    了後、上記機器ホルダーと上記洗浄装置を所定の開始位
    置まで上昇させるように設計されている請求項31に記
    載の駆動機構。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013213789A (ja) * 2012-04-04 2013-10-17 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 自動滴定装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006121789A2 (en) * 2005-05-06 2006-11-16 Instrumentation Laboratory Company Telescoping closed-tube sampling assembly
US20080099057A1 (en) * 2006-10-27 2008-05-01 Dade Behring Inc. Method and Device for Cleaning a Liquid Aspiration and Dispense Probe
GB201101872D0 (en) * 2011-02-03 2011-03-23 Majeed Ali W Instrument cleaning assembly and apparatus
US9927342B2 (en) * 2012-06-22 2018-03-27 Bio-Rad Laboratories, Inc. Two station sample and washing system
EP3133401A1 (de) * 2015-08-18 2017-02-22 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Verfahren zur reinigung einer pipettiernadel in einem automatischen analysegerät
US10697881B2 (en) 2016-02-18 2020-06-30 Bio-Rad Laboratories, Inc. Crash protected sampler for flow cytometer
CN117451924B (zh) * 2023-12-26 2024-03-15 山东煜可医疗科技有限公司 一种药品检验用分析滴定装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3266322A (en) * 1964-06-15 1966-08-16 Technicon Instr Automatic liquid sample supply and wash apparatus for automatic analysis system
SE336241B (ja) * 1967-12-06 1971-06-28 Linson Instr Ab
AT354162B (de) * 1977-06-13 1979-12-27 Waagner Biro Ag Einrichtung zur selbsttaetigen reinigung von messelektroden
US4318885A (en) * 1979-09-10 1982-03-09 Olympus Optical Co., Ltd. Liquid treating device for chemical analysis apparatus
US4338280A (en) * 1981-04-02 1982-07-06 Instrumentation Laboratory Inc. Fluid sampling
DE3405234A1 (de) * 1984-02-15 1985-08-29 Friedrich Wilhelm Dipl.-Ing. 6100 Darmstadt Siepmann Verfahren und vorrichtung zum reinigen einer umstroemten membran
DE3405962A1 (de) * 1984-02-18 1985-08-22 Dieter van 2808 Syke Züren Sonde zur fuellstandsmessung
GR871619B (en) * 1986-10-31 1988-03-03 Genetic Systems Corp Automated patient sample analysis instrument
JPH0640100B2 (ja) * 1987-11-27 1994-05-25 株式会社日立製作所 自動分析装置のサンプル分注方法
US5408891A (en) * 1992-12-17 1995-04-25 Beckman Instruments, Inc. Fluid probe washing apparatus and method
CA2167471A1 (en) * 1995-01-31 1996-08-01 Johnson & Johnson Clinical Diagnostics, Inc. Probe wash device
DE19511037C2 (de) * 1995-03-28 1997-05-07 Karl Schad Verfahren und Gerät zum Reinigen und/oder Desinfizieren von chirurgischen Instrumenten
JPH08338849A (ja) * 1995-04-11 1996-12-24 Precision Syst Sci Kk 液体の吸引判別方法およびこの方法により駆動制御される分注装置
DE19610607A1 (de) * 1996-03-18 1997-09-25 Boehringer Mannheim Gmbh Vorrichtung zur Reinigung von Pipettiernadeln oder Rührern
JP3572792B2 (ja) * 1996-04-04 2004-10-06 東ソー株式会社 前処理装置
JP3448436B2 (ja) * 1996-08-21 2003-09-22 日本電子株式会社 生化学自動分析装置における洗浄装置
DE10018876A1 (de) * 2000-04-14 2001-10-25 Mettler Toledo Gmbh Analysenvorrichtung und Analysiereinrichtung
DE10241834A1 (de) * 2002-09-09 2004-03-25 Mettler-Toledo Gmbh Spülvorrichtung für einen Sensor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013213789A (ja) * 2012-04-04 2013-10-17 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 自動滴定装置

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