JP2001241927A - 形状測定装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 外乱光の映り込みによるマーカの像の誤認を
なくし、被測定物の３次元形状を精度良く測定すること
ができる形状測定装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 測定者によって自由に移動せしめられ、
被測定物を測定する測定ヘッド１０と、該測定ヘッド１
０に配置されたマーカ１４と、該マーカ１４を所定の位
置から撮像する測定ヘッド撮像手段２１、２２と、前記
測定ヘッド１０及び前記測定ヘッド撮像手段２１、２２
の出力に基づいて前記被測定物１００の３次元形状を求
める演算手段とを備えた形状測定装置であって、前記マ
ーカ１４の点灯期間中に撮像された画像と、前記マーカ
１４の消灯期間中に撮像された画像とに基づいて前記マ
ーカ１４の像を抽出する。
なくし、被測定物の３次元形状を精度良く測定すること
ができる形状測定装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 測定者によって自由に移動せしめられ、
被測定物を測定する測定ヘッド１０と、該測定ヘッド１
０に配置されたマーカ１４と、該マーカ１４を所定の位
置から撮像する測定ヘッド撮像手段２１、２２と、前記
測定ヘッド１０及び前記測定ヘッド撮像手段２１、２２
の出力に基づいて前記被測定物１００の３次元形状を求
める演算手段とを備えた形状測定装置であって、前記マ
ーカ１４の点灯期間中に撮像された画像と、前記マーカ
１４の消灯期間中に撮像された画像とに基づいて前記マ
ーカ１４の像を抽出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、使用者が測定ヘッ
ドを自由に動かして被測定物の３次元的形状を測定する
形状測定装置に関する。
ドを自由に動かして被測定物の３次元的形状を測定する
形状測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、スポット光またはスリット光
を被測定物に照射し、表面に観察される光像の位置から
形状を復元する能動ステレオ型の形状測定装置が知られ
ている。
を被測定物に照射し、表面に観察される光像の位置から
形状を復元する能動ステレオ型の形状測定装置が知られ
ている。
【０００３】能動ステレオ型の形状測定装置として、ス
リット光を回転ミラーによって走査させるものがある。
このような走査メカニズムを備えた形状測定装置では、
測定器から観察される被測定物の表面の形状を測定する
ことができるが、被測定物全体の形状を測定することが
できない。
リット光を回転ミラーによって走査させるものがある。
このような走査メカニズムを備えた形状測定装置では、
測定器から観察される被測定物の表面の形状を測定する
ことができるが、被測定物全体の形状を測定することが
できない。
【０００４】これに対して、被測定物全体の形状を測定
するために、回転ステージを使用し、被測定物を３６０
度の全周囲から観察するようにした能動ステレオ型の形
状測定装置が開発されている。しかしながら、被測定物
が複雑な形状である場合には、回転ステージを用いても
観察できない領域が存在するため、被測定物全体の形状
を測定できない。
するために、回転ステージを使用し、被測定物を３６０
度の全周囲から観察するようにした能動ステレオ型の形
状測定装置が開発されている。しかしながら、被測定物
が複雑な形状である場合には、回転ステージを用いても
観察できない領域が存在するため、被測定物全体の形状
を測定できない。
【０００５】そこで、測定者が測定ヘッドを把持し、被
測定物の周りで測定ヘッドを動かして測定を行うことに
より、複雑な形状の被測定物全体の形状を測定できる形
状測定装置が提案されている。
測定物の周りで測定ヘッドを動かして測定を行うことに
より、複雑な形状の被測定物全体の形状を測定できる形
状測定装置が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この形
状測定装置においては、測定ヘッドの位置及び姿勢を測
定するために、測定ヘッド上面に配置されたマーカを、
上方から２台のカメラで撮影する必要があるため、照明
光や測定ヘッドから出射されるレーザ光などの外乱光が
映り込み、これをマーカの像と誤認してしまう虞があ
る。そして、このような誤認が生じた場合には、測定ヘ
ッドの位置及び姿勢が誤って計測されることになり、計
測した被測定物の像に大きな誤差が生じてしまう。
状測定装置においては、測定ヘッドの位置及び姿勢を測
定するために、測定ヘッド上面に配置されたマーカを、
上方から２台のカメラで撮影する必要があるため、照明
光や測定ヘッドから出射されるレーザ光などの外乱光が
映り込み、これをマーカの像と誤認してしまう虞があ
る。そして、このような誤認が生じた場合には、測定ヘ
ッドの位置及び姿勢が誤って計測されることになり、計
測した被測定物の像に大きな誤差が生じてしまう。
【０００７】そこで、本発明は、外乱光の映り込みによ
るマーカの像の誤認をなくし、被測定物の３次元形状を
精度良く測定することができる形状測定装置を提供する
ことを目的とする。
るマーカの像の誤認をなくし、被測定物の３次元形状を
精度良く測定することができる形状測定装置を提供する
ことを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の形状測定装置
は、測定者によって自由に移動せしめられ、被測定物を
測定する測定ヘッドと、その測定ヘッドに配置されたマ
ーカと、そのマーカを所定の位置から撮像する測定ヘッ
ド撮像手段と、測定ヘッド及び測定ヘッド撮像手段の出
力に基づいて被測定物の３次元形状を求める演算手段と
を備えた形状測定装置であって、測定中にマーカを点滅
させることを特徴とする。
は、測定者によって自由に移動せしめられ、被測定物を
測定する測定ヘッドと、その測定ヘッドに配置されたマ
ーカと、そのマーカを所定の位置から撮像する測定ヘッ
ド撮像手段と、測定ヘッド及び測定ヘッド撮像手段の出
力に基づいて被測定物の３次元形状を求める演算手段と
を備えた形状測定装置であって、測定中にマーカを点滅
させることを特徴とする。
【０００９】このような構成において、測定ヘッドにて
測定された被測定物の座標は、測定ヘッド撮像手段にて
撮像されたマーカの座標に基づいて、予め定められた座
標軸上の座標に変換される。そして、この測定を、被測
定物の複数の個所で行うことにより、被測定物の３次元
形状が得られる。
測定された被測定物の座標は、測定ヘッド撮像手段にて
撮像されたマーカの座標に基づいて、予め定められた座
標軸上の座標に変換される。そして、この測定を、被測
定物の複数の個所で行うことにより、被測定物の３次元
形状が得られる。
【００１０】また、演算手段は、測定ヘッド撮像手段に
よって、マーカの点灯期間中に撮像された画像と、マー
カの消灯期間中に撮像された画像とに基づいてマーカの
像を抽出するものである。
よって、マーカの点灯期間中に撮像された画像と、マー
カの消灯期間中に撮像された画像とに基づいてマーカの
像を抽出するものである。
【００１１】具体的には、演算手段は、消灯期間中に撮
像された画像に基づいて排除領域を求め、得られた排除
領域の外側において、点灯期間中に撮像された画像から
マーカの像を抽出するものである。
像された画像に基づいて排除領域を求め、得られた排除
領域の外側において、点灯期間中に撮像された画像から
マーカの像を抽出するものである。
【００１２】このような構成とすることにより、マーカ
の消灯期間中において抽出された像は、外乱光による像
と考えられるため、この外乱光の像が現れた領域を排除
領域として、この排除領域内の像を測定に用いないよう
にすれば、点灯期間中のマーカの像が外乱光と区別さ
れ、正確に抽出される。
の消灯期間中において抽出された像は、外乱光による像
と考えられるため、この外乱光の像が現れた領域を排除
領域として、この排除領域内の像を測定に用いないよう
にすれば、点灯期間中のマーカの像が外乱光と区別さ
れ、正確に抽出される。
【００１３】また、排除領域は、マーカの点灯期間より
以前の消灯期間において撮像された画像の外乱光領域
と、マーカの点灯期間より以後の消灯期間において撮像
された画像の外乱光領域とに外接する領域である。
以前の消灯期間において撮像された画像の外乱光領域
と、マーカの点灯期間より以後の消灯期間において撮像
された画像の外乱光領域とに外接する領域である。
【００１４】測定ヘッドの移動方向は、測定者が測定ヘ
ッドを移動させているため、マーカの測定を行う点灯期
間の前後僅かの間に変化することは殆どない。このた
め、点灯期間の撮像画像における外乱光は、点灯期間前
後の消灯期間において得られた撮像画像それぞれの外乱
光領域にはさまれた位置となり、これにより、両外乱光
領域に外接する領域を排除領域とすることにより、適切
に点灯期間の撮像画像における外乱光が排除される。
ッドを移動させているため、マーカの測定を行う点灯期
間の前後僅かの間に変化することは殆どない。このた
め、点灯期間の撮像画像における外乱光は、点灯期間前
後の消灯期間において得られた撮像画像それぞれの外乱
光領域にはさまれた位置となり、これにより、両外乱光
領域に外接する領域を排除領域とすることにより、適切
に点灯期間の撮像画像における外乱光が排除される。
【００１５】また、測定ヘッドは、能動的なステレオ計
測方法によって被測定物上の測定点の位置を測定するも
のである。
測方法によって被測定物上の測定点の位置を測定するも
のである。
【００１６】また、演算手段は、測定ヘッドの出力を用
いて測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の測定
点の座標を求めるとともに、撮像手段の出力を用いて得
られるマーカの位置からワールド座標系における測定ヘ
ッドの位置に関する情報を求め、得られた測定ヘッドの
位置に関する情報に基づいて、測定ヘッド中心の座標系
における被測定物上の測定点の座標を、ワールド座標系
の座標に変換することにより、被測定物の３次元形状を
求めるものである。
いて測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の測定
点の座標を求めるとともに、撮像手段の出力を用いて得
られるマーカの位置からワールド座標系における測定ヘ
ッドの位置に関する情報を求め、得られた測定ヘッドの
位置に関する情報に基づいて、測定ヘッド中心の座標系
における被測定物上の測定点の座標を、ワールド座標系
の座標に変換することにより、被測定物の３次元形状を
求めるものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて説明する。 ［１］測定原理についての説明 図１は、本発明の一実施の形態における形状測定装置の
概略構成を示している。
いて説明する。 ［１］測定原理についての説明 図１は、本発明の一実施の形態における形状測定装置の
概略構成を示している。
【００１８】被測定物１００は、台２０１上に載せられ
ている。台２０１には、支柱２０２が取り付けられてい
る。支柱２０２の上部には、水平バー２０３が取り付け
られている。
ている。台２０１には、支柱２０２が取り付けられてい
る。支柱２０２の上部には、水平バー２０３が取り付け
られている。
【００１９】形状測定装置は、測定者によって自由に移
動せしめられる測定ヘッド１０と、水平バー２０３の両
端部に取り付けられたステレオカメラ２１、２２と、そ
れらの制御、各種演算等を行うパーソナルコンピュータ
からなる制御装置３０とを備えている。各ステレオカメ
ラ２１、２２の撮像レンズには、図２に示すマーカ１４
が放つ光の周波数帯を選択的に透過するバンドパスフィ
ルタ２３が取り付けられている。
動せしめられる測定ヘッド１０と、水平バー２０３の両
端部に取り付けられたステレオカメラ２１、２２と、そ
れらの制御、各種演算等を行うパーソナルコンピュータ
からなる制御装置３０とを備えている。各ステレオカメ
ラ２１、２２の撮像レンズには、図２に示すマーカ１４
が放つ光の周波数帯を選択的に透過するバンドパスフィ
ルタ２３が取り付けられている。
【００２０】図２は、図１における測定ヘッド１０の概
略構成を示している。
略構成を示している。
【００２１】測定ヘッド１０は、直方体形状で前方開口
のケーシング１１と、ケーシング１１内に収納された１
台のＣＣＤカメラ１２及びスリット光源１３と、ケーシ
ング１１の上面に設けられた６つのＬＥＤ光源１４ａ〜
１４ｆからなるマーカ１４とを備えている。スリット光
源１３としては、半導体レーザが用いられている。
のケーシング１１と、ケーシング１１内に収納された１
台のＣＣＤカメラ１２及びスリット光源１３と、ケーシ
ング１１の上面に設けられた６つのＬＥＤ光源１４ａ〜
１４ｆからなるマーカ１４とを備えている。スリット光
源１３としては、半導体レーザが用いられている。
【００２２】マーカ１４を構成する６つのＬＥＤ光源１
４ａ〜１４ｆは、測定ヘッド１０の方向を特定するため
に、点対称な配置とせず、測定ヘッド１０の中心線に対
し線対称な配置となっている。ここでは、ケーシング１
１の上面にＬＥＤ光源１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４
ｅ、１４ｆの５点が長方形をなすように配置され、それ
ら５点の重心にＬＥＤ光源１４ａが配置される。
４ａ〜１４ｆは、測定ヘッド１０の方向を特定するため
に、点対称な配置とせず、測定ヘッド１０の中心線に対
し線対称な配置となっている。ここでは、ケーシング１
１の上面にＬＥＤ光源１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４
ｅ、１４ｆの５点が長方形をなすように配置され、それ
ら５点の重心にＬＥＤ光源１４ａが配置される。
【００２３】また、マーカ１４を構成する６つのＬＥＤ
光源１４ａ〜１４ｆは、所定の周期で点滅している。
光源１４ａ〜１４ｆは、所定の周期で点滅している。
【００２４】なお、３次元空間中での測定ヘッド１０の
位置及び方向を測定するためには、マーカとして少なく
とも３個のＬＥＤ光源があれば十分であるが、４個以上
のＬＥＤ光源を用いることにより、測定ヘッド１０の位
置及び方向の測定精度が最小２乗的に向上できる。
位置及び方向を測定するためには、マーカとして少なく
とも３個のＬＥＤ光源があれば十分であるが、４個以上
のＬＥＤ光源を用いることにより、測定ヘッド１０の位
置及び方向の測定精度が最小２乗的に向上できる。
【００２５】図３は、形状測定装置の測定原理を示して
いる。
いる。
【００２６】測定者によって自由に移動せしめられる測
定ヘッド１０を用いてある測定点Ａの座標を測定する。
測定された座標を測定ヘッド中心の座標系における座標
（ｘ，ｙ，ｚ）で表す。この座標系は、測定ヘッド１０
の移動とともに移動する座標系である。
定ヘッド１０を用いてある測定点Ａの座標を測定する。
測定された座標を測定ヘッド中心の座標系における座標
（ｘ，ｙ，ｚ）で表す。この座標系は、測定ヘッド１０
の移動とともに移動する座標系である。
【００２７】一方、被測定物１００の形状は、固定した
座標系で表され、この座標系をワールド座標と呼ぶ。測
定ヘッド１０によって測定された測定点のワールド座標
系における座標を（Ｘ，Ｙ，Ｚ）とする。被測定物１０
０の形状はワールド座標系で記述する必要があるため、
測定ヘッド１０によって測定された測定点Ａの測定ヘッ
ド中心の座標系における座標（ｘ，ｙ，ｚ）を、ワール
ド座標系に変換する。この変換は、測定ヘッド１０の移
動を表す回転行列Ｒと並進ベクトルｔとを用いて、次の
数式１に基づいて行われる。
座標系で表され、この座標系をワールド座標と呼ぶ。測
定ヘッド１０によって測定された測定点のワールド座標
系における座標を（Ｘ，Ｙ，Ｚ）とする。被測定物１０
０の形状はワールド座標系で記述する必要があるため、
測定ヘッド１０によって測定された測定点Ａの測定ヘッ
ド中心の座標系における座標（ｘ，ｙ，ｚ）を、ワール
ド座標系に変換する。この変換は、測定ヘッド１０の移
動を表す回転行列Ｒと並進ベクトルｔとを用いて、次の
数式１に基づいて行われる。
【００２８】
【数１】
【００２９】したがって、ワールド座標系における測定
ヘッド１０の位置及び方向を、回転行列Ｒと並進ベクト
ルｔとして求めることで、測定ヘッド中心の座標系にお
ける座標（ｘ，ｙ，ｚ）を、ワールド座標系に変換する
ことができる。
ヘッド１０の位置及び方向を、回転行列Ｒと並進ベクト
ルｔとして求めることで、測定ヘッド中心の座標系にお
ける座標（ｘ，ｙ，ｚ）を、ワールド座標系に変換する
ことができる。
【００３０】測定ヘッド１０を被測定物１００の周囲で
移動させながら、上記の処理を行い、その都度得られる
測定点のワールド座標系における座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ）の
集合として、被測定物１００の形状が記述される。
移動させながら、上記の処理を行い、その都度得られる
測定点のワールド座標系における座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ）の
集合として、被測定物１００の形状が記述される。
【００３１】この形状測定装置による形状測定は、次の
ような処理手順によって実行される。
ような処理手順によって実行される。
【００３２】第１ステップ：測定ヘッド１０を用いて、
測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の測定点の
座標を求める。
測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の測定点の
座標を求める。
【００３３】第２ステップ：ワールド座標系での測定ヘ
ッド１０の位置に関する情報、すなわち、ワールド座標
系での測定ヘッド１０の移動を表す回転行列Ｒと並進ベ
クトルｔとを、測定ヘッド１０上に設けられたマーカ１
４をステレオカメラ２１、２２によりステレオ画像計測
することにより求める。
ッド１０の位置に関する情報、すなわち、ワールド座標
系での測定ヘッド１０の移動を表す回転行列Ｒと並進ベ
クトルｔとを、測定ヘッド１０上に設けられたマーカ１
４をステレオカメラ２１、２２によりステレオ画像計測
することにより求める。
【００３４】第３ステップ：第２ステップで得られた回
転行列Ｒと並進ベクトルｔとに基づいて、第１ステップ
で求めた測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の
測定点の座標を、ワールド座標系の座標に変換する。
転行列Ｒと並進ベクトルｔとに基づいて、第１ステップ
で求めた測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の
測定点の座標を、ワールド座標系の座標に変換する。
【００３５】以下、これら各ステップについて説明す
る。 〔２〕第１ステップについての説明 図４は測定ヘッド１０による測定点の位置測定方法を示
している。
る。 〔２〕第１ステップについての説明 図４は測定ヘッド１０による測定点の位置測定方法を示
している。
【００３６】測定ヘッド中心の座標系とは、ＣＣＤカメ
ラ１２の光学中心を原点とし、光軸方向をｚ軸、ＣＣＤ
カメラ１２の水平方向をｘ軸、ＣＣＤカメラ１２の垂直
方向をｙ軸とする座標系である。ＣＣＤカメラ１２の画
像面Ｓは、原点から焦点距離ｆの位置に存在する。つま
り、画像面Ｓは、ｘ−ｙ平面に平行でかつｚ＝ｆである
平面である。
ラ１２の光学中心を原点とし、光軸方向をｚ軸、ＣＣＤ
カメラ１２の水平方向をｘ軸、ＣＣＤカメラ１２の垂直
方向をｙ軸とする座標系である。ＣＣＤカメラ１２の画
像面Ｓは、原点から焦点距離ｆの位置に存在する。つま
り、画像面Ｓは、ｘ−ｙ平面に平行でかつｚ＝ｆである
平面である。
【００３７】測定ヘッド１０による位置計測方法自体
は、光切断法と呼ばれる公知の測定方法である。被測定
物１００の表面上におけるスリット光源１３からのスリ
ット光が照射されている線上の所定の点を測定点Ａとす
る。
は、光切断法と呼ばれる公知の測定方法である。被測定
物１００の表面上におけるスリット光源１３からのスリ
ット光が照射されている線上の所定の点を測定点Ａとす
る。
【００３８】この測定点Ａの測定ヘッド中心の座標を
（ｘ，ｙ，ｚ）とし、画像面Ｓ上での測定点Ａに対応す
る観察点Ａ´の座標を（ｘｓ，ｙｓ，ｆ）とし、スリッ
ト光を表す平面の方程式をａｘ＋ｂｙ＋ｃｚ＋ｄ＝０と
する。観察点Ａ´の座標（ｘｓ，ｙｓ，ｆ）におけるｆ
は、ＣＣＤカメラ１２の焦点距離として既知であり、
（ｘｓ，ｙｓ）は画像面で観察されるスリット光の画素
位置から求められる。
（ｘ，ｙ，ｚ）とし、画像面Ｓ上での測定点Ａに対応す
る観察点Ａ´の座標を（ｘｓ，ｙｓ，ｆ）とし、スリッ
ト光を表す平面の方程式をａｘ＋ｂｙ＋ｃｚ＋ｄ＝０と
する。観察点Ａ´の座標（ｘｓ，ｙｓ，ｆ）におけるｆ
は、ＣＣＤカメラ１２の焦点距離として既知であり、
（ｘｓ，ｙｓ）は画像面で観察されるスリット光の画素
位置から求められる。
【００３９】スリット光を表す平面の方程式は測定ヘッ
ド１０の校正によって求められている。したがって、
ｘ，ｙ，ｚ，αを未知数とする次の数式２で表される連
立方程式を解くことにより、（ｘ，ｙ，ｚ）が求められ
る。
ド１０の校正によって求められている。したがって、
ｘ，ｙ，ｚ，αを未知数とする次の数式２で表される連
立方程式を解くことにより、（ｘ，ｙ，ｚ）が求められ
る。
【００４０】
【数２】
【００４１】この処理は、ＣＣＤカメラ１２の出力に基
づいて、制御装置３０によって行われる。 〔３〕第２ステップについての説明 図５は第２ステップの処理順序を示すフローチャートで
ある。以下に説明する一連の処理は、ステレオカメラ２
１、２２の出力に基づいて、制御装置３０によって行わ
れる。ここでは、特に、スリット光源１３から照射され
たスリット光が被測定物１００に対して、図６に示すよ
うな状態で照射されている場合について説明する。
づいて、制御装置３０によって行われる。 〔３〕第２ステップについての説明 図５は第２ステップの処理順序を示すフローチャートで
ある。以下に説明する一連の処理は、ステレオカメラ２
１、２２の出力に基づいて、制御装置３０によって行わ
れる。ここでは、特に、スリット光源１３から照射され
たスリット光が被測定物１００に対して、図６に示すよ
うな状態で照射されている場合について説明する。
【００４２】第２のステップでは、まず、ステレオカメ
ラ２１で撮像された撮像画像のうち、図７（ａ）〜
（ｃ）に示すように、時刻ｔn-1、ｔn、ｔn+1における
撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn）、Ｐ１（ｔn+1）
が制御装置３０に入力されるとともに、ステレオカメラ
２２で撮像された撮像画像のうち時刻ｔn-1、ｔn、ｔ
n+1における撮像画像Ｐ２（ｔn-1）、Ｐ２（ｔn）、Ｐ
２（ｔn+1）が入力される。ここで、時刻ｔnは所定の周
期で点滅するマーカ１４が点灯している時刻であり、時
刻ｔn-1、ｔn+1はともにマーカ１４が消灯している時刻
である。（ステップＳ０１）次に、パラメータＮが０に
設定され、入力された撮像画像のうち、ステレオカメラ
２１の撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn）、Ｐ１（ｔ
n+1）について、２値化処理が行われる。
ラ２１で撮像された撮像画像のうち、図７（ａ）〜
（ｃ）に示すように、時刻ｔn-1、ｔn、ｔn+1における
撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn）、Ｐ１（ｔn+1）
が制御装置３０に入力されるとともに、ステレオカメラ
２２で撮像された撮像画像のうち時刻ｔn-1、ｔn、ｔ
n+1における撮像画像Ｐ２（ｔn-1）、Ｐ２（ｔn）、Ｐ
２（ｔn+1）が入力される。ここで、時刻ｔnは所定の周
期で点滅するマーカ１４が点灯している時刻であり、時
刻ｔn-1、ｔn+1はともにマーカ１４が消灯している時刻
である。（ステップＳ０１）次に、パラメータＮが０に
設定され、入力された撮像画像のうち、ステレオカメラ
２１の撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn）、Ｐ１（ｔ
n+1）について、２値化処理が行われる。
【００４３】このとき、各撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ
１（ｔn）、Ｐ１（ｔn+1）は、マーカ１４のＬＥＤ光源
１４ａ〜１４ｆが消灯いるため、２値化処理することに
より、撮像画像Ｐ１（ｔn-1）においては、スリット光
源１３から照射され、被測定物１００に映ったスリット
光の像Ｇn-1が外乱光として抽出され、同様に、撮像画
像Ｐ１（ｔn+1）においては、スリット光源１３から照
射され、被測定物１００に移ったスリット光の像Ｇn+1
が外乱光として抽出される。
１（ｔn）、Ｐ１（ｔn+1）は、マーカ１４のＬＥＤ光源
１４ａ〜１４ｆが消灯いるため、２値化処理することに
より、撮像画像Ｐ１（ｔn-1）においては、スリット光
源１３から照射され、被測定物１００に映ったスリット
光の像Ｇn-1が外乱光として抽出され、同様に、撮像画
像Ｐ１（ｔn+1）においては、スリット光源１３から照
射され、被測定物１００に移ったスリット光の像Ｇn+1
が外乱光として抽出される。
【００４４】また、撮像画像Ｐ１（ｔn）においては、
マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが点灯している
ため、スリット光源１３から照射され、被測定物１００
に映ったスリット光の像に、各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４
ｆの像を加えた７個の像Ｉ1〜Ｉ7が抽出される。（ステ
ップＳ０２〜Ｓ０３） 次に、マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが消灯し
ている撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn+1）に基づい
て、先のステップＳ０３において抽出された外乱光Ｇ
n-1、Ｇn+1を用いて、排除領域Ｑが設定される。この排
除領域Ｑは、図７（ｄ）において破線で示すように、撮
像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn+1）を合成した合成画
像上における外乱光Ｇn-1、Ｇn+1を囲む最小の矩形領域
として算出され、設定される。（ステップＳ０４） 次に、マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが点灯し
ている撮像画像Ｐ１（ｔn）において、図７（ｂ）にお
いて破線で示すように、先のステップＳ０４にて得られ
た排除領域Ｑに対応する領域Ｑ´が設定される。
マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが点灯している
ため、スリット光源１３から照射され、被測定物１００
に映ったスリット光の像に、各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４
ｆの像を加えた７個の像Ｉ1〜Ｉ7が抽出される。（ステ
ップＳ０２〜Ｓ０３） 次に、マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが消灯し
ている撮像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn+1）に基づい
て、先のステップＳ０３において抽出された外乱光Ｇ
n-1、Ｇn+1を用いて、排除領域Ｑが設定される。この排
除領域Ｑは、図７（ｄ）において破線で示すように、撮
像画像Ｐ１（ｔn-1）、Ｐ１（ｔn+1）を合成した合成画
像上における外乱光Ｇn-1、Ｇn+1を囲む最小の矩形領域
として算出され、設定される。（ステップＳ０４） 次に、マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆが点灯し
ている撮像画像Ｐ１（ｔn）において、図７（ｂ）にお
いて破線で示すように、先のステップＳ０４にて得られ
た排除領域Ｑに対応する領域Ｑ´が設定される。
【００４５】そして、マーカ１４のＬＥＤ光源１４ａ〜
１４ｆが点灯している撮像画像Ｐ１（ｔn）において、
この領域Ｑ´に含まれる像が外乱光として排除され、残
りの像がマーカ１４の像として抽出される。ここでは、
図７（ｂ）に示すように、像Ｉ7が外乱光として排除さ
れ、像Ｉ1〜Ｉ6がマーカ１４の像として抽出される。
（ステップＳ０５） 次に、抽出された像Ｉ1〜Ｉ6について、ラベリング処理
が行われる。このラベリング処理は、まず、抽出された
像Ｉ1〜Ｉ6について重心を算出し、その重心に最も近い
像Ｉ1がＬＥＤ光源１４ａの像として識別されるととも
に、そのＬＥＤ光源１４ａの像に最も近い像Ｉ2がＬＥ
Ｄ光源１４ｄの像として識別される。そして、残りの４
個の像Ｉ3〜Ｉ6については、ＬＥＤ光源１４ｂの像Ｉ2
を基準に、それぞれ時計回りにＬＥＤ光源１４ｃ、１４
ｂ、１４ｆ、１４ｅの像として対応付けられる。（ステ
ップＳ０６） そして、マーカ１４の各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆと対
応付けられた像Ｉ1〜Ｉ6について、ステレオカメラ２１
におけるＣＣＤ（図示省略）上の位置が算出される。
（ステップＳ０７） 次に、パラメータＮが１に設定され（ステップＳ０８〜
Ｓ０９）、入力された撮像画像のうち、ステレオカメラ
２２の撮像画像Ｐ２（ｔn-1）、Ｐ２（ｔn）、Ｐ２（ｔ
n+1）について、上述したステップＳ０２〜Ｓ０７の処
理が行われ、マーカ１４の各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆ
の像について、ステレオカメラ２２におけるＣＣＤ（図
示省略）上の位置が算出される。
１４ｆが点灯している撮像画像Ｐ１（ｔn）において、
この領域Ｑ´に含まれる像が外乱光として排除され、残
りの像がマーカ１４の像として抽出される。ここでは、
図７（ｂ）に示すように、像Ｉ7が外乱光として排除さ
れ、像Ｉ1〜Ｉ6がマーカ１４の像として抽出される。
（ステップＳ０５） 次に、抽出された像Ｉ1〜Ｉ6について、ラベリング処理
が行われる。このラベリング処理は、まず、抽出された
像Ｉ1〜Ｉ6について重心を算出し、その重心に最も近い
像Ｉ1がＬＥＤ光源１４ａの像として識別されるととも
に、そのＬＥＤ光源１４ａの像に最も近い像Ｉ2がＬＥ
Ｄ光源１４ｄの像として識別される。そして、残りの４
個の像Ｉ3〜Ｉ6については、ＬＥＤ光源１４ｂの像Ｉ2
を基準に、それぞれ時計回りにＬＥＤ光源１４ｃ、１４
ｂ、１４ｆ、１４ｅの像として対応付けられる。（ステ
ップＳ０６） そして、マーカ１４の各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆと対
応付けられた像Ｉ1〜Ｉ6について、ステレオカメラ２１
におけるＣＣＤ（図示省略）上の位置が算出される。
（ステップＳ０７） 次に、パラメータＮが１に設定され（ステップＳ０８〜
Ｓ０９）、入力された撮像画像のうち、ステレオカメラ
２２の撮像画像Ｐ２（ｔn-1）、Ｐ２（ｔn）、Ｐ２（ｔ
n+1）について、上述したステップＳ０２〜Ｓ０７の処
理が行われ、マーカ１４の各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆ
の像について、ステレオカメラ２２におけるＣＣＤ（図
示省略）上の位置が算出される。
【００４６】このようにして得られた、ステレオカメラ
２１、２２それぞれにおけるＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆ
の像から、ステレオ法としてよく知られている手法を用
いて、ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標系にお
ける座標が算出される。（ステップＳ１０） 次に、測定ヘッド１０の移動を表す回転行列Ｒと並進ベ
クトルｔが求められる。つまり、予め分かっている各Ｌ
ＥＤ光源１４ａ〜１４ｆの測定ヘッド中心の座標を（ｘ
i 、ｘi ，ｘi ）とする。ただし、ｉは、１、２…６で
ある。また、ステレオカメラ２１、２２によって計測さ
れた各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標を（Ｘ
i ，Ｙi ，Ｚi ）とする。測定ヘッド１０の移動を表す
回転行列Ｒと並進ベクトルｔは、次の数式３を満足する
行列Ｒとベクトルｔとして求められる。回転行列Ｒと並
進ベクトルｔの算出は、制御装置３０によって行われ
る。（ステップＳ１１）
２１、２２それぞれにおけるＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆ
の像から、ステレオ法としてよく知られている手法を用
いて、ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標系にお
ける座標が算出される。（ステップＳ１０） 次に、測定ヘッド１０の移動を表す回転行列Ｒと並進ベ
クトルｔが求められる。つまり、予め分かっている各Ｌ
ＥＤ光源１４ａ〜１４ｆの測定ヘッド中心の座標を（ｘ
i 、ｘi ，ｘi ）とする。ただし、ｉは、１、２…６で
ある。また、ステレオカメラ２１、２２によって計測さ
れた各ＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標を（Ｘ
i ，Ｙi ，Ｚi ）とする。測定ヘッド１０の移動を表す
回転行列Ｒと並進ベクトルｔは、次の数式３を満足する
行列Ｒとベクトルｔとして求められる。回転行列Ｒと並
進ベクトルｔの算出は、制御装置３０によって行われ
る。（ステップＳ１１）
【００４７】
【数３】
【００４８】〔４〕第３ステップについての説明 第２ステップで得られた回転行列Ｒと並進ベクトルｔ
と、前記数１とを用いて、測定ヘッド１０によって測定
された測定点の測定ヘッド中心の座標（ｘ，ｙ，ｚ）
が、ワールド座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ）に変換されることによ
り、測定点のワールド座標系における座標が求められ
る。この座標変換は、制御装置３０によって行われる。
と、前記数１とを用いて、測定ヘッド１０によって測定
された測定点の測定ヘッド中心の座標（ｘ，ｙ，ｚ）
が、ワールド座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ）に変換されることによ
り、測定点のワールド座標系における座標が求められ
る。この座標変換は、制御装置３０によって行われる。
【００４９】このように本実施の形態によれば、マーカ
１４が消灯している時の撮像画像から外乱光が含まれる
排除領域を設定し、点灯時の撮像画像からその排除領域
に対応する領域を除いて、マーカ１４の像を抽出してい
るため、外乱光の映り込みによる誤認をなくすことがで
き、被測定物１００の３次元形状を精度良く測定するこ
とが可能となる。
１４が消灯している時の撮像画像から外乱光が含まれる
排除領域を設定し、点灯時の撮像画像からその排除領域
に対応する領域を除いて、マーカ１４の像を抽出してい
るため、外乱光の映り込みによる誤認をなくすことがで
き、被測定物１００の３次元形状を精度良く測定するこ
とが可能となる。
【００５０】また、本実施の形態によれば、排除領域と
して、マーカ１４の点灯期間より前の消灯期間における
撮像画像の外乱光と、マーカ１４の点灯期間より後の消
灯期間における撮像画像の外乱光とに外接する領域を用
いているため、両消灯期間にはさまれる点灯期間の撮像
画像における外乱光を適切に排除することができ、更
に、被測定物１００の３次元形状を精度良く測定するこ
とが可能となる。
して、マーカ１４の点灯期間より前の消灯期間における
撮像画像の外乱光と、マーカ１４の点灯期間より後の消
灯期間における撮像画像の外乱光とに外接する領域を用
いているため、両消灯期間にはさまれる点灯期間の撮像
画像における外乱光を適切に排除することができ、更
に、被測定物１００の３次元形状を精度良く測定するこ
とが可能となる。
【００５１】なお、上記実施の形態では、ワールド座標
系における測定ヘッド１０の移動を表す回転ベクトルＲ
および並進ベクトルｔを求めるために、２台のカメラ
（ステレオカメラ）２１、２２によってマーカ１４を撮
像し、この撮像画像に基づいてマーカ１４を構成するＬ
ＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標を算出している
が、１台のカメラによってマーカ１４を撮像し、この撮
像画像に基づいてマーカ１４を構成するＬＥＤ光源のワ
ールド座標を算出するようにしてもよい。
系における測定ヘッド１０の移動を表す回転ベクトルＲ
および並進ベクトルｔを求めるために、２台のカメラ
（ステレオカメラ）２１、２２によってマーカ１４を撮
像し、この撮像画像に基づいてマーカ１４を構成するＬ
ＥＤ光源１４ａ〜１４ｆのワールド座標を算出している
が、１台のカメラによってマーカ１４を撮像し、この撮
像画像に基づいてマーカ１４を構成するＬＥＤ光源のワ
ールド座標を算出するようにしてもよい。
【００５２】また、台２０１上等に所定のパターンを有
するシートを固定しておき、測定ヘッドにこのシートを
撮像するためのカメラを取付け、このカメラの撮像画像
に基づいてワールド座標系における測定ヘッド１０の移
動を表す回転ベクトルＲおよび並進ベクトルｔを求める
ようにしてもよい。
するシートを固定しておき、測定ヘッドにこのシートを
撮像するためのカメラを取付け、このカメラの撮像画像
に基づいてワールド座標系における測定ヘッド１０の移
動を表す回転ベクトルＲおよび並進ベクトルｔを求める
ようにしてもよい。
【００５３】また、測定ヘッド１０としては、能動的な
ステレオ計測方法によって被測定物上の測定点の位置を
測定するものであれば、上述した実施の形態と異なるも
のであってもよい。例えば、スリット光源１３の代わり
にスポット光源を用いてもよい。また、２台のＣＣＤカ
メラによって測定点の位置（測定ヘッド中心の座標）を
測定するようにしてもよい。
ステレオ計測方法によって被測定物上の測定点の位置を
測定するものであれば、上述した実施の形態と異なるも
のであってもよい。例えば、スリット光源１３の代わり
にスポット光源を用いてもよい。また、２台のＣＣＤカ
メラによって測定点の位置（測定ヘッド中心の座標）を
測定するようにしてもよい。
【００５４】また、上記実施の形態においては、マーカ
１４が消灯している２つの時刻における画像、すなわち
２枚の画像を用いて排除領域Ｑを設定する場合について
説明したが、１つの時刻、すなわち１枚の画像を用いて
排除領域Ｑを設定してもよい。
１４が消灯している２つの時刻における画像、すなわち
２枚の画像を用いて排除領域Ｑを設定する場合について
説明したが、１つの時刻、すなわち１枚の画像を用いて
排除領域Ｑを設定してもよい。
【００５５】また、上記実施の形態においては、スリッ
ト光源１３から出射され、被測定物１００に投影された
像が外乱光として映りこんだ場合について説明したが、
それ以外にも、照明光やその反射光等が外乱光として映
り込む場合がある。
ト光源１３から出射され、被測定物１００に投影された
像が外乱光として映りこんだ場合について説明したが、
それ以外にも、照明光やその反射光等が外乱光として映
り込む場合がある。
【００５６】また、上記実施の形態においては、マーカ
１４としてＬＥＤ光源６個を用いる場合について説明し
たが、ＬＥＤ光源の数は３以上であればよい。
１４としてＬＥＤ光源６個を用いる場合について説明し
たが、ＬＥＤ光源の数は３以上であればよい。
【００５７】また、上記実施の形態においては、排除領
域を除く領域からマーカ１４を構成する６個のＬＥＤ光
源１４ａ〜１４ｆの像全てが抽出される場合について説
明したが、６個のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆの像のうち
３個以上の像が抽出されればよい。但し、抽出された像
の数が３個未満であれば、測定不能として処理が中止さ
れる。
域を除く領域からマーカ１４を構成する６個のＬＥＤ光
源１４ａ〜１４ｆの像全てが抽出される場合について説
明したが、６個のＬＥＤ光源１４ａ〜１４ｆの像のうち
３個以上の像が抽出されればよい。但し、抽出された像
の数が３個未満であれば、測定不能として処理が中止さ
れる。
【００５８】
【発明の効果】このように本実施の形態によれば、マー
カが消灯している時の撮像画像から外乱光が含まれる排
除領域を設定し、点灯時の撮像画像からその排除領域に
対応する領域を除いて、マーカの像を抽出しているた
め、外乱光の映り込みによる誤認をなくすことができ、
被測定物の３次元形状を精度良く測定することが可能と
なる。
カが消灯している時の撮像画像から外乱光が含まれる排
除領域を設定し、点灯時の撮像画像からその排除領域に
対応する領域を除いて、マーカの像を抽出しているた
め、外乱光の映り込みによる誤認をなくすことができ、
被測定物の３次元形状を精度良く測定することが可能と
なる。
【図１】 本発明の一実施の形態における形状測定装置
の概略構成を表す構成図である。
の概略構成を表す構成図である。
【図２】 図１の形状測定装置における測定ヘッドの概
略構成を示す斜視図である。
略構成を示す斜視図である。
【図３】 測定原理を説明する説明図である。
【図４】 測定ヘッドによる測定点の位置測定方法を説
明する説明図である。
明する説明図である。
【図５】 第２ステップの処理手順を説明するフローチ
ャートである。
ャートである。
【図６】 測定ヘッドによる測定の様子の一例を示す説
明図である。
明図である。
【図７】 図６におけるステレオカメラの撮像画像を説
明する説明図である。
明する説明図である。
１０ ：測定ヘッド １２ ：ＣＣＤカメラ １３ ：スリット光源 １４ ：マーカ ２１ ：ステレオカメラ ２２ ：ステレオカメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 博明 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 Ｆターム(参考） 2F065 AA04 AA37 AA53 BB29 DD00 DD12 FF01 FF02 FF05 FF09 GG06 GG07 HH04 HH05 JJ03 JJ05 JJ26 NN01 QQ04 QQ25 QQ31 QQ36
Claims (6)
- 【請求項１】 測定者によって自由に移動せしめられ、
被測定物を測定する測定ヘッドと、該測定ヘッドに配置
されたマーカと、該マーカを所定の位置から撮像する測
定ヘッド撮像手段と、前記測定ヘッド及び前記測定ヘッ
ド撮像手段の出力に基づいて前記被測定物の３次元形状
を求める演算手段とを備えた形状測定装置であって、測
定中に前記マーカを点滅させることを特徴とする形状測
定装置。 - 【請求項２】 前記演算手段は、前記測定ヘッド撮像手
段によって、前記マーカの点灯期間中に撮像された画像
と、前記マーカの消灯期間中に撮像された画像とに基づ
いて前記マーカの像を抽出するものである請求項１記載
の形状測定装置。 - 【請求項３】 前記演算手段は、前記消灯期間中に撮像
された画像に基づいて排除領域を求め、得られた排除領
域の外側において、前記点灯期間中に撮像された画像か
ら前記マーカの像を抽出するものである請求項２記載の
形状測定装置。 - 【請求項４】 前記排除領域は、前記マーカの点灯期間
より以前の消灯期間において撮像された画像の外乱光領
域と、前記マーカの点灯期間より以後の消灯期間におい
て撮像された画像の外乱光領域とに外接する領域である
請求項３記載の形状測定装置。 - 【請求項５】 前記測定ヘッドは、能動的なステレオ計
測方法によって被測定物上の測定点の位置を測定するも
のである請求項１ないし４のいずれかに記載の形状測定
装置。 - 【請求項６】 前記演算手段は、前記測定ヘッドの出力
を用いて測定ヘッド中心の座標系における前記被測定物
上の測定点の座標を求めるとともに、前記撮像手段の出
力を用いて得られる前記マーカの位置からワールド座標
系における前記測定ヘッドの位置に関する情報を求め、
得られた測定ヘッドの位置に関する情報に基づいて、前
記測定ヘッド中心の座標系における被測定物上の測定点
の座標を、ワールド座標系の座標に変換することによ
り、前記被測定物の３次元形状を求めるものである請求
項１ないし５のいずれかに記載の形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000055623A JP2001241927A (ja) | 2000-03-01 | 2000-03-01 | 形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000055623A JP2001241927A (ja) | 2000-03-01 | 2000-03-01 | 形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001241927A true JP2001241927A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18576714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000055623A Pending JP2001241927A (ja) | 2000-03-01 | 2000-03-01 | 形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001241927A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121150A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Sunx Ltd | 表面形状検出装置 |
| JP2007212430A (ja) * | 2006-08-07 | 2007-08-23 | Kurabo Ind Ltd | 写真測量装置及び写真測量システム |
| US7750969B2 (en) | 2004-07-21 | 2010-07-06 | Japan Science And Technology Agency | Camera calibration system and three-dimensional measuring system |
| JP2010223909A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Fuji Xerox Co Ltd | 位置・姿勢認識方法、部品把持方法、部品配置方法、部品組立方法、位置・姿勢認識装置、部品把持装置、部品配置装置、および部品組立装置 |
| KR20140027868A (ko) * | 2012-08-27 | 2014-03-07 | 더 보잉 컴파니 | 워크피스를 검사하기 위한 방법 및 시스템 |
-
2000
- 2000-03-01 JP JP2000055623A patent/JP2001241927A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7750969B2 (en) | 2004-07-21 | 2010-07-06 | Japan Science And Technology Agency | Camera calibration system and three-dimensional measuring system |
| JP2007121150A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Sunx Ltd | 表面形状検出装置 |
| JP2007212430A (ja) * | 2006-08-07 | 2007-08-23 | Kurabo Ind Ltd | 写真測量装置及び写真測量システム |
| JP2010223909A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Fuji Xerox Co Ltd | 位置・姿勢認識方法、部品把持方法、部品配置方法、部品組立方法、位置・姿勢認識装置、部品把持装置、部品配置装置、および部品組立装置 |
| KR20140027868A (ko) * | 2012-08-27 | 2014-03-07 | 더 보잉 컴파니 | 워크피스를 검사하기 위한 방법 및 시스템 |
| KR102030854B1 (ko) | 2012-08-27 | 2019-10-10 | 더 보잉 컴파니 | 워크피스를 검사하기 위한 방법 및 시스템 |
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