JP2001237854A - Ａｔｍ装置及びその導通試験方法 - Google Patents
Ａｔｍ装置及びその導通試験方法Info
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- JP2001237854A JP2001237854A JP2000048995A JP2000048995A JP2001237854A JP 2001237854 A JP2001237854 A JP 2001237854A JP 2000048995 A JP2000048995 A JP 2000048995A JP 2000048995 A JP2000048995 A JP 2000048995A JP 2001237854 A JP2001237854 A JP 2001237854A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＳＡＲ機能を搭載したＡＴＭ装置及びセル導
通試験方法に関し、導通試験用セルを送受信する専用の
試験装置を用いることなく、セル導通試験を可能とし、
セル導通試験の適用ルート範囲の拡大化、導通試験用セ
ルの伝送帯域の増大化を可能にする。 【解決手段】 ＡＴＭ交換機の局間又は局内信号処理制
御装置、セル多重分離装置、リモート局信号終端装置等
のセル組立て分解機能（ＳＡＲ）機能部１−１を用い、
そのセル生成／送信／受信／チェック機能を利用し、導
通試験用セルを生成送信し、試験対象導通路の折返しポ
イント１−３1 ，３2 ，３3 で折返された導通試験用セ
ルをＳＡＲ機能部１−１で受信チェックし、ＳＡＲ機能
部と試験装置とを共用化する。ＳＡＲ機能は任意のＳＡ
Ｒ機能搭載装置を利用することができる。また、複数の
ＳＡＲ機能部を連動させ、導通試験用セルの伝送帯域の
増大させることが可能である。
通試験方法に関し、導通試験用セルを送受信する専用の
試験装置を用いることなく、セル導通試験を可能とし、
セル導通試験の適用ルート範囲の拡大化、導通試験用セ
ルの伝送帯域の増大化を可能にする。 【解決手段】 ＡＴＭ交換機の局間又は局内信号処理制
御装置、セル多重分離装置、リモート局信号終端装置等
のセル組立て分解機能（ＳＡＲ）機能部１−１を用い、
そのセル生成／送信／受信／チェック機能を利用し、導
通試験用セルを生成送信し、試験対象導通路の折返しポ
イント１−３1 ，３2 ，３3 で折返された導通試験用セ
ルをＳＡＲ機能部１−１で受信チェックし、ＳＡＲ機能
部と試験装置とを共用化する。ＳＡＲ機能は任意のＳＡ
Ｒ機能搭載装置を利用することができる。また、複数の
ＳＡＲ機能部を連動させ、導通試験用セルの伝送帯域の
増大させることが可能である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非同期転送モード
（ＡＴＭ：Asynchronous Transfer Mode）による通信装
置（以下、ＡＴＭ装置という。）及びその導通試験方法
に関し、特に、ＡＴＭ交換機に必須の構成要素である局
間信号処理制御装置、局内信号処理制御装置又はＡＴＭ
セル多重／分離装置等のように、ＡＴＭアダプテーショ
ンレイヤにおける送受データ及びＡＴＭセルに対してセ
グメンテーション及びリアセンブルを行うＳＡＲ（Segm
entation And Reassemble Sublayer）機能を搭載したＡ
ＴＭ装置及び該ＡＴＭ装置におけるセル導通試験方法に
関する。
（ＡＴＭ：Asynchronous Transfer Mode）による通信装
置（以下、ＡＴＭ装置という。）及びその導通試験方法
に関し、特に、ＡＴＭ交換機に必須の構成要素である局
間信号処理制御装置、局内信号処理制御装置又はＡＴＭ
セル多重／分離装置等のように、ＡＴＭアダプテーショ
ンレイヤにおける送受データ及びＡＴＭセルに対してセ
グメンテーション及びリアセンブルを行うＳＡＲ（Segm
entation And Reassemble Sublayer）機能を搭載したＡ
ＴＭ装置及び該ＡＴＭ装置におけるセル導通試験方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＡＴＭ交換機におけるセル導通試
験は、例えば特開平７−３８５６５号公報等に記載され
ているように、専用の試験装置を設け、該試験装置から
導通試験用セルをＡＴＭ交換機内に送信し、ＡＴＭ交換
機内で折返し戻された導通試験用セルを該試験装置で受
信し、ＡＴＭ交換機内のセル導通試験を行うもの、或い
は、特開平１１−１７６８１号公報等に記載されている
ように、シグナリングセル送受信処理部を用い、送信シ
グナリングチャンネルと受信シグナリングチャンネノレを
個別に設定し、送信シグナリングチャンネルから送出し
たシグナリングセルを受信シグナリングチャンネルに折
返すことにより、プロトコルの正常性を含めた導通試験
を行うものであった。
験は、例えば特開平７−３８５６５号公報等に記載され
ているように、専用の試験装置を設け、該試験装置から
導通試験用セルをＡＴＭ交換機内に送信し、ＡＴＭ交換
機内で折返し戻された導通試験用セルを該試験装置で受
信し、ＡＴＭ交換機内のセル導通試験を行うもの、或い
は、特開平１１−１７６８１号公報等に記載されている
ように、シグナリングセル送受信処理部を用い、送信シ
グナリングチャンネルと受信シグナリングチャンネノレを
個別に設定し、送信シグナリングチャンネルから送出し
たシグナリングセルを受信シグナリングチャンネルに折
返すことにより、プロトコルの正常性を含めた導通試験
を行うものであった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】導通試験用セルを送受
信する専用の試験装置を設けて行う従来のセル導通試験
は、専用の試験装置を設ける必要があるためシステムの
コストアップ要因となり、また、シグナリングセル送受
信処理部を用いてセル導通試験を行うセル導通試験は、
導通試験用セルがシグナリングセルに特化されているた
め、導通試験用セルの伝送帯域を上げることができず、
またシグナリングセルの転送経路に限定されるため、試
験ルートが制限されるという問題がある。
信する専用の試験装置を設けて行う従来のセル導通試験
は、専用の試験装置を設ける必要があるためシステムの
コストアップ要因となり、また、シグナリングセル送受
信処理部を用いてセル導通試験を行うセル導通試験は、
導通試験用セルがシグナリングセルに特化されているた
め、導通試験用セルの伝送帯域を上げることができず、
またシグナリングセルの転送経路に限定されるため、試
験ルートが制限されるという問題がある。
【０００４】本発明は、導通試験用セルを送受信する専
用の試験装置を用いることなく、また特定用途のセルを
導通試験用のセルとして用いることなく、任意のセルを
用いてセル導通試験を行うことを可能とし、システムの
コストダウン化を図るとともに、セル導通試験の適用ル
ート範囲が拡大化され、また、導通試験用セルの伝送帯
域を増大させてセル導通試験を行うことができ、セル導
通経路の品質試験の精度向上を図ることができるＡＴＭ
装置及びその導通試験方法を提供する。
用の試験装置を用いることなく、また特定用途のセルを
導通試験用のセルとして用いることなく、任意のセルを
用いてセル導通試験を行うことを可能とし、システムの
コストダウン化を図るとともに、セル導通試験の適用ル
ート範囲が拡大化され、また、導通試験用セルの伝送帯
域を増大させてセル導通試験を行うことができ、セル導
通経路の品質試験の精度向上を図ることができるＡＴＭ
装置及びその導通試験方法を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のＡＴＭ装置にお
ける導通試験方法は、（１）ＡＴＭアダプテーションレ
イヤにおける送受データ及びＡＴＭセルに対してセグメ
ンテーション及びリアセンブルを行う機能を有するＳＡ
Ｒ機能搭載装置を具備するＡＴＭ装置において、前記Ｓ
ＡＲ機能搭載装置は、特定のヘッダ値を付したセルを、
導通試験用セルとして生成し、導通試験経路へ送出し、
前記ＳＡＲ機能搭載装置から生成送出された前記導通試
験用セルを、導通試験経路を含むＡＴＭセル転送経路内
の任意の折返しポイントに備えられた導通試験用セル折
返し手段により折返し、前記ＳＡＲ機能搭載装置は、前
記折返された導通試験用セルを受信し、該受信した導通
試験用セルと前記生成送出した導通試験用セルとのマッ
チングを行い、セル導通路の正常性確認を行うものであ
る。
ける導通試験方法は、（１）ＡＴＭアダプテーションレ
イヤにおける送受データ及びＡＴＭセルに対してセグメ
ンテーション及びリアセンブルを行う機能を有するＳＡ
Ｒ機能搭載装置を具備するＡＴＭ装置において、前記Ｓ
ＡＲ機能搭載装置は、特定のヘッダ値を付したセルを、
導通試験用セルとして生成し、導通試験経路へ送出し、
前記ＳＡＲ機能搭載装置から生成送出された前記導通試
験用セルを、導通試験経路を含むＡＴＭセル転送経路内
の任意の折返しポイントに備えられた導通試験用セル折
返し手段により折返し、前記ＳＡＲ機能搭載装置は、前
記折返された導通試験用セルを受信し、該受信した導通
試験用セルと前記生成送出した導通試験用セルとのマッ
チングを行い、セル導通路の正常性確認を行うものであ
る。
【０００６】また、本発明のＡＴＭ装置は、（２）ＡＴ
ＭアダプテーションレイヤにおけるＳＡＲ機能搭載装置
を具備するＡＴＭ装置において、前記ＳＡＲ機能搭載装
置は、特定のヘッダ値を付したセルを、導通試験用セル
として生成し、導通試験経路へ送出する手段と、前記Ｓ
ＡＲ機能搭載装置から生成送出され、導通試験経路を含
むＡＴＭセル転送経路内の任意の折返しポイントに備え
られた導通試験用セル折返し手段により折返された前記
導通試験用セルを受信し、該受信した導通試験用セルと
前記生成送出した導通試験用セルとのマッチングを行う
手段と、を備えたものである。
ＭアダプテーションレイヤにおけるＳＡＲ機能搭載装置
を具備するＡＴＭ装置において、前記ＳＡＲ機能搭載装
置は、特定のヘッダ値を付したセルを、導通試験用セル
として生成し、導通試験経路へ送出する手段と、前記Ｓ
ＡＲ機能搭載装置から生成送出され、導通試験経路を含
むＡＴＭセル転送経路内の任意の折返しポイントに備え
られた導通試験用セル折返し手段により折返された前記
導通試験用セルを受信し、該受信した導通試験用セルと
前記生成送出した導通試験用セルとのマッチングを行う
手段と、を備えたものである。
【０００７】また、（３）前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交
換機における局間信号又は局内信号の処理制御を行い、
ＳＡＲ機能部を有する信号処理制御装置であって、該信
号処理制御装置は、上位制御装置からの指示により該Ｓ
ＡＲ機能部から送出される局間信号又は局内信号のＡＴ
Ｍセルの間に、前記導通試験用セルを混入して送出する
手段を備えたものである。
換機における局間信号又は局内信号の処理制御を行い、
ＳＡＲ機能部を有する信号処理制御装置であって、該信
号処理制御装置は、上位制御装置からの指示により該Ｓ
ＡＲ機能部から送出される局間信号又は局内信号のＡＴ
Ｍセルの間に、前記導通試験用セルを混入して送出する
手段を備えたものである。
【０００８】また、（４）前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交
換機におけるホスト局の局内信号処理制御装置からの信
号を終端し、ＳＡＲ機能部を有するリモート局装置であ
って、該リモート局装置は、上位制御装置からの指示に
より該ＳＡＲ機能部から送出される局内信号のＡＴＭセ
ルの間に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段
を備えたものである。
換機におけるホスト局の局内信号処理制御装置からの信
号を終端し、ＳＡＲ機能部を有するリモート局装置であ
って、該リモート局装置は、上位制御装置からの指示に
より該ＳＡＲ機能部から送出される局内信号のＡＴＭセ
ルの間に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段
を備えたものである。
【０００９】また、（５）前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交
換機における送受データのデータフォーマットを変換
し、ＳＡＲ機能部を有するデータ変換装置であって、該
データ変換装置は、上位制御装置からの指示により、該
ＳＡＲ機能部から送出される送受データのＡＴＭセルの
間に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段を備
えたものである。
換機における送受データのデータフォーマットを変換
し、ＳＡＲ機能部を有するデータ変換装置であって、該
データ変換装置は、上位制御装置からの指示により、該
ＳＡＲ機能部から送出される送受データのＡＴＭセルの
間に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段を備
えたものである。
【００１０】また、（６）前記ＡＴＭ装置は、前記ＳＡ
Ｒ機能部から送出されたＡＴＭセルを装置内スイッチン
グ用セルに変換するセル変換手段を備え、前記セル変換
手段は、前記ＳＡＲ機能部から送出されたＡＴＭセルヘ
ッダ値からマッチングにより導通試験用セルを識別し、
該導通試験用セルに対して装置内スイッチング用セルの
ヘッダ内特定領域に試験用セル識別ビットを付与し、前
記導通試験用セル折返し手段は、通過する装置内スイッ
チング用セルのヘッダ内特定領域の値からマッチングに
より導通試験用セルを識別し、導通試験用セルのみを前
記ＳＡＲ機能部に折返す構成を有するものである。
Ｒ機能部から送出されたＡＴＭセルを装置内スイッチン
グ用セルに変換するセル変換手段を備え、前記セル変換
手段は、前記ＳＡＲ機能部から送出されたＡＴＭセルヘ
ッダ値からマッチングにより導通試験用セルを識別し、
該導通試験用セルに対して装置内スイッチング用セルの
ヘッダ内特定領域に試験用セル識別ビットを付与し、前
記導通試験用セル折返し手段は、通過する装置内スイッ
チング用セルのヘッダ内特定領域の値からマッチングに
より導通試験用セルを識別し、導通試験用セルのみを前
記ＳＡＲ機能部に折返す構成を有するものである。
【００１１】また、（７）前記ＡＴＭ装置は、ＳＡＲ機
能部を複数搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送
路へ送出するＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路か
ら各ＳＡＲ機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能
部対応に分離する多重／分離装置であって、該多重／分
離装置は、上位制御装置からの指示により複数のＳＡＲ
機能部から導通試験用セルを同時に送出させ、多重部に
おいて各ＳＡＲ機能部毎に異なるヘッダ値を導通試験用
セルに割振って送出する手段と、前記導通試験用セル折
返し手段により折返された導通試験用セルを、前記ヘッ
ダ値に基づいて各ＳＡＲ機能部毎に分配する手段と、を
備えたものである。
能部を複数搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送
路へ送出するＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路か
ら各ＳＡＲ機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能
部対応に分離する多重／分離装置であって、該多重／分
離装置は、上位制御装置からの指示により複数のＳＡＲ
機能部から導通試験用セルを同時に送出させ、多重部に
おいて各ＳＡＲ機能部毎に異なるヘッダ値を導通試験用
セルに割振って送出する手段と、前記導通試験用セル折
返し手段により折返された導通試験用セルを、前記ヘッ
ダ値に基づいて各ＳＡＲ機能部毎に分配する手段と、を
備えたものである。
【００１２】また、（８）前記ＡＴＭ装置は、ＳＡＲ機
能部を複数搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送
路へ送出するＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路か
ら各ＳＡＲ機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能
部対応に分離する多重／分離装置であって、該多重／分
離装置は、上位制御装置からの指示により複数のＳＡＲ
機能部から導通試験用セルを同時に送出させ、多重部に
おいて各ＳＡＲ機能部毎に異なる識別値をＡＴＭセルの
ペイロード部に割振り、導通試験用セルを表す識別値を
ＡＴＭセルのヘッダ部に割り振って送出する手段と、前
記導通試験用セル折返し手段により折返された導通試験
用セルを、前記ペイロード部の識別値に基づいて各ＳＡ
Ｒ機能部毎に分配する手段と、を備えたものである。
能部を複数搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送
路へ送出するＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路か
ら各ＳＡＲ機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能
部対応に分離する多重／分離装置であって、該多重／分
離装置は、上位制御装置からの指示により複数のＳＡＲ
機能部から導通試験用セルを同時に送出させ、多重部に
おいて各ＳＡＲ機能部毎に異なる識別値をＡＴＭセルの
ペイロード部に割振り、導通試験用セルを表す識別値を
ＡＴＭセルのヘッダ部に割り振って送出する手段と、前
記導通試験用セル折返し手段により折返された導通試験
用セルを、前記ペイロード部の識別値に基づいて各ＳＡ
Ｒ機能部毎に分配する手段と、を備えたものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は本発明の第１の実施形態の
説明図である。同図はＳＡＲ機能を搭載した多重／分離
装置に適用したセル導通試験の実施形態を示している。
図中、１−１はＳＡＲ機能部であり、ＳＡＲ機能部１−
１は、送受データユニットをＡＴＭセルに分解し、また
ＡＴＭセルを送受データユニットに組立て、送受データ
ユニットとＡＴＭセルとの変換を行うアダプテーション
レイヤ（ＡＡＬ：ATM Adaptation Layer）の機能ブロッ
クである。
説明図である。同図はＳＡＲ機能を搭載した多重／分離
装置に適用したセル導通試験の実施形態を示している。
図中、１−１はＳＡＲ機能部であり、ＳＡＲ機能部１−
１は、送受データユニットをＡＴＭセルに分解し、また
ＡＴＭセルを送受データユニットに組立て、送受データ
ユニットとＡＴＭセルとの変換を行うアダプテーション
レイヤ（ＡＡＬ：ATM Adaptation Layer）の機能ブロッ
クである。
【００１４】ＳＡＲ機能部１−１は、例えば、局間信号
処理制御装置等のＡＴＭ交換機に必須の機能構成部に用
いられ、通常、マイクロプロセッサ（μＰ）経由で上位
制御装置（ＣＣ）と通信を行うように構成されている。
本発明は、該ＳＡＲ機能部１−１を用いて導通試験用セ
ルを生成し、該導通試験用セルによりＡＴＭ交換機にお
けるセル導通試験を行うようにしたものである。
処理制御装置等のＡＴＭ交換機に必須の機能構成部に用
いられ、通常、マイクロプロセッサ（μＰ）経由で上位
制御装置（ＣＣ）と通信を行うように構成されている。
本発明は、該ＳＡＲ機能部１−１を用いて導通試験用セ
ルを生成し、該導通試験用セルによりＡＴＭ交換機にお
けるセル導通試験を行うようにしたものである。
【００１５】即ち、上位制御装置（ＣＣ）から試験用デ
ータを設定し、ＳＡＲ機能部１−１によりＡＴＭセル化
した導通試験用セルを導通試験対象の経路に送信し、該
導通試験経路を含む経由するＡＴＭセル転送経路内の折
返しポイントから戻ってきた導通試験用セルを受信し、
ＳＡＲ機能部１−１において試験用データを抜取り、送
信した試験用データと受信した試験用データとを上位制
御装置（ＣＣ）において比較し、その比較結果を判定す
ることにより、ＡＴＭ交換機内のセル導通路の正常性を
確認するものである。
ータを設定し、ＳＡＲ機能部１−１によりＡＴＭセル化
した導通試験用セルを導通試験対象の経路に送信し、該
導通試験経路を含む経由するＡＴＭセル転送経路内の折
返しポイントから戻ってきた導通試験用セルを受信し、
ＳＡＲ機能部１−１において試験用データを抜取り、送
信した試験用データと受信した試験用データとを上位制
御装置（ＣＣ）において比較し、その比較結果を判定す
ることにより、ＡＴＭ交換機内のセル導通路の正常性を
確認するものである。
【００１６】尚、汎用のＳＡＲ機能部１−１において、
送受データユニットからＳＡＲ−ＰＤＵ（SAR-Protocol
Data Unit）のデータユニットを生成せず、直接送受デ
ータユニットをＡＴＭセル内のペイロードにマッピング
する「ＲＡＷセル生成機能」と称される機能を有するＳ
ＡＲ機能部も存在するが、本発明におけるＳＡＲ機能部
１−１はそのようなＲＡＷセル生成機能を有するＳＡＲ
機能を含むものである。
送受データユニットからＳＡＲ−ＰＤＵ（SAR-Protocol
Data Unit）のデータユニットを生成せず、直接送受デ
ータユニットをＡＴＭセル内のペイロードにマッピング
する「ＲＡＷセル生成機能」と称される機能を有するＳ
ＡＲ機能部も存在するが、本発明におけるＳＡＲ機能部
１−１はそのようなＲＡＷセル生成機能を有するＳＡＲ
機能を含むものである。
【００１７】図１において、１−２は試験セル識別子付
与部であり、ＳＡＲ機能部１−１との間で送受する５３
バイトのＡＴＭセルフォーマットを、当該ＡＴＭ装置内
で使用される装置内セルヘッダを有するセルフォーマッ
トに変換するセルフォーマット変換機能を有し、ＳＡＲ
機能部１−１から送出された導通試験用セルに対して、
装置内セルヘッダの特定ビットに導通試験用の識別子を
付与する。
与部であり、ＳＡＲ機能部１−１との間で送受する５３
バイトのＡＴＭセルフォーマットを、当該ＡＴＭ装置内
で使用される装置内セルヘッダを有するセルフォーマッ
トに変換するセルフォーマット変換機能を有し、ＳＡＲ
機能部１−１から送出された導通試験用セルに対して、
装置内セルヘッダの特定ビットに導通試験用の識別子を
付与する。
【００１８】例えば、上位制御装置（ＣＣ）からの指示
によりＳＡＲ機能部１−１において生成された特定ヘッ
ダ値（例えば、試験用に任意に割当てた特定のＶＰＩ／
ＶＣＩ値）のセルを導通試験用セルとして用いる場合
に、導通試験用セルの特定ヘッダ値を、マイクロプロセ
ッサにより事前に設定されたパターンとのマッチングに
より識別し、導通試験用セルと識別した場合は、該セル
に対して当該ＡＴＭ装置内で使用する装置内セルヘッダ
の特定ビットに、導通試験用の識別子を付与する。
によりＳＡＲ機能部１−１において生成された特定ヘッ
ダ値（例えば、試験用に任意に割当てた特定のＶＰＩ／
ＶＣＩ値）のセルを導通試験用セルとして用いる場合
に、導通試験用セルの特定ヘッダ値を、マイクロプロセ
ッサにより事前に設定されたパターンとのマッチングに
より識別し、導通試験用セルと識別した場合は、該セル
に対して当該ＡＴＭ装置内で使用する装置内セルヘッダ
の特定ビットに、導通試験用の識別子を付与する。
【００１９】前述の導通試験用の識別子付与において、
例えば、同図に示すセル多重部１−４の出力側とセル分
離部１−７の入力側に位置する折返し部１−３2 で、導
通試験用セルの折返しを行う場合等のように、セル分離
部１−７からの戻り先ＳＡＲ機能部が複数存在する場
合、戻り先ＳＡＲ機能部の方路が識別可能な識別子を付
与する。
例えば、同図に示すセル多重部１−４の出力側とセル分
離部１−７の入力側に位置する折返し部１−３2 で、導
通試験用セルの折返しを行う場合等のように、セル分離
部１−７からの戻り先ＳＡＲ機能部が複数存在する場
合、戻り先ＳＡＲ機能部の方路が識別可能な識別子を付
与する。
【００２０】１−３1 ，１−３2 ，１−３3 は装置内の
各折返し部であり、試験用セルを抽出及び挿入する試験
セルドロップ部及び試験セルインサート部により構成さ
れ、上位制御装置（ＣＣ）から導通試験セルの折返し設
定が有効化されたとき、入力されたセルに対して試験セ
ル識別子付与部１−２にて付与された試験用識別子を判
定し、導通試験用セルを抽出して該導通試験用セルを折
返し経路に挿入し、試験セル識別子付与部１−２へ返送
する。
各折返し部であり、試験用セルを抽出及び挿入する試験
セルドロップ部及び試験セルインサート部により構成さ
れ、上位制御装置（ＣＣ）から導通試験セルの折返し設
定が有効化されたとき、入力されたセルに対して試験セ
ル識別子付与部１−２にて付与された試験用識別子を判
定し、導通試験用セルを抽出して該導通試験用セルを折
返し経路に挿入し、試験セル識別子付与部１−２へ返送
する。
【００２１】尚、試験セルドロップ部及び試験セルイン
サート部は、前述のように試験セル識別子付与部１−２
にて付与された装置内セルヘッダの試験用セル識別ビッ
トを用いずに、ＳＡＲ機能部１−１により生成された試
験用セルの特定ヘッダ値（例えば、特定ＶＰＩ／ＶＣＩ
値）とのマッチングを行って試験用セルを判別し、該試
験用セルを折返すように構成することもできる。
サート部は、前述のように試験セル識別子付与部１−２
にて付与された装置内セルヘッダの試験用セル識別ビッ
トを用いずに、ＳＡＲ機能部１−１により生成された試
験用セルの特定ヘッダ値（例えば、特定ＶＰＩ／ＶＣＩ
値）とのマッチングを行って試験用セルを判別し、該試
験用セルを折返すように構成することもできる。
【００２２】１−４はセル多重部であり、複数方路から
の局間信号用セルやユーザデータセル等と共に導通試験
用セルが入力され、それらのセルを多重化する。１−５
はスイッチインタフェース部であり、ＡＴＭ交換機内の
スイッチ部との間でＡＴＭセルを送受する。
の局間信号用セルやユーザデータセル等と共に導通試験
用セルが入力され、それらのセルを多重化する。１−５
はスイッチインタフェース部であり、ＡＴＭ交換機内の
スイッチ部との間でＡＴＭセルを送受する。
【００２３】１−６はヘッダ変換（ＨＥＣ）部であり、
ＡＴＭ交換機内のスイッチ部とＳＡＲ機能部１−１との
間で送受されるＡＴＭセルに対し、その入力ヘッダ値を
基に出側ヘッダ値を付与する。
ＡＴＭ交換機内のスイッチ部とＳＡＲ機能部１−１との
間で送受されるＡＴＭセルに対し、その入力ヘッダ値を
基に出側ヘッダ値を付与する。
【００２４】１−７はセル分離部であり、ヘッダ変換
（ＨＥＣ）部１−６から出力されたＡＴＭセルのヘッダ
内の仮想パス識別子（ＶＰＩ）若しくは仮想チャネル識
別子（ＶＣＩ）又は装置内セルヘッダ値等を基に、ＳＡ
Ｒ機能部１−１への方路識別ビットを判定し、対象回線
のＳＡＲ機能部１−１へ局間信号用セルやユーザデータ
又は試験用セル等のセルを分離して送出する。
（ＨＥＣ）部１−６から出力されたＡＴＭセルのヘッダ
内の仮想パス識別子（ＶＰＩ）若しくは仮想チャネル識
別子（ＶＣＩ）又は装置内セルヘッダ値等を基に、ＳＡ
Ｒ機能部１−１への方路識別ビットを判定し、対象回線
のＳＡＲ機能部１−１へ局間信号用セルやユーザデータ
又は試験用セル等のセルを分離して送出する。
【００２５】また、複数のＳＡＲ機能部１−１から導通
試験用セルを同時に送出させ、セル多重部１−４におい
て各ＳＡＲ機能部１−１毎に異なる識別値をＡＴＭセル
のペイロード部に割振り、導通試験用セルを表す識別値
をＡＴＭセルのヘッダ部に割り振って送出し、折返し部
により折返された導通試験用セルを、セル分離部１−７
においてペイロード部の識別値に基づいて各ＳＡＲ機能
部１−１毎に分配する構成とすることもできる。
試験用セルを同時に送出させ、セル多重部１−４におい
て各ＳＡＲ機能部１−１毎に異なる識別値をＡＴＭセル
のペイロード部に割振り、導通試験用セルを表す識別値
をＡＴＭセルのヘッダ部に割り振って送出し、折返し部
により折返された導通試験用セルを、セル分離部１−７
においてペイロード部の識別値に基づいて各ＳＡＲ機能
部１−１毎に分配する構成とすることもできる。
【００２６】このような構成により、ＳＡＲ機能部１−
１で任意のヘッダ値を導通試験用セルとして付与してセ
ル化し導通試験経路に送信した試験データと、折り返し
戻ってきた受信セルより組立てられた試験データとを、
ファームウェアによりマッチングを行うことにより、セ
ル導通経路の正常性確認を行うことができる。なお、試
験データとして任意のユーザデータを用いることができ
る。
１で任意のヘッダ値を導通試験用セルとして付与してセ
ル化し導通試験経路に送信した試験データと、折り返し
戻ってきた受信セルより組立てられた試験データとを、
ファームウェアによりマッチングを行うことにより、セ
ル導通経路の正常性確認を行うことができる。なお、試
験データとして任意のユーザデータを用いることができ
る。
【００２７】また、ＳＡＲ機能部１−１がＲＡＷセル送
受信機能を有する場合は、ＳＡＲ−ＰＤＵデータユニッ
トのフレーム単位のマッチングは行わず、ＡＴＭセル単
位のマッチングを行うことにより、セル導通経路の正常
性確認を行うことが可能となる。
受信機能を有する場合は、ＳＡＲ−ＰＤＵデータユニッ
トのフレーム単位のマッチングは行わず、ＡＴＭセル単
位のマッチングを行うことにより、セル導通経路の正常
性確認を行うことが可能となる。
【００２８】図２はＳＡＲ機能部の構成を示す図であ
る。図中、２−１は周辺装置インタフェース部であり、
ＳＡＲ機能部とＭＰＵ（Main Processor Unit ）等の上
位制御装置との間で送受されるユーザデータ等の送受デ
ータは、この周辺装置インタフェース部２−１を経由し
て行われる。２−２は送信バッファ、２−７は受信バッ
ファであり、上位制御装置との間で送受されるユーザデ
ータ等の送受データを一時的に格納する。
る。図中、２−１は周辺装置インタフェース部であり、
ＳＡＲ機能部とＭＰＵ（Main Processor Unit ）等の上
位制御装置との間で送受されるユーザデータ等の送受デ
ータは、この周辺装置インタフェース部２−１を経由し
て行われる。２−２は送信バッファ、２−７は受信バッ
ファであり、上位制御装置との間で送受されるユーザデ
ータ等の送受データを一時的に格納する。
【００２９】２−３は送信制御部であり、上位制御装置
から設定される送受データを送信バッファ２−２から受
取り、図３に示すように、ＣＳ−ＰＤＵ（Convergence
Sublayer−Protocol Data Unit）のヘッダ及びトレイラ
を生成し付与した後、ＳＡＲ−ＰＤＵ（Segmentation A
nd Reassemble Sublayer−Protocol Data Unit）のペイ
ロードに切り分け、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットの
ヘッダ及びトレイラを生成し、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータ
ユニットをＡＴＭセル送信部２−４へ出力する。
から設定される送受データを送信バッファ２−２から受
取り、図３に示すように、ＣＳ−ＰＤＵ（Convergence
Sublayer−Protocol Data Unit）のヘッダ及びトレイラ
を生成し付与した後、ＳＡＲ−ＰＤＵ（Segmentation A
nd Reassemble Sublayer−Protocol Data Unit）のペイ
ロードに切り分け、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットの
ヘッダ及びトレイラを生成し、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータ
ユニットをＡＴＭセル送信部２−４へ出力する。
【００３０】ＡＴＭセル送信部２−４は、送信制御部２
−３から受信したＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットをチ
ェックし、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットに５バイト
のＡＴＭセルヘッダを生成付与し、５３バイトのＡＴＭ
セルとしてＡＴＭセル転送経路へ送信する。
−３から受信したＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットをチ
ェックし、ＳＡＲ−ＰＤＵのデータユニットに５バイト
のＡＴＭセルヘッダを生成付与し、５３バイトのＡＴＭ
セルとしてＡＴＭセル転送経路へ送信する。
【００３１】このとき、上位制御装置からの指示により
導通試験用セルを生成する場合、特定ヘッダ値（例え
ば、試験用に任意に割当てた特定のＶＰＩ／ＶＣＩ値）
を、導通試験用セルのヘッダに生成付与して送信する。
導通試験用セルを生成する場合、特定ヘッダ値（例え
ば、試験用に任意に割当てた特定のＶＰＩ／ＶＣＩ値）
を、導通試験用セルのヘッダに生成付与して送信する。
【００３２】２−５はＡＴＭセル受信部であり、５３バ
イトのＡＴＭセルのヘッダのチェックを行い、ペイロー
ド部をＳＡＲ−ＰＤＵデータユニットとして取出し、受
信制御部２−６へ出力する。受信制御部２−６は、ＡＴ
Ｍセル受信部２−５から受取ったＳＡＲ−ＰＤＵデータ
ユニットから受信データを生成し、該データを受信バッ
ファ２−７へ格納する。
イトのＡＴＭセルのヘッダのチェックを行い、ペイロー
ド部をＳＡＲ−ＰＤＵデータユニットとして取出し、受
信制御部２−６へ出力する。受信制御部２−６は、ＡＴ
Ｍセル受信部２−５から受取ったＳＡＲ−ＰＤＵデータ
ユニットから受信データを生成し、該データを受信バッ
ファ２−７へ格納する。
【００３３】受信バッファ２−７へ格納された受信デー
タは、周辺装置インタフェース部２−１を介して、上位
制御装置へ転送される。２−８はＳＡＲ機能部内の制御
部であり、該ＳＡＲ機能部内の上記各機能部の動作シー
ケンスを制御する。
タは、周辺装置インタフェース部２−１を介して、上位
制御装置へ転送される。２−８はＳＡＲ機能部内の制御
部であり、該ＳＡＲ機能部内の上記各機能部の動作シー
ケンスを制御する。
【００３４】図４はＡＴＭ交換機システムの構成例を示
し、４−１は局間又は局内信号処理制御部である。４−
２及び４−２’はホスト局及びリモート局の回線パッケ
ージであり、１５０Ｍｂｉｔ／ｓ回線インタフェース
（ＯＣ３）又は５０Ｍｂｉｔ／ｓ回線インタフェース
（ＤＳ３）等を具備する。
し、４−１は局間又は局内信号処理制御部である。４−
２及び４−２’はホスト局及びリモート局の回線パッケ
ージであり、１５０Ｍｂｉｔ／ｓ回線インタフェース
（ＯＣ３）又は５０Ｍｂｉｔ／ｓ回線インタフェース
（ＤＳ３）等を具備する。
【００３５】４−３は局間（局内）信号処理制御部４−
１、ホスト局又はリモート局の回線パッケージ４−２又
は４−２’の共通（ＣＯＭ）部である。尚、リモート局
はホスト局の局内信号処理制御部４−１からのシグナリ
ングデータにより制御される。４−４はＡＴＭスイッチ
部である。
１、ホスト局又はリモート局の回線パッケージ４−２又
は４−２’の共通（ＣＯＭ）部である。尚、リモート局
はホスト局の局内信号処理制御部４−１からのシグナリ
ングデータにより制御される。４−４はＡＴＭスイッチ
部である。
【００３６】図５はＳＡＲ機能搭載装置として信号処理
制御装置を用いた実施形態を示し、二つの信号処理制御
部（ＳＩＧ１，ＳＩＧ２）を用いて、異なるセル導通路
に同時に導通試験用セルを送出して導通試験を行う例を
示している。
制御装置を用いた実施形態を示し、二つの信号処理制御
部（ＳＩＧ１，ＳＩＧ２）を用いて、異なるセル導通路
に同時に導通試験用セルを送出して導通試験を行う例を
示している。
【００３７】図中、信号処理制御部（ＳＩＧ１，ＳＩＧ
２）５−１1 ，５−１2 及び共通部５−３は、図１に示
したＳＡＲ機能を搭載した装置と同等の機能を具備す
る。また、図の矢印付の太線は導通試験経路を示し、矢
印付太線における黒四角は折返しポイントを示す。各折
返しポイントは、図１に示す試験セルドロップ部及び試
験セルインサート部から成る折返し部と同等の機能を備
えている。
２）５−１1 ，５−１2 及び共通部５−３は、図１に示
したＳＡＲ機能を搭載した装置と同等の機能を具備す
る。また、図の矢印付の太線は導通試験経路を示し、矢
印付太線における黒四角は折返しポイントを示す。各折
返しポイントは、図１に示す試験セルドロップ部及び試
験セルインサート部から成る折返し部と同等の機能を備
えている。
【００３８】第１の信号処理制御部（ＳＩＧ１）５−１
1 による導通試験経路において、例えば回線パッケージ
５−２までの経路のセル導通試験を行う場合、上位制御
装置の指示により共通部５−３1 に対して、第１の信号
処理制御部５−１1 からの入力セルのヘッダ値Ａに対
し、共通部５−３2 へ向かうヘッダ値Ｂを付与したＡＴ
Ｍセルが出側から送出されるように設定する。
1 による導通試験経路において、例えば回線パッケージ
５−２までの経路のセル導通試験を行う場合、上位制御
装置の指示により共通部５−３1 に対して、第１の信号
処理制御部５−１1 からの入力セルのヘッダ値Ａに対
し、共通部５−３2 へ向かうヘッダ値Ｂを付与したＡＴ
Ｍセルが出側から送出されるように設定する。
【００３９】逆方向のセルに対しても同様にＡＴＭスイ
ッチ部５−４からの入力セルのヘッダ値Ｂに対し、第１
の信号処理制御部（ＳＩＧ１）５−１1 に向かうヘッダ
値Ａを付与したＡＴＭセルが第１の信号処理制御部（Ｓ
ＩＧ１）５−１側に出力されるように共通部５−３1 に
対して設定される。
ッチ部５−４からの入力セルのヘッダ値Ｂに対し、第１
の信号処理制御部（ＳＩＧ１）５−１1 に向かうヘッダ
値Ａを付与したＡＴＭセルが第１の信号処理制御部（Ｓ
ＩＧ１）５−１側に出力されるように共通部５−３1 に
対して設定される。
【００４０】共通部５−３2 に対しては、ヘッダ値Ｂの
入力セル対して、導通試験対象の回線パッケージ５−２
へ向かうヘッダ値Ｃが付与されたセルが出力されるよう
に設定される。さらに、回線パッケージ５−２内の折返
し部に対して、ヘッダ値Ｃのセル受信時に、該セルをル
ープバックするように設定される。
入力セル対して、導通試験対象の回線パッケージ５−２
へ向かうヘッダ値Ｃが付与されたセルが出力されるよう
に設定される。さらに、回線パッケージ５−２内の折返
し部に対して、ヘッダ値Ｃのセル受信時に、該セルをル
ープバックするように設定される。
【００４１】前述の設定の後、第１の信号処理制御部
（ＳＩＧ１）５−１1 からヘッダ値Ａのセルが導通試験
用セルとして回線パッケージ５−２に向けて送信され、
該導通試験用セルは回線パッケージ５−２にてループバ
ックされることとなる。
（ＳＩＧ１）５−１1 からヘッダ値Ａのセルが導通試験
用セルとして回線パッケージ５−２に向けて送信され、
該導通試験用セルは回線パッケージ５−２にてループバ
ックされることとなる。
【００４２】ループバックされ戻ってきた導通試験用セ
ルは、第１の信号処理制御部（ＳＩＧ１）５−１1 内の
ＳＡＲ機能部で元のデータフレームに組立てられ、該Ｓ
ＡＲ機能部のマイクロプロセッサにより送信データフレ
ームの内容と比較され、その比較判定結果は上位制御装
置に通知される。
ルは、第１の信号処理制御部（ＳＩＧ１）５−１1 内の
ＳＡＲ機能部で元のデータフレームに組立てられ、該Ｓ
ＡＲ機能部のマイクロプロセッサにより送信データフレ
ームの内容と比較され、その比較判定結果は上位制御装
置に通知される。
【００４３】第２の信号処理制御部（ＳＩＧ２）５−１
2 からリモート局の共通部５−３3に収容された回線パ
ッケージに至る経路の導通試験経路においても同様な手
法により折返し試験を行うことができる。但し、リモー
ト局に対する折返し部の設定は、上位制御装置がリモー
ト局の制御に直接介在することができないため、局内信
号処理制御部からシグナリングデータを送信することに
より設定する。
2 からリモート局の共通部５−３3に収容された回線パ
ッケージに至る経路の導通試験経路においても同様な手
法により折返し試験を行うことができる。但し、リモー
ト局に対する折返し部の設定は、上位制御装置がリモー
ト局の制御に直接介在することができないため、局内信
号処理制御部からシグナリングデータを送信することに
より設定する。
【００４４】また、複数の信号処理制御部（ＳＩＧ１，
ＳＩＧ２）５−１1 ，５−１2 から、それぞれ、同一の
送信先（例えば、共通部５−３2 経由の回線パッケージ
５−２）のヘッダ値を付与した導通試験用セルを送信
し、該同一の送信先（回線パッケージ５−２）で導通試
験用セルをループバックさせることにより、試験対象導
通路における導通試験用セルの伝送帯域を増大させ、セ
ル導通経路の品質試験の精度の向上を図ることができ
る。
ＳＩＧ２）５−１1 ，５−１2 から、それぞれ、同一の
送信先（例えば、共通部５−３2 経由の回線パッケージ
５−２）のヘッダ値を付与した導通試験用セルを送信
し、該同一の送信先（回線パッケージ５−２）で導通試
験用セルをループバックさせることにより、試験対象導
通路における導通試験用セルの伝送帯域を増大させ、セ
ル導通経路の品質試験の精度の向上を図ることができ
る。
【００４５】図６はＳＡＲ機能搭載装置としてリモート
局装置を用いた実施形態を示し、リモート局装置の信号
終端装置等のＳＡＲ機能搭載装置６−３を用いて、図５
に示した実施形態と同様に、ホスト局装置の回線パッケ
ージ６−２1 とリモート局装置との間セル導通試験又は
リモート局装置内の回線パッケージ６−２2 までの導通
経路等のセル導通試験を行う例を示している。
局装置を用いた実施形態を示し、リモート局装置の信号
終端装置等のＳＡＲ機能搭載装置６−３を用いて、図５
に示した実施形態と同様に、ホスト局装置の回線パッケ
ージ６−２1 とリモート局装置との間セル導通試験又は
リモート局装置内の回線パッケージ６−２2 までの導通
経路等のセル導通試験を行う例を示している。
【００４６】但し、リモート局装置内に対する試験起動
及びループバック設定は、ホスト局の上位制御装置から
直接行うことができないため、該試験起動及びループバ
ック設定はホスト局の局内信号処理制御装置６−１から
リモート局装置に対してシグナリングデータを送信する
ことにより行う。
及びループバック設定は、ホスト局の上位制御装置から
直接行うことができないため、該試験起動及びループバ
ック設定はホスト局の局内信号処理制御装置６−１から
リモート局装置に対してシグナリングデータを送信する
ことにより行う。
【００４７】リモート局装置内のＳＡＲ機能搭載装置６
−３は、シグナリングデータにより設定されたセル導通
試験を自律的に行い、その試験結果をシグナリングデー
タによりホスト局の局内信号処理制御装置６−１に送信
し、該局内信号処理制御装置６−１は該試験結果を上位
制御装置に通知する。
−３は、シグナリングデータにより設定されたセル導通
試験を自律的に行い、その試験結果をシグナリングデー
タによりホスト局の局内信号処理制御装置６−１に送信
し、該局内信号処理制御装置６−１は該試験結果を上位
制御装置に通知する。
【００４８】図７はＳＡＲ機能搭載装置としてデータ変
換装置を用いた実施形態を示し、ユーザデータ等を中継
・転送するデータ変換装置内のＳＡＲ機能部７−１を用
いて、導通試験用セルを生成送出し、例えば、ＡＴＭス
イッチ部７−４を介して回線パッケージ７−２に至る導
通経路の折返し試験を行う例を示している。
換装置を用いた実施形態を示し、ユーザデータ等を中継
・転送するデータ変換装置内のＳＡＲ機能部７−１を用
いて、導通試験用セルを生成送出し、例えば、ＡＴＭス
イッチ部７−４を介して回線パッケージ７−２に至る導
通経路の折返し試験を行う例を示している。
【００４９】この試験を行うための設定は、図５に示し
た実施形態における導通試験と同様な設定を上位制御装
置から行うことにより、任意の導通経路に対して導通試
験を行うことができ、セル導通試験の適用ルート範囲の
拡大化を図ることができる。
た実施形態における導通試験と同様な設定を上位制御装
置から行うことにより、任意の導通経路に対して導通試
験を行うことができ、セル導通試験の適用ルート範囲の
拡大化を図ることができる。
【００５０】本発明におけるＳＡＲ機能搭載装置を利用
したセル導通試験は、実施形態として説明したＡＴＭ交
換機内の局間若しくは局内信号処理制御装置、セル多重
／分離装置、データ変換装置又はリモート局装置の信号
終端装置以外のＡＴＭ装置におけるＳＡＲ機能搭載装置
を用いて、同様に該ＳＡＲ機能搭載装置内及び該ＳＡＲ
機能搭載装置を含むＡＴＭ装置におけるセル導通路の導
通試験を行うことが可能であることは言うまでもない。
したセル導通試験は、実施形態として説明したＡＴＭ交
換機内の局間若しくは局内信号処理制御装置、セル多重
／分離装置、データ変換装置又はリモート局装置の信号
終端装置以外のＡＴＭ装置におけるＳＡＲ機能搭載装置
を用いて、同様に該ＳＡＲ機能搭載装置内及び該ＳＡＲ
機能搭載装置を含むＡＴＭ装置におけるセル導通路の導
通試験を行うことが可能であることは言うまでもない。
【００５１】さらに、種類の異なる幾つかのＳＡＲ機能
搭載装置の組合わせを用いてセル導通試験を行うことも
容易に行うことができる。また、交換局の建設時等にお
いて、中央制御装置を介さずに、ＳＡＲ機能搭載装置に
外部デバッガとの接続口を設け、パーソナルコンピュー
タ等よりセル導通試験の設定制御を行うことにより、オ
フラインでのセル導通試験を任意に行うことができる。
搭載装置の組合わせを用いてセル導通試験を行うことも
容易に行うことができる。また、交換局の建設時等にお
いて、中央制御装置を介さずに、ＳＡＲ機能搭載装置に
外部デバッガとの接続口を設け、パーソナルコンピュー
タ等よりセル導通試験の設定制御を行うことにより、オ
フラインでのセル導通試験を任意に行うことができる。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＡＴＭ装置に通常備えられるＳＡＲ機能部を用い、ＳＡ
Ｒ機能部のセル生成／送信／受信／チェック機能を利用
し、導通試験用セルを生成送信し、試験対象導通路の折
返しポイントで折返された導通試験用セルをＳＡＲ機能
部で受信チェックし、ＳＡＲ機能部と試験装置とを共用
化することにより、導通試験用セルを送受信する専用の
試験装置が不要となり、特に、ホスト局装置から遠隔制
御されるリモート局装置には専用の試験装置を設置する
必要がないため、ＡＴＭ交換機システムの構築において
大幅なコストダウンを図ることができる。
ＡＴＭ装置に通常備えられるＳＡＲ機能部を用い、ＳＡ
Ｒ機能部のセル生成／送信／受信／チェック機能を利用
し、導通試験用セルを生成送信し、試験対象導通路の折
返しポイントで折返された導通試験用セルをＳＡＲ機能
部で受信チェックし、ＳＡＲ機能部と試験装置とを共用
化することにより、導通試験用セルを送受信する専用の
試験装置が不要となり、特に、ホスト局装置から遠隔制
御されるリモート局装置には専用の試験装置を設置する
必要がないため、ＡＴＭ交換機システムの構築において
大幅なコストダウンを図ることができる。
【００５３】また、信号処理制御装置、多重／分離装
置、データ変換装置、リモート局の信号終端装置等に用
いられる任意のＳＡＲ機能搭載装置を用いてセル導通試
験を行うため、セル導通試験の適用ルート範囲を拡大す
ることができる。
置、データ変換装置、リモート局の信号終端装置等に用
いられる任意のＳＡＲ機能搭載装置を用いてセル導通試
験を行うため、セル導通試験の適用ルート範囲を拡大す
ることができる。
【００５４】さらに、複数のＳＡＲ機能部から送出され
るセルを多重化する装置を用いる場合は、同時に複数の
ＳＡＲ機能部を連動させることにより、導通試験用セル
の伝送帯域を増大させてセル導通試験を行うことがで
き、広帯域セル導通路の品質試験の精度を向上させるこ
とができる。
るセルを多重化する装置を用いる場合は、同時に複数の
ＳＡＲ機能部を連動させることにより、導通試験用セル
の伝送帯域を増大させてセル導通試験を行うことがで
き、広帯域セル導通路の品質試験の精度を向上させるこ
とができる。
【図１】本発明の第１の実施形態の説明図である。
【図２】ＳＡＲ機能部の構成を示す図である。
【図３】ＳＡＲ機能部におけるプロトコルデータユニッ
ト及びＡＴＭセルの説明図である。
ト及びＡＴＭセルの説明図である。
【図４】ＡＴＭ交換機システムの構成例を示す図であ
る。
る。
【図５】ＳＡＲ機能搭載装置として信号処理制御装置を
用いた実施形態を示す図である。
用いた実施形態を示す図である。
【図６】ＳＡＲ機能搭載装置としてリモート局装置を用
いた実施形態を示す図である。
いた実施形態を示す図である。
【図７】ＳＡＲ機能搭載装置としてデータ転送装置を用
いた実施形態を示す図である。
いた実施形態を示す図である。
１−１ ＳＡＲ機能部 １−２ 試験セル識別子付与部 １−３1 ，１−３2 ，１−３3 折返し部 １−４ セル多重部 １−５ スイッチインタフェース部 １−６ ヘッダ変換（ＨＥＣ）部 １−７ セル分離部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石橋 正章 福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号 富士通九州通信システム株式会社内 (72)発明者 岩本 映治 福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号 富士通九州通信システム株式会社内 (72)発明者 奥村 浩樹 福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号 富士通九州通信システム株式会社内 Ｆターム(参考） 5K030 JA06 KX30 MA14 MC02 5K035 GG01 GG07 GG09
Claims (8)
- 【請求項１】 ＡＴＭアダプテーションレイヤにおける
送受データ及びＡＴＭセルに対してセグメンテーション
及びリアセンブルを行う機能（以下、ＳＡＲ機能とい
う。）を有するＳＡＲ機能搭載装置を具備するＡＴＭ装
置において、 前記ＳＡＲ機能搭載装置は、特定のヘッダ値を付したセ
ルを、導通試験用セルとして生成し、導通試験経路へ送
出し、 前記ＳＡＲ機能搭載装置から生成送出された前記導通試
験用セルを、導通試験経路を含むＡＴＭセル転送経路内
の任意の折返しポイントに備えられた導通試験用セル折
返し手段により折返し、 前記ＳＡＲ機能搭載装置は、前記折返された導通試験用
セルを受信し、該受信した導通試験用セルと前記生成送
出した導通試験用セルとのマッチングを行い、 セル導通路の正常性確認を行うことを特徴とするＡＴＭ
装置における導通試験方法。 - 【請求項２】 ＡＴＭアダプテーションレイヤにおける
ＳＡＲ機能搭載装置を具備するＡＴＭ装置において、 前記ＳＡＲ機能搭載装置は、特定のヘッダ値を付したセ
ルを、導通試験用セルとして生成し、導通試験経路へ送
出する手段と、 前記ＳＡＲ機能搭載装置から生成送出され、導通試験経
路を含むＡＴＭセル転送経路内の任意の折返しポイント
に備えられた導通試験用セル折返し手段により折返され
た前記導通試験用セルを受信し、該受信した導通試験用
セルと前記生成送出した導通試験用セルとのマッチング
を行う手段と、 を備えたことを特徴とするＡＴＭ装置。 - 【請求項３】 前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交換機におけ
る局間信号又は局内信号の処理制御を行い、ＳＡＲ機能
部を有する信号処理制御装置であって、該信号処理制御
装置は、上位制御装置からの指示により該ＳＡＲ機能部
から送出される局間信号又は局内信号のＡＴＭセルの間
に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段を備え
たことを特徴とする請求項２に記載のＡＴＭ装置。 - 【請求項４】 前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交換機におけ
るホスト局の局内信号処理制御装置からの信号を終端
し、ＳＡＲ機能部を有するリモート局装置であって、該
リモート局装置は、上位制御装置からの指示により該Ｓ
ＡＲ機能部から送出される局内信号のＡＴＭセルの間
に、前記導通試験用セルを混入して送出する手段を備え
たことを特徴とする請求項２に記載のＡＴＭ装置。 - 【請求項５】 前記ＡＴＭ装置は、ＡＴＭ交換機におけ
る送受データのデータフォーマットを変換し、ＳＡＲ機
能部を有するデータ変換装置であって、該データ変換装
置は、上位制御装置からの指示により、該ＳＡＲ機能部
から送出される送受データのＡＴＭセルの間に、前記導
通試験用セルを混入して送出する手段を備えたことを特
徴とする請求項２に記載のＡＴＭ装置。 - 【請求項６】 前記ＡＴＭ装置は、前記ＳＡＲ機能部か
ら送出されたＡＴＭセルを装置内スイッチング用セルに
変換するセル変換手段を備え、 前記セル変換手段は、前記ＳＡＲ機能部から送出された
ＡＴＭセルヘッダ値からマッチングにより導通試験用セ
ルを識別し、該導通試験用セルに対して装置内スイッチ
ング用セルのヘッダ内特定領域に試験用セル識別ビット
を付与し、 前記導通試験用セル折返し手段は、通過する装置内スイ
ッチング用セルのヘッダ内特定領域の値からマッチング
により導通試験用セルを識別し、導通試験用セルのみを
前記ＳＡＲ機能部に折返す構成を有することを特徴とす
る請求項２乃至５の何れかに記載のＡＴＭ装置。 - 【請求項７】 前記ＡＴＭ装置は、ＳＡＲ機能部を複数
搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送路へ送出す
るＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路から各ＳＡＲ
機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能部対応に分
離する多重／分離装置であって、 該多重／分離装置は、上位制御装置からの指示により複
数のＳＡＲ機能部から導通試験用セルを同時に送出さ
せ、多重部において各ＳＡＲ機能部毎に異なるヘッダ値
を導通試験用セルに割振って送出する手段と、前記導通
試験用セル折返し手段により折返された導通試験用セル
を、前記ヘッダ値に基づいて各ＳＡＲ機能部毎に分配す
る手段と、 を備えたことを特徴とする請求項２に記載のＡＴＭ装
置。 - 【請求項８】 前記ＡＴＭ装置は、ＳＡＲ機能部を複数
搭載し、各ＳＡＲ機能部からＡＴＭセル転送路へ送出す
るＡＴＭセルを多重し、ＡＴＭセル転送路から各ＳＡＲ
機能部へ送出するＡＴＭセルを各ＳＡＲ機能部対応に分
離する多重／分離装置であって、 該多重／分離装置は、上位制御装置からの指示により複
数のＳＡＲ機能部から導通試験用セルを同時に送出さ
せ、多重部において各ＳＡＲ機能部毎に異なる識別値を
ＡＴＭセルのペイロード部に割振り、導通試験用セルを
表す識別値をＡＴＭセルのヘッダ部に割り振って送出す
る手段と、 前記導通試験用セル折返し手段により折返された導通試
験用セルを、前記ペイロード部の識別値に基づいて各Ｓ
ＡＲ機能部毎に分配する手段と、 を備えたことを特徴とする請求項２に記載のＡＴＭ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000048995A JP2001237854A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | Ａｔｍ装置及びその導通試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000048995A JP2001237854A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | Ａｔｍ装置及びその導通試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001237854A true JP2001237854A (ja) | 2001-08-31 |
Family
ID=18570989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000048995A Withdrawn JP2001237854A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | Ａｔｍ装置及びその導通試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001237854A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010098520A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導通確認方法、導通確認プログラム、通信装置および導通確認システム |
| JP2013150342A (ja) * | 2013-03-13 | 2013-08-01 | Hitachi Ltd | 接続性確認方法、通信システム及び通信装置 |
-
2000
- 2000-02-25 JP JP2000048995A patent/JP2001237854A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010098520A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導通確認方法、導通確認プログラム、通信装置および導通確認システム |
| JP2013150342A (ja) * | 2013-03-13 | 2013-08-01 | Hitachi Ltd | 接続性確認方法、通信システム及び通信装置 |
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