JP2001237216A - プラズマ発生方法とその装置 - Google Patents

プラズマ発生方法とその装置

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JP2001237216A
JP2001237216A JP2000042713A JP2000042713A JP2001237216A JP 2001237216 A JP2001237216 A JP 2001237216A JP 2000042713 A JP2000042713 A JP 2000042713A JP 2000042713 A JP2000042713 A JP 2000042713A JP 2001237216 A JP2001237216 A JP 2001237216A
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plasma
plasma generating
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etching
substrate
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Takaharu Yamada
敬治 山田
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Sanyo Shinku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、半導体素子等の製造工程における
エッチングやスパッタ蒸着による成膜等の処理に用いる
のに適したプラズマ発生方法とその装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】 エッチング等の真空チャンバに設けられ
たプラズマ発生電極に、電源回路より電圧を印加してプ
ラズマ発生電極にプラズマを発生させるプラズマ発生方
法において、プラズマ発生電極の近傍にプラズマを発生
する際、少なくとも一対のプラズマ発生電極間で電子を
移動すべく電位をフローティングしてプラズマを発生さ
せる点にある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子等の製
造工程におけるエッチングやスパッタ蒸着による成膜等
の処理に用いるのに適したプラズマ発生方法とその装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体のガラス等の基板の表面に微細な
パターンを高精度にエッチングする方法として、従来、
ドライエッチングが広く知られている。このようなドラ
イエッチングに用いられるプラズマ発生装置としては、
石英管よりなる放電部内にガスを供給しマイクロ波電源
を接続して、放電部内のガスを2.45GHzのマイク
ロ波で励起してプラズマ化する。そして、放電部内に発
生したプラズマをエッチング室に導き、試料台上に置か
れた試料にプラズマ活性種を供給するように構成されて
いる。
【0003】係る装置は、反応空間(チャンバ内)にプ
ラズマを導入することにより気体を活性化して、薄膜を
成膜するものである。
【0004】ところが、これらのプラズマを用いた装置
は、近年の基板の大型化、即ち大面積化の要求に対し
て、処理能力に限界があり、生産性の向上という点で問
題があった。
【0005】そこで、これを解決する手段として、特開
平11−92942号公報に記載の装置が考えられた。
この装置は、図7(イ)に示すように、チャンバ内に設
けられた長尺状のプラズマ発生電極30にそれぞれ電源
回路31を連結して構成されている。この電源回路31
は、マッチングボックス32を介して連結されたRF電
源と、DC電源およびそれぞれの電源の位相を制御する
位相シフタ(図示せず)とからなる。
【0006】そして、位相シフタにより位相を制御しな
がらマッチングボックス33を介してRF電源よりの電
力を供給することで、その通電時に基板との間で放電を
起こし、これに伴って各プラズマ発生電極30の近傍に
高密度のプラズマないしラジカルイオンを多量に発生さ
せ、これらのプラズマないしラジカルイオンによって基
板表面をエッチング、スパッタ等するものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のプラズマ発生電極では、電流分布がプラズマ発生電
極の近傍部分と先端部分に集中するために、プラズマ発
生電極の両端側と中央部分とでは、プラズマ密度にバラ
ツキが生じる。即ち、例えば、プラズマ発生電極の中央
部分を基準としてエッチングを行うと、同図(イ),
(ロ)に示すように、プラズマ発生電極の中央部分
(B)では、適切なエッチングが行われているものの、
プラズマ発生電極の近傍部分(A)と先端部分(C)で
はプラズマ密度が高いために、オーバーエッチッグされ
た状態となり、基板に対してエッチング速度分布にムラ
が生じる。特に、近年需要の高い大型基板に対しては、
このエッチング速度分布のムラが致命的な欠点となる。
【0008】そこで、プラズマ発生電極をチャンバ内で
上下動するための駆動源をチャンバに設けることで、プ
ラズマ密度の均一化を試みた。しかしながら、駆動源を
取り付けることは装置の大型化を招き、またプラズマ発
生電極個々に電源回路を設けて位相を制御することは配
線の複雑化等大きな問題点があった。
【0009】そこで、本発明は、装置の大型化等をまね
くことなくエッチング速度分布のムラのない緻密で精度
の良い膜を成膜するのに適し、特に大型の基板に対して
対応することのできるプラズマ発生方法とその装置を提
供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明は上記課題
を解決すべくなされたものであり、請求項1に係る発
は、エッチング等の真空チャンバに設けられたプラズマ
発生電極に、電源回路より電圧を印加してプラズマ発生
電極の近傍にプラズマを発生させるプラズマ発生方法に
おいて、プラズマ発生電極の近傍にプラズマを発生する
際、少なくとも一対のプラズマ発生電極間で電子を移動
すべく電位をフローティングした状態としてプラズマを
発生させる点にある。
【0011】また、請求項2に係る発明は、エッチング
等の真空チャンバに設けられたプラズマ発生電極と、プ
ラズマ発生電極の近傍にプラズマを発生させるべくプラ
ズマ発生電極に電圧を印加する電源回路とからなるプラ
ズマ発生装置において、電源回路が少なくとも一対のプ
ラズマ発生電極に連結され、且つ自励式直列共振回路で
構成された点にある。
【0012】更に、請求項3に係る発明は、プラズマ発
生電極がチャンバ内に複数設けられ、それぞれ隣設する
1対のプラズマ発生電極に自励式直列共振回路が連結さ
れた点にある。
【0013】
【作用】即ち、本発明は、エッチング等の真空チャンバ
に設けられた少なくとも一対のプラズマ発生電極に連結
された自励式直列共振回路より、プラズマ発生電極の電
位をフローティングした状態としてプラズマを発生させ
て、プラズマ発生電極間で電子を移動することにより、
プラズマ発生電極の近傍に均一なプラズマを発生させる
ことができる。このため、大型の基板に対してもエッチ
ング速度分布がムラなく均一となり、しいては緻密で精
度の良い膜を成膜することができる。
【0014】更に、真空チャンバ内にプラズマ発生電極
を複数設け、それぞれ隣設する1対のプラズマ発生電極
に自励式直列共振回路を連結するだけで、プラズマ発生
電極の近傍に高密度で、均一なプラズマを発生させるこ
とが出来るプラズマ発生装置を簡易に構成することがで
きる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面に沿って説明する。図1は本発明のプラズマ発生装置
を示す概略構成図である。この図において、一対の隣設
(実験例約20〜30cm)した長尺状(実験例1.5
〜2.0m)のプラズマ電極1,1が真空チャンバー2
内に吊り下げられた状態で設けられている。
【0016】このプラズマ電極1,1には、自励式直列
共振回路3(つまり、周波数を自動的に変動(実験例2
00〜400KHZ)する)が連結されている。これに
より、電位をフローティング(浮遊状態)にし、プラズ
マ電極1,1間で均一の電子の移動を起こすことができ
るので、プラズマ電極1近傍に均一のプラズマを発生す
ることが可能となる。このため、基板に対するエッチン
グ速度分布をムラなく均一に成膜することが可能とな
る。また、プラズマ電極1,1には、自励式直列共振回
路3が連結されているだけなので、RF電源、DC電源
を重畳する場合のように、位相を制御するような複雑な
構成を必要しない。
【0017】また、プラズマ電極1.1は実施例では一
対に自励式直列共振回路3を接続したが、本発明におい
ては、この実施例に限定されるものでなく、例えば、3
本のプラズマ電極1.1.1に自励式直列共振回路3を
接続して、3本のプラズマ電極1.1.1間の電位をフ
ローティングして3本のプラズマ電極1.1.1間で電
子の移動を起こすことも可能である。
【0018】プラズマ電極1は、例えば、図2に示すよ
うに、プラズマ発生電極1を、金属棒5の外周に、非磁
性体6によって被覆された円形又は多角形リング状の複
数の永久磁石7を嵌合させるとともに、その嵌合した永
久磁石7、7どうしが相互に反発状態で一定の間隔を開
けて保持されるように、各永久磁石7、7間に金属スペ
ーサ(もしくは磁性体スペーサ)8を配設して構成する
ことができる。上記プラズマ発生電極の構成は、この構
成に限定されるものでなく、長尺状の構成なら特に問う
ものでない。
【0019】上記プラズマ発生装置を、実施例として、
図3(概略平面図)及び図4(概略側面図)に示すよう
なドライエッチング装置10に用いる場合について説明
する。
【0020】このドライエッチング装置10は、プレー
ト12上に容器13を設けてなる略円筒形の真空チャン
バ2を有する。この真空チャンバ2は、プレート12に
形成された排気口(図示せず)を介して外部の真空ポン
プ(図示せず)と接続されている。真空チャンバ2内に
は、回転テーブル15が備えら、該回転テーブル15
は、その周縁部下面側がローラ16によって受けられて
プレート12上に支持されているとともに、その周面に
形成されている歯15aがプレート12に取り付けられ
た回転テーブル駆動用モーター17の歯車17aと噛み
合わされており、同モーター17によって駆動されるこ
とにより、プレート12上の中心軸18の回りに所望の
速度で回転されるようになっている。
【0021】回転テーブル15上には、その周縁部とそ
こから中心部の方向に所定量だけ寄った部位とに、それ
ぞれ同心円状に複数の基板ホルダ19が配置され、これ
らの各基板ホルダ19はそれぞれ絶縁体(図示せず)を
介して回転テーブル15上に立設されており、各ホルダ
両面に複数のガラス基板aが取り付けられるようになっ
ている。そして、各基板ホルダ19には、真空チャンバ
2外に備えられた電源22が接続されている。
【0022】回転テーブル15の下面側には、電線23
を介して各基板ホルダ19に電気的に接続されたテーブ
ル端子24が設けられ、プレート12の上面には、電線
25を介してマッチングボックス20に接続されたプレ
ート端子26に摺接しながら中心軸28の回りを回転
し、その状態で外部の電源22から各基板ホルダ19に
所定の電力が印加されることにより、各基板ホルダ19
の負の電界、つまり周囲の空間に各基板ホルダ19に向
かう電界を生じさせうるようになっている。
【0023】また、真空チャンバ2には、その内部の相
対的に内側(中心側)に位置する各基板ホルダ19と外
周側に位置する各基板ホルダ19の各回転軌跡に沿っ
て、それぞれその内側及び外側に同心円状に一対づつの
上記プラズマ発生電極1.1が複数設けられ、各プラズ
マ発生電極1.1の間にガス導入管30が等間隔で配置
されている。
【0024】これらのプラズマ発生電極1.1及びガス
導入管30は、いずれも容器13の天井部を介して真空
チャンバ2外から内部に挿入され、各基板ホルダ19の
両面に取り付けられた基板aに対向するように設けられ
ている。ただし、基板aの出し入れ作業を行う必要上、
真空チャンバ2の周壁に設けられた出入口2aに対応す
る部分には、プラズマ発生電極1及びガス導入管30が
配置されていない。
【0025】ガス導入管30は、真空チャンバ2内に位
置する管壁部分に多数の吐出口を設けた構成で、その一
端側が真空チャンバ2外のガス供給源(図示せず)に接
続されているとともに、その途中部分に、マイクロ波を
当該ガス導入管30内に導入するマドネトロンおよび導
波管等からなるマイクロ波導入装置が接続されている。
そして、上記ガス供給源から供給される例えばCl2
2 及びAr等の処理ガスが真空チャンバ2外で予めマ
イクロ波導入装置からマイクロ波によりプラズマ化ない
し活性化(ラジカル化)された上でガス導入管30を通
じて真空チャンバ2内に供給され、そのガス導入管30
の吐出口から周辺のプラズマ発生電極1の近傍に吐出さ
れるようになっている。
【0026】次に、このドライエッチング装置によって
液晶基板等の基板の表面をエッチングする場合について
説明する。
【0027】先ず、真空チャンバ2内の基板ホルダ19
の表裏両面に基板aを所定の状態にセットする。次に、
真空チャンバ2の出入口の扉を閉鎖して同チャンバ2を
密閉した後、同チャンバ2内を所定の真空状態にし、そ
の状態で、モータにより回転テーブル16を回転駆動し
て、同テーブル16上の各基板ホルダ9およびそれらに
セットされた各基板aを中心軸の回りに一体的に回転さ
せる。
【0028】次に、この状態で電源22から各基板ホル
ダ9に電力を供給して負の電界を印加するとともに、各
プラズマ発生1.1に自励式直列共振回路3を介して電
力を供給する。この際、回路が自励式であるために、周
波数が自動的に変動(実験例200〜400KHZ)す
る(プラズマの共振周波数により決定される。)ことと
なる。また、これと同時に、真空チャンバ2外からその
内部にガス供給管30を通じて、例えばCl2 、O2
びAr等の処理ガスを供給するが、その際、ガス導入管
30の途中にマイクロ波導入装置からマイクロ波を導入
して、処理ガスの一部を予めプラズマ化ないしイオン化
(ラジカル化)しておく。
【0029】このようにすることで、図5(イ)に示す
ように、各プラズマ発生電極1.1の近傍にガス導入管
30を通じて予め一部がプラズマ化ないしイオン化され
た処理ガスが供給されるだけでなく、一対のプラズマ発
生電極1.1間で電位がフローティング(浮遊状態)と
なり、プラズマ発生電極1.1間で均一な放電が行われ
るとともに、基板ホルダ9との間に生じる放電により更
に多量のプラズマが同電極1.1の近傍に均一に発生す
る。そして、そのうち、正電荷を帯びた粒子が、基板ホ
ルダ9に印加されている負の電界により同ホルダ9側に
加速されて、同ホルダ9に保持されている基板aの各面
に均一な状態で衝突することにより、それらの基板aの
表面が同図(イ),(ロ)に示すように、均一にエッチ
ングされることとなる。
【0030】また、この時、プラズマ化ないしイオン化
によりラジカル状態となった処理ガス(塩素ラジカルC
* や酸素ラジカルO* )は、基板aの表面に存在する
分子ないし原子と化学反応を起こすから、これによって
化学的なエッチングが促進される。しかも、この場合、
自励式直列共振回路3に連結された各一つのプラズマ発
生電極1.1が基盤aの回転軌跡に沿ってその両側に配
置された状態であるため、各基板aに対する物理的およ
び化学的なエッチング速度分布が均一となり、基板aに
対するエッチング速度分布をムラなく均一に精度の高い
成膜することができる。また、装置の大型化を招くこと
なく、大型の基板にグレードの高かいエッチングを行う
ことができるとともに、一度に多量にエッチング処理す
ることが可能となる。
【0031】上記実施例では、円筒形のチャンバ2に設
けられたドライエッチング装置(いわゆるカルーセル型
ドライエッチング装置)について説明したものである
が、例えば、図6に示すように直線型、いわゆるインラ
イン型のドライエッチング装置に適用することも可能で
ある。
【0032】即ち、インライン型のドライエッチング装
置51によると、搬入室53で基板ホルダ52に基板b
をセットした後、これを搬送コンベアによってエッチン
グ室54に送って両側のプラズマ発生電極58間を通過
させつつエッチングし、更にアッシング室55に送って
同室55でアッシングを行うことができるから、エッチ
ングからアッシングまでの工程を連続的に行うことがで
きる。
【0033】
【発明の効果】このように、本発明によるプラズマ発生
装置は、プラズマ発生電極の近傍で、高密度で、均一な
プラズマを発生させることで、エッチング速度分布にム
ラを生じさせることなく、均一で精度の良い膜を成膜す
ることができる。このため、大型の基板に対して特に分
布密度の良い膜を成膜することができるという顕著な効
果がある。
【0034】さらに、従来の電極回路(他励式…投入電
力が大きくなり位相の制御が必要になる)に比し、自励
式の直列共振回路であるために、位相の制御等がいらな
いために、多数のプラズマ発生電極を設けた場合、特に
その装置の構成が簡易となり、コストの低減等を図るこ
とが可能となる。
【0035】また、上記構成により、連続的に精度の良
い膜を成膜することができるために大量生産に適すると
いう効果を奏するに至った。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明のプラズマ発生装置の一実施例を示
す概略側面図。
【図2】は、プラズマ発生電極を示す拡大概略構成図。
【図3】は、プラズマ発生装置を設けたエッチング装置
を示す概略側面図。
【図4】は、図3のエッチング装置の概略平面図。
【図5】は、プラズマ発生電極間のプラズマ発生状況を
示す概略説明図、(ロ)はエッチングによる被膜状態を
示す概略説明図、(ハ)はその被膜状態の断面図。
【図6】は、プラズマ発生装置を設けた他実施例を示す
概略平面図。
【図7】は、従来のプラズマ発生電極間のプラズマ発生
状況を示す概略説明図、(ロ)はエッチングによる被膜
状態を示す概略説明図、(ハ)はその被膜状態の断面
図。
【符号の説明】
1…プラズマ発生電極 2…チャンバ 3…自励式直列共振回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エッチング等の真空チャンバに設けられ
    たプラズマ発生電極に、電源回路より電圧を印加してプ
    ラズマ発生電極の近傍にプラズマを発生させるプラズマ
    発生方法において、プラズマ発生電極の近傍にプラズマ
    を発生する際、少なくとも一対のプラズマ発生電極間で
    電子を移動すべく電位をフローティングしてプラズマを
    発生させることを特徴とするプラズマ発生方法。
  2. 【請求項2】 エッチング等の真空チャンバに設けられ
    たプラズマ発生電極と、プラズマ発生電極の近傍にプラ
    ズマを発生させるべくプラズマ発生電極に電圧を印加す
    る電源回路とからなるプラズマ発生装置において、電源
    回路が少なくとも一対のプラズマ発生電極に連結され、
    且つ自励式直列共振回路で構成されてなることを特徴と
    するプラズマ発生装置。
  3. 【請求項3】 プラズマ発生電極がチャンバ内に複数設
    けられ、それぞれ隣設する1対のプラズマ発生電極に自
    励式直列共振回路が連結されている請求項2記載のプラ
    ズマ発生装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2015132830A1 (ja) * 2014-03-04 2015-09-11 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置及び真空処理方法

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