JP2001230518A - Method for forming hole by using carbon dioxide gas laser and its post-treatment method - Google Patents

Method for forming hole by using carbon dioxide gas laser and its post-treatment method

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JP2001230518A
JP2001230518A JP2000038364A JP2000038364A JP2001230518A JP 2001230518 A JP2001230518 A JP 2001230518A JP 2000038364 A JP2000038364 A JP 2000038364A JP 2000038364 A JP2000038364 A JP 2000038364A JP 2001230518 A JP2001230518 A JP 2001230518A
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JP
Japan
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copper foil
hole
copper
carbon dioxide
film
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JP2000038364A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuyuki Ikeguchi
信之 池口
Sadahiro Kato
禎啓 加藤
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Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Original Assignee
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a hole for preventing contamination of a copper foil surface of a copper clad plate, when a hole is to be formed by using carbon dioxide gas laser. SOLUTION: After an etching film or liquid state etching resist is arranged on the surface of the copper clad plate, and only the portion of a target mark is developed, the surface copper foil is etched and eliminated. The target mark in this portion is read with a CCD camera, and the film or the resist is irradiated directly with a high output carbon oxide gas laser, preferably selected from 10-60 mJ, thereby working and removing an outer layer copper foil and an inner layer copper foil, and forming a through-hole and/or a blind via hole. Thus, the through-hole and/or the blind via hole can be formed directly using the carbon dioxide gas laser, in such a manner that the surface layer copper foil is not contaminated. A high density printed wiring board can be obtained, using the copper clad plate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、銅張積層板への新
規な炭酸ガスレーザーによる貫通孔及び/又はブライン
ドビア孔の形成方法に関する。この方法により形成され
た孔を有する銅張板を用いたプリント配線板は、小径の
孔を有し、細密なパターンを有する高密度の小型プリン
ト配線板として、新規な半導体プラスチックパッケージ
用等への使用に適している。
The present invention relates to a method for forming a through hole and / or a blind via hole in a copper-clad laminate using a novel carbon dioxide laser. A printed wiring board using a copper-clad board having holes formed by this method can be used as a high-density small printed wiring board having small-diameter holes and a fine pattern, for use in a new semiconductor plastic package or the like. Suitable for use.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体プラスチックパッケージ等
に用いられる高密度のプリント配線板では、貫通孔はメ
カニカルドリルであけていた。近年、ますますドリルの
径は小径となり、孔径が0.15mmφ以下となってきてお
り、このような小径の孔をあける場合、ドリル径が細い
ため、孔あけ時にドリルが曲がる、折れる、加工速度が
遅い等の欠点があり、生産性、信頼性等に問題のあるも
のであった。ブラインドビア孔は、事前に孔あけする位
置の銅箔をエッチング除去してから、低エネルギーの炭
酸ガスレーザーで孔を形成していた。また、ターゲット
マークは、エッチングするときに同時に形成していた。
この方法だと、ブラインドビア孔だけしか形成できず、
貫通孔はメカニカルドリリング等で別にあけるため、工
程数が多く、作業効率が悪かった。貫通孔の形成方法と
しては、表裏の銅箔にあらかじめネガフィルムを使用し
て所定の方法で同じ大きさの孔をあけておき、更には内
層の銅箔にも同様の孔を予めエッチングで形成したもの
を配置しておき、炭酸ガスレーザーで表裏を貫通する孔
を形成する方法がある。しかしこの方法では内層銅箔の
位置ズレ、上下の孔とランドとの間に隙間を生じ、接続
不良及び裏面のランドが形成できない等の欠点があっ
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a high-density printed wiring board used for a semiconductor plastic package or the like, a through hole is formed by a mechanical drill. In recent years, the diameter of drills has become smaller and smaller, and the hole diameter has been reduced to 0.15 mmφ or less.When drilling such small holes, the drill diameter is small, so the drill bends, breaks, and the processing speed when drilling. It has disadvantages such as slowness, and has problems in productivity, reliability, and the like. The blind via hole has been formed by etching the copper foil at the position where the hole is to be drilled in advance and then using a low-energy carbon dioxide laser. Further, the target mark was formed at the same time as the etching.
With this method, only blind via holes can be formed,
Since the through holes are separately formed by mechanical drilling or the like, the number of steps is large, and work efficiency is poor. As for the method of forming through holes, holes of the same size are made in advance by using a negative film on the front and back copper foils using a negative film, and similar holes are formed in the inner layer copper foil by etching in advance. There is a method of arranging the holes and forming a hole penetrating the front and back with a carbon dioxide gas laser. However, this method has drawbacks such as misalignment of the inner layer copper foil, a gap between the upper and lower holes and the land, poor connection and inability to form a land on the back surface.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の問題
点を解決した銅張板への孔形成方法提供することを目的
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for forming a hole in a copper clad board which has solved the above-mentioned problems.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、炭酸ガスレー
ザーによる銅張板への貫通孔及び/又はブラインドビア
孔の形成方法において、炭酸ガスレーザーの直接照射に
より銅箔への孔あけが可能な銅箔表面処理を施した銅張
板の表面に、エッチングフィルム又は液状エッチングソ
ルダーレジスト層を形成し、ターゲットマークの箇所を
溶解除去した後除去箇所の表層銅箔をエッチング除去
し、他の部分のフィルム又はレジストはそのままにし
て、このターゲットマークをCCDカメラで読み込んで位
置を確認しながら、フィルム又はレジストの上から直接
銅箔を加工するに十分なエネルギーの炭酸ガスレーザー
ビームを照射して、貫通孔及び/又はブラインドビア孔
を形成する方法である。銅箔表面処理は、特に限定はな
く、炭酸ガスレーザーを照射して孔加工できるものであ
れば良い。好適には、ニッケル処理、ニッケル合金処
理、酸化金属処理、薬液処理等が使用できる。孔あけ
後、表面のフィルム又はレジストを除去し、孔周辺に発
生した銅箔バリを薬液でエッチング除去する。同時に表
層銅箔を厚さ方向に一部エッチング除去する。除去後、
これを銅メッキでメッキアップして得られる両面銅張板
を用い、表裏に回路形成を行い、定法にてプリント配線
板とする。表裏の回路を細密にするためには、表裏層の
銅箔の厚さを2〜7μm、好適には3〜5μmとすること
が好ましく、この場合にはショートやパターン切れ等の
不良の発生もなく、高密度のプリント配線板を作成する
ことができる。更には、加工速度はドリルであける場合
に比べて格段に速く、生産性も良好で、経済性にも優れ
ているものが得られた。銅箔の厚みが最初から3〜5μ
mの薄いものの場合、炭酸ガスレーザーで孔あけ後にエ
ッチングフィルム又は液状エッチングソルダーレジスト
を孔あけ後にそのままにして、酸性のエッチング液で銅
箔バリを除去後にアルカリ性の薬液でフィルム又はレジ
ストを溶解除去する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a method for forming a through hole and / or a blind via hole in a copper clad plate by a carbon dioxide gas laser. An etching film or a liquid etching solder resist layer is formed on the surface of a copper-clad board that has been subjected to a simple copper foil surface treatment. While leaving the film or resist as it is, reading this target mark with a CCD camera and confirming the position, irradiate a carbon dioxide laser beam with enough energy to process the copper foil directly from above the film or resist, This is a method of forming through holes and / or blind via holes. The copper foil surface treatment is not particularly limited as long as it can be drilled by irradiating a carbon dioxide laser. Preferably, nickel treatment, nickel alloy treatment, metal oxide treatment, chemical solution treatment and the like can be used. After drilling, the film or resist on the surface is removed, and the copper foil burr generated around the hole is removed by etching with a chemical solution. At the same time, the surface copper foil is partially etched away in the thickness direction. After removal,
Using a double-sided copper-clad board obtained by plating this with copper plating, circuits are formed on the front and back sides, and a printed wiring board is formed by a standard method. In order to make the circuit on the front and back fine, the thickness of the copper foil on the front and back layers is preferably 2 to 7 μm, preferably 3 to 5 μm. Therefore, a high-density printed wiring board can be produced. Furthermore, the processing speed was remarkably faster than that obtained by drilling, and a product having good productivity and excellent economic efficiency was obtained. The thickness of the copper foil is 3-5μ from the beginning
In the case of a thin film having a thickness of m, the etching film or the liquid etching solder resist is left as it is after drilling with a carbon dioxide gas laser, and the film or resist is dissolved and removed with an alkaline chemical after removing the copper foil burr with an acidic etching solution. .

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】本発明は、炭酸ガスレーザーによ
る銅箔への直接孔あけ加工において、銅箔表面に、銅
箔、ガラス繊維、樹脂などの加工物が落下することによ
る汚染がない銅張板の孔あけ方法に関する。まず炭酸ガ
スレーザーを直接照射することにより孔を形成すること
が可能な銅箔表面処理を施した銅箔を使用して得られる
銅張板又は多層板の表面にエッチングフィルム又は液状
エッチングソルダーレジストを付着させる。ターゲット
マーク部のフィルム又はレジストを現像除去した後、少
なくともこのターゲットマークの部分の銅箔をエッチン
グ除去する。もちろん、その他の部分がエッチング除去
されていても差し支えない。次いで、CCDカメラによる
ターゲットマーク読み込みにより定めた位置に、銅箔を
加工するに十分なエネルギーの炭酸ガスレーザーを照射
してフィルム又はレジスト上から銅張板に貫通孔及び/
又はブラインドビア孔をあける。その後、フィルム又は
レジストを除去し、薬液にて孔部に発生した銅箔バリを
溶解除去するとともに、表裏層の銅箔を厚さ方向に一部
をエッチング除去する。その後、一般に公知の方法でプ
リント配線板とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention is directed to a method of forming a hole in a copper foil directly by a carbon dioxide gas laser, which is free from contamination caused by a workpiece such as a copper foil, a glass fiber or a resin falling on the surface of the copper foil. The present invention relates to a method for drilling a veneer. First, an etching film or a liquid etching solder resist is applied to the surface of a copper-clad or multilayer board obtained by using a copper foil subjected to a copper foil surface treatment capable of forming a hole by directly irradiating a carbon dioxide gas laser. Attach. After the film or the resist at the target mark portion is developed and removed, at least the copper foil at the target mark portion is removed by etching. Of course, other portions may be removed by etching. Then, the position determined by reading the target mark by the CCD camera is irradiated with a carbon dioxide laser having sufficient energy to process the copper foil, and a through hole and / or
Or make a blind via hole. After that, the film or the resist is removed, the copper foil burrs generated in the holes are dissolved and removed with a chemical solution, and the copper foil of the front and back layers is partially removed in the thickness direction. Thereafter, a printed wiring board is formed by a generally known method.

【0006】ターゲットマーク(アラインメントマー
ク)とは、CCDカメラで読取ることが可能な大きさの、
好適には円形状のマークを言う。このマークを最初に読
み込んで自動的に寸法補正を行うようにプログラミング
した機能で寸法補正を行い、所定の位置にレーザーで孔
あけを行う。その結果、孔あけの位置が設計した位置に
あくように自動的に寸法補正され、ズレを生じることな
く、不良の発生がなくなる。孔形状は特に限定しない
が、円形が好ましい。具体的には、ドリルで孔あけして
この孔をターゲットマークとする方法、エッチングで円
形に銅箔を残す方法、銅箔を円形にエッチング除去して
樹脂面を露出してこれをターゲットマークとする方法
等、一般に公知の方法が採用できる。両面銅張板の場合
には、外層に形成する。多層板の場合には、一般に内層
板に形成し、多層成形時の内層板寸法収縮があっても、
CCDカメラでの読み込みで寸法補正が設計時に比べて自
動的に行えるようにする。形成位置は、基板の少なくと
も2隅以上、好適には3隅以上に作成する。
[0006] A target mark (alignment mark) has a size readable by a CCD camera.
Preferably, it refers to a circular mark. This mark is read first, the dimension is corrected by a function programmed to automatically perform the dimension correction, and a hole is formed in a predetermined position by a laser. As a result, the dimension is automatically corrected so that the position of the hole is located at the designed position, no deviation occurs, and the occurrence of defects is eliminated. The shape of the hole is not particularly limited, but is preferably circular. Specifically, a method of drilling a hole to make this hole a target mark, a method of leaving a copper foil in a circular shape by etching, a method of exposing a resin surface by etching a copper foil in a circular shape and forming this as a target mark A generally known method such as a method for performing the method can be employed. In the case of a double-sided copper clad board, it is formed on the outer layer. In the case of a multilayer board, it is generally formed on an inner layer board, and even if there is shrinkage of the inner layer plate during multilayer molding,
Dimension correction can be automatically performed by reading with a CCD camera compared to the design. The formation position is formed at least at two corners, preferably at least three corners of the substrate.

【0007】エッチングフィルムとは、銅箔をエッチン
グするときに使用する樹脂フィルムであり、一般には、
紫外線で反応するアクリレート基とカルボキシル基(−
COOH)を分子内に有する樹脂を配合して作成される。こ
のフィルムを銅張板の表面に加熱、ラミネートして接着
させ、このフィルムの上に、銅箔を残す箇所が光を透過
するように作図したネガフィルムを配置し、この上から
紫外線を照射して、その後、アルカリ性の現像液(一般
には1重量%炭酸ナトリウム水溶液)を吹き付け、光が
照射されなかった箇所を溶解除去し、銅箔をエッチング
除去する。炭酸ガスレーザーで孔あけ後にエッチングフ
ィルムをアルカリ性薬液(水酸化ナトリウム水溶液)で
溶解除去する。もちろん、その他の官能基を含むエッチ
ングフィルム等、一般に公知のものが使用可能である。
[0007] The etching film is a resin film used when etching a copper foil.
Acrylate groups and carboxyl groups (-
(COOH) in the molecule. This film is heated, laminated and adhered to the surface of the copper-clad board, and a negative film is placed on this film so that the part where the copper foil is left transmits light, and ultraviolet light is irradiated from above. Thereafter, an alkaline developing solution (generally, a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate) is sprayed to dissolve and remove the portions not irradiated with light, and the copper foil is etched and removed. After piercing with a carbon dioxide laser, the etching film is dissolved and removed with an alkaline chemical (aqueous sodium hydroxide solution). Of course, generally known films such as an etching film containing other functional groups can be used.

【0008】液状エッチングソルダーレジストとは、樹
脂はエッチングフィルムと同様に、分子内にアクリレー
ト基及びカルボキシル基を含む樹脂を他の液状の化合物
等に配合して液状とした、銅箔をエッチングするときに
使用する組成物である。これを銅張板の上に塗布し、ネ
ガフィルムを通して紫外線を照射し、紫外線が照射され
なかった箇所をアルカリ性現像液で溶解除去し、その
後、銅箔をエッチング除去する。もちろんこの形態以外
の一般に公知の液状エッチングソルダーレジストも使用
できる。
[0008] A liquid etching solder resist is used for etching a copper foil, which is made by mixing a resin containing an acrylate group and a carboxyl group in a molecule with another liquid compound or the like, similarly to an etching film. It is a composition used for. This is applied on a copper-clad plate, irradiated with ultraviolet rays through a negative film, and the portions not irradiated with the ultraviolet rays are dissolved and removed with an alkaline developer, and then the copper foil is removed by etching. Of course, a generally known liquid etching solder resist other than this form can also be used.

【0009】本発明において、炭酸ガスレーザーを直接
銅箔の上に照射して孔あけ可能な表面処理をする方法に
は特に限定はないが、例えば、ニッケル処理又はニッケ
ル合金処理、黒色酸化銅処理等の酸化金属処理、CZ処理
(メック社)等の薬液処理が挙げられる。ニッケル処理
は、ニッケルメッキ、ニッケル蒸着等一般に公知の方法
による処理が挙げられる。ニッケル合金処理は、ニッケ
ル−クロム、ニッケル−クロム−鉄等の一般に公知の処
理が挙げられる。処理層の厚さは特に限定しないが、一
般には1〜5μmである。表面に凹凸があってもよい
が、その後の薬液による銅箔の薄銅化を考慮すると、凹
凸はできるだけ小さい方がよい。
In the present invention, there is no particular limitation on the method of performing a surface treatment capable of drilling by irradiating a carbon dioxide gas laser directly onto a copper foil. For example, nickel treatment or nickel alloy treatment, black copper oxide treatment Metal oxide treatment and chemical liquid treatment such as CZ treatment (Mec). Nickel treatment includes treatment by a generally known method such as nickel plating and nickel vapor deposition. The nickel alloy treatment includes a generally known treatment of nickel-chromium, nickel-chromium-iron, and the like. Although the thickness of the treatment layer is not particularly limited, it is generally 1 to 5 μm. The surface may have irregularities, but considering the subsequent thinning of the copper foil by the chemical solution, the irregularities are preferably as small as possible.

【0010】本発明で使用する銅張板は、少なくとも1
層以上の銅の層が存在する銅張板、多層板であり、基材
補強されたもの、フィルム基材のもの、補強基材の無い
樹脂単独のもの等が使用可能である。しかしながら、寸
法収縮等の点からガラス布基材銅張板が好ましい。又、
高密度の回路を作成する場合、表層の銅箔は、最初から
薄いものを使用できるが、好適には、9〜12μmの厚
い銅箔を積層成形しておいて、炭酸ガスレーザーで孔加
工後、表層の銅箔をエッチング液で2〜7μm、好適には
3〜5μmまで薄くしたものを使用する。
The copper clad board used in the present invention has at least one
It is a copper-clad board or a multilayer board having more than one copper layer, and may be a board-reinforced board, a film board, or a resin alone without a reinforcing board. However, from the viewpoint of dimensional shrinkage and the like, a glass cloth-based copper-clad plate is preferred. or,
When creating a high-density circuit, a thin copper foil can be used from the beginning, but preferably, a 9-12 μm thick copper foil is laminated and formed, and then subjected to hole processing with a carbon dioxide gas laser. The copper foil of the surface layer is thinned with an etching solution to 2 to 7 μm, preferably 3 to 5 μm.

【0011】銅張板の基材としては、一般に公知の、有
機、無機の織布、不織布が使用できる。具体的には、無
機の繊維としては、E、S、D、Mガラス等の繊維等が
挙げられる。又、有機繊維としては、全芳香族ポリアミ
ド、液晶ポリエステル、ポリベンザゾールの繊維等が挙
げられる。これらは、混抄でも良い。ポリイミドフィル
ム等のフィルム類も使用可能である。
As the base material of the copper clad board, generally known organic and inorganic woven fabrics and nonwoven fabrics can be used. Specifically, examples of the inorganic fibers include fibers such as E, S, D, and M glass. Examples of the organic fibers include wholly aromatic polyamide, liquid crystal polyester, and polybenzazole. These may be mixed. Films such as a polyimide film can also be used.

【0012】本発明で使用される銅張板の熱硬化性樹脂
組成物の樹脂としては、一般に公知の熱硬化性樹脂が使
用される。具体的には、エポキシ樹脂、多官能性シアン
酸エステル樹脂、多官能性マレイミドーシアン酸エステ
ル樹脂、多官能性マレイミド樹脂、不飽和基含有ポリフ
ェニレンエーテル樹脂等が挙げられ、1種或いは2種類以
上が組み合わせて使用される。出力の高い炭酸ガスレー
ザー照射による加工でのスルーホール形状の点からは、
ガラス転移温度が150℃以上の熱硬化性樹脂組成物が好
ましく、耐湿性、耐マイグレーション性、吸湿後の電気
的特性等の点から多官能性シアン酸エステル樹脂組成物
が好適である。
As the resin of the thermosetting resin composition of the copper clad board used in the present invention, generally known thermosetting resins are used. Specifically, an epoxy resin, a polyfunctional cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide-cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide resin, an unsaturated group-containing polyphenylene ether resin, and the like, and one or more kinds Are used in combination. From the point of the through hole shape in processing by high output carbon dioxide laser irradiation,
A thermosetting resin composition having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher is preferred, and a polyfunctional cyanate resin composition is preferred from the viewpoints of moisture resistance, migration resistance, electrical properties after moisture absorption, and the like.

【0013】本発明の好適な熱硬化性樹脂分である多官
能性シアン酸エステル化合物とは、分子内に2個以上の
シアナト基を有する化合物である。具体的に例示する
と、1,3-又は1,4-ジシアナトベンゼン、1,3,5-トリシア
ナトベンゼン、1,3-、1,4-、1,6-、1,8-、2,6-又は2,7-
ジシアナトナフタレン、1,3,6-トリシアナトナフタレ
ン、4,4-ジシアナトビフェニル、ビス(4-ジシアナトフ
ェニル)メタン、2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3,5-ジブロモー4-シアナトフェニル)プロ
パン、ビス(4-シアナトフェニル)エーテル、ビス(4-シ
アナトフェニル)チオエーテル、ビス(4-シアナトフェニ
ル)スルホン、トリス(4-シアナトフェニル)ホスファイ
ト、トリス(4-シアナトフェニル)ホスフェート、および
ノボラックとハロゲン化シアンとの反応により得られる
シアネート類などである。
The polyfunctional cyanate compound which is a preferred thermosetting resin component of the present invention is a compound having two or more cyanato groups in a molecule. Specific examples include 1,3- or 1,4-dicyanatobenzene, 1,3,5-tricyanatobenzene, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2 , 6- or 2,7-
Dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4-dicyanatobiphenyl, bis (4-dicyanatophenyl) methane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane, 2,2- Bis (3,5-dibromo-4-cyanatophenyl) propane, bis (4-cyanatophenyl) ether, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, tris (4-cy (Anatophenyl) phosphite, tris (4-cyanatophenyl) phosphate, and cyanates obtained by reacting novolak with cyanogen halide.

【0014】これらのほかに特公昭41-1928、同43-1846
8、同44-4791、同45-11712、同46-41112、同47-26853及
び特開昭51-63149号公報等に記載の多官能性シアン酸エ
ステル化合物類も用いら得る。また、これら多官能性シ
アン酸エステル化合物のシアナト基の三量化によって形
成されるトリアジン環を有する分子量400〜6,000 のプ
レポリマーが使用される。このプレポリマーは、上記の
多官能性シアン酸エステルモノマーを、例えば鉱酸、ル
イス酸等の酸類;ナトリウムアルコラート等、第三級ア
ミン類等の塩基;炭酸ナトリウム等の塩類等を触媒とし
て重合させることにより得られる。このプレポリマー中
には一部未反応のモノマーも含まれており、モノマーと
プレポリマーとの混合物の形態をしており、このような
原料は本発明の用途に好適に使用される。一般には可溶
な有機溶剤に溶解させて使用する。
In addition to these, Japanese Patent Publication Nos. 41-1928 and 43-1846
8, polyfunctional cyanate compounds described in JP-A-44-4791, JP-A-45-11712, JP-A-46-41112, JP-A-47-26853 and JP-A-51-63149 can also be used. Further, a prepolymer having a molecular weight of 400 to 6,000 and having a triazine ring formed by trimerization of a cyanato group of these polyfunctional cyanate compounds is used. This prepolymer is obtained by polymerizing the above-mentioned polyfunctional cyanate ester monomer with a catalyst such as an acid such as a mineral acid or a Lewis acid; a base such as a tertiary amine such as sodium alcoholate; or a salt such as sodium carbonate. It can be obtained by: The prepolymer also contains some unreacted monomers and is in the form of a mixture of the monomer and the prepolymer, and such a raw material is suitably used for the purpose of the present invention. Generally, it is used after being dissolved in a soluble organic solvent.

【0015】エポキシ樹脂としては、一般に公知のもの
が使用できる。具体的には、液状或いは固形のビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ブタ
ジエン、ペンタジエン、ビニルシクロヘキセン、ジシク
ロペンチルエーテル等の二重結合をエポキシ化したポリ
エポキシ化合物類;ポリオール、水酸基含有シリコン樹
脂類とエポハロヒドリンとの反応によって得られるポリ
グリシジル化合物類等が挙げられる。これらは1種或い
は2種類以上が組み合わせて使用され得る。
As the epoxy resin, a generally known epoxy resin can be used. Specifically, liquid or solid bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, butadiene, pentadiene, vinylcyclohexene, dicyclopentyl ether, etc. And polyglycidyl compounds obtained by reacting a polyol, a hydroxyl-containing silicone resin with an epohalohydrin, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0016】ポリイミド樹脂としては、一般に公知のも
のが使用され得る。具体的には、多官能性マレイミド類
とポリアミン類との反応物、特公昭57-005406 に記載の
末端三重結合のポリイミド類が挙げられる。これらの熱
硬化性樹脂は、単独でも使用されるが、特性のバランス
を考え、適宜組み合わせて使用するのが良い。
As the polyimide resin, generally known ones can be used. Specific examples include a reaction product of a polyfunctional maleimide and a polyamine, and a polyimide having a terminal triple bond described in JP-B-57-005406. These thermosetting resins may be used alone, but it is preferable to use them in an appropriate combination in consideration of the balance of properties.

【0017】本発明の熱硬化性樹脂組成物には、組成物
本来の特性が損なわれない範囲で、所望に応じて種々の
添加物を配合することができる。これらの添加物として
は、不飽和ポリエステル等の重合性二重結合含有モノマ
ー類及びそのプレポリマー類;ポリブタジエン、エポキ
シ化ブタジエン、マレイン化ブタジエン、ブタジエン-
アクリロニトリル共重合体、ポリクロロプレン、ブタジ
エン-スチレン共重合体、ポリイソプレン、ブチルゴ
ム、フッ素ゴム、天然ゴム等の低分子量液状〜高分子量
のelasticなゴム類;ポリエチレン、ポリプロピレン、ポ
リブテン、ポリ-4-メチルペンテン、ポリスチレン、AS
樹脂、ABS樹脂、MBS樹脂、スチレン-イソプレンゴム、
ポリエチレン-プロピレン共重合体、4-フッ化エチレン-
6-フッ化エチレン共重合体類;ポリカーボネート、ポリ
フェニレンエーテル、ポリスルホン、ポリエステル、ポ
リフェニレンサルファイド等の高分子量プレポリマー若
しくはオリゴマー;ポリウレタン等が例示され、適宜使
用される。また、その他、公知の有機、無機の充填剤、
染料、顔料、増粘剤、滑剤、消泡剤、分散剤、レベリン
グ剤、光増感剤、難燃剤、光沢剤、重合禁止剤、チキソ
性付与剤等の各種添加剤が、所望に応じて適宜組み合わ
せて用いられる。必要により、反応基を有する化合物は
硬化剤、触媒が適宜配合される。
Various additives can be added to the thermosetting resin composition of the present invention, if desired, as long as the inherent properties of the composition are not impaired. These additives include polymerizable double bond-containing monomers such as unsaturated polyesters and prepolymers thereof; polybutadiene, epoxidized butadiene, maleated butadiene, butadiene-
Low molecular weight liquid to high molecular weight elastic rubbers such as acrylonitrile copolymer, polychloroprene, butadiene-styrene copolymer, polyisoprene, butyl rubber, fluororubber, natural rubber; polyethylene, polypropylene, polybutene, poly-4-methyl Penten, polystyrene, AS
Resin, ABS resin, MBS resin, styrene-isoprene rubber,
Polyethylene-propylene copolymer, 4-fluoroethylene-
6-fluorinated ethylene copolymers; high molecular weight prepolymers or oligomers such as polycarbonate, polyphenylene ether, polysulfone, polyester, and polyphenylene sulfide; and polyurethane are exemplified and used as appropriate. In addition, other known organic and inorganic fillers,
Various additives such as dyes, pigments, thickeners, lubricants, defoamers, dispersants, leveling agents, photosensitizers, flame retardants, brighteners, polymerization inhibitors, and thixotropic agents may be used as desired. They are used in an appropriate combination. If necessary, the compound having a reactive group is appropriately blended with a curing agent and a catalyst.

【0018】本発明に使用する銅張板は、熱硬化性樹脂
組成物の中に、絶縁性無機充填剤を添加できる。特に炭
酸ガスレーザー孔あけ用としては、孔の形状を均質にす
るために10〜80重量%、好ましくは、20〜70重量%添加す
る。絶縁性無機充填剤の種類は特に限定はない。具体的
には、タルク、焼成タルク、水酸化アルミニウム、水酸
化マグネシウム、カオリン、アルミナ、ウオラストナイ
ト、合成雲母等が挙げられ、1種或いは2種以上を配合
して使用する。これらの形状は特に限定はなく、球状、
不定形、繊維状等が例示される。
The copper-clad board used in the present invention can contain an insulating inorganic filler in the thermosetting resin composition. Particularly for carbon dioxide laser drilling, 10 to 80% by weight, preferably 20 to 70% by weight is added in order to make the shape of the hole uniform. The kind of the insulating inorganic filler is not particularly limited. Specific examples include talc, calcined talc, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, kaolin, alumina, wollastonite, synthetic mica, and the like, and one or more kinds are used in combination. These shapes are not particularly limited, and are spherical,
Examples include irregular shapes and fibrous shapes.

【0019】熱硬化性樹脂組成物がそれ自体は加熱によ
り硬化するが硬化速度が遅く、作業性、経済性等に劣る
場合には、使用した熱硬化性樹脂に対して公知の熱硬化
触媒を用い得る。使用量は、熱硬化性樹脂100重量部に
対して0.005〜10重量部、好ましくは0.01〜5重量部であ
る。
When the thermosetting resin composition itself is cured by heating but has a low curing rate and is inferior in workability and economy, a known thermosetting catalyst is used for the thermosetting resin used. Can be used. The amount used is 0.005 to 10 parts by weight, preferably 0.01 to 5 parts by weight, per 100 parts by weight of the thermosetting resin.

【0020】炭酸ガスレーザーで孔径80〜180μm
の貫通孔及び/又はブラインドビア孔をあける場合、表
面のエッチングフィルム又は液状エッチングソルダーレ
ジストをそのままにして、この上から、好適には10〜60
mJの出力の炭酸ガスレーザーを直接照射して孔あけを行
う。孔あけに基づく銅及び有機物による銅箔汚染防止の
点からは、表面のフィルム又はレジストをそのままにし
て孔あけを行うことにより、飛散した残さがフィルム又
はレジストの上に落ち、銅箔汚染防止に有効である。炭
酸ガスレーザーの波長は、9.3〜10.6μmが使用される。
エネルギーは、孔径80〜180μmの孔をあける場合
には、好適には10〜60mJ で、所定パルス照射して孔あ
けする。貫通孔及び/ブラインドビア孔をあける場合、
最初から最後まで同一エネルギーを照射して孔あけする
方法、エネルギーを途中で高くするか、低くして孔あけ
する方法、いずれの方法でも良い。
Using a carbon dioxide laser, the pore size is 80 to 180 μm.
When drilling through holes and / or blind via holes, the surface etching film or liquid etching solder resist is left as it is, and from above, preferably 10 to 60
Drilling is performed by directly irradiating a carbon dioxide laser with an output of mJ. From the perspective of preventing copper foil contamination by copper and organic matter based on drilling, by piercing with the surface film or resist as it is, the scattered residue falls on the film or resist, preventing copper foil contamination. It is valid. The wavelength of the carbon dioxide laser is 9.3 to 10.6 μm.
When drilling holes having a hole diameter of 80 to 180 μm, the energy is preferably 10 to 60 mJ, and the holes are irradiated with a predetermined pulse. When drilling through holes and / or blind via holes,
Either a method of piercing by irradiating the same energy from the beginning to the end or a method of piercing by increasing or decreasing the energy on the way may be used.

【0021】本発明の炭酸ガスレーザーによる孔あけに
おいては孔周囲に銅箔のバリが発生する。孔部に発生し
た銅のバリをエッチング除去する方法としては、特に限
定しないが、例えば、特開平02-22887、同02-22896、同
02-25089、同02-25090、同02-59337、同02-60189、同02
-166789、同03-25995、同03-60183、同03-94491、同04-
199592、同04-263488号公報で開示された、薬品で金属
表面を溶解除去する方法(SUEP法と呼ぶ)による。
エッチング速度は、一般には0.02〜1.0μm/秒で行う。
また、内層の銅箔バリをエッチング除去する場合、同時
に銅箔の表面の一部をもエッチング除去し、厚さ2〜7μ
m、好適には厚さ3〜5μmとすることにより、その後
の銅メッキされた銅箔に細密なパターンを形成でき、高
密度のプリント配線板とすることができる。
In drilling holes by the carbon dioxide laser of the present invention, burrs of the copper foil are generated around the holes. The method for etching and removing copper burrs generated in the holes is not particularly limited. For example, JP-A Nos. 02-22887, 02-22896, and
02-25089, 02-25090, 02-59337, 02-60189, 02
-166789, 03-25995, 03-60183, 03-94491, 04-
According to a method of dissolving and removing a metal surface with a chemical (referred to as a SUEP method) disclosed in Japanese Patent Application Laid-open No. 1995-92, 04-263488.
The etching speed is generally 0.02 to 1.0 μm / sec.
Also, when etching the copper foil burrs of the inner layer, a part of the surface of the copper foil is also etched away at the same time, and the thickness is 2 to 7 μm.
By setting the thickness to m, preferably 3 to 5 μm, a fine pattern can be formed on the subsequent copper-plated copper foil, and a high-density printed wiring board can be obtained.

【0022】銅張板の裏面には、孔が貫通した場合のレ
ーザーによるレーザーマシーンのテーブルの損傷を防ぐ
ために、単に金属板を配置することも可能であるが、好
ましくは、金属板の表面の少なくとも一部を接着させた
樹脂層を銅張多層板の裏面銅箔と接着させて配置し、貫
通孔あけ後に樹脂付き金属板を剥離する。
On the back surface of the copper-clad plate, it is possible to simply arrange a metal plate in order to prevent the laser machine table from being damaged by the laser when the hole penetrates. The resin layer to which at least a part has been adhered is arranged by being adhered to the copper foil on the back surface of the copper-clad multilayer board.

【0023】加工された孔内部の表層、内層銅箔の樹脂
が接着していた面には1μm程度の樹脂層が銅箔表面に残
存する場合が殆どである。この樹脂層を、エッチング前
にデスミア処理等の一般に公知の処理で事前に除去が可
能であるが、液が小径の孔内部に到達しない場合、内層
の銅箔表面に残存する樹脂層の除去残が発生し、銅メッ
キとの接続不良になる場合がある。従って、より好適に
は、まず気相で孔内部を処理して樹脂の残存層を完全に
除去し、次いで孔内部及び表裏の銅箔バリをエッチング
除去する。気相処理としては一般に公知の処理が使用可
能であるが、例えばプラズマ処理、低圧紫外線処理等が
挙げられる。プラズマは、高周波電源により分子を部分
的に励起し、電離させた低温プラズマを用いる。これ
は、イオンの衝撃を利用した高速の処理、ラジカル種に
よる穏やかな処理が一般には使用され、処理ガスとし
て、反応性ガス、不活性ガスが使用される。反応性ガス
としては、主に酸素が使用され、科学的に用面処理をす
る。不活性ガスとしては、主にアルゴンガスを使用す
る。このアルゴンガス等を使用し、物理的な表面処理を
行う。物理的な処理は、イオンの衝撃を利用して表面を
クリーニングする。低紫外線は、波長が短い領域の紫外
線であり、波長として、184.9nm、253.7nm がピークの
短波長域の波長を照射し、樹脂層を分解除去する。孔内
部には、通常の銅メッキを施すことも可能であるが、銅
メッキで孔内部を一部、好適には80容積%以上充填する
こともできる。孔あけにおいては、もちろんエキシマレ
ーザー、YAGレーザー等も使用できる。又、各レーザー
の併用も可能である。
In most cases, a resin layer having a thickness of about 1 μm remains on the surface of the processed inner surface of the copper foil where the resin of the surface and inner layer copper foils is adhered. This resin layer can be removed in advance by a generally known treatment such as desmear treatment before etching. However, if the liquid does not reach the inside of the small-diameter hole, the removal of the resin layer remaining on the surface of the copper foil of the inner layer remains. May occur, resulting in poor connection with copper plating. Therefore, more preferably, the inside of the hole is first treated in a gas phase to completely remove the residual layer of the resin, and then the inside of the hole and the front and back copper foil burrs are removed by etching. As the gas phase treatment, generally known treatments can be used, and examples thereof include a plasma treatment and a low-pressure ultraviolet treatment. As the plasma, low-temperature plasma in which molecules are partially excited by a high-frequency power source and ionized is used. For this, high-speed processing using ion bombardment and gentle processing using radical species are generally used, and reactive gases and inert gases are used as processing gases. Oxygen is mainly used as the reactive gas, and the surface is scientifically treated. As the inert gas, an argon gas is mainly used. Using this argon gas or the like, physical surface treatment is performed. Physical treatment uses ion bombardment to clean the surface. The low ultraviolet ray is an ultraviolet ray having a short wavelength region, and irradiates a short wavelength region having a peak at 184.9 nm and 253.7 nm, and decomposes and removes the resin layer. Although the inside of the hole can be subjected to ordinary copper plating, the inside of the hole can be partially filled with copper plating, preferably at least 80% by volume. In drilling, an excimer laser, a YAG laser or the like can be used. Further, the combined use of the lasers is also possible.

【0024】[0024]

【実施例】以下に実施例、比較例で本発明を具体的に説
明する。尚、特に断らない限り、『部』は重量部を表
す。
The present invention will be specifically described below with reference to examples and comparative examples. Unless otherwise specified, “parts” indicates parts by weight.

【0025】実施例1 2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパン900部、ビス(4-
マレイミドフェニル)メタン100部を150℃に熔融させ、
撹拌しながら4時間反応させ、プレポリマーを得た。こ
れをメチルエチルケトンとジメチルホルムアミドの混合
溶剤に溶解した。これにビスフェノールA型エポキシ樹
脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエポキシ<株>
製)400部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(商品
名:ESCN-220F、住友化学工業<株>製)600部を加え、均
一に溶解混合した。更に触媒としてオクチル酸亜鉛0.4
部を加え、溶解混合し、これに無機充填剤(商品名:焼成
タルク、日本タルク<株>、平均粒子径4μm)2000部、及
び黒色顔料8部を加え、均一撹拌混合してワニスAを得
た。このワニスを厚さ100μmのガラス織布に含浸し150
℃で乾燥して、ゲル化時間(at170℃)102秒、ガラス布の
含有量が50重量%のプリプレグ(プリプレグB)を作成し
た。
Example 1 900 parts of 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane,
100 parts of (maleimidophenyl) methane are melted at 150 ° C,
The mixture was reacted for 4 hours with stirring to obtain a prepolymer. This was dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide. Add bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.)
) And 600 parts of a cresol novolac type epoxy resin (trade name: ESCN-220F, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) were uniformly mixed and dissolved. Further, as a catalyst, zinc octylate 0.4
2,000 parts of an inorganic filler (trade name: calcined talc, Nippon Talc Co., Ltd., average particle size 4 μm), and 8 parts of black pigment, and uniformly stirred and mixed to prepare Varnish A. Obtained. This varnish is impregnated with a 100 μm thick glass woven fabric and
It dried at ° C, and prepared the prepreg (prepreg B) whose gel time (at 170 ° C) was 102 seconds and the content of the glass cloth was 50% by weight.

【0026】厚さ12μmの両面処理銅箔の両面にニッケ
ル合金処理(ジャパンエナージー<株>Y処理, LD箔とも
言う)を厚さ3μmに施した電解銅箔を上記プリプレグ
B 4枚の表裏に置き、その外側に1.5mmのステンレス板
を配置しこれを15セット熱盤間に入れ、200℃、20kgf/c
m2、30mmHg以下の真空下で2時間積層成形して両面銅張
積層板Cを得た。この上に厚さ20μmのエッチングフィル
ムを95℃でラミネートして貼り付け(図1(1))、そ
の上に4隅のターゲットマーク部のみUV光が当たらない
ようにしたネガフィルムをかぶせ、UVを照射し、その後
現像してターゲットマーク部のフィルムを溶解除去し、
その上からエッチング液で表層の銅箔をエッチング除去
し、径0.5mmの孔をあけ、銅張積層板Dを得た(図1
(2))。
Electroplated copper foil having a thickness of 3 μm on both sides of a 12 μm-thick double-sided copper foil treated with a nickel alloy (also referred to as Japan Energy Co., Ltd. Y-treatment, LD foil) is applied on the front and back of the four prepregs B. Place a 1.5mm stainless steel plate on the outside and put it between 15 sets of hot plates, 200 ℃, 20kgf / c
Laminate molding was performed for 2 hours under a vacuum of m 2 and 30 mmHg or less to obtain a double-sided copper-clad laminate C. An etching film having a thickness of 20 μm is laminated and adhered at 95 ° C. (FIG. 1 (1)), and a negative film is applied thereon so that only the target marks at the four corners are not exposed to UV light. And then developed to dissolve and remove the film at the target mark,
From above, the surface copper foil was removed by etching with an etchant, and a hole having a diameter of 0.5 mm was formed to obtain a copper-clad laminate D (FIG. 1).
(2)).

【0027】一方、ポリビニルアルコールを水に溶解し
た樹脂を厚み50μmのアルミニウム箔の片面に塗布し、1
10℃で20分乾燥して、厚さ20μmの塗膜を有するバック
アップシートEを作成した。銅張積層板Dの裏面にバック
アップシートEを配置し、エッチングフィルムを貼った
銅張積層板Dの上から径100μmの孔を50mm角内に900個直
接炭酸ガスレーザーで、パルス発振で出力15mJにて3シ
ョット、20mJで3ショット照射して、70ブロックの貫通
孔をあけた(図1(3))。表層のエッチングフィル
ム、下側のバックアップシートを除去し、SUEP液を
高速で吹き付けて、表裏のバリを溶解除去すると同時
に、表層の銅箔を4μmまで溶解した(図1(4))。デ
スミア処理、銅メッキの15μm付着の後(図1
(5))、既存の方法にて回路(ライン/スペース=50/5
0μm)、ハンダボール用パッド等を形成し、少なくとも
半導体チップ部、ボンディング用パッド部、ハンダボー
ルパッド部を除いてメッキレジストで被覆し、ニッケ
ル、金メッキを施し、プリント配線板を作成した。この
プリント配線板の評価結果を表1に示す。
On the other hand, a resin obtained by dissolving polyvinyl alcohol in water is applied to one side of an aluminum foil having a thickness of 50 μm.
After drying at 10 ° C. for 20 minutes, a backup sheet E having a coating film having a thickness of 20 μm was prepared. A backup sheet E is placed on the back side of the copper-clad laminate D, 900 holes with a diameter of 100 μm are cut directly from the top of the copper-clad laminate D within a 50 mm square from the top of the copper-clad laminate D on which an etching film is attached. Irradiated 3 shots at 20 mJ and 3 shots at 20 mJ to make through holes of 70 blocks (FIG. 1 (3)). The surface etching film and the lower backup sheet were removed, and a SUEP solution was sprayed at a high speed to dissolve and remove burrs on the front and back surfaces, and at the same time, the copper foil on the surface layer was dissolved to 4 μm (FIG. 1 (4)). After desmear treatment and copper plating 15μm adhesion (Fig. 1
(5)), circuit using existing method (line / space = 50/5)
0 μm), pads for solder balls, etc. were formed, covered with a plating resist except for at least the semiconductor chip portion, the bonding pad portions, and the solder ball pad portions, and plated with nickel and gold to produce a printed wiring board. Table 1 shows the evaluation results of the printed wiring board.

【0028】実施例2 エポキシ樹脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエ
ポキシ<株>製> 300部、及びエポキシ樹脂(商品名:ESC
N220F、住友化学工業<株>製)700部、ジシアンジアミド
35部、2-エチル-4-メチルイミダゾール1部をメチルエチ
ルケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解し、
均一に攪拌混合してワニスFとした。これを厚さ100μm
のガラス織布に含浸、乾燥して、ゲル化時間150秒、ガ
ラス布の含有量48重量%のプリプレグG、厚さ50μmのガ
ラス布に含浸、乾燥させてゲル化時間170秒、ガラス布
の含有量31重量%のプリプレグHを作成した。
Example 2 300 parts of epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) and epoxy resin (trade name: ESC
N220F, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) 700 parts, dicyandiamide
35 parts, 1 part of 2-ethyl-4-methylimidazole was dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide,
Varnish F was obtained by uniformly stirring and mixing. This is 100μm thick
Impregnated in glass woven cloth, dried, gelled for 150 seconds, prepreg G with a glass cloth content of 48% by weight, impregnated in glass cloth with a thickness of 50 μm, dried and gelled for 170 seconds, glass cloth Prepreg H having a content of 31% by weight was prepared.

【0029】このプリプレグGを1枚使用し、上下に厚さ
12μmの一般電解銅箔を置き、190℃、20kgf/cm2、30mmH
gで積層成形し、両面銅張積層板Iを得た。この板の表裏
に回路を形成すると同時に4隅に直径0.5μmのター
ゲットマークを形成し、黒色酸化銅処理を施した後、上
下に上記プリプレグHを各1枚置き、その外側に厚さ12
μmの一般電解銅箔を配置し、同様に積層成形して4層の
多層板を作成した。その後、上面の銅箔にCZ処理(メッ
ク社)を施し、その上に液状エッチングレジストを25μm
となるように塗布し、乾燥して溶剤を除去後(図2
(1))、内層板のターゲットマークの上のレジスト
を、径3mmで現像除去した。銅箔をエッチング除去後、
この板の下側にバックアップシートEを配置し、銅箔を
エッチングした箇所の内層板のターゲットマーク(l)
をCCDカメラで読み込みながら(図2(2))、液状レ
ジストの上から炭酸ガスレーザーの出力15mJで2ショッ
ト、20mJで2ショット照射して貫通孔(e)をあけた。更に
炭酸ガスレーザーの出力15mJにて3ショット照射してブ
ラインドビア孔(q)をあけた(図2(3))。
Using one prepreg G, the thickness is
Place 12μm general electrolytic copper foil, 190 ° C, 20kgf / cm 2 , 30mmH
g to obtain a double-sided copper-clad laminate I. At the same time as forming the circuit on the front and back of this plate, target marks having a diameter of 0.5 μm were formed at the four corners, black copper oxide treatment was performed, and one prepreg H was placed on each of the upper and lower sides.
A general electrolytic copper foil having a thickness of μm was arranged and similarly laminated and formed to form a four-layer multilayer board. Thereafter, the copper foil on the upper surface is subjected to CZ treatment (Mec Corporation), and a liquid etching resist
And dried to remove the solvent (Fig. 2
(1)) The resist on the target mark on the inner layer plate was developed and removed with a diameter of 3 mm. After removing the copper foil by etching,
The backup sheet E is placed below this plate, and the target mark (l) on the inner layer plate where copper foil is etched
Was read by a CCD camera (FIG. 2 (2)), and a through-hole (e) was formed by irradiating two shots with a carbon dioxide laser output of 15 mJ and two shots at 20 mJ from above the liquid resist. Further, a blind via hole (q) was opened by irradiating three shots at an output of 15 mJ of a carbon dioxide gas laser (FIG. 2 (3)).

【0030】表層の液状エッチングレジスト及びバック
アップシートを除去後、全体にSUEP処理を施して厚さ3
μmまで溶解除去した後(図2(4))、過マンガン酸
カリウム水溶液にてデスミア処理を行なって、同様に銅
メッキを行い(図2(5))、同様にプリント配線板と
した。評価結果を表1に示す。
After removing the surface liquid etching resist and the backup sheet, the whole is subjected to a SUEP treatment to a thickness of 3
After dissolving and removing to a thickness of μm (FIG. 2 (4)), desmear treatment was performed with an aqueous solution of potassium permanganate, copper plating was similarly performed (FIG. 2 (5)), and a printed wiring board was similarly formed. Table 1 shows the evaluation results.

【0031】比較例1 実施例2の銅張板Iを用い、表面に何も付着せずに炭酸
ガスレーザーで実施例2と同一条件で孔あけを行なった
が、レーザービームが反射して孔はあかなかった。
COMPARATIVE EXAMPLE 1 Using the copper-clad plate I of Example 2, a hole was drilled with a carbon dioxide laser under the same conditions as in Example 2 without attaching anything to the surface. Did not go.

【0032】比較例2 実施例2のCZ処理を施した多層板の上から実施例2と同
一条件で炭酸ガスレーザーで孔あけを行った。銅箔の上
には孔あけ加工時に生じた銅の残渣が付着していた。
Comparative Example 2 A hole was formed on the multilayer plate subjected to the CZ treatment of Example 2 with a carbon dioxide laser under the same conditions as in Example 2. Copper residues generated during drilling were adhered to the copper foil.

【0033】比較例3 エポキシ樹脂(商品名:エピコート5045)2,000部、ジシ
アンジアミド70部、2ーエチルイミダゾール2部をメチル
エチルケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解
し、更に実施例1の絶縁性無機充填剤を800部加え、攪
拌混合して均一分散してワニスを得た。これを厚さ100
μmのガラス織布に含浸、乾燥して、ゲル化時間140秒
(at170℃),ガラス含有量52重量%のプリプレグJ、、
厚さ50μmのガラスクロスを使用しガラス含有量35重量
%、ゲル化時間180秒のプリプレグKを得た。このプリプ
レグJを2枚使用し、両面に厚さ12μmの一般電解銅箔を
置き、180℃、20kgf/cm2、30mmHg以下の真空下で2時間
積層成形して両面銅張積層板Lを得た。この積層板Lの両
面に回路を形成し、黒色酸化銅処理後、その両面にプリ
プレグKを各1枚置き、その外側に厚さ12μmの一般電解
銅箔を配置し、実施例2と同様の条件で積層成形した。
これを用い、メカニカルドリルで同様に孔あけして孔径
150μmの貫通孔を形成した。炭酸ガスレーザーでは
銅箔表面にビームを直接照射してもビア孔はあかなかっ
た。SUEP処理を行わず銅メッキを施し、同様にプリント
配線板とした。評価結果を表1に示す。
Comparative Example 3 2,000 parts of an epoxy resin (trade name: Epicoat 5045), 70 parts of dicyandiamide, and 2 parts of 2-ethylimidazole were dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide, and the insulating inorganic filler of Example 1 was further dissolved. Was added and mixed with stirring to obtain a varnish. This is thickness 100
prepreg J with a gelling time of 140 seconds (at 170 ° C) and a glass content of 52% by weight
Using glass cloth of 50μm thickness, glass content 35 weight
%, And a prepreg K having a gel time of 180 seconds was obtained. Using two sheets of this prepreg J, put a general electrolytic copper foil of 12 μm thickness on both sides, 180 ° C., 20 kgf / cm 2 , laminate molding under vacuum of 30 mmHg or less for 2 hours to obtain a double-sided copper-clad laminate L Was. Circuits were formed on both sides of this laminated plate L, after black copper oxide treatment, one prepreg K was placed on each side, and a general electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm was placed outside the prepreg K. Lamination molding was performed under the conditions.
Using this, a through hole having a hole diameter of 150 μm was formed in the same manner with a mechanical drill. With the carbon dioxide laser, no via hole was formed even when the beam was directly irradiated on the copper foil surface. Copper plating was performed without performing the SUEP treatment, and a printed wiring board was similarly formed. Table 1 shows the evaluation results.

【0034】比較例4 実施例2の両面銅張積層板I(図3(1))を用い、内
層のスルーホールとなる箇所の銅箔を孔径100μmとなる
ように上下銅箔をエッチング除去し、回路を形成した
後、銅箔表面を黒色酸化銅処理して、その外側にプリプ
レグHを各1枚を置き、その外側に厚さ12μmの一般電解
銅箔を配置し、実施例2と同様の条件で積層成形して4
層板を作成した。この多層板を用い、貫通孔を形成する
表面の位置に孔径100μmの孔を900個、銅箔をエッチン
グしてあけた。同様に裏面にも同じ位置に孔径100μm
の孔を900個あけた(図3(2))。1パターン900個を
70ブロック、合計63,000の孔を、表面から炭酸ガスレー
ザーで、出力15mJで4ショットかけ、貫通孔をあけた
(図3(3))。後は比較例4と同様にして、SUEP処理
を行わずに、デスミア処理を1回施し、銅メッキを15μ
m施し(図3(4))、表裏に回路を形成し、同様にプ
リント配線板を作成した。評価結果を表1に示す。
Comparative Example 4 Using the double-sided copper-clad laminate I of Example 2 (FIG. 3 (1)), the upper and lower copper foils were removed by etching so that the through holes in the inner layer had a hole diameter of 100 μm. After forming the circuit, the surface of the copper foil is treated with black copper oxide, one prepreg H is placed on the outside thereof, and a general electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm is arranged on the outside thereof, as in Example 2. Lamination molding under the conditions of 4
A laminated plate was created. Using this multilayer board, 900 holes having a hole diameter of 100 μm were formed in the position of the surface where the through hole was to be formed by etching the copper foil. Similarly, the hole diameter is 100 μm at the same position on the back side
900 holes were made (FIG. 3 (2)). 900 patterns
A total of 63,000 holes in 70 blocks were shot from the surface with a carbon dioxide gas laser at an output of 15 mJ for 4 shots to make through holes (Fig. 3 (3)). Thereafter, in the same manner as in Comparative Example 4, a desmear treatment was performed once without performing the SUEP treatment, and the copper plating was applied to a thickness of 15 μm.
m (FIG. 3 (4)), circuits were formed on the front and back, and a printed wiring board was prepared in the same manner. Table 1 shows the evaluation results.

【0035】 表1 項 目 実 施 例 比 較 例 1 2 3 4 表裏面ランド銅箔 との隙間(μm) 0 0 0 22 内層との孔位置のズレ ー 0 0 36 (μm) パターン切れ及び 0/200 0/200 55/200 52/200 ショート (個) ガラス転移温度(℃) 235 160 139 160 スルーホール・ヒー トサイクル試験(%) 100 サイクル 1.1 1.2 1.6 3.9 300 サイクル 1.2 1.4 1.8 6.5 500 サイクル 1.4 1.6 2.6 29.9 孔あけ加工時間(分) 19 14 630 ー 耐マイグレーション性(HAST)(Ω) 常態 3x1011 ー 1x1011 ー 200hrs. 8x108 < 108 500hrs. 7x108 ー 700hrs. 6x108 1000hrs. 5x108 [0035] Table Example 1 Item implementation example comparisons 1 2 3 4 top- land copper foil with clearance ([mu] m) 0 0 0 22 shift over the hole positions of the inner layer 0 0 36 ([mu] m) Pattern breakage and 0 / 200 0/200 55/200 52/200 Short (pcs) Glass transition temperature (℃) 235 160 139 160 Through-hole heat cycle test (%) 100 cycles 1.1 1.2 1.6 3.9 300 cycles 1.2 1.4 1.8 6.5 500 cycles 1.4 1.6 2.6 29.9 drilling time (min) 19 14 630 over migration resistance (HAST) (Omega) normal 3x10 11 over 1x10 11 over 200hrs. 8x10 8 <10 8 500hrs . 7x10 8 over 700hrs. 6x10 8 1000hrs. 5x10 8

【0036】<測定方法> 1)表裏孔位置のズレ 孔径100又は150μm(メカニカルドリル)の孔を9
00孔/ブロックとして70ブロック(孔計63,000孔)作成
した。炭酸ガスレーザー及びメカニカルドリルで孔あけ
を行ない、1枚の銅張板に63,000孔をあけるに要した時
間、及び表裏ランド用銅箔と孔との隙間、及び内層銅箔
とのズレの最大値を示した。 2)回路パターン切れ、及びショート 実施例、比較例で、孔のあいていない板を同様に作成
し、ライン/スペース=50/50μm の櫛形パターンを作成
した後、拡大鏡でエッチング後の200パターンを目視に
て観察し、パターン切れ、及びショートしているパター
ンの合計を分子に示した。 3)ガラス転移温度 DMA法にて測定した。 4)スルーホール・ヒートサイクル試験 各スルーホール孔にランド径250μmを作成し、900孔を
表裏交互につなぎ、1サイクルが、260℃・ハンダ・浸せ
き30秒→室温・5分 で、500サイクルまで実施し、抵抗
値の変化率の最大値を示した。 5)耐マイグレーション性(HAST) 孔径100μm又は150μm(メカニカルドリリング)の銅メ
ッキされた貫通孔をそれぞれ表裏交互に1個ずつ計50個
つなぎ、このつないだもの2組が孔壁間150μmで平行に
なるようにして、合計100セット作成し、130℃、85%R
H、1.8VDC にて所定時間処理後に、取り出し、平行に配
列した貫通孔間の絶縁抵抗値を測定した。
<Measurement method> 1) Misalignment of the front and back holes The hole with a hole diameter of 100 or 150 μm (mechanical drill)
70 blocks (63,000 holes total) were prepared as 00 holes / block. The time required for drilling holes with a carbon dioxide laser and a mechanical drill to make 63,000 holes in one copper-clad board, the gap between the copper foil for front and back lands and the hole, and the maximum value of the deviation from the inner layer copper foil showed that. 2) Cut and short circuit pattern In the examples and comparative examples, a board without holes was created in the same way, a comb pattern of line / space = 50 / 50μm was created, and 200 patterns were etched with a magnifying glass. Was visually observed, and the total of the broken pattern and the short-circuited pattern was shown in the molecule. 3) Glass transition temperature Measured by the DMA method. 4) Through hole heat cycle test Create a land diameter of 250 μm for each through hole hole, connect 900 holes alternately front and back, one cycle is 260 ° C, solder, immersion 30 seconds → room temperature, 5 minutes, up to 500 cycles The maximum value of the rate of change of the resistance value was shown. 5) Migration resistance (HAST) A total of 50 copper-plated through-holes with a hole diameter of 100 μm or 150 μm (mechanical drilling) are alternately connected, one on each side, a total of 50 holes. Make a total of 100 sets, 130 ℃, 85% R
After processing at H, 1.8 VDC for a predetermined time, the samples were taken out and the insulation resistance between through holes arranged in parallel was measured.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明によれば、炭酸ガスレーザーを直
接銅箔上に照射して孔あけ可能な表面処理を銅箔表面に
施した銅張板の上にエッチングフィルム又は液状エッチ
ングソルダーレジストを形成し、それらのターゲットマ
ークの箇所を現像除去した後に、エッチングにより表層
の銅箔を除去し、そのままCCDカメラでターゲットマー
クを読み込んで位置を定め、直接、該フィルム又はレジ
スト上から、銅箔を除去するに十分な炭酸ガスレーザー
エネルギーを照射して貫通孔及び/又はブラインドビア
孔を形成する方法が提供される。本発明の方法によれ
ば、孔あけ時に上に飛散した銅箔、ガラス繊維、樹脂な
どの残さが落下して付着するのを防ぐことができる。ま
た、その後、表面のフィルム又はレジストを除去した銅
張板は、孔周辺に銅箔バリが発生している。この銅箔バ
リは機械研磨で除去困難であるため、薬液でエッチング
除去すると完全にバリを除去することができ、その後の
銅メッキでの凸発生がなく、孔の接続信頼性に優れたも
のが得られる。更に、この銅箔バリをエッチング除去す
る時に表層の銅箔を厚さ方向に一部をエッチング除去
し、厚さ2〜7μm、好適には3〜5μmとするのが好ま
しい。こうすることにより、その後の銅メッキによるパ
ターン形成において、細密パターンが形成でき、ショー
ト、パターン切れのない高密度のプリント配線板を得る
ことができる。
According to the present invention, an etching film or a liquid etching solder resist is formed on a copper-clad plate having a surface treatment capable of making holes by irradiating a carbon dioxide gas laser directly onto the copper foil. After forming and removing those target mark portions, the copper foil on the surface layer is removed by etching, the target mark is read with a CCD camera as it is, the position is determined, and the copper foil is directly removed from the film or resist. A method is provided for forming through holes and / or blind via holes by irradiating sufficient carbon dioxide laser energy to remove them. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the method of this invention, it can prevent that the residue of copper foil, glass fiber, resin, etc. which scattered at the time of drilling falls and adheres. After that, the copper clad board from which the surface film or the resist has been removed has copper foil burrs around the holes. Since this copper foil burr is difficult to remove by mechanical polishing, it can be completely removed by etching with a chemical solution, and there is no protrusion in the subsequent copper plating, and one with excellent hole connection reliability can get. Further, when the copper foil burrs are removed by etching, a part of the surface copper foil is removed by etching in the thickness direction, and the thickness is preferably 2 to 7 μm, more preferably 3 to 5 μm. By doing so, a fine pattern can be formed in the subsequent pattern formation by copper plating, and a high-density printed wiring board without short-circuits and pattern breaks can be obtained.

【0038】更に孔径80〜180μmの貫通孔及び/又はブ
ラインドビア孔を炭酸ガスレーザーで形成するのは、エ
キシマレーザー、YAGレーザー、メカニカルドリリング
に比べて格段に加工速度が速く、生産性について大幅に
改善できる。加えて、絶縁性無機充填剤を樹脂中に添加
することにより、孔形状が良好となり、更にランド銅箔
と孔との隙間もなく、孔接続信頼性に優れたものが得ら
れる。加えて熱硬化性樹脂組成物として多官能性シアン
酸エステル化合物、該シアン酸エステルプレポリマーを
必須成分とする樹脂組成物を使用することにより得られ
たプリント配線板は、耐熱性、耐マイグレーション性等
に優れたものが得られる。
Furthermore, forming a through hole and / or a blind via hole having a hole diameter of 80 to 180 μm with a carbon dioxide gas laser is much faster than an excimer laser, a YAG laser, and a mechanical drilling, and greatly reduces productivity. Can be improved. In addition, by adding an insulating inorganic filler to the resin, the shape of the hole is improved, and there is no gap between the land copper foil and the hole, and a material having excellent hole connection reliability is obtained. In addition, a printed wiring board obtained by using a polyfunctional cyanate compound as a thermosetting resin composition and a resin composition containing the cyanate ester prepolymer as an essential component has heat resistance and migration resistance. And so on.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1のエッチングフィルム付き両面銅張積
層板(1)、CCDカメラでターゲットマークを読み込み
(2)、炭酸ガスレーザーで貫通孔をエッチングフィルム
上からあけ(3)、SUEPによる銅箔バリ及び表層の銅箔の
エッチング除去(4)、及び銅メッキ(5)の工程図である。
FIG. 1 Double-sided copper-clad laminate (1) with an etching film of Example 1 and target marks read by a CCD camera
FIG. 2B is a process diagram of (2), opening a through hole from the etching film with a carbon dioxide laser (3), etching removal of copper foil burrs and surface copper foil by SUEP (4), and copper plating (5).

【図2】実施例2の液状エッチングソルダーレジスト付
き4層板(1)、CCDカメラでのターゲットマーク読み込み
(2)、炭酸ガスレーザーによる貫通孔及びブラインドビ
ア孔あけ(3)、SUEPによる銅箔バリ及び表層の銅箔のエ
ッチング(4)、及び銅メッキ(5)の工程図である。
FIG. 2 shows a four-layer plate (1) with a liquid etching solder resist of Example 2 and a target mark read by a CCD camera.
FIG. 4B is a process diagram of (2), drilling of through holes and blind via holes by a carbon dioxide laser (3), etching of copper foil burrs and surface copper foil by SUEP (4), and copper plating (5).

【図3】比較例4の両面銅張多層板の炭酸ガスレーザー
による孔あけ及び銅メッキの工程図である(SUEP無
し)。
FIG. 3 is a process diagram of drilling and copper plating of a double-sided copper-clad multilayer board of Comparative Example 4 with a carbon dioxide gas laser (without SUEP).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A エッチングフィルムが付着した両面銅張積層板 B 液状エッチングソルダーレジストが付着した4層
銅張板 a エッチングフィルム b 表面に炭酸ガスレーザー孔あけ可能なニッケル合
金処理をした銅箔 c CCDカメラ d エッチングで形成されたターゲットマーク e 炭酸ガスレーザーで孔あけされた貫通孔部 f 発生した表層銅箔バリ g SUEP処理された貫通孔部 h 薄くエッチングされた表層銅箔 i 銅メッキされた貫通孔 j 銅メッキ k 炭酸ガスレーザーで孔あけ時に飛散して落下した
残さ l 内層に形成された銅箔のターゲットマーク m 液状エッチングソルダーレジスト n 表面にメック処理を施した銅箔 o ターゲットマーク上の銅箔を除去した箇所(この
部分から内層のターゲットマークを読み込む) p 内層銅箔パターン q 炭酸ガスレーザーで孔あけされたブラインドビア
孔部 r 発生したブラインドビア孔部の銅箔バリ s 内層銅箔バリ t 銅メッキされたブラインドビア孔 u 貫通孔あけ用にエッチング除去した外層銅箔 v 貫通孔あけ用にエッチング除去した内層銅箔 w ズレを生じた内層銅箔 x 銅メッキされた孔形状の良くない貫通孔 y ズレを生じた外層銅箔
A Double-sided copper-clad laminate with an etching film attached B Four-layer copper-clad plate with a liquid etching solder resist a Etching film b Copper foil treated with nickel alloy that can be drilled with a carbon dioxide gas laser c CCD camera d Etching Formed target mark e Through hole portion drilled by carbon dioxide gas laser f Surface copper foil burr generated g SUEP treated through hole portion h Thinly etched surface copper foil i Copper plated through hole j Copper plating k Residue scattered and dropped at the time of drilling with carbon dioxide gas laser l Target mark of copper foil formed on inner layer m Liquid etching solder resist n Copper foil with surface treated by MEC o Copper foil on target mark was removed Location (Read the target mark of the inner layer from this part) p Inner layer copper foil pattern q Carbon dioxide gas Blind Via Hole Drilled by Copper Hole r Copper Foil Burr of Blind Via Hole Generated s Inner Layer Copper Foil Burr t Copper Plated Blind Via Hole u Outer Layer Copper Foil Etched for Through Hole Drilling v Through Hole Drilling Inner layer copper foil etched away for use w Inner layer copper foil with displacement x Copper plated through hole with poor hole shape y Outer layer copper foil with displacement

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/06 H05K 3/06 C Fターム(参考) 4E068 AF01 AF02 DA11 DB02 5E338 AA02 AA03 DD12 DD32 EE41 5E339 AB02 AC01 AD03 AE01 BC02 BE11 CC10 CD01 CE12 CE15 CF17 CG01 DD03 EE01 EE10──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H05K 3/06 H05K 3/06 CF term (Reference) 4E068 AF01 AF02 DA11 DB02 5E338 AA02 AA03 DD12 DD32 EE41 5E339 AB02 AC01 AD03 AE01 BC02 BE11 CC10 CD01 CE12 CE15 CF17 CG01 DD03 EE01 EE10

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 炭酸ガスレーザーの銅箔上への直接照射
により孔あけ可能な表面処理を銅箔表面に施した銅張板
の上に、エッチングフィルム又は液状エッチングソルダ
ーレジストを形成し、該フィルム又は該レジストのター
ゲットマークの箇所を現像除去した後、除去箇所の表層
銅箔をエッチング除去し、次いでCCDカメラでターゲッ
トマークを読み込み、該フィルム又はレジスト上から銅
箔を除去するに十分な炭酸ガスレーザーエネルギーを直
接照射して貫通孔及び/又はブラインドビア孔を形成
し、ついで該フィルム又は該レジストを除去することを
特徴とする炭酸ガスレーザーによる孔あけ方法。
1. An etching film or a liquid etching solder resist is formed on a copper-clad plate having a surface treatment capable of forming a hole by direct irradiation of a copper gas laser onto a copper foil, and the film is formed on the copper-clad plate. Alternatively, after developing and removing the target mark portion of the resist, the surface copper foil at the removed portion is etched away, and then the target mark is read by a CCD camera, and sufficient carbon dioxide gas is used to remove the copper foil from the film or the resist. A hole making method using a carbon dioxide gas laser, which comprises directly irradiating laser energy to form a through hole and / or a blind via hole, and then removing the film or the resist.
【請求項2】 銅箔表面処理が、ニッケル処理、ニッケ
ル合金処理、酸化金属処理又は薬液処理であることを特
徴とする請求項1記載の炭酸ガスレーザーによる孔あけ
方法。
2. The method according to claim 1, wherein the copper foil surface treatment is a nickel treatment, a nickel alloy treatment, a metal oxide treatment, or a chemical treatment.
【請求項3】 炭酸ガスレーザーの出力が、10〜60mJか
ら選ばれた出力で孔径80〜180μmの貫通孔及び/
又はブラインドビア孔をあけることを特徴とする請求項
1又は2記載の炭酸ガスレーザーによる孔あけ方法。
3. An output of a carbon dioxide gas laser having an output selected from 10 to 60 mJ and a through hole having a hole diameter of 80 to 180 μm and / or
3. A method according to claim 1, wherein a blind via hole is formed.
【請求項4】 表層のフィルム又はレジストを除去した
後に、孔周辺に発生した銅箔バリを薬液で溶解除去する
と同時に表層銅箔の一部を溶解することを特徴とする請
求項1、2又は3記載の炭酸ガスレーザーによる孔あけ
後の銅箔処理方法。
4. The method according to claim 1, wherein after removing the surface film or resist, the copper foil burrs generated around the holes are dissolved and removed with a chemical solution, and at the same time, a part of the surface copper foil is dissolved. 3. The method for treating copper foil after drilling with a carbon dioxide laser according to 3.
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