JP2001230501A - 半導体レーザ光源装置の製造方法 - Google Patents

半導体レーザ光源装置の製造方法

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JP2001230501A
JP2001230501A JP2000036015A JP2000036015A JP2001230501A JP 2001230501 A JP2001230501 A JP 2001230501A JP 2000036015 A JP2000036015 A JP 2000036015A JP 2000036015 A JP2000036015 A JP 2000036015A JP 2001230501 A JP2001230501 A JP 2001230501A
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semiconductor laser
light emitting
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source device
chips
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Hisahiro Ishihara
久寛 石原
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Nidec Sankyo Corp
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Nidec Sankyo Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 2波長半導体レーザ光源装置において、各半
導体レーザチップの位置決めを簡単な作業で精度良く行
うことのできる方法を提案すること。 【解決手段】 2波長半導体レーザ光源装置1におい
て、サブマウント3の上面3aに一方の半導体レーザチ
ップ11を固着し、次に、他方の半導体レーザチップ1
2をサブマウント上面3aに載せて、双方の半導体レー
ザチップ11、12に小電流を流して発光させる。各半
導体レーザチップ11、12の前方発光点間隔Lfと、
後方発光点間隔Lrを同一、且予め設定された値となる
ように、これら半導体レーザチップ11、12の位置決
めを行う。これにより、発光点間隔を精度良く設定でき
るだけでなく、各半導体レーザチップの出射光軸L1
1、L12の平行度も精度良く調整できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録密度の異なる
光ディスクの再生および記録を行う光ピックアップ装置
の光源として用いるのに適した半導体レーザ光源装置に
関するものである。更に詳しくは、複数の半導体レーザ
チップが共通基板上に実装されたハイブリッド型の半導
体レーザ光源装置において、半導体レーザチップを精度
良く位置決めするための製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、各種書類を電子ファイル化するた
めに用いる記憶媒体として、追記型のCD−Rが広汎に
利用されるようになってきている。このCD−RはDV
D再生用の650nmあるいは635nmの波長帯域レ
ーザ光の反射率が著しく低いので、DVD再生用レーザ
光源を備えた光ピックアップ装置では再生ができない。
そこで、780nm波長帯域のCD再生用レーザ光源
と、635あるいは650nm波長帯域のDVD再生用
レーザ光源の双方を備えた2光源型の光ピックアップ装
置が広く採用されるようになってきている。
【0003】特開平10−289468号公報には、こ
のような2光源型の光ピックアップ装置が開示されてい
る。この公開公報に開示されている光ピックアップ装置
では、光学系をコンパクト化するために、波長の異なる
半導体レーザチップを共通基板上に配置してユニット化
したハイブリット型の光源装置を備え、各半導体レーザ
チップからの出射レーザ光を共通光学経路を介して光デ
ィスクに導くようにしている。
【0004】このハイブリット型の光源装置において
は、一方の半導体レーザチップからの出射レーザ光の光
軸を光ピックアップ装置の光学系のシステム光軸に合わ
せると、隣接配置されている他方の半導体レーザチップ
からの出射レーザ光の光軸がずれてしまう。一般に、双
方の半導体レーザチップの発光点間隔が100ミクロン
程度の場合には、この程度の光軸ずれは光ピックアップ
装置の対物レンズの近軸近似ができる領域でもあり、ま
た、受光系を工夫することにより信号検出用のホドダイ
オードも共通化できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、システム光
軸からずれている側の半導体レーザチップの光軸が、組
み立て誤差等でシステム光軸から大きく外れると、レー
ザ光が対物レンズに斜め入射して、コマ収差等が増加
し、再生信号のS/N比が低下してしまうので、再生動
作不良が発生する。そこで、半導体レーザチップの発光
点間隔を精度良く設定することが必要である。
【0006】しかしながら、2個の半導体レーザチップ
の発光点間隔を精度良く設定しても、それらからの出射
レーザ光の光軸が相互の傾いた状態で設置されてしまう
と、双方のレーザ光の光軸が平行ではなくなる。この場
合には、発光点から離れるに連れてレーザ光の光軸ずれ
が増大するので、僅かに光軸が平行方向から傾いていた
としても、それによる再生信号のS/N比低下等の弊害
は大きい。
【0007】このように、2個の半導体レーザチップの
実装に当たっては、その発光点間隔と併せて出射レーザ
光の光軸平行度も精度良く調整することが極めて重要で
ある。
【0008】本発明の課題は、このような点に鑑みて、
共通の半導体基板上に複数の半導体レーザチップが搭載
された形式の半導体レーザ光源装置において、各半導体
レーザを精度良く位置決め可能な製造方法を提案するこ
とにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は、少なくとも第1および第2の半導体レ
ーザチップが基板上に固定されている半導体レーザ光源
装置の製造方法において、前記第1および第2の半導体
レーザチップを発光させる発光工程と、前記第1および
第2の半導体レーザチップにおける前方発光点の距離、
および、これらの半導体レーザチップにおける後方発光
点の距離に基づき、これら第1および第2の半導体レー
ザチップの位置決めを行う位置決め工程と、を含むこと
を特徴としている。
【0010】ここで、前記位置決め工程は、少なくと
も、前記第1および第2の半導体レーザチップにおける
前方出射レーザ光の光軸が平行となるように調整する平
行度調整工程を含むことを特徴としている。
【0011】また、この位置決め工程の前記平行度調整
工程では、前記前方発光点間の距離と前記後方発光点間
の距離が等しくなるように、前記第1および第2の半導
体レーザチップの位置を調整することを特徴としてい
る。
【0012】本発明の方法によれば、各半導体レーザチ
ップの前方発光点の間隔だけでなく、後方発光点の間隔
も測定あるいは観測しているので、これらの測定値ある
いは観測値に基づき、各半導体レーザチップの発光点間
隔を精度良く設定できると共に、各半導体レーザチップ
からの出射レーザ光の光軸を精度良く平行となるように
調整することができる。
【0013】このような位置決めのために各半導体レー
ザチップを発光させるためには、通常の駆動電流値(し
きい値電流)よりも十分に低い電流を流して発光させる
ようにすれば、過剰電流によって半導体レーザチップが
破損してしまうことを確実に回避できるので好ましい。
【0014】典型的な位置決め作業においては、前記発
光工程に先立って、前記第1および第2の半導体レーザ
チップのうち一方を前記基板上に固着する第1の固着工
程と、前記位置決め工程後に他方の半導体レーザチップ
を前記基板上に固着する第2の固着工程とを含むことを
特徴としている。このように一方の半導体レーザチップ
の位置を固定すれば、これを基準として、他方の半導体
レーザチップの位置決めを簡単に行うことができるので
好ましい。
【0015】本発明の対象となる半導体レーザ光源装置
は、異なる波長の第1および第2の半導体レーザチップ
を備えたものに適用されるが、同一波長のレーザ光を出
射する半導体レーザチップが搭載されている場合におけ
る位置決めのために適用することも可能である。
【0016】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して、本発明
を適用した2波長半導体レーザ光源装置の製造方法の一
例を説明する。
【0017】図1は本例の2波長半導体レーザ光源装置
の主要部分を示す概略構成図である。本例の2波長半導
体レーザ光源装置1は、不図示のパッケージ内に配置さ
れた半導体基板2の上面に、ヒートシンクとして機能す
るサブマウント3が固着され、この上面3a(基準面)
に2個の半導体レーザチップ11、12が並列配置され
た状態で実装された構成となっている。
【0018】一方の半導体レーザチップ11はCD再生
用のものであり、例えば780nm波長帯域の近赤外レ
ーザ光を出射するAlGaAs系半導体レーザである。
他方の半導体レーザチップ12はDVD再生用のもので
あり、例えば635あるいは650nm波長帯域の赤色
レーザ光を出射するAlGaInP系半導体レーザチッ
プである。半導体基板2には一般に光検出用受光素子が
作り込まれる。2波長半導体レーザ光源装置1のかかる
構成は公知であるので、本明細書ではこれ以上の説明を
省略する。
【0019】次に、図2ないし図4を参照して、本例の
2波長半導体レーザ光源装置1の製造方法における特徴
をなしている2個の半導体レーザチップ11、12の精
密位置決め作業について説明する。まず、半導体レーザ
チップ11、12を実装するための基準面であるサブマ
ウント上面3aに、一方の半導体レーザチップ11を、
その前方発光点11aが予め定めた前方を向くように搭
載して、熱融着等の方法により固着する(図2の第1の
固着工程ST1)。
【0020】次に、他方の半導体レーザチップ12を所
定の治具により保持してサブマウント上面3aに載せ
て、仮位置決めを行う(図2の仮位置決め工程ST
2)。この後は、半導体レーザチップ11、12の給電
用端子部分(図示せず)に適切な小電力供給装置(図示
せず)のブローブを接続して、電流を供給して、発光さ
せる(図2の発光工程ST3)。
【0021】本例では、各半導体レーザチップ11、1
2がレーザ発振するしきい値電流よりも十分に小さな値
の電流を供給することにより、各半導体レーザチップ1
1、12を発光(LED発光)させるようにしている。
小電流を供給することにより、各半導体レーザチップ1
1、12に過剰電流が流れて破損する等の弊害を確実に
防止できる。
【0022】双方の半導体レーザチップ11、12を発
光状態にした後は、これらの前方発光点11a、12
a、および後方発光点11b、12bの発光スポット像
を、予め設置されているCCDカメラ等の撮像手段(図
示せず)を介して取得する。図3(a)には、前方側に
設置した撮像手段を視点fとして示し、後方側に設置し
た撮像手段を視点rとして示してある。
【0023】この後は、半導体レーザ12の精密位置決
めを行う(図2の位置決め工程ST4)。この位置決め
工程では、まず、図4(a)および(b)に示すよう
に、取得した前方発光点11a、12aの発光スポット
像から前方発光点間隔Lfを求め、後方発光点11b、
12bの発光スポット像から後方発光点間隔Lrを求め
る。本例では、例えば、前方発光点間隔Lfが予め定め
た値(例えば100ミクロン)となるように半導体レー
ザチップ12の位置調整を行う(図2の発光点間隔調整
ST41)。
【0024】次に、前方発光点間隔Lfと後方発光点間
隔Lrが等しくなるように、半導体レーザチップ12の
回転位置調整を行う(図2の平行度調整ST42)。各
半導体レーザチップ11、12は平坦なサブマウント上
面3aに乗っているので、当該上面3aを含む水平面に
平行な方向に、各半導体レーザチップ11、12の出射
レーザ光の光軸L11、L12は向かっている。従っ
て、前方発光点間隔Lfと後方発光点間隔Lrを等しく
なるように調整すると、これらの光軸L11、L12を
サブマント上面3aに平行な水平面内において平行にす
ることができる。
【0025】ここで、CCDカメラ等の撮像手段の設置
位置は、図3(b)に示すように、半導体レーザチップ
11、12の前後に立ち上げミラー21、22を配置
し、これらの直上位置からミラー21、22に映し出さ
れた発光スポット像を撮影するようにしてもよい。
【0026】なお、CCDカメラ等の撮像手段の設置位
置が管理され、観測する発光スポット位置の絶対値が前
後の撮像手段の間で校正されていれば、2つの半導体レ
ーザチップ11、12の出射光軸L11、L12におけ
るサブマンウント上面3aに平行な水平面内での平行度
調整だけでなく、当該サブマウント上面3aに対する各
出射光軸L11、L12の角度管理も行うことが可能に
なる。
【0027】次に、光軸L11、L12方向の各半導体
レーザチップ11、12の位置調整を行う(図2の光軸
方向の位置調整ST43)。本例では、半導体レーザチ
ップ11がサブマウント上面3aに固着されているの
で、この発光点11aの前後方向の位置に一致するよう
に、他方の半導体レーザチップ発光点12aの前後方向
の位置調整を行なう。
【0028】このようにして半導体レーザチップ12の
位置決めが行われた後は、当該半導体レーザチップ12
をその位置決め位置に保持し、熱融着等の方法により、
当該半導体レーザチップ12をサブマウント上面3aに
固着する(図2の第2の固着工程ST5)。
【0029】(その他の実施の形態)上記の例では、予
め製作されている1枚のサブマウントの上面に2個の半
導体レーザチップを搭載しているが、この代わりに、図
5に示すように、多数個取り用の長尺状のサブマウント
素材31を用意し、これを、予め定めた位置に設置した
CCDカメラ等の撮像手段の設置位置(観測位置)を経
由して一定間隔毎に搬送し、2個ずつの半導体レーザチ
ップ11、12をそれぞれ1枚分のサブマウント上面領
域31aに前述のように位置決めして固着し、しかる後
に、サブマント素材31を切断してもよい。
【0030】また、前述の例では、CD用半導体レーザ
チップとDVD用半導体レーザチップが搭載された2波
長半導体レーザ光源装置について説明したが、本発明の
製造方法は、それ以外の複数の半導体レーザチップが搭
載された半導体レーザ光源装置の製造方法にも同様に適
用できることは勿論である。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体レ
ーザ光源装置の製造方法では、半導体基板上に搭載され
る各半導体レーザチップにおける前方発光点の間隔およ
び後方発光点の間隔に基づき、各半導体レーザチップを
位置決めしている。従って、本発明の方法によれば、発
光点間隔だけでなく、各半導体レーザチップの出射光軸
の平行度も精度良く調整できる。
【0032】また、本発明の方法では、半導体レーザチ
ップの位置決めの際には、それらのレーザ発振しきい値
電流よりも十分に小さな電流を流して発光させるように
している。従って、位置調整のための発光時に過大電流
が流れて半導体レーザチップが破損するなどの弊害を確
実に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法により位置決めされる2個の半導
体レーザチップを備えた2波長半導体レーザ光源装置の
主要部分を示す説明図である。
【図2】図1の半導体レーザ光源装置における2個の半
導体レーザチップを位置決めするための作業工程を示す
概略フローチャートである。
【図3】本発明による2個の半導体レーザチップの位置
決め時における撮像手段の設置位置を示す説明図であ
る。
【図4】撮像手段によって観察される2個の半導体レー
ザチップの前方発光点間隔および後方発光点間隔を示す
説明図である。
【図5】多数個取りのサブマウント素材に対して、2個
ずつの半導体レーザチップを位置決めして固着する方法
を示すための説明図である。
【符号の説明】
1 2波長半導体レーザ光源装置 2 半導体基板 3 サブマウント 11、12 半導体レーザチップ 11a、12a 前方発光点 11b、12b 後方発光点 L11,L12 出射光軸 21、22 立ち上げミラー 31 サブマウント素材 31a 1枚のサブマウント上面領域 Lf 前方発光点間隔 Lr 後方発光点間隔

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも第1および第2の半導体レー
    ザチップが基板上に固定されている半導体レーザ光源装
    置の製造方法において、 前記第1および第2の半導体レーザチップを発光させる
    発光工程と、 前記第1および第2の半導体レーザチップにおける前方
    発光点間の距離、および、これらの半導体レーザチップ
    における後方発光点間の距離に基づき、これら第1およ
    び第2の半導体レーザチップの位置決めを行う位置決め
    工程と、を含むことを特徴とする半導体レーザ光源装置
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記位置決め工程は、少なくとも、前記第1および第2
    の半導体レーザチップにおける前方出射レーザ光の光軸
    が平行となるように調整する平行度調整工程を含むこと
    を特徴とする半導体レーザ光源装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項2において、 前記位置決め工程の前記平行度調整工程では、前記前方
    発光点間の距離と前記後方発光点間の距離が等しくなる
    ように、前記第1および第2の半導体レーザチップの位
    置を調整することを特徴とする半導体レーザ光源装置の
    製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のうちのいずれかの項
    において、 前記発光工程では、前記第1および第2の半導体レーザ
    チップに対して、レーザ発振しきい値電流よりも低い電
    流を流すことを特徴とする半導体レーザ光源装置の製造
    方法。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のうちのいずれかの項
    において、 前記発光工程に先立って、前記第1および第2の半導体
    レーザチップのうち一方を前記基板上に固着する第1の
    固着工程と、前記位置決め工程後に他方の半導体レーザ
    チップを前記基板上に固着する第2の固着工程とを含む
    ことを特徴とする半導体レーザ光源装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし5のうちのいずれかの項
    において、 前記第1および第2の半導体レーザチップは相互に異な
    る波長のレーザ光を出射するものであることを特徴とす
    る半導体レーザ光源装置の製造方法。
JP2000036015A 2000-02-15 2000-02-15 半導体レーザ光源装置の製造方法 Withdrawn JP2001230501A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100524986C (zh) * 2004-03-30 2009-08-05 三洋电机株式会社 集成型半导体激光元件及其制造方法

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A761 Written withdrawal of application

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Effective date: 20051105