JP2001224120A - ガス絶縁母線 - Google Patents
ガス絶縁母線Info
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- JP2001224120A JP2001224120A JP2000031898A JP2000031898A JP2001224120A JP 2001224120 A JP2001224120 A JP 2001224120A JP 2000031898 A JP2000031898 A JP 2000031898A JP 2000031898 A JP2000031898 A JP 2000031898A JP 2001224120 A JP2001224120 A JP 2001224120A
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Abstract
た導体12,13を絶縁ガスが封入された金属製容器
7,8内に配置し、導体12,13を絶縁スペーサ9で
支持して高電圧を印加するガス絶縁母線において、導体
12,13の表面にエポキシ樹脂で面粗さ以上の膜厚に
なるように誘電体被覆層14,15を形成したものであ
る。
Description
関するものである。
器は絶縁性能に優れているため多くの変電機器に用いら
れている。この場合、絶縁設計はSF6 ガスの特性上か
ら可能な限り平等電界にすることが望ましい。図7は、
例えば特開昭62−163506号公報に記載された従
来のガス絶縁母線の要部を示す断面図である。図7にお
いて、SF6 等の絶縁ガスが封入された金属製容器1内
に高電圧が印加される導体2を配置し、導体2を絶縁ス
ペーサ3で支持している。そして、電界強度の高い絶縁
スペーサ3の両端に電界緩和シールド4a,4bを配置
して電界緩和を行っている。さらに、最大電界となる電
界緩和シールド4a,4bの表面をエポキシ樹脂あるい
はアルマイト処理して、絶縁皮膜層5,6を形成し、加
工時に発生した表面の微小突起を覆うことにより微小突
起の近傍の電界緩和が行われている。
以上のように構成されているので、同電界部分の導体の
表面積が大きくなると破壊電界が低下する面積効果が発
生するという問題点があった。即ち、面積効果により破
壊電圧が低下するのは、導体2の加工時に表面に発生し
た数十μm〜数百μmの凹凸が局所的に電界集中を引き
起こして、SF6ガスの放電開始電圧を超えるためであ
る。放電は確率的な要素を有するので、面積が大きくな
ると微小突起の存在が多くなるため破壊電圧が低下す
る。この発明は、以上のような問題点を解消するために
なされたもので、導体の面積効果を低減することができ
るガス絶縁母線を提供することを目的とするものであ
る。
縁母線は、表面の面粗さが所定の大きさに形成された導
体を絶縁ガスが封入された金属製容器内に配置し、導体
を絶縁スペーサで支持して高電圧を印加するガス絶縁母
線において、導体の表面にエポキシ樹脂で面粗さ以上の
膜厚になるように誘電体被覆層を形成したものである。
さらに、導体の表面に導電性もしくは半導電性を有する
部材で面粗さ以下の膜厚になるように補填層を形成し、
補填層の表面にエポキシ樹脂で誘電体被覆層を形成し、
補填層と誘電体被覆層との膜厚が面粗さ以上になるよう
にしたものである。
1の構成を示す断面図、図2は図1の要部を示す断面図
である。図1及び図2において、7,8は円筒状の金属
製容器で、SF6 等の絶縁ガスが封入されている。9は
両端にコネクタ9a,9bを有する絶縁スペーサで、各
容器7,8間にボルト、ナット(図示せず)により固着
されている。10,11は電界緩和シールドで、絶縁ス
ペーサ9の両端部の電界を緩和する。12は表面の凹凸
部12aが数十μm〜数百μmの面粗さに加工された導
体で、容器7内に配置されてコネクタ9aを介して絶縁
スペーサ9により支持され、高電圧が印加される。13
は表面の凹凸部13aが数十μm〜数百μmの面粗さに
加工された導体で、容器8内に配置されてコネクタ9b
を介して絶縁スペーサ9により支持され、高電圧が印加
される。14,15は各導体12,13の表面に流動浸
績法、粉体塗装法等により形成されたエポキシ樹脂の誘
電体被覆層で、膜厚が導体12,13の面粗さの大きさ
以上である。
積と絶縁破壊電界との関係を誘電体被覆層の有無で比較
した説明図である。図3から明らかなように電極面積が
大きくなると破壊電圧が低下する。そして、電極の表面
に誘電体被覆層を形成することにより破壊電圧が向上し
ている。これは導体の表面に形成された微小突起の凹凸
を誘電体で被覆することにより、微小突起からの電界放
出電子を抑制するためと考えられる。さらに、図4は導
体の表面の凹凸、即ち面粗さが100μmのとき、エポ
キシ樹脂で形成された誘電体被覆層の膜厚と絶縁破壊電
圧との関係を示す説明図である。図4から明らかなよう
に誘電体被覆層の膜厚が厚くなるのに応じて破壊電圧が
大きくなる。例えば、面粗さが100μmのとき、誘電
体被覆層の膜厚が0のときの破壊電圧に対して、誘電体
被覆層の膜厚を導体の面粗さと同じ100μmにすると
20%以上も破壊電圧が向上する。図1及び図2におい
て、導体12,13に高電圧が印加された場合、導体1
2,13の表面の面粗さ以上の膜厚で誘電体被覆層1
4,15が形成されているので、電界放出電子や凹凸部
11a,12a等の局所的な電界集中が緩和されて、図
3及び図4に示すように面積効果の改善ができるため、
耐電圧の向上を図ることができる。
を示す断面図、図6は図5の要部を示す断面図である。
図5及び図6において、7〜13は実施の形態1のもの
と同様のものである。16,17は各導体12,13の
表面に導電性もしくは半導電性を有する部材で面粗さ以
下の膜厚になるように形成された補填層で、面粗さが数
μmになるようにする。導電性を有する部材は例えば銅
を使用してメッキにより補填層16,17を形成する。
また、半導電性を有する部材は例えばシリコンカーバイ
トを使用して塗装により補填層16,17を形成する。
18,19は補填層16,17の表面に形成されたエポ
キシ樹脂の誘電体被覆層で、補填層16,17の表面に
流動浸績法、粉体塗装法等により形成されている。な
お、補填層16,17と誘電体被覆層18,19との合
計膜厚が導体12,13の面粗さ以上になるように形成
されている。
において、導体12,13に高電圧が印加された場合、
導体12,13の表面に導電性もしくは半導電性を有す
る補填層16,17が形成されて導体12,13の凹凸
部12a,13aが小さくなるため、電界放出電子や局
所的な電界集中が緩和される。さらに、補填層16,1
7の表面に誘電体被覆層18,19が形成されているの
で、図4に示すようには破壊電圧が高くなるため、面積
効果の改善を図り耐電圧を向上させることができる。
シ樹脂で面粗さ以上の膜厚になるように誘電体被覆層を
形成したことにより、電界放出電子や局所的な電界集中
が緩和されて、面積効果の改善ができるため、耐電圧の
向上を図ることができる。さらに、導体の表面に導電性
もしくは半導電性を有する部材で面粗さ以下の膜厚にな
るように補填層を形成し、補填層の表面にエポキシ樹脂
で誘電体被覆層を形成し、補填層と誘電体被覆層との合
計膜厚を導体の面粗さ以上にしたことにより、電界放出
電子や局所的な電界集中が緩和されて破壊電圧が高くな
るため、面積効果の改善を図り耐電圧を向上させること
ができる。
である。
係を誘電体被覆層の有無で比較した説明図である。
mのとき、エポキシ樹脂で形成された誘電体被覆層の膜
厚と絶縁破壊電圧との関係を示す説明図である。
である。
る。
14,15,18,19 誘電体被覆層、16,17
補填層。
Claims (2)
- 【請求項1】 表面の面粗さが所定の大きさに形成され
た導体を絶縁ガスが封入された金属製容器内に配置し、
上記導体を絶縁スペーサで支持して高電圧を印加するガ
ス絶縁母線において、上記導体の表面にエポキシ樹脂で
上記面粗さ以上の膜厚になるように誘電体被覆層を形成
したことを特徴とするガス絶縁母線。 - 【請求項2】 表面の面粗さが所定の大きさに形成され
た導体を絶縁ガスが封入された金属製容器内に配置し、
上記導体を絶縁スペーサで支持して高電圧を印加するガ
ス絶縁母線において、上記導体の表面に導電性もしくは
半導電性を有する部材で上記面粗さ以下の膜厚になるよ
うに補填層を形成し、上記補填層の表面にエポキシ樹脂
で誘電体被覆層を形成し、上記補填層と上記誘電体被覆
層との膜厚が上記面粗さ以上になるようにしたことを特
徴とするガス絶縁母線。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000031898A JP2001224120A (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | ガス絶縁母線 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000031898A JP2001224120A (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | ガス絶縁母線 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001224120A true JP2001224120A (ja) | 2001-08-17 |
Family
ID=18556581
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000031898A Pending JP2001224120A (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | ガス絶縁母線 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001224120A (ja) |
Cited By (4)
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-
2000
- 2000-02-09 JP JP2000031898A patent/JP2001224120A/ja active Pending
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