JP2001222945A - Device of manufacturing electron source circuit board, electron source circuit board, and image display device using the circuit board - Google Patents

Device of manufacturing electron source circuit board, electron source circuit board, and image display device using the circuit board

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JP2001222945A
JP2001222945A JP2000031518A JP2000031518A JP2001222945A JP 2001222945 A JP2001222945 A JP 2001222945A JP 2000031518 A JP2000031518 A JP 2000031518A JP 2000031518 A JP2000031518 A JP 2000031518A JP 2001222945 A JP2001222945 A JP 2001222945A
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JP
Japan
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substrate
electron
electron source
thin film
conductive thin
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Application number
JP2000031518A
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Japanese (ja)
Inventor
Takuro Sekiya
卓朗 関谷
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture an electron emitting element applicable to an image display device highly accurately and at a low cost by using an ink-jet method. SOLUTION: The electron emitting elements, applicable to a display device to display images by making a fluorescent material emit visible light with electrons emitted by applying voltage, are manufactured by an ink-jet method. A jet head 11 is mounted on a carriage 12 movable in two orthogonally crossing directions, and a prescribed distance is kept between the head 11 and a circuit board 14. A liquid including a material of a conductive thin film a jetting out of the head 11, with the carried running, to be applied to a prescribed position on the circuit board 14, on which conductive electron emitting elements are formed. The angle of jetting the liquid can vary according to the structure of the device, while the distance between the circuit board 14 and the head is optimized according to the jetting angle.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表面伝導型電子放
出素子を用いた電子源基板の製造装置およびその製造装
置によって製作される電子源基板ならびにそれを用いた
画像表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for manufacturing an electron source substrate using a surface conduction electron-emitting device, an electron source substrate manufactured by the apparatus, and an image display apparatus using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型(以下、FE型という)、金属/絶縁層/金
属型(以下、MIM型という)や表面伝導型電子放出素
子等がある。FE型の例としては「W.P.Dyke&
W.W.Dolan,"Fieldemission",
Advance in Electron Physi
cs,8 89(1956)」あるいは「C.A.Sp
indt,"Physical Properties
of thin−film field emiss
ion cathodes with molybde
nium"J.Appl.Phys.,475248
(1976)」等が知られている。MIM型の例として
は「C.A.Mead,"The Tunnel−em
issionamplifier",J.Appl.P
hys.,32 646(1961)」等が知られてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, two types of electron emitting devices, a thermionic electron source and a cold cathode electron source, are known. The cold cathode electron source includes a field emission type (hereinafter, referred to as an FE type), a metal / insulating layer / metal type (hereinafter, referred to as an MIM type), and a surface conduction type electron emission element. Examples of the FE type include “WP Dyke &
W. W. Dolan, "Fielddemion",
Advance in Electron Physi
cs, 889 (1956) "or" CA Sp.
indt, "Physical Properties
of thin-film field emiss
ion cathodes with mollybde
nium "J. Appl. Phys., 475248.
(1976) ". An example of the MIM type is “CA Mead,” The Tunnel-em.
issueampifier ", J. Appl. P
hys. , 32 646 (1961) "and the like.

【0003】また表面伝導型電子放出素子型の例として
は、「M.I.Elinson,Radio Eng.
Electron Phys.,1290(196
5)」等がある。表面伝導型電子放出素子は、基板上に
形成された小面積の薄膜に、その膜面に平行に電流を流
すことにより、電子放出が生じる現象を利用するもので
ある。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリ
ンソン等によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜に
よるもの(「G.Dittmer:"Thin Sol
idFilms",9 317(1972)」),In2
3/SnO2薄膜によるもの(「M.Hartwell
and C.G.Fonstad:"IEEETra
ns.ED Conf.",519(1975)」),
カーボン薄膜によるもの(「荒木久 他:真空,第26
巻,第1号,22頁(1983)」)等が報告されてい
る。
As an example of a surface conduction electron-emitting device, see “MI Elinson, Radio Eng.
Electron Phys. , 1290 (196
5) "and the like. The surface conduction electron-emitting device utilizes a phenomenon in which an electron is emitted by passing a current through a small-area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. Examples of the surface conduction electron-emitting device include a device using an SnO 2 thin film by Elinson et al. And a device using an Au thin film (“G. Dittmer:“ Thin Sol ”).
idFilms ", 9 317 (1972)"), In 2
O 3 / SnO 2 thin film (“M. Hartwell”
and C.I. G. FIG. Fonstad: "IEEEtra
ns. ED Conf. ", 519 (1975)"),
By carbon thin film (“Hisashi Araki et al .: Vacuum, 26th
Vol. 1, No. 22, p. 22 (1983) ").

【0004】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として前述のM.Hartwellの素子構
成を図14に示す。図14において、1は基板、2,3
は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部である。
導電性薄膜4は、H型形状のパターンにスパッタで形成
された金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理により電子放出部5が形成され
る。なお、図中の素子電極間隔L1は、0.5〜1m
m、W'は、0.1mmで設定されている。
A typical device configuration of these surface conduction electron-emitting devices is described in the above-mentioned M.S. FIG. 14 shows an element configuration of Hartwell. In FIG. 14, 1 is a substrate, 2, 3
Denotes an element electrode, 4 denotes a conductive thin film, and 5 denotes an electron emitting portion.
The conductive thin film 4 is formed of a metal oxide thin film or the like formed by sputtering in an H-shaped pattern, and the electron emission portion 5 is formed by an energization process called energization forming described below. The device electrode interval L1 in the figure is 0.5 to 1 m.
m and W ′ are set to 0.1 mm.

【0005】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜4に対して予
め通電フォーミングと呼ばれる通電処理を施すことによ
って電子放出部5を形成するのが一般的である。通電フ
ォーミングとは導電性薄膜4の両端に直流電圧あるいは
非常にゆっくりとした例えば1V/分程度の昇電圧を印
加通電し、導電性薄膜4を局所的に破壊,変形もしくは
変質せしめることにより、電気的に高抵抗な状態にした
電子放出部5を形成することである。尚、電子放出部5
においては、導電性薄膜4の一部に亀裂が発生し、その
亀裂付近から電子放出が行われる。上記通電フォーミン
グ処理をした表面伝導型電子放出素子は、導電性薄膜4
に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより電子放出
部5より電子を放出せしめるものである。
Conventionally, in these surface-conduction electron-emitting devices, the electron-emitting portion 5 is generally formed by subjecting the conductive thin film 4 to an energization process called energization forming before performing electron emission. It is a target. In the energization forming, a direct current voltage or a very slowly increasing voltage of, for example, about 1 V / min is applied to both ends of the conductive thin film 4 and energized to locally destroy, deform or alter the conductive thin film 4. The purpose is to form the electron-emitting portion 5 in a state of high resistance. Note that the electron emission section 5
In, a crack is generated in a part of the conductive thin film 4, and electrons are emitted from the vicinity of the crack. The surface conduction electron-emitting device subjected to the energization forming treatment is a conductive thin film 4
Is applied, and a current is caused to flow through the element to cause the electron emission section 5 to emit electrons.

【0006】このような表面伝導型放出素子は、構造が
単純で製造も容易であることから、大面積にわたって多
数の素子を配列形成できる利点がある。そこでこの特徴
を活かした荷電ビーム源、表示装置等の応用研究がなさ
れている。多数の表面伝導型電子放出素子を配列形成し
た例としては、後述するように梯子型配置と呼ぶ並列に
表面伝導型電子放出素子を配列し、個々の素子の両端を
配線して(共通配線とも呼ぶ)、それぞれ結線した行を
多数行配列した電子源があげられる(例えば、特開昭6
4−31332号公報,特開平1−283749号公
報,及び特開平2−257552号公報等)。また、特
に表示装置等の画像形成装置においては、近年、液晶を
用いた平板型表示装置がCRTに替わって普及してきた
が、自発光型でないためバックライトを持たなければな
らない等の問題点があり、自発光型の表示装置の開発が
望まれてきた。自発光型表示装置としては、表面伝導型
放出素子を多数配置した電子源と、電子源より放出され
た電子によって可視光を発光せしめる蛍光体とを組み合
わせた表示装置である画像形成装置があげられる(例え
ば、米国特許第5066883号)。
Since such a surface conduction electron-emitting device has a simple structure and is easy to manufacture, there is an advantage that a large number of devices can be arrayed over a large area. Therefore, applied researches on charged beam sources, display devices and the like utilizing this feature have been made. As an example in which a large number of surface conduction electron-emitting devices are arrayed, a surface conduction electron-emitting device called a ladder-type arrangement is arranged in parallel as described later, and both ends of each element are wired (common wiring is also used). ), And an electron source in which a number of connected lines are arranged in a large number of rows (for example,
JP-A-4-31332, JP-A-1-283737, JP-A-2-257552 and the like. In particular, in image forming apparatuses such as display apparatuses, flat panel display apparatuses using liquid crystal have been widely used in place of CRTs in recent years. However, since they are not self-luminous, they must be provided with a backlight. Therefore, development of a self-luminous display device has been desired. Examples of the self-luminous display device include an image forming device that is a display device in which an electron source having a large number of surface conduction emission devices arranged therein and a phosphor that emits visible light by electrons emitted from the electron source are combined. (For example, US Pat. No. 5,066,883).

【0007】しかしながら、表面伝導型電子放出素子の
上記従来例による製造方法は、真空成膜と半導体プロセ
スにおけるフォトリソグラフィ・エッチング法を多用す
るものであり、大面積にわたって素子を形成するには、
工程数も多く、電子源基板の生産コストが高いといった
欠点がある。
However, the method of manufacturing a surface conduction electron-emitting device according to the above-mentioned conventional example makes heavy use of photolithography and etching in vacuum film formation and a semiconductor process.
There are disadvantages in that the number of steps is large and the production cost of the electron source substrate is high.

【0008】このような課題に対して、本発明者は表面
伝導型電子放出素子の素子部の導電性薄膜を形成するに
あたり、米国特許第3060429号,米国特許第32
98030号,米国特許第3596275号,米国特許
第3416153号,米国特許第3747120号,米
国特許第5729257号等として知られるようなイン
クジェット液滴付与手段によって、真空成膜法とフォト
リソグラフィ・エッチング法によらずに、安定的に歩留
まり良くかつ低コストで導電性薄膜を形成することがで
きるのではないかと考えた。
In order to solve such a problem, the present inventor, in forming a conductive thin film of the element portion of the surface conduction electron-emitting device, US Pat. No. 3,060,429 and US Pat.
No. 98030, U.S. Pat. No. 3,596,275, U.S. Pat. No. 3,416,153, U.S. Pat. No. 3,747,120, U.S. Pat. No. 5,729,257, and the like. Instead, it was thought that the conductive thin film could be formed stably with good yield and at low cost.

【0009】しかしながら、いわゆるインクを紙に向け
て飛翔させて記録を行うインクジェット記録と違い、導
電性薄膜となる元素あるいは化合物を含有する溶液を安
定的に飛翔させ、基板上に付与するにはまだまだ未解決
の要素が多々存在する。とりわけ従来のようにこのよう
な電子源基板に高精度な位置で表面伝導型放出素子群を
形成するには大きな工夫が必要とされる。
[0009] However, unlike ink jet recording in which recording is performed by flying so-called ink toward paper, it is still not enough to stably fly a solution containing an element or compound that becomes a conductive thin film and apply it on a substrate. There are many unresolved elements. In particular, great efforts are required to form a surface conduction electron-emitting device group on such an electron source substrate at a highly accurate position as in the prior art.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述のごと
くの表面伝導型電子放出素子を用いた画像表示装置の電
子源基板製造装置およびその製造装置によって製作され
る電子源基板ならびにそれを用いた画像表示装置に関す
るものであり、その目的は、表面伝導型放出素子群を高
精度に形成するための製造装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to an electron source substrate manufacturing apparatus for an image display device using the above-mentioned surface conduction electron-emitting device, an electron source substrate manufactured by the manufacturing apparatus, and an electron source substrate using the same. The purpose of the present invention is to provide a manufacturing apparatus for forming a group of surface conduction electron-emitting devices with high accuracy.

【0011】また本発明の他の目的は、上述ような製造
装置によって製作され,表面伝導型放出素子群が高精度
に形成された電子源基板を提供することにある。本発明
の更に他の目的は、上述ような製造装置によって製作さ
れた高精度な電子源基板を用いた高画質の画像表示装置
を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide an electron source substrate manufactured by the above-described manufacturing apparatus and having a surface-conduction type emission element group formed with high precision. Still another object of the present invention is to provide a high-quality image display device using a high-accuracy electron source substrate manufactured by the above-described manufacturing apparatus.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、所定
の電圧を引加することにより電子を放出する導電性薄膜
を有する電子放出素子群が基板に形成されてなる電子源
基板の製造装置において、前記基板の保持位置決め手段
もしくは保持位置調整機構を有する基板保持手段と、前
記基板に相対する位置に配され、入力された液滴付与情
報に基づいて前記基板に設けられた複数対の各素子電極
間に前記導電性薄膜の材料を含有した溶液を噴射するこ
とにより前記導電性薄膜を形成する噴射ヘッドと、該噴
射ヘッドに前記液滴付与情報を入力する情報入力手段
と、前記噴射ヘッドを搭載して前記基板に相対する領域
で直交する2方向に移動可能なキャリッジとを有し、該
キャリッジは、前記噴射ヘッドの溶液噴射口面と前記基
板の導電性薄膜の形成面とを一定の距離に維持して走査
を行いながら前記溶液の噴射を行うことを特徴としたも
のである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an electron source substrate comprising a substrate and an electron emitting element group having a conductive thin film which emits electrons by applying a predetermined voltage. In the apparatus, a substrate holding unit having a holding / positioning unit or a holding position adjusting mechanism for the substrate, and a plurality of pairs provided on the substrate based on input droplet application information, disposed at a position facing the substrate. An ejection head for forming the conductive thin film by injecting a solution containing the material of the conductive thin film between the element electrodes; information input means for inputting the liquid droplet application information to the ejection head; A carriage mounted with a head and movable in two directions orthogonal to each other in a region facing the substrate, wherein the carriage has a shape of a solution ejection port surface of the ejection head and a conductive thin film of the substrate. It is obtained by and performing injection of the solution while scanning to maintain the surface at a constant distance.

【0013】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、前記基板が、前記基板保持手段によって該基板の導
電性薄膜形成面が水平となるように保持され、前記噴射
ヘッドは、前記基板の上方に位置して前記溶液を下向き
に噴射し、前記一定の距離が0.1mm〜10mmの範
囲となるように構成されていることを特徴としたもので
ある。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the substrate is held by the substrate holding means such that a conductive thin film forming surface of the substrate is horizontal, and the jet head is provided with the substrate. The solution is ejected downward at a position above the liquid crystal, and the predetermined distance is in a range of 0.1 mm to 10 mm.

【0014】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、前記基板は、前記基板保持手段によって該基板の導
電性薄膜形成面が水平に対して0度より大きく90度以
下の角度に保持され、前記噴射ヘッドは、前記基板の上
方ないし側方から前記基板の導電性薄膜形成面に対して
ほぼ垂直に前記溶液を噴射し、前記一定の距離が0.1
mm〜8mmの範囲となるように構成されていることを
特徴としたものである。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the substrate is held by the substrate holding means at an angle of greater than 0 ° and 90 ° or less with respect to the horizontal with respect to the horizontal surface on which the conductive thin film is formed. The jet head jets the solution from above or from the side of the substrate substantially perpendicularly to the conductive thin film forming surface of the substrate, and the predetermined distance is 0.1.
mm to 8 mm.

【0015】請求項4の発明は、請求項1の発明におい
て、前記基板は、前記基板保持手段によって前記導電性
薄膜の形成面が水平に対して90度より大きく180度
以下の角度に保持され、前記噴射ヘッドは、前記基板の
側方ないし下方から前記導電性薄膜の形成面に対してほ
ぼ垂直に前記溶液を噴射し、前記一定の距離が0.1m
m〜6mmの範囲となるように構成されていることを特
徴としたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the substrate is held at an angle of more than 90 degrees and less than 180 degrees with respect to horizontal by the substrate holding means. The jet head jets the solution substantially perpendicularly to the surface on which the conductive thin film is formed from the side or below the substrate, and the predetermined distance is 0.1 m.
It is characterized in that it is configured to be in the range of m to 6 mm.

【0016】請求項5の発明は、請求項1ないし4のい
ずれか1の発明において、前記溶液の噴射速度は、前記
キャリッジの走査速度より速いことを特徴としたもので
ある。
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, the jetting speed of the solution is higher than the scanning speed of the carriage.

【0017】請求項6の発明は、請求項1ないし5のい
ずれか1に記載の電子源基板の製造装置によって製造さ
れてなることを特徴としたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an electron source substrate manufacturing apparatus according to any one of the first to fifth aspects.

【0018】請求項7の発明は、請求項6に記載の電子
源基板と、該電子源基板に対向配置可能な蛍光体とを有
し、前記電子源基板により放出された電子を前記蛍光体
に衝突させることにより該蛍光体を発光せしめて表示を
行うことを特徴としたものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the electron source substrate according to the sixth aspect, and a phosphor which can be disposed to face the electron source substrate, wherein the electrons emitted by the electron source substrate are used as the phosphor. The display is performed by causing the phosphor to emit light by colliding with the light.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施形態を示
す。本発明の表面伝導型電子放出素子の基本的な構成は
平面型である。図1は、本発明の製造装置によって形成
される電子源基板の1例を示す図であるが、ここでは簡
略化して、1つの平面型表面伝導型電子放出素子の構成
を模式的に示している。実際には後述するように、平面
型表面伝導型電子放出素子がマトリックス配置された素
子群として形成される。図1(A)は、平面型表面伝導
型電子放出素子の平面図,図1(B)はその断面図で、
図中、1は基板、2,3は素子電極、4は導電性薄膜、
5は電子放出部である。基板1としては、石英ガラス,
Na等の不純物含有量を低減させたガラス,青板ガラ
ス,SiO2を表面に堆積させたガラス基板およびアル
ミナ等のセラミックス基板等を用いることができる。素
子電極2,3の材料としては、一般的な導電材料を用い
ることができ、例えばNi,Cr,Au,Mo,W,P
t,Ti,Al,Cu,Pd等の金属あるいは合金,P
d,As,Ag,Au,RuO2,Pd−Ag等の金属
あるいは金属酸化物とガラス等から構成される印刷導
体,In23−SnO2等の透明導電体,ポリシリコン
等の半導体材料等から適宜選択される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A preferred embodiment of the present invention will be described. The basic configuration of the surface conduction electron-emitting device of the present invention is a planar type. FIG. 1 is a view showing an example of an electron source substrate formed by the manufacturing apparatus of the present invention. Here, for simplification, the configuration of one flat surface conduction electron-emitting device is schematically shown. I have. Actually, as will be described later, the flat surface conduction electron-emitting devices are formed as a group of devices arranged in a matrix. FIG. 1A is a plan view of a flat surface conduction electron-emitting device, and FIG.
In the figure, 1 is a substrate, 2 and 3 are device electrodes, 4 is a conductive thin film,
Reference numeral 5 denotes an electron emitting portion. As the substrate 1, quartz glass,
Glass with a reduced content of impurities such as Na, blue plate glass, a glass substrate having SiO 2 deposited on the surface thereof, and a ceramic substrate such as alumina can be used. As a material for the device electrodes 2 and 3, a general conductive material can be used. For example, Ni, Cr, Au, Mo, W, P
metals or alloys such as t, Ti, Al, Cu, Pd;
d, As, Ag, Au, RuO 2, Pd-Ag or the like metal or metal oxide and printed conductor composed of glass or the like, In 2 O 3 -SnO 2 a transparent conductive material such as, a semiconductor material such as polysilicon And so on.

【0020】素子電極2,3間の間隔Lは好ましくは数
千Åないし数百μmの範囲であり、より好ましくは素子
電極2,3間に印加する電圧等を考慮して1μmないし
100μmの範囲である。素子電極2,3の長さWは電
極の抵抗値および電子放出特性を考慮して、数μmない
し数百μmであり、また素子電極2,3の膜厚dは、1
00Åないし1μmの範囲である。尚、図1に示した構
成に限らず、基板1上に導電性薄膜4、素子電極2,3
の電極を順に形成させた構成にしてもよい。
The distance L between the device electrodes 2 and 3 is preferably in the range of several thousand to several hundred μm, and more preferably in the range of 1 to 100 μm in consideration of the voltage applied between the device electrodes 2 and 3. It is. The length W of the device electrodes 2 and 3 is several μm to several hundred μm in consideration of the resistance value and the electron emission characteristics of the electrodes.
The range is from 00 ° to 1 μm. In addition, the configuration is not limited to the configuration shown in FIG.
May be formed in order.

【0021】図2は、図1の構成の平面型表面伝導型電
子放出素子の製造方法を説明するための図である。導電
性薄膜4としては、良好な電子放出特性を得るために、
微粒子で構成された微粒子膜が特に好ましく、その膜厚
は素子電極2,3へのステップカバレージ、素子電極
2,3間の抵抗値および後述する通電フォーミング条件
等によって、適宜設定されるが、好ましくは数Åないし
数千Åで、特に好ましくは10Åないし500Åであ
る。また導電性薄膜4の抵抗値は、Rsが10の2乗な
いし10の7乗Ωの値である。なお、Rsは厚さがt、
幅がwで長さが1の薄膜の抵抗Rを、R=Rs(1/
w)とおいたときに現われる値で、薄膜材料の抵抗率を
ρとするとRs=ρ/tで表される。ここでは、フォー
ミング処理について通電処理を例に挙げて説明するが、
フォーミング処理はこれに限られるものではなく、膜に
亀裂を生じさせて高抵抗状態を形成する方法であればい
かなる方法でも良い。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of manufacturing the flat surface conduction electron-emitting device having the structure shown in FIG. As the conductive thin film 4, in order to obtain good electron emission characteristics,
A fine particle film composed of fine particles is particularly preferable, and the film thickness is appropriately set according to step coverage to the device electrodes 2 and 3, a resistance value between the device electrodes 2 and 3, an energization forming condition described later, and the like. Is several to several thousand, particularly preferably 10 to 500. In addition, the resistance value of the conductive thin film 4 is such that Rs is 10 2 to 10 7 Ω. Note that Rs has a thickness t,
The resistance R of a thin film having a width of w and a length of 1 is calculated by R = Rs (1 /
w), Rs = ρ / t where ρ is the resistivity of the thin film material. Here, the forming process will be described using an energizing process as an example.
The forming process is not limited to this, and any method may be used as long as the film is cracked to form a high resistance state.

【0022】導電性薄膜4を構成する材料としては、P
d,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,C
r,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、Pd
O,SnO2,In23,PbO,Sb23等の酸化
物、HfB2,ZrB2,LaB6,CeB6,YB4,G
dB4等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,TaC,
SiC,WC等の炭化物、TiN,ZrN,HfN等の
窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等の中から適
宜選択される。
The material constituting the conductive thin film 4 is P
d, Pt, Ru, Ag, Au, Ti, In, Cu, C
metals such as r, Fe, Zn, Sn, Ta, W, Pb, Pd
Oxides such as O, SnO 2 , In 2 O 3 , PbO, Sb 2 O 3 , HfB 2 , ZrB 2 , LaB 6 , CeB 6 , YB 4 , G
borides such as dB 4 , TiC, ZrC, HfC, TaC,
It is appropriately selected from carbides such as SiC and WC, nitrides such as TiN, ZrN and HfN, semiconductors such as Si and Ge, and carbon.

【0023】ここで述べる微粒子膜とは複数の微粒子が
集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が個々
に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、
あるいは重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合
し、全体として島状を形成している場合も含む)をとっ
ている。微粒子の粒径は、数Åないし1μmであり、好
ましくは10Åないし200Åである。
The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are gathered, and has a fine structure not only in a state where the fine particles are individually dispersed and arranged, but also when the fine particles are adjacent to each other.
Alternatively, they are in an overlapping state (including a case where some fine particles are aggregated to form an island shape as a whole). The particle size of the fine particles is from several degrees to 1 μm, preferably from 10 degrees to 200 degrees.

【0024】以下、本発明の一実施形態に係る表面伝導
型電子放出素子を形成した電子源基板の製造装置につい
て述べる。図3は、本発明の電子源基板の製造装置の一
実施例を説明するための図で、図中、11は吐出ヘッド
ユニット(噴射ヘッド)、12はキャリッジ、13は基
板保持台、14は平面型表面伝導型電子放出素子群を形
成する基板、15は導電性薄膜の材料を含有する溶液の
供給チューブ、16は信号供給ケーブル、17は噴射ヘ
ッドコントロールボックス、18はキャリッジ12のX
方向スキャンモータ、19はキャリッジ12のY方向ス
キャンモータ、20はコンピュータ、21はコントロー
ルボックス、22(22X1,22Y1,22X2,22Y2
は基板位置決め/保持手段である。
Hereinafter, an apparatus for manufacturing an electron source substrate on which a surface conduction electron-emitting device according to an embodiment of the present invention is formed will be described. FIG. 3 is a view for explaining an embodiment of the apparatus for manufacturing an electron source substrate according to the present invention. In the figure, reference numeral 11 denotes an ejection head unit (ejection head), 12 denotes a carriage, 13 denotes a substrate holding table, and 14 denotes A substrate for forming a group of planar surface conduction type electron-emitting devices, 15 is a supply tube for a solution containing a conductive thin film material, 16 is a signal supply cable, 17 is an ejection head control box, and 18 is an X of the carriage 12.
Direction scan motor, 19 is a Y direction scan motor of the carriage 12, 20 is a computer, 21 is a control box, and 22 (22 X1 , 22 Y 1 , 22 X 2 , 22 Y 2 ).
Is a substrate positioning / holding means.

【0025】図4は本発明の電子源基板の製造に適用さ
れる液滴付与装置の構成を示す概略図で、図5は図4の
液滴付与装置の吐出ヘッドユニットの要部概略構成図で
ある。図4の構成は、図3の構成と異なり、基板14側
を移動させて電子放出素子群を基板に形成するものであ
る。図4及び図5において、31はヘッドアライメント
制御機構、32は検出光学系、33はインクジェットヘ
ッド、34はヘッドアライメント微動機構、35は制御
コンピュータ、36は画像識別機構、38は位置検出機
構、39は位置補正制御機構、40はインクジェットヘ
ッド駆動・制御機構、41は光軸、42は素子電極、4
3は液滴、44は液滴着弾位置である。
FIG. 4 is a schematic view showing the configuration of a droplet applying apparatus applied to the manufacture of an electron source substrate according to the present invention, and FIG. 5 is a schematic structural view of a main part of a discharge head unit of the droplet applying apparatus of FIG. It is. The configuration of FIG. 4 differs from the configuration of FIG. 3 in that the electron-emitting device group is formed on the substrate by moving the substrate 14 side. 4 and 5, 31 is a head alignment control mechanism, 32 is a detection optical system, 33 is an inkjet head, 34 is a head alignment fine movement mechanism, 35 is a control computer, 36 is an image identification mechanism, 38 is a position detection mechanism, 39 Is a position correction control mechanism, 40 is an inkjet head drive / control mechanism, 41 is an optical axis, 42 is an element electrode,
3 is a droplet, and 44 is a droplet landing position.

【0026】吐出ヘッドユニット11の液滴付与装置
(インクジェットヘッド33)としては、任意の液滴を
定量吐出できるものであれば如何なる機構でも良く、特
に数10ng程度の液滴を形成できるインクジェット方
式の機構が望ましい。インクジェット方式としては、圧
電素子を用いたピエゾジェット方式、ヒータの熱エネル
ギを利用して気泡を発生させるバブルジェット方式、あ
るいは荷電制御方式(連続流方式)等いずれのものでも
構わない。
The droplet applying device (ink-jet head 33) of the discharge head unit 11 may be any mechanism as long as it can discharge a given amount of liquid droplets in particular. A mechanism is desirable. As the ink jet method, any of a piezo jet method using a piezoelectric element, a bubble jet method in which bubbles are generated using thermal energy of a heater, and a charge control method (continuous flow method) may be used.

【0027】本発明ではこのような電子源基板の製造装
置(図3)において、基板14はこの装置の基板位置決
め/保持手段22によってその保持位置を調整して決め
られる。図3では簡略化しているが、基板位置決め/保
持手段22は基板14の各辺に当接されるとともに、X
方向およびそれに直交するY方向にμmオーダーで微調
整できるようになっているとともに、噴射ヘッドコント
ロールボックス17,コンピュータ20,コントロール
ボックス21等と接続され、その位置決め情報および微
調整変位情報等と、液滴付与の位置情報、タイミング等
は、たえずフィードバックできるようになっている。
In the present invention, in such an electron source substrate manufacturing apparatus (FIG. 3), the substrate 14 is determined by adjusting the holding position of the substrate 14 by the substrate positioning / holding means 22 of the apparatus. Although simplified in FIG. 3, the substrate positioning / holding means 22 is in contact with each side of the substrate 14 and X
In the direction and the Y direction perpendicular thereto, the fine adjustment can be performed in the order of μm, and is connected to the ejection head control box 17, the computer 20, the control box 21, and the like. The position information, timing, etc. of the drop application can be constantly fed back.

【0028】さらに本発明の電子源基板の製造装置で
は、X,Y方向の位置調整機構の他に図示しない(基板
14の下に位置するために見えない)、回転位置調整機
構を有している。これに関連して先に本発明の電子源基
板の形状および形成される電子放出素子群の配列に関し
て説明する。
Further, the apparatus for manufacturing an electron source substrate according to the present invention has a rotation position adjustment mechanism (not shown because it is located below the substrate 14) in addition to the position adjustment mechanism in the X and Y directions. I have. In this regard, the shape of the electron source substrate and the arrangement of the formed electron-emitting devices will be described first.

【0029】本発明の電子源基板は前述のように、石英
ガラス,Na等の不純物含有量を低減させたガラス,青
板ガラス,SiO2を表面に堆積させたガラス基板およ
びアルミナ等のセラミックス基板等が用いられるが、そ
の形状は矩形(直角4辺形)である。つまり、その矩形
形状を構成する縦2辺、横2辺はそれぞれ、縦2辺が互
いに平行、横2辺が互いに平行であり、かつ縦横の辺は
直角をなすような基板である。
As described above, the electron source substrate of the present invention includes quartz glass, glass having a reduced impurity content such as Na, blue plate glass, a glass substrate having SiO 2 deposited on its surface, and a ceramic substrate such as alumina. Is used, and its shape is a rectangle (a quadrangle). In other words, the substrate has two vertical sides and two horizontal sides constituting the rectangular shape, the two vertical sides are parallel to each other, the horizontal two sides are parallel to each other, and the vertical and horizontal sides are at right angles.

【0030】このような基板に対して本発明では、形成
される電子放出素子群をマトリックス状に配列し、この
マトリックスの互いに直交する2方向が、この基板の縦
方向の辺あるいは横方向の辺の方向と平行であるように
電子放出素子群を配列する。このように電子放出素子群
をマトリックス状に配列する理由および、基板の縦横の
辺をそのマトリックスの直交する2方向と平行になるよ
うにする理由を以下に述べる。
According to the present invention, a group of electron-emitting devices to be formed is arranged in a matrix with respect to such a substrate, and two directions orthogonal to each other in the matrix correspond to a vertical side or a horizontal side of the substrate. The electron-emitting device groups are arranged so as to be parallel to the direction. The reason why the electron-emitting device groups are arranged in a matrix and the reason that the vertical and horizontal sides of the substrate are parallel to two orthogonal directions of the matrix will be described below.

【0031】図3あるいは図4に示したように、本発明
では、最初に基板14と吐出ヘッドユニット11の溶液
噴射口面の位置関係が決められた後は、特に位置制御を
行うことはない。つまり、キャリッジ12に搭載された
吐出ヘッドユニット11は基板14に対して一定の距離
を保ちながらX,Y方向に移動を行いつつ、導電性薄膜
の材料を含有する溶液の噴射を行う。つまりこのX方向
及びY方向は互いに直交する2方向であり、基板の位置
決めを行う際に、基板の縦辺あるいは横辺をそのY方向
あるいはX方向と平行になるようにしておけば、形成さ
れる電子放出素子群もそのマトリックス状配列の2方向
がそれぞれ平行であるため、キャリッジ移動を行いつつ
噴射する機構のみで高精度の素子群形成を行うことがで
きる。言い換えるならば、本発明のような基板形状、電
子放出素子群のマトリックス状配列、直交するX,Yの
2方向のキャリッジ移動装置にすれば、素子形成の液滴
噴射を行う前の基板の位置決めを正確に行えば、高精度
な電子放出素子群のマトリックス状配列が得られるとい
うことである。
As shown in FIG. 3 or FIG. 4, in the present invention, after the positional relationship between the substrate 14 and the solution ejection port surface of the ejection head unit 11 is determined first, no particular position control is performed. . That is, the ejection head unit 11 mounted on the carriage 12 ejects the solution containing the material of the conductive thin film while moving in the X and Y directions while keeping a certain distance with respect to the substrate 14. That is, the X direction and the Y direction are two directions that are orthogonal to each other. If the vertical side or the horizontal side of the substrate is set to be parallel to the Y direction or the X direction when positioning the substrate, the X direction and the Y direction are formed. Since the two electron-emitting device groups in the matrix arrangement are parallel to each other, a high-precision device group can be formed only by a mechanism for ejecting while moving the carriage. In other words, if the substrate shape as in the present invention, the matrix arrangement of the electron-emitting devices, and the carriage moving device in the two orthogonal X and Y directions are used, the positioning of the substrate before the droplet ejection for element formation is performed. This means that a high-precision matrix-like array of electron-emitting devices can be obtained.

【0032】ここで、先ほどの回転位置調整機構に戻っ
て説明する。前述のように本発明では、素子形成の液滴
噴射を行う前の基板の位置決めを正確に行い、Xおよび
Y方向のキャリッジ移動のみを行い、他の制御を行わ
ず、高精度な電子放出素子群のマトリックス状配列を得
ようというものである。その際問題となるのは、最初に
基板の位置決めを行う際の回転方向(X,Yの2方向で
決定される平面に対して垂直方向の軸に対する回転方
向)のズレである。
Here, the description will return to the rotation position adjusting mechanism described above. As described above, in the present invention, the position of the substrate is accurately determined before the droplet ejection for element formation is performed, only the carriage movement in the X and Y directions is performed, and no other control is performed. It is intended to obtain a matrix-like arrangement of groups. In this case, a problem is a deviation of a rotation direction (a rotation direction with respect to an axis perpendicular to a plane determined by two directions of X and Y) when the substrate is first positioned.

【0033】この回転方向のズレを補正するために本発
明では、前述のように図示しない(基板14の下に位置
して見えない)、回転位置調整機構を有している。これ
により回転方向のズレも補正し、基板の辺を位置決めす
ると、本発明の装置では、XおよびY方向のみのキャリ
ッジ移動で、高精度な電子放出素子群のマトリックス状
配列が得られる。
In order to correct the deviation in the rotation direction, the present invention has a rotation position adjusting mechanism not shown (not visible below the substrate 14) as described above. Thus, when the deviation in the rotation direction is also corrected and the side of the substrate is positioned, the apparatus of the present invention can obtain a highly accurate matrix-like arrangement of the electron-emitting device groups by moving the carriage only in the X and Y directions.

【0034】以上はこの回転位置調整機構を、図3の基
板位置決め/保持手段で22(22 X1,22Y1,2
X2,22Y2)とは別物の機構として説明した(基板1
4の下に位置して見えない)が、基板位置決め/保持手
段22に回転位置調整機構を持たせることも可能であ
る。例えば、基板位置決め/保持手段22は、基板14
の辺に当接され、基板位置決め/保持手段22全体が、
X方向あるいはY方向に位置を調整できるようになって
いるが、基板位置決め/保持手段22の基板14の辺に
当接される部分において、距離をおいて設けられた2本
のネジが独立に動くようにしておけば、角度調整が可能
である。なお、この回転位置制御情報も上記のX,Y方
向の位置決め情報および微調整変位情報等と同様に噴射
ヘッドコントロールボックス17,コンピュータ20,
コントロールボックス21等と接続され、液滴付与の位
置情報,タイミング等が、たえずフィードバックできる
ようになっている。
The above description is based on the rotation position adjusting mechanism shown in FIG.
22 (22 X1, 22Y1, 2
2X2, 22Y2) Is described as a separate mechanism (substrate 1
4 and cannot be seen), but the substrate positioning / holding hand
It is also possible to provide the stage 22 with a rotational position adjusting mechanism.
You. For example, the substrate positioning / holding means 22
And the entire substrate positioning / holding means 22 is
Now you can adjust the position in the X or Y direction
But on the side of the substrate 14 of the substrate positioning / holding means 22
Two pieces provided at a distance in the abutting part
Angle can be adjusted if the screws are moved independently
It is. Note that this rotation position control information is also used in the X and Y directions described above.
Injection as well as orientation information and fine adjustment displacement information
Head control box 17, computer 20,
Connected to the control box 21 etc.
Position information, timing, etc. can be constantly fed back
It has become.

【0035】次に本発明の位置決めの他の手段,構成に
ついて説明する。上記の説明は基板位置決め/保持手段
22は、基板14の辺に当接され、基板位置決め/保持
手段22全体が、X方向あるいはY方向に位置を調整で
きるようにしたものであるが、ここでは、基板14の辺
ではなく、基板上に互いに直交する2方向に帯状パター
ンを設けるようにした例について説明する。前述のよう
に本発明では基板上に電子放出素子群をマトリックス状
に配列して形成されるが、ここでは、前記のような互い
に直交する2方向の帯状パターンをこのマトリックスの
互いに直交する2方向と平行になるように形成してお
く。このようなパターンは、基板上にフォトファブリケ
ーション技術によって容易に形成できる。
Next, another means and configuration of the positioning according to the present invention will be described. In the above description, the substrate positioning / holding means 22 is in contact with the side of the substrate 14 so that the position of the entire substrate positioning / holding means 22 can be adjusted in the X direction or the Y direction. A description will be given of an example in which a band-shaped pattern is provided not in the side of the substrate 14 but in two directions orthogonal to each other on the substrate. As described above, in the present invention, the electron-emitting device group is formed on the substrate by arranging it in a matrix. It is formed so as to be parallel to. Such a pattern can be easily formed on a substrate by a photofabrication technique.

【0036】あるいは、上述のようなパターンをその目
的のためだけに作成するのではなく、素子電極2,3
(図1,図2)や、後述する図8及び図9のX方向配線
72やY方向配線73等の配線パターンを本発明の互い
に直交する2方向の帯状パターンとみなしてもよい。こ
のような帯状パターンを設けておけば、図5で後述する
ような、CCDカメラとレンズとを用いた検出光学系3
2によってパターン検出ができ、位置調整にフィードバ
ックできる。
Alternatively, the above-described pattern is not created only for the purpose, but is used for the device electrodes 2 and 3.
The wiring patterns such as the X-directional wiring 72 and the Y-directional wiring 73 in FIGS. 8 and 9 described later (FIGS. 1 and 2) may be regarded as two-directional strip patterns in the present invention. If such a band-shaped pattern is provided, a detection optical system 3 using a CCD camera and a lens as described later with reference to FIG.
2 enables pattern detection and feedback to position adjustment.

【0037】次に上記X,Y方向に対して垂直方向であ
るZ方向であるが、本発明では、最初に基板14と吐出
ヘッドユニット11の溶液噴射口面の位置関係が決めら
れた後は、特に位置制御を行うことはない。つまり、吐
出ヘッドユニット11は基板14に対して一定の距離を
保ちながらX,Y方向のキャリッジ移動を行いつつ、導
電性薄膜の材料を含有する溶液の噴射を行うが、その噴
射時には、吐出ヘッドユニット11のZ方向の位置制御
は特に行わない。その理由は、噴射時にその制御を行う
と、機構,制御システム等が複雑になるだけではなく、
基板14への液滴付与による導電性薄膜の形成が遅くな
り、生産性が著しく低下するからである。
Next, in the Z direction, which is a direction perpendicular to the X and Y directions, in the present invention, after the positional relationship between the substrate 14 and the solution ejection port surface of the ejection head unit 11 is determined first. No particular position control is performed. In other words, the ejection head unit 11 ejects the solution containing the material of the conductive thin film while moving the carriage in the X and Y directions while maintaining a certain distance with respect to the substrate 14. The position control of the unit 11 in the Z direction is not particularly performed. The reason is that if the control is performed at the time of injection, not only the mechanism and control system become complicated, but also
This is because the formation of the conductive thin film by applying droplets to the substrate 14 is delayed, and the productivity is significantly reduced.

【0038】かわりに本発明では基板14の平面度やそ
の基板14を保持する部分の装置の平面度、さらに吐出
ヘッドユニット11をX,Y方向のキャリッジ移動を行
わせるキャリッジ機構等の精度を高めるようにすること
で、噴射時のZ方向制御を行わず、吐出ヘッドユニット
11と基板14のX,Y方向のキャリッジ移動を高速で
行い、生産性を高めている。一例をあげると、本発明の
溶液付与時(噴射時)における基板14と吐出ヘッドユ
ニット11の溶液噴射口面の距離の変動は5mm以下に
押さえられている(基板14のサイズが200mm×2
00mm以上,4000mm×4000mm以下の場合
で)。
Instead, in the present invention, the flatness of the substrate 14, the flatness of the device holding the substrate 14, and the accuracy of a carriage mechanism for moving the ejection head unit 11 in the X and Y directions are improved. By doing so, the X-direction and Y-direction carriage movements of the ejection head unit 11 and the substrate 14 are performed at high speed without performing the Z-direction control at the time of ejection, thereby improving productivity. As an example, the variation in the distance between the substrate 14 and the solution ejection surface of the ejection head unit 11 when applying the solution of the present invention (during ejection) is suppressed to 5 mm or less (the size of the substrate 14 is 200 mm × 2).
00 mm or more and 4000 mm x 4000 mm or less).

【0039】次に図5により吐出ヘッドユニット11の
構成を説明する。図5において、32は基板14上の画
像情報を取り込む検出光学系であり、液滴43を吐出さ
せるインクジェットヘッド33に近接し、検出光学系3
2の光軸41および焦点位置と、インクジェットヘッド
33による液滴43の着弾位置44とが一致するよう配
置されている。この場合、図4に示す検出光学系32と
インクジェットヘッド33との位置関係はヘッドアライ
メント微動機構34とヘッドアライメント制御機構31
により精密に調整できるようになっている。また、検出
光学系32には、CCDカメラとレンズとを用いてい
る。
Next, the configuration of the ejection head unit 11 will be described with reference to FIG. In FIG. 5, reference numeral 32 denotes a detection optical system that captures image information on the substrate 14, which is close to the inkjet head 33 that ejects the droplet 43,
The two optical axes 41 and the focal position are arranged so as to coincide with the landing position 44 of the droplet 43 by the inkjet head 33. In this case, the positional relationship between the detection optical system 32 and the inkjet head 33 shown in FIG.
Can be adjusted more precisely. The detection optical system 32 uses a CCD camera and a lens.

【0040】図4において、36は先の検出光学系32
で取り込まれた画像情報を識別する画像識別機構であ
り、画像のコントラストを2値化し、2値化した特定コ
ントラスト部分の重心位置を算出する機能を有したもの
である。具体的には(株)キーエンス製の高精度画像認
識装置、VX−4210を用いることができる。これに
よって得られた画像情報に電子源基板14上における位
置情報を与える手段が位置検出機構38である。また、
これらの画像情報と基板14上での位置情報をもとに、
位置補正を行なうのが位置補正制御機構39であり、こ
の機構によりキャリッジ走査機構の動きに補正が加えら
れる。また、インクジェットヘッド制御・駆動機構40
によってインクジェットヘッド33が駆動され、液滴が
基板14上に塗布される。これまで述べた各制御機構
は、制御用コンピュータ35により集中制御される。
In FIG. 4, reference numeral 36 denotes the detection optical system 32.
Is an image identification mechanism for identifying the image information captured in step (1), and has a function of binarizing the contrast of the image and calculating the position of the center of gravity of the binarized specific contrast portion. Specifically, a high-precision image recognition device VX-4210 manufactured by KEYENCE CORPORATION can be used. A means for providing the obtained image information with position information on the electron source substrate 14 is a position detection mechanism 38. Also,
Based on the image information and the position information on the substrate 14,
The position correction is performed by the position correction control mechanism 39, which corrects the movement of the carriage scanning mechanism. In addition, the inkjet head control / drive mechanism 40
Accordingly, the inkjet head 33 is driven, and the droplet is applied on the substrate 14. The above-described control mechanisms are centrally controlled by the control computer 35.

【0041】液滴43の材料には、先に述べた導電性薄
膜となる元素あるいは化合物を含有する水溶液,有機溶
剤等を用いることができる。例えば、導電性薄膜となる
元素あるいは化合物がパラジウム系の例を以下に示す
と、酢酸パラジウム−エタノールアミン錯体(PA−M
E),酢酸パラジウム−ジエタノール錯体(PA−D
E),酢酸パラジウム−トリエタノールアミン錯体(P
A−TE),酢酸パラジウム−ブチルエタノールアミン
錯体(PA−BE),酢酸パラジウム−ジメチルエタノ
ールアミン錯体(PA−DME)等のエタノールアミン
系錯体を含んだ水溶液,また、パラジウム−グリシン錯
体(Pd−Gly),パラジウム−β−アラニン錯体
(Pd−β−Ala),パラジウム−DL−アラニン錯
体(pd−DL−Ala)等のアミン酸系錯体を含んだ
水溶液,さらには酢酸パラジウム・ビス・ジ・プロピル
アミン錯体の酢酸ブチル溶液等が挙げられる。
As a material of the droplet 43, an aqueous solution, an organic solvent, or the like containing the above-described element or compound that becomes a conductive thin film can be used. For example, a palladium-based element or compound as a conductive thin film is shown below, and a palladium acetate-ethanolamine complex (PA-M
E), palladium acetate-diethanol complex (PA-D
E), palladium acetate-triethanolamine complex (P
A-TE), an aqueous solution containing an ethanolamine complex such as palladium acetate-butylethanolamine complex (PA-BE) and palladium acetate-dimethylethanolamine complex (PA-DME), and a palladium-glycine complex (Pd- Gly), an aqueous solution containing an amine acid complex such as a palladium-β-alanine complex (Pd-β-Ala) or a palladium-DL-alanine complex (pd-DL-Ala). A butylamine solution of a propylamine complex is exemplified.

【0042】こうした液滴43を吐出ヘッドユニット1
1により所望の素子電極部に付与する際には、付与すべ
き位置を検出光学系32と画像識別機構36とで計測
し、その計測データ,吐出ヘッドユニット11の吐出口
面と基板14との距離,両者のキャリッジ移動速度に基
づいて補正座標を生成し、この補正座標通りに基板14
と吐出ヘッドユニット11とを移動せしめながら液滴を
付与する。検出光学系32としては、CCDカメラ等と
レンズを組み合わせたものを用い、画像識別機構36と
しては、市販のもので画像を2値化しその重心位置を求
めるもの等を用いることができる。
The droplet 43 is discharged from the discharge head unit 1
When applying to a desired element electrode portion by 1, the position to be applied is measured by the detection optical system 32 and the image identification mechanism 36, and the measured data, the position of the discharge port surface of the discharge head unit 11 and the substrate 14 are measured. Corrected coordinates are generated based on the distance and the carriage moving speed of both, and the substrate 14 is corrected in accordance with the corrected coordinates.
The droplets are applied while moving the discharge head unit 11 and the discharge head unit 11. As the detection optical system 32, a combination of a CCD camera or the like and a lens is used, and as the image identification mechanism 36, a commercially available one that binarizes an image and obtains the position of the center of gravity can be used.

【0043】このように本発明では、吐出ヘッドユニッ
ト11は基板14に対して一定の距離を保ちながらX,
Y方向のキャリッジ移動を行いつつ、導電性薄膜の材料
を含有する溶液の噴射を行い、表面伝導型電子放出素子
群を形成する。その際、各素子を形成するための溶液の
噴射を行う毎にキャリッジ移動を止めて噴射を行うと高
精度な素子群を形成することが可能である。しかし生産
性が著しく低下するので前述のように、そのキャリッジ
移動を止めることなく、順次溶液の噴射を行うようにし
ている。その場合、そのキャリッジ移動速度(例えば図
3のキャリッジのX方向移動速度)は、単に生産性向上
だけで決定されるべきではなく、高精度な素子群を形成
するという観点からも検討されなければならない。この
点については後述する。
As described above, according to the present invention, the ejection head unit 11 keeps the X,
While moving the carriage in the Y direction, a solution containing a material for the conductive thin film is sprayed to form a surface conduction electron-emitting device group. At this time, if the carriage movement is stopped and the ejection is performed each time the solution for forming each element is ejected, a highly accurate element group can be formed. However, since the productivity is significantly reduced, the solution is sequentially ejected without stopping the carriage movement as described above. In this case, the carriage moving speed (for example, the moving speed of the carriage in the X direction in FIG. 3) should not be determined merely by improving the productivity, but must be considered from the viewpoint of forming a highly accurate element group. No. This will be described later.

【0044】次に本発明の他の特徴について説明する。
本発明では上述したように、導電性薄膜材料を含有する
溶液を液体噴射によって液滴として空中飛翔させ、基板
に付着させて電子放出部を形成する。このような方法に
よって電子放出部を形成する場合、考慮しなければなら
ないことは、液滴の空中飛翔時の安定性である。
Next, other features of the present invention will be described.
In the present invention, as described above, the solution containing the conductive thin film material is caused to fly in the air as droplets by liquid ejection, and is attached to the substrate to form an electron emission portion. When forming the electron-emitting portion by such a method, what must be considered is the stability of the droplet when flying in the air.

【0045】安定した液滴の空中飛翔が行われれば、そ
の液滴の付着位置精度も良くなって、高精度の電子放出
源が形成可能となる。一方で、その液滴の付着位置精度
が悪ければ良好な電子放出源を形成することができな
い。そしてその空中飛翔時においては、液滴が空中飛翔
するという原理上、空気流等の外乱の影響を受けやすい
ので、その外乱をシャットアウトするかあるいは安定性
が増すような強制力を作用させるか、もしくはそれに類
する構成とすることによって液滴の空中飛翔時の安定性
を確保しなければならない。
If a stable flight of the droplet in the air is performed, the accuracy of the position where the droplet is attached is improved, and a highly accurate electron emission source can be formed. On the other hand, if the adhesion position accuracy of the droplet is poor, a good electron emission source cannot be formed. At the time of flying in the air, droplets are likely to be affected by disturbances such as airflow due to the principle that they fly in the air.Therefore, shut out the disturbances or apply a forcing force to increase stability. Alternatively, by adopting a configuration similar to the above, it is necessary to ensure the stability of the droplet when flying in the air.

【0046】本発明においては上述のような点に鑑み、
液滴が空中を飛翔する際の方向性、あるいは液滴が噴射
ヘッドから噴出してから基板に付着するまでの距離をど
の程度としたら安定性が確保でき、高精度な電子放出源
が形成できるのかを実験的に見出した。
In the present invention, in view of the above points,
Stability can be ensured by setting the directionality when the droplet flies in the air or the distance from the time when the droplet is ejected from the ejection head to the time when it adheres to the substrate, and a highly accurate electron emission source can be formed. Was found experimentally.

【0047】上述したように本発明では、図3に示した
ような構成の製造装置で噴射ヘッド11をキャリッジ走
査しながら導電性薄膜材料を含有する溶液を液体噴射に
よって液滴として空中飛翔させ、基板14に付着させて
電子源基板を製作する。
As described above, in the present invention, the solution containing the conductive thin film material is caused to fly in the air as droplets by liquid ejection while the carriage scans the ejection head 11 in the manufacturing apparatus having the structure shown in FIG. An electron source substrate is manufactured by attaching the electron source substrate to the substrate 14.

【0048】図3に示す例は基板14を水平に配置し、
その上にキャリッジに搭載された噴射ヘッドを配置し、
液滴を上から下へ、ちょうど重力が作用する方向に噴射
して電子源基板を形成する構成例を示している。このよ
うな構成の場合には、液滴を安定飛翔させるように重力
が作用するので、比較的安定した液滴飛翔が行われる。
In the example shown in FIG. 3, the substrate 14 is arranged horizontally,
Arrange the ejection head mounted on the carriage on it,
An example of a configuration in which a droplet is ejected from top to bottom in a direction in which gravity acts to form an electron source substrate is shown. In the case of such a configuration, since the gravity acts so as to cause the droplet to fly stably, the droplet can fly relatively stably.

【0049】しかしながら、噴射ヘッドの噴射口面から
基板14までの距離を大きくすると液滴が空中を飛翔し
ている時間が長くなり、外乱の影響も受けやすくなる。
従って上記の距離もある範囲内で設定しなければならな
いと考えられる。
However, when the distance from the ejection port surface of the ejection head to the substrate 14 is increased, the time during which the droplets fly in the air is lengthened, and the droplets are easily affected by disturbance.
Therefore, it is considered that the above distance must be set within a certain range.

【0050】また図3の例は、下向きに液滴を噴射する
構成であったが、本発明の製造装置は必ずしもいつも下
向きに液滴を噴射させるわけではない。製造装置の構成
上、斜め下向きに液滴を噴射させたり、あるいは上向き
に噴射させたりする構成もあり得る。本発明では上記の
ごとくの点に鑑み、そのような場合に噴射ヘッド11の
噴射口面から基板14までの距離をどのくらいにすれば
液滴の安定した空中飛翔が得られ、高精度な電子放出源
が形成できるのかを実験的に見出した。以下にその結果
を示す。
In the example shown in FIG. 3, the droplet is ejected downward. However, the manufacturing apparatus of the present invention does not always eject the droplet downward. Due to the configuration of the manufacturing apparatus, there may be a configuration in which droplets are ejected obliquely downward or upward. In the present invention, in consideration of the above points, in such a case, the distance from the ejection port surface of the ejection head 11 to the substrate 14 can be set so that the droplet can fly stably in the air, and the electron emission can be performed with high accuracy. It was found experimentally whether a source could be formed. The results are shown below.

【0051】図6は、基板と噴射ヘッドの配置例を示す
概略構成図で、図中、11は噴射ヘッド、11aは噴射
口面、14は基板、43は液滴、Gは重力作用方向であ
る。実験は、図6(A)に示すごとくに基板14の配置
をほぼ水平にして、液滴を上から下へ噴射させる構成
と、図6(B)に示すごとくに基板14を水平に対して
右回りで0度より大きく90度より小さい角度に保持
し、液滴43を上から斜め下へ噴射させる構成と、図6
(C)に示すごとくに基板14を水平に対して右回りで
90度より大きく180度より小さい角度に保持し、液
滴43を下から斜め上へ噴射させる構成とで、それぞれ
噴射ヘッド11の噴射口面から基板14までの距離Lを
変化させて液滴43の飛翔安定性を調べた。なお、飛翔
状態は直接見て観察することができないので、基板14
上に付与された液滴の形状を評価した。
FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of the arrangement of the substrate and the ejection head. In the drawing, reference numeral 11 denotes an ejection head, 11a denotes an ejection port surface, 14 denotes a substrate, 43 denotes a droplet, and G denotes a direction of gravity. is there. In the experiment, the arrangement of the substrate 14 was made substantially horizontal as shown in FIG. 6A, and the droplets were ejected from the top to the bottom, and as shown in FIG. FIG. 6 shows a configuration in which the droplet 43 is ejected obliquely downward from above by holding the liquid crystal clockwise at an angle larger than 0 degree and smaller than 90 degrees.
As shown in (C), the substrate 14 is held at an angle greater than 90 degrees and less than 180 degrees clockwise with respect to the horizontal, and the droplets 43 are ejected obliquely upward from below. The flight stability of the droplet 43 was examined by changing the distance L from the ejection port surface to the substrate 14. Note that the flying state cannot be directly observed and observed.
The shape of the droplet applied above was evaluated.

【0052】図6(B)及び図6(C)に示すように、
水平に対してある角度を持たせて基板14を配置した場
合、液滴43の噴射は、基板14に対して垂直方向で行
うため噴射角度も鉛直方向(重力作用方向G)に対して
0より大きい角度を持つことになる。この時、図6
(B)の構成の場合は、噴射の角度は水平に対して右回
りで90度から180度の範囲内であり、図6(C)の
場合は、噴射の角度は水平に対して右回りで0度から9
0度の範囲内である。以下に示す実際の実験では、図6
(B)の構成として基板14の角度を水平に対して右回
りで約45度(噴射の角度を水平に対して右回りで約1
35度)とし、図6(C)の構成として基板14の角度
を水平に対して右回りで約135度(噴射の角度は水平
に対して右回りで約45度)とした。
As shown in FIGS. 6B and 6C,
When the substrate 14 is arranged at an angle with respect to the horizontal, the droplets 43 are ejected in a direction perpendicular to the substrate 14, so that the ejection angle is also 0 from the vertical direction (gravity action direction G). Will have a large angle. At this time, FIG.
In the case of the configuration of FIG. 6B, the angle of injection is in the range of 90 to 180 degrees clockwise with respect to the horizontal, and in the case of FIG. 6C, the angle of injection is clockwise with respect to the horizontal. From 0 to 9
Within the range of 0 degrees. In the actual experiment shown below, FIG.
(B), the angle of the substrate 14 is about 45 degrees clockwise with respect to the horizontal (the injection angle is about 1 degree clockwise with respect to the horizontal).
35C), and the angle of the substrate 14 is about 135 degrees clockwise with respect to the horizontal as shown in FIG. 6C (the injection angle is about 45 degrees clockwise with respect to the horizontal).

【0053】厳密には、図6(B)の構成は、噴射の角
度が水平に対して右回りで90度から180度の範囲を
持っており、また図6(C)の構成は、噴射の角度が水
平に対して右回りで0度から90度の範囲を持っている
ため、ある1つの角度設定のみで全てを表現することは
難があると思われたが、噴射安定性の実験(液滴の基板
上での形状を評価する実験)を通じて、この角度よりも
噴射ヘッドの噴射口面11aから基板14までの距離L
の寄与率が大きいことがわかった。従って煩雑さを防ぐ
ために、ここでは図6(B)の構成の場合は基板14の
角度が水平に対して右回りで約45度(噴射の角度が水
平に対して右回りで約135度)の例のみを示し、また
図6(C)の構成の場合は、基板の角度が水平に対して
右回りで約135度(噴射の角度が水平に対して右回り
で約45度)の例のみの実験データを示す。
Strictly speaking, in the configuration of FIG. 6B, the angle of the injection has a range of 90 degrees to 180 degrees clockwise with respect to the horizontal, and in the configuration of FIG. It seems that it is difficult to express all with only one certain angle setting because the angle of R has a range of 0 to 90 degrees clockwise with respect to the horizontal. Through an (experiment for evaluating the shape of the droplet on the substrate), the distance L from the ejection surface 11a of the ejection head to the substrate 14 is smaller than this angle.
Was found to have a large contribution rate. Therefore, in order to prevent complication, here, in the case of the configuration of FIG. 6B, the angle of the substrate 14 is approximately 45 degrees clockwise with respect to the horizontal (the injection angle is approximately 135 degrees clockwise with respect to the horizontal). In the case of the configuration of FIG. 6C, the substrate angle is approximately 135 degrees clockwise with respect to the horizontal (the angle of ejection is approximately 45 degrees clockwise with respect to the horizontal). Only experimental data is shown.

【0054】以下に実際の実験に使用した溶液及び噴射
ヘッドの条件等を示す。使用した溶液は、酢酸パラジウ
ム−トリエタノールアミン水溶液であり、以下のように
して作成したものである。まず100gの酢酸パラジウ
ムを2000ccのイソプロピルアルコールに懸濁さ
せ、さらに407gのトリエタノールアミンを加え35
℃で12時間攪拌した。反応終了後、イソプロピルアル
コールを蒸発させて除去し、固形物にエチルアルコール
を加えて溶解、濾過し、濾液から酢酸パラジウム−トリ
エタノールアミンを再結晶させて得た。このようにして
得た酢酸パラジウム−トリエタノールアミン8gを39
2gの純水に溶解し、実験に使用した(2.0wt
%)。
The conditions of the solution and the ejection head used in the actual experiment are shown below. The solution used was an aqueous solution of palladium acetate-triethanolamine and was prepared as follows. First, 100 g of palladium acetate was suspended in 2000 cc of isopropyl alcohol, and 407 g of triethanolamine was added to the suspension.
Stirred at 12 ° C. for 12 hours. After completion of the reaction, isopropyl alcohol was removed by evaporation, and ethyl alcohol was added to the solid to dissolve and filter, and palladium acetate-triethanolamine was recrystallized from the filtrate to obtain. 8 g of the thus obtained palladium acetate-triethanolamine was added to 39
Dissolved in 2 g of pure water and used for experiments (2.0 wt.
%).

【0055】また使用した噴射ヘッド11はエッジシュ
ータ型のサーマルインクジェット方式とし、ノズル径は
Φ26μm、発熱体サイズは26μm×118μm(抵
抗値101Ω)で、駆動電圧を24.5V、パルス幅を
6μsで駆動し、下向きに噴射した場合のジェット初速
度として6m/sを得ている。キャリッジ走査速度(X
方向)は5m/sとした。
The ejection head 11 used was of an edge shooter type thermal ink jet system, the nozzle diameter was 26 μm, the heating element size was 26 μm × 118 μm (resistance value 101Ω), the driving voltage was 24.5 V, and the pulse width was 6 μs. 6 m / s is obtained as the initial jet speed when the jet is driven and jetted downward. Carriage scanning speed (X
Direction) was 5 m / s.

【0056】結果を以下の表1に示す。ここでは噴射ヘ
ッドの噴射口面11aから基板14までの距離Lを変え
て液滴噴射し、基板14上の素子形成状況を評価した結
果を示す。基板上の素子形成状況は、良好に形成できた
ものを○、溶液の像が流れ気味で素子形状が使用できな
い程度にまで変形したものを×としている。
The results are shown in Table 1 below. Here, the results of evaluating the state of element formation on the substrate 14 by ejecting droplets while changing the distance L from the ejection port surface 11a of the ejection head to the substrate 14 are shown. The element formation status on the substrate is indicated by ○ when the element was successfully formed and × when the element image was deformed to such an extent that the element image could not be used due to the slight flow of the solution image.

【0057】[0057]

【表1】 [Table 1]

【0058】以上の結果より、噴射ヘッドの噴射口面か
ら基板までの距離Lが0.05mmの場合には、図6
(A),図6(B)及び図6(C)の全ての構成におい
て良好な素子形成を行うことができなかった。これは距
離Lがあまりにも短すぎるため、液滴43が噴射口面1
1aから分離する前に基板14に到達してしまうためで
ある。
From the above results, when the distance L from the ejection port surface of the ejection head to the substrate is 0.05 mm, FIG.
In all of the configurations shown in FIGS. 6A, 6B, and 6C, good device formation could not be performed. This is because the distance L is too short, so that the droplet 43
This is because they reach the substrate 14 before being separated from 1a.

【0059】また噴射ヘッド11から液滴43が上から
ほぼ下向きに噴射されて基板14に付与される場合(図
6(A))には、噴射ヘッドの噴射口面から基板までの
距離Lを0.1mm〜10mmの範囲にすると良好な素
子形成を行うことができるが、それ以上距離Lを大きく
すると次第に良好な素子形成を行うことができなくなる
ことがわかる。これは距離Lが大きくなることにより、
空中飛翔距離が長くなり、その間に外乱の影響を受けや
すくなるためである。
When the droplet 43 is ejected from the ejection head 11 almost downward from above and is applied to the substrate 14 (FIG. 6A), the distance L from the ejection port surface of the ejection head to the substrate is determined. It can be seen that good element formation can be performed when the thickness is in the range of 0.1 mm to 10 mm, but when the distance L is further increased, good element formation cannot be performed gradually. This is because the distance L increases.
This is because the flight distance in the air becomes longer, and during that time, it becomes more susceptible to disturbance.

【0060】同様に、噴射ヘッド11から液滴43が上
から斜め下へ噴射されて基板14に付与される場合(図
6(B))には、噴射ヘッド11の噴射口面から基板1
4までの距離Lを0.1mm〜8mmの範囲にすると良
好な素子形成を行うことができるが、それ以上距離Lを
大きくすると次第に良好な素子形成を行うことができな
くなることがわかる。これは距離Lが大きくなることに
より空中飛翔距離が長くなり、その間に外乱の影響を受
けやすくなるためである。また液滴43が上からほぼ下
向きに噴射されて基板14に付与される場合に較べて、
良好な素子形成を行うことができる距離Lが小さくなる
のは、上からほぼ下向きに液滴43が噴射されて基板に
付与される場合に較べて重力作用方向Gが噴射の方向と
一致していないからである。
Similarly, when the droplet 43 is ejected obliquely downward from the ejection head 11 and applied to the substrate 14 (FIG. 6B), the substrate 1 is ejected from the ejection opening face of the ejection head 11.
It can be seen that when the distance L to 4 is in the range of 0.1 mm to 8 mm, good element formation can be performed, but when the distance L is further increased, good element formation cannot be performed gradually. This is because, as the distance L increases, the flight distance in the air increases, and during that time, the air becomes more susceptible to disturbance. Also, compared to the case where the droplet 43 is ejected substantially downward from above and applied to the substrate 14,
The reason that the distance L at which a good element can be formed becomes smaller is that the gravitational action direction G coincides with the direction of the ejection as compared with the case where the droplet 43 is ejected almost downward from above and applied to the substrate. Because there is no.

【0061】さらに、噴射ヘッド11から液滴43が下
から斜め上へ噴射されて基板14に付与される場合(図
6(C))には、噴射ヘッド11の噴射口面から基板1
4までの距離Lを0.1mm〜6mmの範囲にすると良
好な素子形成を行うことができるが、それ以上距離Lを
大きくすると次第に良好な素子形成を行うことができな
くなることがわかる。これは距離Lが大きくなることに
より液滴43の空中飛翔距離が長くなり、その間に外乱
の影響を受けやすくなるためである。
Further, when the droplet 43 is ejected from the ejection head 11 obliquely upward from below and applied to the substrate 14 (FIG. 6C), the substrate 1 is ejected from the ejection port surface of the ejection head 11.
It can be seen that when the distance L to 4 is in the range of 0.1 mm to 6 mm, good element formation can be performed, but when the distance L is further increased, good element formation cannot be performed gradually. This is because, as the distance L increases, the flying distance of the droplet 43 in the air increases, and during that time, the droplet 43 is easily affected by disturbance.

【0062】また液滴43が上からほぼ下向きに噴射さ
れて基板14に付与される場合、あるいは上から斜め下
へ噴射される場合に較べて良好な素子形成を行うことが
できる距離Lが小さくなるのは、重力作用方向Gが噴射
の方向と一致していないか、あるいは重力が噴射の方向
と反対方向に作用するからである。
The distance L over which a good element can be formed is smaller than when the droplet 43 is ejected substantially downward from above and applied to the substrate 14, or when the droplet 43 is ejected obliquely downward from above. This is because the gravitational action direction G does not coincide with the direction of jetting, or gravitational force acts in the direction opposite to the direction of jetting.

【0063】次に本発明のさらに他の特徴について説明
する。上述したように、本発明では生産性低下を防止す
るために、噴射ヘッド11を搭載したキャリッジの走査
を止めることなくキャリッジ走査しながら順次溶液の噴
射を行うようにしている。その場合、そのキャリッジ走
査速度(例えば図3のキャリッジ12のX方向移動速
度)は、単に生産性向上だけで決定されるべきではな
く、高精度な素子群を形成するという観点からも検討さ
れなければならない。
Next, still another feature of the present invention will be described. As described above, in the present invention, in order to prevent a decrease in productivity, the solution is sequentially ejected while scanning the carriage without stopping the scanning of the carriage on which the ejection head 11 is mounted. In this case, the carriage scanning speed (for example, the moving speed of the carriage 12 in the X direction in FIG. 3) should not be determined merely by improving the productivity, but must be examined from the viewpoint of forming a highly accurate element group. Must.

【0064】本発明ではこの点に関して鋭意検討した結
果、このような導電性薄膜の材料を含有する溶液の噴射
を行う場合、その噴射速度を前記キャリッジ移動速度よ
り速くすることが必要であることに気がついた。このよ
うに吐出ヘッドユニット11の基板14に対する距離を
一定に保ちながらX,Y方向のキャリッジ走査を行いつ
つ、導電性薄膜の材料を含有する溶液の噴射を行い、表
面伝導型電子放出素子群を形成する場合には、溶液の液
滴43はキャリッジ走査速度と噴射速度の合成ベクトル
の速度で基板14上に付着、形成される。そしてその位
置精度については、基板14と吐出ヘッドユニット11
の溶液噴射口面の距離と、上記の合成ベクトルの速度を
考慮し、噴射のタイミングを適宜選ぶことにより、狙い
の位置に液滴43を付着させることができる。
In the present invention, as a result of intensive studies on this point, it has been found that when a solution containing such a conductive thin film material is jetted, the jetting speed must be higher than the carriage moving speed. noticed. In this manner, while performing the carriage scanning in the X and Y directions while keeping the distance of the ejection head unit 11 to the substrate 14 constant, the solution containing the material of the conductive thin film is ejected, and the surface conduction type electron-emitting device group is formed. In the case of forming, the droplet 43 of the solution is attached and formed on the substrate 14 at a speed of a combined vector of the carriage scanning speed and the ejection speed. Regarding the positional accuracy, the substrate 14 and the ejection head unit 11
The droplet 43 can be made to adhere to a target position by appropriately selecting the timing of the ejection in consideration of the distance of the solution ejection port surface and the speed of the combined vector.

【0065】しかしながら、たとえ狙いの位置に液滴4
3を付着させることができたとしても、もし、キャリッ
ジ走査速度が速すぎる場合には、そのキャリッジ走査速
度に引きずられて付着液滴が基板14上で流れ、良好な
形状で電子放出素子群を形成できなくなる。本発明はこ
の点について検討したものである。以下に検討結果の1
例を示す。この例は、図3のような装置を用い、キャリ
ッジ12のX方向移動速度、ならびに吐出ヘッドユニッ
ト11の噴射速度を変えて、基板14上で良好な液滴付
着を行うことができるかどうか調べたものである。
However, even if the droplet 4
However, if the carriage scanning speed is too high, the attached droplets are dragged by the carriage scanning speed and flow on the substrate 14 so that the electron emitting element group can be formed in a good shape. It cannot be formed. The present invention has examined this point. The following are the results of the study
Here is an example. In this example, using the apparatus as shown in FIG. 3, it is examined whether or not good droplet deposition can be performed on the substrate 14 by changing the moving speed of the carriage 12 in the X direction and the ejection speed of the ejection head unit 11. It is a thing.

【0066】なお、使用した溶液は、酢酸パラジウム−
トリエタノールアミン水溶液であり、以下のようにして
製造したものである。すなわち100gの酢酸パラジウ
ムを2000ccのイソプロピルアルコールに懸濁さ
せ、さらに407gのトリエタノールアミンを加え35
℃で12時間攪拌した。反応終了後、イソプロピルアル
コールを蒸発により除去し、固形物にエチルアルコール
を加えて溶解、濾過し、濾液から酢酸パラジウム−トリ
エタノールアミンを再結晶させて得た。このようにして
得た酢酸パラジウム−トリエタノールアミン8gを39
2gの純水に溶解し、実験に使用した(2.0wt
%)。
The solution used was palladium acetate-
It is an aqueous solution of triethanolamine and is produced as follows. That is, 100 g of palladium acetate was suspended in 2000 cc of isopropyl alcohol, and 407 g of triethanolamine was added to the suspension.
Stirred at 12 ° C. for 12 hours. After completion of the reaction, isopropyl alcohol was removed by evaporation, ethyl alcohol was added to the solid to dissolve and filter, and palladium acetate-triethanolamine was recrystallized from the filtrate to obtain. 8 g of the thus obtained palladium acetate-triethanolamine was added to 39
Dissolved in 2 g of pure water and used for experiments (2.0 wt.
%).

【0067】また使用したインクジェットヘッドは、エ
ッジシューター型のサーマルインクジェット方式とし、
ノズル径はΦ26μm、発熱体サイズは28μm×11
8μm(抵抗値101Ω)で、駆動電圧を24V〜27
V、パルス幅を6μsで駆動し、1滴形成のエネルギー
を37μJ〜43μJまで変化させて行った。
The ink jet head used was an edge shooter type thermal ink jet system.
Nozzle diameter is Φ26μm, heating element size is 28μm × 11
8 μm (resistance value 101Ω), and the driving voltage is 24V to 27V.
V, the pulse width was 6 μs, and the energy for forming one drop was changed from 37 μJ to 43 μJ.

【0068】結果を表2に示す。ここで、基板上の素子
形成状況は、良好に形成できたものを○、溶液の像が流
れ気味で素子形状が使用できない程度にまで変形したも
のを×としている。
Table 2 shows the results. Here, the element formation state on the substrate is indicated by "O" when the element was successfully formed, and "x" when the element was deformed to such an extent that the element shape could not be used due to the slight flow of the solution image.

【0069】[0069]

【表2】 [Table 2]

【0070】以上の結果より、キャリッジのX方向移動
速度が噴射速度以上であると、良好な素子が形成できな
いことがわかる。言い換えるならば、本発明のような装
置で電子源基板を製作する場合、噴射ヘッドから噴射さ
れる液滴の速度はキャリッジのX方向移動速度より速く
しなければならないことがわかる。
From the above results, it can be seen that if the moving speed of the carriage in the X direction is higher than the ejection speed, a good element cannot be formed. In other words, when manufacturing an electron source substrate using the apparatus according to the present invention, it is understood that the speed of the droplet ejected from the ejection head must be faster than the moving speed of the carriage in the X direction.

【0071】以上のような手段によって導電性薄膜の材
料を含有する溶液の噴射を行い、表面伝導型電子放出素
子群のパターン付与が行われるが、本発明では、以下に
説明するようなフォーミング処理によって、電子放出部
5を形成する。電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に
形成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜4
の膜厚,膜質,材料等、あるいはフォーミング処理条件
等に依存したものとなる。電子放出部5の内部には、1
000Å以下の粒径の導電性微粒子を含む場合もある。
この導電性微粒子は、導電性薄膜4を構成する材料の元
素の一部、あるいは全ての元素を含有するものとなる。
電子放出部5およびその近傍の導電性薄膜4には、炭素
あるいは炭素化合物を含む場合もある。
The solution containing the material of the conductive thin film is sprayed by the above means to pattern the surface-conduction electron-emitting device group. In the present invention, the forming process described below is performed. Thereby, the electron emission portion 5 is formed. The electron emission portion 5 is constituted by a high-resistance crack formed in a part of the conductive thin film 4.
It depends on the film thickness, film quality, material, etc., or the forming processing conditions, etc. The inside of the electron emission section 5 has 1
It may contain conductive fine particles having a particle size of not more than 000 °.
The conductive fine particles contain some or all of the elements of the material constituting the conductive thin film 4.
The electron-emitting portion 5 and the conductive thin film 4 in the vicinity thereof may contain carbon or a carbon compound.

【0072】この導電性薄膜4に施すフォーミング処理
方法の一例として通電処理による方法を説明する。素子
電極2,3間に、不図示の電源を用いて通電を行うと、
導電性薄膜4の部位に、構造が変化した電子放出部5が
形成される。すなわち、通電フォーミングによれば導電
性薄膜4に局所的に破壊,変形もしくは変質等の構造変
化した部位が形成され、この部位が電子放出部5とな
る。通電フォーミングの電圧波形の例を図7に示す。電
圧波形は特にパルス波形が好ましく、パルス波高値が一
定の電圧パルスを連続的に印加する場合(図7(A))
と、パルス波高値を増加させながら、電圧パルスを印加
する場合(図7(B))とがある。まずパルス波高値が
一定電圧とした場合(図7(A))について説明する。
As an example of a forming method applied to the conductive thin film 4, a method using an energization process will be described. When power is applied between the device electrodes 2 and 3 using a power supply (not shown),
An electron-emitting portion 5 having a changed structure is formed at a portion of the conductive thin film 4. That is, according to the energization forming, a portion of the conductive thin film 4 where a structural change such as destruction, deformation or alteration is locally formed, and this portion becomes the electron emission portion 5. FIG. 7 shows an example of the voltage waveform of the energization forming. A pulse waveform is particularly preferable as the voltage waveform, and a voltage pulse having a constant pulse peak value is continuously applied (FIG. 7A).
And a case where a voltage pulse is applied while increasing the pulse peak value (FIG. 7B). First, the case where the pulse peak value is a constant voltage (FIG. 7A) will be described.

【0073】図7(A)におけるT1およびT2は電圧
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1μs〜1
0ms、T2を10μs〜100msとする。また三角
波の波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は表面
伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選択される。こ
のような条件のもと、例えば、数秒ないし数十分間電圧
を印加する。パルス波形は三角波に限定されるものでは
なく、矩形波など所望の波形を用いても良い。
In FIG. 7A, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, and T1 is 1 μs to 1 μs.
0 ms and T2 are 10 μs to 100 ms. The peak value of the triangular wave (peak voltage at the time of energization forming) is appropriately selected according to the form of the surface conduction electron-emitting device. Under such conditions, for example, a voltage is applied for several seconds to tens of minutes. The pulse waveform is not limited to a triangular wave, and a desired waveform such as a rectangular wave may be used.

【0074】図7(B)におけるT1およびT2は、図
7(A)に示したものと同様であり、三角波の波高値
(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1
Vステップ程度ずつ増加させることができる。
T1 and T2 in FIG. 7B are the same as those shown in FIG. 7A, and the peak value of the triangular wave (peak voltage during energization forming) is, for example, 0.1.
It can be increased by about V steps.

【0075】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子
電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示
した時に通電フォーミングを終了させる。
The end of the energization forming process can be detected by applying a voltage that does not locally destroy or deform the conductive thin film 4 during the pulse interval T2, and measuring the current. For example, a device current flowing by applying a voltage of about 0.1 V is measured, a resistance value is obtained, and when a resistance of 1 MΩ or more is indicated, the energization forming is terminated.

【0076】通電フォーミングを終了した素子に活性化
工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。活性化処理を施
すことにより、素子電流If,放出電流Ieが著しく変
化する。活性化工程は、例えば有機物質のガスを含有す
る雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パルスの印
加を繰り返すことで行うことができる。この雰囲気は、
例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用いて真
空容器内を廃棄した場合に雰囲気内に残留する有機ガス
を利用して形成することができる他、イオンポンプなど
により一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質のガ
スを導入することによっても得られる。このときの好ま
しい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空容器
の形状や、有機物質の種類などにより異なるため場合に
応じ適宜設定される。
It is desirable to perform a process called an activation step on the element after the energization forming. By performing the activation process, the device current If and the emission current Ie change significantly. The activation step can be performed, for example, by repeatedly applying a pulse in an atmosphere containing an organic substance gas, similarly to the energization forming. This atmosphere is
For example, it can be formed by using the organic gas remaining in the atmosphere when the inside of the vacuum vessel is discarded using an oil diffusion pump or a rotary pump, or in a vacuum once sufficiently exhausted by an ion pump or the like. It can also be obtained by introducing a gas of an organic substance. The preferable gas pressure of the organic substance at this time varies depending on the above-described application form, the shape of the vacuum vessel, the type of the organic substance, and the like, and is appropriately set according to the case.

【0077】上記の適当な有機物質としては、アルカ
ン,アルケン,アルキンの脂肪族炭化水素類,芳香族炭
化水素類,アルコール類,アルデヒド類,ケトン類,ア
ミン類,フェノール,カルボン酸,スルホン酸等の有機
酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン,エタ
ン,プロパンなどCn2n+2で表される飽和炭化水素,
エチレン,プロピレンなどCn2n等の組成式で表され
る不飽和炭化水素,ベンゼン,トルエン,メタノール,
ホルムアルデヒド,アセトアルデヒド,アセトン,メチ
ルエチルケトン,メチルアミン,エチルアミン,フェノ
ール,蟻酸,酢酸,プロピオン酸等が使用できる。この
処理により雰囲気中に存在する有機物質から炭素あるい
は炭素化合物が素子上に堆積し、素子電流If,放出電
流Ieが著しく変化する。活性化工程の終了判定は、素
子電流Ifと放出電流Ieを測定しながら行う。なおパ
ルス幅,パルス間隔,パルス波高値などは適宜設定され
る。
The above-mentioned suitable organic substances include alkanes, alkenes, aliphatic hydrocarbons of alkynes, aromatic hydrocarbons, alcohols, aldehydes, ketones, amines, phenols, carboxylic acids, sulfonic acids and the like. Organic acids and the like, specifically, saturated hydrocarbons represented by C n H 2n + 2 such as methane, ethane, and propane;
Ethylene, propylene C n H 2n such unsaturated hydrocarbon represented by composition formula such as benzene, toluene, methanol,
Formaldehyde, acetaldehyde, acetone, methyl ethyl ketone, methylamine, ethylamine, phenol, formic acid, acetic acid, propionic acid and the like can be used. By this treatment, carbon or a carbon compound is deposited on the device from the organic substance existing in the atmosphere, and the device current If and the emission current Ie are significantly changed. The end of the activation step is determined while measuring the device current If and the emission current Ie. Note that the pulse width, pulse interval, pulse peak value, and the like are set as appropriate.

【0078】炭素あるいは炭素化合物とは、グラファイ
ト(単結晶,多結晶の両者を指す),非晶質カーボン
(非晶質カーボンおよび非晶質カーボンと前記グラファ
イトの微結晶の混合物を含むカーボン)であり、その膜
厚は500Å以下にするのが好ましく、より好ましくは
300Å以下である。
The carbon or the carbon compound includes graphite (both single crystal and polycrystal) and amorphous carbon (carbon including amorphous carbon and a mixture of amorphous carbon and the above-mentioned graphite fine crystals). The thickness is preferably not more than 500 °, more preferably not more than 300 °.

【0079】こうして作成した電子放出素子は、安定化
処理を行うことが好ましい。この処理は真空容器内の有
機物質の分圧が、1×10-8Torr以下、望ましくは
1×10-10Torr以下で行うのが良い。真空容器内
の圧力は、10-6〜10-7Torr以下が好ましく、特
に1×10-8Torr以下が好ましい。真空容器を排気
する真空排気装置は、装置から発生するオイルが素子の
特性に影響を与えないように、オイルを使用しないもの
を用いるのが好ましい。具体的には、ソープションポン
プ,イオンポンプ等の真空排気装置を挙げることができ
る。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を過熱して真空容器内壁や電子放出素子に吸着した有
機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。このとき
の加熱した状態での真空排気条件は、80〜200℃で
5時間以上とすることが望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により変化する。なお、上記有機
物質の分圧測定は質量分析装置により質量数が10〜2
00の炭素と水素を主成分とする有機分子の分圧を測定
し、それらの分圧を積算することにより求められる。
It is preferable that the electron-emitting device thus manufactured is subjected to a stabilization process. This treatment is preferably performed at a partial pressure of the organic substance in the vacuum vessel of 1 × 10 −8 Torr or less, preferably 1 × 10 −10 Torr or less. The pressure in the vacuum vessel is preferably 10 -6 to 10 -7 Torr or less, and particularly preferably 1 × 10 -8 Torr or less. It is preferable to use a vacuum exhaust device that does not use oil so that the oil generated from the device does not affect the characteristics of the element. Specifically, a vacuum exhaust device such as a sorption pump or an ion pump can be used. Further, when the inside of the vacuum vessel is evacuated, it is preferable to overheat the entire vacuum vessel so that the organic substance molecules adsorbed on the inner wall of the vacuum vessel or the electron-emitting device can be easily evacuated. The vacuum evacuation conditions in the heated state at this time are desirably 5 hours or more at 80 to 200 ° C., but are not particularly limited to these conditions, and include the size and shape of the vacuum vessel, the configuration of the electron-emitting device, and the like. Varies depending on the conditions. In addition, the partial pressure measurement of the organic substance is performed using a mass spectrometer with a mass number of 10 to 2
It is determined by measuring the partial pressures of organic molecules having carbon and hydrogen of 00 as main components and integrating the partial pressures.

【0080】上述のごとくの安定化工程を経た後、駆動
時の雰囲気は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持す
るのが好ましいが、これに限るものではなく、有機物質
が十分除去されていれば、真空度自体は多少低下しても
十分安定な特性を維持することができる。このような真
空雰囲気を採用することにより、新たな炭素あるいは炭
素化合物の堆積を抑制でき、結果として素子電流If,
放出電流Ieが安定する。
After the stabilization step as described above, the atmosphere during driving is preferably the same as that at the end of the stabilization process, but is not limited to this, and the organic substance is sufficiently removed. In this case, even if the degree of vacuum itself is slightly reduced, it is possible to maintain sufficiently stable characteristics. By adopting such a vacuum atmosphere, the deposition of new carbon or a carbon compound can be suppressed, and as a result, the device current If,
The emission current Ie is stabilized.

【0081】次に本発明の画像形成装置について述べ
る。画像形成装置に用いる電子源基板の電子放出素子の
配列については種々のものが採用できる。まず、並列に
配置した多数の電子放出素子の個々を両端で接続し、電
子放出素子の行を多数個配置し(行方向と呼ぶ)、この
配線と直交する方向(列方向と呼ぶ)で電子放出素子の
情報に配置した制御電極(グリッドとも呼ぶ)により、
電子放出素子からの電子を制御駆動する梯子状配置のも
のがある。これとは別に、電子放出素子をX方向および
Y方向に行列状に複数個配置し、同じ行に配置された複
数の電子放出素子の電極の一方を、X方向の配線に共通
に接続し、同じ列に配置された複数の電子放出素子の電
極の他方を、Y方向の配線に共通に接続するものが挙げ
られる。このようなものは、所謂、単純マトリックス配
置である。まず単純マトリックス配置について以下に詳
述する。
Next, the image forming apparatus of the present invention will be described. Various arrangements of the electron emission elements of the electron source substrate used in the image forming apparatus can be adopted. First, each of a large number of electron-emitting devices arranged in parallel is connected at both ends, a large number of rows of electron-emitting devices are arranged (referred to as a row direction), and electrons are arranged in a direction orthogonal to the wiring (referred to as a column direction). By the control electrode (also called grid) arranged in the information of the emission element,
There is a ladder-type arrangement for controlling and driving electrons from an electron-emitting device. Separately, a plurality of electron-emitting devices are arranged in a matrix in the X and Y directions, and one of the electrodes of the plurality of electron-emitting devices arranged in the same row is commonly connected to a wiring in the X direction. One example is one in which the other of the electrodes of a plurality of electron-emitting devices arranged in the same column is commonly connected to a wiring in the Y direction. Such is the so-called simple matrix arrangement. First, the simple matrix arrangement will be described in detail below.

【0082】図8は、本発明の電子放出素子を基板上に
複数個マトリックス状に配置して得られる電子源基板を
説明する図で、図中、14は基板,51はX方向配線,
52はY方向配線,53は表面伝導型電子放出素子,5
4は結線で、10は基板14に表面伝導型電子放出素子
を形成してなる電子源基板である。m本のX方向配線7
2は、DX1,DX2,・・・・・・DXmからなり、
Y方向配線52はDY1,DY2,・・・・・・DYn
のn本の配線よりなる。また多数の表面伝導型電子放出
素子53にほぼ均等な電圧が供給されるように材料、膜
厚、配線幅が適宜設定される。これらm本のX方向配線
51とn本のY方向配線52間は不図示の層間絶縁層に
より電気的に分離されてマトリックス配線を構成する
(m,nは共に正の整数)。
FIG. 8 is a view for explaining an electron source substrate obtained by arranging a plurality of electron-emitting devices of the present invention in a matrix on a substrate. In FIG.
52 is a Y-direction wiring; 53 is a surface conduction electron-emitting device;
Reference numeral 4 denotes a connection, and reference numeral 10 denotes an electron source substrate formed by forming a surface conduction electron-emitting device on the substrate 14. m X-direction wires 7
2 is composed of DX1, DX2,... DXm,
DY1, DY2,... DYn
Of the n wirings. Further, the material, the film thickness, and the wiring width are appropriately set so that a substantially uniform voltage is supplied to many surface conduction electron-emitting devices 53. The m X-directional wirings 51 and the n Y-directional wirings 52 are electrically separated by an interlayer insulating layer (not shown) to form a matrix wiring (m and n are both positive integers).

【0083】不図示の層間絶縁層は、X方向配線51を
形成した基板14の全面域は一部の所望の領域に形成さ
れる。X方向配線51とY方向配線52はそれぞれ外部
端子として引き出される。更に表面伝導型電子放出素子
53の素子電極(不図示)がm本のX方向配線51およ
びn本のY方向配線52と結線54によって電気的に接
続されている。X方向配線51とY方向配線52を構成
する材料、結線54を構成する材料および一対の素子電
極を構成する材料は、その構成元素の一部あるいは全部
が同一であっても、またそれぞれ異なっていても良い。
これら材料は、例えば前述の素子電極の材料より適宜選
択される。素子電極を構成する材料と配線材料が同一で
ある場合には、素子電極に接続した配線は素子電極とい
うこともできる。
The interlayer insulating layer (not shown) is formed in a part of a desired region on the entire surface of the substrate 14 on which the X-directional wiring 51 is formed. The X-direction wiring 51 and the Y-direction wiring 52 are respectively drawn as external terminals. Further, the device electrodes (not shown) of the surface conduction electron-emitting device 53 are electrically connected to the m X-directional wires 51 and the n Y-directional wires 52 by a connection 54. The material forming the X-direction wiring 51 and the Y-direction wiring 52, the material forming the connection 54, and the material forming the pair of element electrodes are different even if some or all of the constituent elements are the same. May be.
These materials are appropriately selected, for example, from the above-described materials for the device electrodes. When the material forming the element electrode is the same as the wiring material, the wiring connected to the element electrode can also be called an element electrode.

【0084】X方向配線51は、X方向に配列する表面
伝導型放出素子53の行を入力信号に応じて走査するた
めの走査信号を印加するための不図示の走査信号発生手
段と電気的に接続されている。一方、Y方向配線52
は、Y方向に配列する表面伝導型放出素子53の各列を
入力信号に応じて変調するための変調信号を印加するた
めの不図示の変調信号発生手段と電気的に接続されてい
る。更に表面伝導型電子放出素子53の各素子に印加さ
れる駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調
信号の差電圧として供給されるものである。これによ
り、単純なマトリックス配線だけで個別の素子を選択し
て独立に駆動可能になる。
The X-direction wiring 51 is electrically connected to a scanning signal generating means (not shown) for applying a scanning signal for scanning a row of the surface conduction electron-emitting devices 53 arranged in the X direction in accordance with an input signal. It is connected. On the other hand, the Y-direction wiring 52
Are electrically connected to a modulation signal generating means (not shown) for applying a modulation signal for modulating each column of the surface conduction electron-emitting devices 53 arranged in the Y direction according to an input signal. Further, the drive voltage applied to each element of the surface conduction electron-emitting device 53 is supplied as a difference voltage between a scanning signal and a modulation signal applied to the element. As a result, individual elements can be selected and driven independently using only simple matrix wiring.

【0085】次に、以上のようにして作成した単純マト
リックス配置の電子源基板を用いた画像形成装置につい
て、図9ないし図11を用いて説明する。図8は画像形
成装置の表示パネルの基本構成を説明するための図であ
り、図10はこの表示パネルに用いられる蛍光膜の構成
を示す、部分拡大図である。また図11はNTSC方式
のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動回路と、そ
の駆動回路を含む画像形成装置を表す図である。
Next, an image forming apparatus using the electron source substrates of the simple matrix arrangement prepared as described above will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is a diagram for explaining a basic configuration of a display panel of the image forming apparatus, and FIG. 10 is a partially enlarged view showing a configuration of a fluorescent film used in the display panel. FIG. 11 is a diagram showing a driving circuit for performing display according to an NTSC television signal, and an image forming apparatus including the driving circuit.

【0086】図9において、10は表面伝導型電子放出
素子53を基板上に作製してなる電子源基板、61は電
子源基板10を固定したリアプレート、66はガラス基
板63の内面に蛍光膜64とメタルバック65等が形成
されたフェースプレート、62は支持枠であり、リアプ
レート61、支持枠62およびフェースプレート66
に、フリットガラス等を塗布し、大気中あるいは窒素中
で400〜500度で10分以上焼成することで封着し
て外囲器68を構成する。表面伝導型電子放出素子53
は図1の電子放出素子に相当する。また、図8におい
て、51,52はそれぞれ表面伝導型電子放出素子の一
対の素子電極と接続されたX方向配線およびY方向配線
である。
In FIG. 9, reference numeral 10 denotes an electron source substrate formed by forming a surface conduction electron-emitting device 53 on the substrate; 61, a rear plate on which the electron source substrate 10 is fixed; 66, a fluorescent film on the inner surface of a glass substrate 63; A face plate 62 on which a metal back 64 and a metal back 65 are formed, a support frame 62, a rear plate 61, a support frame 62, and a face plate 66
Then, frit glass or the like is applied, and the container is fired at 400 to 500 degrees in air or nitrogen for 10 minutes or more to seal the envelope 68. Surface conduction electron-emitting device 53
Corresponds to the electron-emitting device in FIG. In FIG. 8, reference numerals 51 and 52 denote an X-direction wiring and a Y-direction wiring connected to a pair of device electrodes of the surface conduction electron-emitting device, respectively.

【0087】外囲器68は、上述の如くフェースプレー
ト66、支持枠62、リアプレート61で構成したが、
リアプレート61は主に電子源基板14の強度を補強す
る目的で設けられるため、電子源基板10自体で十分な
強度を持つ場合は別体のリアプレート61は不要であ
り、電子源基板10に直接支持枠62を封着し、フェー
スプレート66、支持枠62、電子源基板10にて外囲
器68を構成しても良い。またさらにはフェースプレー
ト66、リアプレート61間に、スペーサとよばれる耐
大気圧支持部材を設置することで大気圧に対して十分な
強度をもつ外囲器68にすることもできる。
The envelope 68 comprises the face plate 66, the support frame 62, and the rear plate 61 as described above.
Since the rear plate 61 is provided mainly for the purpose of reinforcing the strength of the electron source substrate 14, if the electron source substrate 10 itself has a sufficient strength, the separate rear plate 61 is unnecessary, and the electron source substrate 10 The support frame 62 may be directly sealed, and the envelope 68 may be configured by the face plate 66, the support frame 62, and the electron source substrate 10. Further, by installing an anti-atmospheric pressure support member called a spacer between the face plate 66 and the rear plate 61, the envelope 68 having sufficient strength against atmospheric pressure can be obtained.

【0088】蛍光体はモノクロームの場合は蛍光体のみ
からなるが、カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体72の配
列により図10(A)に示すようなブラックストライプ
あるいは図10(B)に示すようなブラックマトリック
スなどと呼ばれる黒色導電材71とで構成される。ブラ
ックストライプ、ブラックマトリックスを設ける目的
は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍
光体72間の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立
たなくすることと、蛍光膜64における外光反射による
コントラストの低下を抑制することである。ブラックス
トライプの材料としては、通常良く用いられている黒鉛
を主成分とする材料だけでなく、導電性があり、光の透
過および反射が少ない材料であればこれに限るものでは
ない。
In the case of a monochrome phosphor, only the phosphor is used. In the case of a color phosphor film, a black stripe as shown in FIG. 10A or FIG. And a black conductive material 71 called a black matrix. The purpose of providing the black stripes and the black matrix is to make the color separation between the phosphors 72 of the necessary three primary color phosphors black in color display to make color mixing less noticeable, The purpose is to suppress a decrease in contrast due to light reflection. The material of the black stripe is not limited to a commonly used material containing graphite as a main component, as long as it is conductive and has little light transmission and reflection.

【0089】本発明では、上記のようなマトリックス化
された蛍光体のストライプの方向、あるいはマトリック
スの互いに直交する2方向を、前述の電子放出素子群の
互いに直交する2方向とそれぞれが互いに平行になるよ
うにし、かつ各電子放出素子に蛍光体が一致するように
位置決め、積層して、画像表示装置を構成している。こ
のような構成の画像表示装置は、互いのマトリックスの
方向およびその位置が一致しているため、非常に高画質
な画像表示装置を実現できる。
In the present invention, the direction of the stripe of the matrix-formed phosphor as described above, or the two directions orthogonal to each other in the matrix, are set in parallel with the two directions orthogonal to each other in the above-described electron-emitting device group. And the phosphors are positioned and laminated so that the phosphors coincide with the respective electron-emitting devices to constitute an image display device. Since the directions and positions of the matrices of the image display devices having such a configuration match each other, an image display device with extremely high image quality can be realized.

【0090】ガラス基板63に蛍光体を塗布する方法と
しては、モノクローム、カラーによらず沈澱法や印刷法
が用いられる。また蛍光膜64(図9)の内面側には通
常、メタルバック65が設けられる。メタルバック65
は、蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレー
ト66側へ鏡面反射することにより輝度を向上させるこ
と、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作
用すること、外囲器内で発生した負イオンの衝突による
ダメージから蛍光体を保護すること等の役割を有する。
メタルバック65は蛍光膜64の作製後、蛍光膜64の
内面側表面の平滑化処理(通常、フィルミングと呼ばれ
る)を行い、その後Alを真空蒸着等で堆積することで
作製できる。
As a method of applying a phosphor on the glass substrate 63, a precipitation method or a printing method is used regardless of monochrome or color. A metal back 65 is usually provided on the inner surface side of the fluorescent film 64 (FIG. 9). Metal back 65
Is to improve the brightness by mirror-reflecting the light toward the inner surface side of the phosphor emission toward the face plate 66 side, to act as an electrode for applying an electron beam acceleration voltage, and within the envelope. It has a role such as protecting the phosphor from damage caused by the collision of the generated negative ions.
The metal back 65 can be manufactured by performing a smoothing process (usually called filming) on the inner surface of the fluorescent film 64 after manufacturing the fluorescent film 64, and then depositing Al by vacuum evaporation or the like.

【0091】フェースプレート66には、更に蛍光膜6
4の導電性を高めるため、蛍光膜64の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。また前述の封着を行う
際、カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子とを対応
させなくてはならず、十分な位置合わせを行う必要があ
る。この十分な位置合わせを行うために本発明では、前
述のように、電子放出素子に対向する位置に蛍光体を配
置するとともに、それぞれのマトリックスの互いに直交
する2方向とがそれぞれ互いに平行であるようにしてい
る。
The face plate 66 is further provided with the fluorescent film 6.
A transparent electrode (not shown) may be provided on the outer surface side of the fluorescent film 64 in order to enhance the conductivity of the phosphor film 4. When the above-mentioned sealing is performed, in the case of color, the phosphors of each color must correspond to the electron-emitting devices, and it is necessary to perform sufficient alignment. In order to perform this sufficient alignment, according to the present invention, as described above, the phosphor is disposed at a position facing the electron-emitting device, and two mutually orthogonal directions of the respective matrices are parallel to each other. I have to.

【0092】上記のような構成の高精度な画像表示装置
を得るためには、蛍光体基板も、本発明の電子源基板と
同様な位置決め手法をとることが望ましい。図9に示し
た画像形成装置は、具体的には以下のようにして製造さ
れる。外囲器68は前述の安定化工程と同様に、適宜加
熱しながらイオンポンプ,ソープションポンプなどのオ
イルを使用しない排気装置により不図示の排気管を通じ
て排気し、10-7Torr程度の真空度の有機物質の十
分少ない雰囲気にした後、封止される。外囲器68の封
止後の真空度を維持するためにゲッター処理を行う場合
もある。これは外囲器68の封止を行う直前あるいは封
止後に抵抗加熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、
外囲器68内の所定の位置(不図示)に配置されたゲッ
ターを加熱し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッター
は通常Ba等が主成分であり、蒸着膜の吸着作用によ
り、例えば1×10-5Torrないし1×10-7Tor
rの真空度を維持するものである。
In order to obtain a high-precision image display device having the above configuration, it is desirable that the phosphor substrate also employs the same positioning technique as the electron source substrate of the present invention. The image forming apparatus shown in FIG. 9 is specifically manufactured as follows. The envelope 68 is evacuated through an exhaust pipe (not shown) by an exhaust device that does not use oil, such as an ion pump and a sorption pump, while appropriately heating the envelope 68 in the same manner as in the above-described stabilization process, and a vacuum degree of about 10 −7 Torr After the atmosphere of the organic material is made sufficiently small, the substrate is sealed. A getter process may be performed in order to maintain the degree of vacuum after sealing the envelope 68. This is performed by a heating method such as resistance heating or high-frequency heating immediately before or after sealing the envelope 68.
This is a process of heating a getter disposed at a predetermined position (not shown) in the envelope 68 to form a vapor deposition film. The getter is usually composed mainly of Ba or the like and, for example, 1 × 10 −5 Torr to 1 × 10 −7 Torr due to the adsorption action of the deposited film.
The vacuum degree of r is maintained.

【0093】図11は、単純マトリックス配置型基板を
有する電子源を用いて構成した表示パネルを駆動してN
TSC方式のテレビ信号に基づきテレビジョン表示を行
うための駆動回路の概略構成を示す図で、図中、81は
画像を表示する表示パネル、82は走査回路、83は制
御回路、84はシフトレジスタ、85はラインメモリ、
86は同期信号分離回路、87は変調信号発生器、Vx
およびVaは直流電圧源である。
FIG. 11 shows a case where a display panel constituted by using an electron source having a simple matrix arrangement type substrate is driven and N
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a driving circuit for performing television display based on a TSC system television signal, in which 81 is a display panel for displaying an image, 82 is a scanning circuit, 83 is a control circuit, and 84 is a shift register , 85 is a line memory,
86 is a synchronization signal separation circuit, 87 is a modulation signal generator, Vx
And Va are DC voltage sources.

【0094】以下、各部の機能を説明するが、まず表示
パネル81は端子Dox1ないしDoxmおよび端子D
oy1ないしDoynおよび高圧端子Hvを介して外部
の電気回路と接続している。このうち端子Dox1ない
しDoxmには表示パネル81内に設けられている電子
源、すなわちM行N列の行列状にマトリックス配線され
た表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順次
駆動してゆくための走査信号が印加される。一方、端子
Doy1ないしDoynには前記走査信号により選択さ
れた一行の表面伝導型電子放出素子の各素子の出力電子
ビームを制御するための変調信号が印加される。また高
圧端子Hvには直流電圧源Vaより、例えば10kVの
直流電圧が供給されるが、これは表面伝導型電子放出素
子より出力される電子ビームに蛍光体を励起するのに十
分なエネルギーを付与するための加速電圧である。
The function of each section will be described below. First, the display panel 81 is connected to the terminals Dox1 to Doxm and the terminal Dx.
It is connected to an external electric circuit via oy1 to Doyn and the high voltage terminal Hv. Of these terminals, the terminals Dox1 to Doxm sequentially drive electron sources provided in the display panel 81, that is, a group of surface conduction electron-emitting devices arranged in a matrix of M rows and N columns, one row at a time (N elements). A scanning signal for moving is applied. On the other hand, to the terminals Doy1 to Doyn, a modulation signal for controlling an output electron beam of each element of the one row of surface conduction electron-emitting devices selected by the scanning signal is applied. A DC voltage of, for example, 10 kV is supplied to the high voltage terminal Hv from the DC voltage source Va, which applies sufficient energy to the electron beam output from the surface conduction electron-emitting device to excite the phosphor. Is the accelerating voltage for

【0095】次に走査回路82について説明する。同回
路は内部にM個のスイッチング素子を備えるもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)、各スイッ
チング素子は直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0V
(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表示パネ
ル81の端子Dox1ないしDoxmと電気的に接続す
るものである。S1ないしSmの各スイッチング素子は
制御回路83が出力する制御信号Tscanに基づいて
動作するものだが、実際には例えばFETのようなスイ
ッチング素子を組み合わせることにより構成することが
可能である。なお、前記直流電圧源Vxは前記表面伝導
型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づ
き走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放
出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力するよ
う設定されている。
Next, the scanning circuit 82 will be described. This circuit has M switching elements inside (in the figure, S1 to Sm are schematically shown), and each switching element is an output voltage of a DC voltage source Vx or 0V.
(Ground level), and is electrically connected to the terminals Dox1 to Doxm of the display panel 81. Each of the switching elements S1 to Sm operates based on the control signal Tscan output from the control circuit 83, but can be actually configured by combining switching elements such as FETs. Note that the DC voltage source Vx is such that the drive voltage applied to an element that is not scanned based on the characteristics (electron emission threshold voltage) of the surface conduction electron-emitting element is equal to or lower than the electron emission threshold voltage. It is set to output a constant voltage.

【0096】また制御回路83は、外部より入力する画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動
作を整合させる働きをもつものである。次に説明する同
期信号分離回路86より送られる同期信号Tsyncに
基づいて各部に対してTscan,TsftおよびTm
ryの各制御信号を発生する。
The control circuit 83 has a function of matching the operations of the respective units so that an appropriate display is performed based on an image signal input from the outside. Based on the synchronization signal Tsync sent from the synchronization signal separation circuit 86 described below, Tscan, Tsft, and Tm
ry control signals are generated.

【0097】同期信号分離回路86は、外部から入力さ
れるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度
信号成分とを分離するための回路であり、周波数分離
(フィルター)回路を用いれば構成できるものである。
同期信号分離回路86により分離された同期信号は良く
知られるように垂直同期信号と水平同期信号よりなる
が、ここでは説明の便宜上Tsync信号として図示し
た。一方、前記テレビ信号から分離された画像の輝度信
号成分を便宜上DATA信号と表すが、同信号はシフト
レジスタ84に入力される。
The synchronizing signal separating circuit 86 is a circuit for separating a synchronizing signal component and a luminance signal component from an NTSC television signal input from the outside, and can be formed by using a frequency separating (filter) circuit. It is.
As is well known, the synchronization signal separated by the synchronization signal separation circuit 86 is composed of a vertical synchronization signal and a horizontal synchronization signal, but is shown here as a Tsync signal for convenience of explanation. On the other hand, a luminance signal component of an image separated from the television signal is referred to as a DATA signal for convenience, and the signal is input to a shift register 84.

【0098】シフトレジスタ84は時系列的にシリアル
に入力される前記DATA信号を画像の1ライン毎にシ
リアル/パラレル変換するためのものであり、制御回路
83より送られる制御信号Tsftに基づいて動作す
る。すなわち制御信号Tsftは、シフトレジスタ84
のシフトクロックであると言い換えても良い。シリアル
/パラレル変換された画像1ライン分(電子放出素子N
素子分の駆動データに相当する)のデータはId1ない
しIdnのN個の並列信号としてシフトレジスタ84よ
り出力される。
The shift register 84 is for serially / parallel converting the DATA signal input serially in time series for each line of an image, and operates based on a control signal Tsft sent from the control circuit 83. I do. That is, the control signal Tsft is
May be rephrased as the shift clock. One line of serial / parallel converted image (electron emitting element N
(Corresponding to drive data for the elements) is output from the shift register 84 as N parallel signals Id1 to Idn.

【0099】ラインメモリ85は画像1ライン分のデー
タを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置であり、
制御回路83より送られる制御信号Tmryにしたがっ
て適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶され
た内容はId1ないしIdnとして出力され変調信号発
生器87に入力される。
The line memory 85 is a storage device for storing data for one line of an image for a required time only.
The contents of Id1 to Idn are stored as appropriate according to the control signal Tmry sent from the control circuit 83. The stored contents are output as Id1 to Idn and input to the modulation signal generator 87.

【0100】変調信号発生器87は前記画像データId
1ないしIdnの各々に応じて表面伝導型電子放出素子
の各々を適切に駆動変調するための信号源であり、その
出力信号は端子Doy1ないしDoynを通じて表示パ
ネル81内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
The modulation signal generator 87 outputs the image data Id
A signal source for appropriately driving and modulating each of the surface conduction electron-emitting devices according to each of 1 to Idn, and an output signal thereof is sent to the surface conduction electron-emitting device in the display panel 81 through terminals Doy1 to Doyn. Applied.

【0101】前述したように本発明に関わる電子放出素
子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有してい
る。すなわち前述したように電子放出には明確なしきい
値電圧Vthがあり、Vth以上の電圧を印加された時
のみ電子放出が生じる。また電子放出しきい値以上の電
圧に対しては素子への印加電圧の変化に応じて放出電流
も変化していく。なお、電子放出素子の材料や構成、製
造方法を変えることにより電子放出しきい値電圧Vth
の値や印加電圧に対する放出電流の変化の度合いが変わ
る場合もあるが、いずれにしても以下のようなことがい
える。
As described above, the electron-emitting device according to the present invention has the following basic characteristics with respect to the emission current Ie. That is, as described above, electron emission has a clear threshold voltage Vth, and electron emission occurs only when a voltage higher than Vth is applied. For a voltage equal to or higher than the electron emission threshold, the emission current also changes according to the change in the voltage applied to the element. The electron emission threshold voltage Vth can be changed by changing the material, configuration, and manufacturing method of the electron emission element.
In some cases, the degree of change of the emission current with respect to the value or the applied voltage changes, but in any case, the following can be said.

【0102】すなわち、本素子にパルス状の電圧を印加
する場合、例えば電子放出しきい値以下の電圧を印加し
ても電子放出は生じないが電子放出しきい値以上の電圧
を印加する場合には電子ビームが出力される。その際、
第一にはパルスの波高値Vmを変化させることにより出
力電子ビームの強度を制御することが可能である。第二
には、パルスの幅Pwを変化させることにより出力され
る電子ビームの電荷の総量を制御することが可能であ
る。
That is, when a pulse-like voltage is applied to the device, for example, when a voltage lower than the electron emission threshold is applied, electron emission does not occur but a voltage higher than the electron emission threshold is applied. Outputs an electron beam. that time,
First, it is possible to control the intensity of the output electron beam by changing the pulse peak value Vm. Second, it is possible to control the total amount of charges of the output electron beam by changing the pulse width Pw.

【0103】したがって、入力信号に応じて電子放出素
子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変
調方式等があげられ、電圧変調方式を実施するには、変
調信号発生器87として、一定の長さの電圧パルスを発
生するが、入力されるデータに応じて適宜パルスの波高
値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる。また
パルス幅変調方式を実施するには、変調信号発生器87
としては、一定の波高値の電圧パルスを発生するが、入
力されるデータに応じて適宜電圧パルスの幅を変調する
ようなパルス幅変調方式の回路を用いる。またシフトレ
ジスタ84やラインメモリ85は、デジタル信号式のも
のでもアナログ信号式のものでも差し支えなく、要は画
像信号のシリアル/パラレル変換や記憶が所定の速度で
行われればよい。
Therefore, as a method of modulating the electron-emitting device in accordance with the input signal, there are a voltage modulation method, a pulse width modulation method and the like. A voltage modulation circuit that generates a voltage pulse having a length corresponding to the pulse length, and modulates the peak value of the pulse appropriately according to input data is used. To implement the pulse width modulation method, the modulation signal generator 87
A voltage pulse having a constant peak value is generated, but a pulse width modulation type circuit that appropriately modulates the width of the voltage pulse according to input data is used. The shift register 84 and the line memory 85 may be of a digital signal type or an analog signal type, and it is essential that the serial / parallel conversion and storage of the image signal be performed at a predetermined speed.

【0104】デジタル信号式のものを用いる場合には、
同期信号分離回路86の出力信号DATAをデジタル信
号化する必要があるが、これは同期信号分離回路86の
出力部にA/D変換器を備えれば可能である。また、こ
れと関連してラインメモリ85の出力信号がデジタル信
号かアナログ信号かにより、変調信号発生器87に用い
られる回路が若干異なったものとなる。
When a digital signal type is used,
It is necessary to convert the output signal DATA of the synchronization signal separation circuit 86 into a digital signal. This can be achieved by providing an A / D converter at the output of the synchronization signal separation circuit 86. In connection with this, the circuit used for the modulation signal generator 87 is slightly different depending on whether the output signal of the line memory 85 is a digital signal or an analog signal.

【0105】まずデジタル信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器87には、例え
ばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて増
幅回路などを付け加えればよい。またパルス幅変調方式
の場合、変調信号発生器87は、例えば高速の発振器、
発振器が出力する波数を計数する計数器(カウンタ)、
および計数器の出力値とラインメモリ85の出力値を比
較する比較器(コンパレータ)を組み合せた回路を用い
ることにより構成できる。必要に応じて比較器の出力す
るパルス幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付け加
えてもよい。
First, the case of a digital signal will be described.
In the voltage modulation method, for example, a well-known D / A conversion circuit may be used as the modulation signal generator 87, and an amplification circuit or the like may be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, the modulation signal generator 87 includes, for example, a high-speed oscillator,
A counter for counting the number of waves output by the oscillator,
And a circuit combining a comparator (comparator) for comparing the output value of the counter with the output value of the line memory 85. If necessary, an amplifier for amplifying the voltage of the pulse width modulated signal output from the comparator to the drive voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added.

【0106】次にアナログ信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器87には、例え
ばよく知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用い
ればよく、必要に応じてレベルシフト回路などを付け加
えてもよい。またパルス幅変調方式の場合には例えばよ
く知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いればよ
く、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
Next, the case of an analog signal will be described.
In the voltage modulation method, for example, an amplification circuit using a well-known operational amplifier or the like may be used as the modulation signal generator 87, and a level shift circuit or the like may be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, for example, a well-known voltage-controlled oscillation circuit (VCO) may be used, and an amplifier for amplifying the voltage up to the driving voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added as necessary. You may.

【0107】以上のような構成を有する画像表示装置に
おいて、表示パネル81の各電子放出素子には、容器外
端子Dox1ないしDoxm,Doy1ないしDoyn
を通じ、電圧を印加することにより、電子放出させると
ともに、高圧端子Hvを通じ、メタルバック65あるい
は透明電極(不図示)に高圧を印加して電子ビームを加
速し、蛍光膜64に衝突させ、励起・発光させることで
画像を表示することができる。
In the image display device having the above-described configuration, each electron-emitting device of the display panel 81 has an external terminal Dox1 to Doxm, Doy1 to Doyn.
Through the high voltage terminal Hv to apply a high voltage to the metal back 65 or a transparent electrode (not shown) to accelerate the electron beam, collide with the fluorescent film 64, and excite An image can be displayed by emitting light.

【0108】ここで述べた構成は、表示等に用いられる
好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容に限
られるものではなく、画像形成装置の用途に適するよう
適宜選択する。また、入力信号例として、NTSC方式
をあげたが、これに限るものでなく、PAL,SECA
M方式などの諸方式でもよく、また、これよりも、多数
の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方式をは
じめとする高品位TV)方式でもよい。
The configuration described here is a schematic configuration necessary for manufacturing a suitable image forming apparatus used for display or the like. For example, detailed portions such as materials of each member are not limited to those described above. Instead, it is appropriately selected so as to be suitable for the use of the image forming apparatus. Although the NTSC system has been described as an example of the input signal, the present invention is not limited to this, and PAL, SECA
Various systems such as the M system may be used, and a TV signal composed of a larger number of scanning lines (for example, a high-definition TV including the MUSE system) may be used.

【0109】次に、梯子型配置電子源基板および画像表
示装置について図12及び図13を用いて説明する。図
12において、10は電子源基板、14は電子源基板を
構成する基板、53は電子放出素子、91は電子放出素
子53に接続した共通配線Dx1〜Dx10である。電
子放出素子91は、基板14上に、X方向に並列に複数
個配置される。これを素子行と呼ぶ。この素子行を複数
個基板上に配置し、電子源基板が構成している。各素子
行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行
を独立に駆動させることができる。すなわち、電子ビー
ムを放出させたい素子行には、電子放出しきい値以上の
電圧を印加し、電子ビームを放出させない素子行には電
子放出しきい値以下の電圧を印加すればよい。また、各
素子行間の共通配線Dx2〜Dx9、例えばDx2,D
x3を同一配線とするようにしても良い。
Next, the ladder-type arranged electron source substrate and the image display device will be described with reference to FIGS. 12, reference numeral 10 denotes an electron source substrate, 14 denotes a substrate constituting the electron source substrate, 53 denotes an electron-emitting device, and 91 denotes common wirings Dx1 to Dx10 connected to the electron-emitting device 53. A plurality of electron-emitting devices 91 are arranged on the substrate 14 in parallel in the X direction. This is called an element row. A plurality of the element rows are arranged on a substrate to form an electron source substrate. By applying a drive voltage between the common wires of each element row, each element row can be driven independently. That is, a voltage equal to or higher than the electron emission threshold may be applied to an element row in which an electron beam is to be emitted, and a voltage equal to or lower than the electron emission threshold may be applied to an element row in which an electron beam is not emitted. Further, common wirings Dx2 to Dx9 between the element rows, for example, Dx2, Dx2
x3 may be the same wiring.

【0110】図13は上記のような梯子型配置の電子源
を備えた画像形成装置におけるパネル構造を説明するた
めの図で、図中、110はグリッド電極、111は電子
が通過するための空孔、112は、Dox1,Dox2
・・・Doxmよりなる容器外端子、113はグリッド
電極110と接続されたG1,G2,・・・Gnからな
る容器外端子、114は各素子行間の共通配線を同一配
線とした電子源基板である。図13において、図9及び
/又は図11と同一の符号は同一の部材を示す。前述の
単純マトリックス配置の画像形成装置(図1)との違い
は、電子源基板114とフェースプレート66の間にグ
リッド電極110を備えているか否かである。
FIG. 13 is a view for explaining a panel structure in an image forming apparatus provided with the above-mentioned ladder-type arrangement of electron sources. In the figure, reference numeral 110 denotes a grid electrode, and 111 denotes a space through which electrons pass. Hole 112 is Dox1, Dox2
... Outer container terminals made of Doxm, 113 denotes outer terminals made of G1, G2,... Gn connected to the grid electrode 110, 114 denotes an electron source substrate in which common wiring between element rows is the same wiring. is there. 13, the same reference numerals as those in FIG. 9 and / or FIG. 11 indicate the same members. The difference from the image forming apparatus having the simple matrix arrangement (FIG. 1) is whether or not the grid electrode 110 is provided between the electron source substrate 114 and the face plate 66.

【0111】グリッド電極110は、表面伝導型放出素
子から放出された電子ビームを変調するためのものであ
り、梯子型配置の素子行と直交して設けられたストライ
プ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対
応して1個ずつ円形の開口111が設けられている。グ
リッドの形状や設置位置は図11に示したものに限定さ
れるものではない。例えば、開口111のかわりにメッ
シュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッドを
表面伝導型放出素子の周囲や近傍に設けることもでき
る。容器外端子112およびグリッド容器外端子113
は、不図示の制御回路と電気的に接続されている。
The grid electrode 110 is for modulating the electron beam emitted from the surface conduction electron-emitting device, and passes the electron beam to a stripe-shaped electrode provided orthogonal to the ladder-shaped device row. For this purpose, one circular opening 111 is provided for each element. The shape and installation position of the grid are not limited to those shown in FIG. For example, a large number of passage openings may be provided in a mesh shape instead of the openings 111, and a grid may be provided around or near the surface conduction electron-emitting device. Outer container terminal 112 and grid outer terminal 113
Are electrically connected to a control circuit (not shown).

【0112】本画像形成装置では、素子行を1列ずつ順
次駆動(走査)していくのに同期してグリッド電極列に
画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これによ
り、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1
ラインずつ表示することができる。これによればテレビ
ジョン放送の表示装置,テレビ会議システム,コンピュ
ータ等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成さ
れた光プリンタとしての画像形成装置としても用いるこ
ともできる。
In the present image forming apparatus, a modulation signal for one line of an image is simultaneously applied to the grid electrode rows in synchronization with sequentially driving (scanning) the element rows one by one. Thus, the irradiation of each electron beam to the phosphor is controlled, and one image is displayed.
Can be displayed line by line. According to this, in addition to a display device of a television broadcast, a video conference system, a display device of a computer or the like, it can also be used as an image forming device as an optical printer including a photosensitive drum or the like.

【0113】[0113]

【発明の効果】(請求項1に対応した効果)所定の電圧
を引加することにより電子を放出する導電性薄膜を有す
る電子放出素子群が基板に形成されてなる電子源基板の
製造装置において、前記基板の保持位置決め手段もしく
は保持位置調整機構を有する基板保持手段と、前記基板
に相対する位置に配され、入力された液滴付与情報に基
づいて前記基板に設けられた複数対の各素子電極間に前
記導電性薄膜の材料を含有した溶液を噴射することによ
り前記導電性薄膜を形成する噴射ヘッドと、該噴射ヘッ
ドに前記液滴付与情報を入力する情報入力手段と、前記
噴射ヘッドを搭載して前記基板に相対する領域で直交す
る2方向に移動可能なキャリッジとを有し、該キャリッ
ジは、前記噴射ヘッドの溶液噴射口面と前記基板の導電
性薄膜の形成面とを一定の距離に維持して走査を行いな
がら前記溶液の噴射を行うので、簡単な構成でこのよう
な電子源基板を製作することができる。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for manufacturing an electron source substrate, wherein an electron emitting element group having a conductive thin film that emits electrons by applying a predetermined voltage is formed on the substrate. A plurality of pairs of respective elements provided on the substrate based on input droplet application information, the substrate holding means having a substrate holding / positioning means or a holding position adjusting mechanism, and being provided at a position opposed to the substrate; An ejection head that forms the conductive thin film by ejecting a solution containing the material of the conductive thin film between electrodes, an information input unit that inputs the droplet applying information to the ejection head, and the ejection head. A carriage mounted and movable in two directions orthogonal to each other in a region facing the substrate, the carriage comprising a solution ejection port surface of the ejection head and a conductive thin film forming surface of the substrate; Since the injection of the solution while scanning to maintain a constant distance, it is possible to fabricate such an electron source substrate with a simple structure.

【0114】(請求項2に対応した効果)前記基板は、
前記基板保持手段によって該基板の導電性薄膜形成面が
水平となるように保持され、前記噴射ヘッドは、前記基
板の上方に位置して前記溶液を下向きに噴射し、前記一
定の距離が0.1mm〜10mmの範囲となるように構
成されているので、簡単な構成でありながら溶液噴射が
安定するため、液滴の着弾位置精度が高く、高精度に表
面伝導型放出素子群が形成された電子源基板を製作する
ことができる。
(Effects Corresponding to Claim 2) The substrate comprises:
The substrate is held by the substrate holding means so that the conductive thin film forming surface of the substrate is horizontal.The jet head is positioned above the substrate and jets the solution downward, and the predetermined distance is equal to 0. Since it is configured to be in the range of 1 mm to 10 mm, the solution jetting is stable with a simple configuration, so that the landing position accuracy of the droplet is high and the surface conduction type emission element group is formed with high accuracy. An electron source substrate can be manufactured.

【0115】(請求項3に対応した効果)前記基板は、
前記基板保持手段によって該基板の導電性薄膜形成面が
水平に対して0度より大きく90度以下の角度に保持さ
れ、前記噴射ヘッドは、前記基板の上方ないし側方から
前記基板の導電性薄膜形成面に対してほぼ垂直に前記溶
液を噴射し、前記一定の距離が0.1mm〜8mmの範
囲となるように構成されているので、簡単な構成であり
ながら溶液噴射が安定するため、液滴の着弾位置精度が
高く、高精度に表面伝導型放出素子群が形成された電子
源基板を製作することができる。
(Effects Corresponding to Claim 3) The substrate comprises:
The substrate holding means holds the conductive thin film forming surface of the substrate at an angle of more than 0 degree and 90 degrees or less with respect to the horizontal, and the ejection head is configured to conduct the conductive thin film of the substrate from above or from the side of the substrate. The solution is sprayed almost perpendicularly to the forming surface, and the predetermined distance is configured to be in a range of 0.1 mm to 8 mm. It is possible to manufacture an electron source substrate on which a surface conduction type emission element group is formed with high accuracy of droplet landing position and high accuracy.

【0116】(請求項4に対応した効果)前記基板は、
前記基板保持手段によって前記導電性薄膜の形成面が水
平に対して90度より大きく180度以下の角度に保持
され、前記噴射ヘッドは、前記基板の側方ないし下方か
ら前記導電性薄膜の形成面に対してほぼ垂直に前記溶液
を噴射し、前記一定の距離が0.1mm〜6mmの範囲
となるように構成されているので、簡単な構成でありな
がら溶液噴射が安定するため、液滴の着弾位置精度が高
く、高精度に表面伝導型放出素子群が形成された電子源
基板を製作することができる。
(Effects Corresponding to Claim 4) The substrate comprises:
The substrate holding means holds the surface on which the conductive thin film is formed at an angle of more than 90 degrees and not more than 180 degrees with respect to the horizontal, and the ejection head is provided on the surface on which the conductive thin film is formed from the side or below the substrate. The solution is ejected almost perpendicularly to the nozzle, and the fixed distance is configured to be in a range of 0.1 mm to 6 mm. It is possible to manufacture an electron source substrate on which a surface conduction electron-emitting device group is formed with high landing position accuracy and high accuracy.

【0117】(請求項5に対応した効果)前記溶液の噴
射速度は、前記キャリッジの走査速度より速いので、形
成される電子放出素子の形状を崩すことなく非常に高精
度な表面伝導型放出素子群を形成した電子源基板を製作
することができる。
(Effect Corresponding to Claim 5) Since the jetting speed of the solution is faster than the scanning speed of the carriage, the surface conduction electron-emitting device can be formed with extremely high accuracy without breaking the shape of the electron-emitting device to be formed. A group of electron source substrates can be manufactured.

【0118】(請求項6に対応した効果)請求項1ない
し5のいずれか1に記載の電子源基板の製造装置によっ
て製造されてなるので、大型であっても低コストかつ高
精度で製造された電子源基板を得ることができる。
(Effect Corresponding to Claim 6) Since the electron source substrate is manufactured by the apparatus for manufacturing an electron source substrate according to any one of claims 1 to 5, even if it is large, it is manufactured at low cost and high accuracy. An electron source substrate can be obtained.

【0119】(請求項7に対応した効果)請求項7の発
明は、請求項6に記載の電子源基板と、該電子源基板に
対向配置可能な蛍光体とを有し、前記電子源基板により
放出された電子を前記蛍光体に衝突させることにより該
蛍光体を発光せしめて表示を行うので、高画質の画像表
示装置を得ることができる。
(Effects Corresponding to Claim 7) The invention according to claim 7 includes the electron source substrate according to claim 6, and a phosphor that can be disposed to face the electron source substrate, wherein the electron source substrate By causing the emitted electrons to collide with the phosphor to cause the phosphor to emit light and display, a high-quality image display device can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明によって形成される平面型表面伝導型
電子放出素子の構成を模式的に示す平面図および側面図
である。
1A and 1B are a plan view and a side view schematically showing a configuration of a flat surface conduction electron-emitting device formed according to the present invention.

【図2】 図1の構成の表面伝導型電子放出素子の製造
方法を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of manufacturing the surface conduction electron-emitting device having the configuration of FIG.

【図3】 本発明の一電子源基板の製造装置の一実施例
を説明するための図である。
FIG. 3 is a view for explaining an embodiment of a manufacturing apparatus of one electron source substrate of the present invention.

【図4】 本発明の電子源基板の製造に適用される液滴
付与装置を示す概略構成図である。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing a droplet applying apparatus applied to manufacture of an electron source substrate of the present invention.

【図5】 図4の液滴付与装置の吐出ヘッドユニットの
要部概略構成図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a main part of an ejection head unit of the droplet applying apparatus of FIG. 4;

【図6】 基板と噴射ヘッドの配置例を示す概略構成図
である。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram illustrating an example of the arrangement of a substrate and an ejection head.

【図7】 本発明の一実施形態に係る表面伝導型電子放
出素子の製造に際して採用できる通電フォーミング処理
における電圧波形例を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of a voltage waveform in an energization forming process that can be employed in manufacturing the surface conduction electron-emitting device according to one embodiment of the present invention.

【図8】 本発明を適用しうるマトリックス配置型電子
源基板例を示す模式図である。
FIG. 8 is a schematic view showing an example of a matrix arrangement type electron source substrate to which the present invention can be applied.

【図9】 本発明を適用しうるマトリックス配置型電子
源基板による画像形成装置の表示パネル例を示す模式図
である。
FIG. 9 is a schematic diagram showing an example of a display panel of an image forming apparatus using a matrix arrangement type electron source substrate to which the present invention can be applied.

【図10】 本発明を適用しうる蛍光膜を示す模式図で
ある。
FIG. 10 is a schematic view showing a fluorescent film to which the present invention can be applied.

【図11】 画像形成装置にNTSC方式のテレビ信号
に応じて図6の表示パネルの表示を行うための駆動回路
の一例を示すブロック図である。
11 is a block diagram illustrating an example of a drive circuit for performing display on the display panel of FIG. 6 in accordance with an NTSC television signal in the image forming apparatus.

【図12】 本発明を適用しうる梯子配置型電子源基板
の一例を示す図である。
FIG. 12 is a view showing an example of a ladder-positioned electron source substrate to which the present invention can be applied.

【図13】 本発明を適用しうる梯子配置型電子源基板
による画像形成装置の表示パネルの一例を示す模式図で
ある。
FIG. 13 is a schematic view showing an example of a display panel of an image forming apparatus using a ladder-positioned electron source substrate to which the present invention can be applied.

【図14】 従来の電子放出素子の一例を示す模式図で
ある。
FIG. 14 is a schematic view showing an example of a conventional electron-emitting device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…基板、2,3…素子電極、4…導電性薄膜、5…電
子放出部、7…検出光学系、8…インクジェットヘッ
ド、9…液滴、10…電子源基板、11…吐出ヘッドユ
ニット(噴射ヘッド)、12…キャリッジ、13…基板
保持台、14…基板、15…導電性薄膜の材料を含有す
る溶液の供給チューブ、16…信号供給ケーブル、1
7,21…コントロールボックス、18…X方向スキャ
ンモータ、19…Y方向スキャンモータ、20…コンピ
ュータ、22…基板位置決め/保持手段、31…ヘッド
アライメント制御機構、32…検出光学系、33…イン
クジェットヘッド、34…ヘッドアライメント微動機
構、35…制御コンピュータ、36…画像識別機構、3
8…位置検出機構、39…位置補正制御機構、40…イ
ンクジェットヘッド駆動・制御機構、41…光軸、42
…素子電極、43…液滴、44…液滴着弾位置、51…
X方向配線、52…Y方向配線、53…表面伝導型電子
放出素子、54…結線、61…リアプレート、62…支
持枠、63…ガラス基板、64…蛍光膜、65…メタル
バック、66…フェースプレート、67…高圧端子、6
8…外囲器、71…黒色部材、72…蛍光体、81…表
示パネル、82…走査回路、83…制御回路、84…シ
フトレジスタ、85…ラインメモリ、86…同期信号分
離回路、87…変調信号発生器、91…電子放出素子を
配線するための共通配線、110…グリッド電極、11
1…空孔、112…容器外端子、113…グリッド容器
外端子。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate, 2, 3 ... Device electrode, 4 ... Conductive thin film, 5 ... Electron emission part, 7 ... Detection optical system, 8 ... Ink jet head, 9 ... Droplet, 10 ... Electron source substrate, 11 ... Discharge head unit (Ejection head), 12 ... carriage, 13 ... substrate holder, 14 ... substrate, 15 ... supply tube for solution containing conductive thin film material, 16 ... signal supply cable, 1
7, 21: control box, 18: X direction scan motor, 19: Y direction scan motor, 20: computer, 22: substrate positioning / holding means, 31: head alignment control mechanism, 32: detection optical system, 33: inkjet head , 34: Head alignment fine movement mechanism, 35: Control computer, 36: Image identification mechanism, 3
8 position detection mechanism, 39 position correction control mechanism, 40 inkjet head drive / control mechanism, 41 optical axis, 42
... device electrodes, 43 ... droplets, 44 ... droplet landing positions, 51 ...
X-direction wiring, 52: Y-direction wiring, 53: surface conduction electron-emitting device, 54: connection, 61: rear plate, 62: support frame, 63: glass substrate, 64: fluorescent film, 65: metal back, 66 ... Face plate, 67 ... High voltage terminal, 6
8 envelope, 71 black member, 72 phosphor, 81 display panel, 82 scanning circuit, 83 control circuit, 84 shift register, 85 line memory, 86 synchronizing signal separation circuit, 87 Modulation signal generator, 91: common wiring for wiring electron-emitting devices, 110: grid electrode, 11
1 ... void, 112 ... terminal outside the container, 113 ... terminal outside the grid container.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の電圧を引加することにより電子を
放出する導電性薄膜を有する電子放出素子群が基板に形
成されてなる電子源基板の製造装置において、前記基板
の保持位置決め手段もしくは保持位置調整機構を有する
基板保持手段と、前記基板に相対する位置に配され、入
力された液滴付与情報に基づいて前記基板に設けられた
複数対の各素子電極間に前記導電性薄膜の材料を含有し
た溶液を噴射することにより前記導電性薄膜を形成する
噴射ヘッドと、該噴射ヘッドに前記液滴付与情報を入力
する情報入力手段と、前記噴射ヘッドを搭載して前記基
板に相対する領域で直交する2方向に移動可能なキャリ
ッジとを有し、該キャリッジは、前記噴射ヘッドの溶液
噴射口面と前記基板の導電性薄膜の形成面とを一定の距
離に維持して走査を行いながら前記溶液の噴射を行うこ
とを特徴とする電子源基板の製造装置。
1. An electron source substrate manufacturing apparatus comprising: a substrate having an electron-emitting device group having a conductive thin film that emits electrons when a predetermined voltage is applied to the substrate; A substrate holding means having a position adjusting mechanism, and a material for the conductive thin film disposed between a plurality of pairs of element electrodes provided on the substrate based on input droplet application information, the material being disposed at a position facing the substrate. Head for forming the conductive thin film by injecting a solution containing, an information input means for inputting the droplet applying information to the ejection head, and an area mounted with the ejection head and facing the substrate And a carriage movable in two directions perpendicular to each other. The carriage maintains scanning at a fixed distance between the solution ejection surface of the ejection head and the surface of the substrate on which the conductive thin film is formed. An apparatus for manufacturing an electron source substrate, wherein the solution is ejected while performing.
【請求項2】 前記基板は、前記基板保持手段によって
該基板の導電性薄膜形成面が水平となるように保持さ
れ、前記噴射ヘッドは、前記基板の上方に位置して前記
溶液を下向きに噴射し、前記一定の距離が0.1mm〜
10mmの範囲となるように構成されていることを特徴
とする請求項1に記載の電子源基板の製造装置。
2. The substrate is held by the substrate holding means such that a conductive thin film forming surface of the substrate is horizontal, and the ejection head is located above the substrate and ejects the solution downward. And the constant distance is 0.1 mm or more.
The apparatus according to claim 1, wherein the apparatus is configured to have a range of 10 mm.
【請求項3】 前記基板は、前記基板保持手段によって
該基板の導電性薄膜形成面が水平に対して0度より大き
く90度以下の角度に保持され、前記噴射ヘッドは、前
記基板の上方ないし側方から前記基板の導電性薄膜形成
面に対してほぼ垂直に前記溶液を噴射し、前記一定の距
離が0.1mm〜8mmの範囲となるように構成されて
いることを特徴とする請求項1に記載の電子源基板の製
造装置。
3. The substrate is held by the substrate holding means at an angle of more than 0 ° and not more than 90 ° with respect to the horizontal surface on which the conductive thin film is formed. The method according to claim 1, wherein the solution is sprayed from a side substantially perpendicularly to a surface of the substrate on which the conductive thin film is formed, and the predetermined distance is in a range of 0.1 mm to 8 mm. 2. An apparatus for manufacturing an electron source substrate according to claim 1.
【請求項4】 前記基板は、前記基板保持手段によって
前記導電性薄膜の形成面が水平に対して90度より大き
く180度以下の角度に保持され、前記噴射ヘッドは、
前記基板の側方ないし下方から前記導電性薄膜の形成面
に対してほぼ垂直に前記溶液を噴射し、前記一定の距離
が0.1mm〜6mmの範囲となるように構成されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の電子源基板の製造
装置。
4. The substrate, wherein the surface on which the conductive thin film is formed is held at an angle of more than 90 degrees and 180 degrees or less with respect to horizontal by the substrate holding means, and the ejection head comprises:
The solution is sprayed substantially perpendicularly to the surface on which the conductive thin film is formed, from the side or below the substrate, so that the predetermined distance ranges from 0.1 mm to 6 mm. The apparatus for manufacturing an electron source substrate according to claim 1.
【請求項5】 前記溶液の噴射速度は、前記キャリッジ
の走査速度より速いことを特徴とする請求項1ないし4
のいずれか1に記載の電子源基板の製造装置。
5. The apparatus according to claim 1, wherein the jetting speed of the solution is higher than the scanning speed of the carriage.
An apparatus for manufacturing an electron source substrate according to any one of the above.
【請求項6】 請求項1ないし5のいずれか1に記載の
電子源基板の製造装置によって製造されてなることを特
徴とする電子源基板。
6. An electron source substrate manufactured by the apparatus for manufacturing an electron source substrate according to claim 1. Description:
【請求項7】 請求項6に記載の電子源基板と、該電子
源基板に対向配置可能な蛍光体とを有し、前記電子源基
板により放出された電子を前記蛍光体に衝突させること
により該蛍光体を発光せしめて表示を行うことを特徴と
する画像表示装置。
7. An electron source substrate according to claim 6, and a phosphor that can be disposed so as to face the electron source substrate, wherein electrons emitted by the electron source substrate collide with the phosphor. An image display device, wherein display is performed by emitting light from the phosphor.
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