JP2001210737A - 半導体チップパッケージおよびその製造方法 - Google Patents

半導体チップパッケージおよびその製造方法

Info

Publication number
JP2001210737A
JP2001210737A JP2000023332A JP2000023332A JP2001210737A JP 2001210737 A JP2001210737 A JP 2001210737A JP 2000023332 A JP2000023332 A JP 2000023332A JP 2000023332 A JP2000023332 A JP 2000023332A JP 2001210737 A JP2001210737 A JP 2001210737A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal plate
substrate
semiconductor
bare chip
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000023332A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Hayashi
克彦 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP2000023332A priority Critical patent/JP2001210737A/ja
Publication of JP2001210737A publication Critical patent/JP2001210737A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors

Abstract

(57)【要約】 【課題】簡単な構造で熱の放出が良好に行え、かつ安定
した放熱性能の半導体チップパッケージを提供する。ま
た、簡易で量産に適した半導体チップパッケージの製造
方法を提供する。 【解決手段】絶縁体基板1上に半導体ベアチップ3をバ
ンプ電極4により接続して搭載する。半導体ベアチップ
3を金属板7で覆う。金属板7は半導体ベアチップ3の
絶縁体基板1に接続した面の反対側の面に接着剤8、9
により接着される。また、少なくとも一端部が絶縁体基
板1の端面を覆う屈曲部7bを有する形状とする。金属
板7と半導体ベアチップ3との接触面での接着剤8によ
る接着と、金属板7と半導体ベアチップ3との非接触面
との接着剤9による接着と、金属板7と絶縁体基板1と
の接着剤11による接着とを同一工程で行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、様々な電子機器で
使用される半導体部品であって、半導体ベアチップを絶
縁体基板に搭載し、半導体ベアチップを金属板により覆
った構造の半導体チップパッケージに係り、特に発熱を
伴う半導体ベアチップを装着する半導体チップパッケー
ジとその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の高周波半導体チップを搭載したモ
ジュールまたはパッケージとして、例えば特表平10−
501102号公報に開示されたものが知られている。
これはパッケージを構成する基板に対して半導体チップ
はワイヤーボンディングやフリップチップにより実装さ
れ、さらに金属キャップを被せてパッケージを構成して
いる。
【0003】また、他のパッケージの従来例として、米
国特許第5831836号公報に開示されたものがあ
る。これは半導体チップをフリップチップによって基板
に搭載し、半導体チップの背面に金属キャップの天板部
を付ける形でパッケージを構成したものである。また、
特開平10−12779号公報にも同様の構造のものが
開示されている。
【0004】図6は前記した従来構造の代表例であり、
半導体チップを基板にフリップチップにより実装した例
を模式的に描いた図である。図6において、40は基
板、41は半導体チップ、42はヒートシンクを兼ねた
金属キャップである。半導体チップ41はフリップチッ
プにより、すなわち、半導体チップ41の底面の外部接
続用の電極端子に半田や金を使用してマイクロバンプ4
3を形成し、該マイクロバンプ43によって基板40と
半導体チップ41とを電気的に接続している。また、通
常、基板40と半導体チップ41との隙間には、マイク
ロバンプ43を包むように、アンダーフィリングと称さ
れる樹脂46が満たされ、硬化させている。金属キャッ
プ42は、その天板部42bが、半導体チップ41の上
面に導電性接着剤44等により固着され、周囲の縁42
aは、基板40上の電極と導電性接着剤または半田45
により固定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】また、図6に示す従来
構造では、半導体チップ41上に導電性接着剤44等に
より金属キャップ42を接着しており、また、金属キャ
ップ42の縁42aを基板40に当てて半田45等によ
り固着しているので、寸法のくるいにより、十分な接着
力で接着されない場合がある。すなわち、金属キャップ
42の縁42aの全周とその天板部42bは必ずしも精
度良く平行となっている訳ではないので、金属キャップ
42の縁42aが基板40に当たった状態で、かつ半導
体チップ41が隙間なく金属キャップ42に接着した状
態にするのは困難である。特に、半導体チップ41が対
象とする信号の電力が大きい場合は、半導体チップ41
から生じる熱が大きいため、フリップチップによって実
装した半導体チップ41の背面は完全に密着している必
要があり、わずかでも隙間があったり、また、金属キャ
ップ42のヒートシンク部42bと半導体チップ41が
斜めに当たっていると放出する熱の効率(伝導)は極め
て低下する。
【0006】また、前記実装構造によると、半導体チッ
プ41と基板40との接続をマイクロバンプ43を用い
たフリップチップにより行っているため、量産時にマイ
クロバンプ43の高さにより半導体チップ41と基板4
0との間隔がばらつく可能性がある。このばらつきによ
り、半導体チップ41に接着される金属キャップ42の
縁42aが基板40の表面に突き当たり過ぎたり、届か
ないといった場合がある。突き当たり過ぎる場合には、
半導体チップ41と金属キャップ42の天板部42bと
の間の隙間が大となって放熱性能が悪くなり、また、縁
42aが基板40に届かない場合には、基板40を通し
ての放熱が悪くなる。
【0007】本発明は、上記問題点に鑑み、簡単な構造
で熱の放出が良好に行え、かつ安定した放熱性能の半導
体チップパッケージを提供することを目的とする。
【0008】また、本発明は、前記半導体ベアチップの
簡易で量産に適した製造方法を提供することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の半導体チップ
パッケージは、絶縁体基板上に半導体ベアチップをバン
プ電極により接続して搭載し、該半導体ベアチップを金
属板で覆う構造の半導体チップパッケージであって、前
記金属板は前記半導体ベアチップの前記絶縁体基板に接
続した面の反対側の面に接着され、かつ少なくとも一方
の端部に前記絶縁体基板の端面を覆う屈曲部を有する形
状としたことを特徴とする。
【0010】このように、金属板の屈曲部が基板の端面
部に位置する構造とすれば、屈曲部の長さのばらつきに
拘らず、基板の端面部に屈曲部を半田や導電性接着剤に
より固定することができる。また、屈曲部の長さのばら
つきに拘らず金属板を半導体チップの上面全面に金属板
を当てて導電性接着剤により固定することが可能とな
る。これにより、小型で排熱性能のよい半導体チップパ
ッケージが得られる。また、半導体ベアチップに金属板
が直付けされるので、極めて薄型の半導体チップパッケ
ージが得られる。また、金属板が半導体ベアチップの上
面に接着されることにより、半導体チップパッケージを
マザーボードに搭載する際に、マウンタ等により金属板
が吸着され、ハンドリングに好適な構造が実現される。
【0011】請求項2の半導体チップパッケージは、請
求項1において、前記半導体ベアチップと前記絶縁体基
板と前記金属板とを接着剤により一体的に接着したこと
を特徴とする。
【0012】このように接着剤により3者を相互に接着
すれば、金属板の接着強度が上がり、半導体チップパッ
ケージをマザーボードに搭載する際に、マウンタ等によ
るハンドリングに耐え得る強度が容易に得られる。
【0013】請求項3の半導体チップパッケージは、請
求項1または2において、前記金属板は、前記半導体ベ
アチップおよび絶縁体基板に導電性フィラーを含有する
樹脂により接続させたことを特徴とする。
【0014】このように、金属板を、半導体ベアチップ
および絶縁体基板に導電性フィラーを混合した接着剤に
よって固定することにより、絶縁体基板上のグランド電
極に電気的に接続される。また、導電性フィラーとして
金属フィラーを用いることにより、排熱性能が向上す
る。
【0015】請求項4の半導体チップパッケージは、請
求項1から3までのいずれかにおいて、前記絶縁体基板
はセラミックでなることを特徴とする。
【0016】絶縁体基板としてセラミックを用いること
により、樹脂製基板に比較して排熱性能のよい半導体チ
ップパッケージが得られる。
【0017】請求項5の半導体チップパッケージは、請
求項1から4までのいずれかにおいて、前記絶縁体基板
は内部に導体パターンを有し、前記金属板の屈曲部から
マザーボードに対する放熱経路として、前記金属板の屈
曲部のマザーボードに対する半田付け部を介する経路
と、前記基板内の導体パターンを介する経路とを備えた
ことを特徴とする。
【0018】このように、金属板の屈曲部からの放熱経
路として、マザーボードに対する屈曲部の半田付け部の
みならず、絶縁体基板内の導体パターンを利用すること
によってより放熱性能が良好となる。
【0019】請求項6の半導体チップパッケージは、請
求項1から5までのいずれかにおいて、前記金属板は両
側が開放された構造を有することを特徴とする。
【0020】このように、金属板の両側を開放する構造
とすることにより、部品の配置状態が目視で確認でき、
製品のチェックが容易となる上、金属板取付け後の作業
も可能となる。
【0021】請求項7の半導体チップパッケージは、絶
縁体基板上に半導体ベアチップをバンプ電極により接続
して搭載し、該半導体ベアチップを金属板で覆い、前記
半導体ベアチップと前記絶縁体基板と前記金属板とを接
着剤により一体的に接着し、金属板の少なくとも一端部
に前記絶縁体基板の端面を覆う屈曲部を有する形状とし
た半導体チップパッケージを製造する方法であって、前
記金属板と前記半導体ベアチップとの接触面での接着
と、前記金属板と前記半導体ベアチップとの非接触面と
の接着と、前記金属板と前記絶縁体基板との接着とを同
一工程で行うことを特徴とする。
【0022】このように、前記接着を同一工程で行うこ
とにより、簡易で量産に適した製造方法が得られる。
【0023】
【発明の実施の形態】図1は本発明による高周波モジュ
ールの一実施の形態を示す斜視図、図2はその側面断面
図、図3はそのマザーボードに対する実装状態を示す側
面断面図である。図1ないし図3において、1は内部に
導体パターン2を有するセラミック等の誘電体でなる多
層構造の絶縁体基板、3は該基板1上に半田または金か
らなるバンプ4電極によりフリップチップ状に固定され
た半導体ベアチップである。なおバンプ電極4として半
田バンプを用いれば、熱処理により半導体ベアチップ3
を基板1に接続することが可能である。
【0024】図2、図3に示すように、半導体ベアチッ
プ3と基板1との間の隙間には樹脂(アンダーフィリン
グ)5が充填、硬化され、固定される。前記半導体ベア
チップ3の基板1の電極と接続する各電極は基板1の基
板内の電極(図示せず)を介して基板1の底面の電極1
6、17に接続する。また、半導体ベアチップ3に設け
られるグランド電極も同様に基板1の内部の電極2に接
続(図示せず)して基板1の裏面のグランド電極6に接
続される。
【0025】7はコ字形の金属板であり、アルミニウム
や銅等の帯状金属を曲成して形成される。すなわち、該
金属板7の天板部7aの両端部には下方への屈曲部7b
を有する。該金属板7の天板部7aは前記半導体ベアチ
ップ3に金属フィラー等の導電性フィラーを有する樹脂
からなる電性接着剤8により電気的に接続されかつ固定
される。なお、天板部7aは、半田等により半導体ベア
チップ3の上面に電気的に接続しかつ固定してもよい。
【0026】前記金属板7の天板部7aは、基板1の上
面と、半導体ベアチップ3の周囲の面(端面またはおよ
び側面)に対し、接着剤9により接着される。
【0027】前記屈曲部7bは基板1の端面部に弾性的
に当接するかあるいは端面部を覆うようにして位置させ
る。該屈曲部7bは基板1の端面部に設けたグランド電
極10に導電性接着剤(または半田)11により電気的
に接続し、固定している。グランド電極10は前記基板
1内の導体パターン2に接続されていて、電気的、熱的
結合を図っている。
【0028】図3において、12はマザーボードであ
り、前記基板1は、マザーボード12上のグランド電極
13および電極14、15に、基板1の下面の電極6、
16、17を半田19によって電気的に接続し、かつ固
定して表面実装している。また、前記金属板7の屈曲部
7bの下部は、マザーボード12上のグランド電極20
と、半田22により接続される。
【0029】この構成において、半導体ベアチップ3で
発生する熱は、金属板7を介して基板1に伝達されると
共に、屈曲部7bより半田22を介してマザーボード1
2のグランド電極20に伝達され、放熱される。この場
合、金属板7の屈曲部7bは基板1の端面部に位置する
ので、金属板7の天板部7aはその全面を半導体ベアチ
ップ3の上面に密着することができ、良好な排熱作用が
得られる。また、天板部7aの熱は、屈曲部7bから半
田22を介する経路と、導体パターン2を介する経路と
の2つの経路によりマザーボード12のグランド電極2
0、13に伝熱される。なお、基板1内に設ける導体パ
ターン2は、図示のように複数のパターンとすることに
よって、より良好な排熱が基板1を介して行われるよう
にしている。
【0030】このように、屈曲部7bからの排熱経路が
半田22を介する経路と、導体パターン2を介する経路
とからなる複数の経路となる。なお、マザーボード12
のグランド電極13、20は、マザーボード12上の電
極パターンのうち、面積の最も大きいパターンであるた
め、良好な放熱先となり、良好な放熱作用が得られる。
【0031】このとき、半導体ベアチップ3の金属板7
と接する面の電極は、導電性接着剤8と金属板7を介し
てマザーボード12のグランド電極13、20に接続さ
れるので、グランド電位となっている。
【0032】また、導電性接着剤8は導電性フィラーと
して金属フィラーを含んでおり、熱伝導性も良好にして
いるが、より熱伝導性を良くするため、金属フィラーの
含有率を上げると、接着強度が低下する。しかしこの半
導体ベアチップ3は導電性接着剤8による金属板7への
接着のみならず、天板部7aを半導体ベアチップ3の端
面およびまたは側面と基板1とに接着剤9によって接着
することにより、前記接着強度の低下を補うことができ
る。特に、半導体ベアチップパッケージ3をマウンタに
吸着してハンドリングすることによりマザーボード12
に搭載されるが、上記接着構造により、半導体チップパ
ッケージ3は問題なくハンドリングすることが可能とな
る。
【0033】前記基板1としては、樹脂製基板を用いる
こともできるが、セラミックを用いれば、セラミックは
樹脂よりも熱膨張収縮量が小さい。その上、半導体ベア
チップ3の発熱に対しても、材質的に極めて安定であ
る。また、セラミックは樹脂に比較して熱伝導率が良好
であるため、ヒートシンクとして機能させることがで
き、排熱作用がより良好となる。
【0034】一方、上記構成において、半導体チップパ
ッケージの高さは、基板1、半導体ベアチップ3、金属
板7の天板部7aのそれぞれの厚みと、バンプ電極4の
高さのトータルにより決まる。このため、極めて薄型の
半導体チップパッケージとすることが可能である。
【0035】さらに、金属板7は曲げ加工が容易な金属
板を使用し、ヒートシンク部を薄い単板の金属板で構成
することにより、図5のボックス状の金属板をそのまま
ヒートシンクとして使用する場合に比較し、簡単かつ低
コストで、面積をとらずに適用機器に取付けることがで
きる。
【0036】図4は前記半導体ベアチップパッケージを
製造するに好適な方法を説明する図である。まず、半導
体ベアチップ3の金属板7と接する面に導電性接着剤8
の塗布をディスペンサ等により行う。この時、同時に、
基板1上の端部の電極10に屈曲部7bを接続するため
の導電性接着剤11の塗布を、特に基板1の縁になる側
を中心に行う。一方、金属板7の天板部7aの内側に
は、半導体ベアチップ3が接する領域の縁に当たる部分
に沿って接着剤9をディスペンサ等で塗布する。その
後、基板1および半導体ベアチップ3に対して金属板7
を嵌めて接着剤8、9、11により同時に接着する。
【0037】上記のように、金属板7を接着する際、金
属板7を半導体ベアチップ3の上に嵌めて養生させる。
これにより、半導体ベアチップ3側に塗布された接着剤
8は金属板7により押し拡げられて半導体ベアチップ3
の上面のほぼ全面に拡げられる。一方、金属板7側に塗
布された接着剤9は、その自重により金属板7の天板部
7aより半導体ベアチップ3の端面あるいは側面に沿っ
て基板1上まで垂れてくることにより、図2、図3で示
すような形態で金属板7を半導体ベアチップ3および基
板1に接着することができる。この時、同時に、金属板
7の屈曲部7bは基板1の端面およびグランド電極10
に対して導電性接着剤11により接続される。
【0038】図1に示すように、金属板7は両端部に屈
曲部7bを有し、側面部が開放された形状を有するた
め、金属板7と基板1との間に隙間23が形成される。
このため、この隙間23より接着剤9、11による接着
状況について目視による確認が可能である。これによ
り、量産時に、製品における接着剤の状況を確認するこ
とが可能となる。
【0039】上記実施の形態においては、金属板7の両
端に屈曲部7bを有する形状としたが、この屈曲部7b
は一方の端部にのみ設ける構造としてもよい。また、図
5に示すように、天板部7aの側縁部に、前記隙間23
が形成される程度の多少の折曲部7cを設ければ、天板
部7aの強度が増し、平面性を増すことができる。ま
た、基板1との間に隙間23が形成されるように折曲部
7cを形成することにより、前記効果があげられる。
【0040】
【発明の効果】請求項1によれば、金属板の屈曲部が基
板の端面部に位置する構造とすれば、屈曲部の長さのば
らつきに拘らず、基板の端面部に屈曲部を半田や導電性
接着剤により固定することができる。また、屈曲部の長
さのばらつきに拘らず金属板を半導体チップの上面全面
に金属板を当てて導電性接着剤により固定することが可
能となる。これにより、小型で排熱性能のよい半導体チ
ップパッケージが得られる。また、半導体ベアチップに
金属板が直付けされるので、極めて薄型の半導体チップ
パッケージが得られる。また、金属板が上面に存在する
ことにより、半導体チップパッケージをマザーボードに
搭載する際に、マウンタ等によるハンドリングに好適な
構造が実現される。
【0041】請求項2によれば、請求項1において、半
導体ベアチップと前記絶縁体基板と前記金属板とを接着
剤により一体的に接着したので、金属板の接着強度が上
がり、半導体チップパッケージをマザーボードに搭載す
る際に、マウンタ等によるハンドリングに耐え得る強度
が容易に得られる。
【0042】請求項3によれば、請求項1または2にお
いて、前記金属板は、前記半導体ベアチップおよび絶縁
体基板に導電性フィラーを含有する樹脂により接続させ
たので、絶縁体基板上のグランド電極に電気的に接続す
ることができる。また、導電性フィラーとして金属フィ
ラーを用いることにより、排熱性能が向上する。
【0043】請求項4によれば、請求項1から3までの
いずれかにおいて、絶縁体基板としてセラミックを用い
たので、樹脂製基板に比較して排熱性能のよい半導体チ
ップパッケージが得られる。
【0044】請求項5によれば、請求項1から4までの
いずれかにおいて、金属板の屈曲部からの放熱経路とし
て、マザーボードに対する屈曲部の半田付け部のみなら
ず、絶縁体基板内の導体パターンを利用することができ
るので、より放熱性能が良好となる。
【0045】請求項6によれば、請求項1から5までの
いずれかにおいて、金属板の両側を開放する構造とした
ので、部品の配置状態が目視で確認でき、製品のチェッ
クが容易となる上、金属板取付け後の作業も可能とな
る。
【0046】請求項7によれば、前記金属板と前記半導
体ベアチップとの接触面での接着と、前記金属板と前記
半導体ベアチップとの非接触面との接着と、前記金属板
と前記絶縁体基板との接着とを同一工程で行うため、工
程数が削減され、簡易で量産に適する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体チップパッケージの一実施
の形態を示す斜視図である。
【図2】図1の半導体チップパッケージの側面断面図で
ある。
【図3】図1、図2の半導体チップパッケージのマザー
ボードへの取付構造を示す側面断面図である。
【図4】本実施の形態の製造方法を説明する側面図であ
る。
【図5】本発明による半導体チップパッケージの他の実
施の形態を示す斜視図である。
【図6】従来の半導体チップパッケージの一部断面側面
図である。
【符号の説明】
1:基板、2:導体パターン、3:半導体ベアチップ、
4:バンプ電極、5:樹脂、6:グランド電極、7:金
属板、7a:天板部、7b:屈曲部、7c:折曲部8:
導電性接着剤、9:接着剤、10:グランド電極、1
1:導電性接着剤、12:マザーボード、13:グラン
ド電極、14〜17:電極、19:半田、20:グラン
ド電極、22:半田、23:隙間

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】絶縁体基板上に半導体ベアチップをバンプ
    電極により接続して搭載し、該半導体ベアチップを金属
    板で覆う構造の半導体チップパッケージであって、 前記金属板は前記半導体ベアチップの前記絶縁体基板に
    接続した面の反対側の面に接着され、かつ少なくとも一
    方の端部に前記絶縁体基板の端面を覆う屈曲部を有する
    形状としたことを特徴とする半導体チップパッケージ。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記半導体ベアチップと前記絶縁体基板と前記金属板と
    を接着剤により一体的に接着したことを特徴とする半導
    体チップパッケージ。
  3. 【請求項3】請求項1または2において、 前記金属板は、前記半導体ベアチップおよび絶縁体基板
    に導電性フィラーを含有する樹脂により接続させたこと
    を特徴とする半導体チップパッケージ。
  4. 【請求項4】請求項1から3までのいずれかにおいて、 前記絶縁体基板はセラミックでなることを特徴とする半
    導体チップパッケージ。
  5. 【請求項5】請求項1から4までのいずれかにおいて、 前記絶縁体基板は内部に導体パターンを有し、 前記金属板の屈曲部からマザーボードに対する放熱経路
    として、前記金属板の屈曲部のマザーボードに対する半
    田付け部を介する経路と、前記基板内の導体パターンを
    介する経路とを備えたことを特徴とする半導体チップパ
    ッケージ。
  6. 【請求項6】請求項1から5までのいずれかにおいて、 前記金属板は両側が開放された構造を有することを特徴
    とする半導体チップパッケージ。
  7. 【請求項7】絶縁体基板上に半導体ベアチップをバンプ
    電極により接続して搭載し、該半導体ベアチップを金属
    板で覆い、 前記半導体ベアチップと前記絶縁体基板と前記金属板と
    を接着剤により一体的に接着し、 金属板の少なくとも一端部に前記絶縁体基板の端面を覆
    う屈曲部を有する形状とした半導体チップパッケージを
    製造する方法であって、 前記金属板と前記半導体ベアチップとの接触面での接着
    と、前記金属板と前記半導体ベアチップとの非接触面と
    の接着と、前記金属板と前記絶縁体基板との接着とを同
    一工程で行うことを特徴とする半導体チップパッケージ
    の製造方法。
JP2000023332A 2000-01-27 2000-01-27 半導体チップパッケージおよびその製造方法 Withdrawn JP2001210737A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000023332A JP2001210737A (ja) 2000-01-27 2000-01-27 半導体チップパッケージおよびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000023332A JP2001210737A (ja) 2000-01-27 2000-01-27 半導体チップパッケージおよびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001210737A true JP2001210737A (ja) 2001-08-03

Family

ID=18549504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000023332A Withdrawn JP2001210737A (ja) 2000-01-27 2000-01-27 半導体チップパッケージおよびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001210737A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010073942A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Fdk Corp 電子回路装置
JP2010528472A (ja) * 2007-05-25 2010-08-19 エルエスアイ コーポレーション 熱性能の向上のためにフタをはんだ付けされた集積回路パッケージ
JP2010192653A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Panasonic Corp 半導体装置
JP2013105878A (ja) * 2011-11-14 2013-05-30 Ibiden Co Ltd 電子部品及びその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010528472A (ja) * 2007-05-25 2010-08-19 エルエスアイ コーポレーション 熱性能の向上のためにフタをはんだ付けされた集積回路パッケージ
JP2010073942A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Fdk Corp 電子回路装置
JP2010192653A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Panasonic Corp 半導体装置
JP2013105878A (ja) * 2011-11-14 2013-05-30 Ibiden Co Ltd 電子部品及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6933612B2 (en) Semiconductor device with improved heatsink structure
US8916958B2 (en) Semiconductor package with multiple chips and substrate in metal cap
TW200307332A (en) Low voltage drop and high thermal performance ball grid array package
JPH09321073A (ja) 半導体装置用パッケージ及び半導体装置
JP2008091714A (ja) 半導体装置
KR100606295B1 (ko) 회로 모듈
US20090289352A1 (en) Semiconductor device and a method for manufacturing the semiconductor device
US20060220188A1 (en) Package structure having mixed circuit and composite substrate
JP2012212712A (ja) 半導体装置の実装構造及び半導体装置の実装方法
EP0282124B1 (en) Method for manufacturing a modular semiconductor power device and device obtained thereby
KR100598652B1 (ko) 반도체장치
JP2001210737A (ja) 半導体チップパッケージおよびその製造方法
JP2003224234A (ja) 半導体装置
JPH09326450A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR100618759B1 (ko) 하이브리드 모듈
US6291893B1 (en) Power semiconductor device for “flip-chip” connections
JP2000183488A (ja) ハイブリッドモジュール
JPH10112472A (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR102552424B1 (ko) 반도체 패키지
JP2001044341A (ja) 高周波モジュール
JP2004288815A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP4349728B2 (ja) 半導体装置
JP3510813B2 (ja) ハイブリッドモジュール
JP2001267460A (ja) 半導体装置
JP3847220B2 (ja) 配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070403