JP2001210262A - 電子顕微鏡 - Google Patents

電子顕微鏡

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JP2001210262A
JP2001210262A JP2000017992A JP2000017992A JP2001210262A JP 2001210262 A JP2001210262 A JP 2001210262A JP 2000017992 A JP2000017992 A JP 2000017992A JP 2000017992 A JP2000017992 A JP 2000017992A JP 2001210262 A JP2001210262 A JP 2001210262A
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sample chamber
heating
sample
ray detector
electron microscope
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Hideki Tsuboi
秀樹 坪井
Masao Wada
正夫 和田
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Hitachi Ltd
Hitachi Science Systems Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Science Systems Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、生物,生体試料を生存或いは機能可
能な状態で観察するのに好適な電子顕微鏡の提供を目的
とするものである。 【解決手段】本発明は上記目的を達成するために、観察
対象試料を配置するための試料室を備えた電子顕微鏡に
おいて、前記観察対象試料を含む試料室内空間を加熱す
る加熱機構を備えたことを特徴とする電子顕微鏡を提供
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子顕微鏡に係り、
特に生体試料の観察するのに好適な電子顕微鏡に関す
る。
【0002】
【従来の技術】昨今電子顕微鏡において、生体試料を観
察したいという要求が高まっている。そのための技術と
して、本来真空状態を維持すべき試料室内を極力大気に
近い状態で観察するための電子顕微鏡の開発が行われる
ようになってきた。
【0003】これにより、生物,生体試料を生存、或い
は生存可能な状態で観察することが可能になってきた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】生物,生体試料を観察
するに当たり生存、或いは生物が機能可能な状態で観察
できるということは、反面生物,生体試料が有害なもの
であった場合、その取り扱いに注意を要することを意味
する。
【0005】特に試料室内の真空排気動作等の影響によ
ってこれらの生体試料が試料室内を生存もしくは機能可
能な状態で試料室内を浮遊した場合、試料室を開放する
と、これらの生体試料が外気に飛散することが考えられ
る。
【0006】本発明は、生物,生体試料を生存或いは機
能可能な状態で観察するのに好適な電子顕微鏡の提供を
目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】第1に本発明は上記目的
を達成するために、観察対象試料を配置するための試料
室を備えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含
む試料室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴
とする電子顕微鏡を提供する。
【0008】このような本発明の構成によれば、試料室
内を飛散する有害な生体試料等を試料室内空間の加熱に
よって死滅させることが可能になる。
【0009】第2に本発明では、試料室内空間を加熱す
るため、X線検出器等、熱に弱い素子を当該空間から隔
離するための手段を備えた電子顕微鏡を提供する。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図1乃至図9に
示す。
【0011】図1に実施例で用いた電子顕微鏡を示す。
【0012】電子銃から放出された電子線は、電子線鏡
筒1により加速,集束,偏向され試料3上を走査する。
電子線が試料3に照射されると、試料3から二次粒子が
放出され、この二次粒子を二次粒子検出器6で検出し、
検出信号を電子線と同期してCRT14に画像表示す
る。なお、図示しないが電子線鏡筒内には電子を放出す
るための電子銃,当該電子銃から電子線を引き出すため
の引出電極,引き出された電子線を加速するための加速
電極,加速された電子線を収束するための収束レンズ等
が配置されている。
【0013】試料3からは二次粒子の他にX線も放出さ
れ、このX線を検出するためのX線検出器8が設けられ
ている。X線検出器8で得られた検出信号はアナライザ
ー11を経由して元素情報をCRT14に表示される。
【0014】試料室内2の加熱殺菌制御は、試料室内2
が低圧下の状態において、試料室内2を50℃以上の温
度に加熱可能な試料室内壁16に取り付けられたスパイ
ラル状の熱源12,熱源を印加する熱源加熱電源,試料
室内2の温度を測定する温度測定器7、およびこれらを
統合制御する制御部15により行われる。
【0015】なお本実施例では、試料室内2を加熱する
熱源としてスパイラル状の熱線12を用いているが、こ
の加熱は試料室内2が低圧力下の状態において、試料室
内2を50℃以上の温度に加熱可能であれば、熱球など
他の熱源を用いても可能となる。
【0016】更に本発明実施例装置は、試料室内空間全
体を高温にすることによって浮遊している微生物を漏れ
なく死滅させることを目的とするものである。よって試
料室内全体が高温となるような機構であれば良く、例え
ば試料室内壁全体を熱源としても良いし、試料加熱ホル
ダを併用しても良い。
【0017】なお、本発明実施例装置は、電子顕微鏡で
あるので試料室内はある程度の真空状態としなければな
らない。ところが微生物等の試料を導入後、真空排気を
しようとするとその排気ポンプの排気によって、試料室
内を浮遊する可能性がある。このような試料は試料室の
大気解放前に確実に死滅させておく必要がある。
【0018】そのため、例えば試料室の扉の開放命令と
連動して制御部15から熱線12に電流を供給するよう
にすると、外気に触れる前に微生物を確実に死滅させる
ことができる。
【0019】図2および図3は、X線検出器8を試料室
内2の加熱殺菌の際に生じる熱から保護する機構につい
ての詳細を示したものである。
【0020】X線検出器8の検出素子は温度が約40℃
以上に上昇すると、その機能が劣化もしくは破損してし
まう。このため、試料室内2を加熱する際には、試料室
内2で発生する熱からX線検出器8を保護する機構が必
要となる。即ち、本発明実施例装置では試料室内空間全
体が高温になるため、当該空間からX線検出器8を温度
的に隔離させる必要がある。
【0021】図2は、試料室外にX線検出器8の移動す
るための機構を示したものである。X線検出器8の試料
室外への移動は、X線検出器移動用レール10に移動可
能な形で固定されているX線検出器移動用ガイド19お
よびX線検出器8を、X線検出器移動つまみ20を回転
させることにより行われる。また、X線検出器移動用レ
ール10には、その両端にX線検出器8の移動範囲を制
限するX線検出器ストッパーA21およびB22が固定
されており、X線検出器8の両端には、X線検出器スト
ッパーA21およびB22を繋ぐ直線上にX線検出器配
置確認用タッチセンサーA23およびB24が固定され
ている。
【0022】上記X線検出器8を、X線検出器移動つま
み20を用いて試料室外部まで移動させると、X線検出
器ストッパーA21にX線検出器配置確認用タッチセン
サーA23が接触し、X線検出器配置確認用タッチセン
サーA23はX線検出器8が試料室外にあることを知ら
せる信号を制御部15に送る。一方、X線検出器8が試
料室内2に配置されている場合は、X線検出器ストッパ
ーB22にX線検出器配置確認用タッチセンサーB24
が接触し、X線検出器配置確認用タッチセンサーB24
はX線検出器8が試料室内2にあることを知らせる信号
を制御部に送る。
【0023】図3は、X線検出器8と試料室内2を空間
的に遮断する遮蔽板9の機構の詳細を示したものであ
る。試料室壁16の内側にある遮蔽板9は、試料室壁1
6の外側に取り付けられている歯車A26と回転可能な
形で固定されており、遮蔽板9の中点に対称な円周上に
は遮蔽板位置確認用タッチセンサーA28およびB29
が固定されている。また、歯車A26は、試料室壁16
の外側に回転可能な形で固定されている歯車B27と噛
み合わされている。
【0024】さらにX線検出器導入ポート35の下端に
は遮蔽板ストッパーA33が試料室壁16の内側に固定
されており、遮蔽板ストッパーA33を通る装置設置面
に平行した直線上には、遮蔽板ストッパーB34が同じ
く試料室壁16の内側に固定されている。遮蔽板9の開
閉は、歯車A26に固定された遮蔽板開閉つまみ30を
回転させることにより行われる。遮蔽板9を回転させX
線検出器導入ポート35を閉じると、遮蔽板位置確認用
タッチセンサーA28が遮蔽板ストッパーA33と接触
する。このとき遮蔽板位置確認用タッチセンサーA28
が作動し、遮蔽板9がX線検出器導入ポート35を閉じ
ていることを知らせる信号を制御部15に送る。この信
号を受けた制御部15は、歯車B27と噛み合う形に成
型されている歯車ロック31と固定された圧力シリンダ
ー32を起動し、歯車B27を固定することにより遮蔽
板9の開閉を不可能とする。
【0025】一方、X線検出器導入ポート35が開いて
いる場合は、遮蔽板位置確認用タッチセンサーB29は
遮蔽板ストッパーB34と接触し、X線検出器導入ポー
ト35が開いていることを知らせる信号を制御部15に
送る。以上の構成によれば、ヒューマンエラーによるX
線検出器8の破損を未然に防ぐことができる。
【0026】本実施例では、熱からの保護対象をX線検
出器8としているが、本発明を用いることにより、熱か
らの保護を必要とされるX線検出器8以外のものに対し
ても当然対応可能である。また、本実施例では、X線検
出器8の移動および遮蔽板9の開閉は手動で行われてい
るが、これにモーター,制御部などを付加して自動制御
することも当然可能である。
【0027】次に、本発明における、試料室内部2を加
熱殺菌制御する手法を図4のフローチャートに沿って以
下に示す。
【0028】まず始めに、X線検出器8を試料室外に移
動させ、遮蔽板9を用いてX線検出器導入ポート35を
閉じると、X線検出器配置確認用タッチセンサーA23
および遮蔽板位置確認用タッチセンサーA28から制御
部15に信号が送られる。次に、制御操作画面14にあ
る試料室加熱設定を選択すると、試料室加熱設定画面が
表示される。
【0029】この試料室加熱設定画面に加熱温度および
加熱時間を入力し加熱開始ボタンを選択すると、制御部
15は、X線検出器8の電源を停止し、加熱開始ボタン
選択時の試料室内の圧力を保持するよう排気系13を制
御する。次に、制御部15がX線検出器8の電源が停止
していること、および遮蔽板9が閉じていることを確認
すると、歯車ロック31に固定された圧力シリンダー3
2を起動し遮蔽板9をロックし、試料室内2の加熱を開
始する。
【0030】試料室内2の加熱が開始されると、温度測
定器7が動作し、試料室内温度を測定する。次に、試料
室内2の温度が設定温度に到達すると、加熱時間タイマ
が動作し設定された加熱時間をカウントする。また加熱
時間タイマの動作中、熱線は設定温度を保つよう制御部
15により調節される。加熱設定時間に到達し、加熱タ
イマのカウントが終了すると、制御部15は試料室内2
の加熱を停止する。温度測定器7による試料室内2の温
度測定は、試料室内2が常温(室温)になるまで行わ
れ、試料室内温度が常温になると試料室内2の温度測定
を停止する。
【0031】この時制御部15は、試料室内2の温度が
常温になったことを確認し、制御操作画面14のX線検
出器8および排気系13の制御動作をオペレーターに開
放し、遮蔽板9のロックを解除する。なお、本実施例で
は加熱殺菌制御を一つの制御部15で行っているが、X
線検出器8と電子顕微鏡がそれぞれ個別に制御部15を
持っていたとしても、各制御部間で情報の交換が可能で
あれば、前述した本発明の制御は可能である。
【0032】次に、試料室内部を加熱殺菌する際の誤動
作防止機構についての詳細を示す。図5乃至図9は、本
発明の電子顕微鏡の制御操作画面14を示したものであ
る。電子顕微鏡による試料3の観察や元素分析は、観察
36および元素分析37のアイコンを選択することによ
り行われる。
【0033】図6は、図5の試料室加熱設定アイコン3
8を選択した際の制御操作画面14である。試料室加熱
設定アイコン38を選択すると、観察36および元素分
析37アイコンの表示が制御操作画面14から消えて、
試料室内加熱設定画面39が表示される。ここで、観察
36および元素分析37アイコンの表示が制御操作画面
14から消えることにより、オペレーターは観察,元素
分析の操作が行えなくなる。
【0034】またこのとき表示された試料室内加熱設定
画面39は、加熱殺菌が終了するまで常時表示される。
次に、試料室内加熱設定画面39にある設定温度40お
よび、設定時間41アイコンに数値を入力し、加熱開始
アイコン42を選択すると、試料室内加熱殺菌が開始さ
れ、図7に示すように、試料室内加熱中を知らせる表示
44が試料室内加熱設定画面39に表示される。また、
試料室内の加熱を加熱途中で停止する場合には加熱停止
アイコン43を選択する。
【0035】一方、加熱開始アイコン42を選択した際
に、X線検出器8が試料室内2に導入されている、もし
くは遮蔽板9が開いている時は、図8に示すようにX線
検出器8を試料室外に移動し遮蔽板9を閉じる作業を促
す警告表示45が、試料室内加熱設定画面39に表示さ
れる。
【0036】またこのとき加熱開始アイコン42は、X
線検出器8を試料室外に移動し、遮蔽板9を閉じる作業
が完了されるまで表示されなくなる。続いて図9は、試
料室内加熱殺菌が終了し、試料室内2の温度が室温に到
達した際の制御操作画面14を示したものである。
【0037】試料室内加熱殺菌が終了すると、加熱殺菌
作業が終了したことを知らせる表示46が試料室内加熱
設定画面39に表示され、これと同時に、図5で表示さ
れていた観察36および元素分析37アイコンの表示が
復帰する。このような構成によれば、オペレーターのヒ
ューマンエラーに基づくX線検出器等の素子の破損を未
然に防ぐことができる。
【0038】
【発明の効果】本発明による試料室内加熱機能を用いる
ことにより、試料室内に存在するウイルス,バクテリ
ア,菌類などの微生物を、試料室内で死滅することが可
能となる。これにより微生物を生きた状態で試料室外の
大気に放出することを防ぐことが可能となる。
【0039】また、試料室内の加熱に伴うX線検出器な
どの機能劣化または破損を防ぐことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の加熱機構が搭載された電子顕微鏡。
【図2】X線検出器を移動する機構を示した図。
【図3】X線検出器と試料室内を遮断する遮蔽板の機構
を示した図。
【図4】試料室内を加熱殺菌制御する手法を示したフロ
ーチャート。
【図5】試料室内を加熱殺菌制御する際の制御操作画面
を示した模式図(その1)。
【図6】試料室内を加熱殺菌制御する際の制御操作画面
を示した模式図(その2)。
【図7】試料室内を加熱殺菌制御する際の制御操作画面
を示した模式図(その3)。
【図8】試料室内を加熱殺菌制御する際の制御操作画面
を示した模式図(その4)。
【図9】試料室内を加熱殺菌制御する際の制御操作画面
を示した模式図(その5)。
【符号の説明】
1…電子銃鏡筒、2…試料室・試料室内、3…試料、4
…試料台、5…試料ステージ、6…二次粒子検出器、7
…試料室内温度測定器、8…X線検出器、9…遮蔽板、
10…X線検出器移動用レール、11…アナライザ、1
2…試料室内加熱熱線、13…排気系、14…制御操作
画面(CRT)、15…制御部、16…試料室壁、17
…X線検出器先端、18…X線検出器移動用レールシャ
フト、19…X線検出器移動用ガイド、20…X線検出
器移動つまみ、21…X線検出器ストッパーA、22…
X線検出器ストッパーB、23…X線検出器配置確認用
タッチセンサーA、24…X線検出器配置確認用タッチ
センサーB、25…フランジ、26…歯車A、27…歯
車B、28…遮蔽板位置確認用タッチセンサーA、29
…遮蔽板位置確認用タッチセンサーB、30…遮蔽板開
閉つまみ、31…歯車ロック、32…圧力シリンダー、
33…遮蔽板ストッパーA、34…遮蔽板ストッパー
B、35…X線検出器導入ポート、36…観察アイコ
ン、37…元素分析アイコン、38…試料室加熱設定ア
イコン、39…試料室加熱設定画面、40…設定温度入
力アイコン、41…設定時間入力アイコン、42…試料
室内温度表示、43…加熱開始アイコン、44…加熱停
止アイコン、45…試料室内加熱中告知表示、46…試
料室内加熱動作警告表示、47…試料室内加熱終了告知
表示。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 和田 正夫 茨城県ひたちなか市大字市毛1040番地 株 式会社日立サイエンスシステムズ内 Fターム(参考) 5C001 BB01 5C033 NN04

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】観察対象試料を配置するための試料室を備
    えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含む試料
    室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴とする
    電子顕微鏡。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記加熱機構は、前記試料室の内壁に形成されているこ
    とを特徴とする電子顕微鏡。
  3. 【請求項3】請求項1において、 前記加熱機構は、前記試料室内壁に形成され、前記試料
    を包囲するように配置される熱線を含むことを特徴とす
    る電子顕微鏡。
  4. 【請求項4】請求項1において、 前記加熱機構は、前記試料室内温度を50℃以上に加熱
    可能であることを特徴とする電子顕微鏡。
  5. 【請求項5】試料に電子線を照射するための電子線鏡筒
    と、前記試料を配置するための試料室と、前記試料に対
    する電子線の照射に起因して発生するX線検出器を備え
    た電子顕微鏡において、 前記試料室内を加熱する加熱機構と、 前記X線検出器を前記試料室空間から隔離する手段を備
    えたことを特徴とする電子顕微鏡。
  6. 【請求項6】請求項5において、 前記X線検出器を前記試料室外に移動する移動手段と、
    当該移動手段によって移動されたX線検出器と前記試料
    室との間を遮蔽する遮蔽板を備えたことを特徴とする電
    子顕微鏡。
  7. 【請求項7】請求項6において、 前記X線検出器の配置を認識するセンサーを備え、前記
    X線検出器が試料室外に配置されている場合に前記遮蔽
    板を開閉可能に制御する制御手段を備えたことを特徴と
    する電子顕微鏡。
  8. 【請求項8】請求項6において、 前記加熱機構による加熱が行われている場合、前記遮蔽
    板の開放を禁止するように制御する制御手段を備えたこ
    とを特徴とする電子顕微鏡。
  9. 【請求項9】請求項6において、 前記X線検出器が試料室内にある場合、前記加熱機構に
    よる加熱を禁止するように制御する制御手段を備えたこ
    とを特徴とする電子顕微鏡。
  10. 【請求項10】請求項5において、 前記加熱機構の動作を制御するための操作手段を備え、
    前記加熱機構による試料室内の加熱が行われている場
    合、前記操作手段による他の操作を禁止するように制御
    することを特徴とする電子顕微鏡。
  11. 【請求項11】請求項5において、前記加熱機構による
    加熱の状態を表示する手段を備えたことを特徴とする電
    子顕微鏡。
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