JP2001196650A - 熱電変換素子モジュール - Google Patents
熱電変換素子モジュールInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被温度制御体を均一に温度制御可能であり、
かつ、所望の温度分布を得ることが可能な熱電変換素子
モジュールを提供する。 【解決手段】 複数の熱電変換素子6,7と、これらを
互いに接続する電極8とを備え、被温度制御体12に接
触又は近接させて被温度制御体12を温度制御する熱電
変換素子モジュール4において、熱電変換素子6,7の
断面積Aと高さLとの比A/Lを各部位で、又は同心状
に相違させることにより、被温度制御体12に所望の温
度分布を与えて温度制御することを特徴とする熱電変換
素子モジュール。
かつ、所望の温度分布を得ることが可能な熱電変換素子
モジュールを提供する。 【解決手段】 複数の熱電変換素子6,7と、これらを
互いに接続する電極8とを備え、被温度制御体12に接
触又は近接させて被温度制御体12を温度制御する熱電
変換素子モジュール4において、熱電変換素子6,7の
断面積Aと高さLとの比A/Lを各部位で、又は同心状
に相違させることにより、被温度制御体12に所望の温
度分布を与えて温度制御することを特徴とする熱電変換
素子モジュール。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱電変換素子モジ
ュールに関する。
ュールに関する。
【0002】
【従来の技術】以下、温度調整プレートを例にとって、
従来技術を説明する。半導体ウェハの製造工程は、半導
体ウェハ等の基板を加熱するベーキング処理工程や、加
熱した基板を室温レベルにまで冷却するクーリング処理
工程等の温度制御工程を含んでいる。これらのベーキン
グ処理やクーリング処理は、温度調整プレート上に基板
を載せて行なわれる。このとき、温度調整プレート上の
基板は、半導体素子の製造を良好に行なうために、なる
べく基板の全面にわたって均一な温度で加熱又は冷却さ
れることが望ましい。図8、図9に、従来技術に係る温
度調整プレートの側面断面図及びそのA−A視平面図を
示す。同図において、温度調整プレート1は、基板12
を載置する載置プレート2と、冷却水を流す冷却プレー
ト3とを備えており、これらのプレート2,3の間に、
複数個の熱電変換素子モジュール4を介装している。
従来技術を説明する。半導体ウェハの製造工程は、半導
体ウェハ等の基板を加熱するベーキング処理工程や、加
熱した基板を室温レベルにまで冷却するクーリング処理
工程等の温度制御工程を含んでいる。これらのベーキン
グ処理やクーリング処理は、温度調整プレート上に基板
を載せて行なわれる。このとき、温度調整プレート上の
基板は、半導体素子の製造を良好に行なうために、なる
べく基板の全面にわたって均一な温度で加熱又は冷却さ
れることが望ましい。図8、図9に、従来技術に係る温
度調整プレートの側面断面図及びそのA−A視平面図を
示す。同図において、温度調整プレート1は、基板12
を載置する載置プレート2と、冷却水を流す冷却プレー
ト3とを備えており、これらのプレート2,3の間に、
複数個の熱電変換素子モジュール4を介装している。
【0003】熱電変換素子モジュール4は、一定の断面
積及び高さを有する複数のp型熱電変換素子6とn型熱
電変換素子7とを交互に配置し、この上部同士及び下部
同士を電極8,8で互いに接続することにより構成され
ている。電極8,8とプレート2,3との間は、電気的
に絶縁で、かつ高熱伝導率を有する接着剤9,9によっ
て接着固定されている。そして、熱電変換素子モジュー
ル4に図示しない制御回路から電流を流すことによって
上下の電極8,8間に温度差を生じさせ、載置プレート
2上の突起11に載置された基板12を冷却又は加熱し
て温度制御を行なう。
積及び高さを有する複数のp型熱電変換素子6とn型熱
電変換素子7とを交互に配置し、この上部同士及び下部
同士を電極8,8で互いに接続することにより構成され
ている。電極8,8とプレート2,3との間は、電気的
に絶縁で、かつ高熱伝導率を有する接着剤9,9によっ
て接着固定されている。そして、熱電変換素子モジュー
ル4に図示しない制御回路から電流を流すことによって
上下の電極8,8間に温度差を生じさせ、載置プレート
2上の突起11に載置された基板12を冷却又は加熱し
て温度制御を行なう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術には、次に述べるような問題がある。即ち従来技
術によれば、断面積及び高さの等しいp,n型の熱電変
換素子6,7からなる熱電変換素子モジュール4を、プ
レート2,3間に略均一な分布で並べている。従って、
載置プレート2の表面は、略均一に加熱又は冷却され
る。ところが、このとき載置プレート2は、載置される
基板12に対して一回り大きく形成されるのが一般的で
ある。そのため、載置プレート2に載置された基板12
の外周部が、基板12よりも外周側にある載置プレート
2の外周部によって余剰に加熱又は冷却され、基板12
上の温度分布が不均一なものになるという問題がある。
また、載置プレート2と基板12との大きさを揃えたと
しても、載置プレート2の下部に設置された熱電変換素
子モジュール4の配置や空気の温度条件等によっては、
基板12に同心状の不均一な温度分布が生じることもあ
る。また、このような温度調整プレート1を利用して基
板以外の被温度制御体を加熱又は冷却する際に、例えば
中央部をより強く冷却して同心状の温度勾配を設けたい
といった要求が生じる場合がある。しかしながら、従来
技術の温度調整プレート1を用いては、常に被温度制御
体の中央部が一定熱量だけ余剰に加熱又は冷却された温
度分布となり、所望の温度分布を得ることは困難であ
る。さらに、同心状だけでなく、任意の温度分布を得る
ことは、より困難である。
来技術には、次に述べるような問題がある。即ち従来技
術によれば、断面積及び高さの等しいp,n型の熱電変
換素子6,7からなる熱電変換素子モジュール4を、プ
レート2,3間に略均一な分布で並べている。従って、
載置プレート2の表面は、略均一に加熱又は冷却され
る。ところが、このとき載置プレート2は、載置される
基板12に対して一回り大きく形成されるのが一般的で
ある。そのため、載置プレート2に載置された基板12
の外周部が、基板12よりも外周側にある載置プレート
2の外周部によって余剰に加熱又は冷却され、基板12
上の温度分布が不均一なものになるという問題がある。
また、載置プレート2と基板12との大きさを揃えたと
しても、載置プレート2の下部に設置された熱電変換素
子モジュール4の配置や空気の温度条件等によっては、
基板12に同心状の不均一な温度分布が生じることもあ
る。また、このような温度調整プレート1を利用して基
板以外の被温度制御体を加熱又は冷却する際に、例えば
中央部をより強く冷却して同心状の温度勾配を設けたい
といった要求が生じる場合がある。しかしながら、従来
技術の温度調整プレート1を用いては、常に被温度制御
体の中央部が一定熱量だけ余剰に加熱又は冷却された温
度分布となり、所望の温度分布を得ることは困難であ
る。さらに、同心状だけでなく、任意の温度分布を得る
ことは、より困難である。
【0005】本発明は、上記の問題に着目してなされた
ものであり、被温度制御体を均一に温度制御可能で、か
つ、所望の温度分布を得ることが可能な熱電変換素子モ
ジュールを提供することを目的としている。
ものであり、被温度制御体を均一に温度制御可能で、か
つ、所望の温度分布を得ることが可能な熱電変換素子モ
ジュールを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】上記の目
的を達成するために、第1発明は、複数の熱電変換素子
と、これらを互いに接続させる電極とを備え、被温度制
御体に接触又は近接させて被温度制御体を温度制御する
熱電変換素子モジュールにおいて、熱電変換素子の断面
積と高さとの比を各部位で相違させている。
的を達成するために、第1発明は、複数の熱電変換素子
と、これらを互いに接続させる電極とを備え、被温度制
御体に接触又は近接させて被温度制御体を温度制御する
熱電変換素子モジュールにおいて、熱電変換素子の断面
積と高さとの比を各部位で相違させている。
【0007】第1発明によれば、熱電変換素子の断面積
と高さとの比を各部位ごとに相違させて配置している。
熱電変換素子の熱交換能力は、この比に略比例するの
で、熱電変換素子モジュールにおいて、熱交換能力の異
なる熱電変換素子が各部位ごとに配置されることにな
る。これにより、各部位ごとに熱の交換量を制御し、任
意の温度分布を形成することが可能となる。従って、被
温度制御体の各部位に対して、細かい温度制御が可能で
ある。特に、被温度制御体の外周部は、周囲の影響を受
けやすく、また、温度分布が不均一になりやすい。従っ
て、このような外周部近傍に、断面積と高さとの比を変
えた熱電変換素子を配置することにより、被温度制御体
の温度を精密に制御することができる。
と高さとの比を各部位ごとに相違させて配置している。
熱電変換素子の熱交換能力は、この比に略比例するの
で、熱電変換素子モジュールにおいて、熱交換能力の異
なる熱電変換素子が各部位ごとに配置されることにな
る。これにより、各部位ごとに熱の交換量を制御し、任
意の温度分布を形成することが可能となる。従って、被
温度制御体の各部位に対して、細かい温度制御が可能で
ある。特に、被温度制御体の外周部は、周囲の影響を受
けやすく、また、温度分布が不均一になりやすい。従っ
て、このような外周部近傍に、断面積と高さとの比を変
えた熱電変換素子を配置することにより、被温度制御体
の温度を精密に制御することができる。
【0008】また、第2発明は、複数の熱電変換素子
と、これらを互いに接続させる電極とを備え、被温度制
御体に接触又は近接させて被温度制御体を温度制御する
熱電変換素子モジュールにおいて、熱電変換素子の断面
積と高さとの比を同心的に相違させている。
と、これらを互いに接続させる電極とを備え、被温度制
御体に接触又は近接させて被温度制御体を温度制御する
熱電変換素子モジュールにおいて、熱電変換素子の断面
積と高さとの比を同心的に相違させている。
【0009】第2発明によれば、熱電変換素子モジュー
ルの熱電変換素子における断面積と高さとの比を同心的
に相違させている。熱電変換素子の熱交換能力は、この
比に略比例するので、熱電変換素子モジュールにおい
て、熱交換能力の異なる熱電変換素子が同心的に並ぶこ
とになる。従って、この熱電変換素子モジュールを近づ
けた被温度制御体に対して任意の同心的な温度分布を得
ることが可能となる。例えばウェハなどの略円形の被温
度制御体は、同心的な温度勾配が生じやすい。従って、
これを温度制御する場合には、熱電変換素子を同心的に
並べることにより、温度勾配を打ち消すことが可能であ
り、これによって均一な温度制御が可能となる。即ち、
熱電変換素子モジュールが被温度制御体の外縁よりも外
周にまで配設されているような場合には、中央部近傍に
比が大きい熱電変換素子を、外周部に比が小さい熱電変
換素子をそれぞれ配置することにより、被温度制御体を
均一に加熱又は冷却することが可能である。また、熱電
変換素子モジュールの配設されている範囲が被温度制御
体の外縁よりも内周に留まっているような場合には、中
央部近傍に比が小さい熱電変換素子を、外周部に比が大
きい熱電変換素子をそれぞれ配置することにより、被温
度制御体を均一に加熱又は冷却することが可能である。
ルの熱電変換素子における断面積と高さとの比を同心的
に相違させている。熱電変換素子の熱交換能力は、この
比に略比例するので、熱電変換素子モジュールにおい
て、熱交換能力の異なる熱電変換素子が同心的に並ぶこ
とになる。従って、この熱電変換素子モジュールを近づ
けた被温度制御体に対して任意の同心的な温度分布を得
ることが可能となる。例えばウェハなどの略円形の被温
度制御体は、同心的な温度勾配が生じやすい。従って、
これを温度制御する場合には、熱電変換素子を同心的に
並べることにより、温度勾配を打ち消すことが可能であ
り、これによって均一な温度制御が可能となる。即ち、
熱電変換素子モジュールが被温度制御体の外縁よりも外
周にまで配設されているような場合には、中央部近傍に
比が大きい熱電変換素子を、外周部に比が小さい熱電変
換素子をそれぞれ配置することにより、被温度制御体を
均一に加熱又は冷却することが可能である。また、熱電
変換素子モジュールの配設されている範囲が被温度制御
体の外縁よりも内周に留まっているような場合には、中
央部近傍に比が小さい熱電変換素子を、外周部に比が大
きい熱電変換素子をそれぞれ配置することにより、被温
度制御体を均一に加熱又は冷却することが可能である。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、本発明
による実施形態を詳細に説明する。尚、各実施形態にお
いて、前記従来技術の説明に使用した図、及びその実施
形態よりも前出の実施形態の説明に使用した図と同一の
要素には同一符号を付し、重複説明は省略する。
による実施形態を詳細に説明する。尚、各実施形態にお
いて、前記従来技術の説明に使用した図、及びその実施
形態よりも前出の実施形態の説明に使用した図と同一の
要素には同一符号を付し、重複説明は省略する。
【0011】まず、第1実施形態を説明する。図1は、
本実施形態による温度調整プレート1の断面図、図2は
そのA−A視平面図、そして図3は図2のS部詳細図を
示している。尚、以下の各実施形態においては、基板を
冷却する場合について説明するが、加熱する場合も全く
同様である。同図において、温度調整プレート1は、基
板12を載置する円板状の載置プレート2を備え、この
載置プレート2に対向して冷却水を流す冷却プレート3
を略平行に配置している。載置プレート2と冷却プレー
ト3とは、冷却する基板12の直径よりも一回り大きな
直径を有している。冷却プレート3は、内部に冷却水路
13を有しており、この冷却水路13に冷却水を流し
て、基板12を冷却した際に生じる熱を放熱する。
本実施形態による温度調整プレート1の断面図、図2は
そのA−A視平面図、そして図3は図2のS部詳細図を
示している。尚、以下の各実施形態においては、基板を
冷却する場合について説明するが、加熱する場合も全く
同様である。同図において、温度調整プレート1は、基
板12を載置する円板状の載置プレート2を備え、この
載置プレート2に対向して冷却水を流す冷却プレート3
を略平行に配置している。載置プレート2と冷却プレー
ト3とは、冷却する基板12の直径よりも一回り大きな
直径を有している。冷却プレート3は、内部に冷却水路
13を有しており、この冷却水路13に冷却水を流し
て、基板12を冷却した際に生じる熱を放熱する。
【0012】載置プレート2の上面部には、基板12を
位置決めする突起11が屹立しており、その上に基板1
2が載置プレート2に略平行に載置されている。温度調
整プレート1は、載置プレート2と略同心の略円形の中
央領域14と、その外周の外周領域15とに分かれてい
る。そして、中央領域14においては、載置プレート2
の厚さを冷却プレート3側に厚みtだけ厚くした肉厚部
10を設けている。これに伴い、中央領域14における
載置プレート2と冷却プレート3との間隔は、外周領域
15における両者の間隔に比較して、厚みtの分だけ狭
くなっている。
位置決めする突起11が屹立しており、その上に基板1
2が載置プレート2に略平行に載置されている。温度調
整プレート1は、載置プレート2と略同心の略円形の中
央領域14と、その外周の外周領域15とに分かれてい
る。そして、中央領域14においては、載置プレート2
の厚さを冷却プレート3側に厚みtだけ厚くした肉厚部
10を設けている。これに伴い、中央領域14における
載置プレート2と冷却プレート3との間隔は、外周領域
15における両者の間隔に比較して、厚みtの分だけ狭
くなっている。
【0013】載置プレート2と冷却プレート3との間に
は、複数個の熱電変換素子モジュール18,19が介装
されている。このような熱電変換素子モジュール18,
19は、複数個のp型熱電変換素子6とn型熱電変換素
子7とを交互に配置すると共に、隣接するp型熱電変換
素子6とn型熱電変換素子7との一端同士及び他端同士
を、それぞれ電極8,8で接続することにより構成され
ている。以下、熱電変換素子6,7という場合には、p
型熱電変換素子6とn型熱電変換素子7からなるペアを
指すものとする。これらの電極8,8と載置プレート2
の下面及び冷却プレート3の上面との間は、それぞれ電
気的に絶縁で、かつ高熱伝導率を有する接着剤(図示せ
ず)によって接着固定されている。
は、複数個の熱電変換素子モジュール18,19が介装
されている。このような熱電変換素子モジュール18,
19は、複数個のp型熱電変換素子6とn型熱電変換素
子7とを交互に配置すると共に、隣接するp型熱電変換
素子6とn型熱電変換素子7との一端同士及び他端同士
を、それぞれ電極8,8で接続することにより構成され
ている。以下、熱電変換素子6,7という場合には、p
型熱電変換素子6とn型熱電変換素子7からなるペアを
指すものとする。これらの電極8,8と載置プレート2
の下面及び冷却プレート3の上面との間は、それぞれ電
気的に絶縁で、かつ高熱伝導率を有する接着剤(図示せ
ず)によって接着固定されている。
【0014】熱電変換素子モジュール18,19は、載
置プレート2の肉厚部10の下方(即ち温度調整プレー
ト1の中央領域14)に配置された第1の熱電変換素子
モジュール18と、温度調整プレート1の外周領域15
に配置された第2の熱電変換素子モジュール19とに分
かれている。このとき、中央領域14に配置された第1
の熱電変換素子モジュール18の熱電変換素子の高さL
1は、外周領域15に配置された第2の熱電変換素子モ
ジュール19の熱電変換素子の高さL2よりも厚みtの
分だけ低くなって、L1=L2−tとなっている。
置プレート2の肉厚部10の下方(即ち温度調整プレー
ト1の中央領域14)に配置された第1の熱電変換素子
モジュール18と、温度調整プレート1の外周領域15
に配置された第2の熱電変換素子モジュール19とに分
かれている。このとき、中央領域14に配置された第1
の熱電変換素子モジュール18の熱電変換素子の高さL
1は、外周領域15に配置された第2の熱電変換素子モ
ジュール19の熱電変換素子の高さL2よりも厚みtの
分だけ低くなって、L1=L2−tとなっている。
【0015】図4に、熱電変換素子モジュール18,1
9の斜視図を示す。同図において、熱電変換素子モジュ
ール18,19のp型及びn型熱電変換素子6,7のそ
れぞれの断面積の合計をA、高さをLとする。このと
き、熱電変換素子6,7の熱交換能力Qは、断面積Aと
高さLとの比A/Lに比例する。即ち、断面積Aが大き
いほど熱交換能力Qが大きく、高さLが低いほどやはり
熱交換能力Qが大きくなる。
9の斜視図を示す。同図において、熱電変換素子モジュ
ール18,19のp型及びn型熱電変換素子6,7のそ
れぞれの断面積の合計をA、高さをLとする。このと
き、熱電変換素子6,7の熱交換能力Qは、断面積Aと
高さLとの比A/Lに比例する。即ち、断面積Aが大き
いほど熱交換能力Qが大きく、高さLが低いほどやはり
熱交換能力Qが大きくなる。
【0016】従って、載置プレート2の中心近傍の中央
領域14においては、熱電変換素子6,7の高さL1が
外周領域15における熱電変換素子6,7の高さL2よ
りも低いために、第1の熱電変換素子モジュール18
は、第2の熱電変換素子モジュール19よりも熱交換能
力Qが大きくなっている。即ち、中央領域14において
は、外周領域15よりも熱交換能力Qが大きいので、載
置プレート2をより低い温度に冷却することが可能であ
る。
領域14においては、熱電変換素子6,7の高さL1が
外周領域15における熱電変換素子6,7の高さL2よ
りも低いために、第1の熱電変換素子モジュール18
は、第2の熱電変換素子モジュール19よりも熱交換能
力Qが大きくなっている。即ち、中央領域14において
は、外周領域15よりも熱交換能力Qが大きいので、載
置プレート2をより低い温度に冷却することが可能であ
る。
【0017】以上説明したように本実施形態によれば、
温度調整プレート1に配置した熱電変換素子モジュール
18,19の熱電変換素子6,7の高さL1,L2を、
中央領域14と外周領域15とで同心円状に変化させて
いる。これにより、温度調整プレート1の中央領域14
とその外周の外周領域15とでは、熱電変換素子モジュ
ール4の高さL1,L2が異なるため、熱交換能力Qが
同心的に異なって設定される。従って、温度調整プレー
ト1に載置した基板12等の被温度制御体に対して同心
的な温度分布を任意に設定可能である。
温度調整プレート1に配置した熱電変換素子モジュール
18,19の熱電変換素子6,7の高さL1,L2を、
中央領域14と外周領域15とで同心円状に変化させて
いる。これにより、温度調整プレート1の中央領域14
とその外周の外周領域15とでは、熱電変換素子モジュ
ール4の高さL1,L2が異なるため、熱交換能力Qが
同心的に異なって設定される。従って、温度調整プレー
ト1に載置した基板12等の被温度制御体に対して同心
的な温度分布を任意に設定可能である。
【0018】また、中央領域14においては熱電変換素
子6,7の高さL1を低くし、外周領域15においては
熱電変換素子6,7の高さL2を高くしている。上述し
たように、従来技術に係る温度調整プレート1は、すべ
ての熱電変換素子6,7の高さLが均一であるため、載
置プレート2が均一に冷却される。そのため、これを用
いて一回り小さな基板12を冷却した場合には、基板1
2の外周部がより強く冷却され、温度分布に不均一が生
じる。これに対し、本実施形態に係る温度調整プレート
1は、中央領域14における第1の熱電変換素子モジュ
ール18の熱電変換素子6,7の高さL1が、外周領域
15における第2の熱電変換素子モジュール19の熱電
変換素子6,7の高さL2よりも低い。従って、載置プ
レート2の中央領域14をより強く冷却可能であり、そ
の結果、載置プレート2に載置された基板12を略均一
に冷却することが可能となる。勿論、このことは加熱に
関しても同様である。尚、上記の説明では載置プレート
2に肉厚部10を設けるようにしたが、これは冷却プレ
ート3に設けてもよい。
子6,7の高さL1を低くし、外周領域15においては
熱電変換素子6,7の高さL2を高くしている。上述し
たように、従来技術に係る温度調整プレート1は、すべ
ての熱電変換素子6,7の高さLが均一であるため、載
置プレート2が均一に冷却される。そのため、これを用
いて一回り小さな基板12を冷却した場合には、基板1
2の外周部がより強く冷却され、温度分布に不均一が生
じる。これに対し、本実施形態に係る温度調整プレート
1は、中央領域14における第1の熱電変換素子モジュ
ール18の熱電変換素子6,7の高さL1が、外周領域
15における第2の熱電変換素子モジュール19の熱電
変換素子6,7の高さL2よりも低い。従って、載置プ
レート2の中央領域14をより強く冷却可能であり、そ
の結果、載置プレート2に載置された基板12を略均一
に冷却することが可能となる。勿論、このことは加熱に
関しても同様である。尚、上記の説明では載置プレート
2に肉厚部10を設けるようにしたが、これは冷却プレ
ート3に設けてもよい。
【0019】次に、第2実施形態を説明する。図5、図
6は、第2実施形態に係る温度調整プレートのそれぞれ
側面断面図及びA−A視平面図である。同図において、
載置プレート2の下部及び冷却プレート3の上部には、
セラミック材等からなる上下の伝熱板17,17が、そ
れぞれ高熱伝導率の接着剤を介して接着されている。こ
れらの伝熱板17,17の間には、熱電変換素子モジュ
ール20,21が介装され、電極8,8と伝熱板17,
17との間は、やはり同様の接着剤を介して接着されて
いる。温度調整プレート1は、中心近傍の中央領域14
とその外周部の外周領域15とを有しており、本実施形
態ではその厚みは一定である。そして、中央領域14に
は、断面積Aの大きな熱電変換素子6,7を用いた第3
の熱電変換素子モジュール20が、外周領域15には、
断面積Aの小さな熱電変換素子6,7を用いた第4の熱
電変換素子モジュール21が、それぞれ配置されてい
る。
6は、第2実施形態に係る温度調整プレートのそれぞれ
側面断面図及びA−A視平面図である。同図において、
載置プレート2の下部及び冷却プレート3の上部には、
セラミック材等からなる上下の伝熱板17,17が、そ
れぞれ高熱伝導率の接着剤を介して接着されている。こ
れらの伝熱板17,17の間には、熱電変換素子モジュ
ール20,21が介装され、電極8,8と伝熱板17,
17との間は、やはり同様の接着剤を介して接着されて
いる。温度調整プレート1は、中心近傍の中央領域14
とその外周部の外周領域15とを有しており、本実施形
態ではその厚みは一定である。そして、中央領域14に
は、断面積Aの大きな熱電変換素子6,7を用いた第3
の熱電変換素子モジュール20が、外周領域15には、
断面積Aの小さな熱電変換素子6,7を用いた第4の熱
電変換素子モジュール21が、それぞれ配置されてい
る。
【0020】上述したように、熱電変換素子モジュール
20,21は、熱電変換素子の断面積Aが大きいほど熱
交換能力Qが大きくなる。従って、従来技術に係る、同
じ断面積Aの熱電変換素子を並べた温度調整プレート1
と比較すると、本実施形態の温度調整プレート1は、載
置プレート2の中央領域14をより強く冷却することが
可能である。即ち、このような温度調整プレート1を用
いて基板12を冷却することにより、温度分布を均一に
基板12を冷却することができる。
20,21は、熱電変換素子の断面積Aが大きいほど熱
交換能力Qが大きくなる。従って、従来技術に係る、同
じ断面積Aの熱電変換素子を並べた温度調整プレート1
と比較すると、本実施形態の温度調整プレート1は、載
置プレート2の中央領域14をより強く冷却することが
可能である。即ち、このような温度調整プレート1を用
いて基板12を冷却することにより、温度分布を均一に
基板12を冷却することができる。
【0021】尚、上記第1、第2実施形態においては、
第1実施形態については熱電変換素子6,7の高さL
1,L2を、第2実施形態についてはその断面積Aを、
それぞれ独立して同心円状に変化させるように説明した
が、どちらを変化させてもよく、さらには両方を変化さ
せてもよい。即ち、中央領域14と外周領域15とで、
比A/Lを変化させるようにすればよく、これらを適宜
組み合わせて選択することにより、構成の幅が広がるこ
とになる。例えば中央領域14には断面積Aが大きく、
かつ高さLの低い熱電変換素子モジュールを、外周領域
15には断面積Aが小さく、かつ高さLが高い熱電変換
素子を用いた熱電変換素子モジュールを配置してもよ
い。
第1実施形態については熱電変換素子6,7の高さL
1,L2を、第2実施形態についてはその断面積Aを、
それぞれ独立して同心円状に変化させるように説明した
が、どちらを変化させてもよく、さらには両方を変化さ
せてもよい。即ち、中央領域14と外周領域15とで、
比A/Lを変化させるようにすればよく、これらを適宜
組み合わせて選択することにより、構成の幅が広がるこ
とになる。例えば中央領域14には断面積Aが大きく、
かつ高さLの低い熱電変換素子モジュールを、外周領域
15には断面積Aが小さく、かつ高さLが高い熱電変換
素子を用いた熱電変換素子モジュールを配置してもよ
い。
【0022】また、上記各実施形態においては、中央領
域14と外周領域15とにおいてそれぞれ1個ずつの熱
電変換素子モジュール18,19,20,21を設ける
ようにしたが、これに限られるものではなく、例えば、
複数個の熱電変換素子モジュール20,21から構成さ
れるようにしてもよい。図7にその配置の一例を示す。
同図は、図6と同様の視点から見た温度調整プレート1
の平面図である。同図において、中央領域14には断面
積Aの大きな第3の熱電変換素子モジュール20を配置
し、外周領域15には断面積Aの小さな第4の熱電変換
素子モジュール21を、放射状に複数個配置している。
熱電変換素子モジュール20,21は、このように長方
形等の形状で予めモジュール化されて市販されているこ
とが多く、このようにすれば、市販の熱電変換素子モジ
ュール20,21を並べることにより、基板12を均一
な温度で冷却することが可能となる。
域14と外周領域15とにおいてそれぞれ1個ずつの熱
電変換素子モジュール18,19,20,21を設ける
ようにしたが、これに限られるものではなく、例えば、
複数個の熱電変換素子モジュール20,21から構成さ
れるようにしてもよい。図7にその配置の一例を示す。
同図は、図6と同様の視点から見た温度調整プレート1
の平面図である。同図において、中央領域14には断面
積Aの大きな第3の熱電変換素子モジュール20を配置
し、外周領域15には断面積Aの小さな第4の熱電変換
素子モジュール21を、放射状に複数個配置している。
熱電変換素子モジュール20,21は、このように長方
形等の形状で予めモジュール化されて市販されているこ
とが多く、このようにすれば、市販の熱電変換素子モジ
ュール20,21を並べることにより、基板12を均一
な温度で冷却することが可能となる。
【0023】或いは、熱電変換素子6,7を互いにすべ
て直列させて、1個の熱電変換素子モジュールを形成す
るようにしてもよく、この場合には1個の熱電変換素子
モジュールの中で、場所によって熱電変換素子6,7の
高さLが異なることになる。
て直列させて、1個の熱電変換素子モジュールを形成す
るようにしてもよく、この場合には1個の熱電変換素子
モジュールの中で、場所によって熱電変換素子6,7の
高さLが異なることになる。
【0024】尚、上記各実施形態で、温度調整プレート
1を中央領域14と外周領域15との2個の領域に分
け、熱電変換素子6,7の断面積Aと高さLとの比A/
Lを2段階に分けるようにしているが、これに限られる
ものではない。即ち、温度調整プレート1をさらに多く
の領域に分け、比A/Lを、中央部から外周部に向かっ
て同心円状に、段階的に変化させるようにすれば、より
細かな温度制御が可能となる。また、中央領域14と外
周領域15とは、互いに同心的に区別されていればよ
く、中央領域14の形状は円形に限定されることはな
い。例えば、中央領域14を六角形等の多角形状として
もよい。
1を中央領域14と外周領域15との2個の領域に分
け、熱電変換素子6,7の断面積Aと高さLとの比A/
Lを2段階に分けるようにしているが、これに限られる
ものではない。即ち、温度調整プレート1をさらに多く
の領域に分け、比A/Lを、中央部から外周部に向かっ
て同心円状に、段階的に変化させるようにすれば、より
細かな温度制御が可能となる。また、中央領域14と外
周領域15とは、互いに同心的に区別されていればよ
く、中央領域14の形状は円形に限定されることはな
い。例えば、中央領域14を六角形等の多角形状として
もよい。
【0025】また、各実施形態では基板12を冷却又は
加熱する場合のみについて説明し、基板12の温度が略
均一になるように中央領域14における熱電変換素子
6,7の高さLを低くしたり、断面積Aを大きくしたり
したが、このような温度調整プレート1の応用範囲はそ
れだけに限られるものではない。即ち、断面積Aと高さ
Lとの比A/Lを大きくするほど熱交換能力Qを大きく
できるので、同心的な温度分布を任意に形成することが
可能となる。例えば、半導体製造装置のプロセスチャン
バ等において、プロセスチャンバの壁面にこのような温
度調整プレート1を当接して冷却するような場合にも、
使用可能である。このときは、温度調整プレート1より
も壁面のほうが大きいため、均一な断面積Aと高さLと
の比A/Lを有する熱電変換素子モジュールを並べて
は、中央部においてより強く冷却されるようになる。従
って、例えば外周部における熱電変換素子6,7の比A
/Lを大きくするようにすれば、壁面を均一に冷却可能
である。或いは、例えば壁面の中央をさらに強く冷却し
たいような場合には、中央部における比A/Lを大きく
するようにすればよい。
加熱する場合のみについて説明し、基板12の温度が略
均一になるように中央領域14における熱電変換素子
6,7の高さLを低くしたり、断面積Aを大きくしたり
したが、このような温度調整プレート1の応用範囲はそ
れだけに限られるものではない。即ち、断面積Aと高さ
Lとの比A/Lを大きくするほど熱交換能力Qを大きく
できるので、同心的な温度分布を任意に形成することが
可能となる。例えば、半導体製造装置のプロセスチャン
バ等において、プロセスチャンバの壁面にこのような温
度調整プレート1を当接して冷却するような場合にも、
使用可能である。このときは、温度調整プレート1より
も壁面のほうが大きいため、均一な断面積Aと高さLと
の比A/Lを有する熱電変換素子モジュールを並べて
は、中央部においてより強く冷却されるようになる。従
って、例えば外周部における熱電変換素子6,7の比A
/Lを大きくするようにすれば、壁面を均一に冷却可能
である。或いは、例えば壁面の中央をさらに強く冷却し
たいような場合には、中央部における比A/Lを大きく
するようにすればよい。
【0026】また、上記の各実施形態は、温度調整モジ
ュール1についてのみ説明したが、単体の熱電変換素子
モジュールを直接被温度制御体に接触又は当接させる場
合の、熱電変換素子6,7の配置に対して応用してもよ
い。即ち、熱電変換素子モジュールを単体で被温度制御
体に接触又は近接させて温度制御を行なうような場合
に、その中央部と外周部とで熱電変換素子の断面積Aと
高さLとの比A/Lを変化させるようにすればよい。こ
の際、中央部における比A/Lを、外周部よりも大きく
するようにすれば、均一な温度分布で被温度制御体を加
熱又は冷却することが可能となる。
ュール1についてのみ説明したが、単体の熱電変換素子
モジュールを直接被温度制御体に接触又は当接させる場
合の、熱電変換素子6,7の配置に対して応用してもよ
い。即ち、熱電変換素子モジュールを単体で被温度制御
体に接触又は近接させて温度制御を行なうような場合
に、その中央部と外周部とで熱電変換素子の断面積Aと
高さLとの比A/Lを変化させるようにすればよい。こ
の際、中央部における比A/Lを、外周部よりも大きく
するようにすれば、均一な温度分布で被温度制御体を加
熱又は冷却することが可能となる。
【0027】さらには、複数個の熱電変換素子モジュー
ル群を被温度制御体に接触又は近接して並べて温度制御
を行なう際にも応用可能である。即ち、中央部に配置さ
れる熱電変換素子モジュールと外周部に配置される熱電
変換素子モジュールとで、その中に含まれる熱電変換素
子の断面積Aと高さLとの比A/Lを変化させればよ
い。例えば、図7に示したように比A/Lの大きな熱電
変換素子モジュールを中央部に、比A/Lの小さな熱電
変換素子モジュールを外周部に配置し、その電極に被温
度制御体を接触又は近接させれば、被温度制御体を均一
に冷却又は加熱することが可能である。このような熱電
変換素子又は熱電変換素子モジュールの配置により、被
温度制御体を所望の温度分布で加熱又は冷却することが
可能である。
ル群を被温度制御体に接触又は近接して並べて温度制御
を行なう際にも応用可能である。即ち、中央部に配置さ
れる熱電変換素子モジュールと外周部に配置される熱電
変換素子モジュールとで、その中に含まれる熱電変換素
子の断面積Aと高さLとの比A/Lを変化させればよ
い。例えば、図7に示したように比A/Lの大きな熱電
変換素子モジュールを中央部に、比A/Lの小さな熱電
変換素子モジュールを外周部に配置し、その電極に被温
度制御体を接触又は近接させれば、被温度制御体を均一
に冷却又は加熱することが可能である。このような熱電
変換素子又は熱電変換素子モジュールの配置により、被
温度制御体を所望の温度分布で加熱又は冷却することが
可能である。
【図1】第1実施形態に係る温度調整プレートの側面断
面図。
面図。
【図2】図1のA−A視平面図。
【図3】図2のS部詳細図。
【図4】熱電変換素子モジュールの斜視図。
【図5】第2実施形態に係る温度調整プレートの側面断
面図。
面図。
【図6】図5のA−A視平面図。
【図7】温度調整プレートの平面図。
【図8】従来技術に係る温度調整プレートの断面図。
【図9】図8のA−A視平面図。
1:温度調整プレート、2:載置プレート、3:冷却プ
レート、4:熱電変換素子モジュール、6:p型熱電変
換素子、7:n型熱電変換素子、8:電極、9:接着
剤、10:肉厚部、11:突起、12:基板、13:冷
却水路、14:中央領域、15:外周領域、17:伝熱
板、18:第1の熱電変換素子モジュール、19:第2
の熱電変換素子モジュール、20:第3の熱電変換素子
モジュール、21:第4の熱電変換素子モジュール。
レート、4:熱電変換素子モジュール、6:p型熱電変
換素子、7:n型熱電変換素子、8:電極、9:接着
剤、10:肉厚部、11:突起、12:基板、13:冷
却水路、14:中央領域、15:外周領域、17:伝熱
板、18:第1の熱電変換素子モジュール、19:第2
の熱電変換素子モジュール、20:第3の熱電変換素子
モジュール、21:第4の熱電変換素子モジュール。
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の熱電変換素子(6,7)と、 これらを互いに接続する電極(8)とを備え、 被温度制御体(12)に接触又は近接させて被温度制御体(1
2)を温度制御する熱電変換素子モジュールにおいて、 熱電変換素子(6,7)の断面積(A)と高さ(L)との比(A/L)を
各部位で相違させたことを特徴とする熱電変換素子モジ
ュール。 - 【請求項2】 複数の熱電変換素子(6,7)と、 これらを互いに接続する電極(8)とを備え、 被温度制御体(12)に接触又は近接させて被温度制御体(1
2)を温度制御する熱電変換素子モジュールにおいて、 熱電変換素子(6,7)の断面積(A)と高さ(L)との比(A/L)を
同心的に相違させたことを特徴とする熱電変換素子モジ
ュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000005066A JP2001196650A (ja) | 2000-01-13 | 2000-01-13 | 熱電変換素子モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000005066A JP2001196650A (ja) | 2000-01-13 | 2000-01-13 | 熱電変換素子モジュール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001196650A true JP2001196650A (ja) | 2001-07-19 |
Family
ID=18533753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000005066A Pending JP2001196650A (ja) | 2000-01-13 | 2000-01-13 | 熱電変換素子モジュール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001196650A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003101086A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-04 | Citizen Watch Co Ltd | 熱電素子とその製造方法 |
WO2005098980A1 (ja) * | 2004-04-08 | 2005-10-20 | Tokyo Electron Limited | 基板載置台および熱処理装置 |
JP2014072009A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Fujitsu Ltd | 全固体二次電池 |
JP2016042525A (ja) * | 2014-08-18 | 2016-03-31 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 熱電変換モジュール |
JPWO2014155591A1 (ja) * | 2013-03-27 | 2017-02-16 | 株式会社日立製作所 | 高効率熱電変換ユニット |
JP2018026533A (ja) * | 2016-08-08 | 2018-02-15 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
US10147862B2 (en) * | 2016-08-08 | 2018-12-04 | Denso Corporation | Electronic control device |
KR20190038098A (ko) * | 2017-09-29 | 2019-04-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 열전 소자 |
-
2000
- 2000-01-13 JP JP2000005066A patent/JP2001196650A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003101086A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-04 | Citizen Watch Co Ltd | 熱電素子とその製造方法 |
WO2005098980A1 (ja) * | 2004-04-08 | 2005-10-20 | Tokyo Electron Limited | 基板載置台および熱処理装置 |
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KR20190038098A (ko) * | 2017-09-29 | 2019-04-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 열전 소자 |
KR102355281B1 (ko) * | 2017-09-29 | 2022-01-25 | 엘지이노텍 주식회사 | 열전 소자 |
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