JP2001153887A - プローブカード - Google Patents

プローブカード

Info

Publication number
JP2001153887A
JP2001153887A JP33856899A JP33856899A JP2001153887A JP 2001153887 A JP2001153887 A JP 2001153887A JP 33856899 A JP33856899 A JP 33856899A JP 33856899 A JP33856899 A JP 33856899A JP 2001153887 A JP2001153887 A JP 2001153887A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
block
probe needle
needle
holding plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33856899A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuya Okawa
竜也 大川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP33856899A priority Critical patent/JP2001153887A/ja
Publication of JP2001153887A publication Critical patent/JP2001153887A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高真空雰囲気、高温雰囲気等の過酷な環境で
も十分使用できるように、プローブ針を強固に固定する
構成を備えたプローブカードを提供する。 【解決手段】 本プローブカードは、プローブ針14を
固定するプローブブロック20として、上端部でプロー
ブカード基板に固定される上部ブロック22と、上部ブ
ロック22に埋め込みボルト24で連結、締結される下
部ブロック26とを備え、更に、上部ブロック22と下
部ブロック26との間に、下部挟持板28と上部挟持板
32とからなる絶縁性プローブ針挟持治具を有する。上
部ブロック及び下部ブロックはステンレス鋼で形成され
ている。下部挟持板は、下部ブロック上に設けられ、金
属に比べて剛性の低い絶縁性のテフロン板である。下部
挟持板の上面には、基板の電極の配置に合わせて配列さ
れ、かつ深さがプローブ針の直径より浅いV溝30が形
成され、プローブ針を収容する。上部挟持板は、テフロ
ン板である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブカードに
関し、更に詳細には、過酷な使用環境下でも十分使用で
きるようにプローブ針を強固に保持するプローブブロッ
クを備えたプローブカードに関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程では、工程終了時
に、チップの電気的特性を測定することが必要になる。
チップの電気的特性は、通常、プローブカードと呼ばれ
る測定器具を使って測定される。プローブカードは、被
測定体の電極、例えば液晶などに代表される基板やパネ
ル電極の電極と、テスト回路やLCDパターン発生器と
を接続するために、各電極の配置に合わせて導通性のプ
ローブ針(接触針)を配列したカードであって、プロー
ブ針を電極に接触させることにより、被測定体の電極を
テスト回路やLCDパターン発生器に接続している。
【0003】ここで、図3を参照して、プローブカード
の構成を説明する。図3はプローブカードの構成を示す
模式的側面図である。プローブカード10は、図3に示
すように、プローブカード基板12と、プローブ針14
と、プローブカード基板12に取り付けられ、プローブ
針14を支持するプローブブロック16とから構成され
ている。プローブ針14は、直径が0.5mmから1.
0mm程度の線状の金属導体であって、被測定体、この
例では基板Bの電極に先端14aで接触し、他端14b
でパターン発生器(図示せず)のリード線に接続し、こ
れにより基板Bの電極をパターン発生器に電気的に接続
する。
【0004】プローブ針14を基板Bの電極に接触させ
る際には、プローブカード10又は被測定体、即ち電極
を有する基板Bを昇降させて、プローブ針14を基板B
の電極に接触させる。接触に際し、プローブ針14には
数gから数10gの針圧が発生するので、この針圧に耐
えるように、プローブ針14を固定することが必要であ
る。そこで、従来のプローブ10では、プローブ針14
をプローブブロック16上に配列した状態で熱硬化性樹
脂等でプローブ針14を充填し、それによってプローブ
針14をプローブブロック16に固定している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のような
従来のプローブ10には、熱硬化性樹脂によるプローブ
針の固定に関し、以下に挙げるような問題があった。第
1には、真空ポンプ等を使って真空吸引して真空雰囲気
の測定環境を作り、その真空雰囲気下でチップの電気的
特性を測定しようとすると、プローブ針14を固定した
熱硬化性樹脂から、ガスが多く発生して真空度を低下さ
せ、折角、真空吸引して得た真空雰囲気の測定環境を維
持できず、そのために、10-5Pa程度の真空圧までし
か使用できないという問題である。第2には、高温の使
用雰囲気下では、熱硬化性樹脂の固定強度が低下すると
いう問題である。第3には、熱硬化性樹脂材料という狭
い範囲でしか材料選定の自由がなく、熱硬化性樹脂材料
の種類が限定されているため、用途に応じた樹脂材料の
使い分けが困難であるという問題である。
【0006】そこで、本発明の目的は、高真空雰囲気、
高温雰囲気等の過酷な環境でも十分使用できるように、
プローブ針を強固に固定する構成を備えたプローブカー
ドを提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るプローブカードは、プローブ針を下端
で保持し、上端でプローブカード基板に連結されたプロ
ーブブロックを有するプローブカードにおいて、プロー
ブブロックが、プローブカード基板に取り付けられる上
部ブロックと、上部ブロックに締結される下部ブロック
と、プローブ針を挟持する絶縁性プローブ針挟持治具と
を備え、プローブ針を挟持した絶縁性プローブ針挟持治
具を上部ブロックの下端面と下部ブロックの上端面との
間に介在させ、上部ブロックと下部ブロックとを締結す
ることにより、プローブ針を強固に挟持するようにした
ことを、特徴としている。
【0008】本発明では、上部ブロックと下部ブロック
との間でプローブ針挟持治具を介してプローブ針を挟持
しているので、高真空雰囲気、高温雰囲気等の過酷な使
用環境でも、プローブ針を強固に保持することができ、
不都合なガス等を放出するようなこともない。上部ブロ
ック及び下部ブロックの材料は、剛性の高い材料、例え
ばステンレス鋼、高硬度鋼、アルミニウム等の金属を使
用する。
【0009】本発明の好適な実施態様では、絶縁性プロ
ーブ針挟持治具が、下部ブロックより剛性の低い下部挟
持板と、下部挟持板に対面し、上部ブロックより剛性の
低い上部挟持板とで形成され、下部挟持板と下部挟持板
との間にプローブ針を挟持し、下部ブロックと上部ブロ
ックとを締結してプローブ針を強固に挟持する。上部挟
持板及び下部挟持板の材料には、絶縁性に加えて、真空
圧、耐熱性、耐薬品性等を考慮し、使用環境に適した材
料を選択する。例えばテフロン、ベスペル、エラストマ
等をの比較的剛性が低い、変形し易い材料が好適であ
る。剛性の低い下部挟持板と上部挟持板との間にプロー
ブ針を挟み、剛性の高い下部ブロックと上部ブロックと
で締結することにより、プローブ針と上部及び下部挟持
板との接触面積が、圧縮による変形によって増大し、従
って挟持力が大きくなる。
【0010】本発明の更に好適な実施態様では、下部挟
持板にプローブ針の直径より浅いプローブ針収容溝が形
成されており、プローブ針収容溝に収容されたプローブ
針を上部挟持板を介して上部ブロックと下部ブロック本
体との間で挟持する。これにより、プローブ針と上部及
び下部挟持板との接触面積が、一層、増大し、挟持力が
大きくなる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に、実施形態例を挙げ、添付
図面を参照して、本発明の実施の形態を具体的かつ詳細
に説明する。実施形態例 本実施形態例は、本発明に係るプローブカードの実施形
態の一例であって、図1は本実施形態例のプローブブロ
ックの構成を示す展開斜視図、及び図2は組み立てた状
態のプローブブロックの斜視図である。図1及び図2
中、図3に示したものと同じものには同じ符号を説明を
省略する。本実施形態例のプローブカードは、図1に示
すように、プローブ針14を固定するプローブブロック
20として、上端部でプローブカード基板12(図3参
照)に固定される上部ブロック22と、上部ブロック2
2に埋め込みボルト24で連結、締結される下部ブロッ
ク26とを備えている。なお、上部ブロック22と下部
ブロック26との連結手段は、埋め込みボルト24に限
らない。そして、プローブブロック20は、上部ブロッ
ク22と下部ブロック26との間に、下部挟持板28と
上部挟持板32とからなる絶縁性プローブ針挟持治具を
備えている。
【0012】上部ブロック22及び下部ブロック26
は、金属等の剛性の高い材料、例えばステンレス鋼で形
成されている。下部ブロック26の厚さは、約5mmで
あり、上部ブロック22の厚さは50mm位である。下
部挟持板28は、下部ブロック26上に設けられ、金属
に比べて剛性の低く絶縁性のプラスチック等の材料、例
えばテフロンで形成された板状の部材、例えば厚さ2m
mから3mm程度の板体である。そして、下部挟持板2
8の上面には、基板の電極の配置に合わせて配列され、
かつ深さがプローブ針14の直径より浅いV溝30が形
成され、プローブ針14を収容するようになっている。
プローブ針14は、先端の接触部を下方に向けて収容さ
れている。上部挟持板32は、下部挟持板28と同様
に、金属に比べて剛性の低い絶縁性のプラスチック等の
材料、例えばテフロンで形成された平板状の部材、例え
ば厚さ2mmから3mm程度の板体であって、上部ブロ
ック22と下部挟持板28との間に介在する。上部挟持
板34及び下部挟持板30の材料には、絶縁性に加え
て、真空圧、耐熱性、耐薬品性等を考慮し、使用環境に
適した材料を選択する。
【0013】プローブ針14を固定する際には、先ず、
下部ブロック26上の下部挟持板28に設けられたV溝
32にプローブ針14を基板の電極の配置に合わせて配
列する。次いで、上部挟持板32をプローブ針14の上
に載せ、続いて下部ブロック26を持ち上げて上部ブロ
ック22に位置合わせし、埋め込みボルト24を締結し
て、図2に示すように、下部ブロック26と上部ブロッ
ク22とを連結し、締結することにより、下部挟持板2
8と上部挟持板32の間にプローブ針14を挟持し、確
実に保持できるプローブブロック20を組み立てること
ができる。組み立てたプローブブロック20をプローブ
カード基板12に取り付けると、本実施形態例のプロー
ブカードが完成する。
【0014】本実施形態例のプローブブロック20は、
相互に剛性の異なる、下部ブロック24と下部挟持板2
8、及び上部ブロック22と上部挟持板32を1対とし
て用い、プローブ針14を挟み、固定する。剛性の低い
下部挟持板28と上部挟持板32との間にプローブ針1
4を挟み、剛性の高い下部ブロック26と上部ブロック
22とで締結することにより、プローブ針14と挟持板
30、34との接触面積が、圧縮による変形によって増
大し、挟持力が大きくなる。下部挟持板28に形成さた
V溝32にプローブ針14を収容することにより、一
層、挟持力が大きくなる。絶縁性の下部挟持板28と上
部挟持板32との間にプローブ針14を挟持することに
より、プローブ針14に対する電気絶縁性を確保するこ
とができる。
【0015】本実施形態例では、上部ブロック22及び
下部ブロック26を剛性の高い材料で形成し、プローブ
ブロック20全体の剛性を大きくすることにより、強固
にプローブ針14を保持できるようになる。また、上部
ブロック22及び下部ブロック26の材料として剛性の
高い材料を選択するに当たり、絶縁性を必要としないの
で選択範囲は広くなる。上部ブロック22と下部ブロッ
ク26とを締結する手段は、埋め込み埋め込みボルト、
ボルト/ナットに限らず、チャック等でも良い。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、熱硬化性樹脂のような
使用条件に制約のある材料を使わないので、高温雰囲気
等の過酷な使用環境でも十分に使用できるプローブカー
ドを実現している。また、高真空雰囲気下のような特殊
環境下においても、ガス等を放出しないので、真空度を
低下させることなく使用できる。例えば、実績として1
-10Paの真空下において、210℃の高温雰囲気で
使用することができた。更には、メカニカルな機構でプ
ローブ針を固定しているので、組み立て、分解が容易で
ある。従って、プローブ針等のメンテナンス性に優れ、
プローブカードの使用目的に応じてプローブブロックの
材料を自在に変更することができる。また、熱硬化性樹
脂と違い耐薬品性に優れているので、エタノール等によ
る洗浄ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例のプローブブロックの構成を示す展
開斜視図である。
【図2】は組み立てた状態のプローブブロックの斜視図
である。
【図3】プローブカードの構成を示す模式的側面図であ
る。
【符号の説明】
10……プローブカード、12……プローブカード基
板、14……プローブ、16……プローブブロック、2
0……プローブブロック、22……上部ブロック、24
……埋め込みボルト、26……下部ブロック、28……
下部挟持板、30……V溝、32……上部挟持板。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プローブ針を下端で保持し、上端でプロ
    ーブカード基板に連結されたプローブブロックを有する
    プローブカードにおいて、プローブブロックが、 プローブカード基板に取り付けられる上部ブロックと、 上部ブロックに締結される下部ブロックと、 プローブ針を挟持する絶縁性プローブ針挟持治具とを備
    え、 プローブ針を挟持した絶縁性プローブ針挟持治具を上部
    ブロックの下端面と下部ブロックの上端面との間に介在
    させ、上部ブロックと下部ブロックとを締結することに
    より、プローブ針を強固に挟持するようにしたことを特
    徴とするプローブカード。
  2. 【請求項2】 絶縁性プローブ針挟持治具が、下部ブロ
    ックより剛性の低い下部挟持板と、下部挟持板に対面
    し、上部ブロックより剛性の低い上部挟持板とで形成さ
    れ、 下部挟持板と下部挟持板との間にプローブ針を挟持し、
    下部ブロックと上部ブロックとを締結してプローブ針を
    強固に挟持することを特徴とする請求項1に記載のプロ
    ーブカード。
  3. 【請求項3】 プローブ針の直径より浅いプローブ針収
    容溝が下部挟持板の上面に形成されており、プローブ針
    収容溝に収容されたプローブ針を上部挟持板を介して上
    部ブロックと下部ブロックとの間で挟持することを特徴
    とする請求項2に記載のプローブカード。
JP33856899A 1999-11-29 1999-11-29 プローブカード Pending JP2001153887A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33856899A JP2001153887A (ja) 1999-11-29 1999-11-29 プローブカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33856899A JP2001153887A (ja) 1999-11-29 1999-11-29 プローブカード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001153887A true JP2001153887A (ja) 2001-06-08

Family

ID=18319408

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33856899A Pending JP2001153887A (ja) 1999-11-29 1999-11-29 プローブカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001153887A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100786726B1 (ko) 2006-08-22 2007-12-21 (주)넴스프로브 프로브빔 슬롯 구조체
CN113108703A (zh) * 2021-04-12 2021-07-13 渭南高新区木王科技有限公司 一种测试探针中部外径检测装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100786726B1 (ko) 2006-08-22 2007-12-21 (주)넴스프로브 프로브빔 슬롯 구조체
CN113108703A (zh) * 2021-04-12 2021-07-13 渭南高新区木王科技有限公司 一种测试探针中部外径检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10256563B2 (en) Method for forming an electrical connection to a sample support in an electron microscope holder
TWI411792B (zh) 用於測試電測試樣本之電測試設備及電測試方法
US8149008B2 (en) Probe card electrically connectable with a semiconductor wafer
KR100942166B1 (ko) 전기적 접속 장치
TWI779192B (zh) 探針、檢查夾具、檢查裝置、以及探針的製造方法
US8456184B2 (en) Probe card for a semiconductor wafer
JP5225257B2 (ja) 半導体チップ検査用ソケット
US20100001752A1 (en) Parallelism adjusting mechanism of probe card
JP2005321305A (ja) 電子部品測定治具
WO2007015314A1 (ja) 電気的接続装置
TW200821586A (en) Probe card
CN1646922A (zh) 导电接触探头
CN111579956A (zh) 可调节表贴封装半导体器件夹具及测试方法
JP2008216060A (ja) 電気的接続装置
JP2001153887A (ja) プローブカード
CN107102253B (zh) 测试设备及其给电治具
JP2011047917A (ja) 半導体チップ検査用ソケット
CN209894841U (zh) 激光芯片的集成化夹具
JPH0883656A (ja) ボール・グリッド・アレイ半導体測定用ソケット
CN218082388U (zh) 一种接收机多板控制及高低温测试工装
JP5548339B2 (ja) 電気的接続装置
US12000862B2 (en) Probe apparatus
US20220206042A1 (en) Probe apparatus
US6579106B1 (en) Electrical connecting structure of a tape carrier package for a LCD driver
JPH02236461A (ja) 電気物性測定装置