JP2001153612A - 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置 - Google Patents

3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置

Info

Publication number
JP2001153612A
JP2001153612A JP33430399A JP33430399A JP2001153612A JP 2001153612 A JP2001153612 A JP 2001153612A JP 33430399 A JP33430399 A JP 33430399A JP 33430399 A JP33430399 A JP 33430399A JP 2001153612 A JP2001153612 A JP 2001153612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
interference
image pickup
subject
flowing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP33430399A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Kato
正彦 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP33430399A priority Critical patent/JP2001153612A/ja
Publication of JP2001153612A publication Critical patent/JP2001153612A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、3次元(3D)物体である被写体の
距離(位相)情報とRGB情報をリアルタイムに記録す
る小型で低コストな3D撮像システムとしての3次元撮
像装置及び方法並びに干渉光生成装置を提供する。 【解決手段】本発明の一態様によると、撮像した被写体
までの距離情報を取得することができる3次元撮像装置
であり、周波数差Δνをもつ2光束を干渉させて生成し
た流れる干渉縞パターンをもつ干渉光を被写体に照射す
る手段と、上記被写体より反射された干渉光を、上記周
波数差Δνで感度変調された撮像素子で撮像する手段と
を具備し、上記撮像素子の出力の位相情報に基づいて上
記被写体までの距離を求めることを特徴とする3次元撮
像装置が提供される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は3次元撮像装置及び
方法並びに干渉光生成装置に係り、特に、アクティブな
照明光を用いて、3次元(3D)物体である被写体の距
離(位相)情報とRGB情報をリアルタイムに記録する
3Dシステムとしての3D撮像装置及び方法並びに干渉
光生成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、物体の3次元(3D)情報を
把握するアクティブな手法として、 (1)スリット状の光束を走査するスリットスキャン方
式 (2)何らかのコード化された光パターンを投影する方
式 (3)投影する格子として、干渉縞を用い、変形前の格
子パターンと変形後の格子パターンとのモアレを用いる
方式 (4)輝度変調された光源と感度変調の可能なIIT
(イメージインテンシファイア管)とCCDとの組合わ
せ方式 などが知られている。
【0003】上記(1)のスリットスキャン方式は、ス
リット光束を3D物体に投影して、スリット光束の変形
を基線長だけ離れたカメラ(撮像装置)で撮影し、いわ
ゆる、三角測距の原理で3D物体の断面形状を測定する
手法であり、光切断手法とも呼ばれている。
【0004】そして、このようなスリットスキャン方式
では、スリット光束のメカニカルスキャンと組み合わせ
て、3D物体の距離画像を測定することができる。
【0005】また、上記(2)の光パターン投影方式も
基本的には、上記(1)のスリットスキャン方式と同じ
で、一種の空間的にコード化されたマルチスリットを利
用していると考えられる。
【0006】また、上記(3)のモアレを用いる方式
は、モアレ縞方式の一種で、R.E.Brooksらに
より提唱されたものである[R.E.Brooks e
t al:Appl.Optics,vol.8,N
o.5,pp935−939(1969),“Moir
e Gaging Using Optical In
terference Patterns参照]。
【0007】その要点は、トワイマン型干渉計で作られ
た干渉縞を変形前の物体に投影して写真をとり、このネ
ガティブ像を格子の標準として、前記干渉縞を変形後の
物体に投影したときの格子の変形をモアレ縞として観測
するものである。
【0008】また、上記(4)のIITとCCDとの組
合わせ方式は、光源の輝度変調の周波数と同じ周波数で
撮像部の感度変調を行い、3D物体までの往復に要する
時間に対応した位相のずれが撮像素子の各画素の濃淡に
変換されるものである。
【0009】これは、いわゆるtime of lig
ht法(略してTOP法)に属する方式で、2次元の距
離画像が一回の露光で同時に得られる。
【0010】また、このようにして得られた距離画像
に、別に得られた被写体のRGB画像を貼り付けて表示
することも行われている。
【0011】該RGB(あるいはテクスチャ)画像を得
るのに、距離画像用とRGB画像用と二眼の撮像素子を
用意する場合と、両者を共軸に配置して一眼の撮像素子
とする場合とがある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような(1)のスリットスキャン方式は、スリット光
束のメカニカルスキャンといった機械的走査を必要と
し、取込んだスリット像から3D物体の形状を三角測距
の原理で解釈し、復元するものであるが、ビデオレート
あるいはリアルタイムで3D情報を把握する点で難点が
ある。
【0013】また、上記(2)の光パターン投影方式
は、一部にリアルタイムの観点からは改善されているも
のもあるが、ビデオレートで観測したいという観点から
は、基本的には上記(1)のスリットスキャン方式と同
じ難点がある。
【0014】また、上記(3)のモアレを用いる方式
は、やはり、リアルタイムの観点から難点があるととも
に、モアレ縞の解釈が必要である。
【0015】また、上記(4)のIITとCCDとの組
合わせ方式は、IITが大型で高電圧を必要とし、高価
であるという難点があると共に、TOP法で距離分解能
を上げるためには、輝度変調の周波数を高く(例えば、
100MHz以上に)選ぶ必要がある。
【0016】これを小型で低電圧で、低コストにするに
は、固体撮像素子の感度変調を用いる方式が、特開平8
−313215号公報に開示されている。
【0017】しかるに、この特開平8−313215号
公報に開示されている方式では、輝度変調の周波数を高
くすることができない(例えば、10MHz以下)とい
う課題がある。
【0018】また、RGB画像を取得するのに、二眼式
とすると、距離画像とRGB画像と視点が異なり、ずれ
が生ずる不具合がある。
【0019】なお、共軸単眼とした場合には、このよう
なずれが生ずる問題を緩和することができるが、コスト
や大きさの点で改善が望まれる。
【0020】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、3次元(3D)物体である被写体の距離(位相)
情報とRGB情報をリアルタイムに記録する小型で低コ
ストな3D撮像システムとしての3次元撮像装置及び方
法並びに干渉光生成装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明によると、上記課
題を解決するために、(1) 撮像した被写体までの距
離情報を取得することができる3次元撮像装置であり、
周波数差Δνをもつ2光束を干渉させて生成した流れる
干渉縞パターンをもつ干渉光を被写体に照射する手段
と、上記被写体より反射された干渉光を、上記周波数差
Δνで感度変調された撮像素子で撮像する手段とを具備
し、上記撮像素子の出力の位相情報に基づいて上記被写
体までの距離を求めることを特徴とする3次元撮像装置
が提供される。
【0022】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(2) 撮像した被写体までの距離情報を取
得する3次元撮像方法であり、周波数差Δνをもつ光を
干渉させて生成した流れる干渉縞パターンをもつ干渉光
を被写体に照射するステップと、上記被写体より反射さ
れた干渉光を、上記周波数差Δνで感度変調された撮像
素子で撮像するステップと、上記撮像素子の出力の位相
情報に基づいて上記被写体までの距離を求めるステップ
とを具備することを特徴とする3次元撮像方法が提供さ
れる。
【0023】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(3) 1光束を分割して生成した複数光束
に所定の周波数差を与えて干渉させて干渉光を生成する
干渉光生成装置であり、反射面に進行波を形成可能な光
線反射手段により、上記所定の周波数差が与えられるこ
とを特徴とする干渉光生成装置が提供される。
【0024】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。
【0025】まず、本発明による3次元撮像装置及び方
法並びに干渉光生成装置において採用する原理について
説明する。
【0026】この発明において採用する原理は三角測量
を基本としたもので、詳細は、次に、述べるような流れ
る干渉縞を用いた3D撮像システムを実現したものであ
る。
【0027】すなわち、本発明の流れる干渉縞を用いた
3D撮像装置は、相異なる2周波数の差の周波数で流れ
る干渉縞を被写体に送光する第1モードの送光部と、こ
れと共用あるいは併設されたRGB用照明光を該被写体
に送光する第2モードの送光部と、該被写体の距離画像
を生成する、前記差の周波数で感度変調された第1モー
ドの撮像部と、これと共用あるいは併設された、該被写
体のRGB用画像を生成する第2モードの撮像部とを具
備することを特徴としている。
【0028】そして、上記第1モードの送光部において
は、光源と、該光源からの光束を二つの光束に分割する
第1のビームスプリッタと、その分割された少なくとも
一方の腕に挿入された周波数シフタと、該周波数シフタ
を透過した光束と他方の光束とを合波して流れる干渉縞
を生成する第2のビームスプリッタとを具備する流れる
干渉縞生成部と、該流れる干渉縞により対象とする被写
体を照明する送光光学系とを具備することを特徴として
いる。
【0029】また、上記干渉縞生成部においては、サグ
ナック(サニャック)型コモンパス干渉計と、該サグナ
ック型コモンパス干渉計を構成する一つの鏡に、該鏡面
に平行で、かつ前記干渉計のコモンパス面に平行に、超
音波の進行波を形成する進行波駆動部を具備するか、ま
たは前記鏡自体を振動あるいは移動させる機構とを具備
することを特徴としている。
【0030】また、上記干渉縞生成部において、可干渉
性光源と、該可干渉性光源の周波数を所定の周波数幅だ
け掃引する光源駆動部と、該光源からの光束を二つの光
束に分割する第1のビーム分割器と、その分割された一
方の腕に挿入された所定の長さの遅延光路と、該遅延光
路を透過した光束と他方の光束とを合波して流れる干渉
縞を生成する第2のビーム結合器と、前記遅延された光
束と他方の光束との間隔を可変とする機構を具備するこ
とを特徴とする。
【0031】さらに、上記干渉縞生成部において、光源
として周波数の僅かに異なる2周波レーザと、連続また
はパルス駆動された半導体レーザと、単色フィルタとを
具備した白色光源などを用いることを特徴とする。
【0032】また、上記感度変調された撮像部として
は、上述した特開平8−313215号公報に述べられ
ているCMD(Charge Modulation
Device)あるいはAMI(Amplified
MOS intel1igent Imager)など
の増幅型固体撮像素子を用いることを特徴とする。
【0033】また、上記感度変調された撮像部として
は、同じ系列のCMOSセンサやその他の固体撮像素子
を用いることを特徴とする。
【0034】そして、これらのゲート電極あるいは基板
の電位などを変調することにより、撮像素子の感度を変
調することができるものである。
【0035】以上のような原理により、3次元(3D)
物体である被写体の距離(位相)情報とRGB情報をリ
アルタイムに記録する小型で低コストな3D撮像装置を
実現することが可能となる。
【0036】すなわち、このような本発明の流れる干渉
縞を用いた3D撮像装置では、上記干渉縞生成部と、上
記第1及び第2のモードの送光部を含む送光光学系とに
より、被写体である3D物体上に差の周波数Δνで流れ
る干渉縞が投影され、3D物体の形状情報は、投影され
た干渉縞が空間的に変形することに反映されるととも
に、縞が流れることから、この変形が画素間の位相差と
して観測される。
【0037】図4の(a)、(b)は、この関係につい
て示している。
【0038】図4の(a)において、符号Aは、送光光
学系を表わし、符号Oは、該送光光学系から基線長AO
だけ離れた位置に設けられた撮像部を示している。
【0039】符号Bは、任意に設定された標準面nと撮
像部Bの光軸OPとの交点を表わし、前記送光光学系A
の光軸はABの方向を向き、撮像部Bの光軸OPと角θ
をなしている。
【0040】そして、ここでは、被写体として3D物体
を想定し、これを表現するために、標準面nから少し離
れた面mを想定する。
【0041】図4の(b)は、前記送光光学系Aから投
影された干渉縞のある瞬間でのパターンを表わし、例え
ば、ピッチpが等間隔にならんだ干渉縞からなり、これ
が差の周波数Δνで縞と直交する方向に流れているもの
とする。
【0042】この干渉縞は流れる縞なので、通常の干渉
縞のような空間的に定在した縞としては観測されない
が、各瞬間では、被写体が平面状のものであれば、等間
隔の縞が観測され、凹凸があると、図4の(b)中にΔ
xで例示されているように変形した縞が観測される。
【0043】さらに、縞が流れることから、この変形量
が時間軸に変換して対応付けられることにより、位相の
差として観測される。
【0044】図4の(a)において、標準面nと送光光
学系Aの光軸との交点Bは、これから少し遠くの面mで
は、点Qに移動する。
【0045】換言すると、光軸OBと面mとの交点をP
とすれば、PQが図4の(b)におけるΔxに対応す
る。
【0046】OB=L、BP=Δzとすると、 PQ=Δx=Δztanθ となる。
【0047】これから、θが既知で、Δxを測定してΔ
zを求めるというのが、いわゆる、光切断の考え方であ
る。
【0048】この方式は三角測量の原理に従っているか
ら、基線長AOが0の場合には感度が0となり、成立し
ない。
【0049】本発明では、さらに流れる干渉縞を利用し
てΔxを時間軸に変換し、画素間の位相の差として測定
する。
【0050】一方、従来の技術で示したTOP法は、基
線長AOが0の場合に相当し、光速をcとして、距離Δ
zを往復するのに要する時間2Δz/cを正確に分解し
て測定することにより、距離Δzを取得することができ
る。
【0051】この関係について、数式を用いて、より詳
しく説明する。
【0052】撮像素子面(x,y)上で観測される光強
度分布(物体光と呼ぶ)PINを PIN=a(x,y)+b(x,y)sin[2πΔνt+φ(x,y)] …(1) とする。
【0053】 ここに、a(x,y):DC成分(背景を含む)、 b(x,y):物体の振幅情報、 φ(x,y):物体の位相情報、 t:時間、 を意味する。
【0054】そして、縞がピッチpの間隔を流れるのに
要する時間は1/Δνとなり、変形量Δxに対応する時
間は、 (1/Δν)(Δx/p)=(1/Δ)(Δztanθ
/p) となる。
【0055】前記TOP法でΔzの距離を光が往復する
のに要する時間は2Δz/cであるから、時間の比をα
とすれば α=(1/Δν)(Δztanθ/p)c/l(2Δz) =ctanθ/(2pΔν) となる。
【0056】本発明は、流れる干渉縞を用いた光切断に
よる方法といえるが、この方法では、前記TOP法より
も、時間軸をαだけ引き伸ばして測定可能となる。
【0057】数値例をあげると、L=5m、基線長OA
=5cm、tanθ=OA/L=0.01、c=3×1
8 m/s、p=1cm、Δν=1MHzとした場合、
α=150となり、前記TOP法と比べて、例えば、1
50倍だけ時間軸を引き伸ばして測定することができる
ことになる。
【0058】2次元撮像素子の感度Sについて、振幅を
Cとしたとき、 S=C{1+sin2πΔνt} …(2) のようにΔνで感度変調する。
【0059】こうすると、(1)式の物体光PINの周波
数Δνで変化する成分を検波したことになる。
【0060】この検波された出力POUT この(3)式は、物体の振幅情報b(x,y)が掛かっ
ているが、物体の位相情報φ(x,y)が画素の濃淡と
して得られることを意味している。
【0061】そして、物体の振幅情報b(x,y)は、
別途2次元撮像素子の感度Sを変調させずに、流れる干
渉縞で照明された物体の像を撮像することにより、近似
的に得られる。
【0062】これを用いて前述の検波出力POUT を補正
することにより、物体の位相情報φ(x,y)が得られ
る。
【0063】あるいは、いわゆる縞走査法を適用して位
相情報φ(x,y)を検出することも可能である。
【0064】このようにして得られた結果を、いわゆる
三角測距の原理に基づいて解釈することにより、3D物
体の形状情報に変換することが可能となる。
【0065】次に、以上のような原理に基づく、本発明
の実施の形態について図1乃至図3及び図5を用いて説
明する。
【0066】図1の(a)は本発明による3次元撮像装
置及び方法並びに干渉光生成装置において採用する概念
的な構成を示す要部のブロック図である。
【0067】図1の(a)において、符号110は送光
部、符号111は、被写体100に相異なる2周波数の
差の周波数Δνで流れる干渉縞を送光する第1モードの
送光部、符号112はRGB用照明光を前記被写体10
0に送光する第2モードの送光部、符号120は撮像
部、符号121は前記差の周波数Δνで感度変調された
距離画像を生成する第1モードの撮像部、符号122は
RGB用画像を生成する第2モ一ドの撮像部、符号10
7は送光される照明光の一部を検出して前記第1モード
の撮像部121に感度変調信号を供給する導線を示して
いる。
【0068】図1の(b)は、図1の(a)における第
1モードの送光部111と撮像部121の構成を例示し
たもので、符号101は光源、符号102は干渉光学
系、符号103は送光光学系、符号104は撮像光学
系、符号105は感度変調駆動部、符号106は感度変
調型2次元固体撮像素子を示している。
【0069】第1モードの送光部111は、光源10
1、干渉光学系102、送光光学系103からなり、第
1モードの撮像部121は、撮像光学系104、感度変
調駆動部105、感度変調型2次元固体撮像素子106
からなる。
【0070】図2の(a)、(b)は、図1の(a)に
おける干渉光学系102として適用されるマッハツェン
ダ型干渉計を表わしている。
【0071】図2の(a)において、符号201は入力
光束、符号202、204はハーフミラー、符号20
3、206は鏡、符号207、208は2光束干渉計の
それぞれの腕に設けられた周波数シフタ、符号210は
出力光束を示している。
【0072】図2の(b)において、符号211は光源
101からのコリメートされた入力光束、符号212、
217は偏光プリズム、符号213及び214はλ/2
板、符号215、216は鏡、符号218は偏光子、符
号210は出力光束を示している。
【0073】図2の(c)は、図1の(a)における干
渉光学系102として適用される光ファイバを用いた干
渉計を表わしている。
【0074】図2の(c)において、符号223、22
4はレンズ、符号220、221は前記レンズ223、
224の焦点近傍にその一端を設置された光ファイバの
ような導光路を示し、それぞれが2光束干渉計の各腕を
形成する。
【0075】この内の一方(図では符号221)の腕の
長さを他方に比ベて所定の長さだけ長くすることによ
り、光がそれぞれの腕を通過するのに要する時間に差が
生ずるようにしてある。
【0076】図3の(a)、(b)はサグナック型コモ
ンパス干渉計の一つで、三角光路型干渉計を表わしてい
る。
【0077】図3の(a)において、符号301は入力
光束、符号302はビームスプリッタ、符号303、3
04は鏡を示している。
【0078】ここで、ビームスプリッタ302、鏡30
3、304は、図示右上の一点Oから発散する3本の直
線上に配置される。
【0079】また、鏡303、304の一方、例えば、
鏡303には、図3の(b)に示すように、駆動電極3
20が設けられ、超音波周波数で駆動される進行波33
0が該鏡303の鏡面に形成されるようになつている。
【0080】図3の(b)において、符号321は吸収
層、符号306は結合レンズを示し、符号307は鏡3
03を平行にシフ卜した状態を示している。
【0081】図5は、図1の(a)における第1モード
の撮像部121として適用される撮像部を表わしてい
る。
【0082】図5において、符号516は撮像レンズ、
符号513は分離プリズム、符号512はローパスフィ
ルタ、符号511はRGB用CCD、符号515はフィ
ルタ、符号514は測距用感度変調型固体撮像素子を示
している。
【0083】次に、以上のように構成される本発明の実
施の形態による3Dシステムの動作について説明する。
【0084】図1の(a)において、送光部110は第
1モードの送光部111と第2モードの送光部112か
ら構成されているが、両者は独立に併置されている(共
軸の構成に配置された場合を含む)か、あるいは後述す
るように前者が後者を兼用することも可能である。
【0085】ここで、第1モードの送光部111は、被
写体100に流れる干渉縞を照射する機能を持ち、その
詳細は、図1の(b)に示される。
【0086】また、第2モードの送光部112は、カメ
ラのフラッシュのように、白色光を照射する機能を持
つ。
【0087】これは、第2モードの撮像部122と共同
して被写体100のRGB信号を取得するのに用いられ
る。
【0088】図1の(b)において、光源101は運続
あるいはパルス駆動される。
【0089】この光源101から発射された光束は、単
一周波数かあるいは周波数がわずかに異なる2周波数成
分からなる。
【0090】前者の場合には、干渉光学系102で2光
束に分けられた後、その一方あるいは両方に設けられた
周波数シフト素子(図2の(a)における周波数シフタ
207,208)により、異なった2周波数成分の光束
に変換された後、再び合わせられ、2周波数の差の周波
数で流れる、いわゆる、流れる干渉縞を形成する。
【0091】後者の場合には、干渉光学系102で周波
数の異なる2光束に分けられた後、再び合わせられ、流
れる干渉縞を形成する。
【0092】このようにして形成された流れる干渉縞
は、照明光学系103により被写体100に投影され
る。
【0093】この照明光の一部は、光電変換されて導線
107を経て、感度変調駆動部105に供給され、前記
の差の周波数Δνで変化する参照信号となる。
【0094】そして、流れる干渉縞で照明された被写体
100は、照明光学系103に対して基線長だけ離れて
設置された撮像光学系104を介して感度変調型2次元
撮像素子106によって撮像される。
【0095】このようにして撮像された流れる干渉縞の
2次元の位相分布は、いわゆる、光切断の原理に基づい
て投影された被写体100の3次元(3D)形状情報を
反映している。
【0096】一方、この感度変調型2次元撮像素子10
6は、感度変調駆動部105により前記参照信号でその
感度が変調される。
【0097】このため、撮像された流れる干渉縞の2次
元位相分布は、上記(1)〜(3)式で示したように検
波され、感度変調型2次元撮像素子106の各画素にお
ける電荷の濃淡に変換される。
【0098】次に、以上における各構成部分の詳細例を
述べる。
【0099】まず、光源101としては、偏光面の異な
る2周波数ν1、ν2で発振する、いわゆる、ゼーマン
レーザを用いることができる。
【0100】この場合、干渉光学系102としては、図
2の(b)に示したマッハツェンダ型干渉計を用いるこ
とができる。
【0101】図2の(b)において、入力光束211
は、偏光プリズム212により、偏光方向の異なる(p
偏光とs偏光)、周波数がわずかに異なる(Δν=ν1
−ν2)二つの光束に分けられる。
【0102】これらは、λ/2板213、214、鏡2
15、216及び偏光プリズム217を経て再び合わせ
られ、pあるいはs偏光面に45゜の傾きをなして配置
された偏光子218により干渉する。
【0103】ここで、注意すべきことは、干渉する二つ
の波の周波数がわずかに異なる(Δν=ν1−ν2≠
0)ため、生成された干渉縞は空間的に定在せず、差の
周波数Δνで流れ、肉眼では縞が観測されないというこ
とであり、これを流れる干渉縞と称する。
【0104】尚、図2の(b)に例示した干渉計は公知
のものであり、種々の変形が可能である。
【0105】また、縞の間隔は、鏡215あるいは21
6の傾きで調整される(以下に例示される他の干渉計で
も同様である)。
【0106】また、光源101としては、任意の可干渉
性光源を用いることができる。
【0107】この場合には、干渉光学系102として図
2の(a)に示したマッハツェンダ型干渉計あるいは図
3の(a)、(b)に示した三角光路型コモンパス干渉
計を用いることができる。
【0108】図2の(a)において、周波数シフタ20
7、208としては、超音波セルのような音響光学的変
調器を用いることができる。
【0109】これらを駆動する周波数は、たとえば8
0.0MHzと80.1MHzといった具合にわずか異
なる値を選ぶものとする。
【0110】こうすることにより、出力光束210とし
て、これらの差の周波数Δν(=0.1MHz)で流れ
る干渉縞を得ることができる。
【0111】図3の(a)において、入力光束301
は、ビームスプリッタ302上の点Pで右回りと左回り
の2光束に分けられ、符号305で示される共通光路を
PQR、あるいはPRQと経て、再び、点Pで合わされ
て干渉する。
【0112】このとき、図3の(b)に示すように、鏡
303に設けられた電極320に超音波周波数の電界を
印加することによって形成された進行波330により、
前記右回りと左回りの2光束は異なるドップラシフトが
与えられる。
【0113】このため干渉光は、該ドップラシフト周波
数の倍の周波数で流れる干渉縞を生成する。
【0114】そして、吸収層321は発生した超音波を
吸収する。
【0115】この干渉計は構成が簡単で、2光束が光路
を共有することから、外部の振動に対して極めて安定で
あるとともに、光束を大きくすることができ、出力光量
の増大が容易に達成される利点がある。
【0116】また、鏡303を傾けるか、符号307の
位置にシフトさせることにより、前記右回りと左回りの
光路をシフトさせ、レンズ306を介して符号307、
308で示されるように、一定の交差角をもって干渉す
る。
【0117】これにより、干渉縞のピッチを変えること
ができる。
【0118】また、光源101としては、電流を変調し
た半導体レーザ(LD)を用いることができる。
【0119】この電流をΔi=αt、(α:定数、t:
時間)のように掃引するとLDの周波数は |Δν|=(c/λ2 )βαt(但し、λ:波長、β:
定数) のように時間とともに変化させることができる。
【0120】この場合、干渉光学系102としては、図
2の(c)に示した光ファイバを用いた干渉計を用いる
ことができる。
【0121】図2の(c)において、光がそれぞれの腕
を通過するのに要する時間に差が生ずるため、LDの周
波数が上記のように時間的に変化しているから、出力光
束210で観測される縞は流れる干渉縞となる。
【0122】また、光源101として、単色フィルタを
具備した、あるいはこれを省略した白色光源を用いるこ
ともできる。
【0123】特に、後者が利用できれば、第2モードの
送光部の光源を兼用することができるため、実用上大き
なメリットを有する。
【0124】この場合、干渉光学系102としては、図
3の(a),(b)に示した三角光路型コモンパス干渉
計を用いることができる。
【0125】この三角光路型コモンパス干渉計による
と、光路が共有されているために、可干渉距離の短い光
源でも安定に干渉縞が得られる。
【0126】しかも、鏡303に設けられた進行波33
0によるドップラシフトにより、流れる干渉縞を得るこ
とができる。
【0127】図5に示した撮像部は、第1モードの撮像
部である測距用感度変調型固体撮像素子514と第モー
ドの撮像部であるRGB用CCD511を、分離プリズ
ム513を介して同軸型に併置した例である。
【0128】ここで、フィルタ515としては、単色フ
ィルタ、あるいは干渉フィルタを用いることができる。
【0129】固体撮像素子は、一般に、電極電圧を変調
することにより、感度を変調することができる機能をも
つので、逆に、測距用感度変調型固体撮像素子514を
RGB用撮像素子として兼用することも可能である。
【0130】換言すると、第2モードの撮像部122を
第1モードの撮像部121で代用することもできる。
【0131】尚、上記実施の形態は、種々の変更を加え
ることが可能である。
【0132】例えば、感度変調型2次元撮像素子106
としては、上記のようにCMDあるいはAMIなどの、
増幅型固体撮像素子が好適であるが、同じ範疇であるC
MOSセンサ、イオンビーム打ち込み型センサ、蓄積型
アバランシェフォトダイオードを用いることもできる。
【0133】同様に、感度変調型2次元撮像素子106
としては、MOSフォトダイオードの開口形状を変化さ
せる機構を用いることができる。
【0134】あるいは、感度変調型2次元撮像素子10
6としては、CCDと液晶シャッタの組合わせや、CC
Dの電子シャッタを用いることができる。
【0135】さらに、感度変調型2次元撮像素子106
としては、複数の転送ゲートと、インフェイズ/アウト
フェイズの信号電荷を個別に蓄積する電荷蓄積部と、該
信号電荷を時間的に振り分ける機構を用いた撮像素子を
用いることができる。
【0136】また、感度変調型2次元撮像素子106と
しては、MSM(Metal−Semi−Meta
l)、ISI(Ins−Semi−Ins)、ヘテロ接
合光電膜などの光電流の極性を反転させる機構を用いる
ことができる。
【0137】さらに、例えば、三角光路型コモンパス干
渉計の代わりに、四角光路型コモンパス干渉計を用いる
ことができる。
【0138】これらはサグナック型干渉計とも呼ばれて
いる。
【0139】図3の(b)において、鏡303に超音波
の進行波を発生させて、右回りと左回りの光路にドップ
ラシフトを発生させたが、この代わりに、鏡303自体
を振動あるいは移動させることにより、同等の効果を得
ることができる。
【0140】また、干渉計としては、上記に例示した以
外にトワイマン型、マイケルソン型、フィゾー型などの
干渉計も用いることができる。
【0141】また、照明光は被写体として人物を撮るこ
とも考慮して、眼への安全性からパルス状に照明するこ
とが好ましい。
【0142】例えば、1msの持続パルスを考え、Δν
=1MHzとした場合、これには1000個のビート波
が入っているので、感度変調による検波には十分な数の
波が入っているといえる。
【0143】そして、上述したような実施の形態で示し
た本明細書には、特許請求の範囲に示した請求項1乃至
3以外にも、以下に付記1乃至付記13として示すよう
な発明が含まれている。
【0144】(付記1) 上記被写体までの距離を求め
るにあたり、上記照射する手段と上記撮像する手段との
間の距離を基線長とする3角測量で上記被写体までの距
離を求めることを特徴とする請求項1記載の3次元撮像
装置。
【0145】(付記2) 上記被写体にRGB用照明光
を照射する手段と、上記被写体のRGB画像を撮像する
手段と、をさらに具備することを特徴とする請求項1記
載の3次元撮像装置。
【0146】(付記3) 上記被写体より反射された平
渉光を感度変調されていない撮像素子で撮像するステッ
プと、上記感度変調されていない撮像素子の出力より振
幅情報を得るステップと、上記感度変調された撮像素子
の出力より上記振幅情報分を補正して上記位相情報を求
めるステップとをさらに具備することを特徴とする請求
項2記載の3次元撮像方法。
【0147】(付記4) 相異なる2周波数の差の周波
数で流れる干渉縞を被写体に送光する第1モードの送光
部と、この第1モードの送光部と共用あるいは併設され
たRGB用照明光を該被写体に送光する第2モードの送
光部と、該被写体の距離画像を生成する前記差の周波数
で感度変調された第1モードの撮像部と、この第1モー
ドの撮像部と共用あるいは併設され、該被写体のRGB
用画像を生成する第2モードの撮像部と、を具備するこ
とを特徴とする流れる干渉縞を用いた3D撮像装置。
【0148】(付記5) 上記第1モードの送光部は、
光源と、該光源からの光束を二つの光束に分割する第1
のビームスプリッタと、この分割された少なくとも一方
の腕に挿入された周波数シフタと、該周波数シフタを透
過した光束と他方の光束とを合波して流れる干渉縞を生
成する第2のビームスプリッタとを具備する干渉縞生成
部と、該流れる干渉縞により対象とする被写体を照明す
る送光光学系とを具備することを特徴とする付記4記載
の流れる干渉縞を用いた3D撮像装置。
【0149】(付記6) 上記干渉縞生成部は、サグナ
ック(サニャック)型コモンパス干渉計と、該サグナッ
ク型コモンパス干渉計を構成する一つの鏡に、該鏡面に
平行で、かつ前記干渉計のコモンパス面に平行に、超音
波の進行波を形成する進行波駆動部を具備するか、また
は前記鏡自体を振動あるいは移動させる機構とを具備す
ることを特徴とする付記5記載の流れる干渉縞を用いた
3D撮像装置。
【0150】(付記7) 上記サグナック型コモンパス
干渉計を構成する一つの鏡は、該鏡面に垂直な方向に、
該鏡を所定の距離だけ移動させる機構を具備することを
特徴とする付記6記載の流れる干渉縞を用いた3D撮像
装置。
【0151】(付記8) 上記干渉縞生成部は、可干渉
性光源と、該可干渉性光源の周波数を所定の周波数幅だ
け掃引する光源駆動部と、該光源からの光束を二つの光
束に分割する第1のビーム分割器と、この分割された一
方の腕に挿入された所定の長さの遅延光路と、該遅延光
路を透過した光束と他方の光束とを合波して流れる干渉
縞を生成する第2のビーム結合器と、前記遅延された光
束と他方の光束との間隔を可変とする機構とを具備する
ことを特徴とする付記5記載の流れる干渉縞を用いた3
D撮像装置。
【0152】(付記9) 上記干渉縞生成部は、縞走査
の機構を具備したことを特徴とする付記5記載の流れる
干渉縞を用いた3D撮像装置。
【0153】(付記10) 上記干渉縞生成部は、光源
として周波数および偏光方向の異なる二つの光波を有す
る2周波レーザを具備することを特徴とする付記5記載
の流れる干渉縞を用いた3D撮像装置。
【0154】(付記11) 上記干渉縞生成部は、光源
として連続またはパルス駆動された半導体レーザを具備
することを特徴とする付記5記載の流れる干渉縞を用い
た3D撮像装置。
【0155】(付記12) 上記干渉縞生成部は、光源
として連続またはパルス駆動された白色光源を具備する
ことを特徴とする付記5記載の流れる干渉縞を用いた3
D撮像装置。
【0156】(付記13) 上記第1モードの撮像部
は、流れる干渉縞を構成する2周波数の差の周波数で感
度変調された感度変調型撮像素子を具備することを特徴
とする付記4記載の流れる干渉縞を用いた3D撮像装
置。
【0157】(付記14) 上記干渉縞生成部は、光源
として周波数の僅かに異なる2周波レーザと、連続また
はパルス駆動された半導体レーザと、単色フィルタとを
具備した白色光源などを用いることを特徴とする付記5
記載の流れる干渉縞を用いた3D撮像装置。
【0158】
【発明の効果】従って、以上説明したように、請求項1
または2記載の本発明によれば、3次元(3D)物体で
ある被写体の距離(位相)情報とRGB情報をリアルタ
イムに記録する小型で低コストな3D撮像システムとし
ての3次元撮像装置及び方法を提供することができる。
【0159】また、請求項3記載の本発明によれば、動
作が安定した干渉光生成装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1の(a)は本発明による3次元撮像装置及
び方法並びに干渉光生成装置において採用する概念的な
構成を示す要部のブロック図であり、図1の(b)は、
図1の(a)における第1モードの送光部111と撮像
部121の構成を例示したブロック図である。
【図2】図2の(a)、(b)は、図1の(a)におけ
る干渉光学系102として適用されるマッハツェンダ型
干渉計を表わし、図2の(c)は同じく光ファイバを用
いた干渉計を表わしている図である。
【図3】図3の(a)、(b)は、図1の(a)におけ
る干渉光学系102として適用されるサグナック型コモ
ンパス干渉計の一つで、三角光路型干渉計を表わしてい
る図である。
【図4】図4の(a),(b)は、本発明による3次元
撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置において採用す
る原理について説明するために示した図である。
【図5】図5は、図1の(a)における第1モードの撮
像部121として適用される測距用感度変調型固体撮像
素子514と、同じく第2モードの撮像部122として
適用されるRGB用CCD511とを、分離プリズム5
13を介して同軸型に併置した撮像部を例示する図であ
る。
【符号の説明】 100…被写体、 110…送光部、 111…第1モードの送光部、 112…第2モードの送光部、 120…撮像部、 121…第1モードの撮像部、 122…第2モ一ドの撮像部、 107…導線、 101…光源、 102…干渉光学系、 103…送光光学系、 104…撮像光学系、 105…感度変調駆動部、 106…感度変調型2次元固体撮像素子、 201…入力光束、 202、204…ハーフミラー、 203、206…鏡、 207、208…周波数シフタ、 210…出力光束、 211…入力光束、 212、217…偏光プリズム、 213、214…λ/2板、 215、216…鏡、 218…偏光子、 223、224…レンズ、 220、221…導光路、 301…入力光束、 302…ビームスプリッタ、 303、304…鏡、 320…駆動電極、 330…進行波、 321…吸収層、 306…結合レンズ、 307…鏡303を平行にシフ卜した状態、 516…撮像レンズ、 513…分離プリズム、 512…ローパスフィルタ、 511…RGB用CCD、 515…フィルタ、 514…測距用感度変調型固体撮像素子。
フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 BB05 DD02 FF07 FF09 FF55 GG02 GG04 GG06 GG12 GG23 HH06 HH12 JJ03 JJ26 KK02 LL22 LL33 LL34 LL42 LL46 LL57 MM16 PP22 UU07 2F112 AD05 AD10 BA03 BA10 CA12 DA11 DA17 DA19 DA25 EA07 GA10 5B047 AA07 AB04 BC01 BC11 DC20

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮像した被写体までの距離情報を取得す
    ることができる3次元撮像装置であり、 周波数差Δνをもつ2光束を干渉させて生成した流れる
    干渉縞パターンをもつ干渉光を被写体に照射する手段
    と、 上記被写体より反射された干渉光を、上記周波数差Δν
    で感度変調された撮像素子で撮像する手段とを具備し、 上記撮像素子の出力の位相情報に基づいて上記被写体ま
    での距離を求めることを特徴とする3次元撮像装置。
  2. 【請求項2】 撮像した被写体までの距離情報を取得す
    る3次元撮像方法であり、 周波数差Δνをもつ光を干渉させて生成した流れる干渉
    縞パターンをもつ干渉光を被写体に照射するステップ
    と、 上記被写体より反射された干渉光を、上記周波数差Δν
    で感度変調された撮像素子で撮像するステップと、 上記撮像素子の出力の位相情報に基づいて上記被写体ま
    での距離を求めるステップとを具備することを特徴とす
    る3次元撮像方法。
  3. 【請求項3】 1光束を分割して生成した複数光束に所
    定の周波数差を与えて干渉させて干渉光を生成する干渉
    光生成装置であり、 反射面に進行波を形成可能な光線反射手段により、上記
    所定の周波数差が与えられることを特徴とする干渉光生
    成装置。
JP33430399A 1999-11-25 1999-11-25 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置 Withdrawn JP2001153612A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33430399A JP2001153612A (ja) 1999-11-25 1999-11-25 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33430399A JP2001153612A (ja) 1999-11-25 1999-11-25 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001153612A true JP2001153612A (ja) 2001-06-08

Family

ID=18275851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33430399A Withdrawn JP2001153612A (ja) 1999-11-25 1999-11-25 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001153612A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003097928A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Ricoh Co Ltd 形状測定方法および形状測定装置
JP2007114206A (ja) * 2006-11-30 2007-05-10 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 光学材料の群屈折率精密計測方法
JP2009025225A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Fujifilm Corp 立体撮像装置および立体撮像装置の制御方法並びにプログラム
JP2011252835A (ja) * 2010-06-03 2011-12-15 Myuu Skynet:Kk 三次元形状計測装置
JP2014521087A (ja) * 2011-07-14 2014-08-25 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 位相およびピッチ調節付きスキャナ
US10542228B2 (en) 2016-05-11 2020-01-21 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system including illuminator and imaging device

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003097928A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Ricoh Co Ltd 形状測定方法および形状測定装置
JP4675011B2 (ja) * 2001-09-25 2011-04-20 株式会社リコー 形状測定方法および形状測定装置
JP2007114206A (ja) * 2006-11-30 2007-05-10 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 光学材料の群屈折率精密計測方法
JP2009025225A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Fujifilm Corp 立体撮像装置および立体撮像装置の制御方法並びにプログラム
JP2011252835A (ja) * 2010-06-03 2011-12-15 Myuu Skynet:Kk 三次元形状計測装置
JP2014521087A (ja) * 2011-07-14 2014-08-25 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 位相およびピッチ調節付きスキャナ
US10542228B2 (en) 2016-05-11 2020-01-21 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system including illuminator and imaging device
US11025847B2 (en) 2016-05-11 2021-06-01 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging device including an imaging cell having variable sensitivity
US11438539B2 (en) 2016-05-11 2022-09-06 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging device including an imaging cell having variable sensitivity

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11680790B2 (en) Multiple channel locating
US11187807B2 (en) Precisely controlled chirped diode laser and coherent lidar system
US11555923B2 (en) LIDAR system with speckle mitigation
US7193720B2 (en) Optical vibration imager
CA2805443C (en) Method and apparatus for imaging
US7372578B2 (en) Optical image measuring apparatus
US7548320B2 (en) Optical image measuring apparatus
JPH11508371A (ja) テレセントリック立体カメラと方法
JP2006052954A (ja) 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー
JP3695188B2 (ja) 形状計測装置および形状計測方法
WO2014057998A1 (ja) 照明装置及び顕微鏡、並びに照明方法及び観察方法
JP2006349657A (ja) 干渉計、形状測定方法
JP2007144024A (ja) 自己混合レーザを用いる三次元計測内視鏡
JP4024390B2 (ja) 横形光学コヒーレンス断層写真法のための方法と配列
JP4997406B1 (ja) 形状測定装置並びに深さ測定装置及び膜厚測定装置
CN103635784A (zh) 光声振动计
JP2001153612A (ja) 3次元撮像装置及び方法並びに干渉光生成装置
JP2023001122A (ja) 撮像装置
JP3711808B2 (ja) 形状計測装置および形状計測方法
JP2004053532A (ja) 光学的形状測定装置
JP2009168789A (ja) 3次元形状計測方法およびそのシステム
JP2007105140A (ja) 自己混合レーザを用いる三次元計測内視鏡
EP4328542A1 (en) Depth data measurement head, depth data computing device, and corresponding method
JP7438555B2 (ja) 三次元計測方法および三次元計測装置
JP2004077223A (ja) 光ヘテロダイン干渉計

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070206