JP2001141610A - ワイパの払拭性能試験装置およびワイパの払拭性能試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 性能試験の安定化が図れるワイパの払拭性能
試験装置およびワイパの払拭性能試験方法を提供する。 【解決手段】 払拭面５０上に紫外光を照射する紫外線
ランプ４、払拭面５０上に蛍光液を散布する噴霧器６、
ワイパブレード９により払拭面５０を拭った後に紫外線
ランプ４の紫外光により蛍光液が発する蛍光を画像信号
化する撮像器５、撮像器５で得られた画像信号を記憶す
るメモリ１２、メモリ１２に記憶された画像信号を信号
処理する信号処理器１３、信号処理器１３で処理された
信号を出力する出力器１４を備えたワイパの払拭性能試
験装置１。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、払拭面を拭うワ
イパブレードの払拭性能を試験するワイパの払拭性能試
験装置およびワイパの払拭性能試験方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ワイパの払拭性能の評価試験をする場
合、通常、試験台に取付けられた防風ガラスに水滴が吹
き付けられ、ワイパブレードによりその防風ガラスを拭
い、防風ガラスの払拭面でのワイパブレードの拭き残し
が目視で評価されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記のワイパの払拭性
能の評価試験では、試験者の目視による評価が主体であ
るため、拭き残しの評価に個人差が生ずることがあるの
で、一定の評価基準を定め難く、ばらつきが生ずること
があるという問題点があった。

【０００４】

【発明の目的】この発明に係わるワイパの払拭性能試験
装置およびワイパの払拭性能試験方法は、性能試験の安
定化が図れるワイパの払拭性能試験装置およびワイパの
払拭性能試験方法を提供することを目的としている。

【０００５】

【発明の構成】

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
わるワイパの払拭性能試験装置では、払拭面上を往復揺
動するワイパアームと、このワイパアームに装着されて
いて払拭面を拭うワイパブレードとをもつワイパの払拭
性能試験装置であって、払拭面上に紫外光を照射する紫
外線ランプと、払拭面上に蛍光液を散布する噴霧器と、
ワイパブレードにより払拭面を拭った後に紫外線ランプ
の紫外光により蛍光液が発する蛍光を受光し、画像信号
に変換する撮像器と、撮像器で得られた画像信号を記憶
するメモリと、メモリに記憶された画像信号を信号処理
してワイパブレードによる蛍光液の拭き残し状態の評価
を得る信号処理器と、信号処理器で処理された信号を出
力する出力器を備えている構成としたことを特徴として
いる。

【０００７】この発明の請求項２に係わるワイパの払拭
性能試験装置では、請求項１の構成に加え、撮像器は、
蛍光液が発する蛍光を通過させるバンドパスフィルタを
備えている構成としたことを特徴としている。

【０００８】この発明の請求項３に係わるワイパの払拭
性能試験装置では、請求項２の構成に加え、撮像器は、
紫外線カットフィルタを備えている構成としたことを特
徴としている。

【０００９】この発明の請求項４に係わるワイパの払拭
性能試験装置では、請求項１、２または３の構成に加
え、メモリに記憶された画像信号に基づいて画像を表示
するモニタを備えている構成としたことを特徴としてい
る。

【００１０】この発明の請求項５に係わるワイパの払拭
性能試験装置では、請求項１の構成に加え、撮像器は、
ワイパブレードが払拭面上を払拭する前、および、噴霧
器より払拭面に蛍光液が散布されてから、ワイパブレー
ドが払拭面の面上を払拭した後に受光した蛍光を画像信
号に変換する構成としたことを特徴としている。

【００１１】この発明の請求項６に係わるワイパの払拭
性能試験装置では、請求項１の構成に加え、撮像器は、
ワイパブレードが払拭面の面上を払拭する前、および、
噴霧器により払拭面に蛍光液が散布されてから、ワイパ
ブレードが払拭面の面上の復帰位置から反転位置まで払
拭往動し、さらに反転位置から復帰位置まで払拭復動し
た後に受光した蛍光を画像信号に変換する構成としたこ
とを特徴としている。

【００１２】この発明の請求項７に係わるワイパの払拭
性能試験方法では、試験台の払拭面の面上の復帰位置に
ワイパブレードをセットする第１行程、紫外線ランプを
点灯し、その紫外光を払拭面に照射する第２行程、第２
行程で紫外光が照射された払拭面の映像を撮像器により
画像信号に変換し、この画像信号を第１の画像データと
してメモリに記憶する第３行程、噴霧器により払拭面に
蛍光液を散布する第４行程、ワイパモータを作動させて
ワイパブレードを復帰位置から反転位置まで払拭往動さ
せ、払拭面の面上を払拭する第５行程、第５行程でワイ
パブレードが払拭往動した後の払拭面の映像データを撮
像器により画像信号に変換し、この画像信号を第２の画
像データとしてメモリに記憶する第６行程、第３行程で
得られた第１の画像データと、第６行程で得られた第２
の画像データとを信号処理器により比較処理して評価結
果を得る第７行程からなる構成としたことを特徴として
いる。

【００１３】この発明の請求項８に係わるワイパの払拭
性能試験方法では、試験台の払拭面の面上の復帰位置に
ワイパブレードをセットする第１行程、紫外線ランプを
点灯し、その紫外光を払拭面に照射する第２行程、第２
行程で紫外線が照射された払拭面の映像を撮像器により
画像信号に変換し、この画像信号を第１の画像データと
してメモリに記憶する第３行程、噴霧器により払拭面に
蛍光液を散布する第４行程、ワイパモータを作動させて
ワイパブレードを復帰位置から反転位置まで払拭往動さ
せ、さらに、反転位置から復帰位置まで払拭復動させ、
払拭面の面上を払拭する第５行程、第５行程でワイパブ
レードが払拭復動した後の払拭面の映像データを撮像器
により画像信号に変換し、この画像信号を第２の画像デ
ータとしてメモリに記憶する第６行程、第３行程で得ら
れた第１の画像データと、第６行程で得られた第２の画
像データとを信号処理器により比較処理して評価結果を
得る第７行程からなる構成としたことを特徴としてい
る。

【００１４】この発明の請求項９に係わるワイパの払拭
性能試験方法では、請求項７または８の構成に加え、第
７行程の後に、第７行程で比較して得られた評価結果を
モニタにより画像として表示する第８行程を実行する構
成としたことを特徴としている。

【００１５】

【発明の作用】この発明の請求項１に係わるワイパの払
拭性能試験装置において、蛍光液が散布される前の払拭
面の状態と、ワイパブレードにより払拭した後の払拭面
の状態との２つの状態の映像が撮像器によりそれぞれ画
像信号に変換されてメモリに記憶される。そして、信号
処理器によりメモリに記録された画像データが信号処理
されることによりワイパブレードの拭き残し状態の評価
が得られ、その評価が出力器により出力される。それ
故、試験者の目視による評価と比べて、２つの状態での
画像信号の確実な比較が行われることにより評価基準が
一定になる。

【００１６】この発明の請求項２に係わるワイパの払拭
性能試験装置において、撮像器は、蛍光液が発する蛍光
を通過させるバンドパスフィルタを通して払拭面に散布
された蛍光液が発する蛍光を画像信号に変換する。それ
故、請求項１の作用に加え、バンドパスフィルタにより
蛍光液が発する波長の光のみが取込まれる。

【００１７】この発明の請求項３に係わるワイパの払拭
性能試験装置において、撮像器は紫外線カットフィルタ
を備えている。それ故、請求項２の作用に加え、紫外線
カットフィルタにより紫外線がカットされるので、紫外
線ランプが発生し、払拭面の面上で反射された紫外線に
よる映像は撮像器に取り込まれない。

【００１８】この発明の請求項４に係わるワイパの払拭
性能試験装置において、モニタはメモリに記憶された画
像信号を画像として表示する。それ故、請求項１、２お
よび３の作用に加え、モニタ上で払拭面の状態の確認が
行われる。

【００１９】この発明の請求項５に係わるワイパの払拭
性能試験装置において、撮像器は、ワイパブレードによ
り払拭される前の払拭面の状態と、蛍光液が散布されて
から、ワイパブレードにより払拭された後の払拭面の状
態との２つの状態の映像を画像信号に変換する。それ
故、請求項１の作用に加え、ワイパブレードの払拭前後
のデータにより払拭性能の相対的な評価が可能になる。

【００２０】この発明の請求項６に係わるワイパの払拭
性能試験装置において、撮像器は、ワイパブレードによ
り払拭される前の払拭面の状態と、蛍光液が散布されて
から、ワイパブレードが払拭往動し、さらに払拭復動し
た１往復後の払拭面の状態との２つの状態の払拭面の映
像を画像信号に変換する。それ故、請求項１の作用に加
え、ワイパブレードの１回の往復動での払拭性能が評価
される。

【００２１】この発明の請求項７に係わるワイパの払拭
性能試験方法において、第１行程で、試験台の払拭面の
面上での復帰位置にワイパブレードがセットされ、第２
行程で、紫外線ランプが点灯されて、その紫外光が払拭
面に照射され、第３行程で、紫外光が照射された払拭面
の映像が撮像器により画像信号に変換されて第１の画像
データとしてメモリに記憶され、第４行程で、噴霧器に
より払拭面に蛍光液が散布され、第５行程で、ワイパモ
ータが作動されてワイパブレードが復帰位置から反転位
置まで払拭往動され払拭面が払拭され、第６行程で、ワ
イパブレードが払拭往動した後の払拭面の映像が撮像器
により画像信号に変換されて第２の画像データとしてメ
モリに記憶され、第７行程で、第３行程で得られた第１
の画像データと、第６行程で得られた第２の画像データ
とが比較されて評価結果が得られる。それ故、試験者の
目視による評価と比べて、ワイパブレードが往動した際
の性能が２つの状態での画像信号の確実な比較により行
われることによって評価基準が一定になる。

【００２２】この発明の請求項８に係わるワイパの払拭
性能試験方法において、第１行程で、試験台の払拭面の
面上での復帰位置にワイパブレードがセットされ、第２
行程で、紫外線ランプが点灯されて、その紫外光が払拭
面に照射され、第３行程で、紫外光が照射された払拭面
の映像が撮像器により画像信号に変換されて第１の画像
データとしてメモリに記憶され、第４行程で、噴霧器に
より払拭面に蛍光液が散布され、第５行程で、ワイパモ
ータが作動されてワイパブレードが復帰位置から反転位
置まで払拭往動され、さらに、反転位置から復帰位置ま
で払拭復動され払拭面の面上が払拭され、第６行程で、
ワイパブレードが払拭往動した後の払拭面の映像が撮像
器により画像信号に変換されて第２の画像データとして
メモリに記憶され、第７行程で、第３行程で得られた第
１の画像データと、第６行程で得られた第２の画像デー
タとが比較されて評価結果が得られる。それ故、試験者
の目視による評価と比べて、ワイパブレードが往復動し
た際の性能が２つの状態での画像信号の確実な比較によ
り行われることによって評価基準が一定になる。

【００２３】この発明の請求項９に係わるワイパの払拭
性能試験方法において、請求項７または８の第７行程の
後に実行される第８行程で、第７行程で比較して得られ
た評価結果がモニタにより画像表示される。それ故、請
求項７および８の作用に加え、モニタ上での状態確認が
行われる。

【００２４】

【発明の実施の形態】

【００２５】

【実施例】図１ないし図３には、この発明に係わるワイ
パの払拭性能試験装置およびワイパの払拭性能試験方法
の一実施例が示されている。

【００２６】図示するワイパの払拭性能試験装置１は、
主として、試験台２、防風ガラス３、紫外線ランプ４、
撮像器５、噴霧器６、ワイパモータ７、ワイパアーム
８、ワイパブレード９、コントローラ１０から構成され
ており、コントローラ１０に、制御部１１、メモリ１
２、信号処理器１３、出力器１４、モニタ１５が備えら
れている。

【００２７】試験台２の前面には、ガラス取付部２ａが
形成されており、このガラス取付部２ａに車への搭載状
態と同じように傾斜されて防風ガラス３が取付けられて
いる。防風ガラス３は、車種毎に異なる形状や傾斜角度
をもっているから、試験台２のガラス取付部２ａも異な
る防風ガラス３に対応してその取付けが可能になってい
る。

【００２８】試験台２には、ガラス取付部２ａの下方側
に、防風ガラス３に散布された蛍光液を集めるための集
液部２ｂが形成されており、この集液部２ｂは床面１６
上に配置された液戻し配管１７に連通接続されている。
液戻し配管１７は図示しない蛍光液タンクに連通接続さ
れている。

【００２９】試験台２の防風ガラス３の下側には、ワイ
パアーム８のピボットシャフト（図示しない）が図示し
ないピボットホルダにより試験台２に回動可能にして取
付けられている。ピボットシャフトの先端部には、ワイ
パアーム８の基端部がねじ８ａにより固定されており、
このワイパアーム８の先端部にワイパブレード９が装着
されている。ワイパブレード９はワイパアーム８に内蔵
されたアームスプリングにより防風ガラス３に圧接され
る。ワイパブレード８およびワイパアーム９からなる組
体はピボットシャフトにねじ８ａにより固定するだけで
容易に取換えが行われる。

【００３０】試験台２の内部には、ワイパモータ７が取
付けられており、このワイパモータ７に備えられた出力
軸７ａがワイパリンク１８を介してピボットシャフトに
連結されている。ワイパモータ７の第１、第２の端子７
ｂ、７ｃはコントローラ１０に電気的に接続されている
ため、ワイパモータ７は、コントローラ１０に備えられ
たワイパスイッチ１０ａがオンされることにより与えら
れた電流によって、ワイパリンク１８を介してピボット
シャフトを往復で回動させ、ピボットシャフトの往復回
動により、ワイパブレード９が防風ガラス３上の復帰位
置Ａと反転位置Ｂとのあいだの払拭面５０上を往復移動
し、払拭面５０上を払拭する。

【００３１】紫外線ランプ４は、試験台２の前方に置か
れたランプスタンド１８によって防風ガラス３の前方上
部に配置されている。この紫外線ランプ４は、コントロ
ーラ１０に電気的に接続されているため、コントローラ
１０に備えられたランプスイッチ１０ｂがオンされるこ
とにより点灯して防風ガラス３に波長320nm ないし400n
m の紫外光を照射する。

【００３２】撮像器５は、ＣＣＤ（Charge Coupled Dev
ice ）の撮像デバイスを用いたカメラであって、この撮
像器５は、試験台２の前方に置かれたカメラスタンド１
９によって防風ガラス３の前方上方に配置されている。

【００３３】撮像器５には、第１のフィルタ２０、第２
のフィルタ２１がレンズに装着されている。

【００３４】第１のフィルタ２０は、中心周波数が 525
nmのバンドパスフィルタ（クリスチャンセンフィルタ）
であって、蛍光波長 (500nm ないし550nm)の蛍光のみを
撮像器５に取込むのに用いられる。

【００３５】第２のフィルタ２１は、紫外線（ＵＶ）カ
ットフィルタであって、紫外線波長400nm 以下をカット
し、紫外線が撮像器５に取り込まれるのを防止する。

【００３６】撮像器５は、作動用の電源ケーブルと、画
像信号転送用のケーブルとがコントローラ１０に接続さ
れており、コントローラ１０に備えられたカメラスイッ
チ１０ｃがオンされることにより、防風ガラス３の映像
を画像信号に変換してコントローラ１０に転送する。具
体的には、撮像器５は、ワイパブレード９により払拭面
５０が払拭される以前の状態と、防風ガラス３に噴霧器
６より蛍光液が散布されてからワイパブレード９により
払拭面５０が払拭された状態の防風ガラス３の映像を画
像信号に変換する。

【００３７】噴霧器６は、試験台２の前方に置かれた噴
霧器スタンド２２によって防風ガラス３の前方上方に配
置されている。

【００３８】噴霧器６は、図示しない蛍光液タンクに連
通して接続されており、蛍光液タンクには蛍光液が貯蔵
されている。蛍光液は水溶性の蛍光液である。そして、
蛍光液タンクに備えられたポンプがコントローラ１０に
電気的に接続されているため、コントローラ１０に備え
られたポンプスイッチ１０ｄがオンされることにより、
ポンプが作動して蛍光液タンクに貯蔵された蛍光液が噴
霧器６から防風ガラス３上に散布される。噴霧器６は、
ワイパブレード９が払拭面５０の復帰位置Ａにあって、
払拭動作を行う前に防風ガラス３への蛍光液の散布を行
う。

【００３９】制御部１１は、ワイパスイッチ１０ａ、ラ
ンプスイッチ１０ｂ、カメラスイッチ１０ｃ、ポンプス
イッチ１０ｄを備え、ワイパモータ７、紫外線ランプ
４、撮像器５、ポンプのそれぞれに電源６０よりの電流
を供給する総括的な制御を行う制御回路である。

【００４０】メモリ１２は、図示しない処理用プロセッ
サを通して転送された画像信号（入力信号）を記憶する
画像メモリであり、このメモリ１２に記憶された画像信
号は信号処理器１３に転送される。メモリ１２は、ワイ
パブレード９により払拭面５０が払拭される以前の状態
の第１の画像データと、防風ガラス３に噴霧器６より蛍
光液が散布されてからワイパブレード９により払拭面５
０が払拭された後の状態の第２の画像データとの２つの
画像データを記憶する。

【００４１】信号処理器１３は、メモリ１２に記憶され
た画像信号をコンピュータによるプログラム処理をする
ことによって信号処理を行い、信号処理した画像信号を
出力器１４に転送する。信号処理器１３は、ワイパブレ
ード９により払拭面５０が払拭される以前の状態でメモ
リ１２に記憶されている第１の画像データと、防風ガラ
ス３に噴霧器６より蛍光液が散布されてからワイパブレ
ード９により払拭面５０が払拭された状態でメモリ１２
に記憶されている第２の画像データとを比較処理する。

【００４２】信号処理器１３は、払拭面５０上を複数の
領域に分け、第１の画像データと第２の画像データとを
払拭面５０上での各領域毎に演算処理して、ワイパブレ
ード９の拭き残し面積の評価点を得る。

【００４３】また、信号処理器１３は、画像信号の明る
さのピーク値を算出し、払拭面５０上での各領域毎に演
算処理を行い、ワイパブレード９の拭き残し量の評価点
を得る。

【００４４】出力器１４は、信号処理器１３から転送さ
れた第１、第２の画像データに基づいた評価結果をハー
ドウェア上に表示するハードコピー器であって、この場
合、その評価結果は、コントローラ１０に備えられた図
２に示されるプリンタスイッチ１０ｅがオンされること
によりプリンタ２３より紙面で出力される一方、モニタ
１５上で映像表示される。

【００４５】モニタ１５は、出力器１４から転送された
評価結果を映像表示する。また、モニタ１５は、信号処
理器１３から転送された画像信号を映像表示する。

【００４６】上述したワイパの払拭性能試験装置１で
は、撮像器５に第１、第２のフィルタ２０、２１がそれ
ぞれ装着されているため、噴霧器６より蛍光液が散布さ
れていない状態の払拭面５０に、紫外線ランプ４の紫外
光が照射されていても、第１の画像データに顕著な信号
が現れない。しかし、紫外線ランプ４の紫外光が照射さ
れていて、噴霧器６により蛍光液が防風ガラス３に散布
されてから、ワイパブレード９が払拭面５０を拭った後
の払拭面５０では、第２の画像データに、払拭面５０上
に残されている、いわゆるワイパブレード９の拭き残し
に該当する蛍光液の映像が顕著に現れる。それ故、拭き
残しに相当する蛍光液の映像に基づいて信号処理器１３
が評価を行う。

【００４７】このようなワイパの払拭性能試験装置１
は、図３に示されるワイパの払拭性能試験方法の手順に
基づいて性能試験が行われる。図示する手順において、
ステップ１０１ないしステップ１０４は初期状態設定ル
ーチンであり、ステップ２０１ないしステップ２０６は
払拭性評価ルーチンである。

【００４８】最初に『初期状態設定ルーチン』が実行さ
れ、ステップ１０１において『防風ガラス３を清掃す
る』が実行されてステップ１０２に移行する。ステップ
１０１での防風ガラス３の清掃により、防風ガラス３上
の油脂等が除去される。

【００４９】ステップ１０１から移行したステップ１０
２において第１行程が実行され『ワイパブレード９を復
帰位置Ａにセットする』が実行されてステップ１０３に
移行する。ステップ１０２により、性能試験を行うワイ
パブレード９が最初の復帰位置Ａに配置される。

【００５０】ステップ１０２から移行したステップ１０
３において第２行程が実行され『紫外線ランプ４を点灯
し、紫外光を防風ガラス３に照射する』が実行されてス
テップ１０４に移行する。ステップ１０３により、コン
トローラ１０のランプスイッチ１０ａがオン切換えされ
ることによって、ワイパブレード９により払拭面５０が
払拭される以前の状態の防風ガラス３に紫外線ランプ４
の紫外光が照射される。

【００５１】ステップ１０３から移行したステップ１０
４において第３行程が実行され『防風ガラス３の映像デ
ータを記憶する』が実行されて初期状態設定ルーチンが
終了する。ステップ１０４により、コントローラ１０の
カメラスイッチ１０ｃがオン切換えされることにより撮
像器５が作動される。このとき、撮像器５には、第１、
第２のフィルタ２０、２１が取付けられているから、紫
外線による映像はカットされるとともに、500nm ないし
550nm の波長の光からなる第１の画像データが撮像器５
に取込まれてメモリ１２に記憶される。

【００５２】初期状態設定ルーチンが終了すると、払拭
性評価ルーチンに移行し、ステップ２０１において第４
行程が実行され『蛍光液を防風ガラス３に散布する』が
実行されてステップ２０２に移行する。このステップ２
０１により、コントローラ１０のポンプスイッチ１９ｄ
がオンされることによってポンプが作動されて噴霧器６
から蛍光液が防風ガラス３に散布される。このとき、ワ
イパブレード９が復帰位置Ａに停止している。

【００５３】ステップ２０１から移行したステップ２０
２において第５行程が実行され『ワイパブレード９を反
転位置まで作動する』が実行されてステップ２０３に移
行する。ステップ２０２により、コントローラ１０のワ
イパスイッチ１０ａがオンされることによってワイパモ
ータ７が作動され、ワイパブレード９が復帰位置Ａから
反転位置Ｂまで往動し、ワイパブレード９の往動分で防
風ガラス３の払拭面５０を拭う。

【００５４】ステップ２０２から移行したステップ２０
３において第６行程が実行され『払拭後の防風ガラス３
の映像データを記憶する』が実行されてステップ２０４
に移行する。ステップ２０３により、コントローラ１０
のカメラスイッチ１０ｃがオンされることにより撮像器
５が作動され、第２の画像データが撮像器５に取込まれ
てメモリ１２に記憶される。

【００５５】ステップ２０３から移行したステップ２０
４において第７行程が実行され『初期状態と払拭後の状
態を比較する』が実行されてステップ２０５に移行す
る。ステップ２０４により、信号処理器１３が、ワイパ
ブレード９により払拭面５０が払拭される以前の状態で
メモリ１２に記憶されている第１の画像データと、防風
ガラス３に噴霧器６より蛍光液が散布されてからワイパ
ブレード９により払拭面５０が払拭された後にメモリ１
２に記憶されている第２の画像データとを比較処理す
る。

【００５６】ステップ２０４から移行したステップ２０
５において『蛍光液の残存状態でワイパブレード９の払
拭性を評価する』が実行されてステップ２０６に移行す
る。ステップ２０５により、信号処理器１３が、第１の
画像データと第２の画像データとを払拭面５０上での各
領域毎に演算処理を行い、評価点を得るとともに、払拭
面５０上での各領域毎に画像データの明るさのピーク値
の算出処理を行った結果、評価点を得る。

【００５７】ステップ２０５から移行したステップ２０
６において『評価結果を出力する』が実行されて払拭性
評価ルーチンが終了する。ステップ２０６により、出力
器１４が、信号処理器１３から転送された第１、第２の
画像信号の評価結果を出力する。このステップ２０６で
は、評価結果がプリンタ２３に出力される一方、モニタ
１５上で映像表示される。

【００５８】なお、この払拭性評価ルーチンのステップ
２０２では、ワイパブレード９を復帰位置Ａから反転位
置Ｂまで払拭往動させた際の払拭面５０の映像データを
用いたが、これは、ワイパブレード９の特性が往動時と
復動時とで異なる場合に適したものであり、ワイパブレ
ード９の特性が往動時と復動時とで同一の場合、第５行
程のステップ２０２において、ワイパブレード９を復帰
位置Ａから反転位置Ｂまで払拭往動させ、さらに、反転
位置Ｂから復帰位置Ａまで払拭復動させることにより、
ワイパブレード９の往復動での払拭性能の評価をしても
よい。また、ステップ２０６の後に、ステップ１０１、
１０２、１０３、１０４、２０１を実行し、ステップ２
０２においてワイパブレード９を反転位置Ｂから復帰位
置Ａを払拭復動させ、次いで、同様にステップ２０３、
２０４、２０５、２０６を実行し、ワイパブレード９の
復動での払拭性能の評価を行ってもよい。

【００５９】なお、上記の実施例においては、第１の画
像データが、ステップ１０４においてメモリ１２に記憶
されたが、ステップ２０１とステップ２０２の間におい
て、メモリ１２に記憶されてもよい。この場合、第１の
画像データは、蛍光液が払拭面５０の面上に散布された
映像のデータとなる。

【００６０】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明の請
求項１に係わるワイパの払拭性能試験装置によれば、蛍
光液が散布される前の払拭面の状態と、ワイパブレード
により払拭した後の払拭面の状態との２つの状態の映像
が撮像器によりそれぞれ画像信号に変換されてメモリに
記憶される。そして、信号処理器によりメモリに記録さ
れた画像データが信号処理されることによりワイパブレ
ードの拭き残し状態の評価が得られ、その評価が出力器
により出力される。それ故、試験者の目視による評価と
比べて、２つの状態での画像信号の確実な比較が行われ
ることにより評価基準が一定になる。よって、性能試験
の安定化が図れるという優れた効果を奏する。

【００６１】この発明の請求項２に係わるワイパの払拭
性能試験装置によれば、撮像器は、蛍光液が発する蛍光
を通過させるバンドパスフィルタを通して払拭面に散布
された蛍光液が発する蛍光を画像信号に変換する。それ
故、請求項１の作用に加え、バンドパスフィルタにより
蛍光液が発する波長の光のみが取込まれる。よって、ワ
イパブレードの払拭性の評価が明確に行われるという優
れた効果を奏する。

【００６２】この発明の請求項３に係わるワイパの払拭
性能試験装置によれば、撮像器は紫外線カットフィルタ
を備えている。それ故、請求項２の作用に加え、紫外線
カットフィルタにより紫外線がカットされるので、紫外
線ランプが発生し、払拭面の面上で反射された紫外線に
よる映像は撮像器に取り込まれない。よって、ワイパブ
レードの払拭性の評価が明確に行われるという優れた効
果を奏する。

【００６３】この発明の請求項４に係わるワイパの払拭
性能試験装置によれば、モニタはメモリに記憶された画
像信号を画像として表示する。それ故、請求項１、２お
よび３の作用に加え、モニタ上で払拭面の状態の確認が
行われる。それ故、請求項１、２および３の効果に加
え、モニタ上での状態確認を行うことができるという優
れた効果を奏する。

【００６４】この発明の請求項５に係わるワイパの払拭
性能試験装置によれば、撮像器は、ワイパブレードによ
り払拭される前の払拭面の状態と、蛍光液が散布されて
から、ワイパブレードにより払拭された後の払拭面の状
態との２つの状態の映像を画像信号に変換する。それ
故、請求項１の作用に加え、ワイパブレードの払拭前後
のデータにより払拭性能の相対的な評価が可能になる。
それ故、請求項１の効果に加え、往動時と復動時とで特
性の異なるワイパブレードの性能試験を簡単に行うこと
ができるという優れた効果を奏する。

【００６５】この発明の請求項６に係わるワイパの払拭
性能試験装置によれば、撮像器は、ワイパブレードによ
り払拭される前の払拭面の状態と、蛍光液が散布されて
から、ワイパブレードが払拭往動し、さらに払拭復動し
た１往復後の払拭面の状態との２つの状態の払拭面の映
像を画像信号に変換する。それ故、請求項１の効果に加
え、ワイパブレードの１回の往復動での払拭性能が評価
されるという優れた効果を奏する。

【００６６】この発明の請求項７に係わるワイパの払拭
性能試験方法によれば、第１行程で、試験台の払拭面の
面上での復帰位置にワイパブレードがセットされ、第２
行程で、紫外線ランプが点灯されて、その紫外光が払拭
面に照射され、第３行程で、紫外光が照射された払拭面
の映像が撮像器により画像信号に変換されて第１の画像
データとしてメモリに記憶され、第４行程で、噴霧器に
より払拭面に蛍光液が散布され、第５行程で、ワイパモ
ータが作動されてワイパブレードが復帰位置から反転位
置まで払拭往動され払拭面が払拭され、第６行程で、ワ
イパブレードが払拭往動した後の払拭面の映像が撮像器
により画像信号に変換されて第２の画像データとしてメ
モリに記憶され、第７行程で、第３行程で得られた第１
の画像データと、第６行程で得られた第２の画像データ
とが比較されて評価結果が得られる。それ故、試験者の
目視による評価と比べて、ワイパブレードが往動した際
の性能が２つの状態での画像信号の確実な比較により行
われることによって評価基準が一定になる。よって、性
能試験の安定化が図れるという優れた効果を奏する。

【００６７】この発明の請求項８に係わるワイパの払拭
性能試験方法によれば、第１行程で、試験台の払拭面の
面上での復帰位置にワイパブレードがセットされ、第２
行程で、紫外線ランプが点灯されて、その紫外光が払拭
面に照射され、第３行程で、紫外光が照射された払拭面
の映像が撮像器により画像信号に変換されて第１の画像
データとしてメモリに記憶され、第４行程で、噴霧器に
より払拭面に蛍光液が散布され、第５行程で、ワイパモ
ータが作動されてワイパブレードが復帰位置から反転位
置まで払拭往動され、さらに、反転位置から復帰位置ま
で払拭復動され払拭面の面上が払拭され、第６行程で、
ワイパブレードが払拭往動した後の払拭面の映像が撮像
器により画像信号に変換されて第２の画像データとして
メモリに記憶され、第７行程で、第３行程で得られた第
１の画像データと、第６行程で得られた第２の画像デー
タとが比較されて評価結果が得られる。それ故、試験者
の目視による評価と比べて、ワイパブレードが往復動し
た際の性能が２つの状態での画像信号の確実な比較によ
り行われることによって評価基準が一定になる。よっ
て、性能試験の安定化が図れるという優れた効果を奏す
る。

【００６８】この発明の請求項９に係わるワイパの払拭
性能試験方法によれば、請求項７または８の第７行程の
後に実行される第８行程で、第７行程で比較して得られ
た評価結果がモニタにより画像表示される。それ故、請
求項７および８の作用に加え、モニタ上での状態確認を
行うことができるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係わるワイパの払拭性能試験装置の
一実施例のブロック構成図である。

【図２】図１に示したワイパの払拭性能試験装置の外観
斜視図である。

【図３】この発明に係わるワイパの払拭性能試験方法の
一実施例においての手順を説明するフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１ ワイパの払拭性能試験装置 ２ 試験台 ４ 紫外線ランプ ５ 撮像器 ６ 噴霧器 ８ ワイパアーム ９ ワイパブレード １２ メモリ １３ 信号処理器 １４ 出力器 １５ モニタ ２０ （バンドパスフィルタ）第１のフィルタ ２１ （紫外線カットフィルタ）第２のフィルタ ５０ 払拭面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土 井 秀 明 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 中 田 俊 彦 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 Ｆターム(参考） 2G024 AA30 BA11 CA22 DA22 DA23 FA01 FA06 3D025 AA01 AB00 AC01 AC02 AD01 AE10

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 払拭面上を往復揺動するワイパアーム
   と、このワイパアームに装着されていて払拭面を拭うワ
   イパブレードとをもつワイパの払拭性能試験装置であっ
   て、 上記払拭面上に紫外光を照射する紫外線ランプと、 上記払拭面上に蛍光液を散布する噴霧器と、 上記ワイパブレードにより払拭面を拭った後に上記紫外
   線ランプの紫外光により蛍光液が発する蛍光を受光し、
   画像信号に変換する撮像器と、 上記撮像器で得られた画像信号を記憶するメモリと、 上記メモリに記憶された画像信号を信号処理して上記ワ
   イパブレードによる蛍光液の拭き残し状態の評価を得る
   信号処理器と、 上記信号処理器で処理された信号を出力する出力器を備
   えていることを特徴とするワイパの払拭性能試験装置。
2. 【請求項２】 撮像器は、蛍光液が発する蛍光を通過さ
   せるバンドパスフィルタを備えていることを特徴とする
   請求項１に記載のワイパの払拭性能試験装置。
3. 【請求項３】 撮像器は、紫外線カットフィルタを備え
   ていることを特徴とする請求項２に記載のワイパの払拭
   性能試験装置。
4. 【請求項４】 メモリに記憶された画像信号に基づいて
   画像を表示するモニタを備えていることを特徴とする請
   求項１、２または３のいずれかに記載のワイパの払拭性
   能試験装置。
5. 【請求項５】 撮像器は、ワイパブレードが払拭面上を
   払拭する前、および、噴霧器より払拭面に蛍光液が散布
   されてから、ワイパブレードが払拭面の面上を払拭した
   後に受光した蛍光を画像信号に変換することを特徴とす
   る請求項１に記載のワイパの払拭性能試験装置。
6. 【請求項６】 撮像器は、ワイパブレードが払拭面の面
   上を払拭する前、および、噴霧器により払拭面に蛍光液
   が散布されてから、ワイパブレードが払拭面の面上の復
   帰位置から反転位置まで払拭往動し、さらに反転位置か
   ら復帰位置まで払拭復動した後に受光した蛍光を画像信
   号に変換することを特徴とする請求項１に記載のワイパ
   の払拭性能試験装置。
7. 【請求項７】 試験台の払拭面の面上の復帰位置にワイ
   パブレードをセットする第１行程、 紫外線ランプを点灯し、その紫外光を上記払拭面に照射
   する第２行程、 第２行程で紫外光が照射された払拭面の映像を撮像器に
   より画像信号に変換し、この画像信号を第１の画像デー
   タとしてメモリに記憶する第３行程、 噴霧器により払拭面に蛍光液を散布する第４行程、 ワイパモータを作動させてワイパブレードを復帰位置か
   ら反転位置まで払拭往動させ、払拭面の面上を払拭する
   第５行程、 第５行程でワイパブレードが払拭往動した後の払拭面の
   映像データを撮像器により画像信号に変換し、この画像
   信号を第２の画像データとしてメモリに記憶する第６行
   程、 第３行程で得られた第１の画像データと、第６行程で得
   られた第２の画像データとを信号処理器により比較処理
   して評価結果を得る第７行程からなることを特徴とする
   ワイパの払拭性能試験方法。
8. 【請求項８】 試験台の払拭面の面上の復帰位置にワイ
   パブレードをセットする第１行程、 紫外線ランプを点灯し、その紫外光を上記払拭面に照射
   する第２行程、 第２行程で紫外線が照射された払拭面の映像を撮像器に
   より画像信号に変換し、この画像信号を第１の画像デー
   タとしてメモリに記憶する第３行程、 噴霧器により払拭面に蛍光液を散布する第４行程、ワイ
   パモータを作動させてワイパブレードを復帰位置から反
   転位置まで払拭往動させ、さらに、反転位置から復帰位
   置まで払拭復動させ、払拭面の面上を払拭する第５行
   程、 第５行程でワイパブレードが払拭復動した後の払拭面の
   映像データを撮像器により画像信号に変換し、この画像
   信号を第２の画像データとしてメモリに記憶する第６行
   程、 第３行程で得られた第１の画像データと、第６行程で得
   られた第２の画像データとを信号処理器により比較処理
   して評価結果を得る第７行程からなることを特徴とする
   ワイパの払拭性能試験方法。
9. 【請求項９】 第７行程の後に、第７行程で比較して得
   られた評価結果をモニタにより画像として表示する第８
   行程を実行することを特徴とする請求項７または８のい
   ずれかに記載のワイパの払拭性能試験方法。