JP2001133500A - Electronic parts-measuring tool and electrode used for it - Google Patents

Electronic parts-measuring tool and electrode used for it

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JP2001133500A
JP2001133500A JP31169099A JP31169099A JP2001133500A JP 2001133500 A JP2001133500 A JP 2001133500A JP 31169099 A JP31169099 A JP 31169099A JP 31169099 A JP31169099 A JP 31169099A JP 2001133500 A JP2001133500 A JP 2001133500A
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JP
Japan
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dut
electrode
contact
electrodes
jig
Prior art date
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Application number
JP31169099A
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Japanese (ja)
Inventor
Masatomo Furuta
匡智 古田
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Agilent Technologies Japan Ltd
Original Assignee
Agilent Technologies Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve measurement reproducibility by improving the contact electrode with the DUT of an electronic parts-measuring tool. SOLUTION: The electrode according to the present invention being used for the electronic parts-measuring tool is fixed to the electronic parts-measuring tool so that it projects from a DUT installation surface for installation, and a sculptured surface such as a columnar shape and a spherical one is provided at a surface region in contact with a DUT 51. When load is applied while the DUT 51 is installed at the surface region, a region in contact with the DUT is slightly and elastically deformed, thus obtaining a large face pressure with a relatively small load and stabilizing contact resistance.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、SMTデバイスな
ど、端子リード線を持たないチップ形状の電子部品を測
定するための治具に関するものであり、特に、チップ形
状電子部品の各端子に接触する電極に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for measuring a chip-shaped electronic component having no terminal lead wire, such as an SMT device, and more particularly to a jig for contacting each terminal of the chip-shaped electronic component. It concerns an electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、3端子SMTデバイスを測定する
ための治具は、図1に示すように被試験デバイス(以
下、DUTと称する)11をその各端子部分を挟み込む
ようにして支持するクリップ手段12を設けていた。従
って、クリップ手段12が測定電極の機能を果たし、治
具本体13が測定器へコネクタ14を介して接続される
ことによって、図2の(a)に示す測定回路が形成され
る。しかしこの構成では、図に示すようにクリップの長
さに起因するインダクタンスLが存在し、これがDUT
の負荷容量C及びクリップの抵抗Rと合成されて、図2
の(b)に示すような、振動子に対して並列に入るイン
ピーダンスZ1となる。高周波信号でのインピーダンス
測定においてはこのインダクタンス分が無視できなくな
るので、測定結果に誤差をもたらすことになる。
2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 1, a jig for measuring a three-terminal SMT device has a clip for supporting a device under test (hereinafter, referred to as a DUT) 11 by sandwiching each terminal portion thereof. Means 12 were provided. Therefore, the clipping means 12 functions as a measuring electrode, and the jig body 13 is connected to the measuring instrument via the connector 14, whereby the measuring circuit shown in FIG. 2A is formed. However, in this configuration, as shown in the figure, there is an inductance L due to the length of the clip, which is
2 is combined with the load capacitance C and the clip resistance R of FIG.
(B), the impedance Z1 enters in parallel with the vibrator. In the impedance measurement using a high-frequency signal, the inductance cannot be ignored, so that an error is caused in the measurement result.

【0003】一方で、このような誤差を解消すべく、D
UTをその使用条件と同じ条件を満たすように作られた
DUTボードに直接半田付けして測定するといった方法
もとられていた。この場合、得られる測定データにおけ
る誤差は極小となるが、DUTのタイプによっては、そ
の測定パラメータの種類に応じて必要となる測定器への
接続形態が異なってくる。このように測定器への複数の
接続形態を必要とするデバイスとして、例えば各種マイ
クロコンピュータのクロック発振に使用されるセラミッ
クレゾネータが挙げれらるが、このデバイスには、図2
の(a)に示すように2つの負荷容量と1つの共振子の
合計3つの素子がその測定対象として含まれている。こ
の場合、これらの測定を行うには、図3に示すような3
つの接続形態が必要になる(この3つの接続形態による
DUTの測定方法に関しては特開平8−292219号
に詳細に説明されている)。従って、3つの素子を夫々
測定するためには、配線の異なった各測定の専用のDU
Tボードに交換しなければならない。
On the other hand, in order to eliminate such errors, D
A method has been proposed in which a UT is soldered directly to a DUT board made to satisfy the same conditions as the conditions under which it is used for measurement. In this case, the error in the obtained measurement data is minimal, but depending on the type of DUT, the required form of connection to the measuring device differs depending on the type of the measurement parameter. As a device that requires a plurality of connection forms to the measuring instrument, for example, a ceramic resonator used for clock oscillation of various microcomputers can be cited.
As shown in (a), three elements including two load capacitances and one resonator are included in the measurement. In this case, in order to perform these measurements, 3
Three connection modes are required (the method of measuring the DUT using the three connection modes is described in detail in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-292219). Therefore, in order to measure each of the three elements, a dedicated DU for each measurement with different wiring is required.
I have to replace it with a T board.

【0004】ちなみに、DUTの測定器への接続形態を
変える手段としては、前出の特開平8−292219号
に開示されているような、スイッチボックスを設けてこ
の中で測定パスを切換えるといった形態のものが周知で
ある。しかし、DUT端子の治具(スイッチボックス)
への接続には、上記のようなインダクタンスの問題やD
UTの電極への固定方法の問題はやはり存在している。
Incidentally, as a means for changing the connection mode of the DUT to the measuring instrument, a mode in which a switch box is provided and a measurement path is switched in the switch box as disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-292219 is disclosed. Are well known. However, DUT terminal jig (switch box)
The connection to the
The problem of how to fix the UT to the electrodes still exists.

【0005】さらに、上記のような半田付け手法による
測定治具は、測定手順の複雑化や、高コスト化という弊
害を持つだけでなく、DUTボードなどの測定治具に直
接半田付けしてしまえばそのDUTは製品としては使用
不可能となるので、量産ラインにおける試験には実質的
に役に立たないという致命的な問題を抱えていた。
Further, the measuring jig using the above-mentioned soldering method not only has the disadvantage of complicating the measuring procedure and increasing the cost, but also directly solders to the measuring jig such as a DUT board. For example, since the DUT cannot be used as a product, it has a fatal problem that it is practically useless for testing in a mass production line.

【0006】DUTを交換して測定できるようにした測
定治具としては、測定治具上に設けられた電極群の上に
DUTを載せ、電極群と接触した面と反対側の面から押
圧する部材を設けた測定治具が従来から一般に知られて
いる。これに関してしばしば問題とされるのは、DUT
の端子と測定治具の電極との接触抵抗である。ちなみに
この接触抵抗は、その接触面における面圧力がある閾値
より大きくなるとそれ以上変化しないという性質を有す
る。従って、安定した接触抵抗を得るための方法とし
て、面圧力がその閾値に達するようにDUTにかける荷
重を大きくして、所望の面圧力を得る方法が考えられ
る。しかし、SMTタイプのデバイスはその電極が平面
であるため、従来の測定治具上の平面電極では十分な面
圧力を得ることは困難であった。この面圧力は一般に、
(DUT上面から押圧する荷重M)/(DUT電極と測
定治具電極の接触する面積S)で求まるものであるが、
荷重MはDUTの許容荷重によって制限されてしまう。
一方、面積Sに関しては、これを小さくすることで面圧
力を大きくすることが考えられるが、電極が平面である
場合は一般的に、DUTの端子面が電極の平面部に接触
する時と電極の端部の角に接触する時とで面圧力が極端
に変わってしまい、DUTの設置状況によって接触抵抗
が大幅に異なってしまう。特に、この平面電極の面積S
を小さくし過ぎると、DUTが電極から外れ易くなる。
従って、DUTを治具へ安定して固定するためには最小
限必要な面積を確保しなければならず、平面電極の面積
を小さくするには限界があった。また、例えDUTの許
容荷重の範囲内であっても、ただ単に荷重を大きくする
ことは、測定値に変化を来たす原因にもなり、測定治具
の押圧構造自体も複雑でサイズの大きなものになってし
まう。従って、従来の構成では、微小で高周波の電流を
測定信号とする条件において要求される十分な接触面圧
力を得られず、測定再現性を保つことが困難であった。
[0006] As a measuring jig capable of performing measurement by exchanging the DUT, the DUT is placed on an electrode group provided on the measuring jig and pressed from a surface opposite to a surface in contact with the electrode group. A measuring jig provided with a member has been generally known. Often the issue in this regard is the DUT
Is the contact resistance between the terminal and the electrode of the measuring jig. Incidentally, this contact resistance has such a property that when the surface pressure at the contact surface becomes larger than a certain threshold value, it does not change any more. Therefore, as a method for obtaining a stable contact resistance, a method of obtaining a desired surface pressure by increasing the load applied to the DUT so that the surface pressure reaches the threshold value can be considered. However, since the SMT type device has a flat electrode, it has been difficult to obtain a sufficient surface pressure with a conventional flat electrode on a measuring jig. This surface pressure is generally
It can be obtained by (the load M pressed from the upper surface of the DUT) / (the area S where the DUT electrode contacts the measuring jig electrode).
The load M is limited by the allowable load of the DUT.
On the other hand, with respect to the area S, it is conceivable to increase the surface pressure by reducing the area S. However, when the electrode is flat, it is generally considered that the terminal surface of the DUT contacts the flat portion of the electrode. The contact pressure changes drastically when it comes into contact with the corner of the end of the DUT, and the contact resistance greatly differs depending on the installation condition of the DUT. In particular, the area S of this planar electrode
Is too small, the DUT tends to come off the electrode.
Therefore, in order to stably fix the DUT to the jig, a minimum necessary area must be secured, and there is a limit in reducing the area of the plane electrode. Even if the load is within the allowable load range of the DUT, simply increasing the load may cause a change in the measured value, and the pressing structure itself of the measuring jig may be complicated and large. turn into. Therefore, in the conventional configuration, a sufficient contact surface pressure required under the condition that a minute high-frequency current is used as a measurement signal cannot be obtained, and it is difficult to maintain measurement reproducibility.

【0007】このように従来技術では、DUTの可交換
性と、測定精度及び測定再現性の向上は相反する関係に
あるので、両方を同時に実現する手段は存在し得なかっ
た。
As described above, in the prior art, the exchangeability of the DUT and the improvement of the measurement accuracy and the measurement reproducibility are in a contradictory relationship, and there has been no means for realizing both of them at the same time.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従って本発明は、電子
部品測定治具におけるDUTの端子との電気接点部分で
ある電極の構造を改善し、DUTの設置を容易にし、な
おかつ接触抵抗が安定するようにすることを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention improves the structure of an electrode which is an electrical contact portion with a terminal of a DUT in an electronic component measuring jig, facilitates installation of the DUT, and stabilizes contact resistance. The purpose is to be.

【0009】本発明はさらに、様々なサイズ及び形状の
SMTデバイスに安定した接触をもたらす、適応範囲の
広い電子部品測定治具を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide an electronic component measuring jig having a wide range of application, which can provide stable contact with SMT devices of various sizes and shapes.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、電子部品測定用治具に使用してDUTの端子との接
触を得るための本発明に係る電極は、次のような構成と
した。即ち、被測定素子(DUT)設置表面上から突出
するように電子部品測定治具に固定して設置されてお
り、DUTと接触し得る表面領域は曲面形状を成してお
り、DUTが前記表面領域に設置された状態で荷重がか
けられたときに、DUTと接触した領域が弾性変形を起
こすことを特徴としている。また、本発明によれば、前
記表面領域を円柱形状にすることもできる。或いは、前
記表面領域を球面形状にすることもできる。さらに、本
発明にかかる円柱形状電極の一実施形態として、これを
矩形に折り曲げられた円柱形のワイヤから構成して、そ
の中心区画にDUTとの接触領域を持たせるようにする
こともできる。また、本発明に係る球面形状電極の一実
施形態として、先端部に球面形状を有するピン形部材か
ら構成して、前記先端部にDUTとの接触領域を持たせ
るようにすることもできる。また、これらの電極構造を
採用し、さらにDUTをこれら電極へ押圧するための押
圧手段を設けることにより、測定安定性が改善された電
子部品測定治具を実現することもできる。例えば、DU
T設置表面において、上記円柱形電極2つを一列に配列
し、これらの電極の対向する端部から等距離の点におい
て上記球形電極を1つ配置することにより、3端子デバ
イスを安定して設置することができ、しかも、種々のサ
イズのデバイスを或程度の範囲でカバーできる電子部品
測定治具を実現することができる。
In order to achieve the above object, an electrode according to the present invention for obtaining contact with a terminal of a DUT by using a jig for measuring an electronic component has the following structure. did. That is, it is fixedly installed on the electronic component measuring jig so as to protrude from the surface on which the device under test (DUT) is installed, and the surface area that can come into contact with the DUT has a curved surface shape. When a load is applied in a state of being set in the region, the region in contact with the DUT undergoes elastic deformation. Further, according to the present invention, the surface region can be formed in a cylindrical shape. Alternatively, the surface area can be spherical. Further, as an embodiment of the cylindrical electrode according to the present invention, the electrode may be formed of a cylindrical wire bent in a rectangular shape, and a central section thereof may have a contact area with the DUT. Further, as one embodiment of the spherical electrode according to the present invention, it is also possible to form a pin-shaped member having a spherical shape at the distal end so that the distal end has a contact area with the DUT. Further, by employing these electrode structures and further providing a pressing means for pressing the DUT against these electrodes, an electronic component measuring jig with improved measurement stability can be realized. For example, DU
The three-terminal device is stably installed by arranging the two cylindrical electrodes in a line on the T installation surface and arranging the one spherical electrode at a point equidistant from the opposite ends of these electrodes. In addition, it is possible to realize an electronic component measuring jig capable of covering devices of various sizes in a certain range.

【0011】[0011]

【実施例】以下において、現在のところ最良と思われる
実施例を図面に従って詳細に説明する。なお、図面にお
いて同一番号を付された構成要素は全図を通して同一の
機能を有するものとする。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The presently preferred embodiment will now be described in detail with reference to the drawings. Note that components denoted by the same reference numerals in the drawings have the same function throughout the drawings.

【0012】3端子を有する測定デバイスとして2つの
負荷容量を備えた振動子を例にし、これを測定するため
の治具に本発明を組込んだ実施例について以下に説明す
る。なお、本発明は実施例に限定されるものではなく、
測定端子の数や測定パラメータについては適宜修正、変
更できるものであることは当業者には容易に理解される
ことであろう。
An embodiment in which the present invention is incorporated in a jig for measuring the above will be described below, taking a vibrator having two load capacitances as an example of a measuring device having three terminals. Note that the present invention is not limited to the examples,
It will be easily understood by those skilled in the art that the number of measurement terminals and measurement parameters can be appropriately modified and changed.

【0013】図4は本発明の実施例である電子部品測定
治具の斜視図であり、図5はその分解斜視図である。こ
れらの図に示すように、本実施例の電子部品測定治具4
0は、測定器(図示せず)への接続のためのコネクタ群
41を備えた本体42及び配線の他に、DUT51を電
極に押さえつけるためのDUT押圧手段52と、DUT
51を所定の位置に位置決めするためのDUT案内手段
53、及び、測定器への電気的接続を供するための電極
を備える電極ボード54を備えている。本実施例のDU
T押圧手段52は、クランプユニット55、これに固定
されたホルダー56、該ホルダー56に摺動可能に貫設
されたロッド57、及び該ロッド57をホルダー56に
固定させるためのノブ58から構成されている。ホルダ
ー56は、その上下動作方向に沿った、ロッド57を貫
入させるように設けられた第1の貫通孔と、これに連絡
しかつ垂直に設けられた、ネジ山を有する第2の貫通孔
を有する。ノブ58には第2の貫通孔に螺合するように
ネジ山が設けられている。これを回すことによって、ロ
ッド57をホルダー内で固定/解放することができ、ロ
ッド57の先端の長手方向の位置を自由に調節して固定
させることができるので、DUTの厚みに応じて所望の
位置に調節することができる。このような構成により、
クランプユニット55を作動させることで、ロッド57
がホルダー56ごと上下に動作し、クランプユニット5
5のロック位置においてロッド57の先端がDUT51
の上面を押さえつけるようになる。この押さえつける力
の調節はロッド57の長さを調節することによって行わ
れる。クランプユニット55は、DUT51の電極ボー
ド54への固定/解放を切換えるように作用するもので
あり、一般的に知られるラッチ機構を備えたものであ
る。なお、クランプユニット55の詳細部に関しては当
業者の知るところであり、ここでは特に詳しくは説明し
ない。これには前述の動作が得られる様々な形態が利用
可能である。
FIG. 4 is a perspective view of an electronic component measuring jig according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is an exploded perspective view thereof. As shown in these figures, the electronic component measuring jig 4 of this embodiment
Reference numeral 0 denotes a DUT pressing means 52 for pressing the DUT 51 against the electrode, a DUT pressing means 52, and a DUT pressing means 52 in addition to a main body 42 having a connector group 41 for connection to a measuring instrument (not shown) and wiring.
DUT guide means 53 for positioning 51 at a predetermined position, and an electrode board 54 having electrodes for providing electrical connection to a measuring instrument are provided. DU of the present embodiment
The T pressing means 52 includes a clamp unit 55, a holder 56 fixed thereto, a rod 57 slidably penetrating the holder 56, and a knob 58 for fixing the rod 57 to the holder 56. ing. The holder 56 has a first through-hole provided to penetrate the rod 57 and a second through-hole having a thread, which is provided vertically and communicates with the first through-hole. Have. The knob 58 is provided with a screw thread so as to be screwed into the second through hole. By rotating the rod, the rod 57 can be fixed / released in the holder, and the longitudinal position of the tip of the rod 57 can be freely adjusted and fixed. Position can be adjusted. With such a configuration,
By operating the clamp unit 55, the rod 57
Moves up and down together with the holder 56, and the clamp unit 5
In the lock position 5, the tip of the rod 57 is
Will be pressed down on the upper surface. The adjustment of the pressing force is performed by adjusting the length of the rod 57. The clamp unit 55 functions to switch between fixing / release of the DUT 51 to / from the electrode board 54, and includes a generally known latch mechanism. It should be noted that those skilled in the art know the details of the clamp unit 55, and a detailed description thereof will not be given here. Various forms for obtaining the above-mentioned operation are available for this.

【0014】DUT案内手段53は、スライドベース5
9、アングル60、スライドユニット61、及びガイド
プレート62から構成されている。スライドユニット6
1は図示したように、摺動可能な上下に組み合わさった
2つの部材から成り、下側の部材63が本体42に固定
され、上側の部材64がスライドベース59に固定さ
れ、結果的にスライドベース59が本体42に対して摺
動可能に設置されている形となっている。スライドベー
スの滑動性能を向上させるために、スライドユニット6
1にボールベアリングを組込むことも可能である。ガイ
ドプレート62はアングル60に固定されており、該ア
ングル60がスライドベース59に固定されることによ
ってスライドベースと一体になっている。ガイドプレー
ト62の中央部には、DUT51の形状及びサイズに合
致するような開口が設けられており、DUTはこの開口
に嵌まった状態でスライドベース59の移動と共に電極
ボード54上を移動できるようになっている。従って、
スライドベース59を図4中の矢印Dの方向に動作させ
ることによって、DUTの電極ボード上の位置を変える
ことができる。ちなみにアングル60は、ユーザがスラ
イドベース59を動作させ易くするための取っ手の役割
を果たすものであって、必ずしも必要というわけではな
い。本実施例においてガイドプレート62は、アングル
60を介してスライドベース59へ固定されているが、
直接スライドベースへ固定するように設計することも可
能である。また、DUTのタイプに応じて色々な形状及
びサイズの開口のガイドプレートを用意しておき、異な
るタイプのDUTの測定時には、これに対応するガイド
プレートに交換するといった使い方が可能である。
The DUT guide means 53 includes a slide base 5
9, an angle 60, a slide unit 61, and a guide plate 62. Slide unit 6
As shown in the figure, 1 is composed of two members which are slidable up and down, and the lower member 63 is fixed to the main body 42, the upper member 64 is fixed to the slide base 59, and as a result, The base 59 is slidably mounted on the main body 42. In order to improve the sliding performance of the slide base, the slide unit 6
It is also possible to incorporate a ball bearing into 1. The guide plate 62 is fixed to the angle 60, and the angle 60 is fixed to the slide base 59 to be integrated with the slide base. An opening that matches the shape and size of the DUT 51 is provided at the center of the guide plate 62 so that the DUT can move on the electrode board 54 together with the movement of the slide base 59 in a state fitted in the opening. It has become. Therefore,
By moving the slide base 59 in the direction of arrow D in FIG. 4, the position of the DUT on the electrode board can be changed. Incidentally, the angle 60 serves as a handle for facilitating the operation of the slide base 59 by the user, and is not always necessary. In this embodiment, the guide plate 62 is fixed to the slide base 59 via the angle 60,
It is also possible to design to fix directly to the slide base. Further, it is possible to prepare a guide plate having openings of various shapes and sizes according to the type of DUT, and to replace the guide plate corresponding to the guide plate when measuring a different type of DUT.

【0015】図6に示すように、電極ボード54には所
望の接続形態の数だけ電極群65が設けられており、各
電極群に夫々対応する測定用配線が電極ボードに設けら
れて、これら電極に接続されている。図示していない
が、電極ボードはPCボード(プリント配線板)で構成
することができ、必要な測定用配線が組込まれている。
本実施例の場合は、図2中に示す等価回路で表される、
負荷容量付き振動子がDUTとして適用されることを想
定している。このDUTには1つの振動子と2つの負荷
容量が含まれている。従って、結果的にはこれら3つの
素子(Z、CL、CR)を夫々測定するための、図3に示
すような回路が形成されなければならない。各電極群
は、これらの素子を測定するための各回路を形成するよ
うに、本体のコネクタ41へ固有の配線が形成されてい
る。具体的には、電極ボード54の裏面に測定器のH
i、Lo、Gに対応する電極パッド(図示せず)が形成
されており、これら電極パッドが、電極ボード54が測
定治具42に接続された時に測定治具の表面に設けられ
たHi、Lo、Gの電極68に夫々接続されるようにな
っている。このようにして、図7に示す位置Aにおいて
は図3の測定回路(a)の接続形態で、位置Bにおいて
は測定回路(b)の接続形態で、位置Cにおいては測定
回路(c)の接続形態で、測定器にDUTが接続され
る。従って、DUT内の各素子の測定毎に、DUTの位
置決め、ラッチ、測定、リリース、次の測定位置へDU
Tを移動、という手順を行うことによってDUT内の各
素子の測定を行うことができる。
As shown in FIG. 6, a plurality of electrode groups 65 are provided on the electrode board 54 in a desired number of connection forms. Measurement wirings corresponding to the respective electrode groups are provided on the electrode board. Connected to electrodes. Although not shown, the electrode board can be constituted by a PC board (printed wiring board), and necessary measurement wiring is incorporated therein.
In the case of the present embodiment, it is represented by an equivalent circuit shown in FIG.
It is assumed that an oscillator with a load capacitance is applied as a DUT. This DUT includes one vibrator and two load capacitors. Therefore, as a result, a circuit as shown in FIG. 3 for measuring each of these three elements (Z, C L , C R ) must be formed. Each electrode group is formed with a unique wiring to the connector 41 of the main body so as to form each circuit for measuring these elements. More specifically, the measuring instrument H
Electrode pads (not shown) corresponding to i, Lo, and G are formed, and these electrode pads are provided on the surface of the measurement jig when the electrode board 54 is connected to the measurement jig 42. The electrodes are connected to the Lo and G electrodes 68, respectively. In this way, at the position A shown in FIG. 7, the connection configuration of the measurement circuit (a) of FIG. In the connection mode, the DUT is connected to the measuring instrument. Therefore, for each measurement of each element in the DUT, the DUT is positioned, latched, measured, released, and the DU is moved to the next measurement position.
By performing the procedure of moving T, each element in the DUT can be measured.

【0016】さらに、DUTの位置A〜Cへの位置決め
を容易にするために、ガイドプレート62或いはスライ
ドベース59にボールプランジャー66を設け、本体表
面上には、DUTが所定の位置に来ると該ボールプラン
ジャー66の先端部が係合するようにした穴67を設け
ることもできる。
Further, in order to facilitate positioning of the DUT at the positions A to C, a ball plunger 66 is provided on the guide plate 62 or the slide base 59, and when the DUT comes to a predetermined position on the surface of the main body. A hole 67 can be provided so that the tip of the ball plunger 66 is engaged.

【0017】さらに本発明によれば、比較的小さな荷重
によって大きな接触面圧力を得ることのできる電極が提
供される。本発明においては、この電極の形状を円柱
形、または球形などの曲面を有する立体形状にすること
によって上記効果をもたらす。特に電極表面が円柱形や
球形の場合は、接点がその表面上を移動しても曲率に変
化がなく、面圧に変化が起こらないので、測定安定性の
面で効果的である。以下に、従来の平面電極と本発明に
よる円柱形及び球形の電極の夫々の面圧力について比較
し、如何に本発明の電極構造が優れているかを説明す
る。
Further, according to the present invention, there is provided an electrode capable of obtaining a large contact surface pressure with a relatively small load. In the present invention, the above-described effect is obtained by making the shape of the electrode into a three-dimensional shape having a curved surface such as a cylindrical shape or a spherical shape. In particular, when the electrode surface is cylindrical or spherical, even if the contact moves on the surface, the curvature does not change and the surface pressure does not change, which is effective in terms of measurement stability. Hereinafter, the surface pressure of the conventional planar electrode and the surface pressure of the cylindrical and spherical electrodes according to the present invention will be compared to explain how the electrode structure of the present invention is superior.

【0018】DUT上面に3Nの荷重がかけられ、3箇
所の接触面夫々において1Nの荷重がかかる場合を想定
する(図8を参照)。従来の平面電極の場合、DUT端
子の幅を0.4mm、奥行きを0.8mmとすると、接
触面積Sは、 S=0.4×0.8 =0.32mm2 となり、接点1箇所における面圧力Pは、 P=1N/0.32mm2 ≒3.1N/mm2 となる。
Assume that a load of 3N is applied to the upper surface of the DUT, and a load of 1N is applied to each of three contact surfaces (see FIG. 8). In the case of the conventional flat electrode, if the width of the DUT terminal is 0.4 mm and the depth is 0.8 mm, the contact area S is S = 0.4 × 0.8 = 0.32 mm 2 , and the surface at one contact point the pressure P becomes P = 1N / 0.32mm 2 ≒ 3.1N / mm 2.

【0019】一方、電極の表面が円柱状である場合、図
8に示すようにその接触部分は荷重がかかることによっ
て弾性変形を起こし、上記と同じ条件で、電極が直径
0.5mmのベリリウム銅、DUTがアルミナであると
して曲面の接触に関するヘルツの公式を適用して計算を
行うと、面圧力は、弾性変形を起こす前の接触線部分が
最大となり、
On the other hand, when the surface of the electrode is cylindrical, the contact portion is elastically deformed by the application of a load as shown in FIG. 8, and under the same conditions as above, the electrode is made of beryllium copper having a diameter of 0.5 mm. When the calculation is performed by applying the Hertz's formula for the contact of a curved surface, assuming that the DUT is alumina, the surface pressure is maximized at the contact line portion before elastic deformation occurs,

【数1】 となる。ただし、 E1:ベリリウム銅のヤング率=11×104N/mm2 ν1:ベリリウム銅のポアソン比=0.33 E2:アルミナのヤング率=34×104N/mm2 ν2:アルミナのポアソン比=0.26 q:DUTにかかる荷重(この場合、1N) である。(Equation 1) Becomes Where, E 1 : Young's modulus of beryllium copper = 11 × 10 4 N / mm 2 ν 1 : Poisson's ratio of beryllium copper = 0.33 E 2 : Young's modulus of alumina = 34 × 10 4 N / mm 2 ν 2 : Poisson's ratio of alumina = 0.26 q: load applied to the DUT (in this case, 1N).

【0020】さらに、電極の表面が半径0.5mmの球
面状である場合、
Further, when the surface of the electrode is spherical with a radius of 0.5 mm,

【数2】 となる。このように、同じ荷重がかけられた場合でも、
各接点における面圧力は、電極表面が円柱である場合は
平面の場合の110倍になり、球面形状の場合は約60
0倍にもなる。
(Equation 2) Becomes Thus, even if the same load is applied,
The surface pressure at each contact is 110 times larger than that of a flat surface when the electrode surface is cylindrical, and about 60 times when the electrode surface is spherical.
It becomes 0 times.

【0021】上述した本発明による電極形状を利用した
一実施例として、図9に示すような、円柱形状のワイヤ
ーを矩形に折り曲げて構成された電極91が考えられ
る。折り曲げた両側の区画部分は、図9から容易に分か
るように、電極ボード54に設けられたスルーホールに
貫入され、電極の裏面から半田付けされる。また、これ
らの2つのワイヤー形電極91の対向する端部から等距
離の点に設けられたスルーホールへ、先端に半球形状を
有するピン形状の電極92が貫入され、同様に半田付け
されている。この電極の配列によれば、図9に示したよ
うな形態のDUTの場合、DUTの中心端子が中央のピ
ン形状電極の位置にくるように位置決めしてやれば、或
程度の範囲内で大きさの異なるDUTにも対応すること
ができる。また、中央電極は、両端の電極と一列に整列
していなくてもよく、図のように両端電極の列から少し
オフセットを以って配列させることも可能である。これ
によって、比較的小さなDUTに対しても、中央電極と
両端電極の距離を確保することができ、加工が容易にな
り、しかも、DUTをバランス良く設置することができ
る。
As one embodiment utilizing the above-described electrode shape according to the present invention, an electrode 91 formed by bending a cylindrical wire into a rectangular shape as shown in FIG. 9 can be considered. As can be easily understood from FIG. 9, the bent sections on both sides penetrate through holes provided in the electrode board 54 and are soldered from the back surface of the electrodes. In addition, a pin-shaped electrode 92 having a hemispherical shape at the tip is penetrated into a through hole provided at a point equidistant from the opposite ends of these two wire-shaped electrodes 91, and similarly soldered. . According to the arrangement of the electrodes, in the case of the DUT having the form shown in FIG. 9, if the center terminal of the DUT is positioned so as to be located at the position of the center pin-shaped electrode, the size of the DUT is within a certain range. Different DUTs can be accommodated. Further, the center electrode does not have to be aligned with the electrodes at both ends, and may be arranged with a slight offset from the row of the electrodes at both ends as shown in the figure. As a result, even for a relatively small DUT, the distance between the center electrode and both end electrodes can be ensured, processing becomes easy, and the DUT can be installed in a well-balanced manner.

【0022】また、他の実施例においては、図10に示
すように、3つの電極全てをピン形状電極にすることも
可能である(簡単にするため、1つの電極群についての
み図示している)。また同様に、図11に示すように3
つの電極全てをワイヤー電極にすることも可能である
(同様に、1つの電極群についてのみ図示している)。
DUTのサイズ、形状、及び得たい面圧力に応じてこれ
ら電極の形状を適宜選択することができる。
In another embodiment, as shown in FIG. 10, all three electrodes can be pin-shaped electrodes (only one electrode group is shown for simplicity). ). Similarly, as shown in FIG.
It is also possible for all of the electrodes to be wire electrodes (similarly, only one electrode group is shown).
The shape of these electrodes can be appropriately selected according to the size and shape of the DUT and the desired surface pressure.

【0023】以上説明した本発明による電極形態を、上
述の電子部品測定治具の実施例における電極に採用する
ことにより、3端子部品測定に対する容易性及び電極の
長さに起因する誤差の低減に加え、従来のものに比べて
飛躍的に向上した測定再現性という、至って顕著な効果
を奏する電子部品測定治具を実現することができる。
By adopting the electrode configuration according to the present invention described above as the electrode in the above-described embodiment of the electronic component measuring jig, it is possible to easily measure three-terminal components and reduce errors caused by the length of the electrode. In addition, it is possible to realize an electronic component measuring jig that has a remarkably significant effect of significantly improving measurement reproducibility as compared with the conventional one.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、DUTとの接触面圧力を大きくすることができない
ために接触抵抗が不安定になるという従来の問題が解決
され、DUT上面にかける荷重を大きくすることなく必
要な面圧力を確保することができる、電子部品測定治具
用の電極を実現することができる。また、この電極を採
用することによって、DUTを交換可能にしながらも、
3端子デバイス内の複数の素子の測定を容易に且つ正確
に行うことのできる電子部品測定治具を提供することが
できる。また、従来技術では成し得なかった、DUTの
可交換性と測定精度及び測定再現性の向上の両方を同時
に実現することが可能になる。さらには、DUTの交換
前後におけるDUT搭載位置の僅かな差によって測定値
にばらつきが出るという従来の問題点も解決され、測定
再現性が飛躍的に向上するという、至って顕著な効果を
奏する。
As described above in detail, according to the present invention, the conventional problem that the contact resistance becomes unstable because the pressure at the contact surface with the DUT cannot be increased is solved. It is possible to realize an electrode for an electronic component measuring jig that can secure a necessary surface pressure without increasing a load to be applied. Also, by using this electrode, the DUT can be exchanged,
An electronic component measuring jig that can easily and accurately measure a plurality of elements in a three-terminal device can be provided. Further, it becomes possible to simultaneously achieve both the exchangeability of the DUT and the improvement of the measurement accuracy and the measurement reproducibility, which could not be achieved by the conventional technology. Furthermore, the conventional problem that the measured value varies due to a slight difference in the DUT mounting position before and after the DUT is replaced is also solved, and the reproducibility of the measurement is drastically improved.

【0025】本発明を詳細にその最も好ましい実施例に
ついて説明してきたが、上記実施例は本発明の精神から
逸脱することなく変更及び修正を行うことができること
は言うまでもない。従って、本発明の範囲はその特許請
求の範囲に記載の内容によってのみ限定されるものであ
る。
Although the present invention has been described in detail with reference to its most preferred embodiments, it will be appreciated that the embodiments described above can be changed and modified without departing from the spirit of the invention. Therefore, the scope of the present invention is limited only by the content of the appended claims.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来技術による電子部品測定治具を示す図であ
る。
FIG. 1 is a view showing a conventional electronic component measuring jig.

【図2】3端子デバイスの測定回路とその等価回路を示
す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a measurement circuit of a three-terminal device and an equivalent circuit thereof.

【図3】3端子デバイスの測定回路の3つの接続形態を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating three connection forms of a measurement circuit of a three-terminal device.

【図4】本発明の一実施例である電子部品測定治具の斜
視図である。
FIG. 4 is a perspective view of an electronic component measuring jig according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例である電子部品測定治具の分
解斜視図である。
FIG. 5 is an exploded perspective view of an electronic component measuring jig according to one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例による電極ボードの斜視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective view of an electrode board according to an embodiment of the present invention.

【図7】図6の電極ボード上にDUTが配置される様子
を説明するための図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining how a DUT is arranged on the electrode board of FIG. 6;

【図8】本発明による電極の原理を説明するための図で
ある。
FIG. 8 is a diagram for explaining the principle of an electrode according to the present invention.

【図9】本発明による電極の一実施例の上面図及び断面
図である。
FIG. 9 is a top view and a sectional view of one embodiment of an electrode according to the present invention.

【図10】本発明による電極の一実施例を示す図であ
る。
FIG. 10 is a diagram showing one embodiment of an electrode according to the present invention.

【図11】本発明による電極の一実施例を示す図であ
る。
FIG. 11 is a view showing one embodiment of an electrode according to the present invention.

【図12】図9に示した電極の実施例の斜視図である。FIG. 12 is a perspective view of an embodiment of the electrode shown in FIG. 9;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

51:DUT 52:押圧手段 53:DUT案内手段 54:電極ボード 51: DUT 52: Pressing means 53: DUT guide means 54: Electrode board

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被測定素子(DUT)設置表面上から突出
するように電子部品測定治具に固定して設置される、D
UTの端子との接触を得るための電極であって、DUT
と接触し得る表面領域は曲面形状を成しており、DUT
が前記表面領域に設置された状態で荷重がかけられたと
きに、DUTと接触した領域が弾性変形を起こすことを
特徴とする電極。
1. A DUT which is fixedly installed on an electronic component measuring jig so as to protrude from a surface of a device under test (DUT) installation.
An electrode for obtaining contact with a terminal of the UT,
The surface area that can be in contact with
The electrode is characterized in that, when a load is applied in a state where it is placed on the surface area, the area in contact with the DUT undergoes elastic deformation.
【請求項2】前記表面領域が円柱形状を成していること
を特徴とする、請求項1に記載の電極。
2. The electrode according to claim 1, wherein said surface region has a cylindrical shape.
【請求項3】前記表面領域が球面形状を成していること
を特徴とする、請求項1に記載の電極。
3. The electrode according to claim 1, wherein said surface region has a spherical shape.
【請求項4】矩形に折り曲げられた円柱形のワイヤから
なり、その中心区画にDUTとの接触領域を有すること
を特徴とする、請求項1に記載の電極。
4. The electrode according to claim 1, comprising a cylindrical wire bent in a rectangular shape, and having a contact area with the DUT in a central section thereof.
【請求項5】先端部が球面形状を成すピン形部材から成
り、前記先端部にDUTとの接触領域を有することを特
徴とする、請求項1に記載の電極。
5. The electrode according to claim 1, wherein the tip is formed of a pin-shaped member having a spherical shape, and the tip has a contact area with the DUT.
【請求項6】請求項1乃至請求項5に記載の電極を少な
くとも1つ選択的に備えており、さらにDUTを前記電
極へ押圧するための押圧手段を備えたことを特徴とする
電子部品測定治具。
6. An electronic component measuring apparatus, comprising: at least one of the electrodes according to claim 1; and a pressing means for pressing a DUT against the electrode. jig.
【請求項7】DUT設置表面において、請求項2または
請求項4に記載の電極2つを一列に配列し、これらの電
極の対向する端部から等距離の点において請求項3また
は請求項5に記載の電極を1つ配置しており、さらに、
これら3つの電極上に設置したDUTをこれら電極へ押
圧するための押圧手段を備えたことを特徴とする電子部
品測定治具。
7. The two electrodes according to claim 2 or 4 are arranged in a row on a DUT installation surface, and at the point equidistant from opposing ends of these electrodes. Is arranged, and further,
An electronic component measuring jig comprising a pressing means for pressing a DUT placed on these three electrodes against these electrodes.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN108736204A (en) * 2018-04-28 2018-11-02 浙江红牌智能电器制造有限公司 A kind of high-power socket and its plug

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