JP2001127232A - Lead frame and method of manufacturing the same - Google Patents

Lead frame and method of manufacturing the same

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JP2001127232A
JP2001127232A JP30563099A JP30563099A JP2001127232A JP 2001127232 A JP2001127232 A JP 2001127232A JP 30563099 A JP30563099 A JP 30563099A JP 30563099 A JP30563099 A JP 30563099A JP 2001127232 A JP2001127232 A JP 2001127232A
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JP
Japan
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hole
die pad
lead frame
holes
sealing resin
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JP30563099A
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Japanese (ja)
Inventor
Shintaro Hayashi
真太郎 林
Kazuto Yonemochi
和人 米持
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Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8338Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/83385Shape, e.g. interlocking features

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high-reliability lead frame by increasing adhesion intensity between sealing resin and a mounting part for a semiconductor device such as a die pad etc. SOLUTION: This is a lead frame which has through holes 30 formed by press working for increasing adhesion intensity between sealing resin 16 and a mounting part 12 in a mounting part 12 for a semiconductor device, a plurality of through holes 30 are formed into a slitlike shape, and the through holes are arranged adjacently. Besides, small segment parts interposed by adjoining through holes 30 are formed inbetween into a shape twisted as against the direction of extraction of the through holes 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はリードフレーム及び
その製造方法に関し、より詳細には、半導体素子を搭載
するダイパッドと封止樹脂との密着強度を向上させたリ
ードフレームとその好適な製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a lead frame having improved adhesion strength between a die pad on which a semiconductor element is mounted and a sealing resin, and a preferable method of manufacturing the same. .

【0002】[0002]

【従来の技術】図5はリードフレーム10のダイパッド
12に半導体素子14を搭載し、封止樹脂16によって
樹脂封止した半導体装置を示す。このような、樹脂封止
型の半導体装置では、封止した際の封止樹脂16とダイ
パッド12との密着性が問題となる。封止樹脂16とダ
イパッド12との密着性が不十分な場合には、ダイパッ
ド12と封止樹脂16との熱膨張係数がかなり相違する
ことから、ダイパッド12と封止樹脂16との間で熱応
力が生じ、封止樹脂16にクラックが生じたり、封止樹
脂16とダイパッド12との界面で吸湿し、製品の信頼
性が低下するといった問題が生じるからである。
2. Description of the Related Art FIG. 5 shows a semiconductor device in which a semiconductor element 14 is mounted on a die pad 12 of a lead frame 10 and sealed with a sealing resin 16. In such a resin-encapsulated semiconductor device, adhesion between the encapsulation resin 16 and the die pad 12 at the time of encapsulation poses a problem. When the adhesion between the sealing resin 16 and the die pad 12 is insufficient, the thermal expansion coefficient between the die pad 12 and the sealing resin 16 is considerably different. This is because stress is generated, and cracks are generated in the sealing resin 16 and moisture is absorbed at the interface between the sealing resin 16 and the die pad 12, which causes a problem that the reliability of the product is reduced.

【0003】このため、従来のリードフレームではダイ
パッドの半導体素子を搭載する面とは反対面にディンプ
ル加工を施したり、ダイパッドに貫通孔を形成したりす
る方法が行われている。これらは、封止樹脂とダイパッ
ドとの密着面積を拡大し、あるいはアンカー作用によっ
て封止樹脂とダイパッドとの密着強度を向上させるもの
である。図6は、リードフレームのダイパッド12にス
リット状の貫通孔18を形成した例で、ダイパッドとダ
イパッドに搭載される半導体素子との熱膨張係数の相違
によりこれらの界面で生じる張力を吸収可能とした従来
例である(特開昭63-310151号公報)。
For this reason, in a conventional lead frame, a method of performing dimple processing on the surface of the die pad opposite to the surface on which the semiconductor element is mounted, or forming a through hole in the die pad is performed. These are to increase the adhesion area between the sealing resin and the die pad, or to improve the adhesion strength between the sealing resin and the die pad by an anchor action. FIG. 6 shows an example in which a slit-shaped through hole 18 is formed in the die pad 12 of the lead frame. The difference in thermal expansion coefficient between the die pad and the semiconductor element mounted on the die pad makes it possible to absorb the tension generated at the interface between them. This is a conventional example (JP-A-63-310151).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】図7は、ダイパッド1
2と封止樹脂16との密着性を説明する図である。図7
(a)は封止樹脂16とダイパッド12との密着面を平坦
面に形成した例、図7(b)は、ダイパッド12の裏面に
ディンプル加工を施して凹部20を形成した例、図7
(c)は、ダイパッド12に貫通孔18を形成した例であ
る。図7(b)に示す例では、ダイパッド12と封止樹脂
16との密着面積が大きくなることによって密着強度が
向上し、図7(c)に示す例では、ダイパッド12と封止
樹脂16との密着面積が大きくなるとともに、貫通孔1
8に入り込んだ封止樹脂16によるアンカー作用によっ
て密着強度が向上する。
FIG. 7 shows a die pad 1.
FIG. 3 is a view for explaining the adhesion between a sealing resin 16 and a sealing resin 16. FIG.
7A shows an example in which the contact surface between the sealing resin 16 and the die pad 12 is formed as a flat surface, FIG. 7B shows an example in which a dimple process is performed on the back surface of the die pad 12 to form a concave portion 20, and FIG.
(c) is an example in which a through hole 18 is formed in the die pad 12. In the example shown in FIG. 7B, the adhesion strength is improved by increasing the contact area between the die pad 12 and the sealing resin 16, and in the example shown in FIG. Of the through hole 1
The adhesion strength is improved by the anchoring action of the sealing resin 16 that has entered the surface 8.

【0005】しかしながら、ダイパッドにディンプル加
工を施したり、貫通孔を形成したりする方法では、ダイ
パッドと封止樹脂との密着強度が必ずしも十分とはいえ
ない。このため、図7(d)に示すように、ダイパッド1
2に逆止形状の貫通孔22を形成してダイパッド12と
封止樹脂16との密着強度を向上させる方法も考えられ
ている。しかしながら、このような逆止形状の貫通孔2
2を形成するには加工が容易でないという問題がある。
また、ダイパッドの全面にディンプル加工を施したよう
な場合は、ダイパッドの平坦性が損なわれるという問題
もある。
However, the method of dimple processing or forming a through hole in the die pad does not always provide sufficient adhesion strength between the die pad and the sealing resin. For this reason, as shown in FIG.
A method of improving the adhesion strength between the die pad 12 and the sealing resin 16 by forming a through hole 22 having a non-return shape in 2 has also been considered. However, such a check hole 2
There is a problem that processing is not easy to form 2.
Further, when dimple processing is performed on the entire surface of the die pad, there is a problem that the flatness of the die pad is impaired.

【0006】そこで、本発明は、これらの問題点を解消
すべくなされたものであり、その目的とするところは、
ダイパッドと封止樹脂との密着強度を向上させることが
でき、所要の平坦性を得ることができて信頼性の高いリ
ードフレームとして提供することができるとともに、加
工が容易で量産に適したリードフレーム及びその好適な
製造方法を提供しようとするものである。
The present invention has been made in order to solve these problems.
A lead frame that can improve the adhesion strength between the die pad and the sealing resin, can obtain the required flatness, and can be provided as a highly reliable lead frame, and is easy to process and suitable for mass production. And a preferred method of manufacturing the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次の構成を備える。すなわち、半導体素子
の搭載部に、封止樹脂と搭載部との密着強度を向上させ
る貫通孔がプレス抜き加工によって形成されているリー
ドフレームであって、前記貫通孔がスリット状に形成さ
れて複数個隣接して配置されるとともに、隣接する貫通
孔に挟まれた小片部が貫通孔の抜き方向に対してねじれ
た形状に形成されていることを特徴とする。また、前記
貫通孔が、搭載部の周縁の近傍に形成されていること
は、搭載部の周縁での封止樹脂と搭載部との密着強度が
向上し、リードフレームの信頼性を高めることができる
点で好適である。また、搭載部が、サポートバーにより
支持され、該サポートバー、リード等と一体に形成され
たダイパッドであることは、一連のプレス抜き加工によ
ってリードフレームが製造できる点で好適である。
To achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement. That is, a lead frame in which a through hole for improving the adhesion strength between a sealing resin and a mounting portion is formed in a mounting portion of a semiconductor element by press punching, wherein the through hole is formed in a slit shape, and The small pieces that are arranged adjacent to each other and that are sandwiched between the adjacent through holes are formed in a shape twisted with respect to the direction in which the through holes are pulled out. Further, since the through hole is formed near the periphery of the mounting portion, the adhesion strength between the sealing resin and the mounting portion at the periphery of the mounting portion is improved, and the reliability of the lead frame can be improved. This is preferable in that it can be performed. In addition, it is preferable that the mounting portion is a die pad supported by the support bar and formed integrally with the support bar, the lead, and the like, since the lead frame can be manufactured by a series of press punching.

【0008】また、リードフレームを製造する板材を加
工して、リード及びダイパッド等の所要のパターンを形
成するとともに、ダイパッドに該ダイパッドと封止樹脂
との密着強度を向上させる複数のスリット状の貫通孔を
隣接して形成するリードフレームの製造方法であって、
前記貫通孔を、前記板材をプレス抜き加工して形成する
とともに、先に形成した貫通孔に隣接して貫通孔を形成
する際に、該貫通孔と隣接する貫通孔に挟まれた小片部
が該貫通孔の抜き方向に対してねじれるように前記小片
部の幅寸法を設定してプレス抜き加工することを特徴と
する。また、前記小片部の幅寸法を、前記板材の厚さの
60%〜80%に設定してプレス抜き加工することは、
貫通孔の抜き方向に対してねじれた形状に抜き加工でき
る点で好適である。
In addition, a required material such as a lead and a die pad is formed by processing a plate material for manufacturing a lead frame, and a plurality of slit-shaped through holes are formed on the die pad to improve the adhesion strength between the die pad and a sealing resin. A method of manufacturing a lead frame in which holes are formed adjacent to each other,
The through hole is formed by press-cutting the plate material, and when forming a through hole adjacent to the previously formed through hole, a small piece portion sandwiched between the through hole and the through hole adjacent to the through hole is formed. The width of the small piece portion is set so as to be twisted with respect to the drawing direction of the through-hole, and press-cutting is performed. In addition, setting the width dimension of the small piece portion to 60% to 80% of the thickness of the plate material and performing the press punching process includes:
This is preferable in that it can be punched into a shape twisted with respect to the pulling direction of the through hole.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて添付図面に基づき詳細に説明する。本発明に係る
リードフレームは、半導体素子を搭載するダイパッドに
複数のスリット状の貫通孔を形成したものである。図1
に、ダイパッド12に貫通孔30を形成した実施形態を
示す。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In a lead frame according to the present invention, a plurality of slit-shaped through holes are formed in a die pad on which a semiconductor element is mounted. FIG.
Next, an embodiment in which a through hole 30 is formed in the die pad 12 is shown.

【0010】図1(a)は、正方形状に形成されたダイパ
ッド12の平面内で各々のコーナー部の近傍に貫通孔3
0を形成した例である。貫通孔30は短い直線状に形成
し、ダイパッド12の対角線に直交する向きに、一定間
隔をあけて平行に形成する。図では、貫通孔30を3個
形成しているが、貫通孔30は2個以上であればとくに
配置数は限定されない。32はダイパッド12を支持す
るサポートバーである。図1(b)は、ダイパッド12の
各々のコーナー部の近傍にL字形の貫通孔30を形成し
た例である。貫通孔30は角部分をダイパッド12の対
角線上に配置し、両側の直線状の孔部分をダイパッド1
2の側縁に平行に配置している。貫通孔30を一定間隔
あけて平行に配置することは図1(a)に示す実施形態と
同様である。
FIG. 1A shows a through hole 3 near each corner in the plane of a die pad 12 formed in a square shape.
This is an example in which 0 is formed. The through holes 30 are formed in a short straight line, and are formed in parallel at regular intervals in a direction orthogonal to a diagonal line of the die pad 12. In the figure, three through holes 30 are formed, but the number of through holes 30 is not particularly limited as long as it is two or more. A support bar 32 supports the die pad 12. FIG. 1B shows an example in which an L-shaped through hole 30 is formed near each corner of the die pad 12. The through-holes 30 have corner portions arranged on a diagonal line of the die pad 12, and straight hole portions on both sides are formed in the die pad 1.
2 are arranged parallel to the side edges. Arranging the through holes 30 in parallel at regular intervals is the same as in the embodiment shown in FIG.

【0011】図1(c)は、ダイパッド12の側縁近傍
に、ダイパッド12の側縁と平行に貫通孔30を形成し
た例である。貫通孔30は同一長さで、所定間隔で配置
している。図1(d)は、ダイパッド12の各々のコーナ
ー部に、ダイパッド12の対角線に対し対称となる屈曲
形状の貫通孔30を形成した例である。図1(e)は、ダ
イパッド12の側縁近傍に側縁に直角の向きに貫通孔3
0を形成した例である。図1(f)は、ダイパッド12の
コーナー部の近傍に、ダイパッド12の対角線方向と平
行に貫通孔30を形成した例である。これらの実施形態
でも、貫通孔30を所定間隔で互いに平行に形成する。
FIG. 1C shows an example in which a through hole 30 is formed near the side edge of the die pad 12 in parallel with the side edge of the die pad 12. The through holes 30 have the same length and are arranged at predetermined intervals. FIG. 1D shows an example in which a bent through hole 30 symmetrical with respect to a diagonal line of the die pad 12 is formed at each corner of the die pad 12. FIG. 1 (e) shows the through hole 3 near the side edge of the die pad 12 in a direction perpendicular to the side edge.
This is an example in which 0 is formed. FIG. 1F shows an example in which a through hole 30 is formed near the corner of the die pad 12 in parallel with the diagonal direction of the die pad 12. Also in these embodiments, the through holes 30 are formed at predetermined intervals in parallel with each other.

【0012】上述したように、本発明に係るリードフレ
ームでは、ダイパッド12に形成する貫通孔30をスリ
ット状の細幅に形成することと、貫通孔30を近接させ
て配置するが、これらの貫通孔30はプレス抜き加工に
よって形成する。図2に、プレス抜き加工によってダイ
パッド12に貫通孔30を形成する方法を示す。図2
(a)は、ダイパッド12の所定位置に、まず、第1の貫
通孔30aを形成した状態を示す。
As described above, in the lead frame according to the present invention, the through holes 30 formed in the die pad 12 are formed to have a narrow slit shape, and the through holes 30 are arranged close to each other. The hole 30 is formed by press punching. FIG. 2 shows a method of forming the through holes 30 in the die pad 12 by press punching. FIG.
(a) shows a state in which a first through hole 30a is first formed at a predetermined position of the die pad 12.

【0013】図2(b)は、ダイパッド12に第2の貫通
孔30bを形成する工程である。金型34によりリード
フレームをクランプし、パンチ36を用いて貫通孔30
を抜き加工する。先に抜き加工した第1の貫通孔30a
と次に抜き加工した第2の貫通孔30bは、前述したよ
うに、孔が平行に配置されるようにし、かつ十分に接近
させて配置する。このように、貫通孔30を接近させて
配置する理由は、貫通孔30を接近させて抜き加工する
際には、金型34による押さえ力が被加工材に十分に作
用せず、パンチ36によって貫通孔30を抜く作用によ
り被加工材がねじれるようになることを利用するためで
ある。
FIG. 2B shows a step of forming a second through hole 30 b in the die pad 12. The lead frame is clamped by the mold 34 and the through-hole 30 is
And punching. First through hole 30a previously punched
The second through-hole 30b, which has been punched next, is arranged such that the holes are arranged in parallel and sufficiently close to each other as described above. As described above, the reason why the through-holes 30 are arranged close to each other is that when the through-holes 30 are approached to perform the punching process, the pressing force of the mold 34 does not sufficiently act on the workpiece, and the punch 36 This is to take advantage of the fact that the workpiece is twisted by the action of pulling out the through hole 30.

【0014】図2(c)で、A部分が貫通孔30bを形成
する際に、被加工材を押さえる部位であるが、このA部
分のクランプ面積が非常に小さくなると、被加工材を押
さえる力が被加工材に十分に作用せず、パンチ36によ
って貫通孔30bを抜き加工する際に加工部分にねじれ
が生じるようになる。図2(d)は、プレス抜き加工後
に、貫通孔30a、30bによって挟まれた小片部40
が若干右下がりにねじれた状態を示している。
In FIG. 2 (c), the portion A is a portion for holding the workpiece when forming the through hole 30b. If the clamping area of the portion A becomes very small, the force for holding the workpiece is reduced. Does not sufficiently act on the workpiece, and when the punch 36 punches out the through-hole 30b, the processed portion is twisted. FIG. 2D shows the small piece portion 40 sandwiched between the through holes 30a and 30b after the press punching.
Indicates a state twisted slightly downward to the right.

【0015】このように、ダイパッド12に貫通孔30
を形成する際に、貫通孔30を接近させてプレス抜き加
工すると、貫通孔30によって挟まれた小片部40が貫
通孔30の抜き方向に対してねじれた形状となる。実際
には、被加工材の材質、被加工材の厚さ、貫通孔30の
孔寸法等によって小片部40がねじれる角度は異なる
が、ダイパッド12と封止樹脂16との密着強度を向上
させる目的には、隣接する貫通孔30の間隔(図2(c)
のA部分の寸法)を被加工材である板材の板厚の60%
〜80%程度に設定すると、小片部40が所要程度ねじ
れるようになり、封止樹脂16との密着強度を有効に向
上させることができる。
As described above, the through holes 30 are formed in the die pad 12.
When the through-hole 30 is approached and press-cutting is performed, the small piece portion 40 sandwiched between the through-holes 30 has a shape twisted in the direction in which the through-hole 30 is removed. Actually, the angle at which the small piece portion 40 is twisted varies depending on the material of the workpiece, the thickness of the workpiece, the hole size of the through-hole 30, and the like, but the purpose is to improve the adhesion strength between the die pad 12 and the sealing resin 16. Is the distance between adjacent through holes 30 (FIG. 2 (c)
A) is 60% of the plate thickness of the plate material to be processed.
When it is set to about 80%, the small piece portion 40 is twisted to a required degree, and the adhesion strength with the sealing resin 16 can be effectively improved.

【0016】図3は、ダイパッド12に貫通孔30を形
成する際に、貫通孔30の抜き順を変えることによって
貫通孔30の中間に形成される小片部40のねじれ方向
が変わることを示す。図3(a)、(b)、(c)の各々に、貫
通孔30の抜き順と、そのときの小片部40のねじれ方
向を示す。上述したように、金型によって被加工材をク
ランプした際に、クランプ力が不十分となることから、
小片部40のねじれが生じる。したがって、貫通孔30
の抜き順を変えることによって、小片部40のねじれ方
向を変えることができる。図3(a)は、小片部40が同
じ向きにねじれる例、図3(b)は、対向する小片部40
が下開きにねじれる例、図3(c)は、対向する小片部4
0が上開きにねじれる例である。
FIG. 3 shows that when the through-hole 30 is formed in the die pad 12, the twisting direction of the small piece portion 40 formed in the middle of the through-hole 30 is changed by changing the order in which the through-hole 30 is removed. 3A, 3B, and 3C show the order in which the through-holes 30 are removed and the twist direction of the small piece portion 40 at that time. As described above, when the workpiece is clamped by the mold, the clamping force becomes insufficient.
The small piece portion 40 is twisted. Therefore, the through hole 30
By changing the order in which the small pieces are removed, the twisting direction of the small piece portion 40 can be changed. FIG. 3A shows an example in which the small pieces 40 are twisted in the same direction, and FIG.
Is twisted downward, FIG. 3 (c) shows the opposing small piece 4
0 is an example of twisting upward.

【0017】なお、板材からプレス抜き加工によってリ
ードフレームを製造する場合は、一連のプレス抜き工程
のうちの適宜工程で、ダイパッド12に貫通孔30を加
工すればよい。すなわち、たとえば、ダイパッド12の
外形形状を成形した後に、貫通孔30を抜き加工するこ
とも可能であるし、ダイパッド12の外形形状を成形す
る前工程で、ダイパッド12の位置に合わせて適宜、貫
通孔30を加工することも可能である。プレス抜き加工
によってリードフレームを製造する場合は、多くの抜き
加工工程を経て製品となるから、適宜工程で貫通孔30
を形成するように設計することは容易であり、ダイパッ
ド12に貫通孔30を形成することは容易である。
When manufacturing a lead frame from a plate material by press punching, the through hole 30 may be formed in the die pad 12 in an appropriate step of a series of press punching steps. That is, for example, after the outer shape of the die pad 12 is formed, the through-hole 30 can be punched out, and in a process before forming the outer shape of the die pad 12, the through hole 30 can be appropriately formed in accordance with the position of the die pad 12. It is also possible to machine the hole 30. When a lead frame is manufactured by press blanking, a product is manufactured through many blanking processes.
It is easy to design to form a through hole, and it is easy to form the through hole 30 in the die pad 12.

【0018】また、貫通孔30をパンチ36で抜き加工
するだけで、小片部40が貫通孔30の抜き方向に対し
てねじれた形状にできるから、従来のプレス抜き加工に
よってリードフレームを製造する加工装置がそのまま利
用でき、複雑な加工が必要ないという利点がある。これ
によって、隣接する貫通孔30に挟まれた小片部40が
貫通孔30の抜き方向に対してねじれた形状となったダ
イパッド12を備えたリードフレームを容易に量産する
ことが可能になる。
Further, since the small piece portion 40 can be formed into a shape twisted in the direction in which the through hole 30 is removed by merely punching the through hole 30 with the punch 36, a process for manufacturing a lead frame by a conventional press punching process. There is an advantage that the apparatus can be used as it is and no complicated processing is required. As a result, it is possible to easily mass-produce the lead frame including the die pad 12 in which the small piece portions 40 sandwiched between the adjacent through holes 30 are twisted in the drawing direction of the through holes 30.

【0019】なお、エッチングによってリードフレーム
を形成した場合は、所定形状に形成した後、ダイパッド
に上記方法により貫通孔30を加工すればよい。このよ
うに、エッチングによって形成したリードフレームにつ
いても、上記方法によりダイパッド12に貫通孔30を
形成することによって、貫通孔30に挟まれた小片部4
0が貫通孔30の抜き方向に対してねじれた形状とする
ことができる。
When the lead frame is formed by etching, the through hole 30 may be formed in the die pad by the above-described method after forming the lead frame into a predetermined shape. As described above, also for the lead frame formed by etching, by forming the through hole 30 in the die pad 12 by the above method, the small piece portion 4 sandwiched by the through hole 30 is formed.
0 may have a shape twisted with respect to the direction in which the through hole 30 is pulled out.

【0020】図1に示すダイパッド12の形成例は、い
ずれも上述した方法によってダイパッド12に貫通孔3
0を形成したものである。各々の貫通孔30に挟まれた
小片部40は貫通孔30の抜き方向に対してねじれた形
状に形成されている。貫通孔30を抜く順序によって小
片部40のねじれ方向が変わるから、隣接して4個以上
の貫通孔30を形成する場合も、貫通孔30の抜き順を
選択して小片部40のねじれ方向を決めればよい。
In each of the examples of forming the die pad 12 shown in FIG. 1, the through holes 3 are formed in the die pad 12 by the above-described method.
0 is formed. The small piece portion 40 sandwiched between the through holes 30 is formed in a shape twisted with respect to the drawing direction of the through hole 30. The twisting direction of the small piece portion 40 changes depending on the order in which the through holes 30 are removed. Therefore, even when four or more through holes 30 are formed adjacent to each other, the torsion direction of the small piece portion 40 is selected by selecting the order in which the through holes 30 are removed. You just have to decide.

【0021】図4は、ダイパッド12に半導体素子14
を搭載して樹脂封止した状態を拡大して示す。ダイパッ
ド12に貫通孔30が形成され、貫通孔30に封止樹脂
16が充填されている。貫通孔30に挟まれた小片部4
0が貫通孔30の抜き方向に対してねじれた形状となっ
ていることにより、小片部40が封止樹脂16に対しく
さび的に作用し、ダイパッド12と封止樹脂16との密
着強度を向上させることができる。図4で38は半導体
素子14をダイパッド12に接合する銀ペーストであ
る。
FIG. 4 shows a semiconductor device 14 attached to the die pad 12.
The figure shows an enlarged view of a state in which is mounted and resin-sealed. A through hole 30 is formed in the die pad 12, and the through hole 30 is filled with the sealing resin 16. Small piece part 4 sandwiched between through holes 30
Since 0 has a shape twisted with respect to the direction in which the through hole 30 is removed, the small piece portion 40 acts on the sealing resin 16 in a wedge-like manner, and the adhesion strength between the die pad 12 and the sealing resin 16 is improved. Can be done. In FIG. 4, reference numeral 38 denotes a silver paste for joining the semiconductor element 14 to the die pad 12.

【0022】ダイパッド12に形成した小片部40は樹
脂封止した際に封止樹脂16がダイパッド12にくいつ
いて、逆止するように作用するから、ダイパッド12と
封止樹脂16との密着性を向上させる方法として有効で
ある。図1に示す実施形態で、ダイパッド12のコーナ
ー部の近傍と側縁部の近傍に貫通孔30を形成するよう
にしているのは、ダイパッド12と半導体素子14との
密着性が問題となりやすいダイパッド12の周縁部での
封止樹脂との密着性を向上させるようにしたためであ
る。このように、ダイパッド12の周縁部に貫通孔30
を形成した場合は、ダイパッド12全体としては平坦性
が良好であり、ダイパッド12からの熱放散性を損なう
ことがないという利点がある。
The small piece portion 40 formed on the die pad 12 acts to prevent the sealing resin 16 from becoming difficult when the resin is sealed, thereby preventing the die pad 12 from reversing. Therefore, the adhesion between the die pad 12 and the sealing resin 16 is improved. It is effective as a method to make it. In the embodiment shown in FIG. 1, the through holes 30 are formed near the corners and near the side edges of the die pad 12 because the adhesion between the die pad 12 and the semiconductor element 14 tends to be a problem. This is because the adhesiveness of the peripheral edge portion 12 to the sealing resin is improved. Thus, the through-hole 30 is formed in the peripheral portion of the die pad 12.
Is advantageous in that the flatness of the entire die pad 12 is good and the heat dissipation from the die pad 12 is not impaired.

【0023】なお、上記実施形態ではダイパッド12の
周囲にリードを配置する、いわゆるクワドタイプのリー
ドフレームを例に説明したが、リードフレームのリード
等の形状がとくに限定されるものではない。また、リー
ドフレームに形成するダイパッド12も正方形に限らず
長方形等の適宜形状のものに適用することができる。ま
た、本発明は、リードとダイパッドとを一体に形成した
リードフレームに好適に適用することができるが、ダイ
パッドを有しないリードフレームに、別体に形成した放
熱板を接合して複合形式のリードフレームを形成する場
合にも同様に適用することができる。すなわち、半導体
素子を搭載する放熱板に、上記実施形態と同様なプレス
抜き加工によって貫通孔を形成することにより、貫通孔
の抜き方向に対してねじれた形状の小片部を形成するこ
とができ、これによって、放熱板と封止樹脂との密着強
度を向上させることが可能である。
In the above embodiment, a so-called quad type lead frame in which leads are arranged around the die pad 12 has been described as an example. However, the shape of the leads of the lead frame is not particularly limited. In addition, the die pad 12 formed on the lead frame is not limited to a square, but can be applied to an appropriate shape such as a rectangle. Further, the present invention can be suitably applied to a lead frame in which a lead and a die pad are integrally formed. However, a composite type lead is formed by joining a heat sink formed separately to a lead frame having no die pad. The same applies to the case of forming a frame. That is, by forming the through-hole by the same punching process as in the above embodiment on the heat sink on which the semiconductor element is mounted, it is possible to form a small piece portion having a shape twisted with respect to the through-hole removing direction, This makes it possible to improve the adhesion strength between the heat sink and the sealing resin.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明に係るリードフレームは、上述し
たように、搭載部に形成した貫通孔に挟まれた小片部が
貫通孔の抜き方向に対してねじれた形状に形成されてい
るから、封止樹脂と小片部とがくさび的に係合し、封止
樹脂と搭載部との密着強度を効果的に高めることができ
る。これにより、本発明に係るリードフレームに半導体
素子を搭載して樹脂封止した半導体装置の信頼性を向上
させることができる。また、本発明に係るリードフレー
ムの製造方法によれば、封止樹脂とくさび的に係合する
小片部をダイパッドに形成することが容易にでき、プレ
ス抜き加工によってリードフレームを容易に量産するこ
とができる。
As described above, in the lead frame according to the present invention, since the small piece portion sandwiched between the through holes formed in the mounting portion is formed in a shape twisted in the direction in which the through hole is removed, The sealing resin and the small piece portion are wedge-engaged, and the adhesion strength between the sealing resin and the mounting portion can be effectively increased. This makes it possible to improve the reliability of the semiconductor device in which the semiconductor element is mounted on the lead frame according to the present invention and sealed with resin. Further, according to the method for manufacturing a lead frame according to the present invention, it is possible to easily form a small piece portion to be wedge-engaged with the sealing resin on the die pad, and to easily mass-produce the lead frame by pressing. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るリードフレームのダイパッド部分
の構成を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a die pad portion of a lead frame according to the present invention.

【図2】プレス抜き加工によってダイパッドに貫通孔を
形成する方法を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method of forming a through hole in a die pad by press punching.

【図3】貫通孔の抜き順と、小片部のねじれ状態を示す
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing the order in which through holes are extracted and the twisted state of a small piece portion.

【図4】リードフレームを樹脂封止した状態でのダイパ
ッドの近傍部分を拡大して示す断面図である。
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing a portion near a die pad in a state where a lead frame is resin-sealed.

【図5】樹脂封止型の半導体装置の構成を示す断面図で
ある。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a resin-sealed semiconductor device.

【図6】ダイパッドに貫通孔を形成した従来例を示す説
明図である。
FIG. 6 is an explanatory view showing a conventional example in which a through hole is formed in a die pad.

【図7】ダイパッドと封止樹脂との密着部分を示す説明
図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a contact portion between a die pad and a sealing resin.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 リードフレーム 12 ダイパッド 14 半導体素子 16 封止樹脂 18 貫通孔 20 凹部 22 貫通孔 30、30a、30b 貫通孔 32 サポートバー 34 金型 36 パンチ 40 小片部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Lead frame 12 Die pad 14 Semiconductor element 16 Sealing resin 18 Through hole 20 Depression 22 Through hole 30, 30a, 30b Through hole 32 Support bar 34 Die 36 Punch 40 Small piece

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体素子の搭載部に、封止樹脂と搭載
部との密着強度を向上させる貫通孔がプレス抜き加工に
よって形成されているリードフレームであって、 前記貫通孔がスリット状に形成されて複数個隣接して配
置されるとともに、隣接する貫通孔に挟まれた小片部が
貫通孔の抜き方向に対してねじれた形状に形成されてい
ることを特徴とするリードフレーム。
1. A lead frame in which a through hole for improving the adhesion strength between a sealing resin and a mounting portion is formed in a mounting portion of a semiconductor element by press punching, wherein the through hole is formed in a slit shape. And a plurality of small pieces sandwiched between adjacent through holes are formed in a shape twisted with respect to a direction in which the through holes are removed.
【請求項2】 貫通孔が、搭載部の周縁の近傍に形成さ
れていることを特徴とする請求項1記載のリードフレー
ム。
2. The lead frame according to claim 1, wherein the through hole is formed near a periphery of the mounting portion.
【請求項3】 搭載部が、サポートバーにより支持さ
れ、該サポートバー、リード等と一体に形成されたダイ
パッドであることを特徴とする請求項1または2記載の
リードフレーム。
3. The lead frame according to claim 1, wherein the mounting portion is a die pad supported by the support bar and formed integrally with the support bar, the lead and the like.
【請求項4】 リードフレームを製造する板材を加工し
て、リード及びダイパッド等の所要のパターンを形成す
るとともに、ダイパッドに該ダイパッドと封止樹脂との
密着強度を向上させる複数のスリット状の貫通孔を隣接
して形成するリードフレームの製造方法であって、 前記貫通孔を、前記板材をプレス抜き加工して形成する
とともに、 先に形成した貫通孔に隣接して貫通孔を形成する際に、
該貫通孔と隣接する貫通孔に挟まれた小片部が該貫通孔
の抜き方向に対してねじれるように前記小片部の幅寸法
を設定してプレス抜き加工することを特徴とするリード
フレームの製造方法。
4. A plurality of slit-shaped through holes for processing a plate material for manufacturing a lead frame to form a required pattern such as a lead and a die pad, and to improve an adhesion strength between the die pad and a sealing resin in the die pad. A method of manufacturing a lead frame in which a hole is formed adjacently, wherein the through hole is formed by pressing the plate material, and the through hole is formed adjacent to the previously formed through hole. ,
Manufacturing a lead frame by setting a width of the small piece so that a small piece sandwiched between the through hole and the through hole adjacent to the through hole is twisted with respect to a drawing direction of the through hole, and performing press-cutting. Method.
【請求項5】 前記小片部の幅寸法を、前記板材の厚さ
の60%〜80%に設定してプレス抜き加工することを
特徴とする請求項4記載のリードフレームの製造方法。
5. The method of manufacturing a lead frame according to claim 4, wherein a width dimension of said small piece portion is set to 60% to 80% of a thickness of said plate material and press-cutting is performed.
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