JP2001124663A - フレア率測定装置及びその方法 - Google Patents
フレア率測定装置及びその方法Info
- Publication number
- JP2001124663A JP2001124663A JP30857999A JP30857999A JP2001124663A JP 2001124663 A JP2001124663 A JP 2001124663A JP 30857999 A JP30857999 A JP 30857999A JP 30857999 A JP30857999 A JP 30857999A JP 2001124663 A JP2001124663 A JP 2001124663A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- flare rate
- black
- measuring device
- flare
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70908—Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
- G03F7/70941—Stray fields and charges, e.g. stray light, scattered light, flare, transmission loss
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Atmospheric Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 構成的にも、性能的にも、より実際の使用時
に近い実質的フレア率を高精度に測定できるフレア率測
定装置を提供する。 【解決手段】 黒色図形１１と、何れかの色温度で発光
する発光部を有し、黒色図形と発光部がカメラにより焦
点が合った状態で撮影されるように配置される白色板１
０と、カメラが出力する信号から、黒色図形に位置対応
した黒色図形信号レベルＩFと、参照レベルＩWと、基準
黒信号レベルＩBを検出する検出手段と、黒色図形信号
レベルと、参照レベルと、黒信号レベルを基にフレア率
を算出する計算手段と、を備える。
に近い実質的フレア率を高精度に測定できるフレア率測
定装置を提供する。 【解決手段】 黒色図形１１と、何れかの色温度で発光
する発光部を有し、黒色図形と発光部がカメラにより焦
点が合った状態で撮影されるように配置される白色板１
０と、カメラが出力する信号から、黒色図形に位置対応
した黒色図形信号レベルＩFと、参照レベルＩWと、基準
黒信号レベルＩBを検出する検出手段と、黒色図形信号
レベルと、参照レベルと、黒信号レベルを基にフレア率
を算出する計算手段と、を備える。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光学的な測定装置に
関し、特にビデオカメラやデジタルスティルカメラ等に
好適なものである。
関し、特にビデオカメラやデジタルスティルカメラ等に
好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より銀塩カメラ、ビデオカメラ、デ
ジタルスティルカメラに使われる光学系のフレア率測定
法がいくつか提案されている。
ジタルスティルカメラに使われる光学系のフレア率測定
法がいくつか提案されている。
【０００３】最も一般的な方法は、銀塩カメラで長い実
績をもつ方法で、光学系単体のフレア率を測定するもの
で、積分球を用いて測定する方法である。この方法は、
銀塩カメラ用の撮影レンズに限らず、ビデオカメラ、デ
ジタルスティルカメラ用の撮影レンズのフレア率測定に
広く用いられている。
績をもつ方法で、光学系単体のフレア率を測定するもの
で、積分球を用いて測定する方法である。この方法は、
銀塩カメラ用の撮影レンズに限らず、ビデオカメラ、デ
ジタルスティルカメラ用の撮影レンズのフレア率測定に
広く用いられている。
【０００４】また、レーザーのような単色の細光束を用
いる方法や、特開平１０−６２３００号公報で開示され
ているような干渉を用いる方法等も提案されている。
いる方法や、特開平１０−６２３００号公報で開示され
ているような干渉を用いる方法等も提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のフ
レア率測定は、基本的に光学系単体のフレア率測定を行
うものであるため、ビデオカメラやデジタルスティルカ
メラのような光学ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、赤外カ
ットフィルタ（ＩＲＣＦ）、撮像素子（ＣＣＤ等）とい
った光学要素を含めたトータルのフレア率を評価するこ
とはできない。
レア率測定は、基本的に光学系単体のフレア率測定を行
うものであるため、ビデオカメラやデジタルスティルカ
メラのような光学ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、赤外カ
ットフィルタ（ＩＲＣＦ）、撮像素子（ＣＣＤ等）とい
った光学要素を含めたトータルのフレア率を評価するこ
とはできない。
【０００６】また、軸上光線のみの評価となり、実際的
なフレア率と差があり、実写評価との対応取りが難しい
という問題がある。従来例の定義ではフレア率は軸上光
束への回り込みという非常に狭義な意味に定義され、そ
れ以外はすべて単純にゴーストとして扱っている。しか
し実際のデジタルスティルカメラの画質評価においては
それでは不十分である。デジタルスティルカメラでは、
３５ｍｍの銀塩フィルムに比べ、１／２インチ〜１／６
インチという小さい撮像素子が用いられ、それに伴い小
型軽量化がより極度に進められる。例えば、レンズ枚数
低減を狙って非球面数を増やすと、研磨ガラスに比べレ
ンズの金型の表面粗さは平均的に粗くまた面内に分布を
持ち易いので、軸上フレア率の悪化だけでなく画角特性
が生じ易い。さらに、絞りや鏡筒を含む光学系のみなら
ず、ＬＰＦやＩＲＣＦ、ＣＣＤと言った素子による影響
が加わるため、狭義のゴースト、狭義のフレアの定義に
こだわって原因究明と対策をするのははなはだ効率が悪
い。特に、本出願人提案の特開平１０−３９１２１号公
報に示されるような薄型を狙ったプリズムタイプの光学
系においては、反射面が全て型を用いたモールド成形で
作成されるから上記の表面粗さの問題はもちろん、プリ
ズム内で発生した狭義のゴーストが伝播する間に狭義の
フレアに寄与する等の過程があり、それらを総合的に扱
わなければ正しい評価と対策は不可能である。
なフレア率と差があり、実写評価との対応取りが難しい
という問題がある。従来例の定義ではフレア率は軸上光
束への回り込みという非常に狭義な意味に定義され、そ
れ以外はすべて単純にゴーストとして扱っている。しか
し実際のデジタルスティルカメラの画質評価においては
それでは不十分である。デジタルスティルカメラでは、
３５ｍｍの銀塩フィルムに比べ、１／２インチ〜１／６
インチという小さい撮像素子が用いられ、それに伴い小
型軽量化がより極度に進められる。例えば、レンズ枚数
低減を狙って非球面数を増やすと、研磨ガラスに比べレ
ンズの金型の表面粗さは平均的に粗くまた面内に分布を
持ち易いので、軸上フレア率の悪化だけでなく画角特性
が生じ易い。さらに、絞りや鏡筒を含む光学系のみなら
ず、ＬＰＦやＩＲＣＦ、ＣＣＤと言った素子による影響
が加わるため、狭義のゴースト、狭義のフレアの定義に
こだわって原因究明と対策をするのははなはだ効率が悪
い。特に、本出願人提案の特開平１０−３９１２１号公
報に示されるような薄型を狙ったプリズムタイプの光学
系においては、反射面が全て型を用いたモールド成形で
作成されるから上記の表面粗さの問題はもちろん、プリ
ズム内で発生した狭義のゴーストが伝播する間に狭義の
フレアに寄与する等の過程があり、それらを総合的に扱
わなければ正しい評価と対策は不可能である。
【０００７】さらに、実写評価をするにあたっても、カ
メラによって撮像素子以降の信号処理、例えばγ補正や
自動露出（ＡＥ）等の特性が異なるため、光学系単体で
測定したフレア率と実写評価との対応を取り、標準的な
光学系単体のフレア率許容値を設定することは極めて困
難である、という問題がある。実際には、ビデオカメラ
やデジタルスティルカメラでは、このような光学系単体
だけで無いトータルのフレア率に対し信号処理により最
適化を行うプロセスがあるのであって、その部分を含ま
ない従来の方法でそれに対応することは現実的に不可能
であった。
メラによって撮像素子以降の信号処理、例えばγ補正や
自動露出（ＡＥ）等の特性が異なるため、光学系単体で
測定したフレア率と実写評価との対応を取り、標準的な
光学系単体のフレア率許容値を設定することは極めて困
難である、という問題がある。実際には、ビデオカメラ
やデジタルスティルカメラでは、このような光学系単体
だけで無いトータルのフレア率に対し信号処理により最
適化を行うプロセスがあるのであって、その部分を含ま
ない従来の方法でそれに対応することは現実的に不可能
であった。
【０００８】本発明は上記問題点に鑑み、構成的にも、
性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレア率を
高精度に測定できるフレア率測定装置の提供を目的とす
る。
性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレア率を
高精度に測定できるフレア率測定装置の提供を目的とす
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によるフレア率測
定装置は、黒色図形と、何れかの色温度で発光する発光
部を有し、前記黒色図形と前記発光部がカメラにより焦
点が合った状態で撮影されるように配置される白色板
と、前記カメラが出力する信号から、前記黒色図形に位
置対応した黒色図形信号レベルと、参照レベルと、基準
黒信号レベルを検出する検出手段と、前記黒色図形信号
レベルと、前記参照レベルと、前記黒信号レベルを基に
フレア率を算出する計算手段と、を備えることを特徴と
する。
定装置は、黒色図形と、何れかの色温度で発光する発光
部を有し、前記黒色図形と前記発光部がカメラにより焦
点が合った状態で撮影されるように配置される白色板
と、前記カメラが出力する信号から、前記黒色図形に位
置対応した黒色図形信号レベルと、参照レベルと、基準
黒信号レベルを検出する検出手段と、前記黒色図形信号
レベルと、前記参照レベルと、前記黒信号レベルを基に
フレア率を算出する計算手段と、を備えることを特徴と
する。
【００１０】また、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは、
前記発光部に位置対応した信号レベルであることを特徴
とする。
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは、
前記発光部に位置対応した信号レベルであることを特徴
とする。
【００１１】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは、
前記黒色図形を除去して発光部としたときに前記黒色図
形があるとしたときの該黒色図形の位置に位置対応した
信号レベルであることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは、
前記黒色図形を除去して発光部としたときに前記黒色図
形があるとしたときの該黒色図形の位置に位置対応した
信号レベルであることを特徴とする。
【００１２】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記黒色図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記
参照レベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とす
ることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記黒色図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記
参照レベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とす
ることを特徴とする。
【００１３】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記白色板は、更
に、前記発光部と同じ色温度の低輝度図形を有し、前記
参照レベルは前記低輝度図形に位置対応した信号レベル
であることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記白色板は、更
に、前記発光部と同じ色温度の低輝度図形を有し、前記
参照レベルは前記低輝度図形に位置対応した信号レベル
であることを特徴とする。
【００１４】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記白色板は、前記
低輝度図形を複数有することを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記白色板は、前記
低輝度図形を複数有することを特徴とする。
【００１５】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記複数の低輝度図
形は互いに異なった輝度を有することを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記複数の低輝度図
形は互いに異なった輝度を有することを特徴とする。
【００１６】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記黒色図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記
参照レベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とす
ることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記黒色図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記
参照レベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とす
ることを特徴とする。
【００１７】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記フレア率を前記低輝度図形に対応したレベルを利用し
て絶対値換算することを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記フレア率を前記低輝度図形に対応したレベルを利用し
て絶対値換算することを特徴とする。
【００１８】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは飽
和レベルを僅かに下回ることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記参照レベルは飽
和レベルを僅かに下回ることを特徴とする。
【００１９】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記黒色図形信号レ
ベルと、前記参照レベルと、前記基準黒信号レベルは前
記カメラの同一の露出条件で測定されることを特徴とす
る。
上記のフレア率測定装置において、前記黒色図形信号レ
ベルと、前記参照レベルと、前記基準黒信号レベルは前
記カメラの同一の露出条件で測定されることを特徴とす
る。
【００２０】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記検出手段による同一対象についての複数の検出結果を
利用してフレア率を算出することを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前
記検出手段による同一対象についての複数の検出結果を
利用してフレア率を算出することを特徴とする。
【００２１】更に、本発明によるフレア率測定装置は、
上記のフレア率測定装置において、前記黒色図形は複数
あることを特徴とする。
上記のフレア率測定装置において、前記黒色図形は複数
あることを特徴とする。
【００２２】本発明によるフレア率測定方法は、撮像素
子を備えたカメラのフレア率測定方法であって、均一な
輝度レベルの検査対象の像を前記撮像素子上に形成する
段階と、所定位置に前記均一な輝度レベルより低い輝度
レベルのパターンが存在する検査対象の像を前記撮像素
子上に形成する段階と、前記均一な輝度レベルの検査対
象の像を前記撮像素子上に形成した場合の前記カメラの
前記パターンの位置に対応した位置における画像の出力
信号と、前記パターンが存在する検査対象の像を前記撮
像素子上に形成した場合の前記カメラの前記パターンの
位置に対応した位置における画像の出力信号とを比較す
る段階を備えることを特徴とする。
子を備えたカメラのフレア率測定方法であって、均一な
輝度レベルの検査対象の像を前記撮像素子上に形成する
段階と、所定位置に前記均一な輝度レベルより低い輝度
レベルのパターンが存在する検査対象の像を前記撮像素
子上に形成する段階と、前記均一な輝度レベルの検査対
象の像を前記撮像素子上に形成した場合の前記カメラの
前記パターンの位置に対応した位置における画像の出力
信号と、前記パターンが存在する検査対象の像を前記撮
像素子上に形成した場合の前記カメラの前記パターンの
位置に対応した位置における画像の出力信号とを比較す
る段階を備えることを特徴とする。
【００２３】また、本発明によるフレア率測定方法は、
撮像素子を備えたカメラのフレア率測定方法であって、
位置によって輝度レベルが異なる検査対象の像を前記撮
像素子上に形成する段階と、前記カメラの所定位置にお
ける画像の出力信号と、前記カメラの前記所定位置とは
輝度レベルが異なる位置における画像の出力信号とを比
較する段階を備えることを特徴とする。
撮像素子を備えたカメラのフレア率測定方法であって、
位置によって輝度レベルが異なる検査対象の像を前記撮
像素子上に形成する段階と、前記カメラの所定位置にお
ける画像の出力信号と、前記カメラの前記所定位置とは
輝度レベルが異なる位置における画像の出力信号とを比
較する段階を備えることを特徴とする。
【００２４】更に、本発明によるフレア率測定方法は、
上記のフレア率測定方法において、前記検査対象は、所
定の輝度レベルの第１のパターンと該第１のパターンよ
りも輝度レベルが高い第２のパターンを有し、前記カメ
ラの前記第１のパターンの位置に対応した位置における
画像の出力信号と、前記カメラの前記第２のパターンの
位置に対応した位置における画像の出力信号とを比較す
る段階を備えることを特徴とする。
上記のフレア率測定方法において、前記検査対象は、所
定の輝度レベルの第１のパターンと該第１のパターンよ
りも輝度レベルが高い第２のパターンを有し、前記カメ
ラの前記第１のパターンの位置に対応した位置における
画像の出力信号と、前記カメラの前記第２のパターンの
位置に対応した位置における画像の出力信号とを比較す
る段階を備えることを特徴とする。
【００２５】更に、本発明によるフレア率測定方法は、
上記のフレア率測定方法において、前記第１のパターン
は黒色パターンであることを特徴とする。
上記のフレア率測定方法において、前記第１のパターン
は黒色パターンであることを特徴とする。
【００２６】更に、本発明によるフレア率測定方法は、
上記のフレア率測定方法において、前記検査対象は、前
記第１のパターン及び前記第２のパターンよりも輝度レ
ベルの高い明部を有し、前記検査対象の像を前記撮像素
子上に形成する段階において、前記明部での露出がオー
バーになるようにすることを特徴とする。
上記のフレア率測定方法において、前記検査対象は、前
記第１のパターン及び前記第２のパターンよりも輝度レ
ベルの高い明部を有し、前記検査対象の像を前記撮像素
子上に形成する段階において、前記明部での露出がオー
バーになるようにすることを特徴とする。
【００２７】本発明によるカメラの製造方法は、上記の
フレア率測定方法を用いてフレアを測定する工程を有す
ることを特徴とする。
フレア率測定方法を用いてフレアを測定する工程を有す
ることを特徴とする。
【００２８】
【発明の実施の形態】［実施形態１］本発明の実施形態
１を図１に示す。
１を図１に示す。
【００２９】図１において、１は面光源、２は正方形遮
光チャート、３はデジタルスティルカメラ、４はパーソ
ナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）である。
デジタルスティルカメラ３とＰＣ４はインタフェース５
により接続されている。インタフェース５は、例えば、
デジタルインタフェースであり、デジタルスティルカメ
ラ３は、光学系、信号処理系を経た信号をインタフェー
ス５にデジタル信号として出力する。或いは、インタフ
ェース５はアナログインタフェースであり、デジタルス
ティルカメラ３は、光学系、信号処理系を経た信号をイ
ンタフェース５にアナログ信号として出力し、ＰＣ４の
最前段においては、高帯域、高リニアリティなアナログ
系を経た後でＡ／Ｄ変換が行われる。従って、被測定系
には、ＰＣ４の特性は含まれない。面光源１は縦６０ｃ
ｍ×横８０ｃｍのサイズで、面内の光量分布は±５％以
内に均一化されており、色温度も所定値に設定されてい
る。面光源１の表面で、ほぼ中心に配置された正方形の
撮影チャート２は５ｃｍ×５ｃｍで面光源からの光を遮
光している。デジタルスティルカメラ３は面光源１から
おおよそ画角いっぱいに面光源１が入る距離に固定さ
れ、光軸と面光源１はほぼ垂直におかれている。デジタ
ルスティルカメラ３はピントが面光源１に合焦され、シ
ャッターを押し撮影される。撮影された信号はＰＣ４に
送られ、画像が解析される。図１では撮影された静止画
の輝度データがＰＣ４のモニター上に表示されている状
態を表している。
光チャート、３はデジタルスティルカメラ、４はパーソ
ナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）である。
デジタルスティルカメラ３とＰＣ４はインタフェース５
により接続されている。インタフェース５は、例えば、
デジタルインタフェースであり、デジタルスティルカメ
ラ３は、光学系、信号処理系を経た信号をインタフェー
ス５にデジタル信号として出力する。或いは、インタフ
ェース５はアナログインタフェースであり、デジタルス
ティルカメラ３は、光学系、信号処理系を経た信号をイ
ンタフェース５にアナログ信号として出力し、ＰＣ４の
最前段においては、高帯域、高リニアリティなアナログ
系を経た後でＡ／Ｄ変換が行われる。従って、被測定系
には、ＰＣ４の特性は含まれない。面光源１は縦６０ｃ
ｍ×横８０ｃｍのサイズで、面内の光量分布は±５％以
内に均一化されており、色温度も所定値に設定されてい
る。面光源１の表面で、ほぼ中心に配置された正方形の
撮影チャート２は５ｃｍ×５ｃｍで面光源からの光を遮
光している。デジタルスティルカメラ３は面光源１から
おおよそ画角いっぱいに面光源１が入る距離に固定さ
れ、光軸と面光源１はほぼ垂直におかれている。デジタ
ルスティルカメラ３はピントが面光源１に合焦され、シ
ャッターを押し撮影される。撮影された信号はＰＣ４に
送られ、画像が解析される。図１では撮影された静止画
の輝度データがＰＣ４のモニター上に表示されている状
態を表している。
【００３０】図２（ａ）はＰＣ４に取り込まれた画像の
輝度分布の模式図である。１０は面光源１に対応する範
囲を示し中央部を除きほぼ一様の明部、中央に正方形遮
光チャート２に対応した暗部の正方形１１が存在する。
輝度分布の模式図である。１０は面光源１に対応する範
囲を示し中央部を除きほぼ一様の明部、中央に正方形遮
光チャート２に対応した暗部の正方形１１が存在する。
【００３１】図２（ｂ）は上下方向にほぼ中心位置にあ
る水平方向Ｈの走査線（１２で示す）に対応する輝度分
布を示す模式図である。ＰＣ４において、ＰＣ４にＰＣ
４のＣＰＵ、主記憶装置、外部記憶装置などの資源を用
いてインタフェース５より入力された信号を処理して図
２（ｂ）に示すような画面を表示させるためのプログラ
ムを実行することにより図２（ｂ）に示すような画面を
表示することが可能となる。横軸がデジタルスティルカ
メラの撮像素子の水平方向Ｈのアドレス、縦軸が輝度Ｉ
を示す。輝度分布１４を見ると、撮像チャート２により
遮光されてない部分に対応した輝度レベルＩwは飽和値
をわずかに下回るレベルとなっている。また、基準の暗
部ＩB に対して、本来同輝度となるべき正方形遮光チャ
ートの中心部がＩF の輝度レベルまで持ち上がってい
る。これは撮影系のトータルのフレアによるものであ
る。すなわち、レンズ・鏡筒・絞り・シャッター等から
なる撮影光学系、ＩＲＣＦ、ＬＰＦ、ＣＣＤ等のすべて
の構成要素から発生したフレアが、本来光が到達しない
はずの撮影チヤートの結像位置に回り込んで、本来の黒
レベルＩB を持ち上げてしまっているわけである。さら
にＣＣＤ以降の信号処理部も含んだ波形であるから、γ
補正やＡＥ等の特性をもトータルで含んだ真の実質的画
像を評価していることになる。例えば、図２（ｂ）〜
（ｅ）の波形で立ち上がり、立ち下がり部に見られるリ
ンギングやオーバーシュート、アンダーシュートは、エ
ッジ強調等の信号処理を含めたトータルのＨＰＦ特性を
反映したものである。
る水平方向Ｈの走査線（１２で示す）に対応する輝度分
布を示す模式図である。ＰＣ４において、ＰＣ４にＰＣ
４のＣＰＵ、主記憶装置、外部記憶装置などの資源を用
いてインタフェース５より入力された信号を処理して図
２（ｂ）に示すような画面を表示させるためのプログラ
ムを実行することにより図２（ｂ）に示すような画面を
表示することが可能となる。横軸がデジタルスティルカ
メラの撮像素子の水平方向Ｈのアドレス、縦軸が輝度Ｉ
を示す。輝度分布１４を見ると、撮像チャート２により
遮光されてない部分に対応した輝度レベルＩwは飽和値
をわずかに下回るレベルとなっている。また、基準の暗
部ＩB に対して、本来同輝度となるべき正方形遮光チャ
ートの中心部がＩF の輝度レベルまで持ち上がってい
る。これは撮影系のトータルのフレアによるものであ
る。すなわち、レンズ・鏡筒・絞り・シャッター等から
なる撮影光学系、ＩＲＣＦ、ＬＰＦ、ＣＣＤ等のすべて
の構成要素から発生したフレアが、本来光が到達しない
はずの撮影チヤートの結像位置に回り込んで、本来の黒
レベルＩB を持ち上げてしまっているわけである。さら
にＣＣＤ以降の信号処理部も含んだ波形であるから、γ
補正やＡＥ等の特性をもトータルで含んだ真の実質的画
像を評価していることになる。例えば、図２（ｂ）〜
（ｅ）の波形で立ち上がり、立ち下がり部に見られるリ
ンギングやオーバーシュート、アンダーシュートは、エ
ッジ強調等の信号処理を含めたトータルのＨＰＦ特性を
反映したものである。
【００３２】従って、この持ち上がったレベルＩF はト
ータルのフレアによるものであり、その差であるＩF −
ＩB はトータルのフレアの量を示している。
ータルのフレアによるものであり、その差であるＩF −
ＩB はトータルのフレアの量を示している。
【００３３】図２（ｄ）は正方形遮光チャート２が無い
場合、つまり面光源１のみの全面明部の場合の面光源１
の像の、水平走査線１２に沿った輝度分布を示す。図２
（ｂ）のＩF に対応する領域の輝度レベルはＩW とな
る。したがって撮影チャート２が無い場合の光量はＩW
−ＩB となる。フレア率としては、この二つの光量の
比、 （ＩF −ＩB ）／（ＩW −ＩB ） を定義する。ＰＣ４でこの比を計算することによりフレ
ア率を求めることができる。ＰＣ４において、ＰＣ４に
ＰＣ４のＣＰＵ、主記憶装置、外部記憶装置などの資源
を用いてインタフェース５より入力された信号を処理し
て上式を計算し、その結果を表示装置の画面を表示させ
たり、外部に接続されるプリンタを用いて印刷させたり
するためのプログラムを実行することにより、そのよう
なことが可能となる。
場合、つまり面光源１のみの全面明部の場合の面光源１
の像の、水平走査線１２に沿った輝度分布を示す。図２
（ｂ）のＩF に対応する領域の輝度レベルはＩW とな
る。したがって撮影チャート２が無い場合の光量はＩW
−ＩB となる。フレア率としては、この二つの光量の
比、 （ＩF −ＩB ）／（ＩW −ＩB ） を定義する。ＰＣ４でこの比を計算することによりフレ
ア率を求めることができる。ＰＣ４において、ＰＣ４に
ＰＣ４のＣＰＵ、主記憶装置、外部記憶装置などの資源
を用いてインタフェース５より入力された信号を処理し
て上式を計算し、その結果を表示装置の画面を表示させ
たり、外部に接続されるプリンタを用いて印刷させたり
するためのプログラムを実行することにより、そのよう
なことが可能となる。
【００３４】実施形態１によるフレア率を求める方法に
ついて説明する。まず、正方形遮光チャート２を配設し
ない状態の面光源１をカメラ３が焦点が合った状態で撮
影できるように、カメラ３の前に置き、このときの正方
形遮光チャート２を設置すべき位置の輝度レベルＩW及
び黒レベルＩBの測定をＰＣ４により行う。次に、正方
形遮光チャート２を配設した状態の面光源１をカメラ３
が焦点が合った状態で撮影できるように、カメラ３の前
に置き、このときの正方形遮光チャート２を設置した位
置の輝度レベルＩFの測定をＰＣ４により行う。このよ
うにして測定されたレベルＩW、ＩB、ＩFを用いて、 （ＩF −ＩB ）／（ＩW −ＩB ） をＰＣ４により計算する。
ついて説明する。まず、正方形遮光チャート２を配設し
ない状態の面光源１をカメラ３が焦点が合った状態で撮
影できるように、カメラ３の前に置き、このときの正方
形遮光チャート２を設置すべき位置の輝度レベルＩW及
び黒レベルＩBの測定をＰＣ４により行う。次に、正方
形遮光チャート２を配設した状態の面光源１をカメラ３
が焦点が合った状態で撮影できるように、カメラ３の前
に置き、このときの正方形遮光チャート２を設置した位
置の輝度レベルＩFの測定をＰＣ４により行う。このよ
うにして測定されたレベルＩW、ＩB、ＩFを用いて、 （ＩF −ＩB ）／（ＩW −ＩB ） をＰＣ４により計算する。
【００３５】また同様に、垂直方向Ｖについても、その
輝度分布から同様なフレア率を求めることができる。図
２（ｃ）は正方形遮光チャート２が挿入されている場合
の左右方向にほぼ中心位置にある垂直方向の画素並びに
沿った輝度分布で、同じように本来の黒レベルＩB と、
中心部の輝度ＩFが測定できる。図２（ｅ）は正方形遮
光チャート１１が無い場合の垂直方向の輝度分布を示す
模式図で、中心付近の白レベルに対応する輝度レベルは
ＩWである。これより垂直方向のフレア率も同様に（Ｉ
F −ＩB ）／（ＩW −ＩB ）と定義され、測定値から計
算で求められる。
輝度分布から同様なフレア率を求めることができる。図
２（ｃ）は正方形遮光チャート２が挿入されている場合
の左右方向にほぼ中心位置にある垂直方向の画素並びに
沿った輝度分布で、同じように本来の黒レベルＩB と、
中心部の輝度ＩFが測定できる。図２（ｅ）は正方形遮
光チャート１１が無い場合の垂直方向の輝度分布を示す
模式図で、中心付近の白レベルに対応する輝度レベルは
ＩWである。これより垂直方向のフレア率も同様に（Ｉ
F −ＩB ）／（ＩW −ＩB ）と定義され、測定値から計
算で求められる。
【００３６】水平方向、垂直方向のフレア率は共に、撮
像光学系やフィルタ、ＣＣＤ、信号処理を含んだトータ
ルの評価となる。
像光学系やフィルタ、ＣＣＤ、信号処理を含んだトータ
ルの評価となる。
【００３７】このように、本実施形態によれば、構成的
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
【００３８】［実施形態２］次に、本発明の実施形態２
を図３に示す。
を図３に示す。
【００３９】実施形態２では、広義の意味でのフレアの
画角内の分布を測定することができる。
画角内の分布を測定することができる。
【００４０】図３（ａ）はＰＣ４に取り込まれた画像の
輝度分布の模式図であり、面光源１上の各チャートの配
列を示している。２０は面光源１に対応する範囲を示
し、中央に撮影チャートに対応した暗部の円２３が存在
する。実施形態２の中央部のチャートは実施形態１のチ
ャートと形状が異なるだけであるが、実施形態２ではさ
らに画角の４隅に撮影チャート２１、２２、２４、２５
を対称的に配置している。
輝度分布の模式図であり、面光源１上の各チャートの配
列を示している。２０は面光源１に対応する範囲を示
し、中央に撮影チャートに対応した暗部の円２３が存在
する。実施形態２の中央部のチャートは実施形態１のチ
ャートと形状が異なるだけであるが、実施形態２ではさ
らに画角の４隅に撮影チャート２１、２２、２４、２５
を対称的に配置している。
【００４１】図３（ｂ）は対角線２６上に沿った輝度分
布を示す模式図である。横軸が撮像素子の対角線２６上
の垂直方向Ｖのアドレス、縦軸が輝度Ｉを示す。輝度分
布２７を見ると基準の暗部ＩB に対して、本来同輝度と
なるべきそれぞれの遮光チャートの中心部がＩF2、ＩF3、
ＩF4の輝度レベルまで持ち上がっている。これは撮影系
のトータルのフレアによるものであり、その差であるＩ
F2 −ＩB、ＩF3 −ＩB、ＩF4 −ＩB、はフレアの量を示し
ている。図は省略するが撮影チャート２３が無い場合、
つまり面光源１のみの全面明部の場合の面光源１の像
の、対角線２６の輝度分布のＩF に対応する領域の輝度
レベルＩW を求めれば撮影チャート２２、２３、２４が
無い場合の光量ＩW −ＩBを計算することができ、撮影
チャート２２、２３、２４についてフレア率 （ＩF2 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 （ＩF3 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 （ＩF4 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 をそれぞれ定義できる。
布を示す模式図である。横軸が撮像素子の対角線２６上
の垂直方向Ｖのアドレス、縦軸が輝度Ｉを示す。輝度分
布２７を見ると基準の暗部ＩB に対して、本来同輝度と
なるべきそれぞれの遮光チャートの中心部がＩF2、ＩF3、
ＩF4の輝度レベルまで持ち上がっている。これは撮影系
のトータルのフレアによるものであり、その差であるＩ
F2 −ＩB、ＩF3 −ＩB、ＩF4 −ＩB、はフレアの量を示し
ている。図は省略するが撮影チャート２３が無い場合、
つまり面光源１のみの全面明部の場合の面光源１の像
の、対角線２６の輝度分布のＩF に対応する領域の輝度
レベルＩW を求めれば撮影チャート２２、２３、２４が
無い場合の光量ＩW −ＩBを計算することができ、撮影
チャート２２、２３、２４についてフレア率 （ＩF2 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 （ＩF3 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 （ＩF4 −ＩB ）／（ＩW −ＩB）、 をそれぞれ定義できる。
【００４２】画角の隅である２１、２５にあるチャート
部のフレア率も同様に定義できる。また、一つの対角線
上の輝度分布を例にとり説明したが、実施形態１と同様
に、チャート２３のほぼ中心を通る水平・垂直方向ばか
りでなく、チャート２１及び２２の中心を通る水平方
向、チャート２４及び２５の中心を通る水平方向、チャ
ート２１及び２４の中心を通る垂直方向、チャート２２
及び２５の中心を通る垂直方向のフレア率を測定評価可
能である。それらを比較評価することにより、４隅の画
角と中心のフレア率の分布を定量化できる。
部のフレア率も同様に定義できる。また、一つの対角線
上の輝度分布を例にとり説明したが、実施形態１と同様
に、チャート２３のほぼ中心を通る水平・垂直方向ばか
りでなく、チャート２１及び２２の中心を通る水平方
向、チャート２４及び２５の中心を通る水平方向、チャ
ート２１及び２４の中心を通る垂直方向、チャート２２
及び２５の中心を通る垂直方向のフレア率を測定評価可
能である。それらを比較評価することにより、４隅の画
角と中心のフレア率の分布を定量化できる。
【００４３】もちろんチャートの配列は実施形態１、２
に限定されるものではなく、従来では原理的に軸上の評
価しか不可能であったフレア率を全ての画角において評
価可能となる。
に限定されるものではなく、従来では原理的に軸上の評
価しか不可能であったフレア率を全ての画角において評
価可能となる。
【００４４】このように、実施形態１、２により、構成
的にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フ
レア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
的にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フ
レア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
【００４５】［実施形態３］次に実施形態３を図４を参
照して説明する。
照して説明する。
【００４６】実施形態３は実施形態１、２に対し、フレ
ア率測定の精度を向上させた実施形態である。
ア率測定の精度を向上させた実施形態である。
【００４７】図４（ａ）はＰＣ４に取り込まれた画像の
輝度分布の模式図である。３１は面光源１に対応する範
囲を示す。３２は撮影範囲中央に配置された正方形遮光
チャートに対応する正方形暗部であり、３３は正方形遮
光チャートの水平方向の離れた位置に配置されたリファ
レンスＮＤ(Neutral Density)チャート３３に対応する
円形暗部、３４は垂直方向の離れた位置に配置されたリ
ファレンスＮＤチャートに対応する円形暗部である。２
つのリファレンスＮＤチャートは同一の透過率をもつＮ
Ｄフィルタから作成されたものである。ビデオカメラ、
デジタルスティルカメラの撮影は、適正露出に対しオー
バー露出で撮影される。オーバーの割合はリファレンス
ＮＤチャートに合わせ、絞りで１段から２段のオーバー
露出で撮影される。これは、通常、ビデオカメラ、デシ
タルスティルカメラの露出補正機能を用いるか、露出メ
モリ機能を用い暗い被写体の露出をメモリさせ、実施形
態３のチャートを撮影することにより達成される。もし
くは、ビデオカメラ、デジタルスティルカメラ内部のフ
ァームウェアにアクセス可能であれば直接露出を制御し
ても良く、検査測定装置としては図１のＰＣ４からカメ
ラ３に対しリモートコントロールで露出を制御する方が
再現性、スピードともに優れている。
輝度分布の模式図である。３１は面光源１に対応する範
囲を示す。３２は撮影範囲中央に配置された正方形遮光
チャートに対応する正方形暗部であり、３３は正方形遮
光チャートの水平方向の離れた位置に配置されたリファ
レンスＮＤ(Neutral Density)チャート３３に対応する
円形暗部、３４は垂直方向の離れた位置に配置されたリ
ファレンスＮＤチャートに対応する円形暗部である。２
つのリファレンスＮＤチャートは同一の透過率をもつＮ
Ｄフィルタから作成されたものである。ビデオカメラ、
デジタルスティルカメラの撮影は、適正露出に対しオー
バー露出で撮影される。オーバーの割合はリファレンス
ＮＤチャートに合わせ、絞りで１段から２段のオーバー
露出で撮影される。これは、通常、ビデオカメラ、デシ
タルスティルカメラの露出補正機能を用いるか、露出メ
モリ機能を用い暗い被写体の露出をメモリさせ、実施形
態３のチャートを撮影することにより達成される。もし
くは、ビデオカメラ、デジタルスティルカメラ内部のフ
ァームウェアにアクセス可能であれば直接露出を制御し
ても良く、検査測定装置としては図１のＰＣ４からカメ
ラ３に対しリモートコントロールで露出を制御する方が
再現性、スピードともに優れている。
【００４８】図４（ｂ）はその上下方向の中央付近にあ
る水平走査線３５に対応する輝度分布を示す模式図であ
る。横軸が撮像素子の水平方向３５のアドレス、縦軸が
輝度Ｉを示す。輝度分布３７に示されるように、オーバ
ー露出で撮影された画像であるため、その明部は全て撮
像素子であるＣＣＤの飽和レベルＩsat に達し白潰れし
ている。また、レファレンスＮＤチャートに対応する円
形暗部３３、３４の輝度レベルは飽和値をわずかに下回
るレベルとなっている。基準の暗部ＩB に対して、本来
同輝度となる正方形遮光チャートに対応する正方形暗部
３２の中心部がＩF の輝度レベルまで持ち上がっている
のは実施形態１、２と同じである。こうして得た測定値
ＩF は、実施形態１、２に比較して輝度方向に増幅した
値であるためその増幅率分だけ測定精度が向上する。つ
まり数％のフレア率の測定を、数十％に相当する輝度レ
ベルを測定することにより精度を約十倍向上させること
ができる。さらには、実施形態１、２の場合は、輝度レ
ベルが暗部のＩB に近い領域ではγ補正をしているとは
いえ、線形性が十分に得られないため、実質的フレア率
を測定しているとはいえ、精度的に劣る測定を行ってい
ることになっていたが、実施形態３によればそれを改善
できる。
る水平走査線３５に対応する輝度分布を示す模式図であ
る。横軸が撮像素子の水平方向３５のアドレス、縦軸が
輝度Ｉを示す。輝度分布３７に示されるように、オーバ
ー露出で撮影された画像であるため、その明部は全て撮
像素子であるＣＣＤの飽和レベルＩsat に達し白潰れし
ている。また、レファレンスＮＤチャートに対応する円
形暗部３３、３４の輝度レベルは飽和値をわずかに下回
るレベルとなっている。基準の暗部ＩB に対して、本来
同輝度となる正方形遮光チャートに対応する正方形暗部
３２の中心部がＩF の輝度レベルまで持ち上がっている
のは実施形態１、２と同じである。こうして得た測定値
ＩF は、実施形態１、２に比較して輝度方向に増幅した
値であるためその増幅率分だけ測定精度が向上する。つ
まり数％のフレア率の測定を、数十％に相当する輝度レ
ベルを測定することにより精度を約十倍向上させること
ができる。さらには、実施形態１、２の場合は、輝度レ
ベルが暗部のＩB に近い領域ではγ補正をしているとは
いえ、線形性が十分に得られないため、実質的フレア率
を測定しているとはいえ、精度的に劣る測定を行ってい
ることになっていたが、実施形態３によればそれを改善
できる。
【００４９】しかしながら、オーバー露出で撮影するた
めに、明部における輝度レベルが飽和し実施形態１、２
で用いていた明部の基準値ＩW を特定することが不可能
である。そこで実施形態３では、リファレンスＮＤチャ
ートに対応した暗部３３、３４の輝度レベルＩref をリ
ファレンスレベルとし、これをもって相対フレア率を定
義することが可能となる。別途リファレンスＮＤチャー
トの透過率を測定しておけば、フレア率の絶対値が算出
できる。具体的には、実施形態１の正方形遮光チャート
２の代わりにリファレンスＮＤチャートを配置し、実施
形態１で説明した方法を用いてフレア率に相当する値を
測定、計算すれば、それがすなわちリファレンスＮＤチ
ャートの透過率を測定したことになり、図４（ｂ）にお
けるリファレンスレベルＩref のＩsat に対する比が求
まるため、フレア率の絶対値を求めることができる。
めに、明部における輝度レベルが飽和し実施形態１、２
で用いていた明部の基準値ＩW を特定することが不可能
である。そこで実施形態３では、リファレンスＮＤチャ
ートに対応した暗部３３、３４の輝度レベルＩref をリ
ファレンスレベルとし、これをもって相対フレア率を定
義することが可能となる。別途リファレンスＮＤチャー
トの透過率を測定しておけば、フレア率の絶対値が算出
できる。具体的には、実施形態１の正方形遮光チャート
２の代わりにリファレンスＮＤチャートを配置し、実施
形態１で説明した方法を用いてフレア率に相当する値を
測定、計算すれば、それがすなわちリファレンスＮＤチ
ャートの透過率を測定したことになり、図４（ｂ）にお
けるリファレンスレベルＩref のＩsat に対する比が求
まるため、フレア率の絶対値を求めることができる。
【００５０】相対フレア率としては、 （ＩF −ＩB ）／（Ｉref−ＩB ） を定義する。一方、この時の本来の明部のレベルは、別
途の測定値から求められるリファレンスＮＤチャートの
透過率、 （Ｉref−ＩB ）／（ＩW −ＩB ） で補正すればよい。従ってフレア率の絶対値は （ＩF −ＩB ）／｛（Ｉref−ＩB ）（ＩW −ＩB ）／
（Ｉref−ＩB ）｝ と求めることができる。
途の測定値から求められるリファレンスＮＤチャートの
透過率、 （Ｉref−ＩB ）／（ＩW −ＩB ） で補正すればよい。従ってフレア率の絶対値は （ＩF −ＩB ）／｛（Ｉref−ＩB ）（ＩW −ＩB ）／
（Ｉref−ＩB ）｝ と求めることができる。
【００５１】実施形態３によるフレア率を求める方法に
ついて説明する。まず、正方形遮光チャート３２、リフ
ァレンスＮＤ３３又は３４を配設した状態の面光源１を
カメラ３が焦点が合った状態で撮影できるように、カメ
ラ３の前に置き、カメラの絞りをリファレンスＮＤ３３
又は３４の輝度レベルが白飽和レベルを僅かに下回るよ
うに調整する。このとき、正方形遮光チャート３２及び
リファレンスＮＤ３３又は３４がない領域のレベルは白
飽和し、このような領域に対しては露出オーバーとな
る。このときの正方形遮光チャート３２を設置した位置
の輝度レベルＩF及びリファレンスＮＤ３３又は３４を
設置した位置の輝度レベルＩrefの測定をＰＣ４により
行う。このようにして測定されたレベルＩref、ＩB、Ｉ
Fを用いて、 （ＩF −ＩB ）／（Ｉref−ＩB ） をＰＣ４により計算する。
ついて説明する。まず、正方形遮光チャート３２、リフ
ァレンスＮＤ３３又は３４を配設した状態の面光源１を
カメラ３が焦点が合った状態で撮影できるように、カメ
ラ３の前に置き、カメラの絞りをリファレンスＮＤ３３
又は３４の輝度レベルが白飽和レベルを僅かに下回るよ
うに調整する。このとき、正方形遮光チャート３２及び
リファレンスＮＤ３３又は３４がない領域のレベルは白
飽和し、このような領域に対しては露出オーバーとな
る。このときの正方形遮光チャート３２を設置した位置
の輝度レベルＩF及びリファレンスＮＤ３３又は３４を
設置した位置の輝度レベルＩrefの測定をＰＣ４により
行う。このようにして測定されたレベルＩref、ＩB、Ｉ
Fを用いて、 （ＩF −ＩB ）／（Ｉref−ＩB ） をＰＣ４により計算する。
【００５２】このフレア率の絶対値は、他機種との絶対
値比較をするときや、許容値の検討をするときに用いら
れるが、量産時に製品の検査測定をするときや単純比較
をするときにおいては相対フレア率のみを測定するだけ
でよい。リファレンスレベルは透過率が固定した安定し
た基準であるから、これを基準とした相対フレア率によ
る測定、良否判断でも実質的には問題は起こらない。
値比較をするときや、許容値の検討をするときに用いら
れるが、量産時に製品の検査測定をするときや単純比較
をするときにおいては相対フレア率のみを測定するだけ
でよい。リファレンスレベルは透過率が固定した安定し
た基準であるから、これを基準とした相対フレア率によ
る測定、良否判断でも実質的には問題は起こらない。
【００５３】このように、実施形態３によれば、構成的
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
【００５４】［実施形態４］次に実施形態４を図５を参
照して説明する。
照して説明する。
【００５５】実施形態４も、フレア率測定の精度を向上
させた実施形態である。
させた実施形態である。
【００５６】図５（ａ）は実施形態４によるＰＣ４に取
り込まれた画像の輝度分布の模式図である。４０は面光
源１に対応する範囲を示す。中央に円形遮光チャートに
対応する円形暗部４１が形成され、その水平方向の左右
の離れた位置に２つのリファレンスＮＤチャートに対応
する円形暗部４２、４３が形成されている。２つのリフ
ァレンスＮＤチャートは異なる透過率をもつＮＤフィル
タから作成されている。実施形態４においてもビデオカ
メラ、デジタルスティルカメラの撮影は、適正露出に対
しオーバー露出で撮影される。
り込まれた画像の輝度分布の模式図である。４０は面光
源１に対応する範囲を示す。中央に円形遮光チャートに
対応する円形暗部４１が形成され、その水平方向の左右
の離れた位置に２つのリファレンスＮＤチャートに対応
する円形暗部４２、４３が形成されている。２つのリフ
ァレンスＮＤチャートは異なる透過率をもつＮＤフィル
タから作成されている。実施形態４においてもビデオカ
メラ、デジタルスティルカメラの撮影は、適正露出に対
しオーバー露出で撮影される。
【００５７】図５（ｂ）は垂直方向にほぼ中央位置にあ
る走査線４４に対応する輝度分布を示す模式図である。
横軸が撮像素子の水平方向４４のアドレス、縦軸が輝度
Ｉを示す。輝度分布４５に示されるように、オーバー露
出であるため明部は全てＣＣＤの飽和レベルＩsat に達
している。円形遮光チャートに対応する円形暗部４１の
中心部ＩF は実施形態３と同様に輝度方向に増幅され精
度が向上している。
る走査線４４に対応する輝度分布を示す模式図である。
横軸が撮像素子の水平方向４４のアドレス、縦軸が輝度
Ｉを示す。輝度分布４５に示されるように、オーバー露
出であるため明部は全てＣＣＤの飽和レベルＩsat に達
している。円形遮光チャートに対応する円形暗部４１の
中心部ＩF は実施形態３と同様に輝度方向に増幅され精
度が向上している。
【００５８】さらに実施形態４では、２つの異なるリフ
ァレンスＮＤチャートに対応する円形暗部４２、４３の
輝度レベルＩref1、Ｉref2 をリファレンスレベルとす
ることにより、基準となるリファレンスレベルの測定精
度を向上させている。すなわち、ＣＣＤは飽和レベルＩ
sat に近い領域においても輝度の線形性が劣ることが多
く、またＣＣＤ間のバラツキも多いため、２つの異なる
リファレンスレベルを用いることにより、これらをより
精度よく補正することができるようになる。実施形態３
と同様の方法により、リファレンスレベルＩref1、Ｉ
ref2の透過率が求まるため、相対フレア率を絶対値に補
正することができる。
ァレンスＮＤチャートに対応する円形暗部４２、４３の
輝度レベルＩref1、Ｉref2 をリファレンスレベルとす
ることにより、基準となるリファレンスレベルの測定精
度を向上させている。すなわち、ＣＣＤは飽和レベルＩ
sat に近い領域においても輝度の線形性が劣ることが多
く、またＣＣＤ間のバラツキも多いため、２つの異なる
リファレンスレベルを用いることにより、これらをより
精度よく補正することができるようになる。実施形態３
と同様の方法により、リファレンスレベルＩref1、Ｉ
ref2の透過率が求まるため、相対フレア率を絶対値に補
正することができる。
【００５９】上記では、２つのリファレンスレベルを用
いる場合について説明したが、線形性を補償するために
３つ以上のリファレンスレベルを用いることも可能であ
るし、暗部ＩB の上下にリファレンスレベルを設定する
ことも可能である。
いる場合について説明したが、線形性を補償するために
３つ以上のリファレンスレベルを用いることも可能であ
るし、暗部ＩB の上下にリファレンスレベルを設定する
ことも可能である。
【００６０】このように、実施形態４によれば、構成的
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的フレ
ア率を高精度に測定できる測定装置の提供が可能にな
る。
【００６１】実施形態１〜４においては、説明を簡単に
するために省略したが、ビデオカメラやデジタルスティ
ルカメラの露出バラツキの影響を排除するために、一つ
の条件に対し、複数回の撮影を行い、その中から所望の
範囲内に入ったデータを採用するのが実際的である。ま
た、バラツキを解析し有意性がある場合はその範囲の平
均値を計算し採用することも可能である。
するために省略したが、ビデオカメラやデジタルスティ
ルカメラの露出バラツキの影響を排除するために、一つ
の条件に対し、複数回の撮影を行い、その中から所望の
範囲内に入ったデータを採用するのが実際的である。ま
た、バラツキを解析し有意性がある場合はその範囲の平
均値を計算し採用することも可能である。
【００６２】また、図１では製品の状態のデジタルカメ
ラの例を示しているが、本発明の趣旨はこれに限定され
るものではなく、光学系から画像データファイルまで、
あるいは処理回路を含まないＣＣＤまでの信号を評価
し、構成要素のフレア率を分析することも可能であるこ
とは言うまでもない。
ラの例を示しているが、本発明の趣旨はこれに限定され
るものではなく、光学系から画像データファイルまで、
あるいは処理回路を含まないＣＣＤまでの信号を評価
し、構成要素のフレア率を分析することも可能であるこ
とは言うまでもない。
【００６３】また、汎用的な例としてデジタルカメラと
外部ＰＣ接続した場合を示したが、もちろん専用処理装
置をハードもしくはソフトで構成し、より専用化した測
定装置で本実施形態を実施できることも言うまでもな
い。
外部ＰＣ接続した場合を示したが、もちろん専用処理装
置をハードもしくはソフトで構成し、より専用化した測
定装置で本実施形態を実施できることも言うまでもな
い。
【００６４】更に、上記の実施形態においては、透過型
の撮像チャートと用いるとしたが、その代わりに、反射
型の撮像チャートを用いても良い。
の撮像チャートと用いるとしたが、その代わりに、反射
型の撮像チャートを用いても良い。
【００６５】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、構
成的にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的
フレア率を高精度に測定できる。
成的にも、性能的にも、より実際の使用時に近い実質的
フレア率を高精度に測定できる。
【図１】本発明の実施形態１を説明する為の概念図であ
る。
る。
【図２】本発明の実施形態１を説明する為の模式図であ
る。
る。
【図３】本発明の実施形態２を説明する為の模式図であ
る。
る。
【図４】本発明の実施形態３を説明する為の模式図であ
る。
る。
【図５】本発明の実施形態４を説明する為のブロック図
である。
である。
１ 面光源 ２ 撮影チャート ３ デジタルスティルカメラ ４ パーソナルコンピュータ（ＰＣ） ３３、３４ 輝度参照チャート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 常文 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 荒谷 道晴 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 Ｆターム(参考） 2G086 HH07 2H042 BA01 BA19 5C061 BB03 CC01
Claims (19)
- 【請求項１】 黒色図形と、何れかの色温度で発光する
発光部を有し、前記黒色図形と前記発光部がカメラによ
り焦点が合った状態で撮影されるように配置される白色
板と、 前記カメラが出力する信号から、前記黒色図形に位置対
応した黒色図形信号レベルと、参照レベルと、基準黒信
号レベルを検出する検出手段と、 前記黒色図形信号レベルと、前記参照レベルと、前記黒
信号レベルを基にフレア率を算出する計算手段と、 を備えることを特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記参照レベルは、前記発光部に位置対応した信
号レベルであることを特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記参照レベルは、前記黒色図形を除去して発光
部としたときに前記黒色図形があるとしたときの該黒色
図形の位置に位置対応した信号レベルであることを特徴
とするフレア率測定装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の
フレア率測定装置において、前記計算手段は、前記黒色
図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記参照レ
ベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とすること
を特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項５】 請求項１に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記白色板は、更に、前記発光部と同じ色温度の
低輝度図形を有し、前記参照レベルは前記低輝度図形に
位置対応した信号レベルであることを特徴とするフレア
率測定装置。 - 【請求項６】 請求項５に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記白色板は、前記低輝度図形を複数有すること
を特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項７】 請求項６に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記複数の低輝度図形は互いに異なった輝度を有
することを特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項８】 請求項５乃至７のいずれか１項に記載の
フレア率測定装置において、前記計算手段は、前記黒色
図形信号レベルと前記黒信号レベルの差と、前記参照レ
ベルと前記黒信号レベルの差の比をフレア率とすること
を特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項９】 請求項８に記載のフレア率測定装置にお
いて、前記計算手段は、前記フレア率を前記低輝度図形
に対応したレベルを利用して絶対値換算することを特徴
とするフレア率測定装置。 - 【請求項１０】 請求項１乃至９のいずれか１項に記載
のフレア率測定装置において、前記参照レベルは飽和レ
ベルを僅かに下回ることを特徴とするフレア率測定装
置。 - 【請求項１１】 請求項１乃至１０のいずれか１項に記
載のフレア率測定装置において、前記黒色図形信号レベ
ルと、前記参照レベルと、前記基準黒信号レベルは前記
カメラの同一の露出条件で測定されることを特徴とする
フレア率測定装置。 - 【請求項１２】 請求項１乃至１０のいずれか１項に記
載のフレア率測定装置において、前記計算手段は、前記
検出手段による同一対象についての複数の検出結果を利
用してフレア率を算出することを特徴とするフレア率測
定装置。 - 【請求項１３】 請求項１乃至１０のいずれか１項に記
載のフレア率測定装置において、前記黒色図形は複数あ
ることを特徴とするフレア率測定装置。 - 【請求項１４】撮像素子を備えたカメラのフレア率定方
法であって、均一な輝度レベルの検査対象の像を前記撮
像素子上に形成する段階と、所定位置に前記均一な輝度
レベルより低い輝度レベルのパターンが存在する検査対
象の像を前記撮像素子上に形成する段階と、前記均一な
輝度レベルの検査対象の像を前記撮像素子上に形成した
場合の前記カメラの前記パターンの位置に対応した位置
における画像の出力信号と、前記パターンが存在する検
査対象の像を前記撮像素子上に形成した場合の前記カメ
ラの前記パターンの位置に対応した位置における画像の
出力信号とを比較する段階を備えることを特徴とするフ
レア率測定方法。 - 【請求項１５】撮像素子を備えたカメラのフレア率測定
方法であって、位置によって輝度レベルが異なる検査対
象の像を前記撮像素子上に形成する段階と、前記カメラ
の所定位置における画像の出力信号と、前記カメラの前
記所定位置とは輝度レベルが異なる位置における画像の
出力信号とを比較する段階を備えることを特徴とするフ
レア率測定方法。 - 【請求項１６】前記検査対象は、所定の輝度レベルの第
１のパターンと該第１のパターンよりも輝度レベルが高
い第２のパターンを有し、前記カメラの前記第１のパタ
ーンの位置に対応した位置における画像の出力信号と、
前記カメラの前記第２のパターンの位置に対応した位置
における画像の出力信号とを比較する段階を備えること
を特徴とする請求項１５記載のフレア率測定方法。 - 【請求項１７】前記第１のパターンは黒色パターンであ
ることを特徴とする請求項１６記載のフレア率測定方
法。 - 【請求項１８】前記検査対象は、前記第１のパターン及
び前記第２のパターンよりも輝度レベルの高い明部を有
し、前記検査対象の像を前記撮像素子上に形成する段階
において、前記明部での露出がオーバーになるようにす
ることを特徴とする請求項１６又は１７記載のフレア率
測定方法。 - 【請求項１９】請求項１４乃至１８いずれか１項記載の
フレア率測定方法を用いてフレアを測定する工程を有す
ることを特徴とするカメラの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30857999A JP4365955B2 (ja) | 1999-10-29 | 1999-10-29 | フレア率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30857999A JP4365955B2 (ja) | 1999-10-29 | 1999-10-29 | フレア率測定装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001124663A true JP2001124663A (ja) | 2001-05-11 |
| JP2001124663A5 JP2001124663A5 (ja) | 2006-12-07 |
| JP4365955B2 JP4365955B2 (ja) | 2009-11-18 |
Family
ID=17982739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30857999A Expired - Fee Related JP4365955B2 (ja) | 1999-10-29 | 1999-10-29 | フレア率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4365955B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1387219A3 (en) * | 2002-07-31 | 2005-05-25 | Fujitsu Limited | Test photomask, flare evaluation method, and flare compensation method |
| KR100616521B1 (ko) * | 2006-05-10 | 2006-08-28 | 김현주 | 카메라의 광학 파라미터 조정용 그레이 카드 |
-
1999
- 1999-10-29 JP JP30857999A patent/JP4365955B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1387219A3 (en) * | 2002-07-31 | 2005-05-25 | Fujitsu Limited | Test photomask, flare evaluation method, and flare compensation method |
| US6986973B2 (en) | 2002-07-31 | 2006-01-17 | Fujitsu Limited | Test photomask, flare evaluation method, and flare compensation method |
| KR100870333B1 (ko) | 2002-07-31 | 2008-11-25 | 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 시험용 포토마스크, 플레어 평가 방법, 및 플레어 보정 방법 |
| KR100616521B1 (ko) * | 2006-05-10 | 2006-08-28 | 김현주 | 카메라의 광학 파라미터 조정용 그레이 카드 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4365955B2 (ja) | 2009-11-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10630906B2 (en) | Imaging control method, electronic device and computer readable storage medium | |
| JP4857877B2 (ja) | 撮像装置およびカメラ | |
| KR100335529B1 (ko) | 고체촬상소자의 화소결함 검출장치 | |
| CN101452199B (zh) | 调制传递函数值的测量方法 | |
| US8373769B2 (en) | Imaging apparatus, imaging processing method and recording medium | |
| US11050987B2 (en) | Method and apparatus for determining fisheye camera shadow correction parameter | |
| CN104333680B (zh) | 拍摄装置以及图像处理方法 | |
| JP2009124573A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2007282109A (ja) | 撮像装置、カメラおよび画像処理方法 | |
| JP2007282107A (ja) | 撮像装置、カメラおよび画像処理方法 | |
| US20140176754A1 (en) | Image capturing apparatus and control method thereof | |
| JP5986461B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法、プログラム、並びに記憶媒体 | |
| CN102460271A (zh) | 光学滤波器以及显示器评价系统 | |
| JP5173664B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
| KR101119686B1 (ko) | 촬상 장치, 촬상 방법 및 촬상 처리를 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | |
| JP4365955B2 (ja) | フレア率測定装置 | |
| JP2003202273A (ja) | フレアーの測定方法 | |
| JP5950552B2 (ja) | 撮像装置、及び撮像装置の制御方法 | |
| KR101750050B1 (ko) | 촬상 장치 및 촬상 방법 | |
| JP4498086B2 (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
| JP4133303B2 (ja) | ディスプレイ画質測定システム | |
| JP6904560B2 (ja) | 信号処理装置 | |
| US20230412940A1 (en) | Image pickup apparatus and image processing method | |
| JP2025008392A (ja) | 輝度調整装置、輝度調整方法、コンピュータを輝度調整装置として機能させるためのプログラム | |
| KR101406801B1 (ko) | 디지털 촬영장치, 그 제어방법 및 제어방법을 실행시키기위한 프로그램을 저장한 기록매체 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061023 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061023 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080925 |
|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20090324 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090512 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090710 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090804 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090824 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |