JP2001124657A - 分岐光線路試験システムおよび分岐光線路試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 システムコストが安く、試験のダイナミック
レンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調
節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 【解決手段】 光分岐結合器３０は、７つの誘電体多層
膜フィルタＦ₁〜Ｆ₇を備えており、共通光線路２０を介
してＳＬＴと接続され、分岐光線路４０₁〜４０₈それぞ
れを介して各ＯＮＵと接続されている。各誘電体多層膜
フィルタＦ_nは、通信光λ_Sの一部を反射させ残部を透過
させるとともに、８波の試験光のうち少なくとも第ｎ番
目の波長λ_nの試験光を入射して、波長λ_n以下の試験光
を透過させ、その他の試験光を反射させる（１≦ｎ≦Ｎ
−１）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、共通光線路から光
分岐結合器を介して分岐されたＮ本（Ｎ≧２）の分岐光
線路それぞれをＯＴＤＲにより試験する分岐光線路試験
システムおよび分岐光線路試験方法に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】光通信システムにおいて通信光を伝搬さ
せる光線路はＯＴＤＲ（optical TimeDomain Reflectom
eter）により試験することができる。すなわち、通信光
の波長とは異なる波長の試験光を光線路の一方の側から
入射させ、この試験光が光線路を伝搬する際に生じる後
方散乱光の強度を当該一方の側で検出する。そして、こ
の検出された後方散乱光強度の時間変化に基づいて光線
路を試験することができる。

【０００３】一方、１つの端局装置（ＳＬＴ: Subscrib
er Line Terminal）から出力された通信光をＮ個の終端
装置（ＯＮＵ: Optical Network Unit）へ同時に送信す
るような光通信システムが知られている。この光通信シ
ステムでは、ＳＬＴから出力された通信光を１本の共通
光線路を介して光分岐結合器まで送信し、その通信光を
光分岐結合器によりＮ分岐して、その分岐された通信光
をＮ個のＯＮＵへ同時に伝搬させる。このような光通信
システムにおいても、光分岐結合器からＮ個のＯＮＵそ
れぞれに到る各分岐光線路をＯＴＤＲにより試験する方
法が提案されている。

【０００４】例えば、特開平６−２１８８８号公報に開
示された試験システムでは、Ｎ本の光分岐線路を試験す
るためのＮ波の試験光をＳＬＴから光分岐結合器までＮ
本の試験光用線路で送信し、各試験光用線路を伝搬する
試験光を、各分岐光線路を伝搬する通信光に合分波す
る。このようにすることで、Ｎ本の分岐光線路それぞれ
について互いに異なる波長の試験光を用いてＯＴＤＲに
より試験する。

【０００５】また、特開平６−３５０５３０号公報およ
び特開平８−１１０２８２号公報それぞれに開示された
試験システムでは、１本の共通光線路を介して通信光お
よびＮ波の試験光をＳＬＴから光分岐結合器まで送信
し、光分岐結合器において通信光とともにＮ波の試験光
の全てをＮ分岐して、これらを各分岐光線路に伝搬させ
る。そして、光分岐結合器からＮ個のＯＮＵまで到る各
分岐光線路の途中に光部品を設けて、各分岐光線路を伝
搬するＮ波の試験光のうち該分岐光線路に対応する波長
の試験光のみを該光部品により選択的に透過または反射
させる。このようにすることで、Ｎ本の分岐光線路それ
ぞれについて互いに異なる波長の試験光を用いてＯＴＤ
Ｒにより試験する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例が以下のような問題点を有していることを本願発明
者は見出した。すなわち、特開平６−２１８８８号公報
に開示された試験システムでは、ＳＬＴから光分岐結合
器まで通信光を送信するために１本の共通光線路を用い
ることで光通信システムのコスト低減を図ろうとしてい
るにも拘わらず、ＳＬＴから光分岐結合器までＮ波の試
験光を送信するためにＮ本の試験光用線路を用いている
ことから、この試験システムのコストが高くなる。

【０００７】また、特開平６−３５０５３０号公報およ
び特開平８−１１０２８２号公報それぞれに開示された
試験システムでは、光分岐結合器においてＮ波の試験光
の全てがＮ分岐されることから、Ｎ本の分岐光線路それ
ぞれを伝搬する各波の試験光のパワーが小さくなる。そ
れ故、試験のダイナミックレンジが小さくなる。試験の
ダイナミックレンジを大きくする為に、ＳＬＴから送出
される試験光のパワーを大きくすることも考えられる
が、これでは、この試験システムのコストが高くなる。

【０００８】以上の問題点を解決する為に、特開平７−
９８４１９号公報に開示された集積光導波路回路を光分
岐結合器で用いることが考えられる。この集積光導波路
回路は、アレイ導波路回折格子型合分波器（ＡＷＧ: Ar
rayed Waveguide Grating）とスターカプラ型光パワー
スプリッタとを組み合わせたものであり、光パワースプ
リッタにより通信光をＮ分岐するとともに、ＡＷＧによ
りＮ波の試験光を分波することができる。この集積光導
波路回路を光分岐結合器で用いることで、通信光および
Ｎ波の試験光をＳＬＴから光分岐結合器まで共通光線路
で送信することができるので、この点では試験システム
のコストが安い。また、Ｎ本の分岐光線路それぞれに、
Ｎ分岐された通信光および各分岐光線路に対応する波長
の試験光を伝搬させることができ、試験のダイナミック
レンジを確保することができる。

【０００９】ところで、特開平７−９８４１９号公報に
開示された集積光導波路回路は、光分波特性が温度に対
して敏感であるＡＷＧの構成を含んでいることから、温
度調節を行って光分波特性を一定に維持する必要があ
る。光分岐結合器は、屋外に設けられる場合が多く、こ
の場合には温度調節が不可欠である。しかし、屋外に設
けられる光分岐結合器にとって、温度調節を行う為の電
源を確保することは困難である。また、ＡＷＧの構成を
含む集積光導波路回路は高価である。

【００１０】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、システムコストが安く、試験のダイナ
ミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の
温度調節が不要な分岐光線路試験システムおよび分岐光
線路試験方法を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明に係る分岐光線路
試験システムは、共通光線路から光分岐結合器を介して
分岐されたＮ本（Ｎ≧２）の分岐光線路それぞれを、各
分岐光線路に応じて互いに異なる波長λ_n（１≦ｎ≦
Ｎ）のＮ波の試験光を用いてＯＴＤＲにより試験する分
岐光線路試験システムである。そして、光分岐結合器
は、通信光の一部を反射させ残部を透過させるととも
に、Ｎ波の試験光のうち少なくとも第ｎ番目の波長λ_n
の試験光を入射して、波長λ_n以下の試験光およびその
他の試験光のうち一方を反射させ他方を透過させる誘電
体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）を有し、これ
ら（Ｎ−１）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦
Ｎ−１）により、共通光線路を伝搬してきた通信光をＮ
本の分岐光線路に分岐するとともに、共通光線路を伝搬
してきたＮ波の試験光を分波して各試験光をＮ本の分岐
光線路のうちの対応する分岐光線路へ出力し、Ｎ本の分
岐光線路それぞれを伝搬してきたＮ波の試験光の後方散
乱光を合波して共通光線路へ出力する、ことを特徴とす
る。

【００１２】また、本発明に係る分岐光線路試験方法
は、共通光線路から光分岐結合器を介して分岐されたＮ
本（Ｎ≧２）の分岐光線路それぞれを、各分岐光線路に
応じて互いに異なる波長λ_n（１≦ｎ≦Ｎ）のＮ波の試
験光を用いてＯＴＤＲにより試験する分岐光線路試験方
法である。そして、光分岐結合器として、通信光の一部
を反射させ残部を透過させるとともに、Ｎ波の試験光の
うち少なくとも第ｎ番目の波長λ_nの試験光を入射し
て、波長λ_n以下の試験光およびその他の試験光のうち
一方を反射させ他方を透過させる誘電体多層膜フィルタ
Ｆ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）を有するものを用い、これら
（Ｎ−１）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ
−１）により、共通光線路を伝搬してきた通信光をＮ本
の分岐光線路に分岐するとともに、共通光線路を伝搬し
てきたＮ波の試験光を分波して各試験光をＮ本の分岐光
線路のうちの対応する分岐光線路へ出力し、Ｎ本の分岐
光線路それぞれを伝搬してきたＮ波の試験光の後方散乱
光を合波して共通光線路へ出力する、ことを特徴とす
る。

【００１３】本発明に係る分岐光線路試験システムおよ
び本発明に係る分岐光線路試験方法それぞれによれば、
通信光およびＮ波の試験光は共通光線路を伝搬してきて
光分岐結合器に到達する。そして、（Ｎ−１）個の誘電
体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）を有する光分
岐結合器により、通信光はＮ分岐されて、分岐された各
通信光はＮ本の分岐光線路へ出力される。また、この光
分岐結合器により、Ｎ波の試験光は分波されて、各波長
の試験光は、Ｎ本の分岐光線路のうちの対応する分岐光
線路へ出力される。さらに、この光分岐結合器により、
Ｎ本の分岐光線路それぞれを伝搬してきたＮ波の試験光
の後方散乱光は、合波されて共通光線路へ出力される。
Ｎ本の分岐光線路それぞれは、この後方散乱光強度の時
間変化に基づいて、ＯＴＤＲにより試験される。

【００１４】本発明に係る分岐光線路試験システムおよ
び本発明に係る分岐光線路試験方法それぞれにおいて、
誘電体多層膜フィルタＦ_nは、(1) 通信光の一部を反射
させ残部を透過させるとともに、Ｎ波の試験光のうち入
射した試験光を透過させる通信光分岐用フィルタと、
(2) 通信光を透過させるとともに、波長λ_n以下の試験
光およびその他の試験光のうち一方を反射させ他方を透
過させる試験光分波用フィルタと、を有することを特徴
とする。この場合には、このような特性を有する通信光
分岐用フィルタおよび試験光分波用フィルタそれぞれは
設計・製造が容易であるので、このように構成される各
誘電体多層膜フィルタＦ_nも設計・製造が容易である。

【００１５】本発明に係る分岐光線路試験システムおよ
び本発明に係る分岐光線路試験方法それぞれにおいて、
Ｎが２の冪乗の数であり、（Ｎ−１）個の誘電体多層膜
フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）がツリー状に接続され
ている、ことを特徴とする。この場合には、通信光が共
通光線路から各分岐光線路へ分岐される際に該通信光が
経る誘電体多層膜フィルタの個数は一定値であり、ま
た、試験光が共通光線路から各分岐光線路へ分波される
際に該試験光が経る誘電体多層膜フィルタの個数も一定
値である。したがって、光分岐結合器を経る間に通信光
およびＮ波の試験光それぞれが被る損失を、小さくする
ことができ、また、一定にすることができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明にお
いて同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を
省略する。また、以下では、分岐数Ｎを８とし、通信光
の波長をλ_Sとし、８波の試験光それぞれの波長をλ₁〜
λ₈とする。通信光の波長λ_S（例えば１３１０ｎｍ帯ま
たは１５５０ｎｍ帯）より、試験光の波長λ₁〜λ₈（例
えば１６００ｎｍ〜１７００ｎｍの範囲内の波長）の方
が長いものとし、これらの波長の大小関係を λ_S＜λ ₁
＜λ₂＜λ₃＜λ₄＜λ₅＜λ₆＜λ₇＜λ₈ として説明す
る。

【００１７】図１は、本実施形態に係る分岐光線路試験
システムの概略構成図である。本実施形態に係る分岐光
線路試験システムは、１つの端局装置（ＳＬＴ）１０、
共通光線路２０、光分岐結合器３０、８本の分岐光線路
４０₁〜４０₈および８個の終端装置（ＯＮＵ）５０₁〜
５０₈を備えている。

【００１８】ＳＬＴ１０は、８個のＯＮＵ５０₁〜５０₈
それぞれへ向けて波長λ_Sの通信光を送出するものであ
り、この通信光を出力する通信光用光源（図示せず）を
備えている。また、ＳＬＴ１０は、８本の分岐光線路４
０₁〜４０₈それぞれについてＯＴＤＲにより試験を行う
為の構成要素として、制御部１１、光源１２、光方向性
結合器１３および受光部１４を備えている。制御部１１
は、光源１２に対して試験光の出力を指示するととも
に、受光部１４が後方散乱光を受光して出力した電気信
号を入力して、この電気信号に基づいて８本の分岐光線
路４０₁〜４０₈それぞれを評価する。光源１２は、制御
部１１からの指示に従って、波長λ₁〜λ₈の８波の試験
光を出力する。光方向性結合器１３は、光源１２から出
力された８波の試験光λ₁〜λ₈を共通光線路２０へ出力
し、通信光用光源から出力された通信光λ_Sをも共通光
線路２０へ出力する。また、光方向性結合器１３は、共
通光線路２０から到達した後方散乱光を受光部１４へ出
力する。受光部１４は、この後方散乱光を受光して、こ
の後方散乱光の強度に応じた電気信号を出力する。

【００１９】共通光線路２０は、ＳＬＴ１０の光方向性
結合器１３から出力された通信光λ _Sおよび８波の試験
光λ₁〜λ₈を光分岐結合器３０まで伝搬させる。光分岐
結合器３０は、共通光線路２０を介して到達した通信光
λ_Sおよび８波の試験光λ₁〜λ₈を入力する。そして、
光分岐結合器３０は、通信光λ_Sを８分岐して、その分
岐された通信光λ_Sを８本の分岐光線路４０₁〜４０₈そ
れぞれへ出力する。また、光分岐結合器３０は、８波の
試験光λ₁〜λ₈を分波して、各試験光λ_nを分岐光線路
４０_nへ出力する（１≦ｎ≦８）。さらに、光分岐結合
器３０は、各分岐光線路４０_nを伝搬してきた試験光λ_n
の後方散乱光を合波して共通光線路２０へ出力する。

【００２０】分岐光線路４０_nは、光分岐結合器３０か
ら出力された通信光λ_Sおよび試験光λ_nをＯＮＵ５０_n
へ向けて伝搬させる。また、分岐光線路４０_nは、その
途中で発生した試験光λ_nの後方散乱光を光分岐結合器
３０へ向けて伝搬させる。ＯＮＵ５０_nは、分岐光線路
４０_nを伝搬してきた通信光λ_Sを受信する。ただし、Ｏ
ＮＵ５０_nは、分岐光線路４０_nを伝搬してきた試験光λ
_nを受信することなく、当該受信部の直前で試験光λ_nを
反射させる。

【００２１】図２は、本実施形態に係る分岐光線路試験
システムの光分岐結合器３０の構成図である。光分岐結
合器３０は、７つの誘電体多層膜フィルタＦ₁〜Ｆ₇を備
えている。図３は、各誘電体多層膜フィルタＦ_nの透過
特性および反射特性を説明する図である。各誘電体多層
膜フィルタＦ_nは、通信光λ_Sの一部を反射させ残部を透
過させるとともに、８波の試験光のうち少なくとも第ｎ
番目の波長λ_nの試験光を入射して、波長λ_n以下の試験
光を透過させ、その他の試験光を反射させる（１≦ｎ≦
Ｎ−１）。分岐数Ｎ＝８＝２³ が２の冪乗の数であり、
図２に示すように７つの誘電体多層膜フィルタＦ₁〜Ｆ₇
がツリー状に接続される場合には、各誘電体多層膜フィ
ルタＦ_nは、通信光λ_Sについては５０％を反射させ、残
り５０％を透過させる（図３（ａ），（ｂ））。

【００２２】各誘電体多層膜フィルタＦ_nは、通信光分
岐用フィルタと試験光分波用フィルタとが重ね合わされ
たものが好適である。すなわち、通信光分岐用フィルタ
は、通信光λ_Sの一部を反射させ残部を透過させるとと
もに、８波の試験光λ₁〜λ₈を透過させる（図３
（ｃ））。一方、試験光分波用フィルタは、通信光およ
び波長λ_n以下の試験光を透過させ、その他の試験光を
反射させる（図３（ｄ））。このような特性を有する通
信光分岐用フィルタおよび試験光分波用フィルタそれぞ
れは設計・製造が容易であるので、このように構成され
る各誘電体多層膜フィルタＦ_nも設計・製造が容易であ
る。

【００２３】図４は、各誘電体多層膜フィルタＦ_nの概
略構成図である。この図に示すように、各誘電体多層膜
フィルタＦ_nは、通信光分岐用フィルタ４０１と試験光
分波用フィルタ４０２とが互いに重ね合わされて構成さ
れ、基板４００上に固定されている。また、この基板４
００上には、レンズ４１１〜４１３それぞれが固定さ
れ、光ファイバ４２１〜４２３それぞれの一端が固定さ
れている。レンズ４１１は、光ファイバ４２１の出射端
から出力された通信光および試験光をコリメートして誘
電体多層膜フィルタＦ_nに入射させる。レンズ４１２
は、誘電体多層膜フィルタＦ_nを透過した通信光および
試験光を集光して光ファイバ４２２の入射端に入射させ
る。また、レンズ４１３は、誘電体多層膜フィルタＦ_n
で反射された通信光および試験光を集光して光ファイバ
４２３の入射端に入射させる。

【００２４】図２に示された光分岐結合器３０におい
て、誘電体多層膜フィルタＦ₄は、共通光線路２０を伝
搬してきて到達した通信光λ_Sおよび８波の試験光λ₁〜
λ₈を入力し、通信光λ_Sについてはパワー比１対１で透
過・反射させ、試験光λ₁〜λ ₄を透過させ、試験光λ₅
〜λ₈を反射させる。誘電体多層膜フィルタＦ₂は、誘電
体多層膜フィルタＦ₄を透過した通信光λ_Sおよび４波の
試験光λ₁〜λ₄を入力し、通信光λ_Sについてはパワー
比１対１で透過・反射させ、試験光λ₁およびλ₂を透過
させ、試験光λ₃およびλ₄を反射させる。

【００２５】誘電体多層膜フィルタＦ₁は、誘電体多層
膜フィルタＦ₂を透過した通信光λ_Sおよび２波の試験光
λ₁およびλ₂を入力し、通信光λ_Sについてはパワー比
１対１で透過・反射させ、試験光λ₁を透過させて通信
光λ_Sとともに分岐光線路４０ ₁へ出力し、試験光λ₂を
反射させて通信光λ_Sとともに分岐光線路４０₂へ出力す
る。誘電体多層膜フィルタＦ₃は、誘電体多層膜フィル
タＦ₂で反射された通信光λ_Sおよび２波の試験光λ₃お
よびλ₄を入力し、通信光λ_Sについてはパワー比１対１
で透過・反射させ、試験光λ₃を透過させて通信光λ_Sと
ともに分岐光線路４０₃へ出力し、試験光λ₄を反射させ
て通信光λ_Sとともに分岐光線路４０₄へ出力する。

【００２６】誘電体多層膜フィルタＦ₆は、誘電体多層
膜フィルタＦ₄で反射された通信光λ _Sおよび４波の試験
光λ₅〜λ₈を入力し、通信光λ_Sについてはパワー比１
対１で透過・反射させ、試験光λ₅およびλ₆を透過さ
せ、試験光λ₇およびλ₈を反射させる。誘電体多層膜フ
ィルタＦ₅は、誘電体多層膜フィルタＦ₆を透過した通信
光λ_Sおよび２波の試験光λ₅およびλ₆を入力し、通信
光λ_Sについてはパワー比１対１で透過・反射させ、試
験光λ₅を透過させて通信光λ_Sとともに分岐光線路４０
₅へ出力し、試験光λ₆を反射させて通信光λ_Sとともに
分岐光線路４０₆へ出力する。誘電体多層膜フィルタＦ₇
は、誘電体多層膜フィルタＦ₆で反射された通信光λ_Sお
よび２波の試験光λ₇およびλ₈を入力し、通信光λ_Sに
ついてはパワー比１対１で透過・反射させ、試験光λ₇
を透過させて通信光λ_Sとともに分岐光線路４０₇へ出力
し、試験光λ₈を反射させて通信光λ_Sとともに分岐光線
路４０₈へ出力する。

【００２７】次に、本実施形態に係る分岐光線路試験シ
ステムの動作について説明するとともに、併せて本実施
形態に係る分岐光線路試験方法について説明する。ＳＬ
Ｔ１０から出力された通信光λ_Sは、共通光線路２０を
伝搬して光分岐結合器３０に到達し、この光分岐結合器
３０により８分岐されて、８本の分岐光線路４０₁〜４
０₈それぞれへ出力される。例えば、共通光線路２０か
ら分岐光線路４０₁へ分岐出力される通信光λ_Sは、光分
岐結合器３０において、誘電体多層膜フィルタＦ₄，Ｆ₂
およびＦ₁を順に透過して、分岐光線路４０₁へ出力され
る。また、例えば、共通光線路２０から分岐光線路４０
₇へ分岐出力される通信光λ_Sは、光分岐結合器３０にお
いて、誘電体多層膜フィルタＦ₄およびＦ₆で順に反射さ
れ、誘電体多層膜フィルタＦ₇を透過して、分岐光線路
４０₇へ出力される。そして、分岐された各通信光λ
_Sは、分岐光線路４０_nを伝搬してＯＮＵ５０_nに到達
し、ＯＮＵ５０_nで受信される。

【００２８】一方、ＳＬＴ１０の光源１２から出力され
た８波の試験光λ₁〜λ₈は、共通光線路２０を伝搬して
光分岐結合器３０に到達し、この光分岐結合器３０によ
り分波されて、試験光λ_nが分岐光線路４０_nへ出力され
る。例えば、共通光線路２０から分岐光線路４０₁へ分
波出力される試験光λ₁は、光分岐結合器３０におい
て、誘電体多層膜フィルタＦ₄，Ｆ₂およびＦ₁を順に透
過して、分岐光線路４０₁へ出力される。また、例え
ば、共通光線路２０から分岐光線路４０₇へ分波出力さ
れる試験光λ₇は、光分岐結合器３０において、誘電体
多層膜フィルタＦ₄およびＦ₆で順に反射され、誘電体多
層膜フィルタＦ₇を透過して、分岐光線路４０₇へ出力さ
れる。そして、分波された各試験光λ_nは、ＯＮＵ５０_n
へ向かって分岐光線路４０_nを伝搬していく。

【００２９】試験光λ_nが光分岐結合器３０からＯＮＵ
５０_nへ向かって分岐光線路４０_nを伝搬していく間に生
じた後方散乱光は、該試験光λ_nの伝搬経路とは逆の経
路を経てＳＬＴ１０へ戻り、受光部１４により受光され
る。そして、ＳＬＴ１０の制御部１１により、後方散乱
光強度の時間変化が求められ、これに基づいて分岐光線
路４０_nが試験される。

【００３０】以上のように本実施形態に係る分岐光線路
試験システムおよび分岐光線路試験方法では、ＳＬＴ１
０から光分岐結合器３０へ通信光λ_Sおよび８波の試験
光λ₁〜λ₈を送信する為に１本の共通光線路２０のみを
用いており、また、光分岐結合器３０が比較的安価に製
作できる誘電体多層膜フィルタＦ₁〜Ｆ₇を備えて構成さ
れているので、システムコストが安価である。光分岐結
合器３０において８波の試験光λ₁〜λ₈が分波され、分
岐光線路４０_nを試験する為の試験光λ_nが分岐光線路４
０_nのみを伝搬するので、試験のダイナミックレンジを
確保することが可能である。また、光分岐結合器３０に
おいて通信光λ_Sを分岐するとともに８波の試験光λ₁〜
λ₈を分波する為に、透過特性・反射特性の温度依存性
が比較的小さい誘電体多層膜フィルタＦ₁〜Ｆ₇を用いて
いるので、光分岐結合器３０の温度調節が不要である。

【００３１】さらに本実施形態では、分岐数Ｎが２の冪
乗の数であり、図２に示すように７つの誘電体多層膜フ
ィルタＦ₁〜Ｆ₇がツリー状に接続されているので、通信
光λ _Sが共通光線路２０から各分岐光線路４０_nへ分岐さ
れる際に該通信光λ_Sが経る誘電体多層膜フィルタの個
数はパラメータｎ値によらず一定値３であり、また、試
験光λ_nが共通光線路２０から各分岐光線路４０_nへ分波
される際に該試験光λ _nが経る誘電体多層膜フィルタの
個数もパラメータｎ値によらず一定値３である。したが
って、光分岐結合器３０を経る間に通信光λ_Sおよび８
波の試験光λ₁〜λ₈それぞれが被る損失を、小さくする
ことができ、また、パラメータｎ値によらず一定にする
ことができる。

【００３２】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形が可能である。例えば、上記実施形
態では通信光の波長λ_Sより試験光の波長λ₁〜λ₈の方
を長いものとしたが、通信光の波長λ_Sより試験光の波
長λ₁〜λ₈の方を短いものとしてもよい。後者の場合に
は、通信光の波長λ_Sおよび試験光の波長λ₁〜λ₈の大
小関係を λ₈＜λ₇＜λ₆＜λ₅＜λ₄＜λ₃＜λ₂＜λ₁＜
λ_S とすれば、上記実施形態と同様の構成・動作とな
る。また、光分岐結合器における通信光の分岐数Ｎは、
上記実施形態では８としたが、これに限られるものでは
ない。

【００３３】

【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり、本発明に
よれば、通信光およびＮ波の試験光は共通光線路を伝搬
してきて光分岐結合器に到達する。そして、（Ｎ−１）
個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）を有
する光分岐結合器により、通信光はＮ分岐されて、分岐
された各通信光はＮ本の分岐光線路へ出力される。ま
た、この光分岐結合器により、Ｎ波の試験光は分波され
て、各波長の試験光は、Ｎ本の分岐光線路のうちの対応
する分岐光線路へ出力される。さらに、この光分岐結合
器により、Ｎ本の分岐光線路それぞれを伝搬してきたＮ
波の試験光の後方散乱光は、合波されて共通光線路へ出
力される。Ｎ本の分岐光線路それぞれは、この後方散乱
光強度の時間変化に基づいて、ＯＴＤＲにより試験され
る。

【００３４】このように、本発明では、光分岐結合器へ
通信光およびＮ波の試験光を送信する為に１本の共通光
線路のみを用いており、また、光分岐結合器が比較的安
価に製作できる（Ｎ−１）個の誘電体多層膜フィルタを
備えて構成されているので、システムコストが安価であ
る。光分岐結合器においてＮ波の試験光が分波され、Ｎ
本の分岐光線路それぞれを試験する為の各試験光が対応
する分岐光線路のみを伝搬するので、試験のダイナミッ
クレンジを確保することが可能である。また、光分岐結
合器において通信光を分岐するとともにＮ波の試験光を
分波する為に、透過特性・反射特性の温度依存性が比較
的小さい誘電体多層膜フィルタを用いているので、光分
岐結合器の温度調節が不要である。

【００３５】また、誘電体多層膜フィルタＦ_nは、(1)
通信光の一部を反射させ残部を透過させるとともに、Ｎ
波の試験光のうち入射した試験光を透過させる通信光分
岐用フィルタと、(2) 通信光を透過させるとともに、波
長λ_n以下の試験光およびその他の試験光のうち一方を
反射させ他方を透過させる試験光分波用フィルタと、を
有するのが好適である。この場合には、このような特性
を有する通信光分岐用フィルタおよび試験光分波用フィ
ルタそれぞれは設計・製造が容易であるので、このよう
に構成される各誘電体多層膜フィルタＦ_nも設計・製造
が容易である。

【００３６】また、Ｎが２の冪乗の数であり、（Ｎ−
１）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）
がツリー状に接続されている場合には、通信光が共通光
線路から各分岐光線路へ分岐される際に該通信光が経る
誘電体多層膜フィルタの個数は一定値であり、また、試
験光が共通光線路から各分岐光線路へ分波される際に該
試験光が経る誘電体多層膜フィルタの個数も一定値であ
る。したがって、光分岐結合器を経る間に通信光および
Ｎ波の試験光それぞれが被る損失を、小さくすることが
でき、また、一定にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施形態に係る分岐光線路試験システムの概
略構成図である。

【図２】本実施形態に係る分岐光線路試験システムの光
分岐結合器の構成図である。

【図３】各誘電体多層膜フィルタＦ_nの透過特性および
反射特性を説明する図である。

【図４】各誘電体多層膜フィルタＦ_nの概略構成図であ
る。

【符号の説明】

１０…ＳＬＴ、１１…制御部、１２…光源、１３…光方
向性結合器、１４…受光部、２０…共通光線路、３０…
光分岐結合器、４０₁〜４０₈…分岐光線路、５０₁〜５
０₈…ＯＮＵ、Ｆ₁〜Ｆ₇…誘電体多層膜フィルタ。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 共通光線路から光分岐結合器を介して分
   岐されたＮ本（Ｎ≧２）の分岐光線路それぞれを、各分
   岐光線路に応じて互いに異なる波長λ_n（１≦ｎ≦Ｎ）
   のＮ波の試験光を用いてＯＴＤＲにより試験する分岐光
   線路試験システムであって、 前記光分岐結合器は、 通信光の一部を反射させ残部を透過させるとともに、前
   記Ｎ波の試験光のうち少なくとも第ｎ番目の波長λ_nの
   試験光を入射して、波長λ_n以下の試験光およびその他
   の試験光のうち一方を反射させ他方を透過させる誘電体
   多層膜フィルタＦ _n（１≦ｎ≦Ｎ−１）を有し、 これら（Ｎ−１）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦
   ｎ≦Ｎ−１）により、前記共通光線路を伝搬してきた前
   記通信光を前記Ｎ本の分岐光線路に分岐するとともに、
   前記共通光線路を伝搬してきた前記Ｎ波の試験光を分波
   して各試験光を前記Ｎ本の分岐光線路のうちの対応する
   分岐光線路へ出力し、前記Ｎ本の分岐光線路それぞれを
   伝搬してきた前記Ｎ波の試験光の後方散乱光を合波して
   前記共通光線路へ出力する、 ことを特徴とする分岐光線路試験システム。
2. 【請求項２】 前記誘電体多層膜フィルタＦ_nは、 前記通信光の一部を反射させ残部を透過させるととも
   に、前記Ｎ波の試験光のうち入射した試験光を透過させ
   る通信光分岐用フィルタと、 前記通信光を透過させるとともに、波長λ_n以下の試験
   光およびその他の試験光のうち一方を反射させ他方を透
   過させる試験光分波用フィルタと、 を有することを特徴とする請求項１記載の分岐光線路試
   験システム。
3. 【請求項３】 Ｎが２の冪乗の数であり、前記（Ｎ−
   １）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）
   がツリー状に接続されている、ことを特徴とする請求項
   １記載の分岐光線路試験システム。
4. 【請求項４】 共通光線路から光分岐結合器を介して分
   岐されたＮ本（Ｎ≧２）の分岐光線路それぞれを、各分
   岐光線路に応じて互いに異なる波長λ_n（１≦ｎ≦Ｎ）
   のＮ波の試験光を用いてＯＴＤＲにより試験する分岐光
   線路試験方法であって、 前記光分岐結合器として、通信光の一部を反射させ残部
   を透過させるとともに、前記Ｎ波の試験光のうち少なく
   とも第ｎ番目の波長λ_nの試験光を入射して、波長λ_n以
   下の試験光およびその他の試験光のうち一方を反射させ
   他方を透過させる誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦
   Ｎ−１）を有するものを用い、 これら（Ｎ−１）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦
   ｎ≦Ｎ−１）により、前記共通光線路を伝搬してきた前
   記通信光を前記Ｎ本の分岐光線路に分岐するとともに、
   前記共通光線路を伝搬してきた前記Ｎ波の試験光を分波
   して各試験光を前記Ｎ本の分岐光線路のうちの対応する
   分岐光線路へ出力し、前記Ｎ本の分岐光線路それぞれを
   伝搬してきた前記Ｎ波の試験光の後方散乱光を合波して
   前記共通光線路へ出力する、 ことを特徴とする分岐光線路試験方法。
5. 【請求項５】 前記誘電体多層膜フィルタＦ_nは、 前記通信光の一部を反射させ残部を透過させるととも
   に、前記Ｎ波の試験光のうち入射した試験光を透過させ
   る通信光分岐用フィルタと、 前記通信光を透過させるとともに、波長λ_n以下の試験
   光およびその他の試験光のうち一方を反射させ他方を透
   過させる試験光分波用フィルタと、 を有することを特徴とする請求項４記載の分岐光線路試
   験方法。
6. 【請求項６】 Ｎが２の冪乗の数であり、前記（Ｎ−
   １）個の誘電体多層膜フィルタＦ_n（１≦ｎ≦Ｎ−１）
   がツリー状に接続されている、ことを特徴とする請求項
   ４記載の分岐光線路試験方法。