JP2001121412A - Double side surface polisher - Google Patents

Double side surface polisher

Info

Publication number
JP2001121412A
JP2001121412A JP29934599A JP29934599A JP2001121412A JP 2001121412 A JP2001121412 A JP 2001121412A JP 29934599 A JP29934599 A JP 29934599A JP 29934599 A JP29934599 A JP 29934599A JP 2001121412 A JP2001121412 A JP 2001121412A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polished
carrier
double
polishing
sun gear
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP29934599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shunji Hakomori
駿二 箱守
Masahiro Ichikawa
雅弘 市川
Misuo Sugiyama
美寿男 杉山
Seiichi Maeda
誠一 前田
Takeshi Amano
健史 天野
Tomohiro Aizawa
智宏 相澤
Noriaki Mizuno
憲明 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SpeedFam Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SpeedFam Co Ltd filed Critical SpeedFam Co Ltd
Priority to JP29934599A priority Critical patent/JP2001121412A/en
Publication of JP2001121412A publication Critical patent/JP2001121412A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a double side surface polisher which can facilitate automation. SOLUTION: In this double side surface polisher in which a workpiece is arranged in a carrier meshed with a sun gear and an internal gear and is held being clamped between an upper and a lower level block, the carrier revolves around its own axis at a predetermined position without revolving around the sun gear in order to polish the workpiece.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は両面研磨装置に関
し、特に、被研磨物であるアルミディスク、半導体ウエ
ハ等の薄板を所望の厚みに研磨できるとともに、ローデ
ィングおよびアンローディングが容易に行えて自動化に
も対応することができる両面研磨装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a double-side polishing apparatus, and more particularly to a polishing apparatus capable of polishing an object to be polished, such as an aluminum disk or a semiconductor wafer, to a desired thickness and easily performing loading and unloading. The present invention also relates to a double-side polishing apparatus capable of coping with the above.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、アルミディスク、半導体ウエハ等
の薄板である被研磨物を研磨するための両面研磨装置に
あっては、環状をなす上下定盤の間に、被研磨物を位置
する孔が複数個設けられ、かつ、外周に歯車が形成され
た複数のキャリアを位置し、サンギアおよびインターナ
ルギアにキャリアの外周に形成した歯車を噛合い係合さ
せ、サンギアおよびインターナルギアを回転させること
によりキャリアを回転させて上下定盤間で被研磨物を挟
持した状態でキャリアを自転させつつサンギアの回りを
公転させるようになっている。そして、上記のようなキ
ャリアの厚みは被研磨物の研磨後の厚みよりも薄く構成
してある。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a double-side polishing apparatus for polishing an object to be polished, such as an aluminum disk or a semiconductor wafer, which is a thin plate, a hole for arranging the object to be polished is provided between an upper and lower platen forming an annular shape. A plurality of gears are provided, and a plurality of carriers having gears formed on the outer periphery are located, and the gears formed on the outer periphery of the carrier are meshed and engaged with the sun gear and the internal gear, and the sun gear and the internal gear are rotated. The carrier is rotated and revolves around the sun gear while rotating the carrier while holding the object to be polished between the upper and lower platens. The thickness of the carrier as described above is configured to be smaller than the thickness of the object to be polished after polishing.

【0003】上記のように研磨後の被研磨物よりも薄く
なっているキャリアを用いて、このキャリアを自転およ
び公転して被研磨物を研磨する場合には以下のような問
題点を有している。
[0003] The use of a carrier thinner than the object to be polished as described above to polish the object by rotating and revolving the carrier has the following problems. ing.

【0004】すなわち、キャリアの孔内に位置する複数
の被研磨物の厚みが研磨前において全てが同一の厚さで
あれば、上下定盤間にキャリアおよび被研磨物を位置し
た時に下定盤と上定盤との研磨面が平行となり、このよ
うな状態で研磨が行われれば全ての被研磨物が同一の厚
さ、すなわち、上下定盤が平行を保持した状態で目的の
厚さに研磨することができる。
That is, if the thickness of a plurality of objects to be polished located in the holes of the carrier are all the same before polishing, when the carrier and the object to be polished are positioned between the upper and lower platens, the lower platen and the lower platen come together. The polished surface with the upper platen is parallel, and if the polishing is performed in such a state, all the objects to be polished are polished to the desired thickness while the upper and lower platens are kept parallel. can do.

【0005】この場合、被研磨物の研磨をした時は、常
にキャリアの厚みよりも被研磨物の方が厚い状態で研磨
を終了するので、被研磨物の上下周縁部が所謂「だれ」
ることになり、上下周縁部を確実に研磨出来ないという
問題点を有している。
In this case, when the object to be polished is polished, the polishing is always finished in a state where the object to be polished is thicker than the thickness of the carrier.
As a result, there is a problem that the upper and lower peripheral portions cannot be reliably polished.

【0006】また、キャリア内に位置した各被研磨物の
厚さが異なって下定盤に対して上定盤が平行にならなか
った場合には、平行でない状態、すなわち、下定盤に対
して上定盤が傾斜したままの状態で最後まで研磨が行わ
れるので、研磨終了後の被研磨物の厚さが異なってしま
う。したがって、研磨終了後の被研磨物の厚さがバラツ
クのを防止するためにキャリアおよびその孔内に位置し
た被研磨物を自転および公転させることで各被研磨物の
バラツキを防止する研磨作業を行っているので、キャリ
アおよびその内部に位置した被研磨物を自転および公転
させることが必須のものとなっている。
If the upper platen is not parallel to the lower platen due to the different thicknesses of the objects to be polished in the carrier, the upper platen is not parallel to the lower platen. Since the polishing is performed to the end while the surface plate is still inclined, the thickness of the object to be polished after the polishing is different. Therefore, in order to prevent the thickness of the object to be polished after the polishing is finished, the polishing operation for preventing the dispersion of each object to be polished by rotating and revolving the carrier and the object to be polished located in the hole thereof is performed. Therefore, it is essential to rotate and revolve the carrier and the object to be polished located therein.

【0007】上記のように被研磨物の研磨後の厚みのバ
ラツキをなくすためにキャリアおよびその内部に位置し
た被研磨物を自転および公転させることが必須となって
いるために、作業の段取りが悪くなっている。すなわ
ち、被研磨物のローディング位置およびアンローディン
グ位置が研磨作業の都度異なるので、ローディングおよ
びアンローディング時の被研磨物の位置決め作業が煩雑
であるという問題点を有している。このことは、今後主
流となると思われる300φの大きさの半導体ウエハ等
の被研磨物を研磨する時には大きな問題となり、研磨作
業の全体の効率が著しく低下することになる。
[0007] As described above, it is essential to rotate and revolve the carrier and the object to be polished located inside the carrier in order to eliminate the variation in the thickness of the object to be polished after polishing. It's getting worse. That is, since the loading position and the unloading position of the object to be polished are different each time the polishing operation is performed, there is a problem that the operation of positioning the object to be polished at the time of loading and unloading is complicated. This poses a serious problem when polishing an object to be polished such as a semiconductor wafer having a size of 300φ, which is considered to be the mainstream in the future, and significantly reduces the overall efficiency of the polishing operation.

【0008】この発明の目的は、被研磨物のローディン
グ位置およびアンローディング位置を常に同一の位置と
することで、ローディング作業およびアンローディング
作業を容易にして作業の段取りを良好にすることができ
る両面研磨装置を提供することにある。この発明の他の
目的は、厚みが異なった被研磨物であっても研磨後には
同一の厚みで、外周縁部がだれることなく研磨すること
ができ、しかも、ローディング位置およびアンローディ
ング位置を常に同一の位置としてローディング作業およ
びアンローディング作業を容易にして作業の段取りを良
好にすることができる両面研磨装置を提供することにあ
る。この発明のさらに他の目的は、上下面を研磨した後
に端面も研磨することができる両面研磨装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to always make the loading position and the unloading position of the object to be polished the same, thereby facilitating the loading operation and the unloading operation and improving the work setup. An object of the present invention is to provide a polishing apparatus. Another object of the present invention is that even if the objects to be polished have different thicknesses, they can be polished with the same thickness after polishing without causing the outer peripheral edge to sag, and the loading position and the unloading position can be adjusted. It is an object of the present invention to provide a double-side polishing apparatus that can always perform the loading operation and the unloading operation at the same position to facilitate the preparation of the operation. Still another object of the present invention is to provide a double-side polishing apparatus capable of polishing an end face after polishing upper and lower faces.

【0009】[0009]

【問題点を解決するための手段】上記の目的を達成する
ためにこの発明は、サンギアおよびインターナルギアに
噛合い係合するキャリア内に被研磨物を位置し、上下面
を上下定盤で挟持した状態で研磨する両面研磨装置であ
って、前記キャリアが前記サンギアの回りを公転するこ
となく所定の位置で自転のみして前記被研磨物を研磨す
る構成を有している。また、この発明は、サンギアおよ
びインターナルギアに噛合い係合するキャリア内に被研
磨物を位置し、上下面を上下定盤で挟持した状態で研磨
する両面研磨装置であって、前記キャリアに定寸キャリ
アを用いるとともに、前記キャリアが前記サンギアの回
りを公転することなく所定の位置で自転のみして前記被
研磨物を研磨する構成を有している。さらにこの発明
は、サンギアおよびインターナルギアに噛合い係合する
キャリア内に被研磨物を位置し、上下面を上下定盤で挟
持した状態で研磨する両面研磨装置であって、前記キャ
リアに定寸キャリアを用いるとともに、前記キャリアが
前記サンギアの回りを公転することなく所定の位置で自
転のみして前記被研磨物を研磨し、こののちエッジポリ
ッシング装置で端面を研磨する構成を有している。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, according to the present invention, an object to be polished is positioned in a carrier meshingly engaged with a sun gear and an internal gear, and upper and lower surfaces are sandwiched between upper and lower stools. A double-side polishing apparatus for polishing the workpiece in such a manner that the carrier rotates only at a predetermined position without revolving around the sun gear to polish the workpiece. Further, the present invention is a double-side polishing apparatus for polishing an object to be polished in a state where an object to be polished is positioned in a carrier which meshes and engages with a sun gear and an internal gear, and the upper and lower surfaces are sandwiched between upper and lower platens. In addition to using a dimensional carrier, the carrier has a configuration in which the carrier only rotates at a predetermined position without revolving around the sun gear to polish the workpiece. Further, the present invention is a double-side polishing apparatus for polishing an object to be polished in a state where an object to be polished is positioned in a carrier which meshes and engages with a sun gear and an internal gear, and the upper and lower surfaces are sandwiched between upper and lower platens. A structure is used in which a carrier is used and the carrier only rotates at a predetermined position without revolving around the sun gear to polish the object to be polished, and thereafter, the end face is polished by an edge polishing device.

【0010】[0010]

【作用】この発明は上記の手段を採用したことにより、
キャリアに位置した被研磨物は当初の位置で自転するだ
けで公転はしないので研磨終了まで当初の位置のままで
あり、その都度ローディング位置およびアンローディン
グ位置が異なることがないのでローディングおよびアン
ローディング作業が容易であり、しかも、キャリアは定
寸キャリアであるので定寸キャリアの厚みまで研磨され
るので被研磨物の外周縁部がだれる恐れはない。さら
に、上下面を研磨した後に端面も研磨することができ
る。
According to the present invention, the above means are adopted.
The object to be polished positioned on the carrier only rotates at the initial position and does not revolve, so that the object remains at the initial position until the polishing is completed. Since the loading position and the unloading position do not differ each time, the loading and unloading work is performed. In addition, since the carrier is a fixed-size carrier, it is polished to the thickness of the fixed-size carrier, so that there is no danger of the outer peripheral edge of the object to be polished. Furthermore, the end surface can be polished after the upper and lower surfaces are polished.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面に示すこの発明の実施
の形態について説明する。図1にはこの発明の実施の形
態である両面研磨装置の概略平面図が、図2には両面研
磨装置の概略正面図が示されている。
Embodiments of the present invention shown in the drawings will be described below. FIG. 1 is a schematic plan view of a double-side polishing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic front view of the double-side polishing apparatus.

【0012】図1および図2において、この発明による
両面研磨装置は、水平方向に回転可能に設けられる環状
の下定盤1と、この下定盤1の上方において対向して設
けられるとともに、水平方向に回転可能、かつ、上下移
動機構によって上下方向に移動可能であり、さらに自動
調芯装置2が取り付けられている環状の上定盤3と、前
記下定盤1および上定盤3に取り付けられている研磨パ
ッド4、5を有している。
1 and 2, the double-side polishing apparatus according to the present invention is provided with an annular lower platen 1 rotatably provided in a horizontal direction, and is provided above the lower platen 1 so as to face each other, and is also provided in a horizontal direction. It is rotatable and vertically movable by a vertical movement mechanism, and is further mounted on an annular upper surface plate 3 on which an automatic alignment device 2 is mounted, and on the lower surface plate 1 and the upper surface plate 3. It has polishing pads 4 and 5.

【0013】また、前記環状の下定盤1および上定盤3
の中央部にはサンギア6が、外周側にはインターナルギ
ア7がそれぞれ位置するようになっており、そして、前
記サンギア6およびインターナルギア7に噛合い係合す
る複数のキャリア(図では3つ)10が前記上下定盤
3、1の間に挟持された状態で位置し、これにより、キ
ャリア10で保持した被研磨物8を上下定盤3、1で上
下両側から挟んで研磨するようになっている。
The lower platen 1 and the upper platen 3 of the ring
A sun gear 6 is located at the center of the vehicle, and an internal gear 7 is located at the outer peripheral side. A plurality of carriers (three in the figure) that mesh with and engage with the sun gear 6 and the internal gear 7 are provided. 10 is located in a state of being sandwiched between the upper and lower platens 3 and 1, whereby the workpiece 8 held by the carrier 10 is sandwiched between the upper and lower platens 3 and 1 and polished. ing.

【0014】前記キャリア10は、外周面に前記サンギ
ア6の歯部11およびインターナルギア7の歯部9と噛
合い係合する歯部12が設けられるとともに、軸芯と偏
心している被研磨物8を収納する孔13を有し、この孔
13の内部に被研磨物8を位置させることでキャリア1
0に対して被研磨物8が移動するのを阻止しているとと
もに、キャリア10の自転時には上下定盤3、1に対し
て移動するようになっている。
The carrier 10 is provided on its outer peripheral surface with teeth 12 which mesh with and engage with the teeth 11 of the sun gear 6 and the teeth 9 of the internal gear 7, and the workpiece 8 which is eccentric with the axis. And a hole 13 for accommodating the carrier 1 by positioning the object 8 to be polished inside the hole 13.
In addition to preventing the workpiece 8 from moving with respect to 0, the carrier 10 moves with respect to the upper and lower platens 3 and 1 when the carrier 10 rotates.

【0015】前記キャリア10とサンギア6およびイン
ターナルギア7との回転方向および回転数により、キャ
リア10が自転のみをして公転しないように設定してあ
るのでキャリア10は常に初期の位置で自転して孔13
内の被研磨物8は初期の位置で回転しつつ上下定盤3、
1に対して移動して研磨されるようになっている。
The carrier 10 rotates only at its initial position and does not revolve, because the carrier 10 only rotates and does not revolve according to the rotation direction and the number of rotations of the carrier 10 and the sun gear 6 and the internal gear 7. Hole 13
The object 8 to be polished is rotated at the initial position while the upper and lower platens 3,
1 and is moved and polished.

【0016】なお、14は研磨前の被研磨物をローディ
ング位置にあるキャリアに移載するローディング装置、
15は研磨後の被研磨物をアンローディング位置16に
移動するフロートチャック等のアンローディング装置で
あり、17は研磨パッド4、5をドレスする高圧ジェッ
ト装置である。
Reference numeral 14 denotes a loading device for transferring an object to be polished before polishing to a carrier at a loading position;
Reference numeral 15 denotes an unloading device such as a float chuck for moving the object to be polished to an unloading position 16, and reference numeral 17 denotes a high-pressure jet device for dressing the polishing pads 4 and 5.

【0017】前記ローディング装置14としては、種々
のタイプのものが知られているが、たとえば、被研磨物
8を真空吸着可能な吸着ヘッド{たとえば、(有)ソー
ラーリサーチ研究所製の無接触搬送装置}を有し、旋回
可能、かつ、上下動可能の吸着ヘッドで未加工の被研磨
物8を吸着して上記キャリア10の孔13内に搬送する
ものがある。そして、サンギア6およびインターナルギ
ア7を一定の角度だけ間欠的に回転させることにより順
次送られてきたキャリア10に対して順次被研磨物8を
供給するものである。
As the loading device 14, various types are known. For example, a suction head capable of vacuum-sucking the object 8 to be polished {for example, a non-contact transfer device manufactured by Solar Research Laboratories) There is a device having a device}, which sucks an unprocessed object to be polished 8 by means of a suction head that can rotate and move up and down, and transports the unprocessed material to the hole 13 of the carrier 10. The workpiece 8 is sequentially supplied to the carrier 10 which is sequentially transmitted by intermittently rotating the sun gear 6 and the internal gear 7 by a predetermined angle.

【0018】前記アンローディング装置15も、種々の
タイプのものが知られているが、たとえば、前記ローデ
ィング装置14と同様に、被研磨物8を真空吸着可能な
吸着ヘッドを有し、かつ、研磨後の被研磨物8を上昇し
たのちに両面研磨装置に沿って移動して被研磨物8をア
ンローディング位置16に搬送するようになっている。
Various types of the unloading device 15 are known. For example, similarly to the loading device 14, the unloading device 15 has a suction head capable of vacuum-sucking the object 8 to be polished. After the object 8 to be polished is lifted, the object 8 is moved along the double-side polishing apparatus to convey the object 8 to the unloading position 16.

【0019】また、30は前記アンローディング位置に
連続して配置されているエッジポリッシング装置であっ
て、このエッジポリッシング装置30は、図3および図
4に示されいており、図3は概略平面配置図、図4は概
略縦断面図である。このエッジポリッシング装置30
は、前記両面研磨装置での研磨済の被研磨物8を偏心状
態で挟持保持する上下定盤32、31を有し、この上下
定盤32、31の盤面には研磨パッド33、34が取り
付けられている。そして、前記被研磨物8の外側の3か
所には被研磨物8の保持用のローラ35が、また、1か
所には被研磨物8の保持用および端面の研磨用のローラ
36がそれぞれ設けられている。なお、必要に応じて前
記被研磨物8の上面にスラリーSを供給して研磨するこ
とも可能である。
Reference numeral 30 denotes an edge polishing device which is continuously arranged at the unloading position. The edge polishing device 30 is shown in FIGS. 3 and 4, and FIG. FIG. 4 is a schematic vertical sectional view. This edge polishing apparatus 30
Has upper and lower platens 32 and 31 for holding the object 8 polished by the double-side polishing apparatus in an eccentric state, and polishing pads 33 and 34 are attached to the surfaces of the upper and lower platens 32 and 31. Have been. Rollers 35 for holding the object 8 to be polished are provided at three places outside the object 8 to be polished, and rollers 36 for holding and polishing the end face of the object 8 are provided at one place. Each is provided. In addition, if necessary, the slurry S can be supplied to the upper surface of the object 8 to be polished.

【0020】したがって、上下定盤32、31が回転す
る時に被研磨物8は4つのローラ35、36で所定の位
置に保持されているので、上下定盤32、31の方が被
研磨物8の面上を摺動する。これにより被研磨物8の上
下面は上下定盤32、31で研磨され、また、被研磨物
8の端面は研磨用のローラ36で研磨されることにな
る。
Therefore, when the upper and lower platens 32 and 31 rotate, the workpiece 8 is held at a predetermined position by the four rollers 35 and 36. Slide on the surface of. Thus, the upper and lower surfaces of the object 8 are polished by the upper and lower platens 32 and 31, and the end surface of the object 8 is polished by the polishing roller 36.

【0021】上記のように研磨装置の後の工程にエッジ
ポリッシング装置30を用いることで、被研磨物8の両
面の研磨後に、両面研磨装置から、たとえばアンローデ
ィング位置16からフロートチャック等で取り出すと、
フロートチャックとの接触部を再び研磨する必要が生じ
るがこの必要を満足させることができる。したがって、
エッジポリッシング装置30によって、被研磨物8は上
下面のみならず、その端面も研磨することができる。
As described above, by using the edge polishing device 30 in a process subsequent to the polishing device, after polishing both surfaces of the object 8 to be polished, the object 8 is taken out from the double-side polishing device, for example, from the unloading position 16 by a float chuck or the like. ,
It is necessary to polish the contact portion with the float chuck again, but this need can be satisfied. Therefore,
The edge polishing apparatus 30 can polish not only the upper and lower surfaces but also the end surface of the object 8 to be polished.

【0022】すなわち、このエッジポリッシング装置3
0を両面研磨装置の一部として構成する場合と、または
両面研磨装置とは別として構成する場合とがある。
That is, the edge polishing apparatus 3
0 may be configured as a part of the double-side polishing apparatus, or may be configured separately from the double-side polishing apparatus.

【0023】つぎに上記のようなエッジポリッシング装
置30を両面研磨装置の一部として構成しない場合にお
いての両面研磨装置の作動について説明する。まず、キ
ャリア10に対してローディング装置14によって被研
磨物収納具(図示せず)内に位置する複数の被研磨物8
のうちの一枚を供給する。この場合、初期の位置におい
ては、ローディング装置14のアームの移動域にキャリ
ア10の孔13が位置しているのでキャリア10の孔1
3に対する被研磨物8の供給は容易である。
Next, the operation of the double-side polishing apparatus when the above-described edge polishing apparatus 30 is not configured as a part of the double-side polishing apparatus will be described. First, a plurality of objects 8 to be polished, which are located in an object to be polished (not shown) with respect to the carrier 10 by the loading device 14.
Supply one of the following. In this case, at the initial position, the hole 13 of the carrier 10 is located in the movement area of the arm of the loading device 14, so that the hole 1 of the carrier 10
The supply of the object to be polished 8 to 3 is easy.

【0024】つぎにサンギア6およびインターナルギア
7を回転してつぎのキャリア10を前記被研磨物8を供
給した位置に移動すると、同様にローディング装置14
のアームの移動域に位置する。したがって上記と同様に
容易にキャリア10に対して被研磨物8を供給すること
ができ、このようにしてすべてのキャリア10に対して
被研磨物8を供給する。
Next, when the sun carrier 6 and the internal gear 7 are rotated to move the next carrier 10 to the position to which the workpiece 8 is supplied, the loading device 14 is similarly moved.
Is located in the range of movement of the arm. Therefore, the object to be polished 8 can be easily supplied to the carrier 10 in the same manner as described above, and thus the object to be polished 8 is supplied to all the carriers 10.

【0025】上記のような両面研磨装置を用いた場合、
被研磨物8は公転しないので搬入(ロード)位置および
取り出し(アンロード)位置が一定となる。すなわち、
常に被研磨物8は同一位置に存在して研磨されることに
なるので、研磨の終了後にフロートチャック等で容易に
取り出すことができ、このことは自動化に最適であるこ
とを意味するものであり、今後、主流になると思われる
300φの大きさの被研磨物8である半導体ウエハ等に
対しては非常に効果的である。
When the above-mentioned double-side polishing apparatus is used,
Since the polished object 8 does not revolve, the carry-in (load) position and the take-out (unload) position are constant. That is,
Since the object to be polished 8 always exists at the same position and is polished, it can be easily taken out by a float chuck or the like after the polishing is completed, which means that it is optimal for automation. It is very effective for a semiconductor wafer or the like, which is the object to be polished 8 having a size of 300φ, which is expected to become mainstream in the future.

【0026】上記のように、両面研磨装置としてエッジ
ポリッシング装置30を含めない場合、および含めた場
合のいずれにあっても、ローディング位置およびアンロ
ーディング位置が一定なので自動化が容易であり、しか
も、アンローディング位置が一定なのでエッジポリッシ
ング装置30を両面研磨装置の一部として構成した場合
であっても自動化が容易である。
As described above, in both cases where the edge polishing device 30 is not included as a double-side polishing device and where the edge polishing device 30 is included, the loading position and the unloading position are constant, so that automation is easy, and Since the loading position is constant, automation is easy even when the edge polishing device 30 is configured as a part of a double-side polishing device.

【0027】[0027]

【発明の効果】この発明は前記のように、キャリア自体
を公転させることなく、自転のみを行うようにしたの
で、被研磨物のローディング位置およびアンローディン
グ位置を常に同一の位置とすることで、ローディング作
業およびアンローディング作業を容易にして作業の段取
りを良好にすることができる。また、キャリアとして定
寸キャリアを用いるとともに、定寸キャリアを公転させ
ることなく自転のみさせて定寸キャリアの厚みまで定寸
キャリアの孔内に位置した被研磨物を研磨するようにし
たので、厚みが異なった被研磨物であっても研磨後には
同一の厚みで、外周縁部がだれることなく研磨すること
ができ、しかも、ローディング位置およびアンローディ
ング位置を常に同一の位置としてローディング作業およ
びアンローディング作業を容易にして作業の段取りを良
好にすることができる。さらに、エッジポリッシング装
置を一部に構成した場合には上下面のみならず搬送によ
って他部材と接触した箇所および端面も研磨するので被
研磨物の全周面を研磨することの自動化が容易であると
いう効果を有している。
As described above, according to the present invention, only the rotation is performed without revolving the carrier itself. Therefore, the loading position and the unloading position of the object to be polished are always set to the same position. The loading operation and the unloading operation can be facilitated and the operation can be set up well. In addition, while using a fixed-size carrier as the carrier, the object to be polished positioned in the hole of the fixed-size carrier is polished up to the thickness of the fixed-size carrier by rotating only without revolving the fixed-size carrier. Can be polished with the same thickness after polishing, without sagging the outer peripheral edge, and the loading and unloading positions are always set to the same position. The loading operation can be facilitated and the operation can be set up well. Furthermore, when the edge polishing apparatus is partially configured, not only the upper and lower surfaces but also the portion and the end surface that are in contact with other members by conveyance are polished, so that it is easy to automate the polishing of the entire peripheral surface of the object to be polished. This has the effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明による両面研磨装置を示す概略平面図
である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing a double-side polishing apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示す両面研磨装置の概略正面図である。FIG. 2 is a schematic front view of the double-side polishing apparatus shown in FIG.

【図3】エッジポリッシング装置の概略平面配置図であ
る。
FIG. 3 is a schematic plan layout view of the edge polishing apparatus.

【図4】エッジポリッシング装置の概略正面図である。FIG. 4 is a schematic front view of the edge polishing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、31……下定盤 2……自動調芯装置 3、32……上定盤 4、5、33、34……研磨パッド 6……サンギア 7……インターナルギア 8……被研磨物 9、11、12……歯部 10……キャリア 13……孔 14……ローディング装置 15……アンローディング装置 16……アンローディング位置 17……高圧ジェット装置 30……エッジポリッシング装置 35、36……ローラ S……スラリー 1, 31 Lower platen 2 Automatic alignment device 3, 32 Upper platen 4, 5, 33, 34 Polishing pad 6 Sun gear 7 Internal gear 8 Polished object 9, 11, 12 Tooth portion 10 Carrier 13 Hole 14 Loading device 15 Unloading device 16 Unloading position 17 High-pressure jet device 30 Edge polishing device 35, 36 Roller S ... Slurry

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉山 美寿男 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 (72)発明者 前田 誠一 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 (72)発明者 天野 健史 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 (72)発明者 相澤 智宏 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 (72)発明者 水野 憲明 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 Fターム(参考) 3C058 AA07 AA16 AB06 AB08 CA01 CB03 DA06 DA09  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Misao Sugiyama 2647 Hayakawa Hayakawa, Ayase-shi, Kanagawa Prefecture Inside Speed Farm IPEC Co., Ltd. (72) Inventor Takeshi Amano 2647 Hayakawa Hayakawa, Ayase City, Kanagawa Prefecture Inside (72) Inventor Tomohiro Aizawa 2647 Hayakawa, Ayase City, Kanagawa Prefecture Inside Speed Fam Ipec Corporation (72) Inventor Noriaki Mizuno Kanagawa 2647 Hayakawa, Ayase-shi, Iwate F-term (reference) in Speed Farm IPEC Corporation 3C058 AA07 AA16 AB06 AB08 CA01 CB03 DA06 DA09

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 サンギアおよびインターナルギアに噛合
い係合するキャリア内に被研磨物を位置し、上下面を上
下定盤で挟持した状態で研磨する両面研磨装置であっ
て、前記キャリアが前記サンギアの回りを公転すること
なく所定の位置で自転のみして前記被研磨物を研磨する
ことを特徴とする両面研磨装置。
1. A double-side polishing apparatus for positioning an object to be polished in a carrier that meshes with and engages with a sun gear and an internal gear, and polishes the upper and lower surfaces thereof with an upper and lower platen, wherein the carrier is the sun gear A double-side polishing apparatus characterized in that the object to be polished is polished by rotating only at a predetermined position without revolving around the object.
【請求項2】 サンギアおよびインターナルギアに噛合
い係合するキャリア内に被研磨物を位置し、上下面を上
下定盤で挟持した状態で研磨する両面研磨装置であっ
て、前記キャリアに定寸キャリアを用いるとともに、前
記キャリアが前記サンギアの回りを公転することなく所
定の位置で自転のみして前記被研磨物を研磨することを
特徴とする両面研磨装置。
2. A double-side polishing apparatus for polishing an object to be polished while positioning an object to be polished in a carrier meshingly engaged with a sun gear and an internal gear, with the upper and lower surfaces held between upper and lower stools. A double-side polishing apparatus, wherein a carrier is used and the carrier only rotates at a predetermined position without revolving around the sun gear to polish the object to be polished.
【請求項3】 サンギアおよびインターナルギアに噛合
い係合するキャリア内に被研磨物を位置し、上下面を上
下定盤で挟持した状態で研磨する両面研磨装置であっ
て、前記キャリアに定寸キャリアを用いるとともに、前
記キャリアが前記サンギアの回りを公転することなく所
定の位置で自転のみして前記被研磨物を研磨し、このの
ちエッジポリッシング装置で端面を研磨することを特徴
とする両面研磨装置。
3. A double-side polishing apparatus for positioning an object to be polished in a carrier that meshes and engages with a sun gear and an internal gear, and polishes the upper and lower surfaces of the object while holding the upper and lower surfaces between the upper and lower surfaces. Using a carrier, the carrier only rotates at a predetermined position without revolving around the sun gear to polish the object to be polished, and thereafter, the end face is polished by an edge polishing device, and a double-side polishing is performed. apparatus.
JP29934599A 1999-10-21 1999-10-21 Double side surface polisher Withdrawn JP2001121412A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29934599A JP2001121412A (en) 1999-10-21 1999-10-21 Double side surface polisher

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29934599A JP2001121412A (en) 1999-10-21 1999-10-21 Double side surface polisher

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001121412A true JP2001121412A (en) 2001-05-08

Family

ID=17871358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29934599A Withdrawn JP2001121412A (en) 1999-10-21 1999-10-21 Double side surface polisher

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001121412A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001252864A (en) * 2000-03-08 2001-09-18 Speedfam Co Ltd Polishing method and device
JP2003260655A (en) * 2002-03-06 2003-09-16 Speedfam Co Ltd Grinding device for circular plate-like work
JP2004148425A (en) * 2002-10-29 2004-05-27 Shin Nippon Koki Co Ltd Both-sided polishing device
CN1294629C (en) * 2001-12-06 2007-01-10 硅电子股份公司 Silicon semiconductor crystal wafers and manufacturing method for multiple semiconductor crystal wafers
JP2007158023A (en) * 2005-12-05 2007-06-21 Nec Electronics Corp Polisher for semiconductor wafer and method of polishing semiconductor wafer
JP2015047656A (en) * 2013-08-30 2015-03-16 株式会社Sumco Double-side polishing device and double-side polishing method for workpiece
JP2017170588A (en) * 2016-03-25 2017-09-28 Hoya株式会社 Method for manufacturing substrate, method for manufacturing mask blank, and method for manufacturing transfer mask
WO2021230022A1 (en) * 2020-05-13 2021-11-18 信越半導体株式会社 Double-sided polishing method
CN114178920A (en) * 2021-10-26 2022-03-15 国营芜湖机械厂 Gear end face damage repairing device on gear pump

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001252864A (en) * 2000-03-08 2001-09-18 Speedfam Co Ltd Polishing method and device
CN1294629C (en) * 2001-12-06 2007-01-10 硅电子股份公司 Silicon semiconductor crystal wafers and manufacturing method for multiple semiconductor crystal wafers
JP2003260655A (en) * 2002-03-06 2003-09-16 Speedfam Co Ltd Grinding device for circular plate-like work
JP2004148425A (en) * 2002-10-29 2004-05-27 Shin Nippon Koki Co Ltd Both-sided polishing device
JP2007158023A (en) * 2005-12-05 2007-06-21 Nec Electronics Corp Polisher for semiconductor wafer and method of polishing semiconductor wafer
JP2015047656A (en) * 2013-08-30 2015-03-16 株式会社Sumco Double-side polishing device and double-side polishing method for workpiece
JP2017170588A (en) * 2016-03-25 2017-09-28 Hoya株式会社 Method for manufacturing substrate, method for manufacturing mask blank, and method for manufacturing transfer mask
WO2021230022A1 (en) * 2020-05-13 2021-11-18 信越半導体株式会社 Double-sided polishing method
CN115427193A (en) * 2020-05-13 2022-12-02 信越半导体株式会社 Double-side polishing method
CN115427193B (en) * 2020-05-13 2024-02-13 信越半导体株式会社 Double-sided grinding method
CN114178920A (en) * 2021-10-26 2022-03-15 国营芜湖机械厂 Gear end face damage repairing device on gear pump
CN114178920B (en) * 2021-10-26 2023-05-05 国营芜湖机械厂 Gear end face damage repairing device on gear pump

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6068542A (en) Pad tape surface polishing method and apparatus
JP2984263B1 (en) Polishing method and polishing apparatus
JP3271658B2 (en) Method for lapping or polishing semiconductor silicon single crystal wafer
TW201521956A (en) Chemical mechanical polisher with hub arms mounted
JPH1190803A (en) Mirror polishing device for work edge
JP2001121412A (en) Double side surface polisher
JP4280397B2 (en) Work polishing method
JP2552305B2 (en) Double side polishing machine
JP3323435B2 (en) Grinding method for double-sided grinding of thin workpiece
JP2007130690A (en) Carrier for planetary gear type polishing device
JP2001138230A (en) Method for grinding face side and reverse side of substrate, and grinding apparatus used therefor
JP2000042913A (en) Work supply/discharge system of double-side polishing device
JP2000271842A (en) Workpiece carrier device for double head surface grinder
JP3942956B2 (en) Inclined surface polishing machine
JPH0222213Y2 (en)
JP2001252864A (en) Polishing method and device
JPH0525806Y2 (en)
JP2000263402A (en) Polishing method and polishing device
JPH08267358A (en) Simultaneous mirror surface abrasive device of semiconductor substrate
JP2001328063A (en) Grinding device and grinding method using it
JP2006142420A (en) Automatic chamfering device for thin-plate-like workpiece
JP2000190191A (en) Processing method for semiconductor wafer
JP2001009687A (en) Grinder
JPH0349856A (en) Surface polishing method
JP4238836B2 (en) Polishing method and polishing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070109