JP2001121367A5 - - Google Patents
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- 製品の組立不良率を推定する製品の不良率推定方法であって、
製品を構成する部品ごとの、その組付部品の性質情報、その組付部品が組付けられる被組付部品の性質情報およびその組付部品を組付けるための作業内容情報とに基づき、製品全体および部品の組付作業ごとの組立不良率を演算出力するステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項1に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記演算出力される製品の作業内容毎または組付部品毎の不良率について、不良率の高い順に表示するステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項1に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記作業内容毎の不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、標準作業内容毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項1に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記組付部品毎の不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、組付部品毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 複数の部品から組立てられる製品の不良率を推定する方法であって、
前記製品の組立工程における組付作業情報と、前記組付作業によって組付けられる組付部品の性質を表す組付部品情報と、前記組付部品に対する被組付部品の性質を表す被組付部品情報とを入力するステップと、
予め標準組付作業毎の不良率係数を記憶した記憶装置より、前記組付作業情報に基づいた不良率係数を抽出するステップと、
予め部品毎の不良率補正係数を記憶した記憶装置より、前記組付部品情報に基づいた第1の不良率補正係数と前記被組付部品に基づいた第2の不良率補正係数とを抽出するステップと、
前記抽出された組付作業毎の不良率係数を、前記第1及び第2の不良率補正係数に基づき補正演算することで、組付作業毎又は当該作業に係る組付部品毎の不良率を算出するステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項5に記載の製品の不良率を推定する方法であって、
前記算出される製品の組付作業毎又は組付部品毎の不良率について、不良率の高い順に表示するステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項5に記載の製品の不良率を推定する方法であって、
前記組付作業毎の不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、標準組付作業毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項5に記載の製品の不良率を推定する方法であって、
前記組付部品毎の不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、組付部品毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 複数の部品から組立てられる製品の不良率を推定する方法であって、
前記製品の組立工程における組付動作情報と、前記組付動作によって組付けられる組付部品の性質を表す組付部品情報と、前記組付部品に対する被組付部品の性質を表す被組付部品情報と、製品を組立てる職場条件に関する職場情報を入力するステップと、
予め標準組付動作毎の不良率係数を記憶した記憶装置より、前記組付動作情報に基づいた不良率係数を抽出するステップと、
予め部品毎の不良率補正係数を記憶した記憶装置より、前記組付部品情報に基づいた第1の不良率補正係数と前記被組付部品に基づいた第2の不良率補正係数とを抽出するステップと、
予め職場条件に応じた不良率補正係数を記憶した記憶装置より、前記職場情報に基づいた第3の不良率補正係数を抽出するステップと、
前記抽出された組付動作毎の不良率係数を、前記第1、第2、第3の不良率補正係数に基づき補正演算することで、組付動作毎又は当該動作に係る組付部品毎の不良率を算出し、製品全体の不良率をも算出するステップと、
を有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項9に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記演算出力される製品の組付動作毎または組付部品毎の不良率について、不良率の高い順に表示するステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項9に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記組付動作毎の職場条件の観点から見た不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、標準組付動作毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項9に記載の製品の不良率推定方法であって、
前記組付部品毎の職場条件の観点から見た不良原因、改善提案のうち少なくとも1つの表示を、組付部品毎の不良の具体的な原因情報及び改善提案情報とを予め記憶したデータベースより抽出して行なうステップを有することを特徴とする不良率推定方法。 - 請求項1乃至12のいずれかに記載の不良率推定方法のステップを有するプログラムを格納したことを特徴とする記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000247902A JP4277434B2 (ja) | 1997-03-31 | 2000-08-09 | 不良率推定方法および記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP7957697 | 1997-03-31 | ||
JP9-79576 | 1997-03-31 | ||
JP2000247902A JP4277434B2 (ja) | 1997-03-31 | 2000-08-09 | 不良率推定方法および記録媒体 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07528298A Division JP3570211B2 (ja) | 1997-03-31 | 1998-03-24 | 不良率推定方法、不良率推定システムおよび記録媒体 |
Publications (3)
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---|---|
JP2001121367A JP2001121367A (ja) | 2001-05-08 |
JP2001121367A5 true JP2001121367A5 (ja) | 2005-08-25 |
JP4277434B2 JP4277434B2 (ja) | 2009-06-10 |
Family
ID=26420596
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000247902A Expired - Fee Related JP4277434B2 (ja) | 1997-03-31 | 2000-08-09 | 不良率推定方法および記録媒体 |
Country Status (1)
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Families Citing this family (2)
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---|---|---|---|---|
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JP6764776B2 (ja) * | 2016-12-15 | 2020-10-07 | 株式会社日立製作所 | 生産管理支援装置、生産管理支援方法、及び生産管理支援プログラム |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH07114601A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Hitachi Ltd | 製造不良解析システム、方法およびこれに関連したデータベースの生成方法 |
JPH08287154A (ja) * | 1995-04-17 | 1996-11-01 | Hitachi Ltd | 製造不良解析システム、方法およびこれに関連したデータベースの生成方法 |
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2000
- 2000-08-09 JP JP2000247902A patent/JP4277434B2/ja not_active Expired - Fee Related
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