JP2001119987A - モータ駆動回路の故障診断装置 - Google Patents
モータ駆動回路の故障診断装置Info
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- JP2001119987A JP2001119987A JP29482299A JP29482299A JP2001119987A JP 2001119987 A JP2001119987 A JP 2001119987A JP 29482299 A JP29482299 A JP 29482299A JP 29482299 A JP29482299 A JP 29482299A JP 2001119987 A JP2001119987 A JP 2001119987A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
- Y02T10/60—Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
- Y02T10/64—Electric machine technologies in electromobility
Abstract
(57)【要約】
【課題】 回生用ＭＯＳＦＥＴ等の回生用スイッチング
素子の故障診断を行うことができるモータ駆動回路の故
障診断装置を提供する。 【解決手段】 力行用ＭＯＳＦＥＴ１と電流センサ２と
モータの電機子巻線３とを直列接続するとともにトラン
ジスタ部５ａとフライホイールダイード５ｂとが並列に
一体的に設けられた一体型素子である回生用ＭＯＳＦＥ
Ｔ５を電流センサ２及び電機子巻線３に並列に接続して
なるモータ駆動回路の故障診断装置において、力行用Ｍ
ＯＳＦＥＴ１を微小時間点弧させ、その後、所定の判定
時間が経過したときに電流センサ２に流れる電流値と所
定の判定電流値とを比較して、電流センサ２に流れる電
流値が判定電流値以下である場合には回生用ＭＯＳＦＥ
Ｔ５が故障であると判定するように構成する。
素子の故障診断を行うことができるモータ駆動回路の故
障診断装置を提供する。 【解決手段】 力行用ＭＯＳＦＥＴ１と電流センサ２と
モータの電機子巻線３とを直列接続するとともにトラン
ジスタ部５ａとフライホイールダイード５ｂとが並列に
一体的に設けられた一体型素子である回生用ＭＯＳＦＥ
Ｔ５を電流センサ２及び電機子巻線３に並列に接続して
なるモータ駆動回路の故障診断装置において、力行用Ｍ
ＯＳＦＥＴ１を微小時間点弧させ、その後、所定の判定
時間が経過したときに電流センサ２に流れる電流値と所
定の判定電流値とを比較して、電流センサ２に流れる電
流値が判定電流値以下である場合には回生用ＭＯＳＦＥ
Ｔ５が故障であると判定するように構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はモータ駆動回路の故
障診断装置に関し、回生用スイッチング素子の故障診断
を行う場合に適用して有用なものである。
障診断装置に関し、回生用スイッチング素子の故障診断
を行う場合に適用して有用なものである。
【０００２】
【０００３】図５は直流分巻モータのモータ駆動回路図
であり、図５（ａ）にはアマーチャ（電機子）巻線側回
路図を示し、図５（ｂ）にはフィールド（界磁）巻線側
回路図を示す。
であり、図５（ａ）にはアマーチャ（電機子）巻線側回
路図を示し、図５（ｂ）にはフィールド（界磁）巻線側
回路図を示す。
【０００４】図５（ａ）に示すように、アマーチャ巻線
側では、力行用スイッチング素子である力行用ＭＯＳＦ
ＥＴ１とＣＳ（電流センサ）２と直流分巻モータ（アマ
ーチャ巻線）３とが直列接続され、これらの直列回路に
バッテリー４が接続されている。そして、回生用スイッ
チング素子である回生用ＭＯＳＦＥＴ５は、ＣＳ２及び
モータ（アマーチャ巻線）３に並列に接続されている。
側では、力行用スイッチング素子である力行用ＭＯＳＦ
ＥＴ１とＣＳ（電流センサ）２と直流分巻モータ（アマ
ーチャ巻線）３とが直列接続され、これらの直列回路に
バッテリー４が接続されている。そして、回生用スイッ
チング素子である回生用ＭＯＳＦＥＴ５は、ＣＳ２及び
モータ（アマーチャ巻線）３に並列に接続されている。
【０００５】また、力行用ＭＯＳＦＥＴ１は、トランジ
スタ部１ａとフライホイールダイオード１ｂとが並列に
一体的に設けられた一体型素子であり、回生用ＭＯＳＦ
ＥＴ５も、トランジスタ部５ａとフライホイールダイオ
ード５ｂとが並列に一体的に設けられた一体型素子であ
る。
スタ部１ａとフライホイールダイオード１ｂとが並列に
一体的に設けられた一体型素子であり、回生用ＭＯＳＦ
ＥＴ５も、トランジスタ部５ａとフライホイールダイオ
ード５ｂとが並列に一体的に設けられた一体型素子であ
る。
【０００６】図５（ｂ）に示すように、フィールド巻線
側では、直流分巻モータのフィールド巻線１１とＭＯＳ
ＦＥＴ１２とが直列接続され、この直列回路にバッテリ
ー４が接続されている。また、ＭＯＳＦＥＴ１２にはダ
イード１３が並列に接続されている。
側では、直流分巻モータのフィールド巻線１１とＭＯＳ
ＦＥＴ１２とが直列接続され、この直列回路にバッテリ
ー４が接続されている。また、ＭＯＳＦＥＴ１２にはダ
イード１３が並列に接続されている。
【０００７】かかるモータ駆動回路において、力行時に
は、ＭＯＳＦＥＴ１２をオンしてフィールド巻線１２側
に電圧をかけて、力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオン（チョッ
パ）し、回生用ＭＯＳＦＥＴ５をオフすることにより、
モータを駆動する。この場合、チョッパオン（力行用Ｍ
ＯＳＦＥＴオン）時には、電流はバッテリー４→力行用
ＭＯＳＦＥＴ１→モータ（アマーチャ巻線）３→バッテ
リー４を流れる。チョッパオフ（力行用ＭＯＳＦＥＴオ
フ）時には、電流はモータ（アマーチャ巻線）３→回生
用ＭＯＳＦＥＴ５のフライホイールダイオード５ｂを流
れる。
は、ＭＯＳＦＥＴ１２をオンしてフィールド巻線１２側
に電圧をかけて、力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオン（チョッ
パ）し、回生用ＭＯＳＦＥＴ５をオフすることにより、
モータを駆動する。この場合、チョッパオン（力行用Ｍ
ＯＳＦＥＴオン）時には、電流はバッテリー４→力行用
ＭＯＳＦＥＴ１→モータ（アマーチャ巻線）３→バッテ
リー４を流れる。チョッパオフ（力行用ＭＯＳＦＥＴオ
フ）時には、電流はモータ（アマーチャ巻線）３→回生
用ＭＯＳＦＥＴ５のフライホイールダイオード５ｂを流
れる。
【０００８】一方、回生時には、モータ回転中、フィー
ルド巻線１２側は駆動時と同じ方向に強め電圧をかけ、
力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオフし、回生用ＭＯＳＦＥＴ５
をオン（チョッパ）することにより、アマーチャ発生電
圧がバッテリー電圧よりも高くなり、モータのエネルギ
ーをバッテリー４に回生する。このとき、アマーチャ巻
線３に流れる電流方向は力行時と逆になる。この場合、
チョッパオン（回生用ＭＯＳＦＥＴオン）時には、電流
はモータ（アマーチャ巻線）３→回生用ＭＯＳＦＥＴ５
を流れる（回生電流立ち上げ）。チョッパオフ（回生用
ＭＯＳＦＥＴオフ）時には、電流はモータ（アマーチャ
巻線）３→力行用ＭＯＳＦＥＴ１のフライホイールダイ
オード１ｂ→バッテリー４→モータ（アマーチャ巻線）
３を流れる（回生）。
ルド巻線１２側は駆動時と同じ方向に強め電圧をかけ、
力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオフし、回生用ＭＯＳＦＥＴ５
をオン（チョッパ）することにより、アマーチャ発生電
圧がバッテリー電圧よりも高くなり、モータのエネルギ
ーをバッテリー４に回生する。このとき、アマーチャ巻
線３に流れる電流方向は力行時と逆になる。この場合、
チョッパオン（回生用ＭＯＳＦＥＴオン）時には、電流
はモータ（アマーチャ巻線）３→回生用ＭＯＳＦＥＴ５
を流れる（回生電流立ち上げ）。チョッパオフ（回生用
ＭＯＳＦＥＴオフ）時には、電流はモータ（アマーチャ
巻線）３→力行用ＭＯＳＦＥＴ１のフライホイールダイ
オード１ｂ→バッテリー４→モータ（アマーチャ巻線）
３を流れる（回生）。
【０００９】また、ＣＳ２では、モータ（アマーチャ巻
線）３に流れる電流を検出する。
線）３に流れる電流を検出する。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来
は、上記構成のモータ駆動回路において、回生用ＭＯＳ
ＦＥＴ５が故障（オープン破壊）したことを判別するこ
とができなかった。力行用ＭＯＳＦＥＴ１が故障（オー
プン破壊）したか否かの判別は、力行用ＭＯＳＦＥＴ１
を微小時間オン（点弧）させ、このときＣＳ２により電
流が検出できれば正常、できなければ故障と判別するこ
とができる。しかし、回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障を判
別することはできない。
は、上記構成のモータ駆動回路において、回生用ＭＯＳ
ＦＥＴ５が故障（オープン破壊）したことを判別するこ
とができなかった。力行用ＭＯＳＦＥＴ１が故障（オー
プン破壊）したか否かの判別は、力行用ＭＯＳＦＥＴ１
を微小時間オン（点弧）させ、このときＣＳ２により電
流が検出できれば正常、できなければ故障と判別するこ
とができる。しかし、回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障を判
別することはできない。
【００１１】回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障時にモータを
駆動させようとすると、他の正常な素子（力行用ＭＯＳ
ＦＥＴ１等）まで破壊する恐れがある。
駆動させようとすると、他の正常な素子（力行用ＭＯＳ
ＦＥＴ１等）まで破壊する恐れがある。
【００１２】従って、本発明は上記の問題点に鑑み、回
生用ＭＯＳＦＥＴ等の回生用スイッチング素子の故障診
断を行うことができるモータ駆動回路の故障診断装置を
提供することを課題とする。
生用ＭＯＳＦＥＴ等の回生用スイッチング素子の故障診
断を行うことができるモータ駆動回路の故障診断装置を
提供することを課題とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明は、トランジスタ
部とダイオードとが一体的に設けられた一体型素子では
トランジスタ部が故障したときはダイオードも動作しな
くなるため、トランジスタ部の故障を判断するときにダ
イオードの故障をみることによって代用することができ
るという知見に基づくものであり、次のような構成を有
する。
部とダイオードとが一体的に設けられた一体型素子では
トランジスタ部が故障したときはダイオードも動作しな
くなるため、トランジスタ部の故障を判断するときにダ
イオードの故障をみることによって代用することができ
るという知見に基づくものであり、次のような構成を有
する。
【００１４】即ち、上記課題を解決する本発明のモータ
駆動回路の故障診断装置は、力行用スイッチング素子と
電流センサとモータの電機子巻線とを直列接続するとと
もにトランジスタ部とフライホイールダイードとが並列
に一体的に設けられた一体型素子である回生用スイッチ
ング素子を前記電流センサ及び前記電機子巻線に並列に
接続してなるモータ駆動回路の故障診断装置において、
前記力行用スイッチング素子を微小時間点弧させ、その
後、所定の判定時間が経過したときに前記電流センサに
流れる電流値と所定の判定電流値とを比較して、前記電
流センサに流れる電流値が前記判定電流値以下である場
合には前記回生用スイッチング素子が故障であると判定
するように構成したことを特徴とする。
駆動回路の故障診断装置は、力行用スイッチング素子と
電流センサとモータの電機子巻線とを直列接続するとと
もにトランジスタ部とフライホイールダイードとが並列
に一体的に設けられた一体型素子である回生用スイッチ
ング素子を前記電流センサ及び前記電機子巻線に並列に
接続してなるモータ駆動回路の故障診断装置において、
前記力行用スイッチング素子を微小時間点弧させ、その
後、所定の判定時間が経過したときに前記電流センサに
流れる電流値と所定の判定電流値とを比較して、前記電
流センサに流れる電流値が前記判定電流値以下である場
合には前記回生用スイッチング素子が故障であると判定
するように構成したことを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。
に基づき詳細に説明する。
【００１６】図１は本発明の実施の形態に係る直流分巻
モータのモータ駆動回路図であり、図１（ａ）にはアマ
ーチャ（電機子）巻線側回路図を示し、図１（ｂ）には
フィールド（界磁）巻線側回路図を示す。また、図２は
本発明の実施の形態に係るモータ駆動回路の故障診断装
置の構成を示すブロック図、図３は前記故障診断装置に
よる故障判定処理のフローチャート、図４は前記故障診
断装置による故障判定時の電流変化等を示す説明図であ
る。
モータのモータ駆動回路図であり、図１（ａ）にはアマ
ーチャ（電機子）巻線側回路図を示し、図１（ｂ）には
フィールド（界磁）巻線側回路図を示す。また、図２は
本発明の実施の形態に係るモータ駆動回路の故障診断装
置の構成を示すブロック図、図３は前記故障診断装置に
よる故障判定処理のフローチャート、図４は前記故障診
断装置による故障判定時の電流変化等を示す説明図であ
る。
【００１７】図１に示す直流分巻モータのモータ駆動回
路は図５に示すモータ駆動回路と同様であるため同一の
符号を付し、ここではモータ駆動回路についての説明は
省略する。
路は図５に示すモータ駆動回路と同様であるため同一の
符号を付し、ここではモータ駆動回路についての説明は
省略する。
【００１８】図１及び図２に示すように、ＣＳ（電流セ
ンサ）２の電流検出信号はＣＰＵ２０に入力されるよう
になっている。ＣＰＵ２０ではＣＳ２から入力した電流
値等に基づいて力行用ＭＯＳＦＥＴ１や回生用ＭＯＳＦ
ＥＴ５の故障診断を行う（詳細後述）。また、ＣＰＵ２
０では、ＭＯＳＦＥＴ駆動回路２１に制御信号を出力し
て、ＭＯＳＦＥＴ駆動回路２１による力行用ＭＯＳＦＥ
Ｔ１、回生用ＭＯＳＦＥＴ５及びＭＯＳＦＥＴ１２の駆
動（オン・オフ）を制御する。
ンサ）２の電流検出信号はＣＰＵ２０に入力されるよう
になっている。ＣＰＵ２０ではＣＳ２から入力した電流
値等に基づいて力行用ＭＯＳＦＥＴ１や回生用ＭＯＳＦ
ＥＴ５の故障診断を行う（詳細後述）。また、ＣＰＵ２
０では、ＭＯＳＦＥＴ駆動回路２１に制御信号を出力し
て、ＭＯＳＦＥＴ駆動回路２１による力行用ＭＯＳＦＥ
Ｔ１、回生用ＭＯＳＦＥＴ５及びＭＯＳＦＥＴ１２の駆
動（オン・オフ）を制御する。
【００１９】ここで図３及び図４に基づき、ＣＰＵ２０
による故障判定処理について説明する。なお、図３のフ
ローチャートの各ステップにはＳ１〜Ｓ５の符号を付し
た。また、図４（ａ）には力行用ＭＯＳＦＥＴ１のオン
・オフ状態を示し、図４（ｂ）には回生用ＭＯＳＦＥＴ
５が正常なときのＣＳ２に流れる電流の変化を示し、図
４（ｃ）には回生用ＭＯＳＦＥＴ５が故障しているとき
のＣＳ２に流れる電流の変化を示している。
による故障判定処理について説明する。なお、図３のフ
ローチャートの各ステップにはＳ１〜Ｓ５の符号を付し
た。また、図４（ａ）には力行用ＭＯＳＦＥＴ１のオン
・オフ状態を示し、図４（ｂ）には回生用ＭＯＳＦＥＴ
５が正常なときのＣＳ２に流れる電流の変化を示し、図
４（ｃ）には回生用ＭＯＳＦＥＴ５が故障しているとき
のＣＳ２に流れる電流の変化を示している。
【００２０】回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障診断を行う場
合、まず、フィールド巻線１１側には電圧をかけず、力
行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間（数十μｓ）オン（点
弧）させる（Ｓ１）。即ち、図４（ａ）に示すように力
行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間だけオンさせた後、オフ
にする。
合、まず、フィールド巻線１１側には電圧をかけず、力
行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間（数十μｓ）オン（点
弧）させる（Ｓ１）。即ち、図４（ａ）に示すように力
行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間だけオンさせた後、オフ
にする。
【００２１】図４（ｂ）及び図４（ｃ）に示すように、
力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオンにすると、ＣＳ２を流れる
電流が増加するが、その後、力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオ
フにするとＣＳ２を流れる電流は減衰していく。
力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオンにすると、ＣＳ２を流れる
電流が増加するが、その後、力行用ＭＯＳＦＥＴ１をオ
フにするとＣＳ２を流れる電流は減衰していく。
【００２２】そして、このとき回生用ＭＯＳＦＥＴ５が
正常な場合には、図４（ｂ）に示すように電流はモータ
（アマーチャ巻線３）→回生用ＭＯＳＦＥＴのフライホ
イールダイオード５ｂを流れ、モータのインダクタンス
と抵抗により、比較的緩やかに減衰していく。一方、回
生用ＭＯＳＦＥＴ５が故障（オープン破壊）している場
合には、回生用ＭＯＳＦＥＴ５はトランジスタ部５ａと
フライホイールダイオード５ｂとを並列に一体的に設け
た一体型素子であるためトランジスタ部５ａが故障した
ときはフライホイールダイオード５ｂも動作しなくなる
ことから（ダイオードオープン破壊）、回路が遮断され
て、図４（ｃ）に示すように電流は急速に減衰する。従
って、力行用ＭＯＳＦＥＴ１がオフした後の電流の減衰
を監視することにより、回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障判
別が可能になる。
正常な場合には、図４（ｂ）に示すように電流はモータ
（アマーチャ巻線３）→回生用ＭＯＳＦＥＴのフライホ
イールダイオード５ｂを流れ、モータのインダクタンス
と抵抗により、比較的緩やかに減衰していく。一方、回
生用ＭＯＳＦＥＴ５が故障（オープン破壊）している場
合には、回生用ＭＯＳＦＥＴ５はトランジスタ部５ａと
フライホイールダイオード５ｂとを並列に一体的に設け
た一体型素子であるためトランジスタ部５ａが故障した
ときはフライホイールダイオード５ｂも動作しなくなる
ことから（ダイオードオープン破壊）、回路が遮断され
て、図４（ｃ）に示すように電流は急速に減衰する。従
って、力行用ＭＯＳＦＥＴ１がオフした後の電流の減衰
を監視することにより、回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障判
別が可能になる。
【００２３】そこで、ＣＰＵ２０では、所定の判定時間
が経過した否かを判定し（Ｓ２）、判定時間が経過した
ら、このときのＣＳ２に流れる電流値と所定の判定電流
値とを比較する（Ｓ３）。その結果、図４（ｂ）に示す
ようにＣＳ２に流れる電流値が判定電流値よりも大きい
場合には、回生用ＭＯＳＦＥＴ２は正常であると判定す
る（Ｓ４）。一方、図４（ｃ）に示すようにＣＳ２に流
れる電流値が判定電流値以下である場合には、回生用Ｍ
ＯＳＦＥＴ２は故障であると判定する（Ｓ５）。
が経過した否かを判定し（Ｓ２）、判定時間が経過した
ら、このときのＣＳ２に流れる電流値と所定の判定電流
値とを比較する（Ｓ３）。その結果、図４（ｂ）に示す
ようにＣＳ２に流れる電流値が判定電流値よりも大きい
場合には、回生用ＭＯＳＦＥＴ２は正常であると判定す
る（Ｓ４）。一方、図４（ｃ）に示すようにＣＳ２に流
れる電流値が判定電流値以下である場合には、回生用Ｍ
ＯＳＦＥＴ２は故障であると判定する（Ｓ５）。
【００２４】なお、判定時間と判定電流値はモータのイ
ンダクタンスと抵抗から決定する。現状ではモータのイ
ンダクタンスは０．１７ｍＨ、抵抗は０．００９８Ωで
判定時間は６６０μｓとした。
ンダクタンスと抵抗から決定する。現状ではモータのイ
ンダクタンスは０．１７ｍＨ、抵抗は０．００９８Ωで
判定時間は６６０μｓとした。
【００２５】以上のように、本実施の形態の故障診断装
置によれば、力行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間点弧さ
せ、その後、所定の判定時間が経過したときにＣＳ２に
流れる電流値と所定の判定電流値とを比較することによ
り、回生用ＭＯＳＦＥＴ３の故障診断を行うことができ
る。
置によれば、力行用ＭＯＳＦＥＴ１を微小時間点弧さ
せ、その後、所定の判定時間が経過したときにＣＳ２に
流れる電流値と所定の判定電流値とを比較することによ
り、回生用ＭＯＳＦＥＴ３の故障診断を行うことができ
る。
【００２６】このため、回生用ＭＯＳＦＥＴ５の故障時
にモータを駆動させて他の正常な素子（力行用ＭＯＳＦ
ＥＴ１等）まで破壊してしまうのを防止することができ
る。また、故障診断を行うことにより、電気機器の故障
箇所が判定でき、修理、交換が迅速に行える。
にモータを駆動させて他の正常な素子（力行用ＭＯＳＦ
ＥＴ１等）まで破壊してしまうのを防止することができ
る。また、故障診断を行うことにより、電気機器の故障
箇所が判定でき、修理、交換が迅速に行える。
【００２７】
【発明の効果】以上発明の実施の形態とともに具体的に
説明したように、本発明のモータ駆動回路の故障診断装
置によれば、力行用スイッチング素子を微小時間点弧さ
せ、その後、所定の判定時間が経過したときに電流セン
サに流れる電流値と所定の判定電流値とを比較すること
により、回生用スイッチング素子の故障診断を行うこと
ができる。このため、回生用スイッチング素子の故障時
にモータを駆動させて他の正常な素子（力行用スイッチ
ング素子等）まで破壊してしまうのを防止することがで
きる。また、故障診断を行うことにより、電気機器の故
障箇所が判定でき、修理、交換が迅速に行える。
説明したように、本発明のモータ駆動回路の故障診断装
置によれば、力行用スイッチング素子を微小時間点弧さ
せ、その後、所定の判定時間が経過したときに電流セン
サに流れる電流値と所定の判定電流値とを比較すること
により、回生用スイッチング素子の故障診断を行うこと
ができる。このため、回生用スイッチング素子の故障時
にモータを駆動させて他の正常な素子（力行用スイッチ
ング素子等）まで破壊してしまうのを防止することがで
きる。また、故障診断を行うことにより、電気機器の故
障箇所が判定でき、修理、交換が迅速に行える。
【図１】本発明の実施の形態に係る直流分巻モータのモ
ータ駆動回路図である。
ータ駆動回路図である。
【図２】本発明の実施の形態に係るモータ駆動回路の故
障診断装置の構成を示すブロック図である。
障診断装置の構成を示すブロック図である。
【図３】前記故障診断装置による故障判定処理のフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】前記故障診断装置による故障判定時の電流変化
等を示す説明図である。
等を示す説明図である。
【図５】直流分巻モータのモータ駆動回路図である。
１ 力行用ＭＯＳＦＥＴ １ａ トランジスタ部 １ｂ フライホイールダイオード ２ ＣＳ（電流センサ） ３ アマーチャ（電機子）巻線 ４ バッテリー ５ 回生用ＭＯＳＦＥＴ ５ａ トランジスタ部 ５ｂ フライホイールダイオード １１ フィールド（界磁）巻線 １２ ＭＯＳＦＥＴ １３ ダイオード ２０ ＣＰＵ ２１ ＭＯＳＦＥＴ駆動回路
Claims (1)
- 【請求項１】 力行用スイッチング素子と電流センサと
モータの電機子巻線とを直列接続するとともにトランジ
スタ部とフライホイールダイードとが並列に一体的に設
けられた一体型素子である回生用スイッチング素子を前
記電流センサ及び前記電機子巻線に並列に接続してなる
モータ駆動回路の故障診断装置において、 前記力行用スイッチング素子を微小時間点弧させ、その
後、所定の判定時間が経過したときに前記電流センサに
流れる電流値と所定の判定電流値とを比較して、前記電
流センサに流れる電流値が前記判定電流値以下である場
合には前記回生用スイッチング素子が故障であると判定
するように構成したことを特徴とするモータ駆動回路の
故障診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29482299A JP2001119987A (ja) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | モータ駆動回路の故障診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29482299A JP2001119987A (ja) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | モータ駆動回路の故障診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001119987A true JP2001119987A (ja) | 2001-04-27 |
Family
ID=17812709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29482299A Withdrawn JP2001119987A (ja) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | モータ駆動回路の故障診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001119987A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6593714B2 (en) * | 2000-07-18 | 2003-07-15 | Nissan Motor Co., Ltd. | Motor control apparatus with a current sensor diagnostic apparatus and a current sensor diagnostic method |
| CN1321328C (zh) * | 2003-04-28 | 2007-06-13 | 广东省电力工业局试验研究所 | 电动机早期故障小波诊断系统及其诊断电动机故障的方法 |
| JP2013099128A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-05-20 | Tokushu Denso Co Ltd | モータ駆動装置 |
| JP2014068429A (ja) * | 2012-09-25 | 2014-04-17 | Bosch Corp | フライバック回路 |
| JP2018107897A (ja) * | 2016-12-26 | 2018-07-05 | 株式会社デンソー | 診断装置 |
| DE102019103825A1 (de) | 2018-02-22 | 2019-08-22 | Fanuc Corporation | Fehlerdiagnosevorrichtung und maschinelle lernvorrichtung |
| CN110308391A (zh) * | 2019-06-07 | 2019-10-08 | 横店集团英洛华电气有限公司 | 一种低成本电机电流采集电路及其采集方法 |
| CN113466649A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-10-01 | 西安交通大学 | 一种判断浪涌电流测试中SiC MOSFET失效原因的方法 |
| CN114755575A (zh) * | 2022-04-11 | 2022-07-15 | 中南大学 | 一种新能源电动车用电动机故障诊断系统及诊断方法 |
-
1999
- 1999-10-18 JP JP29482299A patent/JP2001119987A/ja not_active Withdrawn
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